JP2007072550A - Memory card - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、情報を記憶する半導体メモリチップを備えたメモリカードに関する。 The present invention relates to a memory card having a semiconductor memory chip for storing information.
近年、デジタルビデオカメラ、携帯電話、携帯音楽プレーヤなどのデジタル機器用データ記憶媒体として、半導体メモリチップを備えたメモリカードが広く使用されている。 In recent years, memory cards equipped with semiconductor memory chips have been widely used as data storage media for digital devices such as digital video cameras, mobile phones, and portable music players.
従来のメモリカードは、基板上にNANDメモリチップとチップコンデンサを備え、当該メモリカードの電源/グランド端子がNANDメモリの電源(Vcc)とグランド(GND)に接続されおり、これにチップコンデンサが並列接続されている。当該チップコンデンサは、電源のノイズなどによる電圧変動をコンデンサの充放電で低減させてメモリカードの誤動作を防ぐものである。 A conventional memory card includes a NAND memory chip and a chip capacitor on a substrate, and a power / ground terminal of the memory card is connected to a power (Vcc) and a ground (GND) of the NAND memory, and a chip capacitor is parallel to this. It is connected. The chip capacitor prevents a memory card from malfunctioning by reducing voltage fluctuation due to power source noise or the like by charging and discharging the capacitor.
チップコンデンサの搭載は、半田ペースト印刷を行い、当該チップコンデンサを基板にマウントするとともにリフロー装置により半田ペーストを溶融させて、基板のフットパターンのCu表面と当該チップコンデンサの電極とを合金形成接続させることにより実施される。 For mounting the chip capacitor, solder paste printing is performed, the chip capacitor is mounted on the substrate and the solder paste is melted by a reflow device, and the Cu surface of the foot pattern of the substrate and the electrode of the chip capacitor are formed and connected. Is implemented.
NANDメモリカードについては製品コスト低減要求が強く、使用部品のコストを下げるため、NANDメモリ、コントローラがパッケージ組み立て品ではなくチップ単体状態で作られる。NANDおよびコントローラと基板配線との接続はパッケージ外部端子による半田接続ではなくチップのボンデイング用パッドと基板配線とを金線などによるワイヤボンディングで接続されている。 For NAND memory cards, there is a strong demand for product cost reduction, and in order to reduce the cost of parts used, NAND memories and controllers are manufactured in a single chip state rather than a package assembly. The connection between the NAND and the controller and the substrate wiring is not the solder connection by the package external terminal but the bonding pad of the chip and the substrate wiring by wire bonding using a gold wire or the like.
しかし、上記従来技術では、既述のNANDメモリとコントローラのベアチップ実装の場合、チップコンデンサの実装の際、リフローの熱影響で基板が反り、これが原因でNANDメモリとコントローラのチップのマウントで基板が反っているため、マウントの密着性が低下し、さらに、ボンデイング性に影響を及ぼすという問題があった。 However, in the above-described prior art, in the case of mounting the bare memory chip of the NAND memory and the controller described above, the board is warped by the thermal effect of reflow when the chip capacitor is mounted, which causes the board to be mounted by mounting the NAND memory and the controller chip. Since it is warped, there is a problem that the adhesion of the mount is lowered and the bonding property is further affected.
また、製造コストを低減するためにキャパシタを基板に形成する技術として、電磁誘導や電波によりICカード読み取り機と通信する共振回路を備えたICカードがある。このICカードの共振回路は、インダクタンスとキャパシタンスの組み合わせによるLC共振回路である。(例えば、特許文献1参照。)。 Further, as a technique for forming a capacitor on a substrate in order to reduce manufacturing costs, there is an IC card including a resonance circuit that communicates with an IC card reader by electromagnetic induction or radio waves. The resonant circuit of this IC card is an LC resonant circuit with a combination of inductance and capacitance. (For example, refer to Patent Document 1).
しかし、上記従来技術では、ICカードが通信するためにキャパシタを構成する共振回路はアンテナ効果を有し、電源を供給するものではないため、メモリカードの電源供給用のキャパシタに単純に適用することができず、メモリカードの製造コストを低減することができなかった。
本発明は、上記課題を解決するものであり、製造コストが安価な半導体メモリチップの実装工程におけるメモリカードの基板の反りを防止して、半導体メモリチップのマウントの密着性やボンデイング性への悪影響を低減しつつ、製造コストを削減することが可能なメモリカードを提供することを目的とする。 The present invention solves the above-mentioned problems, and prevents the warp of the substrate of the memory card in the mounting process of the semiconductor memory chip, which is inexpensive to manufacture, and adversely affects the adhesion and bonding properties of the semiconductor memory chip mount. An object of the present invention is to provide a memory card that can reduce the manufacturing cost while reducing the cost.
本発明に係るメモリカードは、第1の電圧が印加される第1の端子、第2の電圧が印加される第2の端子が形成された基板と、
前記基板上に設けられたパッドとワイヤボンディングにより接続されるとともに、前記第1の端子および前記第2の端子に電気的に接続された半導体メモリチップと、
前記第1の端子と前記第2の端子との間に前記半導体メモリチップと並列に接続されるように前記基板上に形成され、前記半導体メモリチップに電力を供給するための配線キャパシタと、を備え、
前記配線キャパシタは、前記基板上に形成され前記第1の端子に接続された第1の配線と、前記基板上に形成され前記第2の端子に接続された第2の配線と、前記第1の配線と前記第2の配線との間に設けられた絶縁体と、を有する
ことを特徴とする。
A memory card according to the present invention includes a substrate on which a first terminal to which a first voltage is applied, a second terminal to which a second voltage is applied, and
A semiconductor memory chip connected to the pads provided on the substrate by wire bonding and electrically connected to the first terminal and the second terminal;
A wiring capacitor formed on the substrate so as to be connected in parallel with the semiconductor memory chip between the first terminal and the second terminal, and for supplying power to the semiconductor memory chip; Prepared,
The wiring capacitor includes a first wiring formed on the substrate and connected to the first terminal, a second wiring formed on the substrate and connected to the second terminal, and the first wiring And an insulator provided between the second wiring and the second wiring.
本発明の一態様に係るメモリカードによれば、半導体メモリチップのマウントの密着性やボンデイング性への影響を低減しつつ、製造コストの削減を図ることができる。 According to the memory card of one embodiment of the present invention, it is possible to reduce the manufacturing cost while reducing the influence on the mount adhesion and bonding property of the semiconductor memory chip.
本発明においては、例えば、製造コストが安価な半導体メモリチップを採用するとともに、予め基板に配線キャパシタを形成して、当該半導体メモリチップの実装工程におけるメモリカードの基板の反りを防止して、半導体メモリチップのマウントの密着性やボンデイング性への影響を低減しつつ、メモリカードの製造コストを削減するものである。 In the present invention, for example, a semiconductor memory chip whose manufacturing cost is low is adopted, and a wiring capacitor is formed on the substrate in advance to prevent warping of the substrate of the memory card in the mounting process of the semiconductor memory chip. This is to reduce the manufacturing cost of the memory card while reducing the influence on the adhesion and bonding properties of the memory chip mount.
なお、以下の各実施例においては、電源電圧(Vcc)を第1の電圧、電源端子を第1の端子とし、グランド電圧(GND)を第2の電圧、グランド端子を第2の端子として説明するが、第1の電圧をグランド電圧(GND)、第1の端子をグランド端子とし、第2の電圧を電源電圧(Vcc)、第2の端子を電源端子としてもよい。 In the following embodiments, the power supply voltage (Vcc) is the first voltage, the power supply terminal is the first terminal, the ground voltage (GND) is the second voltage, and the ground terminal is the second terminal. However, the first voltage may be the ground voltage (GND), the first terminal may be the ground terminal, the second voltage may be the power supply voltage (Vcc), and the second terminal may be the power supply terminal.
以下、本発明を適用した各実施例について図面を参照しながら説明する。 Embodiments to which the present invention is applied will be described below with reference to the drawings.
図1は、本発明の実施例1に係るメモリカードの要部の構成を示す平面図である。また、図2および図3は、本発明の実施例1に係る配線キャパシタの要部の構成の一例を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a configuration of a main part of a memory card according to
図1に示すように、メモリカード100は、第1の電圧(電源電圧Vcc)が印加される第1の端子(電源端子)1、第2の電圧(グランド電圧GND)が印加される第2の端子(グランド端子)2が形成された基板3と、この基板3上に設けられたパッド4とワイヤボンディングによりボンディングワイヤ5で接続されるとともに、電源端子1およびグランド端子2に電気的に接続された半導体メモリチップであるNANDメモリチップ6と、電源端子1とグランド端子2との間にNANDメモリチップ6と並列に接続されるように基板3上に形成され、NANDメモリチップ6に電力を供給するための配線キャパシタ7と、基板1上のパッド4とワイヤボンディングによりボンディングワイヤ5で接続されるとともに、配線キャパシタ7から電源が供給されるように電源端子1とグランド端子2との間に配線キャパシタ7と並列に接続され、NANDメモリチップ6を制御するコントローラチップ8と、を備えている。
As shown in FIG. 1, the
電源端子1およびグランド端子2は、パッド4や他の素子に接続された例えば銅等の導体からなる配線と接続されており、表面にはニッケル、金の2層メッキが施されている。図示しない外部装置のコネクタ部にメモリカード100が接続された際に、これらの電源端子1およびグランド端子2を介して、NANDメモリチップ6、配線キャパシタ7、およびコントローラチップ8に所定の電力が供給される。
The
基板3は、絶縁性のプリプレグ(ガラスエポキシ樹脂)により構成されており、表面には絶縁体であるソルダレジストが成膜されている。なお、パッド4等の素子が接続される部分はソルダレジストが除去されている。
The substrate 3 is made of an insulating prepreg (glass epoxy resin), and a solder resist that is an insulator is formed on the surface thereof. It should be noted that the solder resist is removed from the portion where the element such as the
基板3のNANDメモリチップ6等の素子搭載側の配線は、基板3を貫通するスルーホール(図示せず)によって、反対側の配線に接続されている。
The wiring on the element mounting side such as the
配線キャパシタ7は、例えば、電源のノイズなどにより電圧が変動して電源端子1、グランド端子2からの所望の電力供給が実施されない場合に、充放電し、NANDメモリチップ6、コントローラチップ8への安定した電力供給を維持しメモリカード100の誤動作を防ぐものである。
The
ここで、図2に示すように、配線キャパシタ7は、基板3上に形成され電源端子1に接続された第1の配線である電源側配線10と、基板3上に形成されグランド端子2に接続された第2の配線であるグランド側配線11と、電源側配線10とグランド側配線11との間に設けられた絶縁体であるソルダレジスト12と、を有する。このように、配線キャパシタ7は、相対する電源側配線10とグランド側配線11に間に生じる電気容量を利用しコンデンサとしての機能を有する。また、電源側配線10およびグランド側配線11は、櫛歯状に形成されており、少ない配線面積でより大きな容量を得ることができるようになっている。
Here, as shown in FIG. 2, the
また、配線キャパシタは、図3に示すように、図2の配線キャパシタ7のパターンを1ブロックパターンとし、これを2個形成して配線キャパシタ7aのようにパターン化してもよい。これにより、電源側配線10、グランド側配線11の配線長さを長くすることなく、配線キャパシタ7の配線面積を大きくできるので、電力供給に影響し得るアンテナ効果を抑制しつつ配線キャパシタの容量を増加することができる。
In addition, as shown in FIG. 3, the wiring capacitor may be formed into a pattern like the
ここで、図4は、図2の配線キャパシタが基板の片面側にのみ形成されたA−A線に沿ったメモリカード100の要部の断面図である。
Here, FIG. 4 is a cross-sectional view of the main part of the
図4に示すように、基板3上に電源側配線10とグランド側配線11がソルダレジスト12を介して交互に形成されている。また、基板3の反対側には、所定の信号を伝送するための信号配線9が形成されている。
As shown in FIG. 4, the power
一方、図5は、図2の配線キャパシタが基板の両面に形成された場合のA−A線に沿ったメモリカード100の要部の断面図である。
On the other hand, FIG. 5 is a cross-sectional view of the main part of the
図5に示すように、電源側配線10が形成された基板3の反対側にはグランド側配線11が形成されている。これにより、絶縁性の基板3の上面側の電源側配線10と下面側のグランド側配線11によりキャパシタが構成され、さらに配線キャパシタ7aの容量が増加することとなる。なお、図4に記載された信号配線9は、基板3の他の領域に形成されているため、図5では図示されていない。
As shown in FIG. 5, a ground-
図6は、図1のメモリカードのカバーケースを装着した状態を示す外観図である。図6に示すように、メモリカード100は、基板3にNANDメモリチップ6、配線キャパシタ7およびコントローラチップ8が搭載された後、カバーケース13が装着される。
6 is an external view showing a state in which the cover case of the memory card of FIG. 1 is mounted. As shown in FIG. 6, in the
既述のように、NANDメモリチップ6およびコントローラチップ8は、パッド4とワイヤボンディングによって接続されているとともに、電力供給のための配線キャパシタ7は、基板3に他の配線とともに形成されている。したがって、電力供給するコンデンサを実装するためにリフローする必要がなく、基板3の反りを防止して、マウントの密着性の低下や、ボンデイング性への影響を低減することができる。さらに、配線キャパシタ7は基板3に他の配線とともに形成されるため、別途チップコンデンサを実装する必要が無く、結果として製造コストが削減される。
As described above, the
ここで、既述のようなメモリカードの配線キャパシタの容量について検討する。ここでは簡単のため、モデルとして平行平板モデルを採用して検討する。このモデルは、導体Aと導体Bが接している面積S、導体間の距離L、により定義され、配線キャパシタの容量Cは、C=S/L×ε×ε0となる。ここで、εは、導体間中の比誘電率であり、ε0は、真空中誘電率(8.854×10-12F/m)である。 Here, the capacity of the wiring capacitor of the memory card as described above will be considered. Here, for the sake of simplicity, a parallel plate model is adopted as a model for examination. This model is defined by the area S where the conductor A and the conductor B are in contact and the distance L between the conductors, and the capacitance C of the wiring capacitor is C = S / L × ε × ε0. Here, ε is a relative dielectric constant between conductors, and ε0 is a dielectric constant in vacuum (8.854 × 10 −12 F / m).
上記モデルに対応する面積Sは、それぞれの配線の厚さと配線の長さの積である。また、導体間の距離Lは、電源側配線とグランド側配線の間の距離になる。なお、比誘電率εは、ソルダレジストの物性値になる。 The area S corresponding to the model is a product of the thickness of each wiring and the length of the wiring. The distance L between the conductors is the distance between the power supply side wiring and the ground side wiring. The relative dielectric constant ε is a physical property value of the solder resist.
基板の片面側にのみに配線キヤパシタが形成されたモデルでは、例えば、導体間の距離Lを25μm、配線の厚さを25μm、配線の長さを10mm、比誘電率εを5とした場合のキャパシタの容量Cは次式のように求められる。すなわち、容量C=10mm×25μm/25μm×5×8.854×10-12F/m=442.7×10-12F=44.2pFとなる。 In the model in which the wiring capacitor is formed only on one side of the substrate, for example, the distance L between conductors is 25 μm, the wiring thickness is 25 μm, the wiring length is 10 mm, and the relative dielectric constant ε is 5. The capacitance C of the capacitor is obtained as follows. That is, the capacity C = 10 mm × 25 μm / 25 μm × 5 × 8.854 × 10 −12 F / m = 442.7 × 10 −12 F = 44.2 pF.
一方、両面基板配線キヤパシタの場合は、表面側と同等のパターン面積が得られれば裏面側の容量が加算されるとともに、表面側の配線と裏面側の配線の接する部分の容量がさらに加算されることとなる。 On the other hand, in the case of a double-sided board wiring capacitor, if a pattern area equivalent to that on the front surface side is obtained, the capacitance on the back surface side is added, and the capacitance at the portion where the wiring on the front surface side and the wiring on the back surface side are further added. It will be.
次に、NANDメモリに供給される電力の電圧降下をキャパシタにより抑制することができる時間について、上記モデルを用いて例示的に検討する。 Next, the time when the voltage drop of the power supplied to the NAND memory can be suppressed by the capacitor will be exemplarily examined using the above model.
一般的に、キャパシタCは電荷Qを印加される電圧Vで割ることにより求められ、また電荷Qは電流I(ここでは一定とする)とこの電流Iが流れている時間tとの積で求められる。すなわち、キャパシタC=Q÷V=(I×t)÷Vの関係が成立する。これより、時間tについて、t=(C×V)÷Iの関係が導出される。 Generally, the capacitor C is obtained by dividing the charge Q by the applied voltage V, and the charge Q is obtained by the product of the current I (constant here) and the time t during which the current I flows. It is done. That is, the relationship of capacitor C = Q ÷ V = (I × t) ÷ V is established. From this, for the time t, the relationship t = (C × V) ÷ I is derived.
ここで、メモリカードの電源電圧が3vから2.9vまで変動(0.1V降下)するとし、また変動時の電流Iは、10mAと仮定する。また、カードに内蔵さているキャパシタの容量Cには、上述の計算により求められた44.2pFを用いる。この場合、時間tは、以下のように求められる。すなわち、時間t=(C×V)÷I=(44.2pF×0.1v)÷10mA=4.42nSとなる。 Here, it is assumed that the power supply voltage of the memory card fluctuates from 3v to 2.9v (0.1V drop), and the current I at the time of fluctuation is 10 mA. Further, 44.2 pF obtained by the above calculation is used as the capacitance C of the capacitor built in the card. In this case, the time t is obtained as follows. That is, time t = (C × V) ÷ I = (44.2 pF × 0.1 v) ÷ 10 mA = 4.42 nS.
したがって、当該モデルの場合、4.42nSの間、NANDメモリに供給される電力の電圧降下を抑制することができる。 Therefore, in the case of this model, the voltage drop of the power supplied to the NAND memory can be suppressed for 4.42 nS.
以上のように、本実施例に係るメモリカードによれば、NANDメモリチップ、コントローラチップの実装工程におけるメモリカードの基板の反りを防止して、NANDメモリチップ、コントローラチップのマウントの密着性やボンデイング性への影響を低減しつつ、メモリカードの製造コストを削減することができる。 As described above, according to the memory card of this embodiment, the warp of the memory card substrate in the mounting process of the NAND memory chip and the controller chip can be prevented, and the adhesion and bonding of the NAND memory chip and the controller chip can be bonded. The manufacturing cost of the memory card can be reduced while reducing the influence on the performance.
実施例1では、メモリカードの配線キャパシタが櫛歯状に形成された構成について述べたが、本実施例では、メモリカードの配線キャパシタが渦巻状に形成された構成について述べる。 In the first embodiment, the configuration in which the wiring capacitor of the memory card is formed in a comb shape is described, but in this embodiment, the configuration in which the wiring capacitor of the memory card is formed in a spiral shape is described.
図7は、本発明の実施例2に係るメモリカードの配線キャパシタの一例を示す平面図である。また、図8は、本発明の実施例2に係るメモリカードの配線キャパシタの他の例を示す平面図である。なお、図中、実施例1と同じ符号は、実施例1と同様の構成を示している。
FIG. 7 is a plan view showing an example of a wiring capacitor of a memory card according to
図7に示すように、配線キャパシタ7bは、基板上に渦巻状に形成され電源端子に接続された電源側配線10bと、基板上に形成されグランド端子に接続されたグランド側配線11bと、電源側配線10bとグランド側配線11bとの間に設けられた絶縁体であるソルダレジスト12と、を有する。
As shown in FIG. 7, the
このように、配線キャパシタ7bは、相対する電源側配線10bとグランド側配線11bに間に生じる電気容量を利用し、コンデンサとしての機能を有する。そして、電源側配線10bおよびグランド側配線11bは、渦巻状に形成されているため、より少ない配線面積でより大きな容量を得ることができるようになっている。
In this way, the
また、配線キャパシタは、図8に示すように、図7の配線キャパシタ7bのパターンを1ブロックパターンとし、これを2個形成して配線キャパシタ7cのようにパターン化してもよい。これにより、電源側配線10b、グランド側配線11bの配線長さを長くすることなく、配線キャパシタ7bの配線面積を大きくできるので、電力供給に影響し得るアンテナ効果を抑制しつつ配線キャパシタの容量を増加することができる。
In addition, as shown in FIG. 8, the wiring capacitor may be patterned as a
以上のように、本実施例に係るメモリカードによれば、NANDメモリチップ、コントローラチップの実装工程におけるメモリカードの基板の反りを防止して、NANDメモリチップ、コントローラチップのマウントの密着性やボンデイング性への影響を低減しつつ、メモリカードの製造コストを削減することができる。 As described above, according to the memory card of this embodiment, the warp of the memory card substrate in the mounting process of the NAND memory chip and the controller chip can be prevented, and the adhesion and bonding of the NAND memory chip and the controller chip can be bonded. The manufacturing cost of the memory card can be reduced while reducing the influence on the performance.
既述の実施例1および実施例2では、メモリカードの配線キャパシタが一端部のみが電源端子、グランド端子に接続された構成について述べたが、本実施例では、配線キャパシタのアンテナ効果を低減するために、さらに、配線キャパシタの他端部等が電源端子、グランド端子に接続された構成について述べる。 In the foregoing first and second embodiments, the configuration in which the wiring capacitor of the memory card has only one end connected to the power supply terminal and the ground terminal has been described. However, in this embodiment, the antenna effect of the wiring capacitor is reduced. Therefore, a configuration in which the other end portion of the wiring capacitor is connected to the power supply terminal and the ground terminal will be described.
図9は、本発明の実施例3に係るメモリカードの配線キャパシタの一例を示す平面図である。また、図10は、本発明の実施例2に係るメモリカードの配線キャパシタの他の例を示す平面図である。なお、図中、実施例1と同じ符号は、実施例1および2と同様の構成を示している。 FIG. 9 is a plan view showing an example of a wiring capacitor of a memory card according to Embodiment 3 of the present invention. FIG. 10 is a plan view showing another example of the wiring capacitor of the memory card according to the second embodiment of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in the first embodiment indicate the same configurations as those in the first and second embodiments.
図9に示すように、配線キャパシタ7dは、図3に示す櫛歯状の配線キャパシタ7aと同様の配線構造を有しているが、電源側配線10の分岐部14、他端部15bが、基板3の反対側とスルーホール接続部16で基板3に形成されたスルーホールを経由して電源端子1に電気的にされている。すなわち、電源側配線10が、一端部15aが電源端子1に接続されるとともに、さらに当該電源側配線10の一端部15aから他端部15bまでのいずれかの部分で電源端子1に接続されているものである。
As shown in FIG. 9, the
同様に、配線キャパシタ7dは、グランド側配線11の分岐部17、他端部18bが、基板3の反対側とスルーホール接続部19で基板3に形成されたスルーホールを経由してグランド端子2に電気的にされている。すなわち、グランド側配線11が、一端部18aがグランド端子2に接続されるとともに、さらに当該グランド側配線11の一端部18aから他端部18bまでのいずれかの部分でグランド端子2に接続されているものである。
Similarly, in the
ここで、配線キャパシタに入力されるノイズの周波数は、当該配線キャパシタの配線の長さに比例する。また、アンテナ効果で配線キャパシタに入力される高周波のノイズは、低周波のノイズに比べて少ない。 Here, the frequency of noise input to the wiring capacitor is proportional to the length of the wiring of the wiring capacitor. Also, the high frequency noise input to the wiring capacitor due to the antenna effect is less than the low frequency noise.
そこで、上記構成のように2カ所以上で電源端子またはグランド端子と接続して、配線(電源側配線、グランド側配線)のアンテナとなる部分の長さを短くすることにより、配線キャパシタにおける低周波のノイズの影響が低減され、NANDメモリチップおよびコントローラチップにより安定した電力の供給が可能になる。 Therefore, by connecting to the power supply terminal or the ground terminal at two or more places as described above, the length of the portion of the wiring (power supply side wiring, ground side wiring) serving as an antenna is shortened, thereby reducing the low frequency in the wiring capacitor. Therefore, the NAND memory chip and the controller chip can stably supply power.
また、例えば、図8に示す渦巻状の配線キャパシタ7c同様の配線構造について、図10に示す配線キャパシタ7eのように、スルーホール接続し、アンテナ効果を低減するようにしてもよい。
Further, for example, a wiring structure similar to the
なお、本実施例においては、配線キャパシタがスルーホールを介して配線された場合について説明したが、基板の同一面内で配線キャパシタと電源端子、グランド端子が配線されるようにしてもよい。 In this embodiment, the case where the wiring capacitor is wired through the through hole has been described. However, the wiring capacitor, the power supply terminal, and the ground terminal may be wired in the same plane of the substrate.
また、本実施例においては、電源側配線およびグランド側配線が他端部等で電源端子、グランド端子に接続された場合について説明したが、電源側配線またはグランド側配線のいずれか一方のみが他端部等で電源端子、グランド端子に接続されるようにしてもよい。 In the present embodiment, the case where the power supply side wiring and the ground side wiring are connected to the power supply terminal and the ground terminal at the other end, etc. has been described, but only one of the power supply side wiring or the ground side wiring is the other. You may make it connect with a power supply terminal and a ground terminal by an edge part.
以上のように、本実施例に係るメモリカードによれば、配線キャパシタから供給する電力に対するノイズの影響を低減し、NANDメモリチップおよびコントローラチップにより安定して電力を供給することができる。 As described above, according to the memory card of the present embodiment, the influence of noise on the power supplied from the wiring capacitor can be reduced, and the power can be supplied stably by the NAND memory chip and the controller chip.
1 電源端子
2 グランド端子
3 基板
4 パッド
5 ボンディングワイヤ
6 NANDメモリチップ
7、7a、7b、7c、7d、7e 配線キャパシタ
8 コントローラチップ
9 信号配線
10 電源側配線
11 グランド側配線
12 ソルダレジスト
13 カバーケース
14 分岐部
15a 電源側配線の一端部
15b 電源側配線の他端部
16 スルーホール接続部
17 分岐部
18a グランド側配線の一端部
18b グランド側配線の他端部
19 スルーホール接続部
100 メモリカード
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記基板上に設けられたパッドとワイヤボンディングにより接続されるとともに、前記第1の端子および前記第2の端子に電気的に接続された半導体メモリチップと、
前記第1の端子と前記第2の端子との間に前記半導体メモリチップと並列に接続されるように前記基板上に形成され、前記半導体メモリチップに電力を供給するための配線キャパシタと、を備え、
前記配線キャパシタは、前記基板上に形成され前記第1の端子に接続された第1の配線と、前記基板上に形成され前記第2の端子に接続された第2の配線と、前記第1の配線と前記第2の配線との間に設けられた絶縁体と、を有する
ことを特徴とするメモリカード。 A substrate on which a first terminal to which a first voltage is applied, a second terminal to which a second voltage is applied, is formed;
A semiconductor memory chip connected to the pads provided on the substrate by wire bonding and electrically connected to the first terminal and the second terminal;
A wiring capacitor formed on the substrate so as to be connected in parallel with the semiconductor memory chip between the first terminal and the second terminal, and for supplying power to the semiconductor memory chip; Prepared,
The wiring capacitor includes a first wiring formed on the substrate and connected to the first terminal, a second wiring formed on the substrate and connected to the second terminal, and the first wiring And an insulator provided between the second wiring and the second wiring.
ことを特徴とする請求項1に記載のメモリカード。 The semiconductor memory chip is connected in parallel with the wiring capacitor between the first terminal and the second terminal so as to be connected to the pad by wire bonding and to be supplied with power from the wiring capacitor. The memory card according to claim 1, further comprising a controller chip that controls the memory card.
ことを特徴とする請求項1または2に記載のメモリカード。 One end of the first wiring is connected to the first terminal, and further, the first wiring is connected to the first terminal at any part from one end to the other end of the first wiring. The memory card according to claim 1 or 2, wherein:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005256003A JP2007072550A (en) | 2005-09-05 | 2005-09-05 | Memory card |
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JP2007072550A true JP2007072550A (en) | 2007-03-22 |
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ID=37933964
Family Applications (1)
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2005
- 2005-09-05 JP JP2005256003A patent/JP2007072550A/en active Pending
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