JP2007081204A - Exposure device - Google Patents

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琢也 滝澤
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an exposure device that is prevented from stopping for a long time owing to a blur of an optical component. <P>SOLUTION: A fly eye lens 21 has a lens body 21a which is disposed at a first specified position overlapping with an optical path of light and standby lens bodies 21b to 21d having the same function with the lens body 21a and stand by at positions off the optical path. Further, a first BMU has a first compact mirror which is arranged at a 2nd specified position overlapping with the optical path of light and second and third standby mirrors which have the same function with the first compact mirror and stand by at positions off the optical path. The lens body 21a moves to a position off the optical path and, for example, the lens body 21b moves to the first specified position to replace the lens body 21a with the standby lens body. Further, the first compact mirror moves to a position off the optical path and, for example, the second compact mirror moves to the second specified position to replace the fist compact mirror with the standby mirror. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、露光装置に関し、特に、光学部品の曇りに起因する露光装置の長時間停止を防止できるようにしたものである。   The present invention relates to an exposure apparatus, and in particular, can prevent the exposure apparatus from stopping for a long time due to fogging of optical components.

多くの場合、半導体装置の製造工程で使用される露光装置には、紫外線を発するエキシマレーザが光源として使用されている。エキシマレーザには、波長248nmの紫外線を発生させるKrFエキシマレーザや、波長193nmの紫外線を発生させるArFエキシマレーザ、波長157nmの紫外線を発生させるF2エキシマレーザ等があるが、何れのレーザを使用する場合も、エキシマレーザから放出された紫外線は、BMU、フライアイレンズ、リレーレンズ、ダイクロイックミラー等の複数種類の光学部品と、マスク(レチクル)とを通って、ステージ側に照射されるようになっている(例えば、特許文献1〜3参照。)。
特開2001−313250号公報 特開平10−50590号公報 特開平10−209016号公報
In many cases, an excimer laser that emits ultraviolet rays is used as a light source in an exposure apparatus used in a manufacturing process of a semiconductor device. Excimer lasers include a KrF excimer laser that generates ultraviolet light with a wavelength of 248 nm, an ArF excimer laser that generates ultraviolet light with a wavelength of 193 nm, and an F2 excimer laser that generates ultraviolet light with a wavelength of 157 nm. However, the ultraviolet rays emitted from the excimer laser are irradiated to the stage side through a plurality of types of optical components such as BMU, fly-eye lens, relay lens, dichroic mirror, and a mask (reticle). (For example, refer to Patent Documents 1 to 3.)
JP 2001-313250 A Japanese Patent Laid-Open No. 10-50590 JP-A-10-209016

ところで、半導体装置の製造工程では、極めて微量ではあるが、硫酸雰囲気やアンモニア雰囲気が漂っている。露光工程ではアンモニア雰囲気に弱い感光剤を使用していることもあり、特にアンモニアフィルタ等を配置してその低減に努めている。しかし、そのような努力をした場合でもアンモニア雰囲気を完全に無くすことは事実上困難であり、極微量ではあるが、露光装置の内部まで硫酸雰囲気とアンモニア雰囲気とが入り込んでしまうという現実がある。   By the way, in the manufacturing process of a semiconductor device, although it is a very small amount, there is a sulfuric acid atmosphere or an ammonia atmosphere. In the exposure process, a photosensitive agent that is weak in an ammonia atmosphere may be used. In particular, an ammonia filter or the like is arranged to reduce the exposure. However, even if such efforts are made, it is practically difficult to completely eliminate the ammonia atmosphere, and although there is a very small amount, there is a reality that the sulfuric acid atmosphere and the ammonia atmosphere enter the inside of the exposure apparatus.

ここで、硫酸雰囲気やアンモニア雰囲気に光、特に紫外線(以下、「ビーム」ともいう。)が当たると、硫酸やアンモニアのイオン化が促進され、硫酸アンモニウムが生成される。このため、エキシマレーザを光源とする露光装置の内部では、光路に沿って硫酸アンモニアが生成され、生成された硫酸アンモニウムによって光学部品が徐々に曇ってしまう。   Here, when light, particularly ultraviolet light (hereinafter also referred to as “beam”) is exposed to a sulfuric acid atmosphere or an ammonia atmosphere, ionization of sulfuric acid and ammonia is promoted, and ammonium sulfate is generated. For this reason, in the exposure apparatus using an excimer laser as a light source, ammonia sulfate is generated along the optical path, and the optical components are gradually clouded by the generated ammonium sulfate.

このような曇りを放置した場合、エキシマレーザから照射されるビームは光学部品の曇りによってその強度が途中で弱められてしまう(即ち、照度が減衰してしまう)。照度の減衰分を補うためには、ビームの照射時間を長くすれば良いが、このような方法を採った場合には、露光処理のスループットが低下し、さらに、エキシマレーザの部品劣化も早まってしまう。ここで、エキシマレーザはとても高価であるため、その劣化は特に避けたい。   When such cloudiness is left, the intensity of the beam irradiated from the excimer laser is weakened on the way by the cloudiness of the optical component (that is, the illuminance is attenuated). In order to compensate for the attenuation of illuminance, the irradiation time of the beam may be increased. However, when such a method is adopted, the throughput of the exposure process is lowered, and further, the excimer laser parts are also deteriorated prematurely. End up. Here, since excimer laser is very expensive, it is particularly desirable to avoid its deterioration.

それゆえ、上記曇りに対する実際の対策としては、照度がある程度低下してきた時点で曇りの生じた光学部品を曇りの無い新品に交換するしかないが、この方法では光学部品の着脱が伴うので、計画休止(即ち、定期メンテナンスのために予め計画された装置休止)のタイミングでないにも関わらず、露光装置を長時間止めざるを得ない場合があった(問題点)。   Therefore, as an actual countermeasure against the above fogging, there is no choice but to replace the fogged optical component with a new one without fogging when the illuminance has fallen to some extent. In some cases, the exposure apparatus has to be stopped for a long time, even though it is not the timing of the stop (that is, the apparatus stop scheduled in advance for the regular maintenance) (problem).

本発明は、このような解決すべき問題に着目してなされたものであって、光学部品の曇りに起因する露光装置の長時間停止を防止できるようにした露光装置の提供を目的とする。   The present invention has been made paying attention to such a problem to be solved, and an object of the present invention is to provide an exposure apparatus capable of preventing the exposure apparatus from being stopped for a long time due to fogging of optical components.

上記目的を達成するために、発明1の露光装置は、光源からの光を複数種類の光学部品を介してマスクに照射し、当該マスクに形成されたパターンの像をステージ方向に投影する露光装置であって、前記複数種類の光学部品のうちの少なくとも一つは、前記光の光路と重なる所定位置に配置される一の部品と、前記一の部品と同じ機能を持ち、前記光路から外れた位置で待機する予備用の他の部品とを有し、前記一の部品が前記光路から外れた位置へ移動し、前記他の部品が前記所定位置へ移動することによって、前記一の部品と前記他の部品との入替えが可能となっていることを特徴とするものである。   In order to achieve the above object, an exposure apparatus according to the first aspect of the invention irradiates a mask with light from a light source via a plurality of types of optical components, and projects an image of a pattern formed on the mask in a stage direction. And at least one of the plurality of types of optical components has one component disposed at a predetermined position overlapping the optical path of the light, and has the same function as the one component, and is out of the optical path. A spare part waiting at a position, the one part is moved to a position off the optical path, and the other part is moved to the predetermined position. It can be replaced with other parts.

ここで、「光学部品」とは、光の均一性を向上したり調整したりするためのレンズ系光学部品(フライアイレンズやリレーレンズ等)や、光路を所定方向に曲げるためのミラー系光学部品(BMUやダイクロイックミラー等)のことである。
発明2の露光装置は、発明1の露光装置において、前記一の部品と前記他の部品との入替えは、スライド移動方式又はレボルバ回転方式で行われることを特徴とするものである。
Here, “optical component” means a lens-based optical component (such as a fly-eye lens or a relay lens) for improving or adjusting the uniformity of light, or a mirror-based optical component for bending an optical path in a predetermined direction. It is a part (BMU, dichroic mirror, etc.).
The exposure apparatus according to a second aspect is characterized in that in the exposure apparatus according to the first aspect, the replacement of the one component with the other component is performed by a slide movement method or a revolver rotation method.

発明1、2の露光装置によれば、光路と重なる位置に配置された一の部品が白く曇ってしまった場合でも、予備用の他の部品は光路から外れた位置で待機しているので光が当たらず、それゆえ白く曇ることはない。従って、一の部品を予備用の他の部品と入れ替えることで、ステージ側に到達する光の強度(照度)を回復することができる。強度が基準値を下回るたびに光学部品を露光装置からいちいち取り外したり、取り付けたりする必要がないので、光学部品の曇りに起因する露光装置の長時間停止を防止することができる。   According to the exposure apparatuses of the first and second aspects, even if one component arranged at a position overlapping with the optical path is clouded in white, the other spare parts are waiting at a position off the optical path, Will not hit and therefore will not be cloudy white. Therefore, the intensity (illuminance) of the light reaching the stage can be recovered by replacing one component with another spare component. Since it is not necessary to remove or attach the optical component from the exposure apparatus every time the intensity falls below the reference value, it is possible to prevent the exposure apparatus from being stopped for a long time due to fogging of the optical component.

発明3の露光装置は、発明1又は発明2の露光装置において、前記複数種類の光学部品にはレンズ系光学部品とミラー系光学部品とが含まれ、前記レンズ系光学部品は、前記光の光路と重なる第1の所定位置に配置された一のレンズと、前記一のレンズと同じ機能を持ち、前記光路から外れた位置で待機する予備用の他のレンズとを有し、一方、前記ミラー系光学部品は、前記光の光路と重なる第2の所定位置に配置された一のミラーと、前記一のミラーと同じ機能を持ち、前記光路から外れた位置で待機する予備用の他のミラーとを有し、前記一のレンズが前記光路から外れた位置へ移動し、前記他のレンズが前記第1の所定位置へ移動することによって、前記一のレンズと前記他のレンズとの入替えが可能で、且つ、前記一のミラーが前記光路から外れた位置へ移動し、前記他のミラーが前記第2の所定位置へ移動することによって、前記一のミラーと前記他のミラーとの入替えが可能となっていることを特徴とするものである。   An exposure apparatus according to a third aspect is the exposure apparatus according to the first or second aspect, wherein the plurality of types of optical components include a lens system optical component and a mirror system optical component, wherein the lens system optical component is an optical path of the light. A first lens disposed at a first predetermined position overlapping with the other lens, and another spare lens having the same function as that of the first lens and standing by at a position off the optical path, while the mirror The system optical component includes one mirror disposed at a second predetermined position that overlaps the optical path of the light, and another spare mirror that has the same function as the one mirror and stands by at a position off the optical path The one lens is moved to a position out of the optical path, and the other lens is moved to the first predetermined position, whereby the one lens and the other lens can be switched. Yes, and the one mirror is in front The one mirror and the other mirror can be switched by moving to a position off the optical path and moving the other mirror to the second predetermined position. It is.

発明3の露光装置によれば、一のレンズを予備用の他のレンズと入れ替えたり、一のミラーを予備用の他のミラーと入れ替えたりすることで、ステージ側に到達する光の強度を回復することができるので、強度が基準値を下回るたびにレンズ系光学部品やミラー系光学部品を露光装置からいちいち取り外したり、取り付けたりする必要がない。従って、光学部品の曇りに起因する露光装置の長時間停止を防止することができる。   According to the exposure apparatus of the third aspect of the invention, the intensity of light reaching the stage side is recovered by replacing one lens with another spare lens or replacing one mirror with another spare mirror. Therefore, it is not necessary to remove and attach the lens system optical component and the mirror system optical component from the exposure apparatus each time the intensity falls below the reference value. Therefore, it is possible to prevent the exposure apparatus from being stopped for a long time due to fogging of the optical components.

発明4の露光装置は、発明3の露光装置において、前記レンズ系光学部品と前記ミラー系光学部品とを介して前記ステージに到達する前記光の強度を測定する測定手段と、前記測定手段によって測定される前記光の強度が最適となるような前記レンズと前記ミラーとの組み合わせを探索する探索手段と、任意のタイミングで、前記一のレンズと前記他のレンズとの入替え、又は、前記一のミラーと前記他のミラーとの入替えの少なくとも一方を行って、前記探索手段によって探し当てられた前記レンズと前記ミラーとの組合せを実現する部品制御手段と、を備えたことを特徴とするものである。   An exposure apparatus according to a fourth aspect of the invention is the exposure apparatus according to the third aspect, wherein the exposure means of the third aspect measures the intensity of the light reaching the stage via the lens system optical component and the mirror system optical component, and the measurement means Search means for searching for a combination of the lens and the mirror so that the intensity of the light to be optimized is switched, and the one lens and the other lens are switched at an arbitrary timing, or the one And a component control means for realizing a combination of the lens and the mirror found by the search means by performing at least one of replacement of a mirror and the other mirror. .

ここで、「任意のタイミング」とは、例えば、測定手段によって測定された光の強度が基準値を下回ったときである。
発明4の露光装置によれば、レンズの切替やミラーの切替を作業者がいちいちする必要がないので、手間がかからず便利である。
発明5の露光装置は、発明4の露光装置において、前記一のレンズ及び前記他のレンズ、前記一のミラー及び前記他のミラーの各々における光の減衰率を調査する調査手段と、前記調査手段によって得られた調査結果を格納する格納手段とを備え、前記探索手段は、前記測定手段によって測定される前記光の強度が最適となるような前記レンズと前記ミラーとの組み合わせを、前記格納手段に格納された前記調査結果に基づいて探索する、ことを特徴とするものである。
Here, the “arbitrary timing” is, for example, when the light intensity measured by the measuring means falls below a reference value.
According to the exposure apparatus of the fourth aspect of the present invention, since it is not necessary for the operator to switch lenses and mirrors one by one, it is convenient and takes less time.
An exposure apparatus according to a fifth aspect of the invention is the exposure apparatus according to the fourth aspect of the invention, the investigation means for investigating the light attenuation rate in each of the one lens and the other lens, the one mirror and the other mirror, and the investigation means Storage means for storing the investigation results obtained by the above-mentioned, wherein the search means uses a combination of the lens and the mirror that optimizes the intensity of the light measured by the measurement means. The search is performed based on the investigation result stored in.

発明5の露光装置によれば、光の強度が最適となるようなレンズとミラーとの組み合わせを効率良く探すことができる。   According to the exposure apparatus of the fifth aspect, it is possible to efficiently search for a combination of a lens and a mirror that optimizes the light intensity.

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係る露光装置100の構成例を示すブロック図である。この露光装置100は、複数種類の光学部品を介してマスクにビームを照射し、当該マスクに形成された回路パターンの像をステージ方向に投影し、半導体ウエーハW上に塗布されたレジストに回路パターンを転写する(即ち、露光処理する)装置である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration example of an exposure apparatus 100 according to the embodiment of the present invention. The exposure apparatus 100 irradiates a mask with a beam via a plurality of types of optical components, projects an image of a circuit pattern formed on the mask in a stage direction, and applies a circuit pattern to a resist applied on a semiconductor wafer W. Is a device that transfers (that is, performs exposure processing).

図1に示すように、この露光装置100は、例えば、露光装置本体50(以下、単に「装置本体」ともいう。)と、装置本体50の動作を制御する制御部60と、装置本体50の受光センサ(図2参照。)で得られたデータを格納するデータ格納部70と、を含んだ構成となっている。制御部60は、図示しないCPUと、RAM及びROM等の記憶装置からなり、この記憶装置には装置本体50の制御プログラムが格納されている。また、データ格納部70は例えばハードディスクからなり、後述する測定データが格納されるようになっている。   As shown in FIG. 1, the exposure apparatus 100 includes, for example, an exposure apparatus main body 50 (hereinafter also simply referred to as “apparatus main body”), a control unit 60 that controls the operation of the apparatus main body 50, and the apparatus main body 50. And a data storage unit 70 for storing data obtained by the light receiving sensor (see FIG. 2). The control unit 60 includes a CPU (not shown) and a storage device such as a RAM and a ROM, in which a control program for the apparatus main body 50 is stored. The data storage unit 70 is composed of, for example, a hard disk, and stores measurement data to be described later.

図2は、露光装置本体50の構成例を示す概念図である。図2に示すように、この装置本体50は、光源1と、第1BMU(ビームマッチングユニット)11と、第2BMU12と、第3BMU13と、第1フライアイレンズ21と、第4BMU14と、第2フライアイレンズ22と、ブラインドと、第1リレーレンズ31と、第2リレーレンズ32と、ダイクロックミラー15と、縮小投影レンズ3と、ステージ41と、ステージ41に設けられた受光センサ43と、を含んだ構成となっている。   FIG. 2 is a conceptual diagram showing a configuration example of the exposure apparatus main body 50. As shown in FIG. 2, the apparatus main body 50 includes a light source 1, a first BMU (beam matching unit) 11, a second BMU 12, a third BMU 13, a first fly-eye lens 21, a fourth BMU 14, and a second fly. An eye lens 22, a blind, a first relay lens 31, a second relay lens 32, a dichroic mirror 15, a reduction projection lens 3, a stage 41, and a light receiving sensor 43 provided on the stage 41. It is a configuration that includes.

光源1は、例えば、波長248nmの紫外線を発生させるKrFエキシマレーザ、波長193nmの紫外線を発生させるArFエキシマレーザ、又は、波長157nmの紫外線を発生させるF2エキシマレーザの何れか一である。図2の2点鎖線で示すように、光源1で発生したビーム(紫外線)は、第1BMU11→第2BMU12→第3BMU13→第1フライアイレンズ21→第4BMU14→第2フライアイレンズ22→ブラインド→第1リレーレンズ31→第2リレーレンズ32→ダイクロックミラー15→レチクル(マスク)→縮小投影レンズ3→ステージ41の順に進む。   The light source 1 is, for example, one of a KrF excimer laser that generates ultraviolet light with a wavelength of 248 nm, an ArF excimer laser that generates ultraviolet light with a wavelength of 193 nm, or an F2 excimer laser that generates ultraviolet light with a wavelength of 157 nm. As indicated by a two-dot chain line in FIG. 2, the beam (ultraviolet light) generated by the light source 1 is first BMU 11 → second BMU 12 → third BMU 13 → first fly eye lens 21 → fourth BMU 14 → second fly eye lens 22 → blind → The process proceeds in the order of the first relay lens 31 → second relay lens 32 → dichroic mirror 15 → reticle (mask) → reduction projection lens 3 → stage 41.

BMU11〜14と、ダイクロックミラー15はそれぞれ、ビームの光路を90゜曲げる機能を有する。より詳しくは、BMUはレーザから露光機にレーザ光を送るための光路であり、ダイクロックミラー15は露光機内で光路を90°曲げるためのものである。
また、フライアイレンズ21、22はビームの均一性を向上させる機能を有し、リレーレンズ21、22はビームの均一性を調整する機能を有する。より詳しくは、フライアイレンズはレーザ光を拡散することで光束内の光強度を均一にするものであり、リレーレンズは照明ムラを調整するものである。
Each of the BMUs 11 to 14 and the dichroic mirror 15 has a function of bending the optical path of the beam by 90 °. More specifically, BMU is an optical path for sending laser light from the laser to the exposure machine, and the dichroic mirror 15 is for bending the optical path by 90 ° in the exposure machine.
The fly-eye lenses 21 and 22 have a function of improving the uniformity of the beam, and the relay lenses 21 and 22 have a function of adjusting the uniformity of the beam. More specifically, the fly-eye lens diffuses laser light to make the light intensity in the light beam uniform, and the relay lens adjusts illumination unevenness.

ステージ41はウエーハを載置し固定するための台である。このステージ41は、縮小投影レンズ3からステージ41に至るビームと垂直に交わる水平面(即ち、X−Y面)内で、水平方向(即ち、X方向及びY方向)に移動可能となっている。また、受光センサ43は、例えば、ステージ41の縮小投影レンズ3と向かい合う面に取り付けられており、ステージ41が水平面内で移動することによってその受光面が縮小投影レンズ3の直下にくるようになっている。縮小投影レンズ3を通ったビームは、受光センサ43の受光面に入射することによってその強度や均一性が測定されるようになっている。   The stage 41 is a table for mounting and fixing the wafer. The stage 41 is movable in the horizontal direction (that is, the X direction and the Y direction) within a horizontal plane (that is, the XY plane) perpendicular to the beam extending from the reduction projection lens 3 to the stage 41. The light receiving sensor 43 is attached to, for example, a surface of the stage 41 facing the reduction projection lens 3, and the stage 41 moves in a horizontal plane so that the light reception surface comes directly under the reduction projection lens 3. ing. The intensity and uniformity of the beam passing through the reduction projection lens 3 are measured by being incident on the light receiving surface of the light receiving sensor 43.

図3は、第1フライアイレンズ21の構成例を示す斜視図である。図3に示すように、第1フライアイレンズ21は、例えば、平面視で円形の回転保持板210と、この回転保持板210の中心部212と外周との間の領域に等間隔で配置された第1〜第4レンズ体21a〜21dと、回転保持板210をその中心部212を軸に回転させる回転手段(図示せず)とを含んだ構成となっている。レンズ体21a〜21dはその各々が独立したフライアイレンズであり、各々のレンズ体21a〜21dは全く同じ機能(即ち、ビームの均一性を向上させる機能)を有する。   FIG. 3 is a perspective view illustrating a configuration example of the first fly-eye lens 21. As shown in FIG. 3, the first fly-eye lenses 21 are arranged at regular intervals, for example, in a circular rotation holding plate 210 in a plan view, and in a region between the central portion 212 and the outer periphery of the rotation holding plate 210. The first to fourth lens bodies 21a to 21d and rotation means (not shown) for rotating the rotation holding plate 210 about the central portion 212 are included. Each of the lens bodies 21a to 21d is an independent fly-eye lens, and each of the lens bodies 21a to 21d has exactly the same function (that is, a function to improve the uniformity of the beam).

この第1フライアイレンズ21は、4個のレンズ体21a〜21dのうちの1個だけが光路と重なる(即ち、ビームが入射する)第1の所定位置に配置され、それ以外の3個のレンズ体は光路から外れた位置に配置されるように、装置本体50に取り付けられている。そして、レンズ体21a〜21dの光路に対するそれぞれの配置は、回転保持板210が中心部212を軸に90゜間隔で回転することによって切替えられるようになっている。   The first fly-eye lens 21 is disposed at a first predetermined position where only one of the four lens bodies 21a to 21d overlaps the optical path (that is, the beam enters), and the other three fly eye lenses 21a to 21d. The lens body is attached to the apparatus main body 50 so as to be disposed at a position off the optical path. The arrangement of the lens bodies 21a to 21d with respect to the optical path can be switched by rotating the rotation holding plate 210 about the central portion 212 at 90 ° intervals.

例えば、図3において、任意のタイミングで回転保持板210が中心部212を軸に時計回りに90゜だけ回転すると、第1レンズ体21aが光路から外れた位置に配置され、それと入れ替わりに、第2レンズ体21bが光路と重なる位置へ配置される。また、図3において回転保持板210が180゜回転すると、第1レンズ体21aが光路から外れた位置に配置され、第3レンズ体21cが光路と重なる位置へ配置される。回転保持板210が270゜(即ち、反時計周りに90゜)回転すると、第1レンズ体21aが光路から外れた位置に配置され、第4レンズ体21dが光路と重なる位置へ配置される。つまり、第1フライアイレンズ21の4個のレンズ体21a〜21dは、レボルバ回転方式で切り替わるようになっている。   For example, in FIG. 3, when the rotation holding plate 210 is rotated by 90 ° clockwise about the central portion 212 at an arbitrary timing, the first lens body 21a is disposed at a position deviated from the optical path. The two lens bodies 21b are arranged at positions where they overlap the optical path. In FIG. 3, when the rotation holding plate 210 is rotated by 180 °, the first lens body 21a is disposed at a position deviating from the optical path, and the third lens body 21c is disposed at a position overlapping the optical path. When the rotation holding plate 210 is rotated by 270 ° (that is, 90 ° counterclockwise), the first lens body 21a is disposed at a position off the optical path, and the fourth lens body 21d is disposed at a position overlapping the optical path. That is, the four lens bodies 21a to 21d of the first fly-eye lens 21 are switched by the revolver rotation method.

また、図示しないが、第2フライアイレンズ22も、図3に示した第1フライアイレンズ21と同様の構成となっており、レボルバ回転方式によって第1〜第4レンズ体のうちの1つだけが光路と重なる位置に配置され、それ以外の3つのレンズ体は光路から外れた位置に配置されるように、装置本体50に取り付けられている。
図4は、第1BMU11の構成例を示す斜視図である。図4に示すように、第1BMU11は、例えば、平面視で長方形の大型ミラー110と、大型ミラー110に対するビームの入射角度を一定に維持したまま、大型ミラー110を所定方向に案内するガイド112と、このガイド112に沿って大型ミラー110をスライドさせるアーム114と、を含んだ構成となっている。アーム114によるスライド動作は、例えば、エアーシリンダ又は電動モータによって行われる。
Although not shown, the second fly-eye lens 22 has the same configuration as the first fly-eye lens 21 shown in FIG. 3, and is one of the first to fourth lens bodies by the revolver rotation method. Only the lens body is disposed at a position overlapping with the optical path, and the other three lens bodies are attached to the apparatus main body 50 so as to be disposed at positions deviating from the optical path.
FIG. 4 is a perspective view illustrating a configuration example of the first BMU 11. As illustrated in FIG. 4, the first BMU 11 includes, for example, a rectangular large mirror 110 in a plan view, and a guide 112 that guides the large mirror 110 in a predetermined direction while maintaining a constant incident angle of the beam with respect to the large mirror 110. The arm 114 for sliding the large mirror 110 along the guide 112 is included. The sliding operation by the arm 114 is performed by, for example, an air cylinder or an electric motor.

また、図4に示すように、大型ミラー110は、例えば第1〜第3小型ミラー(言い換えれば、小ミラー領域)11a〜11cに区分けされており、各々の小型ミラー11a〜11cは全く同じビーム反射機能を有する。この第1BMU11では、3つの小型ミラー11a〜11cのうちの1つだけが光路と重なる(即ち、ビームを反射する)第2の所定位置に配置され、それ以外の2つの小型ミラーは光路から外れた位置に配置されるように、装置本体50に取り付けられている。そして、小型ミラー11a〜11cの光路に対するそれぞれの配置は、小型ミラー11a〜11c全体(即ち、大型ミラー110)がガイド112に沿ってスライドすることによって切替えられるようになっている。   As shown in FIG. 4, the large mirror 110 is divided into, for example, first to third small mirrors (in other words, small mirror regions) 11a to 11c, and each of the small mirrors 11a to 11c has the same beam. Has a reflection function. In the first BMU 11, only one of the three small mirrors 11a to 11c is disposed at a second predetermined position that overlaps the optical path (that is, reflects the beam), and the other two small mirrors are out of the optical path. It is attached to the apparatus main body 50 so that it may be arrange | positioned in the position. The arrangement of the small mirrors 11 a to 11 c with respect to the optical path is switched by sliding the entire small mirrors 11 a to 11 c (that is, the large mirror 110) along the guide 112.

例えば、図4において、任意のタイミングで大型ミラー110がガイド112に沿ってA方向にスライドすると、第1小型ミラー11aが光路から外れた位置に配置され、それと入れ替わりに、小型ミラー11bが光路と重なる位置へ配置される。また、図4において、大型ミラー110がガイド112に沿ってA方向とは正反対のB方向にスライドすると、小型ミラー11aが光路から外れた位置に配置され、小型ミラー11cが光路と重なる位置へ配置される。つまり、3つの小型ミラー11a〜11cは、ガイド112に沿ったスライド移動方式で切り替わるようになっている。図4に示すように、大型ミラー110は光路に対してぶれないようにガイド112に沿ってスライドするので、3つの小型ミラー11a〜11cのうちの何れが光路と重なる位置に配置された場合でも、光路は入射方向に対して90゜曲げられる。   For example, in FIG. 4, when the large mirror 110 slides in the A direction along the guide 112 at an arbitrary timing, the first small mirror 11a is disposed at a position off the optical path, and in exchange, the small mirror 11b is aligned with the optical path. It is arranged at the overlapping position. In FIG. 4, when the large mirror 110 slides along the guide 112 in the B direction opposite to the A direction, the small mirror 11a is disposed at a position off the optical path, and the small mirror 11c is disposed at a position overlapping the optical path. Is done. That is, the three small mirrors 11 a to 11 c are switched by a slide movement method along the guide 112. As shown in FIG. 4, since the large mirror 110 slides along the guide 112 so as not to move against the optical path, even when any of the three small mirrors 11a to 11c is arranged at a position overlapping the optical path. The optical path is bent by 90 ° with respect to the incident direction.

また、図示しないが、第2BMU12、第3BMU13、第4BMU14やダイクロックミラー15も、図4に示した第1BMU11と同様の構成となっており、スライド移動方式によって第1〜第3小型ミラーのうちの1つだけが光路と重なる位置に配置され、それ以外の2つの小型ミラーは光路から外れた位置に配置されるように、装置本体50に取り付けられている。   Although not shown, the second BMU 12, the third BMU 13, the fourth BMU 14, and the dichroic mirror 15 have the same configuration as the first BMU 11 shown in FIG. Is disposed at a position overlapping with the optical path, and the other two small mirrors are attached to the apparatus main body 50 so as to be disposed at positions deviating from the optical path.

さらに、図示しないが、第1、第2リレーレンズは、第1〜第3レンズ体と、これらレンズ体を保持する保持枠、及び保持枠を所定方向に案内するガイドとを有し、第1〜第3レンズ体のうちの1つだけが光路と重なる位置(即ち、ビームが入射する位置)に配置され、それ以外の2つのレンズ体は光路から外れた位置に配置されるように、装置本体50に取り付けられている。そして、第1〜第3レンズ体の光路に対するそれぞれの配置は、図4に示したようなスライド移動方式(即ち、ガイドに沿って保持枠を移動させること)で切替えるようになっている。   Further, although not shown, the first and second relay lenses include first to third lens bodies, a holding frame that holds these lens bodies, and a guide that guides the holding frame in a predetermined direction. The apparatus is arranged so that only one of the third lens bodies is disposed at a position overlapping the optical path (that is, a position where the beam is incident), and the other two lens bodies are disposed at positions deviating from the optical path. It is attached to the main body 50. And each arrangement | positioning with respect to the optical path of a 1st-3rd lens body is switched by the slide movement system (namely, moving a holding frame along a guide) as shown in FIG.

次に、この露光装置100における各光学部品の切替操作について説明する。
図5は、本発明の実施の形態に係る各光学部品の切替操作を示すフローチャートである。また、図6は、各光学部品を構成する複数のレンズ体、又は小型ミラーの一覧を示す図である。図6に示すように、この切替操作では、各光学部品(第1BMU〜第4BMU、第1、第2フライアイレンズ、第1、第2リレーレンズ、ダイクロックミラー)を構成する複数のレンズ体又は小型ミラーのうちのそれぞれ一つを光学性能評価用のリファレンスとして使用することを前提とする。図6に示す「切替対象1」がリファレンスである。
Next, switching operation of each optical component in the exposure apparatus 100 will be described.
FIG. 5 is a flowchart showing the switching operation of each optical component according to the embodiment of the present invention. FIG. 6 is a diagram showing a list of a plurality of lens bodies or small mirrors constituting each optical component. As shown in FIG. 6, in this switching operation, a plurality of lens bodies constituting each optical component (first BMU to fourth BMU, first and second fly-eye lenses, first and second relay lenses, dichroic mirror) Alternatively, it is assumed that one of the small mirrors is used as a reference for optical performance evaluation. “Switching target 1” shown in FIG. 6 is a reference.

例えば、図3に示した第1フライアイレンズ21では、レンズ体21dを製品処理には使用せず、他のレンズ体21a〜21cの光学特性を評価するときにリファレンスとして使用する。また、図4に示した第1BMU11では、小型ミラー11cを製品処理には使用せず、他の小型ミラー11a、11bの光学特性を評価するときにリファレンスとして使用する。   For example, in the first fly-eye lens 21 shown in FIG. 3, the lens body 21d is not used for product processing, but is used as a reference when evaluating the optical characteristics of the other lens bodies 21a to 21c. In the first BMU 11 shown in FIG. 4, the small mirror 11c is not used for product processing, but is used as a reference when evaluating the optical characteristics of the other small mirrors 11a and 11b.

図5のステップS1では、まず始めに、制御部60の制御下でステージ41を移動させて縮小投影レンズ3の直下に受光センサ43を配置する。次に、各光学部品をレボルバ回転又はスライド移動させて、図6に示す「切替対象2」を光路と重なる位置に配置する。そして、製品処理時と同様に、光源1から「切替対象2」や縮小投影レンズ3等を介してステージ41方向にビームを照射し、ビームを受光センサ43に入射させる。受光センサ43は、その入射してきたビームを光電変換し、そのビームの強度を電気信号の形で制御部60に送る。   In step S <b> 1 of FIG. 5, first, the stage 41 is moved under the control of the control unit 60, and the light receiving sensor 43 is disposed immediately below the reduction projection lens 3. Next, each optical component is rotated or slid by revolver, and “switching object 2” shown in FIG. 6 is arranged at a position overlapping the optical path. Then, as in the product processing, a beam is emitted from the light source 1 toward the stage 41 via the “switching target 2”, the reduction projection lens 3, and the like, and the beam is incident on the light receiving sensor 43. The light receiving sensor 43 photoelectrically converts the incident beam and sends the intensity of the beam to the control unit 60 in the form of an electric signal.

次に、図5のステップS2では、受光センサ43から送られてきた測定データ(即ち、ビームの強度)を制御部60が解析し、その値が基準値以上か否かを制御部60が判断する。基準値以上の場合には、ステップS3へ進んで製品処理を開始する。また、基準値を下回っている場合には、ステップS4へ進む。ステップS4では、各光学部品の「切替対象2」について、そのビームの減衰率を各々測定する。   Next, in step S2 of FIG. 5, the control unit 60 analyzes the measurement data (that is, the beam intensity) sent from the light receiving sensor 43, and the control unit 60 determines whether or not the value is equal to or greater than a reference value. To do. If it is equal to or greater than the reference value, the process proceeds to step S3 to start product processing. If it is below the reference value, the process proceeds to step S4. In step S4, the attenuation factor of the beam is measured for “switching object 2” of each optical component.

例えば、図3に示した第1フライアイレンズ21の、レンズ体21aにおけるビームの減衰率を測定する場合には、第1フライアイレンズ21を除く全ての光学部品のレンズ体及び小型ミラーを図6に示す「切替対象1」(即ち、リファレンス)にする。そして、この状態で、レンズ体21aにビームを通し、そのビーム強度を受光センサ43で測定して測定データ1を得る。次に、第1フライアイレンズ21を含む全ての光学部品のレンズ体及び小型ミラーを図6に示す「切替対象1」にし、そのときのビーム強度を受光センサ43で測定して測定データ2を得る。その後、測定データ1、2から、レンズ体21aにおけるビームの減衰率を算出する。この算出は制御部60が行う。   For example, when measuring the beam attenuation rate in the lens body 21a of the first fly-eye lens 21 shown in FIG. 3, the lens bodies and small mirrors of all optical components except the first fly-eye lens 21 are shown. “Switching target 1” shown in FIG. In this state, the beam is passed through the lens body 21 a and the beam intensity is measured by the light receiving sensor 43 to obtain measurement data 1. Next, the lens bodies and small mirrors of all the optical components including the first fly-eye lens 21 are set to “switching target 1” shown in FIG. 6, and the beam intensity at that time is measured by the light receiving sensor 43 to obtain the measurement data 2. obtain. Thereafter, the beam attenuation rate in the lens body 21a is calculated from the measurement data 1 and 2. This calculation is performed by the control unit 60.

図7は、データ格納部70に格納されたデータ(ビームの減衰率)の一例を示す図である。図中の「1.0」とはビームの減衰率がリファレンスと同じであり、紫外線照射による「曇り」が生じていない状態を意味している。この数値はビームの保持率(=1/「ビームの減衰率」)であり、測定データ2を測定データ1で除算することによって得られる値である。図7に示す数値が小さいほどビームの減衰率が高い。   FIG. 7 is a diagram illustrating an example of data (beam attenuation rate) stored in the data storage unit 70. “1.0” in the figure means that the beam attenuation rate is the same as that of the reference, and “cloudiness” due to ultraviolet irradiation has not occurred. This numerical value is a beam retention rate (= 1 / “beam attenuation rate”), which is a value obtained by dividing the measurement data 2 by the measurement data 1. The smaller the numerical value shown in FIG. 7, the higher the beam attenuation rate.

図5のステップS4では、同様に、他の光学部品(第1BMU、第2BMU、第3BMU、第4BMU、第2フライアイレンズ、第1リレーレンズ、第2リレーレンズ、ダイクロックミラー)についても、上記操作を行って切替対象2におけるビームの減衰率を算出する。このように、ステップS4では「切替対象1」をリファレンスとし、リファレンスのみの組み合わせに対して、各光学部品で各々「切替対象2」を選択したときに、どの程度のパワー(ビーム強度)を確保できるかをそれぞれ測定する。そして、図5のステップS5では、ステップS4で得られたデータをデータ格納部70に格納する。「切替対象1」及び、未使用の(即ち、ビームの照射を一度も受けていない)レンズ体及び小型ミラーは全て「1.0」である。ステップS5では、制御部60の制御下で、例えば「切替対象2」の各数値を上書き保存する。   In step S4 of FIG. 5, similarly, for other optical components (first BMU, second BMU, third BMU, fourth BMU, second fly-eye lens, first relay lens, second relay lens, dichroic mirror) The beam attenuation rate in the switching target 2 is calculated by performing the above operation. Thus, in step S4, “switching target 1” is used as a reference, and when “switching target 2” is selected for each optical component for a combination of only references, how much power (beam intensity) is secured. Measure each of them. Then, in step S5 in FIG. 5, the data obtained in step S4 is stored in the data storage unit 70. The “switching target 1”, the unused lens body (that is, the beam that has never been irradiated) and the small mirror are all “1.0”. In step S5, for example, each numerical value of “switching object 2” is overwritten and saved under the control of the control unit 60.

次に、ステップS6では、受光センサ43で得られるビーム強度が最適(例えば、最高)となるようなレンズ体と小型ミラーとの組み合わせを探索する。この探索処理は、データ格納部70に格納されたデータ(ビームの減衰率)に基づいて制御部60が行う。
図7に示すように、この例では、各々の光学部品の中で、それぞれビームの減衰率が最も小さい(即ち、1.0に最も近い)レンズ体や小型ミラーを選択する。例えば、第1BMU11では、「切替対象2」の方が「切替対象3」よりもビームの減衰率が小さいので、「切替対象2」を選択する。また、第1フライアイレンズ21では、「切替対象2」及び「切替対象4」よりも「切替対象3」の方がビームの減衰率が小さいので、「切替対象3」を選択する。なお、この例では原則として、切替対象1(リファレンス)は選択しないものとする。
Next, in step S6, a combination of a lens body and a small mirror that makes the beam intensity obtained by the light receiving sensor 43 optimal (for example, maximum) is searched. This search process is performed by the control unit 60 based on the data (beam attenuation rate) stored in the data storage unit 70.
As shown in FIG. 7, in this example, a lens body or a small mirror having the smallest beam attenuation rate (that is, closest to 1.0) is selected from each optical component. For example, in the first BMU 11, “switching target 2” is smaller than “switching target 3”, so “switching target 2” is selected. In the first fly-eye lens 21, “switching target 3” is selected because “switching target 3” has a smaller beam attenuation rate than “switching target 2” and “switching target 4”. In this example, in principle, the switching target 1 (reference) is not selected.

次に、ステップS7では、レボルバ回転方式又はスライド移動方式によって、各光学部品のレンズ体又は小型ミラーを選択的に切替えて、装置本体50内の各光学部品の組合せをステップS7で選択した組み合わせ(即ち、図7の楕円で囲んだ組合せ)にする。
次に、ステップS8では、ステップS1と同様の方法でビームの強度を測定する。そして、ステップS9では、受光センサ43から送られてきた測定データ(即ち、ビームの強度)を制御部60が解析し、その値が基準値以上か否かを制御部60が判断する。基準値以上の場合には、ステップS3へ進んで製品処理を開始する。また、基準値を下回っている場合には、ステップS10へ進む。ステップS10では、露光処理の続行が不可能であることを知らせる警報を制御部60がオペレータに向けて発報し、図5のフローチャートを終了する。
Next, in step S7, the lens body or small mirror of each optical component is selectively switched by the revolver rotation method or the slide movement method, and the combination of each optical component in the apparatus main body 50 is selected in step S7 ( That is, a combination surrounded by an ellipse in FIG.
Next, in step S8, the beam intensity is measured by the same method as in step S1. In step S9, the control unit 60 analyzes the measurement data (that is, the beam intensity) sent from the light receiving sensor 43, and the control unit 60 determines whether the value is equal to or greater than a reference value. If it is equal to or greater than the reference value, the process proceeds to step S3 to start product processing. If it is below the reference value, the process proceeds to step S10. In step S10, the control unit 60 issues an alarm notifying the operator that the exposure process cannot be continued, and the flowchart of FIG. 5 is terminated.

このように、本発明の実施の形態に係る露光装置100によれば、ビームの光路と重なる位置に配置されたレンズ体又は小型ミラーが白く曇ってしまった場合でも、予備用のレンズ体又は小型ミラーは光路から外れた位置で待機しているのでビームが当たらず、それゆえ白く曇ることはない。従って、白く曇ってしまったレンズ体又は小型ミラーを予備用と入れ替えることで、ステージ41に到達するビームの強度(照度)を回復することができる。ビームの強度が基準値を下回るたびに光学部品を露光装置からいちいち取り外したり、取り付けたりする必要がないので、光学部品の曇りに起因する露光装置の長時間停止を防止することができる。   As described above, according to the exposure apparatus 100 according to the embodiment of the present invention, even when the lens body or the small mirror arranged at the position overlapping the optical path of the beam is clouded in white, the spare lens body or the small lens body is used. Since the mirror is waiting at a position off the optical path, it will not hit the beam and therefore will not be clouded white. Therefore, the intensity (illuminance) of the beam reaching the stage 41 can be recovered by replacing the lens body or the small mirror that has become white and cloudy with the spare one. Since it is not necessary to remove or attach the optical component from the exposure apparatus every time the beam intensity falls below the reference value, it is possible to prevent the exposure apparatus from being stopped for a long time due to fogging of the optical component.

また、この露光装置100によれば、制御部の60制御下で、例えば切替対象1をリファレンスとし、それに対して各光学部品で切替対象2〜4を選択的に切替えて、リファレンスのみの組み合わせに対してどの程度のパワーを確保できるかを各々計測する。そして、その計測結果に基づいて最適な組み合わせを自動的に選択し、レンズ体の切替えや小型ミラーの切替えをそれぞれ自動的に行う。   Further, according to the exposure apparatus 100, under the control of the control unit 60, for example, the switching object 1 is used as a reference, and the switching objects 2 to 4 are selectively switched with respect to each optical component. For each, measure how much power can be secured. The optimum combination is automatically selected based on the measurement result, and the lens body and the small mirror are automatically switched.

従って、レーザの強度が最高となるようなレンズ体と小型ミラーとの組み合わせを効率良く探すことができる。また、レンズ体の切替えや小型ミラーの切替えを作業者がいちいちする必要がないので、手間がかからず便利である。
この実施の形態では、第1、第2フライアイレンズ21、22、第1、第2リレーレンズ31、32の何れか一が本発明の「レンズ系光学部品」に対応し、第1〜第4BMU11〜14、ダイクロックミラー15の何れか一が本発明の「ミラー系光学部品」に対応している。また、例えば、図3に示したレンズ体21aが本発明の「一のレンズ」に対応し、レンズ体21b〜21dが本発明の「予備用の他のレンズ」に対応している。さらに、例えば、図4に示した小型ミラー11aが本発明の「一のミラー」に対応し、小型ミラー11b、11cが本発明の「予備用の他のミラー」に対応している。また、受光センサ43が本発明の「測定手段」に対応し、受光センサ43及び制御部60が本発明の「調査手段」及び「探索手段」に対応し、制御部60が本発明の「部品制御手段」に対応している。さらに、データ格納部70が本発明の「格納手段」に対応している。
Therefore, a combination of a lens body and a small mirror that maximizes the laser intensity can be efficiently searched. In addition, since it is not necessary for the operator to switch the lens body and the small mirror each time, it is convenient and time-consuming.
In this embodiment, any one of the first and second fly-eye lenses 21 and 22 and the first and second relay lenses 31 and 32 corresponds to the “lens system optical component” of the present invention. Any one of the 4BMU 11 to 14 and the dichroic mirror 15 corresponds to the “mirror optical component” of the present invention. Further, for example, the lens body 21a shown in FIG. 3 corresponds to “one lens” of the present invention, and the lens bodies 21b to 21d correspond to “other spare lenses” of the present invention. Further, for example, the small mirror 11a shown in FIG. 4 corresponds to "one mirror" of the present invention, and the small mirrors 11b and 11c correspond to "other spare mirrors" of the present invention. The light receiving sensor 43 corresponds to the “measuring means” of the present invention, the light receiving sensor 43 and the control unit 60 correspond to the “survey means” and the “search means” of the present invention, and the control unit 60 corresponds to the “parts” of the present invention. Corresponds to "control means". Further, the data storage unit 70 corresponds to the “storage unit” of the present invention.

本発明の実施の形態に係る露光装置100の構成例を示す図。1 is a diagram showing a configuration example of an exposure apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. 露光装置本体50の構成例を示す図。FIG. 3 is a view showing a configuration example of an exposure apparatus body 50. 第1フライアイレンズ21の構成例を示す図。The figure which shows the structural example of the 1st fly eye lens. 第1BMU11の構成例を示す図。The figure which shows the structural example of 1st BMU11. 本発明の実施の形態に係る各光学部品の切替操作を示すフローチャート。The flowchart which shows switching operation of each optical component which concerns on embodiment of this invention. 各光学部品を構成する複数のレンズ体、又は小型ミラーの一覧を示す図。The figure which shows the list of the some lens body which comprises each optical component, or a small mirror. データ格納部70に格納されたデータ(ビームの減衰率)の一例を示す図。The figure which shows an example of the data (beam attenuation factor) stored in the data storage part.

符号の説明Explanation of symbols

1 光源、3 縮小投影レンズ、11 第1BMU(ビームマッチングユニット)、11a〜11c 小型ミラー、12 第2BMU、13 第3BMU、14 第4BMU、15 ダイクロックミラー、21 第1フライアイレンズ、21a〜21d レンズ体、22 第2フライアイレンズ、31 第1リレーレンズ、32 第2リレーレンズ、41 ステージ、43 受光センサ、50 露光装置本体、60 制御部、70 データ格納部、100 露光装置、110 大型ミラー、112 ガイド、114 アーム   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light source, 3 Reduction projection lens, 11 1st BMU (beam matching unit), 11a-11c Small mirror, 12 2nd BMU, 13 3rd BMU, 14 4th BMU, 15 Dichroic mirror, 21 1st fly eye lens, 21a-21d Lens body, 22 Second fly-eye lens, 31 First relay lens, 32 Second relay lens, 41 Stage, 43 Light receiving sensor, 50 Exposure apparatus body, 60 Control section, 70 Data storage section, 100 Exposure apparatus, 110 Large mirror , 112 guides, 114 arms

Claims (5)

光源からの光を複数種類の光学部品を介してマスクに照射し、当該マスクに形成されたパターンの像をステージ方向に投影する露光装置であって、
前記複数種類の光学部品のうちの少なくとも一つは、
前記光の光路と重なる所定位置に配置される一の部品と、
前記一の部品と同じ機能を持ち、前記光路から外れた位置で待機する予備用の他の部品とを有し、
前記一の部品が前記光路から外れた位置へ移動し、前記他の部品が前記所定位置へ移動することによって、前記一の部品と前記他の部品との入替えが可能となっていることを特徴とする露光装置。
An exposure apparatus that irradiates a mask with light from a light source via a plurality of types of optical components and projects an image of a pattern formed on the mask in a stage direction,
At least one of the plurality of types of optical components is:
One component arranged at a predetermined position overlapping the optical path of the light;
Having the same function as the one part, and having other spare parts for standby at a position off the optical path,
The one part is moved to a position off the optical path, and the other part is moved to the predetermined position, whereby the one part can be replaced with the other part. An exposure apparatus.
前記一の部品と前記他の部品との入替えは、スライド移動方式又はレボルバ回転方式で行われることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。   2. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the replacement of the one component with the other component is performed by a slide movement method or a revolver rotation method. 前記複数種類の光学部品にはレンズ系光学部品とミラー系光学部品とが含まれ、
前記レンズ系光学部品は、
前記光の光路と重なる第1の所定位置に配置された一のレンズと、
前記一のレンズと同じ機能を持ち、前記光路から外れた位置で待機する予備用の他のレンズとを有し、一方、
前記ミラー系光学部品は、
前記光の光路と重なる第2の所定位置に配置された一のミラーと、
前記一のミラーと同じ機能を持ち、前記光路から外れた位置で待機する予備用の他のミラーとを有し、
前記一のレンズが前記光路から外れた位置へ移動し、前記他のレンズが前記第1の所定位置へ移動することによって、前記一のレンズと前記他のレンズとの入替えが可能で、且つ、
前記一のミラーが前記光路から外れた位置へ移動し、前記他のミラーが前記第2の所定位置へ移動することによって、前記一のミラーと前記他のミラーとの入替えが可能となっていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の露光装置。
The plurality of types of optical components include lens optical components and mirror optical components,
The lens system optical component is:
One lens disposed at a first predetermined position overlapping the optical path of the light;
Having the same function as the one lens, and having another lens for standby waiting at a position off the optical path,
The mirror optical component is
A mirror disposed at a second predetermined position overlapping the optical path of the light;
Having the same function as the one mirror, and having another spare mirror that stands by at a position off the optical path,
The one lens is moved to a position off the optical path, and the other lens is moved to the first predetermined position, whereby the one lens and the other lens can be interchanged, and
The one mirror is moved to a position off the optical path, and the other mirror is moved to the second predetermined position, whereby the one mirror and the other mirror can be switched. The exposure apparatus according to claim 1 or 2, wherein
前記レンズ系光学部品と前記ミラー系光学部品とを介して前記ステージに到達する前記光の強度を測定する測定手段と、
前記測定手段によって測定される前記光の強度が最適となるような前記レンズと前記ミラーとの組み合わせを探索する探索手段と、
任意のタイミングで、前記一のレンズと前記他のレンズとの入替え、又は、前記一のミラーと前記他のミラーとの入替えの少なくとも一方を行って、前記探索手段によって探し当てられた前記レンズと前記ミラーとの組合せを実現する部品制御手段と、を備えたことを特徴とする請求項3に記載の露光装置。
Measuring means for measuring the intensity of the light reaching the stage via the lens system optical component and the mirror system optical component;
Search means for searching for a combination of the lens and the mirror so that the intensity of the light measured by the measurement means is optimal;
At any time, the one lens and the other lens are replaced or at least one of the one mirror and the other mirror is replaced, and the lens found by the searching means and the lens The exposure apparatus according to claim 3, further comprising a component control unit that realizes a combination with a mirror.
前記一のレンズ及び前記他のレンズ、前記一のミラー及び前記他のミラーの各々における光の減衰率を調査する調査手段と、
前記調査手段によって得られた調査結果を格納する格納手段とを備え、
前記探索手段は、
前記測定手段によって測定される前記光の強度が最適となるような前記レンズと前記ミラーとの組み合わせを、前記格納手段に格納された前記調査結果に基づいて探索する、ことを特徴とする請求項4に記載の露光装置。
Investigation means for investigating light attenuation rates in each of the one lens and the other lens, the one mirror, and the other mirror;
Storage means for storing the investigation result obtained by the investigation means,
The search means includes
The combination of the lens and the mirror that optimizes the light intensity measured by the measuring unit is searched based on the investigation result stored in the storage unit. 4. The exposure apparatus according to 4.
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