JP2006170641A - 落下試験用治具 - Google Patents

Abstract

【課題】 衝突面に衝突させて試験物の耐衝撃性を試験する落下試験に用いられる落下試験用治具に関し、低コストで、落下試験の結果のばらつきが少ない落下試験用治具を提供することを課題とする。
【解決手段】
電子部品（試験物）１０５が内部に設けられ、電子部品１０５を覆う球状外装体１０１と、球状外装体１０１の内部に取り付けられた錘１０７とからなっている。球状外装体１０１の内壁面には、電子部品（試験物）１０５と錘１０７とが取り付けられるホルダ１０３が取り付けられている。
【選択図】 図１

Description

本発明は、衝突面に衝突させて試験物の耐衝撃性を試験する落下試験に用いられる落下試験用治具に関する。

電子部品を搭載したモバイル製品において、たとえば、携帯電話では、顧客が落としても電子部品が壊れないことが要求される。このため携帯電話に搭載される電子部品に対し、耐衝撃性が要求されており、部品メーカは部品の落下試験を実施し、製品の保証を行っている。

一般的に落下試験は、図３、図４に示すような方法で行っている。図３において、試験物である電子部品１は、測定用パターン３が形成されたプリント板５に設けられている。更に、電子部品１を実際の製品に設けられた状態と同じような状態とするために、電子部品１が設けられたプリント板５は、治具９にねじ７を用いて取り付けられる。プリント板５、治具９には、プリント板５の電子部品１が設けられた面に対して垂直方向の貫通穴５ａ、９ｃが形成され、更に、治具９にはプリント板５の電子部品１が設けられた面と平行で、直交する２つの方向の貫通穴９ｂ、９ｃが形成されている。

電子部品１が設けられた治具９は、図４に示すような器具を用いて落下試験が行われる。図において、１１はコンクリート製の台（衝突面）である。この台１１には、台１１に対して垂直となるように支持棒１３が設けられている。

そして、支持棒１３の先端部を治具９の図示しない貫通穴及びプリント板５の貫通穴５ａに挿通させた状態で、治具９を規定の高さからコンクリートの台１１に向けて自由落下させ、電子部品１が故障しないことを確認する。更に、支持棒１３を貫通穴９ａや貫通穴９ｂに挿通させて、異なる姿勢での落下試験を行う。

しかし、スムーズな自由落下を行うために、支持棒１３と各貫通穴との間には、隙間があるように設定されている。このため、落下中の治具９の姿勢が安定せず、治具９の台１１との衝突箇所が一定とならず、落下試験の結果がばらつく問題がある。

また、治具９の姿勢が安定しない場合、落下中に治具９の貫通穴の内壁面と支持棒１３とが当たり、完全な自由落下とならない場合もあり、この場合も落下試験の結果がばらつく。

そこで、試験物をアームで保持し、アームを自由落下ないし自由落下に近い速度で落下させ、台１１に試験物が衝突する直前にアームを開放して、試験物のみを台１１に衝突させる装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
特開２０００−５５７７８号公報（図１）

しかし、特許文献１に示すような装置は高価で、コストがかかる問題点がある。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、その課題は、低コストで、落下試験の結果のばらつきが少ない落下試験用治具を提供することにある。

上記課題を解決する請求項１に係る発明は、衝突面に衝突させて試験物の耐衝撃性を試験する落下試験に用いられる落下試験用治具において、前記試験物が内部に設けられ、前記試験物を覆う球状外装体と、該球状外装体の内部に取り付けられた錘とからなることを特徴とする落下試験用治具である。

この落下試験用治具を落下させると、錘がある部分が一番下になった状態で落下する。
請求項２に係る発明は、前記試験物と前記錘とが取り付けられるホルダを前記球状外装体の内壁面に取り付け、前記ホルダには、前記ホルダに対する前記試験物の取り付け位置を調整する試験物取り付け位置調整手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の落下試験用治具である。

試験物取り付け位置調整手段を用いて、試験物の取り付け位置が調整される。
請求項３に係る発明は、前記試験物取り付け位置調整手段は、前記ホルダの対向する２つの部分と、該２つの部分にそれぞれ形成され、同一方向に延びる長穴と、前記２つの部分の間に配置され、前記試験物が取り付けられた橋渡し体と、前記２つの部分に対向する前記橋渡し体の部分に形成されためねじ穴と、前記長穴の幅より大きな径の頭部を有し、首部が前記長穴を挿通し、前記橋渡し体のめねじ穴に螺合する試験物取り付けねじとからなることを特徴とする請求項２記載の落下試験用治具である。

橋渡し体をホルダの対向する部分の間に配置し、試験物取り付けねじを長穴に挿通し、橋渡し体のめねじ穴に螺合させることで、試験物はホルダに取り付けられる。ねじを緩めることで、試験物が取り付けられた橋渡し体は、長穴に沿って移動し、試験物の取り付け位置が調整される。

請求項４に係る発明は、前記ホルダに、前記ホルダに対する前記錘の取り付け位置を調整する錘取り付け位置調整手段を設けたことを特徴とする請求項２または３記載の落下試験用治具である。

錘取り付け位置調整手段を用いて、錘の取り付け位置が調整される。
請求項５に係る発明は、前記ホルダに、前記ホルダの強度を調整するホルダ強度調整手段を設けたことを特徴とする請求項２乃至４のいずれかに記載の落下試験用治具である。

ホルダ強度調整手段を用いて、ホルダの強度を調整する。ホルダは、球状外装体の内壁面に取り付けられているので、ホルダの強度が変われば、球状外装体の強度も変わる。

請求項１又は２に係る発明によれば、落下試験用治具は、球状外装体の内部に取り付けられた錘を有することで、落下試験用治具を落下させると、錘が一番下になった状態で落下し、落下中の落下試験用治具の姿勢が安定する。そして、球状外装体を有することで、球状外装体の決まった一点が衝突面に衝突する。よって、衝突箇所が一定となり、落下試験の結果がばらつかない。

また、従来必要であった支持棒等が不要となり、完全な自由落下を行うことができ、落下試験の結果がばらつかない。
更に、背景技術の項で説明した試験物を保持するアーム、アームを昇降させる機構等が必要な装置に比べ、低コストである。

請求項２、請求項３に係る発明によれば、前記試験物と前記錘とが取り付けられるホルダを前記球状外装体の内壁面に取り付け、前記ホルダには、前記ホルダに対する前記試験物の取り付け位置を調整する試験物取り付け位置調整手段を設けたことにより、試験物取り付け位置調整手段を用いて、試験物の取り付け位置を調整できる。試験物の取り付け位置を調整することにより、試験物を衝突面に対してさまざまな姿勢で衝突させることができる。即ち、試験物に加わる衝撃の方向を変えることができる。

請求項３に係る発明によれば、前記試験物取り付け位置調整手段は、前記ホルダの対向する２つの部分と、該２つの部分にそれぞれ形成され、同一方向に延びる長穴と、前記２つの部分の間に配置され、前記試験物が取り付けられた橋渡し体と、前記２つの部分に対向する前記橋渡し体の部分に形成されためねじ穴と、前記長穴の幅より大きな径の頭部を有し、首部が前記長穴を挿通し、前記橋渡し体のめねじ穴に螺合する試験物取り付けねじとからなることにより、試験物取り付けねじを緩めることにより試験物の取り付け位置を調整でき、試験物取り付けねじを締めることで試験物の取り付けを行うことができるので、操作性がよい。

請求項４に係る発明によれば、前記ホルダに、前記ホルダに対する前記錘の取り付け位置を調整する錘取り付け位置調整手段を設けたことにより、錘取り付け位置調整手段を用いて、錘の取り付け位置を調整できる。錘の取り付け位置を調整することにより、試験物を衝突面に対してさまざまな姿勢で衝突させることができる。即ち、試験物に加わる衝撃の方向を変えることができる。

請求項５に係る発明によれば、前記ホルダに、前記ホルダの強度を調整するホルダ強度調整手段を設けたことにより、ホルダの強度、球状外装体の強度を変えることができる。ホルダ、球状外装体の強度を変えることで、衝突時に試験物に作用する衝撃力の大きさを変えることができる。

まず、図１を用いて本形態例の落下試験用治具の全体構成を説明する。図において、１０１は球状外装体である。この球状外装体１０１は、帯状のプレートを丸めて形成された円筒状の３つの枠体１０１ａ、１０１ａ’、１０１ａ！’を空間で互いに直角に交わる３つの軸からなる直角座標系の前記３つの軸のうちの２つの軸で構成される３つの平面上に、各枠体１０１ａ、１０１ａ’、１０１ａ”の中心が前記直角座標系の原点と一致するようにそれぞれ配置して、一体化された球体状である。

球状外装体１０１の内壁には立方体状のホルダ１０３が取り付けられている。このホルダ１０３の内部に試験物である電子部品１０５が取り付けられている。ホルダ１０３と球状外装体１０１との間に空間には、ホルダ１０３に取り付けられる錘１０７が配置されている。

次に、図２を用いてホルダ１０３の説明を行う。ホルダ１０３は、同一形状の４枚の帯状のプレートからなり、開口が正方形となる正四角筒状の枠体１０３ａ、１０３ａ’、１０３ａ”を、空間で互いに直角に交わる３つの軸からなる直角座標系の前記３つの軸のうちの２つの軸で構成される３つの平面上に、各枠体１０３ａ、１０３ａ’、１０３ａ”の中心が前記直角座標系の原点と一致するようにそれぞれ配置して、一体化された立方体状である。

そして、ホルダ１０３の各枠体１０３ａ、１０３ａ’、１０３ａ”の角部が球状外装体１０１の内壁に取り付けられ、球状外装体１０１とホルダ１０３とは一体化されている（図１参照）。

更に、ホルダ１０３の枠体１０３ａ、１０３ａ’、１０３ａ”の各面には、枠体１０３ａ、１０３ａ’、１０３ａ”の周方向に延びる長穴１０３ｂ、１０３ｂ’、１０３ｂ”が形成されている。

ホルダ１０３には、ホルダ１０３に対する電子部品（試験物）１０５の取り付け位置を調整する試験物取り付け位置調整手段と、ホルダ１０３に対する錘１０７の取り付け位置を調整する錘取り付け位置調整手段と、ホルダ１０３の強度を調整するホルダ強度調整手段とが設けられている。

（１） 試験物取り付け手段
本形態例の電子部品１０５は測定用パターン１１１が形成されたプリント板１１３に設けられている。

図２に示すように、立方体状のホルダ１０３の各面に沿ったｘｙｚ軸からなる直角座標を設定した場合、ホルダ１０３の対向する２つの部分、本形態例では、枠体１０３ａ”のｘ軸方向に延びる面Ａ、Ｂの間には、角柱状の２本の橋渡し体１５１が配置される。

この２本の橋渡し体１５１上にプリント板１１３が配置される。プリント板１１３の四隅には穴１１３ａが形成されている。一方、橋渡し体１５１の上面には、プリント板１１３の穴１１３ａに対向するめねじ穴１５１ａが形成されている。そして、プリント板１１３の穴１１３ａを挿通し、橋渡し体１５１のめねじ穴１５１ａに螺合するねじ１５３により、プリント板１１３は２本の橋渡し体１１５に取り付けられ、プリント板１１３と２本の橋渡し体１５１とは一体化されている。

ホルダ１０３の枠体１０３”の対向する面Ａ、面Ｂと対向する橋渡し体１５１の端面には、めねじ穴１５１ｂが形成されている。そして、ホルダ１０３を構成する枠体１０３ａ”の長穴１０３ｂ”の幅より大きな径の頭部を有し、首部が長穴１０３ｂ”を挿通し、橋渡し体１５１のめねじ穴１５１ｂに螺合する試験物取り付けねじ１５５により、橋渡し体１５１はホルダ１０３の枠体１０３ａ”に取り付けられる。

このような構成の場合、電子部品１０５は、ｘ−ｙ平面と平行な平面上に設けられる。試験物取り付けねじ１５５を緩めることにより、橋渡し体１５１は長穴１０３ｂ”に沿って移動可能となる。即ち、ｘ−ｙ平面上のｘ軸方向の任意の位置に設けることが可能となる。

即ち、ホルダ１０３の枠体の対向する２つの部分と、２つの部分にそれぞれ形成され、同一方向に延びる長穴と、２つの部分の間に配置され、電子部品（試験物）１０５が取り付けられた橋渡し体１５１と、２つの部分に対向する橋渡し体１５１の部分に形成されためねじ穴１５１ｂと、長穴の幅より大きな径の頭部を有し、首部が長穴を挿通し、橋渡し体１５１のめねじ穴に螺合する試験物取り付けねじ１５５とで、試験物取り付け位置調整手段が構成されている。

尚、図２に示す構成では、枠体１０３ａ”のｘ軸に平行な長穴１０３ｂ”を用いて橋渡し体１５１を取り付けたが、枠体１０３ａ”のｙ軸に平行な長穴１０３ｂ”を用いて橋渡し体１５１を取り付けることも可能である。この場合も電子部品１０５は、ｘ−ｙ平面と平行な平面上に設けられるが、橋渡し体１５１は、ｘ−ｙ平面上のｙ軸方向の任意の位置に設けることが可能となる。

更に、枠体１０３ａに橋渡し体１５１を設けた場合、電子部品１０５はｘ−ｚ平面と平行な面上に設けられ、ｘ−ｚ平面上のｘ軸方向、またはｚ軸方向の任意の位置に設けることが可能となる。更に又、枠体１０３ａ’に橋渡し体１５１を設けた場合、電子部品１０５はｙ−ｚ平面と平行な面上に設けられ、ｙ−ｚ平面上のｙ軸方向またはｚ軸方向の任意の位置に設けることが可能となる。

尚、本形態例では、２本の橋渡し体１５１を用いた例で説明を行ったが、確実にプリント板１１３が取り付けられ、ホルダ１０３に確実に取り付けられる大きさならば、１つの橋渡し体であってもよい。

（２） 錘取り付け位置調整手段
図１、図２に示すように、錘１０７は球状外装体１０１の内壁面とホルダ１０３の外壁面との間の空間に配置され、更に、ホルダ１０３の枠体１０３ａに取り付けられる。

ホルダ１０３の枠体１０３ａと対向する錘１０７の面には、枠体１０３ａの長穴１０３ｂと対向する２つのめねじ穴１０７ａが形成されている。そして、枠体１０３ａの長穴１０３ｂの幅より大きな径の頭部を有し、首部が長穴１０３ｂを挿通し、錘１０７のめねじ穴１０７ａに螺合する錘取り付けねじ１７５により、錘１０７はホルダ１０３の枠体１０３ａに取り付けられる。

図２に示すようなｘｙｚ軸からなる直角座標を設定した場合、錘１０７は、ｘ−ｙ平面と平行な平面上に設けられる。錘取り付けねじ１７５を緩めることにより、錘１０７は長穴１０３ｂ”に沿って移動可能となる。即ち、ｘ−ｙ平面上のｘ軸方向の任意の位置に設けることが可能となる。

即ち、錘１０７と対向するホルダ１０３の枠の錘対向部分（本形態例では枠体１０３ａの下面）と、錘対向部分に形成された長穴（本形態例では、長穴１０３ｂ）と、錘対向部分と対向する錘１０７の部分に形成されためねじ穴１０７ａと、錘対向部分に形成された長穴の幅より大きな径の頭部を有し、首部が長穴を挿通し、錘１０７のめねじ穴１０７ａに螺合する錘取り付けねじ１７５とで、錘取り付け位置調整手段が構成されている。

又、錘１０７を枠体１０３ａ’に設けた場合、錘１０７は、ｘ−ｙ平面上のｙ軸方向の任意の位置に設けることが可能となる。
（３）ホルダ強度調整手段
図２に示すように、ホルダ１０３の対向する２つの部分、本形態例では、枠体１０３ａのｘ軸方向に延びる面Ｃ、Ｄの間には、棒材１７１が配置される。この棒材１７１の両端部側には周面におねじが形成されたおねじ部１７１ａが形成され、更に、おねじ部１７１ａはホルダ１０３の対向する２つの面Ｃ、Ｄの長穴１０３ｂを挿通している。

そして、長穴１０３ｂを挿通した棒材１７１の両端部のおねじ部１７１ａにそれぞれナット１７３が螺合し、各ナット１７３は枠体１０３ａに当接している。
このような棒材１７１を設けることにより、枠体１０３ａの強度が向上し、ホルダ１０３の強度、更には球状外装体１０１の強度を調整できる。また、ナット１７３を緩めることで、棒材１７１の取り付け位置を変えることができる。棒材１７１の取り付け位置を変えることで、ホルダ１０３の強度、更には球状外装体１０１の強度を調整できる。ホルダ１０３、球状外装体１０１の強度を調整することで、衝突時に電子部品１０５に作用する衝撃力の大きさを調整できる。

即ち、ホルダ１０３の異なる２つの部分と、２つの部分にそれぞれ形成され、同一方向に延びる長穴と、２つの部分の間に配置され、両端部側には周面におねじが形成され、更に、両端部側がホルダの対向する２つの面の長穴を挿通する棒材１７１と、長穴を挿通した棒材１７１のおねじに螺合し、ホルダ１０３に当接する２つのナット１７３とでホルダ強度調整手段が構成されている。

又、枠体１０３ａには、複数本の棒材１７１を設けることも可能である、更に、枠体１０３ａのみならず、枠体１０３ａ’や枠体１０３ａ”に棒材１７１を設けることも可能である。

このような構成によれば、下記のような効果を得ることができる。
（１）落下試験用治具は、球状外装体１０１の内部に取り付けられた錘１０７を有することで、落下試験用治具を落下させると、錘１０７が一番下になった状態で落下し、落下中の落下試験用治具の姿勢が安定する。そして、球状外装体１０１を有することで、球状外装体１０１の決まった一点が衝突面に衝突する。よって、衝突箇所が一定となり、落下試験の結果がばらつかない。

また、従来必要であった支持棒等が不要となり、完全な自由落下を行うことができ、落下試験の結果がばらつかない。
更に、背景技術の項で説明した試験物を保持するアーム、アームを昇降させる機構等が必要な装置を用いる場合に比べ、低コストである。

（２）ホルダ１０３に対する電子部品１０５の取り付け位置を調整する試験物取り付け位置調整手段を設けたことにより、電子部品１０５の取り付け位置を調整できる。電子部品１０５の取り付け位置を調整することにより、電子部品１０５を衝突面に対してさまざまな姿勢で衝突させることができる。即ち、電子部品１０５に加わる衝撃の方向を変えることができる。

（３）試験物取り付け位置調整手段は、試験物取り付けねじ１５５を緩めることにより電子部品１０５の取り付け位置を調整でき、試験物取り付けねじ１５５を締めることで電子部品１０５の取り付けを行うことができるので、操作性がよい。

（４）ホルダ１０３に対する錘１０７の取り付け位置を調整する錘取り付け位置調整手段を設けたことにより、錘取り付け位置調整手段を用いて、錘１０７の取り付け位置を調整できる。錘１０７の取り付け位置を調整することにより、電子部品１０５を衝突面に対してさまざまな姿勢で衝突させることができる。即ち、電子部品１０５に加わる衝撃の方向を変えることができる。

（５）錘取り付け位置調整手段は、錘取り付け位置ねじ１７５を緩めることにより錘１０７の取り付け位置を調整でき、錘取り付けねじ１７５を締めることで錘１０７の取り付けを行うことができるので、操作性がよい。

（６）ホルダ１０３の強度を調整するホルダ強度調整手段を設けたことにより、ホルダ１０３の強度、球状外装体１０１の強度を変えることができる。ホルダ１０３、球状外装体１０１の強度を変えることで、衝突時に電子部品１０５に作用する衝撃力の大きさを変えることができる。

（７）ホルダ強度整手段の棒材１７１を設けることにより、枠体１０３ａの強度が向上し、ホルダ１０３の強度、更には球状外装体１０１の強度を調整できる。また、ナット１７３を緩めることで、棒材１７１の取り付け位置を変えることができる。棒材１７１の取り付け位置を変えることで、ホルダ１０３の強度、更には球状外装体１０１の強度を調整できる。ホルダ１０３、球状外装体１０１の強度を調整することで、衝突時に電子部品１０５に作用する衝撃力の大きさを調整できる。

又、枠体１０３ａには、複数本の棒材１７１を設けることも可能である。棒材１７１の本数を増減させることで、ホルダ１０３、球状外装体１０１の強度を調整することができる。

更に、枠体１０３ａのみならず、枠体１０３ａ’や枠体１０３ａ”に棒材１７１を設けることも可能である。このようにすることにより、ホルダ１０３、球状外装体１０１の特定の方向の強度を調整できる。

（付記１）
試験物が取り付けられ、落下試験に用いられる落下試験用治具であって、
前記試験物が内部に設けられ、前記試験物を覆う球状外装体と、
該球状外装体の内部に取り付けられた錘と、
からなることを特徴とする落下試験用治具。

（付記２）
前記球状外装体の内壁面に前記試験物と前記錘とが取り付けられるホルダを設け、
該ホルダには、
前記ホルダに対する前記試験物の取り付け位置を調整する試験物取り付け位置調整手段とを設けたことを特徴とする付記１記載の落下試験用治具。

（付記３）
前記試験物取り付け位置調整手段は、
前記ホルダの対向する２つの部分と
該２つの部分にそれぞれ形成され、同一方向に延びる長穴と、
前記２つの部分の間に配置され、前記試験物が取り付けられた橋渡し体と、
前記２つの部分に対向する前記橋渡し体の部分に形成されためねじ穴と、
前記長穴の幅より大きな径の頭部を有し、首部が前記長穴を挿通し、前記橋渡し体のめねじ穴に螺合する試験物取り付けねじと
からなることを特徴とする付記２記載の落下試験用治具。

（付記４）
前記ホルダに、
前記ホルダに対する前記錘の取り付け位置を調整する錘取り付け位置調整手段
を設けたことを特徴とする付記２または３記載の落下試験用治具。

（付記５）
前記錘取り付け位置調整手段は、
前記錘と対向する前記ホルダの錘対向部分と、
該錘対向部分に形成された長穴と、
前記錘対向部分と対向する前記錘の部分に形成されためねじ穴と、
前記錘対向部分に形成された長穴の幅より大きな径の頭部を有し、首部が前記長穴を挿通し、前記錘のめねじ穴に螺合する錘取り付けねじとからなることを特徴とする付記４記載の落下試験用治具。

（付記６）
前記ホルダに、
前記ホルダの強度を調整するホルダ強度調整手段を設けたことを特徴とする付記２乃至５のいずれかに記載の落下試験用治具。

（付記７）
前記ホルダ強度調整手段は、
前記ホルダの異なる２つの部分と、
前記２つの部分にそれぞれ形成され、同一方向に延びる長穴と
前記２つの部分の間に配置され、両端部側には周面におねじが形成され、更に、前記両端部側が前記ホルダの対向する２つの面の長穴を挿通する棒材と、
前記長穴を挿通した前記棒材のおねじに螺合し、前記ホルダに当接する２つのナットと、
からなることを特徴とする付記６記載の落下試験用治具。

形態例の落下試験用治具の全体構成を説明する斜視図である。 図１のホルダを説明する斜視図である。 従来の落下試験用治具の分解斜視図である。 従来の落下試験を説明する図である。

符号の説明

１０１ 球状外装体
１０５ 電子部品
１０７ 錘

Claims (5)

1. 衝突面に衝突させて試験物の耐衝撃性を試験する落下試験に用いられる落下試験用治具において、
   前記試験物が内部に設けられ、前記試験物を覆う球状外装体と、
   該球状外装体の内部に取り付けられた錘と、
   からなることを特徴とする落下試験用治具。
2. 前記試験物と前記錘とが取り付けられるホルダを前記球状外装体の内壁面に取り付け、
   前記ホルダには、
   前記ホルダに対する前記試験物の取り付け位置を調整する試験物取り付け位置調整手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の落下試験用治具。
3. 前記試験物取り付け位置調整手段は、
   前記ホルダの対向する２つの部分と、
   該２つの部分にそれぞれ形成され、同一方向に延びる長穴と、
   前記２つの部分の間に配置され、前記試験物が取り付けられた橋渡し体と、
   前記２つの部分に対向する前記橋渡し体の部分に形成されためねじ穴と、
   前記長穴の幅より大きな径の頭部を有し、首部が前記長穴を挿通し、前記橋渡し体のめねじ穴に螺合する試験物取り付けねじと
   からなることを特徴とする請求項２記載の落下試験用治具。
4. 前記ホルダに、
   前記ホルダに対する前記錘の取り付け位置を調整する錘取り付け位置調整手段
   を設けたことを特徴とする請求項２または３記載の落下試験用治具。
5. 前記ホルダに、
   前記ホルダの強度を調整するホルダ強度調整手段を設けたことを特徴とする請求項２乃至４のいずれかに記載の落下試験用治具。

Images