JP2006176382A - Apparatus and method for manufacturing thin plate - Google Patents
Apparatus and method for manufacturing thin plate Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006176382A JP2006176382A JP2004373692A JP2004373692A JP2006176382A JP 2006176382 A JP2006176382 A JP 2006176382A JP 2004373692 A JP2004373692 A JP 2004373692A JP 2004373692 A JP2004373692 A JP 2004373692A JP 2006176382 A JP2006176382 A JP 2006176382A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base plate
- thin plate
- melt
- plate
- manufacturing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Silicon Compounds (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Description
本発明は、薄板製造装置および薄板製造方法に関し、特に、下地板上に薄板を形成する薄板製造装置および薄板製造方法に関する。 The present invention relates to a thin plate manufacturing apparatus and a thin plate manufacturing method, and more particularly to a thin plate manufacturing apparatus and a thin plate manufacturing method for forming a thin plate on a base plate.
従来の薄板製造装置の一例として、たとえば、図8に示すようなものが挙げられる。 An example of a conventional thin plate manufacturing apparatus is shown in FIG.
図8を参照して、薄板製造装置101においては、主室102内に坩堝103が配置され、その中にシリコン融液104が貯留され、そのシリコン融液104に下地板Sの表層部を浸漬させる浸漬機構105が配置されている。
Referring to FIG. 8, in thin
この浸漬機構105は、横行軸136を走行する昇降機構114を備え、その昇降機構に懸垂支柱115、回転機構116、主軸支柱117、台座支持部120が吊り下げられている。下地板Sを係合する台座121は、台座支持部120に接続され、台座支持部120は、主軸118にて、回転可能なように主軸支柱117に保持される。主軸118は、例えばチェーン、ベルトなどのような動力伝達機構119を介して、回転機構116に接続されている。回転機構116を回転させることで下地板Sは回転され、昇降機構114によって、下地板は昇降動作を行ない、横行軸を走行することによって横行動作を行なう。
The dipping mechanism 105 includes an
浸漬機構105が下地板Sを把握して、坩堝103の上に移送する。次いで、下地板Sを下降させ、下地板Sの表層部をシリコン融液104に浸漬し、下地板Sの表面にシリコン薄板を形成する。この後、シリコン薄板を付着させた下地板Sは上昇し、坩堝103の上を離れる。下地板を融液に浸漬させている間、付着されたシリコン融液は冷却され、固相が成長し、所定のシリコン薄板が形成される。この間、水平方向の移動と、昇降動作と、下地板傾斜動作とは、互いに独立した制御機構によって動作される。この結果、下地板は任意の軌道および傾斜状態にて融液に突入し、融液内を移動し、融液から脱出することができる。このとき、通常は、パソコンにより、水平方向移動指令と、昇降動作移動指令と、傾斜動作指令とを、それぞれプログラミングし、それをコントローラに送信しておくことにより、プログラム通りの任意軌道を実現する。上記の水平方向移動と、昇降動作移動と、傾斜動作とは、それぞれの動作に1つのモータを割り当てられ、合計3つのモータによって個別に駆動される。
The dipping mechanism 105 grasps the base plate S and transfers it to the
このような薄板製造装置は、たとえば、国際公開第2004/003262号パンフレットにおいて開示されている。
しかしながら、上記のような薄板製造装置においては、以下のような問題があった。 However, the above-described thin plate manufacturing apparatus has the following problems.
従来の技術を用いて薄板を製造する場合の課題の一つとして、装置が大きいという点が挙げられる。従来の装置によると、横行のためのモータは主室外に設置できるものの、横行レール、昇降機構(昇降モータおよびその支え部材)、回転機構(回転モータおよびその支え部材)などの機構を、全て主室内に設置しなければならない。さらに、その浸漬機構が横行、昇降、回転動作するための空間も準備する必要がある。そのため、大きな内容量を持つ主室(真空チャンバー)を用意する必要があり、装置の製造費、設置費、維持費、メンテナンス費を抑制することが困難なだけでなく、装置に付属するガス導入設備や真空排気設備などの付属設備も大型であり、使用するガス量や電気量も抑制困難である。 One of the problems in manufacturing a thin plate using a conventional technique is that the apparatus is large. According to the conventional apparatus, the traversing motor can be installed outside the main room, but the traversing rail, the lifting mechanism (lifting motor and its supporting member), the rotating mechanism (the rotating motor and its supporting member), etc. are all main. Must be installed indoors. In addition, it is necessary to prepare a space for the immersion mechanism to traverse, move up and down, and rotate. Therefore, it is necessary to prepare a main room (vacuum chamber) with a large internal capacity, and it is difficult not only to suppress the manufacturing cost, installation cost, maintenance cost and maintenance cost of the equipment, but also to introduce the gas attached to the equipment. Attached equipment such as equipment and vacuum exhaust equipment is also large, and it is difficult to control the amount of gas and electricity used.
また、単位時間あたりの生産量を向上するためには、下地板サイズの大型化がもっとも有力であるが、従来の技術を用いて、大面積下地板による薄板製造を実施すると、製造された薄板の表面にうねりが生じる(薄板の表面が波打つ)ことが判明した。これは、下地板が振動しながら融液に浸漬されているためと考えられる。下地板が振動しながら融液に突入し、脱出する場合、その振動によって、下地板が突入してから脱出するまでの間に、融液の振動は徐々に増幅していく。作製される薄板の表面形状は、脱出のときの、融液の波立ちの影響を受けると考えられる。 In order to improve the production amount per unit time, it is most effective to increase the size of the base plate. However, if a thin plate is manufactured using a large area base plate using conventional technology, the manufactured thin plate It was found that waviness was generated on the surface (the surface of the thin plate was undulated). This is considered because the base plate is immersed in the melt while vibrating. When the base plate enters and melts while the base plate vibrates, the vibration of the melt gradually amplifies by the vibration between the base plate entering and exiting. The surface shape of the thin plate to be produced is considered to be affected by the undulation of the melt during escape.
このうねりは、薄板の平均板厚の約2倍程度となるものも存在し、外観悪化および、以後のプロセスに影響を与える可能性がある。例えば、製造された薄板を用いて、太陽電池を作製する場合、薄板をステージに吸着する、スピンコートを行なう、薄板にドーパントを拡散する、薄板表面に反射防止膜を成膜する、表裏面に電極を生成する、リードを接着する、太陽電池モジュールとしてラミネートする、などの工程を自動処理する際に、薄板表面に凹凸があることに起因する工程不良が生じる恐れがある。また、これらの工程間の搬送に関しても、薄板表面に凹凸による搬送不良が生じる恐れがある。このように、うねりが大きくなることによって、薄板を加工するプロセスでの歩留が悪化することにより、下地板サイズ大型化による生産量の向上効果を十分に利用できない。 This swell may be about twice the average thickness of the thin plate, which may deteriorate the appearance and affect subsequent processes. For example, when manufacturing a solar cell using the manufactured thin plate, the thin plate is adsorbed on the stage, spin-coated, the dopant is diffused into the thin plate, an antireflection film is formed on the thin plate surface, on the front and back surfaces When automatically processing such processes as generating electrodes, bonding leads, and laminating as a solar cell module, there may be a process failure due to unevenness on the surface of the thin plate. Moreover, regarding the conveyance between these processes, there is a possibility that a conveyance failure due to unevenness occurs on the surface of the thin plate. As described above, since the swell increases, the yield in the process of processing the thin plate deteriorates, so that the production increase effect due to the increase in the size of the base plate cannot be fully utilized.
以上のように、従来の技術は、装置の小型化によるコスト削減が困難であり、また下地板サイズの大型化による生産量の向上も十分ではないということが課題である。 As described above, the conventional techniques have a problem that it is difficult to reduce the cost by reducing the size of the apparatus, and that the production amount is not sufficiently improved by increasing the size of the base plate.
本発明は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、装置の製造費等のコストが抑制される薄板製造装置および薄板製造方法を提供することにある。 This invention is made | formed in view of the above problems, and the objective of this invention is providing the thin plate manufacturing apparatus and thin plate manufacturing method in which costs, such as a manufacturing cost of an apparatus, are suppressed.
本発明に係る薄板製造装置は、坩堝内の金属材料および半導体材料の少なくとも一方を含む物質の融液に下地板を浸し、該下地板の主表面上に融液を凝固させて薄板を製造する薄板製造装置である。 The thin plate manufacturing apparatus according to the present invention manufactures a thin plate by immersing a base plate in a melt of a substance containing at least one of a metal material and a semiconductor material in a crucible and solidifying the melt on the main surface of the base plate. This is a thin plate manufacturing apparatus.
上記薄板製造装置において、下地板の主表面を融液に浸す浸漬機構は、下地板を上下方向に昇降させる昇降機構と、下地板を回転させる回転機構とを有する。 In the thin plate manufacturing apparatus, the dipping mechanism that immerses the main surface of the base plate in the melt includes an elevating mechanism that moves the base plate up and down and a rotation mechanism that rotates the base plate.
ここで、1つの局面では、上記薄板製造装置において、浸漬機構の動作中に、昇降機構による昇降運動および回転機構による回転運動のみが組合わされて下地板が運動する。 Here, in one aspect, in the thin plate manufacturing apparatus, during the operation of the dipping mechanism, only the lifting motion by the lifting mechanism and the rotating motion by the rotating mechanism are combined to move the base plate.
また、他の局面では、上記薄板製造装置において、昇降機構および回転機構の動作中に、浸漬機構の水平方向の移動を抑制する固定機構が備えられている。 In another aspect, the thin plate manufacturing apparatus includes a fixing mechanism that suppresses the horizontal movement of the dipping mechanism during the operation of the lifting mechanism and the rotating mechanism.
本発明に係る薄板製造装置によれば、上記いずれの局面においても、浸漬機構の小型化を図ることができる。結果として、装置の製造費、設置費、維持費、メンテナンス費、付属設備の小型化、使用するガス量や電気量の抑制が可能となる。また、浸漬機構の水平方向動作による振動の増幅を抑制し、薄板のうねりを減少させることができる。 According to the thin plate manufacturing apparatus of the present invention, the immersion mechanism can be downsized in any of the above aspects. As a result, it is possible to reduce the manufacturing cost, installation cost, maintenance cost, maintenance cost, accessory equipment, and the amount of gas and electricity used. In addition, the amplification of vibration due to the horizontal operation of the immersion mechanism can be suppressed, and the waviness of the thin plate can be reduced.
回転機構は、下地板を360°回転させることが可能であることが好ましい。 The rotation mechanism is preferably capable of rotating the base plate by 360 °.
これにより、下地板の取付/取り外しを上向きの状態で行なう一連の動作をスムーズに行なうことができる。結果として、下地板を浸漬機構から取り外すときの衝撃によって、下地板表面に製造された薄板が剥離落下することを防止できる。 Thereby, a series of operation | movement which attaches / removes a baseplate in an upward state can be performed smoothly. As a result, it is possible to prevent the thin plate manufactured on the surface of the base plate from being peeled and dropped by an impact when the base plate is removed from the dipping mechanism.
本発明に係る薄板製造方法は、坩堝内の金属材料および半導体材料の少なくとも一方を含む物質の融液に下地板を浸し、該下地板の主表面上に融液を凝固させて薄板を製造する薄板製造方法である。 In the thin plate manufacturing method according to the present invention, a base plate is immersed in a melt of a substance containing at least one of a metal material and a semiconductor material in a crucible, and the thin plate is manufactured by solidifying the melt on the main surface of the base plate. It is a thin plate manufacturing method.
上記薄板製造方法は、1つの局面では、下地板の主表面を融液に浸す浸漬機構による上下方向の昇降運動および浸漬機構による回転運動のみを組合わせて下地板を運動させ、該運動中に下地板の主表面を融液に浸す工程を含む。 In one aspect of the thin plate manufacturing method, the base plate is moved by combining only the vertical movement by the dipping mechanism that immerses the main surface of the base plate in the melt and the rotational movement by the dipping mechanism. A step of immersing the main surface of the base plate in the melt.
これにより、浸漬機構の小型化を図ることができる。結果として、装置の製造費、設置費、維持費、メンテナンス費、付属設備の小型化、使用するガス量や電気量の抑制が可能となる。また、浸漬機構の水平方向動作による振動の増幅を抑制し、薄板のうねりを減少させることができる。 Thereby, size reduction of an immersion mechanism can be achieved. As a result, it is possible to reduce the manufacturing cost, installation cost, maintenance cost, maintenance cost, accessory equipment, and the amount of gas and electricity used. In addition, the amplification of vibration due to the horizontal operation of the immersion mechanism can be suppressed, and the waviness of the thin plate can be reduced.
この局面において、薄板製造方法は、浸漬機構に下地板を取付ける工程と、下地板を浸漬機構から取り外す工程とをさらに備え、上記取付け工程および/または取り外し工程は、下地板の主表面が上向きの状態で行なわれることが好ましい。 In this aspect, the thin plate manufacturing method further includes a step of attaching the base plate to the dipping mechanism and a step of removing the base plate from the dipping mechanism, and the attachment step and / or the removing step are such that the main surface of the base plate is facing upward. It is preferable to be performed in a state.
これにより、下地板を浸漬機構から取り外すときの衝撃によって、下地板表面に製造された薄板が剥離落下することを防止できる。 Thereby, it is possible to prevent the thin plate manufactured on the surface of the base plate from being peeled and dropped by an impact when the base plate is removed from the dipping mechanism.
上記薄板製造方法は、他の局面では、坩堝内の金属材料および半導体材料の少なくとも一方を含む物質の融液に下地板を浸し、該下地板の主表面上に融液を凝固させて薄板を製造する薄板製造方法であって、下地板の交換位置にて、下地板の主表面を融液に浸す浸漬機構に下地板を上向きの状態で取付ける工程と、浸漬機構による上下方向の昇降運動および浸漬機構による回転運動のみを組合わせて下地板を運動させ、該運動中に下地板の主表面を融液に浸す工程と、交換位置にて、浸漬機構から下地板を上向きの状態で取り外す工程とを備える。 In another aspect of the thin plate manufacturing method, the base plate is immersed in a melt of a substance containing at least one of the metal material and the semiconductor material in the crucible, and the thin plate is solidified on the main surface of the base plate. A method of manufacturing a thin plate, the step of attaching the base plate in an upward state to an immersion mechanism that immerses the main surface of the base plate in the melt at the replacement position of the base plate; A step of moving the base plate in combination with only a rotary motion by the immersion mechanism, immersing the main surface of the base plate in the melt during the movement, and a step of removing the base plate upward from the immersion mechanism at the exchange position With.
この局面においても、上記と同様の効果を奏する。 Also in this aspect, the same effects as described above are obtained.
本発明によれば、薄板製造装置の製造費、設置費、維持費およびメンテナンス費を抑制することができる。また、薄板の表面にうねりが生じることを抑制することができる。 According to the present invention, the manufacturing cost, installation cost, maintenance cost, and maintenance cost of the thin plate manufacturing apparatus can be suppressed. Moreover, it can suppress that a wave | undulation arises on the surface of a thin plate.
以下に、本発明に基づく薄板製造装置および薄板製造方法の実施の形態について説明する。なお、実施の形態1,2では、シリコンの薄板を製造する場合について説明するが、他の金属材料または半導体材料(特に高融点物質)の薄板を製造する場合も、同様の効果が得られる。 Embodiments of a thin plate manufacturing apparatus and a thin plate manufacturing method according to the present invention will be described below. In the first and second embodiments, the case of manufacturing a silicon thin plate will be described. However, the same effect can be obtained when a thin plate of other metal material or semiconductor material (especially a high melting point substance) is manufactured.
(実施の形態1)
図1は、本発明の1つの実施の形態に係る薄板製造装置1Aを説明する側断面図である。図2は、薄板製造装置1Aを説明する正面断面図である。
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a side sectional view for explaining a thin
図1を参照して、薄板製造装置1Aは、主室2A内に、坩堝3Aおよび坩堝を加熱して原料となるシリコンを溶解するための加熱機構(図示せず)を有する。坩堝には、加熱機構によって溶解したシリコン融液4Aが貯留され、そのシリコン融液に下地板Sの表層部を浸漬させる浸漬機構5Aが配置されている。主室には不活性ガスが導入され、大気圧よりも低い圧力、すなわち負圧に保たれる。図1の薄板製造装置では、Arガスが導入され、圧力500MPa付近とされている。このArガスは排気に際し、フィルタ等を通してシリコン酸化物やその他の塵芥を除去し、循環使用することができる。
Referring to FIG. 1, thin
また、主室2Aには、図2に示すように、下地板を装入するための装入用副室6、製造されたシリコン薄板が付着している下地板を取出すための取出し用副室7、図示しない追加原料を主室に投入するための原料用副室が隣接している。副室の雰囲気は、主室と同じ雰囲気、すなわち不活性ガス雰囲気で負圧とされている。
Further, as shown in FIG. 2, the
次に、薄板製造方法について説明する。主室2Aが稼動中のとき、装入用副室6と主室との間の気密性扉9を閉めた状態で、副室と外部との間の気密性扉8を開け、下地板Sを副室6に搬入する。次いで、気密性扉8を閉め、副室6内を真空排気した後、Arガスを導入し、圧力を主室2Aと同じにすることにより、副室6の雰囲気を主室と同じにする。この後、主室における浸漬機構の稼動にしたがって、主室2Aとの間の気密性扉8を開け、下地板Sを主室に装入する。副室6内の搬送機構10は、副室へ下地板を搬入する際と、副室から主室へ下地板を搬入する際に使用する。下地板Sは、複数枚まとめて搬入することが望ましい。それによって、下地板1枚あたりの副室動作時間を短縮することが可能である。
Next, a thin plate manufacturing method will be described. When the
主室では、下地板搬送機構23によって、副室から搬入された下地板を、下地板交換位置に搬送する。その後、下地板を浸漬機構5Aの台座21Aに装着する。
In the main room, the base
薄板を連続して製造する場合、2枚目以降の下地板装着の際には、台座には前に製造した薄板を表面に形成した下地板が装着されている。この場合、薄板および下地板の取外しと、次の下地板の装着を同時に行なうことによって、下地板交換時間を短縮できる。 When a thin plate is continuously manufactured, when the second and subsequent base plates are mounted, the base plate on which the previously manufactured thin plate is formed is mounted on the pedestal. In this case, the removal time of the base plate can be shortened by simultaneously removing the thin plate and the base plate and mounting the next base plate.
取り外された下地板は、主室内の下地板搬送機構24、副室内の搬送機構13によって、取出し用副室7の気密性扉12が閉められ副室の雰囲気が主室と同じになっていることを確認して開けられた気密性扉11を通り、取出し用副室7に搬送される。この後、シリコン薄板が形成された下地板Sは、気密性扉11が閉められた状態で気密性扉12を開けて外に搬出される。下地板Sは、複数枚まとめて搬出することが望ましい。それによって、下地板1枚あたりの副室動作時間を短縮することが可能である。
The removed base plate is closed by the base
再び、図1を参照して、主室外壁に取り付けられた昇降機構14Aには懸垂支柱15Aが接続されている。昇降機構14A内のモータによって、懸垂支柱は昇降動作を行なうことが可能である。懸垂支柱は、主室2A内へと貫通している。貫通部は、パッキンや磁性流体シールなどによって、主室内外を隔離し、主室内に外気が混入することを防いでいる。懸垂支柱15Aの先には、回転モータ軸22Aを有する回転機構16Aが接続されている。回転機構の下には、主軸支柱17Aが2本接続されており、主軸支柱の下端には主軸18Aが水平方向に貫通している。この主軸と、回転機構内のモータ軸とは、動力伝達機構19によって接続されているため、主軸は回転機構によって回転動作を行なうことが可能である。動力伝達機構は、チェーンや、ベルト、ギアなどを使用することができる。主軸には台座支持部20が接続しており、その先に台座21Aが接続されている。台座は、下地板を保持する部材である。
Referring again to FIG. 1, a
以上の構成によると、昇降機構で浸漬機構全体を鉛直方向に昇降動作することが可能であり、つまりは下地板の鉛直方向の動作を行なうことが可能となる。また、回転機構によって主軸を回転することが可能であり、つまりは下地板を回転することが可能である。 According to the above configuration, the entire dipping mechanism can be moved up and down in the vertical direction by the lifting mechanism, that is, the vertical movement of the base plate can be performed. Further, the main shaft can be rotated by the rotation mechanism, that is, the base plate can be rotated.
図3を用いて、下地板装着の一例について説明する。下地板搬送機構23によって、下地板交換位置直前まで運ばれた下地板Sは、下地板装着機構25によって把握される。その後、下地板装着機構を用いて下地板S裏面の凸部が台座21Aの凹部に挟まるように下地板をスライドさせることで、下地板を台座に装着する。すでに製造された薄板を表面に形成した下地板が装着されている場合、すでに装着されている下地板は、次に装着される下地板のスライドによって押出され、下地板搬送機構24の上に取出される。
An example of mounting the base plate will be described with reference to FIG. The base plate S carried by the base
この際、下地板は、薄板を成長させた面を略上向き(天頂方向)にすることが望ましい。これによって、作製された薄板が、下地板交換時の衝撃によって下地板と分離し、落下することを防止できる。また、下地板を上向きにするためには、浸漬機構が下地板を360°回転できることが望ましい。それによって、上向きにて下地板を装着し、下向きで下地板を融液に浸漬し、また上向きにて下地板を交換するという一連の動作を、スムーズに行なうことが可能となる。 At this time, it is desirable that the base plate has a surface on which the thin plate is grown substantially upward (zenith direction). As a result, it is possible to prevent the produced thin plate from being separated from the base plate due to an impact at the time of base plate replacement and falling. In order to make the base plate face upward, it is desirable that the dipping mechanism can rotate the base plate by 360 °. Accordingly, it is possible to smoothly perform a series of operations of mounting the base plate upward, immersing the base plate downward in the melt, and replacing the base plate upward.
次に、図1および図4を用いて、下地板を融液に浸漬し、下地板表面に薄板を製造する方法を説明する。浸漬機構5Aが下地板Sを把握した後、昇降機構14Aによって浸漬機構全体を下降しつつ、回転機構16Aによって台座21Aを回転させることで、下地板Sを矢印27Aのように動作させ、下地板交換位置26Aから融液に浸す位置へ移動させる。そのまま、昇降機構の昇降動作と回転機構の回転動作を用いて、矢印28Aのように下地板を融液へ浸し、下地板の表面にシリコン薄板を形成する。この後、シリコン薄板を付着させた下地板Sは矢印29Aのように融液から取出される。この後、シリコン薄板を付着させた下地板Sは、矢印30Aのように昇降動作および回転動作によって、下地板交換位置26Aに戻る。一連の動作のうち、昇降動作は矢印31Aによって示される。
Next, a method for manufacturing a thin plate on the surface of the base plate by immersing the base plate in the melt will be described with reference to FIGS. 1 and 4. After the
昇降動作と、回転動作とは、互いに独立した制御機構によって動作される。この結果、下地板は任意の傾斜状態にて融液に突入し、融液内を移動し、融液から脱出することができる。このとき、通常は、パソコンにより、昇降動作移動指令と、回転動作指令とを、それぞれプログラミングし、それをコントローラに送信しておくことにより、プログラム通りの任意軌道を実現する。 The raising / lowering operation and the rotating operation are operated by mutually independent control mechanisms. As a result, the base plate can enter the melt in an arbitrary inclined state, move in the melt, and escape from the melt. At this time, normally, an up-and-down movement movement command and a rotation movement command are programmed by a personal computer and transmitted to the controller, thereby realizing an arbitrary trajectory as programmed.
次の下地板の装着と共に、シリコン薄板が形成された下地板Sが浸漬機構から取り外される。この際、下地板は、薄板が形成された面を天頂方向に向けて交換することが望ましい。これは、交換時の衝撃によって、薄板が落下することを防ぐためである。そのためには、浸漬機構の回転機構は、360°回転できることが望ましい。 Along with the mounting of the next base plate, the base plate S on which the silicon thin plate is formed is removed from the dipping mechanism. At this time, it is desirable to replace the base plate with the surface on which the thin plate is formed facing the zenith direction. This is to prevent the thin plate from dropping due to an impact at the time of replacement. For this purpose, it is desirable that the rotation mechanism of the immersion mechanism can rotate 360 °.
本実施の形態によれば、装置の小型化が可能となった。従来の薄板製造装置が横行のためのモータは主室外に設置できるものの、横行レール、昇降機構(昇降モータおよびその支え部材)、回転機構(回転モータおよびその支え部材)などの機構を、全て主室内に設置しなければならず、その浸漬機構が横行、昇降、回転動作するための空間も準備する必要があることに対し、本実施の形態では、横行レールが不要となったため、主室(真空チャンバー)の内容量を大幅に削減することが可能となった。このため、装置の製造費、設置費、維持費、メンテナンス費を抑制することが可能となり、装置に付属するガス導入設備や真空排気設備などの付属設備も小型化が可能である。さらに、使用するガス量や電気量も抑制できる。 According to the present embodiment, it is possible to reduce the size of the apparatus. Although the motor for traversing the conventional thin plate manufacturing equipment can be installed outside the main room, all the mechanisms such as traversing rail, lifting mechanism (lifting motor and its supporting member), rotating mechanism (rotating motor and its supporting member) are all main. In this embodiment, the rails are not required to be installed in the room, and it is necessary to prepare a space for the immersion mechanism to move in the horizontal, up and down, and rotation directions. The volume of the vacuum chamber) can be greatly reduced. For this reason, it becomes possible to suppress the manufacturing cost, installation cost, maintenance cost, and maintenance cost of the apparatus, and the auxiliary equipment such as gas introduction equipment and vacuum exhaust equipment attached to the equipment can be reduced in size. Furthermore, the amount of gas and the amount of electricity used can be suppressed.
上述した内容について要約すると、以下のようになる。 The above contents are summarized as follows.
本実施の形態に係る薄板製造装置1Aは、坩堝3A内のシリコン融液4Aに下地板Sを浸し、下地板Sの主表面上にシリコン融液4Aを凝固させて薄板を製造する薄板製造装置であり、下地板Sの主表面をシリコン融液4Aに浸す浸漬機構5Aは、下地板Sを上下方向に昇降させる昇降機構14Aと、下地板Sを水平方向軸まわりに回転させる回転機構16Aとを有し、浸漬機構5Aの動作中に、昇降機構14Aによる昇降運動および回転機構16Aによる回転運動のみが組合わされて下地板Sが運動している。昇降機構14Aおよび回転機構16Aの動作中は、浸漬機構5Aの水平方向の移動が制限されている。換言すると、薄板製造装置1は、浸漬機構5Aの水平方向の移動を抑制する固定機構を備える。本実施の形態においては、主室2Aを構成するチャンバが上記固定構造として機能する。
A thin
本実施の形態に係る薄板製造方法は、浸漬機構5Aによる上下方向の昇降運動および浸漬機構5Aによる回転運動のみを組合わせて下地板Sを運動させ、該運動中に下地板Sの主表面をシリコン融液4Aに浸す工程を含む。
In the thin plate manufacturing method according to the present embodiment, the base plate S is moved by combining only the vertical movement by the
また、浸漬機構5Aに下地板Sを取付ける工程と、下地板Sを浸漬機構5Aから取り外す工程とは、下地板Sの主表面が上向きの状態で行なわれることが好ましい。なお、取付工程および取り外し工程の一方のみを、下地板Sが上向きの状態で行なうようにしてもよい。
Further, it is preferable that the step of attaching the base plate S to the
より具体的に説明すると、上記薄板製造方法は、下地板Sの交換位置26Aにて、浸漬機構5Aに下地板Sを上向きの状態で取付ける工程と、浸漬機構5Aによる上下方向の昇降運動および浸漬機構5Aによる回転運動のみを組合わせて下地板Sを運動させ、該運動中に下地板Sの主表面をシリコン融液4Aに浸す工程と、下地板Sの交換位置26Aにて、浸漬機構5Aから下地板Sを上向きの状態で取り外す工程とを備える。
More specifically, the thin plate manufacturing method includes a step of attaching the base plate S to the
(実施の形態2)
図5は、本発明の実施の形態2における薄板製造装置を説明する側断面図である。本発明の実施の形態1と異なる部分は、浸漬機構の構成とその動作であり、それについて説明する。
(Embodiment 2)
FIG. 5 is a side sectional view for explaining a thin plate manufacturing apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. A different part from Embodiment 1 of this invention is a structure and its operation | movement of an immersion mechanism, and it demonstrates.
主室外壁に取り付けられた昇降機構14Bには懸垂支柱15Bが接続されている。昇降機構14B内のモータによって、懸垂支柱は昇降動作を行なうことが可能である。懸垂支柱は、主室2B内へと貫通している。貫通部は、パッキンや磁性流体シールなどによって、主室内外を隔離し、主室内に外気が混入することを防いでいる。懸垂支柱15Bの先には、回転機構16Bが接続されている。回転機構の下には、主軸支柱17Bが2本接続されており、主軸支柱の下端には主軸18Bが水平方向に貫通している。また、回転機構内のモータ軸には回転板35が接続しており、その先に回転支柱34が摺動部32によって接続されている。台座21Bは、一方の端を主軸18Bに接続されており、他方の端を回転支柱34に摺動部33によって接続されている。回転機構内のモータによる回転力は、回転板をモータ軸を中心に回転することが可能であり、連動して台座21Bは主軸18Bを中心に回転動作を行なうことが可能である。台座は、下地板を保持する部材である。
A
以上の構成によると、昇降機構で浸漬機構全体を鉛直方向に昇降動作することが可能であり、つまりは下地板の鉛直方向の動作を行なうことが可能となる。また、回転機構によって主軸を回転させることが可能であり、つまりは下地板を回転させることが可能である。 According to the above configuration, the entire dipping mechanism can be moved up and down in the vertical direction by the lifting mechanism, that is, the vertical movement of the base plate can be performed. Further, the main shaft can be rotated by the rotation mechanism, that is, the base plate can be rotated.
次に、図5および図6を用いて、下地板を融液に浸漬し、下地板表面に薄板を製造する方法を説明する。浸漬機構5Bが下地板Sを把握した後、昇降機構14Bによって浸漬機構全体を下降しつつ、回転機構16Bによって台座21Bを回転させることで、下地板Sを矢印27Bのように動作させ、下地板交換位置26Bから融液に浸す位置へ移動させる。そのまま、昇降機構の昇降動作と回転機構の回転動作を用いて、矢印28Bのように下地板を融液へ浸し、下地板の表面にシリコン薄板を形成する。この後、シリコン薄板を付着させた下地板Sは矢印29Bのように融液から取出される。この後、シリコン薄板を付着させた下地板Sは、矢印30Bのように昇降動作および回転動作によって、下地板交換位置26Bに戻る。一連の動作のうち、昇降動作は矢印31Bによって示される。
Next, a method for manufacturing a thin plate on the surface of the base plate by immersing the base plate in the melt will be described with reference to FIGS. After the dipping mechanism 5B grasps the base plate S, the base plate S is operated as shown by the arrow 27B by rotating the pedestal 21B by the rotating mechanism 16B while lowering the entire immersion mechanism by the lifting mechanism 14B. The position is moved from the
ここで、下地板を水平方向に任意に移動させることは不可能だが、主軸と台座の位置関係を変更することで、下地板の回転動作時の、水平方向の動きを決めることは可能である。下地板表面の中心点と主軸中心とを直線で結んだとき、その直線の長さが短いほど、回転動作のみを行なったときの下地板の、水平方向の動作距離を短くすることが可能である。本実施の形態1による薄板作製時の下地板の動作(矢印28Aおよび矢印29A)に比べて、本実施の形態2による薄板作製時の下地板の動作(矢印28Bおよび矢印29B)の方が、水平方向の動作距離は短い。これは、下地板表面の中心点と主軸中心とを直線で結んだとき、その直線の長さが短いためである。
Here, it is impossible to arbitrarily move the base plate in the horizontal direction, but it is possible to determine the horizontal movement when the base plate is rotated by changing the positional relationship between the spindle and the pedestal. . When the center point of the base plate surface and the center of the main axis are connected by a straight line, the shorter the length of the straight line, the shorter the horizontal operation distance of the base plate when only rotating operation is performed. is there. Compared to the operation of the base plate (
本実施の形態によれば、装置の小型化が可能となった。従来の薄板製造装置が横行のためのモータは主室外に設置できるものの、横行レール、昇降機構(昇降モータおよびその支え部材)、回転機構(回転モータおよびその支え部材)などの機構を、全て主室内に設置しなければならないことと、その浸漬機構が横行、昇降、回転動作するための空間も準備する必要があることに対し、本実施の形態では、横行レールが不要となったため、主室(真空チャンバー)の内容量を大幅に削減することが可能となった。 According to the present embodiment, it is possible to reduce the size of the apparatus. Although the motor for traversing the conventional thin plate manufacturing equipment can be installed outside the main room, all the mechanisms such as traversing rail, lifting mechanism (lifting motor and its supporting member), rotating mechanism (rotating motor and its supporting member) are all main. In contrast to the fact that it must be installed indoors and the immersion mechanism needs to prepare a space for traversing, moving up and down, and rotating, in this embodiment, no traversing rail is required. The volume of (vacuum chamber) can be greatly reduced.
このため、装置の製造費、設置費、維持費、メンテナンス費を抑制することが可能となり、装置に付属するガス導入設備や真空排気設備などの付属設備も小型化が可能である。さらに、使用するガス量や電気量も抑制できる。 For this reason, it becomes possible to suppress the manufacturing cost, installation cost, maintenance cost, and maintenance cost of the apparatus, and the auxiliary equipment such as gas introduction equipment and vacuum exhaust equipment attached to the equipment can be reduced in size. Furthermore, the amount of gas and the amount of electricity used can be suppressed.
(参考例)
図8は、従来の実施の形態における薄板製造装置を説明する側断面図である。本発明の実施の形態1,2と異なる部分は、浸漬機構の構成とその動作であり、それについて説明する。
(Reference example)
FIG. 8 is a side sectional view for explaining a thin plate manufacturing apparatus according to a conventional embodiment. The difference from Embodiments 1 and 2 of the present invention is the configuration and operation of the immersion mechanism, which will be described.
主室外壁に取り付けられた横行機構137には横行レール136が接続されている。横行レールには昇降機構114が接続されており、横行機構内のモータによって、昇降機構の水平動作を行なうことが可能である。横行レールは、主室102内へと貫通している。貫通部は、パッキンや磁性流体シールなどによって、主室内外を隔離し、主室内に外気が混入することを防いでいる。昇降機構114には懸垂支柱115が接続されている。昇降機構114内のモータによって、懸垂支柱は昇降動作を行なうことが可能である。懸垂支柱115の先には、回転モータ軸122を有する回転機構116が接続されている。回転機構の下には、主軸支柱117が2本接続されており、主軸支柱の下端には主軸118が水平方向に貫通している。この主軸と、回転機構内のモータ軸とは、動力伝達機構119によって接続されているため、主軸は回転機構によって回転動作を行なうことが可能である。主軸には台座支持部120が接続しており、その先に台座121が接続されている。台座は、下地板を保持する部材である。
A traversing
以上の構成によると、横行機構で浸漬機構全体を水平方向に動作することが可能であり、つまりは下地板の水平方向の動作を行なうことが可能である。また、昇降機構で浸漬機構全体を鉛直方向に昇降動作することが可能であり、つまりは下地板の鉛直方向の動作を行なうことが可能となる。また、回転機構によって主軸を回転することが可能であり、つまりは下地板を回転することが可能である。 According to the above configuration, the entire immersion mechanism can be moved in the horizontal direction by the traversing mechanism, that is, the horizontal movement of the base plate can be performed. Further, the entire dipping mechanism can be moved up and down in the vertical direction by the lifting mechanism, that is, the base plate can be moved in the vertical direction. Further, the main shaft can be rotated by the rotation mechanism, that is, the base plate can be rotated.
次に、図8および図9を用いて、下地板を融液に浸漬し、下地板表面に薄板を製造する方法を説明する。浸漬機構105が下地板Sを把握した後、横行機構によって水平動作しながら、昇降機構114によって浸漬機構全体を下降しつつ、回転機構116によって台座121を回転させることで、下地板Sを矢印127のように動作させ、下地板交換位置126から融液に浸す位置へ移動させる。そのまま、横行機構の水平動作と昇降機構の昇降動作と回転機構の回転動作を用いて、矢印128のように下地板を融液へ浸し、下地板の表面にシリコン薄板を形成する。この後、シリコン薄板を付着させた下地板Sは矢印129のように融液から取出される。この後、シリコン薄板を付着させた下地板Sは、矢印130のように水平動作、昇降動作および回転動作によって、下地板交換位置126に戻る。一連の動作のうち、昇降動作は矢印131によって示され、水平動作は矢印138によって示される。
Next, a method of manufacturing a thin plate on the surface of the base plate by immersing the base plate in the melt will be described with reference to FIGS. After the dipping mechanism 105 grasps the base plate S, the
水平動作と、昇降動作と、回転動作とは、互いに独立した制御機構によって動作される。この結果、下地板は任意の傾斜状態にて、任意の方向に、融液に突入し、融液内を移動し、融液から脱出することができる。このとき、通常は、パソコンにより、横行動作移動指令と、昇降動作移動指令と、回転動作指令とを、それぞれプログラミングし、それをコントローラに送信しておくことにより、プログラム通りの任意軌道を実現する。 The horizontal operation, the raising / lowering operation, and the rotating operation are operated by mutually independent control mechanisms. As a result, the base plate can enter the melt, move in the melt, and escape from the melt in any tilted state. At this time, it is normal to program the traversing movement movement command, the lifting movement movement command, and the rotation movement command with a personal computer, and send them to the controller to realize an arbitrary trajectory as programmed. .
(実施の形態1,2による効果)
昇降動作および回転動作を用いて薄板を製造した実施の形態1,2に係る製造方法と、横行動作および昇降動作および回転動作を用いて薄板を製造した参考例に係る製造方法について要約する。
(Effects of Embodiments 1 and 2)
A manufacturing method according to Embodiments 1 and 2 in which a thin plate is manufactured using an ascending / descending operation and a rotating operation, and a manufacturing method according to a reference example in which a thin plate is manufactured using a traversing operation, an elevating operation and a rotating operation will be summarized.
まず、図9による薄板製造装置を用いて、シリコン薄板製造を行なう従来の製造方法について要約する。 First, a conventional manufacturing method for manufacturing a silicon thin plate using the thin plate manufacturing apparatus shown in FIG. 9 will be summarized.
シリコン原料を溶解し、1500℃に保持する。続いて、下地板を装置外から搬入し、浸漬機構に装着する。 The silicon raw material is melted and maintained at 1500 ° C. Subsequently, the base plate is carried from the outside of the apparatus and attached to the immersion mechanism.
台座に装着された下地板は、横行機構および昇降機構、回転機構を動作させ、坩堝直上へ移動される。次に、横行機構および昇降機構、回転機構によって、下地板を融液に浸し、融液から取り出す。この際、横行機構は図中左方向へ移動させることにより、下地板の水平移動距離を確保する。次に、薄板が形成された下地板を下地板交換位置に戻す。薄板が形成された下地板は、浸漬機構から取り外され、新しい下地板を浸漬機構に装着する。これを繰り返すことで、連続して薄板を製造することが可能である。 The base plate mounted on the pedestal is moved directly above the crucible by operating the traversing mechanism, the lifting mechanism, and the rotating mechanism. Next, the base plate is immersed in the melt by the traversing mechanism, the lifting mechanism, and the rotating mechanism, and is taken out from the melt. At this time, the traversing mechanism moves leftward in the figure to ensure the horizontal movement distance of the base plate. Next, the base plate on which the thin plate is formed is returned to the base plate replacement position. The base plate on which the thin plate is formed is removed from the dipping mechanism, and a new base plate is attached to the dipping mechanism. By repeating this, it is possible to manufacture a thin plate continuously.
次に、実施の形態1,2に係る薄板製造方法について要約する。 Next, the thin plate manufacturing method according to the first and second embodiments will be summarized.
台座に装着された下地板は、横行機構によって坩堝中心付近まで水平移動する。続いて、昇降機構、回転機構を動作させ、坩堝直上へ移動される。次に、昇降機構、回転機構によって、下地板を融液に浸し、融液から取り出す。この際、横行機構は停止しているため、下地板の水平方向移動距離は回転動作によるもののみとなる。次に、薄板が形成された下地板を下地板交換位置に戻す。薄板が形成された下地板は、浸漬機構から取り外され、新しい下地板を浸漬機構に装着する。これを繰り返すことで、連続して薄板を製造することが可能である。 The base plate mounted on the pedestal moves horizontally to the vicinity of the crucible center by the traversing mechanism. Subsequently, the elevating mechanism and the rotating mechanism are operated and moved to the position just above the crucible. Next, the base plate is immersed in the melt by an elevating mechanism and a rotating mechanism, and taken out from the melt. At this time, since the traversing mechanism is stopped, the horizontal movement distance of the base plate is only due to the rotation operation. Next, the base plate on which the thin plate is formed is returned to the base plate replacement position. The base plate on which the thin plate is formed is removed from the dipping mechanism, and a new base plate is attached to the dipping mechanism. By repeating this, it is possible to manufacture a thin plate continuously.
次に、製造された薄板の形状評価について説明する。 Next, the shape evaluation of the manufactured thin plate will be described.
薄板の融液側の表面の形状を、レーザ変移計によって、面スキャンする。スキャンされたデータは、薄板の測定ステージへの固定状態により傾斜しているため、平面補正をかける。その後、形状データのうち、凸部のみをピックアップし、その凸部の全体積を計算する。これによって、融液の波立ちによる薄板表面に形成されたうねりの大きさを定量化し、評価することが可能である。 The shape of the surface of the thin plate on the melt side is scanned by a laser displacement meter. Since the scanned data is inclined by the fixed state of the thin plate to the measurement stage, plane correction is applied. Thereafter, only the convex portion is picked up from the shape data, and the total volume of the convex portion is calculated. Thereby, it is possible to quantify and evaluate the size of the swell formed on the surface of the thin plate due to the wave of the melt.
図7は、薄板の形状評価結果である。従来の製造方法(横行動作、昇降動作および回転動作を用いた薄板製造方法)による薄板の凸部体積は、15〜45mm3であった。これに対し、上記実施の形態1,2による製造方法(昇降動作および回転動作を用いた薄板製造方法)による薄板の凸部体積は、3〜10mm3であり、従来の製造方法に比べて表面形状が改善されたことがわかった。これは、下地板の振動が抑制できたためと考えられる。 FIG. 7 shows the shape evaluation results of the thin plate. The convex part volume of the thin plate by the conventional manufacturing method (thin plate manufacturing method using a traversing operation, a raising / lowering operation and a rotating operation) was 15 to 45 mm 3 . On the other hand, the convex part volume of the thin plate by the manufacturing method according to the first and second embodiments (thin plate manufacturing method using lifting and rotating operations) is 3 to 10 mm 3, which is a surface compared to the conventional manufacturing method. It was found that the shape was improved. This is considered because the vibration of the base plate could be suppressed.
参考例に係る薄板製造方法では、浸漬機構を支えている支点は横行軸であるが、その先に昇降機構、回転機構を有するため、支点が支える重量は非常に大きい。さらに、浸漬機構は駆動部を熱源から遠ざけるため、融液から離れた場所に設置するため、機構は鉛直方向に長くなる。これは、水平方向の撓みに弱い構造である。そのため、下地板を融液に浸しているときに横行動作を伴うと、横行動作によって生じる水平方向の加速度、振動は、浸漬機構の各部位の撓み、遊びによって増幅され、台座および下地板において、大きな振動となると考えられる。このように、下地板が振動しながら融液に突入し、脱出する場合、その振動によって、下地板が突入してから脱出するまでの間に、融液の振動は徐々に増幅していく。作製される薄板の表面形状は、脱出のときの、融液の波立ちの影響を受けると考えられる。そのため、浸漬機構が振動する場合は、下地板のサイズが大きいほど薄板の表面のうねりは増大するものと考えられる。 In the thin plate manufacturing method according to the reference example, the fulcrum supporting the dipping mechanism is a transverse axis, but since the lifting mechanism and the rotation mechanism are provided at the tip, the weight supported by the fulcrum is very large. Further, since the dipping mechanism moves the drive unit away from the heat source, it is installed in a place away from the melt, and thus the mechanism becomes longer in the vertical direction. This is a structure that is weak against horizontal deflection. Therefore, when accompanied by a traversing motion when the base plate is immersed in the melt, the horizontal acceleration and vibration caused by the traversing motion are amplified by bending and play of each part of the immersion mechanism, It is thought that it becomes a big vibration. In this way, when the base plate enters and melts while the base plate vibrates, the vibration of the melt gradually amplifies due to the vibration until the base plate enters and exits. The surface shape of the thin plate to be produced is considered to be affected by the undulation of the melt during escape. Therefore, when the immersion mechanism vibrates, it is considered that the undulation of the surface of the thin plate increases as the size of the base plate increases.
これに対し、実施の形態1,2に係る薄板製造方法では、横行動作を停止したまま下地板を融液に浸したため、昇降動作と回転動作のみによる薄板製造が可能となり、横行動作による振動は生じなかったと考えられる。昇降動作により生じる、鉛直方向の加速度、振動に関しては、機構を鉛直方向に長く設計した際の支点と重心、作用点(下地板)は動作直線とほぼ一致する直線上に位置することになり、振動は増幅されにくいと考えられる。回転動作に関しては、回転させる対象物が主軸と台座支持部材、台座、下地板のみであり、軽量物であるために、振動が大きく増幅する懸念は存在しないと考えられる。このように、浸漬機構が振動しない場合は、融液の振動は増幅されにくいため、下地板のサイズが大きくなっても、融液の揺れは変化無く、結果薄板の表面のうねりも増大しないものと考えられる。 On the other hand, in the thin plate manufacturing method according to the first and second embodiments, since the base plate is immersed in the melt while the traversing operation is stopped, it is possible to manufacture the thin plate only by the lifting and rotating operations, and vibration due to the traversing operation It is thought that it did not occur. Regarding vertical acceleration and vibration caused by the lifting and lowering operation, the fulcrum, center of gravity, and action point (base plate) when the mechanism is designed to be long in the vertical direction will be located on a straight line that almost matches the operating line. It is thought that vibration is difficult to be amplified. Regarding the rotating operation, the object to be rotated is only the main shaft, the pedestal support member, the pedestal, and the base plate, and since it is a lightweight object, there is no concern that vibration will be greatly amplified. In this way, when the immersion mechanism does not vibrate, the vibration of the melt is difficult to amplify, so even if the size of the base plate increases, the fluctuation of the melt does not change, and as a result, the swell of the surface of the thin plate does not increase. it is conceivable that.
このように、実施の形態1,2に係る薄板製造方法によれば、横行動作による水平方向の加速度、振動によって、下地板の振動が生じることを防ぎ、薄板の表面にうねりを生成することを抑制することが可能になる。 As described above, according to the thin plate manufacturing methods according to the first and second embodiments, it is possible to prevent the base plate from being vibrated by the horizontal acceleration and vibration caused by the traversing operation, and to generate the undulation on the surface of the thin plate. It becomes possible to suppress.
以上、本発明の実施の形態について説明したが、上述した各実施の形態の特徴部分を適宜組合わせることは当初から予定されている。また、今回開示された実施の形態は全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。 As mentioned above, although embodiment of this invention was described, combining the characteristic part of each embodiment mentioned above suitably is planned from the beginning. The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.
1A,1B,101 薄板製造装置、2A,2B,102 主室、3A,3B,103 坩堝、4A,4B,104 シリコン融液、5A,5B,105 浸漬機構、6 装入用副室、7 取出用副室、8,9,11,12 気密性扉、10,13 搬送機構、14A,14B,114 昇降機構、15A,15B,115 懸垂支柱、16A,16B,116 回転機構、17A,17B,117 主軸支柱、18A,18B,118 主軸、19,119 動力伝達機構、20,120 台座支持部、21A,21B,121 台座、22A,22B,122 回転モータ軸、23,24 下地板搬送機構、25 下地板装着機構、26A,26B,126 下地板交換位置、32,33 摺動部、34 回転支柱、35 回転板、136 横行軸(レール)、137 横行機構。 1A, 1B, 101 Thin plate manufacturing equipment, 2A, 2B, 102 main chamber, 3A, 3B, 103 crucible, 4A, 4B, 104 silicon melt, 5A, 5B, 105 immersion mechanism, 6 charging subchamber, 7 take-out Sub chamber, 8, 9, 11, 12 Airtight door, 10, 13 Transport mechanism, 14A, 14B, 114 Lifting mechanism, 15A, 15B, 115 Suspension strut, 16A, 16B, 116 Rotating mechanism, 17A, 17B, 117 Main shaft support, 18A, 18B, 118 Main shaft, 19, 119 Power transmission mechanism, 20, 120 Pedestal support, 21A, 21B, 121 Pedestal, 22A, 22B, 122 Rotating motor shaft, 23, 24 Base plate transport mechanism, 25 Bottom Ground plate mounting mechanism, 26A, 26B, 126 Base plate replacement position, 32, 33 sliding part, 34 rotating column, 35 rotating plate, 136 ), 137 traversing mechanism.
Claims (6)
前記下地板の主表面を前記融液に浸す浸漬機構は、前記下地板を上下方向に昇降させる昇降機構と、前記下地板を回転させる回転機構とを有し、
前記浸漬機構の動作中に、前記昇降機構による昇降運動および前記回転機構による回転運動のみが組合わされて前記下地板が運動する、薄板製造装置。 A thin plate manufacturing apparatus for manufacturing a thin plate by immersing a base plate in a melt of a substance containing at least one of a metal material and a semiconductor material in a crucible, and solidifying the melt on the main surface of the base plate,
The immersion mechanism for immersing the main surface of the base plate in the melt has an elevating mechanism for raising and lowering the base plate in the vertical direction and a rotating mechanism for rotating the base plate,
A thin plate manufacturing apparatus in which, during the operation of the immersion mechanism, the base plate is moved by combining only the lifting and lowering movements by the lifting and lowering mechanisms.
前記下地板の主表面を前記融液に浸す浸漬機構は、前記下地板を上下方向に昇降させる昇降機構と、前記下地板を回転させる回転機構とを有し、
前記昇降機構および前記回転機構の動作中に、前記浸漬機構の水平方向の移動を抑制する固定機構が備えられた、薄板製造装置。 A thin plate manufacturing apparatus for manufacturing a thin plate by immersing a base plate in a melt of a substance containing at least one of a metal material and a semiconductor material in a crucible, and solidifying the melt on the main surface of the base plate,
The immersion mechanism for immersing the main surface of the base plate in the melt has an elevating mechanism for raising and lowering the base plate in the vertical direction and a rotating mechanism for rotating the base plate,
A thin plate manufacturing apparatus provided with a fixing mechanism that suppresses horizontal movement of the immersion mechanism during the operation of the lifting mechanism and the rotating mechanism.
前記下地板の主表面を前記融液に浸す浸漬機構による上下方向の昇降運動および前記浸漬機構による回転運動のみを組合わせて前記下地板を運動させ、該運動中に前記下地板の主表面を前記融液に浸す工程を含む、薄板製造方法。 A thin plate manufacturing method for manufacturing a thin plate by immersing a base plate in a melt of a substance containing at least one of a metal material and a semiconductor material in a crucible, and solidifying the melt on a main surface of the base plate,
The base plate is moved by combining only a vertical movement by a dipping mechanism that immerses the main surface of the base plate in the melt and a rotational movement by the dipping mechanism, and the main surface of the base plate is moved during the movement. A method for producing a thin plate, comprising a step of immersing in the melt.
前記下地板を前記浸漬機構から取り外す工程とをさらに備え、
前記取付け工程および/または前記取り外し工程は、前記下地板の主表面が上向きの状態で行なわれる、請求項4に記載の薄板製造方法。 Attaching the base plate to the immersion mechanism;
Further comprising removing the base plate from the immersion mechanism,
The thin plate manufacturing method according to claim 4, wherein the attaching step and / or the removing step is performed with a main surface of the base plate facing upward.
前記下地板の交換位置にて、前記下地板の主表面を前記融液に浸す浸漬機構に前記下地板を上向きの状態で取付ける工程と、
前記浸漬機構による上下方向の昇降運動および前記浸漬機構による回転運動のみを組合わせて前記下地板を運動させ、該運動中に前記下地板の主表面を前記融液に浸す工程と、
前記交換位置にて、前記浸漬機構から前記下地板を上向きの状態で取り外す工程とを備えた、薄板製造方法。 A thin plate manufacturing method for manufacturing a thin plate by immersing a base plate in a melt of a substance containing at least one of a metal material and a semiconductor material in a crucible, and solidifying the melt on a main surface of the base plate,
At the replacement position of the base plate, attaching the base plate in an upward state to an immersion mechanism that immerses the main surface of the base plate in the melt;
A step of moving the base plate in combination with a vertical movement by the immersion mechanism and a rotational movement by the immersion mechanism, and immersing the main surface of the base plate in the melt during the movement;
And a step of removing the base plate in an upward state from the immersion mechanism at the exchange position.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004373692A JP4549177B2 (en) | 2004-12-24 | 2004-12-24 | Thin plate manufacturing apparatus and thin plate manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004373692A JP4549177B2 (en) | 2004-12-24 | 2004-12-24 | Thin plate manufacturing apparatus and thin plate manufacturing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006176382A true JP2006176382A (en) | 2006-07-06 |
JP4549177B2 JP4549177B2 (en) | 2010-09-22 |
Family
ID=36730846
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004373692A Expired - Fee Related JP4549177B2 (en) | 2004-12-24 | 2004-12-24 | Thin plate manufacturing apparatus and thin plate manufacturing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4549177B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009298609A (en) * | 2008-06-10 | 2009-12-24 | Sharp Corp | Apparatus for manufacturing thin plate |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01230498A (en) * | 1988-03-09 | 1989-09-13 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Method for forming garnet membrane |
JPH05330979A (en) * | 1992-05-29 | 1993-12-14 | Murata Mfg Co Ltd | Device for liquid-phase epitaxial growth |
JP2000169292A (en) * | 1998-12-02 | 2000-06-20 | Canon Inc | Method for producing semiconductor thin film and device for producing semiconductor thin film |
JP2001151505A (en) * | 1999-09-14 | 2001-06-05 | Sharp Corp | Manufacturing device for polycrystalline silicon sheet and manufacturing method thereof |
-
2004
- 2004-12-24 JP JP2004373692A patent/JP4549177B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01230498A (en) * | 1988-03-09 | 1989-09-13 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Method for forming garnet membrane |
JPH05330979A (en) * | 1992-05-29 | 1993-12-14 | Murata Mfg Co Ltd | Device for liquid-phase epitaxial growth |
JP2000169292A (en) * | 1998-12-02 | 2000-06-20 | Canon Inc | Method for producing semiconductor thin film and device for producing semiconductor thin film |
JP2001151505A (en) * | 1999-09-14 | 2001-06-05 | Sharp Corp | Manufacturing device for polycrystalline silicon sheet and manufacturing method thereof |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009298609A (en) * | 2008-06-10 | 2009-12-24 | Sharp Corp | Apparatus for manufacturing thin plate |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4549177B2 (en) | 2010-09-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7485477B2 (en) | Thin plate manufacturing method and thin plate manufacturing apparatus | |
CN100377326C (en) | Component-supplying head device, component-supplying device, comonent-mounting device, and method of moving mounting head portion | |
CN101615569B (en) | Vacuum processor | |
WO2019010944A1 (en) | Automatic chip assembly and disassembly apparatus for graphite boat | |
JP2000150400A (en) | Vertical thermal processing device and boat transportation method | |
JP2008004919A (en) | First-in first-out buffer system | |
KR20080016518A (en) | Substrate carrying device | |
JPH10139159A (en) | Cassette chamber and cassette carrying-in and out mechanism | |
CN101038447A (en) | A conveyance apparatus and vacuum processing apparatus | |
JP2019189939A (en) | Work piece housing device and work piece housing method and evaporation method using the same | |
JP4549177B2 (en) | Thin plate manufacturing apparatus and thin plate manufacturing method | |
JP2003313035A (en) | Heating furnace for manufacturing quartz crucible | |
JP4570570B2 (en) | Thin plate manufacturing apparatus and thin plate manufacturing method | |
JP2001093957A (en) | Apparatus and method for manufacturing electronic component | |
JP5280000B2 (en) | Vacuum drying processing equipment | |
KR100730459B1 (en) | Glass cell automatic loading device of liquid crystal display | |
JPWO2004003264A1 (en) | Thin plate manufacturing method and thin plate manufacturing apparatus | |
CN106586551B (en) | Auto loading machine and the method for quartz-crystal resonator preparation | |
CN113005423B (en) | Processing body storage device and film forming device comprising the same | |
TWI853299B (en) | Ion source transfer device and ion implantation device | |
JP3824262B2 (en) | Semiconductor manufacturing apparatus and height adjustment method of semiconductor device | |
JP2000174094A (en) | Semiconductor manufacturing device | |
TW200409371A (en) | A device for manufacturing a thin silicon board and a manufacturing method thereof | |
JP2008120640A (en) | Apparatus and method for producing thin sheet | |
JP2012199303A (en) | Substrate transfer device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20070302 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090618 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20090630 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090827 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20100330 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20100527 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100622 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20100706 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 3 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130716 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |