JP2006238546A - Inverter temperature detector - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、インバータを構成する各電力スイッチング素子の温度を測定するためのインバータ温度検出装置に関するものである。 The present invention relates to an inverter temperature detection device for measuring the temperature of each power switching element constituting an inverter.
電力用スイッチング素子のひとつであるIGBTを用いて負荷を駆動する3相インバータ等のシステムでは、制御上各相IGBT素子の温度モニタを行うことが一般的である(例えば、特許文献1参照)。各相IGBT素子毎に設けられたオンチップ温度検出回路からの温度情報は、IGBT素子保護という観点から、上位コントローラへ伝達することが望まれる。
しかし、コントローラ等の基準電位は温度検出回路側の電位と異なる箇所にあるため、温度情報となるオンチップ温度検出回路のアナログ電圧信号の伝送方法としては、フォトカプラなどの絶縁回路素子を介して三角波を利用したパルス幅変調(PWM)方式のデジタル電圧信号として伝送する方法が比較的容易に考えられる(例えば、非特許文献1参照)。この場合、各相から絶縁伝送されたパルス上のデジタル電圧信号は非同期信号のため、コントローラ側のCPUにて同期後、アナログ電圧に再変換処理する必要がある。
一方、電気自動車等に適用される3相インバータ等において、モータロック時などを想定した場合、集中的に温度上昇する相は不特定なので、IGBT素子のオンチップ温度検出素子を利用した温度検出回路は、インバータを構成する各相毎に設けることが必要となる。従来技術による3相インバータ回路構成時の温度検出信号の結線状態を図5に示す。図5において、電力用スイッチング素子の一つであるIGBT301には、同一チップ上に形成された温度検出用ダイオード素子302が設けられている。温度検出用ダイオード素子302からの出力信号は、IGBT毎に設けられた非同期パルス幅変調変換式の温度検出回路303に入力され、絶縁回路素子の一つであるフォトカプラ304を介してそれぞれCPU端子へ接続される。
On the other hand, in a three-phase inverter applied to an electric vehicle or the like, assuming that the motor is locked or the like, the phase in which the temperature rises intensively is unspecified, so a temperature detection circuit using an on-chip temperature detection element of an IGBT element Must be provided for each phase constituting the inverter. FIG. 5 shows the connection state of the temperature detection signal when the conventional three-phase inverter circuit is configured. In FIG. 5, an IGBT 301, which is one of power switching elements, is provided with a temperature detecting
図5に示した従来技術によるインバータ回路305構成において、全相に設けたIGBT素子オンチップ温度検出回路から出力されるアナログ電圧を、比較的簡単に絶縁伝送するために、非同期式パルス幅変調(PWM)信号に変換し、コントローラ側CPU割り込み端子へ別々に入力し、それぞれの信号をアナログ電圧へ再度変換処理するという構成になっていたため、全相分の非同期式パルス幅変調(PWM)信号を入力するためのCPUポート数(接続本数)が増加し、かつ、主に同期化のためのCPU処理の負担も増大するという問題があった。
In the configuration of the
本発明の目的は上述した問題点を解消して、CPUへの接続本数の削減及び絶縁回路素子の削減を達成でき、CPU演算負荷を軽減することができるインバータ温度検出装置を提供しようとするものである。 An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and to provide an inverter temperature detection device that can achieve a reduction in the number of connections to the CPU and a reduction in the number of insulating circuit elements and can reduce the CPU calculation load. It is.
本発明のインバータ温度検出装置は、インバータを構成する各電力スイッチング素子の温度を測定するためのインバータ温度検出装置であって、各相電力スイッチング素子が通電しているかどうかを判定し、通電状態にあるときのみ、電力スイッチング素子の温度を示す非同期パルス幅変調信号を出力する温度検出回路を設けるとともに、各相インバータ入力母線電圧間に上下直列接続されているスイッチング相からそれぞれ出力されるパルス幅変調信号を、絶縁回路素子を介してOR接続しCPU端子へそれぞれ接続することを特徴とするものである。 The inverter temperature detection device of the present invention is an inverter temperature detection device for measuring the temperature of each power switching element constituting the inverter, and determines whether each phase power switching element is energized and puts it in an energized state. Only when there is a temperature detection circuit that outputs an asynchronous pulse width modulation signal indicating the temperature of the power switching element, and pulse width modulation output from the switching phase connected in series between the inverter input bus voltages of each phase The signal is OR-connected through an insulating circuit element and connected to the CPU terminal.
本発明では、電力スイッチング素子が通電しているときのみ温度検出を行うことで、非同期のパルス幅変調信号を各相毎に一本にまとめてCPUへ絶縁伝送することができる。そのため、CPUへの接続本数の削減や絶縁回路素子(フォトカプラ)の削減ができ、CPU演算負荷を軽減することができる。 In the present invention, by detecting the temperature only when the power switching element is energized, the asynchronous pulse width modulation signals can be collectively transmitted to the CPU in isolation for each phase. Therefore, the number of connections to the CPU and the number of insulating circuit elements (photocouplers) can be reduced, and the CPU calculation load can be reduced.
なお、本発明のインバータ温度検出装置では、(1)各相電力スイッチング素子毎に非同期の三角波生成回路を設け、電力スイッチング素子毎に設けた温度検出用ダイオード素子の出力電圧と三角波生成回路の出力電圧とをコンパレータにより電圧比較し、パルス幅変調信号に変換出力し;(2)電力スイッチング素子からのセンス電流を抵抗により電圧変換し、ローパスフィルタを通過させ、任意のコレクタ電流値と等価であることを意味するように設定された所定電圧とローパスフィルタ出力電圧とを電圧比較し、電力スイッチング素子が通電の有無を表す通電状態信号としてコンパレータ出力し;(3)パルス幅変調信号と通電状態信号とをAND素子により論理演算し、電力スイッチング素子が通電状態のときに限り、パルス幅変調信号を出力する;ように構成してもよい。このように構成することで、上記本発明のインバータ温度検出装置をより好適に構成することができる。 In the inverter temperature detection device of the present invention, (1) an asynchronous triangular wave generation circuit is provided for each phase power switching element, and the output voltage of the temperature detecting diode element provided for each power switching element and the output of the triangular wave generation circuit The voltage is compared with a voltage by a comparator and converted into a pulse width modulation signal; (2) The sense current from the power switching element is converted into a voltage by a resistor and passed through a low-pass filter, which is equivalent to an arbitrary collector current value. A predetermined voltage set to mean the low-pass filter output voltage is compared, and the comparator outputs as an energization state signal indicating whether the power switching element is energized; (3) pulse width modulation signal and energization state signal And pulse width modulation only when the power switching element is energized And it outputs the No.; may be configured to. By comprising in this way, the inverter temperature detection apparatus of the said this invention can be comprised more suitably.
図1は本発明のインバータ温度検出装置の全体構成の一例を示す図である。図1に示す例は、電流検出用センス端子付きの電力スイッチング素子の一つであるIGBTを用いた3相交流インバータの回路構成を示している。図1において、IGBT(Insulated Gate Bipolor Transistor)11には、同一チップ上に形成された温度検出用ダイオード素子12が設けられている。温度検出用ダイオード素子12からの出力信号は、IGBT11毎に設けられた非同期パルス幅変調変換式の温度検出回路13に入力される。温度検出回路13からの出力信号は、IGBT11の通電時のみ出力されるよう構成されており、上下アームP1、N1の組;P2、N2の組;P3、N3の組のそれぞれからのパルス幅変調変換式の温度信号を、絶縁回路素子の一つであるフォトカプラ17、14を介してOR接続後、それぞれCPU端子へ接続される。
FIG. 1 is a diagram showing an example of the overall configuration of an inverter temperature detection device according to the present invention. The example shown in FIG. 1 shows a circuit configuration of a three-phase AC inverter using an IGBT which is one of power switching elements with a current detection sense terminal. In FIG. 1, an IGBT (Insulated Gate Bipolor Transistor) 11 is provided with a temperature detecting
上述した構成の本発明のインバータ温度検出装置では、IGBTの温度上昇そのものはIGBTが通電することにより発生するとの前提に基づき、IGBTが通電しているときのみ温度検出を行うよう構成することで、非同期のPWM温度信号を各相毎に一本にまとめてCPUへ絶縁伝送できる。そのため、従来に比べて、CPUへの接続本数の削減や絶縁回路素子(フォトカプラ)の削減、さらにCPU演算の軽減化を図ることができる。 In the inverter temperature detection device of the present invention configured as described above, based on the premise that the IGBT temperature rise itself occurs when the IGBT is energized, the temperature detection is performed only when the IGBT is energized, Asynchronous PWM temperature signals can be gathered together for each phase and insulated and transmitted to the CPU. Therefore, compared to the prior art, it is possible to reduce the number of connections to the CPU, reduce the number of insulating circuit elements (photocouplers), and further reduce the CPU calculation.
図2は本発明のインバータ温度検出装置の具体的な構成の一例を示す図である。図2に示す例は、電流検出用センス端子付きの電力スイッチング素子であるIGBTを用いた3相交流インバータの1相分のインバータ回路を示す回路図である。図2に示す例では、基準電位VSと負荷用電源VBの間に直列に2つのIGBT:Q101、Q102及びダイオードD101、D102が接続されており、これらIGBT:Q101、Q102が交互にオン/オフすることにより、負荷L1へ交流出力電流Ioを出力する。 FIG. 2 is a diagram showing an example of a specific configuration of the inverter temperature detection device of the present invention. The example shown in FIG. 2 is a circuit diagram showing an inverter circuit for one phase of a three-phase AC inverter using an IGBT that is a power switching element with a current detection sense terminal. In the example shown in FIG. 2, two IGBTs: Q101, Q102 and diodes D101, D102 are connected in series between the reference potential VS and the load power supply VB, and these IGBTs: Q101, Q102 are alternately turned on / off. As a result, the AC output current Io is output to the load L1.
IGBT:Q101、Q102のゲート端子Gはそれぞれ、ゲート抵抗R102、R104を介してゲート駆動回路101、105の出力に接続されている。ゲート駆動回路101、105へ供給する電源および基準電位は、互いに絶縁された電源VP、VNに接続されている。また、ゲート駆動回路101、105の入力端子は、制御装置であるCPU110が出力する制御信号PD、NDをフォトカプラI110、I111により絶縁伝送して接続する。
The gate terminals G of the IGBTs Q101 and Q102 are connected to the outputs of the gate drive circuits 101 and 105 through gate resistors R102 and R104, respectively. The power supply and reference potential supplied to the gate drive circuits 101 and 105 are connected to power supplies VP and VN that are insulated from each other. Further, the input signals of the gate drive circuits 101 and 105 are connected to the control signals PD and ND output from the
ところで、IGBT:Q101、Q102にはIGBTチップの主面に形成されたオンチップ温度検出素子を構成する接合ダイオードD103、D104が設けられている。ダイオードD103、D104には、アノード端子Aとカソード端子Kとが設けられており、アノード端子Aへ定電流回路104、108がそれぞれ接続されている。ダイオードD103、D104の出力電圧すなわちアノード・カソード電圧Vakは、コンパレータI101、I105の入力マイナス端子へ接続される。コンパレータI101、I105の他方の入力プラス端子には、三角波生成回路102、106の出力信号が入力され、コンパレータI101、I105からパルス幅変調(PWM)化した温度信号が出力される。
By the way, IGBTs Q101 and Q102 are provided with junction diodes D103 and D104 which constitute on-chip temperature detection elements formed on the main surface of the IGBT chip. The diodes D103 and D104 are provided with an anode terminal A and a cathode terminal K, and constant
一方、IGBT:Q101、Q102の電流検出用センス端子Sには、コレクタ電流Ic_P、Ic_Nに比例して流れ込むセンス電流Is_P、Is_Nを電圧変換できるようセンス抵抗R101、R103を設ける。センス抵抗R101、R103は、センス端子Sとエミッタ端子Eとの間に接続する。センス端子Sは、ローパスフィルタを意味するLF103、LF107を介して、もう一つのコンパレータI102、I106の入力プラス端子へ接続する。コンパレータI102、I106の入力マイナス端子へは、基準電圧Vth1、Vth2が入力され、コンパレータI102、I106により、IGBT:Q101、Q102の通電の有無を判定する。上述したPWM温度信号生成用コンパレータI101、I105と、IGBT通電判定用コンパレータI102、I106の出力端子は、2入力AND素子I103、I107の入力へそれぞれ接続する。AND素子の出力は絶縁回路素子のフォトカプラI108、I109の入力へ接続する。 On the other hand, sense resistors R101 and R103 are provided at the current detection sense terminals S of the IGBTs Q101 and Q102 so that the sense currents Is_P and Is_N flowing in proportion to the collector currents Ic_P and Ic_N can be voltage-converted. The sense resistors R101 and R103 are connected between the sense terminal S and the emitter terminal E. The sense terminal S is connected to the input plus terminals of the other comparators I102 and I106 via LF103 and LF107 which mean low pass filters. Reference voltages Vth1 and Vth2 are input to the input minus terminals of the comparators I102 and I106, and the comparators I102 and I106 determine whether or not the IGBTs Q101 and Q102 are energized. The output terminals of the PWM temperature signal generation comparators I101 and I105 and the IGBT energization determination comparators I102 and I106 described above are connected to the inputs of the two-input AND elements I103 and I107, respectively. The output of the AND element is connected to the input of photocouplers I108 and I109 of the insulating circuit element.
上アームP、下アームNからそれぞれ絶縁出力されるフォトカプラI108、I109の出力信号は、OR接続できるよう抵抗R108を介して下アームN用電源VNに接続する。このOR接続されたフォトカプラI108、I109の出力は、NOT素子I112を介してCPU端子TMP_1へ接速される。同様に3相インバータを構成する他相からのPWM温度信号がCPU端子TMP_2、TMP_3へ接続される。なお、フォトカプラI108、I109、I110、I111の入力端子に接続されるR104、R105、R106、R108は電流制限のために設ける。 The output signals of the photocouplers I108 and I109 isolated from the upper arm P and the lower arm N are connected to the lower arm N power source VN via the resistor R108 so that they can be OR-connected. Outputs of the OR-coupled photocouplers I108 and I109 are connected to the CPU terminal TMP_1 via the NOT element I112. Similarly, PWM temperature signals from other phases constituting the three-phase inverter are connected to the CPU terminals TMP_2 and TMP_3. Note that R104, R105, R106, and R108 connected to the input terminals of the photocouplers I108, I109, I110, and I111 are provided for current limitation.
図3は本発明のインバータ温度検出装置における動作の一例を説明するための図である。図3は図2で示した回路各部の波形である。また、図4は一般的な3相交流インバータの概略図を示している。図4に示す例において、図4中の記号は、P:正側直流母線、N:負側直流母線、U:インバータU相交流出力線、V:インバータV相交流出力線、W:インバータW相交流出力線をそれぞれ示している。 FIG. 3 is a diagram for explaining an example of the operation in the inverter temperature detection device of the present invention. FIG. 3 shows waveforms at various parts of the circuit shown in FIG. FIG. 4 shows a schematic diagram of a general three-phase AC inverter. In the example shown in FIG. 4, the symbols in FIG. 4 are P: positive side DC bus, N: negative side DC bus, U: inverter U phase AC output line, V: inverter V phase AC output line, W: inverter W Phase AC output lines are shown respectively.
図3より、インバータに接続された電動機が安定動作するように、CPU110にて負荷L1に出力される負荷電流がIoになるよう制御信号PD、NDをPWM駆動・制御している。負荷電流Ioが正であるとき、すなわち、IGBT:Q101から負荷L1側へ電流が流れ出す動作において、インバータ相電圧Voは図に示すように振る舞い、コレクタ電流Ic_Pが流れる。このとき、IGBT:Q101のセンス端子Sからは、コレクタ電流Ic_Pに大して所定の割合に応じたセンス電流Is_Pが図に示すように流れる。センス電流Is_Pは、抵抗R101によって電圧に変換(センス電圧)され、ローパスフィルタLF103によって負荷電流Ioを縮小したような波形になる(LF103出力電圧)。このローパスフィルタLF103通過後のセンス電圧が所定のしきい値Vth1よりも大きい、すなわち、IGBT:Q101が所定のコレクタ電流Ic_Pで通電状態であれば、コンパレータI102の出力信号200はHiレベルになる。
From FIG. 3, the control signals PD and ND are PWM-driven and controlled so that the load current output to the load L1 by the
また、IGBT:Q101上の温度検出用ダイオードD103の出力電圧Vakは、温度が情報するに従い電圧が小さくなる(201の曲線)。三角波生成回路102の出力信号(201の三角波)との電圧比較結果をコンパレータI102より出力する。これにより、アナログ電圧であるダイオードD103の出力電圧Vakは、パルス幅変調化したPWM温度信号201に変換される。IGBT:Q101は、通電制御しているときに温度上昇するので、通電時にIGBT:Q101の温度情報が必要となる。このため、通電時のみIGBT:Q101の温度情報がCPU側に伝達できるように、パルス化したPWM温度信号201は、前記のIGBT:Q101の通電状態を表すコンパレータ出力信号200とANDされPWM出力202される。
Further, the output voltage Vak of the temperature detecting diode D103 on the IGBT: Q101 becomes smaller as the temperature information (curve 201). A voltage comparison result with the output signal of the triangular wave generation circuit 102 (triangular wave 201) is output from the comparator I102. As a result, the output voltage Vak of the diode D103, which is an analog voltage, is converted into a PWM temperature signal 201 subjected to pulse width modulation. Since the temperature of the IGBT: Q101 rises during energization control, the temperature information of the IGBT: Q101 is required during energization. For this reason, the pulsed PWM temperature signal 201 is ANDed with the
一方、負荷電流Ioが負であるとき、すなわち、負荷L1側からIGBT:Q102へ電流が流れ出す動作において、下アームN各部の動作は、前述した上アームPと全く同様の振る舞いのため、ここでは省略する。 On the other hand, when the load current Io is negative, that is, when the current flows out from the load L1 side to the IGBT: Q102, the operation of each part of the lower arm N behaves exactly the same as the upper arm P described above. Omitted.
各アームPまたはNの各AND素子I103、I107からのPWM温度信号202と205は、基準電位が異なるため、絶縁回路素子のフォトカプラI108、I109を介してCPU側へ出力される。インバータ負荷電流Ioを制御する場合、上下に直列接続されたIGBT:Q101とIGBT:Q102とが同時に通電することはない。よって、それぞれのIGBT:Q101、Q102上の温度信号AND素子I103、I107からの非同期出力信号202と205とは、OR接続することが可能となる。 Since the PWM potential signals 202 and 205 from the AND elements I103 and I107 of each arm P or N have different reference potentials, they are output to the CPU side via the photocouplers I108 and I109 of the insulating circuit elements. When controlling the inverter load current Io, the IGBT: Q101 and the IGBT: Q102 connected in series vertically are not energized at the same time. Therefore, the asynchronous output signals 202 and 205 from the temperature signal AND elements I103 and I107 on the respective IGBTs Q101 and Q102 can be OR-connected.
このOR論理演算したPWM信号206はCPU110の割り込み端子へ入力され、CPU内タイマー演算を用いたデューティー計測により、アナログ電圧(温度)へ変換される。なお、前述したとおり、上下アームからのPWM信号202と205は非同期であるため、アナログ電圧(温度)へ変換する際、負荷電流Ioの正負が切り替わる前後の値(図中演算非対称として白抜きで示した)は、デューティー値が異常値を示すため、演算対象から除外するように動作させる。
This OR logic operation PWM signal 206 is input to the interrupt terminal of the
本発明によれば、各相電力スイッチング素子が通電しているかどうかを判定し、通電状態にあるときのみ、電力スイッチング素子の温度を示す非同期パルス幅変調信号を出力する温度検出回路を設けるとともに、各相インバータ入力母線電圧間に上下直列接続されているスイッチング相からそれぞれ出力されるパルス幅変調信号を、絶縁回路素子を介してOR接続しCPU端子へそれぞれ接続することで、非同期のパルス幅変調信号を各相毎に一本にまとめてCPUへ絶縁伝送することができる。そのため、CPUへの接続本数の削減や絶縁回路素子(フォトカプラ)の削減ができ、CPU演算負荷を軽減することができる。 According to the present invention, a temperature detection circuit that determines whether each phase power switching element is energized and outputs an asynchronous pulse width modulation signal indicating the temperature of the power switching element only when energized is provided, Asynchronous pulse width modulation is achieved by OR-connecting the pulse width modulation signals output from the switching phases connected in series between the inverter input bus voltages of each phase via the isolation circuit elements and connecting them to the CPU terminals. It is possible to collect and transmit signals to each CPU in an isolated manner for each phase. Therefore, the number of connections to the CPU and the number of insulating circuit elements (photocouplers) can be reduced, and the CPU calculation load can be reduced.
10 CPU
11 IGBT
12 温度検出用ダイオード素子
13 温度検出回路
14、17 フォトカプラ
10 CPU
11 IGBT
12 Temperature
Claims (2)
(2)電力スイッチング素子からのセンス電流を抵抗により電圧変換し、ローパスフィルタを通過させ、任意のコレクタ電流値と等価であることを意味するように設定された所定電圧とローパスフィルタ出力電圧とを電圧比較し、電力スイッチング素子が通電の有無を表す通電状態信号としてコンパレータ出力し;
(3)パルス幅変調信号と通電状態信号とをAND素子により論理演算し、電力スイッチング素子が通電状態のときに限り、パルス幅変調信号を出力する;ように構成したことを特徴とする請求項1に記載のインバータ温度検出装置。
(1) An asynchronous triangular wave generating circuit is provided for each phase power switching element, and the output voltage of the temperature detecting diode element provided for each power switching element is compared with the output voltage of the triangular wave generating circuit by a comparator, and the pulse width Convert to modulated signal and output;
(2) A sense current from the power switching element is converted into a voltage by a resistor, passed through a low-pass filter, and a predetermined voltage and a low-pass filter output voltage set to mean that it is equivalent to an arbitrary collector current value. Compare the voltage and output the comparator as an energization state signal indicating whether the power switching element is energized;
(3) The pulse width modulation signal and the energization state signal are logically operated by an AND element, and the pulse width modulation signal is output only when the power switching element is energized. The inverter temperature detection apparatus according to 1.
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