JP2007179679A - Method for starting test mode provided to optical disk device - Google Patents

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Tomoki Watanabe
智己 渡辺
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for starting the test mode provided to an optical disk device simply and at high speed. <P>SOLUTION: When AC power is supplied to a device to start a sub-side microcomputer 22, a voltage from the output terminal T1 of a switch board 1 is converted into a digital value by an A/D conversion means 23. Then, a depressed switch determination means 24 determines a depressed switch by referring to the value of the digital value from the A/D conversion means 23. Subsequently, a test mode starting means 27 reads the test mode corresponding to the determined depressed switch to set it in the optical disk device, and starts the optical disk device in the test mode. A time loss caused by operating a remote controller for starting the test mode is eliminated, and the test mode is started simply and at high speed. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、光ディスク装置の試験を行う場合、光ディスク装置に予め備えられている試験モードを起動させる際の試験モードの起動方法に関する。   The present invention relates to a test mode activation method for activating a test mode preliminarily provided in an optical disk device when a test of the optical disk device is performed.

DVD(Digital Versatile Disc)に記録された情報を再生するDVDプレイヤ、あるいはDVDに情報を記録したりDVDに記録された情報を再生したりするDVDレコーダなどの光ディスク装置には、工場において所定の動作を試験するための試験モードが備えられている。光ディスク装置は、メイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部としてのメイン側マイクロコンピュータと、このメイン側マイクロコンピュータからの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部としてのサブ側マイクロコンピュータと、本体操作パネルの各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えている。メイン側マイクロコンピュータは、デコーダ回路が実装されたメイン基板に実装されている。サブ側マイクロコンピュータは、AV(Audio Visual)回路が実装されたAV基板に実装されている。   A DVD player that reproduces information recorded on a DVD (Digital Versatile Disc) or an optical disk device such as a DVD recorder that records information on a DVD or reproduces information recorded on a DVD has a predetermined operation in a factory. A test mode is provided for testing. The optical disk apparatus includes a main microcomputer as a main processing control unit that performs main data processing and control, and sub processing control that performs sub data processing and control of the apparatus in accordance with instructions from the main microcomputer. And a switch board on which a switch circuit for outputting each voltage corresponding to pressing of each switch on the main body operation panel from the output terminal is mounted. The main-side microcomputer is mounted on a main board on which a decoder circuit is mounted. The sub-side microcomputer is mounted on an AV board on which an AV (Audio Visual) circuit is mounted.

このような構成の光ディスク装置の動作試験を行う場合、光ディスク装置の電源プラグをAC100Vコンセントに差し込み、光ディスク装置に電源を投入し、光ディスク装置のモードを試験モードに設定して、光ディスク装置の動作試験を行う。このような動作試験を行うには、光ディスク装置に予め備えられている試験モードを起動させる必要があるが、従来の試験モード起動方法では、リモコンの試験専用キーを押下するか、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下することにより、試験モードを起動していた。
特開2003−36592号公報
When performing an operation test of the optical disk device having such a configuration, the power plug of the optical disk device is inserted into an AC 100V outlet, the optical disk device is turned on, the mode of the optical disk device is set to the test mode, and the operation test of the optical disk device is performed. I do. In order to perform such an operation test, it is necessary to activate a test mode provided in advance in the optical disc apparatus. However, in the conventional test mode activation method, a test-dedicated key on the remote controller is pressed or a plurality of remote controllers are operated. The test mode was activated by pressing the key in combination.
JP 2003-36592 A

しかしながら、従来の光ディスク装置に備わる試験モード起動方法では、前述したように、リモコンの試験専用キーを押下するか、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下することにより、試験モードを起動していたので、リモコンを操作することによる時間のロスが生じ、このため、工場で多数の光ディスク装置の動作試験を扱う場合などは、試験モードを起動させるのにリモコン操作による時間ロスがネックとなっているという課題があった。   However, in the test mode starting method provided in the conventional optical disc apparatus, as described above, the test mode is started by pressing a test-dedicated key on the remote controller or by pressing a combination of a plurality of keys on the remote controller. Therefore, there is a time loss due to the operation of the remote controller. For this reason, when handling an operation test of a large number of optical disk devices in a factory, the time loss due to the remote control operation is a bottleneck to activate the test mode. There was a problem.

なお、特許文献1の従来技術では、CDが非搭載の状態でイジェクト釦の特別な操作により試験動作状態に移行する条件を認識し、試験動作状態に移行すると、オーディオ信号をバッファ上に生成し、それをヘッドホン端子およびアナログオーディオ出力端子に再生する機能をプログラムとしてROM内に格納し、MPUにその処理を実行させるようにしているが、この従来技術は、CDからのオーディオ信号を再生する光ディスク装置であり、また、ヘッドホン端子およびアナログオーディオ出力端子の動作試験を行うものであり、DVDに記録された情報を再生するDVDプレイヤ、あるいはDVDに情報を記録したりDVDに記録された情報を再生したりするDVDレコーダなどの光ディスク装置の動作試験を行うための試験モードの起動方法に関するものではない。   In the prior art disclosed in Patent Document 1, the condition for shifting to the test operation state is recognized by a special operation of the eject button when the CD is not mounted, and when the state is shifted to the test operation state, an audio signal is generated on the buffer. The function of reproducing it on the headphone terminal and the analog audio output terminal is stored in the ROM as a program, and the MPU executes the process. This conventional technique is an optical disk for reproducing an audio signal from a CD. This is a device that tests the operation of the headphone terminal and the analog audio output terminal. The DVD player reproduces information recorded on a DVD, or records information on a DVD or reproduces information recorded on a DVD. Test mode for performing an operation test of an optical disc device such as a DVD recorder It does not relate to the dynamic method.

本発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、DVDプレイヤやDVDレコーダなどの光ディスク装置に備わる試験モードを単純かつ高速に起動することができる起動方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an activation method capable of simply and rapidly activating a test mode provided in an optical disc apparatus such as a DVD player or a DVD recorder. And

上記目的を達成するために、請求項1の発明は、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ/デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ/デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを、前記サブ処理制御部に設け、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を提供する。   In order to achieve the above object, the invention of claim 1 includes a main processing control unit that performs main data processing and control of the device, and sub-data processing of the device according to instructions from the main processing unit. An optical disc apparatus comprising: a sub-processing control unit that performs control; and a switch board on which a switch circuit that outputs each voltage corresponding to pressing of each switch of the operation unit from an output terminal is mounted. In a test mode start-up method, analog / digital conversion means for converting a voltage from the output terminal of the switch board into a digital value, and a pressed switch determination for determining a pressed switch based on the digital value from the analog / digital conversion means And the optical disk device when the AC power to the optical disk device is turned on with one or more switches pressed. A table showing the relationship between the push switch for setting the desired test mode and the test mode, and a switch push state power source for detecting that AC power to the optical disc apparatus is turned on while one or more switches are pushed A test mode corresponding to the push switch determined by the push switch discriminating means is read from the table when the switch detecting state and the switch press state power on detection means detect that the AC power is turned on. Test mode activation means for setting the apparatus to activate the optical disk apparatus as a test mode is provided in the sub-processing control unit, and AC power to the optical disk apparatus is turned on with one or more switches pressed. The optical disc apparatus is activated as a test mode in response to To provide a method of starting a test mode provided in.

この試験モード起動方法においては、光ディスク装置に交流電源が投入されると、サブ処理制御部は起動する。このサブ処理制御部が起動すると、スイッチ基板の出力端子からの電圧を入力してA/D変換手段によりデジタル値に変換する。次に、サブ処理制御部は、押下スイッチ判別手段により、A/D変換手段からのデジタル値を検出し、押下スイッチが有ると判定すると、スイッチ押下状態電源投入検知手段は、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知することになる。押下スイッチ判別手段は、A/D変換手段からのデジタル値の値を参照することにより、押下されているスイッチを判別する。   In this test mode activation method, the sub-process control unit is activated when AC power is turned on to the optical disc apparatus. When this sub-processing control unit is activated, a voltage from the output terminal of the switch board is input and converted into a digital value by the A / D conversion means. Next, when the sub-process control unit detects the digital value from the A / D conversion unit by the push switch discriminating unit and determines that there is a push switch, the switch pressing state power-on detection unit has one or more switches. It is detected that AC power to the optical disc apparatus has been turned on in the state where is pressed. The push switch discriminating unit discriminates the pressed switch by referring to the digital value from the A / D conversion unit.

次に、試験モード起動手段は、スイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき、押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブルから読み出して光ディスク装置に設定して、光ディスク装置を前記試験モードとして起動させる。   Next, the test mode starting means reads from the table the test mode corresponding to the push switch determined by the push switch discriminating means when the switch press state power on detecting means detects that the AC power is turned on in the switch pressed state. Then, the optical disk device is set to start the test mode.

この試験モード起動方法によれば、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができるので、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、これにより、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。   According to this test mode activation method, a desired test mode can be activated by pressing a predetermined switch and turning on an AC power supply to the optical disc apparatus in this depressed state. Therefore, it is not necessary to activate the test mode by pressing the test dedicated key on the remote control or combining and pressing multiple keys on the remote control as before, so that the time required for operating the remote control Thus, it becomes possible to start the test mode simply and at high speed. As a result, the time required for testing the optical disc apparatus can be shortened, and the production cost can be reduced.

請求項2の発明は、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板を備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を提供する。   The invention of claim 2 is an optical disc apparatus including a switch board on which a switch circuit for outputting each voltage corresponding to depression of each switch of the operation unit is output from an output terminal, and the test mode of the optical disc apparatus is provided. In the start-up method, the push switch is determined based on the voltage from the output terminal of the switch board, and corresponds to the push switch when the AC power supply to the optical disc apparatus is turned on with one or more switches pressed. A test mode activation method provided in an optical disc device is provided, wherein the test mode is set in an optical disc device, and the optical disc device is activated as the set test mode.

この試験モードの起動方法においては、スイッチ基板のスイッチが押下されると、スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチが判別され、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されると、押下スイッチに対応した試験モードが設定され、光ディスク装置が前記設定された試験モードとして起動される。   In this test mode activation method, when a switch on the switch board is pressed, the push switch is discriminated based on the voltage from the output terminal of the switch board, and one or more switches are pressed to the optical disc apparatus. When the AC power source is turned on, a test mode corresponding to the push switch is set, and the optical disc apparatus is activated as the set test mode.

この試験モード起動方法によれば、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができるので、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、これにより、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。   According to this test mode activation method, a desired test mode can be activated by pressing a predetermined switch and turning on an AC power supply to the optical disc apparatus in this depressed state. Therefore, it is not necessary to activate the test mode by pressing the test dedicated key on the remote control or combining and pressing multiple keys on the remote control as before, so that the time required for operating the remote control Thus, it becomes possible to start the test mode simply and at high speed. As a result, the time required for testing the optical disc apparatus can be shortened, and the production cost can be reduced.

請求項3の発明は、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させる手段を、前記サブ処理制御部に設け、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を提供する。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a main processing control unit that performs main data processing and control of the apparatus, and a sub processing control unit that performs sub data processing and control of the apparatus in accordance with an instruction from the main processing unit. An optical disc apparatus including a switch board on which a switch circuit that outputs each voltage corresponding to pressing of each switch of the operation unit from an output terminal is mounted, and in the test mode activation method provided in the optical disc apparatus, The push switch is discriminated based on the voltage from the output terminal of the substrate, and when the AC power supply to the optical disc apparatus is turned on with one or more switches depressed, the test mode corresponding to the push switch is changed to the optical disc apparatus. And a means for starting the optical disc apparatus as the set test mode is provided in the sub-process control unit, and one or more switches are pressed. Is AC power to the optical disc device in a state to provide a method of starting the test mode provided in the optical disk apparatus characterized by activating the optical disc device as a test mode in response to being turned on.

この試験モード起動方法においては、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたとき、スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて判別された押下スイッチに対応した試験モードが設定され、これにより、光ディスク装置は前記設定された試験モードとして起動される。   In this test mode activation method, when one or more switches are pressed and AC power is supplied to the optical disc apparatus, the switch corresponding to the pressed switch determined based on the voltage from the output terminal of the switch board is supported. A test mode is set, whereby the optical disc apparatus is activated as the set test mode.

この試験モード起動方法によれば、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができるので、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、これにより、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。   According to this test mode activation method, a desired test mode can be activated by pressing a predetermined switch and turning on an AC power supply to the optical disc apparatus in this depressed state. Therefore, it is not necessary to activate the test mode by pressing the test dedicated key on the remote control or combining and pressing multiple keys on the remote control as before, so that the time required for operating the remote control Thus, it becomes possible to start the test mode simply and at high speed. As a result, the time required for testing the optical disc apparatus can be shortened, and the production cost can be reduced.

請求項4の発明では、請求項3の発明において、前記サブ処理制御部は、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ/デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ/デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを有する。   According to a fourth aspect of the present invention, in the third aspect of the present invention, the sub-processing control unit includes an analog / digital conversion unit that converts a voltage from an output terminal of the switch board into a digital value, and a switch that is pressed down. A push switch discriminating means for discriminating based on a digital value from the digital conversion means, and for bringing the optical disc apparatus into a desired test mode when the AC power supply to the optical disc apparatus is turned on while one or more switches are depressed. A table showing the relationship between the push switch and the test mode, a switch push state power-on detection means for detecting that AC power to the optical disk apparatus is turned on in a state where one or more switches are pushed, and the switch When the AC power supply is detected in the pressed state by the pressed state power-on detection means, the pressed switch is identified. And a test mode activation means for activating the optical disc device as a test mode by setting a test mode corresponding to the pressed switch is determined by the stage in the optical disc apparatus reads out from the table.

したがって、前記サブ処理制御部は、アナログ/デジタル変換処理、押下スイッチ判別処理、スイッチ押下状態電源投入検知処理、および試験モード起動処理を実現でき、これにより、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることが可能になる。   Therefore, the sub-process control unit can realize an analog / digital conversion process, a push switch discrimination process, a switch press state power-on detection process, and a test mode start process, thereby starting a desired test mode. When a predetermined switch is pressed and AC power is turned on to the optical disk device in this pressed state, a desired test mode can be activated.

以上のように本発明によれば、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ/デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ/デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを、前記サブ処理制御部に設け、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させるようにしたので、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができ、これにより、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、したがって、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。   As described above, according to the present invention, the main processing control unit that performs main data processing and control of the device, and the sub processing that performs sub data processing and control of the device in accordance with instructions from the main processing unit. An optical disc apparatus comprising a control unit and a switch board on which a switch circuit for outputting each voltage corresponding to pressing of each switch of the operation unit from an output terminal is mounted, and a test mode activation method provided in the optical disc apparatus And an analog / digital conversion means for converting the voltage from the output terminal of the switch board into a digital value, a push switch determining means for determining the pressed switch based on the digital value from the analog / digital conversion means, and one When AC power to the optical disk apparatus is turned on with the above switches pressed, the optical disk apparatus is set in a desired test mode. A table indicating the relationship between the push switch for performing the test mode and the switch pressing state power-on detection means for detecting that the AC power to the optical disk device is turned on in a state where one or more switches are pressed; When the switch pressing state power-on detection means detects that the AC power is turned on in the switch pressed state, the test mode corresponding to the pressing switch determined by the pressing switch determining means is read from the table and set in the optical disc apparatus. Test mode activation means for activating the optical disk device as a test mode is provided in the sub-processing control unit, and the optical disk in response to the AC power being supplied to the optical disk device with one or more switches pressed. Since the device is activated as a test mode, the desired test mode is activated. In addition, when a predetermined switch is pressed and AC power is turned on to the optical disk device in this pressed state, a desired test mode can be activated. Or, it is not necessary to activate the test mode by pressing multiple keys on the remote control in combination, so there is no time loss due to operating the remote control, and the test mode can be activated simply and quickly. Is possible. As a result, the time required for testing the optical disc apparatus can be shortened, and the production cost can be reduced.

また、本発明によれば、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板を備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させるようにしたので、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができ、これにより、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、したがって、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。   Further, according to the present invention, there is provided an optical disc apparatus including a switch board on which a switch circuit for outputting each voltage corresponding to pressing of each switch of the operation unit from an output terminal is mounted, and the test mode provided in the optical disc apparatus In the start-up method, the push switch is discriminated based on the voltage from the output terminal of the switch board, and when the AC power supply to the optical disk apparatus is turned on with one or more switches pressed, Since the corresponding test mode is set in the optical disk apparatus and the optical disk apparatus is activated as the set test mode, the predetermined test switch is activated to activate the optical disk apparatus in this depressed state. When the AC power supply is turned on, the desired test mode can be activated. It is no longer necessary to activate the test mode by pressing the dedicated test key on the remote control or by pressing multiple keys on the remote control in combination. It becomes possible to start the mode simply and quickly. As a result, the time required for testing the optical disc apparatus can be shortened, and the production cost can be reduced.

また、本発明によれば、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させる手段を、前記サブ処理制御部に設け、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させるようにしたので、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができ、これにより、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、したがって、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。   In addition, according to the present invention, a main processing control unit that performs main data processing and control of the apparatus, and a sub processing control unit that performs sub data processing and control of the apparatus in accordance with instructions from the main processing unit And a switch board on which a switch circuit that outputs each voltage corresponding to the depression of each switch of the operation unit is output from the output terminal, and in the test mode start-up method provided in the optical disc apparatus, The push switch is discriminated based on the voltage from the output terminal of the switch board, and the test mode corresponding to the push switch is selected when the AC power supply to the optical disc apparatus is turned on with one or more switches depressed. One or more switches are provided in the sub-processing control unit for setting in the apparatus and activating the optical disk apparatus as the set test mode. Since the optical disk apparatus is activated as a test mode in response to the AC power being supplied to the optical disk apparatus in the depressed state, a predetermined switch is depressed to activate the desired test mode. When the AC power supply is turned on to the optical disk device in this pressed state, the desired test mode can be activated. This makes it possible to press the test key on the remote controller as before, or to combine multiple keys on the remote controller. It is no longer necessary to activate the test mode by pressing the button, and therefore, there is no time loss due to operating the remote controller, and the test mode can be activated simply and at high speed. As a result, the time required for testing the optical disc apparatus can be shortened, and the production cost can be reduced.

以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。図1は本発明の一実施形態に係る光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を採用した光ディスク装置におけるスイッチ基板に実装されたスイッチ回路の回路図とAV基板に実装された主要構成要素のブロック図とメイン基板に実装された主要構成要素のブロック図を示す。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a circuit diagram of a switch circuit mounted on a switch board and a block diagram of main components mounted on an AV board in an optical disk apparatus employing a test mode activation method provided in an optical disk apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 shows a block diagram of main components mounted on the main board.

図1において、スイッチ基板1には、スイッチSW1〜SW10と抵抗R1〜R10とプルアップ用抵抗r1,12と出力端子T1が実装され、このスイッチ基板1は、図示しない本体操作パネルの背面に取り付けられ、スイッチSW1〜SW10のつまみは本体操作パネルの前面から突出して設けられる。抵抗R1と抵抗R2と抵抗R3と抵抗R4と抵抗R5とは直列接続され、抵抗R1の一端はラインL1に接続され、抵抗R5の一端は接地されている。スイッチSW1〜SW5の一端は接地され、スイッチSW1の他端はラインL1に接続されていると共に抵抗R1の一端に接続されている。スイッチSW2の他端は抵抗R1と抵抗R2との接続点に接続され、スイッチSW3の他端は抵抗R2と抵抗R3との接続点に接続されている。スイッチSW4の他端は抵抗R3と抵抗R4との接続点に接続され、スイッチSW5の他端は抵抗R4と抵抗R5との接続点に接続されている。   In FIG. 1, switches SW1 to SW10, resistors R1 to R10, pull-up resistors r1 and 12 and an output terminal T1 are mounted on a switch substrate 1, and this switch substrate 1 is attached to the back of a main body operation panel (not shown). The knobs of the switches SW1 to SW10 are provided so as to protrude from the front surface of the main body operation panel. The resistors R1, R2, R3, R4, and R5 are connected in series, one end of the resistor R1 is connected to the line L1, and one end of the resistor R5 is grounded. One ends of the switches SW1 to SW5 are grounded, and the other end of the switch SW1 is connected to the line L1 and to one end of the resistor R1. The other end of the switch SW2 is connected to a connection point between the resistors R1 and R2, and the other end of the switch SW3 is connected to a connection point between the resistors R2 and R3. The other end of the switch SW4 is connected to a connection point between the resistors R3 and R4, and the other end of the switch SW5 is connected to a connection point between the resistors R4 and R5.

抵抗R6と抵抗R7と抵抗R8と抵抗R9と抵抗R10とは直列接続され、抵抗R6の一端はラインL2に接続され、抵抗R10の一端は接地されている。スイッチSW6〜SW10の一端は接地され、スイッチSW6の他端はラインL2に接続されていると共に抵抗R6の一端に接続されている。スイッチSW7の他端は抵抗R6と抵抗R7との接続点に接続され、スイッチSW8の他端は抵抗R7と抵抗R8との接続点に接続されている。スイッチSW9の他端は抵抗R8と抵抗R9との接続点に接続され、スイッチSW10の他端は抵抗R9と抵抗R10との接続点に接続されている。   The resistors R6, R7, R8, R9, and R10 are connected in series, one end of the resistor R6 is connected to the line L2, and one end of the resistor R10 is grounded. One ends of the switches SW6 to SW10 are grounded, and the other end of the switch SW6 is connected to the line L2 and to one end of the resistor R6. The other end of the switch SW7 is connected to a connection point between the resistors R6 and R7, and the other end of the switch SW8 is connected to a connection point between the resistors R7 and R8. The other end of the switch SW9 is connected to a connection point between the resistors R8 and R9, and the other end of the switch SW10 is connected to a connection point between the resistors R9 and R10.

ラインL1およびラインL2は出力端子T1に接続され、ラインL1はプルアップ用抵抗r1により所定の電圧にプルアップされ、ラインL2はプルアップ用抵抗r2により所定の電圧にプルアップされている。なお、プルアップ用抵抗r1,r2は、AV基板2側に設けても良い。このようにラインL1およびラインL2は、所定の電圧にプルアップされているので、スイッチSW1〜SW5の何れかのスイッチを押下すれば、スイッチSW1〜SW5に応じた電圧がラインL1に現れ、また、スイッチSW6〜SW10の何れかのスイッチを押下すれば、スイッチSW6〜SW10に応じた電圧がラインL2に現れる。   The lines L1 and L2 are connected to the output terminal T1, the line L1 is pulled up to a predetermined voltage by the pull-up resistor r1, and the line L2 is pulled up to a predetermined voltage by the pull-up resistor r2. Note that the pull-up resistors r1 and r2 may be provided on the AV substrate 2 side. As described above, since the lines L1 and L2 are pulled up to a predetermined voltage, if any one of the switches SW1 to SW5 is pressed, a voltage corresponding to the switches SW1 to SW5 appears on the line L1, and If any one of the switches SW6 to SW10 is pressed, a voltage corresponding to the switches SW6 to SW10 appears on the line L2.

例えば、スイッチSW1が押下されると、ラインL1の電位は接地に落とされ、ラインL1と接地間の電圧は0Vとなる。スイッチSW2が押下されると、プルアップ用抵抗r1と抵抗R1との直列回路が形成され、これにより、ラインL1と接地間の電圧VL1は、電源電圧をVccとし、プルアップ用抵抗r1の抵抗値を同じくr1、抵抗R1の抵抗値を同じくR1とすると、VL1=Vcc{R1/(r1+R1)}になる。   For example, when the switch SW1 is pressed, the potential of the line L1 is dropped to ground, and the voltage between the line L1 and ground is 0V. When the switch SW2 is pressed, a series circuit of a pull-up resistor r1 and a resistor R1 is formed. As a result, the voltage VL1 between the line L1 and ground is Vcc, and the resistance of the pull-up resistor r1. If the value is also r1 and the resistance value of the resistor R1 is also R1, VL1 = Vcc {R1 / (r1 + R1)}.

スイッチSW3が押下されると、プルアップ用抵抗r1と抵抗R1と抵抗R2との直列回路が形成され、これにより、ラインL1と接地間の電圧VL1は、電源電圧をVccとし、プルアップ用抵抗r1の抵抗値を同じくr1、抵抗R1の抵抗値を同じくR1、抵抗R2の抵抗値を同じくR2とすると、VL1=Vcc{(R1+R2)/(r1+R1+R2)}になる。   When the switch SW3 is pressed, a series circuit of a pull-up resistor r1, a resistor R1, and a resistor R2 is formed. As a result, the voltage VL1 between the line L1 and the ground becomes the power supply voltage Vcc, and the pull-up resistor If the resistance value of r1 is also r1, the resistance value of the resistor R1 is also R1, and the resistance value of the resistor R2 is also R2, then VL1 = Vcc {(R1 + R2) / (r1 + R1 + R2)}.

スイッチSW4が押下されると、プルアップ用抵抗r1と抵抗R1と抵抗R2と抵抗R3との直列回路が形成され、これにより、ラインL1と接地間の電圧VL1は、電源電圧をVccとし、プルアップ用抵抗r1の抵抗値を同じくr1、抵抗R1の抵抗値を同じくR1、抵抗R2の抵抗値を同じくR2、抵抗R3の抵抗値を同じくR3とすると、VL1=Vcc{(R1+R2+R3)/(r1+R1+R2+R3)}になる。   When the switch SW4 is pressed, a series circuit of a pull-up resistor r1, a resistor R1, a resistor R2, and a resistor R3 is formed. As a result, the voltage VL1 between the line L1 and the ground becomes the power supply voltage Vcc, Assuming that the resistance value of the up resistor r1 is r1, the resistance value of the resistor R1 is R1, the resistance value of the resistor R2 is R2, and the resistance value of the resistor R3 is R3, VL1 = Vcc {(R1 + R2 + R3) / (r1 + R1 + R2 + R3) )}become.

スイッチSW5が押下されると、プルアップ用抵抗r1と抵抗R1と抵抗R2と抵抗R3と抵抗R4との直列回路が形成され、これにより、ラインL1と接地間の電圧VL1は、電源電圧をVccとし、プルアップ用抵抗r1の抵抗値を同じくr1、抵抗R1の抵抗値を同じくR1、抵抗R2の抵抗値を同じくR2、抵抗R3の抵抗値を同じくR3、抵抗R4の抵抗値を同じくR4とすると、VL1=Vcc{(R1+R2+R3+R4)/(r1+R1+R2+R3+R4)}になる。   When the switch SW5 is pressed, a series circuit of a pull-up resistor r1, a resistor R1, a resistor R2, a resistor R3, and a resistor R4 is formed. As a result, the voltage VL1 between the line L1 and the ground changes the power supply voltage to Vcc. The resistance value of the pull-up resistor r1 is the same as r1, the resistance value of the resistor R1 is the same as R1, the resistance value of the resistor R2 is the same as R2, the resistance value of the resistor R3 is the same as R3, and the resistance value of the resistor R4 is the same as R4. Then, VL1 = Vcc {(R1 + R2 + R3 + R4) / (r1 + R1 + R2 + R3 + R4)}.

なお、スイッチSW1〜SW5が押下されていない場合は、ラインL1と接地間の電圧VL1は、VL1={(R1+R2+R3+R4+R5)/(r1+R1+R2+R3+R4+R5)}になる。   If the switches SW1 to SW5 are not pressed, the voltage VL1 between the line L1 and the ground is VL1 = {(R1 + R2 + R3 + R4 + R5) / (r1 + R1 + R2 + R3 + R4 + R5)}.

例えば、スイッチSW6が押下されると、ラインL2の電位は接地に落とされ、ラインL2と接地間の電圧は0Vとなる。スイッチSW7が押下されると、プルアップ用抵抗r2と抵抗R6との直列回路が形成され、これにより、ラインL2と接地間の電圧VL2は、電源電圧をVccとし、プルアップ用抵抗r6の抵抗値を同じくr6、抵抗R6の抵抗値を同じくR6とすると、VL2=Vcc{R6/(r2+R6)}になる。   For example, when the switch SW6 is pressed, the potential of the line L2 is dropped to ground, and the voltage between the line L2 and ground is 0V. When the switch SW7 is pressed, a series circuit of a pull-up resistor r2 and a resistor R6 is formed. As a result, the voltage VL2 between the line L2 and ground is Vcc, and the resistance of the pull-up resistor r6 Assuming that the value is r6 and the resistance value of the resistor R6 is also R6, VL2 = Vcc {R6 / (r2 + R6)}.

スイッチSW8が押下されると、プルアップ用抵抗r2と抵抗R6と抵抗R7との直列回路が形成され、これにより、ラインL2と接地間の電圧VL2は、電源電圧をVccとし、プルアップ用抵抗r2の抵抗値を同じくr2、抵抗R6の抵抗値を同じくR6、抵抗R7の抵抗値を同じくR7とすると、VL2=Vcc{(R6+R7)/(r2+R6+R7)}になる。   When the switch SW8 is pressed, a series circuit of a pull-up resistor r2, a resistor R6, and a resistor R7 is formed. As a result, the voltage VL2 between the line L2 and the ground is the power supply voltage Vcc, and the pull-up resistor If the resistance value of r2 is also r2, the resistance value of resistor R6 is R6, and the resistance value of resistor R7 is R7, then VL2 = Vcc {(R6 + R7) / (r2 + R6 + R7)}.

スイッチSW9が押下されると、プルアップ用抵抗r2と抵抗R6と抵抗R7と抵抗R8との直列回路が形成され、これにより、ラインL2と接地間の電圧VL2は、電源電圧をVccとし、プルアップ用抵抗r2の抵抗値を同じくr2、抵抗R6の抵抗値を同じくR6、抵抗R7の抵抗値を同じくR7、抵抗R8の抵抗値を同じくR8とすると、VL2=Vcc{(R6+R7+R8)/(r2+R6+R7+R8)}になる。   When the switch SW9 is pressed, a series circuit of a pull-up resistor r2, a resistor R6, a resistor R7, and a resistor R8 is formed. As a result, the voltage VL2 between the line L2 and the ground becomes the power supply voltage Vcc, If the resistance value of the up resistor r2 is also r2, the resistance value of the resistor R6 is R6, the resistance value of the resistor R7 is R7, and the resistance value of the resistor R8 is R8, then VL2 = Vcc {(R6 + R7 + R8) / (r2 + R6 + R7 + R8) )}become.

スイッチSW10が押下されると、プルアップ用抵抗r2と抵抗R6と抵抗R7と抵抗R8と抵抗R9との直列回路が形成され、これにより、ラインL2と接地間の電圧VL2は、電源電圧をVcc、プルアップ用抵抗r2の抵抗値を同じくr2、抵抗R6の抵抗値を同じくR6、抵抗R7の抵抗値を同じくR7、抵抗R8の抵抗値を同じくR8、抵抗R9の抵抗値を同じくR9とすると、VL2=Vcc{(R6+R7+R8+R9)/(r2+R6+R7+R8+R9)}になる。   When the switch SW10 is pressed, a series circuit of a pull-up resistor r2, a resistor R6, a resistor R7, a resistor R8, and a resistor R9 is formed. As a result, the voltage VL2 between the line L2 and the ground changes the power supply voltage to Vcc. When the resistance value of the pull-up resistor r2 is also r2, the resistance value of the resistor R6 is R6, the resistance value of the resistor R7 is R7, the resistance value of the resistor R8 is R8, and the resistance value of the resistor R9 is R9. VL2 = Vcc {(R6 + R7 + R8 + R9) / (r2 + R6 + R7 + R8 + R9)}.

なお、スイッチSW6〜SW10が押下されていない場合は、ラインL2と接地間の電圧VL2は、VL1={(R6+R7+R8+R9+R10)/(r2+R6+R7+R8+R9+R10)}になる。   If the switches SW6 to SW10 are not pressed, the voltage VL2 between the line L2 and the ground is VL1 = {(R6 + R7 + R8 + R9 + R10) / (r2 + R6 + R7 + R8 + R9 + R10)}.

光ディスク装置において、例えば、スイッチSW1はディスクトレイを開閉するためのOPEN/CLOSEキー、スイッチSW2はチャンネルダウンさせるためのCH・DOWNキー、スイッチSW3は記録速度(録画モード)を設定するためのREC・SPEEDキー、スイッチSW4はチャンネルアップさせるためのCH/UPキー、スイッチSW5は録画させるためのRECキー、スイッチSW6は電源をオンするためのPOWERキー、スイッチSW7は再生させるためのPLAYキー、スイッチSW8は録画停止や再生停止をさせるためのSTOPキー、スイッチSW9は早送りさせるためのFWDキー、スイッチSW10は早戻しさせるためのREVキーとしてそれぞれ使用される。   In the optical disc apparatus, for example, the switch SW1 is an OPEN / CLOSE key for opening and closing the disc tray, the switch SW2 is a CH / DOWN key for channel down, and the switch SW3 is a REC • set for setting a recording speed (recording mode). SPEED key, switch SW4 is a CH / UP key for channel up, switch SW5 is a REC key for recording, switch SW6 is a POWER key for turning on the power, switch SW7 is a PLAY key for reproducing, switch SW8 Is used as a STOP key for stopping recording or reproduction, a switch SW9 is used as a FWD key for fast-forwarding, and a switch SW10 is used as a REV key for fast-forwarding.

AV(Audio Visual)基板2には、音声信号および映像信号を図示しないチューナや外部入力端子から受けて所定の音声信号処理および映像信号処理を行うAV回路21と、このAV回路21を制御すると共に本実施形態の特徴とする試験モードの起動に関する制御や処理を行うサブ処理制御部としてのサブ側マイクロコンピュータ22とが実装されている。なお、AV基板2の構成要素は、他にもあるが、ここでは省略する。サブ側マイクロコンピュータ22は、光ディスク装置に交流電源が投入されている場合、操作的にパワーオフであっても動作している。サブ側マイクロコンピュータ22は、機能などを変更可能なフラッシュタイプではないので、1度製造してしまうと、機能などを変更できず、各メーカの光ディスク装置に対して試験モードに入るための共通の起動方法を採用することが望ましい。   An AV (Audio Visual) substrate 2 receives an audio signal and a video signal from a tuner or an external input terminal (not shown) and performs predetermined audio signal processing and video signal processing, and controls the AV circuit 21. A sub-side microcomputer 22 is mounted as a sub-process control unit that performs control and processing related to test mode activation, which is a feature of the present embodiment. Although there are other components of the AV board 2, they are omitted here. The sub-side microcomputer 22 operates even when it is powered off when AC power is supplied to the optical disk device. Since the sub-side microcomputer 22 is not a flash type whose function can be changed, once it is manufactured, the function etc. cannot be changed, and it is common to enter the test mode for the optical disc apparatus of each manufacturer. It is desirable to adopt an activation method.

サブ側マイクロコンピュータ22は、スイッチ基板1の出力端子T1からの電圧をデジタル値に変換するA/D(アナログ/デジタル)変換手段23と、押下されたスイッチをA/D変換手段23からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段24と、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブル25と、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段26と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段26によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき押下スイッチ判別手段24により判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブル25から読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段27とを有し、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させるようにしている。   The sub-side microcomputer 22 includes an A / D (analog / digital) conversion unit 23 that converts a voltage from the output terminal T1 of the switch substrate 1 into a digital value, and a digital switch from the A / D conversion unit 23 for the pressed switch. Press switch discriminating means 24 for discriminating by value, and a push switch and a test mode for setting the optical disc apparatus to a desired test mode when the AC power supply to the optical disc apparatus is turned on while one or more switches are pressed. , A switch pressing state power on detection means 26 for detecting that AC power to the optical disk apparatus is turned on in a state where one or more switches are pressed, and this switch pressing state power on. When the detecting means 26 detects that the AC power is turned on in the pressed state, the pressed switch discriminating means 24 The test mode corresponding to the pressed switch is read from the table 25, set in the optical disk apparatus, and has test mode starting means 27 for starting the optical disk apparatus as the test mode, with one or more switches pressed. The optical disk apparatus is activated as a test mode in response to the AC power supply to the optical disk apparatus being turned on.

メイン基板3には、AV基板2からの音声信号および映像信号を入力してデコード処理を行うデコーダ回路31と、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン側マイクロコンピュータ32とが実装されている。なお、メイン基板3の構成要素は、他にもあるが、ここでは省略する。メイン側マイクロコンピュータ32は、通常、操作的にパワーオンされない限り動作しないが、後述する常時パワーオンモードに設定されると、操作的にパワーオフしていても動作することになる。   The main board 3 is mounted with a decoder circuit 31 that inputs audio signals and video signals from the AV board 2 and performs decoding processing, and a main microcomputer 32 that performs main data processing and control of the apparatus. Yes. Although there are other constituent elements of the main board 3, they are omitted here. The main-side microcomputer 32 normally does not operate unless it is powered on operatively. However, when it is set to a constant power-on mode, which will be described later, the main-side microcomputer 32 operates even if it is operatively powered off.

図2は本実施形態においてスイッチ基板の何れかのスイッチが押下されている状態で光ディスク装置に交流電源が投入された場合の押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルの内容の一例を示す図である。   FIG. 2 is a view showing an example of the contents of a table showing the relationship between the push switch and the test mode when the AC power is turned on to the optical disc apparatus in a state where any switch on the switch board is pushed in the present embodiment. It is.

図2において、テーブル25は前記サブ側マイクロコンピュータ22に備えられるものである。テーブル25によれば、押下スイッチがスイッチSW9(FWDキー)のとき、試験モードが常時パワーオンモードに対応し、押下スイッチがスイッチSW4(CH/UPキー)とスイッチSW8(STOPキー)のとき、試験モードが強制F社リモコンモードに対応する。また、押下スイッチがスイッチSW2(CH・DOWNキー)とスイッチSW7(PLAYキー)のとき、試験モードがAV基板動作検査モードに対応し、押下スイッチがスイッチSW3(REC・SPEEDキー)とスイッチSW10(REVキー)のとき、試験モードが時計早送りモードに対応する。   In FIG. 2, a table 25 is provided in the sub-side microcomputer 22. According to Table 25, when the push switch is the switch SW9 (FWD key), the test mode always corresponds to the power-on mode, and when the push switch is the switch SW4 (CH / UP key) and the switch SW8 (STOP key), The test mode corresponds to forced F company remote control mode. When the push switch is the switch SW2 (CH / DOWN key) and the switch SW7 (PLAY key), the test mode corresponds to the AV board operation inspection mode, and the push switch is the switch SW3 (REC / SPEED key) and the switch SW10 ( When the REV key is selected, the test mode corresponds to the clock fast-forward mode.

図3は本実施形態において試験モードの起動処理を説明するためのフローチャートである。このフローチャートおよび図1、図2を参照して試験モードの起動処理について説明する。   FIG. 3 is a flowchart for explaining test mode activation processing in the present embodiment. The test mode activation process will be described with reference to this flowchart and FIGS.

まず、光ディスク装置の電源プラグをACコンセントに差し込んで、光ディスク装置に交流電源を投入したり、あるいはACコンセントと光ディスク装置の電源プラグとの間に電源入切スイッチを設け、この電源入切スイッチを入にして光ディスク装置に交流電源を投入したりするなどの電源投入手段により、光ディスク装置に交流電源が投入されると(ステップS1)、サブ側マイクロコンピュータ22はリセット解除を行って起動する(ステップS2)。サブ側マイクロコンピュータ22が起動すると、スイッチ基板1の出力端子T1からの電圧(ラインL1の電圧およびラインL2の電圧)を、コネクタCを介してAV基板2の入力端子T2で受け、A/D変換手段23によりデジタル値に変換する(ステップS3)。   First, insert the power plug of the optical disk device into an AC outlet and turn on the AC power to the optical disk device, or provide a power on / off switch between the AC outlet and the power plug of the optical disk device. When the AC power source is turned on by the power-on means such as turning on the AC power source and turning on the optical disk device (step S1), the sub-side microcomputer 22 is activated by releasing the reset (step S1). S2). When the sub-side microcomputer 22 is activated, the voltage (the voltage of the line L1 and the voltage of the line L2) from the output terminal T1 of the switch board 1 is received by the input terminal T2 of the AV board 2 via the connector C, and A / D The digital value is converted by the conversion means 23 (step S3).

次に、サブ側マイクロコンピュータ22は、押下スイッチ判別手段24により、押下スイッチを判別するが、スイッチ基板1のスイッチSW1〜SW10の何れも押下されていない場合もあるので、スイッチSW1〜SW10の何れも押下されていないときのA/D変換手段23からのデジタル値を検出すれば、押下スイッチが無いと判定し(ステップS4)、これにより、光ディスク装置を通常モードとして起動させ(ステップS10)、通常モード処理を行い(ステップS11)、この通常モード処理が終了すれば(ステップS12)、本処理は終える。   Next, the sub-side microcomputer 22 discriminates the push switch by the push switch discriminating means 24, but none of the switches SW1 to SW10 of the switch board 1 may be pushed. If the digital value from the A / D conversion means 23 when not pressed is detected, it is determined that there is no push switch (step S4), thereby starting the optical disk apparatus in the normal mode (step S10). The normal mode process is performed (step S11), and when the normal mode process ends (step S12), the process ends.

また、スイッチ基板1のスイッチSW1〜SW10の何れかが押下されている場合は、押下スイッチ判別手段24は、スイッチSW1〜SW10の何れかが押下されているときのA/D変換手段23からのデジタル値を検出することにより、押下スイッチが有ると判定する(ステップS4)。また、ここで、スイッチ押下状態電源投入検知手段26は、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知することになる。更に、押下スイッチ判別手段24は、A/D変換手段23からのデジタル値の値を参照することにより、押下されているスイッチを判別する(ステップS5)。   When any one of the switches SW1 to SW10 on the switch board 1 is pressed, the push switch discriminating unit 24 outputs from the A / D conversion unit 23 when any one of the switches SW1 to SW10 is pressed. By detecting the digital value, it is determined that there is a push switch (step S4). Here, the switch-pressed state power-on detection means 26 detects that the AC power to the optical disc apparatus has been turned on while one or more switches are pressed. Further, the push switch discriminating unit 24 discriminates the pressed switch by referring to the digital value from the A / D conversion unit 23 (step S5).

次に、試験モード起動手段27は、スイッチ押下状態電源投入検知手段26によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき押下スイッチ判別手段24により判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブル25から読み出して光ディスク装置に設定して(ステップS6)、光ディスク装置を試験モードとして起動させ(ステップS7)、試験モード処理を行い(ステップS8)、この試験モード処理が終了すれば(ステップS9)、本処理は終える。   Next, the test mode starting unit 27 stores a test mode corresponding to the press switch determined by the press switch determining unit 24 when the switch pressed state power on detecting unit 26 detects that the AC power is turned on in the switch pressed state. 25 and set in the optical disk device (step S6), the optical disk device is activated as a test mode (step S7), a test mode process is performed (step S8), and the test mode process is completed (step S9). This processing is finished.

例えば、試験モードとして、スイッチSW9(FWDキー)が押下された状態で、光ディスク装置に交流電源が投入されると、光ディスク装置は常時パワーオンモードに設定され、メイン側マイクロコンピュータ32のソフトウエアのデバッグに用いられる。常時パワーオンモードにするのは、操作的にパワーオフすれば、メイン基板3の電源がオフし、これにより、ソフトウエアの開発用のデバッガも動作ダウンするので、普通の動作でパワーオフして、装置内部ではパワーオン状態にしておく。   For example, as the test mode, when the switch SW9 (FWD key) is pressed and AC power is turned on to the optical disk apparatus, the optical disk apparatus is always set to the power-on mode, and the software of the main microcomputer 32 is Used for debugging. The power-on mode is always turned off if the operation is turned off, the main board 3 is turned off, and the software development debugger is also down. The power is turned on inside the apparatus.

また、スイッチSW4(CH・UPキー)とスイッチSW8(STOPキー)が押下された状態で、光ディスク装置に交流電源が投入されると、強制F社リモコンモードに設定され、光ディスク装置はF社のリモコンで操作が可能になる。また、スイッチSW2(CH・DOWNキー)とスイッチSW7(PLAYキー)が押下された状態で、光ディスク装置に交流電源が投入されると、AV基板動作検査モードに設定され、AV基板2の動作を検査することができる。AV基板2の動作の検査としては、メイン基板3を接続せずに、AV基板2だけで、例えば、表示菅のセグメントが全部正常に点灯するかどうかの検査や、チューナ関係が正常かどうかの検査などがある。   Further, when the switch SW4 (CH / UP key) and the switch SW8 (STOP key) are pressed and the AC power is turned on to the optical disk apparatus, the forced F company remote control mode is set. Can be operated with the remote control. When the switch SW2 (CH / DOWN key) and the switch SW7 (PLAY key) are pressed and the AC power is turned on to the optical disk apparatus, the AV board operation inspection mode is set and the operation of the AV board 2 is performed. Can be inspected. As an inspection of the operation of the AV board 2, the main board 3 is not connected and, for example, the AV board 2 alone is used to check whether all segments of the display lamp are normally lit, and whether the tuner relationship is normal. There are inspections.

また、スイッチSW3(REC・SPEEDキー)とスイッチSW10(REVキー)が押下された状態で、光ディスク装置に交流電源が投入されると、時計早送りモードに設定され、例えば、タイマ予約で10分後とか20分後とかに動作させる場合に、動作試験において10分とか20分とかの時間経過を待つことができないので、例えば、スイッチSW9(FWDキー)を押下すると、時間を早く進めることができる。   Further, when the AC power is turned on to the optical disc apparatus with the switch SW3 (REC / SPEED key) and the switch SW10 (REV key) pressed, the clock fast-forward mode is set, for example, 10 minutes after timer reservation. For example, when the operation is performed after 20 minutes, it is not possible to wait for 10 minutes or 20 minutes in the operation test. For example, when the switch SW9 (FWD key) is pressed, the time can be advanced quickly.

以上説明したように本実施形態によれば、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができ、これにより、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、したがって、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。   As described above, according to the present embodiment, in order to activate a desired test mode, when a predetermined switch is pressed and AC power is supplied to the optical disc apparatus in this depressed state, the desired test mode is activated. This eliminates the need to activate the test mode by pressing a dedicated test key on the remote control or combining and pressing multiple keys on the remote control as in the past. This eliminates the loss of time and makes it possible to start the test mode simply and quickly. As a result, the time required for testing the optical disc apparatus can be shortened, and the production cost can be reduced.

なお、前記実施形態では、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン側マイクロコンピュータ32と、このメイン側マイクロコンピュータ32からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ側マイクロコンピュータ22と、本体操作パネルの各スイッチSW1〜SW10の押下に対応した各電圧を出力端子T1から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板1とを備えた光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法について説明したが、このような光ディスクの構成に限定せず、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板を備えた光ディスク装置において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させるような構成であれば、本発明の試験モードの起動方法を適用することができることは言うまでもない。   In the above embodiment, the main microcomputer 32 that performs main data processing and control of the apparatus, and the sub side that performs sub data processing and control of the apparatus in accordance with instructions from the main microcomputer 32. A test mode activation method provided in an optical disk device including a microcomputer 22 and a switch board 1 on which a switch circuit for outputting each voltage corresponding to the depression of the switches SW1 to SW10 on the main body operation panel is output from the output terminal T1. However, the present invention is not limited to such an optical disc configuration, and in an optical disc apparatus provided with a switch board on which a switch circuit that outputs each voltage corresponding to pressing of each switch of the operation unit from an output terminal is mounted. One or more push switches are identified based on the voltage from the output terminal of the switch board. When AC power to the optical disk device is turned on with the switch pressed, the test mode corresponding to the push switch is set in the optical disk device, and the optical disk device is activated as the set test mode. Needless to say, the test mode activation method of the present invention can be applied.

本発明の一実施形態に係る光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を採用した光ディスク装置におけるスイッチ基板に実装されたスイッチ回路の回路図とAV基板に実装された主要構成要素のブロック図とメイン基板に実装された主要構成要素のブロック図を示す。FIG. 1 is a circuit diagram of a switch circuit mounted on a switch board and a block diagram of main components mounted on an AV board in an optical disk apparatus adopting a test mode startup method provided in an optical disk apparatus according to an embodiment of the present invention; Shows a block diagram of the main components implemented. 前記実施形態においてスイッチ基板の何れかのスイッチが押下されている状態で光ディスク装置に交流電源が投入された場合の押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルの内容の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of the contents of a table indicating a relationship between a push switch and a test mode when AC power is turned on to the optical disc apparatus in a state where any switch on the switch board is pressed in the embodiment. 前記実施形態において試験モードの起動処理を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the starting process of a test mode in the said embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1 スイッチ基板
SW1〜SW10 スイッチ
22 サブ側マイクロコンピュータ(サブ処理制御部)
23 A/D変換手段
24 押下スイッチ判別手段
25 テーブル
26 スイッチ押下状態電源投入検知手段
27 試験モード起動手段
32 メイン側マイクロコンピュータ(メイン処理制御部)
1 Switch board SW1 to SW10 Switch 22 Sub-side microcomputer (Sub-processing control unit)
23 A / D conversion means 24 Press switch discriminating means 25 Table 26 Switch pressed state power-on detection means 27 Test mode start means 32 Main microcomputer (main processing control section)

Claims (4)

装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、
前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ/デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ/デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを、前記サブ処理制御部に設け、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法。
A main processing control unit that performs main data processing and control of the device, a sub processing control unit that performs sub data processing and control of the device in response to an instruction from the main processing unit, and each switch of the operation unit In the optical disc apparatus provided with a switch board mounted with a switch circuit that outputs each voltage corresponding to the pressing from the output terminal, in the test mode activation method provided in the optical disc apparatus,
An analog / digital conversion means for converting a voltage from an output terminal of the switch board into a digital value; a push switch determination means for determining a pressed switch based on a digital value from the analog / digital conversion means; and one or more A table showing the relationship between the push switch and the test mode for setting the optical disk device to a desired test mode when the AC power to the optical disk device is turned on while the switch is pressed, and one or more switches are pressed A switch-pressed-state power-on detecting means for detecting that the AC power supply to the optical disk apparatus is turned on in a state where the switch is pressed, and when the switch-pressed-state power-on detecting means detects that the AC power is turned on in the switch-pressed state The table shows the test mode corresponding to the push switch determined by the push switch determining means. And a test mode starting means for starting the optical disk device as a test mode by reading from the optical disk device and providing the optical disk device as a test mode. The sub-process control unit is provided with an AC power supply to the optical disk device in a state where one or more switches are pressed. A test mode activation method provided in an optical disc apparatus, wherein the optical disc apparatus is activated as a test mode in response to being inserted.
操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板を備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、
前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法。
In the optical disc apparatus provided with a switch board on which a switch circuit that outputs each voltage corresponding to pressing of each switch of the operation unit is output from the output terminal, in the test mode activation method provided in the optical disc apparatus,
The push switch is identified based on the voltage from the output terminal of the switch board, and when the AC power supply to the optical disc apparatus is turned on with one or more switches pressed, a test mode corresponding to the press switch is set. A test mode activation method provided in an optical disk device, characterized in that the optical disk device is set as an optical disk device and activated as the set test mode.
装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、
前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させる手段を、前記サブ処理制御部に設け、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法。
A main processing control unit that performs main data processing and control of the device, a sub processing control unit that performs sub data processing and control of the device in response to an instruction from the main processing unit, and each switch of the operation unit In the optical disc apparatus provided with a switch board mounted with a switch circuit that outputs each voltage corresponding to the pressing from the output terminal, in the test mode activation method provided in the optical disc apparatus,
The push switch is identified based on the voltage from the output terminal of the switch board, and when the AC power supply to the optical disc apparatus is turned on with one or more switches pressed, a test mode corresponding to the press switch is set. A means for setting the optical disk device and starting the optical disk device as the set test mode is provided in the sub-processing control unit, and AC power to the optical disk device is turned on with one or more switches pressed. And activating the optical disc apparatus as a test mode in response to the test mode activation method provided in the optical disc apparatus.
前記サブ処理制御部は、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ/デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ/デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、1個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを有することを特徴とする請求項3に記載の光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法。   The sub-processing control unit includes an analog / digital conversion unit that converts a voltage from the output terminal of the switch board into a digital value, and a push switch determination that determines a pressed switch based on the digital value from the analog / digital conversion unit. A table indicating a relationship between the push switch and the test mode for setting the optical disk device to a desired test mode when AC power to the optical disk device is turned on in a state where one or more switches are pressed; A switch-pressing-state power-on detecting means for detecting that the AC power to the optical disk apparatus is turned on in a state where one or more switches are pressed; When the input is detected, the test corresponding to the push switch determined by the push switch determining means is performed. Starting the test mode provided in the optical disk apparatus according to claim 3, characterized in that set in the optical disc apparatus reads out mode from the table and a test mode activation means for activating the optical disc device as a test mode.
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