JP2006190058A - Abnormality detection device and method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、複数の電子部品との間で信号を入力または出力するための演算処理を実行するとともに、前記電子部品に対する異常の有無を判断する異常検出処理を実行する異常検出装置及び方法に関する。 The present invention relates to an abnormality detection apparatus and method for executing an arithmetic process for inputting or outputting a signal to / from a plurality of electronic components and executing an abnormality detection process for determining whether there is an abnormality in the electronic component.
一般に、制御システムにはCPU等を備えた演算処理装置が設けられ、予め設定された周期で繰り返し実行される制御プログラムに基づいて所定の機能が実現されるように構成されている。例えば、システムの状態を監視する各種のセンサから入力される信号や関連する他の演算処理装置からの通信データに基づいて、所定の機能を実現するように複数のアクチュエータ等を駆動制御する場合には、センサからの入力処理、他の演算処理装置との通信処理、演算処理、アクチュエータへの出力処理といった各種の処理が所定の周期で繰り返されるものであるが、このような制御システムには、センサ、他の演算処理装置、または、アクチュエータ等でなる各種の電子部品の作動状態が正常であるのか異常であるのかを検出して、重大な事故等を未然に防止する異常検出処理を実行する異常検出装置が設けられている。 In general, the control system is provided with an arithmetic processing unit including a CPU or the like, and is configured to realize a predetermined function based on a control program that is repeatedly executed at a preset period. For example, when driving and controlling a plurality of actuators so as to realize a predetermined function based on signals input from various sensors for monitoring the state of the system and communication data from other related arithmetic processing devices. Is a process in which various processes such as an input process from a sensor, a communication process with another arithmetic processing unit, an arithmetic process, and an output process to an actuator are repeated at a predetermined cycle. Detects whether the operation state of various electronic components such as sensors, other arithmetic processing units, or actuators is normal or abnormal, and executes abnormality detection processing to prevent serious accidents in advance An abnormality detection device is provided.
従来、この種の異常検出装置は、当該演算処理装置に接続された電子部品毎に個別に準備された異常検出アルゴリズムを夫々実行するように構成されていた。そのため、検出対象となる電子部品の数が増えるとそれだけ異常検出処理のための個別のプログラムを追加開発する必要があるばかりか、処理が増えてCPUの負荷が増大するために、本来のシステム制御に支障を来たす虞があることから、複数の電子部品の異常検出処理を分割して異なる演算周期で行うことにより、1周期で実行される異常検出用の処理時間を短縮し、信頼性を向上させる技術が提案されている。
しかし、上述した従来の異常検出処理によれば、異常検出対象となる電子部品が増えるにつれてそれだけ多くの異常検出アルゴリズム、つまり異常検出プログラムを構築しなければならず、プログラム容量の増大を招き、ROM等の部品コストが上昇するばかりか、そのような個別の異常検出アルゴリズムによる場合には情報の一元管理ができていないために、プログラムの開発工数、信頼性確保のためのデバッグ工数等、生産コストが上昇するという重大な問題があった。 However, according to the above-described conventional abnormality detection process, as the number of electronic components to be detected for abnormality increases, more abnormality detection algorithms, that is, abnormality detection programs have to be constructed, which increases the program capacity and causes the ROM. In addition to the increase in parts costs, etc., because of the fact that such individual anomaly detection algorithms cannot centrally manage information, production costs such as program development man-hours and debugging man-hours to ensure reliability There was a serious problem of rising.
本発明は、上述の従来欠点に鑑み、異常検出対象となる新たな電子部品が増加した場合であっても、対応する新たな異常検出アルゴリズムを開発する手間を大幅に軽減させるとともに、情報の一元管理により信頼性の確保のための工数をも軽減させ、システムの変更に柔軟に対応できる異常検出装置及び方法を提供する点にある。 In view of the above-described conventional drawbacks, the present invention greatly reduces the time and effort to develop a new corresponding abnormality detection algorithm even when the number of new electronic components to be detected for abnormality increases, and unifies information. An object of the present invention is to provide an abnormality detection apparatus and method that can reduce man-hours for ensuring reliability by management and can flexibly cope with changes in the system.
上述の目的を達成するため、本発明による異常検出装置の第一の特徴構成は、複数の電子部品との間で信号を入力または出力するための演算処理を実行するとともに、前記電子部品に対する異常の有無を判断する異常検出処理を実行する異常検出装置であって、前記電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に固有の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出手段を備えてなる点にある。 In order to achieve the above-described object, the first characteristic configuration of the abnormality detection device according to the present invention performs an arithmetic process for inputting or outputting signals to / from a plurality of electronic components, and performs an abnormality on the electronic components. An abnormality detection apparatus for executing an abnormality detection process for determining the presence or absence of an electronic component, wherein the electronic component is divided into a plurality of groups based on an abnormality detection pattern, and a unique abnormality detection algorithm is executed for each of the divided groups. This is in that an abnormality detecting means for detecting an abnormality is provided.
上述の構成によれば、異常検出パターンに基づいて分割されたグループ毎に固有の異常検出アルゴリズムを実行するため、異常検出アルゴリズムを最小限度且つ最適に構成でき、また、新たに電子部品が増加した場合であっても、それに対応可能な既存の検出アルゴリズムを用いることにより、新たな異常検出アルゴリズムを開発する手間を大幅に軽減することができるのである。また、夫々のグループ単位で情報の一元管理を行なうことができ、システムの変更に柔軟に対応が可能となるのである。 According to the above configuration, the abnormality detection algorithm unique to each group divided based on the abnormality detection pattern is executed. Therefore, the abnormality detection algorithm can be configured to the minimum and optimal, and the number of electronic components has been newly increased. Even if it is a case, the effort which develops a new abnormality detection algorithm can be reduced significantly by using the existing detection algorithm which can respond to it. In addition, it is possible to perform unified management of information in units of groups, and it is possible to flexibly cope with system changes.
同第二の特徴構成は、複数の電子部品との間で信号を入力または出力するための演算処理を実行するとともに、前記電子部品に対する異常の有無を判断する異常検出処理を実行する異常検出装置であって、前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルと、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出手段を備えてなる点にある。 The second characteristic configuration includes an abnormality detection device that performs arithmetic processing for inputting or outputting signals to / from a plurality of electronic components, and performs abnormality detection processing that determines whether there is an abnormality in the electronic components And state data for determining presence / absence of abnormality of the electronic component, determination condition data for determining presence / absence of abnormality, a data table storing determination result data indicating a determination result, and the data table With reference to each electronic component, an abnormality detecting means for detecting an abnormality by executing the same abnormality detecting algorithm is provided.
上述の構成によれば、データテーブルを参照しながら同一の異常検出アルゴリズムで各電子部品の異常を検出できるようになり、異常検出対象として新たな電子部品が追加されたときであっても、当該電子部品に対するデータテーブルを追加するのみで対応でき、新たな異常検出アルゴリズムを開発する手間を大幅に軽減することができるのであり、そのような情報テーブルを参照することにより各電子部品情報の一元管理を容易行なうことができるようになるのである。 According to the above-described configuration, it becomes possible to detect an abnormality of each electronic component with the same abnormality detection algorithm while referring to the data table, and even when a new electronic component is added as an abnormality detection target, It can be handled simply by adding a data table for electronic components, and the effort to develop a new abnormality detection algorithm can be greatly reduced. By referring to such an information table, centralized management of each electronic component information is possible. Can be easily performed.
同第三の特徴構成は、複数の電子部品との間で信号を入力または出力するための演算処理を実行するとともに、前記電子部品に対する異常の有無を判断する異常検出処理を実行する異常検出装置であって、前記電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルと、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出手段を備えてなる点にある。 The third feature configuration is an abnormality detection device that executes an arithmetic process for inputting or outputting a signal to / from a plurality of electronic components, and performs an abnormality detection process for determining whether there is an abnormality in the electronic component The electronic component is divided into a plurality of groups based on an abnormality detection pattern, and status data for determining the presence / absence of abnormality of the electronic component for each divided group and determination for determining presence / absence of abnormality A data table in which condition data, determination result data indicating a determination result are stored, and an abnormality detection means for detecting an abnormality by executing the same abnormality detection algorithm on each electronic component with reference to the data table It is in.
上述の構成によれば、異常検出パターンに基づいて分割されたグループ毎に固有の異常検出アルゴリズムを実行するため、異常検出アルゴリズムを最小限度且つ最適に構築でき、また、各電子部品は同一構成のデータテーブルを参照して実行されるため、各電子部品情報の一元管理を容易行なうことができるのである。また、新たに異常検出対象となる電子部品が増加した場合であっても、データテーブル内に当該電子部品に対応した新たなデータ領域を形成するのみで、当該データテーブルに対応する既存の検出アルゴリズムを用いることにより異常検出が可能となるので、新たな異常検出アルゴリズムを開発する手間を大幅に軽減できるとともに、システム変更に柔軟に対応することが可能となるのである。 According to the above-described configuration, since a specific abnormality detection algorithm is executed for each group divided based on the abnormality detection pattern, the abnormality detection algorithm can be constructed at the minimum and optimally, and each electronic component has the same configuration. Since it is executed with reference to the data table, centralized management of each piece of electronic component information can be easily performed. In addition, even when the number of electronic components to be abnormally detected is increased, a new data area corresponding to the electronic component is simply formed in the data table, and an existing detection algorithm corresponding to the data table is created. As a result, it is possible to detect anomalies, so that it is possible to greatly reduce the time and effort required to develop a new anomaly detection algorithm and to flexibly cope with system changes.
同第四の特徴構成は、上述の第二または第三特徴構成に加えて、前記データテーブルは異常検出対象となる電子部品毎に固有の判定条件データが設定され、前記判定条件データは少なくとも前記電子部品のアドレス情報を含み、前記異常検出アルゴリズムは前記アドレス情報に基づいて前記電子部品の状態データを入力する点にある。 In the fourth feature configuration, in addition to the second or third feature configuration described above, the data table is set with unique determination condition data for each electronic component to be detected for abnormality, and the determination condition data is at least the Including the address information of the electronic component, the abnormality detection algorithm is in the point of inputting the state data of the electronic component based on the address information.
上述の構成によれば、データテーブルに設定された各電子部品に対する異常判断のための判定条件データを参照することにより、同一の異常検出アルゴリズムを使用して異常判断することができるようになるのであり、さらにデータテーブルに設定された各電子部品のアドレス情報を基にして、同一の状態データ入力アルゴリズムにより各電子部品の状態データを入力できるようになるのである。 According to the above-described configuration, it is possible to make an abnormality determination using the same abnormality detection algorithm by referring to determination condition data for determining an abnormality for each electronic component set in the data table. In addition, based on the address information of each electronic component set in the data table, the status data of each electronic component can be input by the same status data input algorithm.
同第五の特徴構成は、上述の第二から第四の何れかの特徴構成に加えて、前記データテーブルは異常検出対象となる電子部品毎に固有の判定条件データが設定され、前記判定条件データは少なくとも判定タイミングを規定する判定タイミングデータ、判定基準値を規定する判定閾値データを含む点にある。 In the fifth feature configuration, in addition to any of the second to fourth feature configurations described above, in the data table, unique determination condition data is set for each electronic component that is an abnormality detection target, and the determination condition The data includes at least determination timing data that defines the determination timing and determination threshold data that defines the determination reference value.
上述の構成によれば、各電子部品に対応した最適な判定タイミング及び判定基準値に基づいて、確実に異常検出を行なうことができるようになるのである。 According to the above-described configuration, the abnormality detection can be reliably performed based on the optimum determination timing and determination reference value corresponding to each electronic component.
同第六の特徴構成は、上述の第五特徴構成に加えて、前記判定条件データはさらに異常判定回数を計数する異常計数カウンタ、前記異常計数カウンタの閾値を規定する異常計数閾値カウンタを含む点にある。 In the sixth feature configuration, in addition to the fifth feature configuration described above, the determination condition data further includes an abnormal count counter that counts the number of times of abnormality determination, and an abnormal count threshold counter that defines a threshold value of the abnormal count counter. It is in.
上述の構成によれば、本来の異常とは異なるノイズ等といった偶発的に発生する異常判定を回避して、より信頼性の高い異常検出を行なうことが可能となるのである。 According to the above-described configuration, it is possible to perform abnormality detection with higher reliability while avoiding accidental abnormality determination such as noise different from the original abnormality.
同第七の特徴構成は、上述の第一または第三特徴構成に加えて、前記グループが、前記演算処理装置に対してアナログ信号を出力する電子部品、前記演算処理装置に対してデジタル信号を出力する電子部品、前記演算処理装置との間でデータ通信を行なう電子部品、前記演算処理装置に対して異常状態信号を出力する電子部品の何れかのグループを含む点にある。 In the seventh feature configuration, in addition to the first or third feature configuration described above, the group outputs an electronic component that outputs an analog signal to the arithmetic processing device, and a digital signal to the arithmetic processing device. The electronic component that outputs data, the electronic component that performs data communication with the arithmetic processing device, and the electronic component that outputs an abnormal state signal to the arithmetic processing device are included.
上述の構成とすることにより、最小単位の異常検出アルゴリズムで効率及び効果の高い異常検出アルゴリズムを構成することができるようになるのである。 By adopting the above-described configuration, it is possible to configure an abnormality detection algorithm having high efficiency and effect with the minimum unit abnormality detection algorithm.
本発明による異常検出方法の第一の特徴構成は、複数の電子部品との間で信号を入力または出力するための演算処理を実行するとともに、前記電子部品に対する異常の有無を判断する異常検出処理を実行する異常検出方法であって、前記電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に固有の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する点にある。 The first characteristic configuration of the abnormality detection method according to the present invention is an abnormality detection process for executing an arithmetic process for inputting or outputting a signal to / from a plurality of electronic components and determining whether or not there is an abnormality in the electronic component. The electronic component is divided into a plurality of groups based on an abnormality detection pattern, and an abnormality detection algorithm specific to each divided group is executed to detect an abnormality.
同第二の特徴構成は、複数の電子部品との間で信号を入力または出力するための演算処理を実行するとともに、前記電子部品に対する異常の有無を判断する異常検出処理を実行する異常検出方法であって、前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルを生成し、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する点にある。 The second feature configuration is an abnormality detection method for performing an arithmetic process for inputting or outputting a signal to / from a plurality of electronic components and executing an abnormality detection process for determining whether there is an abnormality in the electronic component And generating a data table storing status data for determining the presence / absence of abnormality of the electronic component, determination condition data for determining the presence / absence of abnormality, and determination result data indicating a determination result, Referring to the table, the same abnormality detection algorithm is executed for each electronic component to detect the abnormality.
同第三の特徴構成は、複数の電子部品との間で信号を入力または出力するための演算処理を実行するとともに、前記電子部品に対する異常の有無を判断する異常検出処理を実行する異常検出方法であって、前記電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルを生成し、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する点にある。 The third feature configuration is an abnormality detection method for performing an arithmetic process for inputting or outputting a signal to / from a plurality of electronic components, and performing an abnormality detection process for determining whether there is an abnormality in the electronic component The electronic component is divided into a plurality of groups based on an abnormality detection pattern, and status data for determining the presence / absence of abnormality of the electronic component for each divided group and determination for determining presence / absence of abnormality A data table storing condition data and determination result data indicating the determination result is generated, and an abnormality detection is performed by executing the same abnormality detection algorithm for each electronic component with reference to the data table.
以上説明した通り、本発明によれば、異常検出対象となる新たな電子部品が増加した場合であっても、対応する新たな異常検出アルゴリズムを開発する手間を大幅に軽減させるとともに、情報の一元管理により信頼性の確保のための工数をも軽減させ、システムの変
更に柔軟に対応できる異常検出装置及び方法を提供することができるようになった。
As described above, according to the present invention, even when new electronic components to be detected for an abnormality increase, the effort for developing a corresponding new abnormality detection algorithm can be greatly reduced, and information can be unified. It is possible to provide an anomaly detection apparatus and method that can reduce man-hours for ensuring reliability by management and can flexibly cope with changes in the system.
以下に本発明による異常検出装置を車両の走行制御システムに適用した場合を説明する。図1に示すように、車両の走行制御システムは複数のECU(電子制御ユニット)がCAN(コントローラエリアネットワーク)バス10によりネットワーク接続されることにより構成されている。各ECUは、例えば、エンジン制御用ECU−A、自動変速機(AT)制御用ECU−B、ABS制御用ECU−C、TRC(トラクションコントロール)制御用ECU−D等で構成される。
The case where the abnormality detection apparatus according to the present invention is applied to a vehicle travel control system will be described below. As shown in FIG. 1, the vehicle travel control system is configured by connecting a plurality of ECUs (electronic control units) via a CAN (controller area network)
前記複数のECUは夫々にCPU等を備えた演算処理装置が設けられ、予め設定された周期で繰り返し実行される制御プログラムに基づいて所定の機能が実現されるように構成されている。例えば、エンジン制御用ECUであれば、吸気圧センサやA/Fセンサ等の各センサからの入力信号や関連する他のECU(例えば自動変速機制御用ECU等)からの通信データに基づいて、所定のエンジン機能を実現するように、燃料噴射弁等のアクチュエータを駆動制御する。 Each of the plurality of ECUs is provided with an arithmetic processing unit having a CPU or the like, and is configured to realize a predetermined function based on a control program that is repeatedly executed at a preset cycle. For example, in the case of an engine control ECU, a predetermined value is determined based on input signals from sensors such as an intake pressure sensor and an A / F sensor and communication data from other related ECUs (for example, an ECU for automatic transmission control). An actuator such as a fuel injection valve is driven and controlled so as to realize the engine function.
前記CANバス10はSAE J1939で規定され、通信データは、図2に示すよう
な通信フレーム(データフレーム)によって送受信されるもので、データフレームは、調停フィールド、制御フィールド、及びデータフィールド等を備えており、以下に詳述する。
The
1.データフレームの各構成要素の説明:(1) SOF(Start Of Frame)は、フレームの開始示す識別子であり、常に“0”である。(2) identiferは、標準フォーマットのIDであり、詳細については、後述する「2.1.調停フィールド」の項で説明する。(3) SRR(Substitute Remote Request)は、後述する (4)のIDEと組み合わせ
て標準フレームフォーマット又は拡張フレームフォーマットのいずれか一方を選択するためのビットである。(4) IDE(Identifier Extension bit)は、拡張フレームフォーマットを使用することを示すビットであり、SRRビットが“1”で、IDEビットが“1”のときには拡張フレームフォーマットが、SRRビットがなしで、IDEビットが“0”のときには標準フレームフォーマットが選択されていること示す。(5) identifer ext.は、標準フレームフォーマットに対して拡張していることを示すIDであ
る。詳細については、後述する「2.1.調停フィールド」の項で説明する。(6) RTR(Remote Transmission Request)は、リモート送信の要求を示すビットである。なお、
リモート送信とは、あるシステムへデータ送信を要求することをいい、このRTRビットが“0”のときは通常送信(データフレーム送信時)、“1”のときはリモート送信(リモートフレーム送信時)であることを示す。(7) R1,R0は、将来のデータ長拡張のために予約されているビット(予約ビット)であり、現在はすべて“0”である。後述の(8)DLCビットと組み合わせてデータ長が拡張される予定になっている。(8) DLC(Data Length Code)は、データフィールドのデータであり、バイト長を設定するためのビッ
トである。(9) Data Fieldは、送信データを格納するためのデータフィールド
である。SAE J1939では、8バイトデータを推奨している。(10)CRC(Cyclic Redundancy Check)は、送信データの誤りのチェックコード格納用フィールドである。(11)CRC delimiterは、CRC区切り記号であり、常に“1”となっている。(12)ACK(Acknowledgement)は、正常受信確認のためのフィールドであり、送信側は“11”を格納する。受信側はCRCフィールドでデータチェックした結果が正常であれば“01”、異常がある場合には“11”を格納する。(13)EOF(End Of Frame)は、送信終了を示すフィールド(7ビット)であり、常に“1111111”となっている。
1. Description of each component of data frame: (1) SOF (Start Of Frame) is an identifier indicating the start of a frame, and is always “0”. (2) The identifier is an ID in a standard format, and details will be described in the section “2.1. Arbitration field” described later. (3) SRR (Substitute Remote Request) is a bit for selecting either the standard frame format or the extended frame format in combination with the IDE of (4) described later. (4) IDE (Identifier Extension bit) is a bit indicating that the extended frame format is used. When the SRR bit is “1” and the IDE bit is “1”, the extended frame format is not present and the SRR bit is not present. When the IDE bit is “0”, it indicates that the standard frame format is selected. (5) identifier ext. Is an ID indicating that the standard frame format is extended. Details will be described later in “2.1. Arbitration field”. (6) RTR (Remote Transmission Request) is a bit indicating a request for remote transmission. In addition,
Remote transmission refers to requesting data transmission to a certain system. When this RTR bit is “0”, normal transmission (data frame transmission), and when “1”, remote transmission (remote frame transmission). Indicates that (7) R1 and R0 are bits (reserved bits) reserved for future data length expansion, and are currently all “0”. The data length is scheduled to be extended in combination with (8) DLC bits described later. (8) DLC (Data Length Code) is data field data and is a bit for setting the byte length. (9) Data Field is a data field for storing transmission data. SAE J1939 recommends 8-byte data. (10) CRC (Cyclic Redundancy Check) is a field for storing a check code for transmission data errors. (11) CRC delimiter is a CRC delimiter and is always “1”. (12) ACK (Acknowledgement) is a field for confirming normal reception, and the transmission side stores “11”. The receiving side stores “01” if the data check result in the CRC field is normal, and “11” if there is an abnormality. (13) EOF (End Of Frame) is a field (7 bits) indicating the end of transmission, and is always “1111111”.
2.PDU(プロトコルデータユニット)についての説明:次に、図2中のPDUにつ
いて説明すると、PDUはデータフレーム内の主要な情報であり、図2に示すような調停フィールドの (2)identifer, (5)identifer ext.及び (9)Da
ta Fieldにより構成されている。また、このデータからPGN(Parameter Group
Number)が決定される。ここでPGNはデータを識別するための番号であり、調停フィ
ールド(詳細は下記の2.1.調停フィールドの説明を参照)のR(予備)、DP(データページ)及びPF(PDUフォーマット)等から構成されている(データ長3バイト)。
2. 2. Description of PDU (Protocol Data Unit): Next, the PDU in FIG. 2 will be described. The PDU is the main information in the data frame, and (2) identifier, (5 ) identifier ext. And (9) Da
It is comprised by ta Field. From this data, PGN (Parameter Group
Number) is determined. Here, PGN is a number for identifying data, and R (spare), DP (data page), PF (PDU format), etc. in the arbitration field (for details, see 2.1. Explanation of arbitration field below) (
2.1.調停フィールド調停フィールドは、29bitのIDと3bitのコントロールビットとから構成される。図3に調停フィールドの概略を示す。以下、調停フィールドの各部について説明する。(1) 優先度は、メッセージの優先順位を決めるために用いられ、“000”が最も優先順位が高く、“111”が最も優先順位が低い。(2) 予備は、SAEが将来の機能拡張用として予約しているビット。現在は未使用のため“0”とする。(3) データページは、2つあるPDUのページのセレクタとして使用する。ページ0から使用する。(4) PDUフォーマット(PF)は、PDU Specific〔(7)参照〕の内容を決めるパラメータであり、PGNを構成する1つのフィールドである。(5) SRRは、「1.データフレームの各構成要素の説明」の項目(3) 参照。(6) IDEは、「1.データフレームの各構成要素の説明」の項目(4) 参照。(7) PDU Specific(
PS)は、PFの値により、送信先アドレス(DA)かグループ拡張(GE)のどちらか一方となる。(8) ソースアドレスは、メッセージの送信元アドレスが記述される。各システムのアドレスはSAEJ1939で規定されている。
2.1. Arbitration field The arbitration field includes a 29-bit ID and a 3-bit control bit. FIG. 3 shows an outline of the arbitration field. Hereinafter, each part of the arbitration field will be described. (1) The priority is used to determine the priority of the message. “000” has the highest priority and “111” has the lowest priority. (2) Reserved are bits reserved by SAE for future function expansion. Since it is not currently used, it is set to “0”. (3) The data page is used as a selector for two PDU pages. Used from
PS) is either the transmission destination address (DA) or the group expansion (GE) depending on the value of PF. (8) The source address of the message is described in the source address. The address of each system is defined by SAEJ1939.
2.2.制御フィールド:制御フィールドは、図4に示すように、予約ビット(2bit)とDLC(4bit)とから構成される。 2.2. Control field: As shown in FIG. 4, the control field includes a reserved bit (2 bits) and a DLC (4 bits).
2.3.データフィールド:送信データを格納するためのフィールドであり、SAE
J1939ではデータ長8バイト固定を推奨している。
2.3. Data field: A field for storing transmission data, SAE
J1939 recommends a fixed data length of 8 bytes.
上述のCANバスで接続された複数のECUからなる車両の走行制御システムにおける異常検出装置のブロック構成を図5に示す。前記異常検出装置は、前記複数のECUに接続されている各センサからのアナログ入力に対して、ADコンバータ15を介してAD値(電圧値)の取得処理を行ない、その電圧値によって前記各センサからの入力異常検出を共通に行なうセンサ入力異常検出部20と、前記複数のECUに接続されている各アクチュエータへの出力値とそのモニタ値(デジタル入出力)とを取得処理し、その電圧値によって前記各アクチュエータへの出力異常検出を共通に行なうアクチュエータ出力異常検出部30と、ECU間での通信状態の異常検出を共通に行なう通信異常検出部40と、他のECU(或いはシステム)での異常検出結果に基づいて異常検出を共通に行なうECU異常検出部50と、異常検出に必要な判定値やカウンタ値等からなる情報テーブル01を格納するテーブルメモリ60とを備えて構成される。
FIG. 5 shows a block configuration of an abnormality detection device in a vehicle travel control system including a plurality of ECUs connected by the above-described CAN bus. The abnormality detection device performs an AD value (voltage value) acquisition process via an
前記センサ入力異常検出部20は、図6に示すように、状態データとしての前記各センサからのAD値を取得し、前記テーブルメモリ60に格納するAD値取得処理部21と、前記テーブルメモリ60に格納した各センサのAD値と予め前記テーブルメモリ60に格納されている異常判定閾値(上下限)とを比較して前記各AD値がその閾値を超えていないか判定し、閾値を超えたと判定された場合に前記テーブルメモリ60内に区画された各センサに対応した異常検出カウンタをカウントアップして異常検出時間を計時する閾値判定処理部22と、各センサに対応する前記異常検出カウンタによるカウント値が前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常検出時間閾値である異常検出カウント閾値を超えたときに異常であると判定する異常判定処理部23と、前記異常判定処理部23により異常と判定された場合に判定結果データとしての異常フラグを出力する異常確定処理部2
4とを備えて構成される。
As shown in FIG. 6, the sensor input
4.
前記センサ入力異常検出部20は、予め前記テーブルメモリ60に格納されている各センサに対応する異常判定閾値(上下限)と、同じく異常検出カウント閾値と、その都度前記テーブルメモリ60に格納される各種センサに対応するAD値と、同じく異常検出カウンタとからなる判定条件データが、夫々1つの前記情報テーブル01に纏められることにより、情報の一元管理や、複数の異常判定条件等を順次前記テーブルメモリ60から取り出して処理を行なうことが可能となっている。
The sensor input
同様に、前記アクチュエータ出力異常検出部30は、図7に示すように、デジタル出力処理部31から出力された前記各アクチュエータへのデジタル出力値(指令値)に対して状態データとしてのそのアクチュエータ側から帰還されるモニタ値を入力処理して前記テーブルメモリ60に格納するデジタル出力値(指令値)/入力値(モニタ値)処理部32と、前記テーブルメモリ60に格納された各アクチェータに対応する前記指令値と前記モニタ値とを比較演算し予め前記テーブルメモリ60に格納されている各アクチェータに対応する異常判定閾値とを比較することにより前記指令値と前記モニタ値が異なると確認された場合に前記テーブルメモリ60内に形成する前記各アクチュエータに対応したカウンタ(異常検出カウンタ)をカウントアップする指令値/モニタ値確認部32と、各種アクチュエータに対応する前記異常検出カウン他の値が前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常検出カウント閾値を超えたときに異常であると判定する異常判定処理部33と、前記異常判定処理部33により異常と判定された場合に判定結果データとしての異常フラグを出力する異常確定処理部34とを備えて構成される。
Similarly, as shown in FIG. 7, the actuator output
前記アクチュエータ出力異常検出部30は、予め前記テーブルメモリ60に格納されている各アクチュエータに対応する異常判定閾値と、同じく異常検出カウント閾値と、その都度前記テーブルメモリ60に格納される各アクチュエータに対応する指令値及びモニタ値と、同じく異常検出カウンタとからなる判定条件データが、夫々1つの情報テーブル01に纏められることにより、情報の一元管理や、複数の異常判定条件等を前記テーブルメモリ60から順次取り出して処理を行なうことが可能となっている。
The actuator output
前記通信異常検出部40は、図8に示すように、後述の通信割込み処理で実行される前記ECU間での通信状態に対して、サムエラー、ORFEエラー(オーバーランエラー/フレーミングエラー)、受信なしエラー、識別子エラー等の判定を行ない前記テーブルメモリ60内に区画される各エラーに対応してカウント値を順次カウントアップする通信エラー検出部44と、前記カウント値が前記テーブルメモリ60に予め格納されている通信エラーカウント閾値を超え真のエラーとして判断された場合に前記テーブルメモリ60内に区画される各ECU間での通信状態に対応したカウンタ(異常検出カウンタ)を順次更新するカウンタチェック部41と、前記各種ECUの通信データに対応する前記異常検出カウンタの値が前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常検出カウント閾値を超えたときに異常であると判定する異常判定処理部42と、前記判定処理部42により異常と判定された場合に異常フラグを出力する異常確定処理部43とを備えて構成される。
As shown in FIG. 8, the communication
前記通信異常検出部40は、予め前記テーブルメモリ60に格納されている各ECU間の通信状態に対応する前記サムエラー、前記ORFEエラー、前記受信なしエラー、前記識別子エラーに対する通信エラーカウント閾値と、同じく異常検出カウント閾値と、その都度前記テーブルメモリ60に格納される各ECU間の通信状態に対応する前記サムエラー、前記ORFEエラー、前記受信なしエラー、前記識別子エラーの通信エラーカウンタと、同じく異常検出カウンタとが、前記判定条件データとして夫々1つの前記情報テーブル01に纏められることにより、情報の一元管理や、複数の異常判定条件等を前記テーブルメモリ60から順次取り出して処理を行なうことが可能となっている。
The communication
前記ECU異常検出部50は、図9に示すように、CANバスを介して入力され他のECUによって検出された異常情報や、ローカル通信部を介して入力され内部のスレーブCPUによって検出された異常情報があった場合に前記テーブルメモリ60内に当該異常情報を格納する異常情報取り込み部51と、前記異常情報があった場合に前記テーブルメモリ60に区画される前記各ECUに対応するカウンタ(異常検出カウンタ)をカウントアップし前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常検出カウント閾値を超えたときに異常であると判定する異常参照部52と、前記異常参照部52により異常と判定された場合に判定結果データとしての異常フラグを出力する異常確定処理部53とを備えて構成される。
As shown in FIG. 9, the ECU
前記ECU異常検出部50は、予め前記テーブルメモリ60に格納されている各ECUに対応する異常検出カウント閾値と、その都度前記テーブルメモリ60に格納される前記各ECUに対応する異常情報と、同じく異常検出カウンタとが、夫々1つの前記情報テーブル01に纏められることにより、情報の一元管理や、複数の異常判定条件等を前記テーブルメモリ60から順次取り出して処理を行なうことが可能となっている。
The ECU
前記センサ入力異常検出部20、前記アクチュエータ出力異常検出部30、前記通信異常検出部40、前記ECU異常検出部50において、何れかの異常フラグが出力されると所定の表示部に、異常情報に基づいた警告表示が表示されるように構成されている。
In the sensor input
上述した異常検出装置が構成される制御システムに、新たに電子部品が接続され、或いは概接続の電子部分に対して新たに異常検出する必要が生じた場合には、当該電子部品が、例えばセンサであれば、前記センサ入力異常検出部20に対応する前記情報テーブル01に、前述した前記センサに関する各種情報、つまり、当該電子部分に対する異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データを格納する領域を追加設定するのみで新たな異常検出システムを構築することが可能となっている。また、アクチュエータであれば、前記アクチェータ出力異常検出部30に対応する前記情報テーブル01に、同様に前記アクチュエータに関する各種情報を格納する領域を構成するのみで新たなシステムを構築することが可能となっている。
When a new electronic component is connected to the control system configured with the above-described abnormality detection device, or when a new abnormality needs to be detected with respect to the roughly connected electronic part, the electronic component is, for example, a sensor. If so, in the information table 01 corresponding to the sensor input
各ECUのメインルーチンは、例えば図15のフローチャートに示すように、電源の立ち上り後の初期化処理(図示せず)の後に、前記各センサ等に対する信号の入力処理と(SA1)、前記入力信号に基づいて対象電子部品を制御するための演算処理と(SA2)、前記演算結果に基づいてアクチュエータ等へ所定の制御信号処理と(SA3)、その後各電子部品に対する異常の有無の検出処理(SA4)を所定の内部タイマー割り込みがかかる度に繰り返すように構成されるとともに、通信割り込み処理において他のECUからの通信処理が実行される。 For example, as shown in the flowchart of FIG. 15, the main routine of each ECU includes a signal input process for each of the sensors and the like (SA1) after the initialization process (not shown) after the power is turned on, and the input signal. Calculation processing for controlling the target electronic component based on (SA2), predetermined control signal processing to the actuator or the like based on the calculation result (SA3), and then detection processing for the presence or absence of abnormality for each electronic component (SA4) ) Is repeated every time a predetermined internal timer interrupt occurs, and communication processing from other ECUs is executed in the communication interrupt processing.
以下、前記複数のECUからなる制御システムの異常検出処理(SA4)について、図10〜図14に示すフローチャートに基づいて詳述する。 Hereinafter, the abnormality detection process (SA4) of the control system including the plurality of ECUs will be described in detail based on the flowcharts shown in FIGS.
ステップSA4における異常検出アルゴリズムは、異常検出パターンに基づいて分割された複数のグループ毎に同一の異常検出アルゴリズムが繰り返し実行されるように構成され、各異常検出アルゴリズムは上述のテーブルメモリ60を参照することによって処理が進められる。先ず、上述したテーブルメモリ60の説明では触れていないが、前記データテーブル60に設定された異常検出対象となる電子部品毎に設定された異常検出タイミングデータに基づいて、異常検出処理タイミングであると判断されたときに(S1)、前記AD値取得処理部21により、前記各センサのAD値が検出され、前記AD値が前記テー
ブルメモリ60に格納される(S2)。
The abnormality detection algorithm in step SA4 is configured such that the same abnormality detection algorithm is repeatedly executed for each of a plurality of groups divided based on the abnormality detection pattern, and each abnormality detection algorithm refers to the
前記格納されたAD値は、前記閾値判定処理部22により、前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常判定閾値である上限値及び下限値と比較され(S3、S4)、上限値或いは下限値を超えた場合には前記テーブルメモリの異常検出カウンタ(異常検出時間)をカウントアップする(S5)。また、上限値及び下限値の範囲以内であれば、前記異常検出カウンタをクリアする(S6)。
The stored AD value is compared with the upper limit value and the lower limit value, which are abnormality determination threshold values stored in advance in the
前記異常検出カウンタの値は、前記異常判定処理部23により前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常検出カウント閾値(判定時間)と比較され(S7)、前記異常検出カウント閾値を超えた場合に異常判定し、異常確定処理部24により異常フラグが出力される(S8)。また、他のセンサ入力があれば前記ステップS2に戻る(S9)。
The value of the abnormality detection counter is compared with an abnormality detection count threshold (determination time) stored in advance in the
尚、ステップS2〜S8について、センサ毎にステップS2〜S8を行う構成としてもよいし、または、各センサについて順次各ステップを行なう構成としてもよい。 In addition, about step S2-S8, it is good also as a structure which performs step S2-S8 for every sensor, or it is good also as a structure which performs each step sequentially about each sensor.
予め設定された異常検出処理タイミングが、各アクチェータへの出力信号についての異常検出処理タイミングになったとき(S1)、前記デジタル出力値(指令値)/入力値(モニタ値)処理部32により、前記各センサのデジタル出力値(指令値)とそのモニタ値が検出され、前記指令値と前記モニタ値とを前記テーブルメモリ60に格納する(S10)。
When the preset abnormality detection processing timing is the abnormality detection processing timing for the output signal to each actuator (S1), the digital output value (command value) / input value (monitor value)
前記格納された指令値とモニタ値は、指令値/モニタ値確認部33により、前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常判定閾値と比較されることにより、指令値とモニタ値が等しいか否かの確認を行い(S11)、異なると確認された場合には前記テーブルメモリの異常検出カウンタ(異常検出時間)をカウントアップする(S12)。また、等しいと確認された場合には前記異常検出カウンタをクリアする(S13)。
The stored command value and monitor value are compared with an abnormality determination threshold value stored in advance in the
前記異常検出カウンタは、前記異常判定処理部34により前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常検出カウント閾値(判定時間)と比較され(S14)、前記異常検出カウント閾値を超えた場合に異常判定し、異常確定処理部35により異常フラグが出力される(S15)。また、他のアクチェータへの出力があれば前記ステップS10に戻る(S16)。
The abnormality detection counter is compared with an abnormality detection count threshold (determination time) stored in advance in the
尚、ステップS10〜S15について、アクチェエータ毎にステップS10〜S15を行う構成としてもよいし、または、各アクチュエータについて順次各ステップを行なう構成としてもよい。 In addition, about step S10-S15, it is good also as a structure which performs step S10-S15 for every actuator, or it is good also as a structure which performs each step sequentially about each actuator.
予め設定された異常検出処理タイミングが、各ECU間の通信状態についての異常検出処理タイミングになったとき(S1)、通信タイミング時に前記通信エラー検出部44により、サムエラー、ORFEエラー(オーバーランエラー/フレーミングエラー)、受信なしエラー、識別子エラー等の判定が行われ前記テーブルメモリ60内に形成された前記各種エラーに対応して順次カウントアップされた通信エラーカウンタに対して、夫々に対応する通信エラーカウント閾値との比較が行なわれる(S17、S18、S19、S20)。何れかのエラーが通信エラーカウント閾値を超えた場合には、前記テーブルメモリ60の異常検出カウンタ(異常検出時間)をカウントアップする(S21)。また、いずれの通信エラーカウンタの値に対しても通信エラーカウント閾値以内であれば、前記異常検出カウンタはクリアする(S22)。
When the preset abnormality detection processing timing is the abnormality detection processing timing for the communication state between the ECUs (S1), the communication
前記異常検出カウント値は、前記異常判定処理部42により前記テーブルメモリ60に
予め格納されている異常検出カウント閾値(判定時間)と比較され(S23)、前記異常検出カウント閾値を超えた場合に異常判定し、異常確定処理部43により異常フラグが出力される(S24)。また、他のECUからの通信データがあれば前記ステップS17に戻る(S25)。
The abnormality detection count value is compared with an abnormality detection count threshold value (determination time) stored in advance in the
尚、ステップS17〜S24について、ECU間の通信状態毎にステップS17〜S24を行う構成としてもよいし、または、各ECU間通信状態について順次各ステップを行なう構成としてもよい。 In addition, about step S17-S24, it is good also as a structure which performs step S17-S24 for every communication state between ECUs, or it is good also as a structure which performs each step sequentially about each communication state between ECUs.
予め設定された異常検出処理タイミングが、各ECUの異常情報についての異常検出処理タイミングになったとき(S1)、前記異常参照部52は、前記異常情報取り込み部51によって他のECUからの異常情報が格納された前記テーブルメモリ60から、前記異常情報の有無を検出し(S26)、異常情報があれば前記テーブルメモリ60の異常検出カウント値(異常検出時間)をカウントアップする(S27)。また、前記異常情報がなければ、前記異常検出カウント値はクリアする(S28)。
When the preset abnormality detection processing timing is the abnormality detection processing timing for the abnormality information of each ECU (S1), the
また、前記異常参照部52は、前記異常検出カウント値と前記テーブルメモリ60に予め格納されている異常検出カウント閾値(判定時間)とを比較し(S29)、前記異常検出カウント閾値を超えた場合に異常判定し、異常確定処理部53により異常フラグが出力される(S30)。また、他のECUの異常情報があれば前記ステップS26に戻る(S31)。
In addition, the
尚、ステップS26〜S30について、ECUの異常情報毎にステップS17〜S24を行う構成としてもよいし、または、各ECUの異常情報について順次各ステップを行なう構成としてもよい。 In addition, about step S26-S30, it is good also as a structure which performs step S17-S24 for every abnormality information of ECU, or it is good also as a structure which performs each step sequentially about abnormality information of each ECU.
このように、電子部分を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルを生成し、前記データテーブルを参照して各電子部分に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出することによって、新たな異常検出対象が増加したときであっても、異常検出のためのプログラムを新たに生成する開発負荷が軽減されるようになる。 As described above, the electronic part is divided into a plurality of groups based on the abnormality detection pattern, and state data for determining the presence / absence of abnormality of the electronic component for each divided group and determination condition data for determining the presence / absence of the abnormality And generating a data table in which determination result data indicating the determination result is stored, and executing the same abnormality detection algorithm on each electronic part with reference to the data table to detect a new abnormality detection target Even when there is an increase in development, the development load for newly generating a program for detecting an abnormality is reduced.
以下、別実施形態について説明する。上述した実施形態では、異常検出するためのアルゴリズムをアナログ信号を出力するセンサ系電子部品、アクチュエータに対するモニタ信号を検出するアクチュエータ系電子部品、ECUに対する通信異常を検出する通信系電子部品等にグループ分割した例を示したが、分割基準はこれに制限されるものではなく、異常検出パターンに基づいて分割するものであれば、これ以外のグループに分割するものであってもよい。 Hereinafter, another embodiment will be described. In the above-described embodiment, the algorithm for detecting an abnormality is grouped into a sensor system electronic component that outputs an analog signal, an actuator system electronic component that detects a monitor signal for the actuator, a communication system electronic component that detects a communication abnormality for the ECU, and the like. However, the division criterion is not limited to this, and may be divided into other groups as long as division is performed based on the abnormality detection pattern.
上述した実施形態では、通信異常データを除いて各グループに対する異常検出処理において夫々の電子部品からの信号を入力するものを説明したが、図15におけるステップSA1の処理において信号を入力してその値をデータテーブルに格納するように構成するものであってもよい。また、各種の異常検出カウンタのカウントアップ処理を各ルーチンで実行するものを説明したが、所定時間のタイマー割り込み処理でカウントアップし、メインルーチンでは異常カウンタの値と異常カウント閾値とを比較して異常フラグを設定する判断のみ行うようにしてもよい。 In the above-described embodiment, the description has been given of the case where the signals from the respective electronic components are input in the abnormality detection process for each group except for the communication abnormality data, but the values are obtained by inputting the signals in the process of step SA1 in FIG. May be configured to be stored in the data table. In addition, a description has been given of performing various abnormality detection counter count-up processing in each routine. However, the count-up processing is performed by timer interruption processing for a predetermined time, and the main routine compares the value of the abnormality counter with the abnormality count threshold value. Only the determination of setting the abnormality flag may be performed.
また、各電子部品に対するハードウェア構成で割り付けられた入力ポートアドレス等のアドレス情報を前記データテーブルの電子部品毎に設定可能に構成し、新たな異常検出対
象が増加したときに、当該対象部品に対するアドレス情報を追加するように構成すれば、入力処理ルーチン(ステップSA1)でデータテーブルに記憶されたアドレス情報を参照しながら入力処理を行なうことで信号の入力処理ルーチンも共用でき、新たな入力処理アルゴリズムを開発する必要も無くなるようになる。
In addition, address information such as an input port address assigned by the hardware configuration for each electronic component can be set for each electronic component of the data table, and when a new abnormality detection target increases, If the address information is added, the input process routine (step SA1) can be shared with the signal input process routine by performing the input process while referring to the address information stored in the data table. There is no need to develop algorithms.
上述のデータテーブルは不揮発性のRAM上に構築することが可能であるが、RAM上に区画するデータテーブルを定義する初期化プログラムを生成しておけば、通常の揮発性RAMであっても使用可能である。 The above-mentioned data table can be constructed on a nonvolatile RAM. However, if an initialization program that defines a data table partitioned on the RAM is generated, even an ordinary volatile RAM can be used. Is possible.
上述した実施形態では、電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルを生成し、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出方法について説明したが、複数のグループに分割するものでなくともよい。また、電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に固有の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出するものであれば、上述のデータテーブルを構築したくとも、グループ毎に同一のプログラムが使用できる点において、異常検出アルゴリズムの新たな構築のための開発負荷を軽減できるという一定の効果は得られる。 In the above-described embodiment, the electronic component is divided into a plurality of groups based on the abnormality detection pattern, and status data for determining the presence / absence of abnormality of the electronic component and the presence / absence of abnormality are determined for each divided group. A description will be given of an abnormality detection method for detecting an abnormality by generating a data table storing determination condition data and determination result data indicating a determination result, and executing the same abnormality detection algorithm for each electronic component with reference to the data table. However, it does not have to be divided into a plurality of groups. In addition, if the electronic component is divided into a plurality of groups based on the abnormality detection pattern and abnormality is detected by executing a unique abnormality detection algorithm for each of the divided groups, the above data table may be constructed. In the point that the same program can be used for each group, there is a certain effect that the development load for newly constructing the abnormality detection algorithm can be reduced.
01:情報テーブル
15:ADコンバータ
20:センサ異常検出部
30:アクチュエータ異常検出部
40:通信異常検出部
50:ECU異常検出部
60:テーブルメモリ
01: Information table 15: AD converter 20: Sensor abnormality detection unit 30: Actuator abnormality detection unit 40: Communication abnormality detection unit 50: ECU abnormality detection unit 60: Table memory
Claims (10)
前記電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に固有の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出手段を備えてなる異常検出装置。 An abnormality detection device that performs arithmetic processing for inputting or outputting signals to and from a plurality of electronic components, and performs abnormality detection processing for determining whether there is an abnormality with respect to the electronic components,
An abnormality detection apparatus comprising an abnormality detection unit that divides the electronic component into a plurality of groups based on an abnormality detection pattern, and detects an abnormality by executing a unique abnormality detection algorithm for each of the divided groups.
前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルと、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出手段を備えてなる異常検出装置。 An abnormality detection device that performs arithmetic processing for inputting or outputting signals to and from a plurality of electronic components, and performs abnormality detection processing for determining whether there is an abnormality with respect to the electronic components,
Status data for determining presence / absence of abnormality of the electronic component, determination condition data for determining presence / absence of abnormality, a data table storing determination result data indicating a determination result, and each of the data tables with reference to the data table An abnormality detection apparatus comprising abnormality detection means for detecting an abnormality by executing the same abnormality detection algorithm on an electronic component.
前記電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルと、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出手段を備えてなる異常検出装置。 An abnormality detection device that performs arithmetic processing for inputting or outputting signals to and from a plurality of electronic components, and performs abnormality detection processing for determining whether there is an abnormality with respect to the electronic components,
The electronic component is divided into a plurality of groups based on an abnormality detection pattern, status data for determining presence / absence of abnormality of the electronic component for each divided group, determination condition data for determining presence / absence of abnormality, An abnormality detection apparatus comprising: a data table storing determination result data indicating a determination result; and an abnormality detection unit that detects an abnormality by executing the same abnormality detection algorithm on each electronic component with reference to the data table.
前記電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に固有の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出方法。 An abnormality detection method for performing an arithmetic process for inputting or outputting a signal between a plurality of electronic components and executing an abnormality detection process for determining the presence or absence of an abnormality with respect to the electronic component,
An abnormality detection method for detecting an abnormality by dividing the electronic component into a plurality of groups based on an abnormality detection pattern and executing a unique abnormality detection algorithm for each of the divided groups.
前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルを生成し、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出方法。 An abnormality detection method for performing an arithmetic process for inputting or outputting a signal between a plurality of electronic components and executing an abnormality detection process for determining the presence or absence of an abnormality with respect to the electronic component,
Generate a data table storing status data for determining the presence / absence of abnormality of the electronic component, determination condition data for determining presence / absence of abnormality, and determination result data indicating a determination result, and refer to the data table An abnormality detection method for detecting an abnormality by executing the same abnormality detection algorithm for each electronic component.
前記電子部品を異常検出パターンに基づいて複数のグループに分割し、分割されたグループ毎に前記電子部品の異常の有無を判定するための状態データと、異常の有無を判定する判定条件データと、判定結果を示す判定結果データが格納されるデータテーブルを生成し、前記データテーブルを参照して各電子部品に同一の異常検出アルゴリズムを実行して異常検出する異常検出方法。 An abnormality detection method for performing an arithmetic process for inputting or outputting a signal between a plurality of electronic components and executing an abnormality detection process for determining the presence or absence of an abnormality with respect to the electronic component,
The electronic component is divided into a plurality of groups based on an abnormality detection pattern, status data for determining presence / absence of abnormality of the electronic component for each divided group, determination condition data for determining presence / absence of abnormality, An anomaly detection method for detecting an anomaly by generating a data table storing determination result data indicating a determination result and executing the same anomaly detection algorithm for each electronic component with reference to the data table.
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