JP2008145264A - Radiation measuring apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、放射線測定装置に関し、特に、放射線測定装置の測定精度を高める技術に関する。 The present invention relates to a radiation measurement apparatus, and more particularly to a technique for increasing the measurement accuracy of a radiation measurement apparatus.
放射線測定装置は、放射線の検出に伴って発生する微弱な検出信号を測定している。放射線の測定手法として、電離箱に放射線が入射することによって発生する微弱な電離電流を測定する手法や、放射線を受けたシンチレータから出る光を測定する手法などが知られている。 The radiation measuring apparatus measures a weak detection signal generated with the detection of radiation. As a method for measuring radiation, there are known a method for measuring a weak ionization current generated when radiation enters an ionization chamber, a method for measuring light emitted from a scintillator that has received radiation, and the like.
例えば、特許文献１〜３には、電離電流を介して放射線を測定する技術が記載されている。電離電流は微弱な電流であるため、電離電流を高い精度で測定することは容易ではない。特許文献１〜３には、微弱な電離電流の測定精度を高める技術が記載されている。
For example,
特許文献１には、トランジスタの温度変化に伴う測定誤差を補償する旨の技術が記載されている。また、特許文献２には、電離箱放射線検出器の電極とグランド間のリーク電流を補正する旨の技術が記載されている。そして、特許文献３には、各チャンネルのオフセット電流を記憶しておき、記憶しておいた情報を利用して補正を行う旨の技術が記載されている。
上記のような背景において、本願発明者は、放射線を検出することによって得られる検出電流を高い精度で測定する技術について、特に、検出電流を測定するための素子のリーク電流に伴う誤差成分を補正する技術について研究開発を重ねてきた。 In the background as described above, the inventor of the present application corrects an error component associated with a leak current of an element for measuring a detection current, particularly for a technique for measuring a detection current obtained by detecting radiation with high accuracy. I have been researching and developing technologies to do this.
ちなみに、特許文献２には、リーク電流に関する技術が記載されているものの、そのリーク電流は、電離箱の電極とグランド間に発生するものであり、検出電流を測定するための素子に発生するものではない。また、特許文献３に記載された技術では、記憶しておいた情報を利用して補正を行うため、例えば、電流の変化等に応じてリアルタイムに補正を行うことができない。 Incidentally, although Patent Document 2 describes a technique relating to leakage current, the leakage current is generated between the electrode of the ionization chamber and the ground, and is generated in an element for measuring the detection current. is not. Moreover, in the technique described in Patent Document 3, since correction is performed using stored information, for example, correction cannot be performed in real time according to a change in current or the like.
本発明は、このような状況において成されたものであり、その目的は、検出電流を測定するための素子のリーク電流に伴う誤差を補正する改良技術を提供することにある。 The present invention has been made in such a situation, and an object of the present invention is to provide an improved technique for correcting an error associated with a leakage current of an element for measuring a detection current.
上記目的を達成するために、本発明の好適な態様である放射線測定装置は、放射線を検出して検出電流を発生する放射線検出部と、検出電流を測定するための検出電流用素子を備え、検出電流用素子を利用して検出電流を測定することにより測定信号を得る検出電流測定回路と、検出電流用素子の特性と同等な特性のリーク電流用素子を備え、リーク電流用素子のリーク電流を測定することにより、検出電流用素子のリーク電流に対応した校正信号を得るリーク電流測定回路と、検出電流測定回路から出力される測定信号とリーク電流測定回路から出力される校正信号とを比較処理することにより、測定信号に含まれるリーク電流の成分を除去するリーク電流補償回路を有することを特徴とする。 In order to achieve the above object, a radiation measuring apparatus according to a preferred aspect of the present invention includes a radiation detection unit that detects a radiation and generates a detection current, and a detection current element for measuring the detection current, A detection current measurement circuit that obtains a measurement signal by measuring a detection current using a detection current element and a leakage current element having characteristics equivalent to those of the detection current element are provided. Compare the measurement signal output from the detection current measurement circuit with the calibration signal output from the leakage current measurement circuit to obtain a calibration signal corresponding to the leakage current of the detection current element. It is characterized by having a leakage current compensation circuit that removes a leakage current component included in the measurement signal by processing.
望ましい態様において、前記検出電流用素子と前記リーク電流用素子は、互いに同一の集積回路用パッケージ内に実装される半導体素子であることを特徴とする。 In a preferred aspect, the detection current element and the leakage current element are semiconductor elements mounted in the same integrated circuit package.
望ましい態様において、前記検出電流測定回路は、放射線のバックグランドレベルの測定に対応したバックグランド測定用抵抗を備え、前記測定信号として、検出電流を含んだ電流がバックグランド測定用抵抗を流れることによって発生する電圧信号を出力し、前記リーク電流測定回路は、バックグランド測定用抵抗と同じ抵抗値のリーク電流測定用抵抗を備え、前記校正信号として、リーク電流用素子のリーク電流がリーク電流測定用抵抗を流れることによって発生する電圧信号を出力し、前記リーク電流補償回路は、測定信号の電圧信号と校正信号の電圧信号との間の電圧差を出力することを特徴とする。 In a preferred aspect, the detection current measurement circuit includes a background measurement resistor corresponding to the measurement of the background level of radiation, and a current including the detection current flows through the background measurement resistor as the measurement signal. The leakage current measuring circuit includes a leakage current measuring resistor having the same resistance value as the background measuring resistor, and the leakage current of the leakage current element is used for measuring the leakage current as the calibration signal. A voltage signal generated by flowing through the resistor is output, and the leakage current compensation circuit outputs a voltage difference between the voltage signal of the measurement signal and the voltage signal of the calibration signal.
望ましい態様において、前記検出電流測定回路は、放射線の測定感度を切り替えるための感度変更用抵抗を備え、バックグランド測定用抵抗に対して感度変更用抵抗が並列接続されて合成抵抗値を変化させることにより測定感度が切り替えられることを特徴とする。 In a preferred aspect, the detection current measuring circuit includes a sensitivity changing resistor for switching the measurement sensitivity of radiation, and the sensitivity changing resistor is connected in parallel to the background measuring resistor to change the combined resistance value. The measurement sensitivity can be switched by.
本発明により、検出電流を測定するための素子のリーク電流に伴う誤差を補正する改良技術が提供される。例えば、本発明の好適な態様により、検出電流用素子の特性と同等な特性のリーク電流用素子のリーク電流から校正信号を得て、測定信号に含まれるリーク電流の成分を除去することが可能になる。 The present invention provides an improved technique for correcting an error associated with a leakage current of an element for measuring a detection current. For example, according to a preferred embodiment of the present invention, it is possible to obtain a calibration signal from the leakage current of a leakage current element having characteristics equivalent to those of the detection current element, and to remove the leakage current component included in the measurement signal become.
以下、本発明の好適な実施形態を図面に基づいて説明する。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described with reference to the drawings.
図１には、本発明に係る放射線測定装置の好適な実施形態が示されており、図１はその主要部分の回路構成図である。本実施形態の放射線測定装置は、例えば、サーベイメータ、モニタリングポスト、エリアモニタなどである。 FIG. 1 shows a preferred embodiment of a radiation measuring apparatus according to the present invention, and FIG. 1 is a circuit configuration diagram of the main part thereof. The radiation measurement apparatus of this embodiment is, for example, a survey meter, a monitoring post, an area monitor, or the like.
電離箱１０は、入射する放射線を検出して電離電流を出力する。電離箱１０には、電源Ｖによって、例えばマイナス数百〜マイナス数千ボルトのバイアスが印加される。電離箱１０内に放射線が入射すると電離箱１０内のガスが電離し、電離の結果発生する帯電体（例えば電子）が集電極に引き寄せられる。こうして、集電極に集められた電離電流（ＩR）が電離箱１０から出力される。ちなみに、電離箱１０は、バイアスの極性を変えて、電離の結果発生する帯電体として正電荷を集電極に引き寄せるタイプのものでもよい。 The ionization chamber 10 detects incident radiation and outputs an ionization current. A bias of, for example, minus hundreds to minus thousands of volts is applied to the ionization chamber 10 by a power source V. When radiation enters the ionization chamber 10, the gas in the ionization chamber 10 is ionized, and charged bodies (for example, electrons) generated as a result of ionization are attracted to the collector electrode. Thus, the ionization current (I R ) collected at the collector electrode is output from the ionization chamber 10. Incidentally, the ionization chamber 10 may be of a type in which the polarity of the bias is changed and a positive charge is attracted to the collecting electrode as a charged body generated as a result of ionization.
なお、電離箱１０に接続された電源Ｖのマイナス側は、図１内において共通の基準電位端子（例えば、グランドやマイナス側の基準電位端子）に接続される。 Note that the negative side of the power source V connected to the ionization chamber 10 is connected to a common reference potential terminal (for example, a ground or negative reference potential terminal) in FIG.
エレクトロメータ回路２０は、電離箱１０から出力される電離電流を計測する回路である。エレクトロメータ回路２０は、オペアンプＯＰ１、抵抗Ｒ１〜Ｒ３、リレーＫ２，Ｋ３を備えている。
The
エレクトロメータ回路２０の抵抗Ｒ１〜Ｒ３は、各々、オペアンプＯＰ１に対して並列接続されている。つまり、抵抗Ｒ１〜Ｒ３は、各々、オペアンプＯＰ１の反転入力端子（−端子）と出力端子（端子Ｔ１）の間に設けられている。なお、抵抗Ｒ２に対してリレーＫ２が直列接続されており、抵抗Ｒ３に対してリレーＫ３が直列接続されている。また、オペアンプＯＰ１の非反転入力端子（＋端子）は、図１内において共通の基準電位端子に接続される。
The resistors R1 to R3 of the
リーク電流測定回路３０は、オペアンプＯＰ２と抵抗Ｒ１とリレーＫ１を備えており、オペアンプＯＰ２のリーク電流を測定することにより、オペアンプＯＰ１のリーク電流に対応したリーク電流成分を測定する回路である。オペアンプＯＰ２の非反転入力端子（＋端子）は、図１内において共通の基準電位端子に接続される。また、抵抗Ｒ１は、オペアンプＯＰ２に対して並列接続される。つまり、抵抗Ｒ１は、オペアンプＯＰ２の反転入力端子（−端子）と出力端子（端子Ｔ２）の間に設けられる。また、リレーＫ１は、オペアンプＯＰ２の出力端子に直列接続される。 The leakage current measurement circuit 30 includes an operational amplifier OP2, a resistor R1, and a relay K1, and measures a leakage current component corresponding to the leakage current of the operational amplifier OP1 by measuring the leakage current of the operational amplifier OP2. The non-inverting input terminal (+ terminal) of the operational amplifier OP2 is connected to a common reference potential terminal in FIG. The resistor R1 is connected in parallel to the operational amplifier OP2. That is, the resistor R1 is provided between the inverting input terminal (− terminal) and the output terminal (terminal T2) of the operational amplifier OP2. The relay K1 is connected in series to the output terminal of the operational amplifier OP2.
リーク電流補償回路４０は、エレクトロメータ回路２０で計測された測定結果から、リーク電流測定回路３０で測定されたリーク電流成分を減算する回路である。リーク電流補償回路４０は、オペアンプＯＰ３と４つの抵抗Ｒ４を備えている。
The leakage current compensation circuit 40 is a circuit that subtracts the leakage current component measured by the leakage current measurement circuit 30 from the measurement result measured by the
オペアンプＯＰ３の反転入力端子（−端子）は、１つの抵抗Ｒ４とリレーＫ１を介して、リーク電流測定回路３０のオペアンプＯＰ２の出力端子（端子Ｔ２）に接続される。一方、オペアンプＯＰ３の非反転入力端子（＋端子）は、１つの抵抗Ｒ４を介して、エレクトロメータ回路２０のオペアンプＯＰ１の出力端子（端子Ｔ１）に接続される。
The inverting input terminal (− terminal) of the operational amplifier OP3 is connected to the output terminal (terminal T2) of the operational amplifier OP2 of the leakage current measuring circuit 30 through one resistor R4 and the relay K1. On the other hand, the non-inverting input terminal (+ terminal) of the operational amplifier OP3 is connected to the output terminal (terminal T1) of the operational amplifier OP1 of the
また、オペアンプＯＰ３に対して１つの抵抗Ｒ４が並列接続されている。つまり、オペアンプＯＰ３の反転入力端子（−端子）と出力端子（端子ＴＯ）の間に抵抗Ｒ４が設けられている。さらに、オペアンプＯＰ３の非反転入力端子（＋端子）は、１つの抵抗Ｒ４を介して、図１内において共通の基準電位端子に接続される。 One resistor R4 is connected in parallel to the operational amplifier OP3. That is, the resistor R4 is provided between the inverting input terminal (− terminal) and the output terminal (terminal TO) of the operational amplifier OP3. Further, the non-inverting input terminal (+ terminal) of the operational amplifier OP3 is connected to a common reference potential terminal in FIG. 1 through one resistor R4.
次に、図１に示す回路の動作について説明する。放射線のバックグランドレベルを測定する高感度測定の場合、図示しない制御部などによる制御に応じて、リレーＫ１が接続状態とされ、リレーＫ２とリレーＫ３が開放状態（非接続状態）とされる。つまり、リレーＫ１が接続状態とされることにより、リーク電流測定回路３０とリーク電流補償回路４０が電気的に接続され、また、リレーＫ２とリレーＫ３が開放状態とされることにより、抵抗Ｒ２と抵抗Ｒ３がオペアンプＯＰ１から電気的に切り離される。 Next, the operation of the circuit shown in FIG. 1 will be described. In the case of high-sensitivity measurement for measuring the background level of radiation, the relay K1 is connected and the relay K2 and the relay K3 are opened (not connected) according to control by a control unit (not shown). That is, when the relay K1 is connected, the leakage current measurement circuit 30 and the leakage current compensation circuit 40 are electrically connected, and when the relay K2 and the relay K3 are opened, the resistor R2 The resistor R3 is electrically disconnected from the operational amplifier OP1.
高感度測定の場合、リレーＫ２とリレーＫ３が開放状態とされているため、電離箱１０から出力される電離電流ＩRは、抵抗Ｒ１へ流れ込む。抵抗Ｒ１の抵抗値Ｒ1は、例えば、数テラオーム程度であり、また、バックグランドレベルにおいて、電離電流ＩRは、例えば、１０-14アンペア程度のものとなる。抵抗Ｒ１には、オペアンプＯＰ１において発生するリーク電流ＩLも流れ込んでしまう。リーク電流ＩLは、例えば、電離電流ＩRの数十パーセント程度の大きさである。その結果、オペアンプＯＰ１の出力端子の電位はリーク電流の成分を含んだ電位となる。つまり、端子Ｔ１の電位ＥRLは次式のようになる。 In the case of high sensitivity measurement, since the relay K2 and the relay K3 are opened, the ionization current I R output from the ionization chamber 10 flows into the resistor R1. The resistance value R 1 of the resistor R1 is, for example, about several teraohms, and the ionization current I R is, for example, about 10 −14 amperes at the background level. The resistor R1, will flow into even the leakage current I L generated in the operational amplifier OP1. The leakage current I L is, for example, a size of about several tens of percent of ionizing current I R. As a result, the potential of the output terminal of the operational amplifier OP1 becomes a potential including a leakage current component. That is, the potential E RL of the terminal T1 is as follows.
ＥRL＝（ＩR＋ＩL）×Ｒ1 ・・・ （１） E RL = (I R + I L ) × R 1 (1)
また、高感度測定の場合、リレーＫ１が接続状態とされているため、リーク電流測定回路３０とリーク電流補償回路４０が電気的に接続される。リーク電流測定回路３０のオペアンプＯＰ２は、エレクトロメータ回路２０のオペアンプＯＰ１と同等な特性のオペアンプである。例えば、オペアンプＯＰ１とオペアンプＯＰ２は、互いに同一の半導体基板上に形成され、そして、互いに同一のＩＣ（集積回路）パッケージ内に実装される。
In the case of high sensitivity measurement, since the relay K1 is in a connected state, the leakage current measurement circuit 30 and the leakage current compensation circuit 40 are electrically connected. The operational amplifier OP2 of the leakage current measuring circuit 30 is an operational amplifier having characteristics equivalent to those of the operational amplifier OP1 of the
オペアンプＯＰ２とオペアンプＯＰ１の特性が揃えられているため、オペアンプＯＰ２のリーク電流とオペアンプＯＰ１のリーク電流は、互いに等しい電流値となり、オペアンプＯＰ２からリーク電流ＩLが発生する。なお、オペアンプＯＰ２のリーク電流とオペアンプＯＰ１のリーク電流は、互いに完全に等しい電流値となることが望ましいものの、実質的に等しいとみなせる程度であっても効果が十分期待できる。 Since the characteristics of the operational amplifier OP2 and the operational amplifier OP1 are aligned, leakage current of the leakage current and the operational amplifier OP1 of the operational amplifier OP2 becomes mutually equal current value, the leakage current I L is generated from the operational amplifier OP2. Although it is desirable that the leakage current of the operational amplifier OP2 and the leakage current of the operational amplifier OP1 are completely equal to each other, the effect can be sufficiently expected even when the leakage current is considered to be substantially equal.
オペアンプＯＰ２において発生するリーク電流ＩLは抵抗Ｒ１に流れ込み、その結果、オペアンプＯＰ２の出力端子の電位、つまり端子Ｔ２の電位ＥLは、次式のようになる。なお、オペアンプＯＰ２に並列接続される抵抗Ｒ１の抵抗値Ｒ1は、オペアンプＯＰ１に並列接続される抵抗Ｒ１の抵抗値と同じ値であり、例えば、数テラオーム程度である。 The leakage current I L generated in the operational amplifier OP2 flows into the resistor R1, and as a result, the potential of the output terminal of the operational amplifier OP2, that is, the potential E L of the terminal T2 is expressed by the following equation. The resistance value R 1 of the resistor R1 connected in parallel to the operational amplifier OP2 is the same value as the resistance value of the resistor R1 connected in parallel to the operational amplifier OP1, for example, about several Teraomu.
ＥL＝ＩL×Ｒ1 ・・・ （２） E L = I L × R 1 (2)
そして、高感度測定の場合、リーク電流補償回路４０によって、エレクトロメータ回路２０の端子Ｔ１の電位ＥRLとリーク電流測定回路３０の端子Ｔ２の電位ＥLの電位差が算出される。つまり、リーク電流補償回路４０の４つの抵抗Ｒ４が、全て同一の抵抗値に揃えられており、そのため、リーク電流補償回路４０が、減算回路として機能する。なお、抵抗Ｒ４の抵抗値は、例えば、数十キロオーム程度である。
In the case of high sensitivity measurement, the leak current compensation circuit 40 calculates the potential difference between the potential E RL at the terminal T1 of the
リーク電流補償回路４０が減算回路として機能するため、オペアンプＯＰ３の出力端子の電位、つまり端子ＴＯの電位ＥOUTは、次式のようになる。 Since the leakage current compensation circuit 40 functions as a subtraction circuit, the potential of the output terminal of the operational amplifier OP3, that is, the potential E OUT of the terminal TO is expressed by the following equation.
ＥOUT＝ＥRL−ＥL＝ＩR×Ｒ1 ・・・ （３） E OUT = E RL -E L = I R × R 1 (3)
（３）式に示す端子ＴＯの電位ＥOUTには、（１）式に示す端子Ｔ１の電位ＥRLに含まれていたリーク電流ＩLに伴う電位成分が含まれていない。つまり、リーク電流補償回路４０によって、リーク電流の成分が除去され、極めて高い精度で放射線の測定を行うことが可能になる。 (3) The potential E OUT terminal TO shown in the expression does not contain a potential component due to the leakage current I L contained in the potential E RL terminal T1 shown in (1). That is, the leakage current compensation circuit 40 removes the leakage current component, and radiation can be measured with extremely high accuracy.
放射線のバックグランドレベルを測定する高感度測定の場合の動作は、上記のとおりである。一方、放射線の通常の測定の場合には、図示しない制御部などによる制御に応じて、リレーＫ１が開放状態（非接続状態）とされ、リレーＫ２とリレーＫ３が適宜接続状態とされる。つまり、リレーＫ１が開放状態とされることにより、リーク電流測定回路３０とリーク電流補償回路４０が電気的に切り離され、また、リレーＫ２とリレーＫ３が適宜接続状態とされることにより、抵抗Ｒ２と抵抗Ｒ３が必要に応じてオペアンプＯＰ１に電気的に接続される。 The operation in the case of high-sensitivity measurement for measuring the background level of radiation is as described above. On the other hand, in the case of normal measurement of radiation, the relay K1 is opened (not connected) and the relay K2 and relay K3 are appropriately connected in accordance with control by a control unit (not shown). That is, when the relay K1 is opened, the leakage current measuring circuit 30 and the leakage current compensation circuit 40 are electrically disconnected, and when the relay K2 and the relay K3 are appropriately connected, the resistor R2 And the resistor R3 are electrically connected to the operational amplifier OP1 as necessary.
抵抗Ｒ２と抵抗Ｒ３は、測定感度を変更するための抵抗であり、抵抗Ｒ２の抵抗値は、例えば抵抗Ｒ１の抵抗値の１／１００程度に設定され、抵抗Ｒ３の抵抗値は、例えば抵抗Ｒ２の抵抗値の１／１００程度に設定される。 The resistors R2 and R3 are resistors for changing the measurement sensitivity. The resistance value of the resistor R2 is set to, for example, about 1/100 of the resistance value of the resistor R1, and the resistance value of the resistor R3 is, for example, the resistor R2 It is set to about 1/100 of the resistance value.
そして、例えば、図示しない制御部が、ユーザによって設定された測定感度に応じて、リレーＫ２とリレーＫ３のうちの少なくとも一方を接続状態とすることにより、抵抗Ｒ１〜Ｒ３による合成抵抗の抵抗値が変更され、その合成抵抗の抵抗値に応じた電位が端子Ｔ１に発生する。 Then, for example, a control unit (not shown) sets at least one of the relay K2 and the relay K3 in a connected state in accordance with the measurement sensitivity set by the user, so that the resistance value of the combined resistor by the resistors R1 to R3 is set. As a result, a potential corresponding to the resistance value of the combined resistor is generated at the terminal T1.
また、放射線の通常の測定の場合には、リレーＫ１が開放状態とされているため、端子Ｔ１の電位が、端子ＴＯにそのまま出力される。こうして、例えばユーザによって設定された測定感度に応じた測定結果が端子ＴＯに出力される。 Further, in the case of normal measurement of radiation, since the relay K1 is in an open state, the potential at the terminal T1 is output to the terminal TO as it is. Thus, for example, a measurement result corresponding to the measurement sensitivity set by the user is output to the terminal TO.
以上、本発明の好適な実施形態を説明したが、上述した実施形態は、あらゆる点で単なる例示にすぎず、本発明の範囲を限定するものではない。本発明は、その本質を逸脱しない範囲で各種の変形形態を包含する。 As mentioned above, although preferred embodiment of this invention was described, embodiment mentioned above is only a mere illustration in all the points, and does not limit the scope of the present invention. The present invention includes various modifications without departing from the essence thereof.
１０ 電離箱、２０ エレクトロメータ回路、３０ リーク電流測定回路、４０ リーク電流補償回路。 10 ionization chamber, 20 electrometer circuit, 30 leak current measurement circuit, 40 leak current compensation circuit.
Claims (4)
検出電流を測定するための検出電流用素子を備え、検出電流用素子を利用して検出電流を測定することにより測定信号を得る検出電流測定回路と、
検出電流用素子の特性と同等な特性のリーク電流用素子を備え、リーク電流用素子のリーク電流を測定することにより、検出電流用素子のリーク電流に対応した校正信号を得るリーク電流測定回路と、
検出電流測定回路から出力される測定信号とリーク電流測定回路から出力される校正信号とを比較処理することにより、測定信号に含まれるリーク電流の成分を除去するリーク電流補償回路と、
を有する、
ことを特徴とする放射線測定装置。 A radiation detector that detects radiation and generates a detection current;
A detection current measuring circuit that includes a detection current element for measuring the detection current, and obtains a measurement signal by measuring the detection current using the detection current element;
A leakage current measuring circuit having a leakage current element having characteristics equivalent to the characteristics of the detection current element, and obtaining a calibration signal corresponding to the leakage current of the detection current element by measuring the leakage current of the leakage current element; ,
A leakage current compensation circuit for removing a leakage current component included in the measurement signal by comparing the measurement signal output from the detection current measurement circuit and the calibration signal output from the leakage current measurement circuit;
Having
A radiation measuring apparatus characterized by that.
前記検出電流用素子と前記リーク電流用素子は、互いに同一の集積回路用パッケージ内に実装される半導体素子である、
ことを特徴とする放射線測定装置。 The radiation measurement apparatus according to claim 1,
The detection current element and the leakage current element are semiconductor elements mounted in the same integrated circuit package.
A radiation measuring apparatus characterized by that.
前記検出電流測定回路は、放射線のバックグランドレベルの測定に対応したバックグランド測定用抵抗を備え、前記測定信号として、検出電流を含んだ電流がバックグランド測定用抵抗を流れることによって発生する電圧信号を出力し、
前記リーク電流測定回路は、バックグランド測定用抵抗と同じ抵抗値のリーク電流測定用抵抗を備え、前記校正信号として、リーク電流用素子のリーク電流がリーク電流測定用抵抗を流れることによって発生する電圧信号を出力し、
前記リーク電流補償回路は、測定信号の電圧信号と校正信号の電圧信号との間の電圧差を出力する、
ことを特徴とする放射線測定装置。 The radiation measurement apparatus according to claim 2,
The detection current measurement circuit includes a background measurement resistor corresponding to measurement of a radiation background level, and a voltage signal generated when a current including the detection current flows through the background measurement resistor as the measurement signal. Output
The leakage current measuring circuit includes a leakage current measuring resistor having the same resistance value as the background measuring resistor, and a voltage generated when the leakage current of the leakage current element flows through the leakage current measuring resistor as the calibration signal. Output signal,
The leakage current compensation circuit outputs a voltage difference between the voltage signal of the measurement signal and the voltage signal of the calibration signal.
A radiation measuring apparatus characterized by that.
前記検出電流測定回路は、放射線の測定感度を切り替えるための感度変更用抵抗を備え、バックグランド測定用抵抗に対して感度変更用抵抗が並列接続されて合成抵抗値を変化させることにより測定感度が切り替えられる、
ことを特徴とする放射線測定装置。 The radiation measurement apparatus according to claim 3.
The detection current measuring circuit includes a sensitivity changing resistor for switching the measurement sensitivity of radiation, and a sensitivity changing resistor is connected in parallel to the background measuring resistor to change the combined resistance value. Can be switched,
A radiation measuring apparatus characterized by that.
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