JP2008131528A - Inverter amplifier - Google Patents

Inverter amplifier Download PDF

Info

Publication number
JP2008131528A
JP2008131528A JP2006316550A JP2006316550A JP2008131528A JP 2008131528 A JP2008131528 A JP 2008131528A JP 2006316550 A JP2006316550 A JP 2006316550A JP 2006316550 A JP2006316550 A JP 2006316550A JP 2008131528 A JP2008131528 A JP 2008131528A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
power
circuit
inverter
type mos
fet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2006316550A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masafumi Tomota
雅史 友田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Electronics Corp
Original Assignee
NEC Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Electronics Corp filed Critical NEC Electronics Corp
Priority to JP2006316550A priority Critical patent/JP2008131528A/en
Publication of JP2008131528A publication Critical patent/JP2008131528A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inverter amplifier capable of suppressing a leak current at power down. <P>SOLUTION: The inverter amplifier is provided with a transistor 21 for suppressing the leak current at power down between an input terminal 11 and a bias supply circuit 30. At power down when a power source does not supply electric power, the leak current passing a route connecting the input terminal 11 and the bias supply circuit 30 is suppressed by the transistor 21 for suppressing the leak current at power down. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明はインバータアンプに係り、特にCMOS−FETを用いたインバータアンプに係る発明である。   The present invention relates to an inverter amplifier, and more particularly to an inverter amplifier using a CMOS-FET.

特許文献1には、インバータ型増幅器に係る発明が開示されている。
特許文献1発明のインバータ型増幅器は、増幅器本体と、バイアス回路と、インピーダンス素子とを備えて成る。ここで、増幅器本体は、一対の動作電源の間に第1のインバータと第1のパワーダウン用スイッチトランジスタとを直列接続で備えている。バイアス回路は、増幅器本体の動作点の電圧を形成する。インピーダンス素子は、バイアス回路の出力端子と第1のインバータの入力端子との接続経路に配置されている。
Patent Document 1 discloses an invention relating to an inverter type amplifier.
The inverter-type amplifier of the invention of Patent Document 1 includes an amplifier body, a bias circuit, and an impedance element. Here, the amplifier body includes a first inverter and a first power-down switch transistor connected in series between a pair of operating power supplies. The bias circuit forms a voltage at the operating point of the amplifier body. The impedance element is arranged in a connection path between the output terminal of the bias circuit and the input terminal of the first inverter.

特開平7−202595号公報JP-A-7-202595

内部に寄生ダイオードが存在するMOS−FETを具備するバイアス供給回路では、たとえ電源が切断されていても、インバータアンプの入力端子に交流電圧が入力されると、リーク電流が発生してしまう。特に、バッテリーの電力消費を少しでも節約したいモバイル端末機器においては、パワーダウン時のリーク電流は重大な電力ロスにつながる。   In a bias supply circuit including a MOS-FET having a parasitic diode inside, a leakage current is generated when an AC voltage is input to the input terminal of the inverter amplifier even if the power is turned off. In particular, in a mobile terminal device that wants to save battery power consumption as much as possible, the leakage current during power-down leads to a significant power loss.

以下に、(発明を実施するための最良の形態)で使用される番号を用いて、課題を解決するための手段を説明する。これらの番号は、(特許請求の範囲)の記載と(発明を実施するための最良の形態)との対応関係を明らかにするために付加されたものである。ただし、それらの番号を、(特許請求の範囲)に記載されている発明の技術的範囲の解釈に用いてはならない。   Hereinafter, means for solving the problem will be described using the numbers used in (Best Mode for Carrying Out the Invention). These numbers are added to clarify the correspondence between the description of (Claims) and (Best Mode for Carrying Out the Invention). However, these numbers should not be used to interpret the technical scope of the invention described in (Claims).

本発明のインバータアンプは、入力端子(11)と、パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタ(21)と、バイアス供給回路(30)と、インバータ回路(40)と、電源部と、出力端子(12)とを具備する。バイアス供給回路(30)と、入力端子(11)と、インバータ回路(40)と、出力端子(12)とはこの順番に直列に接続されており、入力端子(11)とバイアス供給回路(30)とはパワーダウン用スイッチトランジスタ(21)を介して接続されている。電源部は、バイアス供給回路(30)と、インバータ回路(40)と、パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタ(21)とに接続されている。電源部が電力を供給しないパワーダウン時には、入力端子(11)とバイアス供給回路(30)とを接続する経路を流れるリーク電流を、パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタ(21)が抑制する。   The inverter amplifier of the present invention includes an input terminal (11), a power-down leakage current suppressing transistor (21), a bias supply circuit (30), an inverter circuit (40), a power supply unit, and an output terminal (12 ). The bias supply circuit (30), the input terminal (11), the inverter circuit (40), and the output terminal (12) are connected in series in this order, and the input terminal (11) and the bias supply circuit (30 ) Is connected via a power-down switch transistor (21). The power supply unit is connected to the bias supply circuit (30), the inverter circuit (40), and the power-down leakage current suppressing transistor (21). During power-down when the power supply unit does not supply power, the leakage current suppression transistor (21) during power-down suppresses the leakage current flowing through the path connecting the input terminal (11) and the bias supply circuit (30).

本発明のインバータアンプは、入力端子(11)と、パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタ(21)と、バイアス供給回路(30)と、シュミットトリガ回路(50)と、電源部と、出力端子(12)とを具備する。バイアス供給回路(30)と、入力端子(11)と、シュミットトリガ回路(50)と、出力端子(12)とはこの順番に直列に接続されており、入力端子(11)とバイアス供給回路(30)とはパワーダウン用スイッチトランジスタ(21)を介して接続されている。電源部は、バイアス供給回路(30)と、シュミットトリガ回路(40)と、パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタ(21)とに接続されている。電源部が電力を供給しないパワーダウン時には、入力端子(12)とバイアス供給回路(30)とを接続する経路を流れるリーク電流を、パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタ(21)が抑制する。   The inverter amplifier according to the present invention includes an input terminal (11), a power-down leakage current suppressing transistor (21), a bias supply circuit (30), a Schmitt trigger circuit (50), a power supply unit, and an output terminal ( 12). The bias supply circuit (30), the input terminal (11), the Schmitt trigger circuit (50), and the output terminal (12) are connected in series in this order, and the input terminal (11) and the bias supply circuit ( 30) through a power-down switch transistor (21). The power supply unit is connected to the bias supply circuit (30), the Schmitt trigger circuit (40), and the power-down leakage current suppression transistor (21). During power-down when the power supply unit does not supply power, the leakage current suppressing transistor (21) suppresses leakage current flowing through a path connecting the input terminal (12) and the bias supply circuit (30).

インバータアンプの入力端子とバイアス供給回路とを、パワーオフ時リーク電流抑制用トランジスタを介して接続することによって、パワーオフ時リーク電流が抑制され、特にモバイル端末のバッテリーの電力がより効率良く使用される。   By connecting the input terminal of the inverter amplifier and the bias supply circuit via a transistor for suppressing leakage current at power-off, the leakage current at power-off is suppressed, and in particular, the power of the battery of the mobile terminal is used more efficiently. The

添付図面を参照して、本発明によるインバータアンプを実施するための最良の形態を以下に説明する。   The best mode for carrying out an inverter amplifier according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態を説明する前に、まずはその前段階となる従来技術によるインバータアンプについて説明する。
図1は、従来技術によるインバータアンプの回路図である。従来技術によるインバータアンプは、入力端子11と、バイアス供給回路30と、インバータ回路40と、出力端子12と、図示されない電源部とを具備している。
入力端子11は、バイアス供給回路30とインバータ回路40の入力側端子11とに接続されている。インバータ回路40の出力側端子は、出力端子12に接続されている。
入力端子11には、外部より交流電圧が入力される。バイアス供給回路30は、入力された交流電圧に直流電圧のバイアスをかける。インバータ回路40は、入力側端子から直流電圧バイアスをかけられた交流電圧を入力され、位相の反転と増幅を行い、出力側端子から出力する。
このとき、入力端子から入力される信号の振幅が小さい場合は、その小振幅信号を出力する回路とインバータアンプの入力端子とを、容量の両端子のそれぞれに接続する。こうすることで、容量結合を介して小振幅信号がインバータアンプに入力される。
(First embodiment)
Before describing the first embodiment of the present invention, first, an inverter amplifier according to the prior art, which is the previous stage, will be described.
FIG. 1 is a circuit diagram of an inverter amplifier according to the prior art. The conventional inverter amplifier includes an input terminal 11, a bias supply circuit 30, an inverter circuit 40, an output terminal 12, and a power supply unit (not shown).
The input terminal 11 is connected to the bias supply circuit 30 and the input side terminal 11 of the inverter circuit 40. The output side terminal of the inverter circuit 40 is connected to the output terminal 12.
An AC voltage is input to the input terminal 11 from the outside. The bias supply circuit 30 applies a DC voltage bias to the input AC voltage. The inverter circuit 40 receives an AC voltage applied with a DC voltage bias from the input side terminal, inverts and amplifies the phase, and outputs it from the output side terminal.
At this time, when the amplitude of the signal input from the input terminal is small, the circuit that outputs the small amplitude signal and the input terminal of the inverter amplifier are connected to both terminals of the capacitor. By doing so, a small amplitude signal is input to the inverter amplifier via capacitive coupling.

バイアス供給回路30は、N型MOS−FET31と、P型MOS−FET32と、パワーダウン用N型MOS−FET33と、パワーダウン用P型MOS−FET34とを具備している。
P型MOS−FET32と、パワーダウン用P型MOS−FET34と、パワーダウン用N型MOS−FET33と、N型MOS−FET31とは、この順番に直列に接続されている。P型MOS−FET32とN型MOS−FET31とは、図示されない電源部とグラウンド14とにそれぞれ接続されている。パワーダウン用P型MOS−FET34およびパワーダウン用N型MOS−FET33の出力端子は、P型MOS−FET32およびN型MOS−FET31のゲートとに短絡されており、バイアス供給回路30の入出力端子11に接続されている。パワーダウン用P型MOS−FET34およびパワーダウン用N型MOS−FET33のゲートには、それぞれのオンオフを制御するEN端子15およびENB端子16が接続されている。
インバータアンプが動作するパワーオン時において、パワーダウン用P型MOS−FET34は、ゲートにEN端子15からロー信号が入力されて常時オン状態になる。パワーダウン用N型MOS−FET33も同様に、ゲートにENB端子16からハイ信号が入力されて常時オン状態になる。
入力端子11に入力された信号は、それが小振幅信号であっても、バイアス供給回路30によってDCレベルが調整されるので、インバータアンプへの伝達が可能となる。
反対に、インバータアンプが動作しないパワーオフ時においては、EN端子15およびENB端子16からの制御信号は提供されないので、両端子ともロー信号が入力された状態に等しい。したがって、パワーダウン用N型MOS−FET33はオフ状態になるが、パワーダウン用P型MOS−FET34はオン状態になってしまう。この時、入力端子11に交流電圧が入力されると、パワーオフ時にもかかわらず、P型MOS−FET32内部に存在する寄生ダイオードを通って、リーク電流が発生してしまう。
図2は、従来のインバータアンプにおけるリーク電流を示す図である。
なお、これはあくまでもバイアス供給回路の一例に過ぎず、他のバイアス供給回路を代わりに用いても良い。
The bias supply circuit 30 includes an N-type MOS-FET 31, a P-type MOS-FET 32, a power-down N-type MOS-FET 33, and a power-down P-type MOS-FET 34.
The P-type MOS-FET 32, the power-down P-type MOS-FET 34, the power-down N-type MOS-FET 33, and the N-type MOS-FET 31 are connected in series in this order. The P-type MOS-FET 32 and the N-type MOS-FET 31 are connected to a power supply unit (not shown) and the ground 14, respectively. Output terminals of the power-down P-type MOS-FET 34 and the power-down N-type MOS-FET 33 are short-circuited to the gates of the P-type MOS-FET 32 and the N-type MOS-FET 31, and input / output terminals of the bias supply circuit 30. 11 is connected. The gates of the power-down P-type MOS-FET 34 and the power-down N-type MOS-FET 33 are connected to an EN terminal 15 and an ENB terminal 16 for controlling on / off of each.
At power-on when the inverter amplifier operates, the power-down P-type MOS-FET 34 is always turned on when a low signal is input to the gate from the EN terminal 15. Similarly, the power-down N-type MOS-FET 33 receives a high signal from the ENB terminal 16 at the gate and is always in an on state.
Even if the signal input to the input terminal 11 is a small amplitude signal, the DC level is adjusted by the bias supply circuit 30, so that it can be transmitted to the inverter amplifier.
On the other hand, when the inverter amplifier does not operate, the control signal from the EN terminal 15 and the ENB terminal 16 is not provided at the time of power off, so that both terminals are equivalent to the state where the low signal is input. Therefore, the power-down N-type MOS-FET 33 is turned off, but the power-down P-type MOS-FET 34 is turned on. At this time, when an AC voltage is input to the input terminal 11, a leak current is generated through a parasitic diode existing inside the P-type MOS-FET 32 regardless of the power-off state.
FIG. 2 is a diagram showing a leakage current in a conventional inverter amplifier.
This is merely an example of a bias supply circuit, and another bias supply circuit may be used instead.

インバータ回路は、上記のバイアス供給回路30とほぼ同じ構造をしている。相違点は、N型MOS−FET41およびP型MOS−FET42のゲートに接続される入力側端子と、パワーダウン用のP型MOS−FET44およびパワーダウン用のN型MOS−FET43のドレイン・ソースに接続される出力側端子とが、短絡されていないことである。そのため、バイアス供給回路30のように、パワーダウン時にリーク電流が発生することは無い。
入力端子11に入力されて、バイアス供給回路30によってDCレベルを調整された入力信号は、インバータアンプ回路40によってその信号が増幅されて、出力端子12に伝達される。
なお、これはあくまでもインバータ回路の一例に過ぎず、代わりに他のインバータ回路を用いても構わない。
The inverter circuit has substantially the same structure as the bias supply circuit 30 described above. The difference is that the input-side terminal connected to the gates of the N-type MOS-FET 41 and the P-type MOS-FET 42 and the drain / source of the power-down P-type MOS-FET 44 and the power-down N-type MOS-FET 43. The output side terminal to be connected is not short-circuited. Therefore, unlike the bias supply circuit 30, a leak current does not occur during power down.
The input signal that is input to the input terminal 11 and whose DC level is adjusted by the bias supply circuit 30 is amplified by the inverter amplifier circuit 40 and transmitted to the output terminal 12.
This is merely an example of an inverter circuit, and another inverter circuit may be used instead.

バイアス供給回路30とインバータ回路における40P型MOS−FET32、42と、N型MOS−FET31、41は、複数用いられても良い。
図3は、P型MOS−FET32、42およびN型MOS−FET31、41の数が2つに増やされた場合の従来技術によるインピーダンスアンプの回路図である。
バイアス供給回路30とインバータ回路40がそれぞれ具備するP型MOS−FET32、42およびN型MOS−FET31、41の状態は、ゲートに印加される電圧によってオンまたはオフが切り替わる。その閾値電圧は、バイアス供給回路30とインバータ回路40とで一致する事が望ましい。そのためには、図1または図2のように、バイアス供給回路30とインバータ回路40におけるP型MOS−FET32、42またはN型MOS−FET31、41は、それぞれ数と種類が同じである事が望ましい。
A plurality of the 40P-type MOS-FETs 32 and 42 and the N-type MOS-FETs 31 and 41 in the bias supply circuit 30 and the inverter circuit may be used.
FIG. 3 is a circuit diagram of an impedance amplifier according to the prior art when the number of P-type MOS-FETs 32 and 42 and N-type MOS-FETs 31 and 41 is increased to two.
The states of the P-type MOS-FETs 32 and 42 and the N-type MOS-FETs 31 and 41 included in the bias supply circuit 30 and the inverter circuit 40 are switched on or off depending on the voltage applied to the gate. The threshold voltage is preferably the same between the bias supply circuit 30 and the inverter circuit 40. For this purpose, as shown in FIG. 1 or FIG. 2, it is desirable that the number and type of P-type MOS-FETs 32 and 42 or N-type MOS-FETs 31 and 41 in the bias supply circuit 30 and the inverter circuit 40 are the same. .

図4は、本実施形態によるインバータアンプの回路図である。本実施形態によるインバータアンプは、図1のインバータアンプに加えて、N型MOS−FET21をさらに具備している。
このN型MOS−FET21は、入力端子11とバイアス供給回路30との間に接続されている。また、このN型MOS−FET21のゲートは、図示されない電源部に接続されている。
このN型MOS−FET21は、パワーオフ時のリーク電流を抑制するためにあるので、今後は「パワーオフ時リーク電流抑制トランジスタ」21と呼称する。以下、その動作を説明する。
電源部がバイアス供給回路30およびインバータ回路40に電力を供給するパワーオン時には、パワーオフ時リーク電流抑制用トランジスタ21は連動して自動的にオン状態になる。この時、入力端子11とバイアス供給回路30とを結ぶ経路は導通される。反対に、電源部がバイアス供給回路30およびインバータ回路40に電力を供給しないパワーオフ時には、パワーオフ時リーク電流抑制用トランジスタ21は連動して自動的にオフ状態になる。この時、入力端子11とバイアス供給回路30とを結ぶ経路は絶縁される。
なお、図5のように、パワーオフ時リーク電流抑制トランジスタ21は入力端子11に直接接続されていても構わない。
さらに、図6のように、バイアス供給回路30およびインバータ回路40がそれぞれ具備するCMOSインバータにおいて、N型MOS−FET31、41とP型MOS−FET32、42の数が増えて、N型MOS−FET31’、41’とP型MOS−FET32’、42’が追加されても構わない。ただし、上述したとおり、バイアス供給回路30とインバータ回路40のCMOSインバータの閾値電圧は同じであることが望ましい。
FIG. 4 is a circuit diagram of the inverter amplifier according to the present embodiment. The inverter amplifier according to the present embodiment further includes an N-type MOS-FET 21 in addition to the inverter amplifier of FIG.
The N-type MOS-FET 21 is connected between the input terminal 11 and the bias supply circuit 30. Further, the gate of the N-type MOS-FET 21 is connected to a power supply unit (not shown).
Since this N-type MOS-FET 21 is for suppressing leakage current at power-off, it will be referred to as “power-off leakage current suppressing transistor” 21 hereinafter. Hereinafter, the operation will be described.
When the power source supplies power to the bias supply circuit 30 and the inverter circuit 40, the leakage current suppressing transistor 21 is automatically turned on in conjunction with the power-off. At this time, the path connecting the input terminal 11 and the bias supply circuit 30 is conducted. On the other hand, when the power supply section does not supply power to the bias supply circuit 30 and the inverter circuit 40, the power-off leakage current suppressing transistor 21 is automatically turned off in conjunction with the power-off. At this time, the path connecting the input terminal 11 and the bias supply circuit 30 is insulated.
As shown in FIG. 5, the power-off leakage current suppression transistor 21 may be directly connected to the input terminal 11.
Further, as shown in FIG. 6, in the CMOS inverter provided in the bias supply circuit 30 and the inverter circuit 40, the number of N-type MOS-FETs 31 and 41 and P-type MOS-FETs 32 and 42 increases, and the N-type MOS-FET 31. ', 41' and P-type MOS-FETs 32 ', 42' may be added. However, as described above, it is desirable that the threshold voltage of the CMOS inverter of the bias supply circuit 30 and the inverter circuit 40 is the same.

本実施形態例では、入力端子11からバイアス供給回路30へ抜けるリーク電流を抑制することによって、特にモバイル機器におけるバッテリー電力の節約に大きく寄与する。しかし、一般的にモバイル機器内の電圧は低く、場合によっては1.2ボルト程度である事もある。これでは、通常のMOS−FETでは閾値電圧が高すぎて、パワーオン時にもパワーオフ時リーク電流抑制用トランジスタ21がオン状態になれない。このような場合、0ボルトという低い閾値電圧を持つネイティブデプレッション型MOS−FETが用いられることが望ましい。   In the present embodiment, the leakage current flowing from the input terminal 11 to the bias supply circuit 30 is suppressed, which greatly contributes to battery power saving particularly in mobile devices. However, in general, the voltage in the mobile device is low, and in some cases, it may be about 1.2 volts. In this case, the threshold voltage is too high in a normal MOS-FET, and the leakage current suppressing transistor 21 during power-off cannot be turned on even when the power is turned on. In such a case, it is desirable to use a native depletion type MOS-FET having a threshold voltage as low as 0 volts.

(第2の実施形態)
図7は、第1の実施形態の応用として、図3においてインバータ回路40の変わりにシュミットトリガインバータ回路50を用いた場合の回路図である。
本実施形態例におけるシュミットトリガインバータ回路50は、3つの部分回路に分けて考えることが出来る。まず第1の部分回路として、左側に直列に接続された3つのN型MOS−FET51、51’、53と3つのP型MOS−FET52、52’、54とは、図3におけるCMOSインバータ回路40と同じ構成である。次に第2の部分回路として、N型MOS−FET55とP型MOS−FET56とで構成されるCMOSインバータ回路が、第1の部分回路の出力を受ける。第2の部分回路の出力は出力端子12に向かう一方で、第3の部分回路にも入力される。第3の部分回路は、N型MOS−FET55とP型MOS−FET56とで構成されている。N型MOS−FET55の出力は第1の部分回路の2つのN型MOS−FET51、51’に接続されている。同様に、P型MOS−FET56の出力は第1の部分回路の2つのN型MOS−FET52、52’に接続されている。
シュミットトリガインバータ回路は、そのヒステリシス特性により、オフ状態からオン状態に遷移する際と、オン状態からオフ状態に遷移する際とでは、それぞれの閾値電圧が異なる。したがって、入力端子11に入力される信号に多少のノイズが乗っていても、そのノイズの影響でオン状態とオフ状態とが不要な場面で切り替わってしまうことが防がれる。
(Second Embodiment)
FIG. 7 is a circuit diagram in the case where a Schmitt trigger inverter circuit 50 is used in place of the inverter circuit 40 in FIG. 3 as an application of the first embodiment.
The Schmitt trigger inverter circuit 50 in the present embodiment can be divided into three partial circuits. First, as a first partial circuit, three N-type MOS-FETs 51, 51 ′, 53 and three P-type MOS-FETs 52, 52 ′, 54 connected in series on the left side are the CMOS inverter circuit 40 in FIG. It is the same composition as. Next, a CMOS inverter circuit composed of an N-type MOS-FET 55 and a P-type MOS-FET 56 receives the output of the first partial circuit as a second partial circuit. While the output of the second partial circuit is directed to the output terminal 12, it is also input to the third partial circuit. The third partial circuit is composed of an N-type MOS-FET 55 and a P-type MOS-FET 56. The output of the N-type MOS-FET 55 is connected to the two N-type MOS-FETs 51 and 51 ′ of the first partial circuit. Similarly, the output of the P-type MOS-FET 56 is connected to the two N-type MOS-FETs 52 and 52 ′ of the first partial circuit.
Due to its hysteresis characteristics, the Schmitt trigger inverter circuit has different threshold voltages when transitioning from the off state to the on state and when transitioning from the on state to the off state. Therefore, even if some noise is added to the signal input to the input terminal 11, it is possible to prevent the ON state and the OFF state from being switched in an unnecessary scene due to the noise.

図1は、従来のインバータアンプの回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a conventional inverter amplifier. 図2は、従来のインバータアンプにおけるリーク電流を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing a leakage current in a conventional inverter amplifier. 図3は、従来のインバータアンプで、図1とはMOS−FETの数が異なる場合の回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram of a conventional inverter amplifier when the number of MOS-FETs is different from that in FIG. 図4は、本発明のインバータアンプの回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of the inverter amplifier of the present invention. 図5は、本発明のインバータアンプで、図4とはパワーオフ時リーク電流抑制用トランジスタの位置が異なる場合の回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of the inverter amplifier according to the present invention when the position of the power-off leakage current suppressing transistor is different from that in FIG. 図6は、本発明のインバータアンプで、図4とはMOS−FETの数が異なる場合の回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram in the case where the number of MOS-FETs is different from FIG. 4 in the inverter amplifier of the present invention. 図7は、本発明のインバータアンプで、図4のインバータ回路の代わりにシュミットトリガ回路が用いられた場合の回路図である。7 is a circuit diagram in the case where a Schmitt trigger circuit is used instead of the inverter circuit of FIG. 4 in the inverter amplifier of the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

11 入力端子
12 出力端子
13 電源
14 グラウンド
15 制御信号(ロー)
16 制御信号(ハイ)
21 パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタ
30 バイアス供給回路
31 N型MOS−FET
31’ N型MOS−FET
32 P型MOS−FET
32’ P型MOS−FET
33 パワーダウン用N型MOS−FET
34 パワーダウン用P型MOS−FET
40 インバータ回路
41 N型MOS−FET
41’ N型MOS−FET
42 P型MOS−FET
42’ P型MOS−FET
43 パワーダウン用N型MOS−FET
44 パワーダウン用P型MOS−FET
50 シュミットトリガインバータ回路
51 N型MOS−FET
51’ N型MOS−FET
52 P型MOS−FET
52’ P型MOS−FET
53 パワーダウン用N型MOS−FET
54 パワーダウン用P型MOS−FET
55 N型MOS−FET
56 P型MOS−FET
57 N型MOS−FET
58 P型MOS−FET
11 Input terminal 12 Output terminal 13 Power supply 14 Ground 15 Control signal (low)
16 Control signal (high)
21 Transistor for suppressing leakage current at power-down 30 Bias supply circuit 31 N-type MOS-FET
31 'N-type MOS-FET
32 P-type MOS-FET
32 'P-type MOS-FET
33 Power-down N-type MOS-FET
34 P-type MOS-FET for power down
40 Inverter circuit 41 N-type MOS-FET
41 'N-type MOS-FET
42 P-type MOS-FET
42 'P-type MOS-FET
43 N-type MOS-FET for power down
44 P-type MOS-FET for power down
50 Schmitt trigger inverter circuit 51 N-type MOS-FET
51 'N-type MOS-FET
52 P-type MOS-FET
52 'P-type MOS-FET
53 N-type MOS-FET for power down
54 P-type MOS-FET for power down
55 N-type MOS-FET
56 P-type MOS-FET
57 N-type MOS-FET
58 P-type MOS-FET

Claims (8)

入力端子と、
パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタと、
バイアス供給回路と、
インバータ回路と、
電源部と、
出力端子と
を具備し、
前記バイアス供給回路と、前記入力端子と、前記インバータ回路と、前記出力端子とはこの順番に直列に接続されており、
前記入力端子と前記バイアス供給回路とは前記パワーダウン用スイッチトランジスタを介して接続されており、
前記電源部は、前記バイアス供給回路と、前記インバータ回路と、パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタとに接続されており、
前記電源部が電力を供給しないパワーダウン時には、前記入力端子と前記バイアス供給回路とを接続する経路を流れるリーク電流を、前記パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタが抑制する
インバータアンプ。
An input terminal;
A transistor for suppressing leakage current during power-down,
A bias supply circuit;
An inverter circuit;
A power supply,
An output terminal,
The bias supply circuit, the input terminal, the inverter circuit, and the output terminal are connected in series in this order,
The input terminal and the bias supply circuit are connected via the power-down switch transistor,
The power supply unit is connected to the bias supply circuit, the inverter circuit, and a transistor for suppressing leakage current during power-down,
An inverter amplifier that suppresses a leakage current flowing through a path connecting the input terminal and the bias supply circuit when the power is not supplied by the power source by the transistor for suppressing a leakage current during the power down.
請求項1記載のインバータアンプにおいて、
前記パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタは、
N型MOS−FETであり、
前記N型MOS−FETのゲートは、前記電源部に接続されており、
前記N型MOS−FETは、前記電源部から前記バイアス供給回路および前記インバータ回路への電力供給に連動して、入力端子とバイアス供給回路とを導通し、
前記N型MOS−FETは、前記電源部から前記バイアス供給回路および前記インバータ回路への電源切断に連動して、入力端子とバイアス供給回路とを絶縁する
インバータアンプ。
The inverter amplifier according to claim 1,
The transistor for suppressing leakage current during power down is
N-type MOS-FET,
The gate of the N-type MOS-FET is connected to the power supply unit,
The N-type MOS-FET is electrically connected to the input terminal and the bias supply circuit in conjunction with power supply from the power supply unit to the bias supply circuit and the inverter circuit.
The N-type MOS-FET is an inverter amplifier that insulates the input terminal from the bias supply circuit in conjunction with power-off from the power supply unit to the bias supply circuit and the inverter circuit.
請求項1または2に記載のインバータアンプにおいて、
前記パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタは、
閾値電圧が0ボルトのネイティブデプレッションN型MOS−FETである
インバータアンプ。
In the inverter amplifier according to claim 1 or 2,
The transistor for suppressing leakage current during power down is
An inverter amplifier which is a native depletion N-type MOS-FET having a threshold voltage of 0 volts.
請求項1乃至3のいずれかに記載のインバータアンプにおいて、
前記バイアス供給回路と、前記インバータ回路とはそれぞれ、閾値電圧が等しいCMOSインバータを具備する
インバータアンプ。
In the inverter amplifier according to any one of claims 1 to 3,
The bias supply circuit and the inverter circuit are inverter amplifiers each including a CMOS inverter having the same threshold voltage.
入力端子と、
パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタと、
バイアス供給回路と、
シュミットトリガ回路と、
電源部と、
出力端子と
を具備し、
前記バイアス供給回路と、前記入力端子と、前記シュミットトリガ回路と、前記出力端子とはこの順番に直列に接続されており、
前記入力端子と前記バイアス供給回路とは前記パワーダウン用スイッチトランジスタを介して接続されており、
前記電源部は、前記バイアス供給回路と、前記シュミットトリガ回路と、パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタとに接続されており、
前記電源部が電力を供給しないパワーダウン時には、前記入力端子と前記バイアス供給回路とを接続する経路を流れるリーク電流を、前記パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタが抑制する
インバータアンプ。
An input terminal;
A transistor for suppressing leakage current during power-down,
A bias supply circuit;
A Schmitt trigger circuit;
A power supply,
An output terminal,
The bias supply circuit, the input terminal, the Schmitt trigger circuit, and the output terminal are connected in series in this order,
The input terminal and the bias supply circuit are connected via the power-down switch transistor,
The power supply unit is connected to the bias supply circuit, the Schmitt trigger circuit, and a leakage current suppression transistor during power down,
An inverter amplifier that suppresses a leakage current flowing through a path connecting the input terminal and the bias supply circuit when the power is not supplied by the power source by the transistor for suppressing a leakage current during the power down.
請求項5記載のインバータアンプにおいて、
前記パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタは、
N型MOS−FETであり、
前記N型MOS−FETのゲートは、前記電源部に接続されており、
前記N型MOS−FETは、前記電源部から前記バイアス供給回路および前記インバータ回路への電力供給に連動して、入力端子とバイアス供給回路とを導通し、
前記N型MOS−FETは、前記電源部から前記バイアス供給回路および前記シュミットトリガ回路への電源切断に連動して、入力端子とバイアス供給回路とを絶縁する
インバータアンプ。
In the inverter amplifier according to claim 5,
The transistor for suppressing leakage current during power down is
N-type MOS-FET,
The gate of the N-type MOS-FET is connected to the power supply unit,
The N-type MOS-FET is electrically connected to the input terminal and the bias supply circuit in conjunction with power supply from the power supply unit to the bias supply circuit and the inverter circuit.
The N-type MOS-FET is an inverter amplifier that insulates the input terminal from the bias supply circuit in conjunction with power-off from the power supply unit to the bias supply circuit and the Schmitt trigger circuit.
請求項5または6に記載のインバータアンプにおいて、
前記パワーダウン時リーク電流抑制用トランジスタは、
閾値電圧が0ボルトのネイティブデプレッションN型MOS−FETである
インバータアンプ。
In the inverter amplifier according to claim 5 or 6,
The transistor for suppressing leakage current during power down is
An inverter amplifier which is a native depletion N-type MOS-FET having a threshold voltage of 0 volts.
請求項5乃至7のいずれかに記載のインバータアンプにおいて、
前記バイアス供給回路と、前記シュミットトリガ回路とはそれぞれ、閾値電圧が等しいCMOSインバータを具備する
インバータアンプ。
In the inverter amplifier according to any one of claims 5 to 7,
The bias supply circuit and the Schmitt trigger circuit are inverter amplifiers each including a CMOS inverter having the same threshold voltage.
JP2006316550A 2006-11-24 2006-11-24 Inverter amplifier Withdrawn JP2008131528A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006316550A JP2008131528A (en) 2006-11-24 2006-11-24 Inverter amplifier

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006316550A JP2008131528A (en) 2006-11-24 2006-11-24 Inverter amplifier

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008131528A true JP2008131528A (en) 2008-06-05

Family

ID=39556907

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006316550A Withdrawn JP2008131528A (en) 2006-11-24 2006-11-24 Inverter amplifier

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008131528A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017005658A (en) * 2015-06-16 2017-01-05 株式会社デンソー Low leakage potential selection circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017005658A (en) * 2015-06-16 2017-01-05 株式会社デンソー Low leakage potential selection circuit

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5522818B2 (en) Amplifier circuit
US20060071686A1 (en) Level shifter without dc current flow
JP5685115B2 (en) Power supply switching circuit
JP2009152680A5 (en)
US9722596B2 (en) Electronic switch, and corresponding device and method
CN211319017U (en) Electronic circuit
TWI693774B (en) Power switch circuit
JP6176826B2 (en) Fully complementary self-biased differential receiver with starter circuit
JP2011048601A (en) Reference current and voltage generation circuit
JP6962851B2 (en) Power supply circuit
US20070080743A1 (en) Current bias circuit and current bias start-up circuit thereof
TW200707907A (en) Power-on control circuit
US6859089B2 (en) Power switching circuit with controlled reverse leakage
US20110156673A1 (en) Internal power generating circuit and semiconductor device including the same
JP2007019948A (en) Semiconductor integrated circuit provided with muting circuit
US9755638B2 (en) Output discharge techniques for load switches
JP2012039693A (en) Power supply switching circuit
JP2008131528A (en) Inverter amplifier
JP2003114727A (en) Electric power source circuit
JP6452981B2 (en) Transmission drive circuit and semiconductor integrated circuit device
WO2019091375A1 (en) Circuit having analog/digital conversion function and electronic device
JP2010021818A (en) Multifunctional driver circuit
JP2008017566A (en) Power generating circuit
US7304526B2 (en) Switching circuit for handling signal voltages greater than the supply voltage
JP2008053976A (en) Semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20100202