JP2008185600A - Improved accelerated weathering apparatus - Google Patents

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Rajen Rathod
ラージェン・ラソッド
Richard D Donato
リチャード・ディー・ドナート
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ATLAS MAT TESTING TECH GmbH
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus for accelerated wheathering testing specimens having discharge lamps as a concentrated light source for accelerating fading, and deteriorating of composition and structure of specimens and also having an improved control, calibration structure, and operations method. <P>SOLUTION: Irradiation is sensed by a test module for monitoring a weathering test process from an improved location, in the manner in which the specimens are exposed to irradiance. The test modules are attached to a pocket formed in a door of a test chamber so that the senstive modules are not exposed to harsh environment in the test chamber. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、試料の耐候効果を促進する装置に関するものであり、より詳細には、試料の退色、組成、構造の劣化を促進する集中光源とされる放電ランプを有し、制御、較正構造、操作方法の改良を施したものに関する。本発明に係る好適な実施例においては、紫外線のスペクトル点で、概ね自然太陽光に近似する紫外線蛍光ランプが光源として用いられ、これにより劣化が生じるものであり、特にこれに関連して説明する。しかし、他の放電ランプ、代表例としてキセノンランプ等を光源として用いてもよいことは理解されるだろう。   The present invention relates to a device that promotes the weathering effect of a sample, and more particularly, a discharge lamp that serves as a concentrated light source that promotes fading, composition, and structural deterioration of a sample, and a control, calibration structure, It relates to an improved operation method. In a preferred embodiment according to the present invention, an ultraviolet fluorescent lamp that approximates natural sunlight at the ultraviolet spectral point is used as a light source, and this causes deterioration, and this will be described in particular. . However, it will be understood that other discharge lamps, typically xenon lamps, etc. may be used as the light source.

図1に示すように、放電ランプを用いた従来の試験装置は、試験チャンバ12内に設けられ断面において下方に左右対称に広がる8つの紫外線ランプ10を有している。試験される試料14は、内面がランプの方向を向いて、それからの照射をうけるために、試験装置のハウジングの二つの対向する試料サポート壁に取付けられている。図示の装置においては、上部と下部の二つの試料があるが、一つの試料のみであっても、試料が二つ以上あってもよい。試料14の裏面は装置外部の大気に曝される。外気はチャンバ12の温度を調整するために、熱せられ、チャンバ12内部に吹き込まれる。湿気供給タンク16の水分は、常套の手段によって熱せられ、チャンバ12に湿気を供給するために蒸発される。   As shown in FIG. 1, a conventional test apparatus using a discharge lamp has eight ultraviolet lamps 10 provided in a test chamber 12 and extending symmetrically downward in a cross section. The sample 14 to be tested is mounted on two opposing sample support walls of the housing of the test apparatus for the inner surface to face the lamp and receive irradiation therefrom. In the illustrated apparatus, there are two samples, an upper part and a lower part, but there may be only one sample or two or more samples. The back surface of the sample 14 is exposed to the atmosphere outside the apparatus. The outside air is heated and blown into the chamber 12 to adjust the temperature of the chamber 12. The moisture in the moisture supply tank 16 is heated by conventional means and evaporated to supply moisture to the chamber 12.

上記の試験装置においては、動作の一例として照射光を試料14に、60℃の温度で16時間照射を行い、その後、ランプ10を消灯し、チャンバ12の内部を、湿気を生じさせるために、50℃に8時間保つ。これら二つのステップ(これらは、劣化試験動作の一サイクルを構成する)が連続して繰り返される。ランプの消灯中はチャンバ12の湿度は高く、試料の裏面は低温の外気に曝される。それによって、試料の表面は、液化により湿る。こうして、試料の加湿、紫外線の照射、乾燥が繰り返され、試料の劣化が促進される。上記の説明は、この種の装置のためのサイクルの単なる一例であることが理解されよう。   In the above test apparatus, as an example of the operation, the sample 14 is irradiated with irradiation light at a temperature of 60 ° C. for 16 hours, and then the lamp 10 is turned off and the interior of the chamber 12 is caused to generate moisture. Hold at 50 ° C. for 8 hours. These two steps (these constitute one cycle of the degradation test operation) are repeated in succession. While the lamp is turned off, the humidity of the chamber 12 is high, and the back surface of the sample is exposed to low temperature outside air. Thereby, the surface of the sample becomes wet by liquefaction. Thus, humidification of the sample, irradiation with ultraviolet rays, and drying are repeated, and the deterioration of the sample is promoted. It will be appreciated that the above description is only one example of a cycle for this type of device.

しかしながら、図1に示す装置においては問題が存在する。まず、劣化率を探知したり、照射出力を制御するために、蛍光ランプ10の出力を感知するものが存在しない。この種の装置において、ランプからの出力を均一なものとするために通常とられるやり方としては、所定の時間間隔、所定手順でランプの位置を回転させることがある。ランプの実際の出力を検知する試験はなされずに、出力見込みの仮定がなされ、この仮定を考慮して回転手順がつくられる。   However, there are problems with the apparatus shown in FIG. First, there is nothing that senses the output of the fluorescent lamp 10 in order to detect the deterioration rate or control the irradiation output. In this type of apparatus, the usual way to make the output from the lamp uniform is to rotate the position of the lamp at a predetermined time interval and in a predetermined procedure. Instead of testing to detect the actual output of the lamp, an assumption of power output is made and a rotation procedure is created taking this assumption into account.

この種の装置の他の欠点は、起動及び作動中ランプの調整のためのものが存在しない点である。したがって、ランプの寿命は短くなり、試験の正確さに歪みが生じる。さらに、ランプからの照射を較正する機能も有していない。   Another disadvantage of this type of device is that there is no one for adjusting the lamp during start-up and operation. Therefore, the lamp life is shortened and the test accuracy is distorted. Furthermore, it does not have the function of calibrating the illumination from the lamp.

図1に示した従来の試験装置の上記欠点を改善するために様々な試みがなされてきた。これらには、アトラス・エレクトリック・ディバイセス・カンパニー社の装置Atlas Ci35 FADE-OMETER(登録商標)、ヘラエウスの装置XENOTEST(登録商標)1200CPS、1985年10月1日発行のスガの米国特許第4544995号、1971年4月27日発行のココット等の米国特許第4544995号、1993年4月27日発行のフェドー等の米国特許第5206518号などがある。   Various attempts have been made to remedy the above disadvantages of the conventional test apparatus shown in FIG. These include the Atlas Ci35 FADE-OMETER (registered trademark) device from Atlas Electric Devices Company, the device XENOTEST (registered trademark) 1200 CPS from Heraeus, US Pat. No. 4,544,995 issued October 1, 1985, US Pat. No. 4,544,995 issued to Cocot et al. Issued on Apr. 27, 1971, and US Pat. No. 5,206,518 issued to Fedo et al. Issued Apr. 27, 1993.

アトラス社の装置はキセノン・アークランプを用いて使用されるようになっており、主要な光の制御システムとして、閉ループの照射モニターを有している。モニターは、ライトパイプ、干渉フィルター、固体電子装置に給電する感光ダイオードを用いて、所定の照射レベルを維持し、インテグレーターを通じて試料が受けたエネルギーを合計する。この装置はさらに、定期的にシステムを較正するための、手動式の照射制御部をも備えている。   Atlas devices are being used with xenon arc lamps and have a closed-loop illumination monitor as the primary light control system. The monitor uses a light pipe, an interference filter, and a photosensitive diode that supplies power to the solid state electronic device, maintains a predetermined irradiation level, and sums the energy received by the sample through the integrator. The device further includes a manual illumination control for periodically calibrating the system.

ヘラエウスの装置もまた、キセノン・アークランプを用いて使用されるようになっている。この装置は、三つの別個のキセノン・アークランプの出力を検知する三つの光検知部を有している。   Heraeus devices are also being used with xenon arc lamps. This device has three light detectors that detect the output of three separate xenon arc lamps.

上記で述べたこれら二つの装置の要素を含んでいる従来の装置は、放電ランプを有している。これは、キセノンタイプで、垂直に設置されているものである。放電ランプの周囲のフィルターは、所望の波長の光のみを通過させるために設けられている。センサーは、垂直に配置された放電ランプの出力を感知するために設けられ、回転試料保持ラックは、放電ランプを取り囲むように配置されている。各々検知部は、それぞれの放電ランプからの照射を一定時間を超えて検知するように構成されている。回転試料保持ラックは、試料保持ラックに置かれた試料を回転させる。センサーは、放電ランプの出力を探知するようになっており、回転試料保持ラックは、全体平均として均等の照射量を各試料に提供するように試みられている。内壁は、放電ランプの反射光を外の試料に向けるために用いられる。   A conventional device that includes the elements of these two devices described above has a discharge lamp. This is a xenon type and is installed vertically. A filter around the discharge lamp is provided to pass only light of a desired wavelength. The sensor is provided to sense the output of the discharge lamp arranged vertically, and the rotating sample holding rack is arranged so as to surround the discharge lamp. Each detection part is comprised so that irradiation from each discharge lamp may be detected exceeding fixed time. The rotating sample holding rack rotates the sample placed on the sample holding rack. The sensor is adapted to detect the output of the discharge lamp, and the rotating sample holding rack is attempted to provide a uniform dose to each sample as an overall average. The inner wall is used to direct the reflected light of the discharge lamp to the outside sample.

図1の類似の構成で紫外線ランプを有する他の装置が、単一のセンサーを有していることが知られている。しかし、そのような構成においては、設置に先立って、ランプの特性を適合させることが必要である。これが必要なのは、センサーは設置位置に最も近いランプしか感知しないからである。こうして、センサーは、センサーから離隔配置されているランプは、実際に感知しているランプと同一の動作をしているものと仮定するのである。   It is known that other devices having a UV lamp with a similar configuration of FIG. 1 have a single sensor. However, in such a configuration, it is necessary to adapt the characteristics of the lamp prior to installation. This is necessary because the sensor senses only the lamp closest to the installation location. Thus, the sensor assumes that the lamp that is spaced from the sensor behaves the same as the lamp that it is actually sensing.

スガ特許は図1の放電ランプ10の配置を非対称のものに調整することによって、図1に示した装置に改良を試みようとしたものであった。放電ランプ10は相互に直下には配置されず、むしろ、これらは、特別に配置された構成になっている。これはスガ特許において、試料14により均一な照射がなされる意図で行われているものである。   The Suga patent attempted to improve the apparatus shown in FIG. 1 by adjusting the arrangement of the discharge lamp 10 in FIG. 1 to be asymmetric. The discharge lamps 10 are not arranged directly below each other, but rather they have a special arrangement. This is performed in the Suga patent with the intention of uniform irradiation by the sample 14.

ココット等の特許は長尺状の照射光源を円筒形のキャリヤ表面内に用いる装置としている。ココット等の特許は、試料に均一の照射を提供するための三つの方法を開示している。まず、使用可能な光を反射させる鏡を設置する。次に、端部での光度を増加するように光源を設計する。最後に、光源からの照射の発散を抑えるために照射ディスクを用いる。   The Cocot et al. Patent refers to an apparatus that uses an elongate illumination source within a cylindrical carrier surface. The Cocot et al. Patent discloses three methods for providing uniform illumination to a sample. First, a mirror that reflects usable light is installed. Next, the light source is designed to increase the luminous intensity at the edge. Finally, an irradiation disk is used to suppress the divergence of irradiation from the light source.

フェドー等の特許は、図1に示されている装置と構造において類似しているものであり、改良された光出力コントローラーと光線発生部を試験チャンバに有している。フェドー等の特許では、試験チャンバを有するハウジングとチャンバ内に設けられた試料サポート壁を有する装置が開示されている。光源は試験チャンバ内に設けられている。バラストは光源に接続されており、電源から光源が受ける電力量を制御する。コントローラーはバラストに接続されており、所望の目標値に従ったバラストの動作を制御するためのバラスト制御信号を生成する。光源検出器は、試験チャンバ内の現存する照射を検出するために、試料サポート壁内に配置されている。こうして、光源検出器は照射信号を生成することができ、この信号はコントローラーに入力される。所望の目標値を維持するために、バラスト制御信号を調整し、そのためにコントローラーは、照射信号を用いる。較正部は、光源検出器に隣接した試料サポート壁に挿入された基準検出器を有しており、これは、試験チャンバ内の照射を検出し、基準照射信号を生成するようになっている。基準照射信号は較正メーターに送られ、そこで較正信号が生成される。較正信号は、装置の較正のためにコントローラーに送られる。   The Fedor et al. Patent is similar in construction to the apparatus shown in FIG. 1 and has an improved light output controller and light generator in the test chamber. The Fedor et al. Patent discloses an apparatus having a housing having a test chamber and a sample support wall provided in the chamber. A light source is provided in the test chamber. The ballast is connected to the light source and controls the amount of power received by the light source from the power source. The controller is connected to the ballast and generates a ballast control signal for controlling the operation of the ballast according to a desired target value. A light source detector is placed in the sample support wall to detect existing illumination in the test chamber. Thus, the light source detector can generate an illumination signal, which is input to the controller. In order to maintain the desired target value, the ballast control signal is adjusted, for which the controller uses the irradiation signal. The calibration unit has a reference detector inserted in the sample support wall adjacent to the light source detector, which detects irradiation in the test chamber and generates a reference irradiation signal. The reference illumination signal is sent to a calibration meter where a calibration signal is generated. The calibration signal is sent to the controller for device calibration.

フェドーの装置はさらに、試験チャンバ内に隔壁を有している。隔壁は、光源列からの光線を選択的に遮断したり、方向を変更するように構成されている。光線の遮断や方向変更は、試料サポート壁に対する光線がより均一になるようなパターンで行われる。   The Fedo device further has a septum in the test chamber. The partition is configured to selectively block light from the light source array or change the direction. The light beam is blocked or changed in direction so that the light beam on the sample support wall becomes more uniform.

フェドーの装置は、さらに、個々の光源の出力を制御するための同時動作する複数の自動調整制御チャンネルを有している。複数のチャンネルは少なくとも一つの光源の出力を制御する。   The fade device further includes a plurality of simultaneously operating automatic adjustment control channels for controlling the output of the individual light sources. The plurality of channels controls the output of at least one light source.

上記のものは前述の従来装置を改良したものであるが、依然として欠点が存在する。アトラスとヘラエウスの装置についてみると、両者とも試料回転ラック部材を用いている。このラックが必要とされるのはまさに、基本的な理由からである。アトラスの装置は、システム全体の一定時間を超える予め設定した総照射出力レベルを維持するために、キセノン・アークランプの総出力をモニターするモニターシステムを有している。ヘラエウスの装置は、一定時間を超えた三つの異なるランプの出力を制御するための三つのセンサーを用いている。これらのセンサー部材は一定時間を超える一定の照射を生じさせるために用いられる。しかし、これらの装置のいずれも空間的に持続的に照射を生じさせるセンサー部材を用いてはいない。   While the above is an improvement over the prior art device described above, there are still drawbacks. Looking at the Atlas and Heraeus devices, both use sample rotating rack members. This rack is needed for basic reasons. Atlas devices have a monitor system that monitors the total power output of the xenon arc lamp to maintain a preset total illumination power level that exceeds a certain time throughout the system. The Heraeus device uses three sensors to control the output of three different lamps over a period of time. These sensor members are used to produce a certain irradiation over a certain time. However, none of these devices uses a sensor member that generates irradiation spatially and continuously.

これらの装置は、いずれも空間的な均一性を達成しようとして回転試料ラックを用いている。それゆえ、空間的な均一性は、回転ラック内の試料を、ランプの周囲で回転させることによって達成されるので、各試料が受ける有意な光量は、試料面の周囲の各地点での異なる照射の平均を示している。ラックの回転により均一性は高まるが、モーターや関連の駆動機構が必要となり、装置の構成がより複雑になってしまう。   Both of these devices use rotating sample racks in an attempt to achieve spatial uniformity. Therefore, spatial uniformity is achieved by rotating the sample in the carousel around the lamp, so that the significant amount of light received by each sample has different illumination at each point around the sample surface. Shows the average. Although the uniformity is increased by the rotation of the rack, a motor and related drive mechanism are required, and the configuration of the apparatus becomes more complicated.

しかるに、これらの装置は照射を感知する機能を有してはいるものの、これらの機能は、時間的な一定の出力のためだけを意図したもので、空間的なものを意図したものではない。装置の構造に起因して、試料の周囲の地点ごとに照射は異なる。それゆえ、放電ランプの正面に位置している領域は、高い照射領域となるのに対して、放電ランプから離れた地点にある試料はより低い照射しか受けない。ラックの回転は試料にあたる照射を全体として均一にすることを意図しているものである。   However, although these devices have the function of sensing irradiation, these functions are intended only for a constant temporal output, not spatial. Due to the structure of the device, the irradiation is different for each point around the sample. Therefore, the area located in front of the discharge lamp is a high irradiation area, whereas the sample at a point away from the discharge lamp receives lower irradiation. The rotation of the rack is intended to make the irradiation on the sample uniform as a whole.

単一のセンサーを用いた公知の紫外線システムは、ランプをシステムに適合させる必要があるという欠点がある。これによると、使用の前にランプの広範囲の試験が必要となる。さらなる欠点としては、そのようなシステムでは、センサー位置から離れて配置されているランプが焼きついたり、機能が低下したときには、ランプの出力の低下が感知されないことになる。このことは、直近のランプのみが実際に感知されていることからすると正しいものといえ、残りのランプも同様に機能しているものと仮定されるのである。   Known UV systems using a single sensor have the disadvantage that the lamp needs to be adapted to the system. This requires extensive testing of the lamp before use. As a further disadvantage, in such a system, when a lamp located far from the sensor location burns in or loses its function, a decrease in lamp output is not perceived. This is correct because only the most recent lamp is actually sensed, and the remaining lamps are assumed to be functioning as well.

スガ特許は、試料の頂部から底部までの光の均一性を増加させるために、中央の二つのランプを試料から離すことにより、試料にあたる光の均一性の向上を試みている。この構成の欠点は、スガ特許の改良点を得るための、現存の耐候性装置の改造は容易ではないという点にある。   The Suga patent attempts to improve the uniformity of the light hitting the sample by separating the two central lamps from the sample in order to increase the uniformity of the light from the top to the bottom of the sample. The disadvantage of this configuration is that it is not easy to modify existing weathering devices to obtain the Suga patent improvement.

ココット等の特許の欠点はそれが単一のランプシステムを想定している点である。他のココット特許の欠点は、装置の複雑性とコストが増大する点にある。   The disadvantage of the Cocot et al. Patent is that it assumes a single lamp system. The disadvantage of other Cocot patents is the increased complexity and cost of the device.

上記の従来の試験装置に関するさらなる欠点は、その較正機能にある。これらの装置は操作者による手動操作が必要となる。このことは逆にいうと、操作者が適切な較正をするために決定的に重要な判断を行う必要があることを意味する。操作者は装置の手動による再較正しながら判断する責任があるので、較正の正確性は操作者の技能に依存することになってしまう。さらに、較正は手動により行われるので、このような較正の間に停止時間が生じてしまい、操作者のミスによる不正確さがかなりの確率で存在する。   A further drawback with the above conventional test apparatus is its calibration function. These devices require manual operation by an operator. Conversely, this means that the operator needs to make a critical decision in order to make a proper calibration. Since the operator is responsible for making decisions while manually recalibrating the device, the accuracy of the calibration will depend on the skill of the operator. Furthermore, since calibration is performed manually, downtime occurs during such calibration, and inaccuracies due to operator error exist with considerable probability.

フェドー特許は、試験装置の制御及び較正手順を自動化するようにしている。同時制御により、試料サポート壁内に配置された複数のセンサーをモニターし、それぞれ別個のチャンネルを制御する。個別のセンサーを較正するために、操作者はドアを開け、基準センサーを試験チャンバ内の試料サポート壁の内部に、個別のセンサーに直近して取り付ける。較正作業は、残念ながら操作者のミスを多く生じさせる。操作者はランプの種類とそれぞれの較正位置を手動で選択しなければならない。この較正手順の問題点は、操作者は安全システムを無視しなければならず、このことが更に基準センサーの読み取りでのエラーを生じさせるという点にある。さらに、操作者は有害な紫外線の照射に曝されることになる。   The Fedor patent attempts to automate the control and calibration procedures of the test equipment. Simultaneous control monitors multiple sensors located in the sample support wall and controls each separate channel. To calibrate the individual sensors, the operator opens the door and installs a reference sensor inside the sample support wall in the test chamber, in close proximity to the individual sensor. Unfortunately, the calibration operation is unduly error prone to the operator. The operator must manually select the lamp type and the respective calibration position. The problem with this calibration procedure is that the operator must ignore the safety system, which further causes an error in reading the reference sensor. In addition, the operator is exposed to harmful ultraviolet radiation.

フェドーはさらに、ランプ列の間に隔壁を設けることによってチャンバ内の光線の放射を制御しようとしている。この構成の欠点は、個々のセンサーと基準センサーが試料サポート壁内部に取り付けられている点である。この配置では、センサーが、試料が直面する暴露効果のすべてに曝される。したがって、この装置に用いられると、センサーは不具合を生じ、その結果、試験のエラーを招くことになる。別の欠点はランプの電力を制御するためのバラストである。フェドーは、バラストからの電力を増減するために信号がバラストへ送られる従来のバラストしか用いていない。   Fedo also seeks to control the radiation of light within the chamber by providing a partition between the lamp trains. The disadvantage of this configuration is that the individual sensors and the reference sensor are mounted inside the sample support wall. In this arrangement, the sensor is exposed to all of the exposure effects encountered by the sample. Thus, when used in this device, the sensor will fail, resulting in test errors. Another drawback is the ballast for controlling the lamp power. Fedor uses only conventional ballast in which a signal is sent to the ballast to increase or decrease the power from the ballast.

フェドー装置のさらなる欠点は、同時制御アルゴリズムを用いている点であり、これによると、センサーの読み取りに誤りのバイアスが生じる。その結果、照射測定値が不正確になる。したがって、制御システムが誤りのバイアスを有し、試験結果が信頼性のないものになりうる。   A further disadvantage of the fade device is the use of a coincidence control algorithm, which causes an error bias in the sensor reading. As a result, the irradiation measurement value becomes inaccurate. Thus, the control system can have an error bias and the test results can be unreliable.

それゆえ、センサーの配置、バイアスのないセンサー読み取り、制御及び較正方法、バラスト構成及び動作の点で改良された促進耐候性装置が望まれている。本発明は前記の問題点やその他の問題点をすべて克服し、簡単に操作でき、信頼性の高い試験構成となっている改良された促進耐候性装置である。   Therefore, an improved accelerated weathering device is desired in terms of sensor placement, unbiased sensor reading, control and calibration methods, ballast configuration and operation. The present invention is an improved accelerated weathering device that overcomes all of the above and other problems, is easy to operate and has a highly reliable test configuration.

上記課題を解決するために、本発明は、エンクロージャー内に設けられている試験チャンバへのアクセスのためのドアを少なくとも一つ有しているエンクロージャーと、試験チャンバ内に設けられている試料ホルダーを支持するための試料取付け部と、試験チャンバ内で光を発生させる試験チャンバ内に設置されている光源と、光源に給電するための電源と、少なくとも一つのドアに設けられているポケット内に取り外し可能に設置されている、試験チャンバ内の光源からの照射を検知し、検知した照射に対応する照射信号を生成する試験モジュールと、光源が受ける電源からの電力量を制御する、光源に接続されているバラストと、試験モジュールとバラストとに接続されており、バラスト制御信号を送信することによりバラストの動作を制御するコントローラーと、検知照射を表す基準値を生成し表示するために試験チャンバ内の照射を検知する較正モジュールとを備え、前記コントローラーは、試験チャンバ内の所望の照射を維持するために、試験モジュールから受け取った照射信号に対応してバラスト制御信号を調整し、前記較正モジュールは、ポケット内の試験モジュールと交換可能に取替えられて、試験チャンバ内の照射を検知し、バラスト制御信号を調整するためにコントローラーに入力される基準値を較正モジュールに表示することを特徴とする促進耐候性装置である。   In order to solve the above problems, the present invention includes an enclosure having at least one door for accessing a test chamber provided in the enclosure, and a sample holder provided in the test chamber. A sample mounting part for supporting, a light source installed in the test chamber for generating light in the test chamber, a power source for supplying power to the light source, and being removed in a pocket provided in at least one door Connected to a light source that controls the amount of power from the power source that the light source receives and the test module that detects the irradiation from the light source in the test chamber that is installed and generates an irradiation signal corresponding to the detected irradiation Are connected to the test ballast, the test module and the ballast, and the ballast operation is controlled by sending a ballast control signal. And a calibration module that detects illumination in the test chamber to generate and display a reference value representative of the detected illumination, the controller testing to maintain the desired illumination in the test chamber. The ballast control signal is adjusted in response to the illumination signal received from the module, and the calibration module is interchangeably replaced with a test module in the pocket to detect illumination in the test chamber and adjust the ballast control signal. Therefore, the accelerated weathering device is characterized in that a reference value input to the controller is displayed on the calibration module.

以下、本発明の実施の形態を図示例と共に説明する。図2(a)は、本発明に係る改良促進耐候性試験装置200の正面図である。装置200は、内部にある試験チャンバ206にアクセスするためのドア204を少なくとも一つ有するエンクロージャー202を有している。ここでは、一つのドア204のみしか述べていないが、当業者にとっては、形状及び機能の点で同一の別のドアが対向の位置にあることは理解されるだろう。試験チャンバ206はエンクロージャー202内のタンクによって全体として構成されている。試料取付装置208(図14が最適図)は、試料ホルダー210を保持するために試験チャンバ206内に設置される。ジャック205は、プラグを接続し、取得したデータや装置200に保存されているデータをダウンロードするためにエンクロージャー202に設置される。ジャックは、望ましいインターフェース特性を提供するものであればいずれの構造であってもよい。例えば、RS485やRS232や他のインターフェースを用いてもよい。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 2A is a front view of the improved accelerated weathering test apparatus 200 according to the present invention. The apparatus 200 includes an enclosure 202 having at least one door 204 for accessing an internal test chamber 206. Although only one door 204 is described here, those skilled in the art will appreciate that another door, identical in shape and function, is in an opposing position. The test chamber 206 is constituted as a whole by a tank in the enclosure 202. A sample mounting device 208 (FIG. 14 is the optimal view) is installed in the test chamber 206 to hold the sample holder 210. The jack 205 is installed in the enclosure 202 to connect a plug and download the acquired data or data stored in the device 200. The jack may be any structure that provides the desired interface characteristics. For example, RS485, RS232, or another interface may be used.

本実施例では、試料取付装置208は、頂部レールと底部レールが全体として、試料サポート壁を形成している。底部レールは、ドア204の回転軸に隣接したタンクの第一すなわち外側の位置に設置されている。上部レールは、チャンバ206中心に近いドアの上部から離れているタンク内の第二すなわち内側位置にあるので、取付け装置は垂直軸に傾いた面上にある。試料ホルダー210は、促進暴露環境での光、熱及び液体に曝されるために、それぞれの試料サポート壁に設置されている。試料ホルダー210は、試料サポート壁上に、ほとんど連続して並んで位置している。試料ホルダーのうち一つは、取付けられていないが、これによりドア204に形成されたポケット218と共働する試料サポート壁に沿って、開口部216が形成されている。したがって、ドア204が閉じられると、ポケット218に取付けられたセンサー220が、正確な照射検出のために、光源212に曝される。   In the present embodiment, in the sample mounting device 208, the top rail and the bottom rail form a sample support wall as a whole. The bottom rail is installed at a first or outer position of the tank adjacent to the axis of rotation of the door 204. Since the upper rail is in the second or inner position in the tank away from the top of the door near the center of the chamber 206, the mounting device is on a plane inclined to the vertical axis. A sample holder 210 is installed on each sample support wall for exposure to light, heat and liquid in an accelerated exposure environment. The sample holder 210 is positioned almost continuously on the sample support wall. One of the sample holders is not attached, but this forms an opening 216 along the sample support wall that cooperates with a pocket 218 formed in the door 204. Thus, when the door 204 is closed, the sensor 220 attached to the pocket 218 is exposed to the light source 212 for accurate illumination detection.

光源212は、試験チャンバ206内に光を発生させるために、試験チャンバ206内に設置される。本実施例では、光源212は、複数若しくはランプ列としている。本実施例では、複数のランプが第一列及び第二列に設置されており、それぞれ四つのランプを有している。当業者であれば、本発明から離れずに、構成、形状及びランプの数を変更することができることは理解できるであろう。光源212は、UV−A、UV−B、UV−Cの範囲での紫外線を発生するランプ群から選択されている。例えば、ランプは蛍光灯、キセノンやその他の適したランプであってもよい。   A light source 212 is installed in the test chamber 206 to generate light in the test chamber 206. In this embodiment, a plurality of light sources 212 or a lamp row is used. In this embodiment, a plurality of lamps are installed in the first row and the second row, and each has four lamps. One skilled in the art will appreciate that the configuration, shape, and number of lamps can be varied without departing from the invention. The light source 212 is selected from a group of lamps that generate ultraviolet rays in the range of UV-A, UV-B, and UV-C. For example, the lamp may be a fluorescent lamp, xenon or other suitable lamp.

電源(図示せず、図3参照)は、光源212に電力を供給する。例えば、電源は必要に応じて、標準規格の利用可能な単相110V又は120V、多相220V、240V、440Vであってもよい。外部ドア保護部214が、長時間の試験中にエンクロージャー202を保護するために、エンクロージャー202と接続されて提供されてもよい。コントロールパネル216は、下記で詳述するように、操作者が操作システムにおいて用いるためのものである。   A power source (not shown, see FIG. 3) supplies power to the light source 212. For example, the power source may be a single phase 110V or 120V, multiphase 220V, 240V, 440V available as required, as required. An external door protector 214 may be provided connected to the enclosure 202 to protect the enclosure 202 during extended testing. The control panel 216 is for use by an operator in an operating system, as will be described in detail below.

図2(b)は、図2(a)の促進耐候性試験装置のタンク部分222の詳細な斜視図である。タンク部分222は、対向面に一対のドア204を備えたキャビネットタイプのエンクロージャーで、試験チャンバ206の内部を構成している。光源は試験チャンバ206内に設置され、前述の如く又以下に詳述するように、電源により光源に電力が供給される。タンク部分222は、更に内枠と外パネル224を有している。   FIG. 2 (b) is a detailed perspective view of the tank portion 222 of the accelerated weathering test apparatus of FIG. 2 (a). The tank portion 222 is a cabinet type enclosure having a pair of doors 204 on opposite surfaces, and constitutes the inside of the test chamber 206. The light source is installed in the test chamber 206 and power is supplied to the light source by a power source as described above and as detailed below. The tank portion 222 further has an inner frame and an outer panel 224.

第一ドア204は、回転するように、対向のサイドパネル224に取付けられており、第二ドア(図示せず)に対向している。これは、サイドパネル224に回転するように取付けられている。図では第一ドアのみしか示していないが、第二ドアは構造及び機能の点で同一である。したがって、以下では、第一ドアのみについて説明する。ドア204は、試験チャンバ206へのアクセスを提供している。埋め込みのあるポケット218は、ドア204の略中間部に形成され、ドア204の外表面にくぼみがある。試験モジュール(図示していないが、以下で詳述する)と較正モジュール(図示していないが、以下で詳述)がそれぞれ、交換、取り外し可能にポケット(以下でより詳細に説明する)内に設置される。垂直配置された一対の試験モジュール(図示せず、以下で詳述)が、光源からの試験チャンバ206内の照射を検知し、検知した照射を示す照射信号を生成するために、それぞれのポケット218に、取り外し可能に設置されているので、試験モジュールが試験チャンバの過酷な環境におかれることはない。   The first door 204 is attached to an opposing side panel 224 so as to rotate, and is opposed to a second door (not shown). This is attached to the side panel 224 for rotation. Although only the first door is shown in the figure, the second door is the same in terms of structure and function. Therefore, only the first door will be described below. Door 204 provides access to test chamber 206. An embedded pocket 218 is formed in a substantially middle portion of the door 204 and has a recess on the outer surface of the door 204. A test module (not shown but described in detail below) and a calibration module (not shown but described in detail below) are each replaceable and removable in a pocket (described in more detail below). Installed. A pair of vertically arranged test modules (not shown, described in detail below) detects each irradiation in the test chamber 206 from the light source and generates an irradiation signal indicative of the detected irradiation. In addition, because it is removably installed, the test module is not placed in the harsh environment of the test chamber.

試験モジュール(図示せず、以下で詳述)は、試験センサー226を有しており、これは、光源からの試験チャンバ内の照射を検知するために、ポケット218の光源と対応する位置に形成された孔228に挿入されている。試験モジュールは、5つの試料取付け装置の別個の空間を検知するように構成されている。試験センサーは、例えば光学フォトダイオードなどの、当業者に知られたいずれの形式でもよい。   The test module (not shown, detailed below) includes a test sensor 226 that is formed at a location corresponding to the light source in the pocket 218 to detect illumination in the test chamber from the light source. Is inserted into the formed hole 228. The test module is configured to sense separate spaces of the five sample mounting devices. The test sensor may be of any type known to those skilled in the art, such as an optical photodiode.

ポケット218の底面は、ドア204に対して傾斜しており、試料サポート壁を形成している面と平行な面を形成している。その結果、ポケット218の底面は、試料サポート壁及びその上の試料ホルダー210と直近するが、ポケット218と試料取付け装置208若しくは試料ホルダー210とは接触はしない。ドアが閉じられると、ポケット218の傾斜底面により、センサー226が、取付け装置の開口部216内部の、隣接ランプの間に均等に位置される。しかし、この配置は促進耐候性試験装置の他の部分の構造から必要であれば、ポケット218がどちら側にも出っ張るように変更してもよい。ポケット218の形状、深さ、輪郭は、試験チャンバ内のランプの形状に対応することが好ましい。   The bottom surface of the pocket 218 is inclined with respect to the door 204, and forms a surface parallel to the surface forming the sample support wall. As a result, the bottom surface of the pocket 218 comes close to the sample support wall and the sample holder 210 thereon, but the pocket 218 does not contact the sample mounting device 208 or the sample holder 210. When the door is closed, the inclined bottom surface of the pocket 218 causes the sensor 226 to be evenly positioned between adjacent lamps within the opening 216 of the mounting device. However, this arrangement may be modified so that the pocket 218 protrudes on either side if necessary from the structure of other parts of the accelerated weathering test apparatus. The shape, depth, and contour of the pocket 218 preferably corresponds to the shape of the lamp in the test chamber.

本発明に従って、一対のランプごとに試験センサー226が正確に照射を検知する。ポケット218は、ポケット218の背面230は、ドア204の回転軸から離隔して配置されており、ドア204の回転軸に隣接するポケット218の正面232より長く、試験チャンバ方向に延びており、側面から見た状態で略三角形状をしている。試験センサー226は、支え若しくは突起部と入力部を備えており、これらはランプの照射をドア204のポケット218内で試験チャンバ206の外側に設置された試験モジュールに移動させるためのライトパイプとして用いられる。試験センサー226は、さらに、ある波長の光の通過させる光学フィルターも有している。ドア204は、開閉のための小型のハンドルを頂部に有している。   In accordance with the present invention, the test sensor 226 accurately detects irradiation for each pair of lamps. The pocket 218 has a back surface 230 of the pocket 218 that is spaced apart from the rotation axis of the door 204 and is longer than the front surface 232 of the pocket 218 adjacent to the rotation axis of the door 204 and extends toward the test chamber. It has a substantially triangular shape when viewed from above. The test sensor 226 includes a support or protrusion and an input that is used as a light pipe to move the lamp illumination to a test module installed outside the test chamber 206 within the pocket 218 of the door 204. It is done. The test sensor 226 further includes an optical filter that allows light of a certain wavelength to pass therethrough. The door 204 has a small handle at the top for opening and closing.

タンク222は、光、熱、湿気を取り込むことにより、環境が操作される試験チャンバ206を構成している。タンク222の端部パネル224の複数孔234は、ランプのためのものである。同じく、複数孔はタンクの対向する端部パネルにもある。ランプの電気接続は、不正確な試験結果となる制御システムのエラーを引き起こすことのある腐食を避けるために、試験チャンバの外で行われている。   The tank 222 constitutes a test chamber 206 in which the environment is operated by taking in light, heat, and moisture. The multiple holes 234 in the end panel 224 of the tank 222 are for lamps. Similarly, there are multiple holes in the opposing end panels of the tank. The lamp electrical connections are made outside the test chamber to avoid corrosion that can cause control system errors resulting in inaccurate test results.

温度センサー236は、試験チャンバ206内の温度に対応する温度信号を生成し、試験チャンバ206内の所望の照射を維持するために、温度信号を、コントローラー(以下で詳述)に送信する。温度センサー236は、試料ホルダー210の試料と取替える構成としてもよいし、他の小型の構成を採用してもよい。小型のものでは、温度センサー236が二つの試料孔240の間に配置される代わりの試料ホルダー238が必要となる。当業者にとっては、温度信号を生成するために、いずれのセンサー構成を用いられるかが理解されるだろう。本実施例では、温度センサーは、本体が黒色のセンサーであり、試験チャンバ206内部の温度に対応する信号を生成する。   The temperature sensor 236 generates a temperature signal corresponding to the temperature in the test chamber 206 and sends the temperature signal to a controller (detailed below) to maintain the desired illumination in the test chamber 206. The temperature sensor 236 may be configured to replace the sample in the sample holder 210, or another small configuration may be employed. Smaller ones require an alternative sample holder 238 in which the temperature sensor 236 is placed between the two sample holes 240. Those skilled in the art will understand which sensor configuration can be used to generate the temperature signal. In this embodiment, the temperature sensor is a sensor whose body is black and generates a signal corresponding to the temperature inside the test chamber 206.

図3は、本発明に係る、光源列の出力を連続的に制御するための、複数の自動調整可能な制御チャンネルの特徴を示した促進耐候性試験装置の概略端面図である。本実施例では、四つの個別調整可能な制御チャンネルの各々に、バラスト302を備えている。各々は同一の動作をするので、一つについてのみ説明する。310、312、314、316は試験モジュールを示し、308はコントローラーである。試験モジュール310、312、314、316はそれぞれ、プラグ328を有しており、これは、試験モジュール310、312、314、316がポケット318内に配置された時に、コントローラー308が自動的に試験モジュール310、312、314、316に接続されるように、コントローラー308と試験モジュール310、312、314、316を接続させるために、ポケット318に設置された端子330を繋いでいる。   FIG. 3 is a schematic end view of an accelerated weathering test apparatus illustrating the characteristics of a plurality of self-adjustable control channels for continuously controlling the output of a light source array according to the present invention. In this embodiment, a ballast 302 is provided for each of the four individually adjustable control channels. Since each performs the same operation, only one will be described. Reference numerals 310, 312, 314, and 316 denote test modules, and 308 denotes a controller. Each of the test modules 310, 312, 314, 316 has a plug 328 that allows the controller 308 to automatically test the module when the test module 310, 312, 314, 316 is placed in the pocket 318. In order to connect the controller 308 and the test modules 310, 312, 314, and 316 to be connected to the terminals 310, 312, 314, and 316, a terminal 330 installed in the pocket 318 is connected.

個々のバラスト302は、電源306からの光源304が受ける電力量を制御するために、複数の光源304のうち少なくとも一つに接続されている。制御チャンネルはさらに、試験モジュール310、312、314、316と接続されたコントローラー308と、温度センサー318、320とコントロールパネル322と個々のバラスト302の動作を制御するバラスト制御信号を生成するバラスト302を有している。   Each ballast 302 is connected to at least one of the plurality of light sources 304 in order to control the amount of power received by the light source 304 from the power source 306. The control channel further includes a controller 308 connected to the test modules 310, 312, 314, 316, a temperature sensor 318, 320, a control panel 322, and a ballast 302 that generates ballast control signals that control the operation of the individual ballasts 302. Have.

個々の試験モジュール310、312、314、316に含まれた試験センサー324は、試験チャンバ326内の照射を検知するために、紫外線の範囲でリニアの応答性を有している。試験モジュール310、312、314、316は、複数の光源304からの照射を検知に対応した照射信号を生成し、当該信号は、試験モジュール310、312、314、316内に設置された送信装置によってコントローラー308に送信される。本実施例では、試験モジュール310、312、314、316は、周波数ノイズを減らすために、照射信号を増幅し、フィルターにかける。当業者にとっては、これが多様な手段によって達成されることが理解できるだろう。例えば、周波数ノイズを減じるためには、ゲインと共に又は望ましい方法で、高インピーダンス信号を低インピーダンス信号に変換することにより達成される。照射信号はコントローラー308に送られ、コントローラー308は、照射信号を所望の値に維持するために、周期的にバラスト制御信号を調整する。コントローラー308は、これらの一部若しくは全ての機能を行うソフトウェアを選択的に又は付加的に有していてもよい。バラスト制御信号は、さらに、バラストの電流引き込みに基づいて、コントローラー308によって調整される。   The test sensors 324 included in the individual test modules 310, 312, 314, and 316 have a linear response in the ultraviolet range in order to detect illumination within the test chamber 326. The test modules 310, 312, 314, 316 generate irradiation signals corresponding to detection of irradiation from the plurality of light sources 304, and the signals are transmitted by a transmission device installed in the test modules 310, 312, 314, 316. It is transmitted to the controller 308. In this example, test modules 310, 312, 314, and 316 amplify and filter the illumination signal to reduce frequency noise. Those skilled in the art will appreciate that this can be accomplished by a variety of means. For example, reducing frequency noise can be accomplished by converting a high impedance signal to a low impedance signal with gain or in a desirable manner. The irradiation signal is sent to the controller 308, which periodically adjusts the ballast control signal to maintain the irradiation signal at a desired value. The controller 308 may selectively or additionally have software that performs some or all of these functions. The ballast control signal is further adjusted by the controller 308 based on the current draw of the ballast.

バラスト制御信号は、当初は、操作者が入力した試験チャンバ内の所望の照射を示す設定値に基づいている。操作上、コントローラー308は、設定値に基づいてバラスト制御信号をバラスト302に送信する。試験モジュール310、312、314、316は、近隣の光源からの照射を感知し、コントローラー308に対して照射信号を送信する。コントローラー308は、試験モジュール310、312、314、316のうち少なくとも一つから照射信号を受信する。コントローラー308はその後、バラスト制御信号と照射信号との間の増加に基づいて、それぞれのバラスト制御信号を調整する。コントローラー308はその後、調整後のバラスト制御信号を出力する。その後上記のステップは、所望の時間連続して、次の試験モジュール310、312、314、316において繰り返される。別の実施例では、温度センサー318は、コントローラー308に対して温度信号を送信する。コントローラー308は、その後さらに、温度信号に基づいて、個々のバラスト制御信号を調整する。   The ballast control signal is initially based on a set value indicating the desired illumination in the test chamber input by the operator. In operation, the controller 308 transmits a ballast control signal to the ballast 302 based on the set value. The test modules 310, 312, 314, 316 sense illumination from a nearby light source and send an illumination signal to the controller 308. The controller 308 receives the irradiation signal from at least one of the test modules 310, 312, 314, and 316. The controller 308 then adjusts each ballast control signal based on the increase between the ballast control signal and the illumination signal. Thereafter, the controller 308 outputs the adjusted ballast control signal. The above steps are then repeated in the next test module 310, 312, 314, 316 for the desired time period. In another embodiment, the temperature sensor 318 sends a temperature signal to the controller 308. The controller 308 then further adjusts the individual ballast control signals based on the temperature signal.

バラスト302は、起動時に、点火前に光源304を暖めるために、所望の時間の間、低電圧を光源304加える回路を有している。これは、光源304与える衝撃を最小限にするもので、これにより、寿命がのびるとともに、支出が減ることになる。例えば、望ましい時間は、およそ1.5秒で、電圧は2〜5Vであるが、当業者にとっては、別の数値を用いることができる。さらに、光源304が温められた後に、点火パルスが光源304に対して加えられる。点火パルスはおよそ400Vの範囲であることが好ましい。その後、低電圧から光源304のフル操作電圧まで上昇させるのではなく、そのレベルまで徐々に上げて、設定の操作電圧に戻すことになる。これにより、さらに光源304への衝撃が最小限にすることができる。バラスト302は、これらの一部若しくは全ての機能を行うソフトウェアを選択的に又は付加的に有していてもよい。   The ballast 302 has circuitry that applies a low voltage to the light source 304 for a desired amount of time to warm up the light source 304 before ignition at start-up. This minimizes the impact on the light source 304, thereby extending life and reducing expenditure. For example, the desired time is approximately 1.5 seconds and the voltage is 2-5V, although other numbers can be used by those skilled in the art. Further, after the light source 304 is warmed, an ignition pulse is applied to the light source 304. The ignition pulse is preferably in the range of approximately 400V. Thereafter, the voltage is not raised from the low voltage to the full operation voltage of the light source 304, but gradually raised to that level and returned to the set operation voltage. Thereby, the impact on the light source 304 can be further minimized. The ballast 302 may selectively or additionally include software that performs some or all of these functions.

ランプの性能は、環境の温度、電流、電圧などの複数の要因に依存している。光源304の性能を最適化するためには、これらの要因を考慮に入れなければならない。本発明は、システムがゲイン要因によって最適化されるように制御システムにこれらの変数を計測及び入力することによって、上記の要因を考慮している。その結果、光源304の寿命が延びた。これらの変数をモニターすることによって、光源304の照射は、センサーと別に、又は、二重のフィードバック方式としてセンサーと協働して制御される。このことは、光源304の電球の寿命を予測するうえで、特に有利な点である。   Lamp performance depends on a number of factors such as environmental temperature, current, and voltage. These factors must be taken into account in order to optimize the performance of the light source 304. The present invention takes the above factors into account by measuring and inputting these variables into the control system so that the system is optimized by the gain factors. As a result, the life of the light source 304 is extended. By monitoring these variables, the illumination of the light source 304 is controlled separately from the sensor or in cooperation with the sensor as a dual feedback scheme. This is particularly advantageous in predicting the life of the light bulb 304.

図4は、試験モジュール400の上方斜視図である。試験モジュール400は、本体部402とキャップ404と突起部406と、表示部408と、取付装置410を有するハウジング401を備えている。高密度の接続部材も(図示せず)備えている。ハウジング401は試験センサー及び関連の電子機器を取付けるために、略中空になっている。突起部406は、ハウジングの底部の孔から延びている。突起部406は、照射信号を生成するためにチャンバからの光を試験センサーに送るための公知のライトパイプとして機能する。キャップ404は、複数のネジ留め412により本体部402に固定されている。当業者にとっては、他の適した留め方法が用いられることが理解できるだろう。表示部408は、センサーモジュールが適切に取付けられ、動作しているのを示す。取付装置410は、ポケットの底面に配置された突起をスナップ式に嵌め込むための、ハウジング401の両側に設置された略U字状の一対の部材を有している。プリント基板(図示せず)は、試験センサーから生成された信号を増幅及び除去し、信号をシステムコントローラーに送信するための電子部品を備えている。照射信号の増幅及び除去は、高周波ノイズを減少させる目的及び効果を有している。これは、当業者に知られた多くの方法によって達成される。例えば、ゲインと共に高インピーダンス信号の低インピーダンス信号への変換などである。複数のネジ留め(図示せず)は、センサーの様々な異なる部品を固定するために用いられる。他の構築、組立方法及び装置を用いることもできる。   FIG. 4 is a top perspective view of the test module 400. The test module 400 includes a housing 401 having a main body portion 402, a cap 404, a protruding portion 406, a display portion 408, and an attachment device 410. A high-density connecting member (not shown) is also provided. The housing 401 is generally hollow for mounting test sensors and related electronics. The protrusion 406 extends from a hole in the bottom of the housing. The protrusion 406 functions as a known light pipe for sending light from the chamber to the test sensor to generate an illumination signal. The cap 404 is fixed to the main body portion 402 by a plurality of screw fastenings 412. One skilled in the art will appreciate that other suitable fastening methods may be used. Display 408 indicates that the sensor module is properly installed and operating. The attachment device 410 has a pair of substantially U-shaped members installed on both sides of the housing 401 for snapping a protrusion disposed on the bottom surface of the pocket. A printed circuit board (not shown) includes electronic components for amplifying and removing the signal generated from the test sensor and transmitting the signal to the system controller. Amplification and removal of the irradiation signal has the purpose and effect of reducing high frequency noise. This is accomplished by a number of methods known to those skilled in the art. For example, conversion of a high impedance signal into a low impedance signal together with a gain. A plurality of screws (not shown) are used to secure various different parts of the sensor. Other construction, assembly methods and devices can also be used.

図5は、図4の試験モジュール500の下方斜視図である。突起部502と接続部材504を示している。高密度接続部材504は、複数のピン506と接地シールド508を有している。接続部材504は、センサーモジュール500とシステムコントローラーの間をつないでいる。この種のケーブル(図示せず)は、ドアの内部に安全に固定されて取付けられており、これにより、耐久性に優れ、試験チャンバの過酷な環境及び操作者の悪操作の影響をうけることなく申し分ない取付け状態が得られる。   FIG. 5 is a lower perspective view of the test module 500 of FIG. A protrusion 502 and a connection member 504 are shown. The high-density connecting member 504 has a plurality of pins 506 and a ground shield 508. The connection member 504 connects between the sensor module 500 and the system controller. This type of cable (not shown) is securely fixed and mounted inside the door, which makes it highly durable and subject to the harsh environment of the test chamber and the adverse operation of the operator A perfect installation is obtained.

図6は、較正モジュール600を示すもので、これは、本体部602と、キャップ604と、取付け部材606と、ディスプレー608と、突起部610と、基準センサー(図示せず)と、高密度コネクター(図示せず)を有している。較正モジュール600は、検知された照射を示す基準値614を生成及び表示のために、試験チャンバ内の照射を検知する。較正モジュール600は、ポケット内で試験モジュールと交互に取替え可能である。   FIG. 6 shows a calibration module 600 that includes a body 602, a cap 604, a mounting member 606, a display 608, a protrusion 610, a reference sensor (not shown), and a high density connector. (Not shown). The calibration module 600 detects the illumination in the test chamber for generating and displaying a reference value 614 indicative of the detected illumination. The calibration module 600 can be interchanged with a test module in the pocket.

キャップ604は、複数の留め具611によって本体602に固定されており、ディスプレー608が観察できる孔612を有している。ディスプレー608は、ハウジング内に設置された基準センサーからの信号に対応して、数値イメージ614を生成する。数値イメージ614は、基準センサーによって検知された照射を示す基準値である。操作者はバラスト制御信号を調整するために、コントローラーに基準値を入力する。取付部材606は、U字状であって、ポケットの底面に配置された突起をスナップ式に嵌め込むために、本体602の対向する両側に設置されている。構造及び機能は、図4及び5の試験モジュール上の取付部材と同一のものである。   The cap 604 is fixed to the main body 602 by a plurality of fasteners 611 and has a hole 612 through which the display 608 can be observed. The display 608 generates a numerical image 614 in response to a signal from a reference sensor installed in the housing. The numerical image 614 is a reference value indicating the irradiation detected by the reference sensor. The operator inputs a reference value to the controller to adjust the ballast control signal. The attachment member 606 is U-shaped, and is installed on opposite sides of the main body 602 in order to snap the protrusions arranged on the bottom surface of the pocket. The structure and function are the same as the mounting member on the test module of FIGS.

ディスプレー608は、基準センサー及び関連電子機器によって生成された信号に対応するために、回路基板をはめ込む複数のピンを有している。センサーは、試験チャンバ内の近隣の電球からの検知照射を示す信号を生成するために、回路基板、回路、その上の部品と通信を行っている。較正モジュール600は、同一の較正モジュールを用いて、少なくとも二つの異なるタイプの紫外線の較正を可能とする内部の較正ルーチンを少なくとも2つ有している。較正モジュール600は、さらに、UV−A、UV−B、UV−Cの範囲での紫外線を発生するランプ群を自動的に較正する内部チャンネルを有していてもよい。   Display 608 has a plurality of pins that snap into the circuit board to accommodate signals generated by the reference sensor and associated electronics. The sensor is in communication with the circuit board, the circuit, and components thereon, to generate a signal indicative of detected illumination from a nearby bulb in the test chamber. The calibration module 600 has at least two internal calibration routines that allow calibration of at least two different types of ultraviolet light using the same calibration module. The calibration module 600 may further include an internal channel that automatically calibrates a group of lamps that generate ultraviolet light in the UV-A, UV-B, and UV-C ranges.

図7は、突起部702及び高密度コネクター704が示されている図6の較正モジュール700の下方斜視図である。突起部702は、試験チャンバの過酷な環境から基準センサーを守るための公知のライトパイプとして作動する、試験モジュールの突起部と同様の構造及び機能を有している。同様に、高密度コネクター704は、試験モジュールとしてドアポケット内に設置された同様の高密度端子とつながっている。システムコントローラーとの接続は、較正モジュール700が適切な較正位置にあることを確認し、検知される紫外線照射の種類がUV−A、UV−B、UV−Cであることが確認される。較正モジュール700は、これらの一部若しくは全ての機能を行うソフトウェアを選択的に又は付加的に有していてもよい。較正センサー(図示せず)は、基準センサーによって生成された基準信号を自動的にシステムコントローラーに送らずに、値は、操作者の観察、手動表示のために、ディスプレーのみに出力される。この機能を達成するためには、いかなる種類の適切な基準センサーを用いてもよい。例えば、基準センサーは、光学フォトダイオードやその他の適切なセンサーであってもよい。較正モジュールの動作及び較正手順は、以下の記述において詳細に説明する。   FIG. 7 is a bottom perspective view of the calibration module 700 of FIG. 6 with protrusions 702 and high density connectors 704 shown. The protrusion 702 has the same structure and function as the protrusion of the test module that operates as a known light pipe to protect the reference sensor from the harsh environment of the test chamber. Similarly, the high density connector 704 is connected to a similar high density terminal installed in a door pocket as a test module. Connection to the system controller confirms that the calibration module 700 is in the proper calibration position, and confirms that the type of ultraviolet radiation detected is UV-A, UV-B, UV-C. The calibration module 700 may optionally or additionally have software that performs some or all of these functions. The calibration sensor (not shown) does not automatically send the reference signal generated by the reference sensor to the system controller, but the value is output only to the display for operator observation and manual display. Any type of suitable reference sensor may be used to accomplish this function. For example, the reference sensor may be an optical photodiode or other suitable sensor. The operation of the calibration module and the calibration procedure are described in detail in the following description.

図8は、促進耐候性試験装置に関連して、四つの試験モジュールの一連の制御を示すフロー図である。コントローラー800は、適切ないずれの装置であってもよく、例えば、プログラマブル・ロジック調整器(PLC)やその他の適切な装置が、照射のモニターおよび制御、コントローラーの較正、光源の出力を連続的に制御するための自動調整制御可能な複数のチャンネルに基づいた種々の異なる耐候性試験の操作を含んだ、試験ユニットの動作のためのメインシステムコントローラーとして用いられてもよい。コントローラー800は、自動的に試験モジュールと較正モジュールの違いを検出する。   FIG. 8 is a flow diagram illustrating a series of controls for the four test modules in connection with the accelerated weathering test apparatus. The controller 800 may be any suitable device, for example, a programmable logic regulator (PLC) or other suitable device that continuously monitors and controls illumination, calibrates the controller, and outputs the light source. It may be used as the main system controller for operation of the test unit, including various different weathering test operations based on a plurality of self-adjustable controllable channels to control. The controller 800 automatically detects the difference between the test module and the calibration module.

残りの制御チャンネルは類似していて、同様の手順を辿るので、一チャンネルの制御チャンネル801アルゴリズム、手順について説明する。制御チャンネルは一対のランプ802、804と試験センサー806を有する試験モジュールと、伝送装置とバラスト808を有している。制御チャンネルは、所望の周期数で連続的に調整される。例えば、第一制御チャンネル801が調整され、その後、コントローラーは第二制御チャンネルに移動し、調整を行う。その後、コントローラーは第三制御チャンネルに移動し、調整を行う。その後、コントローラーは第四制御チャンネルに移動し、調整を行う。それによって、試験周期が形成される。コントローラー800は、その後、所望の周期回数の間繰り返し、連続的な調整を開始する。   Since the remaining control channels are similar and follow the same procedure, the control channel 801 algorithm and procedure for one channel will be described. The control channel includes a test module having a pair of lamps 802, 804 and a test sensor 806, a transmission device and a ballast 808. The control channel is continuously adjusted with the desired number of periods. For example, the first control channel 801 is adjusted, after which the controller moves to the second control channel to make the adjustment. The controller then moves to the third control channel and makes adjustments. Thereafter, the controller moves to the fourth control channel and performs adjustment. Thereby, a test cycle is formed. The controller 800 then repeats for the desired number of cycles and starts a continuous adjustment.

操作では、照射設定値810、試験パラメータ812、温度設定値814がユーザーインターフェースを介して操作者によって、コントローラー800に入力される。ユーザーインターフェースは、適切なディスプレーやデータ入力装置のいずれでもよい。例えば、ユーザーインターフェースは、タッチスクリーンやいずれの適切な装置であってもよい。ユーザーインターフェースは、照射設定値816、試験パラメータ表示818、温度設定値820と、本実施例では822、824、826、828である四つの制御チャンネルの検知照射を、以下の記述で詳細に説明するように、ユーザーインターフェースの画面に任意の時点で表示する。   In operation, the irradiation set value 810, the test parameter 812, and the temperature set value 814 are input to the controller 800 by the operator via the user interface. The user interface can be any suitable display or data entry device. For example, the user interface may be a touch screen or any suitable device. The user interface explains in detail the detection irradiation of the four control channels, which are irradiation setting value 816, test parameter display 818, temperature setting value 820, and 822, 824, 826, and 828 in this embodiment, in the following description. In such a way, it is displayed at any time on the screen of the user interface.

コントローラー800は、その後、試験パラメータ812に従って、試験手順を開始する。他の制御チャンネルは同様の機能をすることから、第一制御チャンネル801についてのみ説明する。照射設定値810は、ランプ802、804が受ける電流の量を設定するために、コントローラー800からバラスト808に送信される第一のバラスト制御信号を設定する。   Controller 800 then initiates the test procedure according to test parameters 812. Since the other control channels function similarly, only the first control channel 801 will be described. The irradiation set value 810 sets a first ballast control signal transmitted from the controller 800 to the ballast 808 in order to set the amount of current received by the lamps 802 and 804.

試験モジュールセンサー806は、近隣のランプからのその地点での照射を検知し、照射信号を生成し、コントローラー内の比例積分派生モジュール(PID)に送信されるので、照射信号はコントローラー800への所望の設定値810入力と比較される。ゲインは、設定値810と試験センサー806によって生成された実際の照射信号との間のエラーの計測である。増加値に基づいたコントローラーの比例積分派生モジュールからの最新のバラスト制御信号は、ランプ802、804の照射出力を同時に調整するために、バラスト808に送られる。その後、コントローラー800は、照射検出のために、次の制御チャンネルに移動し、設定値と比較し、修正したバラスト制御信号を提供し、照射を調整する。この処理は、連続的に、繰り返し行われるので、個々の制御チャンネルに対する照射の正確な制御が維持される。   The test module sensor 806 detects the illumination at that point from a nearby lamp, generates an illumination signal, and sends it to a proportional-integral derivation module (PID) in the controller so that the illumination signal is sent to the controller 800 as desired. Is compared with the set value 810 input. The gain is a measurement of an error between the set value 810 and the actual irradiation signal generated by the test sensor 806. The latest ballast control signal from the controller's proportional integral derivation module based on the increment value is sent to the ballast 808 to simultaneously adjust the illumination output of the lamps 802, 804. Thereafter, the controller 800 moves to the next control channel for irradiation detection, compares it with the set value, provides a modified ballast control signal, and adjusts the irradiation. Since this process is performed continuously and repeatedly, accurate control of the irradiation for the individual control channels is maintained.

個々の制御チャンネルアルゴリズム、手順に、追加の入力が加えられてもよい。前述した試料の取付けと同様の方法で、試験チャンバ内の黒色本体パネル上に取付けられた温度センサー830は、温度の変化に応答し、温度信号を生成し、試験チャンバ内の所望の温度を維持するためにヒーターを調整するために、温度信号をコントローラー800に送信する。照射信号と照射設定値を比較して、増加分を決定したのち、ヒーター制御信号は調整される。PIDは、コントローラーからのヒーター制御信号を温度増加値に基づいて、更新する。別の実施例では、温度センサー830は、前述の通り、試料の間で試料ホルダー上に取付けられてもよい。さらに別の実施例では、試験チャンバ内の所望の照射を維持するために、バラスト制御信号を調整するコントローラー800に温度信号が送られるとしてもよい。この実施例では、温度信号と温度設定値を比較して、増加分を決定したのち、バラスト制御信号は調整される。PIDは、コントローラーからのバラスト制御信号を温度の増加値に基づいて更新する。温度信号と設定値は照射出力に対する追加の制御レベルを提供する。ランプの温度が増加すると、照射が減少することは知られていることである。さらに、物質の抵抗はその温度に依存することも知られている。しかるに、ランプ設定値が最大出力で低温度である場合は、従来の装置では温度の増加を補うことはできない。しかしながら、上記の温度の補充の方法を使用すると、温度の変化を補充し、ランプの寿命を増加させるために、ランプは酷使されうる。バラストは、バラスト制御信号に応じて、ランプの照射出力を制御する。   Additional inputs may be added to individual control channel algorithms, procedures. In a manner similar to the sample mounting described above, a temperature sensor 830 mounted on the black body panel in the test chamber responds to temperature changes and generates a temperature signal to maintain the desired temperature in the test chamber. A temperature signal is sent to the controller 800 to adjust the heater to do so. After comparing the irradiation signal with the irradiation set value and determining the increment, the heater control signal is adjusted. The PID updates the heater control signal from the controller based on the temperature increase value. In another example, the temperature sensor 830 may be mounted on the sample holder between the samples as described above. In yet another embodiment, a temperature signal may be sent to the controller 800 that adjusts the ballast control signal to maintain the desired illumination in the test chamber. In this embodiment, the ballast control signal is adjusted after comparing the temperature signal and the temperature set value to determine the increment. The PID updates the ballast control signal from the controller based on the temperature increase value. The temperature signal and setpoint provide an additional level of control over the illumination output. It is known that irradiation decreases as the temperature of the lamp increases. Furthermore, it is also known that the resistance of a substance depends on its temperature. However, when the lamp set value is the maximum output and the temperature is low, the conventional apparatus cannot compensate for the increase in temperature. However, using the temperature replenishment method described above, the lamp can be abused to compensate for temperature changes and increase lamp life. The ballast controls the irradiation output of the lamp according to the ballast control signal.

試験手順の最初においては、バラストは、低い電圧好ましくは2〜3ボルトを用いて、略1〜1.5秒間、光フィラメントを予熱する。次に、点火パルスが略400ボルトの範囲で光フィラメントに印加される。その後、電圧は徐々に、ランプ出力がフルになるまで上昇する。その後、操作電圧は、所望の設定値まで下降する。この電圧は、試験手順の間、維持される。ランプへの電流は比較的低く、交流100Vの430mAである。波高因子は、1.2以下であり、電圧、電流などのランプの状態は、出力変圧器のモニターコイルから5パーセント取得される。バラスト制御信号の電圧範囲は、直流0〜10Vである。10V〜2Vまでは、ランプ出力の10〜100パーセントを制御するのに対し、制御電圧が0〜2Vである場合は130〜100パーセントのランプ出力を制御する。温度変化により、フィラメント抵抗が減少する場合、バラストは、ランプ温度70℃で、出力電圧を負荷することなく、電流を一定に維持する。電圧周波数変換器を用いて、薄暗くする機能も提供される。周波数を増加させることにより、ランプは薄暗くなり、周波数を減少させると、ランプは明るくなる。逆の場合も同様に当てはまる。   At the beginning of the test procedure, the ballast preheats the photofilament with a low voltage, preferably 2-3 volts, for approximately 1-1.5 seconds. Next, an ignition pulse is applied to the light filament in the range of approximately 400 volts. Thereafter, the voltage gradually increases until the lamp output becomes full. Thereafter, the operating voltage drops to a desired set value. This voltage is maintained during the test procedure. The current to the lamp is relatively low, 430 mA with AC 100V. The crest factor is 1.2 or less, and the lamp state such as voltage and current is obtained 5% from the monitor coil of the output transformer. The voltage range of the ballast control signal is DC 0 to 10V. From 10V to 2V, 10 to 100% of the lamp output is controlled, whereas when the control voltage is 0 to 2V, the lamp output of 130 to 100% is controlled. If the filament resistance decreases due to temperature changes, the ballast maintains the current constant at a lamp temperature of 70 ° C. without loading the output voltage. A function of dimming is also provided using a voltage frequency converter. Increasing the frequency makes the lamp dim, and decreasing the frequency makes the lamp brighter. The reverse is true as well.

較正モジュール832は、ランプ836の種別を検知し、基準値838を生成、表示する較正若しくは基準センサー834を有している。較正アルゴリズム、手順については、以下で詳説する。   The calibration module 832 includes a calibration or reference sensor 834 that detects the type of the lamp 836 and generates and displays a reference value 838. The calibration algorithm and procedure will be described in detail below.

図9〜図12は、コントローラー・ユーザーインターフェースの動作を示すフロー図である。図9(a)では、ブロック900において、メインディレクトリが表示されており、ここから、操作者は決定ブロック902で適当な操作ボタンを押すことによって、ユーザーインターフェースの他のサブルーチン画面へ到達することができる。操作ボタンは、以下のサブルーチン画面、メイン904、プレビュー906、モニター908、照射較正910、実行/中止912、試験リスト914、編集915にアクセスする。   9 to 12 are flowcharts showing the operation of the controller / user interface. In FIG. 9A, the main directory is displayed in block 900, from which the operator can reach another subroutine screen of the user interface by pressing an appropriate operation button in decision block 902. it can. The operation buttons access the following subroutine screen, main 904, preview 906, monitor 908, irradiation calibration 910, execution / cancel 912, test list 914, and edit 915.

図9(b)は、試験リスト画面の動作を示したフロー図である。これにより、操作者は、設定された既存の試験を実行メモリーにロードし、又は、いずれの試験をプレビューすることができる。それぞれの試験は、試験される物質及び環境に対応じて異なったパラメータを有している。パラメータの種類には、照射の強度、周期時間、湿度、温度などが含まれるが、これらに限定されるものではない。   FIG. 9B is a flowchart showing the operation of the test list screen. As a result, the operator can load the set existing test into the execution memory or preview any test. Each test has different parameters depending on the substance being tested and the environment. Types of parameters include, but are not limited to, irradiation intensity, cycle time, humidity, temperature, and the like.

ブロック916では、利用できる試験のリストが操作者に提供される。決定ブロック918では、操作者は、現在の試験を選択するか否かを決定する。YESであれば、操作者は、実行/中止画面である図11(b)に進む。この図については、後に説明する。NOであれば、システムは決定ブロック920に進み、ここで操作者は試験をロードするかの決定をする。YESであれば、その後システムは、ブロック922に進み、ここで、その試験手順がダウンロードされ、図11(b)について後に説明する実行/中止画面を経て実行される。決定ブロック920で、操作者が試験をロードしないを選択した場合には、その後システムは、決定ブロック924に進み、そこで、操作者は既存の試験を編集するか否かの判断をする。YESであれば、その後システムは編集場面に進む。これについては、図10で、後に説明する。NOであれば、その後システムは、決定ブロック926に進み、そこで、操作者は試験をプレビューするか否かを決定する。YESであれば、その後システムはプレビュー画面に進む。これについては、後に、図11(a)で説明する。NOであった場合、その後システムは、ブロック916に戻り、そこで、試験リストが表示され、この手順が再び始まることになる。   At block 916, a list of available tests is provided to the operator. At decision block 918, the operator determines whether to select the current test. If YES, the operator proceeds to FIG. 11B, which is an execution / cancellation screen. This figure will be described later. If no, the system proceeds to decision block 920 where the operator decides whether to load the test. If YES, the system then proceeds to block 922 where the test procedure is downloaded and executed via an execute / stop screen described below with respect to FIG. If at decision block 920 the operator selects not to load the test, then the system proceeds to decision block 924 where the operator determines whether to edit the existing test. If yes, then the system proceeds to the editing scene. This will be described later with reference to FIG. If no, the system then proceeds to decision block 926 where the operator determines whether to preview the test. If yes, then the system proceeds to the preview screen. This will be described later with reference to FIG. If no, then the system returns to block 916 where the test list is displayed and the procedure begins again.

図10は、編集画面の動作を示すフロー図である。編集画面はメインディレクトリ画面900の編集ボタン915及び試験リストスクリーンのブロック924に対応するもので、これにより操作者は新しい試験を作成でき、既存の試験のいずれかの試験パラメータを編集することができる。例えば、操作者は、試験中に使用されるランプの種別を選択したり、紫外線の種別、噴霧凝結のサイクル、区分時間、紫外線照射設定値、温度設定値などのパラメータを選択することが可能である。決定ブロック928では、操作者は編集される試験を選択する。ブロック930は、紫外線のサイクルの選択を示すものであり、これにより、操作者は、ブロック932で照射の集中度を入力する。ブロック934は、噴霧凝結のサイクルを示すもので、これにより操作者は、決定ブロック936で噴霧か凝結のいずれかの選択をすることができる。ブロック938は、時間の選択を示すものであり、これにより、使用者はブロック940において、時間を入力することができる。ブロック942は照射設定値の選択を示すもので、これにより、操作者はブロック944において、照射設定値を入力することができる。ブロック946は、温度設定値の選択をしめすもので、これにより、操作者はブロック948において、温度設定値を入力することができる。ブロック950は、ランプの種別の選択をしめすもので、これにより、操作者は決定ブロック952で、利用可能なランプ種別からどれを試験で使うかを選択する。決定ブロック928において、操作者がブロック930〜952で示されたパラメータのいずれの変更を選択したかに関係なく、操作者は決定ブロック954に進むことができ、ここで、操作者は試験(すなわち、パラメータ値の集まり)を保存の選択をすることができる。NOである場合、その後システムは決定ブロック928に戻り、YESの場合は、システムは試験パラメータを保存し、ブロック900のメインディレクトリ画面に戻る。   FIG. 10 is a flowchart showing the operation of the edit screen. The edit screen corresponds to the edit button 915 on the main directory screen 900 and the block 924 on the test list screen, which allows the operator to create a new test and edit any test parameters of an existing test. . For example, the operator can select the type of lamp used during the test or select parameters such as UV type, spray condensation cycle, segmentation time, UV irradiation set value, temperature set value. is there. At decision block 928, the operator selects the test to be edited. Block 930 indicates the selection of the UV cycle, whereby the operator enters the concentration of irradiation at block 932. Block 934 shows a spray condensation cycle that allows the operator to select either spray or condensation at decision block 936. Block 938 indicates a time selection, which allows the user to enter a time at block 940. Block 942 indicates selection of an irradiation set value, which allows the operator to input an irradiation set value at block 944. Block 946 indicates the selection of the temperature setpoint, which allows the operator to input the temperature setpoint at block 948. Block 950 indicates the selection of lamp types, whereby the operator selects which of the available lamp types to use in the test at decision block 952. In decision block 928, regardless of which change in the parameters indicated in blocks 930-952 the operator has selected, the operator can proceed to decision block 954, where the operator can test (ie, , A collection of parameter values) can be selected to save. If no, then the system returns to decision block 928; if yes, the system saves the test parameters and returns to the main directory screen at block 900.

図11(a)はプレビュー画面を示すフロー図であり、これは、メインディレクトリ画面900のプレビューボタン906及び試験リスト画面ブロック926に対応し、これにより操作者は、いずれの試験パラメータをもプレビューすることができる。ブロック956では、システムは試験入力及びパラメータを表示する。その後システムは、決定ブロック958へ進み、ここで操作者は異なる試験を選択する。操作者が異なる試験の表示を選択すると、その後システムは、操作者がいずれの試験を表示するかの選択する決定ブロック960へ進み、その後ブロック956に戻る。操作者が異なる試験の表示をしないを選択した場合は、その後システムは、決定ブロック962に進み、ここで操作者は既存の試験リストから選らぶか否かを選択する。操作者が既存の試験リストからの選らぶを選択した場合、その後システムは図9(b)のブロック916に進む。選択しなかった場合は、その後、システムはブロック900のメインディレクトリに戻る。   FIG. 11A is a flowchart showing a preview screen, which corresponds to the preview button 906 and the test list screen block 926 on the main directory screen 900, whereby the operator previews any test parameter. be able to. At block 956, the system displays the test input and parameters. The system then proceeds to decision block 958 where the operator selects a different test. If the operator selects a different test display, the system then proceeds to decision block 960 where the operator selects which test to display and then returns to block 956. If the operator chooses not to display a different test, the system then proceeds to decision block 962 where the operator chooses whether to choose from an existing test list. If the operator chooses to choose from an existing test list, the system then proceeds to block 916 of FIG. 9 (b). If not, the system then returns to the main directory at block 900.

図11(b)は、メインディレクトリ画面900の実行/中止ボタンに対応する実行/中止画面の選択を示すものである。この画面で、操作者は試験を実行又は中止をすることができる。ブロック964で、システムは試験時間と照射パラメータを表示する。システムは、その後決定ブロック966に進み、そこで、操作者は試験を実行するか否かの選択をする。YESの場合、その後システムは、図12(a)に関して後で説明するメイン画面に進む。NOの場合、その後システムは、決定ブロック968に進み、そこで操作者は試験の実行するか中止するかの決定をする。YESの場合、その後システムは、ブロック964に戻る。NOの場合、その後システムは、決定ブロック970に進み、そこで操作者は試験をリセットするか否かの決定をする。YESの場合はシステムはその後ブロック964に戻り、NOの場合は、その後ブロック900のメインディレクトリ画面に戻る。   FIG. 11B shows the selection of the execution / cancel screen corresponding to the execute / cancel button on the main directory screen 900. On this screen, the operator can execute or cancel the test. At block 964, the system displays the test time and irradiation parameters. The system then proceeds to decision block 966 where the operator chooses whether to perform the test. If yes, then the system proceeds to the main screen described below with respect to FIG. If no, then the system proceeds to decision block 968 where the operator makes a decision to run or abort the test. If YES, the system then returns to block 964. If no, then the system proceeds to decision block 970 where the operator decides whether to reset the test. If yes, the system then returns to block 964; if no, then returns to the main directory screen of block 900.

図12(a)は、メインディレクトリ画面900からメイン画面ボタン904を選択した場合を示すフロー図である。ブロック972では、システムはすべてのメインの試験情報を表示する。ブロック974は装置モードを表示しており、ブロック976は、現在実行中の試験の名称(紫外線、噴霧凝結サイクルなど)を表示する。ブロック978は、現在実行中の実行メモリーを表示しており、ブロック980は、照射及び温度の設定値を表示している。ブロック982は、現在実行中の試験の照射及び温度の実測値を表示している。ブロック984は、現在実行中の試験の状態についてのメッセージを表示している。終了すると、システムは、ブロック900のメインディレクトリに戻る。   FIG. 12A is a flowchart showing a case where the main screen button 904 is selected from the main directory screen 900. In block 972, the system displays all main test information. Block 974 displays the device mode, and block 976 displays the name of the currently running test (ultraviolet, spray condensation cycle, etc.). Block 978 displays the currently executing execution memory, and block 980 displays irradiation and temperature set values. Block 982 displays the actual values of irradiation and temperature for the currently running test. Block 984 displays a message about the status of the currently running test. When finished, the system returns to the main directory at block 900.

図12(b)は、モニター画面選択を示すフロー図であり、メインディレクトリ画面900のモニターボタン908に対応するものである。ブロック986で、システムは、各制御チャンネルでの照射の設定値を表示する。ブロック988で、システムは、各制御チャンネルでの照射の実測値を表示する。ブロック990で、システムは、各制御チャンネルでの温度の設定値と実測値を表示する。ブロック992で、システムは更新を行い、その後ブロック900のメインディレクトリ画面に戻る。   FIG. 12B is a flowchart showing monitor screen selection, which corresponds to the monitor button 908 on the main directory screen 900. At block 986, the system displays the illumination settings for each control channel. At block 988, the system displays the actual value of irradiation in each control channel. At block 990, the system displays the temperature setpoint and measured value for each control channel. At block 992, the system performs the update and then returns to the main directory screen at block 900.

図12(c)は、照射較正画面の選択を示したフロー図であり、メインディレクトリ画面900の照射較正ボタン910に対応するものである。この画面で操作者は、後で図13に関連して説明する較正手順の間に操作者によって書かれた較正モジュールの基準値を入力することができる。ブロック994で、操作者は各制御チャンネルの基準値を入力する。その後システムは、ブロック900のメインディレクトリ画面に戻る。   FIG. 12C is a flowchart showing selection of the irradiation calibration screen, and corresponds to the irradiation calibration button 910 on the main directory screen 900. This screen allows the operator to enter calibration module reference values written by the operator during the calibration procedure described later in connection with FIG. At block 994, the operator inputs a reference value for each control channel. The system then returns to the main directory screen at block 900.

図13は、本発明に係る較正手順を示すフロー図である。この手順の間、ドアポケットに設置されている試験モジュールは、所定の第一位置から取り外され、代わりに、較正モジュールが第一位置に置かれる。当業者にとっては、産業基準別に400時間ごとに較正手順が行われなければならないことは理解されるだろう。しかしながら、操作者は試験中の任意の時点に装置の較正を行ってよいし、コントローラーが、操作者が望んでいるように、あるいは、ランプが上記モニター制御手順どおりに応答しない場合に、較正の要求メッセージを表示するようにプログラムされてもよい。   FIG. 13 is a flowchart showing a calibration procedure according to the present invention. During this procedure, the test module installed in the door pocket is removed from the predetermined first position, and instead the calibration module is placed in the first position. Those skilled in the art will understand that a calibration procedure must be performed every 400 hours by industry standard. However, the operator may calibrate the device at any time during the test, and the calibration will be performed if the controller does not respond as the operator desires or if the lamp does not respond according to the monitor control procedure described above. It may be programmed to display a request message.

ブロック1000で、コントローラーは、操作者に装置の較正を希望するかを尋ねる。NOであれば、コントローラーは、ループに入り、所定の時間経過後再度尋ねる。YESであれば、その後ブロック1002で、コントローラーは試験が現在実行中か否かを判定する。実行中であれば、その後ブロック1004で、コントローラーは照射設定値、温度設定値やその他の試験データと試験時間を、手順に先立って、メモリーに保存する。ブロック1006で、操作者は、較正照射と温度設定値を入力しなければならない。決定ブロック1008で、コントローラーは、その後、照射及び温度の実測値が設定値と一致し、安定しているか判定する。NOであれば、その後コントローラーは、一定時間ループに入ったのち、決定ブロック1008で再度尋ねる。YESであれば、その後、ブロック1010で、コントローラーは、ランプの出力が不安的にならないように、制御チャンネルのバラストへの出力を四つ全て固定する。   At block 1000, the controller asks the operator if he wishes to calibrate the device. If NO, the controller enters a loop and asks again after a predetermined time. If yes, then at block 1002, the controller determines whether the test is currently running. If so, then at block 1004, the controller stores the irradiation setpoint, temperature setpoint and other test data and test time in memory prior to the procedure. At block 1006, the operator must enter calibration exposure and temperature setpoints. At decision block 1008, the controller then determines whether the measured values of irradiation and temperature match the set values and are stable. If NO, the controller then asks again at decision block 1008 after entering the loop for a period of time. If yes, then, at block 1010, the controller fixes all four outputs to the control channel ballast so that the lamp output is not disturbing.

第一位置の試験モジュールは、前述のように、取り外され、較正モジュールと取替えられ、コントローラーによって、適当なセンサーが適当な位置にあることが自動的に認識される。較正モジュールは、さらに、自動的に、紫外線ランプの種別(UV−A、UV−B、UV−C)を判別し、又は、コントローラーからその情報を取得する。もし不一致があれば、較正モジュールは、正しいものと決定される。較正モジュールは、基準値を生成し、これは、ブロック1012で、操作者が取得しなければならない(すなわち、手動で入力)。較正モジュールは、その後取り外され、稼動試験モジュールと第一位置に取替えられる。この手順は各試験モジュール位置ごとに繰り返されることに留意すべきである。   The test module in the first position is removed and replaced with the calibration module as described above, and the controller automatically recognizes that the appropriate sensor is in the proper position. The calibration module further automatically determines the type of UV lamp (UV-A, UV-B, UV-C) or obtains the information from the controller. If there is a discrepancy, the calibration module is determined to be correct. The calibration module generates a reference value, which must be obtained by the operator at block 1012 (ie, manually entered). The calibration module is then removed and replaced with the operational test module in the first position. It should be noted that this procedure is repeated for each test module location.

各試験モジュール位置での手順の後、コントローラーは、ブロック1014で、基準値の較正データがコントローラーに入力される準備ができているかを尋ねる。NOであれば、その後操作者は、次の試験モジュール位置のために較正データ基準値を取得する。YESであれば、その後ブロック1016で、操作者はコントローラーに基準データ値を入力する。ブロック1018で、コントローラーは、バラスト制御信号を調整する新規の利得値を計算する。ブロック1020で、コントローラーは、試験が実行中であったかを尋ねる。YESであれば、その後ブロック1022で、試験照射及び温度設定値はリセットされ、試験が再開される。NOであれば、その後、コントローラーは、較正手順を終了する。好ましくは、コントローラーは、処理ユニットとプログラム処理を記憶しているメモリーを有しており、プログラムは処理ユニットに読まれると、コントローラーを、試験及び較正手順を作動させるようになっている。   After the procedure at each test module location, the controller asks at block 1014 whether the reference calibration data is ready to be input to the controller. If NO, then the operator obtains a calibration data reference value for the next test module position. If YES, then at block 1016, the operator enters a reference data value into the controller. At block 1018, the controller calculates a new gain value that adjusts the ballast control signal. At block 1020, the controller asks if the test was running. If YES, then at block 1022, the test irradiation and temperature setpoints are reset and the test is resumed. If no, then the controller ends the calibration procedure. Preferably, the controller includes a processing unit and a memory storing program processing, and when the program is read into the processing unit, the controller is adapted to activate the test and calibration procedures.

図14は、本発明の実施例である装置の断面図である。装置1100は、試験チャンバ1104と、試験モジュール1106と、試料ホルダー1108と、ランプ1110と、ドア1112と、湿潤システム1114を規定しているタンク1102を有している。本実施例において試験チャンバ1104は、八つのランプ1110を有している。前記の通り、これらのランプは蛍光灯、キセノンやその他の適したランプであってもよい。試料ホルダー1108は、試料取付け装置208上に位置しており、この装置は、下方レール208Aと上方レール208Bを有しており、ランプが規定されている面と実質的に平行な面に規定されている。ランプ1110は、試料ホルダー1108から離隔して位置しており、その結果望ましい耐候効果を提供することになる。さらに、湿潤システム1114は、加えて、従来の耐候効果を提供する。   FIG. 14 is a cross-sectional view of an apparatus that is an embodiment of the present invention. The apparatus 1100 includes a test chamber 1104, a test module 1106, a sample holder 1108, a lamp 1110, a door 1112, and a tank 1102 that defines a wetting system 1114. In this embodiment, the test chamber 1104 has eight lamps 1110. As described above, these lamps may be fluorescent lamps, xenon or other suitable lamps. The sample holder 1108 is located on the sample mounting device 208, which has a lower rail 208A and an upper rail 208B and is defined in a plane substantially parallel to the plane in which the lamp is defined. ing. The lamp 1110 is located away from the sample holder 1108 and as a result provides the desired weathering effect. In addition, the wetting system 1114 additionally provides a conventional weathering effect.

ドア1112は、試験モジュール1106を取付けるためのポケット1116を有している。これは、温度に敏感な電子機器である試験モジュールが試験チャンバ1104から取り外され、試験チャンバの外に位置される点で有利である。その結果、極めて安定した信号が生成され、照射の制御が、信号のドリフトなく、より安定する。その結果、ランプ1110は、より長期にわたり持続するので、支出が減少する。小ギャップ1118が、ポケット1116の面と試料ホルダー1108の間に示されている。これは、試験手順又は結果に対する望まない又は意図しない影響を回避するものである。   The door 1112 has a pocket 1116 for mounting the test module 1106. This is advantageous in that the test module, which is a temperature sensitive electronics, is removed from the test chamber 1104 and located outside the test chamber. As a result, a very stable signal is generated, and irradiation control is more stable without signal drift. As a result, the lamp 1110 lasts for a longer period, thus reducing spending. A small gap 1118 is shown between the face of the pocket 1116 and the sample holder 1108. This avoids unwanted or unintended effects on the test procedure or results.

図14は、さらに、試験モジュール1106の一部1020が、隣接する二つのランプ1110の照射を検知するために、ポケット1116の面から突出している。センサー突出部の端部は、紫外線を、ライトパイプ技術を介して、試験モジュール内の試験センサーへ移すための入力を有している。光学フィルターは、試験センサーに関連して用いられてもよく、光学フォトダイオードに内蔵されてもよい。本発明が特に有利なのは、入力が実質的に試料として、試料ホルダー1108に設置されているからである。したがって、センサーの読み取り及び関連の照射信号は、試料が受ける照射を正確に表すことになる。試験モジュール1106は、前述の通り、ドアから別個に取り外し可能である。さらに、前述の通り、耐候性装置の較正のために、較正モジュールは、試験モジュールと取替えられ、試験モジュールと同一位置に位置する。   FIG. 14 further shows that a portion 1020 of the test module 1106 protrudes from the surface of the pocket 1116 to detect the illumination of two adjacent lamps 1110. The end of the sensor protrusion has an input for transferring UV light to the test sensor in the test module via light pipe technology. The optical filter may be used in connection with the test sensor and may be embedded in the optical photodiode. The present invention is particularly advantageous because the input is placed in the sample holder 1108 substantially as a sample. Thus, sensor readings and associated illumination signals will accurately represent the illumination received by the sample. The test module 1106 can be removed separately from the door as described above. Further, as described above, for calibration of the weathering device, the calibration module is replaced with a test module and is co-located with the test module.

本発明は、以上で示し、説明した装置及び方法についての説明に限定されるものではなく、他の修正や変更は想到することが可能である。本発明の真の趣旨及び範囲から離れることなく、上記の装置について変更することができる。例えば、本発明の実施例は、機能の全て又は一部をソフトウェアが遂行するように変えたり、付加したりすることもできる。それゆえ、上記の記載の主題は、説明として解釈されるべきで、限定する意味で解釈されるべきではない。   The present invention is not limited to the description of the apparatus and method shown and described above, and other modifications and changes can be conceived. Changes may be made to the above apparatus without departing from the true spirit and scope of the present invention. For example, embodiments of the present invention may be modified or added so that all or part of the functions are performed by software. Therefore, the above-described subject matter should be construed as illustrative and not in a limiting sense.

放電ランプを用いた従来の試験装置を示す図である。It is a figure which shows the conventional test apparatus using a discharge lamp. (a)は、本発明に係る改良促進耐候性試験装置の部分正面図である。(b)は、(a)の促進耐候性試験装置のタンク部分の詳細な斜視図である。(a) is a partial front view of the improved accelerated weathering test apparatus according to the present invention. (b) is a detailed perspective view of the tank part of the accelerated weathering test apparatus of (a). 本発明に係る制御チャンネルの特徴を示した促進耐候性試験装置の概略端面図である。1 is a schematic end view of an accelerated weathering test apparatus showing characteristics of a control channel according to the present invention. FIG. 本発明に係る試験モジュールの上方斜視図である。It is an upper perspective view of the test module concerning the present invention. 本発明に係る試験モジュールの下方斜視図である。It is a downward perspective view of the test module concerning the present invention. 本発明に係る較正モジュールの上方斜視図である。FIG. 3 is a top perspective view of a calibration module according to the present invention. 本発明に係る較正モジュールの下方斜視図である。FIG. 6 is a lower perspective view of a calibration module according to the present invention. 本発明に係る光センサーモジュールの一連の制御を示すフロー図である。It is a flowchart which shows a series of control of the optical sensor module which concerns on this invention. 本発明に係るシステムコントローラー・ユーザーインターフェースの動作を示すフロー図である。It is a flowchart which shows operation | movement of the system controller user interface which concerns on this invention. 本発明に係るシステムコントローラー・ユーザーインターフェースの動作を示すフロー図である。It is a flowchart which shows operation | movement of the system controller user interface which concerns on this invention. 本発明に係るシステムコントローラー・ユーザーインターフェースの動作を示すフロー図である。It is a flowchart which shows operation | movement of the system controller user interface which concerns on this invention. 本発明に係るシステムコントローラー・ユーザーインターフェースの動作を示すフロー図である。It is a flowchart which shows operation | movement of the system controller user interface which concerns on this invention. 本発明に係る較正手順を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the calibration procedure which concerns on this invention. 本発明の実施例である装置の断面図である。It is sectional drawing of the apparatus which is an Example of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

10 ランプ
12 チャンバ
14 試料
16 湿気供給タンク
200 改良促進耐候性試験装置
202 エンクロージャー
204 ドア
205 ジャック
206 試験チャンバ
208 試料取付装置
210 試料ホルダー
212 光源
214 外部ドア保護部
216 開口部
218 ポケット
220 センサー
222 タンク
224 サイドパネル
226 試験センサー
10 Lamp 12 Chamber 14 Sample 16 Moisture supply tank 200 Improved accelerated weathering test device 202 Enclosure 204 Door 205 Jack 206 Test chamber 208 Sample mounting device 210 Sample holder 212 Light source 214 External door protection unit 216 Opening 218 Pocket 220 Sensor 222 Tank 224 Side panel 226 test sensor

Claims (27)

エンクロージャー内に設けられている試験チャンバへのアクセスのためのドアを少なくとも一つ有しているエンクロージャーと、
試験チャンバ内に設けられている試料ホルダーを支持するための試料取付け部と、
試験チャンバ内で光を発生させる試験チャンバ内に設置されている光源列と、
光源列に給電するための電源と、
光源列の出力を連続して制御する複数の自動調整可能な制御チャンネルを備え、
各制御チャンネルは少なくとも一つの光源の出力を制御し、複数の制御チャンネルは、ドアに形成されたポケット内に取り外し可能に設置され、試料取付け部の異なる空間を検知するように構成されている複数の試験モジュールを有していることを特徴とする促進耐候性装置。
An enclosure having at least one door for access to a test chamber provided in the enclosure;
A sample mounting portion for supporting a sample holder provided in the test chamber;
A light source array installed in the test chamber for generating light in the test chamber;
A power source for supplying power to the light source array;
With multiple automatically adjustable control channels that continuously control the output of the light source array,
Each control channel controls the output of at least one light source, and the plurality of control channels are detachably installed in a pocket formed in the door, and are configured to detect different spaces in the sample mounting portion. An accelerated weathering apparatus characterized by having a test module.
各制御チャンネルは、少なくとも一つの光源が受ける電源からの電力量を制御する、少なくとも一つの光源に接続されているバラストと、
試験モジュールとバラストに接続されており、バラスト制御信号を送信することによりバラストの動作を制御するコントローラーと、
各試験モジュールに含まれている試験センサーと、
試験モジュール内に配置され、試験センサーとコントローラーに接続されており、所望の設定値に照射信号を維持するためにコントローラーがバラスト制御信号を調整するように、照射信号をコントローラーに送信する送信部を備え、
前記試験センサーは、ポケットに形成された孔に挿入され、少なくとも一つの光源の対応位置に位置し、少なくとも一つの光源からの試験チャンバ内の照射を検知し、検知照射を表す照射信号を生成する請求項1に記載の装置。
Each control channel has a ballast connected to at least one light source that controls the amount of power from the power source received by the at least one light source;
A controller that is connected to the test module and the ballast, and that controls the operation of the ballast by transmitting a ballast control signal;
A test sensor included in each test module;
A transmitter that is placed in the test module, connected to the test sensor and the controller, sends the irradiation signal to the controller so that the controller adjusts the ballast control signal to maintain the irradiation signal at the desired setpoint. Prepared,
The test sensor is inserted into a hole formed in the pocket, is positioned at a corresponding position of at least one light source, detects irradiation in the test chamber from at least one light source, and generates an irradiation signal representing the detected irradiation. The apparatus of claim 1.
第一及び第二の試料サポート壁を有し、各列が四つのランプを有する第一及び第二の光源列を有する請求項1に記載の装置。   The apparatus according to claim 1, comprising first and second light source rows having first and second sample support walls, each row having four lamps. 複数の試験モジュールは、各試験モジュールが隣接する二つのランプからの照射を実質的に選択するようにポケット内に配置された四つの試験モジュールを有している請求項1に記載の装置。   The apparatus of claim 1, wherein the plurality of test modules comprises four test modules arranged in the pocket such that each test module substantially selects illumination from two adjacent lamps. 複数の制御チャンネルは、四つの別個に調整可能な制御チャンネルを有する請求項1に記載の装置。   The apparatus of claim 1, wherein the plurality of control channels comprises four separately adjustable control channels. 較正モジュールは、さらに、試験チャンバ内の照射を検知し、検知照射を示す基準値を生成する基準センサーと、基準センサーに接続され、光源列の出力を調整するために制御チャンネルに入力された基準値を表示する基準値ディスプレーを有する請求項1に記載の装置。   The calibration module further detects the illumination in the test chamber and generates a reference value indicative of the detected illumination, and a reference connected to the reference sensor and input to the control channel to adjust the output of the light source array. The apparatus of claim 1 having a reference value display for displaying the value. 試験チャンバの内の温度をモニターし、温度信号を生成し、試験チャンバ内を所望の照射に維持するためにバラスト制御信号を調整するコントローラーに温度信号を送信する、コントローラーに接続している温度センサーをさらに有している請求項2に記載の装置。   A temperature sensor connected to the controller that monitors the temperature in the test chamber, generates a temperature signal, and sends the temperature signal to a controller that adjusts the ballast control signal to maintain the desired illumination within the test chamber The apparatus of claim 2 further comprising: 試験チャンバの内の温度をモニターし、温度信号を生成し、試験チャンバ内を所望の温度に維持するためにヒーター制御信号を調整するコントローラーに温度信号を送信する、コントローラーに接続している温度センサーをさらに有している請求項2に記載の装置。   A temperature sensor connected to the controller that monitors the temperature in the test chamber, generates a temperature signal, and sends the temperature signal to a controller that adjusts the heater control signal to maintain the desired temperature in the test chamber The apparatus of claim 2 further comprising: 複数の試験モジュールは、周波数ノイズを減少させるために照射信号を増幅する請求項1に記載の装置。   The apparatus of claim 1, wherein the plurality of test modules amplifies the illumination signal to reduce frequency noise. 周波数ノイズの減少は、利得とともに、高インピーダンス信号を低インピーダンス信号に変換することにより達成される請求項9に記載の装置。   10. The apparatus of claim 9, wherein the frequency noise reduction is achieved by converting a high impedance signal to a low impedance signal along with gain. コントローラーは、処理ユニットとプログラム処理を記憶しているメモリーを有しており、プログラムは処理ユニットに読まれると、コントローラーに、所望の照射信号の設定値入力を受けとらせ、試験手順を開始させるようになっており、この手順は、
バラスト制御信号を設定値に基づいてバラストに出力するステップと、
試験モジュールから照射信号入力を受け取るステップと、
設定値と照射信号との間の利得に基づいてバラスト制御信号を調整するステップと、
調整されたバラスト制御信号を出力するステップと、
所望の期間、試験手順ステップを繰り返すステップを有している請求項2に記載の装置。
The controller has a processing unit and a memory that stores the program processing. When the program is read by the processing unit, the controller receives the set value input of the desired irradiation signal and starts the test procedure. This procedure is
Outputting a ballast control signal to the ballast based on a set value;
Receiving an irradiation signal input from the test module;
Adjusting the ballast control signal based on the gain between the set value and the illumination signal;
Outputting an adjusted ballast control signal;
The apparatus of claim 2 including the step of repeating the test procedure steps for a desired period of time.
コントローラーは、さらに、プログラム命令を有しており、処理ユニットに読まれると、コントローラーに、較正のための複数の制御チャンネルの一つを選択させ、較正手順を開始させるようになっており、この手順は、
選択制御チャンネルに関連する試験モジュールとの接続を切断するステップと、
基準センサーを有する較正モジュールを選択制御チャンネルに接続させるステップと、
基準値を生成するために、概ね選択制御チャンネルに関連する光源からの照射によって試験チャンバ内に現存する照射を基準センサーを用いて検知するステップと、
較正モジュールに含まれているディスプレーに基準値を表示するステップと、
上記ステップを各制御チャンネル毎に繰り返すステップと、
基準値をコントローラーに入力するステップと、
各制御チャンネルに関連する基準値と設定値を比較するステップと、
各制御チャンネルに関連する光源の出力を較正するために、各制御チャンネルの利得を調整するステップを有している請求項11に記載の装置。
The controller further includes program instructions that, when read by the processing unit, cause the controller to select one of a plurality of control channels for calibration and initiate the calibration procedure. The procedure is
Disconnecting the test module associated with the selected control channel;
Connecting a calibration module having a reference sensor to the selected control channel;
Detecting, using a reference sensor, existing illumination in the test chamber by illumination from a light source generally associated with the selected control channel to generate a reference value;
Displaying the reference value on the display included in the calibration module;
Repeating the above steps for each control channel;
Entering a reference value into the controller;
Comparing reference values and setpoints associated with each control channel;
12. The apparatus of claim 11, comprising adjusting the gain of each control channel to calibrate the light source output associated with each control channel.
較正ステップは、さらに、較正モジュールを用いて、UV−A、UV−B、UV−Cの範囲での紫外線を発生するランプ群を検知するステップと、
検知したランプを自動的にコントローラーに通信させるステップを有している請求項12に記載の装置。
The calibration step further comprises: using a calibration module to detect a group of lamps that generate ultraviolet radiation in the UV-A, UV-B, UV-C range;
The apparatus of claim 12, further comprising the step of automatically communicating the detected lamp to a controller.
エンクロージャー内に設けられている試験チャンバへのアクセスのためのドアを少なくとも一つ有しているエンクロージャーと、
試験チャンバ内で光を発生させる試験チャンバ内に設置されている光源と、
光源に給電するための電源と、光源及び電源に接続されており、光源が受ける電源からの電力量を制御するバラストと、
試験モジュールとバラストとに接続されており、バラスト制御信号を送信することによりバラストの動作を制御するコントローラーを備え、
前記バラストは、点火前に光源を暖めるために所望の期間、光源に低圧を加えるように光源の起動を制御する回路を有しており、これにより、光源への衝撃が最小限になり、光源の寿命が延びるとともに、
前記コントローラーは、試験チャンバ内の所望の照射を維持するために、試験モジュールから受け取った照射信号に対応してバラスト制御信号を調整することを特徴とする促進耐候性装置。
An enclosure having at least one door for access to a test chamber provided in the enclosure;
A light source installed in the test chamber for generating light in the test chamber;
A power source for supplying power to the light source, and a ballast connected to the light source and the power source to control the amount of power from the power source received by the light source;
It is connected to the test module and the ballast, and includes a controller that controls the operation of the ballast by sending a ballast control signal.
The ballast has a circuit that controls activation of the light source to apply a low pressure to the light source for a desired period of time to warm the light source before ignition, thereby minimizing impact on the light source and As the life of
The accelerated weathering apparatus, wherein the controller adjusts the ballast control signal in response to the irradiation signal received from the test module to maintain the desired irradiation in the test chamber.
操作電圧になるまで低電圧が光源に徐々に加えられる請求項14に記載の装置。   The apparatus of claim 14, wherein a low voltage is gradually applied to the light source until the operating voltage is reached. 試験チャンバの内の温度をモニターし、温度信号を生成し、試験チャンバ内を所望の照射に維持するためにバラスト制御信号を調整するコントローラーに温度信号を送信する、コントローラーに接続している温度センサーを、さらに有している請求項14に記載の装置。   A temperature sensor connected to the controller that monitors the temperature in the test chamber, generates a temperature signal, and sends the temperature signal to a controller that adjusts the ballast control signal to maintain the desired illumination within the test chamber 15. The apparatus of claim 14, further comprising: 試験チャンバ内の温度をモニターし、温度信号を生成し、試験チャンバ内を所望の温度に維持するためにヒーター制御信号を調整するコントローラーに温度信号を送信する、コントローラーに接続している温度センサーをさらに有している請求項14に記載の装置。   A temperature sensor connected to the controller that monitors the temperature in the test chamber, generates a temperature signal, and sends the temperature signal to the controller that adjusts the heater control signal to maintain the desired temperature in the test chamber. 15. The apparatus of claim 14, further comprising: コントローラーは、試験チャンバ内を所望の照射に維持するために、照射信号をモニターし、それに応じてバラスト制御信号調整する請求項14に記載の装置。   The apparatus of claim 14, wherein the controller monitors the illumination signal and adjusts the ballast control signal accordingly to maintain the desired illumination within the test chamber. 所望の期間は、少なくとも略1.5秒である請求項14に記載の装置。   The apparatus of claim 14, wherein the desired period is at least approximately 1.5 seconds. 低電圧は、略2〜5ボルトである請求項14に記載の装置。   The apparatus of claim 14, wherein the low voltage is approximately 2-5 volts. 試験チャンバと、試料取付け部と、バラストにより制御される電源によって給電される光源と、
各制御チャンネルが、少なくとも一つの光源の出力を制御し、試験チャンバ内の照射を検知する試験センサーを含む試験モジュールを有している、光源出力を連続制御する自動調整可能な制御チャンネルを複数備える試験装置での、促進試料耐候性試験方法であって、
照射信号を生成するために、試験センサーの一つを用いて、概ね制御チャンネルに関連する光源からの照射による試験チャンバ内に現存する照射を検知するステップと、
試験センサーによって検知された照射信号を制御チャンネルのコントローラーに送信するステップと、
照射信号と設定値とが等しいかを判断するために比較するステップと、
光源の出力が調整されるように、制御チャンネルに関連するバラストに対するバラスト制御信号を調整するステップと、
各制御チャンネルに関連するバラスト制御信号が調整されるまで上記ステップを繰り返し、一サイクルとするステップと、
上記ステップを所望のサイクル回数繰り返すステップと、
較正のための制御チャンネルのうち一つを選択するステップと、
選択制御チャンネルに関連した試験モジュールの接続を切断するステップと、
基準センサーを有する較正モジュールを、選択制御チャンネルに接続するステップと、
基準値を生成するために、基準センサーを用いて、概ね選択制御チャンネルに関連する光源からの照射による試験チャンバ内に現存する照射を検知するステップと、
較正モジュールに含まれているディスプレーに基準値を表示するステップと、
すぐ上記に記載したこれらの切断、接続、検知、表示のステップを制御チャンネルごとに繰り返すステップと、
基準値をコントローラーに入力するステップと、
設定値と基準値を比較するステップと、
各制御チャンネルに関連した光源の出力を較正するために、各制御チャンネルを再度調整するステップを有することを特徴とする促進試料耐候性試験方法。
A test chamber, a sample mounting, and a light source powered by a power source controlled by a ballast;
Each control channel includes a plurality of self-adjustable control channels that continuously control the light source output, including a test module that includes a test sensor that controls the output of at least one light source and detects illumination within the test chamber. An accelerated sample weathering test method in a test apparatus,
Detecting an existing illumination in the test chamber by illumination from a light source generally associated with the control channel using one of the test sensors to generate an illumination signal;
Transmitting an irradiation signal detected by the test sensor to a controller of the control channel;
Comparing to determine whether the illumination signal is equal to the set value;
Adjusting the ballast control signal for the ballast associated with the control channel so that the output of the light source is adjusted;
Repeating the above steps until the ballast control signal associated with each control channel is adjusted, making one cycle;
Repeating the above steps a desired number of cycles;
Selecting one of the control channels for calibration;
Disconnecting the test module associated with the selected control channel;
Connecting a calibration module having a reference sensor to the selected control channel;
Detecting an existing illumination in the test chamber by illumination from a light source generally associated with a selected control channel using a reference sensor to generate a reference value;
Displaying the reference value on the display included in the calibration module;
Immediately repeating these disconnection, connection, detection and display steps described above for each control channel;
Entering a reference value into the controller;
A step of comparing the set value with the reference value;
An accelerated sample weathering test method comprising the step of adjusting each control channel again to calibrate the light source output associated with each control channel.
各制御チャンネルは、さらに、試験チャンバ内の温度をモニターする、コントローラーに接続された温度センサーを有しており、方法は、さらに、温度信号を生成するステップと、試験チャンバ内の所望の照射を維持するために、バラスト制御信号を調整するコントローラーに、温度信号を送信するステップを有している請求項21に記載の方法。   Each control channel further includes a temperature sensor connected to the controller that monitors the temperature in the test chamber, and the method further includes generating a temperature signal and a desired illumination in the test chamber. 23. The method of claim 21, comprising transmitting a temperature signal to a controller that adjusts the ballast control signal to maintain. 各制御チャンネルは、さらに、試験チャンバ内の温度をモニターする、コントローラーに接続された温度センサーを有しており、方法は、さらに、温度信号を生成するステップと、試験チャンバ内の所望の照射を維持するために、ヒーター制御信号を調整するコントローラーに、温度信号を送信するステップを有している請求項21に記載の方法。   Each control channel further includes a temperature sensor connected to the controller that monitors the temperature in the test chamber, and the method further includes generating a temperature signal and a desired illumination in the test chamber. The method of claim 21, comprising sending a temperature signal to a controller that adjusts the heater control signal to maintain. 方法は、さらに、バラストの現在のドロー(Draw)をモニターするステップと、試験チャンバ内の所望の照射を維持するために、バラスト制御信号を調整するステップを有する請求項21に記載の方法。   The method of claim 21, further comprising the steps of monitoring a current draw of the ballast and adjusting a ballast control signal to maintain a desired illumination in the test chamber. 試験チャンバと、試料取付け部と、バラストにより制御される電源によって給電される光源と、
各制御チャンネルが、少なくとも一つの光源の出力を制御し、試験チャンバ内の照射を検知する試験センサーを含む試験モジュールを有している、光源出力を連続制御する自動調整可能な制御チャンネルを複数備える試験装置での、促進試料耐候性試験方法であって、
光源への衝撃を最小限にすると共に、光源の寿命を延ばすために、点火前に光源を暖めるために所望の時間、光源に低電圧を加えるバラスト内の回路によって、光源の起動を制御するステップと、
照射信号を生成するために、試験センサーの一つを用いて、概ね制御チャンネルに関連する光源からの照射による試験チャンバ内に現存している照射を検知するステップと、
試験センサーによって検知された照射信号を制御チャンネルのコントローラーに送信するステップと、
照射信号と設定値とが等しいかを判断するために比較するステップと、
光源の出力が調整されるように、設定値と照射信号との間の利得に基づいて、制御チャンネルに関連するバラストに対するバラスト制御信号を調整するステップと、
各制御チャンネルに関連するバラスト制御信号が調整されるまで上記ステップを繰り返し、一サイクルとするステップと、上記ステップを所望のサイクル回数繰り返すステップと、
較正のための制御チャンネルのうち一つを選択するステップと、
選択制御チャンネルに関連した試験モジュールの接続を切断するステップと、
基準センサーを有する較正モジュールを、選択制御チャンネルに接続するステップと、
基準値を生成するために、基準センサーを用いて、概ね選択制御チャンネルに関連する光源からの照射による試験チャンバ内に現存している照射を検知するステップと、
較正モジュールに含まれているディスプレーに基準値を表示するステップと、
すぐ上記に記載したこれらの切断、接続、検知、表示のステップを制御チャンネルごとに繰り返すステップと、
基準値をコントローラーに入力するステップと、
設定値と基準値を比較するステップと、
各制御チャンネルに関連した光源の出力を較正するために、各制御チャンネルを再度調整するステップを有することを特徴とする促進試料耐候性試験方法。
A test chamber, a sample mounting, and a light source powered by a power source controlled by a ballast;
Each control channel includes a plurality of self-adjustable control channels that continuously control the light source output, including a test module that includes a test sensor that controls the output of at least one light source and detects illumination within the test chamber. An accelerated sample weathering test method in a test apparatus,
Controlling the activation of the light source by a circuit in the ballast that applies a low voltage to the light source for a desired time to warm the light source before ignition, in order to minimize the impact on the light source and extend the life of the light source When,
Detecting an existing illumination in the test chamber by illumination from a light source generally associated with the control channel using one of the test sensors to generate an illumination signal;
Transmitting an irradiation signal detected by the test sensor to a controller of the control channel;
Comparing to determine whether the illumination signal is equal to the set value;
Adjusting the ballast control signal for the ballast associated with the control channel based on the gain between the setpoint and the illumination signal so that the output of the light source is adjusted;
Repeating the above steps until the ballast control signal associated with each control channel is adjusted, making one cycle, repeating the above steps a desired number of cycles,
Selecting one of the control channels for calibration;
Disconnecting the test module associated with the selected control channel;
Connecting a calibration module having a reference sensor to the selected control channel;
Detecting an existing illumination in the test chamber by illumination from a light source generally associated with the selected control channel using a reference sensor to generate a reference value;
Displaying the reference value on the display included in the calibration module;
Immediately repeating these disconnection, connection, detection and display steps described above for each control channel;
Entering a reference value into the controller;
A step of comparing the set value with the reference value;
An accelerated sample weathering test method comprising the step of adjusting each control channel again to calibrate the light source output associated with each control channel.
前記所望の時間は少なくとも1.5秒である請求項25に記載の方法。   26. The method of claim 25, wherein the desired time is at least 1.5 seconds. 前記低電圧は、略2〜5ボルトの範囲である請求項25に記載の方法。   26. The method of claim 25, wherein the low voltage is in the range of approximately 2-5 volts.
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