JP2007289883A - Cleaning agent and cleaning method of harmful gas - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、有害ガスの浄化剤及び浄化方法に関し、さらに詳しくは、有害成分として、モノクロロシラン、ジクロロシラン、トリクロロシラン、四塩化ケイ素等の塩化ケイ素類を含む有害ガスを、浄化剤が充填された浄化筒に導入して、安全に前記の有害成分を除去することができる浄化剤及び浄化方法に関する。 The present invention relates to a harmful gas purification agent and purification method, and more particularly, a harmful gas containing silicon chlorides such as monochlorosilane, dichlorosilane, trichlorosilane, and silicon tetrachloride as a harmful component is filled with the purification agent. The present invention relates to a purification agent and a purification method that can be introduced into a purification cylinder and can safely remove the harmful components.
従来から、半導体製造工業においては、絶縁膜等を形成するための原料としてジクロロシランが使用されている。例えば、ジクロロシランとアンモニアを用いて、CVD法によりシリコンウェハー等の半導体基板にシリコン窒化膜(Si3N4)を形成する方法が行なわれている。また、ジクロロシランを使用し、ヘキサフルオロタングステン(WF6)を還元することによりケイ化タングステン(WSiX)を気相成長させる方法が実施されている。
また、液晶パネル基板等に有用なシリカガラスの原料としては、四塩化ケイ素が用いられている。
Conventionally, in the semiconductor manufacturing industry, dichlorosilane has been used as a raw material for forming insulating films and the like. For example, a method of forming a silicon nitride film (Si 3 N 4 ) on a semiconductor substrate such as a silicon wafer by CVD using dichlorosilane and ammonia is performed. In addition, a method of vapor-phase growing tungsten silicide (WSi x ) by using dichlorosilane and reducing hexafluorotungsten (WF 6 ) has been implemented.
Silicon tetrachloride is used as a raw material for silica glass useful for liquid crystal panel substrates and the like.
これらの塩化ケイ素類は、半導体製造工程において、通常は窒素、水素、ヘリウム等のキャリヤガスで希釈された状態で使用された後排出されるが、その排ガス中の濃度は一般的に1%以下である。しかし、塩化ケイ素類は毒性が強く、人体や環境に悪影響を及ぼすため、使用後、大気に放出するに先立って、これらを含有する有害ガスを浄化する必要がある。
塩化ケイ素類を含有する有害ガスを浄化する方法としては湿式浄化法と乾式浄化法があるが、湿式浄化法は塩化ケイ素類の除去率が低いという問題点のほか、装置が複雑で大型となり、設備、保守ともに費用を要するという問題点があった。
These silicon chlorides are usually discharged after being used in a semiconductor manufacturing process after being diluted with a carrier gas such as nitrogen, hydrogen or helium, but the concentration in the exhaust gas is generally 1% or less. It is. However, since silicon chlorides are highly toxic and adversely affect the human body and the environment, it is necessary to purify harmful gases containing them before use and release them to the atmosphere.
There are wet purification methods and dry purification methods to purify harmful gases containing silicon chlorides, but the wet purification method has a problem that the removal rate of silicon chlorides is low, and the equipment becomes complicated and large, There is a problem that both equipment and maintenance are expensive.
このため、塩化ケイ素類を含有する有害ガスを浄化する方法としては、塩化ケイ素類と反応してこれを捕捉できる浄化剤を浄化筒に充填し、有害ガスをこの浄化筒に導入して浄化剤と接触させることにより、ガスから有害成分を除去する乾式浄化法が多く実施されてきた。乾式浄化法に使用される浄化剤としては、酸化銅を主成分として含む浄化剤、水酸化銅を主成分として含む浄化剤(特許文献1,2)、塩基性炭酸銅を主成分として含む浄化剤(特許文献3)等が開発されている。
しかしながら、酸化銅を主成分として含む浄化剤については、半導体製造工程等から排出される排ガスに含まれる塩化ケイ素類を除去する場合には、排ガス中に水素ガスが多量に含まれていることが多く、酸化銅が約110℃以上の温度で水素還元されるため、高濃度の前記有害成分を除去する際には浄化反応熱によって浄化剤が前記温度に達し、さらに水素との反応により大きな熱を発生する虞があった。 However, with regard to the purifier containing copper oxide as a main component, when removing silicon chlorides contained in the exhaust gas discharged from the semiconductor manufacturing process or the like, a large amount of hydrogen gas may be contained in the exhaust gas. In many cases, copper oxide is reduced by hydrogen at a temperature of about 110 ° C. or higher. Therefore, when removing a high concentration of the harmful component, the purification agent reaches the temperature by the purification reaction heat, and further, the reaction with hydrogen generates a large amount of heat. There was a possibility of generating.
また、水酸化銅を主成分として含む浄化剤、塩基性炭酸銅を主成分として含む浄化剤については、水素還元温度は約150℃以上であり、浄化の際の発熱に関する安全性は酸化銅を主成分として含む浄化剤よりも優れているが、水酸化銅は浄化反応により水が発生しやすいという不都合があった。さらに、いずれの前記浄化剤においても、塩化ケイ素類が捕捉された浄化反応済の浄化剤が300℃以上の高温になった場合は急激な発熱反応が起こる虞があった。 In addition, for the purifier containing copper hydroxide as the main component and the purifier containing basic copper carbonate as the main component, the hydrogen reduction temperature is about 150 ° C. or higher, and the safety related to heat generation during the purification is less than that of copper oxide. Although superior to the purifying agent contained as a main component, copper hydroxide has a disadvantage that water is easily generated by the purifying reaction. Furthermore, in any of the above-mentioned purification agents, when the purification reaction-completed purification agent in which silicon chlorides are trapped reaches a high temperature of 300 ° C. or more, there is a possibility that a rapid exothermic reaction occurs.
従って、本発明が解決しようとする課題は、処理対象ガス中に水素ガスが多量に含まれ、浄化する際の浄化剤の温度が比較的に高温度(110℃程度)になる場合であっても、安全に処理対象ガスから塩化ケイ素類を除去できるとともに、塩化ケイ素類が捕捉された浄化反応済の浄化剤が万が一300℃以上の高温になった場合にも急激な発熱反応が起こる虞がなく、安全に浄化処理することができる塩化ケイ素類を含有する有害ガスの浄化剤及び浄化方法を提供することである。 Therefore, the problem to be solved by the present invention is when the gas to be treated contains a large amount of hydrogen gas, and the temperature of the purifying agent at the time of purification becomes relatively high (about 110 ° C.). However, silicon chlorides can be safely removed from the gas to be treated, and a sudden exothermic reaction may occur even if the purification agent that has undergone the purification reaction in which the silicon chlorides have been trapped reaches a high temperature of 300 ° C. or higher. It is another object of the present invention to provide a cleaning agent and a cleaning method for harmful gases containing silicon chloride that can be safely purified.
本発明者らは、これらの課題を解決すべく鋭意検討した結果、塩化ケイ素類を含有するガスの浄化剤として、塩基性炭酸銅を主成分とし、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、水酸化マグネシウム、及び酸化ケイ素から選ばれる少なくとも1種の化合物を少量含ませた浄化剤を用いることにより、浄化する際の浄化剤の温度が比較的に高温度(110℃程度)になる場合であっても、安全に処理対象ガスから前記有害成分を除去できるとともに、浄化反応済の浄化剤が万が一300℃以上の高温になった場合にも急激な発熱反応が起こる虞がなく、安全に浄化処理できること等を見出し、本発明の浄化剤及び浄化方法に到達した。 As a result of intensive studies to solve these problems, the present inventors have as a main component a basic copper carbonate as a gas purification agent containing silicon chlorides, aluminum oxide, aluminum hydroxide, magnesium oxide, water. This is a case where the temperature of the cleaning agent at the time of purification becomes relatively high (about 110 ° C.) by using a cleaning agent containing a small amount of at least one compound selected from magnesium oxide and silicon oxide. However, the harmful components can be safely removed from the gas to be treated, and there is no risk of a sudden exothermic reaction even if the purification agent that has undergone the purification reaction reaches a high temperature of 300 ° C. or higher. As a result, the present inventors have found that it is possible to achieve the purification agent and purification method of the present invention.
すなわち本発明は、塩基性炭酸銅と、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、水酸化マグネシウム、及び酸化ケイ素から選ばれる少なくとも1種の化合物を含むことを特徴とする塩化ケイ素類を含有する有害ガスの浄化剤である。
また、本発明は、有害成分として塩化ケイ素類を含むガスを、塩基性炭酸銅と、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、水酸化マグネシウム、及び酸化ケイ素から選ばれる少なくとも1種の化合物を含む浄化剤と接触させて、該ガスに含まれる塩化ケイ素を除去することを特徴とする有害ガスの浄化方法である。
That is, the present invention is a harmful containing silicon chloride characterized by containing basic copper carbonate and at least one compound selected from aluminum oxide, aluminum hydroxide, magnesium oxide, magnesium hydroxide, and silicon oxide. It is a gas purifier.
In addition, the present invention includes a gas containing silicon chlorides as a harmful component, including basic copper carbonate and at least one compound selected from aluminum oxide, aluminum hydroxide, magnesium oxide, magnesium hydroxide, and silicon oxide. A method for purifying noxious gas, wherein silicon chloride contained in the gas is removed by contacting with a purifying agent.
本発明の浄化剤及び浄化方法においては、塩化ケイ素類を除去する際に浄化剤が水素還元開始温度を超えて大きな発熱を発生し、万が一浄化筒内が300℃以上の高温になっても、塩化ケイ素類を捕捉した浄化反応済の浄化剤が急激な発熱反応が起こる虞がないので、水素とともに有害成分として塩化ケイ素類を含むガスを安全に浄化することが可能である。 In the purifying agent and the purifying method of the present invention, when removing the silicon chlorides, the purifying agent generates a large exotherm exceeding the hydrogen reduction start temperature, and even if the inside of the purifying cylinder reaches a high temperature of 300 ° C. or higher, Since there is no possibility that the purifying reaction agent that has captured silicon chlorides has undergone a purification reaction and a rapid exothermic reaction occurs, it is possible to safely purify gas containing silicon chlorides as harmful components together with hydrogen.
本発明の浄化剤及び浄化方法は、窒素、アルゴン、ヘリウム、及び水素等のガス中に、有害成分としてモノクロロシラン、ジクロロシラン、トリクロロシラン、四塩化ケイ素等の塩化ケイ素の1種以上を含有する有害ガスの浄化に適用される。
本発明において、浄化剤の有効成分として用いられる塩基性炭酸銅の含有率は、通常は70wt%以上であり、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、水酸化マグネシウム、及び酸化ケイ素から選ばれる少なくとも1種の化合物の含有率は、通常は合計で0.1〜10wt%、好ましくは0.1〜2.5wt%である。塩基性炭酸銅以外の前記成分が0.1wt%未満の場合は安全性が低下し、10wt%を超える場合は浄化能力(単位量の浄化剤が除去可能な塩化ケイ素類の量)が低下する。尚、塩基性炭酸銅以外の前記成分が多く含まれるほど浄化能力は低下する。
The purification agent and purification method of the present invention contain one or more types of silicon chloride such as monochlorosilane, dichlorosilane, trichlorosilane, and silicon tetrachloride as harmful components in a gas such as nitrogen, argon, helium, and hydrogen. Applies to purification of harmful gases.
In the present invention, the content of basic copper carbonate used as an active ingredient of the purifier is usually 70 wt% or more, and at least selected from aluminum oxide, aluminum hydroxide, magnesium oxide, magnesium hydroxide, and silicon oxide. The content of one kind of compound is usually 0.1 to 10 wt% in total, preferably 0.1 to 2.5 wt%. When the above components other than basic copper carbonate are less than 0.1 wt%, the safety is lowered, and when it exceeds 10 wt%, the purification ability (the amount of silicon chlorides that can be removed by the unit amount of the purification agent) is lowered. . In addition, purification capacity falls, so that the said components other than basic copper carbonate are contained much.
本発明の浄化剤は、種々の方法により調製することができ、製造方法について特に制限されることはない。例えば、硫酸銅と硫酸アルミニウムの混合水溶液を、炭酸ナトリウムの水溶液に添加し、PHを調整して沈殿物を生成させ、この沈殿物を洗浄、乾燥することにより塩基性炭酸銅((CuCO3)m・(Cu(OH)2)n)と、酸化アルミニウムまたは水酸化アルミニウムを含む浄化剤を得ることができる。尚、酸化マグネシウム、水酸化マグネシウム、あるいは酸化ケイ素を含む浄化剤も同様にして得られる。 The purification agent of the present invention can be prepared by various methods, and the production method is not particularly limited. For example, a mixed aqueous solution of copper sulfate and aluminum sulfate is added to an aqueous solution of sodium carbonate, pH is adjusted to produce a precipitate, and the precipitate is washed and dried to thereby obtain basic copper carbonate ((CuCO 3 ) A purifier containing m · (Cu (OH) 2 ) n) and aluminum oxide or aluminum hydroxide can be obtained. A purifier containing magnesium oxide, magnesium hydroxide, or silicon oxide can be obtained in the same manner.
本発明の浄化剤の形態についても特に制限されることはないが、BET比表面積が10m2/g以上の浄化剤が好ましく、さらに30〜200m2/gの浄化剤がより好ましい。BET比表面積が10m2/g未満の浄化剤を使用した場合は高い浄化能力が得られない虞がある。また、BET比表面積が200m2/g以上の浄化剤を使用しても高い浄化能力が得られるが、実質的に製造が困難であるという制約がある。 The form of the purification agent of the present invention is not particularly limited, but a purification agent having a BET specific surface area of 10 m 2 / g or more is preferable, and a purification agent of 30 to 200 m 2 / g is more preferable. When a purification agent having a BET specific surface area of less than 10 m 2 / g is used, there is a possibility that a high purification ability cannot be obtained. Moreover, even if a purifier having a BET specific surface area of 200 m 2 / g or more is used, a high purification capability can be obtained, but there is a restriction that the production is substantially difficult.
本発明の浄化剤は、成型性や成型強度を高めるために、前記有効成分にバインダーを加えてもよい。このようなバインダーとしては、ポリビニルアルコール、ポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコール、メチルセルロース、カルボキシメチルセルロースなどの有機系バインダー、珪藻土、珪酸ナトリウム、硫酸水素ナトリウムなどの無機系バインダーを挙げることができる。これらのバインダーを加える場合は、例えば浄化剤を調製する際に粉末状または固体状の前記有効成分に添加、混練される。バインダーの添加量は、成型条件などによって異なり一概には特定できないが、少なすぎる場合はバインダーとしての効果が得られず、多すぎる場合は浄化能力が低下することから、通常は浄化剤全重量に対して0.1〜10wt%であり、好ましくは0.5〜5wt%である。 In the purifying agent of the present invention, a binder may be added to the active ingredient in order to increase moldability and molding strength. Examples of such a binder include organic binders such as polyvinyl alcohol, polyethylene glycol, polypropylene glycol, methyl cellulose, and carboxymethyl cellulose, and inorganic binders such as diatomaceous earth, sodium silicate, and sodium hydrogen sulfate. When these binders are added, for example, when preparing a cleaning agent, they are added and kneaded to the powdered or solid active ingredient. The amount of binder added depends on the molding conditions and cannot be specified.However, if the amount is too small, the effect as a binder cannot be obtained. It is 0.1-10 wt% with respect to it, Preferably it is 0.5-5 wt%.
また、浄化剤中には塩化ケイ素を含有する有害ガスの浄化に悪影響を及ぼさない不純物、不活性物質等を含んでいてもよい。さらに、浄化剤は乾燥状態でも優れた浄化能力を発揮するが、15wt%以下の水分を含んでいてもよい。これらのバインダー、不純物、不活性物質、水分などを含んだ場合においても、浄化剤中の塩基性炭酸銅の含有量は、通常は70wt%以上、好ましくは90wt%以上である。 Further, the purification agent may contain impurities, inert substances, etc. that do not adversely affect the purification of harmful gases containing silicon chloride. Furthermore, the purification agent exhibits excellent purification ability even in a dry state, but may contain 15 wt% or less of moisture. Even when these binders, impurities, inert substances, moisture and the like are included, the content of basic copper carbonate in the purifier is usually 70 wt% or more, preferably 90 wt% or more.
浄化剤の大きさ及び形状は特に限定されないが、例えば球状、円柱状、円筒状及び粒状などが挙げられる。その大きさは球状であれば直径0.5〜10mm、ペレットやタブレットなどの円柱状であれば直径0.5〜10mm、高さ2〜20mm程度が好ましく、粒状など不定形のものであれば、ふるいの目の開きで0.84〜5.66mm程度のものが好ましい。浄化剤を浄化筒に充填したときの充填密度は、浄化剤の形状及び調製方法により異なるが通常は0.4〜2.0g/ml程度である。
浄化剤は、通常は有害ガスの浄化筒に充填され、固定床として用いられるが移動床、流動床として用いることも可能である。通常、浄化剤は浄化筒内に充填され、塩化ケイ素類を含有する有害ガスが浄化筒内に流され、浄化剤と接触させることにより、有害成分である塩化ケイ素類が除去される。
Although the magnitude | size and shape of a purification agent are not specifically limited, For example, spherical shape, a column shape, cylindrical shape, a granular form, etc. are mentioned. The size is preferably 0.5 to 10 mm in diameter if spherical, 0.5 to 10 mm in diameter if cylindrical, such as pellets or tablets, and about 2 to 20 mm in height. The opening of the screen is preferably about 0.84 to 5.66 mm. The filling density when the purification agent is filled in the purification cylinder varies depending on the shape of the purification agent and the preparation method, but is usually about 0.4 to 2.0 g / ml.
The purifying agent is usually filled in a harmful gas purification column and used as a fixed bed, but it can also be used as a moving bed or a fluidized bed. Usually, the purification agent is filled in the purification cylinder, and harmful gas containing silicon chlorides is caused to flow into the purification cylinder, and the silicon chlorides which are harmful components are removed by contacting with the purification agent.
本発明の浄化方法において、浄化剤と処理対象ガスとの接触温度は150℃以下である。不活性ガス中の塩化ケイ素類を浄化する場合には、熱処理工程などからの排ガスのように高い温度(150℃以下)のガスをそのまま浄化剤と接触させることもできるが、浄化するために特に加熱や冷却を必要としないことから、一般的には100℃以下であり、通常は室温付近の温度(10〜50℃)で操作される。また、浄化時の圧力にも特に制限はないが、通常は常圧で行なわれるが、10KPa(絶対圧力)のような減圧あるいは1MPa(絶対圧力)のような加圧下で操作することも可能である。
本発明が適用される処理対象ガスは、有害成分として塩化ケイ素を含む窒素、アルゴン、ヘリウム、及び水素等のガスであるが、処理対象ガスは乾燥状態であってもまた湿度の高い状態であっても結露を生じない程度であればよい。
In the purification method of the present invention, the contact temperature between the purification agent and the gas to be treated is 150 ° C. or lower. When purifying silicon chlorides in an inert gas, a gas at a high temperature (150 ° C. or lower) can be directly contacted with a purifier, such as an exhaust gas from a heat treatment process, etc. Since heating and cooling are not required, it is generally 100 ° C. or lower, and is usually operated at a temperature near room temperature (10 to 50 ° C.). Although there is no particular limitation on the pressure during purification, it is usually carried out at normal pressure, but can be operated under reduced pressure such as 10 KPa (absolute pressure) or under increased pressure such as 1 MPa (absolute pressure). is there.
The gas to be treated to which the present invention is applied is a gas such as nitrogen, argon, helium and hydrogen containing silicon chloride as a harmful component, but the gas to be treated is in a dry state or in a high humidity state. However, it is sufficient if it does not cause condensation.
本発明の浄化方法が適用される処理対象ガス中に含有する塩化ケイ素類の濃度及び流速には特に制限はないが、一般に濃度が高いほど流速を小さくすることが望ましい。塩化ケイ素類の濃度は通常は1%以下であるが、流量が小さい場合にはさらに高濃度の塩化ケイ素類の処理も可能である。
浄化筒は処理対象ガスの流量、塩化ケイ素の濃度などに応じて設計されるが、塩化ケイ素類の濃度が0.1%以下のような比較的低濃度では空筒線速度(LV)は0.5〜50cm/sec、塩化ケイ素類の濃度が0.1〜1%程度ではLVは0.05〜20cm/sec、塩化ケイ素類の濃度が1%以上のような高濃度では10cm/sec以下の範囲で設計することが好ましい。
The concentration and flow rate of silicon chlorides contained in the gas to be treated to which the purification method of the present invention is applied are not particularly limited, but it is generally desirable to decrease the flow rate as the concentration increases. The concentration of silicon chlorides is usually 1% or less, but higher concentrations of silicon chlorides can be processed when the flow rate is small.
The purification cylinder is designed according to the flow rate of the gas to be treated, the concentration of silicon chloride, etc., but at a relatively low concentration such as a concentration of silicon chloride of 0.1% or less, the empty tube linear velocity (LV) is 0. LV is 0.05 to 20 cm / sec when the concentration of silicon chlorides is about 0.1 to 1%, and 10 cm or less or less at high concentrations such as 1% or more of silicon chlorides. It is preferable to design within the range.
次に、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明がこれらにより限定されるものではない。 EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention concretely, this invention is not limited by these.
(浄化剤の調製)
市販の硫酸銅5水塩を水に溶解した硫酸銅水溶液(20wt%)と硫酸アルミニウム溶液(20wt%)の混合溶液を、市販の炭酸ナトリウムを水に溶解した炭酸ナトリウム水溶液(20wt%)に添加し、PHを調整して沈殿物を生成させた。この沈殿物を洗浄、乾燥することにより塩基性炭酸銅(99wt%)及び酸化アルミニウム(1wt%)を含むブロック状の浄化剤を調製した。
(Preparation of purification agent)
Add a mixed solution of copper sulfate aqueous solution (20 wt%) and aluminum sulfate solution (20 wt%) in which commercially available copper sulfate pentahydrate is dissolved in water to sodium carbonate aqueous solution (20 wt%) in which commercially available sodium carbonate is dissolved in water The pH was adjusted to produce a precipitate. The precipitate was washed and dried to prepare a block-shaped purification agent containing basic copper carbonate (99 wt%) and aluminum oxide (1 wt%).
(浄化試験)
前記の浄化剤を内径60mmの浄化筒に充填長が100mmとなるように充填し、乾燥水素中にジクロロシラン5000ppmを含有するガスを20℃、常圧下で1L/minの流量で流通させた。この間、浄化筒の出口ガスの一部をサンプリングし、ガス検知管(ガステック社製、検知下限0.05ppm)を用いて、ジクロロシランが検知されるまでの時間(有効処理時間)を測定して、浄化剤1L(リットル)当たりに対するジクロロシランの除去量(L)(浄化能力)を求めた。その結果を表1に示す。
(安全性試験)
前記の浄化済の浄化剤を、窒素雰囲気下300℃、400℃、及び500℃に加熱された金属棒に各々接触させて、反応の有無を調査した。その結果を表1に示す。
(Purification test)
The purification agent was filled in a purification cylinder having an inner diameter of 60 mm so as to have a filling length of 100 mm, and a gas containing 5000 ppm of dichlorosilane in dry hydrogen was circulated at a flow rate of 1 L / min at 20 ° C. and normal pressure. During this time, a part of the outlet gas of the purification cylinder is sampled and the time (effective treatment time) until dichlorosilane is detected is measured using a gas detector tube (manufactured by Gastec, detection lower limit 0.05 ppm). Thus, the removal amount (L) (purification ability) of dichlorosilane per 1 L (liter) of the purification agent was determined. The results are shown in Table 1.
(Safety test)
The purified purification agent was brought into contact with a metal rod heated to 300 ° C., 400 ° C., and 500 ° C. in a nitrogen atmosphere, and the presence or absence of reaction was investigated. The results are shown in Table 1.
[実施例2〜3]
実施例1と同様にして塩基性炭酸銅(99.5wt%)及び酸化アルミニウム(0.5wt%)を含む浄化剤、塩基性炭酸銅(95wt%)及び酸化アルミニウム(5wt%)を含む浄化剤を調製した。
この浄化剤を用いたほかは実施例1と同様にして浄化試験及び安全性試験を行なった。その結果を表1に示す。
[Examples 2-3]
Purifying agent containing basic copper carbonate (99.5 wt%) and aluminum oxide (0.5 wt%), purifying agent containing basic copper carbonate (95 wt%) and aluminum oxide (5 wt%) in the same manner as in Example 1. Was prepared.
A purification test and a safety test were conducted in the same manner as in Example 1 except that this purification agent was used. The results are shown in Table 1.
[比較例1]
実施例1の浄化剤の調製において、硫酸アルミニウム溶液を使用しなかったほかは実施例1と同様にして浄化試験及び安全性試験を行なった。その結果を表1に示す。
[Comparative Example 1]
In the preparation of the purifying agent of Example 1, a purification test and a safety test were conducted in the same manner as in Example 1 except that the aluminum sulfate solution was not used. The results are shown in Table 1.
以上のように、本発明の実施例の浄化剤及び浄化方法は、浄化反応済の浄化剤が万が一300℃以上の高温になった場合にも急激な発熱反応が起こる虞がなく安全であることが確認された。
As described above, the purifying agent and the purifying method according to the embodiment of the present invention are safe because there is no possibility that a sudden exothermic reaction occurs even if the purifying reaction-finished purifying agent reaches a high temperature of 300 ° C. or higher. Was confirmed.
Claims (5)
The method for purifying harmful gas according to claim 4, wherein the silicon chloride is at least one compound selected from monochlorosilane, dichlorosilane, trichlorosilane, and silicon tetrachloride.
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