JP2007192673A - Sample plate - Google Patents

Sample plate Download PDF

Info

Publication number
JP2007192673A
JP2007192673A JP2006011248A JP2006011248A JP2007192673A JP 2007192673 A JP2007192673 A JP 2007192673A JP 2006011248 A JP2006011248 A JP 2006011248A JP 2006011248 A JP2006011248 A JP 2006011248A JP 2007192673 A JP2007192673 A JP 2007192673A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
plate
sample plate
functional
anodizing treatment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006011248A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Noriaki Kanamaru
訓明 金丸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2006011248A priority Critical patent/JP2007192673A/en
Publication of JP2007192673A publication Critical patent/JP2007192673A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0409Sample holders or containers
    • H01J49/0418Sample holders or containers for laser desorption, e.g. matrix-assisted laser desorption/ionisation [MALDI] plates or surface enhanced laser desorption/ionisation [SELDI] plates

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sample plate being a functional sample plate which has a sample fixed to its surface and ionizes the sample by applying energy to the sample, simplified in manufacturing process and flexibly altered in its constitution. <P>SOLUTION: The sample plate 1 is constituted by joining a functional plate 2 having a porous layer 4 formed to the whole surface of its one side by anodizing treatment and a mask plate 3 wherein a plurality of opening parts 31 are formed to a metal sheet. Conventionally, processes for resist coating→exposure→the etching of the opening parts→anodizing treatment→the removal of a resist are required in order to form the spot like well for fixing the sample but, since one anodizing treatment process to the whole surface may be performed, this sample plate is advantageous from an aspect of a manufacturing process, a working time, and a process cost. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、被分析試料(サンプル)を保持するためのサンプルプレートに関し、特に、保持された試料にエネルギーを与えることによりこれをイオン化して雰囲気中に放出するものとして用いられ、質量分析装置、特にシリコン上脱離イオン化法(DIOS:Desorption/Ionization on (porous)Silicon)や表面支援レーザ脱離イオン化法(SALDI:Surface Assisted Laser Desorption/Ionization)に用いられるサンプルプレートとして好適に利用される。   The present invention relates to a sample plate for holding a sample to be analyzed (sample). In particular, the present invention is used as a sample plate that is ionized and released into an atmosphere by applying energy to the held sample. In particular, it is suitably used as a sample plate used for desorption / ionization on silicon (DIOS) or surface-assisted laser desorption / ionization (SALDI).

臨床、生化学などの分野において、タンパク質などの試料に対して定性あるいは定量分析を行うために、質量分析装置が多用されている。これは、試料にエネルギーを与えることによって生ずるイオンの質量(m)と電荷数(z)を利用して物理的なフィルタリングを行って得た質量スペクトルから分析を行うもので、例えば、生成イオンがイオン発生部から検出器に到達するまでの時間を利用して定性・定量分析を行う飛行時間型質量分析装置(TOFMS:Time of Flight Mass Spectrometry)等が知られている。   In the fields of clinical and biochemistry, mass spectrometers are frequently used to perform qualitative or quantitative analysis on samples such as proteins. In this method, analysis is performed from a mass spectrum obtained by performing physical filtering using the mass (m) and the number of charges (z) of ions generated by applying energy to a sample. A time-of-flight mass spectrometer (TOFMS) that performs qualitative / quantitative analysis using the time from the ion generator to the detector is known.

図1に飛行時間型質量分析装置の一般的な構成例を示す。
装置は、大別してイオン発生部5とドリフト部6とから構成されており、これらの部屋は10-4〜10-5Pa程度の真空度に保たれている。分析されるサンプルは、サンプルプレート2上に保持されており、これに光源8からレーザ光等のエネルギービームを照射するなどの適当な方法でエネルギーを与えると、サンプルはイオン化すると同時にアブレーション現象により気相中に放出される。サンプルプレート2とリペラー電極9間に適当な電圧を印加すると、生成した様々な質量数を有するイオンは、同一のエネルギーを与えられた上でドリフト部6内に引き出される。このとき、サンプルプレート2とリペラー電極9との間の電位差をEとすると、電荷qに与えるエネルギーはqEであるから、これが全て運動エネルギーに変換されると次式の関係が成り立つ。
FIG. 1 shows a general configuration example of a time-of-flight mass spectrometer.
The apparatus is roughly composed of an ion generation part 5 and a drift part 6, and these rooms are kept at a vacuum degree of about 10 −4 to 10 −5 Pa. The sample to be analyzed is held on the sample plate 2. When energy is applied to the sample plate 2 by an appropriate method such as irradiating an energy beam such as a laser beam from the light source 8, the sample is ionized and gasified due to the ablation phenomenon. Released into the phase. When an appropriate voltage is applied between the sample plate 2 and the repeller electrode 9, the generated ions having various mass numbers are drawn into the drift portion 6 after being given the same energy. At this time, if the potential difference between the sample plate 2 and the repeller electrode 9 is E, the energy given to the charge q is qE. Therefore, when all of this is converted into kinetic energy, the following relationship is established.

qE=1/2・m・v2 ・・・式(1) qE = 1/2 · m · v 2 Formula (1)

従って、図2に示すように、分子量mの小さいイオンほど速度vは高速になるので、mの大きいイオンより短時間で検出器10に到達することになる。飛行時間型質量分析装置ではこの到達時間差を利用して、サンプルの定性・定量分析を行う。   Therefore, as shown in FIG. 2, the ion having a smaller molecular weight m has a higher velocity v, so that it reaches the detector 10 in a shorter time than an ion having a larger m. The time-of-flight mass spectrometer uses this arrival time difference to perform qualitative and quantitative analysis of the sample.

こうした分析手法において、特にタンパク質などの生体物質やポリマーのような分子量が大きいサンプルを分析する場合などにおいては、サンプルをマトリックスと称する有機化合物と混合した上でサンプルプレート上に保持させ、これにエネルギービームを照射することにより試料を脱離およびイオン化して質量分析を行うMALDI(Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization)法が一般に知られている。   In such an analysis method, particularly when analyzing a biological material such as a protein or a sample having a large molecular weight such as a polymer, the sample is mixed with an organic compound called a matrix and held on a sample plate, and energy is stored in the sample plate. A MALDI (Matrix Assisted Laser Desorption / Ionization) method in which mass analysis is performed by desorbing and ionizing a sample by irradiating a beam is generally known.

一方で、サンプルをマトリックス添加することなくイオン化する手法も考案され、実用化されつつある。その代表的なものにDIOS法(Desorption/Ionization on (porous)Silicon:特許文献1)がある。このイオン化法では、サンプルのイオン化能をサンプルプレート自体に付加する手法であって、Si基板表面にスポット状にアノーダイジング処理(Anodizing Treatment:電気化学的陽極酸化法の一種)を行うことにより、サブミクロンオーダーの多孔質部をウェルとして形成したものをサンプルプレートとして用いる。また、DIOSの名前の由来はSiを基材とすることにあるが、Si以外の材質を基材とするSALDI法でも同様の効果が得られることが報告されている(非特許文献1、2)。   On the other hand, a method for ionizing a sample without adding a matrix has been devised and put into practical use. A typical example is the DIOS method (Desorption / Ionization on (porous) Silicon: Patent Document 1). In this ionization method, the ionization ability of the sample is added to the sample plate itself, and by performing anodizing treatment (anodizing treatment: a kind of electrochemical anodizing method) on the surface of the Si substrate, A submicron-order porous part formed as a well is used as a sample plate. Moreover, although the name of DIOS is derived from Si as a base material, it has been reported that the same effect can be obtained even by the SALDI method using a material other than Si as a base material (Non-Patent Documents 1 and 2). ).

これらの手法において、サンプルは多孔質部に滴下・乾固されて保持され、レーザ照射等によってイオン化されるが、マトリクスを使用するMALDIに比べ、DIOSやSALDIでは滴下・乾固されたサンプルが見えにくく、レーザ照射時にサンプル位置の判定が困難であるという不都合がある。そこで、サンプルの滴下位置を明確にするために、多孔質部は、図3に示すように、Si基板21表面の部分的なスポットであるウェル22として形成される。図3左図はウェル1個分の拡大断面図である。この様なプレートを用いて、適当な分散剤に分散させたサンプルをウェル22に滴下・乾固させた後、ウェル22をターゲットエリアとしてレーザ照射を行うことによりサンプルをイオン化している(非特許文献4)。   In these methods, the sample is dropped and dried in the porous part and held, and is ionized by laser irradiation, etc., but compared with MALDI using a matrix, the dropped and dried sample can be seen with DIOS and SALDI. This is disadvantageous in that it is difficult to determine the sample position during laser irradiation. Therefore, in order to clarify the dropping position of the sample, the porous portion is formed as a well 22 that is a partial spot on the surface of the Si substrate 21, as shown in FIG. The left figure of FIG. 3 is an enlarged sectional view of one well. Using such a plate, a sample dispersed in an appropriate dispersant is dropped onto the well 22 and dried, and then the sample is ionized by performing laser irradiation using the well 22 as a target area (non-patent document). Reference 4).

米国特許第6,288,390号公報US Pat. No. 6,288,390

特開2004−361405号公報JP 2004-361405 A

特開2004−163142号公報JP 2004-163142 A

Bull.Koream Chem.Soc.2002,Vol.23,No.2 315-319(参照:http://66.102.7.104/search?q=cache:mu-nxZU1HioJ:newjournal.kcsnet.or.kr/main/j_search/j_download.htm%3Fcode%3DB020226+%EF%BC%B3%EF%BC%A1%EF%BC%AC%EF%BC%A4%EF%BC%A9%E3%80%80mass&hl=ja)Bull.Koream Chem.Soc.2002, Vol.23, No.2 315-319 (Reference: http://66.102.7.104/search?q=cache:mu-nxZU1HioJ:newjournal.kcsnet.or.kr/main/ j_search / j_download.htm% 3Fcode% 3DB020226 +% EF% BC% B3% EF% BC% A1% EF% BC% AC% EF% BC% A4% EF% BC% A9% E3% 80% 80mass & hl = en) http://www.mssj.jp/Japanese/Conference/2005/program_2005_C1_SY.html(1A-S1-02)http://www.mssj.jp/Japanese/Conference/2005/program_2005_C1_SY.html (1A-S1-02) Mei Han, Jan Sunner, J.Am.Soc.Mass Spectrom.2000,11,644-649Mei Han, Jan Sunner, J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2000, 11, 644-649 http://www.waters.co.jp/product/column/massprep/dios_target.htmlhttp://www.waters.co.jp/product/column/massprep/dios_target.html

しかしながら、上述したように、サンプルプレート上にウェル22を形成するには、プレート形成の際、まず基材にマスキングを施し、次にアノーダイジング処理を行ない、その後マスクを除去する必要があり、プレートの作製工程が複雑であるという欠点があった。   However, as described above, in order to form the well 22 on the sample plate, it is necessary to first mask the substrate, then perform anodizing, and then remove the mask when forming the plate. There was a drawback that the plate manufacturing process was complicated.

一方で、マスキングを施さず、基材の全面をアノーダイジング処理したものにスポット状にサンプルを滴下し乾固させる手法も考案されてはいるが(特許文献2)、プレートの作製工程は極端に単純化されるものの、そのままではサンプルが拡散してしまうため、ペースト状に調整するか(段落番号0029)、あるいは隣接するサンプルとの混入を防ぐために十分な間隔でサンプルを滴下する必要が出てくる。滴下間隔を広げればプレートの大型化を招き、また間隔を近くするならば、MALDIにおいて考案されているように(特許文献3、図1)、溝50を形成するなど別途の製作工程を追加することによって、隣接するサンプル間の混入を防止しなければならない。   On the other hand, although a method of dropping a sample in a spot shape on an anodized whole surface of a base material without applying masking and drying it has been devised (Patent Document 2), the plate manufacturing process is extreme. However, since the sample diffuses as it is, it is necessary to adjust it to a paste (paragraph number 0029) or to drop the sample at a sufficient interval to prevent mixing with the adjacent sample. Come. If the drop interval is widened, the size of the plate is increased. If the drop interval is reduced, a separate manufacturing process such as forming a groove 50 is added as devised in MALDI (Patent Document 3, FIG. 1). Thus, contamination between adjacent samples must be prevented.

さらに、臨床等の分野で多用されるこの種の分析装置においては、一般に数μ〜ml程度の微量な試料を多数分析するケースが多いので、1枚のサンプルプレート上に多数の試料を保持させたいという要求がある。そのため、サンプルプレート上には、できるだけ多数の試料を保持させるスポットを設けると共に、どの位置にどの試料があるかを容易に把握できる必要がある。あるいは、サンプルプレート上の任意の座標のスポットを自動化装置によってレーザ照射位置まで移動させる機能を有する自動分析化が望まれており、そのためにも、サンプルプレート上のターゲットスポットが常に規則性を持って形成されていることが必要である。また一般にDIOSやSALDIでは滴下・乾固されたサンプルが見えにくく、レーザ照射時にサンプル位置の判定が困難であるため、サンプルの滴下位置を明確にするためにもウェル22を形成することが望まれている。   Furthermore, in this type of analyzer, which is frequently used in clinical fields, generally, there are many cases of analyzing a small amount of samples of about several μ to ml, so that a large number of samples are held on one sample plate. There is a demand for it. Therefore, it is necessary to provide a spot for holding as many samples as possible on the sample plate and to easily grasp which sample is located at which position. Alternatively, automatic analysis having a function of moving a spot at an arbitrary coordinate on the sample plate to a laser irradiation position by an automatic device is desired. For this reason, the target spot on the sample plate always has regularity. It must be formed. In general, with DIOS or SALDI, it is difficult to see the dropped and dried sample, and it is difficult to determine the sample position during laser irradiation. Therefore, it is desirable to form the well 22 in order to clarify the dropping position of the sample. ing.

本発明はこうした技術的課題や要求仕様を鑑みて為されたものであり、プレート全体を大型化させることなく、多数の試料を近接保持することが可能で、しかも製作が容易なサンプルプレートを提供するものである。
The present invention has been made in view of such technical problems and required specifications, and provides a sample plate that can hold a large number of specimens in close proximity without enlarging the entire plate and is easy to manufacture. To do.

上記の目的を達成するため、本発明に係るサンプルプレートは、表面に固着されるサンプルにエネルギーを与えることによりイオン化させる機能性プレートと、該基板上に固定されサンプルを固着するための開口部を有するマスクプレート、を備えてなる。   In order to achieve the above object, a sample plate according to the present invention includes a functional plate that is ionized by applying energy to a sample fixed to a surface, and an opening for fixing the sample fixed on the substrate. Having a mask plate.

また、本発明に係る質量分析装置は、イオン化部のサンプルプレートとして前記サンプルプレートを備えてなる。   Moreover, the mass spectrometer which concerns on this invention is equipped with the said sample plate as a sample plate of an ionization part.

上記構成によれば、機能性プレート上のサンプルが滴下されるべきスポット(ウェル)は、機能性プレートに重ねられるマスクプレートの開口部によって形成されるため、機能性プレートの作製の際にはマスキング等の複数工程を経ることなく、少なくとも開口部配置部の下全面に対してアノーダイジング処理などの機能性付加処理を行なうだけで良く、プレートの製作工程や製作時間を大幅に低減することができる。また、マスクプレートを機能性プレートと着脱可能に構成することにより、常に開口部は一定のものとすることができ、サンプルの滴下やイオン化などの手順において質量分析装置の自動化が容易となる。
According to the above configuration, the spot (well) on which the sample on the functional plate is to be dropped is formed by the opening of the mask plate superimposed on the functional plate. It is only necessary to perform an additional process such as anodizing process on the entire lower surface of the opening arrangement part without going through multiple processes such as, and this can greatly reduce the plate manufacturing process and manufacturing time. it can. Further, by configuring the mask plate so as to be detachable from the functional plate, the opening can be made constant at all times, and the mass spectrometer can be easily automated in procedures such as sample dripping and ionization.

以下、図を参照して本発明の実施形態について説明する。本発明に係るサンプルプレートが適用される質量分析装置は、全体構成において従前のものと相違ない。例えば、図1に一例を示す飛行時間型質量分析装置は、大別してイオン発生部5とドリフト部6とから構成されており、これらの部屋は10-4〜10-5Pa程度の真空度に保たれている。被分析物であるタンパク質などのサンプルはサンプルプレート2上に保持されており、これに光源8から赤外線レーザ光等のエネルギービームを照射するなどの適当な方法でエネルギーを与えると、サンプルはイオン化すると同時に気相中に放出される。サンプルプレート2とリペラー電極9間に適当な電圧を印加すると、生成した様々な質量数を有するイオンは、同一のエネルギーを与えられた上でドリフト部6内に引き出される。このとき、サンプルプレート2とリペラー電極9との間の電位差をEとすると、電荷qに与えるエネルギーはqEであるから、これが全て運動エネルギーに変換されると前述した式(1)の関係が成り立つ。従って、分子量mの小さいイオンほど速度vは高速になるので、mの小さいイオンほど短時間で検出器10に到達することになる。飛行時間型質量分析装置ではこの到達時間差を利用して、サンプルの定性・定量分析を行う。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The mass spectrometer to which the sample plate according to the present invention is applied is not different from the conventional one in the overall configuration. For example, the time-of-flight mass spectrometer shown in FIG. 1 is roughly composed of an ion generation unit 5 and a drift unit 6, and these rooms have a vacuum degree of about 10 −4 to 10 −5 Pa. It is kept. A sample such as protein, which is an analyte, is held on the sample plate 2, and when energy is applied to the sample plate 2 by an appropriate method such as irradiation with an energy beam such as infrared laser light, the sample is ionized. At the same time, it is released into the gas phase. When an appropriate voltage is applied between the sample plate 2 and the repeller electrode 9, the generated ions having various mass numbers are drawn into the drift portion 6 after being given the same energy. At this time, if the potential difference between the sample plate 2 and the repeller electrode 9 is E, the energy given to the electric charge q is qE. Therefore, when all of this is converted into kinetic energy, the relationship of the above-described equation (1) is established. . Accordingly, the ion having a smaller molecular weight m has a higher velocity v, so that an ion having a smaller m reaches the detector 10 in a shorter time. The time-of-flight mass spectrometer uses this arrival time difference to perform qualitative and quantitative analysis of the sample.

ここでは、飛行時間型質量分析装置を例に説明しているが、イオントラップ型質量分析装置などの時間分離型のものであっても勿論構わない。また、顕微分析装置など質量分析以外の顕微観察などの機能を主目的とする複合機であっても構わない。サンプルプレートを利用する公知の技術への適用が可能である。
Here, a time-of-flight mass spectrometer is described as an example, but a time-separated type such as an ion trap mass spectrometer may of course be used. Further, it may be a multi-function machine whose main purpose is a function such as microscopic observation other than mass spectrometry, such as a microscopic analyzer. Application to a known technique using a sample plate is possible.

本発明では、このような質量分析装置において用いられるサンプルプレートの構成に以下の特徴を有する。DIOS用サンプルプレートを例に説明するが、SALDIなどその他の種類の機能性サンプルプレートにも適用できることは言うまでもない。   In the present invention, the configuration of the sample plate used in such a mass spectrometer has the following characteristics. Although a sample plate for DIOS will be described as an example, it goes without saying that it can be applied to other types of functional sample plates such as SALDI.

図6は、本発明に係るサンプルプレートの一構成例であって、サンプルのイオン化能を有するDIOS用サンプルプレートである。図4に示すように、Si基板の表面全体に対してアノーダイジング処理を施し、基板の片側全面に多孔質層4を形成して機能性プレート2とする。従前の図3の様なウェルを形成する場合には、レジスト塗布→露光→開口部エッチング→アノーダイジング処理→レジスト除去などの工程が必要であったが、本発明では全面へのアノーダイジング処理1工程だけで済むため、作製工程や作業時間、製造コストの面で有利である。   FIG. 6 is a structural example of a sample plate according to the present invention, which is a sample plate for DIOS having a sample ionization ability. As shown in FIG. 4, the entire surface of the Si substrate is subjected to anodizing treatment to form a porous layer 4 on the entire surface of one side of the substrate to form a functional plate 2. In the case of forming the well as shown in FIG. 3, the steps of resist coating → exposure → opening etching → anodizing process → resist removal are necessary. In the present invention, anodicizing to the entire surface is performed. Since only one processing step is required, it is advantageous in terms of manufacturing steps, work time, and manufacturing costs.

次に、本発明に係るマスクプレートを図5に示す。マスクプレート3は、金属などの薄板(例えば厚さ0.1mmのアルミニウム薄板)に対して開口部31を複数形成したものである。薄板の材質には、真空中で使用される場合にアウトガスの少ない金属が好適であるが、分析に支障がなければ、セラミックスや高分子材料などでも特にこだわらない。開口部31の形成は、パンチングや研削など、公知の加工手段が利用できる。開口部31の配列は、適用される質量分析装置のサンプルの自動位置決め座標に準じたものであることが望ましいが、形状や寸法は任意に選択が可能である。   Next, a mask plate according to the present invention is shown in FIG. The mask plate 3 has a plurality of openings 31 formed on a thin plate such as metal (for example, an aluminum thin plate having a thickness of 0.1 mm). The material of the thin plate is preferably a metal with little outgas when used in a vacuum, but is not particularly particular to ceramics or polymer materials as long as there is no problem in analysis. The opening 31 can be formed using a known processing means such as punching or grinding. The arrangement of the openings 31 is preferably in accordance with the automatic positioning coordinates of the sample of the mass spectrometer to be applied, but the shape and dimensions can be arbitrarily selected.

これら図4に示す機能性プレート2と、図5に示すマスクプレート3とを重ね合わせて、図6に示す本発明に係るサンプルプレート1とする。重ね合わせの際には、両方のプレートを完全に接合してしまっても良いし、密着性良く重ね合わせておくだけでも良い。重ね合わせの際には、開口部に滴下されるサンプルが、隣接する開口部へ漏洩しないよう液密であることが要求される。   The functional plate 2 shown in FIG. 4 and the mask plate 3 shown in FIG. 5 are overlapped to form the sample plate 1 according to the present invention shown in FIG. At the time of superposition, both plates may be completely joined, or they may be simply superposed with good adhesion. At the time of superposition, it is required that the sample dropped into the opening is liquid-tight so as not to leak into the adjacent opening.

接合する場合には、機能性プレートとマスクプレート各々の材質によって公知の接合方法が採用できる。例えば、金属同士であれば、溶接、ロウ付け、金属ペースト、接着剤、粘着テープ、などが利用できる。また、双方あるいは一方のプレートが、非金属材料であるならば、金属ペースト、接着剤、粘着テープ、などが利用できる。   When joining, a well-known joining method can be employ | adopted with the material of each of a functional plate and a mask plate. For example, in the case of metals, welding, brazing, metal paste, adhesive, adhesive tape, etc. can be used. If both or one of the plates is a non-metallic material, a metal paste, an adhesive, an adhesive tape, etc. can be used.

密着性良く重ね合わせておく機械的コンタクトの手法を採用した一例を図7に示す。機能性プレート2に対し、これよりも幅の広いマスクプレート3を作製し、マスクプレート3の両端を折り曲げて双方を接触させたものである。あるいは、図6のように同じ大きさの両プレート2、3を重ねた後に、プレートの周囲を枠体等の固定具で圧接固定させることでも良い。機械的コンタクトの手法を採用した場合には、測定後にサンプルプレートを分解し、マスクプレートを再利用することができるという利点もある。   FIG. 7 shows an example in which a mechanical contact method in which the layers are stacked with good adhesion is adopted. A mask plate 3 having a width wider than that of the functional plate 2 is produced, and both ends of the mask plate 3 are bent and brought into contact with each other. Alternatively, after the plates 2 and 3 having the same size are overlapped as shown in FIG. 6, the periphery of the plates may be press-fixed with a fixture such as a frame. When the mechanical contact method is adopted, there is also an advantage that the sample plate can be disassembled after measurement and the mask plate can be reused.

上述した実施例構成に限らず、同効果を奏する範囲で構成を変形実施することが可能である。例えば、機能性プレート2で上部などに余白を残して多孔質層4を形成し、多孔質層4の形成範囲に重なるようにマスクプレート3を重ねても良い。   The configuration is not limited to the above-described embodiment, and the configuration can be modified within a range where the same effect can be achieved. For example, the porous layer 4 may be formed on the functional plate 2 leaving a blank in the upper portion or the like, and the mask plate 3 may be stacked so as to overlap the formation range of the porous layer 4.

このように、本発明に係るサンプルプレートでは、機能性プレートの種類を変更したり、マスクプレートの大きさや材質、開口部の大きさや形状や個数などの異なるものなど、重ね合わせる各々のプレートの仕様を任意に選択することにより、多種多様なサンプルプレートの作製が容易である。また、適用機器への柔軟性も良好である。   As described above, in the sample plate according to the present invention, the type of the functional plate is changed, the size and material of the mask plate, the size, shape, and number of the opening portions are different, and the specifications of the respective plates to be overlaid. By selecting arbitrarily, it is easy to produce a wide variety of sample plates. Moreover, the flexibility to the applied equipment is also good.

(試作例)
機能性プレートとして、43×23×0.5mmのSi基板の片側全面にアノーダイジング処理を施したものを作製した。また、43×23×0.1mmのAl薄板に直径2mmの開口部を4×8個形成したものをマスクプレートとして作製した。これらを電子顕微鏡用の導電性カーボン両面テープで貼り合わせてサンプルプレートとし、測定を行なったところ、良好な結果を得る事ができた。
(Prototype example)
As the functional plate, a 43 × 23 × 0.5 mm Si substrate with anodizing treatment on the entire surface of one side was prepared. Further, a mask plate in which 4 × 8 openings having a diameter of 2 mm were formed on an Al thin plate having 43 × 23 × 0.1 mm was prepared. When these were bonded to each other with a conductive carbon double-sided tape for an electron microscope to form a sample plate and measured, good results could be obtained.

本発明に係るサンプルプレートは、質量分析装置用、特にDIOSやSALDI用サンプルプレートとして好適に使用されるが、その他、マトリクスフリーのイオン化プレートを利用したイオン化法にも適用可能である。
The sample plate according to the present invention is preferably used as a sample plate for a mass spectrometer, particularly for DIOS or SALDI, but can also be applied to an ionization method using a matrix-free ionization plate.

飛行時間型質量分析装置の一般的な構成例を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the general structural example of a time-of-flight mass spectrometer. 飛行時間型質量分析装置の分析原理を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the analysis principle of a time-of-flight mass spectrometer. 従来のサンプルプレートの説明図である。It is explanatory drawing of the conventional sample plate. 本発明に係るサンプルプレートの機能性プレートの作製例を示す図である。It is a figure which shows the example of preparation of the functional plate of the sample plate which concerns on this invention. 本発明に係るサンプルプレートのマスクプレートの作製例を示す図である。It is a figure which shows the example of preparation of the mask plate of the sample plate which concerns on this invention. 本発明に係るサンプルプレートの作製例を示す図である。It is a figure which shows the example of preparation of the sample plate which concerns on this invention. 本発明に係るサンプルプレートの他の作製例を示す図である。It is a figure which shows the other example of preparation of the sample plate which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・サンプルプレート
2・・・機能性プレート(従来のサンプルプレート)
3・・・マスクプレート
4・・・多孔質層
5・・・イオン発生部
6・・・ドリフト部
8・・・レーザ光源
9・・・リペラー電極
10・・・検出器
1 ... sample plate 2 ... functional plate (conventional sample plate)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 3 ... Mask plate 4 ... Porous layer 5 ... Ion generation part 6 ... Drift part 8 ... Laser light source 9 ... Repeller electrode 10 ... Detector

Claims (3)

表面に固着されるサンプルにエネルギーを与えることによりイオン化させる機能を有する機能性プレートと、
サンプルを固着させるための複数の開口部を有するマスクプレートとを、
液密に重ね合わされてなるサンプルプレート。
A functional plate having a function of ionizing by applying energy to the sample fixed to the surface;
A mask plate having a plurality of openings for fixing the sample;
Sample plate that is liquid-tightly stacked.
DIOS又はSALDIの機能を有する請求項1記載のサンプルプレート。
The sample plate according to claim 1, which has a function of DIOS or SALDI.
サンプルプレートとして請求項1記載のサンプルプレートを備えてなる質量分析装置。

A mass spectrometer comprising the sample plate according to claim 1 as a sample plate.

JP2006011248A 2006-01-19 2006-01-19 Sample plate Pending JP2007192673A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006011248A JP2007192673A (en) 2006-01-19 2006-01-19 Sample plate

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006011248A JP2007192673A (en) 2006-01-19 2006-01-19 Sample plate

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007192673A true JP2007192673A (en) 2007-08-02

Family

ID=38448493

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006011248A Pending JP2007192673A (en) 2006-01-19 2006-01-19 Sample plate

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007192673A (en)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009081055A (en) * 2007-09-26 2009-04-16 Tokyo Metropolitan Univ Mass spectrometry using ionization by surface plasmon
JP2014021048A (en) * 2012-07-23 2014-02-03 Jeol Ltd Sample plate and mass spectroscope
JP2014512538A (en) * 2011-04-19 2014-05-22 ポーレックス コーポレイション Card for sample storage and delivery containing sintered porous plastic
JP2017117719A (en) * 2015-12-25 2017-06-29 国立大学法人秋田大学 Specimen holder and fixture of them
US10103016B2 (en) 2015-09-03 2018-10-16 Hamamatsu Photonics K.K. Sample supporting body and method of manufacturing sample supporting body
US10224195B2 (en) 2015-09-03 2019-03-05 Hamamatsu Photonics K.K. Surface-assisted laser desorption/ionization method, mass spectrometry method and mass spectrometry device
WO2019058783A1 (en) * 2017-09-21 2019-03-28 浜松ホトニクス株式会社 Sample support body
WO2019058786A1 (en) * 2017-09-21 2019-03-28 浜松ホトニクス株式会社 Sample support body
JP2019194604A (en) * 2017-09-21 2019-11-07 浜松ホトニクス株式会社 Sample support
JP2021163605A (en) * 2020-03-31 2021-10-11 浜松ホトニクス株式会社 Sample support
WO2023119738A1 (en) * 2021-12-22 2023-06-29 浜松ホトニクス株式会社 Sample support unit, and sample ionization method

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004354376A (en) * 2003-05-13 2004-12-16 Becton Dickinson & Co Method and apparatus for treating biological or chemical sample
JP2005091007A (en) * 2003-09-12 2005-04-07 Hitachi Sci Syst Ltd Plate column device for pin spot
JP2006525525A (en) * 2003-04-30 2006-11-09 パーキンエルマー・エルエーエス・インコーポレーテッド Sample plate for matrix-assisted laser desorption and ionization mass spectrometry
JP2007508552A (en) * 2003-10-10 2007-04-05 プロテイン・デイスカバリー・インコーポレーテツド Methods and apparatus for analyte concentration and purification for chemical analysis including matrix-assisted laser desorption / ionization (MALDI) mass spectrometry (MS)
JP2007514956A (en) * 2003-12-19 2007-06-07 アプレラ コーポレイション MALDI plate construction with grid

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006525525A (en) * 2003-04-30 2006-11-09 パーキンエルマー・エルエーエス・インコーポレーテッド Sample plate for matrix-assisted laser desorption and ionization mass spectrometry
JP2004354376A (en) * 2003-05-13 2004-12-16 Becton Dickinson & Co Method and apparatus for treating biological or chemical sample
JP2005091007A (en) * 2003-09-12 2005-04-07 Hitachi Sci Syst Ltd Plate column device for pin spot
JP2007508552A (en) * 2003-10-10 2007-04-05 プロテイン・デイスカバリー・インコーポレーテツド Methods and apparatus for analyte concentration and purification for chemical analysis including matrix-assisted laser desorption / ionization (MALDI) mass spectrometry (MS)
JP2007514956A (en) * 2003-12-19 2007-06-07 アプレラ コーポレイション MALDI plate construction with grid

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009081055A (en) * 2007-09-26 2009-04-16 Tokyo Metropolitan Univ Mass spectrometry using ionization by surface plasmon
JP2014512538A (en) * 2011-04-19 2014-05-22 ポーレックス コーポレイション Card for sample storage and delivery containing sintered porous plastic
US9101311B2 (en) 2011-04-19 2015-08-11 Porex Corporation Cards for sample storage and delivery comprising sintered porous plastic
US9198609B2 (en) 2011-04-19 2015-12-01 Porex Corporation Cards for sample storage and delivery comprising sintered porous plastic
JP2014021048A (en) * 2012-07-23 2014-02-03 Jeol Ltd Sample plate and mass spectroscope
US10679835B2 (en) 2015-09-03 2020-06-09 Hamamatsu Photonics K.K. Surface-assisted laser desorption/ionization method, mass spectrometry method and mass spectrometry device
US11170985B2 (en) 2015-09-03 2021-11-09 Hamamatsu Photonics K.K. Surface-assisted laser desorption/ionization method, mass spectrometry method and mass spectrometry device
US10224195B2 (en) 2015-09-03 2019-03-05 Hamamatsu Photonics K.K. Surface-assisted laser desorption/ionization method, mass spectrometry method and mass spectrometry device
US11961728B2 (en) 2015-09-03 2024-04-16 Hamamatsu Photonics K.K. Surface-assisted laser desorption/ionization method, mass spectrometry method and mass spectrometry device
JP7330342B2 (en) 2015-09-03 2023-08-21 浜松ホトニクス株式会社 sample support
US11646187B2 (en) 2015-09-03 2023-05-09 Hamamatsu Photonics K.K. Surface-assisted laser desorption/ionization method, mass spectrometry method and mass spectrometry device
JP2022189884A (en) * 2015-09-03 2022-12-22 浜松ホトニクス株式会社 sample support
US10103016B2 (en) 2015-09-03 2018-10-16 Hamamatsu Photonics K.K. Sample supporting body and method of manufacturing sample supporting body
JP2017117719A (en) * 2015-12-25 2017-06-29 国立大学法人秋田大学 Specimen holder and fixture of them
JP7026121B2 (en) 2017-09-21 2022-02-25 浜松ホトニクス株式会社 Sample support
JPWO2019058783A1 (en) * 2017-09-21 2020-09-03 浜松ホトニクス株式会社 Sample support
US11355333B2 (en) 2017-09-21 2022-06-07 Hamamatsu Photonics K.K. Sample support body
JP2019194604A (en) * 2017-09-21 2019-11-07 浜松ホトニクス株式会社 Sample support
JP6535150B1 (en) * 2017-09-21 2019-06-26 浜松ホトニクス株式会社 Sample support
US11658018B2 (en) 2017-09-21 2023-05-23 Hamamatsu Photonics K.K. Sample support body
US11656198B2 (en) 2017-09-21 2023-05-23 Hamamatsu Photonics K.K. Sample support body
WO2019058786A1 (en) * 2017-09-21 2019-03-28 浜松ホトニクス株式会社 Sample support body
WO2019058783A1 (en) * 2017-09-21 2019-03-28 浜松ホトニクス株式会社 Sample support body
JP2021163605A (en) * 2020-03-31 2021-10-11 浜松ホトニクス株式会社 Sample support
US11947260B2 (en) 2020-03-31 2024-04-02 Hamamatsu Photonics K.K. Sample support
WO2023119738A1 (en) * 2021-12-22 2023-06-29 浜松ホトニクス株式会社 Sample support unit, and sample ionization method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007192673A (en) Sample plate
JP6905623B2 (en) Ionization method and mass spectrometry method
JP3122331U (en) Sample plate and mass spectrometer equipped with the same
US7723678B2 (en) Method and apparatus for surface desorption ionization by charged particles
JP5302899B2 (en) Coaxial hybrid radio frequency ion trap mass spectrometer
JP6591160B2 (en) Sample loading plate
US6617575B1 (en) Modified ion source targets for use in liquid maldi MS
JP6962831B2 (en) Ionization method and sample support
US20150357173A1 (en) Laser ablation atmospheric pressure ionization mass spectrometry
JPWO2019058857A1 (en) Sample support
WO2019058784A1 (en) Laser desorption/ionization method and mass spectrometry method
JPWO2019058783A1 (en) Sample support
JP7007845B2 (en) Laser desorption / ionization method, mass spectrometry method, sample support, and method for manufacturing sample support
JP6899295B2 (en) Laser desorption / ionization method and mass spectrometry method
US20140353485A1 (en) Measurement plate for maldi mass spectrometry
JP7236393B2 (en) Laser desorption ionization method, mass spectrometry method, sample support, and method for manufacturing sample support
JP2009243902A (en) Mass analyzing device, mass analyzer using it ,and mass analyzing method
JP2004361405A (en) Sample holder for laser desorption/ionization mass spectrometry and manufacturing method therefor
JP2018146500A (en) Mass analyzer and method for analyzing mass
JPWO2019058786A1 (en) Sample support
EP3943927A1 (en) Sample support, ionization method, and mass spectrometry method
JP6757693B2 (en) Manufacturing method of sample loading plate
JP6787682B2 (en) Sample loading plate and its manufacturing method
US20240145227A1 (en) Target for use in a laser desorption mass spectrometer
JP7236394B2 (en) Laser desorption ionization method and mass spectrometry method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080324

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100608

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101019