JP2007265546A - 磁気記録ヘッドのオフセット測定方法及び磁気記録再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】記録トラックと記録不能領域が交互に設けられたディスクリート型磁気記録媒体に対する分離型磁気ヘッドのオフセットを測定する方法において、分離型ヘッドの素子幅が異なっても、正確なオフセットを測定する。
【解決手段】磁気記録ヘッド（３）のライト位置とリード位置とを変化させながら、ライト素子（３−２）により、磁気記録媒体（４）に測定データを書き込み、リード素子（３−１）により、書き込まれた測定データを読み出し、信号品質を測定し、測定された信号品質に関する２次元のマップの等高線の変曲点からライトオフセット値およびリードオフセット値を計算する。ライト素子（３−２）とリード素子（３−１）の幅が、個々の磁気記録ヘッド（３）で異なっても、分離された記録トラック（１７−１）に対するオフセットを正確に計測でき、且つサーボ中心と記録トラックの中心がずれていても、オフセットを正確に測定できる。
【選択図】図６

Description

本発明は、パターンドメデイア等の磁気記録トラックの間に、非磁気領域を設けた磁気記録媒体に、磁気ヘッドを位置決め制御するための磁気記録ヘッドのオフセット測定方法及び磁気記録再生装置に関し、特に、磁気記録媒体に、再生素子と記録素子とが分離された磁気ヘッドを位置決め制御するための磁気記録ヘッドのオフセット測定方法及び磁気記録再生装置に関する。

磁気ディスク装置において、磁気ヘッドを目標トラックに正確に位置決めすることが記録密度向上のために極めて重要である。このような磁気ディスク装置の磁気ヘッドには、再生素子と記録素子とが分離された分離型ヘッドが利用されている。

分離型ヘッドは、再生素子と記録素子が分離しており、製造上これらの位置を完全に同一とすることは、困難であり、これらの位置が異なる。このため、分離型ヘッドでは、再生素子と記録素子とをトラックに位置決めするには、これら素子の位置ずれ（オフセット）を測定する必要があり、この測定されたオフセット量に応じて、ライト時には、磁気ヘッドの記録素子を、リード時には、磁気ヘッドの再生素子を、トラックに位置決めする。

磁気ディスク装置において、従来の磁性層をディスク面全体を設けたディスクの他に、ディスクリートトラック，やパターンドメディアが提案されている。図２０は、ディスクリートトラックメデイア、パターンドメデイアの説明図である。図２０（Ａ），（Ｂ）、（Ｃ）のディスクの断面図に示すように、これらのディスクは，記録領域であるトラックと記録不能な領域が半径方向に交互に配置されている。

例えば、図２０（Ａ），（Ｂ）のディスクリートメデイアは、ディスク基板３４０に、所定間隔で溝３０１を形成し、全面に磁性層を形成する。図２０（Ａ）では、更に、溝３０１に充填部材を形成する。このようにすると、磁性層を表面に有する記録領域であるトラック３０１と、溝で構成された記録不能領域３０１とが、半径方向に交互に配置される。

又、図２０（Ｃ）のパターンドメデイアは、ディスク基板３４０に、半導体に使用されるマスクを介して磁性層を形成する。このようにすると、磁性層を表面に有する記録領域であるトラック３０１と、磁性層を有しない記録不能領域３０１とが、半径方向に交互に配置される。

このトラック間に、記録不能領域を設けることは、隣接トラックの書き込みに影響を受けずに、各トラックの記録内容を保証でき、トラックの高密度化に有効である。特に、垂直磁気記録の記録ヘッドのサイドフリンジングによる隣接トラックへの影響を防止するのに有効である。このような記録領域と非記録領域が交互に配置されたディスクは、データトラック３０１が予め形成されており、後でその場所を修正することは不可能である。

このため、このディスクを使用した装置おいて，問題になるのはデータトラックへの追従制御である。この追従制御では、前述のオフセットの測定、オフセットによる追従制御が、必要となる。

図２１は、従来のオフセット測定方法の説明図である。磁気ディスク装置において，リード素子とライト素子が異なるために，両者の間のオフセットを半径位置ごとに測定することが一般的に行われている。このオフセットの測定は，磁性膜が半径方向に連続的に形成されていることを前提にしていた。

ディクリートトラック媒体等でも、サーボ領域３２０が設けられている。しかし、サーボ領域３２０は、データトラック３０２とは、別に磁気記録やピット形状のパターンで、サーボ情報を形成するため、データトラック３０２の位置とサーボ情報３２０が示す位置とでは、誤差Ａが生じる。

この誤差の原因として、サーボ信号の形成時の位置誤差や、データトラック形成時の位置誤差がありえるためである。半導体マスク相当を使うにしろ，信号を記録するにしろ，結局は機械的に記録するのであるから誤差の発生は不可避である。ナノメータレベルの精度が要求されているが、それを無視できるほどに位置誤差を抑圧することはできない。

このディスクリートトラック及びパターンドメディアは、半径方向に磁性膜が不連続に形成されている。このため、連続した磁気層を有するディスクとは異なる補正方法が必要になる。

図２１に示すように、従来の提案では、サーボ情報３２０の中心Ｃ１と、トラック３０２の中心Ｃ２のずれ量Ａが，各トラックで、一定であると仮定していた。そして、データトラック３０２と非記録領域３０１を設けたデータ領域３００と、サーボ領域３１０の間に、測定領域３１０を設け、測定領域３１０に、磁気ヘッド３３０の記録素子３３１又は再生素子３３２をトラック中心に置き、記録素子３３１で測定用データを記録し、再生素子３３２で測定用データを読み出す。

更に、記録位置又は再生位置の一方のみをずらしながら、記録又は再生を繰り返し、信号品質がピークである位置をサーチし、記録素子３３１と再生素子３３２の位置ずれＢに伴うオフセット量を、記録素子３３１と再生素子３３２の相対位置として、測定していた（例えば、特許文献１および特許文献２）。

この提案では、サーボ中心Ｃ１と、データトラック中心Ｃ２のずれによっては、オフセット測定時に、記録素子３３１が、２つのトラック３０２に跨って、測定データを記録するおそれがあるため、データ領域３００と、サーボ領域３１０の間に、測定領域３１０を設けて、オフセット測定していた。
特開２００５−１６６１１５号公報 特開２００５−１６６１１６号公報

しかしながら、近年の磁気ディスク装置の大容量化の要請に伴い、データ記録密度を高める必要がある。このため、ディスクリート型のディスクにおいても、トラック密度を高める必要がある。このように、トラック密度を高めると、データトラック３０２の中心Ｃ２と、サーボ情報３２０の中心Ｃ１のずれ量Ａは、各ディスクで異なり、未知であり、各ディスクで異なる。

更に、磁気ヘッドの記録素子と再生素子の位置ずれＢは、磁気ヘッドの微小化に伴い、ナノオーダで、一定のものを製造することは、困難であり、且つそのコア幅も異なる。信号品質のレベルの分布は、記録素子や再生素子のコア幅により、変化する。

このため、従来技術では、第１に、データトラック３０２の中心Ｃ２と、サーボ情報３２０の中心Ｃ１のずれ量Ａが既知で、一定と仮定しているため、このようなずれ量Ａが、未知であるディスクのオフセットを正確に測定することが困難である。

又、従来技術では、ライトした信号の振幅やＳ／Ｎ比またはエラーレートなどの信号品質の最大値が得られる位置を１点オフセット位置と測定した。しかしながら，その信号品質のレベルの分布は、再生素子および記録素子の幅により，変化するため、信号品質が最大値をとる領域は１点ではなく、正確なオフセット測定が困難であった。

従って、本発明の目的は、記録トラックが記録不能領域で分離された磁気記録媒体に対し、記録素子と再生素子が分離された分離型ヘッドのオフセット量を正確の測定するための磁気記録ヘッドのオフセット測定方法及び磁気記録再生装置を提供することにある。

又、本発明の他の目的は、記録素子と再生素子の幅のばらつきがあっても、記録トラックが記録不能領域で分離された磁気記録媒体に対し、分離型ヘッドのオフセット量を正確の測定するための磁気記録ヘッドのオフセット測定方法及び磁気記録再生装置を提供することにある。

更に、本発明の他の目的は、記録トラックが記録不能領域で分離された磁気記録媒体のサーボ中心とトラック中心とのずれが未知であっても、ディスクに対し、記録素子と再生素子が分離された分離型ヘッドのオフセット量を正確の測定するための磁気記録ヘッドのオフセット測定方法及び磁気記録再生装置を提供することにある。

更に、本発明の他の目的は、測定領域を設けることなく、記録トラックが記録不能領域で分離された磁気記録媒体に対し、記録素子と再生素子が分離された分離型ヘッドのオフセット量を正確の測定するための磁気記録ヘッドのオフセット測定方法及び磁気記録再生装置を提供することにある。

この目的の達成のため、本発明のオフセット測定方法は、記録トラックと記録不能領域とが、交互に設けられた磁気記録媒体に対する磁気記録ヘッドのオフセット量を測定する磁気記録ヘッドのオフセット測定方法であって、リード素子とライト素子とが分離された前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記リード素子により、前記書き込まれた測定データを読み出し、信号品質を測定するステップと、前記変化したライト位置とリード位置における前記測定された信号品質に関する２次元のマップから等高線を求め，前記等高線の変曲点からライトオフセット値およびリードオフセット値を計算するステップとを有する。

又、本発明の磁気記録再生装置は、記録トラックと記録不能領域とが、交互に設けられた磁気記録媒体と、前記記録トラックのデータをリードするリード素子とライトするライト素子とが分離された磁気記録ヘッドと、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体のトラック横断方向に移動するアクチュエータと、前記記録トラックに対する前記リード素子のオフセット値と、前記ライト素子のオフセット値を格納するテーブルと、前記アクチュエータを前記テーブルの前記リード素子のオフセット値と、前記ライト素子のオフセット値を用いて、駆動制御する制御ユニットとを有し、前記テーブルは、前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記リード素子により、前記書き込まれた測定データを読み出して、測定された信号品質に関する２次元のマップから求められた等高線の変曲点から計算された前記ライト素子のオフセット値およびリード素子のオフセット値を格納する。

更に、本発明の磁気記録再生装置は、好ましくは、前記制御ユニットが、前記ライト素子のオフセット値およびリード素子のオフセット値の測定処理を実行する。

更に、本発明のオフセット測定方法は、好ましくは、前記計算ステップは、前記２次元マップの等高線のうち，前記信号品質が最大である等高線以外の等高線を選択するステップと、前記選択した等高線の変曲点を用いて前記ライトオフセット値とリードオフセット値を計算するステップからなる。

更に、本発明のオフセット測定方法は、好ましくは、前記計算ステップは、前記選択した等高線を前記ライト位置方向に微分して、複数の第１の変曲点を求めるステップと、前記複数の第１の変曲点から前記ライトオフセット値を求めるステップと、前記選択した等高線を前記リード方向に微分して、複数の第２の変曲点を求めるステップと、前記複数の第２の変曲点から前記リードオフセット値を求めるステップからなる。

更に、本発明のオフセット測定方法は、好ましくは、前記測定ステップは、前記磁気記録ヘッドを前記記録トラックに位置決めするために、前記磁気記録媒体に設けられたサーボ情報を前記リード素子が読み取り、前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化するステップと、前記ライト位置において、前記ライト素子により、前記記録トラックに前記測定データを書き込むステップとを有する。

更に、本発明のオフセット測定方法は、好ましくは、前記測定ステップは、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の測定対象トラックに位置付け、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の前記トラック横断方向に移動しながら、前記リード素子により、前記移動の各位置において、前記書き込まれた測定データを読み出し、前記移動の各位置の信号品質を測定するステップと、前記磁気記録ヘッドの位置をずらして、前記測定ステップを繰り返すステップとからなる。

更に、本発明のオフセット測定方法は、好ましくは、前記測定ステップは、前記磁気記録ヘッドを前記リード素子の前記リードオフセット測定範囲で、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の前記トラック横断方向に移動するステップを有する。

更に、本発明のオフセット測定方法は、好ましくは、前記繰り返すステップは、前記磁気記録ヘッドを、前記測定対象トラックを中心とした所定の範囲に、前記磁気記録ヘッドの位置をずらすステップを有する。

更に、本発明のオフセット測定方法は、好ましくは、前記測定対象トラックを中心とした所定の範囲を、前記ライト素子で、イレーズ処理するステップを更に有する。

更に、本発明の磁気記録再生装置は、好ましくは、前記テーブルは、前記２次元マップの等高線のうち，選択された前記信号品質が最大である等高線以外の等高線の変曲点を用いて計算した前記ライト素子のオフセット値とリード素子のオフセット値を格納する。

更に、本発明の磁気記録再生装置は、好ましくは、前記テーブルは、前記選択した等高線を前記ライト位置方向に微分して、求めた複数の第１の変曲点から計算された前記ライト素子のオフセット値と、前記選択した等高線を前記リード方向に微分して、求めた複数の第２の変曲点から計算された前記リード素子のオフセット値を格納する。

更に、本発明の磁気記録再生装置は、好ましくは、前記テーブルは、前記磁気記録媒体に設けられたサーボ情報を前記リード素子が読み取り、前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化して、前記ライト位置において、前記ライト素子により、前記記録トラックに前記測定データを書き込んで測定した前記ライト素子のオフセット値とリード素子のオフセット値を格納する。

更に、本発明の磁気記録再生装置は、好ましくは、前記テーブルは、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の測定対象トラックに位置付け、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の前記トラック横断方向に移動しながら、前記リード素子により、前記移動の各位置において、前記書き込まれた測定データを読み出し、前記移動の各位置の信号品質を測定し、且つ前記磁気記録ヘッドの位置をずらして、前記測定を繰り返して得た前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値を格納する。

更に、本発明の磁気記録再生装置は、好ましくは、前記磁気記録媒体が、磁気ディスクからなる。

更に、本発明の磁気記録再生装置は、好ましくは、前記テーブルは、前記磁気記録媒体の各記録トラックの前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値とを格納する。

更に、本発明の磁気記録再生装置は、好ましくは、前記テーブルは、前記磁気記録媒体の代表記録トラックの前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値とを格納し、前記制御ユニットは、前記磁気記録ヘッドの対象トラックの前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値とを、前記代表記録トラックの前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値との補間計算により求める。

本発明では、磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、ライト素子により、磁気記録媒体に測定データを書き込み、リード素子により、書き込まれた測定データを読み出し、信号品質を測定し、測定された信号品質に関する２次元のマップの等高線の変曲点からライトオフセット値およびリードオフセット値を計算するので、ライト素子とリード素子の幅が、個々の磁気記録ヘッドで異なっても、分離された記録トラックに対するオフセットを正確に計測でき、且つサーボ中心と記録トラックの中心がずれていても、オフセットを正確に測定できる。

以下、本発明の実施の形態を、磁気記録再生装置の構成、オフセット測定の第１の実施の形態、オフセット測定の第２の実施の形態、他の実施の形態の順で説明するが、本発明は、この実施の形態に限られない。

（磁気ディスク装置の構成）
図１は、本発明の一実施の形態の磁気記録再生装置の構成図、図２は、図１の磁気ディスクの位置信号及びトラックの配置図、図３は、図１及び図２の磁気ディスクの位置信号及びトラックの構成図、図４は、図１のヘッド位置制御系の構成図、図５は、図１及び図４のヘッド位置制御の説明図である。

図１に示すように、磁気記憶媒体である磁気ディスク４が、スピンドルモータ５の回転軸２に設けられている。スピンドルモータ５は、磁気ディスク４を回転する。アクチュエータ（ＶＣＭ）１は、先端に磁気ヘッド３を備え、その回転により、磁気ヘッド３を磁気ディスク４の半径方向に移動する。

アクチュエータ１は、回転軸を中心に回転するボイスコイルモータ（ＶＣＭ）で構成される。図では、磁気ディスク装置に、２枚の磁気ディスク４が搭載され、４つの磁気ヘッド３が、同一のアクチュエータ１で同時に駆動される。尚、磁気ディスク４が、１枚、磁気ヘッドが２つのものでも同様の構成である。

磁気ヘッド３は、リード素子と、ライト素子とからなる分離型ヘッドである。磁気ヘッド３は、スライダに、磁気抵抗（ＭＲ）素子を含むリード素子を積層し、その上にライトコイルを含むライト素子を積層して、構成される。

位置検出回路７は、磁気ヘッド３が読み取った位置信号（アナログ信号）をデジタル信号に変換する。リード／ライト（Ｒ／Ｗ）回路１０は、磁気ヘッド３の読み取り及び書込みを制御する。スピンドルモータ（ＳＰＭ）駆動回路８は、スピンドルモータ５を駆動する。ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）駆動回路６は、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１に駆動電流を供給し、ＶＣＭ１を駆動する。

マイクロコントローラ（ＭＣＵ）１４は、位置検出回路７からのデジタル位置信号から現在位置を検出（復調）し、検出した現在位置と目標位置との誤差に従い、ＶＣＭ駆動指令値を演算する。即ち、位置復調とサーボ制御を行う。リードオンリーメモリ（ＲＯＭ）１３は、ＭＣＵ１４の制御プログラム等を格納する。ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）１２は、ＭＣＵ１４の処理のためのデータ等を格納する。

ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１１は、サーボ信号のセクタ番号を基準にして，１周内の位置を判断し，データを記録・再生する。バッファ用ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）１５は、リードデータやライトデータを一時格納する。ＨＤＣ１１は、ＵＳＢ，ＡＴＡやＳＣＳＩ等のインターフェイスＩＦで、ホストと通信する。バス９は、これらを接続する。

図２に示すように、磁気ディスク４は、ディスクリートトラックタイプの磁気ディスクで構成されている。磁気ディスク４は、図３で詳述するように、ディスクリートトラック領域１７と、外周から内周に渡り、円周方向に各トラックのセクターに配置され、サーボ情報を記録したサーボ領域１６とを有する。尚、図２の実線は、サーボ情報１６の記録位置を示す。

図３に示すように、ディスクリートトラックタイプの磁気ディスク４は、サーボ領域１６は、外周から内周に渡り、磁気記録又はピット等の機械的パターンにより、位置信号（サーボ情報）が記録されている。この位置信号は，サーボマークＳｅｒｖｏ Ｍａｒｋと、トラック番号Ｇｒａｙ Ｃｏｄｅと、インデックスＩｎｄｅｘと、オフセット情報（サーボバースト）ＰｏｓＡ，ＰｏｓＢ，ＰｏｓＣ，ＰｏｓＤとからなる。尚、図３の点線は、サーボのトラックセンターを示す。

一方、図２０、図２１で示したように、ディスクリートトラック領域１７は、磁性層を表面に有する記録領域であるトラック１７−１と、記録不能領域１７−２とが、ディスクの半径方向に交互に配置される。ここでは、データトラック（セクター）１７−１のトラック中心と、サーボ情報のサーボのトラック中心を一致させて、記載しているが、実際には、ずれがある。

この実施の形態は、図２１で示した従来技術で必要であった測定領域を設けていない。即ち、以下で説明するように、測定領域を設けなくても、オフセット測定を可能としている。これにより、測定領域分、データ領域を増加でき、記憶容量増加に有効である。

図３の位置信号をヘッド３のリード素子で読み取り、トラック番号Ｇｒａｙ Ｃｏｄｅとオフセット情報ＰｏｓＡ，ＰｏｓＢ，ＰｏｓＣ，ＰｏｓＤを使い，磁気ヘッドの半径方向の位置を検出する。さらに、インデックス信号Ｉｎｄｅｘを元にして，磁気ヘッドの円周方向の位置を把握する。

例えば，インデックス信号を検出したときのセクタ番号を０番に設定し、サーボ信号を検出する毎に、カウントアップして、トラックの各セクタのセクタ番号を得る。このサーボ信号のセクタ番号は，データの記録再生を行うときの基準となる。尚、インデックス信号は、１周に１つである、又、インデックス信号の代わりに、セクタ番号を設けることもできる。

図４は、ＭＣＵ１４が実行するサーボ制御系の演算ブロック図である。先ず、テーブル２４は、各ヘッドのリード素子のオフセット量と、ライト素子のオフセット量とが、ディスクの半径方向の所定位置（例えば、各トラック）毎に格納されている。テーブル２４は、リード又はライトするヘッド番号と、リード／ライトの種別、目標トラック位置に応じて、対応するリードオフセット量Ｒｆ又はライトオフセット量Ｗｆを出力する。

第１の演算ブロック２５は、目標位置ｒに、リードオフセット量Ｒｆ又はライトオフセット量Ｗｆを加算し、サーボ制御系への目標位置ｒ‘を演算する。サーボ制御系では、目標位置ｒ’と現在位置ｙとの位置誤差ｅを演算ブロック２０で演算し、制御ブロック（Ｃｎ）２１で制御演算し、制御量Ｕｎを計算し、プラント２２であるＶＣＭ１、３を駆動する。プラントの位置は、磁気ヘッド３からのサーボ信号を、復調し、現在位置ｙを計算し、演算ブロック２０にフィードバックする。

又、外乱周波数抑圧のため、制御ブロック２１の内部変数や位置誤差ｅから適応制御則により、外乱周波数抑圧制御量Ｕｄを生成する外乱抑圧ブロック２３が設けられている。外乱周波数抑圧制御量Ｕｄは、演算ブロック２６で、制御量Ｕｎに加算され、加算された制御量Ｕにより、プラント２２であるＶＣＭ１、３を駆動する。

図５は、図１及び図４のＭＣＵ１４が行うアクチュエータのシーク制御例である。図１の位置検出回路７を通じて、ＭＣＵ１４が、アクチュエータの位置を確認して，サーボ演算し、適切な電流をＶＣＭ１に供給する。図５では、あるトラック位置から目標トラック位置へヘッド３を移動するシーク開始時からの制御の遷移と、アクチュエータ１の電流、アクチュエータ(ヘッド）の速度、アクチュエータ(ヘッド）の位置を示す。

即ち、シーク制御は、コアース制御、整定制御及びフォローイング制御（追従制御）と遷移することで，目標位置まで移動させることができる。コアース制御は、基本的に速度制御であり、整定制御、フォローイング制御は、基本的に位置制御であり、いずれも、ヘッド３の現在位置を検出する必要がある。

このような，位置を確認するためには，前述の図２、図３のように、磁気ディスク上にサーボ信号を事前に記録しておく。即ち、図３に示したように、サーボ信号の開始位置を示すサーボマーク，トラック番号を表すグレイコード，インデックス信号，オフセットを示すＰｏｓＡ〜ＰｏｓＤといった信号が記録されている。この信号を磁気ヘッド３で読み出し、このサーボ信号を、位置検出回路７が、デジタル値に変換する。

そして、この実施の形態では、ＭＣＵ１４が、以下で説明する各ヘッドのリード素子のオフセット量と、ライト素子のオフセット量とを、ディスクの半径方向の所定位置（例えば、各トラック）毎に測定するオフセット測定処理を実行して、図４のテーブル２４に格納する。

（オフセット測定処理の第１の実施の形態）
図６は、本発明のリード素子及びライト素子のオフセット量測定処理フロー図、図７は、図６のデータライト処理フロー図、図８は、図７の信号品質測定処理フロー図、図９は、図６乃至図８のデータライト及び信号品質測定処理の説明図、図１０は、図６の測定結果のテーブルの説明図、図１１及び図１２は、図６の等高線マップ作成処理の説明図、図１３乃至図１６は、図６のライトオフセット及びリードオフセット計算処理の説明図である。

図７乃至図１６を参照して、図６により、測定処理を説明する。

（Ｓ１０）目標トラックをＴａｒｇｅｔ Ｐｏｓとし、測定するトラックをＭｅａｓｕｒｅ Ｐｏｓとし、このトラックに対するオフセット測定範囲を±Ｌ（例えば、１０トラック前後）とする。まず、ＭＰＵ１４は、目標トラックＴａｒｇｅｔ Ｐｏｓを、（測定トラック−Ｌ）で計算する。

（Ｓ１２）次に，ＭＣＵ１４は、アクチュエータ１を駆動して、磁気ヘッド３を（測定トラック−Ｌ）に位置付ける。この場合に、図９に示すように、磁気ヘッド３のリード素子３−１が、図３のサーボ情報を読み取り、位置決めするため、リード素子３−１が、サーボ情報のトラック中心位置となるように、データトラック１７−１に位置決めされ、ライト素子３−２は、リード素子３−１とのずれ量分離れた位置（ライト中心と記す）に位置決めされる。

そして、図７で説明するデータライト処理を行う。後述するように、このデータライト処理では、この位置決めされた基準となるトラックを中心にして広範囲の領域をイレーズする。次に、図９に示すように、前述の位置決めした位置にて、ライト素子３−２により、測定データをライトする。

（Ｓ１４）次に、図９に示すように、リード素子３−１を、トラック横断方向に±Ｍの範囲でオフセットさせながら、ライトした信号を検出し，このライト位置におけるリード位置ごとの信号品質を測定する。この信号品質測定処理は、図８で後述する。

（Ｓ１６）次に、ＭＣＵ１４は、目標トラックＴａｒｇｅｔ Ｐｏｓを、（Ｔａｒｇｅｔ Ｐｏｓ＋ｄＬ）に更新する。

（Ｓ１８）ＭＣＵ１４は、更新したＴａｒｇｅｔ Ｐｏｓが、測定トラックＭｅａｓｕｒｅ Ｐｏｓ＋Ｌ以上の測定範囲外かを判定する。ＭＣＵ１４は、更新したＴａｒｇｅｔ Ｐｏｓが、測定トラックＭｅａｓｕｒｅ Ｐｏｓ＋Ｌ以上でない場合には、ステップＳ１２に戻り、ライト位置をｄＬだけずらし、広範囲の領域を再度イレーズして，同様の操作を繰り返す。以降、図９に示すように、ライト位置を、２ｄＬ，３ｄＬと値をずらしながら，信号品質の測定処理を繰り返す。

（Ｓ２０）ＭＣＵ１４は、更新したＴａｒｇｅｔ Ｐｏｓが、測定トラックＭｅａｓｕｒｅ Ｐｏｓ＋Ｌ以上の測定範囲外であれば、測定範囲内のライト位置とリード位置ごとの信号品質の測定を終了する。図１０は、測定結果の説明図である。即ち、図９で説明したように、ｄＬ単位でずらした各ライト位置（−Ｌ〜＋Ｌ）でライトした測定データを、ｄｐ単位でずらした各リード位置（−Ｍ〜＋Ｍ）で測定した信号品質のテーブルが得られる。このテーブル内容から、各リード位置（リードオフセット位置）と各ライト位置（ライトオフセット位置）の信号品質の２次元マップを描く。図１１は、横軸にライトオフセット位置、縦軸にリードオフセット位置をとった場合の、信号品質の２次元マップの説明図であり、実線部分の中央程、信号品質が良好な等高線で示される。この等高線に変曲点が現れるのは、ディスクリートトラックという記録不能領域にはさまれたデータトラックにライトする場合に、記録不能領域にもライトした結果である。

（Ｓ２２）この２次元マップから、信号品質が最大値とは異なる値の等高線を求める。即ち、信号品質が最大値でなく、且つ最小値でもない等高線を抽出する。

（Ｓ２４）そしてその等高線から、リードオフセット値、ライトオフセット値を求める。先ず、等高線からオフセット値を求める意味を説明する。図１１は、リード素子及びライト素子の幅が、トラック幅（１．０とする）より狭い（＝０．７）場合のシミュレーション結果、図１２は、リード素子，ライト素子ともに幅がトラック幅より広い（＝１．３）場合シミュレーション結果を示している。この例では，ライト特性およびリード特性ともに矩形状とし、リード素子とライト素子間のオフセットは、一定（＝０）としている。

図１１の等高線に示すように、リード素子幅が、トラック幅より狭いと、信号品質の値が最大値となるリードオフセット位置およびライトオフセット位置は，１点とはならず、ある範囲を持つ。即ち、この例では、リードオフセット位置およびライトオフセット位置とも、「０」の１点で、最大値を持つが、等高線では、最大値を持つ点は、１点ではない。

また、図１２に示すように、リード素子幅、ライト素子幅がトラック幅に対して広いと，信号品質の値が最大値となるリードオフセット位置およびライトオフセット位置は，トラック中心（リードオフセット位置およびライトオフセット位置とも、「０」からずれる。

このことは、リード素子幅、ライト素子幅の相違により、ディスクリートトラックでは、信号品質の最大値は、トラック中心へのオフセットでは、得られないことになる。このため、信号品質の最大値を測定するのではなく，最大値よりも小さな値の等高線のカーブを利用して、信号品質が最大となると思われるオフセット値を求める。

図１３は、ライトオフセット量の計算処理の説明図である。抽出した等高線の変曲点の位置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを選択する。そして，（１）(A+D)／２，（２）(B+C)／２，（３）(A+B+C+D)／４のいずれかで，ライトオフセット量を求める。

又、図１４はリードオフセット量の計算処理の説明図である。抽出した等高線の変曲点の位置Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈを選択する。そして，（１）(E+H)／２，（２）(F+G)／２，（３）(E+F+G+H)／４のいずれかで，リードオフセット量を求める。ここで、変曲点が現れる理由を、図１５、図１６で説明する。図１５に示すように、ディスクリートトラック１７−１の幅より、ライト素子３−２の幅が広い場合には、ライト素子３−２が、記録不能領域１７−２にまたがって、記録すると、トラック１７−１に記録された記録レベル自体が低く、いくらリードオフセットを変えても、リード素子のリードによる信号品質は、低いものとなる。同様に、図１５に示すように、ディスクリートトラック１７−１の幅より、ライト素子３−２の幅が狭い場合にも、ライト素子３−２が、記録不能領域１７−２に架かって、記録すると、トラック１７−１に記録された記録レベル自体が低く、いくらリードオフセットを変えても、リード素子のリードによる信号品質は、低いものとなる。

この変曲点は，等高線のカーブを，ライトオフセット位置の軸方向（図１３のＸ方向）及びリードオフセット位置の軸方向（図１４のＹ方向）に微分して，その微分値が他よりも大きくなる点を求めて、得る。そして、前述の計算式で、ライトオフセット値、リードオフセット値を計算する。

この測定は、ヘッドごとおよび半径位置ごとに測定する。ここで、ライトオフセット値のみでなく，リードオフセット値も測定するのは，ヘッドのリード素子の検出感度およびサーボパターンの形成精度のずれが発生する可能性があるためである。図２１及び図３で説明したように、サーボ情報１６で示すオフセット「０」の位置が、１００%データトラック１７−１の中心に、リード素子が位置することは、なく。前述の形成精度等で、必ずずれが生じ、そのずれ量は、ディスク個々で異なる。そのため，このずれを、個々のディスク、ヘッドで校正することは必要である。

このように、測定した値は，不揮発性メモリに保持しておく。図１７は、測定値格納テーブル２４（図４参照）の説明図である。ヘッド毎、トラック毎に、リードオフセット値Ｒｆ、ライトオフセット値Ｗｆを格納する。

次に、図７により、図６のデータライト処理を説明する。

（Ｓ３０）図６で、説明した目標位置Ｔａｒｇｅｔ Ｐｏｓ−Ｎを、目標位置Ｐｏｓに初期設定する。ここで、Ｎは、イレーズ領域を示す。

（Ｓ３２）次に、ＭＣＵ１４は、アクチュエータ１を駆動して、磁気ヘッド３を目標位置Ｐｏｓに位置付ける。この場合に、図９に示すように、磁気ヘッド３のリード素子３−１が、図３のサーボ情報を読み取り、位置決めするため、リード素子３−１が、サーボ情報のトラック中心位置となるように、データトラック１７−１に位置決めされ、ライト素子３−２は、リード素子３−１とのずれ量分離れた位置（ライト中心と記す）に位置決めされる。

（Ｓ３４）そして、ＭＣＵ１４は、ライト素子３−２にイレーズ信号をライトさせる。

（Ｓ３６）ＭＣＵ１４は、目標位置Ｐｏｓを、（Ｐｏｓ＋ｄｐ）に更新する。

（Ｓ３８）ＭＣＵ１４は、更新した目標位置Ｐｏｓが、（Ｔａｒｇｅｔ Ｐｏｓ＋Ｎ）を超えた所定のイレーズ範囲外かを判定する。ＭＣＵ１４は、イレーズ範囲外でないと判定すると、ステップＳ３２に戻り、イレーズ動作する。

（Ｓ４０）ＭＣＵ１４は、イレーズ範囲外と判定すると、目標トラックを中心にして広範囲の領域をイレーズしたと判定する。そして、ＭＣＵ１４は、アクチュエータ１を駆動して、磁気ヘッド３を目標位置Ｔａｒｇｅｔ Ｐｏｓに位置付けし、位置決めした位置にて、ライト素子３−２により、測定データをライトする。

このように、基準となるトラックを中心にして広範囲の領域をイレーズするため、前回の測定データをイレーズでき、正確なオフセット測定が可能となる。

次に、図８により、図６の信号品質測定処理を説明する。

（Ｓ５０）図６で、説明した目標位置Ｔａｒｇｅｔ Ｐｏｓ−Ｍを、目標位置Ｐｏｓに初期設定する。ここで、Ｍは、図９で説明したリード素子３−１のリードオフセット測定範囲を示す。

（Ｓ５２）次に、ＭＣＵ１４は、アクチュエータ１を駆動して、磁気ヘッド３を目標位置Ｐｏｓに位置付ける。この場合に、図９に示すように、磁気ヘッド３のリード素子３−１が、図３のサーボ情報を読み取り、位置決めするため、リード素子３−１が、サーボ情報のトラック中心位置となるように、データトラック１７−１に位置決めされ、ライト素子３−２は、リード素子３−１とのずれ量分離れた位置（ライト中心と記す）に位置決めされる。

（Ｓ５４）そして、ＭＣＵ１４は、リード素子３−１にその位置の信号をリードさせ、その信号品質を計算する。信号品質としては、振幅、Ｓ／Ｎ比、エラーレートのいずれでも良い。

（Ｓ５６）ＭＣＵ１４は、図１０で説明したように、ライト位置、リード位置のテーブルに、計算した信号品質を格納する。

（Ｓ５８）ＭＣＵ１４は、目標位置Ｐｏｓを、（Ｐｏｓ＋ｄｐ）に更新する。そして、ＭＣＵ１４は、更新した目標位置Ｐｏｓが、（Ｔａｒｇｅｔ Ｐｏｓ＋Ｍ）を超えた所定のリードオフセット測定範囲外かを判定する。ＭＣＵ１４は、リードオフセット測定範囲外でないと判定すると、ステップＳ５２に戻り、測定処理動作する。一方、ＭＣＵ１４は、リードオフセット測定範囲外と判定すると、終了する。

このようにして、基準となるトラックを中心にして広範囲の領域をイレーズし、次に基準位置にてデータをライトし、半径方向にオフセットさせながらライトした信号を検出し，ライト位置におけるリード位置ごとの信号品質を測定する。再度、広範囲の領域を再度イレーズして，ライト位置をｄＸだけずらして，同様の操作を繰り返す。以降，２ｄＸ，３ｄＸと値をずらしながら，同様の信号品質測定を繰り返す。

このオフセットテーブル２４の作成は、磁気ディスク装置の製造過程において、各種の試験工程で行われる。又、ＭＣＵ１４のＲＯＭ１３にこの測定処理プログラムを格納しておくことにより、工場出荷後、フィールドでも、キャリブレーション処理の一環として、再測定できる。この場合には、例えば、リード素子やライト素子の特性変動による最適なオフセットを設定できる。

（オフセット測定処理の第２の実施の形態）
図１８は、本発明の第２の実施の形態のオフセット測定処理の説明図である。前述のオフセットテーブル２４には、ディスク４の半径方向の代表トラックのリードオフセット値Ｒｆ，ライトオフセット値Ｗｆを格納する。即ち、前述の第１の実施の形態が、ディスク面の全トラックでオフセット測定し、テーブル２４（図１７）に、全トラックのリードオフセット値Ｒｆ，ライトオフセット値Ｗｆを格納していた。この実施の形態では、例えば、１０００トラック置きの、代表トラック「１」、「１０００」・・・、「１００００」でオフセット測定し、その値を、テーブル２４に格納する。

リードオフセット又はライトオフセットするには、対象トラックに対する２つの代表トラックのオフセット値を読み出し、補完処理して、その対象トラックのオフセット値を求める。このようにすると、測定時間が短縮できるとともに、テーブル２４の記憶容量も削減できる。

（他の実施の形態）
図１９は、本発明の第３の実施の形態のオフセット測定処理の説明図である。前述の実施の形態では、磁気ディスク装置に、測定処理機能を持たせたが、磁気ディスク装置４０に、測定装置５０を接続し、測定装置５０が、磁気ディスク装置４０を制御して、前述の測定処理を実行し、磁気ディスク装置４０のテーブル２４に測定したオフセット値を書き込む。

このようにすれば、測定処理を専用装置で実行でき、高速に実現できる他に、磁気ディスク装置のＲＯＭに測定プログラムを格納しなくて良いため、磁気ディスク装置のメモリ容量を削減でき、コストダウンに寄与する。

又、第１の実施の形態でも、磁気ディスク装置のＲＡＭに測定プログラムをダウンロードし、磁気ディスク装置４０に、前述の測定処理を実行させ、磁気ディスク装置４０のテーブル２４に測定したオフセット値を書き込み、その測定プログラムを消去することもできる。

更に、ディスクリートタイプのディスクを、図９、図２０の構成で説明したが、要するに、データトラックと、記録不能領域とが交互に形成された磁気記録媒体であれば良く、形状も円盤に限らない。しかも、記録方式は、水平記録、垂直記録のいずれも適用でき、測定したオフセット値を、磁気ディスクのシステム領域等、ディスクの記録トラックに格納しても良い。

（付記１）記録トラックと記録不能領域とが、交互に設けられた磁気記録媒体に対する磁気記録ヘッドのオフセット量を測定する磁気記録ヘッドのオフセット測定方法において、リード素子とライト素子とが分離された前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記リード素子により、前記書き込まれた測定データを読み出し、信号品質を測定するステップと、前記変化したライト位置とリード位置における前記測定された信号品質に関する２次元のマップから等高線を求め，前記等高線の変曲点からライトオフセット値およびリードオフセット値を計算するステップとを有することを特徴とする磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。

（付記２）前記計算ステップは、前記２次元マップの等高線のうち，前記信号品質が最大である等高線以外の等高線を選択するステップと、前記選択した等高線の変曲点を用いて前記ライトオフセット値とリードオフセット値を計算するステップからなることを特徴とする付記１の磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。

（付記３）前記計算ステップは、前記選択した等高線を前記ライト位置方向に微分して、複数の第１の変曲点を求めるステップと、前記複数の第１の変曲点から前記ライトオフセット値を求めるステップと、前記選択した等高線を前記リード方向に微分して、複数の第２の変曲点を求めるステップと、前記複数の第２の変曲点から前記リードオフセット値を求めるステップからなることを特徴とする付記１乃至２の磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。

（付記４）前記測定ステップは、前記磁気記録ヘッドを前記記録トラックに位置決めするために、前記磁気記録媒体に設けられたサーボ情報を前記リード素子が読み取り、前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化するステップと、前記ライト位置において、前記ライト素子により、前記記録トラックに前記測定データを書き込むステップとを有することを特徴とする付記１の磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。

（付記５）前記測定ステップは、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の測定対象トラックに位置付け、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の前記トラック横断方向に移動しながら、前記リード素子により、前記移動の各位置において、前記書き込まれた測定データを読み出し、前記移動の各位置の信号品質を測定するステップと、前記磁気記録ヘッドの位置をずらして、前記測定ステップを繰り返すステップとからなることを特徴とする付記１の磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。

（付記６）前記測定ステップは、前記磁気記録ヘッドを前記リード素子の前記リードオフセット測定範囲で、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の前記トラック横断方向に移動するステップを有することを特徴とする付記５の磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。

（付記７）前記繰り返すステップは、前記磁気記録ヘッドを、前記測定対象トラックを中心とした所定の範囲に、前記磁気記録ヘッドの位置をずらすステップを有することを特徴とする付記５の磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。

（付記８）前記測定対象トラックを中心とした所定の範囲を、前記ライト素子で、イレーズ処理するステップを更に有することを特徴とする付記１の磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。

（付記９）記録トラックと記録不能領域とが、交互に設けられた磁気記録媒体と、前記記録トラックのデータをリードするリード素子とライトするライト素子とが分離された磁気記録ヘッドと、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体のトラック横断方向に移動するアクチュエータと、前記記録トラックに対する前記リード素子のオフセット値と、前記ライト素子のオフセット値を格納するテーブルと、前記アクチュエータを前記テーブルの前記リード素子のオフセット値と、前記ライト素子のオフセット値を用いて、駆動制御する制御ユニットとを有し、前記テーブルは、前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記リード素子により、前記書き込まれた測定データを読み出して、測定された信号品質に関する２次元のマップから求められた等高線の変曲点から計算された前記ライト素子のオフセット値およびリード素子のオフセット値を格納することを特徴とする磁気記録再生装置。

（付記１０）前記制御ユニットが、前記ライト素子のオフセット値およびリード素子のオフセット値の測定処理を実行することを特徴とする付記９の磁気記録再生装置。

（付記１１）前記テーブルは、前記２次元マップの等高線のうち，選択された前記信号品質が最大である等高線以外の等高線の変曲点を用いて計算した前記ライト素子のオフセット値とリード素子のオフセット値を格納することを特徴とする付記９の磁気記録再生装置。

（付記１２）前記テーブルは、前記選択した等高線を前記ライト位置方向に微分して、求めた複数の第１の変曲点から計算された前記ライト素子のオフセット値と、前記選択した等高線を前記リード方向に微分して、求めた複数の第２の変曲点から計算された前記リード素子のオフセット値を格納することを特徴とする付記９乃至１２の磁気記録再生装置。

（付記１３）前記テーブルは、前記磁気記録媒体に設けられたサーボ情報を前記リード素子が読み取り、前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化して、前記ライト位置において、前記ライト素子により、前記記録トラックに前記測定データを書き込んで測定した前記ライト素子のオフセット値とリード素子のオフセット値を格納することを特徴とする付記９の磁気記録再生装置。

（付記１４）前記テーブルは、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の測定対象トラックに位置付け、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体の前記トラック横断方向に移動しながら、前記リード素子により、前記移動の各位置において、前記書き込まれた測定データを読み出し、前記移動の各位置の信号品質を測定し、且つ前記磁気記録ヘッドの位置をずらして、前記測定を繰り返して得た前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値を格納することを特徴とする付記９の磁気記録再生装置。

（付記１５）前記磁気記録媒体が、磁気ディスクからなることを特徴とする付記９の磁気記録再生装置。

（付記１６）前記テーブルは、前記磁気記録媒体の各記録トラックの前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値とを格納することを特徴とする付記９の磁気記録再生装置。

（付記１７）前記テーブルは、前記磁気記録媒体の代表記録トラックの前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値とを格納し、前記制御ユニットは、前記磁気記録ヘッドの対象トラックの前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値とを、前記代表記録トラックの前記ライト素子のオフセット値と前記リード素子のオフセット値との補間計算により求めることを特徴とする付記９の磁気記録再生装置。

（付記１８）前記制御ユニットは、前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記リード素子により、前記書き込まれた測定データを読み出し、信号品質を測定し、前記変化したライト位置とリード位置における前記測定された信号品質に関する２次元のマップから等高線を求め，前記等高線の変曲点からライトオフセット値およびリードオフセット値を計算することを特徴とする付記１０の磁気記録再生装置。

（付記１９）前記制御ユニットは、前記２次元マップの等高線のうち，前記信号品質が最大である等高線以外の等高線を選択し、前記選択した等高線の変曲点を用いて前記ライトオフセット値とリードオフセット値を計算することを特徴とする付記１８の磁気記録再生装置。

（付記２０）前記制御ユニットは、前記選択した等高線を前記ライト位置方向に微分して、複数の第１の変曲点を求め、前記複数の第１の変曲点から前記ライトオフセット値を求め、前記選択した等高線を前記リード方向に微分して、複数の第２の変曲点を求め、前記複数の第２の変曲点から前記リードオフセット値を求めることを特徴とする付記１８乃至１９の磁気記録再生装置。

磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、ライト素子により、磁気記録媒体に測定データを書き込み、リード素子により、書き込まれた測定データを読み出し、信号品質を測定し、測定された信号品質に関する２次元のマップの等高線の変曲点からライトオフセット値およびリードオフセット値を計算するので、ライト素子とリード素子の幅が、個々の磁気記録ヘッドで異なっても、分離された記録トラックに対するオフセットを正確に計測でき、且つサーボ中心と記録トラックの中心がずれていても、オフセットを正確に測定でき、ディスクリート型トラックを持つ磁気記録媒体及びこれを用いた磁気記録再生装置の記憶容量増大に寄与する。

本発明の一実施の形態の磁気記録再生装置の構成図である。 図１の磁気記録媒体の構成図である。 図２のサーボ領域と分離型データトラックの説明図である。 図１のサーボ制御系の構成図である。 図１及び図４のヘッド移動制御の遷移図である。 本発明の第１の実施の形態のオフセット処理フロー図である。 図６のデータライト処理フロー図である。 図６の信号品質測定処理フロー図である。 図６の信号品質測定処理の説明図である。 図６の信号品質測定結果テーブルの説明図である。 図６の等高線マップの説明図である。 図６の他の等高線マップの説明図である。 図６の変曲点によるライトオフセット値計算処理の説明図である。 図６の変曲点によるリードオフセット値計算処理の説明図である。 図１１乃至図１４の変曲点の発生理由の説明図である。 図１１乃至図１４の変曲点の発生理由の他の説明図である。 図４のオフセットテーブルの説明図である。 本発明の第２の実施の形態による図４のオフセットテーブルの説明図である。 本発明の第３の実施の形態のオフセット測定処理の説明図である。 従来技術のディスクリート型媒体の説明図である。 従来のディスクリート型媒体のオフセット処理の説明図である。

符号の説明

１ アクチュエータ
３ 分離型ヘッド
３−１ リード素子
３−２ ライト素子
４ ディスクリートトラック型ディスク
５ スピンドルモータ
１４ ＭＣＵ（制御ユニット）
１６ サーボ領域
１７ データ領域
１７−１ 記録トラック
１７−２ 記録不能領域
２１ コントローラ
２４ オフセットテーブル

Claims (5)

1. 記録トラックと記録不能領域とが、交互に設けられた磁気記録媒体に対する磁気記録ヘッドのオフセット量を測定する磁気記録ヘッドのオフセット測定方法において、
   リード素子とライト素子とが分離された前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記リード素子により、前記書き込まれた測定データを読み出し、信号品質を測定するステップと、
   前記変化したライト位置とリード位置における前記測定された信号品質に関する２次元のマップから等高線を求め，前記等高線の変曲点からライトオフセット値およびリードオフセット値を計算するステップとを有する
   ことを特徴とする磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。
2. 前記計算ステップは、
   前記２次元マップの等高線のうち，前記信号品質が最大である等高線以外の等高線を選択するステップと、
   前記選択した等高線の変曲点を用いて前記ライトオフセット値とリードオフセット値を計算するステップからなる
   ことを特徴とする請求項１の磁気記録ヘッドのオフセット測定方法。
3. 記録トラックと記録不能領域とが、交互に設けられた磁気記録媒体と、
   前記記録トラックのデータをリードするリード素子とライトするライト素子とが分離された磁気記録ヘッドと、
   前記磁気記録ヘッドを前記磁気記録媒体のトラック横断方向に移動するアクチュエータと、
   前記記録トラックに対する前記リード素子のオフセット値と、前記ライト素子のオフセット値を格納するテーブルと、
   前記アクチュエータを前記テーブルの前記リード素子のオフセット値と、前記ライト素子のオフセット値を用いて、駆動制御する制御ユニットとを有し、
   前記テーブルは、前記磁気記録ヘッドのライト位置とリード位置とを変化させながら、前記ライト素子により、前記磁気記録媒体に測定データを書き込み、前記リード素子により、前記書き込まれた測定データを読み出して、測定された信号品質に関する２次元のマップから求められた等高線の変曲点から計算された前記ライト素子のオフセット値およびリード素子のオフセット値を格納する
   ことを特徴とする磁気記録再生装置。
4. 前記制御ユニットが、前記ライト素子のオフセット値およびリード素子のオフセット値の測定処理を実行する
   ことを特徴とする請求項３の磁気記録再生装置。
5. 前記テーブルは、前記２次元マップの等高線のうち，選択された前記信号品質が最大である等高線以外の等高線の変曲点を用いて計算した前記ライト素子のオフセット値とリード素子のオフセット値を格納する
   ことを特徴とする請求項３の磁気記録再生装置。

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