JP2008116821A - Display panel - Google Patents

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Arichika Ishida
有親 石田
友信 ▲もたい▼
Tomonobu Motai
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Japan Display Central Inc
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Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To easily identify a failure part of a drive circuit in a display panel of integrated drive circuit type. <P>SOLUTION: In the display panel of integrated drive circuit type in which a data processing circuit 4, a clock generation circuit 5, and so forth are also integrated on a glass substrate, an inspection pixel 7 is connected to each of circuit blocks 51, 52, 53, 54 of an input signal 6, the data processing circuit 4, and the clock generation circuit 5. Because the inspection pixel 7 is thereby driven according to the operation status of a signal of each circuit block, it is checked through the inspection pixel 7 whether or not the signal of each circuit block is normal. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、駆動回路一体型の表示パネルに関する。   The present invention relates to a display panel integrated with a drive circuit.

従来、多結晶シリコンを用いた表示パネルのガラス基板には、簡単なシフトレジスタから構成されたドライバ回路などが集積されていた。簡単なシフトレジスタのみからなる駆動回路が集積された表示パネルにおいては、画素の不良である点欠点、配線の不良である線欠点がほとんどであった。点欠点、線欠点の場合、表示画像の顕微鏡観察のみで欠陥発生部位が特定できるため、不良解析は比較的容易である。なお、液晶装置のドライバー回路の欠陥を効率的に発見する技術として特許文献1に記載のものが知られている。   Conventionally, a driver circuit composed of a simple shift register has been integrated on a glass substrate of a display panel using polycrystalline silicon. In a display panel in which a drive circuit composed of only a simple shift register is integrated, most of the defects are pixel defects and wiring defects. In the case of a point defect or a line defect, since the defect occurrence site can be specified only by observing the display image with a microscope, defect analysis is relatively easy. A technique described in Patent Document 1 is known as a technique for efficiently finding a defect in a driver circuit of a liquid crystal device.

近年、外付けされたICに内蔵されていたインターフェース回路やタイミング発生回路などもガラス基板上に集積化した駆動回路一体型の表示パネルが開発されている(例えば、特許文献2参照)。   In recent years, a display panel integrated with a driving circuit in which an interface circuit and a timing generation circuit incorporated in an externally attached IC are integrated on a glass substrate has been developed (for example, see Patent Document 2).

図8は、従来の駆動回路一体型の表示パネルの構成を示すブロック図である。同図に示す表示パネルは、マトリックス状に配置された信号線と走査線との交点に薄膜トランジスタを備え、薄膜トランジスタを導通することにより液晶に電界を印加して画像を表示する画素部1と、信号線に映像信号を供給する信号線駆動回路2と、走査線を駆動する走査線駆動回路3と、データ処理回路4と、クロック生成回路5とを備えており、画素部1および各種回路をガラス基板上に集積化した駆動回路一体型の表示パネルである。以下、従来の駆動回路一体型の表示パネルの動作について説明する。   FIG. 8 is a block diagram showing the configuration of a conventional display panel integrated with a drive circuit. The display panel shown in the figure includes a thin film transistor at an intersection of a signal line and a scanning line arranged in a matrix, a pixel portion 1 that displays an image by applying an electric field to liquid crystal by conducting the thin film transistor, and a signal A signal line driving circuit 2 for supplying video signals to the lines, a scanning line driving circuit 3 for driving the scanning lines, a data processing circuit 4 and a clock generation circuit 5, and the pixel unit 1 and various circuits are made of glass. It is a display panel integrated with a drive circuit integrated on a substrate. Hereinafter, the operation of the conventional drive circuit integrated display panel will be described.

入力信号6がデータ処理回路4及びクロック生成回路5に入力される。データ処理回路4において、入力されたRGBデータをラッチし、シリアルパラレル変換して、映像信号として信号線駆動回路2へ出力する。クロック生成回路5において、各種のタイミング信号を生成し、信号線駆動回路2、走査線駆動回路3などに出力する。   An input signal 6 is input to the data processing circuit 4 and the clock generation circuit 5. In the data processing circuit 4, the input RGB data is latched, serial-parallel converted, and output to the signal line driving circuit 2 as a video signal. The clock generation circuit 5 generates various timing signals and outputs them to the signal line driving circuit 2, the scanning line driving circuit 3, and the like.

信号線駆動回路2に入力された映像信号は、クロック生成回路5から入力されるクロック信号に基づいて、シフトレジスタ21により生成されるタイミング信号により、サンプリングラッチ回路22にラッチされる。ロードラッチ回路23により、サンプリングラッチ回路22で順次ラッチされた映像信号を同タイミングでラッチし、選択スイッチ24により映像信号を選択する。選択された映像信号は、デジタルアナログ変換回路25によりアナログ信号に変換され、液晶を駆動するための電圧にまで増幅されて画素部1に出力される。   The video signal input to the signal line driving circuit 2 is latched by the sampling latch circuit 22 by the timing signal generated by the shift register 21 based on the clock signal input from the clock generation circuit 5. The video signal sequentially latched by the sampling latch circuit 22 is latched at the same timing by the load latch circuit 23, and the video signal is selected by the selection switch 24. The selected video signal is converted into an analog signal by the digital-analog conversion circuit 25, amplified to a voltage for driving the liquid crystal, and output to the pixel unit 1.

走査線駆動回路3においては、クロック生成回路5において生成されたクロック信号をシフトレジスタ31に入力し、走査線を選択する走査線信号をコントロールする。走査線信号は、レベルシフタ32で電圧を変換され、ゲートバッファ33を介して走査線に印加される。   In the scanning line driving circuit 3, the clock signal generated in the clock generation circuit 5 is input to the shift register 31, and the scanning line signal for selecting the scanning line is controlled. The scanning line signal is converted in voltage by the level shifter 32 and applied to the scanning line via the gate buffer 33.

画素部1において、走査線に走査線信号が与えられると、信号線に印加された映像信号が画素電極に書き込まれ、液晶に電界が印加される。
特開2001−318113号公報 特開2002−174823号公報
In the pixel portion 1, when a scanning line signal is given to the scanning line, the video signal applied to the signal line is written to the pixel electrode, and an electric field is applied to the liquid crystal.
JP 2001-318113 A JP 2002-174823 A

このような駆動回路一体型の表示パネルにおいては、クロック生成回路5やデータ処理回路4などで不良が発生した場合、表示が全く出なかったり、表示が出ても乱れた画像であるため、表示から不良発生部位を特定することはできない。   In such a display panel integrated with a driving circuit, when a defect occurs in the clock generation circuit 5 or the data processing circuit 4, the display is not displayed at all, or even if the display is displayed, the image is distorted. Therefore, it is impossible to specify the defect occurrence site.

このようなガラス基板に集積された回路の不良を特定するためには、クロック生成回路5やデータ処理回路4の回路ブロック毎に正常に信号が出力されているかを調査する必要がある。回路ブロックの出力信号を調査するためには、回路中に検査パッドを設けてプロービングすることで実現されるが、完成した表示パネルからプロービングを行うためには、分解する必要があり非常に困難である。   In order to specify such a defect in the circuit integrated on the glass substrate, it is necessary to investigate whether a signal is normally output for each circuit block of the clock generation circuit 5 and the data processing circuit 4. In order to investigate the output signal of the circuit block, it is realized by providing a test pad in the circuit and probing, but in order to perform probing from the completed display panel, it is necessary to disassemble it and it is very difficult. is there.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その課題とするところは、表示パネルを分解することなく不良発生部位を特定できる駆動回路一体型の表示パネルを提供することにある。   The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a display panel integrated with a drive circuit that can identify a defective portion without disassembling the display panel.

本発明に係る表示パネルは、複数の画素を備えた表示領域と表示領域を駆動するための駆動回路とが同一の基板上に形成された駆動回路一体型の表示パネルであって、駆動回路内の回路ブロックに接続された検査用画素を有することを特徴とする。   A display panel according to the present invention is a display panel integrated with a drive circuit in which a display region having a plurality of pixels and a drive circuit for driving the display region are formed on the same substrate. It has the pixel for a test | inspection connected to this circuit block.

本発明にあっては、駆動回路内の回路ブロックに検査用画素を接続することで、回路ブロックの信号の動作状況を検査用画素を介して目で確認することができるので、表示パネルを分解することなく不良発生部位を特定することができる。   In the present invention, the operation state of the signal of the circuit block can be visually confirmed through the inspection pixel by connecting the inspection pixel to the circuit block in the drive circuit. It is possible to specify the defect occurrence site without doing so.

上記表示パネルにおいて、回路ブロックと検査用画素とが分周回路を介して接続されていることが、検査用画素を駆動する上で望ましい。   In the display panel, it is desirable that the circuit block and the inspection pixel are connected to each other through a frequency dividing circuit in order to drive the inspection pixel.

上記表示パネルにおいて、検査用画素は、表示領域の外周に配置されていることを特徴とする。   In the display panel, the inspection pixels are arranged on the outer periphery of the display area.

検査用画素を表示領域の外周に配置することで、表示領域の画素を検査用画素として用いる必要がなくなるので、表示領域に影響を与えることがない。   By disposing the inspection pixels on the outer periphery of the display area, it is not necessary to use the pixels in the display area as inspection pixels, so that the display area is not affected.

上記表示パネルにおいて、表示領域を覆うように偏光板が配置されているものであって、検査用画素は当該偏光板に覆われていることを特徴とする。   In the display panel, a polarizing plate is disposed so as to cover the display region, and the inspection pixel is covered with the polarizing plate.

検査用画素を偏光板で覆うことにより、検査用の偏光板や偏光顕微鏡を用いなくても検査用画素の表示を確認することができる。   By covering the inspection pixel with the polarizing plate, the display of the inspection pixel can be confirmed without using the inspection polarizing plate or the polarizing microscope.

本発明によれば、表示パネルを分解することなく不良発生部位を特定できる駆動回路一体型の表示パネルを提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a display panel integrated with a drive circuit capable of specifying a defective portion without disassembling the display panel.

以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、本実施の形態における表示パネルの構成を示すブロック図である。同図に示す表示パネルは、図8に示した従来の表示パネルに対して、入力信号6、データ処理回路4およびクロック生成回路5の回路ブロック51,52,53,54のそれぞれに検査用画素7a,7b,7c,7d,7e,7fを接続したものであり、データ処理回路4、クロック生成回路5などもガラス基板上に集積化した駆動回路一体型の表示パネルである。検査用画素7a,7b,7c,7d,7e,7fは、バッファ71a,71b,71c,71d,71e,71fおよび分周回路72a,72b,72c,72d,72e,72fを介してガラス基板上に集積化された回路に接続されている。   FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a display panel in this embodiment. The display panel shown in the figure is different from the conventional display panel shown in FIG. 7a, 7b, 7c, 7d, 7e, 7f are connected to each other, and the data processing circuit 4, the clock generation circuit 5, and the like are integrated on a glass substrate and are a display panel integrated with a driving circuit. The inspection pixels 7a, 7b, 7c, 7d, 7e, 7f are formed on the glass substrate via the buffers 71a, 71b, 71c, 71d, 71e, 71f and the frequency dividing circuits 72a, 72b, 72c, 72d, 72e, 72f. Connected to an integrated circuit.

図2の回路図に示すように、検査用画素7に入力する信号は、検査する回路ブロックのサンプリング信号とYCK(Yドライバのクロックパルス)との論理和を取り合成する。図3の波形図に示すように、サンプリング信号とYCKとを合成することにより、検査用画素7を駆動するための交流波形を作る。   As shown in the circuit diagram of FIG. 2, a signal input to the inspection pixel 7 is synthesized by taking the logical sum of the sampling signal of the circuit block to be inspected and YCK (Y driver clock pulse). As shown in the waveform diagram of FIG. 3, the alternating current waveform for driving the inspection pixel 7 is created by synthesizing the sampling signal and YCK.

このように、各回路ブロックの信号をサンプリングし、検査用画素7を駆動することにより、各回路ブロックの信号の動作状況を検査用画素7の表示により確認することができる。各回路ブロックの信号が正常な場合は明るいグレイで表示される。検査用画素7の表示が黒または白の場合は、その回路ブロックの信号は異常であると判断することができる。   Thus, by sampling the signal of each circuit block and driving the inspection pixel 7, the operation state of the signal of each circuit block can be confirmed by the display of the inspection pixel 7. When the signal of each circuit block is normal, it is displayed in light gray. When the display of the inspection pixel 7 is black or white, it can be determined that the signal of the circuit block is abnormal.

各回路ブロックの信号は数MHzと周波数が高いので、検査用画素7を駆動することができる周波数(十数kHz程度)にまで周波数を低くする必要があることから、回路ブロックと検査用画素7とは分周回路72を介して接続されている。例えば、図4の回路図に示すような、インバータやクロックドインバータなどで構成された2分周回路を、図5のブロック図に示すように、直列に接続することで、所望の分周回路を得ることができる。以下、検査用画素7の配置について説明する。   Since the signal of each circuit block has a high frequency of several MHz, it is necessary to reduce the frequency to a frequency that can drive the inspection pixel 7 (about a few dozen kHz). Therefore, the circuit block and the inspection pixel 7 Are connected via a frequency divider circuit 72. For example, as shown in the circuit diagram of FIG. 4, a divide-by-2 circuit composed of an inverter or a clocked inverter is connected in series as shown in the block diagram of FIG. Can be obtained. Hereinafter, the arrangement of the inspection pixels 7 will be described.

図6は、本実施の形態における表示パネルの平面図である。同図に示すように、画素部1は偏光板11に覆われており、偏光板11により、液晶の配向の変化が可視化される。検査用画素7は、画素部1の周辺部で偏光板11に覆われてる部分に配置するか、あるいは、検査用画素7を偏光板11に覆われていない部分に配置する。検査用画素7を偏光板11に覆われていない部分に配置した場合には、偏光板、偏光顕微鏡などにより検査用画素7の表示を確認する。   FIG. 6 is a plan view of the display panel in the present embodiment. As shown in the figure, the pixel portion 1 is covered with a polarizing plate 11, and the change in the alignment of the liquid crystal is visualized by the polarizing plate 11. The inspection pixel 7 is disposed in a portion covered with the polarizing plate 11 in the peripheral portion of the pixel portion 1, or the inspection pixel 7 is disposed in a portion not covered with the polarizing plate 11. When the inspection pixel 7 is arranged in a portion not covered with the polarizing plate 11, the display of the inspection pixel 7 is confirmed by a polarizing plate, a polarizing microscope, or the like.

図7は、検査用画素7の配置を示す表示パネルの断面図である。同図に示すように、表示パネルは、2枚のガラス基板81a,81bに液晶層80を挟み、シール材85で張り合わせた構成をしている。ガラス基板81aには、画素部1および各種駆動回路が形成され、絶縁膜82、画素電極83aが形成されている。また、検査用画素7の画素電極83cは、表示領域を形成している画素電極83aの外側に配置されている。ガラス基板81bは、トランスファ部86を介してガラス基板81aと電気的に接続され、ガラス基板81bには、対向電極83bが形成されている。画素電極83a,83cと対向電極83bとの間に電界を生じさせることで液晶層80の液晶分子を制御し、画像を表示する。ガラス基板81aに形成された画素電極83a,83c、ガラス基板81bに形成された対向電極83bの上には、配向膜84a,84bが配置されている。この配向膜84a,84bにより液晶層80の液晶分子の並び方が揃えられる。   FIG. 7 is a cross-sectional view of the display panel showing the arrangement of the inspection pixels 7. As shown in the figure, the display panel has a configuration in which a liquid crystal layer 80 is sandwiched between two glass substrates 81 a and 81 b and bonded together with a sealing material 85. On the glass substrate 81a, the pixel portion 1 and various drive circuits are formed, and an insulating film 82 and a pixel electrode 83a are formed. In addition, the pixel electrode 83c of the inspection pixel 7 is disposed outside the pixel electrode 83a forming the display region. The glass substrate 81b is electrically connected to the glass substrate 81a via the transfer portion 86, and a counter electrode 83b is formed on the glass substrate 81b. By generating an electric field between the pixel electrodes 83a and 83c and the counter electrode 83b, the liquid crystal molecules of the liquid crystal layer 80 are controlled to display an image. Alignment films 84a and 84b are disposed on the pixel electrodes 83a and 83c formed on the glass substrate 81a and the counter electrode 83b formed on the glass substrate 81b. The alignment films 84a and 84b align the liquid crystal molecules in the liquid crystal layer 80.

したがって、本実施の形態によれば、データ処理回路4、クロック生成回路5などもガラス基板上に集積化した駆動回路一体型の表示パネルにおいて、入力信号6、データ処理回路4およびクロック生成回路5の回路ブロック51,52,53,54のそれぞれに検査用画素7を接続することにより、検査用画素7は、各回路ブロックの信号の動作状況により駆動されるので、各回路ブロックの信号が正常であるか否かについて、検査用画素7の表示により確認することができる。   Therefore, according to the present embodiment, the input signal 6, the data processing circuit 4, and the clock generation circuit 5 in the display panel integrated with the drive circuit in which the data processing circuit 4, the clock generation circuit 5 and the like are also integrated on the glass substrate. By connecting the inspection pixel 7 to each of the circuit blocks 51, 52, 53, and 54, the inspection pixel 7 is driven according to the operation state of the signal of each circuit block, so that the signal of each circuit block is normal. It can be confirmed by the display of the inspection pixel 7 whether or not.

本実施の形態によれば、検査用画素7に分周回路72を接続することにより、検査用画素7に入力される信号の周波数を低くすることができるので、高い周波数を有する信号でも検査用画素7により確認することができる。   According to the present embodiment, since the frequency of the signal input to the inspection pixel 7 can be lowered by connecting the frequency dividing circuit 72 to the inspection pixel 7, even a signal having a high frequency can be used for the inspection. This can be confirmed by the pixel 7.

本実施の形態によれば、検査用画素7を画素部1の周辺部に配置することにより、画素部1に形成された画素を用いる必要がなくなるので、表示領域に影響を与えることがない。   According to the present embodiment, by disposing the inspection pixels 7 in the peripheral portion of the pixel portion 1, it is not necessary to use the pixels formed in the pixel portion 1, so that the display area is not affected.

一実施の形態における表示パネルの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the display panel in one embodiment. 上記表示パネルの検査用画素に入力される信号を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the signal input into the test | inspection pixel of the said display panel. 図2に示す回路に入力される信号と、合成される信号を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows the signal input into the circuit shown in FIG. 2, and the signal combined. 上記表示パネルの検査用画素に接続される2分周回路を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the 2 frequency divider circuit connected to the pixel for a test | inspection of the said display panel. 図4の2分周回路を直列に配置した様子を示すブロック図である。It is a block diagram which shows a mode that the 2 frequency dividing circuit of FIG. 4 was arrange | positioned in series. 上記表示パネルの画素部と検査用画素の配置を示す平面図である。It is a top view which shows arrangement | positioning of the pixel part and inspection pixel of the said display panel. 上記表示パネルの画素部と検査用画素の配置を示す断面図である。It is sectional drawing which shows arrangement | positioning of the pixel part and inspection pixel of the said display panel. 従来の表示パネルの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the conventional display panel.

符号の説明Explanation of symbols

1…画素部
2…信号線駆動回路
3…走査線駆動回路
4…データ処理回路
5…クロック生成回路
6…入力信号
7,7a,7b,7c,7d,7e,7f…検査用画素
11…偏光板
21…シフトレジスタ
22…サンプリングラッチ回路
23…ロードラッチ回路
24…選択スイッチ
25…デジタルアナログ変換回路
31…シフトレジスタ
32…レベルシフタ
33…ゲートバッファ
51,52,53,54…回路ブロック
71a,71b,71c,71d,71e,71f…バッファ
71,72a,72b,72c,72d,72e,72f…分周回路
80…液晶層
81a,81b…ガラス基板
82…絶縁膜
83a,83c…画素電極
83b…対向電極
84a,84b…配向膜
85…シール材
86…トランスファ部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Pixel part 2 ... Signal line drive circuit 3 ... Scan line drive circuit 4 ... Data processing circuit 5 ... Clock generation circuit 6 ... Input signal 7, 7a, 7b, 7c, 7d, 7e, 7f ... Inspection pixel 11 ... Polarization Plate 21 ... Shift register 22 ... Sampling latch circuit 23 ... Load latch circuit 24 ... Select switch 25 ... Digital-analog conversion circuit 31 ... Shift register 32 ... Level shifter 33 ... Gate buffer 51, 52, 53, 54 ... Circuit blocks 71a, 71b, 71c, 71d, 71e, 71f... Buffer 71, 72a, 72b, 72c, 72d, 72e, 72f... Dividing circuit 80... Liquid crystal layer 81a, 81b ... Glass substrate 82 ... Insulating film 83a, 83c ... Pixel electrode 83b ... Counter electrode 84a, 84b ... Alignment film 85 ... Sealing material 86 ... Transfer part

Claims (4)

複数の画素を備えた表示領域と前記表示領域を駆動するための駆動回路とが同一の基板上に形成された駆動回路一体型の表示パネルであって、
前記駆動回路内の回路ブロックに接続された検査用画素を有することを特徴とする表示パネル。
A display panel including a plurality of pixels and a drive circuit for driving the display area are formed on the same substrate, and is a display panel integrated with a drive circuit,
A display panel comprising inspection pixels connected to a circuit block in the driving circuit.
前記回路ブロックと前記検査用画素とが分周回路を介して接続されていることを特徴とする請求項1記載の表示パネル。   The display panel according to claim 1, wherein the circuit block and the inspection pixel are connected via a frequency divider circuit. 前記検査用画素は、前記表示領域の外周に配置されていることを特徴とする請求項1又は2記載の表示パネル。   The display panel according to claim 1, wherein the inspection pixels are arranged on an outer periphery of the display area. 前記表示領域を覆うように偏光板が配置されているものであって、前記検査用画素は当該偏光板に覆われていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の表示パネル。   4. A display panel according to claim 1, wherein a polarizing plate is disposed so as to cover the display area, and the inspection pixel is covered with the polarizing plate. .
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