JP2007206943A - Electromagnetic field circuit coupled analysis program, recording medium, analysis method, and analyzer - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve a problematic point that electromagnetic field circuit coupled analysis of an FDTD (finite difference time domain) method and circuit analysis requires interruption of computation in the FDTD method for waiting until a voltage value of a cell is delivered from the circuit analysis, thus resulting in increased analysis time compared with analysis only by performing the FDTD method. <P>SOLUTION: A magnetic field value of a circuit cell, prior to another cell, is computed (S5102) which is necessary for computation of a current value to be delivered to the circuit analysis from the FDTD method, and the current value is delivered to the circuit analysis (S5106). Then, magnetic field computation (S5108) and field computation (S5112) are performed for another cell. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、時間領域有限差分法による電磁界解析法と過渡電気回路解析による回路解析法を結合した連携解析をコンピュータに実行させるための電磁界回路連携解析プログラム、電磁界回路連携解析プログラムを格納した記録媒体、連携解析の解析方法および解析装置に関する。   The present invention stores an electromagnetic field circuit linkage analysis program and an electromagnetic field circuit linkage analysis program for causing a computer to execute a linkage analysis combining an electromagnetic field analysis method based on a time domain finite difference method and a circuit analysis method based on a transient electrical circuit analysis. The present invention relates to a recording medium, an analysis method and an analysis apparatus for cooperative analysis.

電磁界回路連携解析では、電磁界解析で定義される電界や磁界と回路解析で定義される電圧や電流を関連付けながら解析を行なう。電磁界解析と回路解析とを融合した数値シミュレーションは、回路素子の特性とその周囲の電磁界現象を統一的に解析できるといった特徴を持っており、回路中を伝搬する高周波信号の解析に非常に有用であることが一般に知られている。   In electromagnetic field circuit linkage analysis, analysis is performed while associating an electric field or magnetic field defined in electromagnetic field analysis with a voltage or current defined in circuit analysis. Numerical simulation that combines electromagnetic field analysis and circuit analysis has the characteristic that the characteristics of circuit elements and surrounding electromagnetic field phenomena can be analyzed in a unified manner, which is very useful for analyzing high-frequency signals propagating in a circuit. It is generally known to be useful.

上述したような電磁界解析の1つの手法である時間領域有限差分法(以下、FDTD(Finite Difference Time Domain)法と呼ぶ)は、解析領域を格子で分割し、格子点に未知電磁界を配置するものである。FDTD法では、未知電界を配置する格子と未知磁界を配置する格子とを、格子の半分の幅だけずらすYee格子という構造により解析が行なわれる。FDTD法は、これらの未知電界および磁界と、隣接する未知磁界および電界との間に働く関係式をマクスウェルの電磁界方程式を差分化することによって導き、それを基に未知電界および磁界をあるタイムステップを単位に更新していくことで全体の電磁界挙動を求める解析手法である。この解析手法に従えば、あるタイムステップで電界を更新し、1/2タイムステップ後に磁界を更新し、1タイムステップ後に電界を更新するというようにして、電界および磁界を交互に求めることができる。   The time domain finite difference method (hereinafter referred to as FDTD (Finite Difference Time Domain) method), which is one of the methods of electromagnetic field analysis as described above, divides the analysis region into grids and places unknown electromagnetic fields at grid points. To do. In the FDTD method, analysis is performed using a structure called a Yee lattice in which a lattice in which an unknown electric field is arranged and a lattice in which an unknown magnetic field is arranged are shifted by half the width of the lattice. The FDTD method derives a relational expression that works between these unknown electric field and magnetic field and the adjacent unknown magnetic field and electric field by differentiating Maxwell's electromagnetic field equation, and based on that, the unknown electric field and magnetic field are converted to a certain time. This is an analysis method for obtaining the entire electromagnetic field behavior by updating the steps in units. According to this analysis method, the electric field and the magnetic field can be obtained alternately by updating the electric field at a certain time step, updating the magnetic field after ½ time step, and updating the electric field after one time step. .

また、現在、過渡電気回路解析用のツールとして、カリフォルニア大学バークレイ校により開発された、SPICE(Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis)シミュレータが知られている。そのツールは、非常に複雑な電子装置におけるプロセスをシミュレートする効率的な手法を提供する。   Currently, a SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) simulator developed by the University of California, Berkeley is known as a transient electrical circuit analysis tool. The tool provides an efficient way to simulate processes in very complex electronic devices.

非特許文献1には、集積回路等の回路をシミュレーションする方法として、FDTD法とSPICE等の回路シミュレータを組み合わせた方法が提案されている。この従来のFDTD法と回路シミュレータ(この場合はSPICE)とを結合する電磁界回路連携解析では、FDTDのセル内に回路素子が組み込まれ、セルの1辺に対応する端子間に電流源とキャパシタを配置することでによってFDTD法と回路解析を結合する手法(電流源法)が用いられている。また、非特許文献2では、電圧源を用いる電圧源法が示されている。   Non-Patent Document 1 proposes a method combining a FDTD method and a circuit simulator such as SPICE as a method of simulating a circuit such as an integrated circuit. In the electromagnetic field circuit linkage analysis combining the conventional FDTD method and a circuit simulator (in this case, SPICE), a circuit element is incorporated in a cell of the FDTD, and a current source and a capacitor are connected between terminals corresponding to one side of the cell. A method (current source method) is used in which the FDTD method and the circuit analysis are combined by arranging the FDTD method. Non-Patent Document 2 discloses a voltage source method using a voltage source.

特許文献1には、電磁界回路連携解析において、電磁界解析の磁界の計算における時刻と電界の計算における時刻とのずれを考慮することで安定した解を求める方法が示されている。   Patent Document 1 discloses a method for obtaining a stable solution by taking into account the difference between the time in the calculation of the magnetic field in the electromagnetic field analysis and the time in the calculation of the electric field in the electromagnetic field circuit linkage analysis.

図7は、従来方法の電磁界回路連携解析の概略的な処理の流れを示すフローチャートである。   FIG. 7 is a flowchart showing a schematic processing flow of electromagnetic field circuit linkage analysis of the conventional method.

図7を参照して、従来方法における処理の流れについて説明する。まず、FDTD法で解析時刻tにおける全セルの磁界値を計算する(ステップS7102)。ステップS7102の結果に基づいて回路素子が組み込まれたセル(以下、回路セルと呼ぶ)の電流値を計算し(ステップS7104)、回路解析に引き渡す(ステップS7106)。回路解析では、電流値を受信し(ステップS7202)、解析時刻tにおける回路セルの電圧値を求める(ステップS7204)。求めた電圧値をFDTD法に引き渡し(ステップS7206)、解析時刻をΔt進める(Δtは、タイムステップを示す)。この間、FDTD法では、解析時刻t+1/2Δtにおける回路セル以外の領域の電界値を求めている(ステップS7108)。そして、回路セルの電圧値として、回路解析から引き渡された電圧値を当てはめる(ステップS7110)。ステップS7110に基づき回路セルの電界値を算出し(ステップS7112)、解析時刻を1/2Δt進める。以上の処理を所定の条件(たとえば、解析時刻が予め決められた解析時刻を超えているか、など)が満たされるまで繰り返す(ステップS7114、およびS7208)。
特開平11−153634号公報明細書 A. Thomas, et al.: The use of SPICE lumped circuits as sub-grid models for FDTD analysis, IEEE Microwave Guided Wave Letters, vol. 4, pp. 141-143 (1994)。 C. Kuo, B. Houshmand, and T. Itoh: Full-wave analysis of packaged microwave circuits with active and nonlinear devices: An FDTD approach, IEEE Transactions on Microwave Theory Techniques, vol. 45, pp. 819-826 (1997)。
With reference to FIG. 7, the flow of processing in the conventional method will be described. First, the magnetic field values of all cells at the analysis time t are calculated by the FDTD method (step S7102). Based on the result of step S7102, the current value of the cell in which the circuit element is incorporated (hereinafter referred to as a circuit cell) is calculated (step S7104) and transferred to the circuit analysis (step S7106). In the circuit analysis, the current value is received (step S7202), and the voltage value of the circuit cell at the analysis time t is obtained (step S7204). The obtained voltage value is transferred to the FDTD method (step S7206), and the analysis time is advanced by Δt (Δt indicates a time step). In the meantime, in the FDTD method, the electric field value in the region other than the circuit cell at the analysis time t + 1 / 2Δt is obtained (step S7108). Then, the voltage value delivered from the circuit analysis is applied as the voltage value of the circuit cell (step S7110). The electric field value of the circuit cell is calculated based on step S7110 (step S7112), and the analysis time is advanced by 1 / 2Δt. The above processing is repeated until a predetermined condition (for example, whether the analysis time exceeds a predetermined analysis time) is satisfied (steps S7114 and S7208).
Japanese Patent Laid-Open No. 11-153634 A. Thomas, et al .: The use of SPICE lumped circuits as sub-grid models for FDTD analysis, IEEE Microwave Guided Wave Letters, vol. 4, pp. 141-143 (1994). C. Kuo, B. Houshmand, and T. Itoh: Full-wave analysis of packaged microwave circuits with active and nonlinear devices: An FDTD approach, IEEE Transactions on Microwave Theory Techniques, vol. 45, pp. 819-826 (1997) .

しかしながら、FDTD法と回路解析による電磁界回路連携解析では、回路解析からセルの電圧値が引き渡されるまで、FDTD法における計算を中断して待つ必要がある。このため、FDTD法のみを実行して解析した場合よりも、解析時間が増加してしまうという問題点があった。   However, in the electromagnetic field circuit linkage analysis by the FDTD method and the circuit analysis, it is necessary to interrupt the calculation in the FDTD method and wait until the cell voltage value is delivered from the circuit analysis. For this reason, there has been a problem that the analysis time increases as compared with the case where the analysis is performed by executing only the FDTD method.

本発明は、上述のような問題を解決するためになされたものであって、その目的は、FDTD法から回路解析に渡す電流値を計算するのに必要な回路セルの磁界値を他のセルに先駆けて計算し、回路解析に電流値を渡した後に、他のセルの磁界計算、および電界計算を行なう電磁界回路連携解析プログラム、記録媒体、連携解析装置、および連携解析方法を提供することである。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to calculate the magnetic field value of a circuit cell necessary for calculating a current value passed from the FDTD method to circuit analysis to another cell. To provide electromagnetic field circuit linkage analysis program, recording medium, linkage analysis device, and linkage analysis method for performing magnetic field calculation and electric field calculation of other cells after calculating current and passing current value to circuit analysis It is.

本発明の1つの局面に従うと、演算処理部を有するコンピュータに電磁界回路連携解析を実行させるためのプログラムであって、演算処理部が、複数のセルに分割された解析対象となる領域において、複数のセルのうち、回路素子が挿入された回路セルの電界または磁界の一方について第1の電磁界解析を行なうステップと、演算処理部が、回路セルが含む回路素子のネットリストによって表記された回路に対して、第1の電磁界解析を行なうステップにより与えられた電界または磁界の一方に基づき、電圧源または電流源の一方を設定し、回路解析を行なうステップと、演算処理部が、複数のセルのうち、回路セル以外のセルの電界および磁界について第2の電磁界解析を行なう処理を、回路解析を行なう処理と少なくとも一部について並列的に実行するステップと、演算処理部が、回路解析を行なうステップの結果に基づき、回路セルの電界または磁界の他方を算出する第3の電磁界解析を行なうステップと、演算処理部が、第1の電磁界解析を行なうステップと、回路解析を行なうステップと、並列的に実行するステップと、第3の電磁界解析を行なうステップとを、所定の条件が満たされるまで繰りかえすステップとを備える。   According to one aspect of the present invention, there is provided a program for causing a computer having an arithmetic processing unit to execute electromagnetic field circuit linkage analysis, wherein the arithmetic processing unit is an analysis target divided into a plurality of cells. The step of performing a first electromagnetic field analysis on one of the electric field or magnetic field of the circuit cell in which the circuit element is inserted among the plurality of cells, and the arithmetic processing unit are expressed by a netlist of the circuit element included in the circuit cell A step of setting one of a voltage source or a current source based on one of the electric field or the magnetic field applied by the step of performing the first electromagnetic field analysis on the circuit, and performing a circuit analysis, Of these cells, the second electromagnetic field analysis process for the electric field and magnetic field of cells other than the circuit cell is at least partially in parallel with the circuit analysis process. A step of performing the second electromagnetic field analysis, a step of performing a third electromagnetic field analysis for calculating the other of the electric field or the magnetic field of the circuit cell based on the result of the step of performing the circuit analysis by the arithmetic processing unit, The step of performing one electromagnetic field analysis, the step of performing a circuit analysis, the step of executing in parallel, and the step of performing a third electromagnetic field analysis are repeated until a predetermined condition is satisfied.

好ましくは、第1の電磁界解析を行なうステップにおいて、演算処理部は、回路セルの電界について電磁界解析を行ない、回路解析を行なうステップにおいて、演算処理部は、回路に対して、第1の電磁界解析を行なうステップにより与えられた電界に基づき、電圧源を設定し回路解析を行ない、第3の電磁界解析を行なうステップにおいて、演算処理部は、回路解析を行なうステップの結果に基づき、回路セルの磁界を算出する。   Preferably, in the step of performing the first electromagnetic field analysis, the arithmetic processing unit performs an electromagnetic field analysis on the electric field of the circuit cell, and in the step of performing the circuit analysis, the arithmetic processing unit performs the first operation on the circuit. Based on the electric field applied by the step of performing electromagnetic field analysis, a voltage source is set and circuit analysis is performed, and in the step of performing third electromagnetic field analysis, the arithmetic processing unit is based on the result of the step of performing circuit analysis, Calculate the magnetic field of the circuit cell.

好ましくは、第1の電磁界解析を行なうステップにおいて、演算処理部は、回路セルの磁界について電磁界解析を行ない、回路解析を行なうステップにおいて、演算処理部は、回路に対して、第1の電磁界解析を行なうステップにより与えられた磁界に基づき、電流源を設定し回路解析を行ない、第3の電磁界解析を行なうステップにおいて、演算処理部は、回路解析を行なうステップの結果に基づき、回路セルの電界を算出する。   Preferably, in the step of performing the first electromagnetic field analysis, the arithmetic processing unit performs an electromagnetic field analysis on the magnetic field of the circuit cell, and in the step of performing the circuit analysis, the arithmetic processing unit performs the first operation on the circuit. Based on the magnetic field given by the electromagnetic field analysis step, the current source is set and the circuit analysis is performed. In the third electromagnetic field analysis step, the arithmetic processing unit is based on the result of the circuit analysis step. The electric field of the circuit cell is calculated.

好ましくは、コンピュータはさらに記憶部を有し、タイムステップΔtが予め決められているときに、第1の電磁界解析を行なうステップは、演算処理部が、時刻tにおける回路セルの近傍の磁界を求めるステップと、演算処理部が、求めた磁界に基づき回路セルの近傍の電流を算出するステップとを含み、並列的に実行するステップは、演算処理部が、時刻tにおける回路セル以外のセルの磁界を求めるステップと、時刻tをt+1/2Δtに更新するステップと、演算処理部が、時刻tにおける回路セル以外のセルの電界を求めるステップとを含み、第3の電磁界解析を行なうステップは、演算処理部が、回路解析を行なうステップの結果に基づき、回路セルの電界を算出するステップと、演算処理部が、領域の電界および磁界を記憶部に格納するステップと、時刻tをt+1/2Δtにさらに更新するステップとを含む。   Preferably, the computer further includes a storage unit, and when the time step Δt is determined in advance, the step of performing the first electromagnetic field analysis includes the step of the arithmetic processing unit generating a magnetic field in the vicinity of the circuit cell at time t. A step of calculating and a step in which the arithmetic processing unit calculates a current in the vicinity of the circuit cell based on the determined magnetic field, and the step of executing in parallel includes the step of the arithmetic processing unit in the cells other than the circuit cell at time t A step of performing a third electromagnetic field analysis, including a step of obtaining a magnetic field, a step of updating time t to t + 1 / 2Δt, and a step of obtaining an electric field of a cell other than the circuit cell at time t by the arithmetic processing unit. The arithmetic processing unit calculates the electric field of the circuit cell based on the result of the circuit analysis step, and the arithmetic processing unit stores the electric field and magnetic field of the region in the storage unit. Storing, and further updating the time t to t + 1 / 2Δt.

好ましくは、回路解析を行なうステップは、演算処理部が、第1の電磁界解析を行なうステップで求められた電流に基づき、ネットリストに対して電流源を設定し、回路素子の2端子間における電圧を求めるステップと、演算処理部が、2端子間における電圧を記憶部に格納するステップと、時刻tをt+Δtに更新するステップとを含む。   Preferably, in the step of performing the circuit analysis, the arithmetic processing unit sets a current source for the netlist based on the current obtained in the step of performing the first electromagnetic field analysis, and between the two terminals of the circuit element. The step of obtaining the voltage, the operation processing unit storing the voltage between the two terminals in the storage unit, and the step of updating the time t to t + Δt.

本発明の他の局面に従うと、上記電磁界回路連携解析プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する。   When the other situation of this invention is followed, the computer-readable recording medium which stored the said electromagnetic field circuit cooperation analysis program is provided.

本発明のさらに他の局面に従うと、電磁界解析と回路解析との連携解析を行なう電磁界回路連携解析装置であって、回路解析を行なう回路解析部を備え、回路解析部は、複数のセルに分割された解析対象となる領域において、複数のセルのうち、回路素子の挿入された回路セルが含む回路素子のネットリストによって表記された回路に対して、電磁界解析により与えられた電界または磁界の一方に基づき、電圧源または電流源の一方を設定し、回路解析を行なう手段を含み、電磁界解析を行なう電磁界解析部をさらに備え、電磁界解析部は、回路セルの電界または磁界の一方について第1の電磁界解析を行ない、第1の電磁界解析の結果を回路解析部に与える第1の手段と、回路セル以外のセルの電界および磁界について第2の電磁界解析を行なう処理を、回路解析を行なう処理と少なくとも一部について並列的に実行する手段と、回路解析部の結果に基づき、回路セルの電界または磁界の他方を算出する第3の電磁界解析を行なう手段とを含み、回路解析を行なう手段と、第1の手段と、並列的に実行する手段と、第3の電磁界解析を行なう手段とを、所定の条件が満たされるまで繰りかえす解析制御部とを含む。   According to still another aspect of the present invention, there is provided an electromagnetic field circuit cooperation analysis device for performing a cooperation analysis between an electromagnetic field analysis and a circuit analysis, comprising a circuit analysis unit for performing a circuit analysis, wherein the circuit analysis unit includes a plurality of cells. In the region to be analyzed divided into two, the electric field applied by the electromagnetic field analysis or the circuit represented by the netlist of the circuit element included in the circuit cell in which the circuit element is inserted among the plurality of cells. Based on one of the magnetic fields, one of a voltage source and a current source is set, and a circuit analysis unit is included, and an electromagnetic field analysis unit that performs electromagnetic field analysis is further provided. The first electromagnetic field analysis is performed for one of the first, the first means for giving the result of the first electromagnetic field analysis to the circuit analysis unit, and the second electromagnetic field analysis for the electric field and magnetic field of cells other than the circuit cell. And a third electromagnetic field analysis for calculating the other of the electric field or the magnetic field of the circuit cell based on the result of the circuit analysis unit and the means for executing the process in parallel with the process of performing the circuit analysis and at least a part thereof. And an analysis control unit that repeats the means for performing circuit analysis, the first means, the means for executing in parallel, and the means for performing the third electromagnetic field analysis until a predetermined condition is satisfied, including.

本発明のさらに他の局面に従うと、複数のセルに分割された解析対象となる領域において、複数のセルのうち、回路素子が挿入された回路セルの電界または磁界の一方について第1の電磁界解析を行なうステップと、回路セルが含む回路素子のネットリストによって表記された回路に対して、第1の電磁界解析を行なうステップにより与えられた電界または磁界の一方に基づき、電圧源または電流源の一方を設定し、回路解析を行なうステップと、複数のセルのうち、回路セル以外のセルの電界および磁界について第2の電磁界解析を行なう処理を、回路解析を行なう処理と少なくとも一部について並列的に実行するステップと、回路解析を行なうステップの結果に基づき、回路セルの電界または磁界の他方を算出する第3の電磁界解析を行なうステップと、第1の電磁界解析を行なうステップと、回路解析を行なうステップと、並列的に実行するステップと、第3の電磁界解析を行なうステップとを、所定の条件が満たされるまで繰りかえすステップとを備える、電磁界回路連携解析方法を提供する。   According to still another aspect of the present invention, in a region to be analyzed divided into a plurality of cells, a first electromagnetic field is applied to one of an electric field or a magnetic field of a circuit cell in which a circuit element is inserted among the plurality of cells. A voltage source or a current source based on one of the electric field or the magnetic field applied by the step of performing the analysis and the circuit represented by the net list of the circuit elements included in the circuit cell. A step of performing circuit analysis, a process of performing a second electromagnetic field analysis on the electric field and magnetic field of a cell other than the circuit cell among a plurality of cells, and a process of performing circuit analysis and at least a part thereof Based on the results of the parallel execution step and the circuit analysis step, a third electromagnetic field analysis is performed to calculate the other of the electric field or magnetic field of the circuit cell. Repeating the step of performing the first electromagnetic field analysis, the step of performing the circuit analysis, the step of executing in parallel, and the step of performing the third electromagnetic field analysis until a predetermined condition is satisfied. An electromagnetic field circuit link analysis method comprising steps.

本発明によれば、FDTD法で回路解析に電流値を渡すために必要な回路セルの磁界値を他のセルに先駆けて計算する。そして、回路解析に電流値を渡した後に、他のセルの磁界計算、および電界計算を行なうため、これらの計算と回路解析の電圧計算とを並列的に実行することができる。したがって、従来方法では電界計算の間だけだったオーバーラップの時間に、回路セル以外の磁界計算の時間も含めることができるため、回路解析の実行による解析時間の増大を防ぐことができる。   According to the present invention, the magnetic field value of a circuit cell necessary for passing a current value to circuit analysis by the FDTD method is calculated ahead of other cells. Then, after passing the current value to the circuit analysis, the magnetic field calculation and electric field calculation of other cells are performed, so that these calculations and the voltage calculation of the circuit analysis can be executed in parallel. Therefore, since the time for the magnetic field calculation other than the circuit cell can be included in the overlap time that was only during the electric field calculation in the conventional method, it is possible to prevent an increase in the analysis time due to the execution of the circuit analysis.

以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同じである。したがって、それらについては詳細な説明は繰り返さない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following description, the same parts are denoted by the same reference numerals. Their names and functions are also the same. Therefore, detailed description thereof will not be repeated.

以下の説明で明らかとなるように、本発明の電磁界回路連携解析プログラムや連携解析方法では、回路基板内の電界・磁界をFDTD法などの電磁界解析で、電気回路素子をSPICEなどの回路シミュレータで回路解析する際に、FDTD法において回路解析に電流値を渡すために必要な回路セルの磁界値を他のセルに先駆けて計算する。そして、回路解析に電流値を渡した後に、他のセルの磁界計算、および電界計算を行なうため、これらの計算と回路解析の電圧計算とを並列的に実行することができる。したがって、従来方法では電界計算の間だけだったオーバーラップの時間に、回路セル以外の磁界計算の時間も含めることができるため、回路解析の実行による解析時間の増大を防ぐことができる。   As will be apparent from the following description, in the electromagnetic field circuit cooperative analysis program and the cooperative analysis method of the present invention, the electric field and magnetic field in the circuit board are analyzed by electromagnetic field analysis such as the FDTD method, and the electric circuit element is a circuit such as SPICE. When the circuit analysis is performed by the simulator, the magnetic field value of the circuit cell necessary for passing the current value to the circuit analysis in the FDTD method is calculated ahead of other cells. Then, after passing the current value to the circuit analysis, the magnetic field calculation and electric field calculation of other cells are performed, so that these calculations and the voltage calculation of the circuit analysis can be executed in parallel. Therefore, since the time for the magnetic field calculation other than the circuit cell can be included in the overlap time that was only during the electric field calculation in the conventional method, it is possible to prevent an increase in the analysis time due to the execution of the circuit analysis.

(1.本発明のシステム構成)
図1は、本発明の連携解析プログラムを実行するコンピュータ100の一例を示す概念図である。
(1. System configuration of the present invention)
FIG. 1 is a conceptual diagram showing an example of a computer 100 that executes the cooperation analysis program of the present invention.

図1において、連携解析するためのプログラムを実行させるためのコンピュータ100は、CD−ROM(Compact Disc Read-Only Memory)118等の光ディスク上の情報を読み込むための光ディスクドライブ108およびフレキシブルディスク(Flexible Disk、以下FD)116に情報を読み書きするためのFDドライブ106を備えたコンピュータ本体102と、コンピュータ本体102に接続された表示装置としてのディスプレイ104と、同じくコンピュータ本体102に接続された入力装置としてのキーボード110およびマウス112とを備える。   In FIG. 1, a computer 100 for executing a program for cooperative analysis includes an optical disk drive 108 for reading information on an optical disk such as a CD-ROM (Compact Disc Read-Only Memory) 118 and a flexible disk (Flexible Disk). , FD) 116, a computer main body 102 having an FD drive 106 for reading and writing information, a display 104 as a display device connected to the computer main body 102, and an input device also connected to the computer main body 102. A keyboard 110 and a mouse 112 are provided.

図2は、このコンピュータ100の構成をブロック図形式で示す図である。
図2に示されるように、このコンピュータ100を構成するコンピュータ本体102は、光ディスクドライブ108およびFDドライブ106に加えて、それぞれバス105に接続されたCPU(Central Processing Unit)120と、ROM(Read Only Memory)およびRAM(Random Access Memory)を含むメモリ122と、直接アクセスメモリ装置、たとえば、ハードディスク124と、外部とデータの授受を行なうための通信インターフェイス128とを含んでいる。光ディスクドライブ108にはCD−ROM118などの光ディスクが装着される。FDドライブ106にはFD116が装着される。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the computer 100. As shown in FIG.
As shown in FIG. 2, in addition to the optical disk drive 108 and the FD drive 106, the computer main body 102 constituting the computer 100 includes a CPU (Central Processing Unit) 120 connected to the bus 105 and a ROM (Read Only). A memory 122 including a memory (RAM) and a random access memory (RAM), a direct access memory device such as a hard disk 124, and a communication interface 128 for exchanging data with the outside are included. An optical disk such as a CD-ROM 118 is loaded in the optical disk drive 108. An FD 116 is attached to the FD drive 106.

ハードディスク124内には、解析対象となる回路基板について、基板の形状、基板の誘電率等の基板の物理的性質を表現するパラメータ等が格納された回路基板データ134と、時間領域の電磁界解析を行なう手法の一つであるFDTDを実行するプログラム135と、回路解析を実行するプログラム136などが格納される。ここで、たとえば、回路基板データについては、通信インターフェイス128を介して、外部のデータベースから供給されてもよい。また、各プログラムは、FD116、またはCD−ROM118等の記録媒体によって供給されてもよいし、他のコンピュータにより通信回線を経由して供給されてもよい。また、FDTDや回路解析の実行は、通信インターフェイス128を介して、外部のコンピュータに実行させ、その結果をハードディスク124に格納させてもよい。   In the hard disk 124, circuit board data 134 in which parameters representing the physical properties of the board such as the shape of the board, the dielectric constant of the board, etc. are stored for the circuit board to be analyzed, and electromagnetic analysis in the time domain A program 135 for executing FDTD which is one of the techniques for performing the above, a program 136 for executing circuit analysis, and the like are stored. Here, for example, the circuit board data may be supplied from an external database via the communication interface 128. Each program may be supplied by a recording medium such as the FD 116 or the CD-ROM 118, or may be supplied by another computer via a communication line. The execution of FDTD or circuit analysis may be executed by an external computer via the communication interface 128 and the result may be stored in the hard disk 124.

また、記憶装置、たとえば、ハードディスク124の記憶領域には、電磁界解析中の解析結果である電界値、磁界値を一時格納し、次のステップでそれらの値を更新するための電界値記憶領域137と、磁界値記憶領域138とが設けられる。   In addition, in a storage area of the storage device, for example, the hard disk 124, an electric field value storage area for temporarily storing electric field values and magnetic field values as analysis results during the electromagnetic field analysis, and updating those values in the next step. 137 and a magnetic field value storage area 138 are provided.

なお、ここでは、FDTDを実行するプログラム135と回路解析を実行するプログラム136とを総称して、電磁界回路連携解析プログラムとしている。   Here, the program 135 for executing FDTD and the program 136 for executing circuit analysis are collectively referred to as an electromagnetic field circuit cooperation analysis program.

したがって、以下では、1つのコンピュータ装置内において、時間領域の電磁界解析と回路解析とが連携して実行されるものとして説明する。しかしながら、電磁界解析と回路解析とはそれぞれ別のコンピュータ装置で実行するものとして、この別々のコンピュータ装置間でデータを通信インターフェイス128を相互にやり取りして、連携解析を実行してもよい。   Therefore, in the following description, it is assumed that time domain electromagnetic field analysis and circuit analysis are executed in cooperation within one computer device. However, the electromagnetic field analysis and the circuit analysis may be executed by separate computer devices, and data may be exchanged between the separate computer devices via the communication interface 128 to perform the cooperative analysis.

演算処理装置として機能するCPU120は、メモリ122をワーキングメモリとして、上述したFDTDを実行するプログラム135や回路解析を実行するプログラム136に対応した処理を実行する。   The CPU 120 functioning as an arithmetic processing unit uses the memory 122 as a working memory to execute processing corresponding to the above-described program 135 for executing FDTD and the program 136 for executing circuit analysis.

なお、CD−ROM118は、コンピュータ本体に対してインストールされるプログラム等の情報を記録可能な媒体であれば、他の媒体、たとえば、DVD−ROM(Digital Versatile Disc)やメモリーカードなどでもよく、その場合は、コンピュータ本体102には、これらの媒体を読み取ることが可能なドライブ装置が設けられる。   The CD-ROM 118 may be another medium, such as a DVD-ROM (Digital Versatile Disc) or a memory card, as long as it can record information such as a program installed in the computer main body. In this case, the computer main body 102 is provided with a drive device that can read these media.

FDTDを実行するプログラム135や回路解析を実行するプログラム136は、上述の通り、CPU120により実行されるソフトウェアである。一般的に、こうしたソフトウェアは、CD−ROM118、FD116等の記録媒体に格納されて流通し、CD−ROMドライブ108またはFDドライブ106等により記録媒体から読み取られてハードディスク124に一旦格納される。または、コンピュータ100がネットワークに接続されている場合には、ネットワーク上のサーバから一旦ハードディスク124にコピーされる。そうしてさらにハードディスク124からメモリ122中のRAMに読み出されてCPU120により実行される。なお、ネットワーク接続されている場合には、ハードディスク124に格納することなくRAMに直接ロードして実行するようにしてもよい。   The program 135 for executing FDTD and the program 136 for executing circuit analysis are software executed by the CPU 120 as described above. Generally, such software is stored and distributed in a recording medium such as the CD-ROM 118 and the FD 116, read from the recording medium by the CD-ROM drive 108 or the FD drive 106, and temporarily stored in the hard disk 124. Alternatively, when the computer 100 is connected to the network, it is temporarily copied from the server on the network to the hard disk 124. Then, the data is further read from the hard disk 124 to the RAM in the memory 122 and executed by the CPU 120. In the case of network connection, the program may be directly loaded into the RAM and executed without being stored in the hard disk 124.

図1および図2に示したコンピュータのハードウェア自体およびその動作原理は一般的なものである。したがって、本発明の機能を実現するに当り本質的な部分は、FD116、CD−ROM118、ハードディスク124等の記録媒体に記憶されたソフトウェアである。   The computer hardware itself and its operating principle shown in FIGS. 1 and 2 are general. Therefore, an essential part for realizing the functions of the present invention is software stored in a recording medium such as the FD 116, the CD-ROM 118, and the hard disk 124.

なお、一般的傾向として、コンピュータのオペレーティングシステムの一部として様々なプログラムモジュールを用意しておき、アプリケーションプログラムはこれらモジュールを所定の配列で必要なときに呼び出して処理を進める方式が一般的である。そうした場合、当該ソフトウェア自体にはそうしたモジュールは含まれず、当該コンピュータでオペレーティングシステムと協働してはじめて電磁界回路連携解析が可能になる。しかし、一般的なプラットフォームを使用する限り、そうしたモジュールを含ませたソフトウェアを流通させる必要はなく、それらモジュールを含まないソフトウェア自体およびそれらソフトウェアを記録した記録媒体(およびそれらソフトウェアがネットワーク上を流通する場合のデータ信号)が実施の形態を構成すると考えることができる。   As a general tendency, various program modules are prepared as a part of a computer operating system, and an application program generally calls a module in a predetermined arrangement to advance processing. . In such a case, the software itself does not include such a module, and the electromagnetic field circuit linkage analysis is possible only when the computer cooperates with the operating system. However, as long as a general platform is used, it is not necessary to distribute software including such modules, and the software itself not including these modules and the recording medium storing the software (and the software distributes on the network). Data signal) can be considered to constitute the embodiment.

(2. 電磁界回路連携解析方法)
以下、本発明に係る電磁界回路連携解析の方法について説明する。
(2. Electromagnetic circuit linkage analysis method)
Hereinafter, an electromagnetic field circuit cooperation analysis method according to the present invention will be described.

(2.1 電磁界解析と回路解析との連携解析方法)
まず、電磁界解析を行なう手法の一つであるFDTD法について説明し、次いで連携解析するのに用いられる電流源法について説明する。
(2.1 Cooperative analysis method between electromagnetic field analysis and circuit analysis)
First, the FDTD method, which is one of methods for performing electromagnetic field analysis, will be described, and then the current source method used for cooperative analysis will be described.

FDTD法は、マクスウェルの電磁界方程式を差分化することによって数値計算する方法である。まず、解析領域を格子で分割し、格子の各辺の中心に電界、各面の中心に磁界を配置する、いわゆるYee格子という構造を取る。そして、マクスウェルの方程式を差分化すると、電界・磁界は、空間的に半セル、時間的に半タイムステップずらした位置に配置される。ここで、求めたい未知電界、未知磁界と隣接する1タイムステップ前の既知電界、既知磁界の間に働く関係式を電磁気学に基づくマクスウェル方程式から導くと次の式(1)および(2)のようになる。   The FDTD method is a numerical calculation method by differentiating Maxwell's electromagnetic field equation. First, an analysis region is divided by a lattice, and an electric field is arranged at the center of each side of the lattice, and a magnetic field is arranged at the center of each surface. Then, when Maxwell's equations are differentiated, the electric and magnetic fields are arranged at positions that are spatially shifted by half a cell and temporally by a half time step. Here, the following equations (1) and (2) can be obtained by deriving the unknown electric field to be obtained, the known electric field adjacent to the unknown magnetic field one time step before, and the relational expression that works between the known magnetic fields from the Maxwell equation based on electromagnetism. It becomes like this.

Figure 2007206943
Figure 2007206943

なお、式中で太字は、当該変数がベクトルであることを示す。
式(1)はnタイムステップの電界E(ベクトル)、式(2)は(n+1/2)タイムステップの磁界H(ベクトル)についての関係式である。ただし、Δt,μ,ε,σは、それぞれ、タイムステップ、透磁率、誘電率、導電率とする。
In the formula, bold indicates that the variable is a vector.
Equation (1) is an electric field E (vector) of n time steps, and equation (2) is a relational equation of magnetic field H (vector) of (n + 1/2) time steps. However, Δt, μ, ε, and σ are time step, magnetic permeability, dielectric constant, and conductivity, respectively.

これらをもとに未知電界、未知磁界をあるタイムステップΔtを単位に更新していくことで、解析領域全体の電磁界挙動を時間領域で求めることができる。   By updating the unknown electric field and unknown magnetic field in units of a certain time step Δt based on these, the electromagnetic field behavior of the entire analysis region can be obtained in the time domain.

このように、FDTD法では解析領域内の未知電界、未知磁界を陽解法により逐次的に計算することで解析対象の時間領域電磁界応答を解析できる。   As described above, in the FDTD method, the time domain electromagnetic field response to be analyzed can be analyzed by sequentially calculating the unknown electric field and the unknown magnetic field in the analysis region by the explicit method.

次に、本発明の電磁界回路連携解析用いられる、FDTD法と回路解析を直接結合する手法である電流源法について説明する。   Next, the current source method, which is a method for directly combining the FDTD method and circuit analysis, which is used in the electromagnetic field circuit cooperation analysis of the present invention will be described.

図3は、電流源法による連携解析の模式図である。図3(A)は、回路解析の対象となる回路素子を含むFDTDセルを示す図であり、図3(B)は、図3(A)のセルに対応する、電流源法の等価回路を示す図であり、図3(C)は、電流源法の概略的な処理の流れを示す図である。   FIG. 3 is a schematic diagram of cooperative analysis by the current source method. FIG. 3A is a diagram showing an FDTD cell including a circuit element to be subjected to circuit analysis, and FIG. 3B shows an equivalent circuit of the current source method corresponding to the cell of FIG. FIG. 3C is a diagram showing a schematic processing flow of the current source method.

図3を参照して、電流源法について説明する。図3(A)では、電界は実線で示される格子セルの辺に沿って、磁界は点線で示される格子セルの辺に沿って割り当てられている。Δx,Δy,ΔzはFDTDセルの各辺の長さを示し、実線の格子セルと点線の格子セルは、1/2Δx,1/2Δy,1/2Δzずつ、ずれて配置されている。なお、矢印は電界および磁界の向きを表わしている。ここでは、電界のある辺abに、回路解析で動作解析する対象の回路素子が配置されているとする。   The current source method will be described with reference to FIG. In FIG. 3A, the electric field is assigned along the side of the lattice cell indicated by the solid line, and the magnetic field is assigned along the side of the lattice cell indicated by the dotted line. Δx, Δy, Δz indicate the length of each side of the FDTD cell, and the solid grid cell and the dotted grid cell are shifted from each other by 1 / 2Δx, 1 / 2Δy, 1 / 2Δz. The arrows indicate the directions of the electric field and magnetic field. Here, it is assumed that a circuit element to be subjected to operation analysis by circuit analysis is arranged on a side ab where an electric field is present.

図3(C)を参照して、電流源法の処理の流れを説明する。まず、FDTD法にてセルの磁界を計算する(ステップS300)。   With reference to FIG. 3C, the flow of processing in the current source method will be described. First, the magnetic field of the cell is calculated by the FDTD method (step S300).

そして、回路素子が含まれるセルにアンペアの法則を適用し、z成分について展開すると、以下の式(3)が得られる。   Then, by applying Ampere's law to the cell including the circuit element and expanding the z component, the following expression (3) is obtained.

Figure 2007206943
Figure 2007206943

ただし、JLは素子に流れる導電電流密度とする。
ここで、式(3)の左辺第1項のε(ΔxΔy)/Δzを等価的に平行平板コンデンサの容量Cとし、右辺をセルに流れる全電流Iとすると、式(3)は、以下の式(4)のように書き直すことが出来る。
However, J L is the density of the conductive current flowing through the element.
Here, assuming that ε (ΔxΔy) / Δz in the first term on the left side of Equation (3) is equivalently the capacitance C 0 of the parallel plate capacitor, and the right side is the total current I flowing through the cell, Equation (3) is (4) can be rewritten.

Figure 2007206943
Figure 2007206943

ただし、VLは回路素子両端の電圧、ILは回路素子に流れる全電流とする。
セルに流れる全電流Iは、アンペアの法則を用いて素子の周りの磁界を面31に沿って周回積分して求められるが、磁界は一定であるため、Iは定電流源と考えることができる。図3(B)に示すように、式(4)は、電流源32とコンデンサ33と回路網34を含む等価回路として考えられる。
Where V L is the voltage across the circuit element, and I L is the total current flowing through the circuit element.
The total current I flowing in the cell can be obtained by circular integration of the magnetic field around the element along the surface 31 using Ampere's law. However, since the magnetic field is constant, I can be considered as a constant current source. . As shown in FIG. 3B, equation (4) can be considered as an equivalent circuit including a current source 32, a capacitor 33, and a network 34.

再び図3(C)にもどって、FDTDで求めた磁界Hから電流Iを計算し、電流源値Iとして回路解析に渡す(ステップS302)ことで、回路解析によりVL、ILを求めることが出来る。そして、回路解析にてVLを求め、回路素子のセル辺の電界を計算するためVLをFDTD法に渡し(ステップS304)、ステップS306にて、電界Eが計算される。 Returning to FIG. 3C again, the current I is calculated from the magnetic field H obtained by FDTD, and passed to the circuit analysis as the current source value I (step S302), thereby obtaining V L and I L by the circuit analysis. I can do it. Then, a V L by a circuit analysis, passes the V L to calculate the electric field of the cell sides of the circuit elements in the FDTD method (step S304), in step S306, the electric field E is calculated.

以上のようにして、回路解析とFDTD法が直接結合されることになる。これにより、電磁界との結合は回路の入出力端子だけを考えて解析することができる。   As described above, the circuit analysis and the FDTD method are directly coupled. Thereby, the coupling with the electromagnetic field can be analyzed considering only the input / output terminals of the circuit.

なお、ここではアンペアの法則に基づいて定式化した電流源法を連携解析方法として示したが、ファラデーの法則に基礎をおく方法である電圧源法を用いてもよい。   Here, although the current source method formulated based on Ampere's law is shown as the cooperative analysis method, the voltage source method, which is a method based on Faraday's law, may be used.

(2.2 本発明の電磁界回路連携解析方法)
以下に、本発明の連携解析方法の概略を説明する。
(2.2 Electromagnetic Circuit Cooperative Analysis Method of the Present Invention)
Below, the outline | summary of the cooperation analysis method of this invention is demonstrated.

図4は、RC網を含めた回路基板の2次元電磁界モデルの例を示す図である。
図4を参照して、まず、本発明の電磁界回路連携解析が対象とする回路基板のモデルについて説明する。
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a two-dimensional electromagnetic model of a circuit board including an RC network.
With reference to FIG. 4, first, a model of a circuit board that is an object of electromagnetic field circuit linkage analysis of the present invention will be described.

FDTD法にて電磁界解析するためには、回路基板をセルに分割し、電磁界モデルを作成する。図4は、回路基板41をセルに分割した、2次元電磁界モデルである。電磁界モデルでは、各セルに含まれる物質として、たとえば、金属、誘電体などが設定されている。図4のそれぞれのセルは、導体42、誘電体44、回路素子として抵抗46aやコンデンサ46bなどを含んでいる。また、基板41は、接地電極を示すグランド48と、電源49も含む。   In order to perform electromagnetic field analysis by the FDTD method, a circuit board is divided into cells and an electromagnetic field model is created. FIG. 4 is a two-dimensional electromagnetic field model in which the circuit board 41 is divided into cells. In the electromagnetic field model, for example, a metal, a dielectric, or the like is set as a substance contained in each cell. Each cell in FIG. 4 includes a conductor 42, a dielectric 44, and a resistor 46a and a capacitor 46b as circuit elements. The substrate 41 also includes a ground 48 indicating a ground electrode and a power source 49.

本発明による電磁界回路連携解析は、(2.1)で説明した電流源法を用いる。このとき、図3(C)におけるステップS300では全セルの磁界を計算したが、本発明では、回路セルの磁界を他のセルに先駆けて計算する。そして、回路解析で回路セルの電圧を計算する処理(ステップS304)と、他のセルの磁界を計算する処理を並列的に行なう。   The electromagnetic field circuit linkage analysis according to the present invention uses the current source method described in (2.1). At this time, although the magnetic field of all the cells is calculated in step S300 in FIG. 3C, in the present invention, the magnetic field of the circuit cell is calculated prior to other cells. Then, the process of calculating the voltage of the circuit cell by circuit analysis (step S304) and the process of calculating the magnetic field of another cell are performed in parallel.

(3.コンピュータ100への実装)
以上の発明である連携解析方法は、以下の手続きによってコンピュータソフトウェアとして実装できる。
(3. Implementation on computer 100)
The cooperative analysis method according to the above invention can be implemented as computer software by the following procedure.

以下、その手続きについてまとめる。
図5は、本発明における連携解析の具体的な処理の流れを示したフローチャートである。
The procedure is summarized below.
FIG. 5 is a flowchart showing a specific processing flow of the linkage analysis in the present invention.

図6は、2次元電磁界モデルにおける計算対象成分を示した図である。図6(A)から(D)は計算対象成分の移り変わりを示しているが、詳細については後述する。   FIG. 6 is a diagram showing calculation target components in the two-dimensional electromagnetic field model. FIGS. 6A to 6D show the transition of the calculation target component, which will be described later in detail.

図5および図6を参照して、連携解析の処理の流れを説明する。なお、ステップS5100〜S5122は、FDTDを実行するプログラム135に、ステップS5200〜S5212は、回路解析を実行するプログラム136に従った処理である。   With reference to FIG. 5 and FIG. 6, the flow of the cooperative analysis process will be described. Steps S5100 to S5122 are processing according to the program 135 that executes FDTD, and steps S5200 to S5212 are processing according to the program 136 that executes circuit analysis.

FDTDの処理の流れについて説明する。
まず、CPU120は、ハードディスク124に格納されている回路基板データ134から解析条件を読み込む(ステップS5100)。解析条件とは、格子セルの寸法、FDTD解析のタイムステップ、回路解析のタイムステップ、解析時間、解析領域内の電界、磁界の初期値、回路素子の電流、電圧の初期値、解析領域内に配置されている誘電体、導体の座標値、回路素子のネットリスト、最大解析時刻Tmaxである。
The flow of FDTD processing will be described.
First, the CPU 120 reads analysis conditions from the circuit board data 134 stored in the hard disk 124 (step S5100). The analysis conditions include the size of the lattice cell, the time step of FDTD analysis, the time step of circuit analysis, the analysis time, the electric field in the analysis region, the initial value of the magnetic field, the current of the circuit element, the initial value of the voltage, and the analysis region. They are the dielectric, the coordinate value of the conductor, the net list of the circuit element, and the maximum analysis time Tmax.

さらに、CPU120は、解析時刻tをゼロにし、メモリ122に解析条件の解析領域サイズ、セルサイズ分の記憶領域を確保し、配置されている導体、誘電体情報をもとに解析領域セルの係数項計算を行なう(ステップS5101)。また、所定の電界、磁界初期値をもとに、電界値、磁界値の設定を行なう。タイムステップnを1に設定する。   Further, the CPU 120 sets the analysis time t to zero, secures a storage area corresponding to the analysis area size and cell size of the analysis condition in the memory 122, and analyzes the coefficients of the analysis area cell based on the arranged conductor and dielectric information. Term calculation is performed (step S5101). The electric field value and magnetic field value are set based on a predetermined electric field and initial magnetic field value. Set time step n to 1.

ステップS5102では、CPU120は、解析時刻Δt(n−1/2)のときの回路セルの磁界Hを計算する。図6では、各セルの辺に電界が、セルの面に磁界が割り当てられている。なお、回路素子はセル辺61に割り当てられているとする。ステップS5102では、図6(A)に示すように、回路素子を含むセルの磁界(斜線部分)が計算対象成分である。   In step S5102, the CPU 120 calculates the magnetic field H of the circuit cell at the analysis time Δt (n−1 / 2). In FIG. 6, an electric field is assigned to the side of each cell, and a magnetic field is assigned to the surface of the cell. It is assumed that the circuit element is assigned to the cell side 61. In step S5102, as shown in FIG. 6A, the magnetic field (shaded portion) of the cell including the circuit element is the calculation target component.

図5に戻り、ステップS5104では、ステップS5102で計算した磁界をもとに、CPU120は、回路セルの近傍の磁界Hを以下のアンペアの式(5)で電流値Iに変換する。   Returning to FIG. 5, in step S <b> 5104, based on the magnetic field calculated in step S <b> 5102, the CPU 120 converts the magnetic field H in the vicinity of the circuit cell into a current value I using the following amperage equation (5).

Figure 2007206943
Figure 2007206943

ここで、CPU120は、この電流値Iを回路解析のネットリストに付加する電流源値とする。   Here, the CPU 120 uses the current value I as a current source value to be added to the netlist for circuit analysis.

CPU120は、ステップS5104の電流源値を回路解析に与える(ステップS5106)。電流源値を受け取った回路解析の処理の流れは後述する。   The CPU 120 gives the current source value of step S5104 to the circuit analysis (step S5106). The process flow of the circuit analysis that has received the current source value will be described later.

ステップS5108では、CPU120は、図6(B)のように回路素子を挿入したセル以外のセルについて磁界(斜線部分)を計算する。そして、現在の解析時刻tをFDTDタイムステップの半分進める(ステップS5110)。   In step S5108, CPU 120 calculates a magnetic field (shaded portion) for cells other than the cell in which the circuit element is inserted as shown in FIG. 6B. Then, the current analysis time t is advanced by half of the FDTD time step (step S5110).

ステップS5112では、図6(C)のように、回路素子が挿入されたセル以外のセルについて電界を計算する。ここでは、各セルの実線で示される電界が計算対象成分である。   In step S5112, the electric field is calculated for cells other than the cell in which the circuit element is inserted as shown in FIG. Here, the electric field indicated by the solid line of each cell is a calculation target component.

次いで、CPU120は、回路解析で計算された電圧を受け取る(ステップS5114)。ただし、まだ計算されていなければ、計算されるまで処理を中断する。   Next, the CPU 120 receives a voltage calculated by circuit analysis (step S5114). However, if it has not been calculated yet, the process is suspended until it is calculated.

ステップS5116では、CPU120は、回路解析から受け取った電圧値を以下の式(6)により、回路セルの電界値に変換する。   In step S5116, the CPU 120 converts the voltage value received from the circuit analysis into an electric field value of the circuit cell by the following equation (6).

Figure 2007206943
Figure 2007206943

ΔyはFDTDセルのY方向の長さである。なお、ここでは回路素子がY方向に配置されているとしたが、任意方向に配置することができる。   Δy is the length of the FDTD cell in the Y direction. Although the circuit elements are arranged in the Y direction here, they can be arranged in any direction.

そして、CPU120は、ステップS5116で求めた電界値を、図6(D)に示すように、電磁界解析領域の回路素子を挿入したセル辺61の電界値とする(ステップS5118)。解析時刻をΔt(n+1/2)とする。また、時刻Δt(n+1/2)での電界をハードディスク124内の電界値記憶領域137に、磁界をハードディスク124内の磁界値記憶領域138に格納する。   Then, the CPU 120 sets the electric field value obtained in step S5116 as the electric field value of the cell side 61 into which the circuit element in the electromagnetic field analysis region is inserted as shown in FIG. 6D (step S5118). Let the analysis time be Δt (n + 1/2). The electric field at time Δt (n + 1/2) is stored in the electric field value storage area 137 in the hard disk 124, and the magnetic field is stored in the magnetic field value storage area 138 in the hard disk 124.

ステップS5120で、CPU120は、現在の解析時刻tをFDTDのタイムステップの半分進める。nをn=n+1とする。また、解析時刻tのときの解析領域の電界情報をハードディスク124内の電界値記憶領域137に、磁界情報をハードディスク124内の磁界値記憶領域138に格納する。   In step S5120, CPU 120 advances current analysis time t by half the time step of FDTD. Let n be n = n + 1. Further, the electric field information in the analysis area at the analysis time t is stored in the electric field value storage area 137 in the hard disk 124, and the magnetic field information is stored in the magnetic field value storage area 138 in the hard disk 124.

ステップS5122では、CPU120は、現在の解析時刻tと最大解析時刻Tmaxの比較を行なう。解析時刻tのほうが最大解析時刻Tmaxより小さければ(ステップS5122にて、No)、ステップS5102に戻る。そうでなければ(ステップS5122にて、Yes)、解析に使用したメモリ122の記憶領域の開放を行ない、計算を終了する。   In step S5122, CPU 120 compares current analysis time t with maximum analysis time Tmax. If analysis time t is smaller than maximum analysis time Tmax (No in step S5122), the process returns to step S5102. Otherwise (Yes in step S5122), the storage area of the memory 122 used for analysis is released, and the calculation is terminated.

次に、回路解析の処理の流れについて説明する。
まず、CPU120は、所定のネットリストをもとに、メモリ122に記憶領域を確保し、素子の結線情報をもとに電流源法による電流源とキャパシタを追加した回路行列を生成する(ステップS5200)。また、解析時刻をゼロに設定する。
Next, the flow of circuit analysis processing will be described.
First, the CPU 120 secures a storage area in the memory 122 based on a predetermined net list, and generates a circuit matrix in which a current source and a capacitor are added by a current source method based on element connection information (step S5200). ). The analysis time is set to zero.

ステップS5202では、CPU120は、電磁界解析から電流源値を受け取る。なお、電流源値を受け取るまでは処理を中断する。   In step S5202, CPU 120 receives the current source value from the electromagnetic field analysis. The process is suspended until the current source value is received.

次いで、CPU120は、電流源値を、ステップS5202で受け取った電流源値に更新し(ステップS5204)、解析時刻がΔt(n−1/2)からΔt(n+1/2)までの回路解析を行ない、電圧を求める(ステップS5206)。   Next, the CPU 120 updates the current source value to the current source value received in step S5202 (step S5204), and performs circuit analysis from the analysis time Δt (n−1 / 2) to Δt (n + 1/2). The voltage is obtained (step S5206).

さらに、CPU120は、時刻Δt(n+1/2)での電圧値を電磁界解析に与える(ステップS5208)。また、CPU120は、ハードディスク124に、時刻Δt(n+1/2)での電流値、および電圧値を格納する。   Further, CPU 120 provides the voltage value at time Δt (n + 1/2) to the electromagnetic field analysis (step S5208). In addition, the CPU 120 stores the current value and voltage value at time Δt (n + 1/2) in the hard disk 124.

ステップS5210では、CPU120は、現在の解析時刻tを回路解析タイムステップΔtだけ進め、ハードディスク124に、解析時刻tと回路素子端子間の電圧を格納する。   In step S5210, CPU 120 advances current analysis time t by circuit analysis time step Δt, and stores analysis time t and the voltage between circuit element terminals in hard disk 124.

そして、CPU120は、現在の解析時刻tと最大解析時刻Tmaxの比較を行なう(ステップS5212)。解析時刻tのほうが最大解析時刻Tmaxより小さければ(ステップS5212にて、No)、ステップS5202に戻る。そうでなければ(ステップS5212にて、Yes)、解析に使用したメモリ122の記憶領域の開放を行ない、計算を終了する。   Then, CPU 120 compares current analysis time t with maximum analysis time Tmax (step S5212). If analysis time t is smaller than maximum analysis time Tmax (No in step S5212), the process returns to step S5202. Otherwise (Yes in step S5212), the storage area of the memory 122 used for analysis is released, and the calculation is terminated.

以上のようにして、電磁界回路連携解析を行なう。
なお、以上の説明では、解析処理が最大解析時刻を越えることを条件として終了するものとしたが、解析処理の終了条件としては、他の条件、たとえば、電界および磁界が定常状態となってから所定時間経過した後との条件が満たされるか等を用いることもできる。
As described above, the electromagnetic field circuit linkage analysis is performed.
In the above description, the analysis process is terminated on the condition that the maximum analysis time is exceeded. However, the analysis process may be terminated after other conditions such as an electric field and a magnetic field are in a steady state. It is also possible to use whether or not a condition after a predetermined time has passed is satisfied.

電磁界解析や回路解析は、上述のように、CPU120がFDTDを実行するプログラム135や回路解析を実行するプログラム136に従って行なうが、通信インターフェイス128経由で接続される複数個のCPUに実行させ、その結果をコンピュータ100を介してやりとりさせるようにしてもよい。また、電磁界解析や回路解析は、単一のCPUを用いて解析してもよいが、解析領域を複数の領域に分割して複数個のCPUを用いて解析してもよい。   As described above, the electromagnetic field analysis and the circuit analysis are performed by the CPU 120 in accordance with the program 135 for executing the FDTD and the program 136 for executing the circuit analysis, and are executed by a plurality of CPUs connected via the communication interface 128. The result may be exchanged via the computer 100. The electromagnetic field analysis and the circuit analysis may be analyzed using a single CPU, but the analysis area may be divided into a plurality of areas and analyzed using a plurality of CPUs.

上述のように、本発明によれば、FDTD法で回路解析に電流値を渡すために必要な回路セルの磁界値を他のセルに先駆けて計算する。そして、回路解析に電流値を渡した後に、他のセルの磁界計算、および電界計算を行なうため、これらの計算と回路解析の電圧計算とを並列的に実行することができる。したがって、従来方法では電界計算の間だけだったオーバーラップの時間に、回路セル以外の磁界計算の時間も含めることができるため、回路解析の実行による解析時間の増大を防ぐことができる。   As described above, according to the present invention, the magnetic field value of a circuit cell necessary for passing a current value to circuit analysis by the FDTD method is calculated ahead of other cells. Then, after passing the current value to the circuit analysis, the magnetic field calculation and electric field calculation of other cells are performed, so that these calculations and the voltage calculation of the circuit analysis can be executed in parallel. Therefore, since the time for the magnetic field calculation other than the circuit cell can be included in the overlap time that was only during the electric field calculation in the conventional method, it is possible to prevent an increase in the analysis time due to the execution of the circuit analysis.

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the description above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

本発明の連携解析プログラムを実行するコンピュータ100の一例を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows an example of the computer 100 which performs the cooperation analysis program of this invention. このコンピュータ100の構成をブロック図形式で示す図である。It is a figure which shows the structure of this computer 100 in a block diagram format. 電流源法による連携解析の模式図である。It is a schematic diagram of the cooperative analysis by the current source method. RC網を含めた回路基板の2次元電磁界モデルの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the two-dimensional electromagnetic field model of a circuit board including RC network. 本発明における連携解析の具体的な処理の流れを示したフローチャートである。It is the flowchart which showed the flow of the specific process of the cooperation analysis in this invention. 2次元電磁界モデルにおける計算対象成分を示した図である。It is the figure which showed the calculation object component in a two-dimensional electromagnetic field model. 従来方法の電磁界回路連携解析の概略的な処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the schematic process of the electromagnetic field circuit cooperation analysis of the conventional method.

符号の説明Explanation of symbols

31 面、32 電流源、33,46b コンデンサ、34 回路網、41 回路基板、42 導体、44 誘電体、46a 抵抗、48 グランド、49 電源、61 セル辺、100 コンピュータ、102 コンピュータ本体、104 ディスプレイ、106 FDドライブ、108 光ディスクドライブ、110 キーボード、112 マウス、116 FD、118 CD−ROM、120 CPU、122 メモリ、124 ハードディスク、128 通信インターフェイス、134 回路基板データ、135 FDTDを実行するプログラム、136 回路解析を実行するプログラム、137 電界値記憶領域、138 磁界値記憶領域。   31 surface, 32 current source, 33, 46b capacitor, 34 circuit network, 41 circuit board, 42 conductor, 44 dielectric, 46a resistance, 48 ground, 49 power supply, 61 cell side, 100 computer, 102 computer main body, 104 display, 106 FD drive, 108 optical disk drive, 110 keyboard, 112 mouse, 116 FD, 118 CD-ROM, 120 CPU, 122 memory, 124 hard disk, 128 communication interface, 134 circuit board data, 135 FDTD program, 136 circuit analysis 137 Electric field value storage area, 138 Magnetic field value storage area

Claims (8)

演算処理部を有するコンピュータに電磁界回路連携解析を実行させるためのプログラムであって、
前記演算処理部が、複数のセルに分割された解析対象となる領域において、前記複数のセルのうち、回路素子が挿入された回路セルの電界または磁界の一方について第1の電磁界解析を行なうステップと、
前記演算処理部が、前記回路セルが含む前記回路素子のネットリストによって表記された回路に対して、前記第1の電磁界解析を行なうステップにより与えられた電界または磁界の一方に基づき、電圧源または電流源の一方を設定し、回路解析を行なうステップと、
前記演算処理部が、前記複数のセルのうち、前記回路セル以外のセルの電界および磁界について第2の電磁界解析を行なう処理を、前記回路解析を行なう処理と少なくとも一部について並列的に実行するステップと、
前記演算処理部が、前記回路解析を行なうステップの結果に基づき、前記回路セルの電界または磁界の他方を算出する第3の電磁界解析を行なうステップと、
前記演算処理部が、前記第1の電磁界解析を行なうステップと、前記回路解析を行なうステップと、前記並列的に実行するステップと、前記第3の電磁界解析を行なうステップとを、所定の条件が満たされるまで繰りかえすステップとを備える、解析処理をコンピュータに実行させるための電磁界回路連携解析プログラム。
A program for causing a computer having an arithmetic processing unit to execute electromagnetic field circuit linkage analysis,
The arithmetic processing unit performs a first electromagnetic field analysis on one of an electric field or a magnetic field of a circuit cell in which a circuit element is inserted among the plurality of cells in a region to be analyzed divided into a plurality of cells. Steps,
Based on one of the electric field or the magnetic field applied by the step of performing the first electromagnetic field analysis on the circuit represented by the net list of the circuit elements included in the circuit cell, the arithmetic processing unit Or setting one of the current sources and performing circuit analysis;
The arithmetic processing unit executes, in parallel with at least a part of the circuit analysis, processing for performing second electromagnetic field analysis on the electric field and magnetic field of cells other than the circuit cell among the plurality of cells. And steps to
A step of performing a third electromagnetic field analysis in which the arithmetic processing unit calculates the other of the electric field or the magnetic field of the circuit cell based on the result of the step of performing the circuit analysis;
The arithmetic processing unit includes a step of performing the first electromagnetic field analysis, a step of performing the circuit analysis, a step of executing in parallel, and a step of performing the third electromagnetic field analysis. An electromagnetic field circuit linkage analysis program for causing a computer to execute an analysis process, comprising: a step of repeating until a condition is satisfied.
前記第1の電磁界解析を行なうステップにおいて、前記演算処理部は、前記回路セルの電界について電磁界解析を行ない、
前記回路解析を行なうステップにおいて、前記演算処理部は、前記回路に対して、前記第1の電磁界解析を行なうステップにより与えられた電界に基づき、電圧源を設定し回路解析を行ない、
前記第3の電磁界解析を行なうステップにおいて、前記演算処理部は、前記回路解析を行なうステップの結果に基づき、前記回路セルの磁界を算出する、請求項1記載の電磁界回路連携解析プログラム。
In the step of performing the first electromagnetic field analysis, the arithmetic processing unit performs an electromagnetic field analysis on the electric field of the circuit cell,
In the step of performing the circuit analysis, the arithmetic processing unit performs a circuit analysis by setting a voltage source based on the electric field applied by the step of performing the first electromagnetic field analysis on the circuit,
The electromagnetic field circuit cooperation analysis program according to claim 1, wherein in the third electromagnetic field analysis step, the arithmetic processing unit calculates a magnetic field of the circuit cell based on a result of the circuit analysis step.
前記第1の電磁界解析を行なうステップにおいて、前記演算処理部は、前記回路セルの磁界について電磁界解析を行ない、
前記回路解析を行なうステップにおいて、前記演算処理部は、前記回路に対して、前記第1の電磁界解析を行なうステップにより与えられた磁界に基づき、電流源を設定し回路解析を行ない、
前記第3の電磁界解析を行なうステップにおいて、前記演算処理部は、前記回路解析を行なうステップの結果に基づき、前記回路セルの電界を算出する、請求項1記載の電磁界回路連携解析プログラム。
In the step of performing the first electromagnetic field analysis, the arithmetic processing unit performs an electromagnetic field analysis on the magnetic field of the circuit cell,
In the step of performing the circuit analysis, the arithmetic processing unit performs a circuit analysis by setting a current source based on the magnetic field given by the step of performing the first electromagnetic field analysis on the circuit,
The electromagnetic circuit integration analysis program according to claim 1, wherein in the third electromagnetic field analysis step, the arithmetic processing unit calculates an electric field of the circuit cell based on a result of the circuit analysis step.
前記コンピュータはさらに記憶部を有し、
タイムステップΔtが予め決められているときに、
前記第1の電磁界解析を行なうステップは、
前記演算処理部が、時刻tにおける前記回路セルの近傍の磁界を求めるステップと、
前記演算処理部が、前記求めた磁界に基づき前記回路セルの近傍の電流を算出するステップとを含み、
前記並列的に実行するステップは、
前記演算処理部が、前記時刻tにおける前記回路セル以外の前記セルの磁界を求めるステップと、
前記時刻tをt+1/2Δtに更新するステップと、
前記演算処理部が、前記時刻tにおける前記回路セル以外の前記セルの電界を求めるステップとを含み、
前記第3の電磁界解析を行なうステップは、
前記演算処理部が、前記回路解析を行なうステップの結果に基づき、前記回路セルの電界を算出するステップと、
前記演算処理部が、前記領域の電界および磁界を前記記憶部に格納するステップと、
前記時刻tをt+1/2Δtにさらに更新するステップとを含む、請求項3記載の電磁界回路連携解析プログラム。
The computer further includes a storage unit,
When the time step Δt is predetermined,
The step of performing the first electromagnetic field analysis includes:
The arithmetic processing unit obtaining a magnetic field in the vicinity of the circuit cell at time t;
The arithmetic processing unit includes calculating a current in the vicinity of the circuit cell based on the obtained magnetic field,
The step of executing in parallel includes:
The arithmetic processing unit obtaining a magnetic field of the cell other than the circuit cell at the time t;
Updating the time t to t + 1 / 2Δt;
The arithmetic processing unit includes obtaining an electric field of the cell other than the circuit cell at the time t,
The step of performing the third electromagnetic field analysis includes:
The arithmetic processing unit calculates an electric field of the circuit cell based on a result of the circuit analysis;
The arithmetic processing unit storing the electric field and magnetic field of the region in the storage unit;
The electromagnetic field circuit cooperation analysis program according to claim 3, further comprising a step of further updating the time t to t + 1 / 2Δt.
前記回路解析を行なうステップは、
前記演算処理部が、前記第1の電磁界解析を行なうステップで求められた電流に基づき、前記ネットリストに対して電流源を設定し、前記回路素子の2端子間における電圧を求めるステップと、
前記演算処理部が、前記2端子間における電圧を前記記憶部に格納するステップと、
前記時刻tをt+Δtに更新するステップとを含む、請求項4記載の電磁界回路連携解析プログラム。
The step of performing the circuit analysis includes:
The arithmetic processing unit sets a current source for the netlist based on the current obtained in the step of performing the first electromagnetic field analysis, and obtains a voltage between the two terminals of the circuit element;
The arithmetic processing unit storing the voltage between the two terminals in the storage unit;
The electromagnetic field circuit cooperation analysis program according to claim 4, further comprising a step of updating the time t to t + Δt.
請求項1記載の電磁界回路連携解析プログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。   A computer-readable recording medium storing the electromagnetic circuit cooperation analysis program according to claim 1. 電磁界解析と回路解析との連携解析を行なう電磁界回路連携解析装置であって、
前記回路解析を行なう回路解析部を備え、
前記回路解析部は、
複数のセルに分割された解析対象となる領域において、前記複数のセルのうち、回路素子の挿入された回路セルが含む前記回路素子のネットリストによって表記された回路に対して、前記電磁界解析により与えられた電界または磁界の一方に基づき、電圧源または電流源の一方を設定し、回路解析を行なう手段を含み、
前記電磁界解析を行なう電磁界解析部をさらに備え、
前記電磁界解析部は、
前記回路セルの電界または磁界の一方について第1の電磁界解析を行ない、前記第1の電磁界解析の結果を前記回路解析部に与える第1の手段と、
前記回路セル以外のセルの電界および磁界について第2の電磁界解析を行なう処理を、前記回路解析を行なう処理と少なくとも一部について並列的に実行する手段と、
前記回路解析部の結果に基づき、前記回路セルの電界または磁界の他方を算出する第3の電磁界解析を行なう手段とを含み、
前記回路解析を行なう手段と、前記第1の手段と、前記並列的に実行する手段と、前記第3の電磁界解析を行なう手段とを、所定の条件が満たされるまで繰りかえす解析制御部とを含む、電磁界回路連携解析装置。
An electromagnetic field circuit linkage analysis apparatus for performing linkage analysis between electromagnetic field analysis and circuit analysis,
A circuit analysis unit for performing the circuit analysis;
The circuit analysis unit
In the region to be analyzed divided into a plurality of cells, the electromagnetic field analysis is performed on the circuit represented by the circuit element netlist included in the circuit cell in which the circuit element is inserted among the plurality of cells. Means for setting one of a voltage source or a current source based on one of the electric field or magnetic field applied by
An electromagnetic field analysis unit for performing the electromagnetic field analysis;
The electromagnetic field analysis unit
A first means for performing a first electromagnetic field analysis on one of an electric field or a magnetic field of the circuit cell and providing a result of the first electromagnetic field analysis to the circuit analysis unit;
Means for performing a second electromagnetic field analysis on the electric field and magnetic field of a cell other than the circuit cell in parallel with at least a part of the circuit analysis;
Means for performing a third electromagnetic field analysis for calculating the other of the electric field or magnetic field of the circuit cell based on the result of the circuit analysis unit,
An analysis control unit that repeats the means for performing the circuit analysis, the first means, the means for executing in parallel, and the means for performing the third electromagnetic field analysis until a predetermined condition is satisfied; Including electromagnetic circuit cooperation analysis device.
複数のセルに分割された解析対象となる領域において、前記複数のセルのうち、回路素子が挿入された回路セルの電界または磁界の一方について第1の電磁界解析を行なうステップと、
前記回路セルが含む前記回路素子のネットリストによって表記された回路に対して、前記第1の電磁界解析を行なうステップにより与えられた電界または磁界の一方に基づき、電圧源または電流源の一方を設定し、回路解析を行なうステップと、
前記複数のセルのうち、前記回路セル以外のセルの電界および磁界について第2の電磁界解析を行なう処理を、前記回路解析を行なう処理と少なくとも一部について並列的に実行するステップと、
前記回路解析を行なうステップの結果に基づき、前記回路セルの電界または磁界の他方を算出する第3の電磁界解析を行なうステップと、
前記第1の電磁界解析を行なうステップと、前記回路解析を行なうステップと、前記並列的に実行するステップと、前記第3の電磁界解析を行なうステップとを、所定の条件が満たされるまで繰りかえすステップとを備える、電磁界回路連携解析方法。
Performing a first electromagnetic field analysis on one of an electric field or a magnetic field of a circuit cell in which a circuit element is inserted among the plurality of cells in a region to be analyzed divided into a plurality of cells;
Based on one of the electric field or magnetic field given by the step of performing the first electromagnetic field analysis on the circuit represented by the net list of the circuit elements included in the circuit cell, one of the voltage source and the current source is Setting and performing circuit analysis;
A process of performing a second electromagnetic field analysis on an electric field and a magnetic field of cells other than the circuit cell among the plurality of cells, and executing the circuit analysis in parallel with the process of performing the circuit analysis;
Performing a third electromagnetic field analysis for calculating the other of the electric field or magnetic field of the circuit cell based on the result of the circuit analysis step;
The step of performing the first electromagnetic field analysis, the step of performing the circuit analysis, the step of executing in parallel, and the step of performing the third electromagnetic field analysis are repeated until a predetermined condition is satisfied. An electromagnetic field circuit linkage analysis method comprising the steps.
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CN113992092A (en) * 2021-11-02 2022-01-28 浙江大学先进电气装备创新中心 Analytical method-based field-path coupling analysis method for surface-mounted permanent magnet motor driving system

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