JP2007234083A - Optical pickup device and tilt detection method - Google Patents

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Takahiro Miyake
隆浩 三宅
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that a conventional optical pickup device installed with a tilt sensor causes the cost increase and upsizing of the optical pickup device due to the attachment of the tilt sensor, and a circuit system is complicated since an inspection for tilt detection beforehand is required and many various operations are required even during the tilt detection further in another conventional optical pickup device not loaded with a tilt sensor. <P>SOLUTION: The optical pickup device comprises: a light source for irradiating an optical storage medium with a light beam; a separation means for separating the light beam into one main beam and two sub beams; a light receiving part for radiating the one main beam and the two sub beams so as to be arranged in a direction orthogonal to an information recording track that an optical recording medium has and respectively independently receiving the reflected light; and a calculation means for calculating the difference of output signals outputted from the light receiving part corresponding to the received light quantities of the reflected light of the two sub beams and detecting the tilt of the optical recording medium. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は光ピックアップ装置に係り、とりわけチルト量を検出する機能を備えた光ピックアップ装置およびチルト検出方法に関する。   The present invention relates to an optical pickup device, and more particularly to an optical pickup device having a function of detecting a tilt amount and a tilt detection method.

近年、情報記録媒体である光ディスクの更なる大容量化が強く求められている。大容量化を進めるには、光ディスクに記録される情報の高密度化が有効な手段であり、光ディスク上に記録される情報の物理的間隔であるトラックピッチやピットピッチの縮小化が進められている。そして、前記ディスクの高密度化に対応するためには、光ディスク装置の基幹部分である光ピックアップ装置に搭載された、光源としてのレーザ光のスポットサイズをより小さくすることが必要であり、そのために波長の短い半導体レーザの使用や、光ピックアップ装置の対物レンズの開口数(NA:Numerical Aperture)の引上げ等の検討が推進されている。   In recent years, there has been a strong demand for further increase in capacity of optical discs as information recording media. In order to increase the capacity, it is effective to increase the density of information recorded on the optical disk, and the track pitch and pit pitch, which are physical intervals of information recorded on the optical disk, have been reduced. Yes. In order to cope with the increase in the density of the disk, it is necessary to further reduce the spot size of laser light as a light source mounted on an optical pickup device that is a key part of the optical disk device. Studies such as using a semiconductor laser with a short wavelength and raising the numerical aperture (NA) of an objective lens of an optical pickup device are being promoted.

一方、光ディスクの高密度化を行う場合、チルトの発生に起因する、光ディスクに記録された情報の読み取り不良または光ディスクへの情報の書き込み不良の問題が顕在化してくる。チルトとは、レーザ光の光軸と光ディスクの記録面の垂線との間の角度ずれ、すなわち、レーザ光に対する光ディスクの記録面の傾きずれを意味する。そして、その発生要因としては、(1)光ディスクをスピンドルモータに保持する際に、光ディスクが傾きずれを有した状態で保持してしまうこと、(2)光ディスクの製造時に光ディスク自体に歪みが発生していること、(3)光ディスク装置の経時変化によりスピンドルモータの軸と光ピックアップ装置のレンズの光軸との間に傾きずれが生ずること、等がある。   On the other hand, when the density of an optical disk is increased, the problem of poor reading of information recorded on the optical disk or poor writing of information on the optical disk due to the occurrence of tilt becomes obvious. The tilt means an angular deviation between the optical axis of the laser beam and the perpendicular of the recording surface of the optical disc, that is, an inclination deviation of the recording surface of the optical disc with respect to the laser beam. The causes of this are as follows: (1) When the optical disk is held by the spindle motor, the optical disk is held in a tilted state. (2) The optical disk itself is distorted during manufacturing of the optical disk. (3) An inclination shift occurs between the axis of the spindle motor and the optical axis of the lens of the optical pickup device due to a change with time of the optical disk device.

従来は、光ディスク装置の製造時に光軸調整を行っておきさえすれば、前述のような原因でチルト量が増大しても、信号の読み取りに重大な影響を与えることはなかったが、近年の光ディスクの高密度化に伴い、わずかな光軸のずれが問題となるようになっている。   Conventionally, as long as the optical axis is adjusted at the time of manufacturing the optical disk device, even if the tilt amount increases due to the above-described reasons, there has been no significant influence on signal reading. As the density of optical discs increases, slight optical axis misalignment has become a problem.

光ディスク装置において、レーザ光の波長λ、開口数NA、およびチルトの許容値Tとの関係は、
T=λ/(NA) (1)
となることが知られており、レーザ光の波長λの短縮化、開口数NAの引上げを行うと、チルト量の許容値Tは小さくなる。そしてチルト量が許容値を超えると、コマ収差の発生によって光ディスク上に集光されたレーザ光のスポット品位が大幅に劣化し、正確な信号の読み取りまたは書き込みが困難となるという問題が生じる。
この問題に対する解決策としては、チルトの発生を根本からなくすような手法、すなわち変形量の少ない光ディスクを使用したり、経時変化の少ない材料を用いて光ディスク装置を構成したりという手法も考えられるが、いずれも大幅な製造コストの増大に繋がるため現実的ではない。このため、上記問題に対する解決策として、光ピックアップ装置に、前記光ディスクの傾きずれを検出するためのチルトセンサを搭載する方法が実施されている。
In the optical disc apparatus, the relationship between the wavelength λ of the laser beam, the numerical aperture NA, and the allowable tilt value T is
T = λ / (NA) 3 (1)
When the wavelength λ of the laser beam is shortened and the numerical aperture NA is increased, the allowable value T of the tilt amount decreases. If the tilt amount exceeds the allowable value, the spot quality of the laser beam condensed on the optical disk is greatly deteriorated due to the occurrence of coma, and there arises a problem that accurate signal reading or writing becomes difficult.
As a solution to this problem, a method of eliminating the occurrence of tilt, that is, a method of using an optical disk with a small amount of deformation or a material of an optical disk device using a material with little temporal change, can be considered. Both of these are not realistic because they lead to a significant increase in manufacturing costs. For this reason, as a solution to the above problem, a method of mounting a tilt sensor for detecting a tilt deviation of the optical disc on an optical pickup device has been implemented.

図12に前記チルトセンサの構成例を示す。チルトセンサ110は、発光ダイオードなど一個の発光素子111と、2分割受光素子112と、レンズ113、および、前記各部品を保持するケース114を主たる部品として構成されている。
また、図13および図14を用いて、前記チルトセンサ110による傾きの検出原理を示す。先ず、発光素子111はレンズ113の中心線X上に配置されているので、発光素子111から放射される光は、図13に示すように中心線Xに対し左右が対称の光束として、例えば光ディスクのような被検出物1を照射する。このとき、前記発光素子111から放射される光に対して、被検出物1にチルトが生じていなければ、被検出物1で反射された反射光も中心線Xに対し左右が対称となる条件が保持されている。よって、中心線Xに対し左右が対称に配置された2分割受光素子112のそれぞれの部分からの出力も同一となる。
FIG. 12 shows a configuration example of the tilt sensor. The tilt sensor 110 includes a light emitting element 111 such as a light emitting diode, a two-divided light receiving element 112, a lens 113, and a case 114 that holds each of the components as main components.
13 and 14 show the principle of tilt detection by the tilt sensor 110. FIG. First, since the light emitting element 111 is disposed on the center line X of the lens 113, the light emitted from the light emitting element 111 is a light beam that is symmetrical with respect to the center line X as shown in FIG. Irradiate the object 1 to be detected. At this time, if the detected object 1 is not tilted with respect to the light emitted from the light emitting element 111, the reflected light reflected by the detected object 1 is also symmetric with respect to the center line X. Is held. Therefore, the outputs from the respective parts of the two-divided light receiving element 112 arranged symmetrically with respect to the center line X are the same.

また、図14に示したように、中心線Xに対して前記被検出物1の例えば右側が上がった状態、すなわち、被検出物1にチルトが生じた状態においては、被検出物1で反射された反射光は中心線Xに対し左右が対称となる条件が保持されずに片寄ってしまう。その結果、2分割受光素子112からの出力のうち、2分割受光素子右半部112aからの出力が2分割受光素子左半部112bからの出力よりも、チルト量に応じて大きくなる。従って、この不平衡の出力状態から、被検出物1は中心線Xに対して何れの側に傾いてチルトが生じているのかというチルト方向と、傾きの大きさであるチルト量との両方を検出することができる。   In addition, as shown in FIG. 14, when the right side of the detected object 1 is raised with respect to the center line X, that is, when the detected object 1 is tilted, it is reflected by the detected object 1. The reflected light is shifted without being maintained in the condition of being symmetrical with respect to the center line X. As a result, of the outputs from the two-divided light receiving element 112, the output from the right half 112a of the two-divided light receiving element becomes larger than the output from the left half 112b of the two-divided light receiving element according to the tilt amount. Accordingly, from this unbalanced output state, both the tilt direction indicating which side the tilt of the detected object 1 is tilted with respect to the center line X and the tilt amount which is the magnitude of the tilt are obtained. Can be detected.

チルトの方向と量が検出できれば、これらを補正する機構を設けることによって本チルト問題を解決できる。例えば光ピックアップ装置を傾けることができる機構部分を光ディスク装置内に設ける。そして、前記チルトセンサから得られたチルトの方向と量に応じて、これらを補正するように前記機構部分を用いて光ピックアップ装置の傾き制御を行えばよい。   If the direction and amount of tilt can be detected, this tilt problem can be solved by providing a mechanism for correcting these. For example, a mechanism portion that can tilt the optical pickup device is provided in the optical disk device. Then, tilt control of the optical pickup device may be performed using the mechanism portion so as to correct the tilt direction and amount obtained from the tilt sensor.

また、チルトセンサを搭載せずに、既存のサーボ動作に用いる信号を演算処理してチルト検出する方法も提案されている(例えば特許文献1)。本文献について具体的に説明すると、例えば公報の段落番号(0052)から(0064)に記載されているように、チルトに対する溝横断信号の非対称性と、レンズシフトに対する溝横断信号の非対称性を用いて、演算処理を行うことによりチルト量に対応した出力を得ている。
特開2001−344790号公報
In addition, a method of detecting a tilt by calculating a signal used for an existing servo operation without mounting a tilt sensor has been proposed (for example, Patent Document 1). Specifically describing this document, as described in paragraph numbers (0052) to (0064) of the publication, for example, the asymmetry of the groove crossing signal with respect to the tilt and the asymmetry of the groove crossing signal with respect to the lens shift are used. Thus, an output corresponding to the amount of tilt is obtained by performing arithmetic processing.
JP 2001-344790 A

しかしながら、前記チルトセンサを光ピックアップ装置に搭載する方法には、次のような問題点がある。まず、チルトセンサを光ピックアップ装置に搭載する際には光ピックアップ装置に対して取り付け角度の調整工程等が必要となるので、光ピックアップ装置の製造工程数と時間の増加につながり、光ピックアップ装置の低価格化の妨げとなる。また部品点数が増えるので、コスト的にはもちろん、光ピックアップ装置の小型化に対しても不利となる。さらには、チルトセンサは、当然、光ピックアップ装置の対物レンズと同位置には搭載できないので、前記対物レンズとは異なった位置に搭載することになる。これは、チルトセンサ搭載位置、つまりはチルトセンサがチルト検出を行う位置と、対物レンズで光を集光させて再生記録を行う位置とが、同じ光ディスク上でも異なってしまうことを意味する。よって、補正を行うべき位置でのチルト状態と、チルトセンサから得られたチルト検出信号とで誤差が生じてしまうという問題点をも有する。   However, the method of mounting the tilt sensor on the optical pickup device has the following problems. First, when the tilt sensor is mounted on the optical pickup device, it is necessary to adjust the mounting angle with respect to the optical pickup device, which leads to an increase in the number of manufacturing steps and time of the optical pickup device. This hinders price reduction. Moreover, since the number of parts increases, it is disadvantageous not only in cost but also in downsizing the optical pickup device. Furthermore, since the tilt sensor cannot be mounted at the same position as the objective lens of the optical pickup device, the tilt sensor is mounted at a position different from the objective lens. This means that the position where the tilt sensor is mounted, that is, the position where the tilt sensor detects tilt and the position where light is collected by the objective lens and reproduction recording is performed are different on the same optical disk. Therefore, there is a problem that an error occurs between the tilt state at the position where correction is to be performed and the tilt detection signal obtained from the tilt sensor.

また、前記特許文献1の方法においても次のような問題点を有している。例えば公報の段落番号(0061)や(0069)に記載されているように、チルトを検出するためには、あらかじめ各種の検査を行う必要があり、さらには、前記検査にて取得したデータを記憶しておくための記憶手段が光ディスク装置に必要となる。また、チルトの検出中にも各種多くの演算を必要とするので、前記の記憶手段とも併せて回路系が複雑になってしまう。さらには、公報の段落番号(0051)に記載されているように、チルト検出信号はトラッキングサーボOFF状態のときの信号を用いるので、トラッキングサーボON状態のまま、リアルタイムでチルト検出を行うことはできない。
従って、本発明の目的は、光ピックアップ装置のコスト上昇やサイズの大型化を招く特別な部品を追加せず、さらに、チルトを検出するための事前検査や各種複雑な演算処理を軽減し、簡易な演算でありながらも信頼性の高いチルト検出をリアルタイムで行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
Further, the method of Patent Document 1 has the following problems. For example, as described in the paragraph numbers (0061) and (0069) of the publication, in order to detect the tilt, it is necessary to perform various inspections in advance, and further, the data acquired by the inspection is stored. The storage means is necessary for the optical disc apparatus. In addition, since various kinds of calculations are required during tilt detection, the circuit system becomes complicated in combination with the storage means. Furthermore, as described in the paragraph number (0051) of the publication, since the tilt detection signal uses a signal when the tracking servo is OFF, tilt detection cannot be performed in real time while the tracking servo is ON. .
Therefore, the object of the present invention is to add a special part that causes an increase in cost and size of the optical pickup device, and further reduces the prior inspection for detecting the tilt and various complicated arithmetic processes, thereby simplifying the operation. It is an object of the present invention to provide an optical disc apparatus capable of performing tilt detection with high reliability in real time while performing simple calculation.

かかる目的を達成するため、本発明は、光記憶媒体に光ビームを照射する光源と、前記光ビームを一つのメインビームと二つのサブビームに分離する分離手段と、前記一つのメインビームと二つのサブビームを、前記光記録媒体が有する情報記録トラックに対して直交する方向に並ぶように照射し、その反射光を各々独立して受光する受光部と、前記二つのサブビームの反射光の受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号の差を演算し、前記光記録媒体のチルトを検出する演算手段と、を備えたことを特徴とする光ピックアップ装置である。   In order to achieve such an object, the present invention includes a light source for irradiating an optical storage medium with a light beam, separation means for separating the light beam into one main beam and two sub beams, the one main beam and two The sub-beams are irradiated so as to be arranged in a direction orthogonal to the information recording track of the optical recording medium, and the reflected light is independently received, and the received light quantity of the reflected light of the two sub-beams. Correspondingly, there is provided an optical pickup device comprising a calculating means for calculating a difference between output signals output from the light receiving section and detecting a tilt of the optical recording medium.

また、前記二つのサブビームをサブビームS1およびサブビームS2とし、前記サブビームS1およびサブビームS2の反射光を受光する各々の受光部は、反射光を前記光情報記録媒体のトラック方向で二分割して受光する受光領域を有し、前記受光領域で受光した受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号をS11、S12およびS21、S22とすると、(S11−S12)+(S21−S22)を演算し、前記光記憶媒体のチルトを検出することが望ましい。   The two sub-beams are sub-beam S1 and sub-beam S2, and each light-receiving unit that receives the reflected light of sub-beam S1 and sub-beam S2 receives the reflected light by dividing it in the track direction of the optical information recording medium. S11, S12, S21, and S22 are output signals output from the light receiving unit corresponding to the amount of light received in the light receiving region, and (S11−S12) + (S21−S22). It is desirable to calculate and detect the tilt of the optical storage medium.

または、前記二つのサブビームをサブビームS1およびサブビームS2とし、前記サブビームS1およびサブビームS2の反射光を受光する各々の受光部は、反射光を前記光情報記録媒体のトラック方向で二分割して受光する受光領域を有し、前記受光領域で受光した受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号をS11、S12およびS21、S22とすると、(S11+S12)−(S21+S22)を演算し、前記光記憶媒体のチルトを検出することが望ましい。   Alternatively, the two sub-beams are sub-beam S1 and sub-beam S2, and each light-receiving unit that receives the reflected light of sub-beam S1 and sub-beam S2 receives the reflected light by dividing it in the track direction of the optical information recording medium. If the output signals output from the light receiving unit corresponding to the amount of light received in the light receiving region are S11, S12, S21, and S22, (S11 + S12) − (S21 + S22) is calculated. It is desirable to detect the tilt of the optical storage medium.

または、前記二つのサブビームをサブビームS1およびサブビームS2とし、前記サブビームS1およびサブビームS2の反射光を受光する各々の受光部は、反射光を前記光情報記録媒体のトラック方向で二分割して受光する受光領域を有し、前記受光領域で受光した受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号をS11、S12およびS21、S22とすると、(S11−S12)/(S11+S12)+(S21−S22)/(S21+S22)を演算し、前記光記憶媒体のチルトを検出することを特徴とすることが望ましい。   Alternatively, the two sub-beams are sub-beam S1 and sub-beam S2, and each light-receiving unit that receives the reflected light of sub-beam S1 and sub-beam S2 receives the reflected light by dividing it in the track direction of the optical information recording medium. Assuming that the output signals output from the light receiving unit corresponding to the amount of light received in the light receiving region are S11, S12, S21, and S22, (S11−S12) / (S11 + S12) + (S21 It is desirable to calculate −S22) / (S21 + S22) and detect the tilt of the optical storage medium.

または、前記二つのサブビームをサブビームS1およびサブビームS2とし、前記サブビームS1およびサブビームS2の反射光を受光する各々の受光部は、反射光を前記光情報記録媒体のトラック方向で二分割して受光する受光領域を有し、前記受光領域で受光した受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号をS11、S12およびS21、S22とし、前記一つのメインビームをメインビームM1とし、前記メインビームM1の反射光を受光する受光部からの該メインビームM1の反射光の受光光量に対応した出力信号をTOTALとすると、{(S11+S12)−(S21+S22)}/TOTAL
または{(S11−S12)+(S21−S22)}/TOTALを演算し、前記光記憶媒体のチルトを検出することが望ましい。
Alternatively, the two sub-beams are sub-beam S1 and sub-beam S2, and each light-receiving unit that receives the reflected light of sub-beam S1 and sub-beam S2 receives the reflected light by dividing it in the track direction of the optical information recording medium. An output signal output from the light receiving unit corresponding to the amount of received light received in the light receiving region is S11, S12, S21, and S22, the one main beam is a main beam M1, and the main If the output signal corresponding to the received light quantity of the reflected light of the main beam M1 from the light receiving section that receives the reflected light of the beam M1 is TOTAL, {(S11 + S12) − (S21 + S22)} / TOTAL
Alternatively, it is desirable to calculate {(S11−S12) + (S21−S22)} / TOTAL and detect the tilt of the optical storage medium.

さらに、前記光記憶媒体のチルトを検出することとは、チルトのない状態での演算結果である定数または0とチルトのある状態での演算結果とを比較することによりチルトの方向または量の少なくとも一方を算出できることを特徴とすることが望ましい。   Further, detecting the tilt of the optical storage medium means that a constant or 0 which is a calculation result in a state without tilt, or at least a tilt direction or amount by comparing a calculation result in a state with tilt and 0. It is desirable that one of them can be calculated.

さらに、前記メインビームとサブビームは、前記光記録媒体での反射による該サブビームの反射光におけるトラックククロス信号成分がほぼ0となるように該サブビームの一部に位相差を与えることが可能な分離手段によって生成されることが望ましい。   Further, the main beam and the sub beam are separated so that a phase difference can be given to a part of the sub beam so that the track cross signal component in the reflected light of the sub beam is substantially zero due to reflection on the optical recording medium. Preferably generated by means.

または、光ピックアップ装置の主要構成部品である、光源と、受光素子と、導光手段と、分離手段と、1/4波長板とを筐体に搭載して、これらが一つの部品として構成されていることが望ましい。   Alternatively, a light source, a light receiving element, a light guiding unit, a separating unit, and a quarter wavelength plate, which are main components of the optical pickup device, are mounted on a casing, and these are configured as one component. It is desirable that

さらに、前記分離手段は、偏光特性を有する偏光回折素子を用いて構成されていることが望ましい。   Furthermore, it is desirable that the separating means is configured using a polarization diffraction element having polarization characteristics.

さらに、本発明は、光源から出射された光ビームを、分離手段により一つのメインビームと二つのサブビームに分離し、前記一つのメインビームと二つのサブビームを、光記録媒体が有する情報記録トラックに対して直交する方向に並ぶように照射し、光記憶媒体から反射された二つのサブビームの反射光を各々独立して受光する受光部にて受光し、前記二つのサブビームの反射光の受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号の差を演算することにより、前記光記憶媒体のチルトを検出することを特徴とする光記憶媒体のチルト検出方法である。   Further, according to the present invention, the light beam emitted from the light source is separated into one main beam and two sub beams by the separating means, and the one main beam and the two sub beams are separated into an information recording track included in the optical recording medium. Irradiated so as to be aligned in a direction orthogonal to each other, the reflected light of the two sub-beams reflected from the optical storage medium is received by the light-receiving unit that receives each independently, and the received light amount of the reflected light of the two sub-beams Correspondingly, the tilt of the optical storage medium is detected by calculating the difference between the output signals output from the light receiving section, thereby detecting the tilt of the optical storage medium.

以上説明したように、光ピックアップ装置のコスト上昇やサイズの大型化を招く特別な部品を追加せず、さらに、チルトを検出するための事前検査や各種複雑な演算処理を軽減して、信頼性の高いチルト検出をリアルタイムで行うことが可能である。   As described above, the reliability of the optical pickup device is reduced by adding no special parts that increase the cost and size of the optical pickup device, and reduce the pre-inspection for detecting the tilt and various complicated calculation processes. High tilt detection can be performed in real time.

(実施例1)
以下、図面を参照して本発明の実施例1について説明する。図1から図6は本発明の実施例1を示す図である。
Example 1
Embodiment 1 of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 to 6 are views showing Embodiment 1 of the present invention.

図1に示すように、光ディスク装置70は、光ディスク1を保持して回転させるスピンドルモータ2と、光ディスク1に記録された情報の読み取りまたは光ディスク1への情報の書き込みを行うための光ピックアップ装置3Aと、光ピックアップ装置3Aを光ディスク1の半径方向(以下、ラジアル方向と記載)に粗動させるための駆動装置4とを備えている。また、回転制御系5は、光ピックアップ装置3Aによって読み取られた情報のうち、光ディスク1の半径方向についての位置情報に基づいて、スピンドルモータ2の回転速度の制御を行うように構成されている。   As shown in FIG. 1, an optical disc device 70 includes a spindle motor 2 that holds and rotates an optical disc 1, and an optical pickup device 3A for reading information recorded on the optical disc 1 or writing information to the optical disc 1. And a driving device 4 for roughly moving the optical pickup device 3A in the radial direction of the optical disc 1 (hereinafter referred to as a radial direction). The rotation control system 5 is configured to control the rotation speed of the spindle motor 2 based on position information in the radial direction of the optical disc 1 among the information read by the optical pickup device 3A.

なお、本実施例において、光ディスク1とは、自身に記録されている情報がレーザ光等の照射によって読み取ることが可能な情報記録媒体である。また、前記レーザ光等の照射パワーを変化させることにより、情報の追記や消去や上書き等も可能な情報記録媒体であってもよい。   In the present embodiment, the optical disk 1 is an information recording medium from which information recorded on itself can be read by irradiation with laser light or the like. Further, the information recording medium may be such that information can be additionally written, erased or overwritten by changing the irradiation power of the laser beam or the like.

光ピックアップ装置3Aには、レーザ光線を発生させるための半導体レーザ、レーザ光線を発散光から平行光へ変換するためのコリメートレンズ、レーザ光線の光路を分岐や変更するためのビームスプリッタ、レーザ光線を検出するための例えばフォトダイオード等の受光素子、レーザ光線を光ディスク1上の所望の位置に照射するための対物レンズや駆動系等が設けられている。前記駆動系は、対物レンズをフォーカス方向とトラッキング方向に微動可能なように構成されている。該駆動系によって前記対物レンズの微動を行い、前記対物レンズによって集束されたレーザ光線のスポットを光ディスク1上の所望の位置に導く。   The optical pickup device 3A includes a semiconductor laser for generating a laser beam, a collimating lens for converting the laser beam from diverging light to parallel light, a beam splitter for branching or changing the optical path of the laser beam, and a laser beam. For example, a light receiving element such as a photodiode for detection, an objective lens for driving a laser beam to a desired position on the optical disc 1, a drive system, and the like are provided. The drive system is configured such that the objective lens can be finely moved in the focus direction and the tracking direction. The drive system finely moves the objective lens, and guides the laser beam spot focused by the objective lens to a desired position on the optical disc 1.

次に、光ピックアップ装置3Aの具体的な光学系構成を図2に示す。図2において、半導体レーザ6から出射したレーザ光線は発散光であるが、コリメートレンズ7を通過する際に平行光に変換される。そして、1/2波長板50を通過することで偏光方向を揃えた後、整形プリズム8に入射する。整形プリズム8は、前記コリメートレンズ7で平行光に変換されたレーザ光線のビーム断面形状を整形する機能を有している。よって、整形プリズム8に入射した前記レーザ光線は、光強度分布が均一となるように整形されて、整形プリズム8より出射する。   Next, a specific optical system configuration of the optical pickup device 3A is shown in FIG. In FIG. 2, the laser beam emitted from the semiconductor laser 6 is divergent light, but is converted into parallel light when passing through the collimating lens 7. Then, after passing through the half-wave plate 50, the polarization direction is aligned, and then enters the shaping prism 8. The shaping prism 8 has a function of shaping the beam cross-sectional shape of the laser beam converted into parallel light by the collimating lens 7. Therefore, the laser beam incident on the shaping prism 8 is shaped so that the light intensity distribution is uniform and is emitted from the shaping prism 8.

その後、後述する位相シフトグレーティング9の回折効果にて3つの光線(以降、3ビームと呼ぶ)に分離され、これら全てが偏光ビームスプリッタ(PBS)10に入射する。PBS10は反射もしくは透過作用を有する境界面を有しており、前記レーザ光線の一部は該境界面を透過して、APC(Auto Power Control)用光検出器17に入射する。半導体レーザの出力は、該APC用光検出器17に入射した光量に従って自動的に制御される。   Thereafter, the light beam is separated into three light beams (hereinafter referred to as three beams) by the diffraction effect of the phase shift grating 9 described later, and all of these are incident on the polarization beam splitter (PBS) 10. The PBS 10 has a boundary surface having a reflection or transmission action, and a part of the laser beam passes through the boundary surface and enters an APC (Auto Power Control) photodetector 17. The output of the semiconductor laser is automatically controlled according to the amount of light incident on the APC photodetector 17.

一方、大部分のレーザ光線は、PBS10の前記境界面で反射して、1/4波長板60を通過後、ビームエキスパンダユニット11に入射する。ビームエキスパンダユニット11は、凹レンズ11aと凸レンズ11bで構成されており、光ディスク1の厚み誤差による球面収差が発生した場合、凹レンズ11aを光軸方向へ駆動することによって、その収差を補正する機能を有している。   On the other hand, most of the laser beam is reflected by the boundary surface of the PBS 10, passes through the quarter-wave plate 60, and then enters the beam expander unit 11. The beam expander unit 11 includes a concave lens 11a and a convex lens 11b. When spherical aberration due to a thickness error of the optical disk 1 occurs, the beam expander unit 11 has a function of correcting the aberration by driving the concave lens 11a in the optical axis direction. Have.

ビームエキスパンダ11を通過したレーザ光線は、45°ミラー12で反射されることにより光ディスク1の方向へ導かれ、対物レンズ13にて光ディスク1上に集光される。そして、光ディスク1からの反射光(以下、戻り光と記載)は、対物レンズ13、45°ミラー12、ビームエキスパンダ11、1/4波長板60を通過後、PBS10に入射、PBS10の境界面を透過する。その後、集光レンズ14、シリンドリカルレンズ15で受光素子16上に集光される。   The laser beam that has passed through the beam expander 11 is reflected by the 45 ° mirror 12 to be guided in the direction of the optical disc 1 and is focused on the optical disc 1 by the objective lens 13. Then, the reflected light from the optical disk 1 (hereinafter referred to as return light) passes through the objective lens 13, the 45 ° mirror 12, the beam expander 11, and the quarter wavelength plate 60 and then enters the PBS 10, and the boundary surface of the PBS 10. Transparent. Thereafter, the light is condensed on the light receiving element 16 by the condenser lens 14 and the cylindrical lens 15.

次に、位相シフトグレーティング9、および該位相シフトグレーティング9の回折効果にて分離生成された3ビームについて、詳しく説明を行う。まず、位相シフトグレーティング9によって分離生成された3ビームは、一つのメインビームと二つのサブビームから構成される。前記サブビームは、主にトラッキングサーボ用の信号の一部として用いられるので、前記メインビームに比べ出力は十分小さくて構わず、例えばメインビーム出力の十分の一程度でよい。これら3ビームの位置関係は、位相シフトグレーティング9の格子の溝方向に対して、直交する方向に三つ並ぶように分離生成されて、中央部がメインビーム、両端がサブビームである。   Next, the phase shift grating 9 and the three beams separated and generated by the diffraction effect of the phase shift grating 9 will be described in detail. First, the three beams separated and generated by the phase shift grating 9 are composed of one main beam and two sub beams. Since the sub beam is mainly used as a part of a tracking servo signal, the output may be sufficiently smaller than the main beam, and may be, for example, about one tenth of the main beam output. The positional relationship of these three beams is separated and generated so as to be arranged in three directions orthogonal to the groove direction of the grating of the phase shift grating 9, with the central portion being the main beam and both ends being the sub beams.

さらに本実施例においては、光ディスク1上に前記3ビームを集光したときに、該3ビームが光ディスク1のトラック方向に対して直交する方向に並ぶように設定される。従って、位相シフトグレーティング9を光ピックアップ装置3Aに搭載する際には、位相シフトグレーティング9の格子の溝方向が、前記3ビームと光ディスク1のトラック方向との位置関係を満たすように配置してから搭載する。   Further, in this embodiment, when the three beams are collected on the optical disc 1, the three beams are set so as to be aligned in a direction orthogonal to the track direction of the optical disc 1. Therefore, when the phase shift grating 9 is mounted on the optical pickup device 3A, the grating groove direction of the phase shift grating 9 is disposed so as to satisfy the positional relationship between the three beams and the track direction of the optical disc 1. Mount.

図6は、位相シフトグレーティング9に形成される格子の特徴(グレーティングパターン)を示した模式図である。本グレーティングパターンは、特開2001−250250号公報に開示されている位相シフトDPP法を用いたトラッキング誤差信号の検出のためのパターンであることが望ましく、その一例を示している。以下本グレーティングパターンについて説明する。   FIG. 6 is a schematic diagram showing the characteristics (grating pattern) of the grating formed in the phase shift grating 9. The grating pattern is preferably a pattern for detecting a tracking error signal using the phase shift DPP method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-250250, and an example thereof is shown. Hereinafter, the grating pattern will be described.

図6におけるグレーティングパターンは、領域31aと領域31bの二つの領域で構成されている。なお、参考のため、レーザ光線の通過する領域を図中の点線円にて模式的に示している。また図6にはX軸、Y軸、Z軸による三次元座標系を示している。本座標系を用いて領域31aと領域31bの位置関係の一例を説明すると次の通りである。すなわち、前記図中の点線円の中心点を前記三次元座標系の原点とし、レーザ光線の光軸方向をZ軸方向とすると、グレーティングパターン面は図に示す通りX−Y平面上に構成される。そして、前記X−Y平面上の第4象限領域のみが領域31bで構成され、その他の領域は領域31aで構成されている。そして、領域31aと領域31bとの違いは、グレーティングの周期構造において、位相が180度異なっている点である。このような構成とすることで、光ディスク1での反射によるサブビームの戻り光におけるトラックククロス信号成分であるプッシュプル信号出力が、ほぼ0となるため、次の利点を有する。すなわち、光ピックアップ装置の製造において、従来のグレーティングパターンを用いる場合には必要となる、光ディスクのトラックと3ビームの位置関係の調整工程が不要となる。   The grating pattern in FIG. 6 is composed of two regions, region 31a and region 31b. For reference, a region through which a laser beam passes is schematically indicated by a dotted circle in the drawing. FIG. 6 shows a three-dimensional coordinate system based on the X, Y, and Z axes. An example of the positional relationship between the region 31a and the region 31b will be described using this coordinate system as follows. That is, assuming that the center point of the dotted circle in the figure is the origin of the three-dimensional coordinate system and the optical axis direction of the laser beam is the Z-axis direction, the grating pattern surface is configured on the XY plane as shown in the figure. The And only the 4th quadrant area | region on the said XY plane is comprised by the area | region 31b, and the other area | region is comprised by the area | region 31a. The difference between the region 31a and the region 31b is that the phase is 180 degrees different in the periodic structure of the grating. By adopting such a configuration, the push-pull signal output, which is the track cross signal component in the return light of the sub beam due to reflection on the optical disc 1, becomes almost zero, and thus has the following advantages. That is, in the manufacture of the optical pickup device, the adjustment process of the positional relationship between the track of the optical disk and the three beams, which is necessary when using the conventional grating pattern, is not required.

もちろん、本実施例におけるグレーティングパターンは、あくまでも一例に過ぎず、特開2001−250250号公報に開示されているグレーティングパターンであれば他のどのグレーティングパターンでも構わず、それら全てに前記利点が得られることは説明するまでもない。   Of course, the grating pattern in the present embodiment is merely an example, and any other grating pattern may be used as long as it is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-250250. Needless to say.

さらには、本実施例において、3ビームを分離生成するグレーティングは前記の位相シフトグレーティングに限定されるものではない。前記従来のグレーティングパターン、つまり、いわゆる一般的な格子状のグレーティングでも、本発明の効果を得ることができる。その場合は、先に記載した通り、光ピックアップ装置の製造において、光ディスクのトラックと3ビームの位置関係の調整工程が必要となる。   Furthermore, in the present embodiment, the grating that separates and generates the three beams is not limited to the phase shift grating. The effect of the present invention can be obtained even with the conventional grating pattern, that is, a so-called general grating grating. In that case, as described above, in the manufacture of the optical pickup device, an adjustment process of the positional relationship between the track of the optical disk and the three beams is required.

前記調整工程の内容を説明すると、次の通りである。すなわち、グレーティングにより分離生成された3ビームのうち、一つのメインビームが光ディスク上のディスクグルーブ部を照射している場合には二つのサブビームはディスクランド部を照射するように、逆に、一つのメインビームがディスクランド部を照射している場合には二つのサブビームはディスクグルーブ部を照射するように、グレーティングの溝方向の調整を行う工程である。具体的な手法として、例えばグレーティングを光軸に垂直な面に沿って回転させることにより、グレーティングの溝方向の調整は可能である。   The contents of the adjustment process will be described as follows. That is, of the three beams separated and generated by the grating, when one main beam irradiates the disk groove portion on the optical disc, two sub beams irradiate the disc land portion. In the case where the main beam irradiates the disk land portion, the two sub beams are steps for adjusting the groove direction of the grating so as to irradiate the disk groove portion. As a specific method, for example, the grating groove direction can be adjusted by rotating the grating along a plane perpendicular to the optical axis.

次に、チルト検出を行うための具体的な方法について説明する。図3に、光ピックアップ装置3Aの構成部品である受光素子16の受光部形状を示している。3ビームによる光ディスク1からの反射光は三つあるので、受光部もそれぞれを受光するために三つの領域から構成されている。さらに、前記三つの領域はそれぞれ次に示すように分割されている。   Next, a specific method for performing tilt detection will be described. FIG. 3 shows the shape of the light receiving portion of the light receiving element 16 which is a component of the optical pickup device 3A. Since there are three light beams reflected from the optical disk 1 by the three beams, the light receiving unit is also composed of three regions for receiving each light. Further, each of the three areas is divided as follows.

まず、前記三つの領域のうち中央に位置する領域は4分割されており、分割された各受光部を受光部A、受光部B、受光部C、受光部Dとしている。また、前記中央領域を挟むように両側に位置する二つ領域は、共に2分割されており、分割された各受光部を受光部E、受光部F、および受光部G、受光部Hとしている。3ビームによる光ディスク1からの反射光のうち、メインビームによる反射光は受光部A、受光部B、受光部C、受光部Dにて受光され、サブビームによる反射光は受光部E、受光部F、および受光部G、受光部Hにて受光される。   First, a region located in the center of the three regions is divided into four, and the divided light receiving units are referred to as a light receiving unit A, a light receiving unit B, a light receiving unit C, and a light receiving unit D. Further, the two regions located on both sides so as to sandwich the central region are both divided into two, and each of the divided light receiving portions is a light receiving portion E, a light receiving portion F, a light receiving portion G, and a light receiving portion H. . Of the reflected light from the optical disk 1 by three beams, the reflected light by the main beam is received by the light receiving part A, the light receiving part B, the light receiving part C, and the light receiving part D, and the reflected light by the sub beam is received by the light receiving part E and the light receiving part F. , And the light receiving part G and the light receiving part H.

光ディスクからの反射光には光ディスク上の各種情報が含まれており、受光素子上でのスポットの明暗や大きさおよび形状の各変化として現れる。よって、受光素子の受光部を、分割等によって複数配置して、前記各変化を取得できるように構成する。前記構成にて取得できた複数の信号を演算処理することによって、前記各種情報を得ることができる。   Reflected light from the optical disk contains various information on the optical disk, and appears as changes in the brightness, size, and shape of the spot on the light receiving element. Therefore, a plurality of light receiving portions of the light receiving element are arranged by division or the like so that each change can be acquired. The various types of information can be obtained by performing arithmetic processing on a plurality of signals obtained by the above configuration.

前記演算処理によって得られる情報のうち、光ディスクのトラック関連情報を示すものとしてよく知られるプッシュプル(またはトラッキングプッシュプル)信号がある。前記プッシュプル信号は、受光素子上でのスポットを2分割するように配置された受光部からの各出力について、これらを差動演算処理することによって得られる。ここで、前記受光素子上でのスポットを2分割する分割方向は、次に示す通りである。前記受光素子上でのスポットとは、つまりは光ディスクからの反射光なので、光ディスク上に収束されたスポットの向き等の特徴を反映している。従って、前記光ディスク上に収束されたスポットが、光ディスクのトラックに沿って2分割される向きと等価となる方向にて、前記受光素子上でのスポットを2分割する。   Among the information obtained by the arithmetic processing, there is a push-pull (or tracking push-pull) signal that is well known as indicating the track related information of the optical disc. The push-pull signal is obtained by differentially processing each output from the light receiving unit arranged so as to divide the spot on the light receiving element into two. Here, the dividing direction for dividing the spot on the light receiving element into two is as follows. Since the spot on the light receiving element is reflected light from the optical disc, it reflects characteristics such as the direction of the spot converged on the optical disc. Therefore, the spot on the light receiving element is divided into two in a direction equivalent to the direction in which the spot converged on the optical disk is divided into two along the track of the optical disk.

前記プッシュプル信号において、3ビームのメインビームによって得られるプッシュプル信号をMPP(Main Push-Pull)、またサブビームによって得られるプッシュプル信号をSPP(Sub Push-Pull)とする。光ディスク上の所望のトラックに焦点を合わせるため、対物レンズをラジアル方向に追従制御させるが、そのためのトラッキング誤差信号TES(Tracking Error Signal)は
TES=MPP- α(SPP) α:定数 (2)
により生成される。
In the push-pull signal, a push-pull signal obtained by three main beams is MPP (Main Push-Pull), and a push-pull signal obtained by sub-beams is SPP (Sub Push-Pull). In order to focus on a desired track on the optical disc, the objective lens is controlled to follow in the radial direction. The tracking error signal TES (Tracking Error Signal) for this purpose is TES = MPP-α (SPP) α: constant (2)
Is generated by

なお、本実施例では、シリンドリカルレンズ15により、受光素子上でのスポットの向き、つまり受光素子上に投影される光ディスク1からの反射光のビームパターンは90°回転する。その様子を、後述するチルトの検出原理説明に用いる図4に模式的に示している。したがって、受光部A〜Hの出力信号をSa〜Shとすると、
MPP=(Sa+Sd)−(Sb+Sc) (3)
SPP=(Se−Sf)+(Sg−Sh) (4)
と表すことができる。
In this embodiment, the cylindrical lens 15 rotates the direction of the spot on the light receiving element, that is, the beam pattern of the reflected light from the optical disc 1 projected onto the light receiving element by 90 °. This state is schematically shown in FIG. 4 used for explaining the principle of tilt detection described later. Therefore, when the output signals of the light receiving portions A to H are Sa to Sh,
MPP = (Sa + Sd) − (Sb + Sc) (3)
SPP = (Se−Sf) + (Sg−Sh) (4)
It can be expressed as.

また、光ディスク上の所望の厚み方向位置、すなわち記録面位置に焦点を合わせるため、対物レンズをフォーカス方向に追従制御させるが、そのためのフォーカス誤差信号FES(Focus Error Signal)は非点収差法により、
FES=(Sa+Sc)−(Sb+Sd) (5)
という演算式で生成され、さらに、光ディスクに記録されている情報信号は、メインビームの総和信号(TOTAL)によって、
TOTAL=Sa+Sb+Sc+Sd (6)
という演算式により生成される。
Further, in order to focus on a desired position in the thickness direction on the optical disk, that is, the recording surface position, the objective lens is controlled to follow in the focus direction. The focus error signal FES (Focus Error Signal) for that purpose is determined by the astigmatism method.
FES = (Sa + Sc) − (Sb + Sd) (5)
Further, the information signal generated by the arithmetic expression and recorded on the optical disc is the sum signal (TOTAL) of the main beam,
TOTAL = Sa + Sb + Sc + Sd (6)
It is generated by the arithmetic expression.

そして、本実施例のチルト検出のためのチルト信号(TILT)は、
TILT=(Se+Sf)−(Sg+Sh) (7)
あるいは
TILT=(Se−Sf)+(Sg−Sh) (8)
という演算式にて生成される。
The tilt signal (TILT) for tilt detection in this embodiment is
TILT = (Se + Sf) − (Sg + Sh) (7)
Or TILT = (Se−Sf) + (Sg−Sh) (8)
It is generated by the arithmetic expression.

なお、(7)および(8)式の演算を行う演算手段の具体例として、オペアンプの組み合わせによる構成が簡易で望ましい。図7(a)および図7(b)に、受光部A〜Hの出力信号Sa〜Shを用いて、(7)および(8)式の演算を示す。図7(a)は(7)式の演算構成例であり、図7(b)は(8)式の演算構成例である。   Note that, as a specific example of the calculation means for performing the calculations of the expressions (7) and (8), a configuration using a combination of operational amplifiers is simple and desirable. 7 (a) and 7 (b) show the calculations of equations (7) and (8) using the output signals Sa to Sh of the light receiving portions A to H. FIG. FIG. 7A shows an example of the arithmetic configuration of the formula (7), and FIG. 7B shows an example of the arithmetic configuration of the formula (8).

また、図4および図5は、本実施例のチルト信号(TILT)によるチルトの検出方法を説明するための図である。先ず、対物レンズ13からディスク1に向かうサブビームS1,S2は、図4に示すように光軸Lに対し左右が対称の光束として光ディスク1を照射する。   4 and 5 are diagrams for explaining a tilt detection method using a tilt signal (TILT) according to the present embodiment. First, the sub-beams S1 and S2 directed from the objective lens 13 toward the disk 1 irradiate the optical disk 1 as light beams that are symmetrical with respect to the optical axis L as shown in FIG.

このとき、光ディスク1にチルトが生じていなければ、光ディスク1で反射された反射サブビーム光は、光軸Lに対し左右が対称となる角度で戻ってくる。ただし、対物レンズ13によるケラレ(光ビームが一部遮られること)が発生するので、各サブビームともメインビームに近い側の領域が若干少なくなっている。また、先に説明したシリンドリカルレンズ15により、メインビームを含む受光素子上での各ビームパターンは90°回転している。しかしながら、受光部E,HおよびF,Gを照射するサブビーム面積は同じとなるため(7)式より、
TILT=(Se+Sf)−(Sg+Sh)=0 (9)
あるいは(8)式より、
TILT=(Se−Sf)+(Sg−Sh)=0 (10)
となる。
At this time, if the optical disc 1 is not tilted, the reflected sub-beam light reflected by the optical disc 1 returns at an angle that is symmetrical with respect to the optical axis L. However, since vignetting (a part of the light beam is blocked) by the objective lens 13 occurs, the area near the main beam is slightly reduced in each sub beam. In addition, each beam pattern on the light receiving element including the main beam is rotated by 90 ° by the cylindrical lens 15 described above. However, since the sub-beam areas for irradiating the light receiving portions E, H and F, G are the same, from the equation (7),
TILT = (Se + Sf) − (Sg + Sh) = 0 (9)
Or from equation (8):
TILT = (Se−Sf) + (Sg−Sh) = 0 (10)
It becomes.

ここで、図5(a)に示すように、光ディスク1に、例えば紙面右側が上がるチルトが生じると、サブビームによる反射光のうち、サブビームS2による反射光のケラレは大きくなり、他方のサブビームS1による反射光のケラレは小さくなる。
よって
TILT=(Se+Sf)−(Sg+Sh)>0 (11)
あるいは
TILT=(Se−Sf)+(Sg−Sh)>0 (12)
次に、図5(b)に示すように、光ディスク1に、例えば紙面左側が上がるチルトが生じると、サブビームによる反射光のうち、今度はサブビームS1による反射光のケラレが大きくなり、他方のサブビームS2による反射光のケラレは小さくなる。
よって
TILT=(Se+Sf)−(Sg+Sh)<0 (13)
あるいは
TILT=(Se−Sf)+(Sg−Sh)<0 (14)
以上より、TILTの演算式によって得られる信号から、光ディスク1は光軸Lに対して何れの側に傾いてチルトが生じているのかというチルト方向と、傾きの大きさであるチルト量との両方を得ることができる。
Here, as shown in FIG. 5A, when the optical disk 1 is tilted, for example, the right side of the drawing is raised, the vignetting of the reflected light by the sub-beam S2 out of the reflected light by the sub-beam increases, and the other sub-beam S1 causes the vignetting. The vignetting of the reflected light is reduced.
Therefore, TILT = (Se + Sf) − (Sg + Sh)> 0 (11)
Or TILT = (Se−Sf) + (Sg−Sh)> 0 (12)
Next, as shown in FIG. 5B, when the optical disc 1 is tilted up, for example, the left side of the drawing, the vignetting of the reflected light by the sub-beam S1 among the reflected light by the sub-beams is increased. The vignetting of the reflected light due to S2 is reduced.
Therefore, TILT = (Se + Sf) − (Sg + Sh) <0 (13)
Or TILT = (Se−Sf) + (Sg−Sh) <0 (14)
From the above, from the signal obtained by the TILT arithmetic expression, both the tilt direction as to which side the optical disc 1 is tilted with respect to the optical axis L and the tilt amount, which is the magnitude of the tilt, are generated. Can be obtained.

また、一般的に光ピックアップ装置は、記録時と再生時で光ディスクへのレーザ光線の照射光量を切り替えている。このような照射光量の変化によって、前記TILTが影響を受けないようにするため、TILTを照射光量に対応する出力で正規化することが望ましい。更には、照射光量を直接検出して出力を得るのではなく、光ディスクからの戻り光による出力を用いる手段が簡便で望ましい。また、戻り光による出力を用いて正規化することによって、光ディスク毎による反射率の違いや、更には同一光ディスクでも記録部と未記録部における反射率の違いによるTILT出力への影響を回避できる。
具体的には、例えば(7)式を用いて、
TILT={(Se+Sf)−(Sg+Sh)}
/(Sa+Sb+Sc+Sd) (15)
あるいは(8)式を用いて、
TILT=(Se−Sf)/(Se+Sf)
+(Sg−Sh)/(Sg+Sh) (16)
あるいは(8)式を用いて、
TILT={(Se−Sf)+(Sg−Sh)}
/(Sa+Sb+Sc+Sd) (17)
という演算式にて正規化される。
In general, the optical pickup device switches the amount of laser beam applied to the optical disc during recording and during reproduction. In order to prevent the TILT from being affected by such a change in the amount of irradiation light, it is desirable to normalize the TILT with an output corresponding to the amount of irradiation light. Furthermore, it is simple and desirable to use an output based on the return light from the optical disc, instead of directly detecting the amount of irradiation and obtaining an output. Also, by normalizing using the output from the return light, it is possible to avoid the influence on the TILT output due to the difference in reflectance between optical disks, and even the difference in reflectance between the recorded part and the unrecorded part even in the same optical disk.
Specifically, for example, using equation (7),
TILT = {(Se + Sf)-(Sg + Sh)}
/ (Sa + Sb + Sc + Sd) (15)
Alternatively, using equation (8)
TILT = (Se−Sf) / (Se + Sf)
+ (Sg-Sh) / (Sg + Sh) (16)
Alternatively, using equation (8)
TILT = {(Se−Sf) + (Sg−Sh)}
/ (Sa + Sb + Sc + Sd) (17)
It is normalized by the arithmetic expression.

上記のTILTはフォーカシング、トラッキングを行いデータの記録もしくは再生を行っている間、記録もしくは再生を行っている領域近傍のディスク面チルトをリアルタイムで検出できる。よって、この信号を利用することで、従来の方法よりも正確なチルト補正が可能となり、例えば光ディスク自体に歪みが発生しているチルトの大きな粗悪ディスクに対しても、光ディスク装置としての記録再生性能を劣化させることがない。   The TILT described above can detect in real time the disc surface tilt in the vicinity of the recording or reproducing area while performing the focusing and tracking and recording or reproducing the data. Therefore, by using this signal, tilt correction can be performed more accurately than in the conventional method. For example, recording / reproduction performance as an optical disk device can be achieved even for a bad disk having a large tilt where the optical disk itself is distorted. Will not deteriorate.

チルト補正の方法としては、例えばTILTから得られたチルトの方向と量に応じて、これらを補正するように光ピックアップ装置3A全体を傾ける方法、あるいは対物レンズ13のみ傾ける方法により実現することができる。   The tilt correction method can be realized by, for example, a method of tilting the entire optical pickup device 3A so as to correct the tilt direction and amount obtained from TILT, or a method of tilting only the objective lens 13. .

以上説明した通り、光ピックアップ装置3Aの光源である半導体レーザ6から出射されたレーザ光を分離して得られる、一つのメインビームと二つのサブビームとの三つのビームを、光ディスク1のトラック方向に対して直交する方向に並ぶように照射する。そして両ビームの戻り光のうち、二つのサブビームの戻り光を、それぞれ独立して受光する受光部E、受光部F、および受光部G、受光部Hで受光する。前記各受光部から得られる出力信号の差動演算(7)式もしくは(8)式にて、光ディスク1の傾きに比例したチルト信号を得ることにより、次のような作用および効果を奏する。   As described above, three beams of one main beam and two sub-beams obtained by separating the laser light emitted from the semiconductor laser 6 that is the light source of the optical pickup device 3A are arranged in the track direction of the optical disc 1. Irradiate so as to be aligned in a direction perpendicular to the direction. Of the return lights of the two beams, the return lights of the two sub beams are received by the light receiving unit E, the light receiving unit F, the light receiving unit G, and the light receiving unit H that receive the light beams independently. By obtaining a tilt signal proportional to the tilt of the optical disc 1 by the differential calculation (7) or (8) of the output signal obtained from each light receiving section, the following operations and effects are obtained.

つまり、光ピックアップ装置のコスト上昇やサイズの大型化を招くチルトセンサ等の特別な部品を追加する必要はない。さらに、チルトを検出するために事前検査や複雑な演算処理も必要としないで、フォーカス及びトラッキングの各サーボ動作を止めることなくリアルタイムで信頼性の高いチルトの検出を行うことが可能となる。   That is, it is not necessary to add special parts such as a tilt sensor that increase the cost and increase the size of the optical pickup device. Further, it is possible to detect a tilt with high reliability in real time without stopping the focus and tracking servo operations without requiring a prior inspection or complicated arithmetic processing to detect the tilt.

また、(2)〜(4)式より、トラッキング誤差信号の生成にも、前記チルト信号を得るために用いた受光部E、受光部F、および受光部G、受光部Hからの各出力Se,SfおよびSg,Shを利用しているので、次のような作用および効果を奏する。すなわち、本発明は、トラッキング誤差信号用とチルト検出用の受光部および出力信号が兼用できるので、チルト信号検出専用の受光部や受光素子は必要ない。   Further, from the equations (2) to (4), each output Se from the light receiving unit E, the light receiving unit F, the light receiving unit G, and the light receiving unit H used for obtaining the tilt signal is also used for generating the tracking error signal. , Sf and Sg, Sh are used, and the following operations and effects are achieved. That is, according to the present invention, the light receiving unit for tracking error signal and the light detecting unit for tilt detection and the output signal can be used together, and therefore no light receiving unit or light receiving element dedicated to tilt signal detection is required.

さらに、チルト信号の生成式である(8)式に対して、各サブビームのプッシュプル成分を、それぞれの戻り光量による出力で正規化を行い、(16)式とすることによって、次のような作用および効果を奏する。すなわち、光ディスク1は、記録部と未記録部が混在し、各サブビームを照射するディスク位置によっては反射率が異なってしまうような場合でも、前記反射率の違いによる影響を受けない正確なチルト信号が生成できる。   Furthermore, the push-pull component of each sub-beam is normalized by the output based on the respective return light amounts with respect to the expression (8) that is the tilt signal generation expression, and the expression (16) is obtained as follows. There are effects and effects. That is, the optical disc 1 is an accurate tilt signal that is not affected by the difference in reflectivity even when the recorded portion and the unrecorded portion are mixed and the reflectivity varies depending on the disc position where each sub beam is irradiated. Can be generated.

また、チルト信号の生成式である(7)式および(8)式に対して、メインビームの戻り光量による総和信号出力で正規化を行い、それぞれ(15)式および(17)式とすることによって、次のような作用および効果を奏する。すなわち、記録時と再生時で光ディスクへのレーザ光線の照射光量を切り替えるが、このような照射光量の変化によってサブビームの光量が変化した場合でも、光量の違いによる影響を受けない正確なチルト信号が生成できる。   In addition, the equations (7) and (8), which are the tilt signal generation equations, are normalized by the sum signal output based on the return light amount of the main beam, and the equations (15) and (17) are obtained, respectively. Produces the following actions and effects. In other words, the amount of laser beam irradiation on the optical disk is switched between recording and playback. Even when the amount of sub-beam changes due to such a change in the amount of irradiation, an accurate tilt signal that is not affected by the difference in the amount of light is obtained. Can be generated.

さらに、メインビームとサブビームを生成する回折素子に、位相シフトグレーティング9を用いることによって、次のような作用および効果を奏する。すなわち、光ピックアップ装置の製造において、従来のグレーティングパターンを用いる場合には必要となる、光ディスクのトラックと3ビームの位置関係の調整工程が不要となって、グレーティングの配置精度を大幅に緩和することができる。   Further, the use of the phase shift grating 9 for the diffractive element for generating the main beam and the sub beam provides the following operations and effects. In other words, in the manufacture of the optical pickup device, the adjustment process of the positional relationship between the track of the optical disk and the three beams, which is necessary when using the conventional grating pattern, is not required, and the grating placement accuracy is greatly eased. Can do.

(実施例2)
以下に本発明の実施例2について説明する。図8に示すように、光ピックアップ装置3Bは、光集積ユニット19と、コリメートレンズ7と、対物レンズ13とを備えている。光集積ユニット19に搭載された光源である半導体レーザ41から出射したレーザ光線は、コリメートレンズ7により平行光にされた後、対物レンズ13を介して光ディスク1に集光される。そして、光ディスク1から反射した光(実施例1と同様に、以下、これを戻り光と記載)は、再び対物レンズ13とコリメートレンズ7を通過して、光集積ユニット19に搭載された受光素子38上に受光される。
(Example 2)
Example 2 of the present invention will be described below. As shown in FIG. 8, the optical pickup device 3 </ b> B includes an optical integrated unit 19, a collimator lens 7, and an objective lens 13. A laser beam emitted from a semiconductor laser 41, which is a light source mounted on the optical integrated unit 19, is collimated by the collimator lens 7 and then condensed on the optical disk 1 through the objective lens 13. Then, the light reflected from the optical disc 1 (hereinafter referred to as return light as in the first embodiment) passes through the objective lens 13 and the collimator lens 7 again, and is a light receiving element mounted on the optical integrated unit 19. The light is received on 38.

光ディスク1は、基板1aと、レーザ光線が透過するカバー層1bと、基板1aとカバー層1bとの境界に形成された記録層1cとによって構成されている。そして、対物レンズ13は、対物レンズ駆動機構(図示せず)によってフォーカス方向(Z軸方向)とトラッキング方向(X軸方向)に駆動可能であって、光ディスク1に面振れや偏心があっても、レーザ光線の集光スポットが記録層1cの所定位置に対して追従を行えるように構成されている。   The optical disc 1 includes a substrate 1a, a cover layer 1b through which a laser beam is transmitted, and a recording layer 1c formed at the boundary between the substrate 1a and the cover layer 1b. The objective lens 13 can be driven in a focus direction (Z-axis direction) and a tracking direction (X-axis direction) by an objective lens driving mechanism (not shown), and even if the optical disc 1 has surface deflection or eccentricity. The condensing spot of the laser beam can follow the predetermined position of the recording layer 1c.

本実施例では、光集積ユニット19に波長405nm程度の短波長光源を備え、対物レンズ3にNA0.85程度の高NA対物レンズを備えた場合について説明する。本発明はこれに限定されるものではないが、前記短波長光源および高NA対物レンズを備えることにより、高密度の記録再生が可能になる。   In this embodiment, a case will be described in which the optical integrated unit 19 is provided with a short wavelength light source having a wavelength of about 405 nm, and the objective lens 3 is provided with a high NA objective lens having an NA of about 0.85. The present invention is not limited to this, but by providing the short wavelength light source and the high NA objective lens, high-density recording / reproduction becomes possible.

図9は、図8に示した光集積ユニット19を拡大して表示した構成図である。図9に示すように、光集積ユニット19は、光源である半導体レーザ41と、受光素子38と、レーザ光線の導光手段としての偏光ビームスプリッタ(PBS)34と、レーザ光線の分離手段としての偏光回折素子35と、1/4波長板36とを備え、これらを筐体としてのホルダ37に搭載して、一つの部品として構成されている。ホルダ37には、光を通過させるための窓部37dが形成されている。   FIG. 9 is an enlarged view of the optical integrated unit 19 shown in FIG. As shown in FIG. 9, the optical integrated unit 19 includes a semiconductor laser 41 as a light source, a light receiving element 38, a polarization beam splitter (PBS) 34 as a laser beam guiding unit, and a laser beam separating unit. A polarization diffraction element 35 and a quarter-wave plate 36 are provided, and these are mounted on a holder 37 as a casing to constitute a single component. The holder 37 is formed with a window portion 37d for allowing light to pass therethrough.

また、説明の便宜上、半導体レーザ41から出射するレーザ光線(光ビーム20)がPBS34に入射する面を、PBS34の光ビーム20入射面とし、戻り光がPBS34に入射する面を、PBS34の戻り光入射面とする。また、光ビーム20が偏光回折素子35に入射する面を、偏光回折素子35の光ビーム20入射面とし、戻り光が偏光回折素子35に入射する面を、偏光回折素子35の戻り光入射面とする。ここで、偏光回折素子35は、偏光回折素子35の光ビーム20入射面が、PBS34の戻り光入射面に対向するように、かつ、光ビーム20の光軸が通過するように配置されている。   For convenience of explanation, the surface on which the laser beam (light beam 20) emitted from the semiconductor laser 41 is incident on the PBS 34 is the light beam 20 incident surface of the PBS 34, and the surface on which the return light is incident on the PBS 34 is the return light of the PBS 34. The incident surface. The surface on which the light beam 20 enters the polarization diffraction element 35 is defined as the light beam 20 incidence surface of the polarization diffraction element 35, and the surface on which return light is incident on the polarization diffraction element 35 is defined as the return light incidence surface of the polarization diffraction element 35. And Here, the polarization diffraction element 35 is disposed so that the light beam 20 incident surface of the polarization diffraction element 35 faces the return light incident surface of the PBS 34 and the optical axis of the light beam 20 passes. .

先に記載したように、本実施例では半導体レーザ41は、波長λ=405nm程度の短波長の光ビーム20を出射するが、さらに、該光ビーム20は、図示した光軸方向(Z軸方向)に対してX軸方向の偏光振動面を有する直線偏光、つまりP偏光である特徴を有する。半導体レーザ41から出射された光ビーム20は、PBS34に入射する。   As described above, in the present embodiment, the semiconductor laser 41 emits the light beam 20 having a short wavelength of about λ = 405 nm. ) Is linearly polarized light having a polarization vibration plane in the X-axis direction, that is, P-polarized light. The light beam 20 emitted from the semiconductor laser 41 enters the PBS 34.

PBS34は二つの境界面、すなわち、偏光ビームスプリッタ(PBS)面34aと、反射ミラー面(反射面)34bとを有している。本実施例におけるPBS面34aは、図示した光軸方向(Z軸方向)に対してX軸方向の偏光振動面を有する直線偏光、つまりP偏光を透過し、該偏光振動面に垂直な偏光振動面、すなわち、図示した光軸方向(Z軸方向)に対してY軸方向の偏光振動面を有する直線偏光、つまりS偏光を反射する特性を有する。PBS面34aは、光ビーム20の光軸が通過するように、かつ、P偏光を有する該光ビーム20が透過するように配置されている。また、反射ミラー面34bは、PBS面34aと向かい合い、かつ、PBS面34aとなす角度が90度になるように配置されている。   The PBS 34 has two boundary surfaces, that is, a polarization beam splitter (PBS) surface 34a and a reflection mirror surface (reflection surface) 34b. In this embodiment, the PBS surface 34a transmits linearly polarized light having a polarization vibration surface in the X-axis direction with respect to the illustrated optical axis direction (Z-axis direction), that is, P-polarized light, and polarization vibration perpendicular to the polarization vibration surface. It has a characteristic of reflecting linearly polarized light having a polarization vibration surface in the Y-axis direction, that is, S-polarized light with respect to the surface, that is, the optical axis direction (Z-axis direction) shown in the figure. The PBS surface 34a is disposed so that the optical axis of the light beam 20 passes and the light beam 20 having P-polarized light is transmitted. The reflection mirror surface 34b is disposed so as to face the PBS surface 34a and have an angle of 90 degrees with the PBS surface 34a.

PBS面34aに入射したP偏光を有する光ビーム20は、PBS面34aをそのまま透過する。PBS面34aを透過した光ビーム20は、次に、偏光回折素子35に入射する。   The P-polarized light beam 20 incident on the PBS surface 34a passes through the PBS surface 34a as it is. The light beam 20 that has passed through the PBS surface 34 a then enters the polarization diffraction element 35.

次に、偏光回折素子35について詳細に説明する。偏光回折素子35は、第1の偏光ホログラム素子31および第2の偏光ホログラム素子32から構成されている。第1の偏光ホログラム素子31および第2の偏光ホログラム素子32は、共に、光ビーム20の光軸が通過するように配置されており、第1の偏光ホログラム素子31は、第2の偏光ホログラム素子32よりも半導体レーザ41に近い側に配置されている。   Next, the polarization diffraction element 35 will be described in detail. The polarization diffraction element 35 is composed of a first polarization hologram element 31 and a second polarization hologram element 32. Both the first polarization hologram element 31 and the second polarization hologram element 32 are arranged so that the optical axis of the light beam 20 passes through, and the first polarization hologram element 31 is a second polarization hologram element. It is arranged closer to the semiconductor laser 41 than 32.

第1の偏光ホログラム素子31はP偏光を回折させてS偏光を透過させる特徴を有し、逆に、第2の偏光ホログラム素子32は偏光を回折させてP偏光を透過させる特徴を有する。これら偏光の回折は、各偏光ホログラム素子に形成された溝構造(格子)によって行われ、回折角度は、該格子のピッチ(以下、これを格子ピッチとよぶ)によって規定される。   The first polarization hologram element 31 has a characteristic of diffracting P-polarized light and transmitting S-polarized light. Conversely, the second polarization hologram element 32 has a characteristic of diffracting polarized light and transmitting P-polarized light. The diffraction of these polarized light is performed by the groove structure (grating) formed in each polarization hologram element, and the diffraction angle is defined by the pitch of the grating (hereinafter referred to as the grating pitch).

第1の偏光ホログラム素子31には、トラッキング誤差信号(TES)を検出するための3ビーム生成用の格子パターンであるホログラムパターンが形成されている。すなわち、PBS面34aを透過したP偏光の光ビーム20は、上記偏光回折素子35を構成する第1の偏光ホログラム素子31に入射すると、回折されてTESを検出するための3ビーム(一つのメインビームと二つのサブビーム)となって、該第1の偏光ホログラム素子31から出射する。なお、第1の偏光ホログラム素子31の詳細なホログラムパターンについては後述する。また、3ビームを用いたTES検出方法として、3ビーム法や、差動プッシュプル(DPP)法、または位相シフトDPP法等が一般に知られている。   The first polarization hologram element 31 is formed with a hologram pattern which is a grating pattern for generating three beams for detecting a tracking error signal (TES). That is, when the P-polarized light beam 20 transmitted through the PBS surface 34a is incident on the first polarization hologram element 31 constituting the polarization diffraction element 35, it is diffracted and three beams (one main beam for detecting TES) are detected. Beam and two sub-beams) and exits from the first polarization hologram element 31. The detailed hologram pattern of the first polarization hologram element 31 will be described later. As a TES detection method using three beams, a three-beam method, a differential push-pull (DPP) method, a phase shift DPP method, or the like is generally known.

第2の偏光ホログラム素子32は、先に記載した通り、入射した光のうちS偏光は回折させP偏光はそのまま透過させる。つまり、第1の偏光ホログラム素子31を通過して、3ビームとなった光ビーム20はP偏光なので、第2の偏光ホログラム素子32をそのまま透過する。なお、第2の偏光ホログラム素子32の詳細なホログラムパターンについても後述する。   As described above, the second polarization hologram element 32 diffracts the S-polarized light and transmits the P-polarized light as it is. That is, since the light beam 20 that has passed through the first polarization hologram element 31 and becomes three beams is P-polarized light, it passes through the second polarization hologram element 32 as it is. A detailed hologram pattern of the second polarization hologram element 32 will also be described later.

また、1/4波長板36は、直線偏光を入射すると円偏光に変換して出射することができる。従って、1/4波長板36に入射した直線偏光であるP偏光の光ビーム20は、円偏光の光ビームに変換されて、光集積ユニット19から出射する。   The quarter-wave plate 36 can be converted into circularly polarized light when linearly polarized light is incident and emitted. Accordingly, the P-polarized light beam 20, which is linearly polarized light incident on the quarter-wave plate 36, is converted into a circularly-polarized light beam and emitted from the optical integrated unit 19.

光集積ユニット19から出射した円偏光の光ビームは、図8に示したように、コリメートレンズ7により平行光にされた後、対物レンズ13を介して光ディスク1に集光される。そして、光ディスク1によって反射された光ビーム、すなわち戻り光は、再び対物レンズ13とコリメートレンズ7を通過して、再び光集積ユニット19に配置された1/4波長板36に入射する。   As shown in FIG. 8, the circularly polarized light beam emitted from the optical integrated unit 19 is collimated by the collimator lens 7 and then condensed on the optical disc 1 through the objective lens 13. Then, the light beam reflected by the optical disk 1, that is, the return light, passes through the objective lens 13 and the collimator lens 7 again, and is incident on the quarter-wave plate 36 disposed in the optical integrated unit 19 again.

光集積ユニット19の1/4波長板36に入射する前記戻り光は円偏光であり、該1/4波長板36によって、今度は図示した光軸方向(Z軸方向)に対してY軸方向の偏光振動面を有する直線偏光、つまりS偏光に変換される。S偏光に変換された戻り光は、上記第2の偏光ホログラム素子32に入射する。   The return light incident on the quarter-wave plate 36 of the optical integrated unit 19 is circularly polarized light, and this quarter-wave plate 36 causes the Y-axis direction with respect to the illustrated optical axis direction (Z-axis direction). It is converted into linearly polarized light having a polarization oscillation surface of S, that is, S-polarized light. The return light converted to S-polarized light is incident on the second polarization hologram element 32.

前記第2の偏光ホログラム素子32に入射したS偏光に変換された戻り光は、0次回折光(非回折光)22と、+1次回折光(回折光)23とに回折されて第2の偏光ホログラム素子32から出射する。前記回折されたS偏光である戻り光(0次回折光および+1次回折光)は、第1の偏光ホログラム素子31に入射し、そのまま透過する。そして、該S偏光である戻り光は、PBS34に入射し、PBS面34aによって反射され、反射ミラー34bによってさらに反射された後、PBS34から出射する。PBS34から出射した前記戻り光は、受光素子38にて受光される。なお、上記受光素子38の受光部パターンについては、後述する。   The return light converted to S-polarized light that has entered the second polarization hologram element 32 is diffracted into zero-order diffracted light (non-diffracted light) 22 and + 1st-order diffracted light (diffracted light) 23, thereby producing a second polarization hologram. The light is emitted from the element 32. Return light (0th-order diffracted light and + 1st-order diffracted light) that is diffracted S-polarized light is incident on the first polarization hologram element 31 and is transmitted as it is. The return light, which is S-polarized light, enters the PBS 34, is reflected by the PBS surface 34a, is further reflected by the reflecting mirror 34b, and then exits the PBS 34. The return light emitted from the PBS 34 is received by the light receiving element 38. The light receiving portion pattern of the light receiving element 38 will be described later.

次に、図6に示した第1の偏光ホログラム素子31に形成されるホログラムパターンについて説明する。なお、第1の偏光ホログラム素子31における格子ピッチは、受光素子38上で3ビームが十分分離されるように設計されている。   Next, the hologram pattern formed on the first polarization hologram element 31 shown in FIG. 6 will be described. The grating pitch in the first polarization hologram element 31 is designed so that the three beams are sufficiently separated on the light receiving element 38.

一つの具体例として、半導体レーザ41と第1の偏光ホログラム素子31の距離を空気中の光路長換算で5mm程度として、受光素子38上でのメインビームとサブビームとの間隔を150μm程度となるようにする。また、光ディスク1上でのメインビームとサブビームとの間隔を16μm程度になるようにする。その場合には、第1の偏光ホログラム素子31における格子ピッチは14μm程度であることが好ましい。また格子の溝方向は光ディスク1のトラックに平行な方向に配置して、光ディスク1上でのメインビームとサブビームが、光ディスク1のトラック方向に対して直交する方向に並ぶように設定する。   As one specific example, the distance between the semiconductor laser 41 and the first polarization hologram element 31 is about 5 mm in terms of the optical path length in the air, and the distance between the main beam and the sub beam on the light receiving element 38 is about 150 μm. To. Further, the interval between the main beam and the sub beam on the optical disc 1 is set to about 16 μm. In that case, the grating pitch in the first polarization hologram element 31 is preferably about 14 μm. The grating groove direction is arranged in a direction parallel to the track of the optical disc 1 so that the main beam and the sub beam on the optical disc 1 are aligned in a direction perpendicular to the track direction of the optical disc 1.

そして、第1の偏光ホログラム素子31に形成されるホログラムパターンとしては、実施例1にて説明した、特開2001−250250号公報に開示されている位相シフトDPP法を用いたトラッキング誤差信号の検出のための格子パターンであることが望ましい。図6に前記格子パターンの模式図を示しているが、実施例1にて具体的な説明と効果を記載済みなので、ここでは省略する。   As a hologram pattern formed on the first polarization hologram element 31, detection of a tracking error signal using the phase shift DPP method disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-250250 described in the first embodiment is performed. It is desirable to have a lattice pattern for FIG. 6 shows a schematic diagram of the lattice pattern, but since specific description and effects have already been described in Example 1, they are omitted here.

次に、第2の偏光ホログラム素子32に形成されるホログラムパターンについて説明する。図10は、第2の偏光ホログラム素子32に形成されるホログラムパターンを示した模式図である。第2の偏光ホログラム素子32のホログラムパターンは、3つの領域32a、32b、32cから構成される。具体的には、ラジアル方向に対応するX軸方向の境界線32xによって2分割された一方の半円領域32cと、他方の半円領域がさらに円弧状の境界線によって分割された内周領域32aおよび外周領域32bで構成される。なお、参考のため、戻り光の通過する領域を図中の点線円にて模式的に示している。   Next, the hologram pattern formed on the second polarization hologram element 32 will be described. FIG. 10 is a schematic diagram showing a hologram pattern formed on the second polarization hologram element 32. The hologram pattern of the second polarization hologram element 32 includes three regions 32a, 32b, and 32c. Specifically, one semicircular region 32c divided into two by an X-axis direction boundary line 32x corresponding to the radial direction, and an inner peripheral region 32a in which the other semicircular region is further divided by an arc-shaped boundary line. And an outer peripheral region 32b. For reference, a region through which return light passes is schematically shown by a dotted circle in the drawing.

第2の偏光ホログラム素子32の前記各領域における格子ピッチは、領域32bが一番小さく(回折角度が最大)、領域32cが一番大きく(回折角度が最小)、領域32aはこれらの中間の数値となっている。球面収差を補正するために用いられる球面収差誤差信号(SAES)は、領域32aおよび領域32bからの+1次回折光を用いて検出が可能である。また、焦点位置ずれを補正するために用いられるFESは、領域32cからの+1次回折光を用いたシングルナイフエッジ法、または、領域32aと領域32bと領域32cからの+1次回折光を用いたダブルナイフエッジ法によって検出が可能である。さらに、本発明では、0次回折光のメインビームを、RF信号(光ディスクに記録されている情報信号)や位相差検出(DPD)法を用いたTES等の高速信号の検出に用い、0次回折光のメインビームおよびサブビームを、位相シフトDPP法を用いたTESの検出に用いる。   The grating pitch in each of the regions of the second polarization hologram element 32 is the smallest in the region 32b (maximum diffraction angle), the largest in the region 32c (minimum diffraction angle), and the region 32a is a numerical value between these values. It has become. The spherical aberration error signal (SAES) used to correct the spherical aberration can be detected using the + 1st order diffracted light from the region 32a and the region 32b. The FES used for correcting the focal position deviation is a single knife edge method using + 1st order diffracted light from the region 32c, or a double knife using + 1st order diffracted light from the regions 32a, 32b and 32c. Detection is possible by the edge method. Furthermore, in the present invention, the 0th-order diffracted light is used by detecting the main beam of the 0th-order diffracted light for detection of high-speed signals such as RF signals (information signals recorded on the optical disk) and TES using the phase difference detection (DPD) method. These main beams and sub beams are used for TES detection using the phase shift DPP method.

次に、図11(a)および(b)を用いて、第2の偏光ホログラム素子32の分割パターンと受光素子38の受光部パターンの関係を説明する。   Next, the relationship between the division pattern of the second polarization hologram element 32 and the light receiving portion pattern of the light receiving element 38 will be described with reference to FIGS.

まず、図11(a)の光学的状態を説明すると、次の通りである。すなわち、図8における光ディスク1のカバー層1bの厚みに対して、対物レンズ13による集光ビームに球面収差が発生しないように、コリメートレンズ7の光軸方向の位置調整がなされている状態にある。そして、前記調整がなされている状態にて、光ビーム20は記録層1c上に合焦状態に集光している。この場合の戻り光の受光素子38上でのスポットを、図11(a)は示している。さらに、図10において説明した第2の偏光ホログラム素子32の3つの領域32a〜32cと、+1次回折光の進行方向の関係も、図11(a)は示している。なお、第2の偏光ホログラム素子32の中心位置は、受光部38a〜38dの中心位置に対応する位置に設置されるが、説明の便宜上、実際位置よりもX軸及びY軸方向にずらして図示している。   First, the optical state of FIG. 11A will be described as follows. That is, with respect to the thickness of the cover layer 1b of the optical disc 1 in FIG. 8, the position of the collimating lens 7 in the optical axis direction is adjusted so that spherical aberration does not occur in the focused beam by the objective lens 13. . In the state where the adjustment is made, the light beam 20 is focused on the recording layer 1c in a focused state. FIG. 11A shows the spot of the return light on the light receiving element 38 in this case. Further, FIG. 11A also shows the relationship between the three regions 32a to 32c of the second polarization hologram element 32 described in FIG. 10 and the traveling direction of the + 1st order diffracted light. The center position of the second polarization hologram element 32 is set at a position corresponding to the center position of the light receiving portions 38a to 38d. However, for convenience of explanation, the center position of the second polarization hologram element 32 is shifted from the actual position in the X-axis and Y-axis directions. Show.

図11(a)に示すように、受光素子38は、38a〜38nの14個の受光部で構成されている。往路光学系(半導体レーザ41から出射した光ビーム20が、光ディスク1に到達するまでの光学系)において、第1の偏光ホログラム素子31で形成された3ビームは、光ディスク1で反射して戻り光となり、復路光学系(光ディスク1にて反射した戻り光が、受光素子38に到達するまでの光学系)において第2の偏光ホログラム素子32によりさらに分離されて、3つの非回折光(0次回折光)22と、9つの回折光(+1次回折光)23の、合計12個のビームが形成される。受光素子38は、非回折光22および回折光23のうち、前記RF信号やチルト信号を含むサーボ信号の検出に必要な光ビームを受光するための受光部を備えている。   As shown to Fig.11 (a), the light receiving element 38 is comprised by 14 light-receiving parts of 38a-38n. In the forward optical system (the optical system until the light beam 20 emitted from the semiconductor laser 41 reaches the optical disk 1), the three beams formed by the first polarization hologram element 31 are reflected by the optical disk 1 and returned light. Then, in the return path optical system (the optical system until the return light reflected by the optical disk 1 reaches the light receiving element 38), it is further separated by the second polarization hologram element 32, and three non-diffracted lights (0th order diffracted light) ) 22 and nine diffracted lights (+ 1st order diffracted lights) 23, a total of 12 beams are formed. The light receiving element 38 includes a light receiving portion for receiving a light beam necessary for detecting the servo signal including the RF signal and the tilt signal among the non-diffracted light 22 and the diffracted light 23.

次に、図11(b)の光学的状態を説明すると、次の通りである。すなわち、図11(a)の状態から、図8における対物レンズ13が光ディスク1に近づいた場合の、戻り光の受光素子38上でのスポットを示している。対物レンズ13が光ディスク1に近づくことによって、戻り光のビーム径が大きくなるため、受光素子38上でのスポットの大きさも大きくなる。ただし、受光部からの光ビームのはみ出しは、本状態ではまだ発生していないとする。   Next, the optical state of FIG. 11B will be described as follows. That is, the spot of the return light on the light receiving element 38 when the objective lens 13 in FIG. 8 approaches the optical disc 1 from the state of FIG. As the objective lens 13 approaches the optical disc 1, the beam diameter of the return light increases, so that the size of the spot on the light receiving element 38 also increases. However, it is assumed that no light beam protrudes from the light receiving unit yet in this state.

次に、サーボ信号生成の動作について説明する。なお、ここでは受光部38a〜38nの出力信号をSa〜Snと表す。   Next, the servo signal generation operation will be described. Here, the output signals of the light receiving portions 38a to 38n are represented as Sa to Sn.

RF信号(RF)は、先に説明した通り、光ディスクに記録されている情報信号であり、0次回折光のメインビームを用いて検出を行う。よって、(6)式と同様にしてRFは、
RF=Sa+Sb+Sc+Sd (18)
という演算式により生成される。
The RF signal (RF) is an information signal recorded on the optical disc as described above, and is detected using the main beam of 0th-order diffracted light. Therefore, RF is the same as in equation (6).
RF = Sa + Sb + Sc + Sd (18)
It is generated by the arithmetic expression.

DPD法によるトラッキング誤差信号(TES1)は、Sa〜Sdの位相比較を行うことにより検出される。該DPD法は、再生専用の光ディスク等、既に情報ピットが記録された光ディスクに有効な検出法であり、以下の原理が利用される。   The tracking error signal (TES1) by the DPD method is detected by performing a phase comparison of Sa to Sd. The DPD method is a detection method effective for an optical disc on which information pits have already been recorded, such as a read-only optical disc, and uses the following principle.

例えば、図8に示した光ディスク1の記録層1cに形成されたピット列を、対物レンズ13により集光された光ビームが走査する場合、ピット列と光ビームの位置関係によって、光ディスク1から反射した光である戻り光の強度分布パターンが変化する。前記強度分布パターンの変化を検出するために、(Sa+Sc)と(Sb+Sd)の二つの出力変化に注目する。すなわち、光ビームがピット列の中央を走査している場合には、(Sa+Sc)と(Sb+Sd)の二つの出力変化は同位相であるのに対して、光ビームがピット列の中央からずれた位置を走査している場合には、前記二つの出力変化に位相差が生じる。また、前記ピット列の中央からのずれの方向、つまり、光ディスク1の内周側にずれたか、もしくは外周側にずれたかによって、前記位相差の方向、すなわち位相進みと位相遅れとが逆となる。従って、本原理を利用することにより、トラッキング誤差信号が得られる。   For example, when the pit row formed on the recording layer 1c of the optical disc 1 shown in FIG. 8 is scanned by the light beam condensed by the objective lens 13, the pit row is reflected from the optical disc 1 depending on the positional relationship between the pit row and the light beam. The intensity distribution pattern of the return light, which is the reflected light, changes. In order to detect the change of the intensity distribution pattern, attention is paid to two output changes of (Sa + Sc) and (Sb + Sd). That is, when the light beam scans the center of the pit row, the two output changes (Sa + Sc) and (Sb + Sd) are in phase, whereas the light beam is shifted from the center of the pit row. When the position is scanned, a phase difference occurs between the two output changes. Further, the direction of the phase difference, that is, the phase advance and the phase delay are reversed depending on the direction of deviation from the center of the pit row, that is, whether the optical disc 1 is displaced toward the inner circumference side or the outer circumference side. . Therefore, by using this principle, a tracking error signal can be obtained.

また、位相シフトDPP法によるトラッキング誤差信号(TES2)は、
TES2={(Sa+Sb)−(Sc+Sd)}
−α{(Se−Sf)+(Sg−Sh)} (19)
で与えられる。なお、ここでαは定数であり、対物レンズシフト等によってTES2出力に発生したオフセット出力をキャンセルするための最適な値に設定される。
The tracking error signal (TES2) by the phase shift DPP method is
TES2 = {(Sa + Sb)-(Sc + Sd)}
−α {(Se−Sf) + (Sg−Sh)} (19)
Given in. Here, α is a constant, and is set to an optimum value for canceling the offset output generated in the TES2 output due to objective lens shift or the like.

また、フォーカス誤差信号(FES)は、ダブルナイフエッジ法を用いて検出する。すなわち、FESは、
FES=(Sm−Sn)−{(Si+Sk)−(Sj+Sl)} (20)
で与えられる。
The focus error signal (FES) is detected using a double knife edge method. That is, FES is
FES = (Sm−Sn) − {(Si + Sk) − (Sj + Sl)} (20)
Given in.

さらに、本発明のチルトを検出するためのチルト信号(TILT)は、前記第1の実施例における(7)式あるいは(8)式の演算と同様に、
TILT=(Se+Sf)−(Sg+Sh) (21)
あるいは
TILT=(Se−Sf)+(Sg−Sh) (22)
という演算式にて生成される。
Further, the tilt signal (TILT) for detecting the tilt of the present invention is similar to the calculation of the expression (7) or (8) in the first embodiment.
TILT = (Se + Sf) − (Sg + Sh) (21)
Or TILT = (Se−Sf) + (Sg−Sh) (22)
It is generated by the arithmetic expression.

また、(21)および(22)式の演算を行う演算手段の具体例としても、前記第1の実施例同様、オペアンプの組み合わせによる構成が簡易で望ましい。   Also, as a specific example of the calculation means for performing the calculations of the equations (21) and (22), a configuration using a combination of operational amplifiers is simple and desirable as in the first embodiment.

本実施例において、前記第1の実施例と大きく異なる点は、光集積ユニット19を有している点である。光集積ユニット19は、光ピックアップ装置3Bの主要構成部品である半導体レーザ41と、受光素子38と、レーザ光線の導光手段としての偏光ビームスプリッタ(PBS)34と、レーザ光線の分離手段としての偏光回折素子35と、1/4波長板36とを、筐体であるホルダ37に搭載して、これらを一つの部品として構成されていることを特徴とする。光集積ユニット19を有することによって、実施例1にはない、次のような作用および効果を奏する。すなわち、前記光ピックアップ装置3Bの主要構成部品が集積化されているので、温度変化や外部からの衝撃による特性劣化を抑えることができ、信頼性の高い光ピックアップ装置の提供が可能となる。   The present embodiment is greatly different from the first embodiment in that an optical integrated unit 19 is provided. The optical integrated unit 19 includes a semiconductor laser 41, which is a main component of the optical pickup device 3B, a light receiving element 38, a polarization beam splitter (PBS) 34 as a laser beam guiding unit, and a laser beam separating unit. The polarization diffraction element 35 and the quarter wavelength plate 36 are mounted on a holder 37 which is a casing, and these are configured as one component. By having the optical integrated unit 19, the following operations and effects not found in the first embodiment are achieved. That is, since the main components of the optical pickup device 3B are integrated, it is possible to suppress deterioration of characteristics due to temperature changes and external impacts, and it is possible to provide a highly reliable optical pickup device.

また、光ピックアップ装置3Bにおけるレーザ光線の分離手段として、偏光回折素子35を用いているが、これも実施例1にはない、次のような作用および効果を奏する。すなわち、偏光特性を有する回折素子を用いることによって、回折時における光量損失を抑えることが可能となる。そして、光量損失を抑えた分、半導体レーザの出力を控えることができる。このことは光ディスク1への記録時等、レーザ光線の光量を多く必要とする場合に特に有効である。つまり、従来に比べ少ない半導体レーザ出力での記録が可能であるので、その結果、半導体レーザの寿命が延びる。さらには余分な発熱も減少するため、長期間にわたって安定動作可能な信頼性の高い光ピックアップ装置を提供できる。   Further, although the polarization diffraction element 35 is used as the laser beam separating means in the optical pickup device 3B, this also has the following operations and effects not found in the first embodiment. That is, by using a diffraction element having polarization characteristics, it is possible to suppress a light amount loss during diffraction. Then, the output of the semiconductor laser can be reduced by the amount of light quantity loss suppressed. This is particularly effective when a large amount of laser beam is required, such as when recording on the optical disc 1. That is, recording with a smaller semiconductor laser output than before is possible, and as a result, the life of the semiconductor laser is extended. Furthermore, since excessive heat generation is also reduced, a highly reliable optical pickup device capable of stable operation over a long period of time can be provided.

その他に関しては、チルトの検出方法や検出式が第1の実施例と同様のため、第1の実施例と同様の作用および効果を奏する   In other respects, since the tilt detection method and detection formula are the same as in the first embodiment, the same operations and effects as in the first embodiment are achieved.

本発明の実施例1の光ピックアップ装置を有する光ディスク装置の構成を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the structure of the optical disk apparatus which has the optical pick-up apparatus of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1の光ピックアップ装置の光学系の構成を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the structure of the optical system of the optical pick-up apparatus of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1のチルト検出を説明するための受光素子の図である。It is a figure of the light receiving element for demonstrating the tilt detection of Example 1 of this invention. 光ディスクがチルトしていないときの状態を説明するための図である。It is a figure for demonstrating a state when the optical disk is not tilted. 光ディスクがチルトしているときの状態を説明するための図である。It is a figure for demonstrating a state when the optical disk is tilting. 本発明の実施例1の位相シフトグレーディングを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the phase shift grading of Example 1 of this invention. 本発明の実施例1の演算手段としての回路構成を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the circuit structure as a calculating means of Example 1 of this invention. 本発明の実施例2の光ピックアップ装置の構成を示した図である。It is the figure which showed the structure of the optical pick-up apparatus of Example 2 of this invention. 本発明の実施例2の光ピックアップ装置の光集積ユニットの構成を拡大して示した図である。It is the figure which expanded and showed the structure of the optical integrated unit of the optical pick-up apparatus of Example 2 of this invention. 本発明の実施例2の第2の偏光ホログラム素子32における格子パターンの構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the structure of the grating | lattice pattern in the 2nd polarization hologram element 32 of Example 2 of this invention. 本発明の実施例2の光集積ユニットに用いる受光素子の受光部パターンを説明する図であり、(a)は、上記受光部パターンに、球面収差が発生していない場合における光ビームの受光状態を示し、(b)は、(a)の状態から対物レンズが光ディスクに近づいた場合における光ビームの受光状態を示した図である。It is a figure explaining the light-receiving part pattern of the light receiving element used for the optical integrated unit of Example 2 of this invention, (a) is the light-receiving state of the light beam in case the spherical aberration does not generate | occur | produce in the said light-receiving part pattern (B) is the figure which showed the light-receiving state of the light beam in case the objective lens approaches the optical disk from the state of (a). 従来の光ピックアップ装置に搭載されているチルトセンサの構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the tilt sensor mounted in the conventional optical pick-up apparatus. 従来の光ピックアップ装置に搭載されているチルトセンサによるチルトの検出原理を示した図である。It is the figure which showed the detection principle of the tilt by the tilt sensor mounted in the conventional optical pick-up apparatus. 従来の光ピックアップ装置に搭載されているチルトセンサによるチルトの検出原理を示した別の図である。It is another figure which showed the detection principle of the tilt by the tilt sensor mounted in the conventional optical pick-up apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 光ディスク
2 スピンドルモータ
3A,3B 光ピックアップ装置
4 駆動装置
5 回転制御系
6,41 半導体レーザ
7 コリメートレンズ
8 整形プリズム
9 位相シフトグレーティング
10,34 偏光ビームスプリッタ(PBS)
11 ビームエキスパンダユニット
12 45°ミラー
13 対物レンズ
14 集光レンズ
15 シリンドリカルレンズ
16,38 受光素子
17 APC用光検出器
19 光集積ユニット
35 偏光回折素子
36,60 1/4波長板
37 ホルダ
37d 窓部
50 1/2波長板
70 光ディスク装置
110 チルトセンサ
111 発光素子
112 2分割受光素子
112a 2分割受光素子右半部
112b 2分割受光素子左半部
113 レンズ
114 ケース
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Optical disk 2 Spindle motor 3A, 3B Optical pick-up apparatus 4 Drive apparatus 5 Rotation control system 6,41 Semiconductor laser 7 Collimating lens 8 Shaping prism 9 Phase shift grating 10,34 Polarization beam splitter (PBS)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Beam expander unit 12 45 degree mirror 13 Objective lens 14 Condensing lens 15 Cylindrical lens 16,38 Light receiving element 17 Photo detector for APC 19 Optical integrated unit 35 Polarization diffraction element 36,60 1/4 wavelength plate 37 Holder 37d Window 50 50 half-wave plate 70 optical disk device 110 tilt sensor 111 light emitting element 112 two-divided light receiving element 112a two-divided light receiving element right half 112b two-divided light receiving element left half 113 lens 114 case

Claims (10)

光記憶媒体に光ビームを照射する光源と
前記光ビームを一つのメインビームと二つのサブビームに分離する分離手段と
前記一つのメインビームと二つのサブビームを、前記光記録媒体が有する情報記録トラックに対して直交する方向に並ぶように照射し、その反射光を各々独立して受光する受光部と
前記二つのサブビームの反射光の受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号の差を演算し、前記光記録媒体のチルトを検出する演算手段と、を備えたことを特徴とする光ピックアップ装置。
A light source for irradiating the optical storage medium with a light beam; separation means for separating the light beam into one main beam and two sub beams; and the one main beam and two sub beams on an information recording track of the optical recording medium. The difference between the output signal output from the light receiving unit corresponding to the received light quantity of the reflected light of the two sub beams and the light receiving unit that irradiates the light so as to be arranged in a direction orthogonal to each other and receives the reflected light independently of each other And an arithmetic means for detecting the tilt of the optical recording medium.
前記二つのサブビームをサブビームS1およびサブビームS2とし、
前記サブビームS1およびサブビームS2の反射光を受光する各々の受光部は、反射光を前記光情報記録媒体のトラック方向で二分割して受光する受光領域を有し、
前記受光領域で受光した受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号をS11、S12およびS21、S22とすると、
(S11−S12)+(S21−S22)を演算し、前記光記憶媒体のチルトを検出することを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。
The two sub-beams are sub-beam S1 and sub-beam S2,
Each light receiving unit that receives the reflected light of the sub beam S1 and the sub beam S2 has a light receiving region that receives the reflected light by dividing the reflected light into two in the track direction of the optical information recording medium,
When the output signals output from the light receiving unit corresponding to the amount of received light received in the light receiving region are S11, S12 and S21, S22,
2. The optical pickup device according to claim 1, wherein (S11-S12) + (S21-S22) is calculated to detect a tilt of the optical storage medium.
前記二つのサブビームをサブビームS1およびサブビームS2とし、
前記サブビームS1およびサブビームS2の反射光を受光する各々の受光部は、反射光を前記光情報記録媒体のトラック方向で二分割して受光する受光領域を有し、
前記受光領域で受光した受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号をS11、S12およびS21、S22とすると、
(S11+S12)−(S21+S22)を演算し、前記光記憶媒体のチルトを検出することを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。
The two sub-beams are sub-beam S1 and sub-beam S2,
Each light receiving unit that receives the reflected light of the sub beam S1 and the sub beam S2 has a light receiving region that receives the reflected light by dividing the reflected light into two in the track direction of the optical information recording medium,
When the output signals output from the light receiving unit corresponding to the amount of received light received in the light receiving region are S11, S12 and S21, S22,
2. The optical pickup device according to claim 1, wherein (S11 + S12)-(S21 + S22) is calculated to detect a tilt of the optical storage medium.
前記二つのサブビームをサブビームS1およびサブビームS2とし、
前記サブビームS1およびサブビームS2の反射光を受光する各々の受光部は、反射光を前記光情報記録媒体のトラック方向で二分割して受光する受光領域を有し、
前記受光領域で受光した受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号をS11、S12およびS21、S22とすると、
(S11−S12)/(S11+S12)+(S21−S22)/(S21+S22)を演算し、前記光記憶媒体のチルトを検出することを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。
The two sub-beams are sub-beam S1 and sub-beam S2,
Each light receiving portion that receives the reflected light of the sub beam S1 and the sub beam S2 has a light receiving region that receives the reflected light by dividing the reflected light into two in the track direction of the optical information recording medium,
When the output signals output from the light receiving unit corresponding to the amount of received light received in the light receiving region are S11, S12 and S21, S22,
2. The optical pickup device according to claim 1, wherein a tilt of the optical storage medium is detected by calculating (S11-S12) / (S11 + S12) + (S21-S22) / (S21 + S22).
前記二つのサブビームをサブビームS1およびサブビームS2とし、
前記サブビームS1およびサブビームS2の反射光を受光する各々の受光部は、反射光を前記光情報記録媒体のトラック方向で二分割して受光する受光領域を有し、
前記受光領域で受光した受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号をS11、S12およびS21、S22とし、
前記一つのメインビームをメインビームM1とし、
前記メインビームM1の反射光を受光する受光部からの該メインビームM1の反射光の受光光量に対応した出力信号をTOTALとすると、
{(S11+S12)−(S21+S22)}/TOTAL
または{(S11−S12)+(S21−S22)}/TOTALを演算し、前記光記憶媒体のチルトを検出することを特徴とする請求項1に記載の光ピックアップ装置。
The two sub-beams are sub-beam S1 and sub-beam S2,
Each light receiving unit that receives the reflected light of the sub beam S1 and the sub beam S2 has a light receiving region that receives the reflected light by dividing the reflected light into two in the track direction of the optical information recording medium,
The output signals output from the light receiving unit corresponding to the amount of received light received in the light receiving region are S11, S12 and S21, S22,
The one main beam is a main beam M1,
When an output signal corresponding to the amount of light received from the main beam M1 reflected from the light receiving unit that receives the reflected light from the main beam M1 is TOTAL,
{(S11 + S12)-(S21 + S22)} / TOTAL
2. The optical pickup device according to claim 1, wherein {(S11-S12) + (S21-S22)} / TOTAL is calculated to detect a tilt of the optical storage medium.
前記光記憶媒体のチルトを検出することとは、
チルトのない状態での演算結果である定数または0とチルトのある状態での演算結果とを比較することによりチルトの方向または量の少なくとも一方を算出できることを特徴とする請求項2から請求項5のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
Detecting the tilt of the optical storage medium means
6. The tilt direction or amount can be calculated by comparing a constant or 0 as a calculation result in a state without tilt and a calculation result in a state with tilt. The optical pickup device according to any one of the above.
前記メインビームとサブビームは、前記光記録媒体での反射による該サブビームの反射光におけるトラックククロス信号成分であるプッシュプル信号出力がほぼ0となるように該サブビームの一部に位相差を与えることが可能な分離手段によって生成されることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載の光ピックアップ装置。   The main beam and the sub beam give a phase difference to a part of the sub beam so that a push-pull signal output which is a track cross signal component in the reflected light of the sub beam due to reflection on the optical recording medium becomes almost zero. The optical pickup device according to claim 1, wherein the optical pickup device is generated by a separating means capable of 光ピックアップ装置の主要構成部品である、光源と、受光素子と、導光手段と、分離手段と、1/4波長板とを筐体に搭載して、これらが一つの部品として構成されていることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載の光ピックアップ装置。   A light source, a light receiving element, a light guiding unit, a separating unit, and a quarter-wave plate, which are main components of the optical pickup device, are mounted on a casing, and these are configured as one component. The optical pickup device according to claim 1, wherein the optical pickup device is an optical pickup device. 前記分離手段は、偏光特性を有する偏光回折素子を用いて構成されていることを特徴とする請求項8に記載の光ピックアップ装置。   9. The optical pickup device according to claim 8, wherein the separating unit is configured using a polarization diffraction element having polarization characteristics. 光源から出射された光ビームを、分離手段により一つのメインビームと二つのサブビームに分離し、
前記一つのメインビームと二つのサブビームを、光記録媒体が有する情報記録トラックに対して直交する方向に並ぶように照射し、
光記憶媒体から反射された二つのサブビームの反射光を各々独立して受光する受光部にて受光し、
前記二つのサブビームの反射光の受光光量に対応して前記受光部から出力される出力信号の差を演算することにより、前記光記憶媒体のチルトを検出することを特徴とする光記憶媒体のチルト検出方法。
The light beam emitted from the light source is separated into one main beam and two sub beams by the separating means,
Irradiating the one main beam and the two sub beams so as to be aligned in a direction orthogonal to the information recording track of the optical recording medium,
The reflected light of the two sub-beams reflected from the optical storage medium is received by a light receiving unit that independently receives each of the reflected light,
A tilt of the optical storage medium, wherein the tilt of the optical storage medium is detected by calculating a difference between output signals output from the light receiving unit corresponding to the received light quantity of the reflected light of the two sub beams. Detection method.
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