JP2007201733A - Cellular phone tester - Google Patents

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Wataru Soyama
渉 祖山
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To attain a cellular phone tester by which "modulation precision" is measured by a wide range operation without upgrading a processing concerning demodulation. <P>SOLUTION: A processing arithmetic circuit 13 includes: a circuit 130 which generates demodulation data by demodulating a quadrature modulation signal; a circuit 140 which generates a reference signal by performing quadrature modulation to the demodulation data after waveform shaping; a circuit 150 which detects phase difference between the quadrature modulation signal and the reference signal as the modulation precision and a circuit 160 which detects sharp fluctuation of the phase difference as a demodulation error. The processing arithmetic circuit 13 excludes the phase difference indicating the modulation precision from a measurement value in detection of the demodulation error to perform measurement processing of the modulation precision using only the phase difference indicating the modulation precision without the demodulation error. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、携帯電話機テスタに関し、とりわけ、復調に係る処理を高度化させることなく広動作範囲で変調精度を測定できる携帯電話機テスタに関する。   The present invention relates to a mobile phone tester, and more particularly to a mobile phone tester that can measure modulation accuracy over a wide operating range without increasing the processing involved in demodulation.

携帯電話機の開発、製造、修理等には、その性能を測定する携帯電話機テスタが用いられている。直交変調方式の携帯電話機（例えば、ＰＤＣ（Personal Digital Cellular）やＧＳＭ（Global System for Mobile communications）等）を測定する携帯電話機テスタには、携帯電話機の送信信号の「変調精度（ＥＶＭ：Error Vector Magnitude）」を測定する機能が実装されている。「変調精度」は、被測定対象である携帯電話機から送信された送信信号と、送信信号を復調した復調データから生成した参照信号（理想的な直交変調信号）と、に基づいて測定される（特許文献１）。   For the development, manufacture, repair, etc. of mobile phones, mobile phone testers that measure their performance are used. A mobile phone tester that measures an orthogonal modulation type mobile phone (for example, PDC (Personal Digital Cellular), GSM (Global System for Mobile communications), etc.) has a “modulation accuracy (EVM: Error Vector Magnitude) ) "Is implemented. “Modulation accuracy” is measured based on a transmission signal transmitted from a mobile phone to be measured and a reference signal (ideal orthogonal modulation signal) generated from demodulated data obtained by demodulating the transmission signal ( Patent Document 1).

特開２０００−１９６６８６号公報JP 2000-196686 A

一般的に、信号を復調すると、その信号品質や復調性能等に応じて復調データに誤りが発生する。また、誤りを含む復調データで参照信号を生成すると、その参照信号にも誤りが含まれる。このような誤りを含む参照信号で上述したような「変調精度」の測定を行うと、その測定値の確度を著しく劣化させてしまう。このため、従来の携帯電話機テスタでは、その測定値の確度を確保するために、復調データがエラーフリーとなる範囲で「変調精度」を測定していた。   Generally, when a signal is demodulated, an error occurs in demodulated data according to the signal quality, demodulation performance, and the like. Further, when a reference signal is generated with demodulated data including an error, the reference signal also includes an error. When the “modulation accuracy” as described above is measured using a reference signal including such an error, the accuracy of the measured value is significantly degraded. For this reason, in the conventional mobile phone tester, in order to ensure the accuracy of the measurement value, the “modulation accuracy” is measured within a range where the demodulated data is error-free.

上述したような復調データがエラーフリーとなる範囲は、携帯電話機テスタの復調性能に依存しており、動作範囲を広げるためには、携帯電話機テスタの復調性能の向上が不可欠となる。しかしながら、携帯電話機テスタの復調性能を向上させるためには、復調に係る処理の高度化が必要となり、例えば、増幅や周波数変換を行うアナログ回路や検波された信号を“１”“０”のデータに変換する変換回路の高品質化等を行うと携帯電話機テスタの高コスト化を招く。したがって、復調に係る処理を高度化させることなく広動作範囲で「変調精度」を測定できる携帯電話機テスタを実現することが望まれる。   The range in which the demodulated data is error-free as described above depends on the demodulation performance of the mobile phone tester, and in order to expand the operation range, it is essential to improve the demodulation performance of the mobile phone tester. However, in order to improve the demodulation performance of the mobile phone tester, it is necessary to improve the processing related to demodulation. For example, an analog circuit that performs amplification and frequency conversion or a detected signal is converted to “1” or “0” data. If the quality of the conversion circuit for converting to a high quality is increased, the cost of the mobile phone tester will be increased. Therefore, it is desired to realize a mobile phone tester capable of measuring “modulation accuracy” in a wide operation range without increasing the processing related to demodulation.

本発明は、被測定対象である携帯電話機から送信される直交変調信号を復調することにより復調データを生成する復調手段と、前記復調データを波形整形後に直交変調した信号である参照信号を生成する参照信号生成手段と、を備え、前記直交変調信号と参照信号とに基づいて前記直交変調信号の変調精度を測定する携帯電話機テスタであって、前記直交変調信号と前記参照信号との位相差を変調精度として検出する位相差算出手段と、前記位相差の急激な変動を復調誤りとして検出する復調誤り検出手段と、を含み、復調誤り検出時には変調精度を示す位相差を測定値から除外することを特徴とする。   The present invention generates demodulating means for generating demodulated data by demodulating a quadrature modulation signal transmitted from a mobile phone to be measured, and generates a reference signal which is a signal obtained by quadrature modulation of the demodulated data after waveform shaping. A mobile phone tester for measuring a modulation accuracy of the quadrature modulation signal based on the quadrature modulation signal and the reference signal, and calculating a phase difference between the quadrature modulation signal and the reference signal. A phase difference calculating means for detecting the modulation accuracy, and a demodulation error detecting means for detecting a sudden fluctuation of the phase difference as a demodulation error, and excluding the phase difference indicating the modulation accuracy from the measured value when the demodulation error is detected. It is characterized by.

また、本発明は、前記復調誤り検出手段が、前記位相差を最小二乗演算することにより回帰直線を算出する回帰直線算出手段と、前記位相差の回帰直線に対する残差二乗和を算出する残差二乗和算出手段と、前記残差二乗和が所定のしきい値を超えたときに復調誤りと判定するしきい値判定手段と、を含むことが望ましい。   Further, the present invention provides the demodulation error detecting means for calculating a regression line by calculating the least squares of the phase difference, and a residual for calculating a residual square sum of the phase difference with respect to the regression line. It is desirable to include a sum of squares calculation means and a threshold value determination means for determining a demodulation error when the residual sum of squares exceeds a predetermined threshold value.

本発明によれば、復調に係る処理を高度化させることなく広動作範囲で「変調精度」を測定できる携帯電話機テスタを実現することができる。   According to the present invention, it is possible to realize a mobile phone tester capable of measuring “modulation accuracy” in a wide operating range without increasing the processing related to demodulation.

以下、本発明の実施形態に係る携帯電話機テスタについて、図面を用いて詳細に説明する。なお、本実施形態に係る携帯電話機テスタは、ＧＳＭ（Global System for Mobile communications）方式の携帯電話機の性能を測定するテスタとする。   Hereinafter, a mobile phone tester according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The mobile phone tester according to the present embodiment is a tester that measures the performance of a GSM (Global System for Mobile communications) mobile phone.

図１は、本発明の実施形態に係る携帯電話機テスタ１と被測定対象たる携帯電話機３の構成を表すブロック図である。図１に示す携帯電話機テスタ１は、無線回路１１、処理演算回路１３、表示ユニット１９を備えている。ここで、無線回路１１には、増幅回路や周波数変換回路等が含まれているものとする（図示せず）。   FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a mobile phone tester 1 and a mobile phone 3 to be measured according to an embodiment of the present invention. The mobile phone tester 1 shown in FIG. 1 includes a wireless circuit 11, a processing arithmetic circuit 13, and a display unit 19. Here, it is assumed that the wireless circuit 11 includes an amplifier circuit, a frequency conversion circuit, and the like (not shown).

また、処理演算回路１３は、直交変調信号を復調することにより復調データを生成する回路１３０と、復調データを波形整形後に直交変調して参照信号を生成する回路１４０（後述する変調部１４０）と、直交変調信号と参照信号との位相差を変調精度として検出する回路１５０と、位相差の急激な変動を復調誤りとして検出する回路１６０と、を含んでいる。この処理演算回路１３は、後述するように、復調誤り検出時には変調精度を示す位相差を測定値から除外し、復調誤りの無い変調精度を示す位相差のみを用いて変調精度の測定処理を行う。なお、処理演算回路１３の詳細な構成については後述の動作と共に詳細に説明する。   The processing operation circuit 13 also includes a circuit 130 that generates demodulated data by demodulating the quadrature modulation signal, a circuit 140 (modulation unit 140 described later) that generates a reference signal by performing quadrature modulation on the demodulated data after waveform shaping. A circuit 150 that detects the phase difference between the quadrature modulation signal and the reference signal as modulation accuracy, and a circuit 160 that detects a sudden variation in the phase difference as a demodulation error. As will be described later, the processing arithmetic circuit 13 excludes the phase difference indicating the modulation accuracy from the measurement value when detecting the demodulation error, and performs the modulation accuracy measurement process using only the phase difference indicating the modulation accuracy without the demodulation error. . The detailed configuration of the processing arithmetic circuit 13 will be described in detail together with the operation described later.

さらに、表示ユニット１９は、ＣＲＴやＬＣＤ等により構成され、測定結果やメニュー等を表示する。この表示ユニット１９は、携帯電話機テスタ１に内蔵（又は外付け）されたものであっても良いし、ＧＰＩＢにより接続されたＰＣのディスプレイであっても良い。以上の構成により、本実施形態に係る携帯電話機テスタは、復調に係る処理を高度化させることなく広動作範囲で「変調精度」を測定する。   Further, the display unit 19 is composed of a CRT, LCD, or the like, and displays measurement results, menus, and the like. The display unit 19 may be a built-in (or externally attached) mobile phone tester 1 or a PC display connected by GPIB. With the above configuration, the mobile phone tester according to the present embodiment measures “modulation accuracy” in a wide operating range without increasing the processing related to demodulation.

次に、本実施形態に係る携帯電話機テスタの動作について詳細に説明する。携帯電話機３は、携帯電話機テスタ１からの指示又は手動により直交変調信号（８ＰＳＫ）を出力する。また、携帯電話機３から出力された直交変調信号は、携帯電話機テスタ１の無線回路１１に入力される。   Next, the operation of the mobile phone tester according to the present embodiment will be described in detail. The mobile phone 3 outputs an orthogonal modulation signal (8PSK) by an instruction from the mobile phone tester 1 or manually. The quadrature modulation signal output from the mobile phone 3 is input to the radio circuit 11 of the mobile phone tester 1.

無線回路１１は、入力された直交変調信号を増幅及び周波数変換したのち出力する。また、無線回路１１から出力された直交変調信号（ＩＦ信号）は、処理演算回路１３のＡ／Ｄ変換部１３１に入力される。   The radio circuit 11 amplifies and frequency-converts the input quadrature modulation signal and outputs it. The quadrature modulation signal (IF signal) output from the wireless circuit 11 is input to the A / D conversion unit 131 of the processing arithmetic circuit 13.

Ａ／Ｄ変換部１３１は、入力された直交変調信号（ＩＦ信号）をＡ／Ｄ変換する。また、Ａ／Ｄ変換された直交変調信号（ＩＦ信号）は、直交検波部１３２に入力される。直交検波部１３２は、Ａ／Ｄ変換された直交変調信号（ＩＦ信号）からＩＱ信号（「ＩＱ信号１」と呼ぶ）を検波する。このように検波されたＩＱ信号１は、データ格納部１３３に格納される。後述するように、処理演算回路１３は、直交変調信号（に基づくＩＱ信号１）と、後述する参照信号（に基づくＩＱ信号２）と、の位相差を変調精度として検出する。   The A / D converter 131 performs A / D conversion on the input quadrature modulation signal (IF signal). The A / D converted quadrature modulation signal (IF signal) is input to the quadrature detection unit 132. The quadrature detection unit 132 detects an IQ signal (referred to as “IQ signal 1”) from the A / D converted quadrature modulation signal (IF signal). The IQ signal 1 thus detected is stored in the data storage unit 133. As will be described later, the processing arithmetic circuit 13 detects a phase difference between the quadrature modulation signal (based on the IQ signal 1) and a reference signal (based on the later described IQ signal 2) as modulation accuracy.

ここで、位相変換部１５１ａは、（バースト切り出し部１３６ａを介して）データ格納部１３３に格納されたＩＱ信号１を読み込み位相情報Φ１（ｘ）を生成する（ここでｘは時間又はサンプル番号を示す）。このように生成された位相情報Φ１（ｘ）は、位相差算出部１５３に入力される。   Here, the phase conversion unit 151a reads the IQ signal 1 stored in the data storage unit 133 (via the burst cutout unit 136a) and generates phase information Φ1 (x) (where x is a time or sample number). Show). The phase information Φ1 (x) generated in this way is input to the phase difference calculation unit 153.

また、復調部１３４は、データ格納部１３３に格納されたＩＱ信号１に基づいて復調データ（ＢＢ信号）を生成する。なお、復調データの生成は、ＩＱ信号１を電圧値に変換しこれを硬判定等することにより行うことができる。また、これにより、復調データは波形が整形された信号になる。復調部１３４から出力された復調データは、ＴＳＣ検索部１３５及び（バースト切り出し部１３６ｂを介して）変調部１４０に入力される。   Further, the demodulation unit 134 generates demodulated data (BB signal) based on the IQ signal 1 stored in the data storage unit 133. Demodulated data can be generated by converting the IQ signal 1 into a voltage value and making a hard decision or the like. As a result, the demodulated data becomes a signal whose waveform is shaped. The demodulated data output from the demodulation unit 134 is input to the TSC search unit 135 and the modulation unit 140 (via the burst cutout unit 136b).

変調部１４０は、入力された復調データに基づいて「変調精度」を測定するための参照信号となるＩＱ信号（「ＩＱ信号２」と呼ぶ）を生成する。変調部１４０により生成されたＩＱ信号２は、位相変換部１５１ｂに入力される。位相変換部１５１ｂは、変調部１４０により生成されたＩＱ信号２を読み込み位相情報Φ２（ｘ）を生成する。このように生成された位相情報Φ２（ｘ）は、位相差算出部１５３に入力される。   Modulation section 140 generates an IQ signal (referred to as “IQ signal 2”) as a reference signal for measuring “modulation accuracy” based on the input demodulated data. The IQ signal 2 generated by the modulation unit 140 is input to the phase conversion unit 151b. The phase conversion unit 151b reads the IQ signal 2 generated by the modulation unit 140 and generates phase information Φ2 (x). The phase information Φ2 (x) generated in this way is input to the phase difference calculation unit 153.

位相差算出部１５３は、入力された位相情報Φ１（ｘ）と位相情報Φ２（ｘ）との位相差ΔΦ（ｘ）（＝Φ２（ｘ）−Φ１（ｘ））を算出する。このように算出された位相差ΔΦ（ｘ）は、回帰直線算出部１６１に入力される。回帰直線算出部１６１は、入力された位相差ΔΦ（ｘ）に基づいて回帰直線ｚ（ｘ）を算出する。なお、回帰直線ｚ（ｘ）は入力される位相差ΔΦ（ｘ）で最小二乗法等の演算をすることにより算出することができる。算出された回帰直線ｚ（ｘ）は、残差二乗和算出部１６３に入力される。   The phase difference calculation unit 153 calculates a phase difference ΔΦ (x) (= Φ2 (x) −Φ1 (x)) between the input phase information Φ1 (x) and the phase information Φ2 (x). The phase difference ΔΦ (x) calculated in this way is input to the regression line calculation unit 161. The regression line calculation unit 161 calculates a regression line z (x) based on the input phase difference ΔΦ (x). The regression line z (x) can be calculated by performing an operation such as a least square method on the input phase difference ΔΦ (x). The calculated regression line z (x) is input to the residual sum of squares calculation unit 163.

残差二乗和算出部１６３は、位相差ΔΦ（ｘ）の回帰直線ｚ（ｘ）に対する残差δφ（ｘ）を算出する。また、残差δφ（ｘ）は、（例えば１バースト区間分）二乗和演算されて残差二乗和Σ（δφ（ｘ））２として出力される。このように出力された残差二乗和Σ（δφ（ｘ））２は、しきい値判定部１６５に入力される。 The residual sum of squares calculation unit 163 calculates a residual δφ (x) with respect to the regression line z (x) of the phase difference ΔΦ (x). Further, the residual δφ (x) is calculated as a sum of squares (for example, for one burst section) and output as a residual sum of squares Σ (δφ (x)) 2 . The residual sum of squares Σ (δφ (x)) 2 output in this way is input to the threshold value determination unit 165.

しきい値判定部１６５は、入力された残差二乗和Σ（δφ（ｘ））２を判定する。復調誤りが発生したときに、位相情報Φ１（ｘ）と位相情報Φ２（ｘ）とが全く異なる位相になるため、位相差ΔΦ（ｘ）は急激に変動する。したがって、残差二乗和Σ（δφ（ｘ））２も急激に変動（増加）する。しきい値判定部１６５は、このような残差二乗和Σ（δφ（ｘ））２の急激な変動（増加）を復調誤りとして検出し、この検出結果を出力する。なお、しきい値判定部１６５のしきい値は、数理的に算出した値に設定してもよいが、実験により得られた値に設定してもよい。 The threshold determination unit 165 determines the input residual sum of squares Σ (δφ (x)) 2 . When a demodulation error occurs, the phase information Φ1 (x) and the phase information Φ2 (x) have completely different phases, so that the phase difference ΔΦ (x) varies rapidly. Therefore, the residual sum of squares Σ (δφ (x)) 2 also changes (increases) abruptly. The threshold value determination unit 165 detects such a sudden change (increase) in the residual square sum Σ (δφ (x)) 2 as a demodulation error, and outputs the detection result. Note that the threshold value of the threshold value determination unit 165 may be set to a mathematically calculated value, or may be set to a value obtained through experiments.

しきい値判定部１６５から出力された検出結果は、スイッチ１７１に入力される。スイッチ１７１は、入力された検出結果に基づいて、その検出結果に対応する位相差ΔΦ（ｘ）を含むバースト区間のデータを測定処理部１７３に出力するか否かを切り替える。したがって、測定処理部１７３は、復調誤りが発生したときの位相差ΔΦ（ｘ）を含むバースト区間のデータを測定値から除外して変調精度を測定する。これにより、携帯電話機テスタ１は、その測定値の確度を確保しつつ、復調に係る処理を高度化させることなく広動作範囲で「変調精度」を測定できる。なお、測定値から除外されるデータの量は、１バースト区間分に限らず、復調誤りが発生した位相差ΔΦ（ｘ）に対応するデータのみ除外する構成であっても良い（この場合、残差二乗値（δφ（ｘ））２を算出し、これをしきい値判定部１６５により判定すれば良い）。 The detection result output from the threshold determination unit 165 is input to the switch 171. Based on the input detection result, the switch 171 switches whether to output the data of the burst section including the phase difference ΔΦ (x) corresponding to the detection result to the measurement processing unit 173. Therefore, the measurement processing unit 173 measures the modulation accuracy by excluding the data of the burst section including the phase difference ΔΦ (x) when the demodulation error occurs from the measurement value. Thereby, the mobile phone tester 1 can measure the “modulation accuracy” in a wide operation range without securing the accuracy of the measurement value and enhancing the processing related to demodulation. Note that the amount of data excluded from the measurement value is not limited to one burst period, and only the data corresponding to the phase difference ΔΦ (x) in which the demodulation error has occurred may be excluded (in this case, the remaining amount). The difference square value (δφ (x)) 2 is calculated, and this may be determined by the threshold value determination unit 165).

また、携帯電話機テスタ１は、ＢＥＲ（Bit Error Rate）特性を取得するときには、以下のように誤りを含むデータを扱うこともできる。まず、前述したスイッチ１７１をオンに設定する。つぎに、ＴＳＣ検索部１３５は、入力された復調データの中からＴＳＣ（Training Sequence Code）部分を検索しこれを特定する。そして、ＴＳＣ検索部１３５は、このように特定されたＴＳＣ部分の情報を出力する。出力されたＴＳＣ部分の情報は、バースト切り出し部１３６ａ及び１３６ｂに入力される。   Further, when acquiring the BER (Bit Error Rate) characteristic, the mobile phone tester 1 can handle data including errors as follows. First, the above-described switch 171 is set to ON. Next, the TSC search unit 135 searches for a TSC (Training Sequence Code) portion from the input demodulated data and specifies it. Then, the TSC search unit 135 outputs information on the TSC part specified in this way. The output TSC portion information is input to the burst cutout portions 136a and 136b.

バースト切り出し部１３６ａは、データ格納部１３３からデータ部分だけを切り出し、これを（スイッチ１７１等を介して）測定処理部１７３に出力する。また、バースト切り出し部１３６ｂは、データ部分に対応する復調データを切り出し、これを（スイッチ１７１等を介して）測定処理部１７３に出力する。バースト切り出し部１３６ｂにより切り出された復調データは、測定処理部１７３により既知のＰＮコードと相関演算されそのコード情報が特定される。そして、測定処理部１７３は、バースト切り出し部１３６ａにより切り出されたデータ部分と、コード情報と、によりＢＥＲ特性を測定する。したがって、携帯電話機テスタ１は、誤りを含むデータを用いてＢＥＲ特性を取得することもできる。なお、コード情報の特定は、測定処理部１７３とは別に設けられた専用の計算手段を用いても良い。   The burst cutout unit 136a cuts out only the data portion from the data storage unit 133 and outputs it to the measurement processing unit 173 (via the switch 171 or the like). The burst cutout unit 136b cuts out demodulated data corresponding to the data portion, and outputs this to the measurement processing unit 173 (via the switch 171 or the like). The demodulated data cut out by the burst cutout unit 136b is correlated with a known PN code by the measurement processing unit 173 and its code information is specified. Then, the measurement processing unit 173 measures the BER characteristic based on the data portion cut out by the burst cutout unit 136a and the code information. Therefore, the mobile phone tester 1 can also acquire the BER characteristic using data including an error. The code information may be specified by using a dedicated calculation means provided separately from the measurement processing unit 173.

以上説明したように、本実施形態に係る携帯電話機テスタは、直交変調信号と参照信号との位相差を変調精度として検出する位相差算出手段と、位相差の急激な変動を復調誤りとして検出する復調誤り検出手段と、を含み、復調誤り検出時には変調精度を示す位相差を測定値から除外している。これにより、本実施形態に係る携帯電話機テスタは、その測定値の確度を確保しつつ、復調に係る処理を高度化させることなく広動作範囲で「変調精度」を測定できる。なお、本実施形態ではＧＳＭ方式の携帯電話機テスタについて説明したが、上記の例示は一実施形態にすぎず、本発明が、他の直交変調方式の携帯電話機テスタに適用できることは言うまでもない。   As described above, the mobile phone tester according to the present embodiment detects the phase difference between the quadrature modulation signal and the reference signal as the modulation accuracy, and detects a sudden variation in the phase difference as a demodulation error. A phase difference indicating modulation accuracy is excluded from the measured value when a demodulation error is detected. Thereby, the mobile phone tester according to the present embodiment can measure the “modulation accuracy” in a wide operation range without securing the accuracy of the measurement value and enhancing the processing related to demodulation. In this embodiment, the GSM mobile phone tester has been described. However, the above example is merely an embodiment, and it goes without saying that the present invention can be applied to other orthogonal modulation mobile phone testers.

本発明の実施形態に係る携帯電話機テスタと被測定対象たる携帯電話機の構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the structure of the mobile telephone tester which concerns on embodiment of this invention, and the mobile telephone which is a to-be-measured object.

符号の説明Explanation of symbols

１ 携帯電話機テスタ、３ 携帯電話機、１１ 無線回路、１３ 処理演算回路、１９ 表示ユニット、１３０，１４０，１５０，１６０ 回路。   1 mobile phone tester, 3 mobile phone, 11 wireless circuit, 13 processing arithmetic circuit, 19 display unit, 130, 140, 150, 160 circuit.

Claims (2)

被測定対象である携帯電話機から送信される直交変調信号を復調することにより復調データを生成する復調手段と、
前記復調データを波形整形後に直交変調した信号である参照信号を生成する参照信号生成手段と、
を備え、
前記直交変調信号と参照信号とに基づいて前記直交変調信号の変調精度を測定する携帯電話機テスタであって、
前記直交変調信号と前記参照信号との位相差を変調精度として検出する位相差算出手段と、
前記位相差の急激な変動を復調誤りとして検出する復調誤り検出手段と、
を含み、
復調誤り検出時には変調精度を示す位相差を測定値から除外することを特徴とする携帯電話機テスタ。 Demodulating means for generating demodulated data by demodulating an orthogonal modulation signal transmitted from a mobile phone to be measured;
A reference signal generating means for generating a reference signal which is a signal obtained by orthogonally modulating the demodulated data after waveform shaping;
With
A mobile phone tester for measuring modulation accuracy of the quadrature modulation signal based on the quadrature modulation signal and a reference signal,
A phase difference calculating means for detecting a phase difference between the quadrature modulation signal and the reference signal as modulation accuracy;
Demodulation error detection means for detecting a sudden fluctuation of the phase difference as a demodulation error;
Including
A cellular phone tester characterized in that a phase difference indicating modulation accuracy is excluded from a measured value when a demodulation error is detected. 請求項１に記載の携帯電話機テスタであって、
前記復調誤り検出手段は、
前記位相差を最小二乗演算することにより回帰直線を算出する回帰直線算出手段と、
前記位相差の回帰直線に対する残差二乗和を算出する残差二乗和算出手段と、
前記残差二乗和が所定のしきい値を超えたときに復調誤りと判定するしきい値判定手段と、
を含むことを特徴とする携帯電話機テスタ。
The mobile phone tester according to claim 1,
The demodulation error detection means includes
A regression line calculating means for calculating a regression line by calculating the least squares of the phase difference;
A residual sum of squares calculation means for calculating a residual sum of squares for the regression line of the phase difference;
Threshold determination means for determining a demodulation error when the residual sum of squares exceeds a predetermined threshold;
A mobile phone tester comprising:
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6319084A (en) * 1986-07-11 1988-01-26 Konica Corp Printing quality evaluating method
JP2000196686A (en) * 1998-12-24 2000-07-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Modulation accuracy measuring method and measuring instrument
JP2001074649A (en) * 1999-06-29 2001-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for measuring angle of optical rotation, and method for inspecting urine
JP2004096263A (en) * 2002-08-30 2004-03-25 Anritsu Corp Modulation signal analysis apparatus and reception module evaluation system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6319084A (en) * 1986-07-11 1988-01-26 Konica Corp Printing quality evaluating method
JP2000196686A (en) * 1998-12-24 2000-07-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Modulation accuracy measuring method and measuring instrument
JP2001074649A (en) * 1999-06-29 2001-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for measuring angle of optical rotation, and method for inspecting urine
JP2004096263A (en) * 2002-08-30 2004-03-25 Anritsu Corp Modulation signal analysis apparatus and reception module evaluation system

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