JP2007165335A - Charge adjustment method, its device and mass spectrometer - Google Patents

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崇 馬場
Yuichiro Hashimoto
雄一郎 橋本
Izumi Wake
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To solve a problem where, since a reaction of sample ions with reverse charge ions is stochastically controlled in a conventional example, charge can not be stopped at an arbitrary value in a charge reduction operation; that is to say, the ion/ion reaction progresses until the valence of the sample ions is set to 0, that is, neutral; in this case, the sample ions are lost from an ion trap, and as a result, analysis sensitivity is degraded. <P>SOLUTION: A charge reduction reaction is generated in one-side linear ion trap by using a tandem linear ion trap, and ions set at an arbitrary set charge value are selectively moved to the other-side linear ion trap. Thereby, by executing an MS/MS mass analysis, the structure of a biological polymer can be efficiently analyzed by a simple analysis. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、試料溶液をエレクトロスプレーイオン化(Electro-Spray Ionization, ESI)等の大気圧イオン源(Atmospheric Pressure Ionization Ion Source)にてイオン化し、該イオン源で生成した多価イオンを質量分析計に導き、衝突誘起乖離(Collision-Induced Dissociation, CID)や、赤外多光子吸収乖離(Infra red multi photon absorption dissociation, IRMPD)により破砕イオンを生成して質量分析する質量分析装置に関する。
とくに、試料イオンを該イオンとは逆の極性をもつイオンを用いて電荷減少(charge reduction)させ、多価イオンでは複雑になる破砕イオンの質量スペクトルを単純化しさらに高感度に分析する方法とこれを実現する質量分析装置に関する。
The present invention ionizes a sample solution with an atmospheric pressure ion source such as electro-spray ionization (ESI), and multivalent ions generated by the ion source are applied to a mass spectrometer. The present invention relates to a mass spectrometer that performs mass spectrometry by generating crushed ions by guidance, collision-induced dissociation (CID), and infrared multiphoton absorption dissociation (IRMPD).
In particular, a method for analyzing sample ions with a high sensitivity by simplifying the mass spectrum of fragmented ions, which is complicated by multivalent ions, by reducing the charge of the sample ions using ions having the opposite polarity to the ions. The present invention relates to a mass spectrometer that achieves the above.

質量分析計は物質の電荷質量比(m/z、ここでmは質量、zは電荷)を直接、高感度、高精度に測定できる装置である。特に最近、ペプチドやたんぱく質の分析に適用範囲が拡大してきている。生体の主要な構成要素であり、また酵素などとして機能するこれらの生体分子の解析は、医療診断から新しい病気治療薬剤の開発まで、広い応用が期待されている。   A mass spectrometer is a device that can directly measure a charge mass ratio (m / z, where m is mass and z is charge) of a substance with high sensitivity and high accuracy. Particularly recently, the scope of application has expanded to the analysis of peptides and proteins. Analysis of these biomolecules, which are major components of living bodies and function as enzymes, is expected to be widely applied from medical diagnosis to the development of new disease treatment drugs.

質量分析計には、原理を異にする多種多様の装置がある。この中でイオントラップ質量分析計は小型でありながら多くの機能を有することから多くの分野に普及している。   There are many different types of mass spectrometers with different principles. Among them, the ion trap mass spectrometer is popular in many fields because it has many functions while being small.

近年、ペプチドやたんぱく質、DNAなどの質量分析が盛んになった背景には、イオントラップ質量分析計のイオン化方法の発展が大きく寄与している。マトリックス支援レーザ脱離イオン化法(matrix assisted laser desorption ionization, MALDI)やエレクトロスプレーイオン化法(electrospray ionization, ESI)などがその代表的な方法である。MALDI法はたんぱく質をイオン化するときに、主に単電荷イオンを発生するイオン化方法で、飛行時間型(TOF)質量分析法と組み合わせると相性がよい。ESIは熱分解しやすい生体高分子を溶液の状態から直接気相状態の安定なイオンとして取り出すことが可能なイオン化法である。ESIでは、たんぱく質、ペプチドなどの生体高分子は、多くの電荷を持つ多価イオンをとなる。多価イオンとは1つの分子(質量m)が複数の電荷(n価)をもっているイオンのことである。質量分析計は質量電荷比(m/z)(ここで、z=me、eは素電荷)に従いイオンを質量分析するため、質量mでn価のイオンはm/nの質量電荷比のイオンとして分析される。
上述のようなイオン化方法で作られた生体高分子イオンを質量分析の手法で構造決定する方法が多段階質量分析法(Multi stage Mass Spectrometry, MS/MS)である。質量決定された親イオンを衝突乖離(Collision induced desociation, CID)や遠赤外多数光子吸収(infrared multi photon desociation, IRMPD)などの方法を用いて乖離させる。その破砕イオンのパターンを質量分析的に決定して親イオンの構造を決定する。
In recent years, development of ionization methods for ion trap mass spectrometers has greatly contributed to the background of mass spectrometry of peptides, proteins, DNA and the like. Typical examples are matrix assisted laser desorption ionization (MALDI) and electrospray ionization (ESI). The MALDI method is an ionization method that mainly generates single-charged ions when proteins are ionized, and is compatible with time of flight (TOF) mass spectrometry. ESI is an ionization method that can extract biopolymers that are easily pyrolyzed as stable ions in a gas phase directly from a solution state. In ESI, biological macromolecules such as proteins and peptides become multivalent ions with many charges. Multivalent ions are ions in which one molecule (mass m) has a plurality of charges (n-valent). The mass spectrometer mass-analyzes ions according to the mass-to-charge ratio (m / z) (where z = me, e is an elementary charge). As analyzed.
Multi-stage mass spectrometry (MS / MS) is a method for determining the structure of biopolymer ions produced by the ionization method as described above by mass spectrometry. The mass-determined parent ion is dissociated using a method such as collision induced desociation (CID) or far-infrared multiphoton absorption (IRMPD). The fracture ion pattern is determined by mass spectrometry to determine the structure of the parent ion.

生体成分の分析においては、多くの場合、分析対象がピコグラム(pg = 10-12g)以下であるため、分析対象成分にくらべ妨害成分が圧倒的に多く、これが問題となる。この妨害は化学ノイズと呼ばれている。化学ノイズのうち、ほぼ分析対象イオンにほぼ等しいm/zを与えるものが実分析の際にノイズとなる。これらには、軽い質量で価数の小さいイオンや、重いクラスターに多数の電荷がのっているものなどが想定される。 In the analysis of biological components, in many cases, since the analysis target is a picogram (pg = 10 -12 g) or less, there are overwhelming interference components compared to the analysis target component, which is a problem. This interference is called chemical noise. Among chemical noises, those that give m / z substantially equal to the ions to be analyzed become noises during actual analysis. These are assumed to be ions with a light mass and a small valence, or those with a large number of charges on heavy clusters.

化学ノイズと分析対象成分を識別するための解決策の一つとして、電荷減少(charge reduction)の方法が、Analytical Chemistry vol.68 (1996), page 4026 やInternal Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes Vol. 162 (1997) 89 に示されている。この質量分析計を構成するイオントラップは弗化炭素の負イオンをグロー放電により生成する負イオン源を備える。ESIイオン源で生成した正イオンをイオントラップ質量分析計にトラップし、さらに負イオンを導入する。両者はイオントラップに捕捉され、クーロン力で引き合うことによりイオン・イオン反応を起こすようになる。
イオン・イオン反応による電荷が減少した多価イオンのm/zはイオン・イオン反応前のm/zに比べて大きくなる。分析対象イオンのイオン・イオン反応によるm/z値の変化は化学ノイズのそれとは明確に区別できるために、化学ノイズの除去が可能となる。
As one of the solutions for discriminating chemical noise from analytes, the charge reduction method is known as Analytical Chemistry vol.68 (1996), page 4026 and Internal Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes Vol. 162 (1997) 89. The ion trap constituting the mass spectrometer includes a negative ion source that generates negative ions of carbon fluoride by glow discharge. Positive ions generated by the ESI ion source are trapped in an ion trap mass spectrometer, and negative ions are introduced. Both are trapped by the ion trap and attracted by Coulomb force to cause an ion-ion reaction.
The m / z of multivalent ions whose charge is reduced by the ion-ion reaction is larger than the m / z before the ion-ion reaction. Since the change in m / z value due to the ion-ion reaction of ions to be analyzed can be clearly distinguished from that of chemical noise, chemical noise can be removed.

一方、MS/MS分析の後に生成した多価破砕イオンのスペクトルを単純化するために、イオン・イオン反応による電荷減少を用いることが、Analytical Chemistry, Vol. 72, (2000), 899に提案されている。このイオン・イオン反応による電荷減少により、同じ質量mに基づくm/z値の候補数が減少するのでスペクトルの解釈が容易になる。また、高質量の多価イオンは低質量領域の化学ノイズとの識別が明瞭になる。   On the other hand, Analytical Chemistry, Vol. 72, (2000), 899 proposes to use charge reduction by ion-ion reaction to simplify the spectrum of multiply charged fragment ions generated after MS / MS analysis. ing. Due to the decrease in charge due to the ion-ion reaction, the number of candidates for m / z values based on the same mass m is reduced, so that the spectrum can be easily interpreted. Also, high-mass multivalent ions are clearly distinguished from low-mass chemical noise.

Analytical Chemistry vol.68 (1996), page 4026Analytical Chemistry vol.68 (1996), page 4026 Internal Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes Vol. 162 (1997) 89Internal Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes Vol. 162 (1997) 89

上記従来技術では、電荷減少により化学ノイズの除去やスペクトル解釈の容易化を図っているが試料イオンと逆電荷イオンとの反応は確率的なものであるため、電荷減少操作においてイオン・イオン反応は試料イオンの価数が0、すなわち中性になるまで進行する。
この場合、試料イオンはイオントラップから失われ、その結果として分析感度が低下してしまう。
In the above prior art, chemical noise is removed and spectrum interpretation is facilitated by charge reduction, but the reaction between sample ions and reversely charged ions is probabilistic. The process proceeds until the valence of the sample ion is 0, that is, neutral.
In this case, sample ions are lost from the ion trap, and as a result, analysis sensitivity is lowered.

本発明は、電荷減少反応により任意の電荷値に到達したイオンについて、電荷減少反応を停止させる機構を備えた質量分析装置を提供する。このため、電荷減少反応を停止させたい電荷に到達したイオンを逆電荷イオンの影響を受けない位置に空間的に選択的に移動させることを特徴とする。
これを実現するため、少なくとも2つのイオントラップを直列に配置し、そのいずれか1つのイオントラップに試料イオンに対して逆電荷のイオンを導入するイオン源と、電荷の調整が終了したイオンを選択的に他のイオントラップに移動させる交流電圧を印加する電源を備える。
特に、少なくとも2つのイオントラップとして、線形イオントラップを用いるとこれらの間の電位を簡単に制御できるのでイオントラップ間のイオン移動効率を高くとることができる。電荷調整したイオンは、多段質量分析操作(Multi-Stage Mass Spectrometry, MS/MS)の親イオンとして用いられる。このMS/MS分析は電荷調整したイオンが導入された他のイオントラップで行っても、この他のイオントラップからもとのイオントラップに戻して行ってもよい。特に元のイオントラップに戻して行う場合、電荷調整に用いる交流電圧源と分析に用いる電源が共有することができる。MS/MS分析の破砕イオンの同定をおこなう2回目以降の質量分析操作は該イオントラップのうちの1つを用いて実行してもよいし、また該電荷減少装置に結合された高質量分解能を有する質量分析装置、たとえばポールトラップ型イオントラップ質量分析装置、飛行時間質量分析装置、磁場型質量分析装置をもちいて実行してもよい。
The present invention provides a mass spectrometer having a mechanism for stopping a charge reduction reaction for ions that have reached an arbitrary charge value by a charge reduction reaction. For this reason, it is characterized in that ions that have reached a charge for which the charge reduction reaction is to be stopped are selectively moved spatially to a position that is not affected by the reverse charge ions.
To achieve this, at least two ion traps are arranged in series, and an ion source that introduces ions that are oppositely charged to the sample ions into one of the ion traps and an ion that has undergone charge adjustment are selected. A power supply for applying an AC voltage to be moved to another ion trap is provided.
In particular, when a linear ion trap is used as at least two ion traps, the potential between them can be easily controlled, so that the ion transfer efficiency between the ion traps can be increased. Charge-adjusted ions are used as parent ions for multi-stage mass spectrometry (MS / MS). This MS / MS analysis may be performed in another ion trap into which charge-adjusted ions are introduced, or may be performed by returning from this other ion trap to the original ion trap. In particular, when returning to the original ion trap, the AC voltage source used for charge adjustment and the power source used for analysis can be shared. The second and subsequent mass spectrometric operations for identifying disrupted ions in MS / MS analysis may be performed using one of the ion traps, and the high mass resolution coupled to the charge reduction device. You may carry out using the mass spectrometer which has, for example, a pole trap type | mold ion trap mass spectrometer, a time-of-flight mass spectrometer, and a magnetic field type mass spectrometer.

本発明によれば、生体高分子の多価イオンを設定した任意の電荷に変換することができる。この、任意の電化に変換したイオンについて、MS/MS質量分析を実施することにより、生体高分子を高効率に、単純な解析により構造解析することができる。   According to the present invention, multivalent ions of biopolymers can be converted into arbitrary charges set. By performing MS / MS mass spectrometry for the ions converted into arbitrary electrification, it is possible to analyze the structure of the biopolymer with high efficiency and simple analysis.

以下に本発明の実施例を示す。説明の簡単化のため、試料多価イオンの極性は正とし逆電荷イオンの極性は負とする。試料多価イオンの極性が負の場合は逆電荷イオンの極性は正とし、印加静電圧の極性、正イオン源の方式などを変更して対処すればよい。また、制御された電荷の値は任意に設定することが出来るが、本実施例ではESIイオン源を用い、生成したイオンを単一電荷(n=1)になるように調整し、単一電荷イオンが生成されやすいMALDIイオン源と相対できるようにする。
まず、以下に示す複数の実施例で採用する線形イオントラップの動作原理をしめす。無限に長い理想的な線形四重極イオントラップ電場は図2、図3に示すように、その断面が双曲線を成す電極に周波数Ω、振幅Vrfの高周波電圧と静電圧Udcを印加することにより発生させることができる。この電極内に発生する四重極電場は以下の式で記述される。
Examples of the present invention are shown below. For simplification of explanation, the polarity of the sample multiply-charged ion is positive, and the polarity of the reverse charge ion is negative. When the polarity of the sample multivalent ions is negative, the polarity of the reversely charged ions is positive, and the polarity of the applied electrostatic voltage, the method of the positive ion source, and the like may be changed. The value of the controlled charge can be arbitrarily set. In this embodiment, an ESI ion source is used, and the generated ions are adjusted so as to have a single charge (n = 1). It is possible to make relative to a MALDI ion source in which ions are easily generated.
First, the principle of operation of the linear ion trap employed in the following embodiments will be described. An infinitely long ideal linear quadrupole ion trap electric field is generated by applying a high-frequency voltage with a frequency Ω and amplitude Vrf and a static voltage Udc to an electrode whose cross section forms a hyperbola, as shown in FIGS. Can be made. The quadrupole electric field generated in this electrode is described by the following equation.

Figure 2007165335
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この電場内部において、質量:m、電荷:z=neをもつイオンの運動方程式は以下のように記述される。   Within this electric field, the equation of motion of ions with mass: m and charge: z = ne is described as follows:

Figure 2007165335
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この運動方程式はx、y方向とも、以下のようにMathieu方程式と同等である。   This equation of motion is equivalent to the Mathieu equation in the x and y directions as follows.

Figure 2007165335
Figure 2007165335

ここで、u=x,y、ξ=Ωt/2、2つのパラメータaとqは以下のように与えられる。   Here, u = x, y, ξ = Ωt / 2, and the two parameters a and q are given as follows.

Figure 2007165335
Figure 2007165335

Figure 2007165335
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この2つのパラメータを用いて、イオンが安定にイオントラップの中に保持される条件を与えることが出来る。その安定領域を図6に示した。
安定領域内で捕捉されているイオンは、永年運動(secular motion)と呼ばれる調和振動モードをもつ。その振動数、すなわち永年運動振動数ω(secular frequency)は以下の式で近似的に与えることができる。
Using these two parameters, it is possible to give a condition that ions are stably held in the ion trap. The stable region is shown in FIG.
Ions trapped in the stable region have a harmonic oscillation mode called secular motion. The frequency, that is, the secular frequency ω (secular frequency) can be approximately given by the following equation.

Figure 2007165335
Figure 2007165335

永年運動振動数は質量電荷比(m/z)に逆比例するので、トラップされたイオンの永年運動振動数を測定することにより質量分析が可能となる。永年運動振動数の測定方法として、トラップしたイオンを外部交流電場で共鳴振動させて、該イオンをイオントラップ外部に排出し、これをイオン検出器などで検出するという原理に基づく質量分析方法が開示されている。ポールトラップを用いた方法として、米国特許第4,736,101号、線形イオントラップを用いた方法として米国特許第4,755,670号。また同原理はイオントラップに捕捉されている不要イオン、バックグランドイオンの除去にも用いられている。その原理に基づくポールトラップを用いたイオン除去原理は米国特許第5,134,286号において開示されている。本発明においても、その実施にあたり、これらの質量分析方法、不要イオン除去方法を必要に応じて採用することができる。
線形イオントラップにおいては、質量分析と不要イオン除去の方法として、高周波の印加されない方向すなわちz軸方向に印加された静電ポテンシャルを調和型とし、このポテンシャルによる調和振動を励起する原理に基づく方法が米国特許第5,783,824号に開示されている。本発明においても同方法を必要に応じて採用することができる。いままでの説明と図2、図3では、理想的な四重極構造をもつ電極をもちいて議論を行った。ただし、理想的な四重極構造を製作することは難しい。そこでD. R. Dennison, Journal of Vacuum Science and Technology, 8 (1971) 266には、円筒形の4本の電極をくみあわせて、近似的にイオントラップ中心に四重極電場が発生するような電極サイズに関する方法が示されている(図4、図5)。この研究によると、円筒形電極の半径Rと四重極中心から電極までの距離rを以下の関係にとればよい。
Since the secular motion frequency is inversely proportional to the mass to charge ratio (m / z), mass spectrometry can be performed by measuring the secular motion frequency of the trapped ions. Disclosed is a mass spectrometric method based on the principle that the trapped ions are resonantly oscillated with an external AC electric field and discharged outside the ion trap and detected by an ion detector, etc. Has been. US Pat. No. 4,736,101 as a method using a pole trap and US Pat. No. 4,755,670 as a method using a linear ion trap. The same principle is also used to remove unwanted ions and background ions trapped in the ion trap. The principle of ion removal using a pole trap based on this principle is disclosed in US Pat. No. 5,134,286. Also in the present invention, these mass spectrometry methods and unnecessary ion removal methods can be adopted as necessary in the implementation.
In the linear ion trap, as a method of mass spectrometry and unnecessary ion removal, there is a method based on the principle of exciting the harmonic vibration caused by this potential by making the electrostatic potential applied in the direction in which no high frequency is applied, that is, the z-axis direction harmonic. U.S. Pat. No. 5,783,824. In the present invention, the same method can be adopted as necessary. In the description so far and FIGS. 2 and 3, the discussion was made using an electrode having an ideal quadrupole structure. However, it is difficult to produce an ideal quadrupole structure. Therefore, DR Dennison, Journal of Vacuum Science and Technology, 8 (1971) 266, relates to an electrode size such that a quadrupole electric field is generated approximately in the center of an ion trap by combining four cylindrical electrodes. The method is shown (FIGS. 4 and 5). According to this study, the radius R 0 of the cylindrical electrode and the distance r 0 from the center of the quadrupole to the electrode may be set as follows.

Figure 2007165335
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線形イオントラップの特長は、その両端が物理的に開放なので、複数の線形イオントラップを直列に配列できることである。その電極間に任意の静電圧を印加することにより、イオンの運動を操作することが可能となる。そのとき、横方向(x、y方向)が高周波により束縛されているためにイオントラップ間の輸送効率を高くとることができる。線形イオントラップを直列に配することにより、多種多様なイオン操作を実現し、質量分析の確度や感度を向上させるという一連の発明が米国特許第6,075,244号に開示されている。本発明においても、同方法を必要におおじて適宜採用することができる。
(実施例1)図9は、タンデム線形トラップと試料イオン源と逆電荷イオン源を備えた四重極偏向器と交流電源からなる電荷減少装置と、それを接続したTOF質量分析計からなる質量分析装置である。同電荷減少装置において電荷減少して生成したイオンを親イオンとして、CIDやIRMPDを用いたMS/MS操作は負イオン源を停止させた電荷減少装置において行われる。破砕イオンは飛行時間質量分析器(TOF質量分析器)に導かれて、高質量分解能で質量分析される。本実施例での線形イオントラップとTOF質量分析器の結合による研究例はB. A. Collings et al. Rapid Communications in Mass Spectrometry 2001;25;1777 などに示されている。本実施例の電荷減少装置は四重極静電偏向器を備えた2連タンデム線形イオントラップを用いている。2連タンデム線形イオントラップを成す2つの線形イオントラップのうち、四重極偏向器側のイオントラップにはイオンを共振させるために用いる双極電場を発生させるための交流電源が接続されている。四重極偏向器には試料イオン源と負イオン源が連結されている。四重極偏向器を用いることにより、両極性をもつイオンを高効率で線形イオントラップ内部に導くことが可能である。
A feature of the linear ion trap is that a plurality of linear ion traps can be arranged in series because both ends thereof are physically open. By applying an arbitrary electrostatic voltage between the electrodes, the movement of ions can be manipulated. At that time, since the lateral direction (x, y direction) is constrained by a high frequency, the transport efficiency between the ion traps can be increased. US Pat. No. 6,075,244 discloses a series of inventions in which linear ion traps are arranged in series to realize a wide variety of ion operations and improve the accuracy and sensitivity of mass spectrometry. In the present invention, the same method can be appropriately employed as necessary.
(Embodiment 1) FIG. 9 shows a mass composed of a tandem linear trap, a sample ion source, a quadrupole deflector provided with a reverse charge ion source, a charge reducing device comprising an AC power source, and a TOF mass spectrometer connected thereto. It is an analysis device. The MS / MS operation using CID or IRMPD is performed in the charge reduction apparatus in which the negative ion source is stopped, using ions generated by charge reduction in the charge reduction apparatus as parent ions. The crushed ions are guided to a time-of-flight mass analyzer (TOF mass analyzer) and subjected to mass analysis with high mass resolution. Examples of research by combining a linear ion trap and a TOF mass spectrometer in this example are shown in BA Collings et al. Rapid Communications in Mass Spectrometry 2001; 25; 1777. The charge reducing apparatus of this embodiment uses a double tandem linear ion trap equipped with a quadrupole electrostatic deflector. Of the two linear ion traps constituting the double tandem linear ion trap, an AC power source for generating a dipole electric field used to resonate ions is connected to the ion trap on the quadrupole deflector side. A sample ion source and a negative ion source are connected to the quadrupole deflector. By using a quadrupole deflector, it is possible to guide ions having both polarities into the linear ion trap with high efficiency.

以下では、本発明の電荷減少の原理も含め、その実施方法を、時系列にしたがって説明する。図7と図8に示すように、その操作は、(1)試料イオンの質量と電荷の推定、必要に応じて(2)不要イオンの除去、(3)電荷減少、(4)電荷を制御したイオンの移動からなる。最終的な質量分析操作や操作ステップごとのイオンの状態を確認する質量分析操作では、いったんTOF質量分析装置直前の線形イオントラップへイオンを移動しておき、そこからTOF質量分析装置にイオンを送り込むという手続きをとるように統一している。
(0)試料イオンの生成
ESIイオン源を用いて発生させた正電荷を持った試料イオンは、四重極偏向器を用いてイオントラップに導入される。四重極偏向器では、負電位にセットされた電極によりひきつけられるようにして、扇形軌道を描いて線形イオントラップの端面に入射される。このとき、タンデム線形イオントラップの静電位は図10(1)のようにセットする。TOF側の電位壁を高くとるのは、入射イオンがTOFに至り、失われることを防ぐためである。線形イオントラップが設置されている槽は1mトール程度のヘリウムガスで満たされている。入射されたイオンはヘリウムガスとの衝突により運動エネルギーを失い、線形イオントラップ内部に蓄積されていく。このとき、図10(1)のように、2つの線形イオントラップ間の電圧壁を低くし、あたかも2つの線形イオントラップを一体のごとく動作させるのは、TOF側の電圧壁に至るまでのイオンの軌跡を長くし、より多くイオンの運動エネルギーを失わせるためである。
Below, the implementation method including the principle of charge reduction of this invention is demonstrated according to a time series. As shown in FIG. 7 and FIG. 8, the operation consists of (1) estimating the mass and charge of sample ions, (2) removing unnecessary ions, (3) reducing charge, and (4) controlling charge as required. Consisting of the movement of ions. In the mass analysis operation for confirming the state of ions for each final mass analysis operation or operation step, the ions are once moved to the linear ion trap immediately before the TOF mass spectrometer, and then the ions are fed into the TOF mass spectrometer. It is standardized to take the procedure.
(0) Generation of sample ions Sample ions having positive charges generated using an ESI ion source are introduced into an ion trap using a quadrupole deflector. In the quadrupole deflector, it is attracted by an electrode set at a negative potential and is incident on the end face of the linear ion trap in a fan-shaped orbit. At this time, the electrostatic potential of the tandem linear ion trap is set as shown in FIG. The reason why the potential wall on the TOF side is set high is to prevent incident ions from reaching the TOF and being lost. The tank in which the linear ion trap is installed is filled with helium gas of about 1 mTorr. The incident ions lose kinetic energy due to collision with helium gas and accumulate in the linear ion trap. At this time, as shown in FIG. 10 (1), the voltage wall between the two linear ion traps is lowered and the two linear ion traps are operated as if the ions to reach the voltage wall on the TOF side. This is to lengthen the trajectory of the ion and lose more kinetic energy of ions.

所定のイオン蓄積時間後、タンデム線形イオントラップの静電位は図10(2)を経由して図10(3)のようにセットする。これにより、トラップしたイオンをイオントラップAに集めることができる。
(1) 質量と電荷の推定。
電荷減少操作は、試料イオンの質量と電荷の推定からはじめる。このために、まず、試料イオンを質量分析する。本実施例ではTOF質量分析器を用いる。このとき得られるスペクトルの模式図を図8(1)に示した。
多価イオンでは、得られるm/z値は、m/nで与えられる。ここで素電荷eは1とした。ピーク位置:mと、その隣のピーク:mn-1より、計算により、nとmを推定することが出来る。すなわち、m=m/n、mn-1=m/(n―1)とおくと、n=mn-1/(mn-1―m)、m=nmで導出することができる。複数のピークに対しこの計算を行って、そのmとnの確度を向上することができる。
After a predetermined ion accumulation time, the electrostatic potential of the tandem linear ion trap is set as shown in FIG. 10 (3) via FIG. 10 (2). Thereby, trapped ions can be collected in the ion trap A.
(1) Estimation of mass and charge.
The charge reduction operation begins with estimation of the mass and charge of the sample ions. For this purpose, first, sample ions are subjected to mass spectrometry. In this embodiment, a TOF mass analyzer is used. A schematic diagram of the spectrum obtained at this time is shown in FIG.
For multiply charged ions, the m / z value obtained is given by m / n. Here, the elementary charge e is 1. From the peak position: mn and the adjacent peak: mn-1 , n and m can be estimated by calculation. That is, when m n = m / n and m n−1 = m / (n−1), n = m n−1 / (m n−1 −m n ) and m = nm n. Can do. This calculation can be performed on a plurality of peaks to improve the accuracy of the m and n.

複数種の質量をもつ試料イオンが導入された場合は、複数の分布の重ね合わせになる。図8(1)では2種の質量をもつイオンをトラップした場合の模式図である。この場合、単純に隣のピークが自身とおなじmをもつイオンとは限らないけれども、一般にnに対する存在比分布がほぼポアッソン分布になると推定されるので、異なるmを分離して解析することは可能である。この推定は本発明の電荷減少を実施する前に少なくとも1回はおこなう。それ以降は同条件を再利用するか、もしくは適宜必要に応じて再度推定をおこなう。   When sample ions having a plurality of types of mass are introduced, a plurality of distributions are superimposed. FIG. 8 (1) is a schematic diagram when ions having two kinds of masses are trapped. In this case, although the adjacent peak is not necessarily an ion having the same m as itself, it is generally estimated that the abundance distribution with respect to n is almost a Poisson distribution, so it is possible to separate and analyze different m. It is. This estimation is made at least once before performing the charge reduction of the present invention. Thereafter, the same condition is reused, or estimation is performed again as necessary.

(2)不要イオンの除去:
複数のmが含まれている場合、必要に応じて不要イオンを除去する。除去は(1)で測定したスペクトルを参照し、不要イオンに共鳴する周波数を加えてこれを共鳴排出する(図8(2))。
(2) Removal of unnecessary ions:
When a plurality of m are included, unnecessary ions are removed as necessary. The removal is performed by referring to the spectrum measured in (1), adding a frequency that resonates with unwanted ions, and discharging the resonance (FIG. 8 (2)).

(3)電荷を制御したイオンの移動
ある特定の永年運動振動数を有するイオンを1つの線形イオントラップから別の
線形イオントラップに移動させる方法を説明する。特に、この実施例ではn=1
をもつイオンを選択する。
(3) Ion Movement Controlling Charges A method of moving ions having a specific secular motion frequency from one linear ion trap to another linear ion trap will be described. In particular, in this embodiment, n = 1
Select ions with.

イオンをイオントラップAに移動させておく。(1)で行ったmの推定結果を用いて、その1価のイオンの永年運動振動数は式6を用いて計算する。その周波数の交流電場、もしくはその周波数を含む周波数帯を有する交流電場をイオントラップAに印加しておく(図8(3))。Bトラップの深さをAよりも深くすることで、負イオンがBトラップに浸入することをふせぐ(図10(3))。同時に、Bへ移動したイオンの逆流を防ぐことが出来る。ここで、電荷減少のために、負イオン源を作動させる。四重極偏向器とそれに接続したイオン源をもちいて、高効率に逆電荷イオンをイオントラップに導入する。負イオンにとってイオントラップAにおける静電位はポテンシャルの山となっている(図10(4))。そこで、負イオンにはこのポテンシャルの山を登るだけの運動エネルギーを与えておく必要がある。ポテンシャルの山を登ったイオンの運動エネルギーは小さくなるので、イオントラップAを通過中のイオン・イオン反応の断面積と衝突確率が向上し、反応効率を大きくすることができるという効果もある。また、負イオンにとってイオントラップBの電位はイオントラップAの電位と負イオンの運動エネルギーよりも高い値に設定する。この設定によれば負イオンがイオントラップBに到達しないようにすることができる。すなわち、イオントラップBにおいて、イオン・イオン反応は発生しない。
イオントラップAには、1価のイオンの永年運動振動数の周波数の交流電場、もしくはその周波数を含む周波数帯を有する交流電場が印加されているので、イオン・イオン反応の結果価数n=1に到達したイオンは、該交流電場によって共鳴振動を開始する。共鳴振動したイオンはその運動エネルギーがおおきくなるのでイオントラップAとイオントラップBの間のポテンシャル障壁を乗り越えて、イオントラップBに到達する。イオントラップBには負イオンが存在しないので、これ以上のイオン・イオン反応による電荷減少は進行しない。
Ions are moved to the ion trap A. Using the estimation result of m performed in (1), the secular motion frequency of the monovalent ion is calculated using Equation 6. An AC electric field having the frequency or an AC electric field having a frequency band including the frequency is applied to the ion trap A (FIG. 8 (3)). By making the depth of the B trap deeper than A, the negative ions are prevented from entering the B trap (FIG. 10 (3)). At the same time, the backflow of ions that have moved to B can be prevented. Here, the negative ion source is activated to reduce the charge. Using a quadrupole deflector and an ion source connected thereto, reversely charged ions are introduced into the ion trap with high efficiency. For negative ions, the electrostatic potential in the ion trap A is a potential peak (FIG. 10 (4)). Therefore, it is necessary to give the negative ions enough kinetic energy to climb this potential mountain. Since the kinetic energy of ions climbing the potential peak is reduced, the cross-sectional area and collision probability of the ion-ion reaction passing through the ion trap A are improved, and the reaction efficiency can be increased. For negative ions, the potential of the ion trap B is set higher than the potential of the ion trap A and the kinetic energy of the negative ions. According to this setting, negative ions can be prevented from reaching the ion trap B. That is, no ion-ion reaction occurs in the ion trap B.
The ion trap A is applied with an AC electric field having a frequency of the secular motion frequency of monovalent ions, or an AC electric field having a frequency band including the frequency, so that the valence n = 1 as a result of the ion-ion reaction. The ions that have reached the resonance vibration are started by the AC electric field. Resonantly oscillated ions have a large kinetic energy, so they reach the ion trap B over the potential barrier between the ion trap A and the ion trap B. Since there are no negative ions in the ion trap B, further charge reduction due to ion-ion reaction does not proceed.

本発明で採用しているイオントラップ間のイオンの輸送方法は、PCT:WO01/15201 A2において言及されているものである。
電荷減少により価数の調節された生体分子イオンを用いて、MS/MS分析を行う。これにより、MALDIイオン化法に準ずる構造解釈の簡単なスペクトルを得ることができる。ESIでは試料を連続導入できるのでMALDIよりもスループットが高い。
The method for transporting ions between ion traps employed in the present invention is the one mentioned in PCT: WO01 / 15201 A2.
MS / MS analysis is performed using biomolecular ions whose valence is adjusted by charge reduction. Thereby, a simple spectrum of structure interpretation according to the MALDI ionization method can be obtained. ESI has a higher throughput than MALDI because samples can be continuously introduced.

以下では線形イオントラップを用いたMS/MS操作例を示す。線形イオントラップAにイオンを導く。このとき、価数調整された親イオンのq値を0.1程度に設定しておく。これによって、価数調整された親イオンとこれを破砕してできたイオンの双方をイオントラップ内に保持することが可能となる。ここに交流電圧を印加して、イオンを共鳴振動させる。イオンはイオントラップに満たしたヘリウムガスとの衝突により衝突乖離(CID)し、破砕される。この破砕イオンをイオントラップBに誘導し(図10(5))、さらにここからTOF質量分析に導入して高質量分解能質量分析を実施する(図10(6))。   Below, the example of MS / MS operation using a linear ion trap is shown. Ions are introduced into the linear ion trap A. At this time, the q value of the parent ion whose valence is adjusted is set to about 0.1. This makes it possible to hold both the valence-adjusted parent ion and ions produced by crushing the parent ion in the ion trap. An AC voltage is applied here to cause the ions to resonate. The ions are collided (CID) due to collision with helium gas filled in the ion trap and are crushed. The crushed ions are guided to the ion trap B (FIG. 10 (5)), and further introduced into TOF mass analysis from here to perform high mass resolution mass spectrometry (FIG. 10 (6)).

(実施例2)図11はグロー放電による負イオン源を線形イオントラップの側面にそなえた電荷減少装置である。ここで発生したイオンを高質量分解能なポールトラップ型のイオントラップ質量分析計に導き、質量分析計内部でMS/MS質量分析をおこなう。ポールトラップ型質量分析計はTOF質量分析計に比べて装置を小さくでき、結局安価な装置を構成できるメリットがある。   (Embodiment 2) FIG. 11 shows a charge reducing device in which a negative ion source by glow discharge is provided on the side of a linear ion trap. The ions generated here are guided to a pole trap type ion trap mass spectrometer having high mass resolution, and MS / MS mass spectrometry is performed inside the mass spectrometer. The pole trap mass spectrometer has the advantage that the apparatus can be made smaller than the TOF mass spectrometer, and that an inexpensive apparatus can be constructed after all.

線形イオントラップの基本的構成は実施例1に等しい概念に基づき構成する。本実施例では線形イオントラップをポールトラップエンドキャップの穴に近接できるように、電極端をエンドキャップの形に合わせて整形して配置した。   The basic configuration of the linear ion trap is configured based on the concept equivalent to the first embodiment. In this embodiment, the end of the electrode is shaped according to the shape of the end cap so that the linear ion trap can be close to the hole of the pole trap end cap.

負イオンは線形イオントラップの間隙から導入する。これにより、四重極偏向器を省略できるので安価な装置を構成できる。ただし、負イオンをイオントラップ内部に満たしたガスによる粘性により減速・捕捉するので、捕捉効率は四重極偏向器の場合にくらべてやや低下する。   Negative ions are introduced from the gap of the linear ion trap. Thereby, since a quadrupole deflector can be omitted, an inexpensive apparatus can be configured. However, since negative ions are decelerated and trapped by the viscosity of the gas filled inside the ion trap, the trapping efficiency is slightly lower than in the case of a quadrupole deflector.

グロー放電による負イオン源は以下のように構成する。ガスボンベから供給された弗化炭素ガスをグロー放電イオン源に送り込む。イオン源は真空ポンプにより排気されている。電極には負の高圧電源が接続され、グロー放電を維持する電流が供給される。イオン弁電極には通常負電圧が印加されており、イオンはこの電極の穴を通過できない。イオンを導入する場合、接地電位に落とす。これにより負イオンが穴を通過できるようになりイオン弁の穴を通して線形イオントラップAの隙間に入射される。入射イオンはイオントラップ内部に満たされたヘリウムガスにより減速される。減速された負イオンと、試料正イオンがクーロン力で引き合い、両者がイオン・イオン反応を起こすことにより、試料イオンの電荷が減少する。電荷減少の操作は実施例1と同様である。
ポールトラップ質量分析計でMS/MS分析を行う方法は一般によく知られている。本発明に適用するときに注意すべき点は直列に配されたサンプルイオン源で発生した液滴などの化学ノイズがポールトラップ質量分析計のイオン検出器を直撃し、バックグランドとなることである。これを避けるために、イオン検出器はポールトラップエンドキャップの2つの穴を結ぶ直線上を避けて配置する。本実施例では1つの電荷変換電極(conversion dynode)を該直線上からずらして配し、個々に負高電圧を印加しておく。ここに入射した質量分析された正電荷をもつイオンから2次電子を発生させる。この電子をシンチレータに入射させ、発生した蛍光を光電子増倍管で検出する。以上の記載から次の方法および装置が本発明に含まれるのは明らかである。
正イオンと負イオンを反応させ電荷減少させるとき、任意の電荷に到達した目的イオンを逆電荷イオンの影響を受けない位置に空間的に移動することにより電荷減少反応を停止させる電荷減少方法。
直列に配したすくなくとも2つのイオントラップと、その少なくとも1つのイオントラップに双曲交流電場を印可する電源系と、試料イオン源と、試料イオンとは逆電荷のイオンを生成するイオン源を備えた電荷減少を行う装置。
The negative ion source by glow discharge is configured as follows. The carbon fluoride gas supplied from the gas cylinder is sent to the glow discharge ion source. The ion source is exhausted by a vacuum pump. A negative high voltage power supply is connected to the electrode, and a current for maintaining glow discharge is supplied. A negative voltage is normally applied to the ion valve electrode, and ions cannot pass through the hole of this electrode. When introducing ions, drop to ground potential. As a result, negative ions can pass through the hole and enter the gap of the linear ion trap A through the hole of the ion valve. Incident ions are decelerated by the helium gas filled inside the ion trap. The decelerated negative ions and the sample positive ions attract each other by Coulomb force, and both cause an ion-ion reaction, thereby reducing the charge of the sample ions. The charge reduction operation is the same as in the first embodiment.
The method of performing MS / MS analysis with a pole trap mass spectrometer is generally well known. It should be noted that when applying to the present invention, chemical noise such as droplets generated in a sample ion source arranged in series directly hits the ion detector of the pole trap mass spectrometer and becomes a background. . In order to avoid this, the ion detector is arranged avoiding the straight line connecting the two holes of the pole trap end cap. In this embodiment, one charge conversion electrode (conversion dynode) is shifted from the straight line, and a negative high voltage is applied individually. Secondary electrons are generated from the positively charged ions incident on the mass spectrum. The electrons are incident on the scintillator, and the generated fluorescence is detected by a photomultiplier tube. From the above description, it is apparent that the following method and apparatus are included in the present invention.
A charge reduction method for stopping a charge reduction reaction by spatially moving a target ion reaching an arbitrary charge to a position not affected by a reverse charge ion when a positive ion and a negative ion are reacted to reduce the charge.
At least two ion traps arranged in series, a power supply system that applies a hyperbolic AC electric field to at least one of the ion traps, a sample ion source, and an ion source that generates ions having opposite charges to the sample ions A device that performs charge reduction.

2つの線形イオントラップからなる上述の電荷減少を行う装置。
試料イオン源とその逆電荷イオン源を備えた四重極偏向器を備えた上述の電荷減少を行う装置。
正電荷イオンを発生する試料イオン源と、弗化炭素グロー放電による逆電荷イオン源を備えた上述の電荷減少を行う装置。
電荷減少反応を発生させる操作の前に反応前イオンのスペクトルを測定することを特徴とした上述の電荷減少を行う装置。
測定したスペクトルをもとに、試料イオンの質量と電荷の値を推定するステップを有する上述の電荷減少を行う装置。
測定したスペクトルをもとに、不要イオンを検知し、それを除去してから電荷減少反応を発生させることを特徴とした上述の電荷減少を行う装置。
共鳴排出により不要イオンを除去することを特徴とした上述の電荷減少を行う装置。
試料イオンを線形イオントラップに導入する時、両者とその間のポテンシャル障壁を等しい値とした上述の電荷減少を行う装置。
電荷減少反応を停止させたい永年運動振動数をもつ双曲交流電場を印加することを特徴とした上述の電荷減少を行う装置。
電荷減少反応を停止させたい永年運動振動数を含む周波数帯をもつ双曲交流電場を印加することを特徴とした上述の電荷減少を行う装置。
四重極偏向器に入射される逆電荷イオンのビームエネルギーが、試料イオンが捕捉されている線形イオントラップのポテンシャルよりも大きいことを特徴とする上の電荷減少を行う装置。
四重極偏向器に入射される逆電荷イオンのビームエネルギーが、電荷調節された試料イオンが捕捉されている線形イオントラップのポテンシャルよりも小さいことを特徴とする上述の電荷減少を行う装置。
逆電荷イオンを試料イオンが捕捉されている線形イオントラップの間隙から入射することを特徴とした上述の電荷減少を行う装置。
上述の電荷減少を行う装置を備えた質量分析計。
飛行時間型質量分析計を備えた上述の電荷減少を行う装置を有する質量分析計。
イオントラップ質量分析器を備えた上述の電荷減少を行う装置を有する質量分析計。
高分解能磁場型質量分析器を備えた上述の電荷減少を行う装置を有する質量分析計。
フーリエ変換型イオンサイクロトロン共鳴質量分析器を備えた上述の電荷減少を行う装置を有する質量分析計。
A device that performs the above-described charge reduction consisting of two linear ion traps.
An apparatus for performing charge reduction as described above, comprising a quadrupole deflector comprising a sample ion source and its oppositely charged ion source.
An apparatus for performing charge reduction as described above, comprising a sample ion source for generating positively charged ions and a reversely charged ion source by fluorocarbon glow discharge.
An apparatus for performing charge reduction as described above, wherein a spectrum of pre-reaction ions is measured before an operation for generating a charge reduction reaction.
An apparatus for performing charge reduction as described above, comprising estimating the mass and charge values of sample ions based on the measured spectrum.
An apparatus for performing charge reduction as described above, wherein an unnecessary ion is detected based on a measured spectrum and then removed to generate a charge reduction reaction.
An apparatus for performing charge reduction as described above, wherein unnecessary ions are removed by resonance ejection.
An apparatus that performs the above-described charge reduction when introducing sample ions into a linear ion trap, with the potential barrier between them being the same value.
An apparatus for performing charge reduction as described above, wherein a hyperbolic AC electric field having a secular motion frequency to stop the charge reduction reaction is applied.
A device for performing charge reduction as described above, wherein a hyperbolic alternating electric field having a frequency band including a secular motion frequency to stop the charge reduction reaction is applied.
A device for performing the above charge reduction, characterized in that the beam energy of reversely charged ions incident on a quadrupole deflector is greater than the potential of a linear ion trap in which sample ions are trapped.
The apparatus for charge reduction as described above, wherein the beam energy of the reversely charged ions incident on the quadrupole deflector is smaller than the potential of the linear ion trap in which the charge-adjusted sample ions are trapped.
An apparatus for performing charge reduction as described above, wherein reversely charged ions are incident from a gap of a linear ion trap in which sample ions are trapped.
A mass spectrometer provided with a device for performing charge reduction as described above.
A mass spectrometer having the above-described charge reduction device equipped with a time-of-flight mass spectrometer.
A mass spectrometer having an apparatus for charge reduction as described above, equipped with an ion trap mass analyzer.
A mass spectrometer having the above-described device for charge reduction, equipped with a high-resolution magnetic field type mass analyzer.
The mass spectrometer which has the apparatus which performs the above-mentioned charge reduction provided with the Fourier-transform type | mold ion cyclotron resonance mass spectrometer.

本発明の構成要素を示す図。The figure which shows the component of this invention. 双曲電極からなる線形イオントラップにおいて双曲電圧を印加する1つの方法。One method of applying a hyperbolic voltage in a linear ion trap consisting of hyperbolic electrodes. 双曲電極からなる線形イオントラップにおいて双曲電圧を印加する別の方法。Another method of applying a hyperbolic voltage in a linear ion trap consisting of hyperbolic electrodes. 円柱電極を用いた線形イオントラップにおいて双曲電圧を印加する1つの方法。One method of applying a hyperbolic voltage in a linear ion trap using a cylindrical electrode. 円柱電極からなる線形イオントラップにおいて双曲電圧を印加する別の方法。Another method of applying a hyperbolic voltage in a linear ion trap consisting of cylindrical electrodes. 線形イオントラップの安定領域を示す図。The figure which shows the stable area | region of a linear ion trap. 本発明の代表的な操作手順を説明する図。The figure explaining the typical operation procedure of this invention. 本発明の代表的な操作手順によって得られる質量スペクトルの経緯を説明する図。The figure explaining the history of the mass spectrum obtained by the typical operation procedure of this invention. 本発明の電荷減少装置を備えた線形イオントラップ−飛行時間型質量分析計を説明する図。The figure explaining the linear ion trap-time-of-flight mass spectrometer provided with the electric charge reduction apparatus of this invention. 本発明の代表的な操作手順における線形イオントラップに印加する正電圧の経緯を説明する図。The figure explaining the history of the positive voltage applied to the linear ion trap in the typical operation procedure of this invention. 本発明の電荷減少装置を備えた線形イオントラップ−ポールトラップ型分析計を説明する図。The figure explaining the linear ion trap-pole trap type | mold analyzer provided with the electric charge reduction apparatus of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

101 イオントラップA
102 イオントラップB
103 交流電源
104 サンプルイオン源
105 逆電荷イオン源
901 イオントラップ部真空槽
902 真空ポンプ
903 TOF質量分析部真空槽
904 真空ポンプ
905 イオン源部真空ポンプ
906 逆電荷イオン源
907 逆電荷イオン溶液タンクおよびポンプ
908 試料イオン源
909 液体クロマトグラフ
910 四重極偏向器
911 イオントラップA
912 イオントラップB
913 RF,DC電源
914 AC電源
915 ヘリウムボンベ
916 キッカー
917 キッカー電源
918 リフレクトロン
919 リフレクトロン電源
920 MCP
921 MCP電源
922 制御装置
1101 イオントラップ真空槽
1102 真空ポンプ
1103 真空ポンプ
1104 サンプルイオン源
1105 逆電荷イオン源
1106 高圧電源
1107 逆電荷用ガス源
1108 イオントラップA
1109 イオントラップB
1110 AC電源
1111 RF,DC電源
1112 ヘリウムガスボンベ
1113 ポール型イオントラップ質量分析器
1114 RF,AC電源
1115 コンバージョンダイノード
1116 高圧電源
1117 シンチレータ
1118 光学窓
1119 光電子増倍管
1120 制御装置。
101 Ion trap A
102 Ion trap B
103 AC power supply
104 Sample ion source
105 Reverse-charged ion source
901 Ion trap vacuum chamber
902 vacuum pump
903 TOF mass spectrometer vacuum chamber
904 vacuum pump
905 Ion source vacuum pump
906 Reverse charge ion source
907 Reverse-charge ionic solution tank and pump
908 Sample ion source
909 liquid chromatograph
910 Quadrupole deflector
911 Ion Trap A
912 Ion trap B
913 RF, DC power supply
914 AC power supply
915 Helium cylinder
916 Kicker
917 Kicker power supply
918 Reflectron
919 Reflectron power supply
920 MCP
921 MCP power supply
922 Controller
1101 ion trap vacuum chamber
1102 Vacuum pump
1103 Vacuum pump
1104 Sample ion source
1105 Reverse charge ion source
1106 High voltage power supply
1107 Gas source for reverse charge
1108 Ion trap A
1109 Ion trap B
1110 AC power supply
1111 RF and DC power supplies
1112 Helium gas cylinder
1113 Pole-type ion trap mass spectrometer
1114 RF, AC power supply
1115 Conversion dynode
1116 High voltage power supply
1117 Scintillator
1118 Optical window
1119 Photomultiplier tube
1120 Control unit.

Claims (7)

試料イオン源と、
該試料イオン源で発生させたイオンを導入する直列に配した第1及び第2の線形イオントラップと、
前記第1及び前記第2の線形イオントラップへポテンシャルを与える第1の電源系と、
前記第1の線形イオントラップに双曲交流電場を印加する第2の電源系と、
前記試料イオンとは逆電荷のイオンを生成し、前記第1の電源系によって前記第2の線形イオントラップよりも浅いポテンシャルを与えられた前記第1の線形イオントラップに、生成された前記逆電荷のイオンを導入する逆電荷イオン源とを備え、
前記第2の電源系は、任意の電荷に達した試料イオンの永年運動振動数をもつ双曲交流電場あるいは該永年運動振動数を含む周波数帯を持つ双曲交流電場を前記第1の線形イオントラップに印加して、任意の電荷に到達した試料イオンを選択的に前記第2の線形イオントラップに移動させることを特徴とする電荷調整装置。
A sample ion source;
First and second linear ion traps arranged in series for introducing ions generated by the sample ion source;
A first power supply system that provides a potential to the first and second linear ion traps;
A second power supply system for applying a hyperbolic alternating electric field to the first linear ion trap;
The reverse charge generated in the first linear ion trap that generates ions having a reverse charge to the sample ions and is given a shallower potential than the second linear ion trap by the first power supply system. And a reverse charge ion source for introducing ions of
The second power supply system converts a hyperbolic AC electric field having a secular motion frequency of a sample ion reaching an arbitrary charge or a hyperbolic AC electric field having a frequency band including the secular motion frequency to the first linear ion. A charge adjusting apparatus, wherein sample ions that have been applied to a trap and have reached an arbitrary charge are selectively moved to the second linear ion trap.
前記逆電荷のイオンのビームエネルギーが、前記第1の線形イオントラップのポテンシャルよりも大きいことを特徴とする請求項1記載の電荷調整装置。   2. The charge adjusting device according to claim 1, wherein a beam energy of the ion of the reverse charge is larger than a potential of the first linear ion trap. 前記逆電荷のイオンのビームエネルギーが、前記第2の線形イオントラップのポテンシャルよりも小さいことを特徴とする請求項1記載の電荷調整装置。   2. The charge adjusting device according to claim 1, wherein a beam energy of the ion of the reverse charge is smaller than a potential of the second linear ion trap. 試料をイオン化させるステップと、
イオン化された試料イオンを、第1の線形イオントラップに導入するステップと、
前記試料イオンのスペクトルを測定し、該スペクトルをもとに前記試料イオンの質量と電荷の値を推定するステップと、
前記第1の線形イオントラップのポテンシャルを、前記第1の線形イオントラップに直列に配された第2の線形イオントラップのポテンシャルよりも浅く与えるステップと、
前記試料イオンとは逆電荷のイオンを生成し、該逆電荷のイオンと前記試料イオンとを第1の線形イオントラップで反応させるステップと、
推定した前記試料イオンの質量と電荷の値から定まる所定の交流電場を前記第1のイオントラップに印加して、任意の電荷に到達した試料イオンを選択的に前記第1の線形イオントラップから前記第2のイオントラップに移動させるステップとを有し、
前記所定の交流電場は、任意の電荷に達した試料イオンの永年運動振動数をもつ双曲交流電場あるいは該永年運動振動数を含む周波数帯を持つ双曲交流電場であることを特徴とする電荷調整方法。
Ionizing the sample;
Introducing ionized sample ions into a first linear ion trap;
Measuring a spectrum of the sample ion and estimating a value of the mass and charge of the sample ion based on the spectrum;
Applying a potential of the first linear ion trap shallower than a potential of a second linear ion trap arranged in series with the first linear ion trap;
Generating ions having opposite charges to the sample ions, and reacting the oppositely charged ions and the sample ions in a first linear ion trap;
A predetermined alternating electric field determined from the estimated mass and charge value of the sample ions is applied to the first ion trap, and the sample ions that have reached an arbitrary charge are selectively transmitted from the first linear ion trap to the first ion trap. Moving to a second ion trap,
The predetermined AC electric field is a hyperbolic AC electric field having a secular motion frequency of a sample ion reaching an arbitrary charge or a hyperbolic AC electric field having a frequency band including the secular motion frequency. Adjustment method.
測定したスペクトルをもとに、不要イオンを検知して、それを除去してから前記逆電荷のイオンと前記試料イオンとを反応させることを特徴とする請求項4の電荷調整方法。   5. The charge adjusting method according to claim 4, further comprising: detecting unnecessary ions based on the measured spectrum, removing the unnecessary ions, and reacting the oppositely charged ions with the sample ions. 試料イオン源と、
該試料イオン源で発生させたイオンを導入する直列に配した第1及び第2の線形イオントラップと、
前記第1及び前記第2の線形イオントラップへポテンシャルを与える第1の電源系と、
前記第1の線形イオントラップに双曲交流電場を印加する第2の電源系と、
前記試料イオンとは逆電荷のイオンを生成し、前記第1の電源系によって前記第2の線形イオントラップよりも浅いポテンシャルを与えられた前記第1の線形イオントラップに、生成された前記逆電荷のイオンを導入する逆電荷イオン源と、
前記試料イオンを質量分析する質量分析計とを有し、
前記第2の電源系は、任意の電荷に達した試料イオンの永年運動振動数をもつ双曲交流電場あるいは該永年運動振動数を含む周波数帯を持つ双曲交流電場を前記第1の線形イオントラップに印加して、任意の電荷に到達した試料イオンを選択的に第2の線形イオントラップに移動させ、前記質量分析計にて前記任意の電荷に到達した試料イオンを質量分析することを特徴とする質量分析装置。
A sample ion source;
First and second linear ion traps arranged in series for introducing ions generated by the sample ion source;
A first power supply system that provides a potential to the first and second linear ion traps;
A second power supply system for applying a hyperbolic alternating electric field to the first linear ion trap;
The reverse charge generated in the first linear ion trap that generates ions having a reverse charge to the sample ions and is given a shallower potential than the second linear ion trap by the first power supply system. A reversely charged ion source that introduces ions of
A mass spectrometer for mass-analyzing the sample ions;
The second power supply system converts a hyperbolic AC electric field having a secular motion frequency of a sample ion reaching an arbitrary charge or a hyperbolic AC electric field having a frequency band including the secular motion frequency to the first linear ion. A sample ion that has been applied to the trap and has reached an arbitrary charge is selectively moved to a second linear ion trap, and the sample ion that has reached the arbitrary charge is subjected to mass analysis by the mass spectrometer. Mass spectrometer.
前記質量分析計は、飛行時間型質量分析計であることを特徴とする請求項6の質量分析装置。   The mass spectrometer according to claim 6, wherein the mass spectrometer is a time-of-flight mass spectrometer.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009257850A (en) * 2008-04-15 2009-11-05 Hitachi High-Technologies Corp Mass analyzing system
JP2011523173A (en) * 2008-06-09 2011-08-04 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド Multipolar ion induction providing an axial electric field that increases in intensity with radial position, and method of operating a multipolar ion induction with such an axial electric field
JP2011523172A (en) * 2008-06-09 2011-08-04 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド How to operate a tandem ion trap

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