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物体に対して、第１の近赤外パルスレーザーを照射し、該物体内部の一点において集光させることにより該一点において多光子励起により近赤外波長領域の光吸収を誘起し、第２の近赤外パルスレーザーの該一点における光吸収スペクトル、あるいは第２の近赤外パルスレーザーの該一点における光吸収強度の第１パルスに対する遅延時間依存性に基づいて該物質の分析を行うことを特徴とする物体の調査方法。
Against the object body is irradiated withthe first near-infrared pulsed lasers over, induces optical absorption in the near infrared wavelength region by multi-photon excitation at one point the by condensing at a point of the object body portion, first Analyzing the substance based on the light absorption spectrum at the one point of the two near-infrared pulsed lasers or the delay time dependence of the light absorption intensity at the one point of the second near-infrared pulsed laser with respect to the first pulse Method for investigating an object characterized by前記第１パルスレーザー及び前記第２パルスレーザーを走査させることにより、該物体の形状を同定することを特徴とする請求項１に記載の物体の調査方法。
The object investigation method according to claim 1, wherein the shape of the object is identified by scanning the first pulse laser and the second pulse laser.
該物体が不透明障害物の向こう側に存在することを特徴とする請求項１又は２に記載の物体の調査方法。
3. The method for investigating an object according to claim 1 or 2 , wherein the object exists on the other side of the opaque obstacle.物体に対して、第１の近赤外パルスレーザーを照射し、該物体内部の一点において集光させることにより該一点において多光子励起により近赤外波長領域の光吸収を誘起し、第２の近赤外パルスレーザーの該一点における光吸収スペクトル、あるいは第２の近赤外パルスレーザーの該一点における光吸収強度の第１パルスに対する遅延時間依存性に基づいて該物質の分析を行うことを特徴とする物体の調査装置。
Against the object body is irradiated withthe first near-infrared pulsed lasers over, induces optical absorption in the near infrared wavelength region by multi-photon excitation at one point the by condensing at a point of the object body portion, first Analyzing the substance based on the light absorption spectrum at the one point of the two near-infrared pulsed lasers or the delay time dependence of the light absorption intensity at theone point of the second near-infrared pulsed laser with respect tothe first pulse An object investigation device characterized by前記第１パルスレーザー及び前記第２パルスレーザーを走査させることにより、該物体の形状を同定することを特徴とする請求項４に記載の物体の調査装置。
The object investigation apparatus according to claim 4, wherein the shape of the object is identified by scanning the first pulse laser and the second pulse laser.
該物体が不透明障害物の向こう側に存在することを特徴とする請求項４又は５に記載の物体の調査装置。
Object investigation device according to claim 4 or 5, characterized in that said object is present across the opaque obstruction.
Nonlinear imaging microscopy for assessing structural and photochemical modifications upon laser removal of dammar varnish on photosensitive substrates