JP2007249146A - Inspection auxiliary device for projector - Google Patents

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JP2007249146A
JP2007249146A JP2006077684A JP2006077684A JP2007249146A JP 2007249146 A JP2007249146 A JP 2007249146A JP 2006077684 A JP2006077684 A JP 2006077684A JP 2006077684 A JP2006077684 A JP 2006077684A JP 2007249146 A JP2007249146 A JP 2007249146A
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JP2006077684A
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Japanese (ja)
Inventor
Tein Rin
ティン リン
Fumito Ito
文人 伊藤
Ri Ian Chion
リ イアン チォン
Kuoru Ruu Maa
クォン ルー マー
Tai Rii Poon
タイ リー ポォン
Hoi Miin Rao
ホイ ミイン ラオ
Hoa Yoon Chan
ホア ヨォン チャン
Minoru Horishima
稔 堀島
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Seiko Epson Corp
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Seiko Epson Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection auxiliary device for inspecting a projector, which can be rapidly arranged in compliance with a market requirement, the extension cost of which is low and the space for arrangement of which is made small. <P>SOLUTION: The inspection auxiliary device 8 has a darkroom 10, and a pedestal for inspection 30 on which the projector 100 is placed. A distance between the opening for operation of the darkroom 10 and a projection screen arranging part is regulated as a distance required to form an image by projecting projected light to a projection screen 50 by the projector, and an area through which the projected light by the projector 100 does not pass is regulated as a pedestal-for-inspection arranging area where a part of the pedestal for inspection 30 is arranged. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、プロジェクタの検査において使用される検査補助装置に関するものである。   The present invention relates to an inspection auxiliary device used in projector inspection.

従来、プロジェクタからスクリーンに投射された投射像を観測して、プロジェクタ内部
の部品の位置が適切か否か等の検査が行われている。
このような検査には、例えば、諧調検査、色むら検査、光軸調整のための検査等がある
。これらの検査の精度を確保するために、これらの検査は外部からの光による外乱を遮断
することができる暗室において行われる。この暗室と、プロジェクタを載置する検査用架
台(作業机とも呼ぶ)から検査補助装置が構成される。
これらの検査補助装置は、多種の検査を行う工程ごとに必要であるため、検査の種類に
応じて多数必要である。このため、プロジェクタ製造工場において、検査補助装置のため
に大きなスペースが必要となるという問題がある。
これに対して、収束レンズ、透過型スクリーン、CCDカメラを備えた小型の検査補助
装置が提案されている(例えば、特許文献1)。
Conventionally, a projection image projected on a screen from a projector is observed to inspect whether or not the position of components inside the projector is appropriate.
Examples of such inspection include gradation inspection, color unevenness inspection, and inspection for optical axis adjustment. In order to ensure the accuracy of these inspections, these inspections are performed in a dark room that can block external disturbance caused by light. This dark room and an inspection stand (also called a work desk) on which the projector is placed constitute an inspection auxiliary device.
Since these inspection auxiliary devices are necessary for each process for performing various types of inspections, a large number of such inspection auxiliary devices are required depending on the type of inspection. For this reason, there is a problem that a large space is required for the auxiliary inspection device in the projector manufacturing factory.
On the other hand, a small inspection auxiliary device including a converging lens, a transmission screen, and a CCD camera has been proposed (for example, Patent Document 1).

特開2004−4562号公報JP 2004-4562 A

ところで、現在の激しく変動する市場要求に応じるために、製造ラインを迅速に増設す
る必要がある場合がある。このとき、プロジェクタの検査用の検査補助装置も増設する必
要がある場合がある。
しかし、上述の技術においては、例えば、収束レンズ、透過型スクリーン、CCDカメ
ラという部材を調達する必要があり、迅速に検査補助装置を増設できない場合がある。ま
た、多数の検査補助装置を増設するための収束レンズ等の部材の調達コストが過大となる
場合がある。
By the way, it may be necessary to quickly add a production line in order to meet the current market requirements that fluctuate drastically. At this time, it may be necessary to add an inspection auxiliary device for inspecting the projector.
However, in the above-described technology, for example, it is necessary to procure members such as a converging lens, a transmissive screen, and a CCD camera, and it may not be possible to quickly add an inspection auxiliary device. Further, the procurement cost of members such as a converging lens for adding a large number of inspection auxiliary devices may become excessive.

そこで、本発明は、プロジェクタ検査用の検査補助装置であって、市場要求に応じて迅
速に配備することができ、かつ、増設コストが低廉であり、さらに、配備のためのスペー
スを小さくできる検査補助装置を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention is an inspection auxiliary apparatus for inspecting a projector, which can be quickly deployed according to market demand, has a low expansion cost, and can reduce a space for deployment. An object is to provide an auxiliary device.

前記目的は、第1の発明によれば、暗室と、プロジェクタを配置するための検査用架台
を有する検査補助装置であって、前記暗室は、投影スクリーンが配置される投影スクリー
ン配置部と、前記投影スクリーン配置部に対向する作業用開口と、前記作業用開口に配置
された遮光カーテンと、側壁部と、底部と、天井部と、を有し、前記作業用開口と前記投
影スクリーン配置部との距離は、前記プロジェクタが前記投影スクリーンに対して投射光
を投射して像を形成するために必要な距離に基づいて規定されており、前記プロジェクタ
による投射光が通過しない領域が、前記検査用架台の一部を配置する検査用架台配置領域
として規定されており、前記遮光カーテンは、前記プロジェクタからの投射光を通過させ
るための入射用開口を有し、前記検査用架台は、前記暗室内部に格納されない部分に規定
される前記プロジェクタを配置するプロジェクタ配置部を有し、前記プロジェクタ配置部
は、前記プロジェクタが配置されたときに、前記プロジェクタの投影レンズが前記遮光用
カーテンの前記入射用開口に対応する位置として規定されていることを特徴とする検査補
助装置により達成される。
According to the first aspect of the present invention, there is provided an inspection auxiliary apparatus having a dark room and an inspection gantry for arranging a projector, wherein the dark room includes a projection screen arrangement unit on which a projection screen is arranged, A work opening facing the projection screen arrangement portion; a light-shielding curtain arranged in the work opening; a side wall portion; a bottom portion; and a ceiling portion; the work opening and the projection screen arrangement portion; Is defined based on a distance necessary for the projector to project an incident light onto the projection screen to form an image, and an area where the incident light does not pass through the projector is used for the inspection. It is defined as an inspection pedestal placement region in which a part of the pedestal is placed, and the light shielding curtain has an entrance opening for allowing the projection light from the projector to pass through, The inspection platform includes a projector arrangement unit that arranges the projector defined in a portion that is not stored in the darkroom, and the projector arrangement unit has a projection lens of the projector when the projector is arranged. This is achieved by an inspection assisting device that is defined as a position corresponding to the entrance opening of the light shielding curtain.

第1の発明の構成によれば、前記作業用開口と前記投影スクリーン配置部との距離は、
前記プロジェクタが前記投影スクリーンに対して投射光を投射して像を形成するために必
要な距離に基づいて規定されている。これは、上述の検査をするために必要十分な距離を
確保しつつ、奥行き方向において、無駄なスペースを排除していることを意味する。
また、前記プロジェクタによる投射光が通過しない領域が、前記検査用架台の一部を配
置する検査用架台配置領域として規定されている。このため、前記暗室内の空間は有効に
利用することができるとともに、前記検査補助装置を配備するためのスペースを小さくす
ることができる。
さらに、前記検査用架台は、前記暗室内部に格納されない部分に規定される前記プロジ
ェクタを配置するプロジェクタ配置部を有する。そして、前記プロジェクタ配置部は、前
記プロジェクタが配置されたときに、前記プロジェクタの投影レンズが前記遮光用カーテ
ンの前記入射用開口に対応する位置として規定されている。このため、前記プロジェクタ
を前記暗室の外に置き、前記プロジェクタからの投射光のみを前記暗室内に入射させるこ
とができる。
また、作業担当者は、前記暗室の外で検査作業をすることができる。
前記検査補助装置は、その大きさ及び形状を規定するだけで構成でき、収束レンズや透
過型スクリーン、CCDカメラ等の部材を調達する必要はないから、市場要求に応じて迅
速に配備することができ、かつ、増設コストが低廉である。
このように、前記検査補助装置は、市場要求に応じて迅速に配備することができ、かつ
、増設コストが低廉であり、さらに、配備のためのスペースを小さくできる。
According to the configuration of the first invention, the distance between the work opening and the projection screen arrangement portion is:
The projector is defined based on a distance required for projecting projection light onto the projection screen to form an image. This means that unnecessary space is eliminated in the depth direction while securing a necessary and sufficient distance for the above-described inspection.
Further, an area where the projection light from the projector does not pass is defined as an inspection frame arrangement area where a part of the inspection frame is arranged. For this reason, the space in the darkroom can be used effectively, and the space for installing the inspection auxiliary device can be reduced.
Further, the inspection gantry includes a projector arrangement unit that arranges the projector defined in a portion not stored in the darkroom. The projector arrangement unit defines the projection lens of the projector as a position corresponding to the incident opening of the light shielding curtain when the projector is arranged. For this reason, the projector can be placed outside the dark room, and only the projection light from the projector can enter the dark room.
In addition, the person in charge of the work can perform the inspection work outside the darkroom.
The inspection auxiliary device can be configured simply by defining its size and shape, and it is not necessary to procure components such as a converging lens, a transmissive screen, and a CCD camera, so that it can be quickly deployed according to market demands. This is possible and the expansion cost is low.
As described above, the inspection auxiliary device can be quickly deployed according to market demands, the cost of expansion is low, and the space for deployment can be reduced.

第2の発明は、第1の発明の構成において、前記検査用架台は、比較的大きな検査関連
機器を配置する奥行き方向が長い下部領域を有し、前記下部領域の一部が、前記検査用架
台配置領域に配置されることを特徴とする検査補助装置である。
According to a second aspect of the present invention, in the configuration of the first aspect, the inspection gantry includes a lower region having a long depth direction in which a relatively large inspection-related device is arranged, and a part of the lower region is used for the inspection. An inspection assisting device is arranged in a gantry arrangement region.

第2の発明の構成によれば、前記下部領域の一部が前記検査用架台配置領域に配置され
るから、前記検査補助装置を配備するためのスペースを小さくすることができる。
According to the structure of 2nd invention, since a part of said lower area | region is arrange | positioned in the said test frame arrangement | positioning area | region, the space for arrange | positioning the said test | inspection auxiliary | assistance apparatus can be made small.

第3の発明は、第2の発明の構成において、前記検査用架台配置領域に配置される前記
下部領域には、光の反射を防止する反射防止手段が配置されていることを特徴とする検査
補助装置である。
According to a third aspect of the invention, in the configuration of the second aspect of the invention, an antireflection means for preventing reflection of light is arranged in the lower region arranged in the examination stand arrangement region. It is an auxiliary device.

第3の発明の構成によれば、例えば、前記投影スクリーンからの反射光が、前記検査用
架台配置領域に配置された前記下部領域に反射して、再び前記投影スクリーンに到達する
ことを防止することができる。これにより、前記下部領域からの反射光が検査の障害とな
ることを防止することができる。
According to the configuration of the third aspect of the invention, for example, the reflected light from the projection screen is reflected on the lower area arranged in the inspection gantry arrangement area and is prevented from reaching the projection screen again. be able to. Thereby, it is possible to prevent the reflected light from the lower region from becoming an obstacle to inspection.

第4の発明は、第1の発明の構成において、前記プロジェクタ配置部には、光の反射を
防止するための遮光板が配置されており、前記遮光板は、前記投影レンズから投射される
投射光を通過させる入射孔を有することを特徴とする検査補助装置である。
According to a fourth aspect of the present invention, in the configuration of the first aspect, a light shielding plate for preventing reflection of light is disposed in the projector arrangement portion, and the light shielding plate is projected from the projection lens. An inspection assisting device having an incident hole through which light passes.

第4の発明の構成によれば、前記検査補助装置は前記遮光板を有するから、不要な光が
検査の障害となることを防止しつつ、前記投影レンズからの投射光を前記暗室内に入射さ
せることができる。
According to the configuration of the fourth invention, since the inspection auxiliary device includes the light shielding plate, the projection light from the projection lens enters the dark room while preventing unnecessary light from becoming an obstacle to inspection. Can be made.

以下、この発明の好適な実施の形態を添付図面等を参照しながら、詳細に説明する。
尚、以下に述べる実施の形態は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい
種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定す
る旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。
Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.
The embodiments described below are preferred specific examples of the present invention, and thus various technically preferable limitations are given. However, the scope of the present invention is particularly limited in the following description. Unless otherwise stated, the present invention is not limited to these embodiments.

(実施の形態)
図1は、本発明の実施の形態に係る検査装置8を示す概略側面図である。検査装置8は
、後述のプロジェクタ100(図5参照)の検査用の検査装置である。検査装置8は、検
査補助装置の一例である。
図2は、暗室10を示す概略斜視図である。暗室10は、暗室の一例である。
図3は、作業机30等を示す概略図である。作業机30は、作業用架台の一例である。
作業机30には、プロジェクタ100が配置される。
図4は、作業机30等を示す概略図である。
検査装置8においては、プロジェクタ100からスクリーン50に投射された投射像を
観測して、プロジェクタ100内部の部品の位置が適切か否か等の検査が行わる。このよ
うな検査には、例えば、諧調検査、色むら検査、光軸調整のための検査等がある。
(Embodiment)
FIG. 1 is a schematic side view showing an inspection apparatus 8 according to an embodiment of the present invention. The inspection apparatus 8 is an inspection apparatus for inspecting a projector 100 (see FIG. 5) described later. The inspection device 8 is an example of an inspection auxiliary device.
FIG. 2 is a schematic perspective view showing the dark room 10. The dark room 10 is an example of a dark room.
FIG. 3 is a schematic diagram showing the work desk 30 and the like. The work desk 30 is an example of a work platform.
A projector 100 is disposed on the work desk 30.
FIG. 4 is a schematic diagram showing the work desk 30 and the like.
In the inspection device 8, a projection image projected on the screen 50 from the projector 100 is observed, and an inspection such as whether or not the position of the components inside the projector 100 is appropriate is performed. Examples of such inspection include gradation inspection, color unevenness inspection, and inspection for optical axis adjustment.

(プロジェクタ100の構成について)
図5は、検査装置8において検査の対象となるプロジェクタ100の概観の一例を示す
概略斜視図である。
図6は、プロジェクタ100を構成する光学ユニット4の主な部品を示す概略図である

まず、プロジェクタ100の構成を簡単に説明する。
(Configuration of projector 100)
FIG. 5 is a schematic perspective view showing an example of an overview of the projector 100 to be inspected in the inspection apparatus 8.
FIG. 6 is a schematic diagram showing main parts of the optical unit 4 constituting the projector 100.
First, the configuration of the projector 100 will be briefly described.

図5に示すように、プロジェクタ100は筐体100aと投影レンズ100b等を有す
る。
図6に示すように、プロジェクタ100の光学ユニット4は、インテグレータ照明光学
系41、色分離光学系42、リレー光学系43、光変調光学系及び色合成光学系を一体化
した光学装置44、及び、投射光学系としての投影レンズ100bを有する。
As shown in FIG. 5, the projector 100 includes a housing 100a, a projection lens 100b, and the like.
As shown in FIG. 6, the optical unit 4 of the projector 100 includes an integrator illumination optical system 41, a color separation optical system 42, a relay optical system 43, an optical device 44 that integrates a light modulation optical system and a color synthesis optical system, and And a projection lens 100b as a projection optical system.

インテグレータ照明光学系41は、光学装置44を構成する3枚の液晶パネル441(
赤、緑、青の色光ごとにそれぞれ液晶パネル441R,441G,441Bとする)の画
像形成領域を略均一に照明するための光学系である。インテグレータ照明光学系41は、
光源装置411、第1レンズアレイ412、第2レンズアレイ413、偏光変換素子41
4、及び重畳レンズ415を備える。
The integrator illumination optical system 41 includes three liquid crystal panels 441 (
This is an optical system for illuminating the image forming area of the liquid crystal panels 441R, 441G, and 441B for each of red, green, and blue color lights substantially uniformly. The integrator illumination optical system 41 is
Light source device 411, first lens array 412, second lens array 413, polarization conversion element 41
4 and a superimposing lens 415.

色分離光学系42は、2枚のダイクロイックミラー421,422と、反射ミラー42
3を有する。ダイクロイックミラー421,422は、インテグレータ照明光学系41か
ら射出された複数の部分光束を赤(R)、緑(G)、青(B)の3色の色光に分離する機
能を有している。
The color separation optical system 42 includes two dichroic mirrors 421 and 422 and a reflection mirror 42.
3. The dichroic mirrors 421 and 422 have a function of separating a plurality of partial light beams emitted from the integrator illumination optical system 41 into red (R), green (G), and blue (B) color lights.

リレー光学系43は、入射側レンズ431と、リレーレンズ433と、反射ミラー43
2,434を備え、色分離光学系42で分離された色光である赤色光を液晶パネル441
Rまで導く機能を有している。
The relay optical system 43 includes an incident side lens 431, a relay lens 433, and a reflection mirror 43.
2 and 434, the liquid crystal panel 441 emits red light which is color light separated by the color separation optical system 42.
It has a function to guide to R.

光学装置44は、入射された光束を画像情報に応じて変調してカラー画像を形成する機
能を有する。光学装置44は、色分離光学系42で分離された各色光が入射される3つの
入射側偏光板442と、各入射側偏光板442の後段に配置される光変調装置としての液
晶パネル441R,441G,441Bと、各液晶パネル441R,441G,441B
の後段に配置される射出側偏光板443と、色合成光学系としてのクロスダイクロイック
プリズム444(以後、「プリズム444」と呼ぶ)を有する。
The optical device 44 has a function of modulating an incident light beam according to image information to form a color image. The optical device 44 includes three incident-side polarizing plates 442 to which the respective color lights separated by the color separation optical system 42 are incident, and a liquid crystal panel 441R as a light modulation device disposed at the subsequent stage of each incident-side polarizing plate 442. 441G, 441B and the respective liquid crystal panels 441R, 441G, 441B
It has an exit-side polarizing plate 443 disposed in the latter stage and a cross dichroic prism 444 (hereinafter referred to as “prism 444”) as a color synthesis optical system.

各液晶パネル441R,441G,441Bは、例えば、ポリシリコンTFTをスイッ
チング素子として用いたものである。
入射側偏光板442は、色分離光学系42で分離された各色光のうち、一定方向の偏光
光のみ透過させ、その他の光束を吸収するものである。入射側偏光板442は、サファイ
ヤガラス等の基板に偏光膜が貼付されたものである。
射出側偏光板443も、入射側偏光板442と略同様に構成され、液晶パネル441(
441R,441G,441B)から射出された光束のうち、所定方向の偏光光のみ透過
させ、他の光束を吸収するものである。
入射側偏光板442と射出側偏光板443は、互いの偏光軸の方向が直交するように設
定されている。
Each of the liquid crystal panels 441R, 441G, and 441B uses, for example, a polysilicon TFT as a switching element.
The incident-side polarizing plate 442 transmits only polarized light in a certain direction out of each color light separated by the color separation optical system 42 and absorbs other light beams. The incident side polarizing plate 442 is obtained by attaching a polarizing film to a substrate such as sapphire glass.
The exit-side polarizing plate 443 is also configured in substantially the same manner as the incident-side polarizing plate 442, and the liquid crystal panel 441 (
441R, 441G, 441B) transmits only polarized light in a predetermined direction and absorbs other light beams.
The incident side polarizing plate 442 and the exit side polarizing plate 443 are set so that the directions of the polarization axes thereof are orthogonal to each other.

プリズム444は、射出側偏光板443から射出され、各色光ごとに変調された光学像
を合成してカラー画像を形成するものである。
プリズム444には、赤色光を反射する誘電体多層膜と青色光を反射する誘電体多層膜
とが、4つの直角プリズムの界面に沿って略X字状に設けられ、これらの誘電体多層膜に
よる3つの色光が合成される。
The prism 444 combines the optical images emitted from the emission-side polarizing plate 443 and modulated for each color light to form a color image.
The prism 444 is provided with a dielectric multilayer film that reflects red light and a dielectric multilayer film that reflects blue light in a substantially X shape along the interfaces of four right-angle prisms. These dielectric multilayer films The three colored lights are synthesized.

投影レンズ100bは、光学装置44のプリズム444で合成されたカラー画像を拡大
して、外部のスクリーン50に投射するものである。
図1に示すように、投影レンズ100bから投射される光束は、次第に広がってスクリ
ーン50に到達する。
The projection lens 100 b enlarges the color image synthesized by the prism 444 of the optical device 44 and projects it on the external screen 50.
As shown in FIG. 1, the light beam projected from the projection lens 100 b gradually spreads and reaches the screen 50.

(検査装置8の構造)
図2に示すように、暗室10は、スクリーン50(図1参照)が配置されるスクリーン
配置壁16を有する。スクリーン配置壁16は、スクリーン配置部の一例である。
また、暗室10は、作業用開口12を有する。作業用開口12は、スクリーン配置壁1
6に対向して配置されている。作業用開口12は、作業用開口の一例である。作業用開口
12には遮光カーテン13が配置されており、検査目的に応じて開閉される。
遮光カーテン13は、入射用開口13aを有する。入射用開口13aは、プロジェクタ
100の投影レンズ100bからの投射光S(図1参照)を通過させるための構成である
。入射用開口13aは入射用開口の一例である。
また、遮光カーテン13は、作業台下部配置用開口13bを有する。作業台下部配置用
開口13bは、図1に示すように、作業台30の下部30Bの一部である下部領域30B
bを暗室10内に配置するための構成である。
(Structure of inspection device 8)
As shown in FIG. 2, the darkroom 10 has a screen arrangement wall 16 on which a screen 50 (see FIG. 1) is arranged. The screen arrangement wall 16 is an example of a screen arrangement unit.
The dark room 10 has a work opening 12. The work opening 12 is provided on the screen arrangement wall 1.
6 is disposed opposite to 6. The work opening 12 is an example of a work opening. A light-shielding curtain 13 is disposed in the work opening 12 and is opened and closed according to the inspection purpose.
The light shielding curtain 13 has an incident opening 13a. The incident opening 13a is configured to allow the projection light S (see FIG. 1) from the projection lens 100b of the projector 100 to pass therethrough. The incident opening 13a is an example of an incident opening.
Further, the light shielding curtain 13 has an opening 13b for disposing the work table lower portion. As shown in FIG. 1, the work table lower portion arrangement opening 13 b is a lower region 30 </ b> B that is a part of the lower part 30 </ b> B of the work table 30.
This is a configuration for arranging b in the dark room 10.

作業用開口12とスクリーン配置壁16との距離d1(図1参照)は、プロジェクタ1
00がスクリーン50に対して、投射光Sを投射して像を形成するために必要な距離に基
づいて規定されている。具体的には、距離d1は、プロジェクタ100の焦点距離に、ス
クリーン50を配置するために必要な距離を加えた距離である。
また、図1に示すように、暗室10内部において、投射光Sが通過しない領域Pが、下
部領域30Bbを配置するための領域として規定されている。領域Pは、検査用架台配置
領域の一例である。
The distance d1 (see FIG. 1) between the work opening 12 and the screen arrangement wall 16 is the projector 1
00 is defined based on the distance required for projecting the projection light S onto the screen 50 to form an image. Specifically, the distance d1 is a distance obtained by adding a distance necessary for disposing the screen 50 to the focal length of the projector 100.
Further, as shown in FIG. 1, a region P in which the projection light S does not pass is defined as a region for arranging the lower region 30 </ b> Bb in the dark room 10. The area P is an example of an inspection gantry arrangement area.

また、暗室10は、側壁18A及び18B、底部14及び天井20を有する。側壁18
A及び18Bは側壁部の一例である。底部14は底部の一例である。天井20は天井部の
一例である。
The dark room 10 includes side walls 18A and 18B, a bottom portion 14 and a ceiling 20. Side wall 18
A and 18B are examples of the side wall portions. The bottom part 14 is an example of a bottom part. The ceiling 20 is an example of a ceiling part.

図3に示すように、作業机30は、上部板30a、中間板30b及び底部板30cを有
する。中間板30bの上側が、上部領域30A(図4(a)参照)である。そして、中間
板30bの下側が、下部領域30Bである。下部領域30Bは、奥行き方向B1の長さが
、幅方向B2に比べて長い。
As shown in FIG. 3, the work desk 30 includes an upper plate 30a, an intermediate plate 30b, and a bottom plate 30c. The upper side of the intermediate plate 30b is an upper region 30A (see FIG. 4A). The lower side of the intermediate plate 30b is a lower region 30B. The lower region 30B is longer in the depth direction B1 than in the width direction B2.

また、上部板30aには、モニタ支持台30dが配置されており、モニタ102が配置
される。さらに、上部板30aには、プロジェクタ100、スピーカ104、変換器(切
替器)106、照度計108が配置される。
プロジェクタ100は、図3に示す上部板30aのプロジェクタ配置領域30aaに配
置されている。プロジェクタ配置領域30aaは、プロジェクタ配置部の一例である。
プロジェクタ配置領域30aaは、作業机30にプロジェクタ100が配置されたとき
に、投影レンズ100bが遮光カーテン13の入射用開口13a(図2参照)に対応する
位置として規定されている。このため、遮光カーテン13は、投影レンズ100bからの
投射光Sの通過を妨げることはない。
Further, a monitor support 30d is disposed on the upper plate 30a, and the monitor 102 is disposed. Furthermore, a projector 100, a speaker 104, a converter (switching device) 106, and an illuminometer 108 are arranged on the upper plate 30a.
The projector 100 is arranged in the projector arrangement area 30aa of the upper plate 30a shown in FIG. The projector arrangement area 30aa is an example of a projector arrangement unit.
The projector arrangement area 30aa is defined as a position where the projection lens 100b corresponds to the incident opening 13a (see FIG. 2) of the light shielding curtain 13 when the projector 100 is arranged on the work desk 30. For this reason, the light-shielding curtain 13 does not hinder the passage of the projection light S from the projection lens 100b.

また、上部板30aには、遮光板32(図4(b)参照)が配置されている。
図4(b)に示すように、遮光板32は、入射孔32aを有する。入射孔32aは入射
孔の一例である。
また、遮光板32は、光の反射を防止する性質を有する。この遮光板32は遮光板の一
例である。
この入射孔32aの位置はプロジェクタ100が作業机30に配置されたときに、投影
レンズ100bと対応するようになっている。具体的には、投影レンズ100bの先端部
分は遮光板32と接する。そして、投射光Sは入射孔32aを通過して、暗室10内部に
侵入する。
図4(b)に示すように、遮光板32の形状は、遮光カーテン13の入射用開口13a
よりも大きい。そして、作業机30にプロジェクタ100が配置された状態において、遮
光板32と遮光カーテン13は接している。このため、入射用開口13aの形状を投影レ
ンズ100bの形状よりも大きく形成した場合であっても、遮光板32によって、外部の
光が暗室10内に侵入することを防止することができる。
A light shielding plate 32 (see FIG. 4B) is disposed on the upper plate 30a.
As shown in FIG. 4B, the light shielding plate 32 has an incident hole 32a. The incident hole 32a is an example of an incident hole.
The light shielding plate 32 has a property of preventing reflection of light. The light shielding plate 32 is an example of a light shielding plate.
The position of the incident hole 32a corresponds to the projection lens 100b when the projector 100 is placed on the work desk 30. Specifically, the tip portion of the projection lens 100 b is in contact with the light shielding plate 32. Then, the projection light S passes through the incident hole 32a and enters the dark room 10.
As shown in FIG. 4B, the shape of the light shielding plate 32 is the incident opening 13a of the light shielding curtain 13.
Bigger than. In the state where the projector 100 is disposed on the work desk 30, the light shielding plate 32 and the light shielding curtain 13 are in contact with each other. For this reason, even if the shape of the entrance opening 13a is formed larger than the shape of the projection lens 100b, the light shielding plate 32 can prevent external light from entering the dark room 10.

中間板30bには、暖機運転用のプロジェクタ100A、及び、信号発生機110が配
置される。
底部板30cには、電源112等の比較的大きな検査関連機器が配置される。
A projector 100A for warm-up operation and a signal generator 110 are disposed on the intermediate plate 30b.
A relatively large inspection-related device such as the power source 112 is disposed on the bottom plate 30c.

図4(a)に示すように、下部領域30Bbには、遮光布34が配置されている。遮光
布34は、光を吸収し、反射しない性質を有する。この遮光布34によって、例えば、ス
クリーン50からの光が反射することを防止することができる。遮光布34は、反射防止
手段の一例である。
As shown in FIG. 4A, a light shielding cloth 34 is disposed in the lower region 30Bb. The light shielding cloth 34 has a property of absorbing light and not reflecting it. For example, the light shielding cloth 34 can prevent light from the screen 50 from being reflected. The light shielding cloth 34 is an example of an antireflection means.

検査装置8は、上述のように構成されている。
プロジェクタからスクリーンに投射された投射像を観測して行う検査においては、暗室
10は投射光Sが通過できれば十分である。プロジェクタ100を暗室10内に配置する
必要はない。また、検査担当者が暗室10内で検査作業する必要もない。特に、近時、プ
ロジェクタの光源の性能が向上しており、検査担当者は暗室外に位置して暗室内のスクリ
ーンを観測しても、検査目的を達成することができるようになっている。具体的には、従
来約800ANSI(American National Standards In
stitute)ルーメンであった輝度が、現在では、2000乃至3000ANSIル
ーメンに向上している。なお、ルーメンとは、ANSI(米国規格協会)で統一されたプ
ロジェクターの輝度を表す単位である。
この点、検査装置8によれば、作業用開口12とスクリーン配置壁16との距離d1(
図1参照)は、プロジェクタ100がスクリーン50に対して投射光Sを投射して像を形
成するために必要な距離として規定されている。これは、上述の検査をするために必要十
分な距離を確保しつつ、奥行き方向において、無駄なスペースを排除していることを意味
する。
また、プロジェクタ100による投射光Sが通過しない領域が、作業机30の一部を配
置するための領域P(図1参照)として規定されている。このため、暗室10内の空間は
有効に利用することができるとともに、検査装置8を配備するためのスペースを小さくす
ることができる。
さらに、作業机30は、暗室10内部に格納されない部分に規定されるプロジェクタ配
置領域30aa(図3参照)を有する。そして、プロジェクタ配置領域30aaは、プロ
ジェクタ100が配置されたときに、プロジェクタ100の投影レンズ100bが遮光用
カーテン13の入射用開口13aに対応する位置として規定されている。このため、プロ
ジェクタ100を暗室10の外に置き、プロジェクタ100からの投射光Sのみを暗室1
0内に入射させることができる。
また、検査担当者は、暗室10の外で検査作業をすることができる。
検査装置8は、その大きさ及び形状を規定するだけで構成でき、収束レンズや透過型ス
クリーン、CCDカメラ等の部材を調達する必要はないから、市場要求に応じて迅速に配
備することができ、かつ、増設コストが低廉である。
このように、検査装置8は、市場要求に応じて迅速に配備することができ、かつ、増設
コストが低廉であり、さらに、配備のためのスペースを小さくできる。
The inspection device 8 is configured as described above.
In the inspection performed by observing the projection image projected from the projector to the screen, it is sufficient that the projection light S can pass through the dark room 10. It is not necessary to arrange the projector 100 in the dark room 10. Further, it is not necessary for the person in charge of the inspection to perform the inspection work in the dark room 10. In particular, the performance of the light source of the projector has recently been improved, and the inspection person can achieve the inspection purpose even if the person in charge of the inspection is located outside the dark room and observes the screen in the dark room. Specifically, about 800 ANSI (American National Standards In)
The brightness of the lumens (state) is now improved to 2000 to 3000 ANSI lumens. Note that the lumen is a unit representing the brightness of the projector standardized by ANSI (American National Standards Institute).
In this regard, according to the inspection apparatus 8, the distance d1 (the distance between the work opening 12 and the screen arrangement wall 16).
1) is defined as a distance necessary for the projector 100 to project the projection light S onto the screen 50 to form an image. This means that unnecessary space is eliminated in the depth direction while securing a necessary and sufficient distance for the above-described inspection.
Further, an area where the projection light S from the projector 100 does not pass is defined as an area P (see FIG. 1) for arranging a part of the work desk 30. For this reason, the space in the dark room 10 can be used effectively, and the space for installing the inspection apparatus 8 can be reduced.
Furthermore, the work desk 30 has a projector arrangement area 30aa (see FIG. 3) defined in a portion that is not stored inside the darkroom 10. The projector placement area 30aa is defined as a position where the projection lens 100b of the projector 100 corresponds to the entrance opening 13a of the light shielding curtain 13 when the projector 100 is placed. Therefore, the projector 100 is placed outside the dark room 10 and only the projection light S from the projector 100 is sent to the dark room 1.
It can be made incident within zero.
Further, the person in charge of inspection can perform inspection work outside the darkroom 10.
The inspection device 8 can be configured simply by defining its size and shape, and it is not necessary to procure members such as a converging lens, a transmission screen, and a CCD camera, so that it can be quickly deployed according to market requirements. And the expansion cost is low.
In this way, the inspection device 8 can be quickly deployed according to market demands, the expansion cost is low, and the space for deployment can be reduced.

また、下部領域30Bbには、光の反射を防止する遮光布34(図4参照)が配置され
ている。
このため、例えば、スクリーン50からの反射光が、下部領域30Bbに反射して、再
びスクリーン50に到達することを防止することができる。これにより、下部領域30B
bからの反射光が検査の障害となることを防止することができる。
Further, a light shielding cloth 34 (see FIG. 4) for preventing light reflection is disposed in the lower region 30Bb.
For this reason, for example, it is possible to prevent the reflected light from the screen 50 from being reflected by the lower region 30Bb and reaching the screen 50 again. Thereby, the lower region 30B
It is possible to prevent the reflected light from b from becoming an obstacle to inspection.

さらに、プロジェクタ配置領域30aaには、光の反射を防止するための遮光板32が
配置されており、遮光板32は、入射孔32aを有するから、不要な光が検査の障害とな
ることを防止しつつ、投影レンズ100bからの投射光Sを暗室10内に入射させること
ができる。
Further, a light shielding plate 32 for preventing light reflection is disposed in the projector arrangement region 30aa. Since the light shielding plate 32 has an incident hole 32a, unnecessary light is prevented from becoming an obstacle to inspection. However, the projection light S from the projection lens 100b can enter the dark room 10.

本発明は、上述の各実施の形態に限定されない。さらに、上述の各実施の形態は、相互
に組み合わせて構成するようにしてもよい。
The present invention is not limited to the embodiments described above. Furthermore, the above-described embodiments may be combined with each other.

本発明の実施の形態に係る検査装置を示す概略側面図。1 is a schematic side view showing an inspection apparatus according to an embodiment of the present invention. 暗室を示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows a dark room. 作業机等を示す概略図。Schematic which shows a work desk etc. FIG. 作業机等を示す概略図。Schematic which shows a work desk etc. FIG. プロジェクタの概観の一例を示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows an example of the external appearance of a projector. プロジェクタを構成する光学ユニットの主な部品を示す概略図。Schematic which shows the main components of the optical unit which comprises a projector.

符号の説明Explanation of symbols

8…検査装置、10…暗室、12…作業用開口、14…底部、16…スクリーン配置壁
、18A,18B…側壁、20…天井、50…スクリーン、100…プロジェクタ、10
0b…投影レンズ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 8 ... Inspection apparatus, 10 ... Dark room, 12 ... Work opening, 14 ... Bottom part, 16 ... Screen arrangement wall, 18A, 18B ... Side wall, 20 ... Ceiling, 50 ... Screen, 100 ... Projector, 10
0b: Projection lens.

Claims (4)

暗室と、プロジェクタを配置するための検査用架台を有する検査補助装置であって、
前記暗室は、
投影スクリーンが配置される投影スクリーン配置部と、
前記投影スクリーン配置部に対向する作業用開口と、
前記作業用開口に配置された遮光カーテンと、
側壁部と、
底部と、
天井部と、
を有し、
前記作業用開口と前記投影スクリーン配置部との距離は、前記プロジェクタが前記投影
スクリーンに対して投射光を投射して像を形成するために必要な距離に基づいて規定され
ており、
前記プロジェクタによる投射光が通過しない領域が、前記検査用架台の一部を配置する
検査用架台配置領域として規定されており、
前記遮光カーテンは、
前記プロジェクタからの投射光を通過させるための入射用開口を有し、
前記検査用架台は、
前記暗室内部に格納されない部分に規定される前記プロジェクタを配置するプロジェク
タ配置部を有し、
前記プロジェクタ配置部は、前記プロジェクタが配置されたときに、前記プロジェクタ
の投影レンズが前記遮光用カーテンの前記入射用開口に対応する位置として規定されてい
ることを特徴とする検査補助装置。
An inspection auxiliary device having a darkroom and an inspection stand for arranging a projector,
The darkroom is
A projection screen placement section on which the projection screen is placed;
A work opening facing the projection screen placement section;
A light-shielding curtain disposed in the work opening;
A side wall,
The bottom,
The ceiling,
Have
The distance between the working opening and the projection screen arrangement portion is defined based on a distance required for the projector to project an incident light onto the projection screen to form an image.
An area through which the projection light from the projector does not pass is defined as an inspection rack arrangement area in which a part of the inspection rack is arranged,
The blackout curtain is
Having an incident aperture for allowing projection light from the projector to pass through;
The inspection platform is
A projector placement section for placing the projector defined in a portion not stored in the darkroom;
The said projector arrangement | positioning part is a test | inspection assistance apparatus characterized by the projection lens of the said projector being prescribed | regulated as a position corresponding to the said entrance opening of the said light-shielding curtain when the said projector is arrange | positioned.
前記検査用架台は、比較的大きな検査関連機器を配置する奥行き方向が長い下部領域を
有し、
前記下部領域の一部が、前記検査用架台配置領域に配置されることを特徴とする請求項
1に記載の検査補助装置。
The inspection platform has a lower region with a long depth direction in which a relatively large inspection-related device is arranged,
The inspection assisting apparatus according to claim 1, wherein a part of the lower region is disposed in the inspection frame arrangement region.
前記検査用架台配置領域に配置される前記下部領域には、光の反射を防止する反射防止
手段が配置されていることを特徴とする請求項2に記載の検査補助装置。
The inspection auxiliary device according to claim 2, wherein an antireflection means for preventing reflection of light is arranged in the lower area arranged in the examination stand arrangement area.
前記プロジェクタ配置部には、光の反射を防止するための遮光板が配置されており、
前記遮光板は、前記投影レンズから投射される投射光を通過させる入射孔を有すること
を特徴とする請求項1に記載の検査補助装置。

In the projector arrangement part, a light shielding plate for preventing reflection of light is arranged,
The inspection auxiliary apparatus according to claim 1, wherein the light shielding plate has an incident hole through which the projection light projected from the projection lens passes.

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KR101087958B1 (en) * 2011-05-17 2011-11-30 (주)아이솔루션 Camera mono-color tracking test system and test method
KR102258210B1 (en) * 2021-02-16 2021-05-27 이동우 Projector test system

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