JP2007271551A - Environmental testing device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an environmental testing device capable of prolonging the time, when there is condensation, or controlling to some extent, the time condensation is generated. <P>SOLUTION: This environmental testing device 1 for generating condensation on a test object 30, by alternately exposing the test object 30 to a low-temperature low-humidity environment and to a high-temperature high-humidity environment, having at least a ventilating means and a ventilation environment control means 10 can change at least one among the ventilation amount, wind velocity and wind direction to change by the ventilation environment control means 10. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、環境試験装置に関するものであり、特に被試験物に結露させてその影響を調査する環境試験装置に関するものである。   The present invention relates to an environmental test apparatus, and more particularly to an environmental test apparatus for investigating the influence of condensation on a test object.

例えば冬季に、屋外で携帯電話やデジタルカメラ、ビデオカメラ等の電子機器を使用し、これを暖房された屋内や車内に持ち込むと電子機器に結露が生じる場合がある。また冬季や梅雨時に屋外で上記した様な電子機器を使用すると、電子機器に結露が生じる場合がある。
この様に屋内と屋外の双方で使用される電子機器や屋外で使用される頻度の高い電子機器は、結露にさらされる機会が多い。
さらに近年、使用環境が多様化し、例えば浴室の様な極めて湿度が高い環境において電子機器を使用する様な例も見られる。この様な環境下で使用される機器は、結露にさらされる機会が極めて多い。
For example, in winter, when an electronic device such as a mobile phone, a digital camera, or a video camera is used outdoors and it is brought indoors or in a car, condensation may occur on the electronic device. In addition, when an electronic device such as that described above is used outdoors during the winter season or the rainy season, condensation may occur on the electronic device.
As described above, electronic devices that are used both indoors and outdoors and electronic devices that are frequently used outdoors are often exposed to dew condensation.
Furthermore, in recent years, usage environments have been diversified, and there are examples in which electronic devices are used in an extremely humid environment such as a bathroom. Equipment used in such an environment is extremely exposed to condensation.

一方、結露は、電子機器の絶縁性や電気特性の変化等に悪影響を与える懸念がある。即ち結露に起因する故障は古くから知られている。
特に近年、電子機器の小型化や高密度実装化が進み、導体間が微細化している。そのため機器内に結露が発生すると、結露によって導体間がショートしたり、導体の一部が腐食して断線するといった危険がある。
そこで電子機器等の性能評価の一つとして、結露による影響を評価することが大切である。
On the other hand, there is a concern that condensation may adversely affect the insulation properties and electrical characteristics of electronic devices. That is, failures due to condensation have been known for a long time.
In particular, in recent years, electronic devices have been miniaturized and high-density mounting has progressed, and the conductors have become finer. For this reason, when condensation occurs in the device, there is a danger that the conductors may be short-circuited due to condensation, or a part of the conductor may be corroded and disconnected.
Therefore, it is important to evaluate the influence of dew condensation as one of the performance evaluation of electronic devices.

結露による絶縁劣化の信頼性試験として非特許文献1に記載された様な結露サイクル試験が知られている。
結露サイクル試験は、湿度条件を急激に変化させ、一定量、一定時間の結露の生成と乾燥を繰り返すことにより、結露による変化を進行させる試験方法である。
上記した試験方法を再現する環境試験装置として特許文献1に開示された様な環境試験装置がある。
特許文献1に記載した環境試験装置は、乾燥状態に保った試験室に被試験物を置き、この被試験物に湿り空気を吹きつけるものである。
特許文献1に記載した環境試験装置では、湿り空気の送風量や風速、風向を変化させることはできない。また特許文献1に記載した環境試験装置では、試験室を乾燥状態に維持するために送風する送風量や風速、風向を変化させることもできない。
JPCA規格 JPCA−ET09 特開平5−164684号公報
As a reliability test of insulation deterioration due to condensation, a condensation cycle test as described in Non-Patent Document 1 is known.
The condensation cycle test is a test method in which changes due to condensation are advanced by rapidly changing the humidity condition and repeating the generation and drying of condensation for a certain amount of time.
As an environmental test apparatus that reproduces the above-described test method, there is an environmental test apparatus as disclosed in Patent Document 1.
The environmental test apparatus described in Patent Document 1 places a test object in a test chamber kept in a dry state, and blows wet air onto the test object.
In the environmental test apparatus described in Patent Document 1, it is not possible to change the air flow rate, wind speed, and wind direction of the humid air. Moreover, in the environmental test apparatus described in Patent Document 1, it is not possible to change the amount of air blown, the wind speed, and the wind direction for blowing the air to maintain the test chamber in a dry state.
JPCA standard JPCA-ET09 JP-A-5-164684

特許文献1に開示された環境試験装置は、被試験物に人工的に結露を生じさせることができるので、被試験物の、結露に対する影響を試験することができる。
しかしながら、特許文献1に開示された環境試験装置は、結露が生じてから結露が消失するまでの時間が短いという問題がある。また特許文献1に開示された環境試験装置では、結露が生じてから結露が消失するまでの時間はなりゆきであり、何ら制御できないという問題がある。
そこで本発明は、従来技術の上記した問題点に注目し、結露が存在する時間を長期化したり、結露が生じる時間をある程度制御することができる環境試験装置を提供することを課題とする。
Since the environmental test apparatus disclosed in Patent Document 1 can artificially cause dew condensation on the DUT, it can test the influence of the DUT on the dew condensation.
However, the environmental test apparatus disclosed in Patent Document 1 has a problem that the time from when condensation occurs until the condensation disappears is short. Moreover, in the environmental test apparatus disclosed in Patent Document 1, there is a problem that the time from the occurrence of condensation to the disappearance of condensation is almost constant and cannot be controlled at all.
Accordingly, the present invention pays attention to the above-mentioned problems of the prior art, and an object thereof is to provide an environmental test apparatus capable of prolonging the time during which condensation occurs and controlling the time during which condensation occurs to some extent.

上記した課題を解決するため、本発明者らは結露ができる際のプロセスと、結露が消失する際のプロセスを検討した。
即ち低温低湿状態の環境に被試験物をおいて被試験物を低温乾燥させ、次に高温高湿状態の空気を送り込んだ状態を想定すると、被試験物の表面温度が置かれた環境における露点温度以下の場合に結露が生成される。一方、被試験物表面に結露が生じ、被試験物温度が露点以上になると水分の蒸発が始まり、周囲温度と同じになれば結露は完全に消失する。
従って結露が存在する時間は、環境から被試験物や結露水に対する熱交換量によって左右される。そのため風速や風量は結露が存在する時間と乾燥時間の繰り返しの正確性に大きな影響を与える。
In order to solve the above-mentioned problems, the present inventors have examined a process when condensation can occur and a process when condensation disappears.
In other words, assuming that the test object is placed in a low-temperature and low-humidity environment, the test object is dried at low temperature, and then the high-temperature and high-humidity air is fed, the dew point in the environment where the surface temperature of the test object is placed Condensation is generated when the temperature is below. On the other hand, condensation occurs on the surface of the test object, and when the temperature of the test object reaches the dew point or higher, moisture starts to evaporate. When the temperature becomes the same as the ambient temperature, the condensation completely disappears.
Therefore, the time during which condensation is present depends on the amount of heat exchange from the environment to the DUT and condensed water. For this reason, the wind speed and the air volume have a great influence on the accuracy of repetition of the time when condensation is present and the drying time.

そこで請求項1に記載の発明は、被試験物を低温低湿度の環境と高温高湿度の環境に交互にさらして被試験物に結露を発生させる環境試験装置において、少なくとも送風手段及び送風環境制御手段を有し、送風環境制御手段によって送風量、風速、風向の少なくともいずれかを変化させることができる構成とした。   Accordingly, the invention described in claim 1 is an environmental test apparatus that alternately exposes the DUT to a low-temperature and low-humidity environment and a high-temperature and high-humidity environment to cause dew condensation on the DUT, and at least a blowing means and a blowing environment control. And a configuration capable of changing at least one of the air flow rate, the wind speed, and the wind direction by the air blowing environment control means.

本発明の環境試験装置では、送風環境制御手段によって送風量、風速、風向の少なくともいずれかを変化させることができるから、結露水が存在する時間や量をある程度制御することができる。   In the environmental test apparatus of the present invention, at least any one of the air volume, the wind speed, and the wind direction can be changed by the air environment control means, so that the time and amount of condensed water can be controlled to some extent.

また請求項2に記載の発明は、被試験物が置かれる環境を低温低湿度の環境から高温高湿度の環境に変更した後であって、さらに所定の条件を満足した後に被試験物に接する風量が減ずる様に送風環境を変化させることを特徴とする請求項1に記載の環境試験装置である。   The invention described in claim 2 is in contact with the DUT after satisfying predetermined conditions after changing the environment in which the DUT is placed from a low temperature and low humidity environment to a high temperature and high humidity environment. The environmental test apparatus according to claim 1, wherein the air blowing environment is changed so that the air volume is reduced.

ここで「所定の条件」は適宜定めればよいが、例えば、上記環境を低温低湿度から高温高湿度に変更してから一定時間が経過したことや、被試験物等の温度が一定条件を満たした(具体例としては、被試験物の温度が環境における露点温度に近づいて、その差が一定値以下となった)こと等が挙げられる。時間や温度の具体的数値は、実験に基づいて定めればよい。   Here, the “predetermined conditions” may be determined as appropriate. For example, a certain period of time has elapsed since the environment was changed from low temperature and low humidity to high temperature and high humidity, and the temperature of the object under test is constant. (As a specific example, the temperature of the DUT approaches the dew point temperature in the environment, and the difference becomes a certain value or less). Specific values for time and temperature may be determined based on experiments.

なお、本出願における「被試験物の温度」としては、露点温度との関係から被試験物の表面温度を採るのが好適であるが、本発明は必ずしもこれに限定されるものではなく、状況によっては、被試験物の内部温度等を採ってもよい。   As the “temperature of the DUT” in the present application, it is preferable to take the surface temperature of the DUT from the relationship with the dew point temperature, but the present invention is not necessarily limited to this, and the situation Depending on the case, the internal temperature of the DUT may be taken.

請求項2に記載の発明によると、結露水を比較的長期に渡って存在させることができる。
即ち結露の生成量は、被試験物表面温度が周囲温度の露点温度以下であり、且つその温度差が大きいほど増加する。また結露は前記した様に、被試験物の温度が周囲温度と同じになれば消失するから、被試験物に対する熱交換量が少ないほど結露が維持される時間が長い。従って被試験物に接する風量は少ないほうが結露を長期に渡って存在させることができる。
しかしながら、被試験物を取り巻く環境の風速が低いと、周囲温度の変化速度が遅くなり、被試験物の温度が周囲の環境の温度に追従するため露点以下となる時間が短くなり、試験体に生じる結露が却って少なくなったり、全く結露が生じなくなる問題がある。
そこで請求項2に記載の発明では、被試験物が置かれる環境を低温低湿度の環境から高温高湿度の環境に変更した後であって、さらに所定の条件を満足した後に被試験物に接する風量が減ずることとした。本発明の環境試験装置では、被試験物が置かれる環境を低温低湿度の環境から高温高湿度の環境に変更した後であって所定の条件を満足した後に被試験物に接する風量が減少させるので、被試験物に十分に結露が生じさせた後に、被試験物に接する風量が減少させることとなる。そのため結露水を比較的長期に渡って存在させることができる。
According to the second aspect of the present invention, the dew condensation water can be present for a relatively long time.
That is, the amount of dew condensation increases as the DUT surface temperature is below the dew point temperature of the ambient temperature and the temperature difference increases. As described above, the condensation disappears when the temperature of the DUT becomes the same as the ambient temperature. Therefore, the smaller the amount of heat exchange with respect to the DUT, the longer the condensation is maintained. Therefore, when the air volume in contact with the DUT is small, condensation can exist for a long time.
However, if the wind speed of the environment surrounding the DUT is low, the change rate of the ambient temperature becomes slow, and the time for the DUT to follow the temperature of the surrounding environment decreases, so the time for the dew point or less is shortened. There is a problem that the condensation that occurs is reduced or the condensation does not occur at all.
Therefore, in the invention described in claim 2, after the environment in which the DUT is placed is changed from the low temperature and low humidity environment to the high temperature and high humidity environment, and after satisfying predetermined conditions, the DUT is contacted. The air volume was reduced. In the environmental test apparatus of the present invention, after changing the environment in which the DUT is placed from a low-temperature and low-humidity environment to a high-temperature and high-humidity environment, the air volume contacting the DUT is reduced after satisfying a predetermined condition. Therefore, after sufficient dew condensation has occurred on the DUT, the air volume in contact with the DUT is reduced. Therefore, dew condensation water can exist for a relatively long time.

また請求項3に記載の発明は、被試験物の温度を測定する被試験物温度測定手段を有し、被試験物の温度が置かれた環境の露点温度近傍となったことを条件として被試験物に接する風量が減ずる様に送風環境を変化させることを特徴とする請求項1又は2に記載の環境試験装置である。   The invention described in claim 3 has a DUT temperature measuring means for measuring the temperature of the DUT, and is subject to the condition that the DUT temperature is close to the dew point temperature of the environment in which the DUT is placed. The environmental test apparatus according to claim 1, wherein the air blowing environment is changed so that the air volume in contact with the test object is reduced.

本発明の環境試験装置では、被試験物の温度を測定する被試験物温度測定手段を有し、被試験物の温度が置かれた環境の露点温度近傍となったことを条件として被試験物に接する風量を減少させる。
被試験物の温度が置かれた環境の露点温度近傍の時、被試験物に付着する結露の量が最大となる。本発明の環境試験装置では、被試験物の温度が置かれた環境の露点温度近傍となったことを条件として被試験物に接する風量を減少させるので、被試験物に付着する結露の量が最大となった後に風量を減少させる。そのため結露水を比較的長期に渡って存在させることができる。
The environmental test apparatus of the present invention has a DUT temperature measuring means for measuring the temperature of the DUT, and the DUT is subject to the condition that the temperature of the DUT is close to the dew point temperature of the environment in which it is placed. Reduce the air volume in contact with
When the temperature of the DUT is close to the dew point temperature of the environment where the DUT is placed, the amount of condensation that adheres to the DUT is maximized. In the environmental test apparatus of the present invention, since the amount of air in contact with the test object is reduced on condition that the temperature of the test object is close to the dew point temperature of the environment where the test object is placed, the amount of condensation that adheres to the test object is reduced. Decrease air volume after maximum. Therefore, dew condensation water can exist for a relatively long time.

請求項4に記載の発明は、環境を変化させる環境変化期間と、結露を維持させる結露維持期間があり、結露維持期間における送風量又は風速の少なくともいずれかは、環境変化期間におけるそれよりも小さいことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の環境試験装置である。   The invention according to claim 4 has an environment change period for changing the environment and a condensation maintenance period for maintaining condensation, and at least one of the air flow rate and the wind speed in the condensation maintenance period is smaller than that in the environment change period. The environmental test apparatus according to any one of claims 1 to 3.

本発明の環境試験装置は、結露維持期間における送風量又は風速の少なくともいずれかを、環境変化期間におけるそれよりも小さくしたので、結露が生成した後の被試験物に対する熱移動が抑制され、結露水を比較的長期に渡って存在させることができる。   In the environmental test apparatus of the present invention, at least one of the air flow rate and the wind speed during the dew condensation maintenance period is made smaller than that during the environment change period, so that heat transfer to the DUT after the dew condensation is generated is suppressed. Water can be present for a relatively long time.

請求項5に記載の発明は、被試験物を乾燥させる乾燥期間と、結露を維持させる結露維持期間があり、結露維持期間における送風量又は風速の少なくともいずれかは、乾燥期間におけるそれよりも小さいことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の環境試験装置である。   The invention according to claim 5 has a drying period for drying the DUT and a condensation maintaining period for maintaining condensation, and at least one of the air flow rate and the wind speed during the condensation maintaining period is smaller than that during the drying period. An environmental test apparatus according to any one of claims 1 to 4.

本発明の環境試験装置は、結露維持期間における送風量又は風速の少なくともいずれかを、被試験物を乾燥させる乾燥期間よりも小さくしたので、結露が生成した後の被試験物に対する熱移動が抑制され、結露水を比較的長期に渡って存在させることができる。   In the environmental test apparatus of the present invention, at least one of the air flow rate and the wind speed during the dew condensation maintenance period is made smaller than the drying period during which the test object is dried, so that the heat transfer to the test object after condensation is generated is suppressed. Therefore, the dew condensation water can exist for a relatively long time.

請求項6に記載の発明は、低温低湿度の環境を作る低温低湿度調整槽と、高温高湿度の環境を作る高温高湿度調整槽と、被試験物を設置する試験室を有し、前記低温低湿度調整槽及び高温高湿度調整槽から試験室に対して交互に送風することを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の環境試験装置である。   The invention described in claim 6 has a low-temperature and low-humidity adjustment tank that creates a low-temperature and low-humidity environment, a high-temperature and high-humidity adjustment tank that creates a high-temperature and high-humidity environment, and a test chamber in which a test object is installed. 6. The environmental test apparatus according to claim 1, wherein air is alternately blown from the low temperature and low humidity adjustment tank and the high temperature and high humidity adjustment tank to the test chamber.

本発明の環境試験装置では、低温低湿度の環境を作る低温低湿度調整槽と、高温高湿度の環境を作る高温高湿度調整槽とを有し、これらから試験室に対して交互に送風する構成であるため、試験室の環境を短時間の内に変化させることができる。   The environmental test apparatus of the present invention has a low-temperature and low-humidity adjustment tank that creates a low-temperature and low-humidity environment, and a high-temperature and high-humidity adjustment tank that creates a high-temperature and high-humidity environment, and alternately blows air to the test chamber from these. Since it is a structure, the environment of a test room can be changed within a short time.

本発明の環境試験装置は、送風環境制御手段によって送風量、風速、風向の少なくともいずれかを変化させることができるので、結露が存在する時間を長期化したり、結露が生じる時間をある程度制御することができる。そのため本発明の環境試験装置は、試験者が要求する結露条件を容易に作ることができる効果がある。   Since the environmental test apparatus of the present invention can change at least one of the air flow rate, the wind speed, and the wind direction by the air blowing environment control means, it is possible to lengthen the time that condensation occurs or to control the time when condensation occurs to some extent. Can do. Therefore, the environmental test apparatus according to the present invention has an effect that the dew condensation condition required by the tester can be easily created.

以下さらに本発明の実施形態について説明する。
図1は、本発明の実施形態の環境試験装置の内部構造を示す斜視図である。図2,図3は、本発明の実施形態の環境試験装置の構想図であり、図2は正面側から観察した状態、図3は側面側から観察した状態を制御手段を含めて示している。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
FIG. 1 is a perspective view showing an internal structure of an environmental test apparatus according to an embodiment of the present invention. 2 and 3 are conceptual diagrams of an environmental test apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows a state observed from the front side, and FIG. 3 shows a state observed from the side side including the control means. .

本実施形態の環境試験装置1は、被試験物を低温低湿度の環境と高温高湿度の環境に交互にさらして被試験物に結露を発生させるものである。
本実施形態の環境試験装置1は、断熱材2によって囲まれた全体槽3を備え、全体槽3の内部が被試験物配置室(試験室)5と、低温低湿度調整槽6及び高温高湿度調整槽4とに分かれている。
そして制御装置10によって全体槽3内の環境が制御される。
The environmental test apparatus 1 according to the present embodiment alternately exposes a test object to a low temperature and low humidity environment and a high temperature and high humidity environment to generate condensation on the test object.
The environmental test apparatus 1 of the present embodiment includes an entire tank 3 surrounded by a heat insulating material 2, and the inside of the entire tank 3 is a device placement room (test room) 5, a low-temperature and low-humidity adjustment tank 6, and a high-temperature and high-temperature tank. It is divided into a humidity control tank 4.
And the environment in the whole tank 3 is controlled by the control apparatus 10.

この様に全体槽3は、公知のそれと同様に、内部の温度や湿度等の内部環境を任意に調節する機能を持つ。最初に全体槽3の概略構成と、全体槽3内の環境を調節する手段について説明する。   As described above, the entire tank 3 has a function of arbitrarily adjusting the internal environment such as the internal temperature and humidity, as is well known. First, a schematic configuration of the entire tank 3 and means for adjusting the environment in the entire tank 3 will be described.

全体槽3の内部は、仕切り板9及び仕切り壁13によって少なくとも3室に仕切られている。即ち全体槽3の上部に被試験物を配置する被試験物配置室(試験室)5があり、全体槽3の下部に仕切り板9を介して低温低湿度調整槽6がある。また被試験物配置室(試験室)の奥側には仕切り壁13を介して高温高湿度調整槽4が設けられている。被試験物配置室(試験室)5の前面には、被試験物を出し入れするための扉14が設けられている。   The interior of the entire tank 3 is partitioned into at least three chambers by a partition plate 9 and a partition wall 13. That is, there is a DUT placement chamber (test chamber) 5 in which a DUT is placed at the upper part of the whole tank 3, and a low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 through the partition plate 9 at the lower part of the whole tank 3. Further, a high-temperature and high-humidity adjusting tank 4 is provided via a partition wall 13 on the back side of the DUT placement chamber (test chamber). A door 14 for taking in and out the DUT is provided on the front surface of the DUT placement chamber (test room) 5.

低温低湿度調整槽6の奥側には仕切り壁33を介して機械室34が設けられ、制御装置、冷媒循環用のポンプまたはコンプレッサ等の機器(図示せず)が設けられている。ただし、この仕切り壁33及び機械室34は設けなくてもよい。   A machine room 34 is provided on the back side of the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 through a partition wall 33, and devices (not shown) such as a control device, a refrigerant circulation pump or a compressor are provided. However, the partition wall 33 and the machine room 34 may not be provided.

なお、図1〜3に示す実施形態では、被試験物配置室(試験室)5の奥側に高温高湿度調整槽4を設け、被試験物配置室5の下側に低温低湿度調整槽6を設けているが、これらの配置は適宜入れ替えてもよい。例えば、被試験物配置室(試験室)5の奥側に低温低湿度調整槽6を設け、被試験物配置室5の下側に高温高湿度調整槽4を設けてもよい。   In the embodiment shown in FIGS. 1 to 3, a high temperature and high humidity adjustment tank 4 is provided on the back side of the DUT placement chamber (test room) 5, and a low temperature and low humidity adjustment tank is provided below the DUT placement chamber 5. 6 are provided, but these arrangements may be changed as appropriate. For example, the low temperature and low humidity adjustment tank 6 may be provided on the back side of the DUT placement chamber (test room) 5, and the high temperature and high humidity adjustment tank 4 may be provided below the DUT placement room 5.

被試験物配置室5内には、室内温度検知センサ11と湿度検知センサ12が設けられている。
室内温度検知センサ11は具体的には熱電対である。
室内温度検知センサ11及び湿度検知センサ12の検知信号は、図3の様に制御装置10(送風環境制御手段)に入力される。
A room temperature detection sensor 11 and a humidity detection sensor 12 are provided in the DUT placement chamber 5.
The indoor temperature detection sensor 11 is specifically a thermocouple.
The detection signals of the indoor temperature detection sensor 11 and the humidity detection sensor 12 are input to the control device 10 (air blowing environment control means) as shown in FIG.

また被試験物配置室5内には被試験物の表面の温度を検知する被試験物温度測定センサ36が設けられている。
被試験物温度測定センサ36としては熱電対やサーミスタ等の公知のセンサを活用することができる。被試験物温度測定センサ36は前記した様に被試験物の温度を検知するものであり、被試験物に直接取り付けられるものが推奨されるが、非接触状態で被試験物の温度を測定するものであってもよい。
被試験物温度測定センサ36は、信号線によって制御装置10に接続されている。
In the DUT placement chamber 5, a DUT temperature measuring sensor 36 for detecting the temperature of the surface of the DUT is provided.
As the DUT temperature measurement sensor 36, a known sensor such as a thermocouple or a thermistor can be used. The DUT temperature measuring sensor 36 detects the temperature of the DUT as described above, and it is recommended that it be directly attached to the DUT, but the temperature of the DUT is measured in a non-contact state. It may be a thing.
The DUT temperature measurement sensor 36 is connected to the control device 10 by a signal line.

低温低湿度調整槽6は、仕切り板9に隔てられて被試験物配置室5の下にあり、仕切り板9には、被試験物配置室5と連通する開口7,8が両側面側にある。一方の開口7は、吸入側開口として機能し、他方の開口8は、送風用開口として機能する。開口7,8にはそれぞれダンパ27,28が設けられている。各ダンパ27,28は、いずれも図示しないアクチュエータによって開閉される。   The low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 is separated from the partition plate 9 and is below the DUT placement chamber 5. The partition plate 9 has openings 7 and 8 communicating with the DUT placement chamber 5 on both sides. is there. One opening 7 functions as a suction side opening, and the other opening 8 functions as an opening for ventilation. Dampers 27 and 28 are provided in the openings 7 and 8, respectively. Each of the dampers 27 and 28 is opened and closed by an actuator (not shown).

下部の低温低湿度調整槽6には、加湿器15、空気冷却用熱交換器16、除湿用熱交換器17、加熱ヒータ18及び送風機20が配されている。また低温低湿度調整槽6には、図示しない温度センサと湿度センサが設けられている。
加湿器15、空気冷却用熱交換器16、除湿用熱交換器17及び加熱ヒータ18は、いずれも公知のものを採用することができる。
A humidifier 15, an air cooling heat exchanger 16, a dehumidifying heat exchanger 17, a heater 18, and a blower 20 are disposed in the lower temperature and low humidity adjustment tank 6. The low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 is provided with a temperature sensor and a humidity sensor (not shown).
As the humidifier 15, the air cooling heat exchanger 16, the dehumidifying heat exchanger 17 and the heater 18, all known ones can be adopted.

送風機20は、本実施形態では、回転速度を任意に変更できるものが採用されている。即ち送風機20を駆動するモータ(図示せず)は、直流モータ或いはインバータ制御された交流モータであり、回転数が可変である。   In the present embodiment, a blower 20 that can arbitrarily change the rotation speed is employed. That is, the motor (not shown) for driving the blower 20 is a DC motor or an AC motor controlled by an inverter, and the rotation speed is variable.

前記した加湿器15、空気冷却用熱交換器16、除湿用熱交換器17、加熱ヒータ18及び送風機20はそれぞれリレー等の駆動装置に接続され、さらに図3の様に制御装置10からの信号を受けて動作する。   The humidifier 15, the air cooling heat exchanger 16, the dehumidifying heat exchanger 17, the heater 18, and the blower 20 are each connected to a driving device such as a relay, and a signal from the control device 10 as shown in FIG. 3. To work.

本実施形態の環境試験装置1では、低温低湿度調整槽6内が常時所定の低温低湿度の環境に維持されている。即ち送風機20によって低温低湿度調整槽6内の空気が循環して低温低湿度調整槽6を通過し、所望の環境が作られる。即ち低温低湿度調整槽6内の空気は送風機20によって低温低湿度調整槽6内を循環し、このとき、空気は前記した空気冷却用熱交換器16、除湿用熱交換器17を通過し、さらに加熱ヒータ18に触れる。また必要に応じて加湿器15から水蒸気が供給される。   In the environmental test apparatus 1 of the present embodiment, the inside of the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 is always maintained in a predetermined low-temperature and low-humidity environment. That is, the air in the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 is circulated by the blower 20 and passes through the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 to create a desired environment. That is, the air in the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 is circulated in the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 by the blower 20, and at this time, the air passes through the air cooling heat exchanger 16 and the dehumidifying heat exchanger 17. Further, the heater 18 is touched. Moreover, water vapor | steam is supplied from the humidifier 15 as needed.

そしてダンパー27,28を開くと、低温低湿度調整槽6内の空気が被試験物配置室5内に導入される。即ちダンパー27,28を開くと、低温低湿度調整槽6には吸入側開口7から被試験物配置室5内の空気が吸入され、被試験物配置室5には低温低湿度調整槽6内の低温低湿に調整された空気が送風用開口8から流れ込む。すなわち、送風機20、送風用開口8等は、低温低湿に調整された空気を被試験物配置室5に送風する送風手段である。   When the dampers 27 and 28 are opened, the air in the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 is introduced into the DUT placement chamber 5. That is, when the dampers 27 and 28 are opened, air in the DUT placement chamber 5 is sucked into the low temperature and low humidity adjustment tank 6 from the suction side opening 7, and the DUT placement chamber 5 contains the air in the low temperature and low humidity adjustment tank 6. The air adjusted to low temperature and low humidity flows from the opening 8 for blowing. That is, the blower 20, the blower opening 8, etc. are blower means for blowing air adjusted to a low temperature and low humidity into the DUT placement chamber 5.

高温高湿度調整槽4は、被試験物配置室5の奥側にあり、仕切り壁13の上下に被試験物配置室5と連通する開口7’,8’がある。一方の開口7’は、吸入側開口として機能し、他方の開口8’は、送風用開口として機能する。開口7’,8’にはそれぞれダンパ37,38が設けられている。各ダンパ37,38は、いずれも図示しないアクチュエータによって開閉される。   The high-temperature and high-humidity adjustment tank 4 is on the back side of the DUT placement chamber 5, and has openings 7 ′ and 8 ′ communicating with the DUT placement chamber 5 above and below the partition wall 13. One opening 7 'functions as a suction side opening, and the other opening 8' functions as a blowing opening. Dampers 37 and 38 are provided in the openings 7 'and 8', respectively. Each of the dampers 37 and 38 is opened and closed by an actuator (not shown).

高温高湿度調整槽4についても内部に加湿器15’、空気冷却用熱交換器16’、除湿用熱交換器17’、加熱ヒータ18’及び送風機20’が配されている。
加湿器15’その他の機能は、前記した低温低湿度調整槽6内に配置されたものと同様であり、空気冷却用熱交換器16’、除湿用熱交換器17’及び加熱ヒータ18’は、いずれも公知のものを採用することができる。
また送風機20’は、本実施形態では、回転速度を任意に変更できるものが採用されている。加湿器15’、空気冷却用熱交換器16’、除湿用熱交換器17’、加熱ヒータ18’及び送風機20’はそれぞれリレー等の駆動装置に接続され、さらに図3の様に制御装置10からの信号を受けて動作する。
A humidifier 15 ', an air cooling heat exchanger 16', a dehumidifying heat exchanger 17 ', a heater 18' and a blower 20 'are also arranged inside the high temperature and high humidity adjusting tank 4.
The humidifier 15 ′ and other functions are the same as those arranged in the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 described above. The air cooling heat exchanger 16 ′, the dehumidifying heat exchanger 17 ′, and the heater 18 ′ Any known ones can be adopted.
Moreover, what can change rotation speed arbitrarily is employ | adopted for air blower 20 'in this embodiment. The humidifier 15 ′, the air cooling heat exchanger 16 ′, the dehumidifying heat exchanger 17 ′, the heater 18 ′, and the blower 20 ′ are each connected to a drive device such as a relay, and further, as shown in FIG. Operates in response to a signal from.

本実施形態では、高温高湿度調整槽4内は、常時所定の高温高湿度の環境に維持されている。   In the present embodiment, the inside of the high-temperature and high-humidity adjustment tank 4 is always maintained in a predetermined high-temperature and high-humidity environment.

そしてダンパー37,38を開くと、高温高湿度調整槽4内の空気が被試験物配置室5内に導入される。即ちダンパー37,38を開くと、高温高湿度調整槽4には吸入側開口7’から被試験物配置室5内の空気が吸入され、被試験物配置室5には高温高湿度調整槽4内の高温高湿に調整された空気が送風用開口8’から流れ込む。すなわち、送風機20’、送風用開口8’等は、高温高湿に調整された空気を被試験物配置室5に送風する送風手段である。   When the dampers 37 and 38 are opened, the air in the high-temperature and high-humidity adjustment tank 4 is introduced into the DUT placement chamber 5. That is, when the dampers 37 and 38 are opened, the air in the DUT placement chamber 5 is sucked into the high temperature / high humidity adjustment tank 4 from the suction side opening 7 ′, and the DUT placement chamber 5 has the high temperature / high humidity adjustment tank 4. The air adjusted to high temperature and high humidity flows from the blowing opening 8 '. That is, the blower 20 ′, the blower opening 8 ′, etc. are blower means for blowing air adjusted to high temperature and high humidity to the DUT placement chamber 5.

環境試験装置1の制御装置10には、テンキーやタッチパネル等の設定入力手段22が接続されており、希望する全体槽3内の環境を設定入力することができる。また制御装置10には、表示手段23が接続されており、設定内容や、現在の全体槽3内の環境が数値で表示される。また、制御装置10は、タイマ(図示せず)を有している。タイマとして、独立した機器を用いてもよいし、制御装置10自身がタイマ機能を有していてもよい。   A setting input means 22 such as a numeric keypad or a touch panel is connected to the control device 10 of the environmental test apparatus 1 so that a desired environment in the entire tank 3 can be set and input. Moreover, the display means 23 is connected to the control apparatus 10, and the setting content and the environment in the whole whole tank 3 are displayed numerically. Moreover, the control apparatus 10 has a timer (not shown). An independent device may be used as the timer, or the control device 10 itself may have a timer function.

環境試験装置1では、室内温度検知センサ11と湿度検知センサ12によって被試験物配置室5内の温度と湿度が監視されている。そして被試験物配置室5内の温度が設定環境の温度よりも低い場合には加熱ヒータ18(又は18’)に通電して空気を昇温させ、被試験物配置室5内の温度が設定環境の温度よりも高い場合には空気冷却用熱交換器16(又は16’)に冷媒を流して空気冷却用熱交換器16(又は16’)の温度を低下させ、流通する空気から熱を奪う。
また被試験物配置室5内の湿度が設定環境の湿度よりも低い場合には加湿器15(又は15’)から蒸気を噴射して通過する空気に混入する。
逆に被試験物配置室5内の湿度が設定環境の湿度よりも高い場合には除湿用熱交換器17(又は17’)によって水蒸気を凝縮させる。
In the environmental test apparatus 1, the temperature and humidity in the DUT placement chamber 5 are monitored by the indoor temperature detection sensor 11 and the humidity detection sensor 12. When the temperature in the DUT placement chamber 5 is lower than the set environment temperature, the heater 18 (or 18 ') is energized to raise the temperature of the air, and the temperature in the DUT placement chamber 5 is set. When the temperature is higher than the environmental temperature, the refrigerant is passed through the air cooling heat exchanger 16 (or 16 ') to lower the temperature of the air cooling heat exchanger 16 (or 16'), and heat is circulated from the circulating air. Take away.
When the humidity in the DUT placement chamber 5 is lower than the humidity of the set environment, steam is injected from the humidifier 15 (or 15 ') and mixed into the passing air.
Conversely, when the humidity in the DUT placement chamber 5 is higher than the humidity in the set environment, the dehumidifying heat exchanger 17 (or 17 ′) condenses the water vapor.

次に本実施形態の環境試験装置1の機能を図4、図5を参照しつつ、実際の試験手順を追って説明する。なお図4は、本実施形態の環境試験装置の動作を示すフローチャートである。図5は、本実施形態の環境試験装置における温度、風速、結露量の変化を示すタイムチャートである。図5(a)には、試験室における環境温度が破線で、被試験物温度が実線で、それぞれ示されている。図5(b)には試験室における設定風速、図5(c)には被試験物表面における結露量が示されている。   Next, functions of the environmental test apparatus 1 according to the present embodiment will be described in accordance with actual test procedures with reference to FIGS. 4 and 5. FIG. 4 is a flowchart showing the operation of the environmental test apparatus of this embodiment. FIG. 5 is a time chart showing changes in temperature, wind speed, and condensation amount in the environmental test apparatus of the present embodiment. In FIG. 5A, the environmental temperature in the test room is indicated by a broken line, and the temperature of the device under test is indicated by a solid line. FIG. 5B shows the set wind speed in the test room, and FIG. 5C shows the amount of condensation on the surface of the test object.

本実施形態の環境試験装置1は、被試験物として例えば携帯電話の基板30を検査するものであり、試験の準備段階として、試験条件を設定する。即ち本実施形態の環境試験装置は、前記した様に被試験物を低温低湿度の環境と高温高湿度の環境に交互にさらして被試験物に結露を発生させるものであるから、低温低湿度の環境と高温高湿度の環境とを設定する。   The environmental test apparatus 1 of the present embodiment inspects, for example, a substrate 30 of a mobile phone as a device under test, and sets test conditions as a test preparation stage. That is, as described above, the environmental test apparatus according to the present embodiment alternately exposes the test object to a low temperature and low humidity environment and a high temperature and high humidity environment to cause condensation on the test object. Environment and high temperature and high humidity environment.

また低温低湿度の環境と高温高湿度の環境を繰り返すので、その周期や環境を一定に保つ時間等が設定される。   Further, since the environment of low temperature and low humidity and the environment of high temperature and high humidity are repeated, the period and the time for keeping the environment constant are set.

そして続いて被試験物配置室5内に被試験物たる基板30を設置する。具体的には、被試験物配置室5内に基板30を置く。そして被試験物配置室5に設けられた被試験物温度測定センサ36を基板30に取り付ける。   Subsequently, a substrate 30 as a test object is installed in the test object placement chamber 5. Specifically, the substrate 30 is placed in the DUT placement chamber 5. A DUT temperature measuring sensor 36 provided in the DUT placement chamber 5 is attached to the substrate 30.

準備が整うと、環境試験装置1を起動し、試験を開始する。以下、環境試験装置1は、図4のフローチャート及び図5のタイムチャートの様に機能する。   When the preparation is completed, the environmental test apparatus 1 is activated and the test is started. Hereinafter, the environmental test apparatus 1 functions like the flowchart of FIG. 4 and the time chart of FIG.

即ち環境試験装置1を起動すると、ステップ1,2で低温低湿度調整槽6と高温高湿度調整槽4の温調機能等が動作を開始する。具体的には、低温低湿度調整槽6の加湿器15、空気冷却用熱交換器16、除湿用熱交換器17、加熱ヒータ18が起動し、低温低湿度調整槽6内の環境を設定された低温低湿環境に近づけようとする。同様に高温高湿度調整槽4の加湿器15’、空気冷却用熱交換器16’、除湿用熱交換器17’、加熱ヒータ18’が起動し、高温高湿度調整槽4内の環境を設定された高温高湿環境に近づけようとする。
なお、この時、各槽の送風機20,20’の回転を開始させるが、この時の送風機20,20’の回転数はフル回転である。
That is, when the environmental test apparatus 1 is activated, the temperature control function and the like of the low temperature and low humidity adjustment tank 6 and the high temperature and high humidity adjustment tank 4 start operation in steps 1 and 2. Specifically, the humidifier 15, the air cooling heat exchanger 16, the dehumidifying heat exchanger 17, and the heater 18 in the low temperature and low humidity adjustment tank 6 are activated and the environment in the low temperature and low humidity adjustment tank 6 is set. Try to get close to low temperature and low humidity. Similarly, the humidifier 15 ′, the air cooling heat exchanger 16 ′, the dehumidifying heat exchanger 17 ′, and the heater 18 ′ of the high-temperature and high-humidity adjustment tank 4 are activated to set the environment in the high-temperature and high-humidity adjustment tank 4. Try to get close to the high temperature and high humidity environment.
At this time, the rotation of the fans 20 and 20 'in each tank is started, and the rotation speed of the fans 20 and 20' at this time is full rotation.

そしてステップ3で、高温高湿度調整槽4内と低温低湿度調整槽6内が設定された環境となるのを待つ。   In step 3, the system waits for the environment in which the high temperature / high humidity adjustment tank 4 and the low temperature / low humidity adjustment tank 6 are set.

そして続くステップ4で、低温低湿度調整槽内の低温低湿度に調整された空気を被試験物配置室5に導入する。
具体的には、低温低湿度調整槽の開口7,8に設けられたダンパー27,28を開く。なおこの時、高温高湿度調整槽の開口7’,8’に設けられたダンパー37,38は閉じておく。その結果、吸入側開口7から被試験物配置室5内の空気が低温低湿度調整槽6に吸入され、低温低湿度調整槽6内の低温低湿に調整された空気が送風用開口8から被試験物配置室5に流れ込む。ここでこの時の送風機の回転数はフル回転であり、被試験物配置室5内には低温低湿に調整された空気が大風量且つ高風速で流れ込む。
そのため被試験物配置室5の環境は、急速に低温低湿化する。被試験物配置室5内に配置された被試験物の温度も次第に低下する。
Then, in the subsequent step 4, the air adjusted to the low temperature and low humidity in the low temperature and low humidity adjustment tank is introduced into the DUT placement chamber 5.
Specifically, the dampers 27 and 28 provided in the openings 7 and 8 of the low-temperature and low-humidity adjustment tank are opened. At this time, the dampers 37 and 38 provided in the openings 7 'and 8' of the high-temperature and high-humidity adjusting tank are closed. As a result, air in the DUT placement chamber 5 is sucked into the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 from the suction-side opening 7, and air adjusted to low-temperature and low-humidity in the low-temperature and low-humidity adjustment tank 6 passes through the blower opening 8. It flows into the test article arrangement chamber 5. Here, the rotation speed of the blower at this time is full rotation, and air adjusted to low temperature and low humidity flows into the DUT placement chamber 5 with a large air volume and a high wind speed.
Therefore, the environment of the DUT placement chamber 5 rapidly decreases in temperature and humidity. The temperature of the DUT placed in the DUT placement chamber 5 also gradually decreases.

そしてステップ5で被試験物配置室5内が所定の低温低湿環境となったことが確認され、さらにステップ6で被試験物の温度が所望の低温(図5(a)のTL)となったことが確認されると(具体的には、被試験物温度と試験室内環境温度との差が±1.0℃以下であることが確認されると)、ステップ7に移行して被試験物配置室5に高温高湿空気を導入する。
なお低温低湿度調整槽の開口7,8を開いてから被試験物の温度が所望の低温となる迄の間は乾燥期間であり、この間に被試験物が低温且つ乾燥状態となる。即ち結露が消滅した状態となる。
In step 5, it is confirmed that the inside of the DUT placement chamber 5 has become a predetermined low temperature and low humidity environment, and in step 6, the temperature of the DUT becomes a desired low temperature (TL in FIG. 5A). (Specifically, when it is confirmed that the difference between the temperature of the DUT and the ambient temperature in the test room is ± 1.0 ° C. or less), the process proceeds to Step 7 and the DUT High temperature and high humidity air is introduced into the placement chamber 5.
Note that the period from when the openings 7 and 8 of the low-temperature and low-humidity adjustment tank are opened until the temperature of the DUT reaches a desired low temperature is a drying period, during which the DUT is at a low temperature and in a dry state. That is, the condensation has disappeared.

本実施形態では、被試験物の温度が所望の低温となったことが確認されたことを条件として乾燥期間を終了したが、これに代わって、あるいはこれに付加する条件として、低温低湿度調整槽の開口7,8を開いてからの時間や、被試験物配置室5が所定の低温低湿となった後の時間を測定し、この時間が所定の時間を経過したことを条件として高温高湿空気を導入してもよい。   In this embodiment, the drying period is completed on the condition that the temperature of the DUT is confirmed to be a desired low temperature, but instead of this, or as a condition to be added to this, the low temperature and low humidity adjustment is performed. The time after opening the tank openings 7 and 8 and the time after the DUT placement chamber 5 becomes a predetermined low temperature and low humidity are measured, and the high temperature and the high temperature are set on condition that the predetermined time has passed. Wet air may be introduced.

ステップ7以降の工程は、環境変化期間となる。
即ちステップ7では低温低湿度調整槽の開口7,8を閉じ、代わって高温高湿度調整槽の開口7’,8’を開く。
その結果、被試験物配置室5内に高温高湿に調整された空気が大風量且つ高風速で流れ込む。すなわちこの時における送風機の回転数はフル回転である。(このときの風量、風速を「大風量」、「大風速」という。)
そのため被試験物配置室5の環境は、急速に高温高湿化する。図5(a)には、環境温度が破線で示されている。
The process after step 7 is an environment change period.
That is, in step 7, the openings 7 and 8 of the low-temperature and low-humidity adjustment tank are closed, and instead the openings 7 'and 8' of the high-temperature and high-humidity adjustment tank are opened.
As a result, the air adjusted to high temperature and high humidity flows into the DUT placement chamber 5 with a large air volume and high air speed. That is, the rotation speed of the blower at this time is full rotation. (The air volume and speed at this time are referred to as “large air volume” and “large wind speed”.)
Therefore, the environment of the DUT placement chamber 5 rapidly increases in temperature and humidity. In FIG. 5A, the environmental temperature is indicated by a broken line.

ここで、前記した乾燥工程によって被試験物が冷却されているから、被試験物の表面は、環境における露点温度以下となり、被試験物の表面に急速に結露が生じる。
また被試験物温度は、図5(b)に実線で示すように、次第に上昇する。
Here, since the DUT is cooled by the above-described drying process, the surface of the DUT becomes below the dew point temperature in the environment, and condensation rapidly occurs on the surface of the DUT.
Further, the temperature of the DUT gradually increases as shown by the solid line in FIG.

そしてステップ8で被試験物の表面の温度が環境における露点温度(図5(a)のTW)に近づいたことが検知されると、ステップ9に移行して送風量を低下させる。
ここで被試験物の表面の温度が環境における露点温度に近づいた状態とは、例えば両温度の差が±1.0℃以下となった状態をいい、これは結露量が最大に近い状態である。
そして本実施形態では、この状態で送風量を低下させるから、被試験物に接する空気量が減少し、被試験物と環境との熱交換量が減少する。そのため被試験物に対して結露が長期に残留することとなる。図5(a)では、実線のグラフがTW付近で平坦になる。なお、このときの風量、風速を「小風量」、「小風速」という。
When it is detected in step 8 that the temperature of the surface of the test object has approached the dew point temperature in the environment (TW in FIG. 5A), the flow proceeds to step 9 to reduce the air flow rate.
Here, the state in which the surface temperature of the DUT is close to the dew point temperature in the environment means, for example, a state in which the difference between the two temperatures is ± 1.0 ° C. or less, and this is a state in which the amount of condensation is close to the maximum. is there.
In this embodiment, since the air flow rate is reduced in this state, the amount of air in contact with the DUT is reduced, and the amount of heat exchange between the DUT and the environment is reduced. Therefore, condensation will remain on the DUT for a long time. In FIG. 5A, the solid line graph is flat near TW. The air volume and speed at this time are referred to as “small air volume” and “small air speed”.

被試験物は、その後次第に温度が上昇し、被試験物の表面に発生した結露は次第に蒸発する。
本実施形態では、ステップ10で試験室内が所定の高温高湿環境になっていることを確認した後、ステップ11で被測定物の温度が環境温度(図5(a)の高温側乾球温度TH)に近づいて両温度の差が±1.0℃以下となったことが検知されると、ステップ12に移行してタイマを起動する。このタイマーは、結露が残存するであろう時間に合わせる。そしてステップ13で所定の時間が経過したと判定されると、ステップ14に移行して送風量を大風量まで増加させる。その結果、被試験物表面の結露は完全に消失する。
The temperature of the device under test gradually increases thereafter, and the condensation generated on the surface of the device under test gradually evaporates.
In this embodiment, after confirming that the test chamber is in a predetermined high-temperature and high-humidity environment in step 10, in step 11, the temperature of the object to be measured is the environmental temperature (the high-temperature side dry bulb temperature in FIG. 5A). When it is detected that the difference between the two temperatures has become ± 1.0 ° C. or less as the temperature approaches (TH), the process proceeds to step 12 to start the timer. This timer is adjusted to the time when condensation will remain. If it is determined in step 13 that the predetermined time has elapsed, the process proceeds to step 14 where the air flow rate is increased to a large air volume. As a result, the condensation on the surface of the test object disappears completely.

本実施形態では、タイマを利用し、タイマの計時が終了したことを条件として送風量を増加させたが、タイマに替えて、あるいはタイマに加えて、被試験物の温度上昇を条件として送風量を増加させてもよい。   In this embodiment, a timer is used and the air flow rate is increased on the condition that the timer has finished counting. However, the air flow rate is changed on the condition that the temperature of the DUT rises in place of or in addition to the timer. May be increased.

ステップ15,16で、所定の時間が経過するまで、大風量による高温高湿空気の送風を行う。所定の時間が経過すると、ワンサイクルの結露工程が終わる。そしてステップ17に移行してカウンタに1加算する。またステップ18に移行し、カウンタの数が予め設定した繰り返し数に達したか否かを判定する。所定の繰り返し数に達している場合は試験を終了する。一方、繰り返し数に満たない場合は、ステップ3に戻り、先の工程を繰り返す。   In steps 15 and 16, high-temperature and high-humidity air is blown with a large air volume until a predetermined time elapses. When a predetermined time elapses, the one-cycle condensation process is finished. Then, the process proceeds to step 17 and 1 is added to the counter. In step 18, it is determined whether the number of counters has reached a preset number of repetitions. When the predetermined number of repetitions has been reached, the test is terminated. On the other hand, if the number of repetitions is not reached, the process returns to step 3 to repeat the previous process.

上記の各ステップにおける具体的な設定温度やタイマ時間等は、実験に基づいて適宜定めればよい。風量、風速も適宜定めればよいが、上記の「大風速」としては、1.0〜3.0m/s、「小風速」としては、0.1〜1.0m/sが推奨される。   Specific set temperatures, timer times, and the like in the above steps may be determined as appropriate based on experiments. The air volume and the wind speed may be determined appropriately, but the above-mentioned “large wind speed” is recommended to be 1.0 to 3.0 m / s, and the “small wind speed” is recommended to be 0.1 to 1.0 m / s.

なお、図4、5によって示される運転方法はあくまで一例であり、実際の試験においてステップを適宜追加、変更、又は削除してもよいことは勿論である。   4 and 5 are merely examples, and it is needless to say that steps may be added, changed, or deleted as appropriate in an actual test.

以上説明した実施形態では、送風機20,20’のモータの回転数を変更することによって送風量を調節したが、ダンパ等を設け、ダンパの開度を調節することによって送風量を増減することも可能である。
また風の向きを制御する風向板等を設け、風向を変化させて被試験物(基板30等)と接する実際の風量を増減させてもよい。
In the embodiment described above, the air flow rate is adjusted by changing the rotation speed of the motors of the blowers 20 and 20 ′. However, a damper or the like may be provided, and the air flow rate may be increased or decreased by adjusting the opening degree of the damper. Is possible.
Further, a wind direction plate or the like for controlling the direction of the wind may be provided, and the actual air volume contacting the DUT (substrate 30 or the like) may be increased or decreased by changing the wind direction.

また、被試験物配置室5内にさらに風速センサを設け、当該風速センサで検知される風速を監視しながらモータの回転数やダンパの開度を制御してもよい。   Further, a wind speed sensor may be further provided in the DUT placement chamber 5, and the rotational speed of the motor and the opening degree of the damper may be controlled while monitoring the wind speed detected by the wind speed sensor.

また、風速センサの位置や向き、個数を工夫することによって、基板30に直接接触する風の風速や、基板30の面方向の風速あるいは風量を検知する構成としてもよい。   Moreover, it is good also as a structure which detects the wind speed of the wind which contacts the board | substrate 30 directly, the wind speed or the air quantity of the surface direction of the board | substrate 30, by devising the position, direction, and number of a wind speed sensor.

また前記した実施形態では、送風量を2段階に変化させたが、3段階以上に段階的に変化させてもよい。また、段階的変化に限らず、目標となる量との偏差に応じて送風量を増減してもよい。即ち送風量や風速を基板30の温度に応じて比例制御してもよい。   In the embodiment described above, the air flow rate is changed in two stages, but it may be changed in stages in three or more stages. Moreover, you may increase / decrease ventilation volume not only according to a step change but according to deviation with target quantity. That is, the air flow rate and the wind speed may be proportionally controlled according to the temperature of the substrate 30.

また、前記した実施形態は、低温低湿度の環境を作る低温低湿度調整槽と、高温高湿度の環境を作る高温高湿度調整槽と、被試験物を設置する試験室を有し、前記低温低湿度調整槽及び高温高湿度調整槽から試験室に対して交互に送風するものであるが、他の実施形態として、被試験物が低温低湿度調整槽と高温高湿度調整槽との間を移動するものとしてもよい。   In addition, the above-described embodiment includes a low-temperature and low-humidity adjustment tank that creates a low-temperature and low-humidity environment, a high-temperature and high-humidity adjustment tank that creates a high-temperature and high-humidity environment, and a test chamber in which a test object is installed. Although the air is alternately blown from the low-humidity adjustment tank and the high-temperature and high-humidity adjustment tank to the test chamber, as another embodiment, the test object is between the low-temperature and low-humidity adjustment tank and the high-temperature and high-humidity adjustment tank. It may be moved.

図1〜3に示した環境試験装置を使用し、図4、5に示した運転方法によって試験を行った。具体的には、被試験物として櫛形基板(0.3mmピッチ)を用い、高温側環境温度を25℃、高温側環境湿度を90%、低温側環境温度を5℃、低温側環境湿度を60%とし、上記の大風速を1.0m/s、小風速を0.5m/sとし、被試験物を高温側環境と低温側環境に20分ずつ繰り返しさらして試験を行った。
電圧(DC5V)を印加して乾燥時のリーク電流が初期の2倍以上になったものを故障と判定し、サイクル数と累積不良率をワイブル確率グラフにプロットしたところ、きわめて直線性の良いデータが得られた。
これは、結露が存在する時間と乾燥時間の繰り返しが正確であることによると考えられる。したがって、結露による影響の評価の精度が向上することが期待される。
The test was conducted by the operation method shown in FIGS. 4 and 5 using the environmental test apparatus shown in FIGS. Specifically, a comb substrate (0.3 mm pitch) is used as the DUT, the high-temperature environment temperature is 25 ° C., the high-temperature environment humidity is 90%, the low-temperature environment temperature is 5 ° C., and the low-temperature environment humidity is 60%. The test was conducted by repeatedly exposing the test object to the high temperature side environment and the low temperature side environment for 20 minutes each with the above large wind speed of 1.0 m / s and the small wind speed of 0.5 m / s.
When the voltage (DC5V) is applied and the leakage current during drying is more than twice the initial value, it is judged as a failure, and the cycle number and cumulative failure rate are plotted on the Weibull probability graph. was gotten.
This is thought to be due to the fact that the time when condensation is present and the repetition of the drying time are accurate. Therefore, it is expected that the accuracy of the evaluation of the influence due to condensation is improved.

本発明の実施形態の環境試験装置の内部構造を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the internal structure of the environmental test apparatus of embodiment of this invention. 本発明の実施形態の環境試験装置の構成を示す正面断面図である。It is front sectional drawing which shows the structure of the environmental test apparatus of embodiment of this invention. 本発明の実施形態の環境試験装置の構成を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the structure of the environmental test apparatus of embodiment of this invention. 本実施形態の環境試験装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the environmental test apparatus of this embodiment. 本実施形態の環境試験装置における温度、風速、結露量の変化を示すタイムチャートである。It is a time chart which shows the change of the temperature in the environmental test apparatus of this embodiment, a wind speed, and the amount of dew condensation.

符号の説明Explanation of symbols

1,50 環境試験装置
3 全体槽
4 高温高湿度調整槽
5 被試験物配置室(試験室)
6 低温低湿度調整槽
10 制御装置
11 室内温度検知センサ
12 湿度検知センサ
15,15’ 加湿器
16,16’ 空気冷却用熱交換器
17,17’ 除湿用熱交換器
18,18’ 加熱ヒータ
20,20’ 送風機
27,28 ダンパ
30 基板(被試験物)
36 被試験物温度測定センサ(被試験物温度測定手段)
37,38 ダンパ
1,50 Environmental test equipment 3 Overall tank 4 High-temperature high-humidity adjustment tank 5 DUT placement room (test room)
6 Low-temperature and low-humidity adjustment tank 10 Controller 11 Indoor temperature detection sensor 12 Humidity detection sensor 15, 15 ′ Humidifier 16, 16 ′ Air cooling heat exchanger 17, 17 ′ Dehumidification heat exchanger 18, 18 ′ Heater 20 , 20 'Blower 27, 28 Damper 30 Substrate (DUT)
36 DUT temperature measuring sensor (DUT temperature measuring means)
37, 38 damper

Claims (6)

被試験物を低温低湿度の環境と高温高湿度の環境に交互にさらして被試験物に結露を発生させる環境試験装置において、少なくとも送風手段及び送風環境制御手段を有し、送風環境制御手段によって送風量、風速、風向の少なくともいずれかを変化させることができることを特徴とする環境試験装置。   In an environmental test apparatus for subjecting a DUT to a low-temperature and low-humidity environment and a high-temperature and high-humidity environment to cause condensation on the DUT, it has at least a blowing means and a blowing environment control means. An environmental test apparatus characterized by being capable of changing at least one of an air flow rate, a wind speed, and a wind direction. 被試験物が置かれる環境を低温低湿度の環境から高温高湿度の環境に変更した後であって、さらに所定の条件を満足した後に被試験物に接する風量が減ずる様に送風環境を変化させることを特徴とする請求項1に記載の環境試験装置。   After changing the environment in which the DUT is placed from a low-temperature and low-humidity environment to a high-temperature and high-humidity environment, the air blowing environment is changed so that the air volume in contact with the DUT is reduced after satisfying the prescribed conditions. The environmental test apparatus according to claim 1. 被試験物の温度を測定する被試験物温度測定手段を有し、被試験物の温度が置かれた環境の露点温度近傍となったことを条件として被試験物に接する風量が減ずる様に送風環境を変化させることを特徴とする請求項1又は2に記載の環境試験装置。   It has a DUT temperature measuring means to measure the temperature of the DUT, and air is blown so that the air volume in contact with the DUT is reduced on condition that the temperature of the DUT is close to the dew point temperature of the environment where the DUT is placed. The environment test apparatus according to claim 1, wherein the environment is changed. 環境を変化させる環境変化期間と、結露を維持させる結露維持期間があり、結露維持期間における送風量又は風速の少なくともいずれかは、環境変化期間におけるそれよりも小さいことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の環境試験装置。   2. An environment change period for changing the environment and a condensation maintenance period for maintaining condensation, wherein at least one of the air volume and the wind speed in the condensation maintenance period is smaller than that in the environment change period. 4. The environmental test apparatus according to any one of 3. 被試験物を乾燥させる乾燥期間と、結露を維持させる結露維持期間があり、結露維持期間における送風量又は風速の少なくともいずれかは、乾燥期間におけるそれよりも小さいことを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の環境試験装置。   A drying period for drying the test object and a dew condensation maintaining period for maintaining dew condensation, wherein at least one of the air flow rate and the wind speed during the dew condensation maintaining period is smaller than that during the drying period. 4. The environmental test apparatus according to any one of 4 above. 低温低湿度の環境を作る低温低湿度調整槽と、高温高湿度の環境を作る高温高湿度調整槽と、被試験物を設置する試験室を有し、前記低温低湿度調整槽及び高温高湿度調整槽から試験室に対して交互に送風することを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の環境試験装置。   A low-temperature and low-humidity adjustment tank that creates a low-temperature and low-humidity environment, a high-temperature and high-humidity adjustment tank that creates a high-temperature and high-humidity environment, and a test chamber in which the DUT is installed. The environmental test apparatus according to claim 1, wherein the air is alternately blown from the adjustment tank to the test chamber.
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009294176A (en) * 2008-06-09 2009-12-17 Espec Corp Water film forming method to sample surface in environmental testing apparatus and environmental testing apparatus
WO2010010774A1 (en) * 2008-07-22 2010-01-28 エスペック株式会社 Environment testing apparatus capable of controlling condensation amount, and control method therefor
WO2010125748A1 (en) 2009-04-28 2010-11-04 エスペック株式会社 Condensation testing device and condensation testing method
JP2011145187A (en) * 2010-01-15 2011-07-28 Espec Corp Duct unit and environmental test device having the same
JP2015017872A (en) * 2013-07-10 2015-01-29 エスペック株式会社 Environment forming apparatus and method of taking an object in and out
JP2015203612A (en) * 2014-04-14 2015-11-16 エスペック株式会社 Environment test device and temperature-humidity control method
JP2017106717A (en) * 2017-03-07 2017-06-15 エスペック株式会社 Operation control method of refrigerating machine in environment test device, and environment test device
JP2017156119A (en) * 2016-02-29 2017-09-07 エスペック株式会社 Environmental test device and air conditioning device
JP2018165686A (en) * 2017-03-28 2018-10-25 エスペック株式会社 Environmental test device
JP2019160897A (en) * 2018-03-09 2019-09-19 東京エレクトロン株式会社 Dew condensation prevention method and processing system
CN112525811A (en) * 2020-11-30 2021-03-19 广东电网有限责任公司 Insulator salt spray corrosion test device for high-voltage transformer

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05164684A (en) * 1991-12-19 1993-06-29 Tabai Espec Corp Tester of dew comdensation cycle
JPH06273312A (en) * 1993-03-23 1994-09-30 Tokyo Takayama Kk Migration test equipment
JPH1078387A (en) * 1996-09-03 1998-03-24 Tabai Espec Corp Dew condensation controlling environment testing device
JP2001017868A (en) * 1999-07-06 2001-01-23 Nittetsu Elex Co Ltd Thermostatic apparatus for test
JP2005321164A (en) * 2004-05-11 2005-11-17 Toyobo Co Ltd Thermal environment simulation device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05164684A (en) * 1991-12-19 1993-06-29 Tabai Espec Corp Tester of dew comdensation cycle
JPH06273312A (en) * 1993-03-23 1994-09-30 Tokyo Takayama Kk Migration test equipment
JPH1078387A (en) * 1996-09-03 1998-03-24 Tabai Espec Corp Dew condensation controlling environment testing device
JP2001017868A (en) * 1999-07-06 2001-01-23 Nittetsu Elex Co Ltd Thermostatic apparatus for test
JP2005321164A (en) * 2004-05-11 2005-11-17 Toyobo Co Ltd Thermal environment simulation device

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009294176A (en) * 2008-06-09 2009-12-17 Espec Corp Water film forming method to sample surface in environmental testing apparatus and environmental testing apparatus
JP4963740B2 (en) * 2008-07-22 2012-06-27 エスペック株式会社 Environmental test apparatus capable of controlling dew amount and control method therefor
WO2010010774A1 (en) * 2008-07-22 2010-01-28 エスペック株式会社 Environment testing apparatus capable of controlling condensation amount, and control method therefor
US8359906B2 (en) 2008-07-22 2013-01-29 Espec Corp. Environment testing apparatus capable of controlling condensation amount, and control method therefor
US8763480B2 (en) 2009-04-28 2014-07-01 Espec Corp. Dew formation testing device and dew formation testing method
CN102439414A (en) * 2009-04-28 2012-05-02 爱斯佩克株式会社 Condensation testing device and condensation testing method
JP5226861B2 (en) * 2009-04-28 2013-07-03 エスペック株式会社 Condensation test apparatus and method
WO2010125748A1 (en) 2009-04-28 2010-11-04 エスペック株式会社 Condensation testing device and condensation testing method
JP2011145187A (en) * 2010-01-15 2011-07-28 Espec Corp Duct unit and environmental test device having the same
JP2015017872A (en) * 2013-07-10 2015-01-29 エスペック株式会社 Environment forming apparatus and method of taking an object in and out
JP2015203612A (en) * 2014-04-14 2015-11-16 エスペック株式会社 Environment test device and temperature-humidity control method
JP2017156119A (en) * 2016-02-29 2017-09-07 エスペック株式会社 Environmental test device and air conditioning device
JP2017106717A (en) * 2017-03-07 2017-06-15 エスペック株式会社 Operation control method of refrigerating machine in environment test device, and environment test device
JP2018165686A (en) * 2017-03-28 2018-10-25 エスペック株式会社 Environmental test device
JP2019160897A (en) * 2018-03-09 2019-09-19 東京エレクトロン株式会社 Dew condensation prevention method and processing system
JP7058524B2 (en) 2018-03-09 2022-04-22 東京エレクトロン株式会社 Dew condensation prevention method and treatment system
CN112525811A (en) * 2020-11-30 2021-03-19 广东电网有限责任公司 Insulator salt spray corrosion test device for high-voltage transformer

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