JP2006287420A - Clock data recovery circuit - Google Patents

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元 平田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a clock data recovery circuit the stability of which is enhanced without the need for externally receiving a high speed reference clock. <P>SOLUTION: In the clock data recovery circuit, a phase comparison section 20 compares a phase of a trailing edge of input data DataIn with each phase of leading edges of output data D1, D2, D3, D4, D5 of each of 1-bit delay elements 11 arranged in a delay section 10, a charge pump filter 30 adjusts a delay amount of each of half-bit delay elements arranged to the delay section 10 on the basis of a result of the comparison, a clock generating section 40 generates a clock RCK with a period synchronously with an input period of the input data DataIn on the basis of output data D0h, D1h, D2h, D3h, D4h of the half-bit delay elements whose delay amount is adjusted, and a flip-flop 50 uses the clock RCK to capture the input data DataIn. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、所定の最大ビット数以内の連続した任意のビット数HレベルあるいはLレベルにとどまることがある入力データと同期したクロックを生成し、そのクロックを用いて入力データを取り込むクロック・データリカバリ回路に関する。   The present invention generates a clock synchronized with input data that may remain at an arbitrary number of bits H level or L level within a predetermined maximum number of bits, and uses the clock to recover the input data. Regarding the circuit.

従来より、PLL(Phase Locked Loop)技術を用いたクロック・データリカバリ回路(例えば、非特許文献1参照)や、DLL(Delay Locked Loop)技術を用いたクロック・データリカバリ回路(例えば、非特許文献2参照)が知られている。   Conventionally, a clock and data recovery circuit using a PLL (Phase Locked Loop) technique (see, for example, Non-Patent Document 1) and a clock and data recovery circuit using a DLL (Delay Locked Loop) technique (for example, a non-patent document) 2) is known.

図6は、PLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路の一例を示す図である。   FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a clock / data recovery circuit using the PLL technology.

図6に示すクロック・データリカバリ回路100には、外部からの入力データDataInと内部からのクロックCKとの位相差信号を出力する位相比較器101と、その位相差信号に応じた信号を直流レベルの制御電圧に変換するチャージポンプ・ループフィルタ102と、その制御電圧に応じた周波数を有するクロックCKを出力する電圧制御発振器103と、そのクロックCKを用いて入力データDataInを取り込むフリップフロップ104とが備えられている。   The clock / data recovery circuit 100 shown in FIG. 6 includes a phase comparator 101 that outputs a phase difference signal between input data DataIn from the outside and a clock CK from the inside, and a signal corresponding to the phase difference signal at a DC level. A charge pump / loop filter 102 for converting the input voltage DataIn to the control voltage, a voltage controlled oscillator 103 that outputs a clock CK having a frequency corresponding to the control voltage, and a flip-flop 104 that takes in the input data DataIn using the clock CK. Is provided.

このクロック・データリカバリ回路100では、電圧制御発振器103からのクロックCKと入力データDataInの位相が合うようにフィードバックが行なわれて、最終的にフリップフロップ104から入力データDataInのタイミングが正しく設定し直された(リタイミングされた)リタイムドデータRetimedDataが出力される。   In this clock and data recovery circuit 100, feedback is performed so that the phase of the clock CK from the voltage controlled oscillator 103 and the input data DataIn are in phase, and finally the timing of the input data DataIn from the flip-flop 104 is reset correctly. The retimed data (timed) RetimedData is output.

図7は、PLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路の他の一例を示す図である。   FIG. 7 is a diagram showing another example of a clock / data recovery circuit using PLL technology.

図7に示すクロック・データリカバリ回路200には、外部からの参照信号REFと内部からのクロックとの位相および周波数の誤差信号を出力する位相周波数比較器201と、その誤差信号に応じた信号を直流レベルの制御電圧に変換するチャージポンプ・ループフィルタ202と、その制御電圧に応じた周波数のクロックであって位相がそれぞれずれた複数のクロックを出力する電圧制御発振器203と、それらのクロックのうちのいずれかのクロックを選択出力するセレクタ204とが備えられている。   The clock / data recovery circuit 200 shown in FIG. 7 includes a phase frequency comparator 201 that outputs an error signal of the phase and frequency between an external reference signal REF and an internal clock, and a signal corresponding to the error signal. A charge pump / loop filter 202 for converting to a DC level control voltage, a voltage controlled oscillator 203 for outputting a plurality of clocks each having a phase shifted in accordance with the control voltage, and out of these clocks And a selector 204 that selectively outputs any one of the clocks.

また、このクロック・データリカバリ回路200には、セレクタ204から選択出力されたクロックCKと外部からの入力データDataInとの位相差信号を出力する位相比較器205と、その位相差信号に応じた信号を生成して上記セレクタ204に入力するデジタルフィルタ206と、上記セレクタ204からのクロックCKを用いて入力データDataInを取り込むフリップフロップ207とが備えられている。   The clock / data recovery circuit 200 also includes a phase comparator 205 that outputs a phase difference signal between the clock CK selected and output from the selector 204 and externally input data DataIn, and a signal corresponding to the phase difference signal. And a flip-flop 207 that takes in the input data DataIn using the clock CK from the selector 204.

このクロック・データリカバリ回路200では、ループAにおいて、参照信号REFの位相および周波数に電圧制御発振器203から出力されるクロックの位相および周波数が合うように粗調整が行なわれる。次いで、ループBにおいて、入力データDataInの位相にセレクタ204から出力されるクロックCKの位相が合うように微調整が行なわれ、このクロックCKを用いて入力データDataInのタイミングを正しく設定し直して、フリップフロップ207からリタイムドデータRetimedDataが出力される。   In the clock / data recovery circuit 200, in the loop A, coarse adjustment is performed so that the phase and frequency of the clock output from the voltage controlled oscillator 203 matches the phase and frequency of the reference signal REF. Next, in the loop B, fine adjustment is performed so that the phase of the clock CK output from the selector 204 matches the phase of the input data DataIn, and the timing of the input data DataIn is correctly set using the clock CK. Retimed data RetimedData is output from the flip-flop 207.

図8は、DLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路の一例を示す図である。   FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a clock / data recovery circuit using DLL technology.

図8に示すクロック・データリカバリ回路300には、外部からの入力データDataInと内部からのクロックCKとの位相差信号を出力する位相比較器301と、その位相差信号に応じた直流レベルの制御電圧Vcontを出力するループフィルタ302と、その制御電圧Vcontに応じて外部から入力された参照クロックREFCKの遅延量を制御してクロックCKを生成する電圧制御遅延ライン303と、そのクロックCKを用いて入力データDataInを取り込むフリップフロップ304とが備えられている。   The clock / data recovery circuit 300 shown in FIG. 8 includes a phase comparator 301 that outputs a phase difference signal between input data DataIn from the outside and a clock CK from the inside, and a DC level control according to the phase difference signal. Using the loop filter 302 that outputs the voltage Vcont, the voltage control delay line 303 that generates the clock CK by controlling the delay amount of the reference clock REFCK input from the outside according to the control voltage Vcont, and the clock CK A flip-flop 304 that takes in the input data DataIn is provided.

このクロック・データリカバリ回路300では、電圧制御遅延ライン303に入力されている参照クロックREFCKの遅延量が、ループフィルタ302からの制御電圧Vcontに応じて制御され、これにより生成されたクロックCKを用いて入力データDataInのタイミングを正しく設定し直して、そのフリップフロップ304からリタイムドデータRetimedDataが出力される。
“Journal of Solid-State Circuits,Vol34,No12,December 1999,p1951-1960”A2-1600MHz CMOS Clock Recovery PLL with Low-Vdd Capability “Journal of Solid-State Circuits,Vol37,No6,June 2002,p711-715”A900Mb/s CMOS Data Recovery DLL Using Half-Frequency Clock
In the clock / data recovery circuit 300, the delay amount of the reference clock REFCK input to the voltage control delay line 303 is controlled according to the control voltage Vcont from the loop filter 302, and the generated clock CK is used. Then, the timing of the input data DataIn is correctly set, and the retimed data RetimedData is output from the flip-flop 304.
“Journal of Solid-State Circuits, Vol34, No12, December 1999, p1951-1960” A2-1600 MHz CMOS Clock Recovery PLL with Low-Vdd Capability “Journal of Solid-State Circuits, Vol37, No6, June 2002, p711-715” A900 Mb / s CMOS Data Recovery DLL Using Half-Frequency Clock

上述した図6に示すクロック・データリカバリ回路100では、製造プロセスのバラツキ等に起因して、電圧制御発振器103の初期状態が変動する場合がある。その場合、電圧制御発振器103では適切な動作が行なわれない恐れがある。   In the clock / data recovery circuit 100 shown in FIG. 6 described above, the initial state of the voltage controlled oscillator 103 may fluctuate due to variations in the manufacturing process. In that case, the voltage controlled oscillator 103 may not perform an appropriate operation.

また、図7に示すクロック・データリカバリ回路200では、参照信号REFの位相および周波数に電圧制御発振器203から出力されるクロックの位相および周波数を合わせておいてから(粗調整してから)、デジタルフィルタ206を用いて入力データDataInの位相にクロックの位相を合わせる(微調整する)ため、上述したような問題は解消されるものの、チャージポンプ・ループフィルタ202におけるループフィルタの定数の設定によっては、電圧制御発振器203を含めたループが不安定になるという問題を抱えている。特に、ループフィルタとして内蔵容量を用いる場合、コスト削減のために容量を小さく設定すると不安定になりやすく、従って製造プロセスの変動に対して敏感となる。   In the clock / data recovery circuit 200 shown in FIG. 7, the phase and frequency of the clock output from the voltage controlled oscillator 203 are matched with the phase and frequency of the reference signal REF (after coarse adjustment), and then the digital Since the phase of the clock is adjusted (finely adjusted) to the phase of the input data DataIn using the filter 206, the above-described problem is solved, but depending on the setting of the constant of the loop filter in the charge pump / loop filter 202, There is a problem that the loop including the voltage controlled oscillator 203 becomes unstable. In particular, when a built-in capacitor is used as a loop filter, if the capacitor is set to be small for cost reduction, it tends to become unstable and therefore sensitive to variations in the manufacturing process.

さらに、図8に示すクロック・データリカバリ回路300は、入力データDataInを取り込むクロックCKの経路(パス)に電圧制御遅延ライン303(DLL)を挿入して、最も入力データDataInが取り込みやすいようにフィードバックを行なってDLLの遅延量を調整するものである。このようにすることにより、VCO(電圧制御発振器)を用いることなくDLLのみでクロック・データリカバリ回路が実現されるため、VCOを用いる場合と比べて安定したループ制御を行なうことができる。ただし、このクロック・データリカバリ回路300では、参照クロックREFCKを入力する必要がある。しかも、その参照クロックREFCKの周波数は、入力データDataInの周波数と同じである必要がある。このため、例えば、2GHzの周波数を有する入力データDataInを取り込む場合、2GHzの周波数を有する参照クロックREFCKが必要であり、従って非常に高速なリファレンスクロックREFCKが必要となる。このように高速な参照クロックREFCKを外部から入力すると、装置がコストアップするとともに設計も複雑化するという問題が発生する。   Further, the clock / data recovery circuit 300 shown in FIG. 8 inserts a voltage control delay line 303 (DLL) into the path of the clock CK that takes in the input data DataIn, and provides feedback so that the input data DataIn is most easily taken in. To adjust the DLL delay amount. In this way, since the clock / data recovery circuit is realized only by DLL without using a VCO (voltage controlled oscillator), stable loop control can be performed as compared with the case where a VCO is used. However, in this clock / data recovery circuit 300, it is necessary to input the reference clock REFCK. In addition, the frequency of the reference clock REFCK needs to be the same as the frequency of the input data DataIn. For this reason, for example, when the input data DataIn having a frequency of 2 GHz is captured, the reference clock REFCK having a frequency of 2 GHz is required, and therefore, a very high-speed reference clock REFCK is required. When the high-speed reference clock REFCK is input from the outside in this way, there arises a problem that the apparatus is increased in cost and the design is complicated.

本発明は、上記事情に鑑み、外部から高速な参照クロックを入力することなく、回路の安定性が高められたクロック・データリカバリ回路を提供することを目的とする。   In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a clock / data recovery circuit in which the stability of the circuit is enhanced without inputting a high-speed reference clock from the outside.

上記目的を達成する本発明のクロック・データリカバリ回路は、
所定の最大ビット数以内の連続した任意のビット数HレベルあるいはLレベルにとどまることがある入力データと同期したクロックを生成し、そのクロックを用いて入力データを取り込むクロック・データリカバリ回路において、
上記入力データの1ビットごとのデータ入力周期一周期の1/2の時間遅延させる遅延量可変な半ビット遅延素子2個の直列接続からなる1ビット遅延素子が上記最大ビット数と同数以上直列に接続され、上記入力データを入力して遅延させる遅延部と、
入力データの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとのうちの一方である第1のエッジと、上記遅延部に配列された各1ビット遅延素子の出力の、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとのうちのもう一方である第2のエッジとの位相を比較する位相比較部と、
上記位相比較部による位相比較結果に基づいて、上記遅延部に配列された各半ビット遅延素子の遅延量を、入力データの1ビットごとのデータ入力周期一周期の1/2の時間に調整する遅延量調整部と、
上記遅延部に配列された複数の半ビット遅延素子の出力に基づいて、入力データの入力周期と同期した周期のクロックを生成するクロック生成部と、
上記クロック生成部で生成されたクロックを用いて上記入力データを取り込むデータ取込部とを備えたことを特徴とする。
The clock and data recovery circuit of the present invention that achieves the above-described object provides:
In a clock / data recovery circuit that generates a clock synchronized with input data that may remain at an H level or an L level, which is an arbitrary number of consecutive bits within a predetermined maximum number of bits, and that takes in the input data using the clock,
1-bit delay element composed of two half-bit delay elements with a variable delay amount for delaying the time of ½ of one cycle of the data input period for each bit of the input data is equal to or more than the maximum number of bits in series. A delay unit connected to delay the input data;
The first edge that is one of the rising edge and the falling edge of the input data, and the other of the rising edge and the falling edge of the output of each 1-bit delay element arranged in the delay unit. A phase comparator for comparing the phase with the second edge,
Based on the phase comparison result by the phase comparison unit, the delay amount of each half-bit delay element arranged in the delay unit is adjusted to a time half of one cycle of the data input cycle for each bit of the input data. A delay amount adjustment unit;
A clock generation unit that generates a clock having a period synchronized with an input period of input data, based on outputs of a plurality of half-bit delay elements arranged in the delay unit;
And a data capture unit that captures the input data using the clock generated by the clock generation unit.

本発明のクロック・データリカバリ回路は、所定の最大ビット数以内の連続した任意のビット数HレベルあるいはLレベルにとどまることがある入力データの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとのうちの一方である第1のエッジと、遅延部に配列された各1ビット遅延素子の出力の、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとのうちのもう一方である第2のエッジとの位相を比較し、その位相比較結果に基づいて、遅延部に配列された各半ビット遅延素子の遅延量を調整する。このようにして調整された、上記遅延部に配列された複数の半ビット遅延素子の出力に基づいて、入力データの入力周期と同期した周期のクロックを生成し、そのクロックを用いて、上記入力データを取り込むものである。従って、DLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路であって、且つ外部から参照クロックの入力が不要なクロック・データリカバリ回路が構成されることとなる。   The clock / data recovery circuit according to the present invention is one of the rising edge and falling edge of input data which may remain at an arbitrary number of consecutive bits within a predetermined maximum number of bits, H level or L level. 1 and the phase of the output of each 1-bit delay element arranged in the delay unit between the rising edge and the second edge which is the other of the falling edges, and the phase comparison result Based on this, the delay amount of each half-bit delay element arranged in the delay unit is adjusted. Based on the outputs of the plurality of half-bit delay elements arranged in the delay unit adjusted in this way, a clock having a period synchronized with the input period of the input data is generated, and the input is performed using the clock. It captures data. Accordingly, a clock / data recovery circuit using the DLL technology and a clock / data recovery circuit that does not require the input of a reference clock from the outside are configured.

このため、PLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路と比較し、VCO(電圧制御発振器)を備える必要はなく、従って適切に動作するループ定数の範囲は広く、製造プロセスのバラツキ等に起因する変動を小さく抑えることができ、回路の安定性が高まる。また、従来の、DLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路と比較し、外部から高速な参照クロックを入力する必要はなく、従ってコストの低減化および設計の簡略化が図られる。   Therefore, it is not necessary to provide a VCO (Voltage Controlled Oscillator) compared to a clock / data recovery circuit using PLL technology, and therefore the range of loop constants to operate properly is wide, and fluctuations caused by variations in manufacturing processes, etc. Can be kept small, and the stability of the circuit is increased. Further, compared with a conventional clock / data recovery circuit using DLL technology, it is not necessary to input a high-speed reference clock from the outside, so that the cost can be reduced and the design can be simplified.

ここで、上記位相比較部は、上記入力データの上記第1のエッジのタイミングにおける、上記遅延部に配列された1ビット遅延素子の出力レベルとその1ビット遅延素子を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力レベルと、その1ビット遅延素子の後段に接続された次の1ビット遅延素子を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力レベルとの比較を、その遅延部に配列された複数の1ビット遅延素子について行なって、入力データの位相に対する、その遅延部を通過中のデータの位相の進み又は遅れを検出するものであることが好ましい。   Here, the phase comparison unit outputs the output level of the 1-bit delay element arranged in the delay unit and the two half-bit delays constituting the 1-bit delay element at the timing of the first edge of the input data. The output level of the half bit delay element on the preceding stage of the elements and the half bit on the preceding stage of the two half bit delay elements constituting the next 1 bit delay element connected to the subsequent stage of the 1 bit delay element Comparison with the output level of the delay element is performed for a plurality of 1-bit delay elements arranged in the delay unit, and the advance or delay of the phase of the data passing through the delay unit with respect to the phase of the input data is detected. It is preferable.

このようにすると、入力データの位相に対する、遅延部を通過中のデータの位相の進み又は遅れを、精度良く検出することができる。   In this way, it is possible to accurately detect the advance or delay of the phase of the data passing through the delay unit with respect to the phase of the input data.

また、上記クロック生成部は、上記遅延部に配列された1ビット遅延素子の出力と、その1ビット遅延素子を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力との排他論理和をその遅延部に配列された複数の1ビット遅延素子について求めて、これら複数の排他論理和のオアを求めることによりクロックを生成するものであることも好ましい態様である。   The clock generation unit includes an output of a 1-bit delay element arranged in the delay unit, and an output of a half-bit delay element on the preceding stage of two half-bit delay elements constituting the 1-bit delay element, It is also a preferable aspect that a clock is generated by obtaining an exclusive OR of a plurality of 1-bit delay elements arranged in the delay unit and obtaining an OR of the plurality of exclusive ORs.

このようにすると、入力データを取り込むためのクロックを簡素な回路で生成することができる。   In this way, a clock for capturing input data can be generated with a simple circuit.

本発明のクロック・データリカバリ回路によれば、外部から高速な参照クロックを入力することなく、回路の安定性を高めることができる。   According to the clock and data recovery circuit of the present invention, the stability of the circuit can be improved without inputting a high-speed reference clock from the outside.

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1は、本発明の一実施形態のクロック・データリカバリ回路を示す図である。   FIG. 1 is a diagram showing a clock / data recovery circuit according to an embodiment of the present invention.

図1に示すクロック・データリカバリ回路1は、所定の最大ビット数以内の連続した任意のビット数HレベルあるいはLレベルにとどまることがある入力データDataInと同期したクロックRCKを生成し、そのクロックRCKを用いて入力データDataInを取り込む回路である。ここで、所定の最大ビット数は、通信方式等によって異なるが、例えば周知の8B/10Bコーディング体系に基づくアプリケーションの場合には5ビットとなる。本実施形態では、この5ビットを例にして説明する。   The clock / data recovery circuit 1 shown in FIG. 1 generates a clock RCK synchronized with input data DataIn that may remain at an arbitrary number of bits H level or L level within a predetermined maximum number of bits, and the clock RCK Is a circuit that takes in the input data DataIn. Here, the predetermined maximum number of bits varies depending on the communication method or the like, but is 5 bits in the case of an application based on the well-known 8B / 10B coding system, for example. In the present embodiment, description will be made by taking 5 bits as an example.

クロック・データリカバリ回路1には、入力データDataInを入力して遅延させる遅延部10が備えられている。この遅延部10は、入力データDataInの1ビットごとのデータ入力周期一周期の1/2の時間遅延させる遅延量可変な半ビット遅延素子2個の直列接続からなる1ビット遅延素子11が最大ビット数と同数(5個)直列に接続されている。   The clock / data recovery circuit 1 includes a delay unit 10 that inputs and delays input data DataIn. The delay unit 10 is configured such that a 1-bit delay element 11 formed of two serially connected half-bit delay elements each having a variable delay amount that delays a time of 1/2 of one data input period of each bit of the input data DataIn has a maximum bit. The same number (5) as the number is connected in series.

また、このクロック・データリカバリ回路1には、位相比較部20が備えられている。この位相比較部20は、入力データDataInの立ち下がりエッジ(本発明にいう第1のエッジに相当)と、遅延部10に配列された各1ビット遅延素子11の出力(データD1,D2,D3,D4,D5)の立ち上がりエッジ(本発明にいう第2のエッジに相当)との位相を比較する。ここで、位相比較部20の詳細について図2,図3を参照して説明する。   The clock / data recovery circuit 1 includes a phase comparison unit 20. The phase comparison unit 20 includes a falling edge of input data DataIn (corresponding to a first edge in the present invention) and an output (data D1, D2, D3) of each 1-bit delay element 11 arranged in the delay unit 10. , D4, D5) with respect to the rising edge (corresponding to the second edge in the present invention). Here, details of the phase comparison unit 20 will be described with reference to FIGS.

図2は、図1に示す遅延部および位相比較部双方の一部を示す図、図3は、図2に示す遅延部および位相比較部におけるタイミングを示す図である。   2 is a diagram showing a part of both the delay unit and the phase comparison unit shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram showing timings in the delay unit and the phase comparison unit shown in FIG.

図2には、遅延部10を構成する1ビット遅延素子11が3つ分だけ示されている。また、位相比較器20を構成する、フリップフロップ21,22,23と、アンドゲート24,25と、オアゲート26,27とが示されている。   FIG. 2 shows only three 1-bit delay elements 11 constituting the delay unit 10. Further, flip-flops 21, 22, 23, AND gates 24, 25, and OR gates 26, 27 constituting the phase comparator 20 are shown.

この位相比較部20は、入力データDataInの立ち下がりエッジのタイミングにおける、遅延部10に配列された1ビット遅延素子11の出力レベル(ここではデータD4のレベル)とその1ビット遅延素子11を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力レベル(ここではデータD3hのレベル)と、その1ビット遅延素子11の後段に接続された次の1ビット遅延素子11を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力レベル(ここではデータD4hのレベル)との比較を、フリップフロップ21,22,23およびアンドゲート24,25で行なって、入力データDataInの位相に対する、遅延部10を通過中のデータ(ここではデータD4)の位相の進み又は遅れを検出し、進みを表わすHレベルのearly_4信号又は遅れを表わすHレベルのlate_4信号を、オアゲート26,27に向けて出力する。また、遅延部10に配列された残りの4つの1ビット遅延素子11についても行なって、最終的にオアゲート26,27から進みを表わすHレベルのearly信号又は遅れを表わすHレベルのlate信号を出力する。   The phase comparison unit 20 configures the output level of the 1-bit delay element 11 arranged in the delay unit 10 (here, the level of the data D4) and the 1-bit delay element 11 at the timing of the falling edge of the input data DataIn. Of the two half-bit delay elements to be output, the output level of the half-bit delay element on the previous stage side (here, the level of the data D3h) and the next 1-bit delay element 11 connected to the subsequent stage of the 1-bit delay element 11 Comparison with the output level of the half-bit delay element on the preceding stage of the two half-bit delay elements to be configured (here, the level of the data D4h) is performed by the flip-flops 21, 22, 23 and the AND gates 24, 25. , The advance of the phase of data (here, data D4) passing through the delay unit 10 with respect to the phase of the input data DataIn or Detecting the record, the late_4 signal of H level representing a early_4 signal or delay of H level representing an advance, to output to the OR gate 26, 27. The remaining four 1-bit delay elements 11 arranged in the delay unit 10 are also output, and finally an H-level early signal indicating advance or an H-level late signal indicating delay is output from the OR gates 26 and 27. To do.

即ち、入力データDataInとデータD4の位相比較にあたり、データD4は入力データDataInの立ち下がりエッジのタイミングで取り込まれるため、データD4がHレベルであってデータD4hがLレベルの場合は、アンドゲート24からHレベルのearly_4信号が出力される。一方、データD4がLレベルであってデータD3hがHレベルの場合は、アンドゲート25からHレベルのlate_4信号が出力される。   That is, in the phase comparison between the input data DataIn and the data D4, the data D4 is captured at the timing of the falling edge of the input data DataIn. Therefore, when the data D4 is at the H level and the data D4h is at the L level, the AND gate 24 To H level early_4 signal is output. On the other hand, when the data D4 is at the L level and the data D3h is at the H level, the AND gate 25 outputs an H level late_4 signal.

詳細には、図3(a)に示すように、入力データDataInの立ち下がりエッジのタイミングで、LレベルからHレベルに変化したデータD4および未だLレベルにあるデータD4hが、フリップフロップ21,23に入力される。すると、フリップフロップ21,23からHレベル,Lレベルが出力される。これらHレベル,Lレベルがアンドゲート24に入力されるため、そのアンドゲート24からHレベルのearly_4信号が出力される。尚、図3(b)に示すように、データD4,D4hの双方がHレベルにある場合は、フリップフロップ21,23から共にHレベルが出力されるため、アンドゲート24からLレベルが出力される。   Specifically, as shown in FIG. 3A, at the timing of the falling edge of the input data DataIn, the data D4 that has changed from the L level to the H level and the data D4h that is still at the L level are flip-flops 21, 23. Is input. Then, the flip-flops 21 and 23 output the H level and the L level. Since these H level and L level are input to the AND gate 24, the AND gate 24 outputs an H level early_4 signal. As shown in FIG. 3B, when both of the data D4 and D4h are at the H level, the flip-flops 21 and 23 output the H level, so the AND gate 24 outputs the L level. The

また、図3(c)に示すように、入力データDataInの立ち下がりエッジのタイミングで、未だLレベルにあるデータD4およびLレベルからHレベルに変化したデータD3hが、フリップフロップ21,22に入力される。すると、フリップフロップ21,22からLレベル,Hレベルが出力される。これらLレベル,Hレベルがアンドゲート25に入力されるため、そのアンドゲート25からHレベルのlate_4信号が出力される。尚、図3(d)に示すように、データD4,D3hの双方がLレベルにある場合は、フリップフロップ21,22から共にLレベルが出力されるため、アンドゲート25からLレベルが出力される。   Further, as shown in FIG. 3C, at the timing of the falling edge of the input data DataIn, the data D4 that is still at the L level and the data D3h that has changed from the L level to the H level are input to the flip-flops 21 and 22. Is done. Then, the flip-flops 21 and 22 output the L level and the H level. Since these L level and H level are input to the AND gate 25, an H level late_4 signal is output from the AND gate 25. As shown in FIG. 3D, when both the data D4 and D3h are at the L level, the L level is output from the flip-flops 21 and 22, and therefore the L level is output from the AND gate 25. The

本実施形態では、データD4に対応するearly_4信号,late_4信号以外に、データD1,D2,D3,D5に対応するearly_1,early_2,early_3,early_5信号およびlate_1,late_2,late_3,late_5信号が存在する。このため、オアゲート26,27から出力されるearly信号,late信号は、複数の信号でHレベルとなる場合がある。このため、5入力のオアゲート26,27を用いて、図1に示すチャージポンプ・ループフィルタ30に向けて出力している。   In the present embodiment, in addition to the early_4 signal and the late_4 signal corresponding to the data D4, there are the early_1, early_2, early_3, early_5 signal and the late_1, late_2, late_3, and late_5 signals corresponding to the data D1, D2, D3, and D5. For this reason, the early and late signals output from the OR gates 26 and 27 may be at the H level with a plurality of signals. Therefore, the output is output toward the charge pump / loop filter 30 shown in FIG. 1 using the 5-input OR gates 26 and 27.

このようにすることで、所定の最大ビット(ここでは5ビット)数以内の連続した任意のビット数HレベルあるいはLレベルにとどまることがある入力データDataInの立ち下がりエッジと、遅延部10に配列された各1ビット遅延素子11の出力(データD1,D2,D3,D4,D5)の立ち上がりエッジとの位相を比較することができる。   By doing so, the falling edge of the input data DataIn that may stay at any arbitrary number of bits within the predetermined maximum number of bits (here, 5 bits) H level or L level, and the delay unit 10 are arranged. The phase of the output (data D1, D2, D3, D4, D5) of each of the 1-bit delay elements 11 thus made can be compared.

尚、ここでは、入力データDataInの立ち下がりエッジと、各1ビット遅延素子11の出力の立ち上がりエッジとの位相を比較する例で説明したが、入力データDataInの立ち上がりエッジと、各1ビット遅延素子11の出力の立ち上がりエッジとの位相を比較してもよく、さらにこれらを組み合わせることにより、入力データDataInの双方のエッジと、各1ビット遅延素子11の出力の双方のエッジとの位相を比較してもよい。   In this example, the phase of the falling edge of the input data DataIn and the rising edge of the output of each 1-bit delay element 11 are compared. However, the rising edge of the input data DataIn and each 1-bit delay element are described. 11 may be compared in phase with the rising edge of the output, and by combining these, the phase between both edges of the input data DataIn and both edges of the output of each 1-bit delay element 11 may be compared. May be.

再び、図1を参照して、クロック・データリカバリ回路1の構成について説明する。このクロック・データリカバリ回路1には、チャージポンプ・ループフィルタ30(本発明にいう遅延量調整部の一例に相当)が備えられている。このチャージポンプ・ループフィルタ30は、位相比較部20による位相比較結果であるearly信号,late信号に基づいて、遅延部10に配列された各半ビット遅延素子の遅延量を、入力データDataInの1ビットごとのデータ入力周期一周期の1/2の時間に調整するためのVcont信号を出力する。チャージポンプ・ループフィルタ30にearly信号が入力された場合には、遅延素子11の遅延を大きくし、late信号が入った場合には遅延素子11の遅延を小さくする。   With reference to FIG. 1 again, the configuration of the clock / data recovery circuit 1 will be described. The clock / data recovery circuit 1 is provided with a charge pump / loop filter 30 (corresponding to an example of a delay amount adjusting unit according to the present invention). The charge pump / loop filter 30 determines the delay amount of each half-bit delay element arranged in the delay unit 10 based on the early signal and the late signal, which are the phase comparison results by the phase comparison unit 20, as 1 of the input data DataIn. A Vcont signal for adjusting the data input period for each bit to ½ of one period is output. When the early signal is input to the charge pump / loop filter 30, the delay of the delay element 11 is increased, and when the late signal is input, the delay of the delay element 11 is decreased.

また、このクロック・データリカバリ回路1には、クロック生成部40と、フリップフロップ50が備えられている。クロック生成部40は、遅延部10に配列された複数の半ビット遅延素子の出力であるデータD0h,D1h,D2h,D3h,D4hに基づいて、入力データDataInの入力周期と同期した周期のクロックRCK(RECOVERD CLOCK)を生成する。   The clock / data recovery circuit 1 includes a clock generation unit 40 and a flip-flop 50. Based on the data D0h, D1h, D2h, D3h, and D4h, which are the outputs of the plurality of half-bit delay elements arranged in the delay unit 10, the clock generation unit 40 is a clock RCK having a period synchronized with the input period of the input data DataIn. (RECOVERD CLOCK) is generated.

詳細には、このクロック生成部40は、遅延部10に配列された1ビット遅延素子11の出力(例えばデータD1)をその1ビット遅延素子11を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力(例えばデータD0h)との排他論理和をその遅延部10に配列された5個の1ビット遅延素子11について求めて、これら5個の排他論理和のオアを求めることによりクロックRCKを生成する。   Specifically, the clock generation unit 40 outputs the output (for example, data D1) of the 1-bit delay element 11 arranged in the delay unit 10 to the preceding stage of the two half-bit delay elements constituting the 1-bit delay element 11. The exclusive OR with the output (for example, data D0h) of the half bit delay element on the side is obtained for the five 1-bit delay elements 11 arranged in the delay unit 10, and the OR of these five exclusive ORs is obtained. As a result, the clock RCK is generated.

図4は、図1に示すクロック生成部の回路図、図5は、図1に示すクロック・データリカバリ回路のタイミングチャートである。   FIG. 4 is a circuit diagram of the clock generator shown in FIG. 1, and FIG. 5 is a timing chart of the clock / data recovery circuit shown in FIG.

図4に示すクロック生成部40には、エクスクルーシブオアゲート41,42,43,44,45とオアゲート46とが備えられている。   The clock generation unit 40 shown in FIG. 4 includes exclusive OR gates 41, 42, 43, 44, 45 and an OR gate 46.

エクスクルーシブオアゲート41には、1ビット遅延素子11からのデータD1と、その1ビット遅延素子11を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子からのデータD0hとが入力される。以下、同様にして、エクスクルーシブオアゲート42にはデータD2,D1hが入力され、エクスクルーシブオアゲート43にはデータD3,D2hが入力され、エクスクルーシブオアゲート44にはデータD4,D3hが入力され、さらにエクスクルーシブオアゲート45にはデータD5,D4hが入力される。   The exclusive OR gate 41 receives the data D1 from the 1-bit delay element 11 and the data D0h from the preceding half-bit delay element of the two half-bit delay elements constituting the 1-bit delay element 11 Is done. Similarly, data D2 and D1h are input to the exclusive OR gate 42, data D3 and D2h are input to the exclusive OR gate 43, data D4 and D3h are input to the exclusive OR gate 44, and exclusive X Data D5 and D4h are input to the OR gate 45.

クロック・データリカバリ回路1では、図5に示すように、入力データDataInの立ち下がりエッジと、時間順に各1ビット遅延素子11からのデータD1,D5,D2,D1およびD4の立ち上がりエッジとの位相が比較され、これにより上述したエクスクルーシブオアゲート41,42,43,44,45から、この図5に示す信号XOR(D0h,D1),XOR(D1h,D2),XOR(D2h,D3),XOR(D3h,D4),XOR(D4h,D5)が出力される。   In the clock / data recovery circuit 1, as shown in FIG. 5, the phase between the falling edge of the input data DataIn and the rising edges of the data D1, D5, D2, D1 and D4 from the 1-bit delay elements 11 in time order. As a result, the signals XOR (D0h, D1), XOR (D1 h, D2), XOR (D2 h, D3), XOR shown in FIG. 5 are obtained from the exclusive OR gates 41, 42, 43, 44, 45 described above. (D3h, D4) and XOR (D4h, D5) are output.

オアゲート46は、これらの信号のオアを求め(図5に示す信号OR ALL)、この信号OR ALLで表わされるクロックRCKを出力する。このようにして、入力データDataInの入力周期と同期した周期のクロックRCKを生成する。   The OR gate 46 obtains the OR of these signals (signal OR ALL shown in FIG. 5), and outputs a clock RCK represented by this signal OR ALL. In this way, the clock RCK having a period synchronized with the input period of the input data DataIn is generated.

このクロックRCKはフリップフロップ50に入力される。また、フリップフロップ50には、入力データDataInも入力される。このフリップフロップ50は、クロックRCKを用いて入力データDataInを取り込むことにより、最終的にフリップフロップ50から入力データDataInのタイミングが正しく設定し直されたリタイムドデータRetimedDataが出力される。   This clock RCK is input to the flip-flop 50. Further, input data DataIn is also input to the flip-flop 50. The flip-flop 50 takes in the input data DataIn using the clock RCK, and finally, the flip-flop 50 outputs the retimed data RetimedData in which the timing of the input data DataIn is correctly reset.

本実施形態のクロック・データリカバリ回路1は、所定の最大ビット(5ビット)数以内の連続した任意のビット数HレベルあるいはLレベルにとどまることがある入力データDataInの立ち下がりエッジと、遅延部10に配列された各1ビット遅延素子11の出力(データD1,D2,D3,D4,D5)の立ち上がりエッジとの位相を位相比較部20で比較し、その位相比較結果に基づいて、遅延部10に配列された各半ビット遅延素子の遅延量をチャージポンプ・ループフィルタ30で調整する。さらに、クロック生成部40で、このようにして調整された、遅延部10に配列された複数の半ビット遅延素子の出力(データD0h,D1h,D2h,D3h,D4h)に基づいて、入力データDataInの入力周期と同期した周期のクロックRCKをクロック生成部40生成し、フリップフロップ50で、そのクロックRCKを用いて、入力データDataInを取り込むものである。従って、DLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路1であって、且つ外部から参照クロックの入力が不要なクロック・データリカバリ回路1が構成されることとなる。   The clock / data recovery circuit 1 of the present embodiment includes a falling edge of input data DataIn that may remain at an arbitrary number of bits H level or L level within a predetermined maximum number of bits (5 bits), and a delay unit. 10 is compared with the phase of the rising edge of the output (data D1, D2, D3, D4, D5) of each 1-bit delay element 11 arranged in 10, and the delay unit is based on the phase comparison result. The delay amount of each half-bit delay element arranged in 10 is adjusted by the charge pump / loop filter 30. Further, based on the outputs (data D0h, D1h, D2h, D3h, D4h) of the plurality of half-bit delay elements arranged in the delay unit 10 adjusted in this way by the clock generation unit 40, the input data DataIn The clock generator 40 generates a clock RCK having a period synchronized with the input period, and the flip-flop 50 takes in the input data DataIn using the clock RCK. Therefore, the clock / data recovery circuit 1 using the DLL technique and the input of the reference clock from the outside is not required.

このため、PLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路と比較し、VCO(電圧制御発振器)を備える必要はなく、従って適切に動作するループ定数の範囲は広く、製造プロセスのバラツキ等に起因する変動を小さく抑えることができ、回路の安定性が高まる。また、従来の、DLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路と比較し、外部から高速な参照クロックを入力する必要はなく、従ってコストの低減化および設計の簡略化が図られる。   Therefore, it is not necessary to provide a VCO (Voltage Controlled Oscillator) compared to a clock / data recovery circuit using PLL technology, and therefore the range of loop constants to operate properly is wide, and fluctuations caused by variations in manufacturing processes, etc. Can be kept small, and the stability of the circuit is increased. Further, compared with a conventional clock / data recovery circuit using DLL technology, it is not necessary to input a high-speed reference clock from the outside, so that the cost can be reduced and the design can be simplified.

本発明の一実施形態のクロック・データリカバリ回路を示す図である。It is a figure which shows the clock data recovery circuit of one Embodiment of this invention. 図1に示す遅延部および位相比較部双方の一部を示す図である。It is a figure which shows a part of both the delay part shown in FIG. 1, and a phase comparison part. 図2に示す遅延部および位相比較部におけるタイミングを示す図である。It is a figure which shows the timing in the delay part and phase comparison part which are shown in FIG. 図1に示すクロック生成部の回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram of a clock generation unit shown in FIG. 1. 図1に示すクロック・データリカバリ回路のタイミングチャートである。3 is a timing chart of the clock / data recovery circuit shown in FIG. 1. PLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the clock data recovery circuit using PLL technology. PLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路の他の一例を示す図である。It is a figure which shows another example of the clock data recovery circuit using PLL technology. DLL技術を用いたクロック・データリカバリ回路の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the clock data recovery circuit using DLL technique.

符号の説明Explanation of symbols

1 クロック・データリカバリ回路
10 遅延部
11 1ビット遅延素子
20 位相比較部
21,22,23,50 フリップフロップ
24,25 アンドゲート
26,27,46 オアゲート
30 チャージポンプ・ループフィルタ
40 クロック生成部
41,42,43,44,45 エクスクルーシブオアゲート
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Clock data recovery circuit 10 Delay part 11 1 bit delay element 20 Phase comparison part 21, 22, 23, 50 Flip-flop 24,25 AND gate 26,27,46 OR gate 30 Charge pump loop filter 40 Clock generation part 41, 42, 43, 44, 45 Exclusive OR Gate

Claims (3)

所定の最大ビット数以内の連続した任意のビット数HレベルあるいはLレベルにとどまることがある入力データと同期したクロックを生成し、該クロックを用いて入力データを取り込むクロック・データリカバリ回路において、
前記入力データの1ビットごとのデータ入力周期一周期の1/2の時間遅延させる遅延量可変な半ビット遅延素子2個の直列接続からなる1ビット遅延素子が前記最大ビット数と同数以上直列に接続され、前記入力データを入力して遅延させる遅延部と、
入力データの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとのうちの一方である第1のエッジと、前記遅延部に配列された各1ビット遅延素子の出力の、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとのうちのもう一方である第2のエッジとの位相を比較する位相比較部と、
前記位相比較部による位相比較結果に基づいて、前記遅延部に配列された各半ビット遅延素子の遅延量を、入力データの1ビットごとのデータ入力周期一周期の1/2の時間に調整する遅延量調整部と、
前記遅延部に配列された複数の半ビット遅延素子の出力に基づいて、入力データの入力周期と同期した周期のクロックを生成するクロック生成部と、
前記クロック生成部で生成されたクロックを用いて前記入力データを取り込むデータ取込部とを備えたことを特徴とするクロック・データリカバリ回路。
In a clock and data recovery circuit that generates a clock synchronized with input data that may remain at an H level or an L level, which is continuously at an arbitrary number of bits within a predetermined maximum number of bits, and that takes in the input data using the clock,
The number of 1-bit delay elements consisting of two half-bit delay elements, which are variable in the amount of delay for delaying the time of ½ of one cycle of the data input period for each bit of the input data, is equal to or greater than the maximum number of bits in series. A delay unit connected to delay the input data;
The first edge that is one of the rising edge and the falling edge of the input data, and the other one of the rising edge and the falling edge of the output of each 1-bit delay element arranged in the delay unit. A phase comparator for comparing the phase with the second edge,
Based on the phase comparison result by the phase comparison unit, the delay amount of each half-bit delay element arranged in the delay unit is adjusted to a time half of one cycle of the data input cycle for each bit of the input data. A delay amount adjustment unit;
A clock generation unit that generates a clock having a period synchronized with an input period of input data, based on outputs of a plurality of half-bit delay elements arranged in the delay unit;
A clock / data recovery circuit comprising: a data capturing unit that captures the input data using the clock generated by the clock generating unit.
前記位相比較部は、前記入力データの前記第1のエッジのタイミングにおける、前記遅延部に配列された1ビット遅延素子の出力レベルと該1ビット遅延素子を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力レベルと、該1ビット遅延素子の後段に接続された次の1ビット遅延素子を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力レベルとの比較を、該遅延部に配列された複数の1ビット遅延素子について行なって、入力データの位相に対する、該遅延部を通過中のデータの位相の進み又は遅れを検出するものであることを特徴とする請求項1記載のクロック・データリカバリ回路。   The phase comparison unit includes an output level of the 1-bit delay element arranged in the delay unit at the timing of the first edge of the input data and two half-bit delay elements constituting the 1-bit delay element. The output level of the half-bit delay element on the front stage side of the first half-bit delay element and the half-bit delay element on the front-stage side of the two half-bit delay elements constituting the next 1-bit delay element connected to the subsequent stage The comparison with the output level is performed for a plurality of 1-bit delay elements arranged in the delay unit, and the advance or delay of the phase of the data passing through the delay unit with respect to the phase of the input data is detected. The clock / data recovery circuit according to claim 1. 前記クロック生成部は、前記遅延部に配列された1ビット遅延素子の出力と、該1ビット遅延素子を構成する2つの半ビット遅延素子のうちの前段側の半ビット遅延素子の出力との排他論理和を該遅延部に配列された複数の1ビット遅延素子について求めて、これら複数の排他論理和のオアを求めることによりクロックを生成するものであることを特徴とする請求項1記載のクロック・データリカバリ回路。   The clock generation unit excludes the output of the 1-bit delay element arranged in the delay unit and the output of the half-bit delay element on the preceding stage of the two half-bit delay elements constituting the 1-bit delay element 2. The clock according to claim 1, wherein a clock is generated by obtaining a logical sum of a plurality of 1-bit delay elements arranged in the delay unit and obtaining an OR of the plurality of exclusive ORs. -Data recovery circuit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI397864B (en) * 2008-02-29 2013-06-01 東芝股份有限公司 Method of making operation plan for an energy storage equipment and operation plan making equipment

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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