JP2008016076A - Information processing device, photodetecting device, and optical pickup device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光学的に情報の記録再生を行う情報処理装置、光ピックアップ装置およびそれらに用いられる光検出装置の構成に関する。 The present invention relates to an information processing device that optically records and reproduces information, an optical pickup device, and a configuration of a light detection device used for them.
近年、光学的に情報の記録再生を行う情報処理装置、例えば、コンパクトディスク(以下、「CD」と略称する。)、Mini−Disk(以下、「MD」と略称する。)、Digital Versatile Disc(以下、「DVD」と略称する。)、Blu−ray Disc(以下、[BD]と略称する。)などの記録媒体に映像や画像、音声などの各種情報(データ)を記録再生する装置が広く普及している。これらの装置においては、情報の記録再生には光源として一般に半導体レーザを用い、半導体レーザを発光させて得た光をレンズによって記録媒体上に集光し、レーザの光出力を高めて記録媒体上の集光スポットの光強度を高めることにより記録媒体の物性を変化させて記録媒体上に情報であるマークやピットや磁気情報を記録する。再生時にはそれよりも低い光出力を照射し記録媒体の物性(反射率や磁性)の違いを検出することにより情報を再生する。このような装置では光源を低出力から高出力まで発光させる必要があるとともに、情報の記録を安定に行うための記録媒体上の集光スポットの最適な光強度は、記録媒体の走査速度や、記録媒体の種類や固体毎に異なるため、記録時には常に最適な記録条件となるように光源の光出力を制御する必要がある。 In recent years, information processing apparatuses that optically record and reproduce information, such as compact discs (hereinafter abbreviated as “CD”), Mini-Disk (hereinafter abbreviated as “MD”), Digital Versatile Disc (hereinafter abbreviated as “MD”). Hereinafter, a wide range of apparatuses for recording and reproducing various information (data) such as video, images, and audio on recording media such as “DVD”) and Blu-ray Disc (hereinafter abbreviated as “BD”). It is popular. In these apparatuses, a semiconductor laser is generally used as a light source for recording / reproducing information, and light obtained by emitting the semiconductor laser is condensed on a recording medium by a lens, and the optical output of the laser is increased on the recording medium. By increasing the light intensity of the light condensing spot, the physical properties of the recording medium are changed to record information such as marks, pits and magnetic information on the recording medium. During reproduction, information is reproduced by irradiating a light output lower than that and detecting a difference in physical properties (reflectance and magnetism) of the recording medium. In such an apparatus, the light source needs to emit light from low output to high output, and the optimum light intensity of the focused spot on the recording medium for stably recording information is determined by the scanning speed of the recording medium, Since the recording medium differs depending on the type and the solid, it is necessary to control the light output of the light source so that the optimum recording condition is always obtained during recording.
また、近年は情報の高速記録に対するにニーズが高まっており、そのニーズに対応するには高速記録を行うのに必要な高い光強度を記録媒体上に照射する必要がある。これは同じ種類の記録媒体に高速記録を行うためには一般に記録媒体の走査速度を上げる手法が用いられるためであるが、走査速度を上げた場合には、照射された光によって記録媒体に供給される単位面積あたりのエネルギーが低下するため、記録に必要な光強度を確保するためには、より高い光出力で光源を発光させる必要があるためである。 In recent years, there has been a growing need for high-speed recording of information, and it is necessary to irradiate a recording medium with a high light intensity necessary for high-speed recording in order to meet the needs. This is because a method of increasing the scanning speed of the recording medium is generally used to perform high-speed recording on the same type of recording medium. However, when the scanning speed is increased, the recording medium is supplied with irradiated light. This is because the energy per unit area is reduced, and in order to ensure the light intensity necessary for recording, it is necessary to cause the light source to emit light with a higher light output.
また一方では、情報の高密度記録化(例えば、CD→DVD→BD)も進んでおり、記録媒体に記録するマークの物理的な大きさが小さくなってきている。小さなマークを記録媒体上に安定に形成(記録)するためには、記録媒体に光を照射する時間とともに、照射する光強度を高精度に制御することが必要とされる。 On the other hand, high-density recording of information (for example, CD → DVD → BD) is also progressing, and the physical size of marks to be recorded on a recording medium is decreasing. In order to stably form (record) a small mark on a recording medium, it is necessary to control the irradiation light intensity with high accuracy along with the time for irradiating the recording medium with light.
このため光出力の制御には、光源が発する光の一部を光検出器で受光して、光源の光出力をモニタすることにより制御を行う手法が一般である(例えば、特許文献1参照)。この従来技術の概要を、図15〜18を参照して説明する。 For this reason, in general, the light output is controlled by receiving a part of light emitted from the light source with a photodetector and monitoring the light output of the light source (see, for example, Patent Document 1). . An outline of this prior art will be described with reference to FIGS.
図15において、光源である半導体レーザ221を出射した光222は、コリメートレンズ223で平行光にされ、平行光の一部は反射ミラー224を透過して光出力モニタ用の光検出器225に入射する。光検出器225の出力は、レーザ制御回路226に入力され、半導体レーザ221の出力は必要な値となるように制御される。一方、反射ミラー224を反射した光は集光レンズ227を透過し、記録媒体228上に集光される。記録媒体228を反射した光はもとの経路を逆にたどり、検出用回折素子229で回折され、コリメートレンズ223を透過して半導体レーザ221の近傍にある信号検出用の光検出器2210および2211に入射する。光検出器2210および2211に入射した光により、フォ−カス、トラッキング、RF等の各種信号の検出が行われる。光検出器2210、2211の構成や、各種信号の検出方式は本発明の本質的な構成要素ではなく、また様々な構成が既に公知であるためその説明は省略する。
In FIG. 15,
このとき、半導体レーザ221から出射される光の遠視野像を図16に示す。図16の遠視野像231上に投影した集光レンズ227の開口領域232(領域A)および、光出力モニタ用の光検出器225の受光領域233(領域B)の中心は遠視野像231の中心に略一致している。遠視野像231の強度分布断面は図17のような略正規分布をしているため、集光レンズ227の開口中心や光出力モニタ用の光検出器225の受光領域の中心は、遠視野像の中心と一致するように配置した場合に、最も光源からの光の利用効率が高くなるため、このように配置するのが一般である。
FIG. 16 shows a far-field image of light emitted from the
ところで、近年、半導体レーザの高出力化や高温動作性能の改善のために半導体レーザの動作電流を低減する実屈折率導波型レーザが実用に供されているが、この半導体レーザは一般に、主に水平方向に光放射角が光出力によって変化するという特性を有している。ここで、水平方向とは半導体レーザを発光面側から見たときに、活性層に沿う方向と定義する。そのため、このような特性の実屈折率導波型レーザを用いて光源の光出力モニタを行う場合、集光レンズを透過して記録媒体に照射される光量(以下、「Po」と略称する。)と、光出力モニタ用の光検出器に入射する光量(以下、「Pm」と略称する。)との比が光出力によって変化してしまい、Pm/Poの線形性を確保することができず、正確な光出力制御を行うことが困難となってしまう。 Incidentally, in recent years, an actual refractive index guided laser that reduces the operating current of a semiconductor laser has been put to practical use in order to increase the output of the semiconductor laser and improve the high-temperature operating performance. In addition, the light emission angle varies in the horizontal direction depending on the light output. Here, the horizontal direction is defined as a direction along the active layer when the semiconductor laser is viewed from the light emitting surface side. Therefore, when monitoring the light output of the light source using an actual refractive index guided laser with such characteristics, the amount of light that passes through the condenser lens and is applied to the recording medium (hereinafter abbreviated as “Po”). ) And the amount of light incident on the light output monitoring photodetector (hereinafter abbreviated as “Pm”) is changed by the light output, and the linearity of Pm / Po can be secured. Therefore, it becomes difficult to perform accurate light output control.
図18にて具体例を示すと、Pm/Poの線形性が確保されている状態251に対し、252や253のようなPm/Po特性となってしまう。これは、一般の装置では、集光レンズの開口領域(領域Aとする)と光出力モニタ用光検出器の受光領域(領域Bとする)のサイズや形状が異なるため、半導体レーザの出射光が領域A、Bの各々によって結合される効率(ηA、ηBとする)が、半導体レーザの放射角が出力によって変化した際に変化する割合が異なるためである。すなわち、半導体レーザの光出力がP1のときの結合効率を各々ηA1、ηB1、光出力がP2(P1>P2)のときの各結合効率を各々ηA2、ηB2とすると、ηB1/ηA1≠ηB2/ηA2となるためにPm/Po(=ηB/ηA)の線形性が崩れるのである。
When a specific example is shown in FIG. 18, Pm / Po characteristics such as 252 and 253 are obtained with respect to the
また、上述の半導体レーザは放射した光の遠視野像における光強度のピーク位置(以下、光軸と略称する。)が光出力によって変動するという特徴も有している。この場合も、開口領域Aと受光領域Bとのサイズや形状差により、ηB1/ηA1≠ηB2/ηA2となり、Pm/Po(=ηB/ηA)の線形性が崩れるという問題が発生する。
解決しようとする問題点は、光源の光放射角や光軸が光出力によって変化する場合に、集光レンズを透過して記録媒体に入射する光量Poと、光出力モニタ用の光検出器に入射する光量Pmとの比が光出力によって変化することによりPm/Poの線形性が崩れて正確な光出力のモニタができなくなり、Pmをモニタすることによって行う光源の出力制御に誤差が生じ、装置の記録再生性能が損なわれるという点である。 The problem to be solved is that, when the light emission angle and the optical axis of the light source are changed by the light output, the light amount Po that passes through the condenser lens and enters the recording medium, and the light detector for the light output monitor. Since the ratio of the incident light quantity Pm changes depending on the light output, the linearity of Pm / Po is lost and it becomes impossible to monitor the light output accurately, and an error occurs in the output control of the light source performed by monitoring Pm. The recording / reproducing performance of the apparatus is impaired.
本発明は、光源からの光を記録媒体に照射し、前記記録媒体に情報の記録再生を行う情報処理装置であって、前記光源からの光を前記記録媒体に集光する集光レンズと、前記光源からの光の一部を受光する光検出装置と、前記光検出装置からの信号を用いて前記光源の出力を制御する制御回路とを有し、前記光源からの光の遠視野像の光強度分布上に投影した前記集光レンズの開口領域Aと、前記光源からの光の遠視野像の光強度分布上に投影した前記光検出装置の受光領域Bとは大きさが異なり、前記光検出装置から得られる信号Sに対して、前記信号Sに関する一次以上の関数を前記信号Sに加えた信号S’を用いて前記光源の出力を制御することを第1の主要な特徴とする。 The present invention is an information processing apparatus that irradiates a recording medium with light from a light source and records and reproduces information on the recording medium, and a condenser lens that condenses the light from the light source on the recording medium; A light detection device that receives a part of the light from the light source; and a control circuit that controls an output of the light source using a signal from the light detection device; and a far-field image of the light from the light source. The aperture area A of the condenser lens projected onto the light intensity distribution and the light receiving area B of the light detection device projected onto the light intensity distribution of the far-field image of the light from the light source are different in size. The first main feature is that the output of the light source is controlled using a signal S ′ obtained by adding a first-order or higher-order function related to the signal S to the signal S with respect to the signal S obtained from the light detection device. .
また、前記光検出装置は軸対称な複数の光検出器を有し、前記複数の光検出器から得られる信号の和信号と、差信号とを出力することを第2の主要な特徴とする。 In addition, the photodetector has a plurality of axisymmetric photodetectors and outputs a sum signal and a difference signal of signals obtained from the plurality of photodetectors as a second main feature. .
また、前記光検出装置は軸対称な複数の光検出器と、単一の光検出器とを有し、前記複数の光検出器から得られる信号の差信号と、前記単一の光検出器から得られる信号とを出力することを第3の主要な特徴とする。 The photodetector includes a plurality of axisymmetric photodetectors and a single photodetector, a difference signal between signals obtained from the plurality of photodetectors, and the single photodetector. The third main feature is to output a signal obtained from the above.
本発明は、光源の光放射角や光軸が光出力によって変化する場合にも、集光レンズを透過して記録媒体に入射する光量Poと、光出力モニタ用の光検出器に入射する光量Pmとの比の光出力による変化を抑制し、Pm/Poの線形性を確保することにより、正確な光出力モニタ性能を有する装置を実現できるというものである。 In the present invention, even when the light emission angle and the optical axis of the light source change depending on the light output, the light amount Po that passes through the condenser lens and enters the recording medium, and the light amount that enters the photodetector for light output monitoring. By suppressing the change due to the light output of the ratio to Pm and ensuring the linearity of Pm / Po, it is possible to realize an apparatus having accurate light output monitoring performance.
光源の水平方向の光放射角が光出力によって変化する場合にも、線形性の高い高精度な光出力モニタ性能を得る構成を実現した。 Even when the light emission angle in the horizontal direction of the light source varies depending on the light output, a configuration that achieves high linearity and high-precision light output monitoring performance has been realized.
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、図面において、同じ符号の構成要件は、同一または同等のものを示す。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, the same reference numerals denote the same or equivalent components.
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1の光検出装置及び光ピックアップ装置を含む情報処理装置の構成図である。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a configuration diagram of an information processing device including the photodetector and the optical pickup device according to the first embodiment of the present invention.
図1において、光源である半導体レーザ1を出射した光2は、折り曲げミラー13を反射した後、コリメートレンズ3で平行光にされ、反射ミラー4を反射し、回折素子9を透過し、集光レンズ7により記録媒体8上に集光される。一方、折り曲げミラー13を透過した光は、光出力モニタ用の光検出器5へ入射するが、光検出器5の受光部サイズは集光レンズ7に入射する光束12よりも小さく、光検出器5の受光部中心は、光束12の中心と略一致している。記録媒体8を反射した光はもとの経路を逆にたどるが、回折素子9で回折されるため、半導体レーザ1の近傍にある信号検出用の光検出器10および11に入射する。光検出器10および11に入射した光によりフォ−カス、トラッキング、RF等の各種信号の検出が行われる。光検出器10、11の構成や、各種信号の検出方式は本発明の本質的な構成要素ではなく、また様々な構成が既に公知であるためその説明は省略する。
In FIG. 1,
半導体レーザ1からの出射光の遠視野像上に投影した、集光レンズ7の開口領域112(領域A)と、光検出器5の受光領域113(領域B)の関係を図2に示す。半導体レーザ1の水平方向の放射角は出力によって変化し、出力P1のときの水平方向の放射角(半値全角)θh1を7°、P2のときの水平方向の放射角(半値全角)θh2を9°、垂直方向の放射角(半値全角)θvは14°で出力に依らず一定とし、領域Aは円形とし、光源から見た放射角(全角)を水平、垂直方向とも12.4°、領域Bも円形とし、光源から見た放射角(全角)を水平、垂直方向とも2°とし、θhの変化に対するηA、ηBの変化をグラフ化したものをそれぞれ図3、図4に示す。θhが7°から9°に拡がるとηAは10%低下し、ηBは22%低下する。これは、領域Bは領域Aより領域が小さいため、θhの変化による結合効率の変化への影響度合いが大きいことによる。光源の出力制御は一般に、光検出器5からの出力Sをモニタすることによって行われるため、出力Sと集光レンズ7から出射される光出力Polとの比は一定であることが望ましい。つまり、ηB/ηAは一定であることが望ましいが、本例の場合は図5に示すようにθhが7°から9°に拡がるとηB/ηAは13%低下してしまう。
FIG. 2 shows the relationship between the aperture region 112 (region A) of the
この現象が光源の出力制御に及ぼす影響を考えてみる。出力SとPolとの関係を表す係数にθh=7°のときの値を用いた場合に、出力Sを横軸、Polを縦軸に取ってその関係をグラフ化すると、図6のようになる。一般に光源の出力制御は図6中の破線の特性を想定した制御を行うのに対し、実際の出力SとPolとの関係は実線の特性となりθh=9°の点では約15%の制御誤差を生じてしまう。 Consider the effect of this phenomenon on the output control of the light source. When the value when θh = 7 ° is used as a coefficient representing the relationship between the output S and Pol, when the output S is plotted on the horizontal axis and Pol is plotted on the vertical axis, the relationship is graphed as shown in FIG. Become. In general, the output control of the light source is performed assuming the characteristic of the broken line in FIG. 6, whereas the actual relationship between the output S and Pol is a characteristic of the solid line, and the control error is about 15% at the point of θh = 9 °. Will occur.
さて、本例ではθhが光出力によって7°から9°へ2°拡がっているが、このθhの差分を△θhと定義すると、一般に△θhは光出力とほぼ比例な関係にある場合が多い。図7に、ある半導体レーザの光出力と△θhとの関係を示す。この半導体レーザの場合、光出力が1〜300mWで△θhは約2°変化するが、ほぼ線形に変化している。よって、図6の特性は、ある同一品種の半導体レーザを用いた場合には、ほぼ同一の特性が得られる。ここで、図6の実線の特性と、破線の特性との差分を出力Sの関数f(S)として表すと、図8に示すような2次または1次の関数で表すことができる。ここでSは最大出力のときの値で正規化している。Polの制御目標値をPol’とすると、Pol’=S−f(S)として制御することにより制御誤差の発生を抑えることができる。 In this example, θh is expanded by 2 ° from 7 ° to 9 ° due to the light output. If the difference of θh is defined as Δθh, generally Δθh is generally proportional to the light output in many cases. . FIG. 7 shows the relationship between the optical output of a semiconductor laser and Δθh. In the case of this semiconductor laser, Δθh changes by about 2 ° at an optical output of 1 to 300 mW, but changes almost linearly. Therefore, the characteristics shown in FIG. 6 are almost the same when a semiconductor laser of the same kind is used. Here, when the difference between the characteristic of the solid line in FIG. 6 and the characteristic of the broken line is expressed as a function f (S) of the output S, it can be expressed by a quadratic or linear function as shown in FIG. Here, S is normalized by the value at the maximum output. If the control target value of Pol is Pol ′, the control error can be suppressed by controlling as Pol ′ = S−f (S).
本実施の形態では、領域Aの面積(SA)>領域Bの面積(SB)の構成例を説明したが、装置の構成上、領域Aの面積<領域Bの面積となる場合でも本発明が適用できることは明らかである。 In this embodiment mode, the configuration example of the area A (area)> the area B (SB) has been described. However, the present invention can be applied even when the area A is smaller than the area B due to the configuration of the apparatus. It is clear that it can be applied.
また、本実施の形態では、光源である半導体レーザの放射角が光出力によって水平方向に変化する例について説明したが、水平方向ではなく垂直方向に変化する場合も同様に適用できることは明らかである。 In this embodiment, the example in which the emission angle of the semiconductor laser as the light source changes in the horizontal direction according to the light output has been described. .
(実施の形態2)
図9は本発明の実施の形態2による光検出装置及び光ピックアップ装置を含む情報処理装置の構成図である。光源からの光の動作は実施の形態1と同様なため説明は省略する。
(Embodiment 2)
FIG. 9 is a configuration diagram of an information processing apparatus including the light detection device and the optical pickup device according to the second embodiment of the present invention. Since the operation of light from the light source is the same as that in
本実施の形態において、光出力モニタ用の光検出装置14の受光領域は、図10に示すように水平方向に対称な光検出器15および16に2分割されている。光検出器15および16からの出力は加算回路17によって和信号S1、減算回路18によって差信号S2が生成され光検出装置14から出力され、レーザ制御回路6へと入力される。
In the present embodiment, the light receiving area of the
半導体レーザ1からの出射光の遠視野像上に投影した、集光レンズ7の開口領域112(領域A)と、光検出装置14の受光領域113(領域B)の関係および形状、光源からみた各領域の放射角は実施の形態1と同様で、図2に示した通りである。ここで、半導体レーザ1の水平方向の放射角は出力によって変化し、出力P1のときの水平方向の放射角(半値全角)θh1を7°、P2のときの水平方向の放射角(半値全角)θh2を9°、垂直方向の放射角(半値全角)θvは出力に依らず一定としθv=14°とする。半導体レーザ1の水平方向光軸φhが0°の場合と、1°の場合、θhの変化に対するηBおよびηAの特性を図11に示す。なお、ηBおよびηAはθh=7°、φh=0°の値で正規化している。グラフ中の曲線22はφh=0°のときのもので、これは実施の形態1で説明した特性と同一であり、実施の形態1で説明した発明により、θh変動に依らずηB/ηA=1となるように補正可能である。曲線23はφh=1°のときのものであるが、θh=9°の点ではηB/ηA=0.98となり、曲線22のθh=9°での値(0.87)に対して13%の乖離が発生する。本例ではηBに対応する信号は和信号S1によって得られる。一方、差信号S2からは光軸変化に対応する信号を得ることができる。ηB/ηAが変化する割合は光軸が水平方向のどちらに変化しても同じなため差信号S2に極性は不要である。よって、図10において差信号S2をレーザ制御回路6中で絶対値化回路19によって絶対値化し、ゲイン可変アンプ(VGA)20によってゲイン変換を行った信号S2’を和信号S1から差動アンプ21によって差動演算することにより、図11の曲線23を曲線23’へ改善することができる。これにより曲線22に対する乖離は±9%以下へ抑制することができる。なお、このときの加算回路17、減算回路18および絶対値化回路19のゲインは1、ゲイン可変アンプ20のゲインは1.3である。
The relationship and shape of the aperture region 112 (region A) of the
近年実用に供される半導体レーザは光出力によるθh変動とともに光軸の変化も発生するものがある。θhの光出力による変化は先にも述べたように光出力にほぼ比例するものが多いが、光軸の変化は光出力との相関は低く、変化の方向や変化量もばらばらのため実施の形態1の発明のような補正は不可能であるが、本実施の形態の発明を用いれば、光軸の変化に対応する量をリアルタイムにモニタすることができるため、光軸変化による光出力制御誤差を抑制することができる。 In recent years, semiconductor lasers that are put into practical use include those in which the optical axis changes as well as the variation in θh due to the light output. As described above, many changes in θh due to light output are almost proportional to light output. However, the change in the optical axis has a low correlation with the light output, and the direction and amount of change are not uniform. Although the correction as in the first aspect of the invention is impossible, if the invention of the present embodiment is used, the amount corresponding to the change in the optical axis can be monitored in real time. Errors can be suppressed.
本実施の形態では、領域Aの面積(SA)>領域Bの面積(SB)の構成例を説明したが、装置の構成上、領域Aの面積<領域Bの面積となる場合でも本発明が適用できることは明らかである。 In this embodiment mode, the configuration example of the area A (area)> the area B (SB) has been described. However, the present invention can be applied even when the area A is smaller than the area B due to the configuration of the apparatus. It is clear that it can be applied.
また、本実施の形態では、光源である半導体レーザの放射角が光出力によって水平方向に変化する例について説明したが、水平方向ではなく垂直方向に変化する場合も同様に適用できることは明らかである。 In this embodiment, the example in which the emission angle of the semiconductor laser as the light source changes in the horizontal direction according to the light output has been described. .
(実施の形態3)
図12は本発明の実施の形態3による光検出装置及び光ピックアップ装置を含む情報処理装置の構成図である。光源からの光の動作は実施の形態1と同様なため説明は省略する。
(Embodiment 3)
FIG. 12 is a configuration diagram of an information processing apparatus including the photodetector and the optical pickup device according to the third embodiment of the present invention. Since the operation of light from the light source is the same as that in
本実施の形態において、光出力モニタ用光検出装置24の受光領域には図13に示すように単一の光検出器25と水平方向に対称な光検出器26および27が配置されている。光検出器25からの出力は信号S1、光検出器26と27からの出力は減算回路18によって生成された差信号S2が光検出装置24から出力され、レーザ制御回路6へと入力される。
In the present embodiment, as shown in FIG. 13, a
半導体レーザ1からの出射光の遠視野像上に投影した、集光レンズ7の開口領域112(領域A)と、光検出装置24の受光領域113(領域B)の関係および形状、光源からみた各領域の放射角は実施の形態1と同様で、図2に示した通りである。ここで、半導体レーザ1の水平方向の放射角は出力によって変化し、出力P1のときの水平方向の放射角(半値全角)θh1を7°、P2のときの水平方向の放射角(半値全角)θh2を9°、垂直方向の放射角(半値全角)θvは出力に依らず一定としθv=14°とする。半導体レーザ1の水平方向光軸φhが0°の場合と、1°の場合、θhの変化に対するηBおよびηAの特性を図14に示す。なお、ηBおよびηAはθh=7°、φh=0°の値で正規化している。グラフ中の曲線28はφh=0°のときのもので、これは実施の形態1で説明した特性とほぼ同一であり、実施の形態1で説明した発明により、θh変動に依らずηB/ηA=1となるように補正可能である。曲線29はφh=1°のときのものであるが、θh=9°の点ではηB/ηA=0.98となり、曲線28のθh=9°での値(0.87)に対して13%の乖離が発生する。本例ではηBに対応する信号は信号S1によって得られる。一方、差信号S2からは光軸変化に対応する信号を得ることができる。図13における差信号S2をレーザ制御回路6中で絶対値化回路19によって絶対値化し、ゲイン可変アンプ(VGA)20によってゲイン変換を行った信号S2’を和信号S1から差動アンプ21によって差動演算することにより、図13の曲線29を曲線30へ改善することができる。これにより曲線28に対する乖離は±9%以下へ抑制することができる。なお、このときの加算回路17、減算回路18および絶対値化回路19のゲインは1、ゲイン可変アンプ20のゲインは4である。
The relationship and shape of the aperture region 112 (region A) of the
本実施の形態では、領域Aの面積(SA)>領域Bの面積(SB)の構成例を説明したが、装置の構成上、領域Aの面積<領域Bの面積となる場合でも本発明が適用できることは明らかである。 In this embodiment mode, the configuration example of the area A (area)> the area B (SB) has been described. However, the present invention can be applied even when the area A is smaller than the area B due to the configuration of the apparatus. It is clear that it can be applied.
また、本実施の形態では、光源である半導体レーザの放射角が光出力によって水平方向に変化する例について説明したが、水平方向ではなく垂直方向に変化する場合も同様に適用できることは明らかである。 In this embodiment, the example in which the emission angle of the semiconductor laser as the light source changes in the horizontal direction according to the light output has been described. .
また、本例では領域B内に光検出器25、26、27を配置したが、領域B=光検出器25として、その領域外に光検出器26、27を軸対称に配置しても同様な効果が得られる。この場合はゲイン可変アンプ20のゲインを各構成において最適値に調整すればよい。
Further, in this example, the
また、差信号S2を光源の光出力制御以外へ応用することも可能である。例えば、記録媒体からのトラッキングエラー信号やウォブル信号検出は光軸変動の影響を受けやすいため、これらの信号検出への補正信号として差動信号S2を利用する構成としてもよい。 It is also possible to apply the difference signal S2 to other than the light output control of the light source. For example, since the tracking error signal and the wobble signal detection from the recording medium are easily affected by the fluctuation of the optical axis, the differential signal S2 may be used as a correction signal for detecting these signals.
なお、各実施の形態によるピックアップ装置は、記録媒体に光源からの光を照射することで記録や再生を行なう情報処理装置の一構成要素として、用いることができることは言うまでもない。 Needless to say, the pickup apparatus according to each embodiment can be used as a component of an information processing apparatus that performs recording and reproduction by irradiating a recording medium with light from a light source.
本発明にかかる光検出装置、光ピックアップ装置および情報処理装置は、高精度な光源光出力モニタ性能を有する装置を、何ら部品を追加することなく低コストに実現することができ、また、光源に求められる性能の幅を広げられるため、主要部品である光源の調達が容易になるという効果を有し、光学的に記録再生する光ディスクドライブ、プレーヤ、レコーダ等の各種装置、機器として有用である。 The light detection device, the optical pickup device, and the information processing device according to the present invention can realize a device having high-precision light source light output monitoring performance at low cost without adding any components, and can be used as a light source. Since the required performance range can be widened, it has the effect of facilitating the procurement of the light source, which is the main component, and is useful as various devices and devices such as optical disk drives, players, recorders, etc. for optical recording and reproduction.
1 半導体レーザ
2 半導体レーザからの出射光
3 コリメートレンズ
4 反射ミラー
5 光検出器
6 レーザ制御回路
7 集光レンズ
8 記録媒体
9 回折素子
12 反射ミラー上の光束
13 折り曲げミラー
14 光検出装置
DESCRIPTION OF
Claims (12)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006182975A JP2008016076A (en) | 2006-07-03 | 2006-07-03 | Information processing device, photodetecting device, and optical pickup device |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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JP2008016076A true JP2008016076A (en) | 2008-01-24 |
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ID=39072953
Family Applications (1)
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JP2006182975A Pending JP2008016076A (en) | 2006-07-03 | 2006-07-03 | Information processing device, photodetecting device, and optical pickup device |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2008016076A (en) |
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2006
- 2006-07-03 JP JP2006182975A patent/JP2008016076A/en active Pending
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