JP2007286858A - Preparation device and preparing method for surface model - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique capable of precisely preparing an offset surface model. <P>SOLUTION: The preparation device for an offset surface model comprises a means for setting three-dimensional lattice points and its neighboring range in a three-dimensional space in which curved surface data describes a curved surface; a means for preparing a pair of data groups for both a first lattice point in which the curved surface passes through the neighboring range and the nearest point on the curved surface; a data preparing means for describing a group of second lattice points in which temporary offset points offsetting the nearest point are located in the neighboring range; a data preparing means for describing a group of third lattice points in which distances to the first lattice point located at the nearest point among the group of second lattice points are within a designated offset determining range; a means for calculating the offset points offsetting the nearest point for every third three-dimensional lattice point and preparing offset surface model data describing a group of calculated offset points, and a means for adding a group of three-dimensional lattice points adjacent to the third three-dimensional lattice points to the group of second three-dimensional lattice points. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、NC加工技術(数値制御加工技術)等で用いられる面モデルを作成する技術に関する。特に、曲面を記述するデータに基づいて、その曲面から所定距離だけオフセットしたオフセット面モデルを作成する技術に関する。   The present invention relates to a technique for creating a surface model used in NC machining technology (numerical control machining technology) or the like. In particular, the present invention relates to a technique for creating an offset surface model offset by a predetermined distance from a curved surface based on data describing the curved surface.

NC加工技術は、工具と素材を予め教示された移動経路に沿って相対移動させることによって、素材に所定の加工面を形成する。加工面の形状は、三次元CAD(Computer Aided Design)装置等を用いて作成された加工面データで表現される。NC工作機械を用いて素材に加工面を形成するためには、その加工面を記述する加工面データに基づいて、工具の移動経路を定める必要がある。
NC加工技術では、工具の位置を座標で記述するために、工具に基準点が定められている。それにより、工具の移動経路は、工具の基準点の移動経路によって定められる。工具の移動経路は、工具の刃先面を加工面に接触させながら移動させたときに、工具基準点が移動する経路に等しい。即ち、工具の移動経路は、加工面から工具形状分だけオフセットさせた面上に位置することとなる。工具の移動経路を定めるためには、加工面を記述する面データに基づいて、加工面から工具形状分だけオフセットさせたオフセット面モデルを作成する必要がある。
特許文献1には、逆オフセット法を利用して、工具参照面モデルを作成する技術が記載されている。逆オフセット法は、加工面を点群あるいは微小平面群(STL: Stereo lithography)等の近似要素で近似し、工具形状を加工時の姿勢に対して反転させた仮想反転工具を、工具基準点が各近似要素に位置するように配置する。そして、配置した仮想反転工具形状群の包絡面を求めることによって、加工面から工具形状分だけオフセットさせたオフセット面モデルを作成するものである。
特開平4−133103号公報
The NC machining technique forms a predetermined machining surface on the material by relatively moving the tool and the material along a movement path taught in advance. The shape of the machined surface is represented by machined surface data created using a three-dimensional CAD (Computer Aided Design) apparatus or the like. In order to form a machining surface on a material using an NC machine tool, it is necessary to determine a movement path of the tool based on machining surface data describing the machining surface.
In the NC machining technique, a reference point is defined for a tool in order to describe the position of the tool with coordinates. Thereby, the movement path of the tool is determined by the movement path of the reference point of the tool. The movement path of the tool is equal to the path along which the tool reference point moves when the tool cutting edge surface is moved while being in contact with the machining surface. That is, the movement path of the tool is located on a surface offset by the tool shape from the machining surface. In order to determine the movement path of the tool, it is necessary to create an offset surface model that is offset from the machining surface by the tool shape based on the surface data describing the machining surface.
Patent Document 1 describes a technique for creating a tool reference plane model using an inverse offset method. In the reverse offset method, a virtual reversing tool is created by approximating the machining surface with an approximate element such as a point cloud or stereo plane group (STL: Stereo lithography), and reversing the tool shape with respect to the machining posture. It arranges so that it may be located in each approximate element. Then, by obtaining the envelope surface of the arranged virtual reversal tool shape group, an offset surface model is created that is offset from the machining surface by the tool shape.
JP-A-4-133103

特許文献1の技術では、曲面を直接取り扱うことができないことから、曲面を近似要素群で近似した近似モデルに基づいて、オフセット面モデルを計算する必要が生じる。そのことから、作成されるオフセット面モデルには、近似処理に起因する誤差が生じてしまう。この誤差を低減するためには、曲面を細かに近似することが必要となるが、細かな近似処理を行うほど、計算負荷は増大してしまう。計算負荷を過剰に増大させることなく、オフセット面モデルを精度よく作成する技術が必要とされている。
本発明は、上記の課題を解決する。本発明は、計算負荷を増大させることなく、オフセット面モデルを精度よく作成するための技術を提供する。
Since the technique of Patent Document 1 cannot directly handle a curved surface, it is necessary to calculate an offset surface model based on an approximate model obtained by approximating a curved surface with an approximate element group. For this reason, an error due to the approximation process occurs in the created offset surface model. In order to reduce this error, it is necessary to finely approximate the curved surface. However, the calculation load increases as fine approximation processing is performed. There is a need for a technique for accurately creating an offset surface model without excessively increasing the calculation load.
The present invention solves the above problems. The present invention provides a technique for accurately creating an offset surface model without increasing the calculation load.

本発明の技術は、曲面を記述している曲面データに基づいて、その曲面から所定のオフセット距離だけオフセットしたオフセット面モデルを作成する装置に具現化することができる。このオフセット面モデルの作成装置は、三次元空間に配置された曲面を記述している曲面データの記憶手段と、曲面データが曲面を記述している三次元空間に所定間隔で三次元格子点を配置し、三次元格子点毎に所定半径の近傍領域を設定する手段と、曲面が近傍領域内を通過する第1三次元格子点と、第1三次元格子点に対する曲面上の最寄点とを特定し、第1三次元格子点と最寄点の対のデータ群を記述する第1格子点データを作成する手段と、第1格子点データに記述されている第1三次元格子点と最寄点の対のデータ毎に、第1三次元格子点と最寄点との相対位置からオフセット方向を定め、最寄点をオフセット方向へオフセット距離だけ移動させた仮オフセット点を求め、仮オフセット点が近傍領域内に存在する第2三次元格子点を特定し、特定した第2三次元格子点群を記述する第2格子点データを作成する手段と、第2格子点データに記述されている第2三次元格子点群から、第1格子点データに記述されている第1三次元格子点群のなかで最寄りに位置する第1三次元格子点までの距離が所定のオフセット判定範囲である第3三次元格子点群を特定し、特定した第3三次元格子点群を記述する第3格子点データを作成する手段と、第3格子点データに記述されている第3三次元格子点毎に、第1格子点データに記述されている最寄点群のなかで最寄りに位置する最寄点を、第3三次元格子点に向けてオフセット距離だけ移動させたオフセット点を計算し、計算したオフセット点群を記述するオフセット面モデルデータを作成する手段と、第3格子点データに記述されている第3三次元格子点に隣接する三次元格子点群を、第2格子点データに追加する手段とを備えている。   The technology of the present invention can be embodied in an apparatus that creates an offset surface model offset from a curved surface by a predetermined offset distance based on curved surface data describing the curved surface. This offset surface model creating apparatus includes a storage means for storing curved surface data describing a curved surface arranged in a three-dimensional space, and three-dimensional lattice points at predetermined intervals in the three-dimensional space in which the curved surface data describes a curved surface. Means for arranging and setting a neighborhood area of a predetermined radius for each 3D grid point, a first 3D grid point where the curved surface passes through the neighborhood area, and a closest point on the curved surface with respect to the first 3D grid point; A first grid point data describing a data group of a pair of the first 3D grid point and the nearest point, and a first 3D grid point described in the first grid point data; For each pair of nearest point data, an offset direction is determined from the relative position of the first 3D lattice point and the nearest point, and a temporary offset point is obtained by moving the nearest point in the offset direction by the offset distance. The second 3D lattice point where the offset point exists in the neighborhood The first grid point data is generated from the means for creating the second grid point data that specifies the specified second 3D grid point group and the second 3D grid point group described in the second grid point data. The third three-dimensional lattice point group whose distance to the nearest first three-dimensional lattice point is a predetermined offset determination range among the first three-dimensional lattice point group described in FIG. Means for generating third lattice point data describing three 3D lattice point groups, and for each third three-dimensional lattice point described in the third lattice point data, the maximum number described in the first lattice point data; Offset point model data describing the calculated offset point group is created by calculating the offset point by moving the closest point in the point group by the offset distance toward the 3D grid point. Described in the third grid point data. And a third three-dimensional three-dimensional grid point group adjacent to the lattice point is, and means for adding the second grid point data.

このオフセット面モデルの作成装置は、先ず、曲面が配置されている三次元空間に三次元格子点を配置するとともに、三次元格子点毎に三次元格子点を中心とする所定半径の近傍領域を設定する。
次いで、オフセット面モデルの作成装置は、曲面が近傍領域内を通過する第1三次元格子点と、第1三次元格子点に対する曲面上の最寄点とを特定し、第1三次元格子点と最寄点の対のデータ群を記述する第1格子点データを作成する。それにより、曲面データが記述している曲面を、三次元格子点群の集合で表現するデータを得る。
次いで、オフセット面モデルの作成装置は、第1格子点データが記述している第1三次元格子点と最寄点の対のデータ毎に、第1三次元格子点と最寄点との相対位置からオフセット方向を定め、最寄点をオフセット方向へオフセット距離だけ移動させた仮オフセット点を求め、仮オフセット点が近傍領域内に存在する第2三次元格子点を特定し、特定した第2三次元格子点群を記述する第2格子点データを作成する。第1三次元格子点に対する曲面上の最寄点は、第1三次元格子点から曲面へ下ろした垂線の足となる。従って、第1三次元格子点と最寄点との相対位置、即ち、第1三次元格子点と最寄点とを結ぶベクトルから、曲面の最寄点における法線方向を求めることができる。第1三次元格子点と最寄点との相対位置から、複雑な計算を必要とすることなく、各最寄点におけるオフセット方向を正しく求めることができる。
The offset surface model creating apparatus first arranges a three-dimensional lattice point in a three-dimensional space in which a curved surface is arranged, and for each three-dimensional lattice point, creates a region near a predetermined radius centered on the three-dimensional lattice point. Set.
Next, the offset surface model creation device identifies the first three-dimensional lattice point where the curved surface passes through the neighboring region and the closest point on the curved surface with respect to the first three-dimensional lattice point, and the first three-dimensional lattice point First grid point data describing a data group of a pair of nearest points is created. Thereby, data expressing the curved surface described by the curved surface data as a set of three-dimensional lattice points is obtained.
Next, the offset surface model creation device generates a relative value between the first 3D lattice point and the nearest point for each pair of data of the first 3D lattice point and the nearest point described by the first lattice point data. The offset direction is determined from the position, a temporary offset point obtained by moving the nearest point in the offset direction by the offset distance is determined, the second 3D lattice point where the temporary offset point exists in the vicinity region is specified, and the specified second Second grid point data describing a three-dimensional grid point group is created. The nearest point on the curved surface with respect to the first three-dimensional lattice point is a foot of a perpendicular line drawn from the first three-dimensional lattice point to the curved surface. Therefore, the normal direction at the nearest point of the curved surface can be obtained from the relative position between the first three-dimensional lattice point and the nearest point, that is, the vector connecting the first three-dimensional lattice point and the nearest point. From the relative position between the first three-dimensional lattice point and the nearest point, the offset direction at each nearest point can be obtained correctly without requiring complicated calculation.

次いで、オフセット面モデルの作成装置は、第2格子点データに記述されている第2三次元格子点群から、第1格子点データに記述されている第1三次元格子点群のなかで最寄りに位置する第1三次元格子点までの距離が所定のオフセット判定範囲である第3三次元格子点群を特定し、特定した第3三次元格子点群を記述する第3格子点データを作成する。第2三次元格子点群のそれぞれは、曲面上の一最寄点をオフセットさせた仮オフセット点の近傍に位置することから、曲面をオフセットさせたオフセット面の近傍に位置する三次元格子点となり得る。その一方において、曲面上の一最寄点をオフセットさせた仮オフセット点は、曲面の他の部分に対してオフセット距離よりも近接することがあり、第2三次元格子点群のそれぞれが、必ずしもオフセット面の近傍に位置するとは限られない。このオフセット面モデルの作成装置では、第2三次元格子点群のなかから、最寄りに位置する第1三次元格子点までの距離が所定のオフセット判定範囲であるものを特定することで、オフセット面の近傍に位置する第3三次元格子点群を抽出する。   Next, the offset plane model creation device is closest to the first three-dimensional lattice point group described in the first lattice point data from the second three-dimensional lattice point group described in the second lattice point data. The third 3D lattice point group in which the distance to the first 3D lattice point located at is a predetermined offset determination range is specified, and the third lattice point data describing the specified third 3D lattice point group is created To do. Since each of the second 3D lattice point groups is located near the temporary offset point obtained by offsetting the nearest point on the curved surface, it becomes a 3D lattice point located near the offset surface obtained by offsetting the curved surface. obtain. On the other hand, the temporary offset point obtained by offsetting the nearest point on the curved surface may be closer to the other part of the curved surface than the offset distance, and each of the second three-dimensional lattice point groups is not necessarily It is not necessarily located near the offset surface. In this offset surface model creation device, the offset surface is identified by identifying a distance from the second 3D lattice point group to the nearest first 3D lattice point within a predetermined offset determination range. A third three-dimensional lattice point group located in the vicinity of is extracted.

次いで、オフセット面モデルの作成装置は、第3格子点データに記述されている第3三次元格子点毎に、第1格子点データに記述されている最寄点群のなかで最寄りに位置する最寄点を、第3三次元格子点に向けてオフセット距離だけ移動させたオフセット点を計算し、計算したオフセット点群を記述するオフセット面モデルデータを作成する。ここで計算するオフセット点群は、曲面上に位置する最寄点群をオフセットさせた点であり、曲面をオフセットさせたオフセット面上に位置する点群を求めることができる。
次いで、オフセット面モデルの作成装置は、第3格子点データに記述されている第3三次元格子点に隣接する三次元格子点群を、第2格子点データに追加する。第3三次元格子点はオフセット面の近傍に位置することから、第3三次元格子点に隣接する三次元格子点群も、オフセット面の近傍に位置しうるものとなる。そのことから、第3三次元格子点に隣接する三次元格子点群を第2格子点データに追加し、第3三次元格子点に隣接する三次元格子点群についても上記した処理を実行することによって、オフセット点を漏れなく求めることができる。
最終的に、曲面をオフセット距離だけオフセットさせたオフセット面をオフセット点群によって表現するオフセット面モデルデータを得ることができる。
この作成装置によると、オフセット面モデルを作成する中間過程では三次元格子点を用いて計算処理を低減し、最終的には曲面上の点をオフセットさせたオフセット点によってオフセット面モデルを作成する。従来のように、曲面を近似した近似要素からオフセットさせたオフセット面モデルに比して、精度のよいオフセット面モデルが得られる。
Next, the offset surface model creation device is positioned closest to the third point lattice point described in the first lattice point data for each third three-dimensional lattice point described in the third lattice point data. An offset point obtained by moving the nearest point toward the third three-dimensional lattice point by an offset distance is calculated, and offset plane model data describing the calculated offset point group is created. The offset point group calculated here is a point obtained by offsetting the nearest point group located on the curved surface, and a point group located on the offset surface obtained by offsetting the curved surface can be obtained.
Next, the offset surface model creation device adds a three-dimensional lattice point group adjacent to the third three-dimensional lattice point described in the third lattice point data to the second lattice point data. Since the third three-dimensional lattice point is located in the vicinity of the offset surface, the three-dimensional lattice point group adjacent to the third three-dimensional lattice point can also be located in the vicinity of the offset surface. Therefore, a three-dimensional lattice point group adjacent to the third three-dimensional lattice point is added to the second lattice point data, and the above-described processing is executed for the three-dimensional lattice point group adjacent to the third three-dimensional lattice point. Thus, the offset point can be obtained without omission.
Finally, it is possible to obtain offset surface model data that expresses an offset surface obtained by offsetting a curved surface by an offset distance by an offset point group.
According to this creating apparatus, in the intermediate process of creating the offset surface model, the calculation process is reduced using the three-dimensional lattice points, and finally the offset surface model is created by the offset points obtained by offsetting the points on the curved surface. Compared to an offset surface model that is offset from an approximate element that approximates a curved surface as in the prior art, an accurate offset surface model can be obtained.

上記の装置では、前記第3格子点データの作成手段が用いる前記オフセット判定範囲が、前記オフセット距離から前記近傍領域の直径を減算した値と、前記オフセット距離に前記近傍領域の直径を加算した値までの範囲であることが好ましい。
それにより、第2格子点データに記述されている第2三次元格子点群のなかから、オフセット面の近傍に位置する第3三次元格子点群を、過不足なく抽出することができる。
In the above apparatus, the offset determination range used by the third grid point data creation means is a value obtained by subtracting the diameter of the neighboring area from the offset distance, and a value obtained by adding the diameter of the neighboring area to the offset distance. It is preferable that it is the range to.
As a result, the third 3D lattice point group located in the vicinity of the offset plane can be extracted from the second 3D lattice point group described in the second lattice point data without excess or deficiency.

本発明の技術はまた、曲面を記述している曲面データに基づいて、その曲面から所定のオフセット距離だけオフセットしたオフセット面モデルを作成する方法にも具現化することができる。この方法は、三次元空間に配置された曲面を記述している曲面データを用意する工程と、曲面データが曲面を記述している三次元空間に所定間隔で三次元格子点を配置し、三次元格子点毎に所定半径の近傍領域を設定する工程と、曲面が近傍領域内を通過する第1三次元格子点と、第1三次元格子点に対する曲面上の最寄点とを特定し、第1三次元格子点と最寄点の対のデータ群を記述する第1格子点データを作成する工程と、第1格子点データに記述されている第1三次元格子点と最寄点の対のデータ毎に、第1三次元格子点と最寄点との相対位置からオフセット方向を定め、最寄点をオフセット方向へオフセット距離だけ移動させた仮オフセット点を求め、仮オフセット点が近傍領域内に存在する第2三次元格子点を特定し、特定した第2三次元格子点群を記述する第2格子点データを作成する工程と、第2格子点データに記述されている第2三次元格子点群から、第1格子点データに記述されている第1三次元格子点群のなかで最寄りに位置する第1三次元格子点までの距離が所定のオフセット判定範囲である第3三次元格子点群を特定し、特定した第3三次元格子点群を記述する第3格子点データを作成する工程と、第3格子点データに記述されている第3三次元格子点毎に、第1格子点データに記述されている最寄点群のなかで最寄りに位置する最寄点を、第3三次格子点に向けてオフセット距離だけ移動させたオフセット点を計算し、計算したオフセット点群を記述するオフセット面モデルデータを作成する工程と、第3格子点データに記述されている第3三次元格子点に隣接する三次元格子点群を、第2格子点データに追加する工程とを備える。
この方法によると、オフセット面モデルを作成する中間過程では三次元格子点を用いて計算処理を低減し、最終的には曲面上の点をオフセットさせたオフセット点によってオフセット面モデルを作成する。従来のように、曲面を近似する近似要素からオフセットさせたオフセット面モデルに比して、精度のよいオフセット面モデルが得られる。
The technique of the present invention can also be embodied in a method of creating an offset surface model that is offset from a curved surface by a predetermined offset distance based on curved surface data describing the curved surface. This method includes a step of preparing curved surface data describing a curved surface arranged in a three-dimensional space, and arranging three-dimensional lattice points at predetermined intervals in the three-dimensional space in which the curved surface data describes a curved surface. Identifying a neighborhood area of a predetermined radius for each original grid point, identifying a first 3D grid point where the curved surface passes through the neighborhood area, and a closest point on the curved surface with respect to the first 3D grid point; A step of creating first grid point data describing a data group of a pair of the first 3D grid point and the nearest point, and the first 3D grid point and the nearest point described in the first grid point data For each pair of data, the offset direction is determined from the relative position of the first 3D lattice point and the nearest point, and the temporary offset point is obtained by moving the nearest point in the offset direction by the offset distance. Identify the second 3D grid points that exist in the region, The first grid point data described in the first grid point data is generated from the step of creating the second grid point data describing the three-dimensional grid point group and the second three-dimensional grid point group described in the second grid point data. The third 3D lattice point group in which the distance to the nearest first 3D lattice point in the 3D lattice point group is within a predetermined offset determination range is specified, and the identified third 3D lattice point group is The step of creating the third grid point data to be described, and the third 3D grid point described in the third grid point data are the nearest among the nearest points described in the first grid point data. Calculating an offset point obtained by moving the nearest point located at the position of the third lattice point by an offset distance, creating offset plane model data describing the calculated offset point group, and a third lattice point Third 3D lattice described in the data A three-dimensional grid point group adjacent to, and a step of adding the second grid point data.
According to this method, in the intermediate process of creating the offset surface model, the calculation process is reduced using the three-dimensional lattice points, and finally the offset surface model is created by the offset points obtained by offsetting the points on the curved surface. Compared to an offset surface model that is offset from an approximate element that approximates a curved surface as in the prior art, an accurate offset surface model can be obtained.

本発明によって、曲面を記述するデータに基づいて、その曲面からオフセット距離だけオフセットしたオフセット面モデルを精度よく作成することができる。作成したオフセット面モデルを用いてNC工作機械に教示する工具経路を作成することで、NC工作機械に加工面を精度よく成形させることが可能となる。   According to the present invention, based on data describing a curved surface, an offset surface model offset from the curved surface by an offset distance can be accurately created. By creating a tool path to be taught to the NC machine tool using the created offset surface model, it is possible to cause the NC machine tool to form a machining surface with high accuracy.

以下に説明する実施例の主要な特徴を列記する。
(特徴1) 曲面データは、3次元CAD装置を用いて作成される。
(特徴2) 三次元格子点は、三次元方向に関して等間隔に配置される。
(特徴3) 三次元格子点の間隔に対し、三次元格子点の近傍領域の直径は、31/2倍に設定される。
The main features of the embodiments described below are listed.
(Feature 1) Curved surface data is created using a three-dimensional CAD device.
(Feature 2) The three-dimensional lattice points are arranged at equal intervals in the three-dimensional direction.
(Characteristic 3) The diameter of the region near the three-dimensional lattice point is set to 3 1/2 times the interval of the three-dimensional lattice point.

図1は、本発明を実施したオフセット面モデルの作成装置10(以下、単に作成装置と略す)の機能的な構成を示している。作成装置10は、例えば加工面等の曲面を記述している曲面データに基づいて、その曲面から工具形状分だけオフセットしたオフセット面モデルを作成する装置である。作成装置10が作成したオフセット面モデルは、例えば数値制御(NC)工作機械を用いて素材に加工面を形成するための工具の移動経路の作成に用いることができる。
図1に示すように、作成装置10は、機能的に、データ記憶部20と、データ作成部50と、入出力部70を備えている。作成装置10は、主にコンピュータ装置を用いて構成されており、コンピュータ装置のハードウエアやソフトウエア等によって、データ記憶部20やデータ作成部50や入出力部70が構成されている。
FIG. 1 shows a functional configuration of an offset surface model creation apparatus 10 (hereinafter simply referred to as a creation apparatus) in which the present invention is implemented. The creation device 10 is a device that creates an offset surface model that is offset from the curved surface by a tool shape based on curved surface data describing a curved surface such as a machining surface, for example. The offset surface model created by the creation device 10 can be used to create a tool movement path for forming a machining surface on a material using, for example, a numerical control (NC) machine tool.
As shown in FIG. 1, the creation device 10 functionally includes a data storage unit 20, a data creation unit 50, and an input / output unit 70. The creation device 10 is mainly configured by using a computer device, and the data storage unit 20, the data creation unit 50, and the input / output unit 70 are configured by hardware, software, and the like of the computer device.

データ記憶部20は、曲面データ22と、曲面格子点データ(第1格子点データ)24と、仮オフセット格子点データ(第2格子点データ)26と、オフセット格子点データ(第3格子点データ)28と、オフセット面データ30等を記憶することができる。曲面データ22は、例えば所望する加工面等の曲面を記述するデータであり、xyz直交座標が定義されている三次元空間に配置された曲面を記述している。曲面データ22は、入出力部70を介して外部から作成装置10に教示される。曲面格子点データ24と、仮オフセット格子点データ26と、オフセット格子点データ28と、オフセット面データ30は、データ作成部50によって作成される。
データ作成部50は、格子点設定部52と、曲面格子点データ作成部54と、仮オフセット格子点データ作成部56と、オフセット格子点判定部58と、オフセット点計算部60を備えている。データ作成部50は、データ記憶部20に記憶されている曲面データ22に基づいて、各種の演算処理を行い、最終的にオフセット面データ30を作成する。オフセット面データ30は、曲面データ22が記述している曲面から、所定距離だけオフセットしたオフセット面を記述するものである。また、データ作成部50は、オフセット面データ30を作成する演算過程において、曲面格子点データ24と仮オフセット格子点データ26とオフセット格子点データ28を作成する。
The data storage unit 20 includes curved surface data 22, curved surface lattice point data (first lattice point data) 24, temporary offset lattice point data (second lattice point data) 26, and offset lattice point data (third lattice point data). ) 28 and offset plane data 30 and the like can be stored. The curved surface data 22 is data describing a curved surface such as a desired machining surface, for example, and describes a curved surface arranged in a three-dimensional space in which xyz orthogonal coordinates are defined. The curved surface data 22 is taught to the creation apparatus 10 from the outside via the input / output unit 70. The curved surface grid point data 24, temporary offset grid point data 26, offset grid point data 28, and offset surface data 30 are created by the data creation unit 50.
The data creation unit 50 includes a grid point setting unit 52, a curved grid point data creation unit 54, a temporary offset grid point data creation unit 56, an offset grid point determination unit 58, and an offset point calculation unit 60. The data creation unit 50 performs various arithmetic processes based on the curved surface data 22 stored in the data storage unit 20 and finally creates the offset surface data 30. The offset surface data 30 describes an offset surface offset by a predetermined distance from the curved surface described by the curved surface data 22. In addition, the data creation unit 50 creates the curved surface grid point data 24, the temporary offset grid point data 26, and the offset grid point data 28 in the calculation process of creating the offset surface data 30.

図2は、作成装置10が、オフセット面データ30を作成する処理の流れを示すフローチャートである。図2に示すフローに沿って、作成装置10が、外部から教示された曲面データ22に基づいて、オフセット面データ30を作成する処理手順について説明する。
先ず、ステップS2において、作成装置10は、入出力部70を介して曲面データ22入力し、データ記憶部20に記憶する。曲面データ22は、例えば外部の三次元CAD(Computer Aided Design)装置等によって作成される。
図3は、曲面データ22が記述している加工面22aの一例を示している。図3に例示するように、曲面データ22は、xyz空間に配置された複数の基本形状によって、xyz空間に配置されている加工面22aを記述している。基本形状には、例えば頂点Vや稜線Cや面S等が用いられている。稜線Cには、例えば直線や曲線等が用いられており、面Sには、平面、円柱面、球面、自由曲面等が用いられている。稜線Cは、パラメータtを用いた曲線表現式C(t)で記述されている。面Sは、パラメータu,vを用いた面表現式S(u,v)で記述されている。加工面22aを記述している基本形状V、C、Sには、それぞれを識別可能な識別子IDが割り当てられている。
なお、曲面データ22は、xyz空間に配置された点群や、xyz空間に配置された微小平面群(STL: Stereo lithography)によって、加工面22aを近似して記述するデータであってもよい。
FIG. 2 is a flowchart showing a flow of processing in which the creation apparatus 10 creates the offset surface data 30. A processing procedure in which the creation device 10 creates the offset surface data 30 based on the curved surface data 22 taught from the outside will be described along the flow shown in FIG.
First, in step S <b> 2, the creation apparatus 10 inputs the curved surface data 22 through the input / output unit 70 and stores it in the data storage unit 20. The curved surface data 22 is created by, for example, an external three-dimensional CAD (Computer Aided Design) device.
FIG. 3 shows an example of the processed surface 22a described by the curved surface data 22. As illustrated in FIG. 3, the curved surface data 22 describes the machining surface 22 a arranged in the xyz space by a plurality of basic shapes arranged in the xyz space. As the basic shape, for example, a vertex V, a ridge line C, a surface S, or the like is used. For example, a straight line or a curved line is used for the ridge line C, and a flat surface, a cylindrical surface, a spherical surface, a free curved surface, or the like is used for the surface S. The ridge line C is described by a curve expression C (t) using a parameter t. The surface S is described by a surface expression S (u, v) using parameters u and v. An identifier ID that can identify each of the basic shapes V, C, and S describing the processed surface 22a is assigned.
The curved surface data 22 may be data that approximates and describes the processing surface 22a by a point group arranged in the xyz space or a minute plane group (STL: Stereo lithography) arranged in the xyz space.

図2のステップS4では、曲面データ22が記述しているxyz空間、即ち、加工面22aが配置されているxyz空間に、データ作成部50の格子点設定部52が、三次元格子点群を設定する。三次元格子点群とは、xyz空間に三次元格子を区画したときの交点群である。
図4は、格子点設定部52によって三次元格子点g群が設定されたxyz空間を示している。なお、図4は、図示の明瞭化を目的として、三次元格子点群の間隔を実際よりも拡大して示している。図4に示すように、格子点設定部52は、加工面22aが配置されているxyz空間に、xyz方向のそれぞれに関して所定の間隔bで配列する三次元格子点g群を設定する。各三次元格子点gは、整数座標(i,j,k)を用いて識別される。ここで、iはx方向に関する位置を意味し、x方向においてi番目に位置することを示す。jはy方向に関する位置を意味し、y方向においてj番目に位置することを示す。kはz方向に関する位置を意味し、z方向においてk番目に位置することを示す。即ち、三次元格子点g:(i,j,k)は、xyz空間において座標(b×i,b×j,b×k)に位置することを意味する。
In step S4 of FIG. 2, the lattice point setting unit 52 of the data creation unit 50 converts the three-dimensional lattice point group into the xyz space described by the curved surface data 22, that is, the xyz space where the processed surface 22a is arranged. Set. The three-dimensional lattice point group is an intersection point group when a three-dimensional lattice is partitioned in the xyz space.
FIG. 4 shows an xyz space in which the three-dimensional lattice point g group is set by the lattice point setting unit 52. Note that FIG. 4 shows the interval of the three-dimensional lattice point group enlarged for the sake of clarity of illustration. As shown in FIG. 4, the lattice point setting unit 52 sets a three-dimensional lattice point g group arranged at a predetermined interval b with respect to each of the xyz directions in the xyz space where the processed surface 22 a is arranged. Each three-dimensional lattice point g is identified using integer coordinates (i, j, k). Here, i means a position in the x direction and indicates i-th position in the x direction. j means a position in the y direction and indicates the jth position in the y direction. k means a position in the z direction and indicates the kth position in the z direction. That is, the three-dimensional lattice point g: (i, j, k) means that it is located at the coordinates (b × i, b × j, b × k) in the xyz space.

図2のステップS6では、曲面格子点データ作成部54が、曲面格子点データ24を作成する。図5に示すように、曲面格子点データ24は、ステップS4で設定した三次元格子点g群毎に半径a(直径2a)の近傍領域Rを設定したときに、加工面22aが近傍領域Rを通過する三次元格子点gm群を記述するデータである。また、それらの三次元格子点gm群に対応付けて、加工面22a上の最寄点pと、その最寄点pが位置する基本形状(頂点V,稜線C,面S)の識別子IDを記述している。以下、曲面格子点データ24に記述されている三次元格子点gmを、曲面格子点(第1三次元格子点)gmということがある。   In step S <b> 6 of FIG. 2, the curved grid point data creation unit 54 creates curved grid point data 24. As shown in FIG. 5, the curved surface grid point data 24 indicates that the machining surface 22a is in the neighborhood region R when the neighborhood region R having the radius a (diameter 2a) is set for each of the three-dimensional lattice point g group set in step S4. Is a data describing a group of three-dimensional lattice points gm passing through. Further, the identifier ID of the nearest point p on the machining surface 22a and the basic shape (vertex V, ridge line C, surface S) where the nearest point p is located in association with the three-dimensional lattice point gm group. It is described. Hereinafter, the three-dimensional lattice point gm described in the curved surface lattice point data 24 may be referred to as a curved surface lattice point (first three-dimensional lattice point) gm.

ここで、曲面格子点データ作成部54が、曲面データ22から曲面格子点データ24を作成する手順について説明する。先に説明したように、曲面データ22では、xyz空間に配置された頂点Vや稜線Cや面S等の基本形状群によって、加工面22aが記述されている。そこで、図6(a)〜(c)に例示するように、曲面格子点データ作成部54は、先ず加工面22aを構成する頂点Vに関して曲面格子点gmを特定し、次いで加工面22aを構成する稜線Cに関して曲面格子点gmを特定し、最後に加工面22aを構成する面Sに関して曲面格子点gmを特定する。
図6(a)に示すように、先ず、曲面格子点データ作成部54は、ステップS4で設定した三次元格子点g群のなかで、曲面データ22に記述されている頂点Vが近傍領域R内に存在する三次元格子点g群を特定する。図7は、その近傍領域R内に頂点Vが存在する三次元格子点gを示している。曲面格子点データ作成部54は、曲面データ22に記述されている頂点V毎に、頂点Vから各三次元格子点gまでの距離をそれぞれ計算し、計算した距離が近傍領域Rの半径a以下である三次元格子点gを、曲面格子点gmとして曲面格子点データ24に記録していく。
Here, a procedure in which the curved surface grid point data creation unit 54 creates the curved surface grid point data 24 from the curved surface data 22 will be described. As described above, in the curved surface data 22, the machining surface 22a is described by the basic shape group such as the vertex V, the ridge line C, and the surface S arranged in the xyz space. Therefore, as illustrated in FIGS. 6A to 6C, the curved surface grid point data creation unit 54 first specifies the curved surface grid point gm with respect to the vertex V that configures the processed surface 22a, and then configures the processed surface 22a. The curved grid point gm is specified for the ridge line C to be performed, and finally, the curved grid point gm is specified for the surface S constituting the processed surface 22a.
As shown in FIG. 6A, first, the curved surface grid point data creation unit 54 has a vertex V described in the curved surface data 22 in the neighborhood region R in the three-dimensional grid point g group set in step S4. A three-dimensional lattice point g group existing in the inside is specified. FIG. 7 shows a three-dimensional lattice point g in which the vertex V exists in the neighboring region R. The curved surface grid point data creation unit 54 calculates the distance from the vertex V to each three-dimensional grid point g for each vertex V described in the curved surface data 22, and the calculated distance is equal to or less than the radius a of the neighboring region R. Are recorded in the curved surface grid point data 24 as curved surface grid points gm.

図6(b)に示すように、次いで、曲面格子点データ作成部54は、ステップS4で設定した三次元格子点g群のなかで、曲面データ22に記述されている稜線Cが近傍領域Rを通過する三次元格子点g群を特定する。図8は、その近傍領域R内に稜線Cが存在する三次元格子点gを示している。図8に示すように、近傍領域R内に稜線Cが存在する三次元格子点gでは、三次元格子点gに対する稜線C上の最寄点Caまでの距離が、近傍領域Rの半径aよりも短くなる。三次元格子点gに対する稜線C上の最寄点Caは、三次元格子点gと最寄点Caを結ぶベクトルと、最寄点Caにおける接線ベクトルC’が垂直であることを拘束条件とし、ニュートン・ラプソン法の解析演算を実行することによって求めることができる。ただし、最寄点Caを求める解析演算においては、与える初期点が不適切であると、正しい最寄点Caが算出されない場合がある。そこで、曲面格子点データ作成部54は、先ず稜線C上に少なくとも一つの初期点を定めるとともに、その初期点が近傍領域R内に位置する三次元格子点gを特定する。そして、特定した三次元格子点gに関して、先に定めた稜線C上の初期点を用いて解析演算を行い、最寄点Caを算出する。それにより、稜線Cに関する一の曲面格子点gmと、それに対する稜線C上の最寄点Caを正しく特定することができる。曲面格子点データ作成部54は、特定した曲面格子点gmと最寄点Caを、曲面格子点データ24に記録する。次いで、曲面格子点データ作成部54は、先に特定した曲面格子点gmに隣接する三次元格子点gに関して、先に特定した最寄点Caを初期点に用いて解析演算を行い、隣接する三次元格子点gに対する最寄点Caを求める。そして、隣接する三次元格子点gと最寄点Caとの距離を計算し、計算した距離が近傍領域Rの半径a以下であれば、その三次元格子点gを曲面格子点gmとして曲面格子点データ24に記録する。曲面格子点データ作成部54は、先に特定した曲面格子点gmに隣接する26個の三次元格子点gのそれぞれに関して、同様の処理を実行する。以降、曲面格子点gmを特定する度に、その曲面格子点gmに隣接する26個の三次元格子点gを上記した解析演算処理の対象に加えていくことで、稜線Cに沿って位置する三次元格子点gに関して解析演算を順次行っていく。それにより、稜線Cに関する曲面格子点gm群を漏れなく正しく特定することができる。   Next, as shown in FIG. 6B, the curved surface grid point data creation unit 54 displays the ridge line C described in the curved surface data 22 in the neighborhood region R in the three-dimensional grid point g group set in step S4. A group of three-dimensional lattice points g passing through is specified. FIG. 8 shows a three-dimensional lattice point g where a ridge line C exists in the vicinity region R. As shown in FIG. 8, in the three-dimensional lattice point g where the ridge line C exists in the neighboring region R, the distance to the nearest point Ca on the ridge line C with respect to the three-dimensional lattice point g is larger than the radius a of the neighboring region R. Is also shortened. The nearest point Ca on the ridge line C with respect to the three-dimensional lattice point g is a constraint condition that the vector connecting the three-dimensional lattice point g and the nearest point Ca and the tangent vector C ′ at the nearest point Ca are perpendicular. It can be obtained by executing an analytical operation of the Newton-Raphson method. However, in the analysis calculation for obtaining the nearest point Ca, if the given initial point is inappropriate, the correct nearest point Ca may not be calculated. Therefore, the curved surface lattice point data creation unit 54 first determines at least one initial point on the ridge line C and specifies the three-dimensional lattice point g in which the initial point is located in the vicinity region R. Then, with respect to the specified three-dimensional lattice point g, an analysis calculation is performed using the initial point on the ridge line C previously determined, and the nearest point Ca is calculated. Thereby, one curved surface grid point gm related to the ridge line C and the nearest point Ca on the ridge line C can be correctly specified. The curved grid point data creation unit 54 records the identified curved grid point gm and the nearest point Ca in the curved grid point data 24. Next, the curved surface grid point data creation unit 54 performs an analysis operation on the three-dimensional grid point g adjacent to the previously specified curved surface grid point gm, using the previously specified nearest point Ca as an initial point, and is adjacent. The nearest point Ca with respect to the three-dimensional lattice point g is obtained. Then, the distance between the adjacent three-dimensional lattice point g and the nearest point Ca is calculated, and if the calculated distance is equal to or less than the radius a of the neighboring region R, the three-dimensional lattice point g is defined as the curved surface lattice point gm. Record in the point data 24. The curved surface grid point data creation unit 54 performs the same process for each of the 26 three-dimensional grid points g adjacent to the previously specified curved surface grid point gm. Thereafter, every time the curved surface grid point gm is specified, the 26 three-dimensional grid points g adjacent to the curved surface grid point gm are added to the object of the above-described analysis calculation processing, thereby being positioned along the ridge line C. Analysis operations are sequentially performed on the three-dimensional lattice point g. Thereby, the curved surface grid point gm group regarding the ridgeline C can be specified correctly without omission.

図6(c)に示すように、最後に、曲面格子点データ作成部54は、ステップS4で設定した三次元格子点g群のなかで、曲面データ22に記述されている面Sが近傍領域R内を通過する三次元格子点g群を特定する。図9は、その近傍領域R内に面Sが存在する三次元格子点gを示している。図9に示すように、近傍領域R内に面Sが存在する三次元格子点gでは、三次元格子点gに対する面S上の最寄点Saまでの距離が、近傍領域Rの半径aよりも短くなる。三次元格子点gに対する面S上の最寄点Saは、三次元格子点gと最寄点Saとを結ぶベクトルと、最寄点Saにおけるs方向の接線ベクトルSuおよびu方向の接線ベクトルSuが垂直であることを拘束条件とし、ニュートン・ラプソン法の解析演算を実行することによって求めることができる。ただし、最寄点Saを求める解析演算においては、与える初期点が不適切であると、正しい最寄点Saが算出されない場合がある。そこで、曲面格子点データ作成部54は、先ず面S上に少なくとも一つの初期点を定めるとともに、その初期点が近傍領域R内に位置する三次元格子点gを特定する。そして、特定した三次元格子点gに関して、先に定めた面S上の初期点を用いて解析演算を行い、最寄点Saを算出する。それにより、面Sに関する一の曲面格子点gmと、それに対する面S上の最寄点Saを正しく特定することができる。曲面格子点データ作成部54は、特定した曲面格子点gmと最寄点Saを、曲面格子点データ24に記録する。次いで、曲面格子点データ作成部54は、先に特定した曲面格子点gmに隣接する三次元格子点gに関して、先に特定した最寄点Saを初期点に用いて解析演算を行い、隣接の三次元格子点gに対する最寄点Saを求める。そして、三次元格子点gと最寄点Saとの距離が近傍領域Rの半径a以下であれば、曲面格子点gmとして曲面格子点データ24に記録する。曲面格子点データ作成部54は、先に特定した曲面格子点gmに隣接する26個の三次元格子点gのそれぞれに関して、同様の処理を実行する。以降、曲面格子点gmを特定する度に、その曲面格子点gmに隣接する26個の三次元格子点gを上記した解析演算処理の対象に加えていくことで、面Sに沿って位置する三次元格子点gに関して解析演算を順次行っていく。それにより、面Sに関する曲面格子点gm群を漏れなく正しく特定することができる。   As shown in FIG. 6 (c), finally, the curved surface grid point data creation unit 54 includes the surface S described in the curved surface data 22 in the neighborhood region in the three-dimensional grid point g group set in step S4. A group of three-dimensional lattice points g passing through R is specified. FIG. 9 shows a three-dimensional lattice point g where the surface S exists in the neighboring region R. As shown in FIG. 9, in the three-dimensional lattice point g where the surface S exists in the neighboring region R, the distance to the nearest point Sa on the surface S with respect to the three-dimensional lattice point g is larger than the radius a of the neighboring region R. Is also shortened. The nearest point Sa on the surface S with respect to the three-dimensional lattice point g is a vector connecting the three-dimensional lattice point g and the nearest point Sa, a tangent vector Su in the s direction and a tangent vector Su in the u direction at the nearest point Sa. Can be obtained by executing analytical operations of the Newton-Raphson method, with the constraint that the angle is vertical. However, in the analysis calculation for obtaining the nearest point Sa, if the given initial point is inappropriate, the correct nearest point Sa may not be calculated. Therefore, the curved lattice point data creation unit 54 first determines at least one initial point on the surface S and specifies a three-dimensional lattice point g in which the initial point is located in the vicinity region R. Then, with respect to the identified three-dimensional lattice point g, an analysis calculation is performed using the initial point on the surface S previously determined, and the nearest point Sa is calculated. Thereby, one curved surface grid point gm related to the surface S and the nearest point Sa on the surface S can be correctly specified. The curved grid point data creation unit 54 records the identified curved grid point gm and the nearest point Sa in the curved grid point data 24. Next, the curved surface grid point data creation unit 54 performs an analysis operation on the three-dimensional grid point g adjacent to the previously specified curved surface grid point gm, using the previously specified nearest point Sa as an initial point, The nearest point Sa with respect to the three-dimensional lattice point g is obtained. If the distance between the three-dimensional lattice point g and the nearest point Sa is equal to or less than the radius a of the neighboring region R, it is recorded in the curved surface lattice point data 24 as the curved surface lattice point gm. The curved surface grid point data creation unit 54 performs the same process for each of the 26 three-dimensional grid points g adjacent to the previously specified curved surface grid point gm. Thereafter, every time the curved surface grid point gm is specified, the 26 three-dimensional grid points g adjacent to the curved surface grid point gm are added to the object of the above-described analysis calculation processing, thereby positioning along the surface S. Analysis operations are sequentially performed on the three-dimensional lattice point g. Thereby, the curved surface grid point gm group regarding the surface S can be correctly specified without omission.

図2のステップS8では、仮オフセット格子点データ作成部56が、曲面格子点データ24を用いて、仮オフセット格子点データ26を作成する。図10に示すように、仮オフセット格子点データ26は、曲面格子点データ24に記述されている加工面22a上の最寄点p毎に、加工面22aの法線方向にオフセット距離rだけ移動させた仮オフセット点h群を定めたときに、仮オフセット点h群が近傍領域R内に位置する三次元格子点gf群を記述するデータである。以下、仮オフセット格子点データ26に記述されている三次元格子点gf、即ち、仮オフセット点hが近傍領域R内に位置する三次元格子点gfを、仮オフセット格子点gfということがある。ここで、オフセット距離rは、工具形状等に応じて予め定めておくことができる。仮オフセット格子点データ作成部56は、先ず、曲面格子点データ24に記述されている曲面格子点gmと最寄点pとの相対位置から、最寄点pをオフセットさせるオフセット方向を定める。曲面格子点gmと最寄点pとの相対位置、即ち、曲面格子点gmと最寄点pとを結ぶベクトルは、加工面22aの最寄点pにおける法線方向を示す。そのことから、曲面格子点gmと最寄点pとを通る直線状に定めた仮オフセット点hは、加工面22a上の最寄点pから加工面22aの法線方向にオフセットすることとなる。次いで、最寄点pをオフセット方向へオフセット距離rだけ移動させた仮オフセット点hを求める。そして、仮オフセット点hが近傍領域R内に位置する三次元格子点gfを特定し、仮オフセット格子点gfとして仮オフセット格子点データ26に記録していく。   In step S <b> 8 of FIG. 2, the temporary offset grid point data creation unit 56 creates temporary offset grid point data 26 using the curved grid point data 24. As shown in FIG. 10, the temporary offset grid point data 26 is moved by the offset distance r in the normal direction of the machining surface 22a for each nearest point p on the machining surface 22a described in the curved surface grid point data 24. This is data describing a three-dimensional lattice point gf group in which the temporary offset point h group is located in the vicinity region R when the provisional offset point h group is determined. Hereinafter, the three-dimensional lattice point gf described in the temporary offset lattice point data 26, that is, the three-dimensional lattice point gf where the temporary offset point h is located in the vicinity region R may be referred to as the temporary offset lattice point gf. Here, the offset distance r can be determined in advance according to the tool shape or the like. The temporary offset grid point data creation unit 56 first determines an offset direction for offsetting the nearest point p from the relative position between the curved grid point gm described in the curved grid point data 24 and the nearest point p. A relative position between the curved surface grid point gm and the nearest point p, that is, a vector connecting the curved surface grid point gm and the nearest point p indicates a normal direction at the nearest point p of the processed surface 22a. Therefore, the temporary offset point h determined in a straight line passing through the curved lattice point gm and the nearest point p is offset from the nearest point p on the machining surface 22a in the normal direction of the machining surface 22a. . Next, a temporary offset point h obtained by moving the nearest point p by the offset distance r in the offset direction is obtained. Then, the three-dimensional lattice point gf where the temporary offset point h is located in the vicinity region R is specified, and is recorded in the temporary offset lattice point data 26 as the temporary offset lattice point gf.

図2のステップS10、S12では、オフセット格子点判定部58が、仮オフセット格子点データ26に記述されている各仮オフセット点格子gfに対して、オフセット格子点であるのか否かの判定を行う。先のステップS8で求めた仮オフセット格子点gf群のそれぞれは、加工面22a上の一つの最寄点pをオフセットさせた仮オフセット点hの近傍に位置することから、加工面22aをオフセットさせたオフセット面の近傍に位置する三次元格子点となり得る。その一方において、加工面22a上の一つの最寄点pをオフセットさせた仮オフセット点hは、加工面22aの他の部分に対してオフセット距離rよりも近接することがあり、仮オフセット格子点gf群のそれぞれが、必ずしもオフセット面の近傍に位置するとは限られない。そのことから、このステップS10、S12の処理では、仮オフセット格子点gf群のなかから、加工面22aをオフセット距離だけオフセットさせたオフセット面の近傍に位置するものを抽出する。
先ず、図2のステップS10では、オフセット格子点判定部58は、仮オフセット格子点データ26から、一つの仮オフセット格子点gfを選択する。
次いで、ステップS12では、オフセット格子点判定部58が、選択した仮オフセット格子点gfが、オフセット格子点であるのか否かの判定を行う。図11を参照して、この判定処理について説明する。図11に示すように、オフセット格子点判定部58は、選択した仮オフセット格子点gfを中心に、オフセット距離rから近傍領域Rの直径2rを減算した半径r−2aの第1判定領域U1と、オフセット距離rに近傍領域Rの直径2rを加算した半径r+2aの第2判定領域U2を定める。そして、曲面格子点データ24に記述されている曲面格子点gmが、第1判定領域U1内に存在しないとともに、第1判定領域U1と第2判定領域U2の差分領域に存在する場合に、選択した仮オフセット格子点gfをオフセット格子点であると判定する。即ち、曲面格子点データ24に記述されている曲面格子点gmのなかで仮オフセット格子点gfの最寄りに位置する曲面格子点gmまでの距離が、第1判定領域U1の半径r−2a以上であって、第2判定領域U2の半径r+2a以上であるときに、選択した仮オフセット格子点gfをオフセット格子点であると判定する。このとき併せて、曲面格子点データ24に記述されている曲面格子点gmのなかで、第2判定領域U2内に存在するもの(図11中のハッチングが付された曲面格子点gm)を特定する。そして、オフセット格子点判定部58は、オフセット格子点であると判定した仮オフセット格子点gfと、その第2判定領域U2内に存在する曲面格子点gm群とを対応付けて、データ記憶部20に記録する。それにより、オフセット格子点gfと、その第2判定領域U2内に存在する曲面格子点gm群とを対応付けて記述するオフセット格子点データ28が作成される。一方、曲面格子点gmが第1判定領域U1内に存在する場合、あるいは、曲面格子点gmが第2判定領域U2内に存在しない場合には、選択した仮オフセット格子点gfはオフセット格子点ではないと判定する。この場合、ステップS10へ戻る。
In steps S10 and S12 of FIG. 2, the offset grid point determination unit 58 determines whether or not each temporary offset point grid gf described in the temporary offset grid point data 26 is an offset grid point. . Each of the temporary offset lattice points gf group obtained in the previous step S8 is positioned in the vicinity of the temporary offset point h obtained by offsetting one nearest point p on the processed surface 22a, so that the processed surface 22a is offset. It can be a three-dimensional lattice point located in the vicinity of the offset plane. On the other hand, the temporary offset point h obtained by offsetting one nearest point p on the processed surface 22a may be closer to the other portion of the processed surface 22a than the offset distance r, and the temporary offset lattice point Each of the gf groups is not necessarily located near the offset surface. Therefore, in the processing of steps S10 and S12, the temporary offset lattice point gf group is extracted that is located in the vicinity of the offset surface obtained by offsetting the machining surface 22a by the offset distance.
First, in step S <b> 10 of FIG. 2, the offset grid point determination unit 58 selects one temporary offset grid point gf from the temporary offset grid point data 26.
Next, in step S12, the offset grid point determination unit 58 determines whether or not the selected temporary offset grid point gf is an offset grid point. This determination process will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 11, the offset grid point determination unit 58 has a first determination area U1 having a radius r-2a obtained by subtracting the diameter 2r of the neighboring area R from the offset distance r around the selected temporary offset grid point gf. Then, a second determination region U2 having a radius r + 2a obtained by adding the diameter 2r of the neighboring region R to the offset distance r is determined. The curved grid point gm described in the curved grid point data 24 does not exist in the first determination area U1 and is selected in the difference area between the first determination area U1 and the second determination area U2. The provisional offset grid point gf is determined to be an offset grid point. That is, the distance to the curved grid point gm closest to the temporary offset grid point gf among the curved grid points gm described in the curved grid point data 24 is not less than the radius r-2a of the first determination region U1. If the radius r + 2a of the second determination region U2 is greater than or equal to, the selected temporary offset grid point gf is determined to be an offset grid point. At the same time, among the curved surface lattice points gm described in the curved surface lattice point data 24, those existing in the second determination region U2 (the curved surface lattice points gm with hatching in FIG. 11) are specified. To do. Then, the offset grid point determination unit 58 associates the temporary offset grid point gf determined to be an offset grid point with the curved grid point gm group existing in the second determination region U2, and associates the data storage unit 20 To record. Thereby, the offset grid point data 28 describing the offset grid point gf and the curved grid point gm group existing in the second determination region U2 in association with each other is created. On the other hand, when the curved grid point gm exists in the first determination area U1, or when the curved grid point gm does not exist in the second determination area U2, the selected temporary offset grid point gf is not an offset grid point. Judge that there is no. In this case, the process returns to step S10.

図2に示すステップS14では、オフセット点計算部60が、ステップS12で判定されたオフセット格子点gfを用いて、加工面22aへの最短距離が略オフセット距離rであるオフセット点を計算する。
図12、図13を参照して、オフセット点計算部60がオフセット点を計算する処理について説明する。図12に示すように、先ず、オフセット点計算部60は、ステップS10においてオフセット格子点であると判定したオフセット格子点gfを中心に、オフセット距離rから近傍領域Rの半径aを減算した半径r−aの第3判定領域U3と、オフセット距離rに近傍領域Rの半径aを加算した半径r+aの第4判定領域U4を定める。次いで、オフセット点計算部60は、ステップS12で特定した第2判定領域U2内に存在する曲面格子点gm群のなかから、その加工面22a上の最寄点pが、第3判定領域U3外に位置するとともに第4判定領域U4内に位置するものを特定する。図12に示す例では、曲面格子点gm1に対する最寄点p1と、曲面格子点gm2に対する最寄点p2が、第3判定領域U3外に位置するとともに第4判定領域U4内に位置することから、2つの曲面格子点gm1、gm2が特定されることとなる。
In step S14 shown in FIG. 2, the offset point calculation unit 60 calculates an offset point whose shortest distance to the processing surface 22a is approximately the offset distance r using the offset grid point gf determined in step S12.
With reference to FIG. 12 and FIG. 13, a process in which the offset point calculation unit 60 calculates an offset point will be described. As shown in FIG. 12, first, the offset point calculation unit 60 subtracts the radius r of the neighboring region R from the offset distance r around the offset grid point gf determined to be the offset grid point in step S10. A third determination region U3 of −a and a fourth determination region U4 of radius r + a obtained by adding the radius a of the neighboring region R to the offset distance r are determined. Next, the offset point calculation unit 60 determines that the nearest point p on the processing surface 22a is out of the third determination region U3 from the curved lattice point gm group existing in the second determination region U2 specified in step S12. And located within the fourth determination region U4. In the example shown in FIG. 12, the closest point p1 with respect to the curved grid point gm1 and the closest point p2 with respect to the curved grid point gm2 are located outside the third determination region U3 and within the fourth determination region U4. Two curved surface grid points gm1 and gm2 are specified.

図13に示すように、次いで、オフセット点計算部60は、特定した2つの曲面格子点gm1、gm2のそれぞれに関して、オフセット候補点q1、q2を計算する。オフセット候補点q1は、曲面格子点gm1に対する加工面22a上の最寄点p1を、オフセット格子点gfに向けて、オフセット距離rだけオフセットさせた点である。同様に、オフセット候補点q2は、曲面格子点gm2に対する加工面22a上の最寄点p2を、オフセット格子点gfに向けて、オフセット距離rだけオフセットさせた点である。
次いで、オフセット点計算部60は、オフセット候補点q1、q2のそれぞれに関して、オフセット候補点q1、q2からオフセット格子点gfまでの符号付き距離値d1、d2を計算する。符号付き距離値d1、d2は、次式、di=(最寄点piとオフセット格子点gfとの距離)−(オフセット距離r)を用いて計算される。即ち、符号付き距離値d1、d2は、オフセット候補点q1、q2とオフセット格子点gfとの距離を示すとともに、オフセット候補点q1、q2がオフセット格子点gfよりも加工面22aに対して遠方に位置していれば負の値をとり、オフセット候補点q1、q2がオフセット格子点gfよりも加工面22aに対して近隣に位置していれば正の値をとる。
最後に、オフセット点計算部60は、オフセット候補点q1、q2のなかから、符号付き距離値d1、d2が最小となったものをオフセット点に定める。図14に示す例では、オフセット候補点p1、p2のなかから、オフセット候補点q1がオフセット点と定められる。即ち、オフセット点q1は、加工面22a上の最寄点p1、p2のなかでオフセット格子点gfの最寄りに位置する最寄点p1を、オフセット格子点gfに向けてオフセット距離rだけ移動させたものとなる。オフセット点計算部60は、計算したオフセット点q1をデータ記憶部20のオフセット面データ30に記録する。このように、オフセット格子点gfに対して、一つのオフセット点q1が求められる。
As illustrated in FIG. 13, the offset point calculation unit 60 then calculates offset candidate points q1 and q2 for each of the two specified curved surface grid points gm1 and gm2. The offset candidate point q1 is a point obtained by offsetting the nearest point p1 on the processing surface 22a with respect to the curved lattice point gm1 by an offset distance r toward the offset lattice point gf. Similarly, the offset candidate point q2 is a point obtained by offsetting the nearest point p2 on the processing surface 22a with respect to the curved grid point gm2 by the offset distance r toward the offset grid point gf.
Next, the offset point calculation unit 60 calculates signed distance values d1 and d2 from the offset candidate points q1 and q2 to the offset grid point gf for each of the offset candidate points q1 and q2. The signed distance values d1 and d2 are calculated using the following formula, di = (distance between the nearest point pi and the offset grid point gf) − (offset distance r). That is, the signed distance values d1 and d2 indicate the distance between the offset candidate points q1 and q2 and the offset grid point gf, and the offset candidate points q1 and q2 are farther from the machining surface 22a than the offset grid point gf. If it is located, it takes a negative value, and if the offset candidate points q1, q2 are located closer to the machining surface 22a than the offset grid point gf, it takes a positive value.
Finally, the offset point calculation unit 60 determines the offset point having the smallest signed distance values d1 and d2 from the offset candidate points q1 and q2. In the example shown in FIG. 14, the offset candidate point q1 is determined as the offset point from the offset candidate points p1 and p2. That is, the offset point q1 is moved by the offset distance r toward the offset grid point gf, the closest point p1 located closest to the offset grid point gf among the nearest points p1 and p2 on the processing surface 22a. It will be a thing. The offset point calculation unit 60 records the calculated offset point q1 in the offset plane data 30 of the data storage unit 20. Thus, one offset point q1 is obtained for the offset grid point gf.

図2のステップS16では、図15に示すように、仮オフセット格子点データ作成部56が、オフセット格子点gfに隣接する26個の三次元格子点g群を、仮オフセット格子点として仮オフセット格子点データ26に追加する。オフセット格子点gfに隣接する26個の三次元格子点gは、オフセット格子点であり得る。そのことから、オフセット格子点gfに隣接する26個の三次元格子点gを仮オフセット格子点データ26に記録し、オフセット格子点gfに隣接する26個の三次元格子点gにも上記した処理を実行することによって、オフセット格子点gfおよびオフセット点qを漏れなく求めることができる。
図2のステップS18では、仮オフセット格子点データ26に記述されているすべての仮オフセット格子点gfに対して処理が終了したのか否かが判定される。すべての仮オフセット格子点gfに対して処理が終了するまで、ステップS10〜S16の処理が繰り返し実行され、オフセット面データ30にオフセット点qが記録されていく。最終的に、オフセット面データ30には、加工面22aからオフセット距離rだけオフセットしたオフセット点q群が記録されることとなる。即ち、加工面22aからオフセット距離rだけオフセットしたオフセット面を、オフセット点q群によって表現するオフセット面モデルが得られる。
In step S16 of FIG. 2, as shown in FIG. 15, the temporary offset grid point data creation unit 56 uses the 26 three-dimensional grid point g groups adjacent to the offset grid point gf as temporary offset grid points. It is added to the point data 26. The 26 three-dimensional lattice points g adjacent to the offset lattice point gf may be offset lattice points. Therefore, the 26 three-dimensional lattice points g adjacent to the offset lattice point gf are recorded in the temporary offset lattice point data 26, and the above-described processing is applied to the 26 three-dimensional lattice points g adjacent to the offset lattice point gf. By executing the above, it is possible to obtain the offset grid point gf and the offset point q without omission.
In step S18 of FIG. 2, it is determined whether or not the processing has been completed for all temporary offset grid points gf described in the temporary offset grid point data 26. Until the processing is completed for all the temporary offset grid points gf, the processing in steps S <b> 10 to S <b> 16 is repeatedly performed, and the offset point q is recorded in the offset plane data 30. Finally, the offset surface q 30 is recorded with an offset point q group offset by the offset distance r from the processing surface 22a. That is, an offset surface model is obtained in which an offset surface offset by an offset distance r from the processing surface 22a is expressed by the offset point q group.

以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組み合わせによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項に記載の組み合わせに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
Specific examples of the present invention have been described in detail above, but these are merely examples and do not limit the scope of the claims. The technology described in the claims includes various modifications and changes of the specific examples illustrated above.
The technical elements described in this specification or the drawings exhibit technical usefulness alone or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims at the time of filing. In addition, the technology illustrated in the present specification or the drawings achieves a plurality of objects at the same time, and has technical utility by achieving one of the objects.

オフセット面モデルの作成装置の構成を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of the preparation apparatus of an offset surface model. オフセット面モデルの作成装置が実行する処理フローを示す図。The figure which shows the processing flow which the preparation apparatus of an offset surface model performs. 曲面データが記述する曲面の一例を示す図。The figure which shows an example of the curved surface which curved surface data describes. 三次元空間に設定した三次元格子点群を示す図。The figure which shows the three-dimensional lattice point group set to the three-dimensional space. 曲面格子点群を例示する図。The figure which illustrates a curved surface lattice point group. 曲面格子点群を特定する手順を示す図。The figure which shows the procedure which specifies a curved surface grid point group. 近傍領域内に基本形状の頂点が存在する三次元格子点を示す図。The figure which shows the three-dimensional lattice point in which the vertex of a basic shape exists in a near region. 近傍領域内に基本形状の稜線が存在する三次元格子点を示す図。The figure which shows the three-dimensional lattice point in which the ridgeline of a basic shape exists in a near region. 近傍領域内に基本形状の面が存在する三次元格子点を示す図。The figure which shows the three-dimensional lattice point in which the surface of a basic shape exists in a near region. 仮オフセット格子点を例示する図。The figure which illustrates a temporary offset lattice point. 第1判定領域と第2判定領域を例示する図。The figure which illustrates the 1st judgment field and the 2nd judgment field. 第3判定領域と第4判定領域を例示する図。The figure which illustrates the 3rd judgment field and the 4th judgment field. オフセット候補点からオフセット点を選択する処理を説明する図。The figure explaining the process which selects an offset point from an offset candidate point. オフセット格子点に隣接する三次元格子点を例示する図。The figure which illustrates the three-dimensional lattice point adjacent to an offset lattice point.

符号の説明Explanation of symbols

10・・オフセット面モデルの作成装置
20・・データ記憶部
22・・曲面データ
24・・曲面格子点データ
26・・仮オフセット格子点データ
28・・オフセット格子点データ
30・・オフセット面データ
50・・データ作成部
52・・格子点設定部
54・・曲面格子点データ作成部
56・・仮オフセット格子点データ作成部
58・・オフセット格子点データ作成部
60・・オフセット点計算部
10. · Offset surface model creation device 20 ·· Data storage unit 22 · Curved surface data 24 ·· Curved surface lattice point data 26 ·· Temporary offset lattice point data 28 ·· Offset lattice point data 30 ·· Offset surface data 50 · -Data creation unit 52-Grid point setting unit 54-Curved grid point data creation unit 56-Temporary offset grid point data creation unit 58-Offset grid point data creation unit 60-Offset point calculation unit

Claims (3)

曲面を記述している曲面データに基づいて、その曲面から所定のオフセット距離だけオフセットしたオフセット面モデルを作成する装置であって、
三次元空間に配置された曲面を記述している曲面データの記憶手段と、
曲面データが曲面を記述している三次元空間に所定間隔で三次元格子点を配置し、三次元格子点毎に所定半径の近傍領域を設定する手段と、
曲面が近傍領域内を通過する第1三次元格子点と、第1三次元格子点に対する曲面上の最寄点とを特定し、第1三次元格子点と最寄点の対のデータ群を記述する第1格子点データを作成する手段と、
第1格子点データに記述されている第1三次元格子点と最寄点の対のデータ毎に、第1三次元格子点と最寄点との相対位置からオフセット方向を定め、最寄点をオフセット方向へオフセット距離だけ移動させた仮オフセット点を求め、仮オフセット点が近傍領域内に存在する第2三次元格子点を特定し、特定した第2三次元格子点群を記述する第2格子点データを作成する手段と、
第2格子点データに記述されている第2三次元格子点群から、第1格子点データに記述されている第1三次元格子点群のなかで最寄りに位置する第1三次元格子点までの距離が所定のオフセット判定範囲である第3三次元格子点群を特定し、特定した第3三次元格子点群を記述する第3格子点データを作成する手段と、
第3格子点データに記述されている第3三次元格子点毎に、第1格子点データに記述されている最寄点群のなかで最寄りに位置する最寄点を、第3三次元格子点に向けてオフセット距離だけ移動させたオフセット点を計算し、計算したオフセット点群を記述するオフセット面モデルデータを作成する手段と、
第3格子点データに記述されている第3三次元格子点に隣接する三次元格子点群を、第2格子点データに追加する手段と、
を備えるオフセット面モデルの作成装置。
An apparatus for creating an offset surface model offset from a curved surface by a predetermined offset distance based on curved surface data describing the curved surface,
Means for storing curved surface data describing curved surfaces arranged in a three-dimensional space;
Means for arranging three-dimensional lattice points at predetermined intervals in a three-dimensional space in which the curved surface data describes a curved surface, and setting a neighborhood region of a predetermined radius for each three-dimensional lattice point;
A first three-dimensional lattice point where the curved surface passes through the vicinity region and a nearest point on the curved surface with respect to the first three-dimensional lattice point are specified, and a data group of a pair of the first three-dimensional lattice point and the nearest point is obtained. Means for creating first grid point data to be described;
For each pair of data of the first 3D grid point and the nearest point described in the first grid point data, an offset direction is determined from the relative position of the first 3D grid point and the nearest point, and the nearest point Is obtained by calculating a temporary offset point obtained by moving an offset distance in the offset direction by the offset distance, specifying a second 3D lattice point where the temporary offset point exists in the vicinity region, and describing a specified second 3D lattice point group Means for creating grid point data;
From the second three-dimensional lattice point group described in the second lattice point data to the first three-dimensional lattice point located closest in the first three-dimensional lattice point group described in the first lattice point data Means for identifying a third three-dimensional lattice point group whose distance is a predetermined offset determination range, and creating third lattice point data describing the identified third three-dimensional lattice point group;
For each third 3D grid point described in the 3rd grid point data, the nearest point located in the nearest point group described in the 1st grid point data is determined as the third 3D grid point. Means for calculating an offset point moved by an offset distance toward the point, and creating offset plane model data describing the calculated offset point group;
Means for adding a three-dimensional lattice point group adjacent to the third three-dimensional lattice point described in the third lattice point data to the second lattice point data;
A device for creating an offset surface model.
前記第3格子点データの作成手段が用いる前記オフセット判定範囲は、前記オフセット距離から前記近傍領域の直径を減算した値と、前記オフセット距離に前記近傍領域の直径を加算した値までの範囲であることを特徴とする請求項1の作成装置。   The offset determination range used by the third grid point data creation means is a range from a value obtained by subtracting the diameter of the neighboring area from the offset distance and a value obtained by adding the diameter of the neighboring area to the offset distance. The creating apparatus according to claim 1. 曲面を記述している曲面データに基づいて、その曲面から所定のオフセット距離だけオフセットしたオフセット面モデルを作成する方法であって、
三次元空間に配置された曲面を記述している曲面データを用意する工程と、
曲面データが曲面を記述している三次元空間に所定間隔で三次元格子点を配置し、三次元格子点毎に所定半径の近傍領域を設定する工程と、
曲面が近傍領域内を通過する第1三次元格子点と、第1三次元格子点に対する曲面上の最寄点とを特定し、第1三次元格子点と最寄点の対のデータ群を記述する第1格子点データを作成する工程と、
第1格子点データに記述されている第1三次元格子点と最寄点の対のデータ毎に、第1三次元格子点と最寄点との相対位置からオフセット方向を定め、最寄点をオフセット方向へオフセット距離だけ移動させた仮オフセット点を求め、仮オフセット点が近傍領域内に存在する第2三次元格子点を特定し、特定した第2三次元格子点群を記述する第2格子点データを作成する工程と、
第2格子点データに記述されている第2三次元格子点群から、第1格子点データに記述されている第1三次元格子点群のなかで最寄りに位置する第1三次元格子点までの距離が所定のオフセット判定範囲である第3三次元格子点群を特定し、特定した第3三次元格子点群を記述する第3格子点データを作成する工程と、
第3格子点データに記述されている第3三次元格子点毎に、第1格子点データに記述されている最寄点群のなかで最寄りに位置する最寄点を、第3三次格子点に向けてオフセット距離だけ移動させたオフセット点を計算し、計算したオフセット点群を記述するオフセット面モデルデータを作成する工程と、
第3格子点データに記述されている第3三次元格子点に隣接する三次元格子点群を、第2格子点データに追加する工程と、
を備えるオフセット面モデルの作成方法。
A method of creating an offset surface model offset from a curved surface by a predetermined offset distance based on curved surface data describing the curved surface,
Preparing curved surface data describing curved surfaces arranged in a three-dimensional space;
Placing three-dimensional grid points at predetermined intervals in a three-dimensional space in which the curved surface data describes a curved surface, and setting a neighborhood area of a predetermined radius for each three-dimensional grid point;
A first three-dimensional lattice point where the curved surface passes through the vicinity region and a nearest point on the curved surface with respect to the first three-dimensional lattice point are specified, and a data group of a pair of the first three-dimensional lattice point and the nearest point is obtained. Creating a first grid point data to be described;
For each pair of data of the first 3D grid point and the nearest point described in the first grid point data, an offset direction is determined from the relative position of the first 3D grid point and the nearest point, and the nearest point Is obtained by calculating a temporary offset point obtained by moving an offset distance in the offset direction by the offset distance, specifying a second 3D lattice point where the temporary offset point exists in the vicinity region, and describing a specified second 3D lattice point group Creating grid point data;
From the second three-dimensional lattice point group described in the second lattice point data to the first three-dimensional lattice point located closest in the first three-dimensional lattice point group described in the first lattice point data Identifying a third three-dimensional lattice point group whose distance is a predetermined offset determination range, and creating third lattice point data describing the identified third three-dimensional lattice point group;
For each third 3D grid point described in the third grid point data, the nearest third point in the nearest point group described in the first grid point data is determined as the third tertiary grid point. A step of calculating an offset point moved by an offset distance toward, and creating offset plane model data describing the calculated offset point group;
Adding a three-dimensional lattice point group adjacent to the third three-dimensional lattice point described in the third lattice point data to the second lattice point data;
A method of creating an offset surface model comprising:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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