JP2007275908A - Laser machining apparatus - Google Patents

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靖樹 西脇
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser machining apparatus which can perform high-speed shuttering of a laser beam. <P>SOLUTION: The laser machining apparatus 1 for machining a surface of a workpiece W by irradiating it with a laser beam emitted from a laser generator 11 comprises: a shutter optical system 12 provided with a polarization control element 23 for switching a polarization condition of a laser beam B to an s-polarized light component a p-polarized light component, and a polarization beam splitter 24 which permeates one of the laser beam of the s-polarized light component and the p-polarized light component and reflects anotgher one; and a controller 20 for controlling the switching of the polarized light components permeated through the polarization control element. The laser beam having the s-polarized light component or the p-polarized light component emitted from the laser generator 11 is controlled so as to be switched to the polarized light components permeating the polarization control element 23 by the controller 20, to thereby reflect the polarization beam splitter 24 to shut off the irradiation to the workpiece W, or to permeate the polarization beam splitter 24 to irradiate the workpiece W. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、レーザビームを用いてワークの表面に凹凸を加工するレーザ加工装置に関し、特にレーザビームの完全なシャッタリングが可能なレーザ加工装置に関する。   The present invention relates to a laser processing apparatus that processes irregularities on the surface of a workpiece using a laser beam, and more particularly to a laser processing apparatus capable of complete shuttering of a laser beam.

レーザビームを用いてワークの表面に凹凸を加工するレーザ加工装置には、集光性能の良いYAGレーザによるレーザ加工装置などが使用され、光路上に高速応答できるシャッタ手段を設けたレーザ加工装置が特開2002−160086号に提案されている。これは、シャッタ手段である音響光学素子が、非加工時にレーザビームを遮断しようとした場合にも10%程度の漏れ光が生じてしまい、ワーク表面が損傷するという問題の解決を図ったものである。   A laser processing apparatus using a YAG laser with good focusing performance is used as a laser processing apparatus for processing irregularities on the surface of a workpiece using a laser beam, and a laser processing apparatus provided with shutter means capable of high-speed response on the optical path. It is proposed in Japanese Patent Laid-Open No. 2002-160086. This is a solution to the problem that the acousto-optic device, which is the shutter means, leaks about 10% even when the laser beam is cut off during non-processing, and the work surface is damaged. is there.

そのレーザ加工装置は、図6に示すように、レーザ発振器100から出射されたレーザビームが、2個の音響光学素子101,102と旋光手段103、マスク104から構成されるビーム変調器110を通過し、ガルバノミラー120によって位置調整されワークWに照射されるようになっている。減衰率特性を高めるため、2個の音響光学素子101,102は、その傾きが互いに90度異なるように配置され、その間にはレーザビームの偏光面を回転させるべく、旋光手段103はλ/2板である。そして、ビーム変調器110はコントローラ115からの電気信号によって、レーザビームを素通し又は減衰させるシャッタリング動作が行われる。
特開2002−160086号公報(第3−4頁、図1)
In the laser processing apparatus, as shown in FIG. 6, a laser beam emitted from a laser oscillator 100 passes through a beam modulator 110 including two acoustooptic elements 101 and 102, an optical rotation means 103, and a mask 104. Then, the position is adjusted by the galvanometer mirror 120 and the work W is irradiated. In order to enhance the attenuation rate characteristic, the two acoustooptic elements 101 and 102 are arranged so that their inclinations are different from each other by 90 degrees, and in order to rotate the polarization plane of the laser beam, the optical rotation means 103 is λ / 2. It is a board. The beam modulator 110 performs a shuttering operation for passing or attenuating the laser beam according to an electrical signal from the controller 115.
JP 2002-160086 (page 3-4, FIG. 1)

従来のレーザ加工装置は、複数の音響光学素子を使用したシャッタ手段によって、よりワークへの影響が無いようにするための工夫がなされたものであった。そのため、シャッタ手段とはいっても、完全にレーザビームをカットすることはできず漏れ光は依然として存在していた。
そこで、本発明は、かかる課題を解決すべく、レーザビームの完全なシャッタリングが可能なレーザ加工装置を提供することを目的とする。
The conventional laser processing apparatus has been devised so as not to affect the workpiece more by the shutter means using a plurality of acousto-optic elements. For this reason, even though the shutter means is used, the laser beam cannot be completely cut, and leakage light still exists.
Therefore, an object of the present invention is to provide a laser processing apparatus capable of complete shuttering of a laser beam in order to solve such a problem.

本発明に係るレーザ加工装置は、レーザ発振器から出射されたレーザビームをビームエクスパンダや集光レンズを配した光路を通してワークに照射することにより、そのワーク表面に加工を施すものであって、レーザビームの偏光状態をs偏光成分又はp偏光成分に切り換える偏光制御素子と、s偏光成分又はp偏光成分のレーザビームのうち一方を透過させ、他方を反射させる偏光ビームスプリッタとを備えたシャッタ光学系と、偏光制御素子を透過する偏光成分の切り換えを制御するコントローラとを有し、前記レーザ発振器から出射されたs偏光成分又はp偏光成分のレーザビームについて、コントローラによって偏光制御素子を透過する偏光成分の切り換えを制御することにより、偏光ビームスプリッタを反射させてワークへの照射を遮断し、又は偏光ビームスプリッタを透過させてワークへ照射するようにしたものであることを特徴とする。   A laser processing apparatus according to the present invention processes a surface of a workpiece by irradiating the workpiece with a laser beam emitted from a laser oscillator through an optical path provided with a beam expander or a condenser lens. A shutter optical system comprising: a polarization control element that switches a polarization state of a beam to an s-polarized component or a p-polarized component; and a polarizing beam splitter that transmits one of the laser beams of the s-polarized component or the p-polarized component and reflects the other And a controller for controlling switching of the polarization component transmitted through the polarization control element, and the polarization component transmitted through the polarization control element by the controller with respect to the laser beam of the s-polarized component or the p-polarized component emitted from the laser oscillator. By controlling the switching, the polarized beam splitter is reflected to irradiate the work Blocked or wherein the the polarizing beam splitter by transmitting is obtained so as to irradiate the workpiece.

また、本発明に係るレーザ加工装置は、レーザ発振器から出射されたレーザビームをビームエクスパンダや集光レンズを配した光路を通してワークに照射することにより、そのワーク表面に加工を施すものであって、レーザ発振器から出射された無偏光のレーザビームをs偏光成分とp偏光成分との2本のレーザビームに分ける複屈折素子と、s偏光成分とp偏光成分の2本のレーザビームのうち一方のレーザビームの偏光状態を変えて他方のレーザビームの偏光状態に合わせる1/2波長板と、2本のレーザビームの偏光状態をs偏光成分又はp偏光成分に切り換える偏光制御素子と、s偏光成分又はp偏光成分のレーザビームのうち一方を透過させ、他方を反射させる偏光ビームスプリッタと、偏光ビームスプリッタを透過した2本のレーザビームのうち一方の偏光状態を変える1/2波長板と、s偏光成分とp偏光成分との2本のレーザビームを1本の無偏光のレーザビームに戻す複屈折素子と、偏光制御素子を透過する偏光成分の切り換えを制御するコントローラとを有するものであることを特徴とする。   Further, the laser processing apparatus according to the present invention performs processing on the workpiece surface by irradiating the workpiece with the laser beam emitted from the laser oscillator through an optical path provided with a beam expander or a condenser lens. A birefringent element that divides the non-polarized laser beam emitted from the laser oscillator into two laser beams of s-polarized component and p-polarized component, and one of the two laser beams of s-polarized component and p-polarized component A half-wave plate that changes the polarization state of one laser beam to match the polarization state of the other laser beam, a polarization control element that switches the polarization state of the two laser beams to the s-polarization component or the p-polarization component, and s-polarization A polarizing beam splitter that transmits one of the component or p-polarized component laser beams and reflects the other, and two laser beams that have passed through the polarizing beam splitter. A half-wave plate that changes the polarization state of one of the beams, a birefringent element that converts two laser beams of s-polarized component and p-polarized component into one unpolarized laser beam, and a polarization control element And a controller for controlling the switching of the transmitted polarization component.

また、本発明に係るレーザ加工装置は、レーザ発振器から出射されたレーザビームをビームエクスパンダや集光レンズを配した光路を通してワークに照射することにより、そのワーク表面に加工を施すものであって、前記レーザ発振器は、直線偏光のレーザビームを出射するものであり、そのレーザビームの偏光状態をs偏光成分又はp偏光成分に切り換える偏光制御素子と、s偏光成分又はp偏光成分のレーザビームのうち一方を透過させ、他方を反射させる偏光ビームスプリッタと、偏光制御素子を透過する偏光成分の切り換えを制御するコントローラとを有するものであることを特徴とする。   Further, the laser processing apparatus according to the present invention performs processing on the workpiece surface by irradiating the workpiece with the laser beam emitted from the laser oscillator through an optical path provided with a beam expander or a condenser lens. The laser oscillator emits a linearly polarized laser beam, a polarization control element that switches a polarization state of the laser beam to an s-polarized component or a p-polarized component, and an s-polarized component or a p-polarized component laser beam. A polarization beam splitter that transmits one of them and reflects the other, and a controller that controls switching of polarization components that pass through the polarization control element.

また、本発明に係るレーザ加工装置は、前記レーザ発振器が、ファイバレーザ発振器であることが好ましい。
また、本発明に係るレーザ加工装置は、前記偏光制御素子が、電気光学素子(EOM)、音響光学素子(AOM )又はファラデーローテータであることが好ましい。
In the laser processing apparatus according to the present invention, the laser oscillator is preferably a fiber laser oscillator.
In the laser processing apparatus according to the present invention, the polarization control element is preferably an electro-optic element (EOM), an acousto-optic element (AOM), or a Faraday rotator.

よって、本発明のレーザ加工装置によれば、偏光制御素子によってs偏光成分又はp偏光成分のレーザビームを任意に切り換え、一方の偏光状態では偏光ビームスプリッタを透過させてレーザビームをワークに照射して加工を施し、他方の偏光状態では偏光ビームスプリッタを全反射させて正規の光路から分岐させ、ワークに照射されるレーザビームを完全に遮断することが可能になる。   Therefore, according to the laser processing apparatus of the present invention, the laser beam of the s-polarized component or the p-polarized component is arbitrarily switched by the polarization control element, and in one polarization state, the laser beam is irradiated to the workpiece through the polarizing beam splitter. In the other polarization state, the polarization beam splitter is totally reflected and branched from the normal optical path, so that the laser beam applied to the workpiece can be completely blocked.

次に、本発明に係るレーザ加工装置について一実施形態を図面を参照しながら以下に説明する。レーザ加工装置は、ワークの表面に対して凹凸を加工する場合、その深さ方向を制御する手段として加工速度を変化させる他、レーザ出力を増減する方法があるが、本実施形態ではレーザ出力を増減して凹凸を制御する。図1は、そうした加工を行うためのレーザ加工装置を示した概念図である。   Next, an embodiment of a laser processing apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings. The laser processing apparatus has a method of increasing / decreasing the laser output in addition to changing the processing speed as means for controlling the depth direction when processing the unevenness on the surface of the workpiece. Increase and decrease to control unevenness. FIG. 1 is a conceptual diagram showing a laser processing apparatus for performing such processing.

本実施形態のレーザ加工装置1は、ファイバレーザ発振器11を備えている。本体内部に複数のファイバー付き半導体レーザ素子とダブルクラッドファイバーとを備え、励起光源である半導体レーザ素子から出力されたレーザビームをレーザ媒質であるダブルクラッドファイバに集め、ダブルクラッドファイバ内で共振されたレーザビームを外部に出射するものである。このファイバレーザ発振器11は、従来の半導体レーザ発振器に比べ、きわめて集光性および直進性の高いレーザビームが得られる。   The laser processing apparatus 1 of this embodiment includes a fiber laser oscillator 11. The main body has a plurality of semiconductor laser elements with fibers and a double clad fiber, and the laser beam output from the semiconductor laser element as a pumping light source is collected in a double clad fiber as a laser medium and resonated in the double clad fiber. A laser beam is emitted to the outside. The fiber laser oscillator 11 can obtain a laser beam with extremely high light condensing performance and straightness as compared with the conventional semiconductor laser oscillator.

そして、本実施形態では、ファイバレーザ発振器11から出射されたレーザビームBの光路上に、ワークWへの照射と遮断を切り換えるシャッタ光学系12が配置されている。更にそのシャッタ光学系12を通ったレーザビームBのビーム径を拡大するビームエクスパンダを構成する平凹レンズ13や平凸レンズ14が順に並べられている。そして、その後方にはレーザビームBの方向を変える反射ミラー15が置かれ、反射したレーザビームBの進む先には、集光レンズ16がワークWの手前に配置されている。ワークWは、XYテーブル17上の拘束治具に固定され、加工データに従ったテーブルの移動により、照射されるレーザビームBの相対的な位置を変化させるよう構成されている。   In this embodiment, a shutter optical system 12 that switches between irradiation and blocking of the workpiece W is disposed on the optical path of the laser beam B emitted from the fiber laser oscillator 11. Further, a plano-concave lens 13 and a plano-convex lens 14 that form a beam expander that expands the beam diameter of the laser beam B that has passed through the shutter optical system 12 are arranged in order. A reflection mirror 15 that changes the direction of the laser beam B is placed behind the condenser. A condensing lens 16 is disposed in front of the workpiece W at the destination of the reflected laser beam B. The workpiece W is fixed to a restraining jig on the XY table 17 and is configured to change the relative position of the irradiated laser beam B by moving the table according to the processing data.

このレーザ加工装置1は、例えば三次元彫刻をするなどの用途に使用される。具体的には、レーザビームBの照射位置はX軸の一端から他端へ定速度で移動する。他端に達したら、Y軸が数十μm移動すると同時にX軸は他端から一端まで移動する。次に、再びレーザビームBを照射しながらX軸の一端から他端へ定速度で移動することを繰り返す。レーザビームBのon/offとその出力の増減とを調整することによって、樹脂表面に凹凸を形成して一度に複数の三次元彫刻の製造を可能にしたものである。ワークWの表面に形成された凹凸は、図3に示した断面のように階段状に形成され、1ステップ分の幅tが40μm程度である。従ってレーザ加工装置1では、1ステップ毎に出力を制御し、加工深度を調整するレーザ出力の増減を幅cの間隔で変えた加工が行われる。   The laser processing apparatus 1 is used for applications such as three-dimensional engraving. Specifically, the irradiation position of the laser beam B moves from one end of the X axis to the other end at a constant speed. When the other end is reached, the Y axis moves several tens of μm, and at the same time, the X axis moves from the other end to one end. Next, while moving the laser beam B again, the movement from one end of the X axis to the other end at a constant speed is repeated. By adjusting on / off of the laser beam B and increase / decrease in its output, the surface of the resin is formed with irregularities, and a plurality of three-dimensional engravings can be manufactured at a time. The unevenness formed on the surface of the workpiece W is formed in a step shape as in the cross section shown in FIG. 3, and the width t for one step is about 40 μm. Therefore, the laser processing apparatus 1 performs processing by controlling the output for each step and changing the increase / decrease in the laser output for adjusting the processing depth at intervals of the width c.

ところで、本実施形態ではレーザ発振器としてファイバレーザ発振器11を用いているが、レーザ出力を増減する発振器としてはこの他にも例えばランプ励起YAG CW 発振器やLD励起YAG CW 発振器が考えられる。
ランプ励起YAG CW 発振器は、レーザ出力を高速にアナログ増減するものであり、発振器内に音響光学素子を利用したAO−Qスイッチを備え、そのAO−Qスイッチを駆動するRFドライバが接続されている。なお、AO−Qスイッチに負荷するRFパワーをアナログ変調させることで、図4に示すようにレーザ出力が変化するようになる。
By the way, although the fiber laser oscillator 11 is used as the laser oscillator in the present embodiment, for example, a lamp-excited YAG CW oscillator or an LD-excited YAG CW oscillator can be considered as an oscillator that increases or decreases the laser output.
The lamp-excited YAG CW oscillator increases and decreases analog laser output at high speed. The oscillator includes an AO-Q switch using an acousto-optic element, and an RF driver that drives the AO-Q switch is connected to the lamp-excited YAG CW oscillator. . In addition, the laser output is changed as shown in FIG. 4 by analog modulation of the RF power loaded on the AO-Q switch.

一方、LD励起YAG CW 発振器は、LD自体の出力を高速に駆動することによってレーザ出力の増減が調整されている。これは、ランプ励起のようにAO−Qスイッチに負荷するRFパワーを増減させることでもレーザ出力を増減させることは可能であるが、同じレーザ出力(100〜200Wクラス)で比較した場合、集光性能で劣るため微細加工には不向きであった。この点、ファイバレーザはビームパラメータであるM2 値が良く集光性が非常に高い。しかしながら、ファイバレーザは、レーザビームの発振と停止の際、on/off制御に対して若干のタイムラグ(数十msecオーダー)が生じるため、μsecオーダーの制御を必要とする加工には十分でない。 On the other hand, in the LD-pumped YAG CW oscillator, increase / decrease in laser output is adjusted by driving the output of the LD itself at high speed. Although it is possible to increase / decrease the laser output by increasing / decreasing the RF power applied to the AO-Q switch as in the case of lamp excitation, it is possible to collect light when compared with the same laser output (100 to 200 W class). Since it is inferior in performance, it is not suitable for fine processing. In this respect, the fiber laser has a good M 2 value, which is a beam parameter, and has a very high light collecting property. However, the fiber laser has a slight time lag (on the order of several tens of msec) with respect to the on / off control when the laser beam is oscillated and stopped.

また、前述したランプ励起のレーザ発振器の他YAG CW 発振器は、AO−Qスイッチに負荷するRFパワーをアナログ信号によって変調することで、非常に高速駆動(数百nsecオーダー)が可能である。しかし、この場合、発振器内のQ値を変化させることによってレーザ出力を増減させることによる問題があった。ここで図5は、Q値の増減に伴うRFパワーの波形とレーザ発信波形を示した図である。特に、図5(a)は、RFパワーを急激に減少させた場合を示し、図5(b)は、逆にRFパワーを急激に増加させた場合を示している。   Further, the YAG CW oscillator in addition to the above-described lamp-pumped laser oscillator can be driven at a very high speed (on the order of several hundreds nsec) by modulating the RF power loaded on the AO-Q switch with an analog signal. However, in this case, there is a problem that the laser output is increased or decreased by changing the Q value in the oscillator. Here, FIG. 5 is a diagram showing the waveform of the RF power and the laser transmission waveform as the Q value increases and decreases. In particular, FIG. 5A shows a case where the RF power is suddenly decreased, and FIG. 5B shows a case where the RF power is suddenly increased.

発振器内のQ値を実線で示すように変化させた場合、RFパワーを急激に増減させたファーストパルス現象時のレーザ発振波形は、いずれも直ちに安定することなく不安定な波形変化が現れた。例えば、Q値を急激に減少させて図5(a)に示すようにRFパワーをt1時に一気に下げると、それに伴ってレーザ出力は所定の値に上がることになる。しかし、その際レーザ出力が所定値に安定するまでは、t1時からt2時までのレーザ発振波形に現れるように、一瞬急激に値が跳ね上がり、その後上下に変動した後に安定する。一方、Q値を急激に増加させて図5(b)に示すようにRFパワーをt3時に一気に上げると、それに伴ってレーザ出力は所定の値にまで下がることになる。しかし、この場合でもレーザ出力が所定値に安定するまでは、t3時からt4時までのレーザ発振波形に現れるように、一定時間値が落ち込んだ後に上昇して安定する。   When the Q value in the oscillator was changed as indicated by the solid line, the laser oscillation waveform at the time of the first pulse phenomenon in which the RF power was rapidly increased or decreased was not immediately stabilized but an unstable waveform change appeared. For example, when the Q value is sharply decreased and the RF power is rapidly reduced at t1 as shown in FIG. 5A, the laser output is increased to a predetermined value accordingly. However, until the laser output is stabilized at a predetermined value at that time, the value jumps up instantaneously as shown in the laser oscillation waveform from t1 to t2 and then stabilizes after fluctuating up and down. On the other hand, when the Q value is rapidly increased and the RF power is rapidly increased at t3 as shown in FIG. 5B, the laser output is lowered to a predetermined value accordingly. However, even in this case, until the laser output stabilizes to a predetermined value, the value rises and stabilizes after a certain period of time, as shown in the laser oscillation waveform from t3 to t4.

この結果、AO−Qスイッチを用いて高速にアナログ変調する場合、こうしてレーザ出力に不安定な変化が生じるため、ワークWに対して安定したエネルギを供給できないことになり、微細加工に影響を及ぼすことになる。本実施形態では、こうした点を考慮し、励起光にLDレーザを使用したファイバレーザ発振器11を使用している。しかし前述したようにファイバレーザにも課題があるため、本実施形態では、以下に示すようにその課題解決を図っている。   As a result, when analog modulation is performed at high speed using the AO-Q switch, an unstable change occurs in the laser output in this way, so that stable energy cannot be supplied to the workpiece W, which affects fine processing. It will be. In the present embodiment, in consideration of such points, the fiber laser oscillator 11 using an LD laser as pumping light is used. However, since the fiber laser has a problem as described above, the present embodiment attempts to solve the problem as described below.

次に、図2に従って、レーザ加工装置1を構成するシャッタ光学系12について説明する。図2は、シャッタ光学系12の構成を示した概念図である。
ファイバーレーザ発振器11から出射されたレーザビームBは、一般に偏光制御されていないランダム偏光である。そこで、シャッタ光学系12には先ず、このレーザビームBをp偏光成分とs偏光成分のレーザビームに分ける複屈折素子21が設けられている。
Next, the shutter optical system 12 constituting the laser processing apparatus 1 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a conceptual diagram showing the configuration of the shutter optical system 12.
The laser beam B emitted from the fiber laser oscillator 11 is generally randomly polarized light whose polarization is not controlled. Therefore, the shutter optical system 12 is first provided with a birefringent element 21 that divides the laser beam B into a p-polarized component component and an s-polarized component component.

そして、p偏光成分とs偏光成分のレーザビームうち、p偏光成分の光路上に1/2波長板22が配置され、p偏光成分がこの1/2波長板22を通ってs偏光成分に変えられるようになっている。従って、偏光状態のレーザビームは2本のレーザビームが共に一旦s偏光成分に揃えられるようになっている。そして、更に2本のs偏光成分が透過するように、光路上にはレーザビームの偏光状態を切換制御する電気光学素子(EOM)23が配置されている。このEOM23は、2本のs偏光成分を同時に偏光制御するものであって、本実施形態では負荷電圧が加わった時にs偏光がp偏光に変えられ、s偏光成分とp偏光成分とが選択的に取り出せるようになっている。   Of the laser beams of the p-polarized component and the s-polarized component, the half-wave plate 22 is arranged on the optical path of the p-polarized component, and the p-polarized component passes through the half-wave plate 22 and is changed to the s-polarized component. It is supposed to be. Therefore, the two laser beams in the polarized laser beam are once aligned with the s-polarized component. Further, an electro-optic element (EOM) 23 for switching and controlling the polarization state of the laser beam is disposed on the optical path so that two s-polarized light components are transmitted. The EOM 23 controls the polarization of two s-polarized components simultaneously. In this embodiment, when a load voltage is applied, the s-polarized light is changed to p-polarized light, and the s-polarized component and the p-polarized component are selectively used. Can be taken out.

レーザビームの光路上には更に偏光成分スプリッタ24が配置されている。偏光成分スプリッタは偏光状態によって偏光成分を反射あるいは透過させるものであり、特に本実施形態の偏光成分スプリッタ24は、p偏光成分を反射させs偏光成分を透過させるようにしたものである。従って、このシャッタ光学系12では、偏光成分スプリッタ24を反射したp偏光成分のレーザビームが正規の光路から外れて分岐され、不図示のダンパへと照射されるようになっている。   A polarization component splitter 24 is further arranged on the optical path of the laser beam. The polarization component splitter reflects or transmits the polarization component depending on the polarization state. In particular, the polarization component splitter 24 of the present embodiment reflects the p polarization component and transmits the s polarization component. Therefore, in the shutter optical system 12, the laser beam of the p-polarized component reflected by the polarization component splitter 24 is branched off from the normal optical path, and is irradiated to a damper (not shown).

更に正規の光路上には、偏光成分スプリッタ24を透過した2本のs偏光成分のうち、一方の側の光路上に1/2波長板25が設置されている。本実施形態では、複屈折素子21で2本に分けられたうち、p偏光成分側の光路上に1/2波長板25が設けられている。従って、レーザビームは1/2波長板22によってs偏光成分に変えられ、再びこの1/2波長板25によってp偏光成分に戻されるようになっている。そして、光路上にこのp偏光成分と、偏光成分スプリッタ24を透過したもう1本のs偏光成分とが共に透過する複屈折素子26が配置されている。複屈折素子26は、p偏光成分とs偏光成分のレーザビームを、ファイバレーザ発振器11から出射されたレーザビームBと同じランダム偏光状態に戻すものである。   Further, a half-wave plate 25 is provided on the optical path on one side of the two s-polarized components transmitted through the polarization component splitter 24 on the regular optical path. In the present embodiment, a half-wave plate 25 is provided on the optical path on the p-polarized component side among the two divided by the birefringent element 21. Therefore, the laser beam is changed to the s-polarized component by the half-wave plate 22 and is again returned to the p-polarized component by the half-wave plate 25. A birefringent element 26 that transmits both the p-polarized component and the other s-polarized component transmitted through the polarization component splitter 24 is disposed on the optical path. The birefringent element 26 returns the laser beam of the p-polarized component and the s-polarized component to the same random polarization state as the laser beam B emitted from the fiber laser oscillator 11.

こうしてシャッタ光学系12では、偏光制御が可能な状態にしてシャッタリングを行うようにしたものであり、ワークWに対する照射のon/offはEOM23の制御によって行われる。従って、そのEOM23には図1に示すように、EO電源18を介してコントローラ20が接続されている。このコントローラ20は、EOM23の他、ファイバレーザ発振器11を駆動させるレーザ電源19や、ワークWを載せたXYテーブル17にも接続されている。そして、例えばこのレーザ加工装置1が前述した三次元彫刻の加工を行う場合には、このコントローラ20の記憶手段に所定の加工プログラムが記憶され、それに基づいてファイバレーザ発振器11やEOM23、更にXYテーブル17を駆動制御するように構成されている。   Thus, the shutter optical system 12 is configured to perform shuttering in a state in which polarization control is possible, and irradiation on / off of the workpiece W is performed by control of the EOM 23. Therefore, the controller 20 is connected to the EOM 23 via the EO power source 18 as shown in FIG. In addition to the EOM 23, the controller 20 is connected to a laser power source 19 for driving the fiber laser oscillator 11 and an XY table 17 on which a work W is placed. For example, when the laser processing apparatus 1 performs the above-described processing of the three-dimensional engraving, a predetermined processing program is stored in the storage means of the controller 20, and based on this, the fiber laser oscillator 11, the EOM 23, and the XY table are stored. 17 is configured to drive and control.

そこで次に、本実施形態のレーザ加工装置1についてその動作を説明する。レーザ加工装置1では、コントローラ20からレーザ電源19へ制御信号が送られ、そのレーザ電源19を介してファイバレーザ発振器11の励起源が起動する。そのため、ファイバレーザ発振器11では励起光源である半導体レーザ素子にエネルギが供給されてレーザビームが出射される。半導体レーザ素子から出射されたレーザビームは、レーザ媒質であるダブルクラッドファイバに集められて内部で共振し、きわめて集光性および直進性の高いレーザビームBとなる。   Then, next, the operation | movement is demonstrated about the laser processing apparatus 1 of this embodiment. In the laser processing apparatus 1, a control signal is sent from the controller 20 to the laser power source 19, and the excitation source of the fiber laser oscillator 11 is activated via the laser power source 19. Therefore, in the fiber laser oscillator 11, energy is supplied to the semiconductor laser element which is an excitation light source, and a laser beam is emitted. The laser beam emitted from the semiconductor laser element is collected in a double clad fiber that is a laser medium and resonates inside to become a laser beam B having extremely high light condensing properties and straightness.

このレーザビームBはランダム偏光であるが、シャッタ光学系12の複屈折素子によってs偏光成分とp偏光成分とに分けられる。そして、分けられた一方p偏光成分が、その光路上にある1/2波長板22によってs偏光成分に変えられ、s偏光成分である2本のレーザビームがEOM23を透過する。このEOM23は、コントローラ20の制御信号によってEO電源18を介して負荷電圧が制御される。従って、その負荷電圧の制御によってs偏光成分とp偏光成分のいずれかのレーザビームが選択的に取り出せられる。   The laser beam B is randomly polarized, but is divided into an s-polarized component and a p-polarized component by the birefringent element of the shutter optical system 12. The divided p-polarized component is converted into an s-polarized component by the half-wave plate 22 on the optical path, and the two laser beams as the s-polarized component are transmitted through the EOM 23. The load voltage of the EOM 23 is controlled via the EO power source 18 by a control signal from the controller 20. Accordingly, either the s-polarized component or the p-polarized component laser beam can be selectively extracted by controlling the load voltage.

そこで、ワークWへのレーザビームBの照射を遮断する場合には、EOM23に負荷電圧が加えられる。このときEOM23では偏光状態が変えられるため、2本のレーザビームは、このEOM23を透過してs偏光成分からp偏光成分に変えられる。そして、p偏光成分の2本のレーザビームは、偏光成分スプリッタ24を全反射して不図示のダンパへと照射されるため、ファイバレーザ発振器11から出射されたレーザビームBが全て正規の光路から外れる。こうしてEOM23の制御によって、レーザビームBがワークWへ照射されることなく、完全なシャッタリングが行われる。   Therefore, when blocking the irradiation of the laser beam B on the workpiece W, a load voltage is applied to the EOM 23. At this time, since the polarization state is changed in the EOM 23, the two laser beams pass through the EOM 23 and are changed from the s-polarized component to the p-polarized component. Then, the two laser beams of the p-polarized component are totally reflected by the polarization component splitter 24 and irradiated to a damper (not shown), so that the laser beam B emitted from the fiber laser oscillator 11 is all from the normal optical path. Come off. Thus, complete shuttering is performed without irradiating the workpiece W with the laser beam B by the control of the EOM 23.

一方、EOM23に負荷電圧を加えなければ、s偏光成分のレーザビームはEOM23をそのまま透過し、更に偏光成分スプリッタ24も透過することになる。そして、偏光成分スプリッタ24を透過したレーザビームのうち、一方が1/2波長板25を通ってp偏光成分に変えられる。そして、このp偏光成分のレーザビームと、偏光成分スプリッタ24を透過したもう1本のs偏光成分のレーザビームとが複屈折素子26を透過し、そこでランダム偏光状態の1本のレーザビームBに戻される。   On the other hand, if no load voltage is applied to the EOM 23, the laser beam of the s-polarized component is transmitted through the EOM 23 as it is, and further transmitted through the polarization component splitter 24. One of the laser beams transmitted through the polarization component splitter 24 passes through the half-wave plate 25 and is converted into a p-polarized component. Then, this p-polarized component laser beam and another s-polarized component laser beam transmitted through the polarization component splitter 24 are transmitted through the birefringent element 26, where they are converted into one laser beam B in a randomly polarized state. Returned.

シャッタ光学系12を出たレーザビームBは、ビームエクスパンダの平凹レンズ13及び平凸レンズ14によって拡大された平行光になって反射ミラー15を反射する。その後、レーザビームBは集光レンズ16によってワークW表面の所定加工ポイントに極小スポットとして照射される。XYテーブル17の上には拘束治具によってワークWが設置され、加工データに基づいてテーブルの移動が制御される。従って、XYテーブル17上のワークWに対してレーザビームBが照射されれば、相対的に照射位置が移動し、またレーザビームBのon/offやその出力の増減が調整され、ワークWの表面に対して所定のレーザ加工が施される。   The laser beam B exiting the shutter optical system 12 becomes parallel light expanded by the plano-concave lens 13 and the plano-convex lens 14 of the beam expander, and reflects the reflection mirror 15. Thereafter, the laser beam B is irradiated as a minimal spot on a predetermined processing point on the surface of the workpiece W by the condenser lens 16. A workpiece W is placed on the XY table 17 by a restraining jig, and the movement of the table is controlled based on the machining data. Accordingly, if the workpiece W on the XY table 17 is irradiated with the laser beam B, the irradiation position is relatively moved, and the on / off of the laser beam B and the increase / decrease in its output are adjusted. A predetermined laser processing is performed on the surface.

よって、本実施形態のレーザ加工装置1によれば、シャッタ光学系12においてランダム偏光状態のレーザビームBをs偏光成分とp偏光成分に分け、その後2本のレーザビームをp偏光にすることで正規の光路から分岐し、ワークWに照射されるレーザビームBを完全に遮断することが可能になった。そして、このEOM23の制御によって高速シャッタリングを行うことができるため、ワークWに対する照射のon/offをEOM23の制御によって行い、ファイバレーザ発振器11の制御で問題であったタイムラグを解消することができた。   Therefore, according to the laser processing apparatus 1 of the present embodiment, the laser beam B in the randomly polarized state is divided into the s-polarized component and the p-polarized component in the shutter optical system 12, and then the two laser beams are converted to the p-polarized light. It has become possible to completely block the laser beam B branched from the regular optical path and irradiated onto the workpiece W. Since the high-speed shuttering can be performed by the control of the EOM 23, the irradiation on / off of the work W can be performed by the control of the EOM 23, and the time lag which has been a problem in the control of the fiber laser oscillator 11 can be solved. It was.

また、ファイバレーザは、ランプ励起やLD励起のレーザ発振器特有の高出力化によるビームパラメータの劣化が非常に少なく、集光時のスポット径もシミュレーション通りの値が期待できて、集光時にはよりエネルギ密度を高めることができる。従って、本実施形態のレーザ加工装置1によれば、シャッタ光学系12を設けたことによって、ファイバレーザの利点を活かし、ワークWに対してより精細かつ高速な加工が加工になった。
また、シャッタ光学系12では、レーザビームBをワークWへ照射する場合、p偏光成分を一旦s偏光にして再度p偏光に戻すようにしたため、ファイバレーザ発振器11からの出射時と同じ偏光状態でワークWに照射するためエネルギーロスがない。
In addition, the fiber laser has very little deterioration in beam parameters due to the high output characteristic of the laser oscillator of lamp excitation and LD excitation, and the spot diameter at the time of condensing can be expected to be a value as simulated, and more energy can be obtained at the time of condensing. The density can be increased. Therefore, according to the laser processing apparatus 1 of the present embodiment, since the shutter optical system 12 is provided, the finer and higher-speed processing of the workpiece W is processed by taking advantage of the fiber laser.
Further, in the shutter optical system 12, when the laser beam B is irradiated onto the workpiece W, the p-polarized component is once changed to s-polarized light and then returned to p-polarized light, so that the polarization state is the same as that emitted from the fiber laser oscillator 11. There is no energy loss because the work W is irradiated.

以上、本発明のレーザ加工装置について一実施形態を説明したが、本発明はこれに限定されることなく、その趣旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。
例えば、前記実施形態では、ファイバレーザ発振器11はランダム偏光のレーザビームを出射するものであったが、ブリュースタ窓を設けて一つの偏光のみの選択が可能な直線偏光のレーザビームを出射するファイバレーザ発振器であれば、s偏光及びp偏光に分ける複屈折素子21,26や1/2波長板22,25を省略することができる。従って、直線偏光のレーザビームを出射するファイバレーザ発振器であれば、より構成を簡易なものとしてコンパクトなレーザ加工装置にすることができる。
As mentioned above, although one Embodiment was described about the laser processing apparatus of this invention, this invention is not limited to this, A various change is possible in the range which does not deviate from the meaning.
For example, in the above embodiment, the fiber laser oscillator 11 emits a randomly polarized laser beam. However, a fiber that emits a linearly polarized laser beam that is provided with a Brewster window and can select only one polarized light. In the case of a laser oscillator, the birefringent elements 21 and 26 and the half-wave plates 22 and 25 that are divided into s-polarized light and p-polarized light can be omitted. Therefore, a fiber laser oscillator that emits a linearly polarized laser beam can be a simpler configuration and a compact laser processing apparatus.

また、前記実施形態では、シャッタ光学系12内でレーザビームBの偏光状態を切換えるためにEOM23を使用したが、これ以外にも光アイソレータと呼ばれる偏光方向を回転させるファラデーローテータや、偏光素子であるAOMなどを用いるようにしてもよい。こうしたファラデーローテータやAOMなどの偏光制御素子を使用する場合でも、EOM23と同様にon/off制御することで高速シャッタリングが可能である。
また、前記実施形態では、EOM23にs偏光成分を入射させて偏光成分スプリッタ24でp偏光成分を反射させるようにしたが、こうした関係をs偏光とp偏光とで逆転させてもよい。
In the above embodiment, the EOM 23 is used to switch the polarization state of the laser beam B in the shutter optical system 12, but other than this, a Faraday rotator or a polarization element that rotates a polarization direction called an optical isolator is used. AOM or the like may be used. Even when such a polarization control element such as a Faraday rotator or an AOM is used, high-speed shuttering is possible by performing on / off control in the same manner as the EOM 23.
In the above embodiment, the s-polarized component is incident on the EOM 23 and the p-polarized component is reflected by the polarization component splitter 24. However, this relationship may be reversed between the s-polarized light and the p-polarized light.

また、前記実施形態では、ファイバレーザ発振器11を使用し、前述したようにタイムラグの解消をについて説明したが、このファイバレーザ発振器11の代わりに、AO−Qスイッチを使用するランプYAG CW 励起発振器やLD励起YAG CW 発振器であってもよい。この場合は、図5に示したようにレーザ出力に不安定な変化が生じるが、EOM23によってon/off制御することで高速シャッタリングを行い、ワークWに対して安定したレーザビームの照射が可能になる。
更に、前記実施形態では、シャッタリングするEOM23などの光学素子へ急激なon/off制御を行うことを想定して説明したが、制御信号をアナログ的に変調することによって透過する偏光成分をアナログ的に変調するようにしてもよい。
In the above embodiment, the fiber laser oscillator 11 is used to eliminate the time lag as described above. Instead of the fiber laser oscillator 11, a lamp YAG CW excitation oscillator that uses an AO-Q switch, An LD-excited YAG CW oscillator may be used. In this case, an unstable change occurs in the laser output as shown in FIG. 5. However, high-speed shuttering can be performed by on / off control by the EOM 23, and a stable laser beam can be irradiated to the workpiece W. become.
Furthermore, in the above-described embodiment, it has been described on the assumption that a sudden on / off control is performed on an optical element such as the EOM 23 that performs shuttering. However, a polarization component that is transmitted by analogly modulating the control signal is analog. You may make it modulate to.

本発明に係るレーザ加工装置の一実施形態を示した概念図である。It is the conceptual diagram which showed one Embodiment of the laser processing apparatus which concerns on this invention. 実施形態のレーザ加工装置を構成するシャッタ光学系を示した概念図である。It is the conceptual diagram which showed the shutter optical system which comprises the laser processing apparatus of embodiment. ワークの加工端面を示した図である。It is the figure which showed the process end surface of the workpiece | work. RFパワーとレーザ出力との関係をグラフに示した図である。It is the figure which showed the relationship between RF power and a laser output on the graph. Q値の増減に伴うRFパワーの波形とレーザ発信波形を示した図である。It is the figure which showed the waveform of RF power and the laser transmission waveform accompanying increase / decrease in Q value. 従来のレーザ加工装置を示した概念図である。It is the conceptual diagram which showed the conventional laser processing apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 レーザ加工装置
11 ファイバレーザ発振器
12 シャッタ光学系
13 平凹レンズ
14 平凸レンズ
15 反射ミラー
16 集光レンズ
17 XYテーブル
18 EOM電源
19 レーザ電源
20 コントローラ
21,26 複屈折素子
22,25 1/2波長板
23 EOM
24 偏光成分スプリッタ
B レーザビーム
W ワーク
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Laser processing apparatus 11 Fiber laser oscillator 12 Shutter optical system 13 Plano-concave lens 14 Plano-convex lens 15 Reflection mirror 16 Condensing lens 17 XY table 18 EOM power supply 19 Laser power supply 20 Controller 21, 26 Birefringence elements 22, 25 1/2 wavelength plate 23 EOM
24 Polarization component splitter B Laser beam W Workpiece

Claims (5)

レーザ発振器から出射されたレーザビームをビームエクスパンダや集光レンズを配した光路を通してワークに照射することにより、そのワーク表面に加工を施すレーザ加工装置において、
レーザビームの偏光状態をs偏光成分又はp偏光成分に切り換える偏光制御素子と、s偏光成分又はp偏光成分のレーザビームのうち一方を透過させ、他方を反射させる偏光ビームスプリッタとを備えたシャッタ光学系と、偏光制御素子を透過する偏光成分の切り換えを制御するコントローラとを有し、
前記レーザ発振器から出射されたs偏光成分又はp偏光成分のレーザビームについて、コントローラによって偏光制御素子を透過する偏光成分の切り換えを制御することにより、偏光ビームスプリッタを反射させてワークへの照射を遮断し、又は偏光ビームスプリッタを透過させてワークへ照射するようにしたものであることを特徴とするレーザ加工装置。
In a laser processing apparatus for processing a workpiece surface by irradiating the workpiece with a laser beam emitted from a laser oscillator through an optical path provided with a beam expander or a condenser lens,
Shutter optics comprising a polarization control element that switches the polarization state of a laser beam to an s-polarized component or a p-polarized component, and a polarizing beam splitter that transmits one of the s-polarized component or p-polarized component laser beams and reflects the other. A system and a controller for controlling the switching of the polarization component transmitted through the polarization control element,
For the laser beam of s-polarized component or p-polarized component emitted from the laser oscillator, the polarization beam splitter is reflected to control the irradiation of the workpiece by controlling the switching of the polarized component that passes through the polarization control element by the controller. Or a laser beam machining apparatus, wherein the workpiece is irradiated with light through a polarizing beam splitter.
レーザ発振器から出射されたレーザビームをビームエクスパンダや集光レンズを配した光路を通してワークに照射することにより、そのワーク表面に加工を施すレーザ加工装置において、
レーザ発振器から出射された無偏光のレーザビームをs偏光成分とp偏光成分との2本のレーザビームに分ける複屈折素子と、
s偏光成分とp偏光成分の2本のレーザビームのうち一方のレーザビームの偏光状態を変えて他方のレーザビームの偏光状態に合わせる1/2波長板と、
2本のレーザビームの偏光状態をs偏光成分又はp偏光成分に切り換える偏光制御素子と、
s偏光成分又はp偏光成分のレーザビームのうち一方を透過させ、他方を反射させる偏光ビームスプリッタと、
偏光ビームスプリッタを透過した2本のレーザビームのうち一方の偏光状態を変える1/2波長板と、
s偏光成分とp偏光成分との2本のレーザビームを1本の無偏光のレーザビームに戻す複屈折素子と、
偏光制御素子を透過する偏光成分の切り換えを制御するコントローラとを有するものであることを特徴とするレーザ加工装置。
In a laser processing apparatus that processes a workpiece surface by irradiating the workpiece with a laser beam emitted from a laser oscillator through an optical path provided with a beam expander or a condenser lens,
A birefringent element that divides an unpolarized laser beam emitted from a laser oscillator into two laser beams of an s-polarized component and a p-polarized component;
a half-wave plate that changes the polarization state of one of the two laser beams of the s-polarization component and the p-polarization component to match the polarization state of the other laser beam;
A polarization control element that switches the polarization state of the two laser beams to an s-polarized component or a p-polarized component;
a polarizing beam splitter that transmits one of the laser beams of the s-polarized component or the p-polarized component and reflects the other;
A half-wave plate for changing the polarization state of one of the two laser beams transmitted through the polarizing beam splitter;
a birefringent element that converts two laser beams of an s-polarized component and a p-polarized component into one unpolarized laser beam;
A laser processing apparatus comprising: a controller that controls switching of a polarization component transmitted through the polarization control element.
レーザ発振器から出射されたレーザビームをビームエクスパンダや集光レンズを配した光路を通してワークに照射することにより、そのワーク表面に加工を施すレーザ加工装置において、
前記レーザ発振器は、直線偏光のレーザビームを出射するものであり、
そのレーザビームの偏光状態をs偏光成分又はp偏光成分に切り換える偏光制御素子と、
s偏光成分又はp偏光成分のレーザビームのうち一方を透過させ、他方を反射させる偏光ビームスプリッタと、
偏光制御素子を透過する偏光成分の切り換えを制御するコントローラとを有するものであることを特徴とするレーザ加工装置。
In a laser processing apparatus that processes a workpiece surface by irradiating the workpiece with a laser beam emitted from a laser oscillator through an optical path provided with a beam expander or a condenser lens,
The laser oscillator emits a linearly polarized laser beam,
A polarization control element that switches the polarization state of the laser beam to an s-polarized component or a p-polarized component;
a polarizing beam splitter that transmits one of the laser beams of the s-polarized component or the p-polarized component and reflects the other;
A laser processing apparatus comprising: a controller that controls switching of a polarization component transmitted through the polarization control element.
請求項1乃至請求項3のいずれかに記載するレーザ加工装置において、
前記レーザ発振器は、ファイバレーザ発振器であることを特徴とするレーザ加工装置。
In the laser processing apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The laser processing apparatus, wherein the laser oscillator is a fiber laser oscillator.
請求項1乃至請求項4のいずれかに記載するレーザ加工装置において、
前記偏光制御素子は、電気光学素子(EOM)、音響光学素子(AOM )又はファラデーローテータであることを特徴とするレーザ加工装置。
In the laser processing apparatus according to any one of claims 1 to 4,
The laser processing apparatus, wherein the polarization control element is an electro-optic element (EOM), an acousto-optic element (AOM), or a Faraday rotator.
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