JP2007094098A - Liquid crystal display device and electronic equipment - Google Patents

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裕 小橋
Shin Koide
慎 小出
Shin Fujita
伸 藤田
Tomoyuki Ito
友幸 伊藤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve picture quality by improving precision of photosensors by correcting temperature and variations and then suppressing a decrease in S/N. <P>SOLUTION: A liquid crystal display device is equipped with a liquid crystal panel constituted by charging liquid crystal between first and second substrates, a back light 8 which irradiates a surface of the first substrate of the liquid crystal panel with light, an optical detecting means of detecting the illuminance of ambient light, and a lighting control means 12 of controlling the back light 8 according to the detection result of the optical detecting means, and the optical detecting means is equipped with first and second photosensors 21 and 22 provided to the first substrate or second substrate respectively; and the first photosensor 21 is irradiated with at least external light A and the second photosensor 22 is shielded by an external light shielding part 28 from at least the external light A. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、液晶表示装置及び電子機器に関する。   The present invention relates to a liquid crystal display device and an electronic apparatus.

液晶表示装置には、画像を表示させる液晶パネルの背面から、バックライト(照明装置)によって光を照射する透過式のものがある。液晶パネルは、アクティブマトリクス基板とそれに対向する対向基板との間に液晶を封入した構成からなり、バックライトは、液晶パネルのアクティブマトリクス基板に対向して設けられている。このような構成からなる透過式の液晶表示装置では、暗い環境でバックライトの照度が必要以上に大きいと眩しくて使用し難くなるため、バックライトの輝度を周囲の明るさに応じて可変させる必要がある。また、透過式の液晶表示装置では、その消費電力の大半をバックライトによる電力消費が占めており、バックライトによる電力消費を低減させることで、液晶表示装置の消費電力の低減を実現することができる。また、透過型と外光からの反射を用いて表示を行う反射型の両方の特性を備えた半透過型(あるいは透過反射型)ディスプレイでもバックライトの制御が必要な事情は同じであり、外光が十分であればバックライトをOFFに出来るため、その消費電力節減効果はさらに大である。   Among liquid crystal display devices, there is a transmissive type in which light is irradiated from a back surface of a liquid crystal panel that displays an image by a backlight (illumination device). The liquid crystal panel has a configuration in which liquid crystal is sealed between an active matrix substrate and a counter substrate facing the active matrix substrate, and the backlight is provided to face the active matrix substrate of the liquid crystal panel. In a transmissive liquid crystal display device having such a configuration, it is difficult to use the backlight if the illumination intensity of the backlight is higher than necessary in a dark environment. Therefore, it is necessary to change the brightness of the backlight according to the ambient brightness. There is. In addition, in a transmissive liquid crystal display device, the power consumption by the backlight accounts for most of the power consumption. By reducing the power consumption by the backlight, the power consumption of the liquid crystal display device can be reduced. it can. In addition, the situation where the backlight needs to be controlled is the same for the transflective (or transflective) display having the characteristics of both the transmissive type and the reflective type that displays using reflection from outside light. Since the backlight can be turned off if the light is sufficient, the power consumption saving effect is even greater.

そこで、従来の液晶表示装置には、周囲の明るさに応じてバックライトの輝度を自動的に調整する手段が備えられており、具体的には、周囲環境の明るさ(外光の照度)を検出するフォトセンサーと、フォトセンサーによる検出結果に応じてバックライトを制御するバックライト制御回路が備えられている(例えば、特許文献1,2参照。)。   Therefore, the conventional liquid crystal display device is provided with means for automatically adjusting the luminance of the backlight according to the ambient brightness. Specifically, the brightness of the surrounding environment (illuminance of outside light) And a backlight control circuit that controls the backlight according to the detection result of the photosensor (see, for example, Patent Documents 1 and 2).

フォトセンサーは、単体のフォトダイオード、フォトトランジスター、フォトIC(Integrated Circuit)などからなり、これらのパッケージをアクティブマトリクス基板の張り出し部上に実装すると、その実装場所が著しく制限されるが、フォトセンサーの上方の電子機器に開口を設けて外光を導入させる必要があるため、このような制限は強度やデザインの観点から好ましくない。また、対向基板よりパッケージが厚いとモジュール厚が増してしまう。そこで、アクティブマトリクス基板上に薄膜プロセスでフォトセンサーを形成することが好ましい。例えば、PIN接合薄膜ダイオード、電界効果型薄膜ダイオード、電界効果型薄膜トランジスタ、PN接合ダイオードなどを用い、逆バイアス条件でのオフ電流を用いてフォトセンサーとする構成が考えられる。すなわち、PIN接合薄膜ダイオード、電界効果型薄膜ダイオードであれば逆バイアス条件(バイアス電圧Vd<0)でのオフ電流Idを検出し、電界効果型薄膜トランジスタであればゲート電極に逆バイアスをかけ(Nチャネル型ならゲート・ソース間電圧Vgs<0、Pチャネル型ならゲート・ソース間電圧Vgs>0)、ドレイン・ソース電極間に一定のバイアス(ドレイン・ソース間電圧Vds)をかけたときのオフ電流Idsを検出すればよい。
このとき、フォトセンサーで検出されるオフ電流IR、Idsは、それぞれ次式が成立する。ただし、temp:温度、L:照度、Vd:アノード・カソード間電圧、Vgs:ゲート・ソース間電圧、Vds:ドレイン・ソース間電圧、である。
A photosensor consists of a single photodiode, phototransistor, photo IC (Integrated Circuit), etc. When these packages are mounted on the overhanging portion of an active matrix substrate, the mounting location is significantly limited. Since it is necessary to provide an opening in the upper electronic device to introduce external light, such a restriction is not preferable from the viewpoint of strength and design. Also, if the package is thicker than the counter substrate, the module thickness increases. Therefore, it is preferable to form a photosensor on the active matrix substrate by a thin film process. For example, a configuration in which a PIN junction thin film diode, a field effect thin film diode, a field effect thin film transistor, a PN junction diode, or the like is used and a photosensor is formed using an off-current under a reverse bias condition is conceivable. That is, if a PIN junction thin film diode or a field effect thin film diode is used, the off-current Id is detected under a reverse bias condition (bias voltage Vd <0), and if it is a field effect thin film transistor, a reverse bias is applied to the gate electrode (N Channel-type gate-source voltage Vgs <0, P-channel type gate-source voltage Vgs> 0), and off current when a constant bias (drain-source voltage Vds) is applied between the drain and source electrodes What is necessary is just to detect Ids.
At this time, the following formulas are established for the off-currents IR and Ids detected by the photosensor. Where temp: temperature, L: illuminance, Vd: anode-cathode voltage, Vgs: gate-source voltage, Vds: drain-source voltage.

Figure 2007094098
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Figure 2007094098
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さらに、実験的にIphotoは照度Lに比例し、Ithermalは絶対温度の指数関数であることがわかっており、次の2式がそれぞれ成立する。ただし、EB:バリアー障壁エネルギー、k:ボルツマン定数、である。   Further, experimentally, it is known that Iphoto is proportional to the illuminance L and Ithermal is an exponential function of absolute temperature, and the following two equations are established respectively. However, EB: barrier barrier energy, k: Boltzmann constant.

Figure 2007094098
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Figure 2007094098
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一般的な単体のフォトダイオード、フォトトランジスター、フォトICにおいてはIphoto’は使用バイアス条件一定ではばらつきがほとんどなく、かつIphoto>>Ithermalであるので、Id,Idsを測定することでLを求めることができる。ここから、上記したフォトセンサーとバックライト制御回路とが備えられている液晶表示装置によれば、外光の照度をフォトセンサーで検知し、バックライト制御回路によってバックライトの輝度を自動的に調整することが可能であり、例えば、全く外光の無い状況ではバックライト輝度を最低限度にし、使用者が眩しくないようにするとともに必要以上の消費電力を消費することを防ぐことができる。また、外光が明るくなるに従って照度を徐々に上げ、外光によって透過表示が視認しずらくなることを防ぐことができる。さらに、半透過型液晶表示装置においては一定以上の明るさになった時はバックライトをOFFし、反射モードのみに切り替えることで消費電力の低減を図ることができる。
特開平4−291389号公報 特開2004−96593号公報
In general single photodiodes, phototransistors, and photo ICs, Iphoto 'has almost no variation under constant bias conditions, and Iphoto >> Ithermal. Therefore, L can be obtained by measuring Id and Ids. it can. From here, according to the liquid crystal display device equipped with the photo sensor and the backlight control circuit described above, the illuminance of outside light is detected by the photo sensor, and the backlight control circuit automatically adjusts the brightness of the backlight. For example, in a situation where there is no external light, the backlight luminance is minimized, so that the user is not dazzled and the power consumption more than necessary can be prevented. Further, the illuminance is gradually increased as the external light becomes brighter, and it is possible to prevent the transmissive display from being difficult to visually recognize due to the external light. Further, in the transflective liquid crystal display device, when the brightness becomes a certain level or more, the backlight is turned off, and the power consumption can be reduced by switching to the reflection mode only.
JP-A-4-291389 JP 2004-96593 A

しかしながら、上記した従来の液晶表示装置では、バックライトの光を透過させるためにアクティブマトリクス基板が透明でなくてはならないため、一般的にアクティブマトリクス基板の基材として無アルカリガラス基板または石英基板を用いる必要があるが、この場合、プロセス温度等の制約から能動層として完全な単結晶半導体薄膜を形成することは困難であり、欠陥を多く含んだ多結晶薄膜やアモルファス薄膜を用いなくてはならない。したがって、アクティブマトリクス基板上に形成したフォトセンサーの能動層も欠陥が多くならざるを得なくなり、単結晶シリコン等を用いたフォトダイオード・フォトトランジスターと比較すると、
1)光による電流Iphotoに比べて熱による電流Ithermalが相対的に大きく無視できない、
2)同一バイアス条件でのIphoto’の個体ばらつき(照度に対する傾き)が大きい、
という問題をあり、これによって、フォトセンサーの精度が低下し、S/N比(信号・ノイズ比)の低下が顕著となり、外光に対するバックライト照度制御が正しく出来ないため、視認性が低下することになる。
However, in the conventional liquid crystal display device described above, since the active matrix substrate must be transparent in order to transmit the light of the backlight, generally an alkali-free glass substrate or a quartz substrate is used as the base material of the active matrix substrate. In this case, it is difficult to form a complete single crystal semiconductor thin film as an active layer due to restrictions such as process temperature, and a polycrystalline thin film or an amorphous thin film containing many defects must be used. . Therefore, the active layer of the photosensor formed on the active matrix substrate must also have many defects, compared with a photodiode phototransistor using single crystal silicon or the like.
1) The current Ithermal due to heat is relatively large compared to the current Iphoto due to light and cannot be ignored.
2) Individual variation of Iphoto 'under the same bias condition (gradient with respect to illuminance) is large.
As a result, the accuracy of the photo sensor is reduced, the S / N ratio (signal / noise ratio) is significantly reduced, and the backlight illuminance control with respect to external light cannot be performed correctly, so that the visibility is reduced. It will be.

本発明は上記した従来の問題が考慮されたものであり、光による電流Iphotoに比べて熱による電流Ithermalが相対的に大きいことに起因する温度による補正を行い、フォトセンサーの精度を向上させ、S/N比の低下を抑制し、液晶表示装置の視認性を向上させることを目的としている。また、Iphoto’の個体ばらつきが大きいことに起因するばらつきの補正を行い、フォトセンサーの精度を向上させ、S/N比の低下を抑制し、液晶表示装置の視認性を向上させることを目的としている。   In the present invention, the above-described conventional problems are taken into consideration, and the correction due to the temperature caused by the relatively large current Ithermal due to the heat compared to the current Iphoto due to the light is performed to improve the accuracy of the photosensor, The object is to suppress the decrease in the S / N ratio and improve the visibility of the liquid crystal display device. In addition, for the purpose of improving the visibility of the liquid crystal display device by correcting the variation caused by the large individual variation of Iphoto ', improving the accuracy of the photosensor, suppressing the decrease in the S / N ratio. Yes.

本発明に係る液晶表示装置は、第1、第2の基板間に液晶が封入されてなる液晶パネルと、該液晶パネルの前記第1の基板の面に光を照射する照明装置と、周囲の光の照度を検出する光検出手段と、該光検出手段による検出結果に応じて前記照明装置を制御する照明制御手段とが備えられ、前記光検出手段には、前記第1の基板もしくは前記第2の基板にそれぞれ設けられる第1,第2のフォトセンサーが備えられ、該第1のフォトセンサーは、少なくとも外光が照射され、前記第2のフォトセンサーは、外光遮光部によって少なくとも外光の照射が遮断されていることを特徴としている。
このような特徴により、第1のフォトセンサーと第2のフォトセンサーの電流差を演算することで、Ithermalを除去したIphotoのみの値を正しく算出することができ、また、バックライトの照度による影響も除去して温度及びバックライト照度によらない正しい外光照度を算出することが出来るため、外光照度に応じた正しい照度調整を行えるため、視認性の良い液晶表示装置を実現できる。
A liquid crystal display device according to the present invention includes a liquid crystal panel in which liquid crystal is sealed between first and second substrates, an illumination device that irradiates light onto the surface of the first substrate of the liquid crystal panel, and a surrounding device. A light detecting means for detecting the illuminance of the light, and an illumination control means for controlling the lighting device in accordance with a detection result by the light detecting means, wherein the light detecting means includes the first substrate or the first substrate. The first photosensor is provided with at least external light, and the second photosensor is provided with at least external light by an external light shielding unit. Is characterized by being blocked from irradiation.
Due to these features, by calculating the current difference between the first photosensor and the second photosensor, it is possible to correctly calculate only the value of Iphoto from which Ithermal has been removed. Since it is possible to calculate the correct external light illuminance regardless of the temperature and backlight illuminance, correct illuminance adjustment according to the external light illuminance can be performed, so that a liquid crystal display device with high visibility can be realized.

また、本発明は、第2のフォトセンサーに、照明装置からの光が照射されている構成としてもよい。これにより、照明装置の照度を利用してフォトセンサーの照度依存項Iphoto’を正しく見積もることができるため、センサーの個別ばらつきがあっても正しく外光照度を算出することが出来る。   Further, the present invention may be configured such that light from the lighting device is irradiated to the second photosensor. As a result, the illuminance dependence term Iphoto 'of the photosensor can be correctly estimated using the illuminance of the illuminating device, so that the external light illuminance can be correctly calculated even if there are individual variations in the sensor.

また、本発明は、上記した液晶表示装置において、前記照明装置の照度を互いに異なる第1,第2の照度に変化させて前記第1の照度における前記第2のフォトセンサーの出力値と前記第2の照度における前記第2のフォトセンサーの出力値との差から外光照度を算出する手段が備えられている構成としてもよい。
このような構成により、バックライトの照度を変えた時の第2のフォトセンサーの電流差からフォトセンサーの照度依存項Iphoto’を正しく見積もることができるため、センサーの個別ばらつきがあっても正しく外光照度を算出することが出来る。
According to the present invention, in the above-described liquid crystal display device, the illuminance of the illumination device is changed to first and second illuminances different from each other, and the output value of the second photosensor at the first illuminance and the first illuminance are changed. It is good also as a structure provided with the means to calculate external light illumination intensity from the difference with the output value of the said 2nd photosensor in 2 illumination intensity.
With such a configuration, the illuminance dependence term Iphoto 'of the photosensor can be correctly estimated from the current difference of the second photosensor when the illuminance of the backlight is changed. Light illuminance can be calculated.

また、本発明は、前記第1のフォトセンサー又は第2のフォトセンサーのうちの少なくとも一方が、照明光遮光部によって前記照明装置からの光の照射が遮断されている構成としてもよい。
このような構成により、第1のフォトセンサーと第2のフォトセンサーの電流差からフォトセンサーの照度依存項Iphoto’を正しく見積もることができるため、センサーの個別ばらつきがあっても正しく外光照度を算出することが出来る。また、少なくともどちらか一方のフォトセンサーが配置上、バックライトの照度を均一にあてることが出来ない時にも正しく外光照度を見積もることが出来る。
In the present invention, at least one of the first photosensor and the second photosensor may be configured such that illumination of light from the illumination device is blocked by an illumination light shielding unit.
With such a configuration, the illuminance dependence term Iphoto 'of the photosensor can be correctly estimated from the current difference between the first photosensor and the second photosensor, so the ambient light illuminance can be calculated correctly even if there are individual variations in the sensor. I can do it. In addition, when at least one of the photosensors is arranged, it is possible to correctly estimate the illuminance of outside light even when the illuminance of the backlight cannot be uniformly applied.

また、本発明は、前記第1のフォトセンサーが、照明光遮光部によって前記照明装置からの光の照射が遮断され、前記第2のフォトセンサーに、前記照明装置からの光が照射され、前記照明装置の照度を特定値に設定して前記第1のフォトセンサーの出力値と前記第2のフォトセンサーの出力値との差から前記特定値に対する外光照度の大小を検知する手段が備えられている構成としてもよい。
このような構成により、例えば、第1のフォトセンサーの出力値から第2のフォトセンサーの出力値を差し引いた出力差が正の値(プラス)であれば、外光の照度は、設定された特定値よりも大きいと判定され、一方、その出力差が負の値(マイナス)であれば、外光の照度は、設定された特定値よりも小さいと判定される。なお、第2のフォトセンサーの出力値から第1のフォトセンサーの出力値を差し引いて出力差を算出した場合は、その差がプラスであれば、外光の照度は、設定された特定値よりも小さいと判定され、一方、その出力差がマイナスであれば、外光の照度は、設定された特定値よりも大きいと判定される。これによって、例えば、外光の照度が少なくとも特定値に達しているか否かを正確に判定することができ、また、特定値の大きさを可変させながら、各特定値に対する外光照度の大小を検知する手段を行うことで正確な外光照度を検出することができる。
Further, in the present invention, the first photosensor is blocked from irradiating light from the illuminating device by an illuminating light shielding unit, and the second photosensor is irradiated with light from the illuminating device, Means is provided for setting the illuminance of the lighting device to a specific value and detecting the magnitude of the external light illuminance with respect to the specific value from the difference between the output value of the first photosensor and the output value of the second photosensor. It is good also as composition which has.
With such a configuration, for example, if the output difference obtained by subtracting the output value of the second photosensor from the output value of the first photosensor is a positive value (plus), the illuminance of external light is set. On the other hand, if the output difference is a negative value (minus), it is determined that the illuminance of outside light is smaller than the set specific value. In addition, when the output difference is calculated by subtracting the output value of the first photosensor from the output value of the second photosensor, if the difference is positive, the illuminance of outside light is greater than the set specific value. On the other hand, if the output difference is negative, it is determined that the illuminance of outside light is larger than the set specific value. As a result, for example, it is possible to accurately determine whether or not the illuminance of outside light has reached at least a specific value, and the magnitude of the external light illuminance with respect to each specific value is detected while varying the size of the specific value. By performing the means, the accurate external light illuminance can be detected.

また、本発明は、前記第1の基板もしくは前記第2の基板が、その液晶側の面にアクティブ素子を配設してなるアクティブマトリクス基板であり、前記アクティブ素子が、その能動層と前記第1の基板の基材との間にボトムゲート電極を有するボトムゲート構造のトランジスタ又は4端子トランジスタであり、前記照明光遮光部が、前記ボトムゲート電極と同一材料で形成された膜である構成としてもよい。
このような構成により、照明光遮光部とボトムゲート電極とを同一工程で形成することが可能となり、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
Further, the present invention is an active matrix substrate in which the first substrate or the second substrate is provided with an active element on a surface on the liquid crystal side, and the active element includes the active layer and the first substrate. A bottom-gate transistor or a four-terminal transistor having a bottom gate electrode between a substrate of one substrate and the illumination light shielding portion is a film formed of the same material as the bottom gate electrode Also good.
With such a configuration, the illumination light shielding part and the bottom gate electrode can be formed in the same process, and the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.

また、本発明は、前記第1の基板もしくは前記第2の基板が、その液晶側の面にアクティブ素子を配設してなるアクティブマトリクス基板であり、前記アクティブ素子が、その能動層と前記第1の基板の基材との間にトランジスタ遮光層を有するトップゲート構造のトランジスタであり、前記照明光遮光部が、前記トランジスタ遮光層と同一材料で形成された膜である構成としてもよい。
このような構成により、照明光遮光部とトランジスタ遮光層とを同一工程で形成することが可能となり、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
Further, the present invention is an active matrix substrate in which the first substrate or the second substrate is provided with an active element on a surface on the liquid crystal side, and the active element includes the active layer and the first substrate. The transistor may have a top gate structure having a transistor light shielding layer between a substrate and a substrate, and the illumination light shielding portion may be a film formed of the same material as the transistor light shielding layer.
With such a configuration, the illumination light shielding part and the transistor light shielding layer can be formed in the same process, and the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.

また、本発明は、前記第1の基板が、その液晶側の面にアクティブ素子を配設してなるアクティブマトリクス基板であり、前記アクティブ素子が、ゲート電極を有するトランジスタであり、前記外光遮光部が、前記ゲート電極と同一材料で形成された膜である構成としてもよい。
このような構成により、外光遮光部とゲート電極とを同一工程で形成することが可能となり、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
According to the present invention, the first substrate is an active matrix substrate in which an active element is disposed on the surface on the liquid crystal side, the active element is a transistor having a gate electrode, and the external light shielding is performed. The portion may be a film formed of the same material as the gate electrode.
With such a configuration, the external light shielding portion and the gate electrode can be formed in the same process, and the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.

また、本発明は、前記第1の基板が、その液晶側の面にアクティブ素子を配設してなるアクティブマトリクス基板であり、前記外光遮光部は、前記アクティブマトリクス基板のデータ線と同一材料で形成された膜である構成としてもよい。
このような構成により、外光遮光部とデータ線とを同一工程で形成することが可能となり、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
In the present invention, the first substrate is an active matrix substrate in which active elements are disposed on the liquid crystal side surface, and the external light shielding portion is made of the same material as the data lines of the active matrix substrate. It is good also as a structure which is the film | membrane formed by.
With such a configuration, it is possible to form the external light shielding portion and the data line in the same process, thereby shortening the manufacturing process and reducing the cost.

また、本発明は、前記第1の基板の液晶側の面に、反射電極が設けられ、前記外光遮光部が、前記反射電極と同一材料で形成された膜である構成としてもよい。
このような構成により、外光遮光部と反射電極とを同一工程で形成することが可能となり、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
Furthermore, the present invention may be configured such that a reflective electrode is provided on the liquid crystal side surface of the first substrate, and the external light shielding portion is a film formed of the same material as the reflective electrode.
With such a configuration, it is possible to form the external light shielding portion and the reflective electrode in the same process, thereby shortening the manufacturing process and reducing the cost.

また、本発明は、前記第1の基板又は前記第2の基板の液晶側の面のうち少なくともいずれか一方に、画像を表示する表示エリアにブラックマトリクス層が設けられ、前記外光遮光部が、前記ブラックマトリクス層と同一材料で形成された膜である構成としてもよい。
このような構成により、外光遮光部とブラックマトリクス層とを同一工程で形成することが可能となり、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
According to the present invention, a black matrix layer is provided in a display area for displaying an image on at least one of the liquid crystal side surfaces of the first substrate and the second substrate, and the external light shielding portion is provided. The film may be formed of the same material as the black matrix layer.
With such a configuration, it is possible to form the external light shielding portion and the black matrix layer in the same process, thereby shortening the manufacturing process and reducing the cost.

また、本発明は、前記第1の基板又は前記第2の基板の液晶側の面のうち少なくともいずれか一方に、画像を表示する表示エリアにカラーフィルター層が設けられ、前記外光遮光部が、前記カラーフィルター層と同一材料で形成された膜である構成としてもよい。
このような構成により、外光遮光部とカラーフィルター層とを同一工程で形成することが可能となり、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
According to the present invention, a color filter layer is provided in a display area for displaying an image on at least one of the liquid crystal side surfaces of the first substrate and the second substrate, and the external light shielding portion is provided. The film may be formed of the same material as the color filter layer.
With such a configuration, it is possible to form the external light shielding portion and the color filter layer in the same process, and it is possible to shorten the manufacturing process and reduce the cost.

また、本発明は、前記カラーフィルター層が、青表示に対応する第1のカラーフィルター層と、緑表示に対応する第2のカラーフィルター層と、赤表示に対応する第3のカラーフィルター層と、を有してなり、前記外光遮光部が、前記第1のカラーフィルター層と同一の材料からなる膜、前記第2のカラーフィルター層と同一の材料からなる膜、又は前記第3のカラーフィルター層と同一の材料からなる膜のうち、何れか二種以上の膜を重ね合わせて形成されている構成としてもよい。
このような構成により、二種以上の膜を重ね合わせて外光遮光部が形成されるため、外光遮光部の遮光性が高められ、外光の照度を精度良く検出することができる。
Further, according to the present invention, the color filter layer includes a first color filter layer corresponding to blue display, a second color filter layer corresponding to green display, and a third color filter layer corresponding to red display. And the external light shielding portion is a film made of the same material as the first color filter layer, a film made of the same material as the second color filter layer, or the third color. Of the films made of the same material as the filter layer, any two or more kinds of films may be overlapped.
With such a configuration, two or more kinds of films are overlapped to form the external light shielding part. Therefore, the light shielding property of the external light shielding part is enhanced, and the illuminance of the external light can be detected with high accuracy.

また、本発明は、前記外光遮光部が、前記第1,第2の基板の間に介在するシール材と同一の樹脂で形成されている構成としてもよい。
このような構成により、外光遮光部とシール材とを同一工程で形成することができ、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
Further, the present invention may be configured such that the external light shielding portion is formed of the same resin as a sealing material interposed between the first and second substrates.
With such a configuration, the external light shielding portion and the sealing material can be formed in the same process, and the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.

また、本発明に係る電子機器は、上記した液晶表示装置が備えられていることを特徴としている。
このような特徴により、上記した液晶表示装置と同様の作用及び効果を奏するため、いかなる状況下でも視認性を良好に保つことができるとともに、消費電力を低減させることができ、例えばバッテリーの駆動時間を長くすることができる。
In addition, an electronic apparatus according to the present invention includes the above-described liquid crystal display device.
Due to such a feature, the same operation and effect as the above-described liquid crystal display device can be achieved, so that visibility can be maintained well under any circumstances and power consumption can be reduced, for example, battery driving time. Can be lengthened.

以下、本発明に係る液晶表示装置及び電子機器の実施の形態について、図面に基いて説明する。   Hereinafter, embodiments of a liquid crystal display device and an electronic apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は液晶表示装置の液晶モジュール1を表した部分破断図である。
図1に示すように、液晶モジュール1は、アクティブマトリクス基板2(第1の基板)と対向基板3(第2の基板)とでネマティック相液晶材料4(液晶)を挟持し、シール材5で両基板2,3を貼り合わせ液晶材料4を封入している。アクティブマトリクス基板2の画素電極上には、ポリイミドなどからなる配向材料が塗布されラビング処理された図示せぬ配向膜が形成されている。また、対向基板3には、画素に対応した図示せぬカラーフィルターと、光抜けを防止してコントラストを向上させるための図示せぬブラックマトリクスと、コモン電位が供給されるITO膜でなる対向電極とがそれぞれ形成され、その液晶材料4と接触する面には、ポリイミドなどからなる配向材料が塗布され、アクティブマトリクス基板2の配向膜のラビング処理方向と直交する方向にラビング処理されている。
FIG. 1 is a partially cutaway view showing a liquid crystal module 1 of a liquid crystal display device.
As shown in FIG. 1, the liquid crystal module 1 includes a nematic liquid crystal material 4 (liquid crystal) sandwiched between an active matrix substrate 2 (first substrate) and a counter substrate 3 (second substrate), and a sealing material 5 Both substrates 2 and 3 are bonded together to enclose the liquid crystal material 4. On the pixel electrode of the active matrix substrate 2, an alignment film (not shown) is formed by applying an alignment material made of polyimide or the like and rubbing. The counter substrate 3 includes a color filter (not shown) corresponding to the pixel, a black matrix (not shown) for preventing light leakage and improving contrast, and a counter electrode made of an ITO film to which a common potential is supplied. And an alignment material made of polyimide or the like is applied to the surface in contact with the liquid crystal material 4 and is rubbed in a direction perpendicular to the rubbing direction of the alignment film of the active matrix substrate 2.

さらに対向基板3の外側には、上偏向板6を、アクティブマトリクス基板2の外側には、下偏向板7を各々配置し、互いの偏光方向が直交するようにクロスニコル状に配置する。さらに下偏向板7下には、面光源を成すバックライトユニット8(照明装置)が配置される。バックライトユニット8は、冷陰極管やLED(light emitting diode)に導光板や散乱板をとりつけたものでも良いし、EL(Electroluminescence)素子によって全面発光するユニットでもよい。バックライトユニット8は、コネクタ9を通じて図示せぬ電子機器本体と接続され、電源が供給される。さらに、図示しないが、必要に応じて、周囲を外殻で覆っても良いし、あるいは上偏向板6のさらに上に保護用のガラスやアクリル板を取り付けても良いし、視野角改善のため光学補償フィルムを貼っても良い。   Further, an upper deflection plate 6 is arranged outside the counter substrate 3, and a lower deflection plate 7 is arranged outside the active matrix substrate 2, and they are arranged in a crossed Nicol shape so that their polarization directions are orthogonal to each other. Further, a backlight unit 8 (illuminating device) that constitutes a surface light source is disposed below the lower deflection plate 7. The backlight unit 8 may be a cold cathode tube or an LED (light emitting diode) attached with a light guide plate or a scattering plate, or may be a unit that emits light entirely by an EL (Electroluminescence) element. The backlight unit 8 is connected to an electronic device main body (not shown) through a connector 9 and is supplied with power. Further, although not shown, if necessary, the periphery may be covered with an outer shell, or a protective glass or acrylic plate may be attached on the upper deflection plate 6 to improve the viewing angle. An optical compensation film may be attached.

また、アクティブマトリクス基板2は、対向基板3から張り出す張出部2aが設けられ、その張出部2aにある図示せぬ信号入力端子には、FPC(Flexible Printed Circuit)10及び外部駆動IC11,11が実装され、アクティブマトリクス基板2上の複数の信号入力端子が電気的に接続されている。図1では、外部駆動IC11は2個のICで構成されているが、1個もしくは3個以上でもよい。FPC10は、電源IC、信号制御IC、コンデンサー、抵抗、ROM(read only memory)、バックライト制御ユニット12(照明制御手段)などを有する制御基板13に接続され、基準電位、制御信号、映像データをアクティブマトリクス基板2へ供給する。また、制御基板13はコネクタ14を通じてバックライトユニット8にも接続され、制御基板13上のバックライト制御ユニット12によってバックライトユニット8はそのON・OFF切替えおよび輝度(照度)調整が可能なようになっている。
なお、本実施例ではバックライトユニット8をアクティブマトリクス基板2の外に配置したが、逆に対向基板3の外に配置する構成も可能である。この場合、請求項でいう第1の基板とは対向基板3になり、第2の基板とはアクティブマトリクス基板2となる。
Further, the active matrix substrate 2 is provided with an overhanging portion 2a protruding from the counter substrate 3, and a signal input terminal (not shown) in the overhanging portion 2a includes an FPC (Flexible Printed Circuit) 10 and an external drive IC 11, 11 is mounted, and a plurality of signal input terminals on the active matrix substrate 2 are electrically connected. In FIG. 1, the external drive IC 11 is composed of two ICs, but may be one or three or more. The FPC 10 is connected to a control board 13 having a power supply IC, a signal control IC, a capacitor, a resistor, a ROM (read only memory), a backlight control unit 12 (illumination control means), etc., and receives a reference potential, a control signal, and video data. Supply to the active matrix substrate 2. Further, the control board 13 is also connected to the backlight unit 8 through the connector 14 so that the backlight unit 8 on the control board 13 can be switched ON / OFF and adjusted in luminance (illuminance) by the backlight control unit 12. It has become.
In the present embodiment, the backlight unit 8 is disposed outside the active matrix substrate 2, but conversely, a configuration in which the backlight unit 8 is disposed outside the counter substrate 3 is also possible. In this case, the first substrate in the claims is the counter substrate 3, and the second substrate is the active matrix substrate 2.

図2はアクティブマトリクス基板2を表す模式図である。
図2に示すように、アクティブマトリクス基板2上には、m本(mは自然数、例えばm=480)の走査線15とn本(nは自然数、例えばn=1920)のデータ線16が互いの交差して形成されており、m本の容量線17が走査線15と並行かつ走査線15と対となるように交互に配置されている。
FIG. 2 is a schematic diagram showing the active matrix substrate 2.
As shown in FIG. 2, m (m is a natural number, for example, m = 480) scanning lines 15 and n (n is a natural number, for example, n = 1920) data lines 16 are arranged on the active matrix substrate 2. The m capacitance lines 17 are alternately arranged in parallel with the scanning lines 15 and in pairs with the scanning lines 15.

また、走査線15は、走査線駆動回路18に接続され、また、データ線16にはデータ線駆動回路19が接続され、それぞれ表示に必要な駆動信号が与えられる。走査線駆動回路18およびデータ線駆動回路19には、複数の信号入力端子20…を介して図1に示す外部駆動IC11および制御基板13から必要な各種信号および電源電位を与えるための信号が供給される。走査線駆動回路18およびデータ線駆動回路19は、薄膜トランジスタを用いてアクティブマトリクス基板2上に一体形成されたCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)回路である。   Further, the scanning line 15 is connected to the scanning line driving circuit 18, and the data line 16 is connected to the data line driving circuit 19, and a driving signal necessary for display is given thereto. The scanning line driving circuit 18 and the data line driving circuit 19 are supplied with various signals and signals for supplying a power supply potential from the external driving IC 11 and the control board 13 shown in FIG. Is done. The scanning line driving circuit 18 and the data line driving circuit 19 are CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) circuits integrally formed on the active matrix substrate 2 using thin film transistors.

各容量線17は、相互に短絡され、図示せぬコモン電位配線を介して図示せぬコモン電位入力端子に接続されており、コモン電位信号(VCOM=−4.5V〜−0.5Vの反転信号)が供給される。さらに、アクティブマトリクス基板2上には、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22とがそれぞれ実装されており、これら第1,第2のフォトセンサー21,22によって、周囲の光の照度を検出する光検出ユニット(光検出手段)が構成されている。第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22からの出力信号は、信号入力端子20および図1に示すFPC10を介して、図1に示す制御基板13上のバックライト制御ユニット12にそれぞれ供給される。   The capacitor lines 17 are short-circuited to each other and connected to a common potential input terminal (not shown) via a common potential wiring (not shown), and a common potential signal (VCOM = -4.5V to -0.5V inversion). Signal). Further, a first photosensor 21 and a second photosensor 22 are mounted on the active matrix substrate 2, respectively, and the illuminance of ambient light by these first and second photosensors 21 and 22. A light detection unit (light detection means) is detected. Output signals from the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are supplied to the backlight control unit 12 on the control board 13 shown in FIG. 1 via the signal input terminal 20 and the FPC 10 shown in FIG. Is done.

図3は図2のA部の拡大図であり、走査線15とデータ線16との交差部を表す模式図である。
図3に示すように、走査線15とデータ線16の各交点に対応してNチャネル型電界効果ポリシリコン薄膜トランジスタよりなる画素スイッチング素子23(アクティブ素子)が形成されており、そのゲート電極31は走査線15に、ソース電極32はデータ線16に、ドレイン電極33は画素電極24にそれぞれ接続されている。画素電極24は液晶材料4を介して対向基板3の対向電極25(コモン電極)に接続されており、これによって液晶容量26が形成されている。また、画素電位側の画素電極24と容量線17とからなる補助容量27が、液晶容量26と並列に形成されている。
FIG. 3 is an enlarged view of a portion A in FIG. 2, and is a schematic diagram showing an intersection between the scanning line 15 and the data line 16.
As shown in FIG. 3, a pixel switching element 23 (active element) made of an N-channel field effect polysilicon thin film transistor is formed corresponding to each intersection of the scanning line 15 and the data line 16, and the gate electrode 31 is The scanning electrode 15, the source electrode 32 is connected to the data line 16, and the drain electrode 33 is connected to the pixel electrode 24. The pixel electrode 24 is connected to the counter electrode 25 (common electrode) of the counter substrate 3 through the liquid crystal material 4, thereby forming a liquid crystal capacitor 26. Further, an auxiliary capacitor 27 composed of the pixel electrode 24 on the pixel potential side and the capacitor line 17 is formed in parallel with the liquid crystal capacitor 26.

また、画素電極24の一部は下に図示せぬ反射電極が形成されており、この領域が反射表示に、それ以外の領域が透過表示に対応する、いわゆる半透過型液晶表示装置となっている。
なお、本実施例ではアクティブマトリクス基板2上に反射電極を形成する、いわゆる内面反射板構造をとっているが、反射電極をアクティブマトリクス基板2上に設けないいわゆる全透過型液晶表示装置の構成としてもよいし、図1に示す下偏光板7の下に微反射フィルムを挿入したいわゆる微反射型液晶表示装置としてもよい。
Further, a reflective electrode (not shown) is formed on a part of the pixel electrode 24, and this region corresponds to a reflective display, and the other region corresponds to a transmissive display. Yes.
In this embodiment, a reflection electrode is formed on the active matrix substrate 2 and a so-called internal reflection plate structure is used. However, as a configuration of a so-called total transmission type liquid crystal display device in which the reflection electrode is not provided on the active matrix substrate 2. Alternatively, a so-called slightly reflecting liquid crystal display device in which a slightly reflecting film is inserted under the lower polarizing plate 7 shown in FIG.

図4はバックライト制御ユニット12によってバックライトユニット8を制御する際のバックライト8の照度(輝度)と外光の照度との関係を表したグラフである。
図2、図4に示すように、2つのフォトセンサー21,22を用いて外光の照度を検出し、バックライト制御ユニット12によってバックライトユニット8の輝度を自動的に調整する。具体的には、全く外光の無い状況ではバックライトユニット8の照度を最低限度にし、使用者が眩しくないようにするとともに必要以上の消費電力を消費することを防ぐ。外光が明るくなるに従ってバックライトユニット8の照度を徐々に上げ、外光によって透過表示が視認しずらくなることを防ぐ。周囲環境が一定以上の明るさになった時はバックライトユニット8をOFFし、反射モードのみに切り替えることで消費電力の低減を図る。
FIG. 4 is a graph showing the relationship between the illuminance (luminance) of the backlight 8 and the illuminance of external light when the backlight unit 8 is controlled by the backlight control unit 12.
As shown in FIGS. 2 and 4, the illuminance of external light is detected using two photosensors 21 and 22, and the luminance of the backlight unit 8 is automatically adjusted by the backlight control unit 12. Specifically, in a situation where there is no external light, the illuminance of the backlight unit 8 is minimized, so that the user is not dazzled and unnecessary power consumption is prevented. As the external light becomes brighter, the illuminance of the backlight unit 8 is gradually increased to prevent the transmissive display from becoming difficult to visually recognize due to the external light. When the ambient environment becomes more than a certain level of brightness, the backlight unit 8 is turned off and only the reflection mode is switched to reduce power consumption.

第1のフォトセンサー21に少なくとも外光が照射される構成になっているとともに、第2のフォトセンサー22には少なくとも外光の照射が遮断されて外光が照射されない構成になっており、これら第1,第2のフォトセンサー21,22からそれぞれ出力された出力値に基いて外光照度が算出され、バックライトユニット8に送られる制御信号が補正される。以下に、外光照度を測定する構成について、第1〜第3の実施の形態をそれぞれ説明する。   The first photosensor 21 is configured to be irradiated with at least external light, and the second photosensor 22 is configured to block at least external light from being irradiated with external light. The ambient light illuminance is calculated based on the output values output from the first and second photosensors 21 and 22, respectively, and the control signal sent to the backlight unit 8 is corrected. Below, the 1st-3rd embodiment is each demonstrated about the structure which measures external light illumination intensity.

[第1の実施の形態]
まず、第1の実施の形態における外光照度を測定するための概略構成について説明する。
図5は第1の実施の形態における外光照度を測定する構成を表した模式図である。
図5に示すように、アクティブマトリクス基板2(図2に示す。)上にそれぞれ配設された2つのフォトセンサー21,22のうち、第1のフォトセンサー21は、外光Aおよびバックライトユニット8からの光(以下、バックライト光Bと記す。)がそれぞれ照射される状態になっており、第2のフォトセンサー22は、外光Aが外光遮光膜28(外光遮光部)によって遮断されているとともにバックライト光Bが照射される状態になっている。
[First Embodiment]
First, a schematic configuration for measuring the external light illuminance in the first embodiment will be described.
FIG. 5 is a schematic diagram showing a configuration for measuring the illuminance of outside light in the first embodiment.
As shown in FIG. 5, of the two photosensors 21 and 22 respectively disposed on the active matrix substrate 2 (shown in FIG. 2), the first photosensor 21 is the external light A and the backlight unit. 8 (hereinafter referred to as backlight light B) is irradiated, and the second photosensor 22 is configured such that the external light A is reflected by the external light shielding film 28 (external light shielding portion). It is in a state where it is blocked and the backlight light B is irradiated.

上記のように構成では、第1のフォトセンサー21を構成するダイオードまたはトランジスタに流れる電流I1(出力値)と第2のフォトセンサー22を構成するダイオードまたはトランジスタに流れる電流I2(出力値)は、それぞれ次式で表される。ここで、LAは第1のフォトセンサー21上での外光Aの照度であり、LB1は第1のフォトセンサー21上に照射されるバックライト光Bの照度であり、LB2は第2のフォトセンサー22上に照射されるバックライト光Bの照度であり、Vd1は第1のフォトセンサー21を構成するダイオードのアノード・カソード間電圧であり、Vgs1は第1のフォトセンサー21を構成するトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、Vds1は第1のフォトセンサー21を構成するトランジスタのドレイン・ソース間電圧であり、temp1は第1のフォトセンサー21の絶対温度であり、Vd2は第2のフォトセンサー22を構成するダイオードのアノード・カソード間電圧であり、Vgs2は第2のフォトセンサー22を構成するトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、Vds2は第2のフォトセンサー22を構成するトランジスタのドレイン・ソース間電圧であり、temp2は第2のフォトセンサー22の絶対温度である。また、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22は遮光状態をのぞいて全く同一のデバイス構造であり、同一条件では同じ電流が流れるものとする。   In the configuration described above, the current I1 (output value) flowing through the diode or transistor constituting the first photosensor 21 and the current I2 (output value) flowing through the diode or transistor constituting the second photosensor 22 are: Each is expressed by the following equation. Here, LA is the illuminance of the external light A on the first photosensor 21, LB1 is the illuminance of the backlight light B irradiated on the first photosensor 21, and LB2 is the second photo. The illuminance of the backlight light B irradiated on the sensor 22, Vd 1 is the anode-cathode voltage of the diode constituting the first photosensor 21, and Vgs1 is the transistor constituting the first photosensor 21. The gate-source voltage, Vds1 is the drain-source voltage of the transistor constituting the first photosensor 21, temp1 is the absolute temperature of the first photosensor 21, and Vd2 is the second photosensor. 22 is a voltage between the anode and the cathode of the diode that constitutes 22, and Vgs2 is the gate of the transistor that constitutes the second photosensor 22. An over scan voltage, Vds2 is the drain-source voltage of the transistor constituting the second photosensor 22, temp2 is the absolute temperature of the second photosensor 22. The first photosensor 21 and the second photosensor 22 have the same device structure except for the light shielding state, and the same current flows under the same conditions.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

ここで、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22に同一のバイアス電圧を印加すると、Vd1=Vd2=Vd,Vgs1=Vgs2=Vgs,Vds1=Vds2=Vdsである。具体的には例えばVd=−4V、Vgs=−5V、Vds=−4Vなどとする。また、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22は同一の基板アクティブマトリクス基板2に配置されてなるので、温度も等しいと出来るのでtemp1=tempに=tempである。また、Vd,Vgs,Vdsは一定となるように回路を構成すれば、Iphoto’(Vd),Iphoto’(Vgs,Vds)も定数(以下、単にIphoto’と略す)として扱えることになる。
上記の式および仮定から、第1のフォトセンサー21に流れる電流I1と第2のフォトセンサー22に流れる電流I2の差(I1−I2)は次式となる。
Here, when the same bias voltage is applied to the first photosensor 21 and the second photosensor 22, Vd1 = Vd2 = Vd, Vgs1 = Vgs2 = Vgs, and Vds1 = Vds2 = Vds. Specifically, for example, Vd = -4V, Vgs = -5V, Vds = -4V, and the like. In addition, since the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are arranged on the same substrate active matrix substrate 2, temp1 = temp = temp because the temperatures can be equal. If the circuit is configured so that Vd, Vgs, and Vds are constant, Iphoto ′ (Vd) and Iphoto ′ (Vgs, Vds) can also be handled as constants (hereinafter simply referred to as Iphoto ′).
From the above equation and assumption, the difference (I1−I2) between the current I1 flowing through the first photosensor 21 and the current I2 flowing through the second photosensor 22 is expressed by the following equation.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

上記の式における電流I1,I2は、第1,第2のフォトセンサー21,22からそれぞれ出力されるので、これを測定すれば上記の式から外光照度LAが算出される。算出された外光照度LAは熱リークを考慮した正確な値であり、この外光照度LAに基いてバックライトユニット8に送られる制御信号が補正される。これによって、これによって、温度による補正が行われた制御信号をバックライトユニット8に送ることができ、従来に比べより正確なバックライトユニット8の照度制御が可能であって視認性を向上させることができる。   Since the currents I1 and I2 in the above formula are output from the first and second photosensors 21 and 22, respectively, if this is measured, the external light illuminance LA is calculated from the above formula. The calculated external light illuminance LA is an accurate value considering heat leak, and the control signal sent to the backlight unit 8 is corrected based on the external light illuminance LA. Thereby, the control signal corrected by the temperature can be sent to the backlight unit 8, and the illuminance control of the backlight unit 8 can be performed more accurately than before, and the visibility can be improved. Can do.

また、Iphoto’は実際には製造工程の変動により製品毎に一定範囲のバラツキを有するが、バックライト制御ユニット12には、Iphoto’を算出する手段が備えられており、予め定まった定数を使用せず、製品ごとにIphoto’を算出することもできる。つまり、バックライトユニット8を操作してバックライト光Bの照度を第1の照度LB1から第2の照度LB2に可変させる。そして、第1の照度LB1のときの第2のフォトセンサー22に流れる電流I21を測定するとともに、第2の照度LB2のときの第2のフォトセンサー22に流れる電流I22を測定する。例えば、まず、バックライトユニット8をONにして、その時の第2のフォトセンサー22に流れる電流I21を測定し、その後、バックライトユニット8をOFFにして、その時の第2のフォトセンサー22に流れる電流I22を測定する。
このとき、それぞれの時(ON時、OFF時)の電流差I21−I22は次式で表される。ただし、バックライトユニット8がONの時のバックライト照度はLB1とし、また、バックライトユニット8がOFFの時のバックライト照度LB2は当然0である。
In addition, Iphoto 'actually has a certain range of variation due to variations in the manufacturing process, but the backlight control unit 12 is provided with means for calculating Iphoto' and uses a predetermined constant. It is also possible to calculate Iphoto ′ for each product. That is, the backlight unit 8 is operated to change the illuminance of the backlight light B from the first illuminance LB1 to the second illuminance LB2. Then, the current I21 flowing through the second photosensor 22 at the first illuminance LB1 is measured, and the current I22 flowing through the second photosensor 22 at the second illuminance LB2 is measured. For example, first, the backlight unit 8 is turned on, the current I21 flowing through the second photosensor 22 at that time is measured, and then the backlight unit 8 is turned off and flows through the second photosensor 22 at that time. The current I22 is measured.
At this time, the current difference I21-I22 at each time (ON and OFF) is expressed by the following equation. However, the backlight illuminance when the backlight unit 8 is ON is LB1, and the backlight illuminance LB2 when the backlight unit 8 is OFF is naturally zero.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

上記の式における電流I21、I22は、第2のフォトセンサー22からそれぞれ出力され、上記の式における照度LB1は既知であるため、上記の式から定数Iphoto’が算出される。これによって、各製品ごとの定数Iphoto’が求められ、定数Iphoto’が製品間でばらついていても補正可能であって、外光照度LAがより高い精度で求まる。
なお、ここでバックライトをOFFとする期間は液晶表示装置の垂直ブランク期間などに行うことが表示品位上あるいは補正時のS/N比上好ましい。
The currents I21 and I22 in the above equation are respectively output from the second photosensor 22, and the illuminance LB1 in the above equation is known, so the constant Iphoto ′ is calculated from the above equation. As a result, a constant Iphoto ′ for each product is obtained, and even if the constant Iphoto ′ varies between products, correction is possible, and the external light illuminance LA can be obtained with higher accuracy.
Here, the period during which the backlight is turned off is preferably performed during the vertical blank period of the liquid crystal display device in view of display quality or S / N ratio at the time of correction.

次に、上記した第1の実施の形態における液晶表示装置の具体的構成について、以下に第1〜第4の具体例を示して説明する。   Next, the specific configuration of the liquid crystal display device according to the first embodiment described above will be described below by showing first to fourth specific examples.

まず、第1の実施の形態における液晶表示装置の第1具体例について説明する。
図6は第1の実施の形態における液晶表示装置の第1具体例を表した拡大断面図である。
図6に示すように、液晶表示装置は、前述したとおり、アクティブマトリクス基板2と対向基板3との間に液晶材料4が封入され、アクティブマトリクス基板2の外側(下側)に下偏光板7が配置され、対向基板3の外側(上側)に上偏光板6が配置され、さらに、下偏光板7の下方にバックライトユニット8が配置された構成からなる。
First, a first specific example of the liquid crystal display device according to the first embodiment will be described.
FIG. 6 is an enlarged cross-sectional view showing a first specific example of the liquid crystal display device according to the first embodiment.
As shown in FIG. 6, in the liquid crystal display device, as described above, the liquid crystal material 4 is sealed between the active matrix substrate 2 and the counter substrate 3, and the lower polarizing plate 7 is disposed on the outer side (lower side) of the active matrix substrate 2. Is arranged, the upper polarizing plate 6 is arranged on the outer side (upper side) of the counter substrate 3, and the backlight unit 8 is arranged below the lower polarizing plate 7.

アクティブマトリクス基板2上に設けられた画素スイッチング素子23は、nチャネル型の電界効果型トランジスタであって、膜厚200nmの窒化シリコン膜よりなる下地絶縁層34a上に配置された厚さ50nmの真性多結晶薄膜シリコン薄膜からなるチャネル部30の両側に、n+薄膜シリコンからなるソース電極32およびドレイン電極33がそれぞれ配設され、さらに、チャネル部30の上方に、300nmの厚みをもつCr(クロム)薄膜からなるゲート電極31が配設された構成からなる。ゲート電極31は、チャネル部30に間隔をあけて対向されており、チャネル部30とゲート電極31との間には、酸化シリコン50nmの絶縁膜34bが介在されている。   The pixel switching element 23 provided on the active matrix substrate 2 is an n-channel field effect transistor, and has an intrinsic thickness of 50 nm disposed on a base insulating layer 34a made of a silicon nitride film having a thickness of 200 nm. A source electrode 32 and a drain electrode 33 made of n + thin film silicon are respectively disposed on both sides of a channel portion 30 made of a polycrystalline thin film silicon thin film, and Cr (chrome) having a thickness of 300 nm is further provided above the channel portion 30. The gate electrode 31 made of a thin film is provided. The gate electrode 31 is opposed to the channel part 30 with a gap, and an insulating film 34b of silicon oxide 50 nm is interposed between the channel part 30 and the gate electrode 31.

ソース電極32には、500nmのAl(アルミニウム)薄膜からなるデータ線16が電気的に接続され、ドレイン電極33には、同じく500nmのAl(アルミニウム)薄膜からなる中継層39を介して100nmのITO(indium tin oxcide)である画素電極24が電気的に接続されている。さらに画素電極24の一部下には200nmのAl薄膜である反射電極35が配置され、半透過型液晶表示装置として機能するようになっている。また、ゲート電極31とソース電極32,ドレイン電極33は膜厚500nmの酸化シリコン膜よりなる絶縁層34cで、ソース電極32,ドレイン電極33と画素電極24は平均膜厚1μmのアクリル系有機平坦化膜よりなる絶縁層34dでそれぞれ電気的に分離されている。   The data line 16 made of a 500 nm Al (aluminum) thin film is electrically connected to the source electrode 32, and the drain electrode 33 is connected to the 100 nm ITO via a relay layer 39 also made of a 500 nm Al (aluminum) thin film. The pixel electrode 24 which is (indium tin oxcide) is electrically connected. Further, a reflective electrode 35, which is a 200 nm Al thin film, is disposed under a part of the pixel electrode 24 so as to function as a transflective liquid crystal display device. The gate electrode 31, the source electrode 32, and the drain electrode 33 are an insulating layer 34c made of a silicon oxide film having a thickness of 500 nm, and the source electrode 32, the drain electrode 33, and the pixel electrode 24 are an acrylic organic flattening having an average thickness of 1 μm. Each is electrically isolated by an insulating layer 34d made of a film.

また、対向基板3の下面部には、液晶表示装置のカラー表示を実現するため画像を表示する表示エリアには画像を透過光の特定波長域のみを通過させることで赤・緑・青のカラー表示を実現する色材38(カラーフィルター)…と、画像を表示する表示エリアに光洩れを防止してコントラストを向上させるためのブラックマトリクス層37が設けられている。ブラックマトリクス層37は、厚さ1μmの黒色樹脂からなり、画素スイッチング素子23に対向する部分に形成されており、外光を遮断して画素スイッチング素子23のリークを低減するとともに、画素スイッチング素子23の光漏れ・反射によるコントラストの低下を防止している。一方、色材38は、画素に対応した三原色(赤・緑・青)のいずれかのカラーレジストからなり、画素電極24および反射電極35に対向する部分に形成されている。さらに、上記したブラックマトリクス層37および色材38の下面には、図示しない他の画素電極も含めた全ての画素電極24を覆うように100nmのITOからなる対向電極25が形成されている。   Further, in order to realize color display of the liquid crystal display device on the lower surface portion of the counter substrate 3, the display area for displaying an image passes through only a specific wavelength range of transmitted light, thereby allowing red, green, and blue colors. A color material 38 (color filter) for realizing display and a black matrix layer 37 for preventing light leakage and improving contrast in a display area for displaying an image are provided. The black matrix layer 37 is made of a black resin having a thickness of 1 μm, and is formed in a portion facing the pixel switching element 23. The black matrix layer 37 blocks external light to reduce leakage of the pixel switching element 23, and This prevents the decrease in contrast due to light leakage and reflection. On the other hand, the color material 38 is made of a color resist of any of the three primary colors (red, green, and blue) corresponding to the pixel, and is formed in a portion facing the pixel electrode 24 and the reflective electrode 35. Further, on the lower surfaces of the black matrix layer 37 and the color material 38, a counter electrode 25 made of 100 nm ITO is formed so as to cover all the pixel electrodes 24 including other pixel electrodes (not shown).

一方、アクティブマトリクス基板2上に設けられた第1,第2のフォトセンサー21,22は、それぞれ電界効果型ダイオードから構成されたフォトセンサーである。
第1のフォトセンサー21は、チャネル部40aの両側にソース電極41aおよびドレイン電極42aがそれぞれ配設され、ソース電極41aにソース電源配線43aが接続され、ドレイン電極42aにドレイン電源配線44aが接続され、さらに、チャネル部40aの上方にゲート電極45aが配設された構成からなる。チャネル部40aとゲート電極45aとの間には、絶縁膜46bが介在されている。さらに、第1のフォトセンサー21は、ゲート電極45aとソース電極41aとが短絡されており、2端子素子のダイオードとして機能する。
第2のフォトセンサー22は、上述した第1のフォトセンサー21と同一構成からなり、チャネル部40bの両側にソース電極41bおよびドレイン電極42bがそれぞれ配設され、ソース電極41bにソース電源配線43bが接続され、ドレイン電極42bにドレイン電源配線44bが接続され、さらに、チャネル部40bの上方にゲート電極45bが配設された構成からなる。また、チャネル部40bとゲート電極45bとの間には、絶縁膜46bが介在されている。さらに、第2のフォトセンサー22は、ゲート電極45bとソース電極41bとが短絡されており、2端子素子のダイオードとして機能する点も第1のフォトセンサー21と同様である。
On the other hand, the first and second photosensors 21 and 22 provided on the active matrix substrate 2 are photosensors each composed of a field effect diode.
In the first photosensor 21, a source electrode 41a and a drain electrode 42a are respectively disposed on both sides of a channel portion 40a, a source power supply wiring 43a is connected to the source electrode 41a, and a drain power supply wiring 44a is connected to the drain electrode 42a. Further, the gate electrode 45a is disposed above the channel portion 40a. An insulating film 46b is interposed between the channel portion 40a and the gate electrode 45a. Further, the first photosensor 21 has a gate electrode 45a and a source electrode 41a that are short-circuited, and functions as a diode of a two-terminal element.
The second photosensor 22 has the same configuration as the first photosensor 21 described above. A source electrode 41b and a drain electrode 42b are provided on both sides of the channel portion 40b, and a source power supply line 43b is provided on the source electrode 41b. The drain power supply wiring 44b is connected to the drain electrode 42b, and the gate electrode 45b is disposed above the channel portion 40b. An insulating film 46b is interposed between the channel portion 40b and the gate electrode 45b. Further, the second photosensor 22 is the same as the first photosensor 21 in that the gate electrode 45b and the source electrode 41b are short-circuited and function as a diode of a two-terminal element.

ここで、第1,第2のフォトセンサー21,22のチャネル部40a,40bは、画素スイッチング素子23を構成する真性多結晶薄膜シリコン薄膜からなるチャネル部30と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのチャネル部30と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
また、第1,第2のフォトセンサー21,22のソース電極41a,41bおよびドレイン電極42a,42bは、画素スイッチング素子23を構成するn+薄膜シリコンからなるソース電極32およびドレイン電極33と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのソース電極32およびドレイン電極33と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
また、第1,第2のフォトセンサー21,22のゲート電極45a,45bは、画素スイッチング素子23を構成するCr薄膜300nmのゲート電極31と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのゲート電極31と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
また、第1,第2のフォトセンサー21,22のソース電源配線43a,43bおよびドレイン電源配線44a,44bは、Al薄膜500nmのデータ線16および中継層39と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのデータ線16および中継層39と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
さらに、第1,第2のフォトセンサー21,22のチャネル部40a,40bとゲート電極45a,45bとの間に介在された絶縁膜46bは、画素スイッチング素子23のチャネル部30とゲート電極31との間に介在された酸化シリコン50nmの絶縁膜34bと、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、その絶縁膜34bと同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
Here, the channel portions 40 a and 40 b of the first and second photosensors 21 and 22 have the same film thickness and the same film as the channel portion 30 made of an intrinsic polycrystalline thin film silicon thin film that constitutes the pixel switching element 23. It is made of a constituent material and is manufactured in the same manufacturing process as that of the channel part 30. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.
The source electrodes 41 a and 41 b and the drain electrodes 42 a and 42 b of the first and second photosensors 21 and 22 are the same as the source electrode 32 and the drain electrode 33 made of n + thin film silicon constituting the pixel switching element 23. The source electrode 32 and the drain electrode 33 are manufactured in the same manufacturing process. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.
Further, the gate electrodes 45 a and 45 b of the first and second photosensors 21 and 22 are formed of the same film thickness and the same film constituent material as the gate electrode 31 of the Cr thin film 300 nm constituting the pixel switching element 23. The gate electrode 31 is manufactured in the same manufacturing process. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.
The source power supply wirings 43a and 43b and the drain power supply wirings 44a and 44b of the first and second photosensors 21 and 22 have the same film thickness and the same film as the data line 16 and the relay layer 39 of the Al thin film 500 nm. The data line 16 and the relay layer 39 are manufactured in the same manufacturing process. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.
Further, the insulating film 46b interposed between the channel portions 40a and 40b of the first and second photosensors 21 and 22 and the gate electrodes 45a and 45b is connected to the channel portion 30 and the gate electrode 31 of the pixel switching element 23. The insulating film 34b with 50 nm of silicon oxide interposed between them is formed of the same film thickness and the same film constituent material, and is manufactured in the same manufacturing process as the insulating film 34b. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.

また、対向基板3の上側(外側)に、第2のフォトセンサー22と重なる領域に配置された外光遮光膜28が設けられている。外光遮光膜28は、上偏光板6の外側面(上面)に接合されている。この外光遮光膜28は、液晶表示装置の図示せぬ金属筐体の一部として一体整形されたものであり、これによって、コストを低減することができる。なお、外光遮光膜28は、例えば遮光テープなどを用いてもよい。   In addition, an external light shielding film 28 disposed in a region overlapping the second photosensor 22 is provided on the upper side (outside) of the counter substrate 3. The external light shielding film 28 is bonded to the outer surface (upper surface) of the upper polarizing plate 6. The external light shielding film 28 is integrally formed as a part of a metal housing (not shown) of the liquid crystal display device, and thus the cost can be reduced. The external light shielding film 28 may be a light shielding tape, for example.

上記した構成からなる第1のフォトセンサー21に照射されている光を計測する方法としては、例えば、ソース電源配線43に0V(GND)、ドレイン電源配線44に+5Vをそれぞれ印加し、このときのソース電源配線43とドレイン電源配線44との間に流れる電流を測定すればよい。また、第2のフォトセンサー22に照射されている光を計測する場合も同様である。   As a method for measuring the light applied to the first photosensor 21 having the above-described configuration, for example, 0 V (GND) is applied to the source power supply wiring 43 and +5 V is applied to the drain power supply wiring 44, respectively. What is necessary is just to measure the electric current which flows between the source power supply wiring 43 and the drain power supply wiring 44. FIG. The same applies to the case where the light applied to the second photosensor 22 is measured.

なお、第1,第2のフォトセンサー21,22として、nチャネル型薄膜ダイオードを使用せず、pチャネル型薄膜ダイオードで第1,第2のフォトセンサー21,22を形成しても勿論構わない。
また、第1,第2のフォトセンサー21,22が、画素スイッチング素子23と異なるチャネル型で製造してもよい。この場合、ドーピング工程のみ製造工程が異なる。いずれの場合も特に製造コストのかかる能動層(この場合はチャネル部30,40a,40b)が互いに同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成され、同一製造工程で製造される方が好ましい。
As a matter of course, the first and second photosensors 21 and 22 may be formed of p-channel thin film diodes without using n-channel thin film diodes as the first and second photosensors 21 and 22. .
Further, the first and second photosensors 21 and 22 may be manufactured with a channel type different from that of the pixel switching element 23. In this case, the manufacturing process is different only in the doping process. In any case, it is preferable that the active layers (in this case, the channel portions 30, 40 a, 40 b), which are particularly expensive to manufacture, are formed of the same film thickness and the same film constituent material and manufactured in the same manufacturing process.

次に、第1の実施の形態における液晶表示装置の第2具体例について説明する。
図7は第1の実施の形態における液晶表示装置の第2具体例を表した拡大断面図である。
なお、図7に示すように、第2具体例における画素スイッチング素子23側(図7における左側)の構成は、上述した第1具体例における画素スイッチング素子23側(図6における左側)の構成と同一であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略し、以下に、第2具体例における第1,第2のフォトセンサー21,22側(図7における右側)の構成についてのみ説明する。
Next, a second specific example of the liquid crystal display device according to the first embodiment will be described.
FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view showing a second specific example of the liquid crystal display device according to the first embodiment.
As shown in FIG. 7, the configuration on the pixel switching element 23 side (left side in FIG. 7) in the second specific example is the same as the configuration on the pixel switching element 23 side (left side in FIG. 6) in the first specific example described above. Since they are the same, the description thereof is omitted by giving the same reference numerals, and only the configuration on the first and second photosensors 21 and 22 side (right side in FIG. 7) in the second specific example will be described below. .

第1,第2のフォトセンサー21,22は、それぞれPIN接合型ダイオードから構成されたフォトセンサーである。
第1のフォトセンサー21は、多結晶薄膜シリコン薄膜からなる真性半導体部47aの両側にn+薄膜シリコンからなるn+型領域48aおよびp+薄膜シリコンからなるp+型領域49aがそれぞれ配設され、n+型領域48aにカソード電源配線50aが接続され、p+型領域49aにアノード電源配線51aが接続された構成からなる。
第2のフォトセンサー22は、上述したPIN接合型ダイオードからなる第1のフォトセンサー21と同一構成からなり、多結晶薄膜シリコン薄膜からなる真性半導体部47bの両側にn+薄膜シリコンからなるn+型領域48bおよびp+薄膜シリコンからなるp+型領域49bがそれぞれ配設され、n+型領域48bにカソード電源配線50bが接続され、p+型領域49bにアノード電源配線51bが接続された構成からなる。
The first and second photosensors 21 and 22 are photosensors each composed of a PIN junction diode.
In the first photosensor 21, an n + type region 48a made of n + thin film silicon and a p + type region 49a made of p + thin film silicon are respectively disposed on both sides of an intrinsic semiconductor portion 47a made of a polycrystalline thin film silicon thin film. The cathode power wiring 50a is connected to 48a, and the anode power wiring 51a is connected to the p + type region 49a.
The second photosensor 22 has the same configuration as the first photosensor 21 made of the above-described PIN junction type diode, and n + type regions made of n + thin film silicon on both sides of the intrinsic semiconductor portion 47b made of a polycrystalline thin film silicon thin film. The p + type region 49b made of 48b and p + thin film silicon is disposed, the cathode power supply wiring 50b is connected to the n + type region 48b, and the anode power supply wiring 51b is connected to the p + type region 49b.

ここで、第1,第2のフォトセンサー21,22の真性半導体部47a,47bは、画素スイッチング素子23を構成する真性多結晶薄膜シリコン薄膜からなるチャネル部30と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのチャネル部30と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
また、第1,第2のフォトセンサー21,22のn+型領域48a,48bは、画素スイッチング素子23を構成するn+薄膜シリコンからなるソース電極32およびドレイン電極33と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのソース電極32およびドレイン電極33と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
また、第1,第2のフォトセンサー21,22のカソード電源配線50a,50b及びアノード電源配線51a,51bは、データ線16および中継層39と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのデータ線16および中継層39と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
Here, the intrinsic semiconductor portions 47 a and 47 b of the first and second photosensors 21 and 22 have the same film thickness and the same thickness as the channel portion 30 made of the intrinsic polycrystalline thin-film silicon thin film constituting the pixel switching element 23. It is made of a film constituent material and is manufactured in the same manufacturing process as that of the channel part 30. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.
The n + -type regions 48 a and 48 b of the first and second photosensors 21 and 22 have the same film thickness and the same thickness as the source electrode 32 and the drain electrode 33 made of n + thin film silicon constituting the pixel switching element 23. It is made of a film constituent material and is manufactured in the same manufacturing process as the source electrode 32 and the drain electrode 33. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.
The cathode power supply lines 50a and 50b and the anode power supply lines 51a and 51b of the first and second photosensors 21 and 22 are formed of the same film thickness and the same film constituent material as the data line 16 and the relay layer 39. The data line 16 and the relay layer 39 are manufactured in the same manufacturing process. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.

また、アクティブマトリクス基板2と液晶材料4との間に、第2のフォトセンサー22と重なる領域に配設された外光遮光膜28が介在されている。外光遮光膜28は、アクティブマトリクス基板2の上部に埋設されており、液晶材料4の下面に接面されている。また、外光遮光膜28は、Al薄膜200nmの反射電極35と同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、反射電極35と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。   In addition, an external light shielding film 28 disposed in a region overlapping the second photosensor 22 is interposed between the active matrix substrate 2 and the liquid crystal material 4. The external light shielding film 28 is embedded in the upper part of the active matrix substrate 2 and is in contact with the lower surface of the liquid crystal material 4. The external light shielding film 28 is formed of the same film thickness and the same film constituent material as the reflective electrode 35 of the Al thin film 200 nm, and is manufactured in the same manufacturing process as the reflective electrode 35. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced.

次に、第1の実施の形態における液晶表示装置の第3具体例について説明する。
図8は第1の実施の形態における液晶表示装置の第3具体例を表した拡大断面図である。
なお、図8に示すように、第3具体例における画素スイッチング素子23側(図8における左側)の構成は、上述した第1,第2具体例における画素スイッチング素子23側(図6,図7における左側)の構成と同一であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略する。また、第3具体例における第1,第2のフォトセンサー21,22は、上述した第2具体例と同様にPIN接合型ダイオードから構成されたフォトセンサーであり、第1,第2のフォトセンサー21,22自体の構成は第2具体例と同様であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略する。以下に、第3具体例における外光遮光膜28の構成についてのみ説明する。
Next, a third specific example of the liquid crystal display device according to the first embodiment will be described.
FIG. 8 is an enlarged cross-sectional view showing a third specific example of the liquid crystal display device according to the first embodiment.
As shown in FIG. 8, the configuration on the pixel switching element 23 side (left side in FIG. 8) in the third specific example is the same as that on the pixel switching element 23 side in the first and second specific examples (FIGS. 6 and 7). The description is omitted by giving the same reference numerals. Further, the first and second photosensors 21 and 22 in the third specific example are photosensors configured by PIN junction type diodes as in the second specific example, and the first and second photosensors. Since the configuration of 21 and 22 itself is the same as that of the second specific example, the description thereof is omitted by attaching the same reference numerals. Only the configuration of the external light shielding film 28 in the third specific example will be described below.

外光遮光膜28は、液晶材料4と対向基板3との間に介在された第1の外光遮光膜52と、アクティブマトリクス基板2の絶縁層46a〜46d内に埋設された第2の外光遮光膜53とからなる二重構造のものであり、第1,第2の外光遮光膜52,53は、第2のフォトセンサー22と重なる領域にそれぞれ配置されている。   The external light shielding film 28 includes a first external light shielding film 52 interposed between the liquid crystal material 4 and the counter substrate 3, and a second outer light embedded in the insulating layers 46 a to 46 d of the active matrix substrate 2. The light-shielding film 53 has a double structure, and the first and second external light-shielding films 52 and 53 are respectively disposed in regions overlapping with the second photosensor 22.

第1の外光遮光膜52は、液晶材料4の上部に埋設されており、対向基板3の下面に接面されている。ここで、第1の外光遮光膜52は、少なくとも何れかの色材38と同一の膜構成材料で形成されており、同一製造工程で製造されており、好ましくは、赤表示に対応する色材38と同一の膜構成材料からなる薄膜、青表示に対応する色材38と同一の膜構成材料からなる薄膜、又は緑表示に対応する色材38と同一の膜構成材料からなる薄膜のうちの少なくとも二種以上の塗膜を重ねた構成からなり、これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができるとともに、外光遮光膜28の遮光性が高められ、外光照度LAを精度良く検出することができる。例えば、第1の外光遮光膜52は、遮光性を高めるため赤に対応する色材38と同一材料からなる薄膜と、緑に対応する色材38と同一材料の薄膜とを、重ねて形成された赤・緑二層の構成とする。もちろん、他の、例えば青に対応する色材38と同一材料を用いてもいいし、赤・緑・青の色材38…とそれぞれ同一の三種の膜構成材料を重ねても構わない。また、ブラックマトリクス37と同一の膜構成材料(樹脂)を重ねてもよい。一般的に各層を重ねるほど遮光性は高まるが、あまり層を重ねると膜厚が厚くなりすぎ、段差による不具合や膜剥がれなどが発生しやすくなるのでそのバランスで決めればよい。
また、本実施例では対向基板3上に色材38とブラックマトリクス層37が配置される構成で説明したが、色材38とブラックマトリクス層37がアクティブマトリクス基板2上に配置される、いわゆるカラーフィルター・オンアレイ構造あるいはブラックマトリクス・オンアレイ構造であっても構わない。この場合、第1の外光遮光膜52もアクティブマトリクス基板2上に同一工程で形成されることが好ましい。
The first external light shielding film 52 is embedded in the upper part of the liquid crystal material 4 and is in contact with the lower surface of the counter substrate 3. Here, the first external light shielding film 52 is formed of the same film constituent material as that of at least one of the color materials 38 and is manufactured in the same manufacturing process, and preferably a color corresponding to red display. Of the thin film made of the same film constituent material as the material 38, the thin film made of the same film constituent material as the color material 38 corresponding to blue display, or the thin film made of the same film constituent material as the color material 38 corresponding to green display In this structure, at least two kinds of coating films are stacked, thereby making it possible to shorten the manufacturing process and reduce the cost, improve the light shielding property of the outside light shielding film 28, and accurately adjust the outside light illuminance LA. It can be detected well. For example, the first external light shielding film 52 is formed by stacking a thin film made of the same material as the color material 38 corresponding to red and a thin film made of the same material as the color material 38 corresponding to green in order to improve the light shielding property. The red / green two-layer structure. Of course, the same material as the other color material 38 corresponding to, for example, blue may be used, or the same three kinds of film constituent materials as the red, green, and blue color materials 38 may be stacked. Further, the same film constituent material (resin) as the black matrix 37 may be stacked. In general, the light-shielding property increases as the layers are stacked, but if the layers are stacked too much, the film thickness becomes too thick, and problems such as stepping and film peeling are likely to occur.
In this embodiment, the color material 38 and the black matrix layer 37 are arranged on the counter substrate 3. However, the color material 38 and the black matrix layer 37 are arranged on the active matrix substrate 2. A filter on array structure or a black matrix on array structure may be used. In this case, the first external light shielding film 52 is also preferably formed on the active matrix substrate 2 in the same process.

第2の外光遮光膜53は、第2のフォトセンサー22の真性半導体部47bの上方に間隔をあけて配設されている。また、第2の外光遮光膜53は、データ線16や中継層39と同一の製造工程で製造された薄膜であって、データ線16や中継層39と同じ膜厚・組成で構成される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。無論、反射電極35や画素スイッチング素子23のゲート電極31と同一材料・同一工程で製造した膜としてもよいし、これらを複数重ね合わせてもよく、これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。   The second external light shielding film 53 is disposed above the intrinsic semiconductor portion 47 b of the second photosensor 22 with a space therebetween. The second external light shielding film 53 is a thin film manufactured in the same manufacturing process as the data line 16 and the relay layer 39 and has the same film thickness and composition as the data line 16 and the relay layer 39. . Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced. Of course, it may be a film manufactured by the same material and the same process as the reflective electrode 35 and the gate electrode 31 of the pixel switching element 23, or a plurality of these films may be superposed, thereby shortening the manufacturing process and reducing the cost. Can be planned.

次に、第1の実施の形態における液晶表示装置の第4具体例について説明する。
図9は第1の実施の形態における液晶表示装置の第4具体例を表した拡大断面図である。
なお、図9に示すように、第4具体例における画素スイッチング素子23側(図8における左側)の構成は、上述した第1,第2,第3具体例における画素スイッチング素子23側(図6,図7,図8における左側)の構成と同一であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略する。また、第4具体例における第1,第2のフォトセンサー21,22は、上述した第2,第3具体例と同様にPIN接合型ダイオードから構成されたフォトセンサーであり、第1,第2のフォトセンサー21,22自体の構成は第2,第3具体例と同様であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略する。以下に、第4具体例における外光遮光膜28の構成についてのみ説明する。
Next, a fourth specific example of the liquid crystal display device in the first embodiment will be described.
FIG. 9 is an enlarged cross-sectional view illustrating a fourth specific example of the liquid crystal display device according to the first embodiment.
As shown in FIG. 9, the configuration on the pixel switching element 23 side (left side in FIG. 8) in the fourth specific example is the pixel switching element 23 side (FIG. 6) in the first, second, and third specific examples described above. , FIGS. 7 and 8 are the same as those in the left side in FIG. Further, the first and second photosensors 21 and 22 in the fourth specific example are photosensors configured by PIN junction type diodes as in the second and third specific examples described above. Since the configuration of the photosensors 21 and 22 themselves is the same as that of the second and third specific examples, the description thereof is omitted by giving the same reference numerals. Only the configuration of the external light shielding film 28 in the fourth specific example will be described below.

外光遮光膜28は、アクティブマトリクス基板2と対向基板3との間に介在されているとともに、第2のフォトセンサー22と重なる領域に配置されている。外光遮光膜28は、アクティブマトリクス基板2と対向基板3とを接合するシール材5と同一の膜構成材料で形成されており、シール材5と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。このとき、シール材5(外光遮光膜28)に黒色顔料等を混合させ、遮光性が高い外光遮光膜28にすることが好ましい。
なお、第1の実施形態の各具体例においては第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22に均等にバックライト光Bが照射されることが好ましい。従って、第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22をともに表示領域の近辺、例えばダミー画素領域に配置するとことが好ましい。
また、別の実施形態として重なる領域にバックライト8がない、あるいはバックライト8によって照射されない領域にともに置いても良い。例えば張出部2aに第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22を配置すれば、バックライト光Bからの照射光はともにほとんど0として取り扱うことができる。
The external light shielding film 28 is interposed between the active matrix substrate 2 and the counter substrate 3, and is disposed in a region overlapping the second photosensor 22. The external light shielding film 28 is formed of the same film constituent material as the sealing material 5 that joins the active matrix substrate 2 and the counter substrate 3, and is manufactured in the same manufacturing process as the sealing material 5. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced. At this time, it is preferable to mix a black pigment or the like with the sealing material 5 (external light shielding film 28) to obtain the external light shielding film 28 having high light shielding properties.
In each specific example of the first embodiment, it is preferable that the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are evenly irradiated with the backlight light B. Therefore, it is preferable to arrange both the first photosensor 21 and the second photosensor 22 in the vicinity of the display area, for example, in the dummy pixel area.
Further, as another embodiment, the backlight 8 may not be provided in the overlapping region or may be placed in a region that is not irradiated by the backlight 8. For example, if the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are arranged in the overhanging portion 2a, both irradiation light from the backlight light B can be handled as almost zero.

[第2の実施の形態]
次に、第2の実施の形態における外光照度を測定するための概略構成について説明する。
図10は第2の実施の形態における外光照度を測定する構成を表した模式図である。
図10に示すように、アクティブマトリクス基板2(図2に示す。)上にそれぞれ配設された2つのフォトセンサー21,22のうち、第1のフォトセンサー21は、外光Aが照射されるとともにバックライト遮光膜60(照明光遮光部)によってバックライト光Bが遮断されている状態になっており、第2のフォトセンサー22は、外光Aが外光遮光膜28によって遮断されているとともにバックライト光Bが照射される状態になっている。
[Second Embodiment]
Next, a schematic configuration for measuring external light illuminance in the second embodiment will be described.
FIG. 10 is a schematic diagram showing a configuration for measuring the illuminance of external light in the second embodiment.
As shown in FIG. 10, the first photosensor 21 of the two photosensors 21 and 22 respectively disposed on the active matrix substrate 2 (shown in FIG. 2) is irradiated with external light A. At the same time, the backlight light B is blocked by the backlight light-shielding film 60 (illumination light shielding part). In the second photosensor 22, the external light A is blocked by the external light-shielding film 28. At the same time, the backlight light B is irradiated.

上記のように構成では、第1のフォトセンサー21に流れる電流I1(出力値)と第2のフォトセンサー22に流れる電流I2(出力値)は、それぞれ次式で表される。ここで、LAは第1のフォトセンサー21上での外光Aの照度であり、LBは第2のフォトセンサー22上に照射されるバックライト光Bの照度であり、Vd1は第1のフォトセンサー21を構成するダイオードのアノード・カソード間電圧であり、Vgs1は第1のフォトセンサー21を構成するトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、Vds1は第1のフォトセンサー21を構成するトランジスタのドレイン・ソース間電圧であり、temp1は第1のフォトセンサー21の絶対温度であり、Vd2は第2のフォトセンサー22を構成するダイオードのアノード・カソード間電圧であり、Vgs2は第2のフォトセンサー22を構成するトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、Vds2は第2のフォトセンサー22を構成するトランジスタのドレイン・ソース間電圧であり、temp2は第2のフォトセンサー22の絶対温度である。また、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22は遮光状態をのぞいて全く同一のデバイス構造であり、同一条件では同じ電流が流れるものとする。   In the configuration as described above, the current I1 (output value) flowing through the first photosensor 21 and the current I2 (output value) flowing through the second photosensor 22 are respectively expressed by the following equations. Here, LA is the illuminance of the external light A on the first photosensor 21, LB is the illuminance of the backlight light B irradiated on the second photosensor 22, and Vd1 is the first photosensor. The voltage between the anode and the cathode of the diode constituting the sensor 21, Vgs 1 is the voltage between the gate and the source of the transistor constituting the first photosensor 21, and Vds1 is the drain of the transistor constituting the first photosensor 21. The source voltage, temp1 is the absolute temperature of the first photosensor 21, Vd2 is the anode-cathode voltage of the diode constituting the second photosensor 22, and Vgs2 is the second photosensor 22. Vds2 is a voltage between the gate and the source of the transistor that constitutes the second photosensor 22. A between-in source voltage, temp2 is the absolute temperature of the second photosensor 22. The first photosensor 21 and the second photosensor 22 have the same device structure except for the light shielding state, and the same current flows under the same conditions.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

ここで、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22に同一のバイアス電圧を印加すると、Vd1=Vd2=Vd,Vgs1=Vgs2=Vgs,Vds1=Vds2=Vdsである。具体的には例えばVd=−4V、Vgs=−5V、Vds=−4Vなどとする。また、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22は同一の基板アクティブマトリクス基板2に配置されてなるので、温度も等しいと出来るのでtemp1=tempに=tempである。また、Vd,Vgs,Vdsは一定となるように回路を構成すれば、Iphoto’(Vd),Iphoto’(Vgs,Vds)も定数(以下、単にIphoto’と略す)として扱えることになる。
上記の式および仮定から、第1のフォトセンサー21に流れる電流I1と第2のフォトセンサー22に流れる電流I2の差(I1−I2)は次式となる。
Here, when the same bias voltage is applied to the first photosensor 21 and the second photosensor 22, Vd1 = Vd2 = Vd, Vgs1 = Vgs2 = Vgs, and Vds1 = Vds2 = Vds. Specifically, for example, Vd = -4V, Vgs = -5V, Vds = -4V, and the like. In addition, since the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are arranged on the same substrate active matrix substrate 2, temp1 = temp = temp because the temperatures can be equal. If the circuit is configured so that Vd, Vgs, and Vds are constant, Iphoto ′ (Vd) and Iphoto ′ (Vgs, Vds) can also be handled as constants (hereinafter simply referred to as Iphoto ′).
From the above equation and assumption, the difference (I1−I2) between the current I1 flowing through the first photosensor 21 and the current I2 flowing through the second photosensor 22 is expressed by the following equation.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

上記の式における電流I,Iは、第1,第2のフォトセンサー21,22からそれぞれ出力されされるので、これを測定すれば上記の式から外光照度LAが算出される。算出された外光照度LAは熱リークを考慮した正確な値であり、この外光照度LAに基いてバックライトユニット8に送られる制御信号が補正される。これによって、これによって、温度による補正が行われた制御信号をバックライトユニット8に送ることができ、従来に比べより正確なバックライトユニット8の照度制御が可能であって視認性を向上させることができる。
また、バックライトユニット8を操作してバックライト光Bの照度を第1の照度LB1から第2の照度LB2に可変させ、第1の照度LB1のときの第2のフォトセンサー22に流れる電流I21を測定するとともに、第2の照度LB2のときの第2のフォトセンサー22に流れる電流I22を測定することでIphoto’の較正が可能な点は第1の実施の形態と同様である。
Since the currents I 1 and I 2 in the above formula are output from the first and second photosensors 21 and 22, respectively, if this is measured, the external light illuminance LA is calculated from the above formula. The calculated external light illuminance LA is an accurate value considering heat leak, and the control signal sent to the backlight unit 8 is corrected based on the external light illuminance LA. Thereby, the control signal corrected by the temperature can be sent to the backlight unit 8, and the illuminance control of the backlight unit 8 can be performed more accurately than before, and the visibility can be improved. Can do.
Further, the backlight unit 8 is operated to change the illuminance of the backlight light B from the first illuminance LB1 to the second illuminance LB2, and the current I21 flowing through the second photosensor 22 at the first illuminance LB1. Is the same as in the first embodiment in that Iphoto ′ can be calibrated by measuring the current I22 flowing through the second photosensor 22 at the time of the second illuminance LB2.

また、バックライト制御ユニット12には、外光照度LAが特定の値よりも大きいか小さいかを検知する手段が備えられている。具体的には、バックライト照度LBを特定値(ターゲット照度)に設定する。そして、第1のフォトセンサー21の出力値I1と第2のフォトセンサー22の出力値I2とをそれぞれ測定し、これらの出力値の差(I1−I2)から特定値に対する外光照度LX(A)の大小を検知する。つまり、出力値の差(I1−I2)が0以上か0以下かを判定すれば、外光照度LAが特定値よりも大きいか小さいかが検知される。このような検出方法を用いると、電流をアナログ―デジタル変換する必要が無く、電流の大小のみを比較すればよいため、回路がより簡素になり、比較を正確に行えるメリットを有する。   The backlight control unit 12 is provided with means for detecting whether the external light illuminance LA is larger or smaller than a specific value. Specifically, the backlight illuminance LB is set to a specific value (target illuminance). Then, the output value I1 of the first photosensor 21 and the output value I2 of the second photosensor 22 are respectively measured, and the external light illuminance LX (A) with respect to the specific value from the difference (I1−I2) between these output values. Detect the size of. That is, if it is determined whether the difference (I1−I2) between the output values is 0 or more or 0 or less, it is detected whether the external light illuminance LA is larger or smaller than the specific value. When such a detection method is used, there is no need to perform analog-to-digital conversion of the current, and only the magnitude of the current needs to be compared. Therefore, the circuit becomes simpler and the comparison can be performed accurately.

上記した検知手段によれば、例えば、図3に示すように、外光照度LAが一定値以上になったところで、バックライトユニット8をOFFにする制御を行う場合に、バックライトユニット8をOFFにする照度を特定値として、バックライト照度LBをその一定値に設定する。そして、出力値の差(I1−I2)が0になったところで、バックライトユニット8をOFFにする制御を行う。これによって、バックライトユニット8の制御精度を向上させることができる。   According to the above-described detection means, for example, as shown in FIG. 3, when the backlight unit 8 is controlled to be turned off when the external light illuminance LA becomes a certain value or more, the backlight unit 8 is turned off. The illuminance to be performed is set as a specific value, and the backlight illuminance LB is set to the constant value. Then, when the output value difference (I1-I2) becomes 0, the backlight unit 8 is turned off. Thereby, the control accuracy of the backlight unit 8 can be improved.

また、上記した検知手段によって、外光照度LAを検出する方法としては、例えば、まず、外光照度LAの予想値(任意の値でも可能。)に特定値を設定し、第1,第2のフォトセンサー21,22で電流I1,I2をそれぞれ出力させ、それら出力値の差(I1−I2)が0以上か0以下かを判定する。そして、出力値の差(I1−I2)が0以上の場合は特定値を上げて、再び第1,第2のフォトセンサー21,22で電流I1,I2をそれぞれ出力させ、それら出力値の差(I1−I2)が0以上か0以下かを判定する。一方、出力値の差(I1−I2)が0以下の場合は特定値を下げて、再び第1,第2のフォトセンサー21,22で電流I1,I2をそれぞれ出力させ、それら出力値の差(I1−I2)が0以上か0以下かを判定する。上記した工程を繰り返し、出力値の差(I1−I2)が0になるまで続け、出力値の差(I1−I2)が0になった時の特定値が外光照度となる。これによって、外光照度LAの検出精度を向上させることができる。   In addition, as a method of detecting the external light illuminance LA by the above-described detection means, for example, first, a specific value is set to an expected value (can be any value) of the external light illuminance LA, and the first and second photo The sensors 21 and 22 output currents I1 and I2, respectively, and determine whether the difference (I1-I2) between the output values is 0 or more and 0 or less. If the output value difference (I1-I2) is greater than or equal to 0, the specific value is increased, and the currents I1 and I2 are output again by the first and second photosensors 21 and 22, respectively. It is determined whether (I1-I2) is 0 or more and 0 or less. On the other hand, if the output value difference (I1-I2) is 0 or less, the specific value is lowered, and the currents I1 and I2 are output again by the first and second photosensors 21 and 22, respectively. It is determined whether (I1-I2) is 0 or more and 0 or less. The above steps are repeated until the output value difference (I1-I2) becomes zero, and the specific value when the output value difference (I1-I2) becomes zero becomes the external light illuminance. Thereby, the detection accuracy of the external light illuminance LA can be improved.

次に、上記した第2の実施の形態における液晶表示装置の具体的構成について、以下に第1,第2の具体例を示して説明する。   Next, a specific configuration of the liquid crystal display device according to the second embodiment will be described below with reference to first and second specific examples.

まず、第2の実施の形態における液晶表示装置の第1具体例について説明する。
図11は第2の実施の形態における液晶表示装置の第1具体例を表した拡大断面図である。
なお、第2の実施の形態についての第1具体例における画素スイッチング素子23側(図11における左側)の構成は、先に説明した第1の実施の形態についての第1〜第4具体例における画素スイッチング素子23側(図6,図7,図8,図9における左側)の構成と同様であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略し、以下に、第2の実施の形態についての第1具体例における第1,第2のフォトセンサー21,22側(図11における右側)の構成についてのみ説明する。
First, a first specific example of the liquid crystal display device according to the second embodiment will be described.
FIG. 11 is an enlarged cross-sectional view showing a first specific example of the liquid crystal display device according to the second embodiment.
The configuration on the pixel switching element 23 side (left side in FIG. 11) in the first specific example of the second embodiment is the same as that of the first to fourth specific examples of the first embodiment described above. Since the configuration is the same as that on the pixel switching element 23 side (the left side in FIGS. 6, 7, 8, and 9), the same reference numerals are used to omit the description, and the second embodiment will be described below. Only the configuration on the first and second photosensors 21 and 22 side (right side in FIG. 11) in the first specific example will be described.

図11に示すように、第1,第2のフォトセンサー21,22は、それぞれnチャネル型トランジスタから構成されたフォトセンサーである。この第1,第2のフォトセンサー21,22は、第1の実施の形態についての第1具体例で説明した電界効果型ダイオードからなる第1,第2のフォトセンサー21,22と異なり、ゲート電極45a,45bとソース電極41a,41bとが短絡されてなく、分離されている。その他の構成は、電界効果型ダイオードからなる第1,第2のフォトセンサー21,22と同様であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略する。   As shown in FIG. 11, the first and second photosensors 21 and 22 are photosensors each composed of an n-channel transistor. The first and second photosensors 21 and 22 are different from the first and second photosensors 21 and 22 made of the field effect diode described in the first specific example of the first embodiment. The electrodes 45a and 45b and the source electrodes 41a and 41b are not short-circuited but separated. Other configurations are the same as those of the first and second photosensors 21 and 22 made of field-effect diodes, and the description thereof is omitted by giving the same reference numerals.

また、液晶材料4と対向基板3との間に、第2のフォトセンサー22と重なる領域に配設された外光遮光膜28が介在されている。外光遮光膜28は、液晶材料4の上部に埋設されいるとともに、対向基板3の下面に接面している。この外光遮光膜28は、ブラックマトリクス37と同一製造工程で形成された黒色樹脂からなる。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。本実施例では対向基板3上にブラックマトリクス層37がある構成で説明したが、ブラックマトリクス層37がアクティブマトリクス基板2上ある、いわゆるブラックマトリクス・オンアレイ構造であっても構わない。この場合、第1の外光遮光膜52もアクティブマトリクス基板2上に同一工程で形成されることが好ましい。   In addition, an external light shielding film 28 disposed in a region overlapping the second photosensor 22 is interposed between the liquid crystal material 4 and the counter substrate 3. The external light shielding film 28 is embedded in the upper part of the liquid crystal material 4 and is in contact with the lower surface of the counter substrate 3. The external light shielding film 28 is made of a black resin formed in the same manufacturing process as the black matrix 37. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced. In this embodiment, the configuration in which the black matrix layer 37 is provided on the counter substrate 3 has been described. However, a so-called black matrix on-array structure in which the black matrix layer 37 is provided on the active matrix substrate 2 may be used. In this case, the first external light shielding film 52 is also preferably formed on the active matrix substrate 2 in the same process.

また、アクティブマトリクス基板2の外側(下側)には、第1のフォトセンサー21と重なる領域に配設されたバックライト遮光膜60が設けられている。バックライト遮光膜60は、下偏光板7の外側面(下面)に接合されている。また、バックライト遮光膜60は、バックライトユニット8の外装である金属板を第1のフォトセンサー21の下まで突出させることで形成される。また、例えば遮光テープを貼ったり、液晶表示装置の外装枠を用いることで形成しても良い。   In addition, on the outside (lower side) of the active matrix substrate 2, a backlight light shielding film 60 disposed in a region overlapping the first photosensor 21 is provided. The backlight light shielding film 60 is bonded to the outer surface (lower surface) of the lower polarizing plate 7. Further, the backlight light-shielding film 60 is formed by projecting a metal plate, which is an exterior of the backlight unit 8, under the first photosensor 21. Alternatively, for example, a light shielding tape may be attached or an exterior frame of a liquid crystal display device may be used.

上記した構成からなる第1のフォトセンサー21に照射されている光を計測する方法としては、例えば、ゲート電極45aに−5V、ソース電源配線43aに0V(GND)、ドレイン電源配線44aに+5Vをそれぞれ印加し、このときのソース電源配線43aとドレイン電源配線44aとの間に流れる電流を測定すればよい。また、第2のフォトセンサー22に照射されている光を計測する場合も同様である。   As a method for measuring the light applied to the first photosensor 21 having the above-described configuration, for example, -5V is applied to the gate electrode 45a, 0V (GND) is applied to the source power supply wiring 43a, and + 5V is applied to the drain power supply wiring 44a. What is necessary is just to measure the electric current which flows between the source power supply wiring 43a and the drain power supply wiring 44a at this time, respectively. The same applies to the case where the light applied to the second photosensor 22 is measured.

なお、第1,第2のフォトセンサー21,22として、nチャネル型薄膜トランジスタを使用せず、pチャネル型薄膜トランジスタで第1,第2のフォトセンサー21,22を形成しても勿論構わない。この場合、第1のフォトセンサー21に照射されている光を計測する方法としては、例えば、ゲート電極45aに+5V、ソース電源配線43aに0V(GND)、ドレイン電源配線44aに−5Vをそれぞれ印加し、このときのソース電源配線43aとドレイン電源配線44aとの間に流れる電流を測定すればよい。また、第2のフォトセンサー22に照射されている光を計測する場合も同様である。
また、第1,第2のフォトセンサー21,22が、画素スイッチング素子23と異なるチャネル型で製造してもよい。この場合、ドーピング工程のみ製造工程が異なる。いずれの場合も特に製造コストのかかる能動層(この場合はチャネル部30,40a,40b)が互いに同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成され、同一製造工程で製造される方が好ましい。
As a matter of course, the first and second photosensors 21 and 22 may be formed of p-channel thin film transistors without using n-channel thin film transistors as the first and second photosensors 21 and 22. In this case, as a method for measuring the light applied to the first photosensor 21, for example, + 5V is applied to the gate electrode 45a, 0V (GND) is applied to the source power supply wiring 43a, and −5V is applied to the drain power supply wiring 44a. At this time, the current flowing between the source power supply wiring 43a and the drain power supply wiring 44a may be measured. The same applies to the case where the light applied to the second photosensor 22 is measured.
Further, the first and second photosensors 21 and 22 may be manufactured with a channel type different from that of the pixel switching element 23. In this case, the manufacturing process is different only in the doping process. In any case, it is preferable that the active layers (in this case, the channel portions 30, 40 a, 40 b), which are particularly expensive to manufacture, are formed of the same film thickness and the same film constituent material and manufactured in the same manufacturing process.

次に、第2の実施の形態における液晶表示装置の第2具体例について説明する。
図12は第2の実施の形態における液晶表示装置の第2具体例を表した拡大断面図である。
Next, a second specific example of the liquid crystal display device according to the second embodiment will be described.
FIG. 12 is an enlarged cross-sectional view showing a second specific example of the liquid crystal display device according to the second embodiment.

図12に示すように、アクティブマトリクス基板2上に設けられた画素スイッチング素子23は、ボトムゲート型のトランジスタであって、厚さ150nmのCr薄膜からなるボトムゲート電極31´がチャネル部30の下方に設けられた構成になっている。つまり、画素スイッチング素子23側(図12における左側)のその他の構成は、先に説明した第1の実施の形態についての第1〜第4具体例、および第2の実施の形態についての第1具体例における画素スイッチング素子23側(図6,図7,図8,図9,図11における左側)の構成と比較して、ゲート電極であるボトムゲート電極31´がアクティブマトリクス基板2の基材58と画素スイッチング素子23のチャネル部30との間に設けられている点が異なるだけであり、他の構成は同様であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略する。   As shown in FIG. 12, the pixel switching element 23 provided on the active matrix substrate 2 is a bottom gate type transistor, and a bottom gate electrode 31 ′ made of a Cr thin film with a thickness of 150 nm is provided below the channel portion 30. It is the composition provided in. That is, other configurations on the pixel switching element 23 side (left side in FIG. 12) are the first to fourth specific examples of the first embodiment described above and the first configuration of the second embodiment. Compared with the configuration on the pixel switching element 23 side (left side in FIGS. 6, 7, 8, 9, and 11) in the specific example, the bottom gate electrode 31 ′ as a gate electrode is a base material of the active matrix substrate 2. 58 is different from the channel portion 30 of the pixel switching element 23 in the other respects, and the other configurations are the same.

アクティブマトリクス基板2上に設けられた第1,第2のフォトセンサー21,22は、先に説明した第1の実施の形態についての第2〜第4具体例と同様の構成からなり、それぞれPIN接合型ダイオードから構成されたフォトセンサーである。具体的な構成については、第1の実施の形態についての第2〜第4具体例と同一の符号を付すことでその説明を省略する。   The first and second photosensors 21 and 22 provided on the active matrix substrate 2 have the same configuration as that of the second to fourth specific examples of the first embodiment described above, and each has a PIN. It is a photosensor composed of a junction diode. About a concrete structure, the description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol as the 2nd-4th specific example about 1st Embodiment.

第1,第2のフォトセンサー21,22側(図12における右側)の絶縁膜46a〜46e内には、第1のフォトセンサー21と重なる領域に配設されたバックライト遮光膜60と、第2のフォトセンサー22と重なる領域に配設された外光遮光膜28とがそれぞれ埋設されている。バックライト遮光膜60は、第1のフォトセンサー21の真性半導体部47aの下方に配設されており、画素スイッチング素子23のボトムゲート電極31´と同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成され、そのボトムゲート電極31´と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。また、外光遮光膜28は、第2のフォトセンサー22の真性半導体部47bの上方に配設されており、画素スイッチング素子23のデータ線16および中継層39と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのデータ線16および中継層39と同一製造工程で製造される。これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。なお、外光遮光膜28は、画素スイッチング素子23の反射電極35と同一の膜構成材料、同一製造工程で製造してもよく、或いは、これらを複数重ね合わせてもよく、これによって、製作工程を短縮してコストダウンを図ることができる。
なお、第2の実施形態の各具体例においては第2のフォトセンサー22に均等にバックライト光Bが照射されることが好ましく、第2のフォトセンサー22は表示領域の近辺、例えばダミー画素領域に配置するとことが好ましい。
また、第1のフォトセンサー21はバックライト8がない、あるいはバックライト8によって照射されない領域に置くと良い。例えば張出部2aに第1のフォトセンサー21を配置すればさらに好ましい。
In the insulating films 46a to 46e on the first and second photosensors 21 and 22 side (the right side in FIG. 12), a backlight light-shielding film 60 disposed in a region overlapping the first photosensor 21, and the first An external light shielding film 28 disposed in a region overlapping the two photosensors 22 is embedded. The backlight light-shielding film 60 is disposed below the intrinsic semiconductor portion 47a of the first photosensor 21, and is formed with the same film thickness and the same film constituent material as the bottom gate electrode 31 'of the pixel switching element 23. In the same manufacturing process as that of the bottom gate electrode 31 '. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced. The external light shielding film 28 is disposed above the intrinsic semiconductor portion 47b of the second photosensor 22, and has the same thickness and the same thickness as the data line 16 and the relay layer 39 of the pixel switching element 23. The data line 16 and the relay layer 39 are manufactured in the same manufacturing process. Thereby, the manufacturing process can be shortened and the cost can be reduced. The external light shielding film 28 may be manufactured in the same film constituent material and the same manufacturing process as the reflective electrode 35 of the pixel switching element 23, or a plurality of these may be superposed, thereby producing a manufacturing process. The cost can be reduced by shortening.
In each specific example of the second embodiment, it is preferable that the second photosensor 22 is equally irradiated with the backlight light B, and the second photosensor 22 is in the vicinity of the display region, for example, a dummy pixel region. It is preferable to arrange in the above.
The first photosensor 21 may be placed in a region where the backlight 8 is not present or not illuminated by the backlight 8. For example, it is more preferable if the first photosensor 21 is disposed in the overhang portion 2a.

[第3の実施の形態]
次に、第3の実施の形態における外光照度を測定するための概略構成について説明する。
図13は第3の実施の形態における外光照度を測定する構成を表した模式図である。
図13に示すように、アクティブマトリクス基板2(図2に示す。)上にそれぞれ配設された2つのフォトセンサー21,22のうち、第1のフォトセンサー21は、外光Aが照射されるとともに第1のバックライト遮光膜61(照明光遮光部)によってバックライト光Bが遮断されている状態になっており、第2のフォトセンサー22は、外光Aが外光遮光膜28によって遮断されているとともに第2のバックライト遮光膜62(照明光遮光部)によってバックライト光Bが遮断されている状態になっている。
[Third Embodiment]
Next, a schematic configuration for measuring external light illuminance in the third embodiment will be described.
FIG. 13 is a schematic diagram showing a configuration for measuring the illuminance of external light in the third embodiment.
As shown in FIG. 13, of the two photosensors 21 and 22 arranged on the active matrix substrate 2 (shown in FIG. 2), the first photosensor 21 is irradiated with external light A. At the same time, the backlight light B is blocked by the first backlight blocking film 61 (illumination light blocking section), and the second photosensor 22 blocks the outside light A by the outside light blocking film 28. In addition, the backlight light B is blocked by the second backlight light blocking film 62 (illumination light blocking portion).

上記のように構成では、第1のフォトセンサー21に流れる電流I1(出力値)と第2のフォトセンサー22に流れる電流I2(出力値)は、それぞれ次式で表される。ここで、LAは第1のフォトセンサー21上での外光Aの照度であり、Vd1は第1のフォトセンサー21を構成するダイオードのアノード・カソード間電圧であり、Vgs1は第1のフォトセンサー21を構成するトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、Vds1は第1のフォトセンサー21を構成するトランジスタのドレイン・ソース間電圧であり、temp1は第1のフォトセンサー21の絶対温度であり、Vd2は第2のフォトセンサー22を構成するダイオードのアノード・カソード間電圧であり、Vgs2は第2のフォトセンサー22を構成するトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、Vds2は第2のフォトセンサー22を構成するトランジスタのドレイン・ソース間電圧であり、temp2は第2のフォトセンサー22の絶対温度である。また、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22は遮光状態をのぞいて全く同一のデバイス構造であり、同一条件では同じ電流が流れるものとする。   In the configuration as described above, the current I1 (output value) flowing through the first photosensor 21 and the current I2 (output value) flowing through the second photosensor 22 are respectively expressed by the following equations. Here, LA is the illuminance of outside light A on the first photosensor 21, Vd1 is the anode-cathode voltage of the diode constituting the first photosensor 21, and Vgs1 is the first photosensor. Vds1 is the drain-source voltage of the transistor constituting the first photosensor 21, temp1 is the absolute temperature of the first photosensor 21, and Vd2 Is the anode-cathode voltage of the diode that constitutes the second photosensor 22, Vgs2 is the gate-source voltage of the transistor that constitutes the second photosensor 22, and Vds2 is the voltage across the second photosensor 22. This is the voltage between the drain and source of the transistor to be configured, and temp2 is the absolute temperature of the second photosensor 22The first photosensor 21 and the second photosensor 22 have the same device structure except for the light shielding state, and the same current flows under the same conditions.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

ここで、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22に同一のバイアス電圧を印加すると、Vd1=Vd2=Vd,Vgs1=Vgs2=Vgs,Vds1=Vds2=Vdsである。具体的には例えばVd=−4V、Vgs=−5V、Vds=−4Vなどとする。また、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22は同一の基板アクティブマトリクス基板2に配置されてなるので、温度も等しいと出来るのでtemp1=tempに=tempである。また、Vd,Vgs,Vdsは一定となるように回路を構成すれば、Iphoto’(Vd),Iphoto’(Vgs,Vds)も定数(以下、単にIphoto’と略す)として扱えることになる。
上記の式および仮定から、第1のフォトセンサー21に流れる電流I1と第2のフォトセンサー22に流れる電流I2の差(I1−I2)は次式となる。
Here, when the same bias voltage is applied to the first photosensor 21 and the second photosensor 22, Vd1 = Vd2 = Vd, Vgs1 = Vgs2 = Vgs, and Vds1 = Vds2 = Vds. Specifically, for example, Vd = -4V, Vgs = -5V, Vds = -4V, and the like. In addition, since the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are arranged on the same substrate active matrix substrate 2, temp1 = temp = temp because the temperatures can be equal. If the circuit is configured so that Vd, Vgs, and Vds are constant, Iphoto ′ (Vd) and Iphoto ′ (Vgs, Vds) can also be handled as constants (hereinafter simply referred to as Iphoto ′).
From the above equation and assumption, the difference (I1−I2) between the current I1 flowing through the first photosensor 21 and the current I2 flowing through the second photosensor 22 is expressed by the following equation.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

上記の式における電流I1,I2は、第1,第2のフォトセンサー21,22からそれぞれ出力されるので、これを測定すれば上記の式から外光照度LAが算出される。算出された外光照度LAは熱リークを考慮した正確な値であり、この外光照度LAに基いてバックライトユニット8に送られる制御信号が補正される。これによって、これによって、温度による補正が行われた制御信号をバックライトユニット8に送ることができ、従来に比べより正確なバックライトユニット8の照度制御が可能であって視認性を向上させることができる。この方式では、製品ごとのIphoto’個体ばらつきに対応できないが、両方のフォトセンサー21,22のIphoto’にばらつきがあることが予想され、第2のフォトセンサー22から第1のフォトセンサー21のaを類推することが困難である場合は、この方式で温度リークのみ除外してもよい。
また、この方式では第2のフォトセンサー22の設置場所がバックライト光Bや外光Aの照射可能な場所でなくてもよく、比較的自由となる利点も有する。例えば張出部2aなどである。
Since the currents I1 and I2 in the above formula are output from the first and second photosensors 21 and 22, respectively, if this is measured, the external light illuminance LA is calculated from the above formula. The calculated external light illuminance LA is an accurate value considering heat leak, and the control signal sent to the backlight unit 8 is corrected based on the external light illuminance LA. Thereby, the control signal corrected by the temperature can be sent to the backlight unit 8, and the illuminance control of the backlight unit 8 can be performed more accurately than before, and the visibility can be improved. Can do. Although this method cannot cope with individual variations of Iphoto ′ for each product, it is expected that Iphoto ′ of both photosensors 21 and 22 will vary, and the second photosensor 22 to the first photosensor 21 a. If it is difficult to analogize, only the temperature leak may be excluded by this method.
Further, in this method, the installation location of the second photosensor 22 may not be a location where the backlight light B or the outside light A can be irradiated, and there is an advantage that it is relatively free. For example, the overhanging portion 2a.

次に、上記した第3の実施の形態における液晶表示装置の具体的構成について説明する。   Next, a specific configuration of the liquid crystal display device according to the third embodiment will be described.

図14は第3の実施の形態における液晶表示装置の具体例を表した拡大断面図である。
図14に示すように、画素スイッチング素子23は、トップゲート型のトランジスタであり、画素スイッチング素子23のチャネル部30とバックライトユニット8の間には、Cr膜150nmよりなる遮光膜63(トランジスタ遮光層)が設けられ、バックライト光Bによる画素スイッチング素子23のリーク増大を抑制する構成となっている。遮光膜63は、画素スイッチング素子23側(図14における左側)の絶縁層34a〜34e内に埋設されており、また、図示しないが、各画素スイッチング素子23に対向する遮光膜63同士は相互に短絡して図示せぬ筐体GNDまたは共通コモン電位に短絡させられる。
なお、第3の実施の形態についての具体例における画素スイッチング素子23側(図14における左側)のその他の構成は、先に説明した第1の実施の形態についての第1〜第4具体例、及び第2の実施の形態についての第1具体例における画素スイッチング素子23の構成と同様であるため、同一の符号を付すことでその説明を省略する。
FIG. 14 is an enlarged cross-sectional view showing a specific example of the liquid crystal display device according to the third embodiment.
As shown in FIG. 14, the pixel switching element 23 is a top-gate transistor, and a light shielding film 63 (transistor light shielding) made of a Cr film 150 nm is provided between the channel portion 30 of the pixel switching element 23 and the backlight unit 8. Layer) is provided to suppress an increase in leakage of the pixel switching element 23 due to the backlight light B. The light shielding film 63 is embedded in the insulating layers 34a to 34e on the pixel switching element 23 side (left side in FIG. 14), and although not shown, the light shielding films 63 facing the pixel switching elements 23 are mutually connected. Short-circuited to a housing GND (not shown) or a common common potential.
The other configurations on the pixel switching element 23 side (left side in FIG. 14) in the specific example of the third embodiment are the first to fourth specific examples of the first embodiment described above, And since it is the same as that of the structure of the pixel switching element 23 in the 1st specific example about 2nd Embodiment, the description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

一方、アクティブマトリクス基板2上に設けられた第1,第2のフォトセンサー21,22は、先に説明した第1の実施の形態についての第2〜第4具体例、及び第2の実施の形態についての第2具体例と同様の構成からなり、それぞれPIN接合型ダイオードから構成されたフォトセンサーである。具体的な構成については、第1の実施の形態についての第2〜第4具体例、及び第2の実施の形態についての第2具体例と同一の符号を付すことでその説明を省略する。   On the other hand, the first and second photosensors 21 and 22 provided on the active matrix substrate 2 are the second to fourth specific examples of the first embodiment described above and the second embodiment. This is a photosensor having a configuration similar to that of the second specific example regarding the form, and each including a PIN junction diode. About a concrete structure, the 2nd-4th specific example about 1st Embodiment and the 2nd specific example about 2nd Embodiment are attached | subjected, and the description is abbreviate | omitted.

第1,第2のフォトセンサー21,22側(図14における右側)の絶縁膜46a〜46e内には、第1のフォトセンサー21と重なる領域に配設された第1のバックライト遮光膜61と、第2のフォトセンサー22と重なる領域に配設された外光遮光膜28と、第2のフォトセンサー22と重なる領域に配設された第2のバックライト遮光膜62とがそれぞれ埋設されている。第1のバックライト遮光膜61は、第1のフォトセンサー21の真性半導体部47aの下方に配設され、また、第2のバックライト遮光膜62は、第2のフォトセンサー22の真性半導体部47bの下方に配設されており、第1,第2のバックライト遮光膜61,62は、画素スイッチング素子23側の遮光膜63と同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成され、その遮光膜63と同一製造工程で製造される。また、外光遮光膜28は、第2のフォトセンサー22の真性半導体部47bの上方に配設されており、画素スイッチング素子23のゲート電極31と、同一の膜厚および同一の膜構成材料で形成されており、そのゲート電極31と同一製造工程で製造される。なお、外光遮光膜28は、データ線16や、中継層39、反射電極35、ブラックマトリクス37、色材38と同一の膜構成材料、同一製造工程で製造してもよく、或いは、これらを複数重ね合わせてもよい。   In the insulating films 46 a to 46 e on the first and second photosensors 21 and 22 side (right side in FIG. 14), a first backlight light shielding film 61 disposed in a region overlapping with the first photosensor 21. And an external light shielding film 28 disposed in a region overlapping with the second photosensor 22 and a second backlight shielding film 62 disposed in a region overlapping with the second photosensor 22 are embedded. ing. The first backlight light-shielding film 61 is disposed below the intrinsic semiconductor portion 47 a of the first photosensor 21, and the second backlight light-shielding film 62 is an intrinsic semiconductor portion of the second photosensor 22. The first and second backlight light shielding films 61 and 62 are formed with the same film thickness and the same film constituent material as the light shielding film 63 on the pixel switching element 23 side. It is manufactured in the same manufacturing process as the light shielding film 63. The external light shielding film 28 is disposed above the intrinsic semiconductor portion 47b of the second photosensor 22, and has the same film thickness and the same film constituent material as the gate electrode 31 of the pixel switching element 23. The gate electrode 31 is formed in the same manufacturing process. The external light shielding film 28 may be manufactured by the same film constituent material and the same manufacturing process as the data line 16, the relay layer 39, the reflective electrode 35, the black matrix 37, and the color material 38. A plurality may be overlapped.

また、上記した具体例では、遮光膜63を短絡させ、遮光として用いているが、遮光膜63を電気的に分離して個別に駆動することでバックゲートとしても作用する。この場合、いわゆる4端子構造のトランジスタとして画素スイッチング素子23は構成される。
なお、第3の実施形態の具体例においては第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22に均等にバックライト光Bが照射されるか、さらに好ましくはバックライト8によって照射されない領域にともに配置されていることが望ましい。従って、第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22をともに表示領域の近辺、例えばダミー画素領域に配置するか、さらに好ましくは例えば張出部2aに第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22を配置すればよい。
また、第1の実施形態から第3の実施形態に共通して、第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22の特性、すなわちIphoto’及びIthermalがなるべく揃うように配置することが好ましい。具体的には第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22をなるべく近傍に配置することが望ましい。また、第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22の形状は同一で設計することが好ましい。また、第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22を配置する際には回転あるいは反転して配置することは好ましくない。また、第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22を構成する真性多結晶シリコン薄膜をレーザーアニール法で作成する場合は同一レーザーショットで第1のフォトセンサー21および第2のフォトセンサー22を構成する真性多結晶シリコン薄膜が形成されるように配置されることが好ましい。
Further, in the above-described specific example, the light shielding film 63 is short-circuited and used as light shielding. However, the light shielding film 63 is electrically separated and driven individually, thereby acting as a back gate. In this case, the pixel switching element 23 is configured as a so-called four-terminal transistor.
In the specific example of the third embodiment, the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are evenly irradiated with the backlight light B, or more preferably both in areas not irradiated with the backlight 8. It is desirable that they are arranged. Accordingly, both the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are arranged in the vicinity of the display area, for example, in the dummy pixel area, or more preferably, for example, in the overhanging portion 2a. A photo sensor 22 may be disposed.
Further, in common with the first to third embodiments, it is preferable to arrange the first photosensor 21 and the second photosensor 22 so that the characteristics, that is, Iphoto ′ and Ithermal are as close as possible. Specifically, it is desirable to arrange the first photosensor 21 and the second photosensor 22 as close as possible. The first photosensor 21 and the second photosensor 22 are preferably designed to have the same shape. Further, when the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are arranged, it is not preferable to arrange them by rotating or reversing. Further, when the intrinsic polycrystalline silicon thin film constituting the first photosensor 21 and the second photosensor 22 is formed by laser annealing, the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are formed with the same laser shot. It is preferable to arrange so that the intrinsic polycrystalline silicon thin film to be formed is formed.

以上、本発明に係る液晶表示装置の第1〜第3の実施の形態について説明したが、本発明は上記した実施の形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。例えば、図15に示すように、第1のフォトセンサー121が、外光Aおよびバックライト光Bがそれぞれ照射される状態になっており、第2のフォトセンサー122が、外光Aが外光遮光部128によって遮断されているとともに照明光遮光部160によってバックライト光Bが遮断されている状態になっていてもよい。なお、図15に示す符号112はバックライトユニット108を制御するバックライト制御ユニットである。   The first to third embodiments of the liquid crystal display device according to the present invention have been described above. However, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and can be appropriately changed without departing from the spirit of the present invention. It is. For example, as shown in FIG. 15, the first photosensor 121 is in a state where the external light A and the backlight light B are respectively irradiated, and the second photosensor 122 is configured so that the external light A is external light. The backlight light B may be blocked by the light blocking unit 128 and the illumination light blocking unit 160. In addition, the code | symbol 112 shown in FIG. 15 is a backlight control unit which controls the backlight unit 108. FIG.

上記のように構成では、第1のフォトセンサー121に流れる電流I1(出力値)と第2のフォトセンサー122に流れる電流I2(出力値)は、それぞれ次式で表される。ここで、LAは第1のフォトセンサー21上での外光Aの照度であり、Vd1は第1のフォトセンサー21を構成するダイオードのアノード・カソード間電圧であり、Vgs1は第1のフォトセンサー21を構成するトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、Vds1は第1のフォトセンサー21を構成するトランジスタのドレイン・ソース間電圧であり、temp1は第1のフォトセンサー21の絶対温度であり、Vd2は第2のフォトセンサー22を構成するダイオードのアノード・カソード間電圧であり、Vgs2は第2のフォトセンサー22を構成するトランジスタのゲート・ソース間電圧であり、Vds2は第2のフォトセンサー22を構成するトランジスタのドレイン・ソース間電圧であり、temp2は第2のフォトセンサー22の絶対温度である。また、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22は遮光状態をのぞいて全く同一のデバイス構造であり、同一条件では同じ電流が流れるものとする。   In the configuration as described above, the current I1 (output value) flowing through the first photosensor 121 and the current I2 (output value) flowing through the second photosensor 122 are each expressed by the following equations. Here, LA is the illuminance of outside light A on the first photosensor 21, Vd1 is the anode-cathode voltage of the diode constituting the first photosensor 21, and Vgs1 is the first photosensor. Vds1 is the drain-source voltage of the transistor constituting the first photosensor 21, temp1 is the absolute temperature of the first photosensor 21, and Vd2 Is the anode-cathode voltage of the diode that constitutes the second photosensor 22, Vgs2 is the gate-source voltage of the transistor that constitutes the second photosensor 22, and Vds2 is the voltage across the second photosensor 22. This is the voltage between the drain and source of the transistor to be configured, and temp2 is the absolute temperature of the second photosensor 22The first photosensor 21 and the second photosensor 22 have the same device structure except for the light shielding state, and the same current flows under the same conditions.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

ここで、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22に同一のバイアス電圧を印加すると、Vd1=Vd2=Vd,Vgs1=Vgs2=Vgs,Vds1=Vds2=Vdsである。具体的には例えばVd=−4V、Vgs=−5V、Vds=−4Vなどとする。また、第1のフォトセンサー21と第2のフォトセンサー22は同一の基板アクティブマトリクス基板2に配置されてなるので、温度も等しいと出来るのでtemp1=tempに=tempである。また、Vd,Vgs,Vdsは一定となるように回路を構成すれば、Iphoto’(Vd),Iphoto’(Vgs,Vds)も定数(以下、単にIphoto’と略す)として扱えることになる。
上記の式及び仮定から、第1のフォトセンサー121に流れる電流I1と第2のフォトセンサー122に流れる電流I2の差(I1−I2)は次式となる。
Here, when the same bias voltage is applied to the first photosensor 21 and the second photosensor 22, Vd1 = Vd2 = Vd, Vgs1 = Vgs2 = Vgs, and Vds1 = Vds2 = Vds. Specifically, for example, Vd = -4V, Vgs = -5V, Vds = -4V, and the like. In addition, since the first photosensor 21 and the second photosensor 22 are arranged on the same substrate active matrix substrate 2, temp1 = temp = temp because the temperatures can be equal. If the circuit is configured so that Vd, Vgs, and Vds are constant, Iphoto ′ (Vd) and Iphoto ′ (Vgs, Vds) can also be handled as constants (hereinafter simply referred to as Iphoto ′).
From the above formula and assumption, the difference (I1−I2) between the current I1 flowing through the first photosensor 121 and the current I2 flowing through the second photosensor 122 is expressed by the following formula.

Figure 2007094098
Figure 2007094098

上記の式における電流I1,I2は、第1,第2のフォトセンサー21,22からそれぞれ出力され、またLBは既知であるので、これを測定すれば上記の式から外光照度LAが算出される。算出された外光照度LAは熱リークを考慮した正確な値であり、この外光照度LAに基いてバックライトユニット8に送られる制御信号が補正される。これによって、これによって、温度による補正が行われた制御信号をバックライトユニット8に送ることができ、従来に比べより正確なバックライトユニット8の照度制御が可能であって視認性を向上させることができる。   The currents I1 and I2 in the above equation are respectively output from the first and second photosensors 21 and 22, and the LB is known. If this is measured, the external light illuminance LA is calculated from the above equation. . The calculated external light illuminance LA is an accurate value considering heat leak, and the control signal sent to the backlight unit 8 is corrected based on the external light illuminance LA. Thereby, the control signal corrected by the temperature can be sent to the backlight unit 8, and the illuminance control of the backlight unit 8 can be performed more accurately than before, and the visibility can be improved. Can do.

また、上記した第1〜第3の実施の形態では、第1,第2のフォトセンサー21,22が同様の構成からなるフォトセンサーになっているが、本発明は、第1,第2のフォトセンサーが異なる構成からなるフォトセンサーであってもよい。   In the first to third embodiments described above, the first and second photosensors 21 and 22 are photosensors having the same configuration. However, the present invention provides the first and second photosensors. The photo sensor which consists of a different structure may be sufficient as a photo sensor.

また、上記した第1〜第3の実施の形態では、外光遮光膜28およびバックライト遮光膜60(第1,第2のバックライト遮光膜61,62も含む。)が、薄膜状にそれぞれ形成されているが、本発明は、外光遮光部および照明光遮光部が薄膜状のものでなくてもよく、例えば板状の外光遮光部および照明光遮光部であってもよい。また、上記した第1〜第3の実施の形態では、外光遮光膜28およびバックライト遮光膜60(第1,第2のバックライト遮光膜61,62も含む。)が、液晶モジュール1内に設けられ、或いは液晶モジュール1の表面に付着した構成からなっており、つまり、外光遮光膜28およびバックライト遮光膜60が液晶モジュール1の一部になっているが、本発明は、外光遮光部および照明光遮光部が液晶パネルから切り離された部品であってもよい。   In the first to third embodiments described above, the external light shielding film 28 and the backlight shielding film 60 (including the first and second backlight shielding films 61 and 62) are each formed in a thin film shape. Although formed, the external light shielding part and the illumination light shielding part do not have to be in the form of a thin film. For example, a plate-shaped external light shielding part and an illumination light shielding part may be used. In the first to third embodiments described above, the external light shielding film 28 and the backlight shielding film 60 (including the first and second backlight shielding films 61 and 62) are also provided in the liquid crystal module 1. Or is attached to the surface of the liquid crystal module 1, that is, the external light shielding film 28 and the backlight shielding film 60 are part of the liquid crystal module 1. The light shielding part and the illumination light shielding part may be parts separated from the liquid crystal panel.

また、本発明は、例えば画素スイッチング素子(アクティブ素子)が薄膜アモルファスシリコントランジスター(aSi-TFT)であってもよく、この場合は第1,第2のフォトセンサーの能動層としては薄膜アモルファスシリコンを用いればよい。同様に例えば画素スイッチング素子(アクティブ素子)が薄膜ダイオード(TFD)でも良いし、単結晶シリコントランジスタであっても良い。
また、上記した第1〜第3の実施の形態では、対向基板3(第2の基板)上に対極電極を有するTN(twisted nematic)モードあるいはVA(vertically aligned)モードの液晶表示装置を想定したが、本発明は、アクティブマトリクス基板(第1の基板)上に対極電極を有するIPS(in-plane switching)モードであっても差し支えないし、その他のあらゆる透過型・半透過型液晶表示装置に応用して差し支えない。
In the present invention, for example, the pixel switching element (active element) may be a thin film amorphous silicon transistor (aSi-TFT). In this case, thin film amorphous silicon is used as the active layer of the first and second photosensors. Use it. Similarly, for example, the pixel switching element (active element) may be a thin film diode (TFD) or a single crystal silicon transistor.
In the first to third embodiments described above, a TN (twisted nematic) mode or VA (vertically aligned) mode liquid crystal display device having a counter electrode on the counter substrate 3 (second substrate) is assumed. However, the present invention may be an IPS (in-plane switching) mode having a counter electrode on an active matrix substrate (first substrate), and can be applied to any other transmissive / semi-transmissive liquid crystal display device. There is no problem.

また、上記した第1〜第3の実施の形態では、アクティブマトリクス基板2(第1の基板)に第1,第2のフォトセンサー21,22が設けられているが、本発明は、対向基板3(第2の基板)に第1,第2のフォトセンサーが設けられていてもよい。
また、上記した第1〜第3の実施の形態では、バックライトユニット8に対向してバックライト光が照射される側の基板(第1の基板)をアクティブマトリクス基板としているが、本発明は、反対側の基板(第2の基板)をアクティブマトリクス基板にしてもよい。
また、上記した第1〜第3の実施の形態では、対向基板3(第2の基板)の液晶材料4側の面にのみ、ブラックマトリクス(ブラックマトリクス層)37や色材(カラーフィルター層)38が設けられているが、本発明は、アクティブマトリクス基板(第1の基板)の液晶側の面にブラックマトリクス層やカラーフィルター層を設けてもよく、或いは、双方の基板にブラックマトリクス層やカラーフィルター層を設けてもよい。
また、上記した第1〜第3の実施の形態の各具体例で示された構成を、本発明の主旨を逸脱しない範囲で、適宜組み合わせを変更することは可能であり、また、他の周知の構成に置き換えることも可能である。
In the first to third embodiments described above, the first and second photosensors 21 and 22 are provided on the active matrix substrate 2 (first substrate). 3 (second substrate) may be provided with first and second photosensors.
In the first to third embodiments described above, the substrate (first substrate) on the side facing the backlight unit 8 and irradiated with the backlight light is the active matrix substrate. The opposite substrate (second substrate) may be an active matrix substrate.
In the first to third embodiments, the black matrix (black matrix layer) 37 and the color material (color filter layer) are provided only on the surface of the counter substrate 3 (second substrate) on the liquid crystal material 4 side. In the present invention, a black matrix layer or a color filter layer may be provided on the surface of the active matrix substrate (first substrate) on the liquid crystal side, or a black matrix layer or a color filter layer may be provided on both substrates. A color filter layer may be provided.
In addition, the combinations shown in the specific examples of the first to third embodiments described above can be changed as appropriate without departing from the gist of the present invention. It is also possible to replace with the configuration of

次に、本発明に係る電子機器について説明する。   Next, an electronic apparatus according to the present invention will be described.

図16は電子機器を表す斜視図であり、図17は電子機器の構成を表すブロック図である。
上記した構成からなる液晶表示装置200は、図16に示すように、携帯電話70の表示部70aとして使用されており、前述した構成の液晶モジュール1を含む表示装置である。電子機器は、図17に示すように、LCD(liquid crystal display)モジュール200(液晶表示装置)と、これを制御する表示情報処理回路201、中央演算回路202、外部I/F回路203、入出力機器204、電源回路205よりなる。
FIG. 16 is a perspective view illustrating an electronic device, and FIG. 17 is a block diagram illustrating a configuration of the electronic device.
As shown in FIG. 16, the liquid crystal display device 200 having the above-described configuration is used as a display unit 70a of a mobile phone 70, and is a display device including the liquid crystal module 1 having the above-described configuration. As shown in FIG. 17, the electronic device includes an LCD (liquid crystal display) module 200 (liquid crystal display device), a display information processing circuit 201 that controls the module, a central processing circuit 202, an external I / F circuit 203, and an input / output. A device 204 and a power supply circuit 205 are included.

表示情報処理回路201は、中央演算回路202からのコマンドに基づき、RAM(Random Access Memory)に格納した映像データを適宜書き換え、タイミング信号とともに液晶表示装置200へ映像信号を供給する。中央演算回路202は、外部I/F回路203からの入力に基づいて様々な演算を行い、その結果をもとに表示情報処理回路201および外部I/F回路203へコマンドを出力する。外部I/F回路203は、入出力機器204からの情報を中央演算回路202へ送るとともに、中央演算回路202からのコマンドに基づいて入出力機器204を制御する。入出力機器204とは、スイッチ、キーボード、ハードディスク、フラッシュメモリユニットなどである。また、電源回路205は、上記の各構成要素に所定の電源電圧を供給する。   The display information processing circuit 201 appropriately rewrites video data stored in a RAM (Random Access Memory) based on a command from the central processing circuit 202 and supplies the video signal to the liquid crystal display device 200 together with a timing signal. The central processing circuit 202 performs various operations based on the input from the external I / F circuit 203 and outputs commands to the display information processing circuit 201 and the external I / F circuit 203 based on the results. The external I / F circuit 203 sends information from the input / output device 204 to the central processing circuit 202 and controls the input / output device 204 based on a command from the central processing circuit 202. The input / output device 204 is a switch, a keyboard, a hard disk, a flash memory unit, or the like. The power supply circuit 205 supplies a predetermined power supply voltage to each of the above components.

上記した電子機器によれば、上述した液晶表示装置200が備えられているため、上記した液晶表示装置と同様の作用及び効果を奏し、いかなる状況下でも視認性を良好に保つことができるとともに、消費電力を低減させることができ、例えばバッテリーの駆動時間を長くすることができる。   According to the above-described electronic apparatus, since the above-described liquid crystal display device 200 is provided, the same operations and effects as the above-described liquid crystal display device can be achieved, and the visibility can be maintained well under any circumstances. Power consumption can be reduced, and for example, the battery driving time can be extended.

なお、電子機器とは、図16の示すような携帯電話のほかに、モニター、TV、ノートパソコン、PDA、デジタルカメラ、ビデオカメラ、フォトビューワー、ビデオプレイヤー、DVDプレイヤー、オーディオプレイヤーなどであってもよい。
また、上記した実施の形態では、図5,図10,図13に示すバックライトユニット8を制御するバックライト制御ユニット12が、液晶表示装置200内に備えられているが、バックライト制御は、中央演算回路202で演算を行い、電源回路205を制御することでも実現可能である。
The electronic device may be a monitor, a TV, a notebook computer, a PDA, a digital camera, a video camera, a photo viewer, a video player, a DVD player, an audio player, etc. in addition to the mobile phone as shown in FIG. Good.
In the above-described embodiment, the backlight control unit 12 that controls the backlight unit 8 shown in FIGS. 5, 10, and 13 is provided in the liquid crystal display device 200. This can also be realized by performing calculations in the central processing circuit 202 and controlling the power supply circuit 205.

本発明に係る液晶表示装置の実施の形態を説明するための液晶パネルを表す部分破断斜視図である。It is a partially broken perspective view showing the liquid crystal panel for demonstrating embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の実施の形態を説明するための第1の基板を表す模式図である。It is a schematic diagram showing the 1st board | substrate for describing embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の実施の形態を説明するための第1の基板を表す部分拡大図である。It is the elements on larger scale showing the 1st board for explaining an embodiment of a liquid crystal display concerning the present invention. 本発明に係る液晶表示装置の実施の形態を説明するためのバックライトの照度と外光の照度との関係を表したグラフである。It is a graph showing the relationship between the illumination intensity of the backlight for demonstrating embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention, and the illumination intensity of external light. 本発明に係る液晶表示装置の第1の実施の形態を説明するための模式図である。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic diagram for explaining a first embodiment of a liquid crystal display device according to the present invention. 本発明に係る液晶表示装置の第1の実施の形態についての第1具体例を説明するための液晶パネルを表す断面図である。It is sectional drawing showing the liquid crystal panel for demonstrating the 1st specific example about 1st Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の第1の実施の形態についての第2具体例を説明するための液晶パネルを表す断面図である。It is sectional drawing showing the liquid crystal panel for demonstrating the 2nd specific example about 1st Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の第1の実施の形態についての第3具体例を説明するための液晶パネルを表す断面図である。It is sectional drawing showing the liquid crystal panel for demonstrating the 3rd specific example about 1st Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の第1の実施の形態についての第4具体例を説明するための液晶パネルを表す断面図である。It is sectional drawing showing the liquid crystal panel for demonstrating the 4th specific example about 1st Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の第2の実施の形態を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating 2nd Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の第2の実施の形態についての第1具体例を説明するための液晶パネルを表す断面図である。It is sectional drawing showing the liquid crystal panel for demonstrating the 1st specific example about 2nd Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の第2の実施の形態についての第2具体例を説明するための液晶パネルを表す断面図である。It is sectional drawing showing the liquid crystal panel for demonstrating the 2nd specific example about 2nd Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の第3の実施の形態を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating 3rd Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の第3の実施の形態についての具体例を説明するための液晶パネルを表す断面図である。It is sectional drawing showing the liquid crystal panel for demonstrating the specific example about 3rd Embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る液晶表示装置の他の実施の形態を説明するための模式図である。It is a schematic diagram for demonstrating other embodiment of the liquid crystal display device which concerns on this invention. 本発明に係る電子機器の実施の形態を説明するための電子機器を表す斜視図である。It is a perspective view showing the electronic device for describing embodiment of the electronic device which concerns on this invention. 本発明に係る電子機器の実施の形態を説明するための電子機器の構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the structure of the electronic device for describing embodiment of the electronic device which concerns on this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 液晶モジュール
2 アクティブマトリクス基板(第1の基板)
3 対向基板(第2の基板)
4 液晶材料(液晶)
5 シール材
8 バックライトユニット(照明装置)
12 バックライト制御ユニット(照明制御手段)
21,121 第1のフォトセンサー
22,122 第2のフォトセンサー
23 画素スイッチング素子(アクティブ素子)
28 128 外光遮光膜(外光遮光部)
31 ゲート電極
31´ ボトムゲート電極
32 ソース電極
33 ドレイン電極
35 反射電極
37 ブラックマトリクス(ブラックマトリクス層)
38 色材(カラーフィルター層)
58 基材
60,160 バックライト遮光膜(照明光遮光部)
61 第1のバックライト遮光膜(照明光遮光部)
62 第2のバックライト遮光膜(照明光遮光部)
63 トランジスタ遮光層(遮光膜)
70 電子機器
200 液晶表示装置
1 Liquid crystal module 2 Active matrix substrate (first substrate)
3 Counter substrate (second substrate)
4 Liquid crystal materials (liquid crystal)
5 Sealing material 8 Backlight unit (lighting device)
12 Backlight control unit (lighting control means)
21, 121 First photosensor 22, 122 Second photosensor 23 Pixel switching element (active element)
28 128 Outside light shielding film (outside light shielding part)
31 Gate electrode 31 ′ Bottom gate electrode 32 Source electrode 33 Drain electrode 35 Reflective electrode 37 Black matrix (black matrix layer)
38 Color material (color filter layer)
58 Base material 60,160 Backlight shielding film (illumination light shielding part)
61 1st backlight light shielding film (illumination light light shielding part)
62 2nd backlight light shielding film (illumination light shielding part)
63 Transistor light shielding layer (light shielding film)
70 Electronic Device 200 Liquid Crystal Display Device

Claims (15)

第1、第2の基板間に液晶が封入されてなる液晶パネルと、該液晶パネルの前記第1の基板の面に光を照射する照明装置と、周囲の光の照度を検出する光検出手段と、該光検出手段による検出結果に応じて前記照明装置を制御する照明制御手段とが備えられ、
前記光検出手段には、前記第1の基板もしくは前記第2の基板にそれぞれ設けられる第1,第2のフォトセンサーが備えられ、該第1のフォトセンサーは、少なくとも外光が照射され、前記第2のフォトセンサーは、外光遮光部によって少なくとも外光の照射が遮断されていることを特徴とする液晶表示装置。
A liquid crystal panel in which liquid crystal is sealed between first and second substrates, an illuminating device for irradiating light on the surface of the first substrate of the liquid crystal panel, and a light detection means for detecting the illuminance of ambient light And an illumination control means for controlling the illumination device according to a detection result by the light detection means,
The light detection means includes first and second photosensors respectively provided on the first substrate or the second substrate, and the first photosensor is irradiated with at least external light, The second photosensor is a liquid crystal display device characterized in that at least external light irradiation is blocked by an external light shielding unit.
前記第2のフォトセンサーには、前記照明装置からの光が照射されていることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。   The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the second photosensor is irradiated with light from the illumination device. 前記照明装置の照度を互いに異なる第1,第2の照度に変化させ、前記第1の照度における前記第2のフォトセンサーの出力値と前記第2の照度における前記第2のフォトセンサーの出力値との差から外光照度を算出する手段が備えられていることを特徴とする請求項2に記載の液晶表示装置。   The illuminance of the illumination device is changed to different first and second illuminances, and the output value of the second photosensor at the first illuminance and the output value of the second photosensor at the second illuminance. The liquid crystal display device according to claim 2, further comprising means for calculating the illuminance of outside light from the difference between the liquid crystal display device and the liquid crystal display device. 前記第1のフォトセンサー又は第2のフォトセンサーのうちの少なくとも一方は、照明光遮光部によって前記照明装置からの光の照射が遮断されていることを特徴とする請求項1記載の液晶表示装置。   2. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein at least one of the first photosensor and the second photosensor is blocked from irradiating light from the illumination device by an illumination light shielding unit. . 前記第1のフォトセンサーは、照明光遮光部によって前記照明装置からの光の照射が遮断され、
前記第2のフォトセンサーには、前記照明装置からの光が照射され、
前記照明装置の照度を特定値に設定し、前記第1のフォトセンサーの出力値と前記第2のフォトセンサーの出力値との差から前記特定値に対する外光照度の大小を検知する手段が備えられていることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。
In the first photosensor, irradiation of light from the illumination device is blocked by an illumination light shielding unit,
The second photosensor is irradiated with light from the illumination device,
Means for setting the illuminance of the lighting device to a specific value and detecting the magnitude of the external light illuminance with respect to the specific value from the difference between the output value of the first photosensor and the output value of the second photosensor is provided. The liquid crystal display device according to claim 1.
前記第1の基板もしくは前記第2の基板は、その液晶側の面にアクティブ素子を配設してなるアクティブマトリクス基板であり、
前記アクティブ素子は、その能動層と前記第1の基板の基材との間にボトムゲート電極を有するボトムゲート構造のトランジスタ又は4端子トランジスタであり、
前記照明光遮光部は、前記ボトムゲート電極と同一材料で形成された膜であることを特徴とする請求項4に記載の液晶表示装置。
The first substrate or the second substrate is an active matrix substrate in which active elements are arranged on the liquid crystal side surface,
The active element is a bottom-gate transistor or a four-terminal transistor having a bottom gate electrode between the active layer and the base material of the first substrate,
The liquid crystal display device according to claim 4, wherein the illumination light shielding portion is a film formed of the same material as the bottom gate electrode.
前記第1の基板もしくは前記第2の基板は、その液晶側の面にアクティブ素子を配設してなるアクティブマトリクス基板であり、
前記アクティブ素子は、その能動層と前記第1の基板の基材との間にトランジスタ遮光層を有するトップゲート構造のトランジスタであり、
前記照明光遮光部は、前記トランジスタ遮光層と同一材料で形成された膜であることを特徴とする請求項4に記載の液晶表示装置。
The first substrate or the second substrate is an active matrix substrate in which active elements are arranged on the liquid crystal side surface,
The active element is a top-gate transistor having a transistor light-shielding layer between the active layer and the base material of the first substrate,
The liquid crystal display device according to claim 4, wherein the illumination light shielding portion is a film formed of the same material as the transistor light shielding layer.
前記第1の基板は、その液晶側の面にアクティブ素子を配設してなるアクティブマトリクス基板であり、
前記アクティブ素子は、ゲート電極を有するトランジスタであり、
前記外光遮光部は、前記ゲート電極と同一材料で形成された膜であることを特徴とする請求項1から7の何れかに記載の液晶表示装置。
The first substrate is an active matrix substrate in which active elements are disposed on the liquid crystal side surface,
The active element is a transistor having a gate electrode;
The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the external light shielding portion is a film made of the same material as the gate electrode.
前記第1の基板は、その液晶側の面にアクティブ素子を配設してなるアクティブマトリクス基板であり、
前記外光遮光部は、前記アクティブマトリクス基板のデータ線と同一材料で形成された膜であることを特徴とする請求項1から8の何れかに記載の液晶表示装置。
The first substrate is an active matrix substrate in which active elements are disposed on the liquid crystal side surface,
9. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the external light shielding portion is a film formed of the same material as the data lines of the active matrix substrate.
前記第1の基板の液晶側の面には、反射電極が設けられ、
前記外光遮光部は、前記反射電極と同一材料で形成された膜であることを特徴とする請求項1から9の何れかに記載の液晶表示装置。
A reflective electrode is provided on the liquid crystal side surface of the first substrate,
The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the external light shielding portion is a film formed of the same material as the reflective electrode.
前記第1の基板又は前記第2の基板の液晶側の面のうち少なくともいずれか一方に、画像を表示する表示エリアには、ブラックマトリクス層が設けられ、
前記外光遮光部は、前記ブラックマトリクス層と同一材料で形成された膜であることを特徴とする請求項1から10の何れかに記載の液晶表示装置。
A black matrix layer is provided in a display area for displaying an image on at least one of the liquid crystal side surfaces of the first substrate and the second substrate,
The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the external light shielding portion is a film formed of the same material as the black matrix layer.
前記第1の基板又は前記第2の基板の液晶側の面のうち少なくともいずれか一方に、画像を表示する表示エリアには、カラーフィルター層が設けられ、
前記外光遮光部は、前記カラーフィルター層と同一材料で形成された膜であることを特徴とする請求項1から11の何れかに記載の液晶表示装置。
A color filter layer is provided in a display area for displaying an image on at least one of the liquid crystal side surfaces of the first substrate or the second substrate,
The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the external light shielding portion is a film formed of the same material as the color filter layer.
前記カラーフィルター層は、青表示に対応する第1のカラーフィルター層と、緑表示に対応する第2のカラーフィルター層と、赤表示に対応する第3のカラーフィルター層と、を有してなり、
前記外光遮光部は、前記第1のカラーフィルター層と同一の材料からなる膜、前記第2のカラーフィルター層と同一の材料からなる膜、又は前記第3のカラーフィルター層と同一の材料からなる膜のうち、何れか二種以上の膜を重ね合わせて形成されていることを特徴とする請求項12に記載の液晶表示装置。
The color filter layer includes a first color filter layer corresponding to blue display, a second color filter layer corresponding to green display, and a third color filter layer corresponding to red display. ,
The external light shielding portion is made of a film made of the same material as the first color filter layer, a film made of the same material as the second color filter layer, or made of the same material as the third color filter layer. The liquid crystal display device according to claim 12, wherein two or more kinds of films are formed to overlap each other.
前記外光遮光部は、前記第1,第2の基板の間に介在するシール材と同一の樹脂で形成されていることを特徴とする請求項1から13の何れかに記載の液晶表示装置。   The liquid crystal display device according to claim 1, wherein the external light shielding portion is formed of the same resin as a sealing material interposed between the first and second substrates. . 前記請求項1から14の何れかに記載された液晶表示装置が備えられていることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the liquid crystal display device according to claim 1.
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