JP2007122250A - Memory interface circuit - Google Patents
Memory interface circuit Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007122250A JP2007122250A JP2005311438A JP2005311438A JP2007122250A JP 2007122250 A JP2007122250 A JP 2007122250A JP 2005311438 A JP2005311438 A JP 2005311438A JP 2005311438 A JP2005311438 A JP 2005311438A JP 2007122250 A JP2007122250 A JP 2007122250A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- signal
- threshold voltage
- output
- dimm
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 164
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 15
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000000872 buffer Substances 0.000 abstract description 62
- 101100422614 Arabidopsis thaliana STR15 gene Proteins 0.000 description 27
- 101100141327 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) RNR3 gene Proteins 0.000 description 27
- 101150112501 din1 gene Proteins 0.000 description 27
- 101100406317 Arabidopsis thaliana BCE2 gene Proteins 0.000 description 17
- 101100063437 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) DIN7 gene Proteins 0.000 description 17
- 101100493897 Arabidopsis thaliana BGLU30 gene Proteins 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 5
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Memory System (AREA)
Abstract
Description
本発明は、メモリの出力信号を取得するメモリインターフェース回路に関する。 The present invention relates to a memory interface circuit that acquires an output signal of a memory.
従来、メモリ素子を使用する情報処理装置において、例えばCPU(Central Processing Unit)やASIC(Application Specific Integrated Circuit)等の演算回路からメモリ素子をアクセスする場合、演算回路とメモリ素子との間の配線経路に依存してタイミングスキューが発生したり、配線容量によって信号が遅延して誤動作したりする問題があった。そこで、演算回路によってメモリ素子を正常にアクセスする際に要求されるタイミング規定を満足するために、演算回路とメモリ素子との間に遅延素子を備え、メモリ素子からのデータ出力信号の遅延時間を1ビット毎に調節することでタイミングスキューを改善する技術(例えば、特許文献1参照。)や、SPD(Serial Presence Detect)を備えたDIMM(Dual In-line Memory Module)を用いた場合においてDIMMに実装されているメモリ素子の個数をSPDから読み出して、そのメモリ素子の個数に応じて、すなわちメモリ素子が信号配線に接続されることにより信号配線に付加される負荷容量に応じてタイミング信号の遅延時間を調節する技術(例えば、特許文献2参照。)が知られている。
ところで、例えばDIMMのように、ある程度標準化され、複数のメーカによって生産されるメモリを用いる場合に上記特許文献1に記載の技術を適用すると、そのメモリを生産するメーカやメモリの型式が異なると信号タイミングが微妙に異なるため、タイミング規定を満たすために信号遅延時間を設定し直す必要があった。特に、例えばパーソナルコンピュータのように、装置本体と主記憶として用いられるDIMMとをユーザが別々に購入するような装置では、予め主記憶として用いられるDIMMの信号タイミングに合わせて遅延素子の遅延時間を設定することができないため、使用されるDIMMの種類が変わるとタイミングスキュー等、信号のタイミング規定を満足することが容易ではないという不都合があった。
By the way, when the technique described in
一方、メモリ素子の信号駆動能力が変化し、例えば信号駆動能力が大きくなった場合には、信号の立ち上がり、立ち下がり時間が短縮されるために信号遅延が小さくなり、例えば信号駆動能力が小さくなった場合には、信号の立ち上がり、立ち下がり時間が増大されるために信号遅延が増大する。そうすると、使用するDIMMの種類が変わった場合、上記特許文献2に記載の技術によれば、DIMMに実装されているメモリ素子の数が異なるために生じる信号遅延についてはその影響を吸収してタイミング規定を満足させることができるものの、DIMMに実装されているメモリ素子の信号駆動能力が異なることにより生じた信号タイミングの差異を吸収することはできないため、タイミング規定を満たすことができなくなる場合があるという不都合があった。
On the other hand, when the signal driving capability of the memory element changes and, for example, the signal driving capability increases, the signal rise time and the falling time are shortened, so that the signal delay becomes small, for example, the signal driving capability decreases. In this case, the signal delay increases because the rise and fall times of the signal are increased. Then, when the type of DIMM to be used is changed, according to the technique described in
本発明は、このような問題に鑑みて為された発明であり、異なる種類のメモリを用いた場合に信号駆動能力の差異による信号タイミングの変化を低減することができるメモリインターフェース回路を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such problems, and provides a memory interface circuit capable of reducing a change in signal timing due to a difference in signal driving ability when different types of memories are used. With the goal.
上述の目的を達成するために、本発明に係るメモリインターフェース回路は、メモリの出力信号を受信する受信部と、前記メモリの信号駆動能力に関する情報であるメモリ情報を取得するメモリ情報取得部と、前記メモリ情報取得部により取得されたメモリ情報に基づいて、前記受信部における閾値電圧を変化させる閾値電圧設定部とを備える。 In order to achieve the above object, a memory interface circuit according to the present invention includes a receiving unit that receives an output signal of a memory, a memory information acquiring unit that acquires memory information that is information related to the signal driving capability of the memory, A threshold voltage setting unit that changes a threshold voltage in the reception unit based on the memory information acquired by the memory information acquisition unit.
この構成によれば、メモリ情報取得部によってメモリの信号駆動能力に関する情報であるメモリ情報が取得され、閾値電圧設定部によってメモリ情報に基づいて、メモリの出力信号を受信する受信部における閾値電圧が変化されるので、異なる種類のメモリを用いた場合に信号駆動能力の差異によるメモリからの信号の受信タイミングの変化を低減することができる。 According to this configuration, the memory information that is information related to the signal driving capability of the memory is acquired by the memory information acquisition unit, and the threshold voltage in the reception unit that receives the output signal of the memory is based on the memory information by the threshold voltage setting unit. Therefore, when different types of memories are used, changes in the reception timing of signals from the memory due to differences in signal driving capability can be reduced.
また、上述のメモリインターフェース回路において、前記閾値電圧設定部は、前記出力信号の立ち上がりにおける前記受信部の閾値電圧を、前記メモリ情報により示される前記信号駆動能力の増大に応じて増加させ、当該信号駆動能力の減少に応じて減少させる。 In the above-described memory interface circuit, the threshold voltage setting unit increases the threshold voltage of the receiving unit at the rising edge of the output signal in accordance with the increase in the signal driving capability indicated by the memory information, and the signal Decrease according to decrease in driving ability.
この構成によれば、閾値電圧設定部によって、メモリの出力信号の立ち上がりにおける受信部の閾値電圧が、メモリ情報により示される信号駆動能力の大小に応じて増減されるので、メモリの信号駆動能力が大きいと受信部の閾値電圧が増大されて信号の受信タイミングが遅らせられ、メモリの信号駆動能力が小さいと受信部の閾値電圧が減少されて信号の受信タイミングが早められる。 According to this configuration, the threshold voltage setting unit increases or decreases the threshold voltage of the receiving unit at the rise of the output signal of the memory according to the magnitude of the signal driving capability indicated by the memory information. If the value is large, the threshold voltage of the receiving unit is increased and the signal reception timing is delayed. If the signal driving capability of the memory is small, the threshold voltage of the receiving unit is decreased and the signal reception timing is advanced.
また、上述のメモリインターフェース回路において、前記閾値電圧設定部は、前記出力信号の立ち下がりにおける前記受信部の閾値電圧を、前記メモリ情報により示される前記信号駆動能力の増大に応じて減少させ、当該信号駆動能力の減少に応じて増大させる。 In the above-described memory interface circuit, the threshold voltage setting unit decreases the threshold voltage of the receiving unit at the falling edge of the output signal in accordance with an increase in the signal driving capability indicated by the memory information, Increase according to decrease in signal driving capability.
この構成によれば、閾値電圧設定部によって、メモリの出力信号の立ち下がりにおける受信部の閾値電圧が、メモリ情報により示される信号駆動能力の大小に応じて減増されるので、メモリの信号駆動能力が大きいと受信部の閾値電圧が減少されて信号の受信タイミングが遅らせられ、メモリの信号駆動能力が小さいと受信部の閾値電圧が増大されて信号の受信タイミングが早められる。 According to this configuration, the threshold voltage setting unit decreases the threshold voltage of the receiving unit at the falling edge of the output signal of the memory according to the magnitude of the signal driving capability indicated by the memory information. If the capability is large, the threshold voltage of the receiving unit is decreased and the signal reception timing is delayed, and if the signal driving capability of the memory is small, the threshold voltage of the receiving unit is increased and the signal reception timing is advanced.
また、上述のメモリインターフェース回路において、前記閾値電圧設定部は、前記出力信号の立ち上がり及び立ち下がりにおける前記受信部の閾値電圧を、前記メモリ情報により示される前記信号駆動能力の増大に応じて減少させ、当該信号駆動能力の減少に応じて増大させる。 Further, in the above-described memory interface circuit, the threshold voltage setting unit decreases the threshold voltage of the receiving unit at the rise and fall of the output signal in accordance with the increase in the signal driving capability indicated by the memory information. The signal driving capability is increased according to the decrease.
この構成によれば、メモリの出力信号の立ち上がり及び立下りにおける受信部の閾値電圧が、メモリ情報により示される信号駆動能力の大小に応じて減増されるので、メモリの信号駆動能力が大きいと受信部の閾値電圧が減少されて、メモリの出力信号の受信パルス幅が拡大され、メモリの信号駆動能力が小さいと受信部の閾値電圧が増大されて、メモリの出力信号の受信パルス幅が縮小される結果、異なる種類のメモリを用いた場合に信号駆動能力の差異によるメモリの出力信号におけるパルス幅の変化を低減することができる。 According to this configuration, the threshold voltage of the receiving unit at the rise and fall of the output signal of the memory is increased according to the magnitude of the signal drive capability indicated by the memory information. Therefore, if the signal drive capability of the memory is large The threshold voltage of the receiving unit is reduced, the received pulse width of the memory output signal is expanded, and the threshold voltage of the receiving unit is increased if the signal driving capability of the memory is small, and the received pulse width of the output signal of the memory is reduced. As a result, when different types of memories are used, it is possible to reduce a change in pulse width in the output signal of the memory due to a difference in signal driving capability.
また、上述のメモリインターフェース回路において、前記メモリは、SPDを備えたDIMMであり、前記メモリ情報取得部は、前記SPDにアクセスすることにより前記メモリ情報を取得する。 In the memory interface circuit described above, the memory is a DIMM including an SPD, and the memory information acquisition unit acquires the memory information by accessing the SPD.
この構成によれば、メモリ情報取得部によって、DIMMに設けられたSPDからメモリ情報が取得されるので、DIMMのメモリ情報を自動的に取得することができる。 According to this configuration, since the memory information is acquired from the SPD provided in the DIMM by the memory information acquisition unit, the memory information of the DIMM can be automatically acquired.
このような構成のメモリインターフェース回路によれば、メモリの信号駆動能力に関する情報であるメモリ情報が取得され、そのメモリ情報に基づいて、メモリの出力信号を受信する受信部における閾値電圧が変化されるので、異なる種類のメモリを用いた場合に信号駆動能力の差異によるメモリからの信号の受信タイミングの変化を低減することができる。 According to the memory interface circuit having such a configuration, the memory information that is information on the signal driving capability of the memory is acquired, and the threshold voltage in the receiving unit that receives the output signal of the memory is changed based on the memory information. Therefore, when different types of memories are used, it is possible to reduce the change in the reception timing of signals from the memory due to the difference in signal driving capability.
以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、その説明を省略する。図1は、本発明の一実施形態に係るメモリインターフェース回路を用いた情報処理装置の一例を示すブロック図である。図1に示す情報処理装置1は、例えばパーソナルコンピュータや、複写機、ファクシミリ等の画像形成装置、その他種々のデータを処理する情報処理装置におけるデータ処理部の基本的な構成の一例を示したものである。
Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the drawings. In addition, the structure which attached | subjected the same code | symbol in each figure shows that it is the same structure, The description is abbreviate | omitted. FIG. 1 is a block diagram showing an example of an information processing apparatus using a memory interface circuit according to an embodiment of the present invention. An
図1に示す情報処理装置1は、例えばメモリインターフェース回路2と、DIMM3と、CPU4とを備えている。CPU4は、DIMM3をアクセスするものであればよく、例えばASICその他の専用回路であってもよい。
The
DIMM3は、メモリの一例であって、例えばJEDEC(Joint Electron Device Engineering Council)で規定されているメモリモジュールであり、例えばDRAM(Dynamic Random Access Memory)からなるメモリ素子31と、SPD32とを備えている。なお、メモリは、DIMMに限られず、例えばPCMCIA(Personal Computer Memory Card International Association)や、SDA(SD Card Association)により規定された規格に準拠したメモリカード等、種々のメモリモジュールを用いることができる。
The DIMM 3 is an example of a memory and is a memory module defined by, for example, JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council), and includes a
SPD32は、例えばシリアルインターフェースを備えたEEPROM(Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory)を用いて構成されており、予めDIMM3のメーカ名や型式、その他メモリ素子31の電気的特性に関する情報等、メモリ素子31の信号駆動能力を知るための手がかりとなる情報が記憶されている。なお、SPD32を用いず、例えばメモリ素子31として不揮発性の記憶素子を用いて信号駆動能力に関する情報を予め記憶させる等、他の方法によってメモリに信号駆動能力に関する情報を保持させるようにしてもよい。
The SPD 32 is configured by using, for example, an EEPROM (Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory) having a serial interface, and the
メモリインターフェース回路2は、CPU4から出力された信号、例えばデータ信号、アドレス信号、その他の制御信号である出力信号SOUT1をDIMM3へ出力すると共に、DIMM3の例えばデータ信号である出力信号DIN1のタイミング調整を行ってCPU4へ出力信号DIN3として出力する回路部で、例えば、DIMM3の出力信号DIN1を受信する受信部21と、DIMM3の信号駆動能力に関する情報であるメモリ情報を取得するメモリ情報取得部22と、メモリ情報取得部22により取得されたメモリ情報に基づいて、受信部21における閾値電圧を変化させる受信バッファ切替部23(閾値電圧設定部)と、CPU4の出力信号SOUT1を受信してDIMM3へ出力信号SOUT2として出力するバッファ24とを備えて構成されている。
The
受信部21は、例えば、バッファ211,212,213と、切替スイッチSW1と、信号保持部214とを備えて構成されている。バッファ211,212,213は、それぞれDIMM3の出力信号DIN1を受信して切替スイッチSW1へ出力するバッファ回路で、図2に示すように、バッファ211,212,213に入力される信号である出力信号DIN1に対する閾値電圧は、Vth1,Vth2,Vth3にそれぞれ設定されている。また、閾値電圧Vth1,Vth2,Vth3は、例えばVth1>Vth2>Vth3の関係にされている。バッファ211,212,213は、互いに動作電源電圧が等しく閾値電圧のみ異なるようにされたものであってもよく、動作電源電圧を異ならせることにより閾値電圧を異ならせたものであってもよい。
The
なお、受信部21におけるバッファの数は3つに限らず、例えば2つ、あるいは4つ以上であってもよく、閾値電圧も3段階に限らない。また、受信部21は、閾値電圧の異なるバッファを切り替えることにより受信部21における閾値電圧を切り替える例に限られず、例えば一つのバッファを用いて、そのバッファの動作電源電圧を変化させることにより閾値電圧を変化させるようにしてもよい。
Note that the number of buffers in the
切替スイッチSW1は、受信バッファ切替部23からの制御信号に応じてバッファ211,212,213の出力信号のうちいずれか一つを選択し、選択信号DIN2として信号保持部214と受信バッファ切替部23とへ出力する。信号保持部214は、切替スイッチSW1から出力された信号を出力信号DIN3としてCPU4へ出力する。また、信号保持部214は、例えばラッチ回路によって、受信バッファ切替部23からの切替スイッチSW1の切替タイミングを示す信号に応じて出力信号DIN3の出力信号レベルを保持することにより、切替スイッチSW1の切替動作時に出力信号DIN3の信号レベルが乱れることを防止する。
The change-over switch SW1 selects any one of the output signals from the
メモリ情報取得部22は、例えば順序回路やCPU、シリアル通信回路等を用いて構成されており、例えばSPD32との間でシリアル通信を実行することにより、SPD32に記憶されているDIMM3のメーカ名や型式等のメモリ情報を取得し、受信バッファ切替部23へ出力する。受信バッファ切替部23は、メモリ情報取得部22から出力されたメモリ情報と切替スイッチSW1から出力された選択信号DIN2とに応じて切替スイッチSW1の接続を切り替える。
The memory
図3は、DIMM3の型式と出力電流値との関係の一例を示す表形式の説明図である。DIMM3における信号の出力電流値は、DIMM3の型式毎に決まっており、例えば型式「DIMM(1)」の出力電流値は14mA、型式「DIMM(2)」の出力電流値は10mA、型式「DIMM(3)」の出力電流値は8mAであり、出力電流値10mAのものが標準的であるとすると、例えば型式「DIMM(2)」の信号駆動能力は標準であり、型式「DIMM(1)」の信号駆動能力は標準より大きく、型式「DIMM(3)」の信号駆動能力は標準より小さい。すなわち、図3に示すように、DIMM3の型式毎の信号出力電流値を予め確認しておけば、SPD32に記憶されているDIMM3の型式を示す情報は、DIMM3の信号出力電流値、すなわち信号駆動能力を示す情報としての意義を有する。
FIG. 3 is an explanatory diagram in the form of a table showing an example of the relationship between the
なお、SPD32に記憶されているDIMM3の型式を示す情報を、メモリの信号駆動能力に関する情報であるメモリ情報として用いる例を示したが、例えばSPD32等の不揮発性の記憶素子に、メモリの出力電流値そのものをメモリ情報として記憶させてもよく、あるいは信号駆動能力の大小を、例えばA,B,Cといった記号で表して記憶させてもよい。 In addition, although the example which uses the information which shows the type of DIMM3 memorize | stored in SPD32 as memory information which is the information regarding the signal drive capability of a memory was shown, the output current of memory is shown in nonvolatile memory elements, such as SPD32, for example The value itself may be stored as memory information, or the magnitude of the signal driving capability may be expressed by symbols such as A, B, and C, for example.
次に、上述のように構成されたメモリインターフェース回路2の動作について説明する。図4は、メモリインターフェース回路2の動作の一例を示すフローチャートである。まず、メモリ情報取得部22によって、SPD32からDIMM3の型式を示す情報がメモリ情報として読み出され、そのメモリ情報が受信バッファ切替部23へ出力される(ステップS1)。
Next, the operation of the
図5は、出力信号DIN1と出力信号DIN3との信号波形の一例を示す信号波形図である。図5(a)は型式「DIMM(1)」の出力信号DIN1を示し、図5(b)は型式「DIMM(2)」の出力信号DIN1を示し、図5(c)は型式「DIMM(3)」の出力信号DIN1を示し、図5(d)は受信部21から出力される出力信号DIN3の信号波形を示している。図5に示すように、信号駆動能力が標準的である型式「DIMM(2)」の出力信号DIN1に対し、「DIMM(2)」より信号駆動能力が大きい型式「DIMM(1)」の出力信号DIN1は信号の立ち上がり立下りが急峻になる一方、「DIMM(2)」より信号駆動能力が小さい型式「DIMM(3)」の出力信号DIN1は信号の立ち上がり立下りが緩やかになる。
FIG. 5 is a signal waveform diagram showing an example of signal waveforms of the output signal DIN1 and the output signal DIN3. 5A shows the output signal DIN1 of the type “DIMM (1)”, FIG. 5B shows the output signal DIN1 of the type “DIMM (2)”, and FIG. 5C shows the type “DIMM ( 3) ”, and FIG. 5D shows the signal waveform of the output signal DIN3 output from the receiving
次に、受信バッファ切替部23によって、メモリ情報取得部22から出力されたメモリ情報に応じて切替スイッチSW1の接続が切り替えられる(ステップS2)。図6は、受信バッファ切替部23による切替スイッチSW1の切り替え動作の一例を説明するための説明図である。また、図7は、切替スイッチSW1の切り替え状態の遷移を示す状態遷移図である。
Next, the connection of the changeover switch SW1 is switched by the reception
図6に示すように、まず、メモリ情報取得部22から出力されたメモリ情報が、DIMM3は信号駆動能力が標準的である型式「DIMM(2)」であることを示すものであった場合、受信バッファ切替部23によって、切替スイッチSW1がバッファ212に切り替えられ、選択信号DIN2の信号レベルに関わらず、DIMM3から出力された出力信号DIN1がバッファ212によって受信される。そして、バッファ212の出力信号が、選択信号DIN2として信号保持部214へ出力され、信号保持部214から出力信号DIN3としてCPU4へ出力される。
As shown in FIG. 6, first, when the memory information output from the memory
そうすると、図5(b)に示すように、出力信号DIN1は、バッファ212によって、立ち上がり、立下りのいずれにおいても閾値電圧Vth2で信号レベルが判定され、バッファ212から切替スイッチSW1を介して、タイミングT1において立ち上がり、タイミングT2において立ち下がる選択信号DIN2が信号保持部214へ出力される。そして、図5(d)に示すように、信号保持部214からタイミングT1において立ち上がり、タイミングT2において立ち下がる出力信号DIN3がCPU4へ出力される。
Then, as shown in FIG. 5B, the signal level of the output signal DIN1 is determined by the
次に、メモリ情報取得部22から出力されたメモリ情報が、DIMM3は信号駆動能力が大きい型式「DIMM(1)」であることを示すものであった場合には、選択信号DIN2がローレベルであれば受信バッファ切替部23によって、切替スイッチSW1がバッファ211に切り替えられる一方、選択信号DIN2がハイレベルであれば受信バッファ切替部23によって、切替スイッチSW1がバッファ213に切り替えられる。
Next, when the memory information output from the memory
すなわち図7(a)に示すように、受信バッファ切替部23によって、バッファ211の出力信号レベルがハイレベル(バッファ211=1)になると切替スイッチSW1がバッファ213に切り替えられ、バッファ213の出力信号レベルがローレベル(バッファ213=0)になると切替スイッチSW1がバッファ211に切り替えられる。
That is, as shown in FIG. 7A, when the output signal level of the
そうすると、図5(a)に示すように、切替スイッチSW1によって、出力信号DIN1の立ち上がりにおいてはバッファ211により閾値電圧Vth1で信号レベルが判定される結果、タイミングT1において立ち上がる信号が選択信号DIN2として信号保持部214へ出力され、出力信号DIN1の立ち下がりにおいてはバッファ213により閾値電圧Vth3で信号レベルが判定される結果、タイミングT2において立ち下がる信号が選択信号DIN2として信号保持部214へ出力される。信号保持部214では、切替スイッチSW1の切り替えタイミングにおいては出力信号DIN3の信号レベルが保持され、図5(d)に示すように、信号保持部214からタイミングT1において立ち上がり、タイミングT2において立ち下がる出力信号DIN3、すなわちDIMM3が型式「DIMM(2)」であった場合と略同じタイミングに調整された出力信号DIN3がCPU4へ出力される。
Then, as shown in FIG. 5A, as a result of the signal level being determined at the threshold voltage Vth1 by the
次に、図6に示すように、メモリ情報取得部22から出力されたメモリ情報が、DIMM3は信号駆動能力が小さい型式「DIMM(3)」であることを示すものであった場合には、選択信号DIN2がローレベルであれば受信バッファ切替部23によって、切替スイッチSW1がバッファ213に切り替えられる一方、選択信号DIN2がハイレベルであれば受信バッファ切替部23によって、切替スイッチSW1がバッファ211に切り替えられる。
Next, as shown in FIG. 6, when the memory information output from the memory
すなわち図7(b)に示すように、受信バッファ切替部23によって、バッファ211の出力信号レベルがローレベル(バッファ211=0)になると切替スイッチSW1がバッファ213に切り替えられ、バッファ213の出力信号レベルがハイレベル(バッファ213=1)になると切替スイッチSW1がバッファ211に切り替えられる。
That is, as shown in FIG. 7B, when the output signal level of the
そうすると、図5(c)に示すように、切替スイッチSW1によって、出力信号DIN1の立ち上がりにおいてはバッファ213により閾値電圧Vth3で信号レベルが判定される結果、タイミングT1において立ち上がる信号が選択信号DIN2として信号保持部214へ出力され、出力信号DIN1の立ち下がりにおいてはバッファ211により閾値電圧Vth1で信号レベルが判定される結果、タイミングT2において立ち下がる信号が選択信号DIN2として信号保持部214へ出力される。信号保持部214では、切替スイッチSW1の切り替えタイミングにおいては出力信号DIN3の信号レベルが保持され、図5(d)に示すように、信号保持部214からタイミングT1において立ち上がり、タイミングT2において立ち下がる出力信号DIN3、すなわちDIMM3が型式「DIMM(1)」「DIMM(2)」であった場合と略同じタイミングに調整された出力信号DIN3がCPU4へ出力される。
Then, as shown in FIG. 5C, as a result of the signal level being determined at the threshold voltage Vth3 by the
これにより、受信バッファ切替部23によって、出力信号DIN1の立ち上がりにおける受信部21の閾値電圧が、メモリ情報取得部22により取得されたメモリ情報により示されるDIMM3の信号駆動能力の大小に応じて増減され、出力信号DIN1の立ち下がりにおける受信部21の閾値電圧が、当該メモリ情報により示されるDIMM3の信号駆動能力の大小に応じて減増される。
Thereby, the threshold voltage of the
そして、CPU4がDIMM3へのアクセスを行うと、CPU4から出力された信号、例えばアドレス信号、その他の制御信号である出力信号SOUT1がバッファ24を介して出力信号SOUT2としてメモリ素子31へ出力され、出力信号SOUT2に応じてメモリ素子31から出力された出力信号DIN1が受信部21へ出力される。
When the CPU 4 accesses the
さらに、受信部21によって、上述のように出力信号DIN1のタイミング調整が行われてCPU4へ出力信号DIN3として出力されるので、異なる種類のメモリを用いた場合に信号駆動能力の差異による信号タイミングの変化を低減することができ、メモリインターフェース回路2を用いた情報処理装置1におけるメモリアクセスの信頼性を向上させることができる。
Further, since the timing of the output signal DIN1 is adjusted by the receiving
なお、DIMM3の信号駆動能力が標準よりも大きい場合及び小さい場合において、出力信号DIN1の立ち上がりにおける受信部21の閾値電圧と、出力信号DIN1の立ち下がりにおける受信部21の閾値電圧とが異なる電圧に設定される例を示したが、出力信号DIN1の立ち上がり及び立ち下がりにおける受信部21の閾値電圧を、メモリ情報取得部22により取得されたメモリ情報により示される信号駆動能力の増大に応じて減少させ、当該信号駆動能力の減少に応じて増大させ、例えばDIMM3の信号駆動能力が標準よりも大きい場合及び小さい場合において出力信号DIN1の立ち上がりにおける受信部21の閾値電圧と、出力信号DIN1の立ち下がりにおける受信部21の閾値電圧とを同じ電圧に設定するようにしてもよい。
When the signal driving capability of the
この場合、メモリの信号駆動能力が大きく、すなわちメモリの出力信号における立ち上がり立ち下がりが急峻となって信号のパルス幅が縮小する場合に、受信部の閾値電圧が減少されてメモリの出力信号の受信パルス幅が拡大され、メモリの信号駆動能力が小さく、すなわちメモリの出力信号における立ち上がり立ち下がりが緩やかとなって信号のパルス幅が拡大する場合に、受信部の閾値電圧が増大されてメモリの出力信号の受信パルス幅が縮小されるので、異なる種類のメモリを用いた場合に信号駆動能力の差異によるメモリの出力信号におけるパルス幅の変化を低減し、パルス幅に係る信号タイミングの変化を低減することができる。 In this case, when the signal drive capability of the memory is large, that is, when the rise and fall of the memory output signal is steep and the pulse width of the signal is reduced, the threshold voltage of the receiving unit is reduced and the memory output signal is received. When the pulse width is expanded and the signal drive capability of the memory is small, that is, when the rise and fall of the memory output signal is slow and the pulse width of the signal is expanded, the threshold voltage of the receiver is increased and the memory output is increased. Since the received pulse width of the signal is reduced, when a different type of memory is used, a change in the pulse width in the output signal of the memory due to a difference in signal driving capability is reduced, and a change in signal timing related to the pulse width is reduced. be able to.
また、メモリインターフェース回路2は、バッファ24を備えない構成としてもよい。また、図1においては、説明の容易のため、CPU4に入出力される出力信号DIN3と出力信号SOUT1、及びDIMM3に入出力される出力信号DIN1と出力信号SOUT2とが異なる信号ラインを介して送受信される例を示しているが、出力信号DIN3と出力信号SOUT1、及び出力信号DIN1と出力信号SOUT2は、それぞれ共通する信号ラインを介して送受信される構成であってもよい。
The
また、メモリインターフェース回路2は、CPU4の外部に設けられる例を示したが、例えばCPU4やASIC等の演算装置内に設けられる構成としてもよい。また、メモリ情報取得部22は、SPD32にアクセスしてメモリ情報を取得する例を示したが、例えばディップスイッチ等の設定スイッチを用いてユーザがメモリ情報を設定するようにしてもよい。
In addition, the
1 情報処理装置
2 メモリインターフェース回路
3 DIMM
4 CPU
21 受信部
22 メモリ情報取得部
23 受信バッファ切替部
24 バッファ
31 メモリ素子
32 SPD
211,212,213 バッファ
214 信号保持部
SW1 切替スイッチ
DESCRIPTION OF
4 CPU
21 receiving
211, 212, 213
Claims (5)
前記メモリの信号駆動能力に関する情報であるメモリ情報を取得するメモリ情報取得部と、
前記メモリ情報取得部により取得されたメモリ情報に基づいて、前記受信部における閾値電圧を変化させる閾値電圧設定部と
を備えるメモリインターフェース回路。 A receiver for receiving the output signal of the memory;
A memory information acquisition unit for acquiring memory information which is information relating to the signal driving capability of the memory;
A memory interface circuit comprising: a threshold voltage setting unit that changes a threshold voltage in the reception unit based on the memory information acquired by the memory information acquisition unit.
前記メモリ情報取得部は、前記SPDにアクセスすることにより前記メモリ情報を取得する
請求項1〜4のいずれかに記載のメモリインターフェース回路。 The memory is a DIMM with an SPD;
The memory interface circuit according to claim 1, wherein the memory information acquisition unit acquires the memory information by accessing the SPD.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005311438A JP2007122250A (en) | 2005-10-26 | 2005-10-26 | Memory interface circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005311438A JP2007122250A (en) | 2005-10-26 | 2005-10-26 | Memory interface circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007122250A true JP2007122250A (en) | 2007-05-17 |
Family
ID=38146053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005311438A Pending JP2007122250A (en) | 2005-10-26 | 2005-10-26 | Memory interface circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007122250A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20110087274A (en) * | 2008-10-30 | 2011-08-02 | 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. | Memory module including voltage sense monitoring interface |
JP2021068172A (en) * | 2019-10-23 | 2021-04-30 | キヤノン株式会社 | Information processing device and control method for information processing device |
-
2005
- 2005-10-26 JP JP2005311438A patent/JP2007122250A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20110087274A (en) * | 2008-10-30 | 2011-08-02 | 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. | Memory module including voltage sense monitoring interface |
KR101594204B1 (en) * | 2008-10-30 | 2016-02-26 | 휴렛-팩커드 디벨롭먼트 컴퍼니, 엘.피. | Memory module including voltage sense monitoring interface |
JP2021068172A (en) * | 2019-10-23 | 2021-04-30 | キヤノン株式会社 | Information processing device and control method for information processing device |
JP7406895B2 (en) | 2019-10-23 | 2023-12-28 | キヤノン株式会社 | Information processing device and method of controlling the information processing device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7035148B2 (en) | Output driver capable of controlling slew rate of output signal according to operating frequency information or CAS latency information | |
EP3249542A1 (en) | Memory module, memory controller and associated control method for read training technique | |
CN109716435B (en) | Apparatus for offset voltage adjustment in an input buffer | |
US6690614B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
US7733738B2 (en) | Semiconductor memory device and a data write and read method thereof | |
US10192593B2 (en) | Reception circuit for reducing current and electronic apparatus including the same | |
JP2007122250A (en) | Memory interface circuit | |
CN110800054A (en) | Command address input buffer bias current reduction | |
JP2001043700A (en) | Semiconductor memory | |
JP2006127731A (en) | Data input/output driver of semiconductor memory device and its drive method | |
US7417905B2 (en) | Apparatus and related method for controlling switch module in memory by detecting operating frequency of specific signal in memory | |
US8422315B2 (en) | Memory chips and memory devices using the same | |
JP2005234976A (en) | Storage device | |
US8035715B2 (en) | Image sensor | |
JP4790540B2 (en) | Semiconductor device | |
JP5439661B2 (en) | Semiconductor device | |
US20070242530A1 (en) | Memory controller for supporting double data rate memory and related method | |
JP2007072922A (en) | Level shifter for memory card | |
JP4510498B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US9053776B2 (en) | Setting information storage circuit and integrated circuit chip including the same | |
JP2009212930A (en) | Input-level determination circuit | |
US7512823B2 (en) | Semiconductor device with reduced power consumption that selectively drives one of a plurality of signal receivers according to level of external supply voltage | |
JP2009009238A (en) | Memory interface device | |
US20140068112A1 (en) | Semiconductor device and operation method thereof | |
JPH11283361A (en) | Storage device |