JP2006221118A - Laser scanner and image forming apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a novel laser scanner that effectively reduces and prevents by a diffractive face a variation of optical characteristics due to a wavelength fluctuation of a semiconductor laser. <P>SOLUTION: The laser scanner is equipped with: a semiconductor laser 1; a coupling optical system 2 for coupling a luminous flux from the semiconductor laser 1; a first optical system 4 for guiding the luminous flux from the coupling optical system 2 to a light deflector; the light deflector 5 for deflecting the laser luminous flux from the first optical system 4 to the main scanning direction; and scanning optical systems 6, 7 for converging the laser luminous flux deflected by the light deflector 5 toward a surface to be scanned. The coupling optical system 2 is provided with a diffractive face having the same power in the main scanning direction and a subscanning direction. The first optical system 4 is provided with a diffractive face having a power only in the subscanning direction. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明はレーザ走査装置および画像形成装置に関する。   The present invention relates to a laser scanning device and an image forming apparatus.

この発明は、デジタル複写機、レーザプリンタ、レーザプロッタ、レーザファクシミリ等の光走査装置、及びこれを用いた画像形成装置として実施することができる。   The present invention can be implemented as an optical scanning device such as a digital copying machine, a laser printer, a laser plotter, and a laser facsimile, and an image forming apparatus using the same.

近年、デジタル複写機やレーザプリンタ等の画像形成装置において、光走査による画像形成の高密度化が進みつつあり、感光体上での光スポットの小径化が要請されている。また、低コストを狙うべく「光走査装置を構成するレンズ」の樹脂化を押し進めることも望まれている。   In recent years, in an image forming apparatus such as a digital copying machine or a laser printer, the density of image formation by optical scanning is increasing, and there is a demand for reducing the diameter of the light spot on the photosensitive member. In addition, it is also desired to promote the use of “lenses constituting the optical scanning device” as a resin in order to reduce costs.

光走査装置に用いられる光源としては半導体レーザが一般的であるが「半導体レーザから放射されるレーザ光の波長は温度変化により変動する」ことが知られている。半導体レーザの発光波長が変動すると、光走査装置を構成する光学系の屈折率が波長変動に伴って変動し、結像性能が変化して「被走査面を走査するレーザ光束の集光位置」が被走査面に対してずれ、光スポット径が増大する問題がある。   A semiconductor laser is generally used as the light source used in the optical scanning device, but it is known that “the wavelength of the laser light emitted from the semiconductor laser fluctuates due to a temperature change”. When the emission wavelength of the semiconductor laser fluctuates, the refractive index of the optical system that constitutes the optical scanning device fluctuates with the fluctuation of the wavelength, and the imaging performance changes, so that “the converging position of the laser beam that scans the scanned surface” Deviates from the surface to be scanned, and the light spot diameter increases.

光走査装置における温度変動はまた、レンズ等の光学素子の光学特性に変動をもたらす、例えば、レンズの場合であると、温度変動はレンズを膨張もしくは収縮させ、それに伴いレンズ面の曲率やレンズ肉厚が変化し、またレンズ材質の屈折率も変化する。このような光学素子の変化もまた光スポット径の増大をもたらす。   Temperature fluctuations in the optical scanning device also cause fluctuations in the optical characteristics of optical elements such as lenses. For example, in the case of lenses, temperature fluctuations cause the lens to expand or contract, and accordingly the curvature of the lens surface and lens flesh. The thickness changes and the refractive index of the lens material also changes. Such a change in the optical element also causes an increase in the light spot diameter.

このように光スポット径が増大すると、所期の記録密度を達成できない。
上記の問題は、光走査装置を構成する光学素子がガラスレンズである場合にも樹脂レンズである場合にも生じるものであるが、特に、樹脂レンズでは、温度変動による膨張・収縮に伴うレンズ面の曲率やレンズ肉厚変動、レンズ材質の屈折率変動も顕著であり、上記問題も深刻である。
If the light spot diameter increases in this way, the desired recording density cannot be achieved.
The above-mentioned problem occurs when the optical element constituting the optical scanning device is a glass lens or a resin lens. In particular, in a resin lens, the lens surface accompanying expansion / contraction due to temperature fluctuations. The curvature, lens thickness variation, and refractive index variation of the lens material are also remarkable, and the above problem is also serious.

半導体レーザの発光波長の変動に対処する方法として、光偏向器よりも光源側に回折面を配すると共に、偏向光束を被走査面に向かって収束させる走査光学系にも回折面を配し、波長変動に伴う回折角の変化により、「被走査面を走査する光束の集光位置」の変動を軽減・補償する方法が知られている(特許文献1)。   As a method for coping with fluctuations in the emission wavelength of the semiconductor laser, a diffractive surface is arranged on the light source side of the optical deflector, and a diffractive surface is also arranged on the scanning optical system that converges the deflected light beam toward the scanned surface. There is known a method for reducing / compensating for fluctuations in “condensing position of a light beam that scans a surface to be scanned” by a change in diffraction angle associated with wavelength fluctuations (Patent Document 1).

この方法は有効であると考えられるが、「偏向光束を被走査面に向かって収束させる走査光学系」は一般に主走査方向に長い大型のレンズであり、このような大型のレンズの有効走査領域に回折面を形成しようとすると、回折面が大面積になるため、回折面の加工に時間がかかり、回折面を形成したレンズの製造効率が低いためコストアップとなる。   Although this method is considered to be effective, the “scanning optical system that converges the deflected light beam toward the scanning surface” is generally a large lens that is long in the main scanning direction, and the effective scanning region of such a large lens. If a diffractive surface is to be formed, the diffractive surface has a large area, so that processing of the diffractive surface takes time, and the manufacturing efficiency of the lens on which the diffractive surface is formed is low, resulting in an increase in cost.

また、半導体レーザから放射される発散性のレーザ光束を平行光束化するコリメートレンズのレンズ面を回折光学面とすることにより、半導体レーザの発光波長変動に伴う「被走査面を走査するレーザ光束の集光位置の変動」を補正することが特許文献2により提案されている。レーザ走査装置では、光源と被走査面との間に配置される光学素子のうちに「主走査方向と副走査方向とで結像作用の異なるアナモルフィック光学素子」が含まれるのが一般的であり、レーザ走査装置における結像作用は主走査方向と副走査方向とで一般に異なる。特許文献2記載の方法では、コリメートレンズに形成される回折光学面が光軸に関して回転対称であるため、半導体レーザの発光波長変動の影響を主走査方向と副走査方向とで独立に補正することができない。   Also, by using a diffractive optical surface as the lens surface of the collimating lens that converts the divergent laser beam emitted from the semiconductor laser into a parallel beam, the “laser beam that scans the surface to be scanned is associated with fluctuations in the emission wavelength of the semiconductor laser. Patent Document 2 proposes to correct the “condensation position fluctuation”. In a laser scanning device, it is common to include “anamorphic optical elements having different imaging effects in the main scanning direction and the sub-scanning direction” among the optical elements arranged between the light source and the surface to be scanned. In general, the image forming action in the laser scanning device is different between the main scanning direction and the sub-scanning direction. In the method described in Patent Document 2, since the diffractive optical surface formed on the collimating lens is rotationally symmetric with respect to the optical axis, the influence of fluctuations in the emission wavelength of the semiconductor laser can be corrected independently in the main scanning direction and the sub-scanning direction. I can't.

特許第3397683号明細書Japanese Patent No. 3397683 特開2000−171741JP 2000-171741 A

この発明は、上記の如き事情に鑑み、半導体レーザの波長変動による光学特性の変動を回折面により有効に軽減・防止できる新規なレーザ走査装置の実現、およびこのレーザ走査装置を用いて良好な画像形成を可能とした画像形成装置の実現を課題とする。   In view of the circumstances as described above, the present invention realizes a novel laser scanning device capable of effectively reducing and preventing fluctuations in optical characteristics due to wavelength fluctuations of a semiconductor laser by means of a diffraction surface, and provides a good image using this laser scanning device. An object is to realize an image forming apparatus capable of forming images.

この発明のレーザ走査装置は、半導体レーザと、カップリング光学系と、第1光学系と、光偏向器と、走査光学系とを有する(請求項1)。
「半導体レーザ」は、光走査のためのレーザ光束を放射する。
「カップリング光学系」は、半導体レーザからの発散性のレーザ光束をカップリングして、以後の光学系に適した光束形態に変換する。
The laser scanning device according to the present invention includes a semiconductor laser, a coupling optical system, a first optical system, an optical deflector, and a scanning optical system.
The “semiconductor laser” emits a laser beam for optical scanning.
The “coupling optical system” couples a divergent laser beam from a semiconductor laser and converts it into a beam form suitable for the subsequent optical system.

「第1光学系」は、カップリング光学系からの光束を光偏向器に導く光学系である。
「光偏向器」は、第1光学系からのレーザ光束を主走査方向に偏向させる。
「走査光学系」は、光偏向器により偏向されたレーザ光束を、被走査面に向けて集光する。
The “first optical system” is an optical system that guides the light beam from the coupling optical system to the optical deflector.
The “optical deflector” deflects the laser beam from the first optical system in the main scanning direction.
The “scanning optical system” condenses the laser beam deflected by the optical deflector toward the surface to be scanned.

請求項1記載のレーザ走査装置は以下の如き特徴を有する。
即ち、カップリング光学系は「主走査方向と副走査方向に同じパワーを持つ回折面」を有し、第1光学系は「副走査方向のみにパワーを有する回折面」を有する。
カップリング光学系に上記回折面を配するには、例えば、カップリング光学系を構成するレンズの少なくとも1枚が「主走査方向と副走査方向に同じパワーを持つ回折面」を有するようにすればよく、第1光学系に上記回折面を配するには、例えば、第1光学系を構成するレンズの少なくとも1枚が「副走査方向のみにパワーを有する回折面」を有するようにすればよい。
The laser scanning device according to claim 1 has the following characteristics.
That is, the coupling optical system has “a diffractive surface having the same power in the main scanning direction and the sub-scanning direction”, and the first optical system has “a diffractive surface having power only in the sub-scanning direction”.
In order to arrange the diffractive surface in the coupling optical system, for example, at least one of the lenses constituting the coupling optical system should have “a diffractive surface having the same power in the main scanning direction and the sub-scanning direction”. In order to arrange the diffractive surface in the first optical system, for example, at least one lens constituting the first optical system should have a “diffraction surface having power only in the sub-scanning direction”. Good.

請求項1記載のレーザ走査装置におけるカップリング光学系のカップリング作用は、これをコリメート作用とし、カップリング光学系から「略平行光が射出する」ようにすることができる(請求項2)。   The coupling action of the coupling optical system in the laser scanning device according to claim 1 can be made to be a collimating action so that “substantially parallel light is emitted from the coupling optical system” (claim 2).

請求項1または2記載のレーザ走査装置において、カップリング光学系は「正のパワーを持つ屈折面」を有することができる(請求項3)。即ち、この場合、カップリング光学系内に「主走査方向と副走査方向が同じパワーを持つ回折面」と「正のパワーを持つ屈折面」とが含まれることになる。   3. The laser scanning device according to claim 1, wherein the coupling optical system may have a “refractive surface having a positive power” (claim 3). That is, in this case, the coupling optical system includes a “diffractive surface having the same power in the main scanning direction and the sub-scanning direction” and a “refractive surface having a positive power”.

請求項1または2または3記載のレーザ走査装置におけるカップリング光学系は「正のパワーを持つ回折面を有する樹脂製レンズ」を有することができる(請求項4)。なお、カップリング光学系をレンズ系として構成する場合、カップリングレンズを単一のレンズあるいは複数枚のレンズとして構成することができる。   The coupling optical system in the laser scanning device according to claim 1, 2 or 3 may have a “resin lens having a diffractive surface having a positive power” (claim 4). When the coupling optical system is configured as a lens system, the coupling lens can be configured as a single lens or a plurality of lenses.

請求項1〜4の任意の1に記載のレーザ走査装置における第1光学系は「副走査方向に正のパワーを持つ回折面を有する樹脂製レンズ」を有することができる(請求項5)。第1光学系もこれをレンズ系として構成する場合には、単一のレンズもしくは複数枚のレンズで構成することができる。   The first optical system in the laser scanning device according to any one of claims 1 to 4 can include a “resin lens having a diffractive surface having a positive power in the sub-scanning direction” (claim 5). When the first optical system is configured as a lens system, the first optical system can be configured by a single lens or a plurality of lenses.

請求項1〜5の任意の1に記載のレーザ走査装置において、第1光学系は「副走査方向に負のパワーを持つ屈折面」を有することができる(請求項6)。即ち、第1光学系は回折面のみを有することもできるし回折面と共に屈折面を有することもできる。   6. The laser scanning device according to claim 1, wherein the first optical system can have a "refractive surface having a negative power in the sub-scanning direction" (claim 6). That is, the first optical system can have only a diffractive surface, or can have a refracting surface together with the diffractive surface.

請求項7記載のレーザ走査装置は、半導体レーザと、カップリング光学系と、第1光学系と、光偏向器と、走査光学系とを有する。   A laser scanning device according to a seventh aspect includes a semiconductor laser, a coupling optical system, a first optical system, an optical deflector, and a scanning optical system.

「半導体レーザ」は、光走査のためのレーザ光束を放射する。
「カップリング光学系」は、半導体レーザからの発散性のレーザ光束をカップリングして、以後の光学系に適した光束形態に変換する。
The “semiconductor laser” emits a laser beam for optical scanning.
The “coupling optical system” couples a divergent laser beam from a semiconductor laser and converts it into a beam form suitable for the subsequent optical system.

「第1光学系」は、カップリング光学系からの光束を光偏向器に導く光学系である。
「光偏向器」は、第1光学系からのレーザ光束を主走査方向に偏向させる。
「走査光学系」は、光偏向器により偏向されたレーザ光束を、被走査面に向けて集光する。
The “first optical system” is an optical system that guides the light beam from the coupling optical system to the optical deflector.
The “optical deflector” deflects the laser beam from the first optical system in the main scanning direction.
The “scanning optical system” condenses the laser beam deflected by the optical deflector toward the surface to be scanned.

請求項7記載のレーザ走査装置は「第1光学系を構成するレンズが、副走査方向にのみにパワーを有する回折面と、副走査方向に負のパワーを持つ屈折面を有する」ことを特徴とする。   The laser scanning device according to claim 7, wherein “the lens constituting the first optical system has a diffractive surface having power only in the sub-scanning direction and a refracting surface having negative power in the sub-scanning direction”. And

請求項1〜7の任意の1に記載のレーザ走査装置は「半導体レーザとカップリング光学系を保持する第1保持部材」を有し、カップリング光学系が、少なくとも光軸方向に位置調整されたのちに第1保持部材に固定されるように構成できる(請求項8)。   The laser scanning device according to any one of claims 1 to 7, comprising a "first holding member for holding a semiconductor laser and a coupling optical system", wherein the position of the coupling optical system is adjusted at least in the optical axis direction. It can be configured to be fixed to the first holding member later.

この請求項8記載のレーザ走査装置は「少なくとも第1保持部材と第1光学系を保持する第2保持部材」を有し、カップリング光学系が第1保持部材に固定された後に、第1光学系が、少なくとも光軸方向に調整された後に第2保持部材に固定されるように構成できる(請求項9)。   The laser scanning device according to claim 8 has “a second holding member that holds at least the first holding member and the first optical system”, and the first after the coupling optical system is fixed to the first holding member. The optical system can be configured to be fixed to the second holding member after being adjusted at least in the optical axis direction.

請求項1〜9の任意の1に記載のレーザ走査装置は、カップリング光学系の有する回折面が「光軸に関して回転対称」であり、第1光学系の有する回折面が「副走査方向に格子が並んだ回折面」であることができる(請求項10)。   The laser scanning device according to any one of claims 1 to 9, wherein the diffractive surface of the coupling optical system is “rotationally symmetric about the optical axis”, and the diffractive surface of the first optical system is “in the sub-scanning direction”. It can be a “diffractive surface on which gratings are arranged” (claim 10).

請求項1〜10の任意の1に記載のレーザ走査装置は「走査光学系が少なくとも1枚の樹脂製レンズを含む」構成であることができる(請求項11)。勿論、光源である半導体レーザから被走査面に至る光路上に配置される屈折性の光学素子は全てガラスレンズとすることもできるし、一部をガラスレンズ、残りを樹脂レンズとすることもでき、さらには全てを樹脂レンズとすることもできる。   The laser scanning device according to any one of claims 1 to 10 may be configured such that the scanning optical system includes at least one resin lens. Of course, all the refractive optical elements arranged on the optical path from the semiconductor laser as the light source to the surface to be scanned can be glass lenses, or a part can be glass lenses and the rest can be resin lenses. Furthermore, all can be made into a resin lens.

請求項1〜11の任意の1に記載のレーザ装置は、シングルビーム方式の走査装置として実施することもできるし、光源に2以上のレーザ発光部を有する半導体レーザ(半導体レーザアレイや複数個の半導体レーザ)を用い「マルチビーム走査方式の走査装置」として実施することもできる。   The laser device according to any one of claims 1 to 11 can be implemented as a single-beam scanning device, or a semiconductor laser (semiconductor laser array or a plurality of semiconductor lasers having a light source having two or more laser light emitting units). It is also possible to implement as a “multi-beam scanning type scanning device” using a semiconductor laser.

この発明の画像形成装置は、請求項1〜11記載の任意の1に記載のレーザ走査装置を用いることを特徴とする(請求項12)。このような画像形成装置は、デジタル複写機、レーザプリンタ、レーザファクシミリやレーザプロッタ等として実施することができる。   An image forming apparatus of the present invention uses any one of the laser scanning devices according to claims 1 to 11 (claim 12). Such an image forming apparatus can be implemented as a digital copying machine, a laser printer, a laser facsimile, a laser plotter, or the like.

また、画像形成装置はモノクロ画像を形成するものとして実施することもできるし、多色もしくはカラー画像を形成できるように構成することもできる。即ち、画像形成装置の構成としては従来から知られた種々の方式のものを利用できる。   The image forming apparatus can be implemented as a monochrome image, or can be configured to form a multicolor or color image. In other words, various types of conventionally known image forming apparatuses can be used.

上記の如く、この発明のレーザ走査装置は、半導体レーザの発光波長変動を補正するための回折面を、レンズ面積の大きい走査光学系中に設けないので、走査光学系に回折面を設ける場合に比して低コストで実現できる。   As described above, the laser scanning device of the present invention does not provide a diffractive surface for correcting the emission wavelength variation of the semiconductor laser in the scanning optical system having a large lens area. Compared to low cost.

また、請求項1のレーザ走査装置では、カップリング光学系が「主走査方向と副走査方向に同じパワーを持つ回折面」を有し、第1光学系が「副走査方向のみにパワーを有する回折面」を有するので、半導体レーザの発光波長変動の影響を、主走査方向と副走査方向で独立に補正することが可能である。   In the laser scanning device according to claim 1, the coupling optical system has “a diffractive surface having the same power in the main scanning direction and the sub-scanning direction”, and the first optical system has power only in the sub-scanning direction. Since it has a “diffraction surface”, it is possible to independently correct the influence of fluctuations in the emission wavelength of the semiconductor laser in the main scanning direction and the sub-scanning direction.

また、回折面は波長変動に対して極めて敏感であるが、請求項7記載のレーザ走査装置のように、第1光学系を構成するレンズが「副走査方向にのみにパワーを有する回折面と、副走査方向に負のパワーを持つ屈折面」を有する構成とすることにより、第1光学系の作用を「屈折面と回折面とに分担」させることができ、回折面の補正作用が過剰になることを有効に回避できる。   Further, although the diffractive surface is extremely sensitive to wavelength fluctuations, the lens constituting the first optical system is “a diffractive surface having power only in the sub-scanning direction” as in the laser scanning device according to claim 7. By having a refracting surface having a negative power in the sub-scanning direction, the action of the first optical system can be “shared between the refracting surface and the diffractive surface”, and the correcting action of the diffractive surface is excessive. Can effectively be avoided.

従って、この発明のレーザ走査装置は、半導体レーザの発光波長変動の影響を有効に補正することができ、且つ、低コストで実現できる。そして、かかるレーザ走査装置を用いる画像形成装置は、環境変動に対して安定な画像形成を実現できる。   Therefore, the laser scanning device of the present invention can effectively correct the influence of the emission wavelength variation of the semiconductor laser and can be realized at low cost. An image forming apparatus using such a laser scanning device can realize stable image formation against environmental fluctuations.

以下、発明の実施の形態を説明するが、初めに、温度変化の影響により、被走査面を走査するレーザ光束の集光位置が被走査面に対してどの程度ずれるかを、一般的な光学構成に対して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described. First, a general optical system determines how much the condensing position of a laser beam that scans a surface to be scanned is shifted with respect to the surface to be scanned due to the influence of a temperature change. The configuration will be described.

図1に示すのは、レーザ走査装置の光学構成として一般的なものである。
図1において、符号1は光源として用いられる半導体レーザ、符号2はカップリングレンズ、符号3はビーム整形用のアパーチャ、符号4は「第1光学系」であるアナモルフィックレンズ、符号5は「光偏向器」であるポリゴンミラー、符号6、7は「走査光学系」を構成する走査レンズ、符号8は防塵ガラス、符号9は被走査面であり実態的には一般に光導電性の感光体の感光面である。符号10は防音ガラスである。
FIG. 1 shows a general optical configuration of a laser scanning device.
In FIG. 1, reference numeral 1 is a semiconductor laser used as a light source, reference numeral 2 is a coupling lens, reference numeral 3 is an aperture for beam shaping, reference numeral 4 is an anamorphic lens which is a “first optical system”, and reference numeral 5 is “ Polygon mirror which is an “optical deflector”, reference numerals 6 and 7 are scanning lenses constituting a “scanning optical system”, reference numeral 8 is dust-proof glass, and reference numeral 9 is a surface to be scanned. The photosensitive surface. Reference numeral 10 denotes a soundproof glass.

この説明例において、半導体レーザ1は厚さ:0.3mmのカバーガラスを有し、このカバーガラスを介して発散性のレーザ光束を放射する。半導体レーザ1から放射されたレーザ光束はカップリングレンズ2により発散性を抑制され、「弱い発散性のレーザ光束」となり、アパーチャ3により光束周辺を遮断されてビーム成形され、アナモルフィックレンズ4により「主走査方向には平行光束」とされ、副走査方向には「ポリゴンミラー5の偏向反射面近傍に線状に集束する光束」とされる。   In this example, the semiconductor laser 1 has a cover glass with a thickness of 0.3 mm, and emits a divergent laser beam through the cover glass. The laser beam emitted from the semiconductor laser 1 is suppressed in the divergence by the coupling lens 2 to become a “weakly divergent laser beam”. “Parallel light flux in the main scanning direction” and “light flux that converges linearly in the vicinity of the deflection reflection surface of the polygon mirror 5” in the sub-scanning direction.

ポリゴンミラー5の偏向反射面により反射されたレーザ光束は、ポリゴンミラー5の等速回転により等角速度的に偏向する偏向レーザ光束となり、走査光学系をなす走査レンズ6、7を透過し、防塵ガラス8を介して被走査面9に導光され、走査レンズ6、7の結像作用により被走査面9上に光スポットとして集光し、被走査面9を走査する。   The laser beam reflected by the deflecting and reflecting surface of the polygon mirror 5 becomes a deflected laser beam that is deflected at a constant angular velocity by the constant speed rotation of the polygon mirror 5, passes through the scanning lenses 6 and 7 forming the scanning optical system, and is dust-proof glass. 8 is guided to the surface 9 to be scanned, is condensed as a light spot on the surface 9 to be scanned by the imaging action of the scanning lenses 6 and 7, and scans the surface 9 to be scanned.

このようなレーザ走査装置の具体例を以下に挙げる。
半導体レーザ1
発光波長:780.1nm(25℃)、786.5nm(45℃)
カップリングレンズ2
入射側面形状:次式(1)で表される共軸非球面
x=(h2/R)/[1+√{1-(1+K)(h/R)2}]+A4・h4+A6・h6+A8・h8+A10・h10 ・・(1)
ここに、h:光軸からの距離、R:近軸曲率半径、K:円錐定数、A4,A6,A8,A10:高次の係数、x:光軸方向のデプスである。
Specific examples of such a laser scanning device are given below.
Semiconductor laser 1
Emission wavelength: 780.1 nm (25 ° C.), 786.5 nm (45 ° C.)
Coupling lens 2
Incident side shape: coaxial aspherical surface expressed by the following formula (1)
x = (h 2 / R) / [1 + √ {1- (1 + K) (h / R) 2 }] + A4 ・ h 4 + A6 ・ h 6 + A8 ・ h 8 + A10 ・ h 10・・ (1)
Here, h: distance from the optical axis, R: paraxial radius of curvature, K: conic constant, A4, A6, A8, A10: higher order coefficients, x: depth in the optical axis direction.

R、K、A4、A6、A8、A10の値
R= 86.09118
K= 361.987634
A4=-0.827025E-04
A6=-0.413360E-05
A8= 0.942600E-06
A10=-0.936986E-07
上の表記に於いて、例えば「-0.936986E-07」は「-0.936986×10-7」を表す。以下においても同様である。
R, K, A4, A6, A8, A10 values
R = 86.09118
K = 361.987634
A4 = -0.827025E-04
A6 = -0.413360E-05
A8 = 0.942600E-06
A10 = -0.936986E-07
In the above notation, for example, “-0.936986E-07” represents “-0.936986 × 10 −7 ”. The same applies to the following.

射出側面:前記式(1)で表される共軸非球面
R、K、A4、A6、A8、A10の値
R=-8.71000
K=-0.310240
A4= 0.592273E-04
A6= 0.250465E-06
A8= 0.119847E-06
A10=-0.563217E-08 。
Ejection side: Coaxial aspherical surface represented by the formula (1)
R, K, A4, A6, A8, A10 values
R = -8.71000
K = -0.310240
A4 = 0.592273E-04
A6 = 0.250465E-06
A8 = 0.119847E-06
A10 = -0.563217E-08.

アナモルフィックレンズ4
入射側面形状:次式(2)で表されるアナモルフィック面
x={(1/Rm)・y2+(1/Rs)・z2}/[1+√{1- (y/Rm)2-(z/Rs)2}] ・・(2)
ここに、y:光軸からの主走査方向距離、z:副走査方向距離、Rm:主走査方向の曲率半径、Rs:副走査方向の曲率半径、x:光軸方向のデプスである。
Anamorphic lens 4
Incident side shape: Anamorphic surface expressed by the following formula (2)
x = {(1 / Rm) ・ y 2 + (1 / Rs) ・ z 2 } / [1 + √ {1- (y / Rm) 2- (z / Rs) 2 }] ・ ・ (2)
Here, y: distance in the main scanning direction from the optical axis, z: distance in the sub scanning direction, Rm: radius of curvature in the main scanning direction, Rs: radius of curvature in the sub scanning direction, and x: depth in the optical axis direction.

Rm、Rsの値
Rm= 500
Rs= 35.83
射出側面形状:平面 。
Rm and Rs values
Rm = 500
Rs = 35.83
Injection side shape: plane.

走査レンズ6
入射側面形状:前記式(1)で表される共軸非球面
R、K、A4、A6、A8、A10の値
R=-312.6
K= 2.667
A4= 1.79E-07
A6=-1.08E-12
A8=-3.18E-14
A10= 3.74E-18 。
Scanning lens 6
Incident side surface shape: coaxial aspherical surface represented by the above formula (1)
R, K, A4, A6, A8, A10 values
R = -312.6
K = 2.667
A4 = 1.79E-07
A6 = -1.08E-12
A8 = -3.18E-14
A10 = 3.74E-18.

射出側面形状:前記式(1)で表される共軸非球面
R、K、A4、A6、A8、A10の値
R=-83.0
K= 0.02
A4= 2.50E-07
A6= 9.61E-12
A8= 4.54E-15
A10=-3.03E-18
走査レンズ6の両面の頂点は、図1の主光線に対して、図の上方へ1.16mmずれている。
Injection side shape: coaxial aspherical surface represented by the above formula (1)
R, K, A4, A6, A8, A10 values
R = -83.0
K = 0.02
A4 = 2.50E-07
A6 = 9.61E-12
A8 = 4.54E-15
A10 = -3.03E-18
The vertices on both sides of the scanning lens 6 are shifted by 1.16 mm upward in the figure with respect to the principal ray in FIG.

走査レンズ7
入射側面形状:主走査方向に関しては次式(3)で表される非円弧で、副走査方向に関しては次式(4)で表されるように「副走査方向の曲率半径」が連続的に変化する。
Scanning lens 7
Incident side surface shape: a non-circular arc represented by the following equation (3) with respect to the main scanning direction, and a “curvature radius in the sub-scanning direction” continuously with respect to the sub-scanning direction as represented by the following equation (4). Change.

x=(y2/Rm)/[1+√{1-(1+K)(y/Rm)2}]+A4・y4+A6・y6+A8・y8+A10・y10 ・・(3)
ここに、y:光軸からの主走査方向距離、Rm:主走査方向の近軸曲率半径、K:円錐定数、A4,A6,A8,A10:高次の係数、x:光軸方向のデプスである。
x = (y 2 / Rm) / [1 + √ {1- (1 + K) (y / Rm) 2 }] + A4 ・ y 4 + A6 ・ y 6 + A8 ・ y 8 + A10 ・ y 10・・ (3)
Here, y: main scanning direction distance from the optical axis, Rm: paraxial radius of curvature in the main scanning direction, K: conic constant, A4, A6, A8, A10: higher order coefficients, x: depth in the optical axis direction It is.

Rs(y)=Rs+Σbj・yj (j=1,2,3,…) ・・(4)
ここに、y:光軸からの主走査方向距離、Rs(y):光軸からの主走査方向の距離yでの副走査方向の曲率半径、Rs:光軸上での副走査半径、bj:次の係数(j=1,2,3,…)である。
Rs (y) = Rs + Σbj · y j (j = 1, 2, 3,...) (4)
Where, y: distance in the main scanning direction from the optical axis, Rs (y): radius of curvature in the sub-scanning direction at a distance y in the main scanning direction from the optical axis, Rs: sub-scanning radius on the optical axis, bj : The following coefficients (j = 1, 2, 3,...).

Rm、Rs、K、A4,A6,A8,A10、b2,b4,b6,b8,b10,b12の値
Rm=-500
K=-71.73
A4= 4.33E-08
A6=-5.97E-13
A8=-1.28E-16
A10= 5.73E-21
Rs=-47.7
b2= 1.60E-03
b4=-2.32E-07
b6= 1.60E-11
b8=-5.61E-16
b10= 2.18E-20
b12=-1.25E-24 。
Values of Rm, Rs, K, A4, A6, A8, A10, b2, b4, b6, b8, b10, b12
Rm = -500
K = -71.73
A4 = 4.33E-08
A6 = -5.97E-13
A8 = -1.28E-16
A10 = 5.73E-21
Rs = -47.7
b2 = 1.60E-03
b4 = -2.32E-07
b6 = 1.60E-11
b8 = -5.61E-16
b10 = 2.18E-20
b12 = -1.25E-24.

射出側面形状:トロイダル面。副走査方向の形状は次式(5)で表される円弧であり、この円弧の頂点から光軸方向にRmだけ離れた「副走査方向に平行な軸」を中心に回転させた形状。   Injection side shape: Toroidal surface. The shape in the sub-scanning direction is an arc represented by the following formula (5), and is a shape rotated around an “axis parallel to the sub-scanning direction” separated from the vertex of the arc by Rm in the optical axis direction.

x=(z2/Rs)/[1+√{1- (z/Rs)2}] ・・(5)
ここに、y:光軸からの主走査方向距離、Rs:副走査方向の近軸曲率半径、x:光軸方向のデプスである。
x = (z 2 / Rs) / [1 + √ {1- (z / Rs) 2 }] (5)
Where y: distance in the main scanning direction from the optical axis, Rs: paraxial radius of curvature in the sub-scanning direction, and x: depth in the optical axis direction.

Rm、Rsの値
Rm=-1000
Rs=-23.38
また、両面の頂点は、図1の主光線に対して、図の上方へ1.21mmずれている。
Rm and Rs values
Rm = -1000
Rs = -23.38
Also, the vertices on both sides are shifted by 1.21 mm upward in the figure with respect to the principal ray in FIG.

図2の如く(簡単のために、各レンズをブロックとして描いている。)に面間隔を定めると、これら面間隔:d1〜d10の値は、以下のとおりである。   When the surface intervals are determined as shown in FIG. 2 (for the sake of simplicity, each lens is drawn as a block), the values of these surface intervals: d1 to d10 are as follows.

d1=12.843
d2=3.8
d3=102.8
d4=3.0
d5=69.3
d6=51.7
d7=31.4
d8=78.0
d9=3.5
d10=143.62 。
d1 = 12.843
d2 = 3.8
d3 = 102.8
d4 = 3.0
d5 = 69.3
d6 = 51.7
d7 = 31.4
d8 = 78.0
d9 = 3.5
d10 = 143.62.

説明中の具体例では、図1に示す如く、厚さ:1.9mm(25℃)の防塵ガラス8を挿入している。防塵ガラス8の材質の屈折率は、光線波長:780.1nm(温度:25℃)で1.511161、光線波長:786.5nm(温度:45℃)で1.511161、線膨張係数:7.5E−06K−1である。なお、この例では防音ガラス10を用いていない。
半導体レーザ1とカップリングレンズ2とは、アルミニウムによる同一部材に固定されている。この保持部材の線膨張係数は4.0E−05K−1である。
In the specific example in the description, as shown in FIG. 1, a dust-proof glass 8 having a thickness of 1.9 mm (25 ° C.) is inserted. The refractive index of the material of the dustproof glass 8 is 1.511161 at a light wavelength: 780.1 nm (temperature: 25 ° C.), 1.511161 at a light wavelength: 786.5 nm (temperature: 45 ° C.), and a linear expansion coefficient: 7. 5E-06K- 1 . In this example, the soundproof glass 10 is not used.
The semiconductor laser 1 and the coupling lens 2 are fixed to the same member made of aluminum. The linear expansion coefficient of this holding member is 4.0E-05K- 1 .

上記のレンズは全て「同一の樹脂材料」から成り、この樹脂の屈折率は、光線波長:780.1nm(温度:25℃)で1.523946、光線波長:786.5nm(温度:45℃)で1.522105、線膨張係数:7.0E−05K−1である。 All of the above lenses are made of “the same resin material”. The refractive index of this resin is 1.523946 at a light wavelength: 780.1 nm (temperature: 25 ° C.), and a light wavelength: 786.5 nm (temperature: 45 ° C.). 1.522105 and linear expansion coefficient: 7.0E-05K- 1 .

上記の条件において、発光波長、屈折率、面形状、肉厚の温度変化に伴う変化を考慮に入れて、被走査面9に対するピント位置(レーザ光束の集光位置)を算出すると以下の如くになる。   Under the above conditions, the focus position (laser beam condensing position) with respect to the scanned surface 9 is calculated in consideration of changes in the emission wavelength, refractive index, surface shape, and wall thickness due to temperature changes as follows. Become.

温度 ピント位置
主走査方向 副走査方向
25℃ 0.0mm 0.0mm
45℃ 11.6mm 3.3mm
この結果から分かるように、環境温度が25℃から45℃に変化すると、被走査面を走査するレーザ光束の集光位置が被走査面に対して大幅に変化する。
Temperature Focus position
Main scanning direction Sub scanning direction 25 ° C 0.0mm 0.0mm
45 ° C 11.6mm 3.3mm
As can be seen from this result, when the environmental temperature changes from 25 ° C. to 45 ° C., the condensing position of the laser beam that scans the scanned surface changes significantly with respect to the scanned surface.

以下に、図1、図2に即して説明した光学構成に対し、この発明を実施した具体的な実施例を挙げる。   Hereinafter, specific examples in which the present invention is implemented with respect to the optical configuration described with reference to FIGS. 1 and 2 will be described.

実施例1においては、半導体レーザ1の発光波長を、温度:25℃と45℃においてそれぞれ655nnと659nmとした。   In Example 1, the emission wavelength of the semiconductor laser 1 was 655 nn and 659 nm at temperatures of 25 ° C. and 45 ° C., respectively.

カップリングレンズ2
入射側面形状:同心円格子による回折面
この回折面の位相関数:φ(h)は、次式(6)で表される。
φ(h)=C1・h2 ・・(6)
ここに、h:光軸からの距離、C1:位相係数である。
位相係数:C1の値
C1=-1.1270E-02
図3(a)にカップリングレンズ2の入射側面の「同心円格子による回折面」を説明図的に示す。この回折面は「正のパワー」を持つ。
Coupling lens 2
Incident side shape: Diffraction surface by concentric grating
The phase function of this diffractive surface: φ (h) is expressed by the following equation (6).
φ (h) = C1 ・ h 2・ ・ (6)
Here, h: distance from the optical axis, C1: phase coefficient.
Phase coefficient: C1 value
C1 = -1.1270E-02
FIG. 3A is an explanatory view showing a “diffractive surface by a concentric grating” on the incident side surface of the coupling lens 2. This diffractive surface has “positive power”.

射出側面形状:前記式(1)で表される非球面
R、K、A4、A6、A8、A10の値
R=-34.32865 K=-71.517137
A4=-0.208422E-03
A6= 0.651475E-05
A8=-0.238199E-06
A10= 0.770435E-08
射出側面は正のパワーの屈折面である。
この実施例1においては、カップリングレンズ1は「半導体レーザ1からの発散性のレーザ光束を実質的な平行光束」とする。
Injection side shape: aspherical surface represented by the above formula (1)
R, K, A4, A6, A8, A10 values
R = -34.32865 K = -71.517137
A4 = -0.208422E-03
A6 = 0.651475E-05
A8 = -0.238199E-06
A10 = 0.770435E-08
The exit side is a positive power refracting surface.
In the first embodiment, the coupling lens 1 sets “a divergent laser beam from the semiconductor laser 1 as a substantially parallel beam”.

第1レンズ4
入射側面形状:主走査方向は無曲率、副走査方向は次式(7)で表される非円弧形状である。
1st lens 4
Incident side surface shape: no curvature in the main scanning direction and a non-arc shape represented by the following equation (7) in the sub-scanning direction.

x=(z2/Rs)/[1+√{1-(1+K)(z/Rs)2}]+B4・z4+B6・z6+B8・z8+B10・z10 ・・(7)
ここに、z:光軸からの副走査方向の距離、Rs:副走査方向の近軸曲率半径、K:円錐定数、B4,B6,B8,B10:高次の係数、x:光軸方向のデプスである。
x = (z 2 / Rs) / [1 + √ {1- (1 + K) (z / Rs) 2 }] + B4 ・ z 4 + B6 ・ z 6 + B8 ・ z 8 + B10 ・ z 10・・ (7)
Where, z: distance in the sub-scanning direction from the optical axis, Rs: paraxial radius of curvature in the sub-scanning direction, K: conic constant, B4, B6, B8, B10: higher-order coefficients, x: in the optical axis direction Depth.

Rs、K、B4,B6,B8,B10の値
Rs=-54.46507
K=-0.072542
B4= 0.577350E-07
B6= 0.474038E-07
B8=-0.190253E-07
B10= 0.247352E-08
第1レンズ4の入射側面は副走査方向にのみ負のパワーを持つ。
Rs, K, B4, B6, B8, B10 values
Rs = -54.46507
K = -0.072542
B4 = 0.577350E-07
B6 = 0.474038E-07
B8 = -0.190253E-07
B10 = 0.247352E-08
The incident side surface of the first lens 4 has a negative power only in the sub-scanning direction.

射出側面形状:副走査方向に格子を持つ回折面
回折面の位相関数:φ(z)は、次式(8)で表される。
φ(z)=C1・z2 ・・(8)
ここに、z:光軸からの副走査方向の距離、C1:位相係数である。
Emitting side shape: diffractive surface with grating in the sub-scanning direction
The phase function of the diffractive surface: φ (z) is expressed by the following equation (8).
φ (z) = C1 ・ z 2・ ・ (8)
Here, z: distance in the sub-scanning direction from the optical axis, and C1: phase coefficient.

位相係数:C1の値
C1=-8.8148E-03
図3(b)に第1レンズ4の射出側面に形成された「副走査方向に格子を持つ回折面」を説明図的に示す。この回折面は副走査方向のみに正のパワーを持つ。
従って、第1レンズ4は、カップリングレンズ2側からの平行光束を副走査方向にのみ集束させて、ポリゴンミラー5の偏向反射面近傍に「主走査方向に長く」集束させる。
Phase coefficient: C1 value
C1 = -8.8148E-03
FIG. 3B illustrates the “diffractive surface having a grating in the sub-scanning direction” formed on the exit side surface of the first lens 4 in an explanatory manner. This diffractive surface has a positive power only in the sub-scanning direction.
Accordingly, the first lens 4 focuses the parallel light flux from the coupling lens 2 side only in the sub-scanning direction, and focuses it “long in the main scanning direction” near the deflection reflection surface of the polygon mirror 5.

走査レンズ6
入射側面形状:主走査面内における面形状は次式(8)で表される非円弧形状をなし、副走査方向の曲率は辞し着(9)に従って主走査方向の距離に応じて変化する。
x=(y2/Rs)/[1+√{1-(1+K)(y/Rs)2}]+A4・y4+A6・y6+A8・y8+A10・y10 ・・(8)
ここに、y:光軸からの主走査方向の距離、Rm:主走査方向の近軸曲率半径、K:円錐定数、A4,A6,A8,A10・・:高次の係数、x:光軸方向のデプスである。
Scanning lens 6
Incident side surface shape: The surface shape in the main scanning plane has a non-arc shape represented by the following formula (8), and the curvature in the sub-scanning direction changes according to the distance in the main scanning direction according to the attachment (9).
x = (y 2 / Rs) / [1 + √ {1- (1 + K) (y / Rs) 2 }] + A4 ・ y 4 + A6 ・ y 6 + A8 ・ y 8 + A10 ・ y 10・・ (8)
Where y: distance in the main scanning direction from the optical axis, Rm: paraxial radius of curvature in the main scanning direction, K: conic constant, A4, A6, A8, A10...: Higher order coefficient, x: optical axis The depth of direction.

Cs(Y)=1/Rs(0)+B1・Y+ B2・Y2+ B3・Y3+ B4・Y4+ B5・Y5+・・(9)
ここに、Y:光軸からの主走査方向の距離、Cs(Y):副走査方向の曲率、K:円錐定数、B1,B2,B3,B4,B5・・:高次の係数である。
Cs (Y) = 1 / Rs (0) + B1 ・ Y + B2 ・ Y 2 + B3 ・ Y 3 + B4 ・ Y 4 + B5 ・ Y 5 + ・ ・ (9)
Here, Y: distance in the main scanning direction from the optical axis, Cs (Y): curvature in the sub-scanning direction, K: conical constant, B1, B2, B3, B4, B5...: Higher order coefficients.

Rm、Rs、K、A4,A6,A8,A10,A12、B1,B2,B3,B4,B5・・の値
Rm=-279.9、Rs=-61.
K=-2.900000E+01
A4= 1.755765E-07
A6=-5.491789E-11
A8= 1.087700E-14
A10=-3.183245E-19
A12=-2.635276E-24
B1=-2.066347E-06
B2= 5.727737E-06
B3= 3.152201E-08
B4= 2.280241E-09
B5=-3.729852E-11
B6=-3.283274E-12
B7= 1.765590E-14
B8= 1.372995E-15
B9=-2.889722E-18
B10=-1.984531E-19
像面側面形状は、式(9)で表される非球面であり、係数は以下の通りである。
Rm, Rs, K, A4, A6, A8, A10, A12, B1, B2, B3, B4, B5
Rm = -279.9, Rs = -61.
K = -2.900000E + 01
A4 = 1.755765E-07
A6 = -5.491789E-11
A8 = 1.087700E-14
A10 = -3.183245E-19
A12 = -2.635276E-24
B1 = -2.066347E-06
B2 = 5.727737E-06
B3 = 3.152201E-08
B4 = 2.280241E-09
B5 = -3.729852E-11
B6 = -3.283274E-12
B7 = 1.765590E-14
B8 = 1.372995E-15
B9 = -2.889722E-18
B10 = -1.984531E-19
The image side surface shape is an aspherical surface represented by the formula (9), and the coefficients are as follows.

R=-83. 6
K -0.549157
B4= 2.748446E-07
B6=-4.502346E-12
B8=-7.366455E-15
B10= 1.803003E-18
B12= 2.727900E-23 。
R = -83.6
K -0.549157
B4 = 2.748446E-07
B6 = -4.502346E-12
B8 = -7.366455E-15
B10 = 1.803003E-18
B12 = 2.727900E-23.

走査レンズ7
入射側面形状:
主走査方向は前記式(8)で表される非円弧形状
副走査方向は曲率が光軸からの主走査方向の距離に応じて前記式(9)に従って変化する形状
Rm、Rs、K、A4,A6,A8,A10,・・、B1,B2,B3,B4,B5・・の値
Rm=6950、Rs= 110.9
K= 0.000000E+00
A4= 1.549648E-08
A6= 1.292741E-14
A8=-8.811446E-18
A10=-9.182312E-22
B1=-9.593510E-07
B2=-2.135322E-07
B3=-8.079549E-12
B4= 2.390609E-12
B5= 2.881396E-14
B6= 3.693775E-15
B7=-3.258754E-18
B8= 1.814487E-20
B9= 8.722085E-23
B10=-1.340807E-23 。
Scanning lens 7
Incident side shape:
The main scanning direction is a non-circular shape represented by the formula (8).
The shape in which the curvature in the sub-scanning direction changes according to the above equation (9) according to the distance in the main scanning direction from the optical axis
Rm, Rs, K, A4, A6, A8, A10, ..., B1, B2, B3, B4, B5 ...
Rm = 6950, Rs = 110.9
K = 0.000000E + 00
A4 = 1.549648E-08
A6 = 1.292741E-14
A8 = -8.811446E-18
A10 = -9.182312E-22
B1 = -9.593510E-07
B2 = -2.135322E-07
B3 = -8.079549E-12
B4 = 2.390609E-12
B5 = 2.881396E-14
B6 = 3.693775E-15
B7 = -3.258754E-18
B8 = 1.814487E-20
B9 = 8.722085E-23
B10 = -1.340807E-23.

射出側面形状:主走査面内における面形状は前記式(8)で表される非円弧形状で、副走査方向の曲率は光軸からの主走査方向距離に応じて前記式(9)に従って変化する形状
Rm、Rs、K、A4,A6,A8,A10,・・、B1,B2,B3,B4,B5・・の値
Rm=766、Rs= -68.22
K= 0.000000E+00
A4=-1.150396E-07
A6= 1.096926E-11
A8=-6.542135E-16
A10= 1.984381E-20
A12=-2.411512E-25
B2= 3.644079E-07
B4=-4.847051E-13
B6=-1.666159E-16
B8= 4.534859E-19
B10=-2.819319E-23 。
Emitting side surface shape: The surface shape in the main scanning plane is a non-arc shape represented by the above equation (8), and the curvature in the sub-scanning direction changes according to the above equation (9) according to the distance in the main scanning direction from the optical axis. Shape to
Rm, Rs, K, A4, A6, A8, A10, ..., B1, B2, B3, B4, B5 ...
Rm = 766, Rs = -68.22
K = 0.000000E + 00
A4 = -1.150396E-07
A6 = 1.096926E-11
A8 = -6.542135E-16
A10 = 1.984381E-20
A12 = -2.411512E-25
B2 = 3.644079E-07
B4 = -4.847051E-13
B6 = -1.666159E-16
B8 = 4.534859E-19
B10 = -2.819319E-23.

図2の如く定められた面間隔:d1〜d10の値は、以下のとおりである。   The values of the plane spacings d1 to d10 determined as shown in FIG. 2 are as follows.

d1=26.07144
d2=3.8
d3=102.8
d4=3.0
d5=121.7448
d6=64.00685
d7=22.6
d8=75.85
d9=4.9
d10=158.71
実施例1では、図1に示す如く、厚さ:1.9mm(25℃)の防音ガラス10と防塵ガラス8を挿入している。これらガラスの屈折率は、光線波長:655nm(温度:25℃)で1.514371、光線波長:659nm(温度:45℃)で1.514291、線膨張係数:7.5E−06K−1である。
d1 = 26.07144
d2 = 3.8
d3 = 102.8
d4 = 3.0
d5 = 121.7448
d6 = 64.00685
d7 = 22.6
d8 = 75.85
d9 = 4.9
d10 = 158.71
In Example 1, as shown in FIG. 1, a soundproof glass 10 and a dustproof glass 8 having a thickness of 1.9 mm (25 ° C.) are inserted. The refractive indexes of these glasses are 1.514371 at a light wavelength: 655 nm (temperature: 25 ° C.), 1.514291 at a light wavelength: 659 nm (temperature: 45 ° C.), and a linear expansion coefficient: 7.5E-06K −1 . .

レンズは全て同一の樹脂材料から成る。この樹脂の屈折率は光線波長:655nm(温度:25℃)で1.527257、光線波長:659nm(温度:45℃)で1.525368、線膨張係数:7.0E−05K−1である。 All the lenses are made of the same resin material. The refractive index of this resin is 1.527257 at a light wavelength: 655 nm (temperature: 25 ° C.), 1.525368 at a light wavelength: 659 nm (temperature: 45 ° C.), and a linear expansion coefficient: 7.0E-05K −1 .

半導体レーザ1とカップリングレンズ2とはアルミニウムによる同一部材(保持部材)に固定されており、この保持部材の線膨張係数は4.0E−05K−1である。 The semiconductor laser 1 and the coupling lens 2 are fixed to the same member (holding member) made of aluminum, and the linear expansion coefficient of the holding member is 4.0E-05K- 1 .

以上の条件で、温度による発光波長、屈折率、面形状、肉厚の変化を考慮に入れて、被走査面9に対するピント位置(レーザ光束の集光位置)を算出すると以下の如くになる。   Under the above conditions, the focus position (laser beam condensing position) with respect to the scanned surface 9 is calculated in consideration of changes in emission wavelength, refractive index, surface shape, and thickness with temperature.

温度 ピント位置
主走査方向 副走査方向
25℃ 0.0mm 0.0mm
45℃ 0.0mm 0.0mm
この結果から、実施例1のレーザ走査装置では、環境温度が25℃から45℃に変化しても、ピント位置の変動が実質上発生しないことが分かる。この効果は、回折面を用いたことによるものである。
Temperature Focus position
Main scanning direction Sub scanning direction 25 ° C 0.0mm 0.0mm
45 ° C 0.0mm 0.0mm
From this result, it can be seen that in the laser scanning device of Example 1, the focus position does not vary substantially even when the environmental temperature changes from 25 ° C. to 45 ° C. This effect is due to the use of a diffractive surface.

上に挙げた実施例1は、シングルビーム方式のレーザ走査装置であるが、複数の半導体レーザからの光束をプリズム等で合成する方式や半導体レーザアレイを用いることにより「マルチビーム方式」とすることも可能である。   The above-described first embodiment is a single-beam laser scanning device, but a “multi-beam method” is used by combining a light beam from a plurality of semiconductor lasers with a prism or the like or using a semiconductor laser array. Is also possible.

上に挙げた実施例1のレーザ走査装置は、半導体レーザ1と、この半導体レーザからの光束をカップリングするカップリング光学系2と、このカップリング光学系からの光束を光偏向器に導く第1光学系4と、この第1光学系からのレーザ光束を主走査方向に偏向させる光偏向器5と、この光偏向器により偏向されたレーザ光束を被走査面9に向けて集光する走査光学系6、7とを備えたレーザ走査装置であって、カップリング光学系2は、主走査方向と副走査方向に同じパワーを持つ回折面(同心円格子による回折面)を有し、第1光学系4は「副走査方向のみにパワーを有する回折面」を有する(請求項1)。   The laser scanning apparatus according to the first embodiment described above includes a semiconductor laser 1, a coupling optical system 2 for coupling a light beam from the semiconductor laser, and a first light beam for guiding the light beam from the coupling optical system to an optical deflector. 1 optical system 4, an optical deflector 5 for deflecting the laser beam from the first optical system in the main scanning direction, and scanning for condensing the laser beam deflected by the optical deflector toward the scanning surface 9 A laser scanning device including optical systems 6 and 7, wherein the coupling optical system 2 has a diffractive surface (a diffractive surface formed by concentric circular gratings) having the same power in the main scanning direction and the sub-scanning direction. The optical system 4 has a “diffraction surface having power only in the sub-scanning direction”.

また、カップリング光学系2は略平行光を射出し(請求項2)、正のパワーを持つ屈折面(射出側面)を有し(請求項3)、正のパワーを持つ回折面(入射側面)を有する(請求項4)。   The coupling optical system 2 emits substantially parallel light (Claim 2), has a refracting surface (exit side) having positive power (Claim 3), and has a diffractive surface (incident side) having positive power. (Claim 4).

回折面は「通常の屈折面とは波長変化による屈折角の変化方向が逆」である。従って、光学系全系の「正のパワーの一部」を回折面に割り当てることにより、カップリングレンズ2自体が樹脂であるために発生する「温度変化によるピント位置ずれ」は勿論、光学系の別の樹脂レンズによる温度変化によるピント位置ずれも補正出来る。   The diffractive surface is “the direction of refraction angle change due to wavelength change is opposite to that of a normal refracting surface”. Therefore, by assigning “a part of the positive power” of the entire optical system to the diffractive surface, the “focus position shift due to temperature change” that occurs because the coupling lens 2 itself is a resin, as well as the optical system. It is possible to correct a focus position shift caused by a temperature change caused by another resin lens.

しかし、カップリング光学系の正パワーを回折面だけに担わせると、波長変化に対して敏感になりすぎるので、正パワーを持つ屈折面も有することが望ましい。また、回折面は光源側の面に主走査方向と副走査方向に同じパワーであるので、カップリングレンズ2の固定時に光軸に対する回転が起こっても性能劣化が起こり難いという利点を有する。   However, if only the diffractive surface bears the positive power of the coupling optical system, it becomes too sensitive to changes in wavelength, so it is desirable to have a refractive surface with positive power. In addition, since the diffractive surface has the same power in the main scanning direction and the sub-scanning direction on the surface on the light source side, there is an advantage that performance degradation hardly occurs even when the coupling lens 2 is rotated with respect to the optical axis.

また、第1光学系である第1レンズ4は、副走査方向に正のパワーを持つ回折面(射出側面)を有する樹脂製レンズ(請求項5)で、副走査方向に負のパワーを持つ屈折面(入射側面)を有する(請求項6)。   The first lens 4 that is the first optical system is a resin lens having a diffractive surface (exit side surface) having a positive power in the sub-scanning direction and has a negative power in the sub-scanning direction. It has a refracting surface (incident side surface).

実施例1のレーザ走査装置はまた、半導体レーザ1と、この光源からのレーザ光束をカップリングするカップリング光学系2と、このカップリング光学系からのレーザ光束を光偏向器に導く第1光学系4と、この第1光学系からのレーザ光束を主走査方向に偏向させる光偏向器5と、この光偏向器により偏向されたレーザ光束を被走査面に向けて集光する走査光学系6、7とを備えたレーザ走査装置であって、第1光学系4を構成するレンズが、副走査方向にのみにパワーを有する回折面(射出側面)と、副走査方向に負のパワーを持つ屈折面(入射側面)を有する(請求項7)。   The laser scanning apparatus according to the first embodiment also includes a semiconductor laser 1, a coupling optical system 2 that couples a laser beam from the light source, and a first optical that guides the laser beam from the coupling optical system to an optical deflector. System 4, optical deflector 5 for deflecting the laser beam from the first optical system in the main scanning direction, and scanning optical system 6 for condensing the laser beam deflected by the optical deflector toward the surface to be scanned , 7 in which the lens constituting the first optical system 4 has a diffractive surface (exit side surface) having power only in the sub-scanning direction and negative power in the sub-scanning direction. It has a refracting surface (incident side surface).

第1光学系としての第1レンズ4は、実施例1では、入射側の面に「副走査方向にのみ負のパワーを持つ屈折面」が形成され、射出側の面には「副走査方向のみに正のパワーを持つ回折面」が設けられている。温度変化による「主走査方向のピント位置ずれ」に関してはカップリングレンズ2に設けられた回折面で補正可能であるが、実施例のレーザ走査装置では、光学系全系の正のパワーは、副走査方向が主走査方向よりも強いので、副走査方向に対しても温度変化によるピント位置ずれを補正するためには、さらに「副走査方向に正のパワーの回折面」が必要であり、実施例1では第1レンズ4の射出側面に設けられた「副走査方向のみにパワーを持つ回折面」である。   In the first lens 4 as the first optical system, in Example 1, a “refractive surface having negative power only in the sub-scanning direction” is formed on the incident-side surface, and “sub-scanning direction” is formed on the exit-side surface. Only a diffractive surface having a positive power ”is provided. The “focus position shift in the main scanning direction” due to the temperature change can be corrected by the diffractive surface provided in the coupling lens 2. However, in the laser scanning device of the embodiment, the positive power of the entire optical system is Since the scanning direction is stronger than the main scanning direction, in order to correct the focus position shift due to temperature changes in the sub-scanning direction, a “diffractive surface with positive power in the sub-scanning direction” is further required. In Example 1, the “diffractive surface having power only in the sub-scanning direction” provided on the exit side surface of the first lens 4 is used.

第1レンズ4全体のパワーは「光スポットのスポット径に対する目標値」から定まっており、その値は「副走査方向の温度変化によるピント位置ずれを補正するために必要な回折面の正のパワー」より小さい。従って、第1レンズ4の屈折面を負のパワーとし、回折面の正のパワーを確保しつつ、第1レンズ4全体のパワーも適切な値に設定している。   The power of the entire first lens 4 is determined from “a target value for the spot diameter of the light spot”, and the value is “a positive power of the diffractive surface necessary for correcting a focus position shift due to a temperature change in the sub-scanning direction. Is smaller than Therefore, the refracting surface of the first lens 4 is set to a negative power, and the power of the entire first lens 4 is set to an appropriate value while ensuring the positive power of the diffraction surface.

また、温度上昇により全系の焦点距離が正の方向に伸びるのに対し、凹面は熱膨張で焦点距離が負の方向に伸びるため、これによる温度変化によるピントずれ低減効果もある。   In addition, the focal length of the entire system increases in the positive direction due to the temperature rise, whereas the concave surface extends in the negative direction due to thermal expansion, so that there is also an effect of reducing focus shift due to temperature change.

実施例1のように、回折面を持つレンズ(カップリングレンズ2、第1レンズ4)を樹脂製にすることにより、予め金型に回折面の格子の陰画を刻み、射出成形や熱転写により格子形状を転写出来、低コストでの大量生産が可能になる。   As in Example 1, the lens having the diffractive surface (coupling lens 2 and first lens 4) is made of resin, so that a negative image of the grating on the diffractive surface is engraved in advance on the mold, and the grating is formed by injection molding or thermal transfer. The shape can be transferred, enabling mass production at low cost.

図4は、カップリングレンズ2と第1レンズ4の位置決め方法を説明するための図である。   FIG. 4 is a diagram for explaining a method of positioning the coupling lens 2 and the first lens 4.

光源である半導体レーザ1は第1保持部材11に圧入等により固定される。次に、カップリングレンズ2を「光軸方向に調整を行った後」に第1保持部材11に固定する(請求項8)。このようにすると、半導体レーザのケースに対して発光点位置がばらついていても、カップリングレンズ2により「出射光を略平行光束」に変換することが確実に可能になる。   The semiconductor laser 1 as a light source is fixed to the first holding member 11 by press fitting or the like. Next, the coupling lens 2 is fixed to the first holding member 11 "after adjustment in the optical axis direction" (claim 8). This makes it possible to reliably convert “emitted light into a substantially parallel light beam” by the coupling lens 2 even if the light emitting point position varies with respect to the case of the semiconductor laser.

図4の例では、第1保持部材11は一体で、カップリングレンズ2が接着で固定される場合を示しているが、第1保持部材11が複数の部材からなっていてもよいし、カップリングレンズ2の固定方法が接着以外であっても良い。   In the example of FIG. 4, the first holding member 11 is integrated and the coupling lens 2 is fixed by adhesion. However, the first holding member 11 may be composed of a plurality of members or a cup. The fixing method of the ring lens 2 may be other than adhesion.

半導体レーザ1とカップリングレンズ2を固定された第1保持部材11は、第2保持部材12に固定される。そして、第1レンズ4が、副走査方向のピント位置が所望の位置になるように、少なくとも光軸方向に位置調整され、第2保持部材12に固定される(請求項9)。第1レンズ4は副走査方向にのみパワーを持っているので、第1レンズ4の光軸方向の調整をしても主走査方向のピント位置は変化せず、主走査方向、副走査方向独立に調整が可能であるので調整が容易である。   The first holding member 11 to which the semiconductor laser 1 and the coupling lens 2 are fixed is fixed to the second holding member 12. Then, the position of the first lens 4 is adjusted at least in the optical axis direction and fixed to the second holding member 12 so that the focus position in the sub-scanning direction becomes a desired position. Since the first lens 4 has power only in the sub-scanning direction, the focus position in the main scanning direction does not change even if the optical axis direction of the first lens 4 is adjusted, and the main scanning direction and the sub-scanning direction are independent. Therefore, the adjustment is easy.

実施例1では、また、カップリング光学系2の有する回折面(入射側面)は光軸に関して回転対称であり、第1光学系4の有する回折面(射出側面)は、副走査方向に格子が並んだ回折面である(請求項10)。また、走査光学系(走査レンズ6、7)は少なくとも1枚の樹脂製レンズを含む(請求項11)。   In Example 1, the diffractive surface (incident side surface) of the coupling optical system 2 is rotationally symmetric with respect to the optical axis, and the diffractive surface (exit side surface) of the first optical system 4 has a grating in the sub-scanning direction. Lined diffraction surfaces (claim 10). The scanning optical system (scanning lenses 6 and 7) includes at least one resin lens.

若干説明を補足すると、カップリングレンズ2や第1レンズ4に形成される「回折面」は、図5(a)に説明図として示すように、回折面の断面形状を「破線で示す平面」に対して回折面を形成してもよいが、図5(b)に示す断面形状のように、破線で示す巨視的な曲面に対して回折面を形成しても良い。このようにすると、破線で示す巨視的な曲面による屈折効果と「回折面による回折効果」とを組合せることができる。   To supplement a little, the “diffractive surface” formed on the coupling lens 2 and the first lens 4 has a cross-sectional shape of the diffraction surface “a plane indicated by a broken line” as shown in FIG. However, a diffractive surface may be formed on a macroscopic curved surface indicated by a broken line as in the cross-sectional shape shown in FIG. In this way, it is possible to combine the refraction effect by the macroscopic curved surface indicated by the broken line and the “diffraction effect by the diffraction surface”.

実施例1では、前述の如く、カップリングレンズ2は半導体レーザ1からの発散性のレーザ光束を実質的な平行光束としている。この場合、第1レンズ4の入射側面を平面形状とすると、図6(a)に示すように、第1レンズ4の入射側面で反射した反射光成分が半導体レーザ1に戻って発光部に集光し、半導体レーザ1の発光を不安定化することが考えられるが、実施例1のように、第1レンズ4の入射側面を「副走査方向に負のパワーを持った凹面」とすることにより、図6(b)のように、入射側面からの反射光が半導体レーザ1の発光部に集光するのを有効に防止することができる。   In the first embodiment, as described above, the coupling lens 2 uses the divergent laser beam from the semiconductor laser 1 as a substantially parallel beam. In this case, if the incident side surface of the first lens 4 has a planar shape, the reflected light component reflected by the incident side surface of the first lens 4 returns to the semiconductor laser 1 and is collected in the light emitting section as shown in FIG. It is conceivable to destabilize the light emitted from the semiconductor laser 1, but as in the first embodiment, the incident side surface of the first lens 4 is "a concave surface having negative power in the sub-scanning direction". Accordingly, it is possible to effectively prevent the reflected light from the incident side surface from being collected on the light emitting portion of the semiconductor laser 1 as shown in FIG.

図7は、請求項12記載の画像形成装置の実施の1形態を示している。この画像形成装置は光プリンタであり、被走査面の実体をなす感光媒体として円筒状に形成された光導電性の感光体111を有し、その周辺に帯電手段112(帯電ローラによる接触式のものを示しているが、コロナチャージャや帯電ブラシを用いることもできる)、現像装置113、転写手段114(転写ローラを示しているがコロナチャージャを用いるものであってもよい)、クリーニング装置115を有している。符号116は定着装置を示す。   FIG. 7 shows an embodiment of the image forming apparatus according to the twelfth aspect. This image forming apparatus is an optical printer, and has a photoconductive photosensitive member 111 formed in a cylindrical shape as a photosensitive medium that forms the surface to be scanned, and a charging means 112 (contact type by a charging roller) around the photosensitive member. A corona charger or a charging brush can be used), a developing device 113, a transfer means 114 (a transfer roller is shown, but a corona charger may be used), and a cleaning device 115. Have. Reference numeral 116 denotes a fixing device.

また、光走査装置117を有し、帯電手段112と現像装置113との間で光走査による画像書き込みを行うようになっている。光走査装置としては、前述の実施例1のレーザ走査装置を用いることができる。   Further, an optical scanning device 117 is provided, and image writing by optical scanning is performed between the charging unit 112 and the developing device 113. As the optical scanning device, the laser scanning device of Example 1 described above can be used.

画像形成を行うときは感光体111が矢印方向へ等速回転され、その表面が帯電手段112により均一帯電され、次いで、光走査装置117による光走査により画像が書き込まれ、書き込まれた画像に対応する静電潜像が形成される。形成された静電潜像は所謂「ネガ潜像」で画像部が露光されている。   When image formation is performed, the photosensitive member 111 is rotated at a constant speed in the direction of the arrow, the surface thereof is uniformly charged by the charging unit 112, and then an image is written by optical scanning by the optical scanning device 117, corresponding to the written image. An electrostatic latent image is formed. The formed electrostatic latent image is a so-called “negative latent image” and the image portion is exposed.

この静電潜像は現像装置113により反転現像されてトナー画像として可視化される。トナー画像は、転写紙やOHPシート等のシート状記録媒体S上に転写手段114により転写され、定着装置116により定着される。トナー画像を定着されたシート状記録媒体Sは装置外へ排出され、トナー画像転写後の感光体111はクリーニング装置115によりクリーニングされて残留トナーや紙粉が除去される。   The electrostatic latent image is reversely developed by the developing device 113 and visualized as a toner image. The toner image is transferred by a transfer unit 114 onto a sheet-like recording medium S such as transfer paper or an OHP sheet, and is fixed by a fixing device 116. The sheet-like recording medium S on which the toner image is fixed is discharged out of the apparatus, and the photoreceptor 111 after the toner image is transferred is cleaned by a cleaning device 115 to remove residual toner and paper dust.

光走査装置をマルチビーム化することも可能であり、ポリゴン回転数低減が出来、消費電力を低減できる。また、複数のレーザ走査装置と複数の感光体を用いて、複数の「色の異なるトナー画像」を作り、それを重ね合わせてカラー画像を形成するようにすることも勿論できる。   The optical scanning device can be made into a multi-beam, the polygon rotation speed can be reduced, and the power consumption can be reduced. Of course, a plurality of “toner images having different colors” can be formed by using a plurality of laser scanning devices and a plurality of photoconductors, and these can be superimposed to form a color image.

レーザ走査装置の光学配置の1例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating an example of the optical arrangement | positioning of a laser scanning apparatus. 図1の光学配置における各レンズの面間隔を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the space | interval of each lens in the optical arrangement | positioning of FIG. 実施例1における回折面を説明図的に示す図である。It is a figure which shows explanatoryally the diffraction surface in Example 1. FIG. 請求項9、10の特徴部分を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the characterizing part of Claims 9 and 10. 回折面の断面形状を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the cross-sectional shape of a diffraction surface. 第1レンズの入射側面を曲面とする効果を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the effect which makes the entrance side of a 1st lens into a curved surface. 画像形成装置の実施の1形態を説明するための図である。It is a figure for demonstrating one Embodiment of an image forming apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 半導体レーザ
2 カップリングレンズ
4 第1レンズ
5 ポリゴンミラー
6、7 走査光学系
8 防塵ガラス
9 被走査面
10 防音ガラス
1 Semiconductor laser 2 Coupling lens
4 First lens 5 Polygon mirror 6, 7 Scanning optical system 8 Dustproof glass 9 Scanned surface 10 Soundproof glass

Claims (12)

半導体レーザと、
この半導体レーザからの光束をカップリングするカップリング光学系と、
このカップリング光学系からの光束を光偏向器に導く第1光学系と、
この第1光学系からのレーザ光束を主走査方向に偏向させる光偏向器と、
この光偏向器により偏向されたレーザ光束を被走査面に向けて集光する走査光学系とを備えたレーザ走査装置であって、
カップリング光学系は、主走査方向と副走査方向に同じパワーを持つ回折面を有し、
第1光学系は、副走査方向のみにパワーを有する回折面を有することを特徴とするレーザ走査装置。
A semiconductor laser;
A coupling optical system for coupling a light beam from the semiconductor laser;
A first optical system for guiding a light beam from the coupling optical system to an optical deflector;
An optical deflector for deflecting the laser beam from the first optical system in the main scanning direction;
A laser scanning device provided with a scanning optical system for condensing the laser beam deflected by the optical deflector toward the surface to be scanned,
The coupling optical system has a diffractive surface having the same power in the main scanning direction and the sub-scanning direction,
The first optical system has a diffractive surface having power only in the sub-scanning direction.
請求項1記載のレーザ走査装置において、
カップリング光学系が、略平行光を射出することを特徴とするレーザ走査装置。
The laser scanning device according to claim 1.
A laser scanning device, wherein the coupling optical system emits substantially parallel light.
請求項1または2記載のレーザ走査装置において、
カップリング光学系が、正のパワーを持つ屈折面を有することを特徴とするレーザ走査装置。
The laser scanning device according to claim 1 or 2,
A laser scanning device, wherein the coupling optical system has a refractive surface having a positive power.
請求項1または2または3記載のレーザ走査装置において、
カップリング光学系が、正のパワーを持つ回折面を有する樹脂製レンズを有することを特徴とするレーザ走査装置。
The laser scanning device according to claim 1, 2 or 3,
A laser scanning device, wherein the coupling optical system includes a resin lens having a diffractive surface having a positive power.
請求項1〜4の任意の1に記載のレーザ走査装置において、
第1光学系が、副走査方向に正のパワーを持つ回折面を有する樹脂製レンズを有することを特徴とするレーザ走査装置。
The laser scanning device according to any one of claims 1 to 4,
The laser scanning device, wherein the first optical system includes a resin lens having a diffractive surface having a positive power in the sub-scanning direction.
請求項1〜5の任意の1に記載のレーザ走査装置において、
第1光学系が副走査方向に負のパワーを持つ屈折面を有することを特徴とするレーザ走査装置。
The laser scanning device according to any one of claims 1 to 5,
A laser scanning device, wherein the first optical system has a refractive surface having negative power in the sub-scanning direction.
半導体レーザと、
この光源からのレーザ光束をカップリングするカップリング光学系と、
このカップリング光学系からのレーザ光束を光偏向器に導く第1光学系と、
この第1光学系からのレーザ光束を主走査方向に偏向させる光偏向器と、
この光偏向器により偏向されたレーザ光束を被走査面に向けて集光する走査光学系とを備えたレーザ走査装置であって、
第1光学系を構成するレンズが、副走査方向にのみにパワーを有する回折面と、副走査方向に負のパワーを持つ屈折面を有することを特徴とするレーザ走査装置。
A semiconductor laser;
A coupling optical system for coupling the laser beam from this light source;
A first optical system for guiding a laser beam from the coupling optical system to an optical deflector;
An optical deflector for deflecting the laser beam from the first optical system in the main scanning direction;
A laser scanning device provided with a scanning optical system for condensing the laser beam deflected by the optical deflector toward the surface to be scanned,
A laser scanning device, wherein the lens constituting the first optical system has a diffractive surface having power only in the sub-scanning direction and a refracting surface having negative power in the sub-scanning direction.
請求項1〜7の任意の1に記載のレーザ走査装置において、
半導体レーザとカップリング光学系を保持する第1保持部材を有し、
上記カップリング光学系が、少なくとも光軸方向に位置調整されたのちに上記第1保持部材に固定されることを特徴とするレーザ走査装置。
The laser scanning device according to any one of claims 1 to 7,
A first holding member for holding the semiconductor laser and the coupling optical system;
The laser scanning device, wherein the coupling optical system is fixed to the first holding member after the position is adjusted at least in the optical axis direction.
請求項8記載のレーザ走査装置において、
少なくとも第1保持部材と前記第1光学系を保持する第2保持部材を有し、
カップリング光学系が上記第1保持部材に固定された後に、上記第1光学系が、少なくとも光軸方向に調整された後に上記第2保持部材に固定されることを特徴とするレーザ走査装置。
The laser scanning device according to claim 8.
A second holding member that holds at least the first holding member and the first optical system;
The laser scanning device, wherein after the coupling optical system is fixed to the first holding member, the first optical system is fixed to the second holding member after being adjusted at least in the optical axis direction.
請求項1〜9の任意の1に記載のレーザ走査装置において、
カップリング光学系の有する回折面は光軸に関して回転対称であり、
第1光学系の有する回折面は、副走査方向に格子が並んだ回折面であることを特徴とするレーザ走査装置。
The laser scanning device according to any one of claims 1 to 9,
The diffractive surface of the coupling optical system is rotationally symmetric with respect to the optical axis,
The diffractive surface of the first optical system is a diffractive surface in which gratings are arranged in the sub-scanning direction.
請求項1〜10の任意の1に記載のレーザ走査装置において、
走査光学系が少なくとも1枚の樹脂製レンズを含むことを特徴とするレーザ走査装置。
In the laser scanning device according to any one of claims 1 to 10,
A laser scanning device, wherein the scanning optical system includes at least one resin lens.
請求項1〜11記載の任意の1に記載のレーザ走査装置を用いることを特徴とする画像形成装置。
An image forming apparatus using the laser scanning device according to any one of claims 1 to 11.
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