JP2006330827A - Electronic controller and data storage method for electronic control equipment - Google Patents

Electronic controller and data storage method for electronic control equipment Download PDF

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茂 松本
Koichi Ogaki
耕一 大垣
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic controller for performing self-diagnosis according to data stored in an SRAM when the abnormal status of electronic control equipment is detected by a sensor in a moving object and the data storage method of the electronic control equipment, and to suppress the increase of the processing load of the CUP of a computer or the like even when the items of data stored in an SRAM or the like are increased when the abnormal status is detected. <P>SOLUTION: This electronic controller is provided with a first data storage means 3 for temporarily storing data to be acquired by a sensor in a moving object and a second data storing means 2 with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means with a predetermined sampling interval when the abnormal status of the electronic control equipment 9 is detected, and configured by increasing the number of data to be stored in the second data storage means to shorten the time for sampling data, or decreasing the number of data to be stored in the second storage means to lengthen the time for sampling the data. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、車両等の移動体内の複数のセンサ等により移動体内の電子制御機器の異常状態を検知した際に、予め定められたデータをSRAM(Stand-by Random Access Memory :スタンバイ・ランダム・アクセス・メモリ)等のバックアップ機能付きの主記憶装置に保存し、この主記憶装置に保存されているデータに基づいて当該電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置、および電子制御機器のデータ保存方法に関する。   In the present invention, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body is detected by a plurality of sensors in the moving body such as a vehicle, predetermined data is stored in an SRAM (Stand-by Random Access Memory). Of an electronic control device having a function of performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the main storage device with a backup function such as a memory) The present invention relates to a data storage method.

一般に、車両等の移動体内には、通常ECU(Electronic Control Unit :電子制御ユニット)とも呼ばれるコンピュータが内蔵された電子制御装置が設けられている。このような電子制御装置においては、運転者等が快適な運転を行えるようにするために、移動体内の電子制御機器(例えば、電子制御式エンジン)を正しく制御して当該電子制御機器の適切な自己診断を行う機能、すなわち、ダイアグノーシス機能が組み込まれている。   In general, a moving body such as a vehicle is provided with an electronic control device in which a computer, usually called an ECU (Electronic Control Unit), is built. In such an electronic control device, in order to enable a driver or the like to perform a comfortable driving, an electronic control device (for example, an electronically controlled engine) in the moving body is correctly controlled so that the appropriate electronic control device can be appropriately controlled. A self-diagnosis function, that is, a diagnosis function is incorporated.

このダイアグノーシス機能に関連して、車両等の移動体内には、電子制御機器の現在の状態を正確に把握することができるようにするために、A/Fセンサ(空燃比センサ)や水温センサや排気温センサ等の各種のセンサが取り付けられている。このような各種のセンサにより検出された検出信号は、A/Dコンバータ(アナログ/ディジタルコンバータ)等によりディジタル信号に変換された後に、センサ検出データとして、コンピュータ内のNRAM(Normal Random Access Memory :ノーマル・ランダム・アクセス・メモリ、通常、単にRAMと略記される))等の主記憶装置に一時的に保持される。このようなNRAM等の主記憶装置は、一般に揮発性メモリと呼ばれており、車両等の移動体のイグニッションスイッチがオンになっている期間だけ、各々のセンサ検出データが更新されるタイミングに応じた周期でセンサ検出データを保持するようになっている。それゆえに、イグニッションスイッチがオフになったときに、NRAM等に保持されているセンサ検出データは全て消失する。   In relation to the diagnosis function, an A / F sensor (air-fuel ratio sensor) or a water temperature sensor is provided in a moving body such as a vehicle so that the current state of the electronic control device can be accurately grasped. Various sensors such as an exhaust temperature sensor and the like are attached. The detection signals detected by these various sensors are converted into digital signals by an A / D converter (analog / digital converter) or the like, and then NRAM (Normal Random Access Memory: Normal in the computer) as sensor detection data. Random access memory, usually abbreviated simply as RAM)) etc. Such a main storage device such as an NRAM is generally called a volatile memory, and corresponds to the timing at which each sensor detection data is updated only during the period when the ignition switch of a moving body such as a vehicle is on. The sensor detection data is held at a predetermined cycle. Therefore, when the ignition switch is turned off, all sensor detection data held in the NRAM or the like are lost.

また一方で、移動体内の電子制御装置において、NRAM等に保持されているセンサ検出データに基づいて移動体の電子制御機器に何らかの異常が発生している(すなわち、電子制御機器が異常状態になっている)ことが検知された場合、NRAM等に保持されているセンサ検出データの中から予め定められたデータ(例えば、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後のデータ)を取り出し、コンピュータ内のSRAM等のバックアップ機能付きの主記憶装置に一定のサンプリング間隔(例えば、500msec(ミリ秒))で保存するようになっている。   On the other hand, in the electronic control device in the moving body, some abnormality has occurred in the electronic control device of the moving body based on the sensor detection data held in the NRAM or the like (that is, the electronic control device is in an abnormal state). Is detected from the sensor detection data held in the NRAM or the like (for example, data before and after the timing at which the abnormal state of the electronic control device is detected), The data is stored in a main storage device with a backup function such as SRAM in a computer at a constant sampling interval (for example, 500 msec (milliseconds)).

このようなSRAM等のバックアップ機能付きの主記憶装置は、移動体内のバッテリに接続されており、このバッテリからバックアップ用の電源電圧が常時供給されるようになっている。それゆえに、イグニッションスイッチがオフになっても、SRAM等に保存されているデータは消失しない。したがって、整備工場等において、SRAM等に保存されているデータを読み出して電子制御機器の異常発生の原因の解析に役立てることにより、当該電子制御機器の自己診断を行うことができるようになる。   Such a main storage device with a backup function such as SRAM is connected to a battery in the mobile body, and a power supply voltage for backup is always supplied from the battery. Therefore, even if the ignition switch is turned off, data stored in the SRAM or the like is not lost. Accordingly, in a maintenance shop or the like, the self-diagnosis of the electronic control device can be performed by reading the data stored in the SRAM or the like and using it for analysis of the cause of the abnormality of the electronic control device.

上記のように、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、予め定められたデータをSRAM等のバックアップ機能付きの主記憶装置に保存する処理は、通常「フリーズ」と呼ばれている。   As described above, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body is detected, the process of saving predetermined data in a main storage device with a backup function such as SRAM is usually called “freeze”. ing.

近年、電子制御装置内のコンピュータのCPU(Central Processing Unit :中央演算処理装置)等によるソフトウェア処理の高機能化および複雑化に伴って、フリーズの処理時にSRAM等の主記憶装置に保存されるべきデータの項目(データ数)が顕著に増加していく傾向になっている。   In recent years, as software processing by a CPU (Central Processing Unit) of a computer in an electronic control device becomes more sophisticated and complicated, it should be stored in a main storage device such as SRAM during freeze processing. The data items (number of data) tend to increase remarkably.

しかしながら、それにもかかわらず、従来の電子制御装置においては、電子制御機器の異常状態が検知された場合にSRAM等の主記憶装置にデータを保存する際に、一定のサンプリング間隔かつ一定のサンプリング時間で全ての項目のデータを保存するようになっている。ここで、「サンプリング間隔」とは、ある1つのサンプリングのタイミングでSRAM等にデータが保存される時刻と次のサンプリングのタイミングでSRAM等にデータが保存される時刻との間の時間間隔を指しており、「サンプリング時間」とは、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でSRAM等の主記憶装置に連続してデータを保存するための期間を指している。   However, nevertheless, in the conventional electronic control device, when data is stored in the main storage device such as SRAM when an abnormal state of the electronic control device is detected, a constant sampling interval and a constant sampling time are used. The data of all items is saved. Here, the “sampling interval” refers to a time interval between a time when data is stored in the SRAM or the like at a certain sampling timing and a time when data is stored in the SRAM or the like at the next sampling timing. The “sampling time” refers to a period for continuously storing data in a main storage device such as SRAM before and after the timing at which an abnormal state of the electronic control device is detected.

このため、従来の電子制御装置では、フリーズの処理時にSRAM等の主記憶装置に保存されるべきデータの項目が増加する度に、SRAM等の主記憶装置に実際に保存されるデータの量も増加していくことになる。それゆえに、コンピュータのCPU等により当該データを処理する際のCPUの処理負荷が急激に増大し、通常の処理速度で当該データを処理することが困難になるという問題が生じてきた。   For this reason, in the conventional electronic control device, the amount of data actually saved in the main storage device such as SRAM is increased every time the number of data items to be saved in the main storage device such as SRAM increases during the freeze processing. Will increase. Therefore, there has been a problem that the processing load of the CPU when processing the data by the CPU of the computer or the like increases rapidly, making it difficult to process the data at a normal processing speed.

また一方で、従来の電子制御装置では、データが更新されるタイミングが比較的遅い(例えば、データが更新される周期が長い)ようなセンサ検出データに関しても一定のサンプリング間隔かつ一定のサンプリング時間で保持されるようになっているので、SRAM等の主記憶装置の容量が無駄に消費されるという問題も生じてきた。この結果、電子制御機器の異常状態が検知された場合に、SRAM等の主記憶装置にデータを効率良く保存することができなくなる。   On the other hand, in the conventional electronic control device, the sensor detection data whose data update timing is relatively late (for example, the data update cycle is long) also at a constant sampling interval and a constant sampling time. Since it is held, there has been a problem that the capacity of the main storage device such as SRAM is wasted. As a result, when an abnormal state of the electronic control device is detected, data cannot be efficiently stored in the main storage device such as SRAM.

ここで、参考のため、従来の電子制御装置に関連した技術内容が記載された特許文献1(特開2004−232498号公報)および特許文献2(特開平7−46676号公報)を呈示する。   Here, for reference, Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-232498) and Patent Document 2 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-46676) in which technical contents related to a conventional electronic control device are described are presented.

特許文献1においては、各種のセンサからのセンサ検出データを含む複数種類の要保存データが、それぞれ変化する時間変化の大小を基準にグループ分けし、グループ毎に要保存データをバックアップ用のRAMに保存する際のバックアップ周期(サンプリング間隔)を設定するようにしたダイアグノーシス機能を有する車両用電子制御装置の構成が開示されている。   In Patent Document 1, a plurality of types of required storage data including sensor detection data from various sensors are grouped based on the magnitude of time change that changes, and the required storage data is stored in a backup RAM for each group. A configuration of a vehicular electronic control device having a diagnosis function in which a backup cycle (sampling interval) for saving is set is disclosed.

特許文献2においては、診断装置から選択された電子制御装置に対して送信される要求メッセージの中に、要求する診断処理の内容に合わせて、その診断継続時間を指定する診断継続時間情報を組み込むようにし、選択された電子制御装置において、上記要求メッセージを受信した後、診断継続時間情報によって指定された時間に達するまで当該診断処理を実行するような車両診断用通信システムの構成が開示されている。   In Patent Document 2, diagnosis duration information specifying the diagnosis duration is incorporated into a request message transmitted to the electronic control device selected from the diagnosis device in accordance with the content of the requested diagnosis process. Thus, in the selected electronic control device, after receiving the request message, a configuration of a communication system for vehicle diagnosis is disclosed in which the diagnosis process is executed until the time specified by the diagnosis duration information is reached. Yes.

しかしながら、特許文献1および特許文献2のいずれにおいても、フリーズの処理時にSRAM等の主記憶装置に保存されるべきデータの項目が増加する度に、SRAM等の主記憶装置に実際に保存されるデータの量も増加し、コンピュータのCPU等の処理負荷が急激に増大するといったような問題に対処するための方策には一切言及していない。   However, in both Patent Document 1 and Patent Document 2, every time the data items to be stored in the main storage device such as SRAM increase during the freeze processing, the data is actually stored in the main storage device such as SRAM. No mention is made of any measures for coping with such problems as the amount of data increases and the processing load on the CPU of the computer increases rapidly.

特開2004−232498号公報JP 2004-232498 A 特開平7−46676号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 7-46676

本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合にSRAM等の主記憶装置に保存されるべきデータの項目が顕著に増加したときでも、コンピュータのCPU等の処理負荷が増大したりSRAM等の主記憶装置の容量が無駄に消費されたりするのを抑制することを可能にするような電子制御装置、および電子制御機器のデータ保存方法を提供することを目的とするものである。   The present invention has been made in view of the above problems, and when an abnormal state of an electronic control device in a moving body such as a vehicle is detected, items of data to be stored in a main storage device such as an SRAM are conspicuous. An electronic control device and an electronic control device capable of suppressing an increase in processing load of a CPU of a computer or a waste of a capacity of a main storage device such as an SRAM even when increased It is an object to provide a data storage method.

上記問題点を解決するために、本発明の第1の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段(例えば、NRAM等の主記憶装置)と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段(例えば、SRAM等の主記憶装置)とを備え、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数(データの項目)を多くし、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするように構成される。   In order to solve the above problems, the electronic control device according to the first aspect of the present invention has a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device. When an abnormal state of the first data storage means (for example, a main storage device such as an NRAM) for temporarily holding data acquired by a plurality of attached sensors and the electronic control device is detected A second data storage means with a backup function (for example, a main storage device such as SRAM) for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval, The number of data items (data items) stored in the second data storage unit is increased, and the sampling time indicating the period for storing the data is shortened.

さらに、本発明の第2の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を少なくし、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くするように構成される。   Furthermore, the electronic control device according to the second aspect of the present invention has a function of controlling the electronic control device in the moving body to perform self-diagnosis of the electronic control device, and includes a plurality of sensors attached to the moving body. First data storage means for temporarily storing acquired data and predetermined data stored in the first data storage means when the abnormal state of the electronic control device is detected And a second data storage means with a backup function for storing at a sampling interval, and reducing the number of data stored in the second data storage means and providing a period for storing the data It is configured to increase the sampling time shown.

さらに、本発明の第3の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、上記データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、上記サンプリング時間を長くするように構成される。   Furthermore, the electronic control device according to the third aspect of the present invention has a function of controlling the electronic control device in the moving body to perform self-diagnosis of the electronic control device, and includes a plurality of sensors attached to the moving body. First data storage means for temporarily storing acquired data and predetermined data stored in the first data storage means when the abnormal state of the electronic control device is detected Second data storage means with a backup function for storing data at the sampling interval, and the data stored in the second data storage means is saved at an earlier timing. The sampling time indicating the period for performing the above is shortened, and the sampling time is increased for data whose timing of updating the data is late. Sea urchin made.

さらに、本発明の第4の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、上記電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、上記第2のデータ保存手段に上記データを保存する際の上記サンプリング間隔を変化させるように構成される。   Furthermore, the electronic control device according to the fourth aspect of the present invention has a function of controlling the electronic control device in the moving body to perform self-diagnosis of the electronic control device, and includes a plurality of sensors attached to the moving body. First data storage means for temporarily storing acquired data and predetermined data stored in the first data storage means when the abnormal state of the electronic control device is detected And a second data storage means with a backup function for storing at a sampling interval, and the second data storage means according to an abnormality cycle detected when an abnormal state of the electronic control device is detected. It is configured to change the sampling interval when storing the data.

さらに、本発明の第5の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数が固定されており、上記第2のデータ保存手段により上記データを保存する際の上記サンプリング間隔が可変に設定される。   Furthermore, the electronic control device according to the fifth aspect of the present invention has a function of controlling the electronic control device in the moving body to perform self-diagnosis of the electronic control device, and includes a plurality of sensors attached to the moving body. First data storage means for temporarily storing acquired data and predetermined data stored in the first data storage means when the abnormal state of the electronic control device is detected Second data storage means with a backup function for storing at the sampling interval, the number of data stored in the second data storage means is fixed, and the second data storage means Thus, the sampling interval for storing the data is variably set.

好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、外部検査ツールにより指定されるようになっている。   Preferably, in the electronic control device of the present invention, a sampling number indicating the number of times the data is sampled before and after the timing when the abnormal state is detected is designated by an external inspection tool.

さらに、本発明の第6の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、上記第2のデータ保存手段に上記データを保存する際に、上記データの値の最小量子化ビット(通常、LSB(Least Significant Bit )と略記される)を変化させて上記データの値が小さくなるように構成される。   Furthermore, an electronic control device according to a sixth aspect of the present invention has a function of controlling the electronic control device in the moving body to perform self-diagnosis of the electronic control device, and includes a plurality of sensors attached to the moving body. First data storage means for temporarily storing acquired data and predetermined data stored in the first data storage means when the abnormal state of the electronic control device is detected Second data storage means with a backup function for storing at the sampling interval, and when the data is stored in the second data storage means, the minimum quantization bit (usually, LSB (abbreviated as Least Significant Bit)) is changed to reduce the value of the data.

好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記データの値の最小量子化ビットが、外部検査ツールにより指定されるようになっている。   Preferably, in the electronic control device of the present invention, the minimum quantization bit of the data value is designated by an external inspection tool.

さらに、本発明の第7の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、上記第2のデータ保存手段に上記データを時系列で保存する際に、上記電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データを保存するタイミングを変化させ、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データのサンプリング間隔が相対的に小さくなるように構成される。   Furthermore, an electronic control device according to a seventh aspect of the present invention has a function of controlling the electronic control device in the moving body to perform self-diagnosis of the electronic control device, and includes a plurality of sensors attached to the moving body. First data storage means for temporarily storing acquired data and predetermined data stored in the first data storage means when the abnormal state of the electronic control device is detected And a second data storage means with a backup function for storing at a sampling interval, and when the data is stored in time series in the second data storage means, an abnormal state of the electronic control device is detected. The timing at which the data is stored is changed before and after the timing at which the data is sampled, so that the sampling interval of the data is relatively reduced before and after the timing at which the abnormal state is detected. Constructed.

ここで、「第2のデータ保存手段にデータを時系列で保存する」とは、一定の周期毎にフリーズ処理を行うことによってSRAM等の第2のデータ保存手段にデータを保存することを意味している。   Here, “save the data in the second data storage unit in time series” means that the data is stored in the second data storage unit such as SRAM by performing freeze processing at regular intervals. is doing.

好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データを保存するタイミングが、外部検査ツールにより指定されるようになっている。   Preferably, in the electronic control device of the present invention, the timing for storing the data before and after the timing when the abnormal state is detected is designated by an external inspection tool.

さらに、本発明の第8の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、上記第2のデータ保存手段に上記データを時系列で保存する際に、上記電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所で上記データのサンプリング間隔を小さくし、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所で上記データのサンプリング間隔を大きくするように構成される。   Furthermore, an electronic control device according to an eighth aspect of the present invention has a function of controlling the electronic control device in the moving body to perform self-diagnosis of the electronic control device, and includes a plurality of sensors attached to the moving body. First data storage means for temporarily storing acquired data and predetermined data stored in the first data storage means when the abnormal state of the electronic control device is detected And a second data storage means with a backup function for storing at a sampling interval, and when the data is stored in time series in the second data storage means, an abnormal state of the electronic control device is detected. The sampling interval of the data is reduced at a location close to the timing to be detected, and the sampling interval of the data is increased at a location far from the timing at which the abnormal state is detected Constructed.

好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記異常状態が検知されるタイミングに近い箇所での上記データのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での上記データのサンプリング間隔との比率が、外部検査ツールにより指定されるようになっている。   Preferably, in the electronic control device of the present invention, the data sampling interval at a location near the timing at which the abnormal state is detected, and the data sampling interval at a location far from the timing at which the abnormal state is detected Is specified by an external inspection tool.

さらに、好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、外部検査ツールにより指定されるようになっている。   Further preferably, in the electronic control device of the present invention, a sampling number indicating the number of times the data is sampled before and after the timing at which the abnormal state is detected is designated by an external inspection tool.

また一方で、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を多くし、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするようになっている。   On the other hand, the data storage method of the electronic control device according to the present invention includes a step of temporarily storing data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the first data storage unit, and an electronic device in the moving body. A step of storing predetermined data in the first data storage unit at a predetermined sampling interval by a second data storage unit having a backup function when an abnormal state of the control device is detected; And performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the second data storage means, and increasing the number of data stored in the second data storage means, The sampling time indicating the period for storing the data is shortened.

さらに、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を少なくし、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くするようになっている。   Furthermore, the data storage method of the electronic control device according to the present invention includes a step of temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the first data storage means, and an electronic control device in the moving body. When the abnormal state is detected, the second data storage means with a backup function stores the predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval; and the second data storage means And a step of performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the data storage means, reducing the number of data stored in the second data storage means, and storing the data The sampling time indicating the period for doing so is lengthened.

さらに、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、上記データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、上記サンプリング時間を長くするようになっている。   Furthermore, the data storage method of the electronic control device according to the present invention includes a step of temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the first data storage means, and an electronic control device in the moving body. When the abnormal state is detected, the second data storage means with a backup function stores the predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval; and the second data storage means A step of performing a self-diagnosis of the electronic control device based on the data stored in the data storage means, and the data stored in the second data storage means is updated at an earlier timing. The sampling time indicating the period for storing the data is shortened, and the data is updated at a later timing. With respect to the data, so as to increase the above-mentioned sampling time.

さらに、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、上記第2のデータ保存手段に上記データを保存する際の上記サンプリング間隔を変化させるようになっている。   Furthermore, the data storage method of the electronic control device according to the present invention includes a step of temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the first data storage means, and an electronic control device in the moving body. When the abnormal state is detected, the second data storage means with a backup function stores the predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval; and the second data storage means Performing a self-diagnosis of the electronic control device based on the data stored in the data storage means, and according to the abnormality cycle detected when the abnormal state of the electronic control device is detected, The sampling interval when the data is stored in the data storage means is changed.

さらに、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、上記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数が固定されており、上記第2のデータ保存手段により上記データを保存する際の上記サンプリング間隔が可変に設定されるようになっている。   Furthermore, the data storage method of the electronic control device according to the present invention includes a step of temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the first data storage means, and an electronic control device in the moving body. When the abnormal state is detected, the second data storage means with a backup function stores the predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval; and the second data storage means A step of performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the data storage means, wherein the number of data stored in the second data storage means is fixed, and The sampling interval when the data is stored by the second data storage means is variably set.

要約すれば、本発明では、第1に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをSRAM等の第2のデータ保存手段に保存する際に、当該データのデータ数(データの項目)を多くしてサンプリング時間を短くするか、または、当該データのデータ数を少なくしてサンプリング時間を長くするようにしている。   In summary, according to the present invention, first, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body such as a vehicle is detected, a predetermined data is stored in a second data storage unit such as an SRAM. The sampling time is shortened by increasing the number of data (data items) of the data, or the sampling time is lengthened by decreasing the number of data of the data.

これによって、フリーズの処理時にSRAM等の第2のデータ保存手段に保存されるべきデータの項目が顕著に増加した場合でも、SRAM等の第2のデータ保存手段に実際に保存されるデータの量を節減することができるので、コンピュータのCPU等の処理負荷の増大が抑制され、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   As a result, even when the number of data items to be stored in the second data storage unit such as SRAM is significantly increased during the freeze processing, the amount of data actually stored in the second data storage unit such as SRAM Therefore, an increase in processing load on the CPU of the computer is suppressed, and a main storage device such as SRAM can be used efficiently.

さらに、本発明では、第2に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをSRAM等の第2のデータ保存手段に保存する際に、当該データがそれぞれ更新されるタイミングが早いか遅いかに応じて、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするかまたは長くするようにしている。   Furthermore, in the present invention, secondly, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body such as a vehicle is detected, the predetermined data is stored in the second data storage means such as SRAM. Depending on whether the timing at which each data is updated is early or late, the sampling time indicating the period for storing the data is shortened or lengthened.

これによって、フリーズの処理時にSRAM等の第2のデータ保存手段に保存されるべきデータの項目が顕著に増加した場合でも、SRAM等の第2のデータ保存手段の容量が無駄に消費されることがなくなるので、コンピュータのCPU等の処理負荷の増大が抑制され、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   As a result, even when the number of data items to be stored in the second data storage unit such as the SRAM is significantly increased during the freeze processing, the capacity of the second data storage unit such as the SRAM is wasted. Therefore, an increase in processing load of the CPU of the computer is suppressed, and a main storage device such as SRAM can be used efficiently.

さらに、本発明では、第3に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをSRAM等の第2のデータ保存手段に保存する際に、電子制御機器の異常状態に関する異常の周期に応じて、SRAM等の第2のデータ保存手段に当該データを保存する際のサンプリング間隔を変化させるようにしている。   Furthermore, in the present invention, thirdly, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body such as a vehicle is detected, the electronic data is stored when the predetermined data is stored in the second data storage means such as SRAM. The sampling interval for storing the data in the second data storage means such as SRAM is changed in accordance with the abnormality cycle related to the abnormal state of the control device.

これによって、フリーズの処理時にSRAM等の第2のデータ保存手段に保存されるべきデータの項目が顕著に増加した場合でも、電子制御機器の異常の周期に応じてSRAM等の第2のデータ保存手段に実際に保存されるデータのサンプリング間隔を調整することができるので、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   As a result, even when the number of data items to be stored in the second data storage unit such as SRAM is significantly increased during the freeze processing, the second data storage such as SRAM is performed according to the abnormality cycle of the electronic control device. Since the sampling interval of data actually stored in the means can be adjusted, a main storage device such as SRAM can be used efficiently.

さらに、本発明では、第4に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをSRAM等の第2のデータ保存手段に保存する際に、当該データの項目を固定したままで、当該データを保存する際のサンプリング間隔が可変に設定されるようにしている。   Further, in the present invention, fourthly, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body such as a vehicle is detected, the predetermined data is stored in the second data storage means such as SRAM. The sampling interval when saving the data is set to be variable while the data item is fixed.

これによって、フリーズの処理時にSRAM等の第2のデータ保存手段に保存されるべきデータの項目が固定された状態で、SRAM等の第2のデータ保存手段の容量を充分に利用して当該データをSRAM等の第2のデータ保存手段に保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。   As a result, the data item to be stored in the second data storage unit such as the SRAM is fixed at the time of the freeze processing, and the data of the second data storage unit such as the SRAM is fully utilized. Can be stored in the second data storage means such as SRAM, so that it is possible to greatly contribute to the analysis of the cause of the occurrence of abnormality in the electronic control device.

さらに、本発明では、第5に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをSRAM等の第2のデータ保存手段に保存する際に、当該データの値のA/D変換(アナログ/ディジタル変換)を行う際の最小量子化ビット(LSB)を変化させて上記データの値が小さくなるようにしている。   Further, in the present invention, fifthly, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body such as a vehicle is detected, the predetermined data is stored in the second data storage means such as SRAM. The minimum quantization bit (LSB) when performing A / D conversion (analog / digital conversion) of the data value is changed so that the value of the data becomes small.

これによって、特にSRAM等の第2のデータ保存手段の容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   This makes it possible to efficiently use the main storage device such as SRAM even when the capacity of the second data storage means such as SRAM is relatively small.

さらに、本発明では、第6に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをSRAM等の第2のデータ保存手段に時系列で保存する際に、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でのみ当該データのサンプリング間隔を相対的に小さくするようにしている。   Furthermore, in the present invention, sixthly, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body such as a vehicle is detected, predetermined data is stored in a second data storage unit such as SRAM in time series. In addition, the sampling interval of the data is relatively reduced only before and after the timing when the abnormal state of the electronic control device is detected.

これによって、特にSRAM等の第2のデータ保存手段の容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   This makes it possible to efficiently use the main storage device such as SRAM even when the capacity of the second data storage means such as SRAM is relatively small.

さらに、本発明では、第7に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをSRAM等の第2のデータ保存手段に時系列で保存する際に、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所で当該データのサンプリング間隔を小さくし、上記異常状態が検知されるタイミングから遠くなるにつれて上記データのサンプリング間隔を大きくするようにしている。   Furthermore, in the present invention, seventhly, when an abnormal state of an electronic control device in a moving body such as a vehicle is detected, predetermined data is stored in a second data storage unit such as SRAM in time series. In addition, the sampling interval of the data is reduced near the timing at which the abnormal state of the electronic control device is detected, and the sampling interval of the data is increased as the distance from the timing at which the abnormal state is detected. .

これによって、特にSRAM等の第2のデータ保存手段の容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。しかも、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングから多少離れている箇所のデータもSRAM等の第2のデータ保存手段に保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。   This makes it possible to efficiently use the main storage device such as SRAM even when the capacity of the second data storage means such as SRAM is relatively small. In addition, since data at a location slightly away from the timing at which the abnormal state of the electronic control device is detected can be stored in the second data storage means such as SRAM, it is possible to analyze the cause of the occurrence of the abnormality in the electronic control device. It will be possible to greatly help.

以下、添付図面(図1〜図9)を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態を説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings (FIGS. 1 to 9).

図1は、本発明の一実施例に係る電子制御装置の構成を示すブロック図である。ただし、ここでは、電子制御式エンジン等の電子制御機器9を制御するための電子制御装置1の構成を簡略化して示す。なお、これ以降、前述した構成要素と同様のものについては、同一の参照番号を付して表すこととする。   FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an electronic control device according to an embodiment of the present invention. However, here, the configuration of the electronic control device 1 for controlling the electronic control device 9 such as an electronically controlled engine is simplified. Hereinafter, the same components as those described above are denoted by the same reference numerals.

図1に示すように、車両等の移動体には、電子制御式エンジン等の電子制御機器9の現在の状態を正確に把握して電子制御機器9に異常が発生したこと(すなわち、電子制御機器が異常状態になっていること)を検知することができるようにするために、各種のセンサを含むセンサ部5が設けられている。   As shown in FIG. 1, in a moving body such as a vehicle, an abnormality has occurred in the electronic control device 9 by accurately grasping the current state of the electronic control device 9 such as an electronically controlled engine (that is, electronic control). In order to be able to detect that the device is in an abnormal state), a sensor unit 5 including various sensors is provided.

上記の各種のセンサとして、電子制御式エンジン等の空気対燃料比を感知するA/Fセンサ50、電子制御式エンジン等に使用される水温を感知する水温センサ51、電子制御式エンジン等に使用される酸素の濃度を感知する酸素濃度センサ52、車両等のノッキングを感知するノッキングセンサ53、電子制御式エンジン等に使用されるオイルの温度を感知する油温センサ54、電子制御式エンジン等の排気温を感知する排気温センサ55、電子制御式エンジン等の吸気温を感知する吸気温センサ56、車両等のトルクを感知するトルクセンサ57、車両等のクランク角を感知するクランク角センサ58、車両等の走行速度を感知する車速センサ59、および車両等のスロットルポジションを感知するスロットルポジションセンサ60等が挙げられる。   As the above-mentioned various sensors, the A / F sensor 50 for sensing the air-to-fuel ratio of an electronically controlled engine, the water temperature sensor 51 for sensing the water temperature used for the electronically controlled engine, etc., the electronically controlled engine, etc. Such as an oxygen concentration sensor 52 for sensing the concentration of oxygen, a knocking sensor 53 for sensing knocking of a vehicle, an oil temperature sensor 54 for sensing the temperature of oil used in an electronically controlled engine, and the like An exhaust temperature sensor 55 for sensing the exhaust temperature, an intake air temperature sensor 56 for sensing the intake air temperature of an electronically controlled engine, the like, a torque sensor 57 for sensing the torque of the vehicle, etc., a crank angle sensor 58 for sensing the crank angle of the vehicle, etc. A vehicle speed sensor 59 for sensing the running speed of the vehicle, a throttle position sensor 60 for sensing the throttle position of the vehicle, etc. It is below.

図1の電子制御装置1は、電子制御式エンジン等の電子制御機器9を制御して電子制御機器9の自己診断を行う機能(すなわち、ダイアグノーシス機能)を有するCPU4と、電子制御機器9の自己診断を実行させるためのプログラムを含む各種のプログラムを格納するROM(Read-only Memory:リード・オンリ・メモリ)10と、各種のプログラムに関連したデータや各種のセンサにより取得されるセンサ検出データを一時的に保持するための主記憶装置であるRAM3と、センサ検出データ等に基づいて電子制御機器9の異常状態が検知されたときに、RAM3内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの主記憶装置であるSRAM2とを備えている。ここで、上記のRAM3は、本発明の第1の保存手段に対応しており、上記のSRAM2は、本発明の第2の保存手段に対応している。   The electronic control device 1 shown in FIG. 1 controls the electronic control device 9 such as an electronically controlled engine to perform a self-diagnosis of the electronic control device 9 (that is, a diagnosis function). ROM (Read-only Memory) 10 that stores various programs including a program for executing self-diagnosis, data related to various programs, and sensor detection data acquired by various sensors RAM3, which is a main storage device for temporarily storing data, and when an abnormal state of electronic control device 9 is detected based on sensor detection data or the like, predetermined data in RAM3 is stored at a predetermined sampling interval. And an SRAM 2 which is a main storage device with a backup function for saving the data. Here, the RAM 3 corresponds to the first storage unit of the present invention, and the SRAM 2 corresponds to the second storage unit of the present invention.

さらに、図1の電子制御装置1は、入力側の各種のセンサおよびバッテリ7とのインタフェースを取る入力インタフェース回路11と、一部のセンサ(例えば、A/Fセンサ50、水温センサ51および油温センサ54等)からのアナログ形式の検出信号をディジタル形式の検出信号に変換するA/Dコンバータ12と、出力側の電子制御機器9とのインタフェースを取る出力インタフェース回路13とを備えている。   1 includes an input interface circuit 11 that interfaces with various sensors on the input side and the battery 7, and some sensors (for example, the A / F sensor 50, the water temperature sensor 51, and the oil temperature). A / D converter 12 that converts an analog detection signal from a sensor 54 and the like into a digital detection signal, and an output interface circuit 13 that interfaces with an electronic control device 9 on the output side.

例えば、図1の電子制御装置1では、A/Fセンサ50、水温センサ51、酸素濃度センサ52、ノッキングセンサ53、油温センサ54、排気温センサ55および吸気温センサ56等の各種のセンサにより検出されたアナログ形式の検出信号が、入力インタフェース回路11を介してA/Dコンバータ12に入力され、このA/Dコンバータ12によりディジタル形式の検出信号に変換された後に、CPU4に入力される。また一方で、トルクセンサ57、クランク角センサ58、車速センサ59およびスロットルポジションセンサ60等により検出されたディジタル形式の検出信号が、入力インタフェース回路11を介してCPU4に入力される。   For example, in the electronic control unit 1 of FIG. 1, various sensors such as an A / F sensor 50, a water temperature sensor 51, an oxygen concentration sensor 52, a knocking sensor 53, an oil temperature sensor 54, an exhaust temperature sensor 55, and an intake air temperature sensor 56 are used. The detected analog detection signal is input to the A / D converter 12 via the input interface circuit 11, converted to a digital detection signal by the A / D converter 12, and then input to the CPU 4. On the other hand, digital detection signals detected by the torque sensor 57, the crank angle sensor 58, the vehicle speed sensor 59, the throttle position sensor 60, and the like are input to the CPU 4 via the input interface circuit 11.

さらに、図1の電子制御装置1は、バッテリ7を使用してCPU4およびRAM3等に一定の電圧を供給する定電圧電源70と、バッテリ7を使用してSRAM2にバックアップ用の電源電圧を供給するバックアップ電源71とを備えている。定電圧電源70は、車両等の移動体のイグニッションスイッチがオンになっている期間だけ、CPU4およびRAM3等に一定の電圧を供給している。また一方で、バックアップ電源71は、イグニッションスイッチのオン/オフに関係なく、SRAM2にバックアップ用の電源電圧を常時供給している。   1 uses a battery 7 to supply a constant voltage power supply 70 for supplying a constant voltage to the CPU 4 and RAM 3, etc., and uses the battery 7 to supply a backup power supply voltage to the SRAM 2. A backup power supply 71 is provided. The constant voltage power supply 70 supplies a constant voltage to the CPU 4 and the RAM 3 and the like only during a period when the ignition switch of a moving body such as a vehicle is on. On the other hand, the backup power supply 71 constantly supplies a power supply voltage for backup to the SRAM 2 regardless of whether the ignition switch is on or off.

さらに、図1の電子制御装置1において、CPU4に入力されたディジタル形式の検出信号は、センサ検出データとして、RAM3に一時的に保持される。前述のように、RAM3では、車両等の移動体のイグニッションスイッチがオンになっている期間だけ、各々のセンサ検出データが更新されるタイミングに応じた周期でセンサ検出データを保持するようになっている。それゆえに、イグニッションスイッチがオフになったときに、RAM3に保持されているセンサ検出データは全て消失する。このRAM3は、通常、揮発性メモリと呼ばれている。   Further, in the electronic control unit 1 of FIG. 1, the digital detection signal input to the CPU 4 is temporarily held in the RAM 3 as sensor detection data. As described above, the RAM 3 holds sensor detection data at a period corresponding to the timing at which each sensor detection data is updated only during a period when the ignition switch of a moving body such as a vehicle is on. Yes. Therefore, when the ignition switch is turned off, all sensor detection data held in the RAM 3 are lost. This RAM 3 is usually called a volatile memory.

また一方で、RAM3に保持されているセンサ検出データ等に基づいて電子制御機器9に何らかの異常が発生していることが検知された場合、RAM3に保持されているセンサ検出データの中から予め定められたデータ(例えば、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後のデータ)を取り出し、SRAM2に所定のサンプリング間隔で保存するようになっている。   On the other hand, when it is detected that an abnormality has occurred in the electronic control device 9 based on the sensor detection data or the like held in the RAM 3, the sensor detection data held in the RAM 3 is determined in advance. The obtained data (for example, data before and after the timing when the abnormal state of the electronic control device is detected) is taken out and stored in the SRAM 2 at a predetermined sampling interval.

前述のように、SRAM2では、バックアップ電源71によって、バックアップ用の電源電圧が常時供給される。それゆえに、イグニッションスイッチがオフになっても、SRAM2に保存されているデータは消失しない。したがって、SRAM等に保存されているデータを読み出して電子制御機器の異常発生の原因の解析に役立てることにより、当該電子制御機器の自己診断を行うことが可能になる。   As described above, in the SRAM 2, the backup power supply voltage is always supplied from the backup power supply 71. Therefore, even if the ignition switch is turned off, the data stored in the SRAM 2 is not lost. Therefore, it is possible to perform self-diagnosis of the electronic control device by reading the data stored in the SRAM or the like and using it for analysis of the cause of the occurrence of abnormality in the electronic control device.

好ましくは、電子制御装置1内の主記憶装置の容量の節減を図るために、図1に示すように、RAM3(揮発性メモリ)が全てSRAM2の領域に含まれるような構成になっている。また一方で、RAM3は、SRAM2の領域に対する電源の立ち上げ時(パワーオンのとき)に全てリセットされ、NRAMとして使用される。ただし、本発明の実施例に係る電子制御装置は、必ずしも上記のような構成に限定されるものではない。   Preferably, in order to save the capacity of the main storage device in the electronic control unit 1, the RAM 3 (volatile memory) is entirely included in the SRAM 2 region as shown in FIG. On the other hand, the RAM 3 is all reset when the power is turned on (when the power is turned on) for the area of the SRAM 2 and used as an NRAM. However, the electronic control device according to the embodiment of the present invention is not necessarily limited to the above configuration.

さらに、図1の電子制御装置1には、スキャンツール等の外部検査ツール8が接続されている。この外部検査ツール8によって、電子制御機器9の異常状態が検知されるタイミングの前後で予め定められたデータをサンプリングする回数を示すサンプリング数や、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で予め定められたデータを保存するタイミングが指定されるようになっている。   Further, an external inspection tool 8 such as a scan tool is connected to the electronic control device 1 of FIG. By this external inspection tool 8, a sampling number indicating the number of times of sampling predetermined data before and after the timing at which the abnormal state of the electronic control device 9 is detected, or predetermined before and after the timing at which the abnormal state is detected. The timing to save the specified data is specified.

好ましい実施形態として、図1の電子制御装置1において、フリーズ時に予め定められたデータをSRAM2に保存する場合、SRAM2に保存されるデータのデータ数(データの項目)が多いときには、当該データのデータ数を優先させ、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするようにした条件が予め設定される。このような条件は、CPU4により、ROM10に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。   As a preferred embodiment, in the electronic control unit 1 of FIG. 1, when data predetermined at the time of freezing is stored in the SRAM 2, when there are a large number of data (data items) stored in the SRAM 2, the data of the data Conditions are set in advance such that the number is prioritized and the sampling time indicating the period for storing the data is shortened. Such a condition can be set by the CPU 4 reading and executing a program stored in the ROM 10.

さらに、好ましい実施形態として、図1の電子制御装置1において、フリーズ時に予め定められたデータをSRAM2に保存する場合、SRAM2に保存されるデータのデータ数が少ないときには、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を優先させ、少ないデータ数のデータを保存するようにした条件が予め設定される。このような条件は、CPU4により、ROM10に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。   Further, as a preferred embodiment, in the electronic control device 1 of FIG. 1, when storing predetermined data at the time of freezing in the SRAM 2, when the number of data stored in the SRAM 2 is small, the data is stored. A condition is set in advance so that a sampling time indicating a period is prioritized and data having a small number of data is stored. Such a condition can be set by the CPU 4 reading and executing a program stored in the ROM 10.

さらに、好ましい実施形態として、図1の電子制御装置1において、フリーズ時に予め定められたデータをSRAM2に保存する場合、SRAM2に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータ(すなわち、データ自体の更新速度が速いデータ)に関しては、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、当該データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータ(すなわち、データ自体の更新速度が遅いデータ)に関しては、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くするようにした条件が予め設定される。このような条件は、CPU4により、ROM10に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。   Furthermore, as a preferred embodiment, in the electronic control unit 1 of FIG. 1, when data predetermined in freezing is stored in the SRAM 2, the data stored in the SRAM 2 is updated at an earlier timing (that is, the data itself). With regard to data whose update speed is fast), the sampling time indicating the period for storing the data is shortened, and data whose update timing is slow (that is, data whose update speed of the data itself is slow) Is preset in advance so as to increase the sampling time indicating the period for storing the data. Such a condition can be set by the CPU 4 reading and executing a program stored in the ROM 10.

さらに、好ましい実施形態として、図1の電子制御装置1において、フリーズ時に予め定められたデータをSRAM2に保存する場合、電子制御機器9の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、SRAM2に当該データを保存する際のサンプリング間隔を変化させるようにした条件が予め設定される。このような条件は、CPU4により、ROM10に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。   Furthermore, as a preferred embodiment, in the electronic control device 1 of FIG. 1, when storing predetermined data at the time of freezing in the SRAM 2, according to the period of abnormality detected when the abnormal state of the electronic control device 9 is detected, Conditions for changing the sampling interval when storing the data in the SRAM 2 are set in advance. Such a condition can be set by the CPU 4 reading and executing a program stored in the ROM 10.

さらに、好ましい実施形態として、図1の電子制御装置1において、フリーズ時に予め定められたデータをSRAM2に保存する場合、SRAM2に保存されるデータのデータ数を固定したままで、当該データを保存する際のサンプリング間隔が可変になるようにした条件が予め設定される。このような条件は、CPU4により、ROM10に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。   Furthermore, as a preferred embodiment, in the electronic control device 1 of FIG. 1, when storing predetermined data in the SRAM 2 at the time of freezing, the data is stored while the number of data stored in the SRAM 2 is fixed. Conditions are set in advance so that the sampling interval is variable. Such a condition can be set by the CPU 4 reading and executing a program stored in the ROM 10.

さらに、好ましい実施形態として、図1の電子制御装置1において、フリーズ時に予め定められたデータをSRAM2に保存する場合、A/Dコンバータ12により当該データの値のA/D変換を行う際の最小量子化ビット(LSB)を変化させて上記データの値が小さくなるようにした条件が予め設定される。このような条件は、CPU4により、ROM10に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。   Furthermore, as a preferred embodiment, in the electronic control device 1 of FIG. 1, when storing predetermined data at the time of freezing in the SRAM 2, the minimum value when the A / D converter 12 performs A / D conversion of the value of the data Conditions are set in advance such that the value of the data becomes smaller by changing the quantization bit (LSB). Such a condition can be set by the CPU 4 reading and executing a program stored in the ROM 10.

さらに、好ましい実施形態として、当該データの値の最小量子化ビットは、電子制御装置1に接続される外部検査ツール8によって指定されることも可能である。   Furthermore, as a preferred embodiment, the minimum quantization bit of the value of the data can be specified by an external inspection tool 8 connected to the electronic control unit 1.

さらに、好ましい実施形態として、図1の電子制御装置1において、フリーズ時に予め定められたデータをSRAM2に時系列で保存する場合、電子制御機器9の異常状態が検知されるタイミングの前後で当該データを保存するタイミングを変化させ、上記異常状態が検知されるタイミングの前後でのみ当該データのサンプリング間隔が相対的に小さくなるようにした条件が予め設定される。このような条件は、CPU4により、ROM10に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。   Furthermore, as a preferred embodiment, in the electronic control device 1 of FIG. 1, when pre-set data at the time of freezing is stored in the SRAM 2 in time series, the data before and after the timing when the abnormal state of the electronic control device 9 is detected. Is set in advance so that the sampling interval of the data becomes relatively small only before and after the timing when the abnormal state is detected. Such a condition can be set by the CPU 4 reading and executing a program stored in the ROM 10.

さらに、好ましい実施形態として、図1の電子制御装置1において、フリーズ時に予め定められたデータをSRAM2に時系列で保存する場合、電子制御機器9の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所で当該データのサンプリング間隔を最も小さくし、上記異常状態が検知されるタイミングから遠くなるにつれて当該データのサンプリング間隔を大きくするようにした条件が予め設定される。このような条件は、CPU4により、ROM10に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。   Further, as a preferred embodiment, in the electronic control device 1 of FIG. 1, when data predetermined at the time of freezing is stored in the SRAM 2 in time series, the electronic control device 9 is close to the timing when the abnormal state of the electronic control device 9 is detected. Conditions are set in advance such that the data sampling interval is minimized, and the data sampling interval is increased as the distance from the timing at which the abnormal state is detected. Such a condition can be set by the CPU 4 reading and executing a program stored in the ROM 10.

さらに、好ましい実施形態として、上記異常状態が検知されるタイミングに近い箇所での当該データのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率が、電子制御装置1に接続される外部検査ツール8によって指定されることも可能である。   Furthermore, as a preferred embodiment, the ratio of the sampling interval of the data at a location close to the timing at which the abnormal state is detected and the sampling interval of the data at a location far from the timing at which the abnormal state is detected, It can also be specified by an external inspection tool 8 connected to the electronic control unit 1.

より具体的にいえば、図1の電子制御装置1内のROM10に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをRAM3により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器9の異常状態が検知されたときに、SRAM2により、RAM3内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、SRAM2に保存されるデータに基づいて、電子制御機器9の自己診断を行うステップとを含み、SRAM2に保存されるデータのデータ数(データの項目)が多いときには、上記プログラムによって、当該データのデータ数を優先させ、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするようにした条件が設定される。   More specifically, the program stored in the ROM 10 in the electronic control unit 1 in FIG. 1 temporarily holds data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the RAM 3; When an abnormal state of the electronic control device 9 in the moving body is detected, the SRAM 2 stores the predetermined data in the RAM 3 at a predetermined sampling interval, and the electronic data is stored on the basis of the data stored in the SRAM 2. Including a step of performing a self-diagnosis of the control device 9, and when the number of data items (data items) stored in the SRAM 2 is large, the program gives priority to the number of data items and stores the data items The conditions are set so as to shorten the sampling time indicating the period.

また一方で、図1の電子制御装置1内のROM10に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをRAM3により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器9の異常状態が検知されたときに、SRAM2により、RAM3内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、SRAM2に保存されるデータに基づいて、電子制御機器9の自己診断を行うステップとを含み、SRAM2に保存されるデータのデータ数が少ないときには、上記プログラムによって、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を優先させ、少ないデータ数のデータを保存するようにした条件が設定される。   On the other hand, the program stored in the ROM 10 in the electronic control unit 1 in FIG. 1 includes a step of temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the RAM 3, When an abnormal state of the electronic control device 9 is detected, the SRAM 2 stores the predetermined data in the RAM 3 at a predetermined sampling interval and the electronic control device 9 based on the data stored in the SRAM 2. When the number of data stored in the SRAM 2 is small, the program prioritizes the sampling time indicating the period for storing the data and stores the data with a small number of data. The condition to be set is set.

また一方で、図1の電子制御装置1内のROM10に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをRAM3により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器9の異常状態が検知されたときに、SRAM2により、RAM3内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、SRAM2に保存されるデータに基づいて、電子制御機器9の自己診断を行うステップとを含み、上記プログラムによって、SRAM2に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、当該データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、上記サンプリング時間を長くするようにした条件が設定される。   On the other hand, the program stored in the ROM 10 in the electronic control unit 1 in FIG. 1 includes a step of temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the RAM 3, When an abnormal state of the electronic control device 9 is detected, the SRAM 2 stores the predetermined data in the RAM 3 at a predetermined sampling interval and the electronic control device 9 based on the data stored in the SRAM 2. For the data whose data stored in the SRAM 2 is updated early by the above program, the sampling time indicating the period for storing the data is shortened, and the data For data that is updated later, the above sampling time Conditions to be long is set.

また一方で、図1の電子制御装置1内のROM10に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをRAM3により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器9の異常状態が検知されたときに、SRAM2により、RAM3内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、SRAM2に保存されるデータに基づいて、電子制御機器9の自己診断を行うステップとを含み、上記プログラムによって、電子制御機器9の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、SRAM2に当該データを保存する際のサンプリング間隔を変化させるようにした条件が設定される。   On the other hand, the program stored in the ROM 10 in the electronic control unit 1 in FIG. 1 includes a step of temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the RAM 3, When an abnormal state of the electronic control device 9 is detected, the SRAM 2 stores the predetermined data in the RAM 3 at a predetermined sampling interval and the electronic control device 9 based on the data stored in the SRAM 2. A sampling interval for storing the data in the SRAM 2 is changed by the program according to the period of abnormality detected when the abnormal state of the electronic control device 9 is detected. The selected conditions are set.

また一方で、図1の電子制御装置1内のROM10に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをRAM3により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器9の異常状態が検知されたときに、SRAM2により、RAM3内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、SRAM2に保存されるデータに基づいて、電子制御機器9の自己診断を行うステップとを含み、上記プログラムによって、SRAM2に保存されるデータのデータ数を固定したままで、当該データを保存する際のサンプリング間隔が可変になるようにした条件が設定される。   On the other hand, the program stored in the ROM 10 in the electronic control unit 1 in FIG. 1 includes a step of temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by the RAM 3, When an abnormal state of the electronic control device 9 is detected, the SRAM 2 stores the predetermined data in the RAM 3 at a predetermined sampling interval and the electronic control device 9 based on the data stored in the SRAM 2. The above-described program sets a condition that the sampling interval for storing the data becomes variable while the number of data stored in the SRAM 2 is fixed. .

さらに、図1の実施例では、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体(または記録媒体)を使用して電子制御装置1を動作させる場合、前述のようなプログラムの内容を保持しているハードディスクのような記憶媒体(図示されていない)を用意することが好ましい。   Further, in the embodiment of FIG. 1, when the electronic control device 1 is operated using a computer-readable storage medium (or recording medium), a storage such as a hard disk holding the contents of the program as described above. It is preferable to prepare a medium (not shown).

なお、図1の実施例で使用される記憶媒体は、上記したものに限らず、フロッピィディスクやMO(Magneto-Optical Disk:光磁気ディスク)やCD−R(Compact Disk-Recordable)やCD−ROM(Compact Disk Read-only Memory)等の可搬形媒体、その他の固定形媒体など種々の記憶媒体の形態で提供可能なものである。   The storage medium used in the embodiment of FIG. 1 is not limited to the above, but a floppy disk, MO (Magneto-Optical Disk), CD-R (Compact Disk-Recordable), or CD-ROM. It can be provided in the form of various storage media such as portable media such as (Compact Disk Read-only Memory) and other fixed media.

図1の実施例によれば、フリーズ時にSRAM等に保存されるべきデータの項目が顕著に増加した場合でも、SRAM等に実際に保存されるデータの量を節減することができるので、SRAM等の容量が無駄に消費されることがなくなり、コンピュータのCPU等の処理負荷の増大が抑制され、SRAM等のバックアップ機能付きの主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   According to the embodiment of FIG. 1, even when the number of items of data to be stored in the SRAM or the like at the time of freezing is significantly increased, the amount of data actually stored in the SRAM or the like can be reduced. Therefore, the increase in processing load on the CPU of the computer is suppressed, and a main storage device with a backup function such as SRAM can be used efficiently.

図2は、本発明に係るフリーズ時のデータ保存方法の処理フローを説明するためのフローチャート、図3は、フリーズ時のデータのデータ数が多い場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図、図4は、フリーズ時のデータのデータ数が少ない場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図、そして、図5は、フリーズ時のデータによってサンプリング時間を変える場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図である。   FIG. 2 is a flowchart for explaining the processing flow of the data storage method at the time of freezing according to the present invention. FIG. 3 is a data format diagram showing a data storage pattern when the number of data at the time of freezing is large. 4 is a data format diagram showing a data storage pattern when the number of data at the time of freezing is small, and FIG. 5 is a data format diagram showing a data storage pattern when the sampling time is changed according to the data at the time of freezing. It is.

図2では、本発明の電子制御機器のデータ保存方法に従って電子制御装置(図1参照)のCPU(図1参照)等を動作させることで、フリーズ時にSRAM(図1参照)にデータを保存するための処理フローを説明する。また一方で、図3〜図5では、フリーズ時の幾つかのデータ保存のパターンが、時間tとSRAMに保存されるべきデータとの関係によって示されている。図3〜図5において、A〜Iは、SRAMに保存されるべきデータのデータ数(データの項目)を表しており、アルファベットの数が多いほど、SRAMに保存されるべきデータのデータ数が多いことを示している。   In FIG. 2, the CPU (see FIG. 1) of the electronic control device (see FIG. 1) or the like is operated according to the data storage method of the electronic control device of the present invention to save data in the SRAM (see FIG. 1) at the time of freezing. A processing flow for this will be described. On the other hand, in FIGS. 3 to 5, several data storage patterns at the time of freezing are shown by the relationship between time t and data to be stored in the SRAM. 3 to 5, A to I represent the number of data items (data items) to be stored in the SRAM. The greater the number of alphabets, the more the number of data items to be stored in the SRAM. It shows that there are many.

図2のフローチャートの開始の部分では、車両等の移動体のイグニッションスイッチがオンになっている期間に、移動体に取り付けられた一部のセンサにより検出されたアナログ形式の検出信号が、A/Dコンバータによりディジタル形式の検出信号に変換された後にCPUに入力され、他のセンサにより検出されたディジタル形式の検出信号が、そのままの形式でCPUに入力される。さらに、CPUに入力されたディジタル形式の検出信号は、センサ検出データとして、RAM(図1参照)に一時的に保持される。   In the start portion of the flowchart of FIG. 2, analog detection signals detected by some sensors attached to the moving body during the period in which the ignition switch of the moving body such as a vehicle is on are A / After being converted into a detection signal in the digital format by the D converter, it is input to the CPU, and the detection signal in the digital format detected by another sensor is input to the CPU as it is. Further, the digital detection signal input to the CPU is temporarily stored in the RAM (see FIG. 1) as sensor detection data.

さらに、図2のステップS1において、RAMに保持されているセンサ検出データに基づいて、電子制御式エンジン等の電子制御機器(図1参照)に異常が発生しているか否かが検知される。電子制御機器に何らかの異常が発生して当該電子制御機器が異常状態になっていることが検知された場合、RAMに保持されているセンサ検出データの中から、当該電子制御機器の異常状態が検出されるタイミングの前後のデータ(すなわち、フリーズ時のデータ)を取り出し、SRAMに一定のサンプリング間隔(例えば、500msec)Spで保存するようになっている。   Further, in step S1 of FIG. 2, it is detected whether or not an abnormality has occurred in an electronic control device (see FIG. 1) such as an electronically controlled engine, based on sensor detection data held in the RAM. When it is detected that an abnormality has occurred in the electronic control device and the electronic control device is in an abnormal state, the abnormal state of the electronic control device is detected from the sensor detection data stored in the RAM. Data before and after the timing (that is, data at the time of freezing) are taken out and stored in the SRAM at a constant sampling interval (for example, 500 msec) Sp.

さらに、ステップS2において、フリーズ時のデータをSRAMに保存する際に、フリーズ時のデータのデータ数、またはデータ自体の更新速度(データが更新されるタイミング)に応じて、図3〜図5に示すようなフリーズ時のデータの処理が行われる。このような処理は、フリーズ時にSRAMに保存されるべきデータがなくなるまで実行される(図2のフローチャートの終了の部分)。   Further, in step S2, when the data at the time of freezing is stored in the SRAM, depending on the number of data of the data at the time of freezing or the update speed (data update timing) of the data itself, FIG. Data processing during freezing as shown is performed. Such processing is executed until there is no more data to be stored in the SRAM at the time of freezing (the end of the flowchart of FIG. 2).

ここで、フリーズ時にSRAMに保存されるべきデータが多い場合または少ない場合に関わらず、SRAMが保存可能な最大のバイト数(最大容量)は同じである点に注意すべきである。したがって、フリーズ時にSRAMに保存されるべきデータのバイト数と残りのSRAMのバイト数との兼ね合いによって、フリーズ時のデータのデータ数を優先させるか、または当該データのサンプリング時間を優先させるかがCPUにより判断される。   Here, it should be noted that the maximum number of bytes (maximum capacity) that can be stored in the SRAM is the same regardless of whether the data to be stored in the SRAM is large or small at the time of freezing. Therefore, the CPU determines whether the priority is given to the number of data at the time of freezing or the sampling time of the data according to the balance between the number of bytes of data to be stored in the SRAM at the time of freezing and the number of bytes of the remaining SRAM. It is judged by.

より詳しく説明すると、図3のデータフォーマット図に示すように、フリーズ時のデータのデータ数(例えば、データA、データB、データC、データD、データE、データF、データG、データHおよびデータI)が比較的多い場合、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって、SRAMに保存されるべきデータのデータ数を優先させ、当該データを保存するためのサンプリング時間Stを短くするようにした条件が設定される。この条件に従ってフリーズ時のデータを保存することにより、フリーズ時のデータのデータ数が比較的多い場合でも、SRAMに実際に保存されるデータの量を実質的に増加させることなく、全てのデータをSRAMに保存することが可能になる。   More specifically, as shown in the data format diagram of FIG. 3, the number of data at the time of freeze (for example, data A, data B, data C, data D, data E, data F, data G, data H and When the data I) is relatively large, the CPU reads a program stored in the ROM and executes it, giving priority to the number of data to be stored in the SRAM, and sampling time St for storing the data. The condition is set so as to shorten. By storing the data at the time of freezing according to this condition, even if the number of data at the time of freezing is relatively large, all the data can be stored without substantially increasing the amount of data actually stored in the SRAM. It becomes possible to save in SRAM.

また一方で、図4のデータフォーマット図に示すように、フリーズ時のデータのデータ数(例えば、データA、データBおよびデータC)が比較的少ない場合、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって、フリーズ時のデータを保存するためのサンプリング時間Stを優先させて長くし、少ないデータ数のデータを全てSRAMに保存するようにした条件が設定される。この条件に従ってフリーズ時のデータを保存することにより、フリーズ時のデータのデータ数が比較的少ない場合には、サンプリング時間Stを長くすることによってSRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   On the other hand, as shown in the data format diagram of FIG. 4, when the number of data at the time of freezing (for example, data A, data B, and data C) is relatively small, the program stored in the ROM is executed by the CPU. By reading and executing, a condition is set in which the sampling time St for storing the data at the time of freezing is preferentially lengthened and all the data with a small number of data are stored in the SRAM. By storing the data at the time of freezing according to these conditions, when the number of data at the time of freezing is relatively small, it is possible to use the main storage device such as SRAM efficiently by increasing the sampling time St. become.

また一方で、図5のデータフォーマット図に示すように、フリーズ時の各々のデータの更新速度に応じてサンプリング時間Stを変える場合、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって、SRAMに保存されるデータの更新速度が速いデータ(すなわち、データが更新されるタイミングが早いデータ)に関しては、当該データのサンプリング時間Stを短くし、SRAMに保存されるデータの更新速度が遅いデータ(すなわち、データが更新されるタイミングが遅いデータ)に関しては、当該データのサンプリング時間Stを長くするようにした条件が設定される。この条件に従ってフリーズ時のデータを保存することにより、フリーズ時の各々のデータの更新速度によってサンプリング時間Stが可変になり、SRAMのバイト数が無駄に消費されることがなくなるので、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   On the other hand, as shown in the data format diagram of FIG. 5, when the sampling time St is changed according to the update rate of each data at the time of freezing, the program stored in the ROM is read by the CPU and executed. With respect to data having a fast update speed of data stored in the SRAM (that is, data having a fast data update timing), the sampling time St of the data is shortened, and the update speed of the data stored in the SRAM is slow. For data (that is, data whose data is updated later), a condition is set so that the sampling time St of the data is increased. By storing the data at the time of freezing according to this condition, the sampling time St becomes variable depending on the update speed of each data at the time of freezing, and the number of bytes of the SRAM is not wasted. The storage device can be used efficiently.

例えば、図5において、データ自体の更新速度が最も遅いデータAに関しては、データAのサンプリング時間Stをできる限り長くして、SRAMに実際に保存されるデータAの量を確保するようにしている。データ自体の更新速度は、データA、データB、データD、データCの順に速くなることが予め知られており、この順にデータのサンプリング時間Stを短くしていくことによって、SRAMに実際に保存される各々のデータの量に関して差が生じないようにしている。   For example, in FIG. 5, with respect to the data A having the slowest update speed of the data itself, the sampling time St of the data A is made as long as possible to ensure the amount of data A actually stored in the SRAM. . It is known in advance that the update speed of the data itself increases in the order of data A, data B, data D, and data C. By shortening the data sampling time St in this order, the data is actually stored in the SRAM. Thus, there is no difference in the amount of each data to be processed.

より具体的にいえば、電子制御装置内のインバータの電流の電流値のように、データ自体が更新されるタイミングが比較的早いデータに関しては、データのサンプリング時間Stが短くなるように設定されている。また一方で、変速ギアの位置に関する情報のように、データ自体が更新されるタイミングが比較的遅いデータに関しては、データのサンプリング時間Stが長くなるように設定されている。   More specifically, the data sampling time St is set to be short for data whose data is updated relatively early, such as the current value of the inverter current in the electronic control unit. Yes. On the other hand, the data sampling time St is set to be long with respect to data whose data update timing is relatively late, such as information on the position of the transmission gear.

さらに、電子制御機器の異常状態の検知時に検知される異常の周期に応じて対応するデータのサンプリング時間Stを変える場合、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって、異常の周期が短いデータ(すなわち、異常状態が検知されるタイミングが早いデータ)に関しては、SRAMに実際に保存されるデータのサンプリング時間Stを短くし、異常の周期が長いデータ(すなわち、異常状態が検知されるタイミングが遅いデータ)に関しては、SRAMに実際に保存されるデータのサンプリング時間Stを長くするようにした条件が設定されることも可能である。   Furthermore, when changing the sampling time St of the corresponding data according to the period of the abnormality detected when the abnormal state of the electronic control device is detected, the program stored in the ROM is read and executed by the CPU, For data with a short cycle (that is, data with an early timing when an abnormal state is detected), the sampling time St of data actually stored in the SRAM is shortened, and data with a long abnormal cycle (that is, an abnormal state is detected). With respect to data whose timing is late, it is possible to set a condition in which the sampling time St of data actually stored in the SRAM is lengthened.

図6は、異常状態が検知された場合のフリーズ時の方策を説明するためのデータ流れ図である。ここでは、フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングTdの前後でデータを保存する場合の幾つかの方策が例示されている。なお、図6における上向きの矢印は、時間tに対して、フリーズ処理を行ってSRAMにデータを保存するタイミングを示している。   FIG. 6 is a data flow diagram for explaining a measure at the time of freezing when an abnormal state is detected. Here, there are exemplified several measures in the case of storing data before and after the timing Td when an abnormal state of the electronic control device is detected at the time of freezing. Note that the upward arrow in FIG. 6 indicates the timing at which the freeze process is performed and the data is stored in the SRAM at time t.

図6に示すように、フリーズ時の方策(1)においては、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって、電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、SRAMにデータを保存する際のサンプリング間隔Spを変化させるようにした条件が設定される。   As shown in FIG. 6, in the measure (1) at the time of freezing, the program stored in the ROM is read out and executed by the CPU, so that the abnormal cycle detected when the abnormal state of the electronic control device is detected is set. Accordingly, a condition is set such that the sampling interval Sp for saving data in the SRAM is changed.

より具体的にいえば、電子制御機器の異常状態の検知時に検知される異常の周期に応じて対応するデータのサンプリング間隔Spを変える場合、異常の周期が短いデータ(すなわち、異常状態が検知されるタイミングが早いデータ)に関しては、当該周期に合わせてSRAMに実際に保存されるデータのサンプリング間隔Spを短くし、異常の周期が長いデータ(すなわち、異常状態が検知されるタイミングが遅いデータ)に関しては、当該周期に合わせてSRAMに実際に保存されるデータのサンプリング間隔Spを長くするようになっている。   More specifically, when changing the sampling interval Sp of the corresponding data according to the abnormality cycle detected when the abnormal state of the electronic control device is detected, data with a short abnormality cycle (that is, the abnormal state is detected). Data whose timing is early), the sampling interval Sp of the data actually stored in the SRAM is shortened in accordance with the cycle, and the data having a long abnormal cycle (that is, data whose timing of detecting an abnormal state is late) With respect to the above, the sampling interval Sp of data actually stored in the SRAM is increased in accordance with the period.

このようなフリーズ時の方策(1)によれば、電子制御機器の異常の周期に応じてSRAMに実際に保存されるデータのサンプリング間隔Spを調整することができるので、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   According to such a freeze measure (1), the sampling interval Sp of data actually stored in the SRAM can be adjusted in accordance with the abnormality cycle of the electronic control device. Can be used efficiently.

また一方で、フリーズ時の方策(2)においては、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって、フリーズ時にSRAMに保存されるべきデータのデータ数を固定したままで、当該データを保存する際のサンプリング間隔Spが全体的に可変になるようにした条件が設定される。ここでは、電子制御機器の異常の周期に関係なく、ソフトウェア処理のプログラムにより指定されたサンプリング間隔SpでSRAMにデータを保存することができる。   On the other hand, in the measure (2) at the time of freezing, the program stored in the ROM is read and executed by the CPU, so that the number of data to be saved in the SRAM at the time of freezing is fixed. Conditions are set such that the sampling interval Sp when storing data is variable as a whole. Here, the data can be stored in the SRAM at the sampling interval Sp specified by the software processing program regardless of the abnormality cycle of the electronic control device.

好ましくは、フリーズ時にデータを保存する際のサンプリング間隔の値として複数の定数をRAM等に保持しており、ソフトウェア処理によるプログラムによって、フリーズ時にSRAMに保存されるべき各々のデータに対して上記定数が個別に設定されるようになっている。   Preferably, a plurality of constants are held in a RAM or the like as sampling interval values when data is stored at the time of freezing, and the above constants for each data to be stored in the SRAM at the time of freezing by a program by software processing Are set individually.

このようなフリーズ時の方策(2)によれば、フリーズ時にSRAMに保存されるべきデータのデータ数が固定された状態で、SRAMの最大容量を充分に考慮して当該データをSRAMに保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。   According to the measure (2) at the time of freezing, the data is stored in the SRAM in consideration of the maximum capacity of the SRAM in a state where the number of data to be stored in the SRAM at the time of freezing is fixed. As a result, it is possible to greatly contribute to the analysis of the cause of the abnormality of the electronic control device.

また一方で、フリーズ時の方策(3)においては、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングTdの前後でSRAMに保存されるべきデータをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、SRAMに保存されるべきデータのサンプリング数を指定することができる。   On the other hand, in the measure (3) at the time of freezing, the sampling number indicating the number of times of sampling the data to be stored in the SRAM before and after the timing Td when the abnormal state of the electronic control device is detected is stored in the electronic control device. It is specified by the connected external inspection tool. Here, the user or the like can specify the sampling number of data to be stored in the SRAM by operating the external inspection tool.

フリーズ時の方策(3)によれば、外部検査ツールにより電子制御機器の異常状態の種類別にサンプリング数を変化させることができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。   According to the measure (3) at the time of freezing, the number of samplings can be changed according to the type of abnormal state of the electronic control device by an external inspection tool, which can be very useful for analysis of the cause of the abnormality of the electronic control device. become.

図7は、フリーズ時のSRAMへのデータ格納方法を説明するためのデータ変換図である。ここでは、A/Dコンバータによりアナログ形式のデータをディジタル形式のデータに変換してフリーズ時にデータを保存する際のSRAMへのデータ格納方法が例示されている。   FIG. 7 is a data conversion diagram for explaining a method of storing data in the SRAM at the time of freezing. Here, a method of storing data in SRAM when analog data is converted to digital data by an A / D converter and the data is stored at the time of freezing is illustrated.

図7の上半部においては、CPUで処理され得るデータの最大値が4バイトの場合に、16進数で表示されるフリーズ時のデータの例が示されている。ここでは、5種類のデータ(例えば、0x0910、0x0225、0x1163E、0x14473および0xFFFF7F26)が例示されているが、これらのデータに限定されることはない。これらのデータをそのままSRAMに保存しようとした場合、SRAMにて必要な容量が大幅に増大してしまう。   The upper half of FIG. 7 shows an example of freeze-time data displayed in hexadecimal when the maximum value of data that can be processed by the CPU is 4 bytes. Here, five types of data (for example, 0x0910, 0x0225, 0x1163E, 0x14473, and 0xFFFF7F26) are illustrated, but the present invention is not limited to these data. If these data are stored in the SRAM as they are, the capacity required for the SRAM is greatly increased.

このような不都合な事態に対処するために、本発明のSRAMへのデータ格納方法(1)においては、図7の下半部に示すように、A/Dコンバータによりデータの値のA/D変換を行う際の最小単位である最小量子化ビット(LSB)を変化させ、最小量子化ビットによる変換後に当該データの値が小さくなるようにした条件が設定される。この条件は、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって設定され得る。   In order to cope with such an inconvenient situation, in the data storage method (1) in the SRAM of the present invention, as shown in the lower half of FIG. 7, the A / D converter converts the data value A / D. Conditions are set such that the minimum quantization bit (LSB), which is the minimum unit for conversion, is changed so that the value of the data becomes smaller after conversion using the minimum quantization bit. This condition can be set by reading and executing a program stored in the ROM by the CPU.

より具体的にいえば、上記の5種類のデータをSRAMに保存する際に、5ビットだけ右方向にシフトすることによって、下位の5ビット分のデータを切り捨てるようにしている。このようにしてSRAMに保存される5種類のデータは、0x48、0x11、0x08B1、0x0A23および0xFBFA(図7の下半部参照)のように、最大2バイトの16進数のデータとして表示される。このような最小量子化ビットによる変換後のデータの値は、変換前のフリーズ時のデータの値よりも小さくなっている。   More specifically, when the above five types of data are stored in the SRAM, the lower 5 bits of data are truncated by shifting right by 5 bits. The five types of data stored in the SRAM in this way are displayed as hexadecimal data of up to 2 bytes, such as 0x48, 0x11, 0x08B1, 0x0A23, and 0xFBFA (see the lower half of FIG. 7). The value of data after conversion by such a minimum quantization bit is smaller than the value of data at freeze before conversion.

好ましくは、最小量子化ビットの値として複数の定数をRAM等に保持しており、ソフトウェア処理によるプログラムによって、フリーズ時にSRAMに保存されるべき各々のデータに対して上記定数が個別に設定されるようになっている。   Preferably, a plurality of constants are held in the RAM or the like as the value of the minimum quantization bit, and the constants are individually set for each data to be stored in the SRAM at the time of freezing by a program by software processing. It is like that.

本発明のSRAMへのデータ格納方法(1)によれば、フリーズ時のデータの値のA/D変換を行う際の最小量子化ビットを変化させて上記データの値が小さくなるようにしているので、SRAMに保存されるデータの量の節減が図れるようになり、SRAMの最大容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   According to the data storage method (1) in the SRAM of the present invention, the value of the data is reduced by changing the minimum quantization bit at the time of A / D conversion of the data value at the time of freezing. As a result, the amount of data stored in the SRAM can be reduced, and even when the maximum capacity of the SRAM is relatively small, the main storage device such as SRAM can be used efficiently.

また一方で、本発明のSRAMへのデータ格納方法(2)においては、フリーズ時のデータの値のA/D変換を行う際の最小量子化ビットが、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、当該データの値のA/D変換を行う際の最小量子化ビットを指定することができる。この場合、SRAMに最小量子化ビットの値を持たせており、外部検査ツールからの指定によってSRAM内の最小量子化ビットの値を適宜変更するようになっている。   On the other hand, in the data storage method (2) in the SRAM of the present invention, the minimum quantization bit at the time of A / D conversion of the data value at the time of freeze is an external inspection connected to the electronic control unit. It is specified by the tool. Here, the minimum quantization bit for A / D conversion of the value of the data can be specified by the user or the like operating the external inspection tool. In this case, the SRAM has a value of the minimum quantization bit, and the value of the minimum quantization bit in the SRAM is appropriately changed according to designation from the external inspection tool.

本発明のSRAMへのデータ格納方法(2)によれば、SRAMの最大容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置にフリーズ時のデータを効率良く保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。   According to the data storage method (2) in the SRAM of the present invention, even when the maximum capacity of the SRAM is relatively small, the data at the time of freezing can be efficiently stored in the main storage device such as SRAM. It will be very useful for analysis of the cause of equipment malfunctions.

ここで、参考のため、通常のSRAMへのデータ格納方法、および本発明のSRAMへのデータ格納方法に従って、最小量子化ビットによる変換に関連した演算を行う場合の具体的な例を示す。   Here, for reference, a specific example in the case of performing an operation related to the conversion by the minimum quantization bit according to the normal data storage method in the SRAM and the data storage method in the SRAM of the present invention will be described.

例えば、通常のSRAMへのデータ格納方法において、移動体内の水温センサにより検出されたセンサ検出データのA/D変換を行う際の最小量子化ビット(LSB)が、5/1024(V(ボルト))である場合を想定する。ここで、CPU値(SRAMに保存されるデータの値)が512の場合、水温センサによるセンサ検出データのA/D変換後の物理値は、次の公式により求められる。   For example, in a normal data storage method in SRAM, the minimum quantization bit (LSB) when performing A / D conversion of sensor detection data detected by a water temperature sensor in a moving body is 5/1024 (V (volt)) ) Is assumed. Here, when the CPU value (value of data stored in the SRAM) is 512, the physical value after A / D conversion of the sensor detection data by the water temperature sensor is obtained by the following formula.

物理値=CPU値×LSB
上記の例では、物理値=512×(5/1024)
になるので、物理値=2.5(V)となる。
Physical value = CPU value × LSB
In the above example, physical value = 512 × (5/1024)
Therefore, the physical value = 2.5 (V).

したがって、通常のSRAMへのデータ格納方法では、CPU値の最大値は1024となるため、最大2バイトのSRAMの容量が必要となる(なお、1バイトの最大値は255である)。   Therefore, since the maximum value of the CPU value is 1024 in the normal data storage method in the SRAM, a maximum capacity of 2 bytes of SRAM is required (the maximum value of 1 byte is 255).

これに対して、本発明のSRAMへのデータ格納方法においては、SRAMに保存されるデータの量をできる限り節減するために、センサ検出データのA/D変換を行う際の最小量子化ビットを変更することによりCPU値を1バイトに収めるようにしている。   On the other hand, in the data storage method in the SRAM of the present invention, in order to reduce the amount of data stored in the SRAM as much as possible, the minimum quantization bit when performing A / D conversion of the sensor detection data is set. By changing the value, the CPU value is stored in 1 byte.

最大値1024のCPU値を1バイトに収めるためには、CPU値を4で除算すればよい。この場合、実際には、1024を4で割っても256となり1バイトには収まらない。しかしながら、256と255との差は物理値で考えて0.02(V)しかなく、この差は無視できるほど小さいので、256を255と見なしても問題は生じない。   In order to store the CPU value of the maximum value 1024 in 1 byte, the CPU value may be divided by 4. In this case, when 1024 is divided by 4, it becomes 256 and does not fit in 1 byte. However, the difference between 256 and 255 is only 0.02 (V) in terms of physical values, and since this difference is negligibly small, there is no problem even if 256 is regarded as 255.

上記の観点より、本発明のSRAMへのデータ格納方法では、フリーズ時に最小量子化ビットによる変換を行う際には、CPU値を4で割ってから、変換後のデータをSRAMに保存するようにしている。   From the above viewpoint, in the method of storing data in the SRAM of the present invention, when conversion is performed with the minimum quantization bit at the time of freezing, the CPU value is divided by 4 and then the converted data is stored in the SRAM. ing.

なお、最小量子化ビットによる変換後のデータを外部検査ツールに出力する場合、当該データを4倍してから出力するようにすればよい。あるいは、最小量子化ビットによる変換後のデータをそのまま外部検査ツールに出力し、外部検査ツール内で当該データを4倍してもよい。   Note that when data converted by the minimum quantization bit is output to an external inspection tool, the data may be output after being multiplied by four. Alternatively, the data after conversion by the minimum quantization bit may be output to the external inspection tool as it is, and the data may be multiplied by 4 in the external inspection tool.

図8は、異常状態が検知された場合の時系列フリーズのタイミング設定方法を説明するためのデータ流れ図(その1)であり、図9は、異常状態が検知された場合の時系列フリーズのタイミング設定方法を説明するためのデータ流れ図(その2)である。   FIG. 8 is a data flow diagram (No. 1) for explaining a timing setting method for time series freeze when an abnormal condition is detected, and FIG. 9 is a timing for time series freeze when an abnormal condition is detected. It is a data flowchart (the 2) for demonstrating a setting method.

ここでは、フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後のデータをSRAMに時系列で保存する場合の幾つかのタイミング設定方法(すなわち、時系列フリーズのタイミング設定方法)が例示されている。ここで、「時系列フリーズ」とは、一定の周期毎にフリーズ処理を行うことによってSRAMにデータを保存することを意味している。なお、図8および図9における上向きの矢印は、時間tに対して、時系列フリーズ処理を行ってSRAMにデータを保存するタイミング(図8および図9では、時系列フリーズタイミングと略記している)を示している。   Here, several timing setting methods (that is, time-series freeze timing setting method) when data before and after the timing at which an abnormal state of the electronic control device is detected at the time of freezing are stored in the SRAM in time series are illustrated. ing. Here, “time series freeze” means that data is stored in the SRAM by performing freeze processing at regular intervals. Note that the upward arrows in FIGS. 8 and 9 are abbreviated as time-series freeze timing in FIG. 8 and FIG. 9 when time series freeze processing is performed for time t and data is stored in the SRAM. ).

図8に示すように、時系列フリーズのタイミング設定方法(1)においては、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって、時系列フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でデータを保存するタイミングを変化させ、上記異常状態が検知されるタイミングの前後でのみ当該データのサンプリング間隔が相対的に小さくなるようにした条件が設定される。   As shown in FIG. 8, in the time series freeze timing setting method (1), an abnormal state of the electronic control device is detected at the time series freeze by reading and executing the program stored in the ROM by the CPU. The data storage timing is changed before and after the data acquisition timing, and a condition is set such that the sampling interval of the data is relatively reduced only before and after the timing when the abnormal state is detected.

より具体的にいえば、ソフトウェア処理によるプログラムによって、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングTdの前後での小さいサンプリング間隔(Sp)で常時RAMにデータを保持しておき、電子制御機器の異常状態が検出されたときに、異常状態が検知されるタイミングTdの前後でない箇所のフリーズ時のデータをSRAMに格納する際に、間引いて格納するようにしている。このようにすれば、異常状態が検知されるタイミングTdの前後でない箇所のデータのサンプリング間隔(Sp)は、異常状態が検知されるタイミングの前後でのデータのサンプリング間隔(Sp)よりも大きくなる。   More specifically, data is always held in the RAM at a small sampling interval (Sp) before and after the timing Td at which an abnormal state of the electronic control device is detected by a program by software processing. When an abnormal state is detected, the data at the time of freezing at a portion that is not before or after the timing Td at which the abnormal state is detected is stored in the SRAM by thinning it out. In this way, the data sampling interval (Sp) at a location that is not before or after the timing Td at which the abnormal state is detected becomes larger than the data sampling interval (Sp) before and after the timing at which the abnormal state is detected. .

このような時系列フリーズのタイミング設定方法(1)によれば、異常状態が検知されるタイミングの前後でのみフリーズ時のデータのサンプリング間隔を相対的に小さくすることができるので、SRAMの最大容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   According to such a time series freeze timing setting method (1), since the sampling interval of data at the time of freeze can be relatively reduced only before and after the timing at which an abnormal state is detected, the maximum capacity of the SRAM Even when is relatively small, a main storage device such as SRAM can be used efficiently.

また一方で、時系列フリーズのタイミング設定方法(2)においては、時系列フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でのデータのサンプリング間隔、または、上記異常状態が検知されるタイミングの前後でない箇所のデータの間引き数が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、異常状態が検知されるタイミングの前後でのデータのサンプリング間隔、または、異常状態が検知されるタイミングの前後でない箇所のデータの間引き数を指定することができる。   On the other hand, in the time series freeze timing setting method (2), the data sampling interval before or after the timing at which the abnormal state of the electronic control device is detected during the time series freeze, or the abnormal state is detected. The thinning-out number of the data that is not before and after the timing is specified by an external inspection tool connected to the electronic control device. Here, the data sampling interval before and after the timing at which the abnormal state is detected by the user operating the external inspection tool, or the number of data thinned out before and after the timing at which the abnormal state is detected is determined. Can be specified.

このような時系列フリーズのタイミング設定方法(2)によれば、SRAMの最大容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。   According to such a time series freeze timing setting method (2), even when the maximum capacity of the SRAM is relatively small, a main storage device such as an SRAM can be used efficiently.

図9に示すように、時系列フリーズのタイミング設定方法(3)においては、ROMに格納されているプログラムをCPUにより読み出して実行させることによって、時系列フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でデータのサンプリング間隔(Sp)を最も小さくし、上記異常状態が検知されるタイミングから遠くなるにつれて当該データのサンプリング間隔(Sp)を大きくするようにした条件が設定される。   As shown in FIG. 9, in the time series freeze timing setting method (3), an abnormal state of the electronic control device is detected at the time series freeze by reading and executing the program stored in the ROM by the CPU. The condition is set such that the data sampling interval (Sp) is minimized at a location close to the timing at which the data is sampled and the data sampling interval (Sp) is increased as the distance from the timing at which the abnormal state is detected.

より具体的にいえば、ソフトウェア処理によるプログラムによって、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングTdの前後での最も小さいサンプリング間隔で常時RAMにデータを保持しておき、電子制御機器の異常状態が検出されたときに、異常状態が検知されるタイミングTdの前後でない箇所のフリーズ時のデータを間引いて格納するようにしている。ただし、異常状態が検知されるタイミングに近くなるにつれてフリーズ時のデータの間引き数を少なくしていくようにしている。   More specifically, data is always held in the RAM at the smallest sampling interval before and after the timing Td at which the abnormal state of the electronic control device is detected by a program by software processing, and the abnormal state of the electronic control device Is detected, the data at the time of freezing at portions not before and after the timing Td at which the abnormal state is detected is thinned out and stored. However, the number of thinned out data at the time of freezing is reduced as the timing at which an abnormal state is detected is approached.

好ましくは、時系列フリーズ時にSRAMにデータを格納する際の最大のサンプリング間隔として複数の定数をRAM等に保持しており、ソフトウェア処理によるプログラムによって、時系列フリーズ時にSRAMに保存されるべき各々のデータに対して上記定数が個別に設定されるようになっている。   Preferably, a plurality of constants are held in the RAM or the like as the maximum sampling interval when data is stored in the SRAM during time series freeze, and each of the data to be stored in the SRAM during time series freeze by a program by software processing The above constants are individually set for the data.

あるいは、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でのデータのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率として、複数の定数をRAM等に保持しており、ソフトウェア処理によるプログラムによって、時系列フリーズ時にSRAMに保存されるべき各々のデータに対して上記定数が個別に設定されるようになっている。   Alternatively, a plurality of constants may be used as a ratio of the data sampling interval at a location close to the timing at which an abnormal state of the electronic control device is detected and the data sampling interval at a location far from the timing at which the abnormal state is detected. Is stored in a RAM or the like, and the constants are individually set for each data to be stored in the SRAM at the time of the time series freeze by a program by software processing.

このような時系列フリーズのタイミング設定方法(3)によれば、異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でデータのサンプリング間隔を最も小さくし、異常状態が検知されるタイミングから遠くなるにつれて当該データのサンプリング間隔を大きくすることができるので、SRAMの最大容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。しかも、異常状態が検知されるタイミングから多少離れている箇所のデータも保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。   According to such a time-series freeze timing setting method (3), the data sampling interval is minimized at a location close to the timing at which the abnormal state is detected, and the data becomes more distant from the timing at which the abnormal state is detected. Therefore, even when the maximum capacity of the SRAM is relatively small, a main storage device such as an SRAM can be used efficiently. In addition, since data at a location slightly apart from the timing at which the abnormal state is detected can be stored, it is possible to greatly contribute to the analysis of the cause of the abnormality in the electronic control device.

また一方で、時系列フリーズのタイミング設定方法(4)においては、時系列フリーズ時にSRAMにデータを格納する際の最大のサンプリング間隔が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、時系列フリーズ時にSRAMにデータを格納する際の最大のサンプリング間隔を指定することができる。この場合、時系列フリーズ時にデータを格納する際の最大のサンプリング間隔の値をSRAMに持たせており、外部検査ツールからの指定によってSRAM内の最大のサンプリング間隔の値を適宜変更するようになっている。   On the other hand, in the time series freeze timing setting method (4), the maximum sampling interval for storing data in the SRAM during time series freeze is specified by an external inspection tool connected to the electronic control unit. It is like that. Here, by operating the external inspection tool by the user or the like, the maximum sampling interval for storing data in the SRAM at the time series freeze can be designated. In this case, the SRAM has a maximum sampling interval value for storing data during time series freezing, and the maximum sampling interval value in the SRAM is appropriately changed by designation from an external inspection tool. ing.

あるいは、時系列フリーズのタイミング設定方法(4)においては、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でのデータのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールによって指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でのデータのサンプリング間隔と、異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率を指定することができる。この場合、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でのデータのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率の値をSRAMに持たせており、外部検査ツールからの指定によってSRAM内の上記比率の値を適宜変更するようになっている。   Alternatively, in the time series freeze timing setting method (4), the data sampling interval at a location close to the timing at which the abnormal state of the electronic control device is detected and the location far from the timing at which the abnormal state is detected The ratio of the data sampling interval is specified by an external inspection tool connected to the electronic control unit. Here, when a user or the like operates an external inspection tool, the data sampling interval at a location near the timing at which an abnormal state is detected and the sampling interval at the location far from the timing at which the abnormal state is detected You can specify the ratio. In this case, the value of the ratio between the data sampling interval near the timing at which the abnormal state of the electronic control device is detected and the sampling interval of the data at a location far from the timing at which the abnormal state is detected is the SRAM. The ratio value in the SRAM is appropriately changed according to designation from an external inspection tool.

あるいは、時系列フリーズのタイミング設定方法(4)においては、時系列フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でデータをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、時系列フリーズ時にSRAMに保存されるべきデータのサンプリング数を指定することができる。この場合、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でデータをサンプリングする回数を示すサンプリング数の値をSRAMに持たせており、外部検査ツールからの指定によってSRAM内のサンプリング数の値を適宜変更するようになっている。   Alternatively, in the time series freeze timing setting method (4), a sampling number indicating the number of times data is sampled before and after the timing at which an abnormal state of the electronic control device is detected during the time series freeze is connected to the electronic control unit. Specified by the external inspection tool. Here, the user or the like can operate the external inspection tool to specify the sampling number of data to be stored in the SRAM at the time series freeze. In this case, the SRAM has a sampling number value indicating the number of times data is sampled before and after the timing at which the abnormal state of the electronic control device is detected, and the sampling number value in the SRAM is specified by an external inspection tool. Is appropriately changed.

このような時系列フリーズのタイミング設定方法(4)によれば、SRAMの最大容量が比較的小さい場合でも、SRAM等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になると共に、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。   According to such a time series freeze timing setting method (4), it is possible to efficiently use a main storage device such as an SRAM even when the maximum capacity of the SRAM is relatively small, and the electronic control device. It will be very useful for analysis of the cause of abnormalities.

本発明は、車両等の移動体内の電子制御式エンジン等の電子制御機器を制御するためのコンピュータであって、移動体内の複数のセンサにより当該電子制御機器の異常状態を検知した際に、SRAM等の主記憶装置に保存されているセンサ検出データに基づいて当該電子制御機器の自己診断を行う機能を有するコンピュータが内蔵された電子制御装置(ECU)を含むエンジン制御用コンピュータシステムに適用することが可能である。   The present invention is a computer for controlling an electronic control device such as an electronically controlled engine in a moving body such as a vehicle, and an SRAM is detected when an abnormal state of the electronic control device is detected by a plurality of sensors in the moving body. The present invention is applied to an engine control computer system including an electronic control unit (ECU) having a built-in computer having a function of performing a self-diagnosis of the electronic control device based on sensor detection data stored in a main storage device such as Is possible.

本発明の一実施例に係る電子制御装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the electronic controller which concerns on one Example of this invention. 本発明に係るフリーズ時のデータ保存方法の処理フローを説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the processing flow of the data storage method at the time of the freeze which concerns on this invention. フリーズ時のデータのデータ数が多い場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図である。It is a data format figure which shows the pattern of data preservation | save when there are many data numbers of the data at the time of freezing. フリーズ時のデータのデータ数が少ない場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図である。It is a data format figure which shows the pattern of data preservation | save when the data number of data at the time of freezing is small. フリーズ時のデータによってサンプリング時間を変える場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図である。It is a data format figure which shows the pattern of data preservation | save when changing sampling time with the data at the time of freezing. 異常状態が検知された場合のフリーズ時の方策を説明するためのデータ流れ図である。It is a data flow chart for explaining a measure at the time of freezing when an abnormal state is detected. フリーズ時のSRAMへのデータ格納方法を説明するためのデータ変換図である。It is a data conversion figure for demonstrating the data storage method to SRAM at the time of freezing. 異常状態が検知された場合の時系列フリーズのタイミング設定方法を説明するためのデータ流れ図(その1)である。It is a data flow chart (the 1) for explaining the timing setting method of time series freeze when an abnormal state is detected. 異常状態が検知された場合の時系列フリーズのタイミング設定方法を説明するためのデータ流れ図(その2)である。It is a data flowchart (the 2) for demonstrating the timing setting method of the time series freeze when an abnormal condition is detected.

符号の説明Explanation of symbols

1 電子制御装置
2 SRAM(スタンバイ・ランダム・アクセス・メモリ)
3 RAM(ランダム・アクセス・メモリ)
4 CPU(中央演算処理装置)
5 センサ部
7 バッテリ
8 外部検査ツール
9 電子制御機器
10 ROM(リード・オンリ・メモリ)
11 入力インタフェース回路
12 A/Dコンバータ
13 出力インタフェース回路
50 A/Fセンサ(空燃比センサ)
51 水温センサ
52 酸素濃度センサ
53 ノッキングセンサ
54 油温センサ
55 排気温センサ
56 吸気温センサ
57 トルクセンサ
58 クランク角センサ
59 車速センサ
60 スロットルポジションセンサ
70 定電圧電源
71 バックアップ電源
1 Electronic Control Unit 2 SRAM (Standby Random Access Memory)
3 RAM (Random Access Memory)
4 CPU (Central Processing Unit)
5 Sensor unit 7 Battery 8 External inspection tool 9 Electronic control device 10 ROM (read-only memory)
11 Input interface circuit 12 A / D converter 13 Output interface circuit 50 A / F sensor (air-fuel ratio sensor)
51 Water Temperature Sensor 52 Oxygen Concentration Sensor 53 Knocking Sensor 54 Oil Temperature Sensor 55 Exhaust Temperature Sensor 56 Intake Air Temperature Sensor 57 Torque Sensor 58 Crank Angle Sensor 59 Vehicle Speed Sensor 60 Throttle Position Sensor 70 Constant Voltage Power Supply 71 Backup Power Supply

Claims (18)

移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を多くし、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするように構成されることを特徴とする電子制御装置。
In an electronic control device having a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device,
First data storage means for temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body;
Second data storage means with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval when an abnormal state of the electronic control device is detected; Prepared,
The electronic control device is configured to increase the number of data stored in the second data storage unit and shorten a sampling time indicating a period for storing the data.
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を少なくし、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くするように構成されることを特徴とする電子制御装置。
In an electronic control device having a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device,
First data storage means for temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body;
Second data storage means with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval when an abnormal state of the electronic control device is detected; Prepared,
The electronic control device is configured to reduce the number of data stored in the second data storage unit and to increase a sampling time indicating a period for storing the data.
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、前記データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、前記サンプリング時間を長くするように構成されることを特徴とする電子制御装置。
In an electronic control device having a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device,
First data storage means for temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body;
Second data storage means with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval when an abnormal state of the electronic control device is detected; Prepared,
For data whose data stored in the second data storage means is updated early, the sampling time indicating the period for storing the data is shortened, and the timing when the data is updated is delayed. With respect to data, an electronic control device configured to increase the sampling time.
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、
前記電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、前記第2のデータ保存手段に前記データを保存する際の前記サンプリング間隔を変化させるように構成されることを特徴とする電子制御装置。
In an electronic control device having a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device,
First data storage means for temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body;
Second data storage means with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval when an abnormal state of the electronic control device is detected; Prepared,
The sampling interval for storing the data in the second data storage unit is changed in accordance with an abnormality cycle detected when an abnormal state of the electronic control device is detected. Electronic control device.
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数が固定されており、前記第2のデータ保存手段により前記データを保存する際の前記サンプリング間隔が可変に設定されることを特徴とする電子制御装置。
In an electronic control device having a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device,
First data storage means for temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body;
Second data storage means with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval when an abnormal state of the electronic control device is detected; Prepared,
The number of data items stored in the second data storage unit is fixed, and the sampling interval when the data is stored by the second data storage unit is variably set. Electronic control device.
前記異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項4または5記載の電子制御装置。   6. The electronic control device according to claim 4, wherein a sampling number indicating the number of times the data is sampled before and after the timing at which the abnormal state is detected is designated by an external inspection tool. . 移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、
前記第2のデータ保存手段に前記データを保存する際に、前記データの値の最小量子化ビットを変化させて前記データの値が小さくなるように構成されることを特徴とする電子制御装置。
In an electronic control device having a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device,
First data storage means for temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body;
Second data storage means with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval when an abnormal state of the electronic control device is detected; Prepared,
An electronic control device, wherein the data value is decreased by changing a minimum quantization bit of the data value when the data is stored in the second data storage means.
前記データの値の最小量子化ビットが、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項7記載の電子制御装置。   8. The electronic control unit according to claim 7, wherein the minimum quantization bit of the data value is designated by an external inspection tool. 移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、
前記第2のデータ保存手段に前記データを時系列で保存する際に、前記電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データを保存するタイミングを変化させ、前記異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データのサンプリング間隔が相対的に小さくなるように構成されることを特徴とする電子制御装置。
In an electronic control device having a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device,
First data storage means for temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body;
Second data storage means with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval when an abnormal state of the electronic control device is detected; Prepared,
When storing the data in time series in the second data storage unit, the timing for storing the data is changed before and after the timing when the abnormal state of the electronic control device is detected, and the abnormal state is detected. An electronic control device, characterized in that the data sampling interval is relatively small before and after the timing.
前記異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データを保存するタイミングが、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項9記載の電子制御装置。   10. The electronic control device according to claim 9, wherein the timing for storing the data before and after the timing at which the abnormal state is detected is designated by an external inspection tool. 移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第1のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第2のデータ保存手段とを備え、
前記第2のデータ保存手段に前記データを時系列で保存する際に、前記電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所で前記データのサンプリング間隔を小さくし、前記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所で前記データのサンプリング間隔を大きくするように構成されることを特徴とする電子制御装置。
In an electronic control device having a function of controlling the electronic control device in the moving body and performing a self-diagnosis of the electronic control device,
First data storage means for temporarily holding data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body;
Second data storage means with a backup function for storing predetermined data in the first data storage means at a predetermined sampling interval when an abnormal state of the electronic control device is detected; Prepared,
When storing the data in time series in the second data storage unit, the sampling interval of the data is reduced near a timing at which the abnormal state of the electronic control device is detected, and the abnormal state is detected. An electronic control device configured to increase the sampling interval of the data at a location far from the timing.
前記異常状態が検知されるタイミングに近い箇所での前記データのサンプリング間隔と、前記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での前記データのサンプリング間隔との比率が、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項11記載の電子制御装置。   A ratio between the sampling interval of the data near the timing at which the abnormal state is detected and the sampling interval of the data at a location far from the timing at which the abnormal state is detected is designated by an external inspection tool. The electronic control unit according to claim 11, wherein the electronic control unit is configured as described above. 前記異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項9または11記載の電子制御装置。   12. The electronic control device according to claim 9, wherein a sampling number indicating the number of times the data is sampled before and after the timing at which the abnormal state is detected is designated by an external inspection tool. . 移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を多くし、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くすることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
Temporarily storing data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by a first data storage unit;
When an abnormal state of the electronic control device in the moving body is detected, predetermined data in the first data storage unit is stored at a predetermined sampling interval by the second data storage unit having a backup function. Steps,
Performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the second data storage means,
A data storage method for an electronic control device, wherein the number of data stored in the second data storage means is increased, and a sampling time indicating a period for storing the data is shortened.
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を少なくし、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くすることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
Temporarily storing data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by a first data storage unit;
When an abnormal state of the electronic control device in the moving body is detected, predetermined data in the first data storage unit is stored at a predetermined sampling interval by the second data storage unit having a backup function. Steps,
Performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the second data storage means,
A data storage method for an electronic control device, characterized in that the number of data stored in the second data storage means is reduced and a sampling time indicating a period for storing the data is lengthened.
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、前記データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、前記サンプリング時間を長くすることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
Temporarily storing data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by a first data storage unit;
When an abnormal state of the electronic control device in the moving body is detected, predetermined data in the first data storage unit is stored at a predetermined sampling interval by the second data storage unit having a backup function. Steps,
Performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the second data storage means,
For data whose data stored in the second data storage means is updated early, the sampling time indicating the period for storing the data is shortened, and the timing when the data is updated is delayed. With regard to data, a method for storing data in an electronic control device, wherein the sampling time is lengthened.
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、前記第2のデータ保存手段に前記データを保存する際の前記サンプリング間隔を変化させることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
Temporarily storing data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by a first data storage unit;
When an abnormal state of the electronic control device in the moving body is detected, predetermined data in the first data storage unit is stored at a predetermined sampling interval by the second data storage unit having a backup function. Steps,
Performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the second data storage means,
An electronic control device characterized in that the sampling interval for storing the data in the second data storage means is changed in accordance with an abnormality cycle detected when an abnormal state of the electronic control device is detected. Data storage method.
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第1のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第2のデータ保存手段により、前記第1のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記第2のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数が固定されており、前記第2のデータ保存手段により前記データを保存する際の前記サンプリング間隔が可変に設定されることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
Temporarily storing data acquired by a plurality of sensors attached to the moving body by a first data storage unit;
When an abnormal state of the electronic control device in the moving body is detected, predetermined data in the first data storage unit is stored at a predetermined sampling interval by the second data storage unit having a backup function. Steps,
Performing a self-diagnosis of the electronic control device based on data stored in the second data storage means,
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