JP2006242838A - Inspecting apparatus and inspecting method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、カムシャフトのカム面等の表面欠陥や形状の違いを検査する検査装置及び検査方法に関するものである。 The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method for inspecting a surface defect such as a cam surface of a cam shaft and a difference in shape.
従来、この種の検査装置としては、特許文献1に開示されているように、カムシャフトのカム面をCCD等のカメラにより走査して、カム面の表面欠陥を検査するものが提案されている。
この検査装置では、カム面に巣或いは黒皮残りといった欠陥があると、カメラの光学系の受光量変化から不良品と判定できるものとしている。
In this inspection apparatus, if there is a defect such as a nest or a black skin residue on the cam surface, it can be determined as a defective product from the change in the amount of light received by the optical system of the camera.
しかしながら、こうした検査装置では、カム面の3次元情報、即ち深さ方向の情報を加えた表面情報を取得できないことから、カム面に油や切り屑,塵等が付着していた場合にも、カメラの光学系の受光量変化として不良品と判定されてしまうため、検査結果の信頼性に欠けるという問題点があった。 However, in such an inspection device, since it is not possible to obtain the surface information including the three-dimensional information of the cam surface, that is, the information in the depth direction, even when oil, chips, dust, etc. are attached to the cam surface, Since the received light amount of the camera optical system is judged as a defective product, there is a problem that the reliability of the inspection result is lacking.
本発明は上記従来の問題点に鑑み案出したものであって、検査の信頼性向上を目的の一つとし、また、欠陥の有無判定の自動化を目的の一つとし、更に、検査の高速化を目的の一つとするものであり、その請求項1は、回転体として形成された検査対象の回転方向周表面を検査する検査装置において、前記回転方向周表面上の検査面の深さ方向の情報を含む表面3次元情報を取得する情報取得手段と、該情報取得手段により取得された前記表面3次元情報に基づき前記検査対象に欠陥があるか否かを判定する欠陥判定手段とを備えたことである。
The present invention has been devised in view of the above-described conventional problems, and is one of the purposes of improving the reliability of inspection, and one of the purposes of automating the determination of the presence / absence of defects. In the inspection apparatus for inspecting the rotation direction circumferential surface of the inspection object formed as a rotating body, the depth direction of the inspection surface on the rotation direction circumferential surface is the
また、請求項2は、前記検査対象は固定軸回りに回転し、前記情報取得手段は、該検査対象が回転することで前記回転方向周表面全周の前記表面3次元情報を取得する手段であることである。 The inspection object may be rotated about a fixed axis, and the information acquisition unit may acquire the surface three-dimensional information of the entire circumference in the rotation direction by rotating the inspection object. That is.
また、請求項3は、前記情報取得手段は、前記表面3次元情報を取得する情報取得部を有し、該情報取得部が前記検査面に対して常に垂直となるよう構成されてなることである。 According to a third aspect of the present invention, the information acquisition unit includes an information acquisition unit that acquires the surface three-dimensional information, and the information acquisition unit is configured to be always perpendicular to the inspection surface. is there.
また、請求項4は、前記情報取得手段は、前記情報取得部と前記検査面との間隔が常に一定距離となるように構成されてなることである。 According to a fourth aspect of the present invention, the information acquisition unit is configured such that a distance between the information acquisition unit and the inspection surface is always a constant distance.
また、請求項5は、前記情報取得手段は、前記深さ方向の情報として前記検査面に形成された凹部の深さ寸法を取得する手段であることである。 According to a fifth aspect of the present invention, the information acquisition means is means for acquiring a depth dimension of a concave portion formed in the inspection surface as information in the depth direction.
また、請求項6は、前記情報取得手段は、前記検査面の磁界の変化を検出することにより前記深さ寸法を取得する手段であることである。 The information acquisition means is means for acquiring the depth dimension by detecting a change in the magnetic field of the inspection surface.
また、請求項7は、前記欠陥判定手段は、前記深さ寸法が所定値以下の場合には、前記検査対象に欠陥がないと判定する手段であることである。 The defect determination means is a means for determining that the inspection object is free of defects when the depth dimension is a predetermined value or less.
また、請求項8は、前記凹部の面積を算出する面積算出手段を有し、前記欠陥判定手段は、該面積算出手段により算出された前記凹部の面積の値が第一の範囲以外の時に、前記検査対象に欠陥があると判定する手段であることである。 In addition, claim 8 has an area calculation means for calculating the area of the recess, and the defect determination means, when the value of the area of the recess calculated by the area calculation means is outside the first range, It is means for determining that the inspection object has a defect.
また、請求項9は、前記凹部の回転方向最大寸法を算出する回転方向寸法算出手段を有し、前記欠陥判定手段は、該回転方向寸法算出手段により算出された前記回転方向最大寸法の値が第二の範囲以外の時に、前記検査対象に欠陥があると判定する手段であることである。 Further, the present invention includes a rotation direction dimension calculation unit that calculates a rotation direction maximum dimension of the recess, and the defect determination unit has a value of the rotation direction maximum dimension calculated by the rotation direction dimension calculation unit. It is means for determining that the inspection object has a defect at times other than the second range.
また、請求項10は、前記凹部の回転方向に対して所定の角度傾斜した方向の最大寸法を算出する傾斜方向寸法算出手段を有し、前記欠陥判定手段は、該傾斜方向寸法算出手段により算出された前記回転方向に対して所定の角度傾斜した方向の最大寸法の値が第三の範囲以外の時に、前記検査対象に欠陥があると判定する手段であることである。 The tenth aspect includes an inclination direction dimension calculating means for calculating a maximum dimension in a direction inclined by a predetermined angle with respect to the rotation direction of the recess, and the defect determining means is calculated by the inclination direction dimension calculating means. When the value of the maximum dimension in the direction inclined by a predetermined angle with respect to the rotation direction is outside the third range, it is means for determining that the inspection object is defective.
また、請求項11は、前記表面3次元情報を画像処理する画像処理手段と、該画像処理された該表面3次元情報を表示する表示手段とを備えることである。 The eleventh aspect includes image processing means for performing image processing on the surface three-dimensional information and display means for displaying the image processed three-dimensional information.
また、請求項12は、前記画像処理手段は、前記凹部の深さの度合いに応じて色調を変える画像処理を行い、前記表示手段は、前記凹部の深さの度合いに応じて色調が変えられた前記表面3次元情報を表示する手段であることである。 According to a twelfth aspect of the present invention, the image processing means performs image processing for changing a color tone according to a depth degree of the concave portion, and the display means has a color tone changed according to the depth degree of the concave portion. It is also a means for displaying the surface three-dimensional information.
また、請求項13は、表示手段は、前記欠陥判定手段による判定結果を表示する手段であることである。 Further, the display means is means for displaying a determination result by the defect determination means.
また、請求項14は、前記検査対象は、回転軸方向に同形状同位相の第二検査対象を備え、前記情報取得手段は、該検査対象と該第二検査対象の前記表面3次元情報を同時に取得可能な手段であり、前記欠陥判定手段は、該検査対象と該第二検査対象とに欠陥があるか否かを同時に判定可能な手段であることである。 In addition, the inspection object includes a second inspection object having the same shape and the same phase in a rotation axis direction, and the information acquisition unit includes the inspection object and the surface three-dimensional information of the second inspection object. The defect determination means is a means that can simultaneously determine whether or not the inspection object and the second inspection object are defective.
また、請求項15の検査方法は、回転体として形成された検査対象の回転方向周表面を検査する検査方法において、(a)前記回転方向周表面上の検査面の深さ方向の情報を含む表面3次元情報を取得し、(b)取得した前記表面3次元情報に基づいて、前記検査面に形成された凹部の面積と、該凹部の長さ寸法の少なくとも一つを算出し、(c)前記深さ方向の情報としての前記凹部の深さが所定値以下の場合、または前記凹部の面積および前記凹部の長さ寸法が第二所定値以下の場合には、前記検査対象に欠陥がないと判定し、該凹部の深さが所定値より大きく、且つ、前記凹部の面積と前記凹部の長さ寸法の少なくとも一つが第二所定値よりも大きい場合には、前記検査対象に欠陥があると判定することである。
An inspection method according to
本発明は、回転体として形成された検査対象の回転方向周表面を検査する検査装置において、回転方向周表面上の検査面の深さ方向の情報を含む表面3次元情報を取得する情報取得手段と、情報取得手段により取得された表面3次元情報に基づき、検査対象に欠陥があるか否かを判定する欠陥判定手段とを備えることにより、回転体として形成された検査対象の回転方向周表面上の検査面の表面3次元情報を取得し、この表面3次元情報に基づいて検査対象に欠陥があるか否かの判定を行うものであるから、正確な検査結果が得られ、検査の信頼性が向上するものとなる。
また、欠陥の有無の判定を自動化することができるものとなる。
The present invention relates to an information acquisition means for acquiring surface three-dimensional information including information on a depth direction of an inspection surface on a rotation direction peripheral surface in an inspection apparatus for inspecting the rotation direction peripheral surface of an inspection object formed as a rotating body. And a defect determination means for determining whether or not the inspection object has a defect based on the surface three-dimensional information acquired by the information acquisition means, thereby rotating the circumferential surface of the inspection object formed as a rotating body Since the surface three-dimensional information of the upper inspection surface is acquired and it is determined whether there is a defect in the inspection object based on the surface three-dimensional information, an accurate inspection result can be obtained and the inspection reliability can be obtained. The property is improved.
Moreover, the determination of the presence or absence of a defect can be automated.
また、検査対象は固定軸回りに回転し、情報取得手段は、検査対象が回転することで回転方向周表面全周の表面3次元情報を取得する手段であることにより、検査対象を回転させるだけで検査対象の回転方向周表面全周の表面3次元情報を取得することができるものとなる。 Further, the inspection object is rotated around the fixed axis, and the information acquisition means is a means for acquiring the surface three-dimensional information of the circumferential surface in the rotation direction by rotating the inspection object, so that only the inspection object is rotated. Thus, it is possible to acquire the three-dimensional surface information of the entire circumferential surface in the rotation direction to be inspected.
また、情報取得手段は、表面3次元情報を取得する情報取得部を有し、情報取得部が検査面に対して常に垂直となるよう構成されているため、検査対象の回転位置によって情報取得の状況に差異が生じることがなく、検査面の表面3次元情報を精度よく取得することができるものとなる。 Further, the information acquisition means has an information acquisition unit for acquiring the surface three-dimensional information, and the information acquisition unit is configured to be always perpendicular to the inspection surface. There is no difference in the situation, and the surface three-dimensional information on the inspection surface can be acquired with high accuracy.
また、情報取得手段は、情報取得部と検査面との間隔が常に一定距離となるように構成されているため、情報取得部と検査面との間隔が常に一定距離となり、検査対象の回転位置によって情報取得の状況に差異が生じることがなく、検査面の表面3次元情報を精度よく取得することができるものとなる。 In addition, since the information acquisition unit is configured such that the distance between the information acquisition unit and the inspection surface is always a constant distance, the interval between the information acquisition unit and the inspection surface is always a constant distance, and the rotation position of the inspection target Thus, there is no difference in the situation of information acquisition, and the surface three-dimensional information on the inspection surface can be acquired with high accuracy.
また、情報取得手段は、深さ方向の情報として検査面に形成された凹部の深さ寸法を取得する手段であることにより、深さ方向の情報として検査面に形成された凹部の深さ寸法を取得することができるものとなる。 The information acquisition means is means for acquiring the depth dimension of the recess formed on the inspection surface as information in the depth direction, so that the depth dimension of the recess formed on the inspection surface as information in the depth direction. Will be able to get.
また、情報取得手段は、検査面の磁界の変化を検出することにより深さ寸法を取得する手段であることにより、磁界の変化を取得することにより、深さ寸法を取得することができるものとなる。 In addition, the information acquisition means is a means for acquiring a depth dimension by detecting a change in the magnetic field on the inspection surface, so that the depth dimension can be acquired by acquiring a change in the magnetic field. Become.
また、欠陥判定手段は、深さ寸法が所定値以下の場合には、検査対象に欠陥がないと判定する手段であることにより、検査面に凹部が存在しても、凹部の深さ寸法が所定値以下の場合には欠陥がないと判定するため、真の欠陥のみを欠陥として判定することができるものとなる。 Further, the defect determining means is a means for determining that there is no defect in the inspection object when the depth dimension is equal to or smaller than a predetermined value. Since it is determined that there is no defect when it is equal to or less than a predetermined value, only a true defect can be determined as a defect.
また、凹部の面積を算出する面積算出手段を有し、欠陥判定手段は、面積算出手段により算出された凹部の面積の値が第一の範囲以外のときに、検査対象に欠陥があると判定する手段であることにより、検査対象の検査面に第一の範囲以外の面積を有する凹部が存在するときに欠陥があると判定するため、真の欠陥のみを欠陥として判定することができるものとなる。 In addition, it has an area calculation means for calculating the area of the recess, and the defect determination means determines that the inspection object has a defect when the value of the area of the recess calculated by the area calculation means is outside the first range. Since it is determined that there is a defect when there is a recess having an area other than the first range on the inspection surface to be inspected, only the true defect can be determined as a defect. Become.
また、凹部の回転方向最大寸法を算出する回転方向寸法算出手段を有し、欠陥判定手段は、回転方向寸法算出手段により算出された回転方向最大寸法の値が第二の範囲以外のときに、検査対象に欠陥があると判定する手段であることにより、検査対象の検査面に第二の範囲以外の回転方向最大寸法を有する凹部が存在するときに欠陥があると判定するため、真の欠陥のみを欠陥として判定することができるものとなる。 Further, it has a rotation direction dimension calculation means for calculating the rotation direction maximum dimension of the recess, the defect determination means, when the value of the rotation direction maximum dimension calculated by the rotation direction dimension calculation means is outside the second range, Since it is a means for determining that there is a defect in the inspection object, it is determined that there is a defect when the inspection surface to be inspected has a recess having a maximum rotation direction dimension other than the second range. It is possible to determine only as a defect.
また、凹部の回転方向に対して所定の角度傾斜した方向の最大寸法を算出する傾斜方向寸法算出手段を有し、欠陥判定手段は、傾斜方向寸法算出手段により算出された回転方向に対して所定の角度傾斜した方向の最大寸法の値が第三の範囲以外のときに、検査対象に欠陥があると判定する手段であることにより、検査対象の検査面の回転方向に対して所定の角度傾斜した方向に第三の範囲以外の最大寸法を有する凹部が存在するときに欠陥があると判定するため、真の欠陥のみを欠陥として判定することができるものとなる。 In addition, there is provided an inclination direction dimension calculating means for calculating a maximum dimension in a direction inclined by a predetermined angle with respect to the rotation direction of the recess, and the defect determining means is predetermined with respect to the rotation direction calculated by the inclination direction dimension calculating means. When the value of the maximum dimension in the angle-inclined direction is outside the third range, it is a means for determining that the inspection object has a defect, so that a predetermined angle inclination with respect to the rotation direction of the inspection surface of the inspection object Since it is determined that there is a defect when there is a concave portion having a maximum dimension other than the third range in the direction, the only true defect can be determined as a defect.
また、表面3次元情報を画像処理する画像処理手段と、画像処理された表面3次元情報を表示する表示手段とを備えることにより、検査対象の検査面の情報を視認することができるものとなる。 Further, by providing image processing means for image processing the surface three-dimensional information and display means for displaying the image processed surface three-dimensional information, information on the inspection surface to be inspected can be visually recognized. .
また、画像処理手段は、凹部の深さの度合いに応じて色調を変える画像処理を行い、表示手段は、前記凹部の深さの度合いに応じて色調が変えられた表面3次元情報を表示する手段であることにより、凹部の形状を立体的に視認することができるものとなる。 The image processing means performs image processing for changing the color tone according to the depth of the recess, and the display means displays the three-dimensional surface information whose color tone is changed according to the depth of the recess. By being a means, the shape of the concave portion can be visually recognized in three dimensions.
また、表示手段は、欠陥判定手段による判定結果を表示する手段であることにより、判定結果を視認することができるものとなる。 Further, the display means is a means for displaying the determination result by the defect determination means, so that the determination result can be visually recognized.
また、検査対象は、回転軸方向に同形状同位相の第二検査対象を備え、情報取得手段は、検査対象と第二検査対象の表面3次元情報を同時に取得可能な手段であり、欠陥判定手段は、検査対象と第二検査対象とに欠陥があるか否かを同時に判定可能な手段であることにより、同一形状同位相に形成された検査対象の欠陥の有無を同時に判定することができるものとなり、検査の高速化が図れるものとなる。 The inspection object includes a second inspection object having the same shape and the same phase in the rotation axis direction, and the information acquisition unit is a unit capable of acquiring the inspection object and the surface three-dimensional information of the second inspection object at the same time. The means is a means capable of simultaneously determining whether or not the inspection object and the second inspection object are defective, so that the presence or absence of the defect of the inspection object formed in the same shape and the same phase can be simultaneously determined. Therefore, the inspection speed can be increased.
また検査方法は、回転体として形成された検査対象の回転方向周表面を検査する検査方法において、(a)回転方向周表面上の検査面の深さ方向の情報を含む表面3次元情報を取得し、(b)取得した表面3次元情報に基づいて、検査面に形成された凹部の面積と、凹部の長さ寸法の少なくとも一つを算出し、(c)深さ方向の情報としての凹部の深さが所定値以下の場合、または凹部の面積および凹部の長さ寸法が第二所定値以下の場合には、検査対象に欠陥がないと判定し、凹部の深さが所定値より大きく、且つ、凹部の面積と凹部の長さ寸法の少なくとも一つが、第二所定値よりも大きい場合には、検査対象に欠陥があると判定するものであるため、正確な検査結果が得られ、検査の信頼性が向上するものとなる。 Further, the inspection method is an inspection method for inspecting a rotation direction circumferential surface of an inspection object formed as a rotating body. (A) Acquires surface three-dimensional information including information on a depth direction of an inspection surface on the rotation direction circumferential surface. And (b) calculating at least one of the area of the recess formed on the inspection surface and the length of the recess based on the acquired three-dimensional surface information, and (c) the recess as information in the depth direction. If the depth of the recess is less than a predetermined value, or if the area of the recess and the length dimension of the recess are less than the second predetermined value, it is determined that there is no defect in the inspection object, and the depth of the recess is greater than the predetermined value. And, if at least one of the area of the recess and the length dimension of the recess is larger than the second predetermined value, it is determined that there is a defect in the inspection object, so an accurate inspection result is obtained, The reliability of the inspection is improved.
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
図1は、本実施例の検査装置の一例であるカムシャフトのカム面の表面状態を検査するカム面検査装置の正面概略構成図であり、図2は、図1の側面構成図であり、また図3は、主要部の配置構成を示す平面図である。
図において、検査装置1は、機台2上に、チャック3を備えたカムシャフト押え4と、カムシャフト押え4と対向状に固定軸5が配置されて、チャック3と固定軸5間でカムシャフト6を回転可能に支持することができるように構成されており、カムシャフト6には、幅14mmの同一位相のカム7,7が隣り合って配置されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic front view of a cam surface inspection device that inspects the surface state of a cam surface of a camshaft, which is an example of an inspection device of the present embodiment, and FIG. 2 is a side view of FIG. FIG. 3 is a plan view showing an arrangement configuration of main parts.
In the figure, an
カムシャフト押え4は、カム押さえシリンダ8の作動により、カム押さえスライド9を介して横方向に移動でき、また、固定軸5は、シリンダ11の作動により、スライド12を介して横方向に移動できて、カムシャフト6を着脱可能に支持できるように構成されている。
また、カムシャフト押え4には、θ軸回転モータ10が備えられており、θ軸回転モータ10を介してカムシャフト6を回転させることができるように構成されている。
また、スライドベース13上には、所定間隔をおいてカム面の表面状態を測定するためのカム面測定機構14,14,14が配設されており、スライドベース13は、X軸移動モータ24によりX軸スライド15を介してX軸方向に移動できるように構成されている。
The camshaft presser 4 can be moved laterally via the
In addition, the camshaft presser 4 is provided with a θ-
On the
各カム面の表面状態を測定するためのカム面測定機構14は、図2のように、カム7に対し左右にそれぞれ配置されており、上面側にはZ軸上下駆動モータ16が立設されており、このZ軸上下駆動モータ16が回転されることにより、ボールネジ17が回転されて、このボールネジ17の回転に伴って、Z軸スライド18を介して、センサヘッド19がZ軸方向に上下動できるように構成されている。
As shown in FIG. 2, cam
図4は、センサヘッド19を模式的に表した模式図、図5は、センサ19aの詳細を表した詳細図である。
図4に示すように、センサヘッド19には、カム7のカム面の表面状態としてカム7における表面の深さ方向寸法を検出できるセンサ19aがカム7側に配置されている。
センサ19aは、図5に示すように、実施例では、1.3mm×1.3mmのハウジング19bの略中央に0.1mm×0.1mmのホール素子19cを貼り付けたものを、0.1mm間隔で横一列に10個配置するものとした。
したがって、カムシャフト6が1回転するごとに、カム7の表面の深さ方向寸法をカム7の周方向の線データとして10個(1.4mm間隔)取得することができる。
本実施例のようにカム7が幅14mmで形成されている場合には、センサヘッド19をカム7の幅方向(X軸方向)に0.1mmずつ13回移動、即ち、カムシャフト6を14回転させることでカム7の表面の深さ方向寸法を面データとして取得することができる。
FIG. 4 is a schematic view schematically showing the
As shown in FIG. 4, the
As shown in FIG. 5, in the embodiment, the
Therefore, every time the
When the
なお、ハウジング19bのセンサヘッド19への取り付けやホール素子19cのハウジング19bへの貼り付けの際に発生する傾きや間隔のばらつきを考慮して、センサヘッド19をX軸方向に0.1mmずつ13回以上移動するものとしても良い。
このようにデータを重複して取得することで、より正確な面データを取得することができる。
In consideration of variations in inclination and spacing that occur when the
By acquiring data in duplicate in this way, more accurate surface data can be acquired.
また、各カム面の表面状態を測定するためのカム面測定機構14の側方には、Y軸倣い機構21が連結されており、このY軸倣い機構21がY軸スライドベース20を介してスライドベース13上に固定されたものとなっている。
このY軸倣い機構21は、カム7に当接して、カムシャフト6の回転と共にカム7が回転されたときに、カム7に押されてY軸スライドベース20を介してY軸方向へ移動できるように構成されており、これにより、センサ19aとカム面との距離を常に一定に保持可能に構成されている。Y軸倣い機構21は、実施例では、円柱状のローラー21aで構成するものとした。
A Y-
The Y-
このように、Y軸倣い機構21を円柱状のローラー21aで構成することにより、図6に拡大して示すように、カム7との接触形態が点接触となるため、カム7における回転フリクションを極力押えることができるとともに、カム7との接触部が摩耗したときには、ローラー21aを回転させることで容易に対応できるものとなる。
Thus, by configuring the Y-
図8および図9は、ローラー21aに代えて球体21bを使用したY軸倣い機構21の一例を模式的に表した模式図である。
図7に示すような凹形状を有するカム7について正確に倣うことができるようにする場合には、図8に示すように、Y軸倣い機構21とセンサヘッド19とをベース25に一体的に固定し、この一体的に固定した構造体26がY軸スライドベース20を介してY軸方向へ移動できるように構成すれば良い。
8 and 9 are schematic views schematically showing an example of the Y-
When the
また、図7に示すような凹形状を有するカム7については倣うことはできないが、図9に示すように、球体21bをセンサヘッド19に一体的に形成する構造とすることもできる。この構造によれば、カムシャフト6に同一位相のカム7,7,7が隣り合って配置されていない場合であっても、カム面7aとセンサ19aとの距離を常に一定に保持することができる。
Further, the
図10は、平板を使用したY軸倣い機構を模式的に表した模式図である。ローラー21aや球体21bに比べ、上述した機能において多少劣るものの、図10に示すように、Y軸倣い機構21を平板21cで構成するものとしても構わない。
FIG. 10 is a schematic diagram schematically showing a Y-axis copying mechanism using a flat plate. Although the functions described above are somewhat inferior to those of the
なお、前述した如く、Z軸上下駆動モータ16を備えてセンサヘッド19をZ軸方向に上下動可能としたのは、図11或いは図12の作用説明図で示すように、カム7のカム面7aの測定時に、カム曲面の法線上にセンサ19aが位置していることが好ましく、カム面7aの検査面に対し常にセンサ19aが垂直となるように、カム7の回転位置によってセンサ19aを上下動させる必要があるからである。
As described above, the Z-axis
なお、図3に示すように、隣り合う同一位相の一対のカム7,7に対して、隣のカム7を倣い基準として計測を行えるように左右のカム面の表面状態を測定するためのカム面測定機構14及びY軸倣い機構21が配置されており、隣り合うカム7,7を相互に倣い基準として、一度に同一位相の一対のカム7,7の計測が可能なように構成されている。
このように配置すれば、同一形状同位相に形成されたカム7,7の欠陥の有無や形状の違いを同時に判定することができ、高速化が図れるものとなる。
In addition, as shown in FIG. 3, the cam for measuring the surface state of the left and right cam surfaces so that the
By arranging in this way, it is possible to simultaneously determine the presence or absence of defects and the difference in shape of the
なお、図1に示すように、制御装置22は、CPUを中心とするマイクロプロセッサとして構成されており、CPUの他に処理プログラムを記憶するROMと、データを一時的に記憶するRAMと、図示しない入出力ポートを備える。
制御装置22からは、X軸移動モータ24,Z軸上下駆動モータ16,θ軸回転モータ10への駆動制御信号やチャック3,シリンダ11への駆動制御信号、表示器23への画像表示信号などが出力されている。
As shown in FIG. 1, the
From the
次に、こうして構成された実施例のカム面検査装置の動作について説明する。
図13は、実施例の制御装置22により実行されるカム面7aの表面深さ寸法測定処理の一例を示すフローチャートである。この処理は、カム面7aの表面状態を測定するためにカムシャフト6の回転が開始されたときに所定時間ごとに繰り返し実行される。
Next, the operation of the cam surface inspection apparatus according to the embodiment thus configured will be described.
FIG. 13 is a flowchart illustrating an example of the surface depth dimension measurement process of the
表面深さ寸法測定処理が実行されると、制御装置22のCPUは、先ず、カム回転角θおよびカム回転数Nを読込み(ステップS20)、カム回転数Nが値14であるか否かの判定を行なう処理を実行する(ステップS21)。これは、カム7の表面深さ方向寸法Dを面データとして取得できたか否かを判断する為であり、前述したように、カム7が14回転することでカム7の表面深さ方向寸法Dを面データとして取得することができるからである。
カム回転数Nが値14でないときには、カム回転角θが360°であるか否かの判定を行なう(ステップS22)。カム回転角θが360°でないと判定されたときには、センサヘッド19のZ軸方向移動位置として座標Zsを設定し(ステップS23)、センサヘッド19の位置が座標Zsとなるようモータを制御する(ステップS24)。
When the surface depth dimension measurement process is executed, the CPU of the
When the cam rotation speed N is not 14, the determination is made as to whether or not the cam rotation angle θ is 360 ° (step S22). When it is determined that the cam rotation angle θ is not 360 °, the coordinate Zs is set as the movement position of the
Z軸方向移動位置としての座標Zsの設定は、実施例では、カム7の回転角θとZ軸座標との関係を予め求めてZ軸方向移動位置設定マップとしてROMに記憶しておき、カム7の回転角θが与えられたときにZ軸方向移動位置設定マップから対応するZ軸座標を設定するものとした。そして、座標Zsにおけるカム7の表面深さ方向寸法Dを測定して(ステップS25)、本処理を終了する。カム7の表面深さ方向寸法Dの測定は、実施例では、ホール素子19cからの電圧値を読み込むことで行なうものとした。
また、実施例では、ホール素子19cの大きさ(0.1mm×0.1mm)に合わせて座標Xsを値0.1だけインクリメントするものとしたが、ホール素子19cの大きさや必要とされる測定精度に合わせて座標Xsをインクリメントする値は変更しても良い。
In the embodiment, the setting of the coordinate Zs as the Z-axis direction moving position is obtained by previously obtaining the relationship between the rotation angle θ of the
In the embodiment, the coordinate Xs is incremented by the value 0.1 in accordance with the size (0.1 mm × 0.1 mm) of the
ステップS21でカム回転数Nが値14であると判定されたとき、即ち、カム7の表面深さ方向寸法Dを面データとして取得できたときには、カム回転数Nを値0に設定し(ステップS26)、センサヘッド19のX軸方向移動位置である座標Xsを値0に設定するとともに(ステップS27)、センサヘッド19のZ軸方向移動位置として座標Zsを設定して(ステップS23)、センサヘッド19の位置が座標Xs,座標Zsとなるようモータを制御する(ステップS24)。そして、座標Xs,座標Zsにおけるカム7の表面深さ方向寸法Dを測定して(ステップS25)、本処理を終了する。
When it is determined in step S21 that the cam rotation speed N is 14, that is, when the surface depth direction dimension D of the
一方、ステップS22でカム回転角θが360°であると判定されたとき、即ち、カムシャフト6が一回転したと判定されたときには、カム回転数Nを値1だけインクリメントし(ステップS28)、センサヘッド19のX軸方向移動位置である座標Xsを値0.1だけインクリメントするとともに(ステップS29)、センサヘッド19のZ軸方向移動位置に座標Zsを設定して(ステップS23)、センサヘッド19の位置が座標Xs,座標Zsとなるようモータを制御する(ステップS24)。そして、座標Xs,座標Zsにおけるカム7の表面深さ方向寸法Dを測定して(ステップS25)、本処理を終了する。
On the other hand, when it is determined in step S22 that the cam rotation angle θ is 360 °, that is, when it is determined that the
そして、制御装置のCPUは、このようにして測定されたカム7の表面深さ方向寸法Dをデジタル値に変換し、さらに対応する階調を付与して、カム面データとしてRAMの所定領域に設定されたカム面データ格納エリアに記憶する。ここで、階調の付与は、実施例では、カム7の表面において凹凸がない平面での値(正確にはAD変換後のデジタル値)を階調0とし、ホール電圧測定アンプの上限値を階調255とし、上限値と平面での値との電圧差を256で除することで行なうものとした。
Then, the CPU of the control device converts the surface depth direction dimension D of the
こうしてカム面深さ寸法処理が実施されて、カム7の表面状態を表すカム面データが取得されると、制御装置によりカム7に欠陥があるか否かの判定処理が実施されることになる。カム7の表面に欠陥があるか否かの判定は、図14に例示する欠陥判定処理により行なわれる。
When the cam surface depth dimension processing is thus performed and the cam surface data representing the surface state of the
以下、図14の欠陥判定処理について説明する。
欠陥判定処理が実行されると、制御装置のCPUは、先ず、カム面データを読込み(ステップS30)、読み込んだカム面データにおいてカム7の表面深さ方向寸法Dが閾値Dref以上(例えば、1mm以上)である部分を探査し(ステップS31)、カム7の表面深さ方向寸法Dが閾値Dref以上である部分があるか否かの判定を行なう処理を実行する(ステップS32)。ここで、閾値Drefは、カム7の表面欠陥として管理される表面深さ方向寸法値として設定されるものであり、カム7の使用用途等により定められる。
カム7の表面深さ方向寸法Dが閾値Dref以上である部分があるか否かの判定は、例えば、カム面データに閾値Dref以上に該当する階調があるか否かを判定することで行なうことができ、実施例では、閾値Dref以上の箇所の階調を全て値256に、閾値Dref未満の箇所の階調を全て値0に置き換える、周知の画像処理で行なわれる所謂フィルター処理を行い、階調が値256の箇所があるか否かを判定することで行なうものとした。
Hereinafter, the defect determination process of FIG. 14 will be described.
When the defect determination process is executed, the CPU of the control device first reads the cam surface data (step S30), and the surface depth direction dimension D of the
The determination as to whether or not there is a portion where the surface depth direction dimension D of the
そして、カム7の表面深さ方向寸法Dが閾値Dref以上である部分が有ると判定したときには、閾値Dref以上の箇所の面積S,回転方向の最大長さLc,回転方向に直角方向の最大長さLrをそれぞれ算出し(ステップS33)、面積S,最大長さLcおよび最大長さLrを閾値Sref,閾値Lcrefおよび閾値Lrrefと比較する(ステップS34〜S36)。ここで、閾値Sref,閾値Lcrefおよび閾値Lrrefは、表面欠陥として管理される面積,回転方向長さおよび回転方向に直角方向の長さとして設定されるものであり、カム7の使用用途等により定められる。
したがって、面積S,最大長さLcおよび最大長さLrと閾値Sref,閾値Lcrefおよび閾値Lrrefとの比較は、面積Sが閾値Sref以上であるときや長さLcが閾値Lcref以上であるとき、あるいは、長さLrが閾値Lrref以上であるときには、カム7の表面に欠陥があることを意味し、面積Sが閾値Spef未満で最大長さLcが閾値Lcref未満、かつ、最大長さLrが閾値Lrref未満であるときには、カム7の表面に欠陥がないことを意味する。
When it is determined that there is a portion where the surface depth direction dimension D of the
Therefore, the comparison of the area S, the maximum length Lc and the maximum length Lr with the threshold value Sref, the threshold value Lcref and the threshold value Lrref is when the area S is equal to or greater than the threshold value Sref, or when the length Lc is equal to or greater than the threshold value Lcref, or When the length Lr is equal to or greater than the threshold value Lrref, it means that the surface of the
なお、図15に例示する表示器に表示された欠陥部分の表示状態図のように、カム7の表面に複数の欠陥が存在する場合には、それぞれ別の欠陥として面積S,最大長さLcおよび最大長さLrを算出する。
それぞれが別の欠陥であるか否かの判断は、例えば、階調として値256が付与されたピクセルP(図中の黒色部分)が繋がっているか否かを判断することで行なうことができる。即ち、階調として値256が付与されたピクセルPの周りの8つのピクセルPの何れかに値256が付与されたピクセルPがあれば、値256が付与されたピクセルPが繋がっているものとして別の欠陥ではないと判断し、周りの8つのピクセルPの何れにも値256が付与されたピクセルPがなければ、値256が付与されたピクセルPは繋がっていないものとして別の欠陥として判断する。
If there are a plurality of defects on the surface of the
The determination of whether or not each is a different defect can be made, for example, by determining whether or not the pixel P (black portion in the figure) to which the value 256 is assigned as a gradation is connected. That is, if there is a pixel P to which the value 256 is assigned to any of the eight pixels P around the pixel P to which the value 256 is assigned as the gradation, the pixel P to which the value 256 is assigned is connected. If it is determined that the defect is not another defect and there is no pixel P to which the value 256 is assigned in any of the surrounding eight pixels P, it is determined that the pixel P to which the value 256 is not connected is not connected. To do.
こうして、面積S,最大長さLcおよび最大長さLrに基づいて、カム7の表面に欠陥があると判定されたときには、表示器23に「欠陥あり」を表示して(ステップS38)、本処理を終了する。
Thus, when it is determined that the surface of the
一方、面積S,最大長さLcおよび最大長さLrに基づいて、カム7の表面に欠陥がないと判定されたときには、表示器23に「欠陥なし」を表示して(ステップS37)、本処理を終了する。
On the other hand, when it is determined that there is no defect on the surface of the
以上説明した実施例のカム面検査装置によれば、カム面の表面深さ方向寸法Dを測定し、測定した表面深さ方向寸法Dが閾値Dref以上である箇所の面積Sやカム7の回転方向の最大長さLcや回転方向に直角方向の最大長さLrに基づいて欠陥があるか否かの判断を行なうから、欠陥の有無判定を自動で行なうことができるとともに、カム面に付着した油や切り屑,塵等を欠陥と判断することがないから、検査の信頼性を向上することができる。
しかも、Y軸倣いポスト21によりセンサ19aとカム7の検査面との距離を常に一定に保持するとともに、Z軸上下駆動モータ16によりセンサヘッド19をZ軸方向に移動することでセンサ19aをカム面に対して常に垂直となるように構成したから、カム面の表面深さ方向寸法Dをより正確に測定することができる。
また、欠陥があるか無いかを表示器23に表示するものとしたから、作業者が判定結果を確認できる。
According to the cam surface inspection apparatus of the embodiment described above, the surface depth direction dimension D of the cam surface is measured, the area S of the portion where the measured surface depth direction dimension D is equal to or greater than the threshold value Dref, and the rotation of the
In addition, the distance between the
In addition, since the
実施例のカム面検査装置では、カムシャフト6を回転させてカム7を回転することでカム7全周の表面深方向寸法Dを測定するものとしたが、カム面測定機構14をカム7の周りに回転させることでカム7全周の表面深方向寸法Dを測定するものとしても差し支えない。
In the cam surface inspection device of the embodiment, the
実施例のカム面検査装置では、センサ19aとカム面との距離を常に一定に保持するとともに、センサ19aがカム面に対して垂直となるよう構成するものとしたが、カム7の表面深さ方向寸法Dを正確に測定できれば、センサ19aとカム面との距離を常に一定に保持しなくても構わないし、センサ19aがカム7の検査面に対して垂直になるよう構成しなくても構わない。
In the cam surface inspection apparatus of the embodiment, the distance between the
実施例のカム面検査装置では、センサ19aとして磁束密度の変化を検出することができるホール素子19cを使用するものとしたが、磁気抵抗素子や渦電流を用いたものであっても良い。
また、磁界の変化を検出するものに限定されるものではなく、カム7の表面深さ方向寸法Dを測定できれば、例えば、レーザー等を使用したものであっても構わない。
In the cam surface inspection apparatus of the embodiment, the
Moreover, it is not limited to what detects the change of a magnetic field, For example, you may use a laser etc., if the surface depth direction dimension D of the
実施例のカム面検査装置では、センサ19aとして1.3mm×1.3mmのハウジング19bの略中央に0.1mm×0.1mmのホール素子19cを貼り付けたものを、0.1mm間隔で横一列に10個配置するものとしたが、図16に示すようにホール素子19cを貼り付けたハウジング19bをセンサヘッド19に一個配置したものや、図17に示すように、ハウジング19bを使用せずに、ウエハーから切り出した一列のホール素子19cをセンサヘッド19に直接貼り付けたもの等、ハウジング19bおよびホール素子19cの寸法や間隔や配置個数や配置場所は如何なる形態であっても構わない。
In the cam surface inspection apparatus of the embodiment, a
実施例のカム面検査装置では、カム7の回転方向に直角方向の最大長さLrを算出するものとしたが、カム7の回転方向に対して所定角度(例えば、30°や45°等)傾斜した方向の最大長さを算出するものとしたり、これらの組み合わせで複数の最大長さを算出するものとしても良い。
In the cam surface inspection apparatus of the embodiment, the maximum length Lr in the direction perpendicular to the rotation direction of the
実施例のカム面検査装置では、カム7の表面深さ方向寸法Dが閾値Dref以上である箇所の面積S,回転方向の最大長さLc,回転方向に直角方向の最大長さLrを算出するものとしたが、これらの内の何れか一つ、あるいは、二つしか算出しないものであっても構わない
In the cam surface inspection apparatus of the embodiment, the area S of the portion where the surface depth direction dimension D of the
実施例のカム面検査装置では、カム7の表面深さ方向寸法Dが閾値Dref以上である箇所の面積S,回転方向の最大長さLc,回転方向に直角方向の最大長さLrの何れかが閾値Sref,閾値Lcref,閾値Lrref以上であれば欠陥があると判定するものとしたが、全てが閾値Sref,閾値Lcref,閾値Lrref以上の場合に欠陥があると判定するものとしたり、何れかの二つが閾値Sref,閾値Lcref,閾値Lrref以上の場合に欠陥があると判定するものとしても構わない。
In the cam surface inspection apparatus of the embodiment, any one of the area S where the surface depth dimension D of the
実施例のカム面検査装置では、欠陥の有無のみを表示器23に表示するものとしたが、これに加え、図15に示すようなカム7のカム面データを表示するものとしても構わない。
In the cam surface inspection apparatus of the embodiment, only the presence / absence of a defect is displayed on the
実施例のカム面検査装置では、隣り合うカム7,7が同一形状同一位相に形成された一対のカム7,7のカム面を検査するものとして説明したが、隣り合うカム7,7が異形状異位相に形成されたカム7,7のカム面を検査するものであっても良い。
この場合、カム面検査装置の変形例の一例を示す図18のように、検査するカム7,7と同一形状同一位相に形成されたカム7,7を有するカムシャフト6(マスターワークでも可)を、検査するカム7,7が形成されたカムシャフト6に平行に配置し、検査するカム7,7側にセンサヘッド19を、平行配置されたカムシャフト6(マスターワーク)側にY軸倣い機構21を配置すれば良い。
In the cam surface inspection device according to the embodiment, the cam surfaces of the pair of
In this case, as shown in FIG. 18 showing an example of a modification of the cam surface inspection device, the
実施例のカム面検査装置では、センサ19aとカム面との距離を常に一定に保持するためにY軸倣い機構21を有する構成としたが、センサ19aとカム面との距離を常に一定に保持できればY軸倣い機構21は無くても構わない。
この場合、図13に例示する表面深さ寸法測定処理に代えて、図19に例示する表面深さ寸法測定処理が実行される。
In the cam surface inspection apparatus of the embodiment, the Y-
In this case, the surface depth dimension measurement process illustrated in FIG. 19 is executed instead of the surface depth dimension measurement process illustrated in FIG.
図19の表面深さ寸法測定処理は、図13に例示する表面深さ寸法測定処理に対して、ステップS23,24が異なるだけであり、その他は、図13の表面深さ寸法測定処理と同様であるので、ここでは、異なる箇所の説明のみを行うものとする。
図19の表面深さ寸法測定処理では、センサヘッド19のZ軸方向移動位置として座標Zsに加えて、センサヘッド19のY軸方向移動位置としての座標Ysを設定し(ステップS43)、センサヘッド19の位置が座標Xs,座標Ys,座標Zsとなるようモータを制御する処理を行なう(ステップS44)。
Y軸方向移動位置としての座標YsおよびZ軸方向移動位置としての座標Zsの設定は、例えば、カム7の回転角θとY軸座標およびZ軸座標との関係を予め求めて移動位置設定マップとしてROMに記憶しておき、カム7の回転角θが与えられたときに移動位置設定マップから対応するY軸座標およびZ軸座標を設定すれば良い。
The surface depth dimension measurement process of FIG. 19 differs from the surface depth dimension measurement process illustrated in FIG. 13 only in steps S23 and S24, and is otherwise the same as the surface depth dimension measurement process of FIG. Therefore, here, only a description of different parts will be given.
In the surface depth dimension measurement process of FIG. 19, in addition to the coordinate Zs as the Z-axis direction movement position of the
The setting of the coordinate Ys as the Y-axis direction movement position and the coordinate Zs as the Z-axis direction movement position is performed, for example, by previously obtaining the relationship between the rotation angle θ of the
実施例のカム面検査装置では、センサ19aがカム面7aの検査面に対して常に垂直となるようにカム7の回転角θとZ軸座標との関係を予め求めてZ軸方向移動位置設定マップとしてROMに記憶しておくものとしたが、カム面7aの表面状態の測定を行なう際に、先ず、センサ19aとカム面7aの検査面が常に垂直となるZ軸座標の測定を行うものとしても良い。
この場合、図20に例示する測定前設定処理が実行される。この処理は、カム面7aの表面状態を測定する前、即ち、図13の表面深さ寸法測定処理が実行される前に実行される。
In the cam surface inspection apparatus according to the embodiment, the relationship between the rotation angle θ of the
In this case, the pre-measurement setting process illustrated in FIG. 20 is executed. This process is performed before the surface state of the
図20の測定前設定処理が実行されると、制御装置のCPUは、図21に例示するカム回転処理(ステップS100)、図22に例示するセンサヘッド移動処理(ステップS102)、図23に例示するデータ格納処理(ステップS104)を実行し、その後、カム回転角θが360°となったか否かの判定を行い(ステップS106)、カム回転角θが360°となったと判定されたらカム回転角θを0°に設定して(ステップS108)、本処理を終了する。 When the pre-measurement setting process of FIG. 20 is executed, the CPU of the control device performs the cam rotation process (step S100) exemplified in FIG. 21, the sensor head movement process (step S102) exemplified in FIG. 22, and the example shown in FIG. Data storage processing (step S104) is executed, and then it is determined whether or not the cam rotation angle θ is 360 ° (step S106), and if it is determined that the cam rotation angle θ is 360 °, the cam rotation is performed. The angle θ is set to 0 ° (step S108), and this process ends.
このように、カム回転角θが360°となるまで、カム回転処理(ステップS100)、センサヘッド移動処理(ステップS102)、データ格納処理(ステップS104)を繰り返し実行することで、センサ19aとカム面7aの検査面が常に垂直となるZ軸座標をカム7の全周において測定することができる。なお、測定前設定処理は、本変形例では、図24に例示するようにセンサヘッド19を初期位置Z0(カム7の最下端位置)から上限値Zmaxまで移動させることで行なうものとした。
As described above, the cam rotation process (step S100), the sensor head movement process (step S102), and the data storage process (step S104) are repeatedly executed until the cam rotation angle θ reaches 360 °, whereby the
[カム回転処理]
カム回転処理では、図21に示すように、制御装置のCPUは、フラグf1を読み込む処理を実行し(ステップS200)、フラグf1が値1であるか否かを判定する(ステップS202)。ここで、フラグf1は、後に詳細を説明するデータ格納処理において、カム回転角θおよびセンサ19aのZ軸移動位置としての座標Zsが記憶エリアに格納されたか否かを示すものであり、カム回転角θおよび座標Zsが記憶エリアに格納された場合には値1が、格納されていない場合には値0が設定される。
[Cam rotation processing]
In the cam rotation process, as shown in FIG. 21, the CPU of the control device executes a process of reading the flag f1 (step S200), and determines whether or not the flag f1 is 1 (step S202). Here, the flag f1 indicates whether or not the cam rotation angle θ and the coordinate Zs as the Z-axis movement position of the
はじめてカム回転処理が実行される場合は、フラグf1は値0が設定されているので何も処理されずに、そのまま本処理を終了する。カム回転角θおよび座標Zsが記憶エリアに格納されるとフラグf1に値1が設定されるので、カム回転角θを値1°だけインクリメントするとともに(ステップS204)、フラグf1を値0に設定し(ステップS206)、カム回転角θとなるようモータ10を制御して(ステップS208)、本処理を終了する。本変形例では、カム回転角θを値1°ずつインクリメントするものとしたが、より精密な測定を有する場合等には1°より小さい値であっても良く、また、測定時間短縮が要求される場合等には1°より大きい値であっても良い。
When the cam rotation process is executed for the first time, since the flag f1 is set to the
[センサヘッド移動処理]
センサヘッド移動処理では、図22に示すように、制御装置のCPUは、フラグf2を読み込み(ステップS300)、フラグf2が値1であるか否かを判定する処理を実行する(ステップS302)。ここで、フラグf2は、センサヘッド19のZ軸方向移動位置としての座標Zsが上限値Zmaxに到達したか否かを示すものであり、座標Zsが上限値Zmaxに到達したときにはフラグf2が値1に設定され、到達していないときにはフラグf2が値0に設定されるものである。
[Sensor head movement processing]
In the sensor head moving process, as shown in FIG. 22, the CPU of the control device reads the flag f2 (step S300) and executes a process of determining whether or not the flag f2 is 1 (step S302). Here, the flag f2 indicates whether or not the coordinate Zs as the movement position of the
フラグf2が値1であると判定されたときには、座標Zsを値0.1だけインクリメントし(ステップS304)、センサヘッド19のZ軸方向移動位置が座標ZsとなるようモータM1を制御して(ステップS306)、本処理を終了する。本変形例では、座標Zsを値0.1ずつインクリメントするものとしたが、より精密な測定を有する場合等には値0.1より小さい値であっても良く、また、測定時間短縮が要求される場合等には値0.1より大きい値であっても良い。
When it is determined that the flag f2 has the
フラグf2が値1であると判定されたときには、座標Zsを値0に設定するとともに(ステップS308)、フラグf2を値0に設定して(ステップS310)、センサヘッド19のZ軸方向移動位置が座標Zs(値0)となるようモータM1を制御して(ステップS306)、本処理を終了する。
When it is determined that the flag f2 is the
[データ格納処理]
データ格納処理では、図23に示すように、制御装置のCPUは、カム回転角θ,センサヘッド19のZ軸方向移動位置としての座標Zs,座標Zsにおけるホール電圧Ehを読み込む処理を実行する(ステップS400)。次に、読み込んだホール電圧Ehと前回記憶したホール電圧Eh*とを比較し(ステップS402)、今回読み込んだホール電圧Ehの値が前回記憶したホール電圧Eh*の値より大きいか否かの判定を行なう(ステップS404)。
[Data storage processing]
In the data storage process, as shown in FIG. 23, the CPU of the control device executes a process of reading the cam rotation angle θ, the coordinate Zs as the movement position of the
大きいと判定された場合は、前回記憶したホール電圧Eh*及びこのホール電圧Eh*を測定した座標Zs*に代えて、今回のホール電圧Eh及びこのホール電圧Ehを測定した座標Zsを記憶する(ステップS406)。ここで、ホール電圧Eh及び座標Zsの記憶は、本変形例では、RAMの所定領域に設定した仮格納エリアに格納することで行なうものとした。 When it is determined that the voltage is larger, the hall voltage Eh * and the coordinate Zs at which the hall voltage Eh is measured are stored instead of the hall voltage Eh * stored at the previous time and the coordinate Zs * at which the hall voltage Eh * is measured ( Step S406). Here, in the present modification, the Hall voltage Eh and the coordinate Zs are stored in a temporary storage area set in a predetermined area of the RAM.
続いて、読み込んだ座標Zsの値が上限値Zmaxであるか否かの判定を行なう処理を実行する(ステップS408)。座標Zsが上限値Zmaxであると判定されたときには、読み込んだカム回転角θと仮格納エリアに格納されている座標ZsとをRAMの所定領域に設定したZ軸方向移動位置格納エリアに記憶し(ステップS410)、フラグf1およびフラグf2を値1に設定して(ステップS412)、本処理を終了する。 Subsequently, processing for determining whether or not the value of the read coordinate Zs is the upper limit value Zmax is executed (step S408). When it is determined that the coordinate Zs is the upper limit value Zmax, the read cam rotation angle θ and the coordinate Zs stored in the temporary storage area are stored in the Z-axis direction moving position storage area set in a predetermined area of the RAM. (Step S410), the flag f1 and the flag f2 are set to the value 1 (Step S412), and this process is terminated.
この変形例のカム面検査装置では、カム7の表面状態を測定する前に、センサ19aとカム面7aの検査面とが常に垂直となるセンサヘッド19の座標Zsをカム回転角θ毎に測定するものとしたから、予めZ軸方向移動位置設定マップが設定されていないカム7でも表面状態を測定することができる。
In the cam surface inspection apparatus of this modification, before measuring the surface state of the
変形例のカム面検査装置では、カム7の表面状態を測定する前に、センサ19aとカム面7aの検査面とが常に垂直となるセンサヘッド19の座標Zsをカム回転角θ毎に測定するものとしたが、座標Zsに加えて、センサ19aとカム面7aの検査面とが常に一定の距離を保持するようセンサヘッド19の座標Ysをカム回転角θ毎に測定するものとしても良い。
In the cam surface inspection device according to the modification, before measuring the surface state of the
変形例のカム面検査装置では、図24に示すように、センサヘッド19をカム7の最下端位置である初期位置Z0から上限値Zmaxまで移動させるものとしたが、センサヘッド19を上限値Zmaxから初期位置Z0まで移動させるものや、カム7の中央位置Zcentをセンサヘッド19の初期位置とするもの等、センサヘッド19の移動形態は、如何なるものであっても構わない。
In the cam surface inspection system modification, as shown in FIG. 24, but the
以上、本発明の実施の形態について実施例を用いて説明したが、本発明はこうした実施例に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において、種々なる形態で実施し得ることは勿論である。 The embodiments of the present invention have been described using the embodiments. However, the present invention is not limited to these embodiments, and can be implemented in various forms without departing from the gist of the present invention. Of course you get.
1 検査装置
2 機台
3 チャック
4 カムシャフト押え
5 固定軸
6 カムシャフト
7 カム
7a カム面
8 カム押さえシリンダ
9 カム押さえスライド
10 θ軸回転モータ
11 シリンダ
12 スライド
13 スライドベース
14 カム面測定機構
15 X軸スライド
16 Z軸上下駆動モータ
17 ボールネジ
18 Z軸スライド
19 センサヘッド
19a センサ
19c ホール素子
20 Y軸スライドベース
21 Y軸倣い機構
21a ローラー
21b 球体
21c 平板
22 制御装置
23 表示器
24 X軸移動モータ
25 ベース
DESCRIPTION OF
Claims (15)
(a)前記回転方向周表面上の検査面の深さ方向の情報を含む表面3次元情報を取得し、
(b)取得した前記表面3次元情報に基づいて、前記検査面に形成された凹部の面積と、該凹部の長さ寸法の少なくとも一つを算出し、
(c)前記深さ方向の情報としての前記凹部の深さが所定値以下の場合、または前記凹部の面積および前記凹部の長さ寸法が第二所定値以下の場合には、前記検査対象に欠陥がないと判定し、該凹部の深さが所定値より大きく、且つ、前記凹部の面積と前記凹部の長さ寸法の少なくとも一つが第二所定値よりも大きい場合には、前記検査対象に欠陥があると判定する検査方法。 In the inspection method for inspecting the circumferential surface of the inspection object formed as a rotating body,
(A) obtaining surface three-dimensional information including information on a depth direction of the inspection surface on the circumferential surface in the rotational direction;
(B) Based on the acquired three-dimensional surface information, calculate at least one of the area of the recess formed on the inspection surface and the length of the recess,
(C) When the depth of the concave portion as information in the depth direction is equal to or smaller than a predetermined value, or when the area of the concave portion and the length dimension of the concave portion are equal to or smaller than a second predetermined value, When it is determined that there is no defect, and the depth of the recess is greater than a predetermined value and at least one of the area of the recess and the length dimension of the recess is greater than a second predetermined value, Inspection method to determine that there is a defect.
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