JP2007207336A

JP2007207336A - Test disk production system

Info

Publication number: JP2007207336A
Application number: JP2006024124A
Authority: JP
Inventors: Akira Yoshino; 明吉野; Tadashi Deura; 正出浦
Original assignee: Shinano Kenshi Co Ltd
Current assignee: Shinano Kenshi Co Ltd
Priority date: 2006-02-01
Filing date: 2006-02-01
Publication date: 2007-08-16

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test disk production system which can examine the test disk after it is completed. <P>SOLUTION: The test disk production system 30 writing the test data on an optical disk 32 to produce a test disk has a test data memory 55 to store the test data to write on the test disk, a test parameter set memory 64 to store the test parameter set, which is the conditions to write data on a test disk, consisting of two or more parameters and set up in advance to maintain the predetermined written data quality, and a written data quality measuring means 46 to read the test data from a test disk produced by writing test data using a test parameter set and to measure the quality of the test data thus read out. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、光ディスク装置の製造時や開発時に用いられるテストディスクを作成するシステムに関する。 The present invention relates to a system for creating a test disk used during manufacturing or development of an optical disk device.

ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクからデータを読み出したり、データを書き込んだりする光ディスク装置は、通常は複数のメーカから販売されているさまざまな種類の光ディスクに対応可能となっている。
例えば、メーカごとに記録層の材料が異なっていたり、また同じメーカ内でも低速書き込み専用のものや、高速書き込みに対応するものなど、同じ形式の光ディスクでもその種類は多岐にわたっている。 An optical disk device that reads data from and writes data to an optical disk such as a CD or a DVD is usually compatible with various types of optical disks sold by a plurality of manufacturers.
For example, there are various types of optical discs of the same type, such as different recording layer materials for each maker, and even within the same maker, such as those dedicated to low-speed writing and those compatible with high-speed writing.

このように、複数種類の光ディスクに対して全て対応できるよう、光ディスク装置の開発時には、複数種類の光ディスクに対してのデータの読み書きを試験する必要がある。
試験には、各光ディスクを製造するメーカから提供されるテストディスクを用いることが一般的である。このテストディスクは、予め傷をつけたり（例えば、特許文献1参照）、所定の書き込み品位となるように複数の検査項目を設けたりしておき（例えば特許文献２参照）、光ディスク装置が所望の書き込み品位を得られるか否かを検査するために用いられている。 As described above, it is necessary to test reading and writing of data from and to a plurality of types of optical discs when developing an optical disc apparatus so that all types of optical discs can be handled.
In the test, it is common to use a test disk provided by a manufacturer that manufactures each optical disk. This test disk is scratched in advance (for example, refer to Patent Document 1), or a plurality of inspection items are provided so as to have a predetermined writing quality (for example, refer to Patent Document 2), and the optical disk apparatus performs desired writing. It is used to check whether or not quality can be obtained.

ただし、テストディスクは非常に高価であり、また高価であるために多数を購入することもできず、検査時には少数のテストディスクを使いまわしたりするため、テストディスクの磨耗、劣化等が進みやすい。
このため、テストディスクを容易に作成できるテストディスク作成装置（例えば、特許文献３参照）や、テストディスクが劣化してきたかどうかの性能を評価するテストディスク評価装置（例えば、特許文献４参照）等が開発されている。 However, the test disk is very expensive, and since it is expensive, a large number of test disks cannot be purchased, and a small number of test disks are reused at the time of inspection.
For this reason, a test disk creation device (for example, see Patent Document 3) that can easily create a test disk, a test disk evaluation device (for example, see Patent Document 4) that evaluates the performance of whether or not the test disk has deteriorated, etc. Has been developed.

特開２００４−１３９５２号公報JP 2004-13952 A 特開２０００−３０６２４４号公報JP 2000-306244 A 特開２００３−１９６８３５号公報JP 2003-196835 A 特開２００５−３５３１８２号公報JP 2005-353182 A

テストディスクを容易に得るために特許文献３のような装置が開示されているが、このような装置によって容易に得られたテストディスクが所望の書き込み品位を有しているかどうかの判断ができないという課題があった。
なお、特許文献４ではテストディスクの磨耗等の劣化状態を評価する装置が開示されてはいるが、作成したテストディスクを使用前に評価するものではなく、作成したテストディスクをすぐに評価したいという要望があった。 In order to easily obtain a test disk, an apparatus such as Patent Document 3 is disclosed, but it cannot be determined whether or not a test disk easily obtained by such an apparatus has a desired writing quality. There was a problem.
Although Patent Document 4 discloses an apparatus for evaluating a deterioration state such as wear of a test disk, it does not evaluate the created test disk before use, but wants to immediately evaluate the created test disk. There was a request.

そこで、本発明の目的は、上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、テストディスクを作成した後に、作成したテストディスクを評価することができるテストディスク作成システムを提供することにある。 Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a test disk creation system that can evaluate a created test disk after creating the test disk. .

本発明は上記目的を達成すべく、以下の構成を備える。
すなわち、本発明にかかるテストディスク作成システムによれば、光ディスクにテストデータを書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成システムにおいて、テストディスクへ書き込むテストデータを記憶するテストデータ記憶手段と、テストディスクへデータを書き込む際の書き込み条件であって、テストディスクへ書き込んだテストデータの書き込み品位が所定の品位となるように予め設定された、複数のパラメータから成るテスト用パラメータセットを記憶するテスト用パラメータセット記憶手段と、前記テスト用パラメータセットを用いて前記テストデータを書き込んで作成されたテストディスクから書き込んだテストデータを読み出し、書き込んだテストデータの書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段とを具備することを特徴としている。 In order to achieve the above object, the present invention comprises the following arrangement.
That is, according to the test disk creation system of the present invention, in the test disk creation system for creating a test disk by writing test data on the optical disk, the test data storage means for storing the test data to be written to the test disk, and the test disk A test parameter set for storing a test parameter set composed of a plurality of parameters, which is a write condition for writing data and is set in advance so that the write quality of the test data written to the test disk is a predetermined quality Storage means, and write quality measuring means for reading the test data written from the test disk created by writing the test data using the test parameter set and measuring the write quality of the written test data. It is characterized in that Bei.

この構成を採用することによって、作成したテストディスクをそのまま評価することができるのでテストディスク作成が容易であり、光ディスク装置の開発時のコストを下げることができる。
なお、書き込み品位とは、エラーレート、ジッターまたは信号振幅等を指す。エラーレートについて説明すると、光ディスクではデータに誤り訂正符号を付加することによって、誤って読み出されたデータに訂正を加えることができるように設けられており、誤り訂正符号としては、ＣＩＲＣ（Cross Interleaved Reed-Solomon Code）と呼ばれる符号が採用されている。このＣＩＲＣは、２段のＲｅｅｄ−Ｓｏｌｏｍｏｎ符号をインターリーブ結合させたものである。２段のＲｅｅｄ−Ｓｏｌｏｍｏｎ符号はそれぞれＣ１符号およびＣ２符号と称されており、主としてＣ１符号はランダムエラーの訂正をし、Ｃ２符号はバーストエラーの訂正をするように設けられている。エラーレートは、Ｃ１符号の１秒間当たりの訂正回数をいう。この回数が大きいほど、書き込み品位が悪いという判断ができる。
ジッターとは、再生信号の時間的な揺らぎをいい、揺らぎの幅であるジッター値が大きくなると書き込み品位が悪いと言う判断ができる。
なお、パラメータとはストラテジ、デビエーション等を指す。 By adopting this configuration, the created test disk can be evaluated as it is, so that the test disk can be easily created and the cost for developing the optical disk apparatus can be reduced.
The writing quality refers to error rate, jitter, signal amplitude, or the like. The error rate will be described. An optical disc is provided so that correction can be made to data read in error by adding an error correction code to the data. As the error correction code, a CIRC (Cross Interleaved) is provided. A code called “Reed-Solomon Code” is adopted. This CIRC is obtained by interleaving two stages of Reed-Solomon codes. The two-stage Reed-Solomon code is referred to as a C1 code and a C2 code, respectively. The C1 code is mainly provided to correct random errors, and the C2 code is provided to correct burst errors. The error rate is the number of corrections per second of the C1 code. It can be determined that the larger the number of times, the worse the writing quality.
Jitter refers to fluctuations in the playback signal over time, and it can be judged that the writing quality is poor when the jitter value, which is the fluctuation width, increases.
Parameters refer to strategies, deviations, and the like.

また、光ディスクへレーザ光を照射するとともに光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、光ディスクを回転駆動するスピンドルモータと、光ピックアップで受光した反射光を信号処理する読み出し用信号処理回路と、光ピックアップから書き込むべきデータを信号処理する書き込み用信号処理回路と、光ピックアップおよびスピンドルモータの動作制御を実行するドライバ回路と、前記各構成を制御する制御手段とが設けられた光ディスク装置と、該光ディスク装置の動作指示を行うコマンドを光ディスク装置へ出力するホストコンピュータとから構成され、前記光ディスク装置には、前記テスト用パラメータセット記憶手段と、前記書き込み品位測定手段とが設けられ、前記ホストコンピュータには、前記テストデータ記憶手段が設けられていることを特徴としている。
この構成によれば、通常のデータ書き込み可能な光ディスク装置内にテスト用パラメータセットと、書き込み品位測定手段とを搭載しておけば、通常のデータ書き込み可能な光ディスク装置をテストディスク作成に用いることができ、コストを上げずにテストディスク作成に資することができる。 An optical pickup that irradiates the optical disc with laser light and receives reflected light from the optical disc, a spindle motor that rotates the optical disc, a read signal processing circuit that processes the reflected light received by the optical pickup, Optical disc apparatus provided with a write signal processing circuit for processing data to be written from the pickup, a driver circuit for controlling the operation of the optical pickup and the spindle motor, and a control means for controlling each of the components, and the optical disc A host computer for outputting a command for instructing operation of the apparatus to the optical disc apparatus, the optical disc apparatus being provided with the test parameter set storage means and the writing quality measurement means, and the host computer , Test data storage Is characterized in that stage is provided.
According to this configuration, if the test parameter set and the write quality measuring means are mounted in an ordinary optical disk apparatus capable of writing data, an ordinary optical disk apparatus capable of writing data can be used for creating a test disk. This can contribute to the creation of a test disc without increasing costs.

さらに、前記光ディスク装置内の前記テスト用パラメータセット記憶手段には、テストディスクとする光ディスクの種類ごとに書き込み条件を変えた複数のテスト用パラメータセットが記憶されており、前記ホストコンピュータは、前記光ディスク装置内の前記テスト用パラメータセット記憶手段から複数のテスト用パラメータセットを読み出し、作業者に複数のテスト用パラメータセットのうちからいずれのテスト用パラメータセットを使用するかを選択させ、作業者によって選択されたテスト用パラメータセットを用いてテストディスクを作成するように光ディスク装置を制御するコマンドを出力することを特徴としてもよい。
この構成によれば、さまざまな種類の光ディスクに対応するテストディスクを容易に作成することができる。 Further, the test parameter set storage means in the optical disc apparatus stores a plurality of test parameter sets in which write conditions are changed for each type of optical disc used as a test disc, and the host computer stores the optical disc A plurality of test parameter sets are read from the test parameter set storage means in the apparatus, and the operator selects which test parameter set to use from the plurality of test parameter sets, and is selected by the operator. A command for controlling the optical disc apparatus may be output so as to create a test disc using the set of test parameters.
According to this configuration, it is possible to easily create test disks corresponding to various types of optical disks.

本発明にかかるテストディスク作成システムによれば、作成したテストディスクをそのまま評価することができるのでテストディスク作成が容易となり、テストディスクの購入費用やテストディスクの評価等の手間を省き、光ディスク装置の開発時のコストを下げることができる。 According to the test disk creation system of the present invention, since the created test disk can be evaluated as it is, it is easy to create the test disk, and the labor for purchasing the test disk and evaluating the test disk can be saved. Cost during development can be reduced.

以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。
（第１の実施形態）
まず、図１に基づいて、テストディスク作成システムの第１の実施形態における全体構成の概略を説明する。
テストディスク作成システム３０は、光ディスクにテストデータを所定の書き込み品位となるようにテスト用パラメータセットを用いてテストデータを書き込んでテストディスクを作成し、作成されたテストディスクが所定の書き込み品位となっているかどうかを検証するためにテストディスクの書き込み品位を測定する機能を有するものである。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
(First embodiment)
First, based on FIG. 1, the outline of the whole structure in 1st Embodiment of a test disk production system is demonstrated.
The test disk creation system 30 creates a test disk by writing test data using a test parameter set so that the test data has a predetermined writing quality on the optical disk, and the created test disk has a predetermined writing quality. It has a function of measuring the writing quality of the test disk in order to verify whether or not

なお、テストディスクに用いる光ディスクとしては、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等を用いることができる。本システム３０では、いずれの種類の光ディスクであっても対応可能となるように各構成が互換性があるように設けている。 As the optical disk used for the test disk, CD-R, CD-RW, DVD-R, DVD-RW, DVD + R, DVD + RW, DVD-RAM, or the like can be used. In the present system 30, each configuration is provided so as to be compatible so that any type of optical disk can be handled.

テストディスク作成システム３０は、光ディスク３２を回転駆動するスピンドルモータ３４と、光ディスク３２へレーザ光を照射するレーザダイオード（図示せず）と光ディスク３２からの反射光を受光するフォトダイオード（図示せず）とを有する光ピックアップ３６とを具備している。フォトダイオードで受光した光強度信号は読み出し用の信号処理回路４４のＲＦアンプ３８に入力され、２値化されたＲＦ信号を得ることができる。 The test disk creation system 30 includes a spindle motor 34 that rotationally drives an optical disk 32, a laser diode (not shown) that irradiates the optical disk 32 with laser light, and a photodiode (not shown) that receives reflected light from the optical disk 32. And an optical pickup 36 having the following. The light intensity signal received by the photodiode is input to the RF amplifier 38 of the signal processing circuit 44 for reading, and a binarized RF signal can be obtained.

ＲＦアンプ３８によって得られたＲＦ信号は、信号処理回路４４内でデコードや復調がなされる。光ディスク３２がＣＤの場合には、デコード回路４０およびＥＦＭ復調回路４２に入力され、ＣＩＲＣ等の誤り訂正およびＥＦＭ復調がされ、再生信号が得られる。
ここでは、ＲＦアンプ３８、デコード回路４０およびＥＦＭ復調回路４２を含めて読み出し用の信号処理回路４４を構成しているものとする。 The RF signal obtained by the RF amplifier 38 is decoded and demodulated in the signal processing circuit 44. When the optical disk 32 is a CD, it is input to a decoding circuit 40 and an EFM demodulating circuit 42, and error correction such as CIRC and EFM demodulation are performed to obtain a reproduction signal.
Here, it is assumed that the signal processing circuit 44 for reading includes the RF amplifier 38, the decoding circuit 40, and the EFM demodulation circuit 42.

信号処理回路４４によって得られた再生信号は、書き込み品位測定機能４６を有するＣＰＵ４８に入力される。ＣＰＵ４８は、他の構成要素を制御して、テストディスク作成システムの動作を統括制御する。
また、ＣＰＵ４８の書き込み品位測定機能４６は、入力されてきた再生信号の品位を測定するようにＣＰＵ４８が動作するものであり、ＣＰＵ４８が予めメモリ５０内に記憶されている書き込み品位測定プログラムを読み出して実行することによって実現される。 The reproduction signal obtained by the signal processing circuit 44 is input to a CPU 48 having a write quality measurement function 46. The CPU 48 controls other components to control the operation of the test disk creation system.
The write quality measurement function 46 of the CPU 48 is for the CPU 48 to operate so as to measure the quality of the input reproduction signal. The CPU 48 reads out the write quality measurement program stored in the memory 50 in advance. It is realized by executing.

書き込み品位とは、再生信号の時間的な揺らぎであるジッター、１秒間に行われたエラー訂正の回数をいうエラーレート、または再生信号の振幅値に基づいて得られる、書き込み精度の指標となるものである。
本実施形態では、書き込み品位としてエラーレートのみを参考にしており、エラーの検出はデコード回路４０によって行われ、これをカウントするのはＣＰＵ４８によって行われる。
すなわち、デコード回路４０にＲＦアンプ３８からのＲＦ信号が入力されると、デコード回路４０はＣＩＲＣにおけるＣ１符号の訂正をし、ＣＰＵ４８がデコード回路４０におけるＣ１符合の１秒間当たりの訂正回数をカウントし、エラーレートを算出する。 Write quality is a measure of write accuracy obtained based on jitter, which is the fluctuation of the playback signal over time, an error rate indicating the number of error corrections performed per second, or the amplitude value of the playback signal. It is.
In the present embodiment, only the error rate is referred to as the writing quality, and the error is detected by the decoding circuit 40 and counted by the CPU 48.
That is, when the RF signal from the RF amplifier 38 is input to the decoding circuit 40, the decoding circuit 40 corrects the C1 code in the CIRC, and the CPU 48 counts the number of corrections per second of the C1 code in the decoding circuit 40. Calculate the error rate.

なお、光ピックアップ３６内のフォトダイオードは、その受光面が複数面に分割されており、各受光面で受光した光強度の和や差をとることによってＲＦアンプ３８において、トラッキングエラー信号や、フォーカスエラー信号が生成される。
トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号は、サーボプロセッサ５２に入力される。サーボプロセッサ５２は、光ピックアップ３６の対物レンズのフォーカスサーボおよびトラッキングサーボ、並びに光ピックアップ３６の送りモータ（図示せず）の送りサーボを制御する各制御信号を生成する。 The photodiode in the optical pickup 36 has a light receiving surface divided into a plurality of surfaces, and a tracking error signal and a focus are detected in the RF amplifier 38 by calculating the sum or difference of the light intensity received by each light receiving surface. An error signal is generated.
The tracking error signal and the focus error signal are input to the servo processor 52. The servo processor 52 generates control signals for controlling the focus servo and tracking servo of the objective lens of the optical pickup 36 and the feed servo of a feed motor (not shown) of the optical pickup 36.

サーボプロセッサ５２で生成された各制御信号は、ドライバ回路５４に入力される。ドライバ回路５４では、各制御信号に基づいて光ピックアップ３６の送りモータ（図示せず）、トラッキングコイル（図示せず）、フォーカスコイル（図示せず）それぞれを動作させる。 Each control signal generated by the servo processor 52 is input to the driver circuit 54. The driver circuit 54 operates a feed motor (not shown), a tracking coil (not shown), and a focus coil (not shown) of the optical pickup 36 based on each control signal.

なお、テストディスクを作成する際に光ディスク３２へ書き込むデータは、テストデータとして、ＲＯＭなどから構成されるテストデータ記憶装置５５に記憶されている。テストデータとしては、任意の音楽や、任意の周波数の正弦波等を用いることが多いが、特にどのようなものであってもよい。 Note that data to be written to the optical disc 32 when creating a test disc is stored as test data in a test data storage device 55 constituted by a ROM or the like. As the test data, arbitrary music, a sine wave having an arbitrary frequency, and the like are often used, but any data may be used.

テストデータ記憶装置５５から読み出したテストデータは、データ書き込み時の信号処理回路５６に入力される。信号処理回路５６は、光ディスク３２に書き込むデータをエンコード、変調する回路である。光ディスク３２がＣＤの場合には、テストデータをＥＦＭ変調するＥＦＭ変調回路６０や、ＥＦＭ変調されたデータをエンコードするエンコード回路５８が設けられている。 The test data read from the test data storage device 55 is input to the signal processing circuit 56 at the time of data writing. The signal processing circuit 56 is a circuit that encodes and modulates data to be written to the optical disc 32. When the optical disk 32 is a CD, an EFM modulation circuit 60 that performs EFM modulation of test data and an encoding circuit 58 that encodes EFM modulated data are provided.

信号処理回路５６で処理されたデータは、レーザドライバ６２に入力される。レーザドライバ６２は、光ピックアップ３６内のレーザダイオードのレーザ光強度をレーザダイオードに流す電流量の調整で制御することができる。 Data processed by the signal processing circuit 56 is input to the laser driver 62. The laser driver 62 can control the laser light intensity of the laser diode in the optical pickup 36 by adjusting the amount of current flowing through the laser diode.

また、レーザドライバ６２には、データを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスク３２へ書き込んだテストデータの書き込み品位が所定の品位となるように予め設定された、複数のパラメータから成るテスト用パラメータセットが記憶されている、パラメータセット記憶装置６４が接続されている。 Further, the laser driver 62 is a test parameter composed of a plurality of parameters that is set in advance so that the write quality of the test data written to the optical disc 32 is a predetermined quality as a write condition for writing data. A parameter set storage device 64 in which the set is stored is connected.

ここで、パラメータとはデータを書き込む際の書き込み条件であって、ストラテジ、デビエーション等のことをいう。これらのパラメータが複数で１セットとなっており１回のデータ書き込みに用いる場合には１つのパラメータセットが用いられる。 Here, the parameter is a writing condition when writing data, and means a strategy, a deviation or the like. A plurality of these parameters form one set, and one parameter set is used when used for one data write.

通常の光ディスク装置では、パラメータセットとして書き込み品位が最良となるようなパラメータセットが光ディスクの種類ごとにそれぞれ予め記憶されている。
しかし、テストディスクは書き込み品位が最良ではなく、ある程度書き込み品位が悪いものであって、どの程度まで書き込み品位が悪くてもデータ読み出し可能かどうかを開発時に検証するために用いられることが多いため、テスト用パラメータセットは、書き込み品位があまり良くないものとなるような値に設定されている。ただし、まったくデータ読み出しができないほどの書き込み品位が悪いものであれば検証もできないので、予め実験を行って所定の書き込み品位となるようなパラメータセットを光ディスクの種類ごとに求めておき、パラメータセット記憶装置６４に記憶させておく。 In an ordinary optical disc apparatus, parameter sets that provide the best writing quality as parameter sets are stored in advance for each type of optical disc.
However, the test disk is not the best writing quality, and the writing quality is bad to some extent, and it is often used to verify whether data can be read even if the writing quality is bad, The test parameter set is set to such a value that the writing quality is not so good. However, since it cannot be verified if the writing quality is so low that data cannot be read at all, a parameter set that achieves a predetermined writing quality is obtained by conducting an experiment in advance and stored in the parameter set memory. It is stored in the device 64.

ここでパラメータセット記憶装置６４内に記憶されているパラメータセットを図２に基づいて説明する。
例えば、Ａ社およびＢ社の光ディスクの書き込み速度が異なる各光ディスクに対し、それぞれに最良のエラーレートとなるパラメータセットのほかに、エラーレートａ、エラーレートｂ、エラーレートｃの３つの異なる書き込み品位となるパラメータセットが記憶されている。最良のパラメータセットが実際のデータを光ディスク３２に書き込む際に用いるものであり、最良のパラメータセット以外のエラーレートａ、エラーレートｂ、エラーレートｃがテストディスクを作成する際のテスト用パラメータセットとなる。
このように、書き込み品位の異なるパラメータセットを予め記憶させておくことにより、どの程度の書き込み品位のテストディスクとするか選択ができる。 Here, the parameter set stored in the parameter set storage device 64 will be described with reference to FIG.
For example, for each optical disc with different writing speeds for the optical discs of Company A and Company B, there are three different writing qualities of error rate a, error rate b, and error rate c in addition to the parameter set that gives the best error rate. The parameter set is stored. The best parameter set is used when writing actual data to the optical disc 32, and the error rate a, error rate b, and error rate c other than the best parameter set are test parameter sets for creating a test disc. Become.
As described above, by storing parameter sets having different writing qualities in advance, it is possible to select the writing quality of the test disk.

レーザドライバ６２は、信号処理回路５６によって処理されたテストデータを、パラメータセット記憶装置６４に記憶されているテスト用パラメータセットに基づいて光ディスク３２に書き込むように動作する。
なお、装着されている光ディスク３２の種類に適応したテスト用パラメータセットを用いる必要があるので、ＣＰＵ４８はパラメータセット記憶装置６４に記憶されている複数のテスト用パラメータセットから、装着されている光ディスク３２の種類に対応したテスト用パラメータセットを選択し、この選択したテスト用パラメータセットに基づいてテストデータを書き込むようにレーザドライバ６２を制御する。 The laser driver 62 operates to write the test data processed by the signal processing circuit 56 to the optical disc 32 based on the test parameter set stored in the parameter set storage device 64.
Since it is necessary to use a test parameter set adapted to the type of the mounted optical disk 32, the CPU 48 selects the mounted optical disk 32 from a plurality of test parameter sets stored in the parameter set storage device 64. The test parameter set corresponding to the type of the test is selected, and the laser driver 62 is controlled to write the test data based on the selected test parameter set.

なお、書き込み品位測定手段４６が測定した結果は、液晶画面その他の表示装置（図示せず）を設け、表示させるようにするとよい。
表示装置には、エラーレートの値等の書き込み品位を直接表示してテストディスクが所定の書き込み品位で作成できたか否かをユーザに判断させるようにしても良いし、書き込み品位測定機能が測定した書き込み品位とパラメータセット記憶装置６４に記憶されている対応する書き込み品位とを比較してテストディスクの作成が成功したか否かを表示装置に表示させてもよい。 The results measured by the writing quality measuring means 46 may be displayed by providing a liquid crystal screen or other display device (not shown).
The display device may directly display the writing quality such as the error rate value so that the user can determine whether or not the test disc has been created with the predetermined writing quality, or the writing quality measurement function measured. The writing quality may be compared with the corresponding writing quality stored in the parameter set storage device 64 to display on the display device whether or not the test disk has been successfully created.

（第２の実施形態）
テストディスク作成システムとしては、図３に示す通常の光ディスク装置７０と、図４に示すように光ディスク装置７０に接続されるホストコンピュータ８０とによって構成することができる。なお、特に上述したテストディスク作成システム３０内の構成と光ディスク装置７０内の構成とで同一の構成について同一の符号を付す場合もある。 (Second Embodiment)
The test disk creation system can be configured by a normal optical disk device 70 shown in FIG. 3 and a host computer 80 connected to the optical disk device 70 as shown in FIG. In particular, the same reference numerals may be attached to the same components in the test disk creation system 30 and the optical disk device 70 described above.

光ディスク装置７０は、光ディスク３２を回転駆動するスピンドルモータ３４と、光ディスク３２へレーザ光を照射するレーザダイオード（図示せず）と光ディスク３２からの反射光を受光するフォトダイオード（図示せず）とを有する光ピックアップ３６とを具備している。フォトダイオードで受光した光強度信号は読み出し用の信号処理回路４４のＲＦアンプ３８に入力され、２値化されたＲＦ信号を得ることができる。 The optical disk device 70 includes a spindle motor 34 that rotates the optical disk 32, a laser diode (not shown) that irradiates the optical disk 32 with laser light, and a photodiode (not shown) that receives reflected light from the optical disk 32. And an optical pickup 36 having the same. The light intensity signal received by the photodiode is input to the RF amplifier 38 of the signal processing circuit 44 for reading, and a binarized RF signal can be obtained.

光ディスク装置７０の動作を制御する制御部としてＣＰＵ７４が設けられている。
ＣＰＵ７４は、ホストコンピュータから送信されてきたコマンドを、通信部７２から得ることによってコマンドを解析し、コマンドに記述された内容を実行するように各構成部材を制御する。
ＣＰＵ７４は、ＲＯＭやＲＡＭ等からなるメモリ７６内に予め記憶されている制御プログラムを読み込むことにより、この制御プログラムにしたがって動作する。 A CPU 74 is provided as a control unit that controls the operation of the optical disk device 70.
The CPU 74 analyzes the command by obtaining the command transmitted from the host computer from the communication unit 72, and controls each constituent member so as to execute the contents described in the command.
The CPU 74 operates in accordance with this control program by reading a control program stored in advance in a memory 76 such as a ROM or a RAM.

また、信号処理回路４４によって得られた再生信号は、書き込み品位測定機能４６を有するＣＰＵ７４に入力される。ＣＰＵ７４は、他の構成要素を制御して、光ディスク装置７０の動作を統括制御する。
また、ＣＰＵ７４の書き込み品位測定機能４６は、入力されてきた再生信号の品位を測定するようにＣＰＵ７４が動作するものであり、ＣＰＵ７４が予めメモリ７６内に記憶されている書き込み品位測定プログラムを読み出して実行することによって実現される。 The reproduction signal obtained by the signal processing circuit 44 is input to a CPU 74 having a write quality measuring function 46. The CPU 74 controls other components to control the operation of the optical disc device 70 in an integrated manner.
The write quality measurement function 46 of the CPU 74 is for the CPU 74 to operate so as to measure the quality of the input reproduction signal. The CPU 74 reads out a write quality measurement program stored in the memory 76 in advance. It is realized by executing.

書き込み品位とは、再生信号の時間的なばらつきをいうジッター、１秒間に行われたエラー訂正の回数をいうエラーレート、または再生信号の振幅値に基づいて得られる、書き込み精度の指標となるものである。
本実施形態では、書き込み品位としてエラーレートのみを参考にしており、エラーの検出はデコード回路４０によって行われ、これをカウントするのはＣＰＵ７４によって行われる。
すなわち、デコード回路４０にＲＦアンプ３８からのＲＦ信号が入力されると、デコード回路４０はＣＩＲＣにおけるＣ１符号の訂正をし、ＣＰＵ７４がデコード回路４０におけるＣ１符合の１秒間当たりの訂正回数をカウントし、エラーレートを算出する。 Write quality is a measure of write accuracy, which is obtained based on jitter, which is the temporal variation of the playback signal, error rate, which is the number of error corrections performed per second, or the amplitude value of the playback signal. It is.
In the present embodiment, only the error rate is referred to as the writing quality, and the error detection is performed by the decoding circuit 40, and the counting is performed by the CPU 74.
That is, when the RF signal from the RF amplifier 38 is input to the decode circuit 40, the decode circuit 40 corrects the C1 code in the CIRC, and the CPU 74 counts the number of corrections per second of the C1 code in the decode circuit 40. Calculate the error rate.

光ピックアップ３６内のフォトダイオードは、その受光面が複数面に分割されており、各受光面で受光した光強度の和や差をとることによってＲＦアンプ３８において、トラッキングエラー信号や、フォーカスエラー信号が生成される。
トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号は、サーボプロセッサ５２に入力される。サーボプロセッサ５２は、光ピックアップ３６の対物レンズのフォーカスサーボおよびトラッキングサーボ、並びに光ピックアップ３６の送りモータ（図示せず）の送りサーボを制御する各制御信号を生成する。 The photodiode in the optical pickup 36 has a light receiving surface divided into a plurality of surfaces, and a tracking error signal or a focus error signal is obtained in the RF amplifier 38 by taking the sum or difference of the light intensity received by each light receiving surface. Is generated.
The tracking error signal and the focus error signal are input to the servo processor 52. The servo processor 52 generates control signals for controlling the focus servo and tracking servo of the objective lens of the optical pickup 36 and the feed servo of a feed motor (not shown) of the optical pickup 36.

サーボプロセッサ５２で生成された各制御信号は、ドライバ回路５４に入力される。ドライバ回路５４では、各制御信号に基づいて光ピックアップ３６の送りモータ、トラッキングコイル、フォーカスコイルを動作させる。 Each control signal generated by the servo processor 52 is input to the driver circuit 54. The driver circuit 54 operates the feed motor, tracking coil, and focus coil of the optical pickup 36 based on each control signal.

光ディスク装置７０は、ホストコンピュータと接続されて通信可能な通信部７２が設けられており、所定の規格によってホストコンピュータとデータの授受を実行する。
信号処理回路４４で得られた再生データは、通信部７２を介してホストコンピュータに送信される。 The optical disc device 70 is provided with a communication unit 72 that can be connected to and communicate with a host computer, and exchanges data with the host computer according to a predetermined standard.
The reproduction data obtained by the signal processing circuit 44 is transmitted to the host computer via the communication unit 72.

なお、光ディスク３２に書き込むべきデータは、通信部７２を介してホストコンピュータから光ディスク装置７０に入力される。通信部７２から送られてきたデータは、データ書き込み時の信号処理回路５６に入力される。信号処理回路５６は、データをＥＦＭ変調するＥＦＭ変調回路６０や、ＥＦＭ変調されたデータをエンコードするエンコード回路５８が設けられている。 Note that data to be written to the optical disk 32 is input from the host computer to the optical disk device 70 via the communication unit 72. Data sent from the communication unit 72 is input to the signal processing circuit 56 at the time of data writing. The signal processing circuit 56 is provided with an EFM modulation circuit 60 that performs EFM modulation of data and an encoding circuit 58 that encodes EFM-modulated data.

レーザドライバ６２には、データを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスク３２へ書き込んだテストデータの書き込み品位が所定の品位となるように予め設定された、複数のパラメータから成るテスト用パラメータセットが記憶されている、パラメータセット記憶装置６４が接続されている。 The laser driver 62 has a test parameter set composed of a plurality of parameters, which is a writing condition for writing data, and is set in advance so that the writing quality of the test data written to the optical disc 32 is a predetermined quality. A stored parameter set storage device 64 is connected.

ここで、パラメータとはデータを書き込む際の書き込み条件であって、ストラテジ、エラーレート等のことをいい、上述した実施形態と同一の内容である。 Here, the parameter is a write condition for writing data, which means a strategy, an error rate, and the like, and has the same contents as those in the above-described embodiment.

通常の光ディスク装置では、パラメータセットとして書き込み品位が最良となるようなパラメータセットが光ディスクの種類ごとにそれぞれ予め記憶されている。
しかし、本実施形態における光ディスク装置７０では、通常のデータを書き込み可能に設けているだけでなく、テストデータを所定の書き込み品位となるように書き込んだテストディスクを作成可能なものであるので、テスト用パラメータセットが記憶されている。 In an ordinary optical disc apparatus, parameter sets that provide the best writing quality as parameter sets are stored in advance for each type of optical disc.
However, in the optical disk device 70 according to the present embodiment, not only normal data can be written but also a test disk in which test data is written to have a predetermined writing quality can be created. A parameter set is stored.

テストディスクは書き込み品位が最良ではなく、ある程度書き込み品位が悪いものであって、どの程度まで書き込み品位が悪くてもデータ読み出し可能かどうかを開発時に検証するために用いられることが多いため、テスト用パラメータセットは、書き込み品位があまり良くないものとなるような値に設定されている。ただし、まったくデータ読み出しができないほどの書き込み品位が悪いものであれば検証もできないので、予め実験を行って所定の書き込み品位となるようなパラメータセットを光ディスクの種類ごとに求めておき、パラメータセット記憶装置６４に記憶させておく。
パラメータセット記憶装置６４内に記憶されている具体的なパラメータセットについては図２に示したものと同様であり、ここでは説明を省略する。 Test discs are not the best writing quality, they have a poor writing quality to some extent, and are often used to verify whether or not data writing is possible even if the writing quality is bad. The parameter set is set to such a value that the writing quality is not so good. However, since it cannot be verified if the writing quality is so low that data cannot be read at all, a parameter set that achieves a predetermined writing quality is obtained by conducting an experiment in advance and stored in the parameter set memory. It is stored in the device 64.
The specific parameter set stored in the parameter set storage device 64 is the same as that shown in FIG. 2, and the description thereof is omitted here.

本実施形態では、テストディスクを作成する際に光ディスク３２に書き込むデータであるテストデータはホストコンピュータ側で保持しており、ホストコンピュータから通信部７２へ転送されてくる。
通信部７２で受信したテストデータは、書き込み用の信号処理回路５６に入力される。信号処理回路５６では、テストデータを光ディスク３２に書き込み可能なようにデータ処理する。 In the present embodiment, test data, which is data to be written on the optical disc 32 when creating a test disc, is held on the host computer side and transferred from the host computer to the communication unit 72.
The test data received by the communication unit 72 is input to the signal processing circuit 56 for writing. The signal processing circuit 56 processes the test data so that it can be written to the optical disc 32.

次にホストコンピュータについて説明する。
ホストコンピュータ８０は、ＨＤＤから構成される記憶装置８５、ＣＰＵ８２、ＲＯＭやＲＡＭ等の半導体メモリ装置８４、モニタ８６、マウスやキーボードからなる入力装置８８を具備している。また、ホストコンピュータ８０には、光ディスク装置７０と通信可能に接続するための通信部９０が設けられている。
光ディスク装置７０は、ホストコンピュータ８０に内蔵されてもよいし、ホストコンピュータ８０に対して外付けされていてもよい。 Next, the host computer will be described.
The host computer 80 includes a storage device 85 constituted by an HDD, a CPU 82, a semiconductor memory device 84 such as a ROM and a RAM, a monitor 86, and an input device 88 constituted by a mouse and a keyboard. In addition, the host computer 80 is provided with a communication unit 90 for connecting to the optical disc device 70 so as to be communicable.
The optical disk device 70 may be built in the host computer 80 or may be externally attached to the host computer 80.

記憶装置８５には、ＣＰＵ８２に読み込まれてＣＰＵ８２にホストコンピュータ８０の動作全体を実行させるＯＳや、その他ユーザが実行するアプリケーションソフトが記憶されている。 The storage device 85 stores an OS that is read by the CPU 82 and causes the CPU 82 to execute the entire operation of the host computer 80 and other application software executed by the user.

さらに、記憶装置８５には、アプリケーションソフトとして、テストディスクを作成する際に実行するテストディスク作成ソフト９２が記憶されている。テストディスク作成ソフト９２は、ユーザの操作によって、ユーザにテスト用パラメータセットを複数のテスト用パラメータセットから選択させる機能と、選択させたテスト用パラメータに基づいて所定の書き込み品位となるようにテストデータを光ディスク３２に書き込ませるように光ディスク装置７０を制御する機能と、光ディスク装置７０で測定されたテストディスクの書き込み品位を表示させる機能とを有している。 Further, the storage device 85 stores test disk creation software 92 to be executed when creating a test disk as application software. The test disc creation software 92 has a function that allows a user to select a test parameter set from a plurality of test parameter sets by a user operation, and test data so that a predetermined writing quality is obtained based on the selected test parameters. Has a function of controlling the optical disc device 70 so that the optical disc 32 is written on the optical disc 32, and a function of displaying the writing quality of the test disc measured by the optical disc device 70.

記憶装置８５には、テストディスクを作成させる際に光ディスク３２へ書き込むデータであるテストデータ９５が記憶されている。テストデータ９５としては、任意の音楽や、任意の周波数の正弦波等を用いることが多いが、特にどのようなものであってもよい。 The storage device 85 stores test data 95 that is data to be written to the optical disc 32 when the test disc is created. As the test data 95, arbitrary music, a sine wave having an arbitrary frequency, or the like is often used, but any data may be used.

テストディスク作成ソフト９２の動作に基づく、テストディスクの作成工程について図５に基づいて説明する。
テストディスク作成ソフト９２は、記憶装置８５からＣＰＵ８２に読み出されて実行されると、光ディスク装置７０へテスト用パラメータセットを読み出して送信するように指示するコマンドを出力する（ステップＳ１００）。
このコマンドを受信した光ディスク装置７０のＣＰＵ７４は、パラメータセット記憶装置６４から複数のテスト用パラメータセットを読み出してホストコンピュータ８０へ送信する（ステップＳ２００）。 A test disk creation process based on the operation of the test disk creation software 92 will be described with reference to FIG.
When the test disk creation software 92 is read from the storage device 85 to the CPU 82 and executed, it outputs a command for instructing the optical disk device 70 to read and transmit the test parameter set (step S100).
The CPU 74 of the optical disk device 70 that has received this command reads a plurality of test parameter sets from the parameter set storage device 64 and transmits them to the host computer 80 (step S200).

光ディスク装置７０からテスト用パラメータセットを受信したホストコンピュータのＣＰＵ８２は、モニタ８６に複数のテスト用パラメータセットを表示させる（ステップＳ１０２）。
モニタ８６に表示された複数のテスト用パラメータセットを見て、ユーザはいずれのテスト用パラメータセットを用いるかを選択する。選択は、ユーザが入力装置８８を操作することにより、選択したテスト用パラメータセットをＣＰＵ８２に認識させる。 The CPU 82 of the host computer that has received the test parameter set from the optical disc apparatus 70 causes the monitor 86 to display a plurality of test parameter sets (step S102).
By looking at the plurality of test parameter sets displayed on the monitor 86, the user selects which test parameter set to use. In the selection, the user operates the input device 88 to cause the CPU 82 to recognize the selected test parameter set.

ユーザによってテスト用パラメータセットが選択されると、ＣＰＵ８２は、テストデータを記憶装置８５から読み出し、光ディスク装置７０へ送信するとともに、ユーザが選択したテスト用パラメータセットで光ディスク３２へテストデータを書き込むように指示するコマンドを送信する（ステップＳ１０４）。 When the test parameter set is selected by the user, the CPU 82 reads the test data from the storage device 85, transmits it to the optical disc device 70, and writes the test data to the optical disc 32 with the test parameter set selected by the user. An instructing command is transmitted (step S104).

光ディスク装置７０では、ホストコンピュータ８０から受信したコマンドに基づいてＣＰＵ７４がテストディスクの作成を開始する（ステップＳ２０２）。
テストディスクの作成は、通信部７２が受信したテストデータを信号処理回路５６がエンコードや変調等のデータ処理し、レーザドライバ６２が、ユーザが選択したテスト用パラメータセットを用いてデータ処理されたテストデータを書き込むように光ピックアップ３６内のレーザダイオードを制御することにより行う。 In the optical disk device 70, the CPU 74 starts creating a test disk based on the command received from the host computer 80 (step S202).
The test disk is created by the test data received by the communication unit 72 being processed by the signal processing circuit 56 such as encoding and modulation, and the laser driver 62 performing data processing using the test parameter set selected by the user. This is done by controlling the laser diode in the optical pickup 36 so as to write data.

テストデータの書き込みが終了すると、光ディスク装置７０からホストコンピュータ８０へ書き込み終了コマンドが送信される（ステップＳ２０４）。
書き込み終了コマンドを受けたホストコンピュータ８０のＣＰＵ８２は、光ディスク装置７０へ、書き込み品位測定機能に基づいて、作成したテストディスクからテストデータを読み出し、テストデータの書き込み品位を測定するように指示するコマンドを出力する（ステップＳ１０８）。 When the writing of the test data is completed, a write end command is transmitted from the optical disc device 70 to the host computer 80 (step S204).
Upon receiving the write end command, the CPU 82 of the host computer 80 sends a command to the optical disk device 70 to read the test data from the created test disk based on the write quality measurement function and to measure the write quality of the test data. Output (step S108).

光ディスク装置７０では、書き込み品位を測定するように指示されたコマンドを受信すると、ＣＰＵ７４が、書き込み品位測定プログラムを起動してこのプログラムに基づいて、作成されたテストディスクから書き込んだデータを読み出し、エラーレートを測定する（ステップＳ２０６）。
書き込み品位の測定が終了すると、光ディスク装置７０のＣＰＵ７４は測定結果をホストコンピュータ８０へ送信する（ステップＳ２０８）。 In the optical disk device 70, when a command instructed to measure the writing quality is received, the CPU 74 activates the writing quality measurement program, reads the written data from the created test disk based on this program, and generates an error. The rate is measured (step S206).
When the measurement of the writing quality is completed, the CPU 74 of the optical disc apparatus 70 transmits the measurement result to the host computer 80 (step S208).

測定結果を受信したホストコンピュータ８０のＣＰＵ８２は、光ディスク装置７０から受信した書き込み品位の結果をモニタ８６に表示させる（ステップＳ１０８）。
表示の例としては、エラーレートの値等の書き込み品位を直接表示してテストディスクが所定の書き込み品位で作成できたか否かをユーザに判断させるようにしても良いし、書き込み品位測定機能が測定した書き込み品位とパラメータセット記憶装置６４に記憶されている対応する書き込み品位とを比較してテストディスクの作成が成功したか否かのみをモニタ８６に表示させてもよい。 The CPU 82 of the host computer 80 that has received the measurement result causes the monitor 86 to display the write quality result received from the optical disk device 70 (step S108).
As an example of display, the writing quality such as the error rate value may be directly displayed to allow the user to determine whether or not the test disc has been created with the predetermined writing quality, or the writing quality measurement function can measure The written quality and the corresponding written quality stored in the parameter set storage device 64 may be compared to display on the monitor 86 only whether or not the test disk has been successfully created.

モニタ８６を見たユーザは、書き込み品位の結果が最初に想定していた品位であるか、またはテストディスクの作成が成功している旨の表示がされている場合には、テストディスク作成ソフトを終了し、テストディスクの作成を終了させる。
なお、書き込み品位の結果が最初に想定していた品位でない場合、またはテストディスクの作成が不成功である旨が表示されている場合には、ユーザは再度別のテスト用パラメータセットを用いてテストディスクを作成するように試みるとよい。 If the user who has seen the monitor 86 shows that the result of the writing quality is the quality originally assumed, or that the creation of the test disc is successful, the test disc creation software is displayed. Finish and finish creating the test disc.
If the result of the writing quality is not the quality originally assumed, or if it is displayed that the creation of the test disc is unsuccessful, the user can test again using another test parameter set. Try to create a disc.

なお、上述した実施形態では、書き込み品位測定機能は光ディスク装置７０に設けられていたが、ホストコンピュータ８０に設けるようにしてもよい。 In the above-described embodiment, the write quality measurement function is provided in the optical disc apparatus 70, but may be provided in the host computer 80.

以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。 Although the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, the present invention is not limited to these embodiments, and it goes without saying that many modifications can be made without departing from the spirit of the invention. .

本発明のテストディスク作成システムの内部構成を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the internal structure of the test disk creation system of this invention. パラメータセット記憶装置内のデータデーブルを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the data table in a parameter set memory | storage device. 本発明のテストディスク作成システムを構成する光ディスク装置の内部構成を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the internal structure of the optical disk apparatus which comprises the test disk production system of this invention. 図３の光ディスク装置に接続されて光ディスク装置とともにテストディスク作成システムを構成するホストコンピュータの内部構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing an internal configuration of a host computer that is connected to the optical disc apparatus of FIG. 3 and constitutes a test disc creation system together with the optical disc apparatus. ホストコンピュータ内のテストディスク作成ソフトの動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining operation | movement of the test disk creation software in a host computer.

Explanation of symbols

３０テストディスク作成システム
３２光ディスク
３４スピンドルモータ
３６光ピックアップ
３８ＲＦアンプ
４０デコード回路
４２復調回路
４４信号処理回路
４６書き込み品位測定機能
５０メモリ
５２サーボプロセッサ
５４ドライバ回路
５５テストデータ記憶装置
５６信号処理回路
５８エンコード回路
６０変調回路
６２レーザドライバ
６４パラメータセット記憶装置
７０光ディスク装置
７２通信部
７６メモリ
８０ホストコンピュータ
８４半導体メモリ装置
８５記憶装置
８６モニタ
８８入力装置
９０通信部
９２テストディスク作成ソフト
９５テストデータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 Test disk creation system 32 Optical disk 34 Spindle motor 36 Optical pick-up 38 RF amplifier 40 Decoding circuit 42 Demodulation circuit 44 Signal processing circuit 46 Write quality measurement function 50 Memory 52 Servo processor 54 Driver circuit 55 Test data storage device 56 Signal processing circuit 58 Encoding Circuit 60 Modulation circuit 62 Laser driver 64 Parameter set storage device 70 Optical disk device 72 Communication unit 76 Memory 80 Host computer 84 Semiconductor memory device 85 Storage device 86 Monitor 88 Input device 90 Communication unit 92 Test disk creation software 95 Test data

Claims

In a test disc creation system that creates a test disc by writing test data on an optical disc,
Test data storage means for storing test data to be written to the test disk;
Test for storing a test parameter set made up of a plurality of parameters, which is a write condition for writing data to the test disk, and is set in advance so that the write quality of the test data written to the test disk becomes a predetermined quality Parameter set storage means,
Write quality measurement means for reading the test data written from a test disk created by writing the test data using the test parameter set and measuring the write quality of the written test data. Test disk creation system.

From an optical pickup that irradiates an optical disk with laser light and receives reflected light from the optical disk, a spindle motor that rotates the optical disk, a signal processing circuit for reading out the reflected light received by the optical pickup, and an optical pickup An optical disc apparatus provided with a signal processing circuit for writing to process data to be written, a driver circuit for controlling the operation of the optical pickup and the spindle motor, and a control means for controlling the respective components;
A host computer that outputs a command for operating the optical disk device to the optical disk device;
The optical disc apparatus includes the test parameter set storage unit and the writing quality measurement unit,
2. The test disk creation system according to claim 1, wherein the test data storage means is provided in the host computer.

The test parameter set storage means in the optical disc apparatus stores a plurality of test parameter sets in which writing conditions are changed for each type of optical disc to be a test disc,
The host computer
A plurality of test parameter sets are read from the test parameter set storage means in the optical disc apparatus, and the operator is allowed to select which test parameter set to use from among the plurality of test parameter sets. 3. The test disc creation system according to claim 2, wherein a command for controlling the optical disc apparatus is outputted so as to create a test disc using the test parameter set selected by the step.