JP2008185917A - Optical scanner - Google Patents

Optical scanner Download PDF

Info

Publication number
JP2008185917A
JP2008185917A JP2007021128A JP2007021128A JP2008185917A JP 2008185917 A JP2008185917 A JP 2008185917A JP 2007021128 A JP2007021128 A JP 2007021128A JP 2007021128 A JP2007021128 A JP 2007021128A JP 2008185917 A JP2008185917 A JP 2008185917A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrodes
electro
scanning
optic crystal
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007021128A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4761571B2 (en
Inventor
Toshiharu Mamiya
敏晴 間宮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2007021128A priority Critical patent/JP4761571B2/en
Publication of JP2008185917A publication Critical patent/JP2008185917A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4761571B2 publication Critical patent/JP4761571B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical scanner capable of correcting a scanning line shape without being affected by a space region formed between electrodes while generation of a high level electromagnetic radiation noise is suppressed. <P>SOLUTION: The optical scanner includes: an electrooptical crystalline structure 3 that deflects a luminous flux scanned by a polygon mirror 1 in a subscanning direction by voltage application; and a controller 36 that controls the voltage applied to the electrooptical crystalline structure 3 with a prescribed timing independent from an image writing signal. The electrooptical crystalline structure 3 is composed of; a nearly rectangular parallelepiped EO crystal 31 having a property in which a refractive index varies by a voltage application; a common electrode P0 mounted on one face right-angled to the subscanning direction in the EO crystal 31; and electrodes P1-P5 that are mounted on the other face right-angled to the subscanning direction and that are arranged along the main scanning direction so as to form spaces B1-B4. When the luminous flux scanned by the polygon mirror 1 is projected to each space, the projection line of the luminous flux cuts across at least one of the two electrodes forming each space. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、レーザプリンタ等の画像形成装置に設けられ、光源から照射されたレーザ光を感光体に結像する光走査装置に関する。   The present invention relates to an optical scanning device that is provided in an image forming apparatus such as a laser printer and forms an image of laser light emitted from a light source on a photosensitive member.

従来、光走査装置は、プリンタ、デジタル複写機、ファクシミリ等の画像形成装置の書込み系として使用されている。その光走査の方式も、従来からのシングルビーム走査方式に留まらず、同一の被走査面を同時に複数の光スポットで光走査するマルチビーム走査方式が採用されてきている。   Conventionally, an optical scanning device is used as a writing system of an image forming apparatus such as a printer, a digital copying machine, or a facsimile. The optical scanning method is not limited to the conventional single beam scanning method, and a multi-beam scanning method in which the same scanned surface is simultaneously scanned with a plurality of light spots has been adopted.

被走査面となる感光体も単一のもののみならず、複数の感光体を、トナー画像を転写する記録媒体の経路にそって配列し、各感光体に形成されるトナー画像を共通の記録シートに転写して合成的に画像を得るタンデム方式のカラー画像形成装置がある。   The photosensitive surface to be scanned is not limited to a single photoconductor, but a plurality of photoconductors are arranged along the path of the recording medium to which the toner image is transferred, and the toner images formed on each photoconductor are recorded in common There is a tandem color image forming apparatus that transfers images onto a sheet to obtain a synthetic image.

被走査面上における光スポットの移動軌跡である走査線は主走査方向(感光体の長手方向)に直線的であることが理想である。しかしながら、光走査装置に使用される光学部品の特性や組立て精度等の要因により、理想的な走査線を実現することは不可能に近く、実際の走査線には曲がりや傾きが存在する。   Ideally, the scanning line that is the movement locus of the light spot on the surface to be scanned is linear in the main scanning direction (longitudinal direction of the photosensitive member). However, due to factors such as the characteristics of optical parts used in the optical scanning device and assembly accuracy, it is almost impossible to realize an ideal scanning line, and the actual scanning line has a bend and an inclination.

走査線の曲がりや傾きが微小であれば、シングルビーム走査方式で単色の画像を形成する場合には実用上の問題はほとんどない。シングルビーム走査方式で形成された単色の画像では、走査線における微小な曲がりは、実際上視認されないからである。   If the scan line is bent or tilted, there is almost no practical problem in forming a monochromatic image by the single beam scanning method. This is because, in a single color image formed by the single beam scanning method, a minute bend in the scanning line is not actually visually recognized.

マルチビーム走査方式においても、被走査面が1面であれば、走査線の曲がりや傾きが存在したとしても走査線の形状がそろっていれば、画像への影響はほとんどない。マルチビーム走査方式で問題となるのは、複数の走査線の走査線間隔が変化する場合である。走査線間隔が主走査位置によって変化すると、濃度むらが発生し、副走査方向のスジとなる。このスジが発生すると画像品位を著しく低下させる。   Even in the multi-beam scanning method, if there is only one surface to be scanned, there is almost no influence on the image if the scanning lines have the same shape even if the scanning lines are bent or inclined. A problem with the multi-beam scanning method is when the scanning line spacing of a plurality of scanning lines changes. When the scanning line interval changes depending on the main scanning position, density unevenness occurs, resulting in streaks in the sub-scanning direction. When this streak occurs, the image quality is significantly reduced.

また、タンデム方式の画像形成装置でカラー画像を形成するような場合、各感光体における走査線の曲がりや傾きがそろっていないと、重ね合わせて形成されたカラー画像に色ずれや色むらが発生し画質を損なう。   In addition, when forming a color image with a tandem image forming apparatus, if the scanning lines on each photoconductor are not bent or tilted, color misregistration and color unevenness will occur in the superimposed color image. The image quality is impaired.

走査線ピッチ、走査線の曲がりや傾きは、被走査面を走査する光スポットの集光位置を副走査方向に調整することで補正することができ、このような光スポット位置の調整を行う方法も種々提案されている。   The method of adjusting the light spot position can be corrected by adjusting the condensing position of the light spot that scans the surface to be scanned in the sub-scanning direction. Various proposals have also been made.

例えば、タンデム方式の画像形成装置において、複数の光走査装置から照射される各レーザ光の光路上にレーザ光を偏向させる電気光学素子を配置する。そしてずれ量検出手段により各色の画像のずれ量を検出して、ずれ量が所定範囲内の値となるように主走査の露光タイミングに応じて各電気光学素子に印加する電圧を連続的に変化させ、レーザ光の傾きを補正する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。   For example, in an image forming apparatus of a tandem system, an electro-optical element that deflects laser light is arranged on the optical path of each laser light emitted from a plurality of optical scanning devices. Then, the amount of deviation of each color image is detected by the amount of deviation detection means, and the voltage applied to each electro-optic element is continuously changed according to the exposure timing of main scanning so that the amount of deviation falls within a predetermined range. And a method of correcting the tilt of the laser beam has been proposed (see, for example, Patent Document 1).

また、マルチビーム走査方式やタンデム方式の画像形成装置において、光偏向手段と被走査面との間に主走査方向にアレイ配列してなる液晶偏向素子アレイを配置する。そして被走査面上の光スポットの集光位置を副走査方向に調整して走査線の曲がりを補正し、さらに、該補正に伴う光スポットの光強度の変化を補正する方法が提案されている(例えば、特許文献2参照)。
特開平10−186255号公報 特開2004−045840号公報
In a multi-beam scanning type or tandem type image forming apparatus, a liquid crystal deflecting element array arranged in the main scanning direction is arranged between the light deflecting means and the surface to be scanned. Then, a method has been proposed in which the converging position of the light spot on the surface to be scanned is adjusted in the sub-scanning direction to correct the bending of the scanning line, and further, the change in the light intensity of the light spot accompanying the correction is corrected. (For example, refer to Patent Document 2).
Japanese Patent Laid-Open No. 10-186255 JP 2004-045840 A

しかしながら、上記従来の方法では、電気光学素子に印加する電圧を露光タイミングに応じて連続的に変化させる必要があり、通常は画像書込みクロックに同期して印加する電圧を変化させる。一般に、電気光学素子に印加する電圧は高圧でありかつ画像書込みクロックは高周波であるので、高電圧を高周波で駆動することによる高レベルの電磁放射ノイズの発生を抑制することができない。光走査装置の各種規格を満足するためには画像書込みクロックによる通常の電磁放射ノイズに対する対策が必要であり、さらに高レベルの電磁放射ノイズに対する対策を行うためには大きな労力とコストを要する。   However, in the above conventional method, it is necessary to continuously change the voltage applied to the electro-optical element according to the exposure timing, and the voltage to be applied is usually changed in synchronization with the image writing clock. In general, since the voltage applied to the electro-optic element is high and the image writing clock is high frequency, generation of high level electromagnetic radiation noise caused by driving high voltage at high frequency cannot be suppressed. In order to satisfy various standards of the optical scanning device, it is necessary to take measures against normal electromagnetic radiation noise caused by an image writing clock, and to take measures against high level electromagnetic radiation noise, a large amount of labor and cost are required.

また、上記他の従来の方法では、レーザ光の偏向角による透過率変化に対する光量補正が必要であり、また、互いに密接した多数の透明電極をレーザ光が順次通過するため電極間に形成される間隙領域では走査線形状を補正することができない。   Further, in the other conventional methods described above, it is necessary to correct the amount of light with respect to the transmittance change due to the deflection angle of the laser beam, and the laser beam is formed between the electrodes because the laser beam sequentially passes through a number of transparent electrodes that are in close contact with each other. The scanning line shape cannot be corrected in the gap region.

本発明の目的は、高レベルの電磁放射ノイズの発生を抑制しつつ、電極間に形成される間隙領域の影響を受けずに走査線形状を補正することができる光走査装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an optical scanning device capable of correcting a scanning line shape without being affected by a gap region formed between electrodes while suppressing generation of high-level electromagnetic radiation noise. is there.

本発明は、上記目的を達成するために、光源と、前記光源から出射された光束を主走査方向に走査する光偏向手段と、前前記光偏向手段と前記走査された光束の照射位置に静電潜像を形成する感光体との間の光路中に配置され、前記光偏向手段により走査された光束を電圧印加により副走査方向に偏向する電気光学結晶構造体と、画像書込み信号から独立した所定のタイミングで前記電気光学結晶構造体に印加される電圧を制御する制御手段とを備え、前記電気光学結晶構造体は、電圧印加により屈折率が変化する特性を有する略直方体形状の電気光学結晶と、前記電気光学結晶において副走査方向に対して直角をなす一方の面に取り付けられた共通電極と、副走査方向に対して直角をなす他方の面に取り付けられかつ少なくとも1つの間隙部を形成するように主走査方向に沿って配置された複数の電極とを有し、前記光偏向手段により走査された光束を前記間隙部に投影した場合に、前記光束の投影線が、前記間隙部を形成する2つの電極の少なくとも一方を横切ることを特徴とする。   In order to achieve the above object, the present invention provides a light source, a light deflection unit that scans a light beam emitted from the light source in a main scanning direction, a front light deflection unit, and an irradiation position of the scanned light beam. An electro-optic crystal structure that is disposed in the optical path between the photosensitive member forming the electrostatic latent image and deflects the light beam scanned by the light deflecting means in the sub-scanning direction by applying a voltage, and independent of the image writing signal Control means for controlling a voltage applied to the electro-optic crystal structure at a predetermined timing, and the electro-optic crystal structure has a substantially rectangular parallelepiped-shaped electro-optic crystal having a characteristic that a refractive index changes by voltage application. A common electrode attached to one surface of the electro-optic crystal perpendicular to the sub-scanning direction, and at least one gap attached to the other surface perpendicular to the sub-scanning direction. A plurality of electrodes arranged along the main scanning direction so as to form a light beam, and when the light beam scanned by the light deflection unit is projected onto the gap portion, the projection line of the light beam It traverses at least one of the two electrodes forming the part.

本発明によれば、制御手段は、画像書込み信号から独立した所定のタイミングで電気光学結晶構造体に印加される電圧を制御し、電気光学結晶構造体は、電圧印加により屈折率が変化する特性を有する略直方体形状の電気光学結晶と、電気光学結晶において副走査方向に対して直角をなす一方の面に取り付けられた共通電極と、副走査方向に対して直角をなす他方の面に取り付けられかつ少なくとも1つの間隙部を形成するように主走査方向に沿って配置された複数の電極とを有し、光偏向手段により走査された光束を間隙部に投影した場合に、光束の投影線が、間隙部を形成する2つの電極の少なくとも一方を横切るので、高レベルの電磁放射ノイズの発生を抑制しつつ、電極間に形成される間隙領域の影響を受けずに走査線形状を補正することができる。   According to the present invention, the control means controls the voltage applied to the electro-optic crystal structure at a predetermined timing independent of the image writing signal, and the electro-optic crystal structure has a characteristic that the refractive index changes with voltage application. A substantially rectangular parallelepiped electro-optic crystal, a common electrode attached to one surface of the electro-optic crystal perpendicular to the sub-scanning direction, and the other surface perpendicular to the sub-scanning direction. And a plurality of electrodes arranged along the main scanning direction so as to form at least one gap, and when the light beam scanned by the light deflecting means is projected onto the gap, the projection line of the light flux is Since at least one of the two electrodes forming the gap is crossed, the shape of the scanning line is corrected without being affected by the gap area formed between the electrodes while suppressing the generation of high-level electromagnetic radiation noise. It is possible.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら詳述する。
[光走査装置:図1]
図1は本発明の実施の形態に係る光走査装置の構成を概略的に示す平面図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[Optical scanning device: FIG. 1]
FIG. 1 is a plan view schematically showing a configuration of an optical scanning device according to an embodiment of the present invention.

図1において、1はポリゴンミラー(回転多面鏡ともいう。光偏向手段)である。ポリゴンミラー1は、半導体レーザ10(光源)から出射されたレーザ光(光束)を不図示のコリメータレンズ及び不図示のシリンドリカルレンズにより線状に結像されたレーザ光を主走査方向(感光体である感光ドラムの長手方向)に走査する。2はポリゴンミラー1により走査されたレーザ光を感光ドラム4の被走査面上に所定のスポットとして結像する走査レンズである。3は、ポリゴンミラー1と感光ドラム4との間の光路中に配置され、ポリゴンミラー1により走査される光束を電圧印加により副走査方向に偏向する電気光学結晶構造体である。
[電気光学結晶構造体:図2]
図2は、電気光学結晶構造体3の構成を概略的に示す図であり、(a)はブロック図であり、(b)は平面図である。
In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a polygon mirror (also referred to as a rotating polygon mirror; light deflecting means). The polygon mirror 1 is a laser beam (light beam) emitted from a semiconductor laser 10 (light source) and imaged linearly by a collimator lens (not shown) and a cylindrical lens (not shown) in a main scanning direction (with a photoconductor). Scan in the longitudinal direction of a certain photosensitive drum. A scanning lens 2 forms an image of the laser beam scanned by the polygon mirror 1 as a predetermined spot on the surface to be scanned of the photosensitive drum 4. An electro-optic crystal structure 3 is disposed in the optical path between the polygon mirror 1 and the photosensitive drum 4 and deflects the light beam scanned by the polygon mirror 1 in the sub-scanning direction by applying a voltage.
[Electro-optic crystal structure: FIG. 2]
2A and 2B are diagrams schematically showing the configuration of the electro-optic crystal structure 3, wherein FIG. 2A is a block diagram and FIG. 2B is a plan view.

図2(a)及び(b)において、電気光学結晶構造体3は、略長尺状の電気光学結晶(以下、「EO結晶」という)31と、副走査方向に対して直角をなす両端面に取り付けられた一対の電極部32,33と、該電極部間に電圧を印加する不図示の電源とを備える。電極部33は、EO結晶31において副走査方向に対して直角をなす一方の面に取り付けられた共通電極P0で構成され、電極部32は、EO結晶31において副走査方向に対して直角をなす他方の面に取り付けられかつ複数の間隙部B1〜B4を形成するように主走査方向に沿って配置される複数の電極P1〜P5で構成される。電極数は、主走査方向の画素数(例えば、600dpiの場合約7500ピクセル)に比べて十分小さいので、電圧を時分割で印加しても画像書込みクロックに相当するような高周波ノイズを発生することはない。D0〜D5は、電極P0〜P5に所定電圧を印加するためのドライバ回路である。34は一対の電極部32,33間に印加する電圧を制御する制御部であり、36は走査線形状データ及び該走査線形状データに対応する補正情報を記憶するメモリ等の記憶部である。補正情報は、例えば、走査線形状データに対応する、共通電極P0及び複数の電極P1〜P5に印加する電圧データである。   2A and 2B, the electro-optic crystal structure 3 includes a substantially elongated electro-optic crystal (hereinafter referred to as “EO crystal”) 31 and both end faces perpendicular to the sub-scanning direction. And a pair of electrode portions 32 and 33 attached to the power source, and a power source (not shown) for applying a voltage between the electrode portions. The electrode portion 33 is configured by a common electrode P0 attached to one surface of the EO crystal 31 that is perpendicular to the sub-scanning direction, and the electrode portion 32 is perpendicular to the sub-scanning direction of the EO crystal 31. It comprises a plurality of electrodes P1 to P5 that are attached to the other surface and arranged along the main scanning direction so as to form a plurality of gaps B1 to B4. Since the number of electrodes is sufficiently smaller than the number of pixels in the main scanning direction (for example, about 7500 pixels in the case of 600 dpi), high-frequency noise corresponding to an image writing clock is generated even when a voltage is applied in a time division manner. There is no. D0 to D5 are driver circuits for applying a predetermined voltage to the electrodes P0 to P5. Reference numeral 34 denotes a control unit that controls a voltage applied between the pair of electrode units 32 and 33, and reference numeral 36 denotes a storage unit such as a memory that stores scanning line shape data and correction information corresponding to the scanning line shape data. The correction information is, for example, voltage data applied to the common electrode P0 and the plurality of electrodes P1 to P5 corresponding to the scanning line shape data.

一対の電極部32,33は、EO結晶31の内部に、EO結晶31内を通過する光束の進路に対して垂直方向の電界を形成する。一対の電極部32,33に所定電圧を印加してEO結晶31内に電界を発生させることにより、1μs以下(1MHz以上)の高速応答を示す。電気光学結晶構造体3は、この高速な電気光学効果により、光束をポリゴンミラー53に導く。   The pair of electrode portions 32 and 33 forms an electric field in the direction perpendicular to the path of the light beam passing through the EO crystal 31 inside the EO crystal 31. By applying a predetermined voltage to the pair of electrode portions 32 and 33 to generate an electric field in the EO crystal 31, a high-speed response of 1 μs or less (1 MHz or more) is exhibited. The electro-optic crystal structure 3 guides the light beam to the polygon mirror 53 by this high-speed electro-optic effect.

電気光学結晶とは、電圧を印加することにより屈折率が変化する特性を有する透明結晶である。EO結晶31は、例えば、K(カリウム),Ta(タンタル),Nb(ニオブ)及びO(酸素)から成る材料であり、高速かつ広角走査が可能という特徴がある。尚、EO結晶31は、Li(リチウム),Nb(ニオブ)及びO(酸素)から成る材料であってもよい。   An electro-optic crystal is a transparent crystal having a characteristic that its refractive index changes when a voltage is applied. The EO crystal 31 is a material made of, for example, K (potassium), Ta (tantalum), Nb (niobium), and O (oxygen), and is characterized by being capable of high-speed and wide-angle scanning. The EO crystal 31 may be a material made of Li (lithium), Nb (niobium), and O (oxygen).

半導体レーザ10、コリメータレンズ、シリンドリカルレンズ、ポリゴンミラー1、走査レンズ2、光学結晶構造体3及び感光ドラム4の位置は固定されている。よって、レーザ光の偏向角の変化に応じて、感光ドラム4上におけるレーザ光の照射位置も変化する。すなわち、電気光学素子3に印加された電圧の変化に応じて、感光ドラム4上におけるレーザ光の照射位置が変化する。また、EO結晶31は、その両端部に印加する電圧の増大に応じて、EO結晶31内を通過する光束を電界方向に大きく偏向する。これにより、被走査面4上の走査線形状が変更される。   The positions of the semiconductor laser 10, the collimator lens, the cylindrical lens, the polygon mirror 1, the scanning lens 2, the optical crystal structure 3, and the photosensitive drum 4 are fixed. Therefore, the irradiation position of the laser beam on the photosensitive drum 4 also changes according to the change in the deflection angle of the laser beam. That is, the irradiation position of the laser beam on the photosensitive drum 4 changes according to the change in the voltage applied to the electro-optical element 3. Further, the EO crystal 31 largely deflects the light beam passing through the EO crystal 31 in the direction of the electric field in accordance with an increase in voltage applied to both ends thereof. Thereby, the scanning line shape on the surface to be scanned 4 is changed.

制御部34は、共通電極P0には一定の電圧(あるいは接地)をドライバ回路D0を介して印加する。それと共に、共通電極P0に対向する複数の電極P1〜P5には記憶手段101に記憶された走査線形状データ及び該走査線形状データに対応する補正データに基づいて個々に算出される電圧をドライバ回路D1〜D5を介して印加する。   The controller 34 applies a constant voltage (or ground) to the common electrode P0 via the driver circuit D0. At the same time, a plurality of electrodes P1 to P5 facing the common electrode P0 are supplied with voltages calculated individually based on the scanning line shape data stored in the storage means 101 and correction data corresponding to the scanning line shape data. Apply through circuits D1-D5.

ここで、間隙部B1〜B4の領域には電圧が印加されず、各間隙部の領域においてEO結晶31内に発生する電界強度は隣接する電極からの距離の2乗に反比例して小さくなる。複数の電極P1〜P5における隣接する電極間の距離(間隙部の幅)は印加される電圧によって異なり、印加される電圧が高いほど電極間距離を大きくする必要がある。   Here, no voltage is applied to the regions of the gaps B1 to B4, and the electric field strength generated in the EO crystal 31 in each of the regions of the gaps decreases in inverse proportion to the square of the distance from the adjacent electrode. The distance between adjacent electrodes (the width of the gap) in the plurality of electrodes P1 to P5 varies depending on the applied voltage, and the higher the applied voltage, the larger the interelectrode distance needs to be.

本実施の形態では、複数の電極P1〜P5の各電極間には間隙部B1〜B4が形成されており、複数の電極P1〜P5は印加される最大の電圧に応じた所定の距離を隔てて配置される。また、間隙部B1〜B4の各間隙部はレーザ光の進行方向に沿って屈曲形状を有する(図2(b))。これにより、レーザ光L2を間隙部B1に投影させた場合、レーザ光L2の投影線は電極P1,P2の電極の少なくとも一方を横切る。同様にして、レーザ光L3の投影線は電極P2,P3の電極の少なくとも一方を横切り、レーザ光L4の投影線は、夫々電極P3,P4の電極の少なくとも一方を横切り、レーザ光L5の投影線は、夫々電極P4,P5の電極の少なくとも一方を横切る。   In the present embodiment, gaps B1 to B4 are formed between the plurality of electrodes P1 to P5, and the plurality of electrodes P1 to P5 are separated by a predetermined distance according to the maximum voltage to be applied. Arranged. Further, each of the gaps B1 to B4 has a bent shape along the traveling direction of the laser beam (FIG. 2B). Thereby, when the laser beam L2 is projected onto the gap B1, the projection line of the laser beam L2 crosses at least one of the electrodes P1 and P2. Similarly, the projection line of the laser beam L3 crosses at least one of the electrodes P2 and P3, the projection line of the laser beam L4 crosses at least one of the electrodes P3 and P4, and the projection line of the laser beam L5. Crosses at least one of the electrodes P4 and P5, respectively.

図3は、図1における感光ドラム4上に形成される走査線の補正方法を説明する図である。   FIG. 3 is a diagram for explaining a method of correcting the scanning lines formed on the photosensitive drum 4 in FIG.

図3において、ポリゴンミラー1により偏向されたレーザ光は、走査レンズ2を介して感光ドラム4上に走査される。このとき、感光ドラム4上の走査線4−Aは、理想位置Aから副走査方向に曲がった形状となる。制御部34は、記憶手段101に記憶された走査線形データ及び補正データに基づいて、電極P1〜P5に印加する電圧V1〜V5を夫々算出する。そして画像書込み信号から独立した所定のタイミングで該電圧V1〜V5をドライバ回路D1〜D5を介して複数の電極P1〜P5に印加する(グラフ4−B)。所定のタイミングとは、例えば、光走査装置の使用開始から所定時間経過した時等が該当する。EO結晶31内における電極P1〜P5に対応する各領域には、個々に算出された電圧に応じた電界が発生し、EO結晶31内を通過するレーザ光は各電界の強度に応じて副走査方向に偏向される。これにより、走査線4−Aの線分301a〜301eは、走査線4−Cの線分306a〜306eのように理想位置Aに近い位置まで補正される。   In FIG. 3, the laser beam deflected by the polygon mirror 1 is scanned onto the photosensitive drum 4 via the scanning lens 2. At this time, the scanning line 4-A on the photosensitive drum 4 has a shape bent from the ideal position A in the sub-scanning direction. The control unit 34 calculates voltages V1 to V5 to be applied to the electrodes P1 to P5 based on the scanning linear data and the correction data stored in the storage unit 101, respectively. Then, the voltages V1 to V5 are applied to the plurality of electrodes P1 to P5 through the driver circuits D1 to D5 at a predetermined timing independent of the image writing signal (graph 4-B). The predetermined timing corresponds to, for example, when a predetermined time has elapsed since the start of use of the optical scanning device. In each region corresponding to the electrodes P1 to P5 in the EO crystal 31, an electric field corresponding to the individually calculated voltage is generated, and the laser light passing through the EO crystal 31 is sub-scanned according to the intensity of each electric field. Deflected in the direction. Thereby, the line segments 301a to 301e of the scanning line 4-A are corrected to a position close to the ideal position A like the line segments 306a to 306e of the scanning line 4-C.

図4は、図3における間隙部B3及びB4近傍の部分拡大図である。   FIG. 4 is a partially enlarged view of the vicinity of the gaps B3 and B4 in FIG.

図4において、間隙部B3の領域を通過するレーザ光L4は、電極P3及びP4の少なくとも一方を横切るため、電極P3及び/又はP4に印加される電圧により副走査方向に偏向される。また、間隙部B4の領域を通過するレーザ光L5は、電極P4及びP5の少なくとも一方を横切るため、電極P4及び/又はP5に印加される電圧により副走査方向に偏向される。これにより、線分306cと線分306dとの間に変曲点が生じることなく、線分306cと線分306dとが滑らかに繋がる。同様に、線分306dと線分306eとの間に変曲点が生じることなく、線分306dと線分306eとが滑らかに繋がる。尚、間隙部B1及びB2の領域を通過するレーザ光L1,L2は、上記と同様の方法により偏向されるので、その説明を省略する。   In FIG. 4, the laser light L4 passing through the region of the gap B3 crosses at least one of the electrodes P3 and P4, and is thus deflected in the sub-scanning direction by a voltage applied to the electrodes P3 and / or P4. Further, since the laser beam L5 passing through the region of the gap B4 crosses at least one of the electrodes P4 and P5, it is deflected in the sub-scanning direction by the voltage applied to the electrodes P4 and / or P5. Thereby, the inflection point does not occur between the line segment 306c and the line segment 306d, and the line segment 306c and the line segment 306d are smoothly connected. Similarly, the inflection point does not occur between the line segment 306d and the line segment 306e, and the line segment 306d and the line segment 306e are smoothly connected. Since the laser beams L1 and L2 passing through the gaps B1 and B2 are deflected by the same method as described above, the description thereof is omitted.

したがって、走査線4−Aは、全体として走査線4−Cに示すような形状に補正される。図3(a)の走査線4−Aは、説明の関係上、その曲がり形状が大きく表されている。走査線4−Aの実際の曲がりや傾きは全体で0.1mm〜0.2mm程度であり、電極間の間隙部B1〜B4の領域での走査線の段差は0.01mm程度であるので、補正後の走査線4−Cは、理想位置Aに近い位置でほぼ直線形状となる。   Therefore, the scanning line 4-A is corrected to a shape as shown in the scanning line 4-C as a whole. The scanning line 4-A in FIG. 3A has a large bent shape for the sake of explanation. The actual bend and inclination of the scanning line 4-A is about 0.1 mm to 0.2 mm as a whole, and the step of the scanning line in the region of the gaps B1 to B4 between the electrodes is about 0.01 mm. The corrected scanning line 4-C has a substantially linear shape at a position close to the ideal position A.

本実施の形態によれば、制御部34は、画像書込み信号から独立した所定のタイミングで電気光学結晶構造体3に印加される電圧を制御する。電気光学結晶構造体3は、電圧印加により屈折率が変化する特性を有する略直方体形状のEO結晶31と、EO結晶31において副走査方向に対して直角をなす一方の面に取り付けられた共通電極P0を有する。さらに副走査方向に対して直角をなす他方の面に取り付けられかつ間隙部B1〜B4を形成するように主走査方向に沿って配置された電極P1〜P5とを有する。ポリゴンミラー1により走査された光束を各間隙部に投影した場合に、光束の投影線が、各間隙部を形成する2つの電極の少なくとも一方を横切るので、高レベルの電磁放射ノイズの発生を抑制する。さらに、電極間に形成される間隙部B1〜B4の影響を受けずに走査線4−Aの形状を補正することができる。   According to the present embodiment, the control unit 34 controls the voltage applied to the electro-optic crystal structure 3 at a predetermined timing independent of the image writing signal. The electro-optic crystal structure 3 includes a substantially rectangular parallelepiped EO crystal 31 having a characteristic in which a refractive index changes when a voltage is applied, and a common electrode attached to one surface of the EO crystal 31 that is perpendicular to the sub-scanning direction. Has P0. Furthermore, it has electrodes P1 to P5 attached to the other surface perpendicular to the sub-scanning direction and arranged along the main scanning direction so as to form the gaps B1 to B4. When the light beam scanned by the polygon mirror 1 is projected onto each gap, the projection line of the light beam crosses at least one of the two electrodes forming each gap, thereby suppressing the generation of high-level electromagnetic radiation noise. To do. Furthermore, the shape of the scanning line 4-A can be corrected without being affected by the gaps B1 to B4 formed between the electrodes.

図5は、図2における電気光学結晶構造体3の変形例を示す図である。尚、本変形例における電気光学結晶構造体は、その構成が上記実施の形態と同じであり、同じ構成要素については、同一の符号を付して重複した説明を省略し、以下に異なる部分を説明する。   FIG. 5 is a view showing a modification of the electro-optic crystal structure 3 in FIG. The electro-optic crystal structure in the present modification has the same configuration as that of the above-described embodiment, and the same components are denoted by the same reference numerals and redundant description is omitted, and different parts are described below. explain.

図3において、電気光学結晶構造体50は、副走査方向に対して直角をなす両端面に取り付けられた一対の電極部52,33を備える。電極部52は、電極部33と対向して配置される複数の電極P11〜P15で構成される。複数の電極P11〜P15の各電極間には間隙部B11〜B14が形成されており、複数の電極P11〜P15は印加される最大の電圧に応じた所定の距離を隔てて配置される。また、間隙部B11〜B14の各間隙部はレーザ光の進行方向に対して所定角度を有する直線形状を有する。すなわち、間隙部B11は、間隙部B11の領域を通過するレーザ光L12と平行にならないように形成される。これにより、間隙部B11の領域を通過するレーザ光L12を電極P11,P12の電極面に投影させた場合、レーザ光L12の投影線は電極P11,P12の電極面の少なくとも一方を横切る。同様にして、レーザ光L13〜L15の投影線は、夫々、電極P12,P13の電極面の少なくとも一方、電極P13,P14の電極面の少なくとも一方、及び電極P14,P15の電極面の少なくとも一方を横切る。   In FIG. 3, the electro-optic crystal structure 50 includes a pair of electrode portions 52 and 33 attached to both end faces perpendicular to the sub-scanning direction. The electrode part 52 includes a plurality of electrodes P <b> 11 to P <b> 15 arranged to face the electrode part 33. Gaps B11 to B14 are formed between the plurality of electrodes P11 to P15, and the plurality of electrodes P11 to P15 are arranged at a predetermined distance according to the maximum voltage to be applied. Further, each gap portion of the gap portions B11 to B14 has a linear shape having a predetermined angle with respect to the traveling direction of the laser beam. That is, the gap B11 is formed so as not to be parallel to the laser beam L12 passing through the area of the gap B11. Thereby, when the laser beam L12 passing through the region of the gap B11 is projected onto the electrode surfaces of the electrodes P11 and P12, the projection line of the laser beam L12 crosses at least one of the electrode surfaces of the electrodes P11 and P12. Similarly, the projection lines of the laser beams L13 to L15 respectively include at least one of the electrode surfaces of the electrodes P12 and P13, at least one of the electrode surfaces of the electrodes P13 and P14, and at least one of the electrode surfaces of the electrodes P14 and P15. Cross.

本変形例によれば、間隙部B11〜B14が直線形状であるので、簡単な形状を有する電極P11〜P15を用いて走査線形状を補正することができる。   According to this modification, since the gaps B11 to B14 have a linear shape, the scanning line shape can be corrected using the electrodes P11 to P15 having a simple shape.

走査線形状は、光走査装置に固有のものであるため、光走査装置が設けられる画像形成装置等で測定することが好ましい。しかしながら、画像形成装置には多数の電極に対応する多数の測定手段を設ける必要があり、測定手段の配置やコストの問題がある。走査線形状の曲りは初期から大きく変化するものではないので、光走査装置単体の状態で電極数以上の測定箇所で正確な走査線形状を予め測定して、その走査線形状データを記憶部36に記憶させておけばよい。また、画像形成装置は、必要に応じて走査線の両端部の傾きを測定可能な構成であってもよい。   Since the scanning line shape is unique to the optical scanning device, it is preferably measured by an image forming apparatus provided with the optical scanning device. However, it is necessary to provide a large number of measuring units corresponding to a large number of electrodes in the image forming apparatus, and there is a problem of arrangement and cost of the measuring units. Since the bending of the scanning line shape does not change greatly from the initial stage, an accurate scanning line shape is measured in advance at a measurement location equal to or more than the number of electrodes in the state of the optical scanning device alone, and the scanning line shape data is stored in the storage unit 36. You can memorize it. Further, the image forming apparatus may be configured to be able to measure the inclination of both ends of the scanning line as necessary.

本実施の形態では、走査線形状データ及び補正情報は記憶部36に記憶されるが、これに限るものではなく、数値やバーコードとして光走査装置本体にラベリングされてもよい。これにより、故障等により光走査装置を交換する場合においても、画像形成装置が補正情報を自動的に読み込んで走査線形状を補正することが可能となる。   In the present embodiment, the scanning line shape data and the correction information are stored in the storage unit 36. However, the present invention is not limited to this, and the scanning line shape data and correction information may be labeled on the optical scanning device main body as numerical values or barcodes. As a result, even when the optical scanning device is replaced due to a failure or the like, the image forming apparatus can automatically read the correction information and correct the scanning line shape.

また、本実施の形態では、記憶部36に記憶される補正情報は、走査線形状データに対応する、共通電極P0及び複数の電極P1〜P5に印加する電圧データである。しかしこれに限るものではなく、走査線形状データに対応する、副走査方向に関する補正距離データであってもよい。   In the present embodiment, the correction information stored in the storage unit 36 is voltage data applied to the common electrode P0 and the plurality of electrodes P1 to P5 corresponding to the scanning line shape data. However, the present invention is not limited to this, and correction distance data in the sub-scanning direction corresponding to the scanning line shape data may be used.

本実施の形態では、電極部32の電極数は5個(P1〜P5)であるが、これに限るものではなく、10〜20個であってもよく、また、100個以下であってもよい。   In the present embodiment, the number of electrodes of the electrode portion 32 is five (P1 to P5), but is not limited thereto, and may be 10 to 20, or may be 100 or less. Good.

本実施の形態では、EO結晶31は、K,Ta,Nb,Oから成る材料であるが、電気光学定数(電界印加による屈折率変化量の比例係数)の大きな電気光学結晶を用いると、印加電圧を従来の1/10以下にすることができる。これにより、電極間距離を小さくすることができ、また、電磁放射ノイズの発生を更に抑制することが可能である。   In the present embodiment, the EO crystal 31 is a material composed of K, Ta, Nb, and O. However, when an electro-optic crystal having a large electro-optic constant (proportional coefficient of the refractive index change amount by applying an electric field) is used, the EO crystal 31 is applied. The voltage can be reduced to 1/10 or less of the conventional voltage. Thereby, the distance between electrodes can be reduced, and generation of electromagnetic radiation noise can be further suppressed.

本実施の形態では、ポリゴンミラー1によって感光ドラム4を走査するが、これに限るものではなく、ガルバノミラーやMEMS(Micro Electro Mechanical System)によって感光ドラムを走査する構成であってもよい。   In the present embodiment, the photosensitive drum 4 is scanned by the polygon mirror 1, but the present invention is not limited to this, and a configuration in which the photosensitive drum is scanned by a galvano mirror or MEMS (Micro Electro Mechanical System) may be used.

また、本発明の目的は、上述した実施の形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムを記憶した記憶媒体を光走査装置に供給し、その光走査装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読出して実行することによっても、達成される。   Another object of the present invention is to supply a storage medium storing a software program for realizing the functions of the above-described embodiments to an optical scanning device, and the computer (or CPU, MPU, etc.) of the optical scanning device stores the storage medium. This can also be achieved by reading and executing the program code stored in.

この場合、記憶媒体から読出されたプログラムコード自体が上述した実施の形態の機能を実現することとなり、そのプログラムコード及び該プログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成する。   In this case, the program code itself read from the storage medium realizes the functions of the above-described embodiment, and the program code and the storage medium storing the program code constitute the present invention.

また、プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、例えば、フロッピー(登録商標)ディスク、ハードディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、CD−R、CD−RW、DVD−ROM、DVD−RAM、DVD−RW、DVD+RW等の光ディスク、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROM等を用いることができる。または、プログラムコードをネットワークを介してダウンロードしてもよい。   Examples of the storage medium for supplying the program code include a floppy (registered trademark) disk, a hard disk, a magneto-optical disk, a CD-ROM, a CD-R, a CD-RW, a DVD-ROM, a DVD-RAM, and a DVD. An optical disc such as RW or DVD + RW, a magnetic tape, a nonvolatile memory card, a ROM, or the like can be used. Alternatively, the program code may be downloaded via a network.

コンピュータから読出されたプログラムコードを実行することにより、上述した上記実施の形態の機能が実現されだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動するOS(オペレーティングシステム)等が実際の処理の一部又は全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。   By executing the program code read from the computer, not only the functions of the above-described embodiments are realized, but an OS (operating system) operating on the computer based on the instruction of the program code is actually used. It goes without saying that a case where the function of the above-described embodiment is realized by performing part or all of the processing and the processing is included.

さらに、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるCPUなどが実際の処理の一部又は全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。   Further, after the program code read from the storage medium is written to a memory provided in a function expansion board inserted into the computer or a function expansion unit connected to the computer, the function expansion is performed based on the instruction of the program code. This includes a case where the CPU or the like provided in the board or the function expansion unit performs part or all of the actual processing, and the functions of the above-described embodiments are realized by the processing.

本発明の実施の形態に係る光走査装置の構成を概略的に示す平面図である。1 is a plan view schematically showing a configuration of an optical scanning device according to an embodiment of the present invention. 電気光学結晶構造体の構成を概略的に示す図であり、(a)はブロック図であり、(b)は平面図である。It is a figure which shows the structure of an electro-optic crystal structure roughly, (a) is a block diagram, (b) is a top view. 図1における感光ドラム上に形成される走査線の補正方法を説明する図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a method for correcting a scanning line formed on the photosensitive drum in FIG. 1. 図3における間隙部B3及びB4近傍の部分拡大図である。FIG. 4 is a partially enlarged view near gaps B3 and B4 in FIG. 3. 図2における電気光学結晶構造体の変形例を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a modification of the electro-optic crystal structure in FIG. 2.

符号の説明Explanation of symbols

1 ポリゴンミラー
2 走査レンズ
3 電気光学結晶構造体
4 感光ドラム
31 電気光学結晶
32,33 一対の電極部
P0 共通電極
P1〜P5 複数の電極
D0〜D5 ドライバ回路
34 制御部
36 記憶部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Polygon mirror 2 Scan lens 3 Electro-optic crystal structure 4 Photosensitive drum 31 Electro-optic crystal 32, 33 A pair of electrode part P0 Common electrode P1-P5 Several electrode D0-D5 Driver circuit 34 Control part 36 Memory | storage part

Claims (5)

光源と、前記光源から出射された光束を主走査方向に走査する光偏向手段と、前記光偏向手段と前記走査された光束の照射位置に静電潜像を形成する感光体との間の光路中に配置され、前記光偏向手段により走査された光束を電圧印加により副走査方向に偏向する電気光学結晶構造体と、画像書込み信号から独立した所定のタイミングで前記電気光学結晶構造体に印加される電圧を制御する制御手段とを備え、
前記電気光学結晶構造体は、電圧印加により屈折率が変化する特性を有する略直方体形状の電気光学結晶と、前記電気光学結晶において副走査方向に対して直角をなす一方の面に取り付けられた共通電極と、副走査方向に対して直角をなす他方の面に取り付けられかつ少なくとも1つの間隙部を形成するように主走査方向に沿って配置された複数の電極とを有し、
前記光偏向手段により走査された光束を前記間隙部に投影した場合に、前記光束の投影線が、前記間隙部を形成する2つの電極の少なくとも一方を横切ることを特徴とする光走査装置。
An optical path between a light source, a light deflecting unit that scans a light beam emitted from the light source in a main scanning direction, and a photosensitive member that forms an electrostatic latent image at an irradiation position of the scanned light beam. And an electro-optic crystal structure that deflects a light beam scanned by the light deflecting means in the sub-scanning direction by applying a voltage, and is applied to the electro-optic crystal structure at a predetermined timing independent of an image writing signal. Control means for controlling the voltage to be
The electro-optic crystal structure includes a substantially rectangular parallelepiped-shaped electro-optic crystal having a characteristic in which a refractive index changes when a voltage is applied, and a common attached to one surface of the electro-optic crystal that is perpendicular to the sub-scanning direction. An electrode, and a plurality of electrodes attached to the other surface perpendicular to the sub-scanning direction and arranged along the main scanning direction so as to form at least one gap,
An optical scanning device characterized in that, when a light beam scanned by the light deflecting means is projected onto the gap, the projection line of the light beam crosses at least one of the two electrodes forming the gap.
前記制御手段は、前記光偏向手段の走査により形成される走査線形状に応じて予め定められた個々の電圧を、前記複数の電極に印加することを特徴とする請求項1記載の光走査装置。   2. The optical scanning device according to claim 1, wherein the control unit applies individual voltages, which are predetermined according to a scanning line shape formed by scanning of the light deflecting unit, to the plurality of electrodes. . 前記光偏向手段の走査により形成される走査線の形状データ及び該形状データに対応する補正情報を記憶する記憶手段を備えることを特徴とする請求項1又は2記載光走査装置。   3. The optical scanning device according to claim 1, further comprising storage means for storing shape data of scanning lines formed by scanning of the light deflection means and correction information corresponding to the shape data. 前記補正情報は、前記形状データに対応する、前記共通電極及び前記複数の電極に印加する電圧データであることを特徴とする請求項3記載の光走査装置。   4. The optical scanning device according to claim 3, wherein the correction information is voltage data applied to the common electrode and the plurality of electrodes corresponding to the shape data. 前記電気光学結晶は、カリウム、タンタル、ニオブ及び酸素から成ることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の光走査装置。   5. The optical scanning device according to claim 1, wherein the electro-optic crystal is made of potassium, tantalum, niobium, and oxygen.
JP2007021128A 2007-01-31 2007-01-31 Optical scanning device Expired - Fee Related JP4761571B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007021128A JP4761571B2 (en) 2007-01-31 2007-01-31 Optical scanning device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007021128A JP4761571B2 (en) 2007-01-31 2007-01-31 Optical scanning device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008185917A true JP2008185917A (en) 2008-08-14
JP4761571B2 JP4761571B2 (en) 2011-08-31

Family

ID=39728991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007021128A Expired - Fee Related JP4761571B2 (en) 2007-01-31 2007-01-31 Optical scanning device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4761571B2 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04323953A (en) * 1991-04-24 1992-11-13 Canon Inc Image forming device
JP2004109456A (en) * 2002-09-18 2004-04-08 Ricoh Co Ltd Optical scanning device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04323953A (en) * 1991-04-24 1992-11-13 Canon Inc Image forming device
JP2004109456A (en) * 2002-09-18 2004-04-08 Ricoh Co Ltd Optical scanning device

Also Published As

Publication number Publication date
JP4761571B2 (en) 2011-08-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4440760B2 (en) Image forming apparatus
JP4912071B2 (en) Optical scanning apparatus, optical scanning method, image forming apparatus, color image forming apparatus, program, and recording medium
JP4863840B2 (en) Pixel forming apparatus, optical scanning apparatus, optical scanning method, image forming apparatus, and color image forming apparatus
US7515170B2 (en) Optical scanner and image forming apparatus
US8014041B2 (en) Optical scanning apparatus and image forming apparatus
US20010017645A1 (en) Image forming apparatus
JP2007269001A (en) Light scanning apparatus, light scanning method, image forming apparatus, color image forming apparatus, program, and recording medium
JP2013240996A (en) Image forming apparatus for performing correction control of image forming position and control method thereof
JP4007807B2 (en) Optical scanning device and image forming apparatus using the same
JP4321764B2 (en) Optical scanning apparatus and image forming apparatus
US7858923B2 (en) Light beam scanning apparatus and image forming apparatus provided with the same
US6404448B1 (en) Color-image forming apparatus with write start position setter
JP4250156B2 (en) Electrophotographic imaging device and field curvature correction method
JP4896663B2 (en) Pixel forming apparatus, optical scanning apparatus, optical scanning method, image forming apparatus, color image forming apparatus, program, and recording medium
US7782511B2 (en) Optical scanning apparatus and image forming apparatus comprising the same
KR20100077717A (en) Light scanning unit caparable of compensating for zigzag error, image forming apparatus employing the same, and method of compensating for zigzag error of the light scanning unit
JP4761571B2 (en) Optical scanning device
JP2007114518A (en) Optical scanner, image forming apparatus, and method of correcting vertical scanning position
JP2008281959A (en) Scanning optical apparatus, image forming apparatus and method of controlling light quantity
JP2007008132A (en) Dot position correction device, optical scanning device, image formation device, and color image formation device
JP4313224B2 (en) Dot position correction method and image forming apparatus using the same
JP2007160508A (en) Optical scanner and image forming apparatus
JP2008185918A (en) Optical scanner
JPH09251137A (en) Laser recorder
JP2008181106A (en) Light beam scanning apparatus and image forming apparatus provided with the same

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091211

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110601

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110601

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110606

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140617

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees