JP2006163588A - Method of converting plant data engineering value and plant monitoring system - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、プラントデータを工学値に変換してプラント状態の監視する技術に関し、特にプラントデータを工学値に変換する方法、およびそれを用いて監視を行うプラント監視装置に関するものである。 The present invention relates to a technique for converting plant data into an engineering value and monitoring a plant state, and more particularly to a method for converting plant data into an engineering value and a plant monitoring apparatus that performs monitoring using the method.
従来のプラント監視制御装置を以下に示す。
プラントの状態変化量はアナログ値として、プラント側のセンサおよび制御装置などからケーブルを介して周期的に取り込まれる。取り込まれたアナログ値は、A/D変換部によりカウント値に変換される。カウント値は工学値変換処理部において、工学値に変換されると共に、その工学値が工学値データ保存用データベースに保存される。また、工学値データにノイズの混入が発見されると、ケーブルの処理、アース処理、プラント側の状況、入力波形の確認などを行いノイズ除去を施す。また、ハード処理ができない場合やハード処理をしてもノイズ除去できない場合は、ソフト上で最小二乗法や一次遅れ処理などのスムージング処理により工学値の補正を行っていた(例えば、特許文献1参照)。
A conventional plant monitoring and control apparatus is shown below.
The amount of change in the state of the plant is periodically taken as an analog value from a sensor and a control device on the plant side via a cable. The taken analog value is converted into a count value by the A / D converter. The count value is converted into an engineering value by the engineering value conversion processing unit, and the engineering value is stored in the engineering value data storage database. Also, if noise is found in the engineering value data, cable processing, ground processing, plant-side status, input waveform confirmation, etc. are performed to remove noise. Further, when hardware processing cannot be performed or noise cannot be removed even after hardware processing, engineering values are corrected by a smoothing process such as a least square method or first-order lag processing on the software (see, for example, Patent Document 1). ).
上記のような従来のプラント監視において、工学値への変換処理は、例えば、プラントデータを検出するセンサの性能によって決まる公称計測上下限値に基づいて算出される計算式などにより変換されるものであった。しかしながら、監視対象設備の個体差やセンサの誤差などに起因して、得られた工学値にも誤差が生じる。このため、プラントデータの工学値を計測するように校正された計測器を監視対象設備にセンサと並列に接続して、該計測器からの計測値を用いて工学値への変換処理に対する補正を行っていたが、監視対象設備が通常状態の計測範囲以外のデータを実際に計測して補正するのは困難で、信頼性よく工学値変換が行えないという問題点があった。 In the conventional plant monitoring as described above, the conversion process to the engineering value is performed by, for example, a calculation formula calculated based on the upper and lower limits of the nominal measurement determined by the performance of the sensor that detects the plant data. there were. However, due to individual differences in the equipment to be monitored and sensor errors, errors also occur in the obtained engineering values. For this reason, a measuring instrument calibrated to measure the engineering value of the plant data is connected to the monitoring target facility in parallel with the sensor, and the measurement value from the measuring instrument is used to correct the conversion process to the engineering value. However, it has been difficult to actually measure and correct data outside the measurement range of the monitoring target facility, and the engineering value conversion cannot be performed reliably.
この発明は、上記のような問題点を解消するために成されたものであって、センサで検出されるアナログ値のプラントデータを、センサの検出範囲全体において、工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを精度良く容易に生成できるプラントデータ工学値変換方法を得ることを目的とする。
また、このような工学値変換方法を用いて、監視対象設備のプラントデータ工学値を容易に高精度に取得し、信頼性よくプラント監視を行えるプラント監視装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve the above-described problems, and is an operation for converting plant data of analog values detected by a sensor into engineering values over the entire detection range of the sensor. It is an object of the present invention to obtain a plant data engineering value conversion method capable of easily generating a formula or an engineering value conversion table with high accuracy.
It is another object of the present invention to obtain a plant monitoring apparatus that can easily obtain a plant data engineering value of a facility to be monitored with high accuracy by using such an engineering value conversion method and can perform plant monitoring with high reliability.
この発明に係るプラントデータ工学値変換方法は、監視対象設備のプラントデータを検出したアナログ値から工学値に変換する変換方法であって、第1のステップおよび第2ステップを有する。第1ステップでは、上記監視対象設備に接続され上記プラントデータの工学値を計測するように校正された計測器からの計測値を、上記監視対象設備の通常運転状態における計測可能範囲内で、それぞれ検出されたアナログ値あるいは該アナログ値をA/D変換したカウント値と対応させて複数個取得する。第2のステップでは、該アナログ値あるいはカウント値であるデータ値と上記計測値とからなる複数の2次座標値に基づいて、データ値を工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを生成する。 A plant data engineering value conversion method according to the present invention is a conversion method for converting plant data of a monitoring target facility from an detected analog value to an engineering value, and includes a first step and a second step. In the first step, measured values from measuring instruments connected to the monitored equipment and calibrated to measure engineering values of the plant data are within the measurable range in the normal operation state of the monitored equipment, respectively. A plurality of analog values detected or a count value obtained by A / D converting the analog values are acquired. In the second step, an arithmetic expression or an engineering value conversion table for converting a data value into an engineering value based on a plurality of secondary coordinate values composed of the data value that is the analog value or the count value and the measured value. Is generated.
またこの発明に係るプラント監視装置は、監視対象設備のプラントデータを検出したアナログ値から工学値に変換して該設備の監視を行う装置であり、プラントデータとして検出したアナログ値を入力するアナログ信号入力手段と、アナログ値を工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを有して上記アナログ信号入力手段にて入力されたアナログ値を工学値に変換する工学値変換手段とを備える。そして、上記演算式あるいは工学値変換テーブルは、上記プラントデータ工学値変換方法にてアナログ値をデータ値として生成されたものである。 Moreover, the plant monitoring apparatus according to the present invention is an apparatus for monitoring the equipment by converting the analog value detected from the plant data of the equipment to be monitored into the engineering value, and inputting the analog value detected as the plant data. An input means, and an engineering value conversion means for converting an analog value input to the analog signal input means into an engineering value having an arithmetic expression or an engineering value conversion table for converting the analog value into an engineering value. . The arithmetic expression or the engineering value conversion table is generated using an analog value as a data value by the plant data engineering value conversion method.
この発明によるプラントデータ工学値変換方法は、プラントデータを工学値として計測するように校正された計測器を用いて、監視対象設備の通常運転状態における計測可能範囲内で工学値である計測値を複数個取得し、該計測値に基づいて工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを生成するため、センサの検出範囲全体において、工学値変換のための演算式あるいは工学値変換テーブルを精度良く容易に生成できる。
また、この発明によるプラント監視装置は、このような工学値変換方法を用いて、監視対象設備のプラントデータ工学値を容易に高精度に取得できるため、信頼性よくプラント監視を行える。
The plant data engineering value conversion method according to the present invention uses a measuring instrument calibrated to measure plant data as an engineering value, and converts a measured value that is an engineering value within a measurable range in a normal operation state of a monitored facility. An arithmetic expression or engineering value conversion table for converting engineering values in the entire detection range of the sensor in order to generate an arithmetic expression or engineering value conversion table for acquiring a plurality and converting them into engineering values based on the measured values Can be generated accurately and easily.
Moreover, since the plant monitoring apparatus according to the present invention can easily obtain the plant data engineering value of the monitoring target equipment with high accuracy by using such an engineering value conversion method, the plant monitoring apparatus can perform the plant monitoring with high reliability.
実施の形態1.
以下、この発明の実施の形態1について説明する。
図1はこの発明の実施の形態1によるプラント監視装置の概略構成を示したブロック図である。図1に示すように、プラント監視装置1は、監視対象設備2に取り付けられてプラントデータを検出するセンサ3−1〜3−nからのデータを取り込んで監視対象設備2を監視する。また、プラント監視装置1は、センサ3−1〜3−nからのデータをアナログ値5aとして取り込むためのアナログ信号入力手段としての信号入力手段5と、該信号入力手段5からのアナログ値5aを工学値に変換する工学値変換手段6と、工学値変換手段6においてアナログ値5aを工学値に変換する際に用いるアナログ値−工学値変換テーブル7とを備える。
一方、監視対象設備2には、該設備2のプラントデータの工学値を計測するように設備2の個体差などを考慮して校正された計測器4が、センサ3(3−1〜3−n)と並列に接続される。
1 is a block diagram showing a schematic configuration of a plant monitoring apparatus according to
On the other hand, the
このように構成されるプラント監視装置1では、センサ3からのプラントデータである電流値(例えば4〜20mA)または電圧値(例えば1〜5V)をアナログ値5aとして取り込み、工学値変換手段6において、予め設定されたアナログ値−工学値変換テーブル7を参照して入力されたアナログ値5aを工学値に変換する。
In the
工学値変換手段6での工学値変換に用いるアナログ値−工学値変換テーブル7について以下に説明する。
アナログ値−工学値変換テーブル7は、アナログ値を工学値に変換するための演算式に基づいて生成され、この演算式の生成方法を図2に示すグラフ、および図3に示すフローチャートに基づいて以下に詳述する。なお、プラント監視装置1では、アナログ値−工学値変換テーブル7の替わりに演算式を記憶して工学値変換手段6での工学値変換に用いるようにしても良い。
監視対象設備2に接続された計測器4は、上述したようにプラントデータの工学値を計測するように校正されたものであり、監視対象設備2の通常運転状態における計測可能範囲11(以下、通常計測可能範囲と称す)内で、3点計測する。この計測値は、それぞれセンサ3からのアナログ値に対応して計測し、この2次座標値(アナログ値、計測値)をアナログ値の昇順に、第1の2次座標値15a、第2の2次座標値15b、第3の2次座標値15cとする(ステップS1)。
The analog value-engineering value conversion table 7 used for engineering value conversion in the engineering value conversion means 6 will be described below.
The analog value-engineering value conversion table 7 is generated based on an arithmetic expression for converting an analog value into an engineering value, and a method for generating the arithmetic expression is based on the graph shown in FIG. 2 and the flowchart shown in FIG. This will be described in detail below. In the
The
次に、第2の2次座標値15bを起点として第1の2次座標値15aを通る第1の直線16aの式を求め、また第2の2次座標値15bを起点として第3の2次座標値15cを通る第2の直線16bの式を求める。この第1の直線16aと第2の直線16bとを組み合わせた線を表す式が、横軸のアナログ値を縦軸の工学値に変換する演算式となる。
この演算式の具体的な求め方は、例えば、第1、第2の2次座標値15a、15b間の変化率と第2、第3の2次座標値15b、15c間の変化率とをそれぞれ求めて(ステップS2)、第1の直線16aと第2の直線16bとの式をそれぞれ求め、センサ3によるアナログ値の検出範囲に基づいて第1の直線16aの終点(計測下限値)17および第2の直線16bの終点(計測上限値)18も決定する(ステップS3)。
アナログ値−工学値変換テーブル7を作成するには、生成された演算式を満足する複数個の2次座標値(アナログ値、計測値)から作成するが、計測下限値17、計測上限値18および第2の2次座標値15bを含むように作成するのが望ましい。
Next, an expression of the first
A specific method for obtaining this arithmetic expression is, for example, the change rate between the first and second
The analog value-engineering value conversion table 7 is created from a plurality of secondary coordinate values (analog values, measurement values) that satisfy the generated arithmetic expression. It is desirable to create the second secondary coordinate value 15b.
なお、第1の2次座標値15aは通常計測可能範囲11の下限値あるいはそれに近いアナログ値における2次座標値、また第3の2次座標値15aは通常計測可能範囲11の上限値あるいはそれに近いアナログ値における2次座標値であることが望ましく、工学値変換のために生成される演算式の信頼性が向上する。
The first
また、第1〜第3の2次座標値15a〜15cを全て用いて演算式を生成する方法を説明したが、両端の値である第1の2次座標値15aと第3の2次座標値15cとを用いて、以下のように演算式を生成しても良い。
図2に示すように、アナログ値の検出範囲に基づいて予め設定された2次座標上下限値としての公称上下限値13、12を用い、2次座標値Aとなる第1の2次座標値15aから公称下限値12に至る第3の直線19aの式と、2次座標値Bとなる第3の2次座標値15cから公称上限値13に至る第4の直線19bの式とをそれぞれ求め、これらの組み合わせに基づいて、横軸のアナログ値を縦軸の工学値に変換する演算式を生成する(ステップS4)。
Moreover, although the method of producing | generating a computing equation using all the 1st-3rd
As shown in FIG. 2, the first secondary coordinates that become the secondary coordinate value A using the nominal upper and
この場合、通常計測可能範囲11内の演算式は、上記第3の直線19aと第4の直線19bとを互いに交わるまでそれぞれ延長して用いても良いし、通常計測可能範囲11内に限定して第1の直線16aおよび第2の直線16bを用いても良い。前者の場合、ステップS1での計測値の計測を2点計測とすることができる。
この場合も、アナログ値−工学値変換テーブル7を作成するには、生成された演算式を満足する複数個の2次座標値(アナログ値、計測値)から作成するが、公称上下限値13、12および計測値に基づく2点あるいは3点の2次座標値を含むように作成するのが望ましい。
In this case, the arithmetic expression in the normal
In this case as well, in order to create the analog value-engineering value conversion table 7, it is created from a plurality of secondary coordinate values (analog values, measured values) that satisfy the generated arithmetic expression. , 12 and 2 or 3 secondary coordinate values based on the measurement value are preferably included.
以上のように生成された演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7は、公称上下限値13、12から得られる理論上の演算式が示す直線14とは異なり、実際の監視対象設備2の個体の実体に合致した工学計測値に基づく信頼性の高いものとなる。また、通常計測可能範囲11内のみで計測値を取得するため、計測値を容易に取得して、センサの検出範囲全体で用いる演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7を容易に生成できると共に、高い精度の必要な通常計測可能範囲11において、特に高精度な工学値変換が可能となる。
このように、容易で効率的に精度の高い演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7が生成でき、このような演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7を用いて工学値を取得するプラント監視装置1では、容易に精度の高い工学値を取得しでき、プラント監視の信頼性が向上する。
The arithmetic expression or the analog value-engineering value conversion table 7 generated as described above is different from the
In this way, an arithmetic expression or analog value-engineering value conversion table 7 with high accuracy can be generated easily and efficiently, and a plant for obtaining an engineering value using such an arithmetic expression or analog value-engineering value conversion table 7 The
実施の形態2.
上記実施の形態1では、通常計測可能範囲11外の工学値変換のために求める演算式を、第1の直線16aと第2の直線16bとの合成、あるいは第3の直線19aと第4の直線19bとの合成としたが、この実施の形態では、通常計測可能範囲11の下限側の場合と上限側の場合とに分けて、それぞれの場合で選択させるようにした。
この実施の形態においても、アナログ値−工学値変換テーブル7は、アナログ値を工学値に変換するための演算式に基づいて生成され、この演算式の生成方法を図2に示すグラフ、および図4に示すフローチャートに基づいて以下に詳述する。
監視対象設備2に接続され、プラントデータの工学値を計測するように校正された計測器4は、監視対象設備2の通常計測可能範囲11内で、3点計測する。この計測値は、それぞれセンサ3からのアナログ値に対応して計測し、この2次座標値(アナログ値、計測値)をアナログ値の昇順に、第1の2次座標値15a、第2の2次座標値15b、第3の2次座標値15cとする(ステップSS1)。
In the first embodiment, an arithmetic expression obtained for engineering value conversion outside the normal
Also in this embodiment, the analog value-engineering value conversion table 7 is generated based on an arithmetic expression for converting an analog value into an engineering value, and a method for generating this arithmetic expression is shown in the graph and FIG. This will be described in detail below based on the flowchart shown in FIG.
The measuring
次に、第1、第3の2次座標値15a、15c間の変化率Aを求める(ステップSS2)。この段階から、通常計測可能範囲11の下限側の場合と上限側の場合とに分けて演算式を生成するが、まず通常計測可能範囲11の下限側の場合には、第1、第2の2次座標値15a、15b間の変化率a12と、第1の2次座標値15a、公称下限値12間の変化率aLとをそれぞれ求め(ステップSS3)、変化率a12、変化率Aの差と変化率aL、変化率Aの差とをそれぞれの絶対値で比較し(ステップSS4)、等しいか前者が小さい場合、第2の2次座標値15bを起点として第1の2次座標値15aを通る第1の直線16aの式、およびセンサ3によるアナログ値の検出範囲に基づいて第1の直線16aの終点(計測下限値)17を求める(ステップSS5)。ステップSS4にて、後者が小さい場合は、第1の2次座標値15aから公称下限値12に至る第3の直線19aの式を求める(ステップSS6)。これにより、通常計測可能範囲11の下限側で、第1、第3の2次座標値15a、15c間の変化率Aに基づいて、第1、第3の直線16a、19aの内、変化率Aに近い変化率を有するいずれかの直線が選択される。
Next, a change rate A between the first and third secondary coordinate
また、通常計測可能範囲11の上限側の場合には、第2、第3の2次座標値15b、15c間の変化率a23と、第3の2次座標値15c、公称上限値13間の変化率aHとをそれぞれ求め(ステップSS7)、変化率a23、変化率Aの差と変化率aH、変化率Aの差とをそれぞれの絶対値で比較し(ステップSS8)、等しいか前者が小さい場合、第2の2次座標値15bを起点として第3の2次座標値15cを通る第2の直線16bの式、およびセンサ3によるアナログ値の検出範囲に基づいて第2の直線16bの終点(計測上限値)18を求める(ステップSS9)。ステップSS8にて、後者が小さい場合は、第3の2次座標値15cから公称上限値13に至る第4の直線19bの式を求める(ステップSS10)。これにより、通常計測可能範囲11の上限側で、第1、第3の2次座標値15a、15c間の変化率Aに基づいて、第2、第4の直線16b、19bの内、変化率Aに近い変化率を有するいずれかの直線が選択される。
Further, in the case of the upper limit side of the normal
このようにして、通常計測可能範囲11の下限側の場合と上限側の場合とに分けて、それぞれの場合で上記変化率Aに近い変化率を有する直線を選択して、これらの2直線の組み合わせに基づいて、横軸のアナログ値を縦軸の工学値に変換する演算式を生成する。
なお、ステップSS4、SS8での比較において、両者が等しい場合は、ステップSS5、SS9に進み第1、第2の直線16a、16bを選択させたが、ステップSS6、SS10に進み第3、第4の直線19a、19bを選択させるようにしても良い。
In this way, a straight line having a change rate close to the change rate A in each case is selected separately for the lower limit side and the upper limit side of the normal
In the comparison at steps SS4 and SS8, if both are equal, the process proceeds to steps SS5 and SS9 to select the first and second
この実施の形態においても、通常計測可能範囲11内の演算式は、上記選択された2直線を、互いに交わるまでそれぞれ延長して用いても良いし、第1の直線16aおよび第2の直線16bを用いても良い。
また、アナログ値−工学値変換テーブル7を作成するには、生成された演算式を満足する複数個の2次座標値(アナログ値、計測値)から作成し、計測下限値17、計測上限値18、公称上下限値13、12、計測値に基づく3点の2次座標値など、既に決定された値を含むように作成するのが望ましい。
Also in this embodiment, the arithmetic expression in the normal
Further, in order to create the analog value-engineering value conversion table 7, it is created from a plurality of secondary coordinate values (analog values, measurement values) that satisfy the generated arithmetic expression, and the measurement lower limit value 17, the measurement upper limit value. 18. It is desirable to create the values so as to include already determined values such as nominal upper and lower limit values 13 and 12 and three secondary coordinate values based on the measured values.
以上のように生成された演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7は、公称上下限値13、12から得られる理論上の演算式が示す直線14とは異なり、実際の監視対象設備2の個体の実体に合致した工学計測値に基づく信頼性の高いものとなる。また、通常計測可能範囲11内のみで計測値を取得するため、計測値を容易に取得して、センサの検出範囲全体で用いる演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7を容易に生成できると共に、高い精度の必要な通常計測可能範囲11において、特に高精度な工学値変換が可能となる。また、通常計測可能範囲11全体の変化率を代表する値である第1、第3の2次座標値15a、15c間の変化率Aに基づいて、変化率Aに近い変化率を有する直線を選択して演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7を生成しているため、より精度が高く信頼性の高いものとなる。
このように、容易で効率的に精度の高い演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7が生成でき、このような演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル7を用いて工学値を取得するプラント監視装置1では、容易に精度の高い工学値を取得しでき、プラント監視の信頼性が向上する。
The arithmetic expression or the analog value-engineering value conversion table 7 generated as described above is different from the
In this way, an arithmetic expression or analog value-engineering value conversion table 7 with high accuracy can be generated easily and efficiently, and a plant for obtaining an engineering value using such an arithmetic expression or analog value-engineering value conversion table 7 The
実施の形態3.
以下、この発明の実施の形態3について説明する。
図5はこの発明の実施の形態3によるプラント監視装置の概略構成を示したブロック図である。
この実施の形態では、図5に示すように、上記実施の形態1、2で示すプラント監視装置1の内部にアナログ値−工学値変換テーブル生成手段8を備えて、アナログ値−工学値変換テーブル7を生成させる。この場合、プラント監視装置1は、実際にプラントを監視する処理に先立って、アナログ値−工学値変換テーブル生成手段8にてアナログ値−工学値変換テーブル7を生成し、該テーブル7を記憶する。その後、センサ3からのプラントデータをアナログ値5aとして取り込み、工学値変換手段6において、設定されたアナログ値−工学値変換テーブル7を参照して入力されたアナログ値5aを工学値に変換する。
The third embodiment of the present invention will be described below.
5 is a block diagram showing a schematic configuration of a plant monitoring apparatus according to
In this embodiment, as shown in FIG. 5, the analog value-engineering value conversion table generating means 8 is provided inside the
アナログ値−工学値変換テーブル生成手段8でアナログ値−工学値変換テーブル7を生成するには、上記実施の形態1、2で示した生成方法を用いるもので、この場合、計測器4が通常計測可能範囲11内で2点あるいは3点計測した計測値4aは、計測器4からプラント監視装置1内のアナログ値−工学値変換テーブル生成手段8に入力される。また、この計測値4aと対応したセンサ3からのアナログ値5bは、信号入力手段5を介してプラント監視装置1に入力されてアナログ値−工学値変換テーブル生成手段8に送信される。この後、アナログ値−工学値変換テーブル生成手段8において、取得された2次座標値(アナログ値、計測値)および予め設定されている公称上下限値13、12に基づいて、上記実施の形態1、2で示した生成方法によりアナログ値−工学値変換テーブル7を生成する。
これにより、プラント監視装置1内で、人手を介さず自動的にアナログ値−工学値変換テーブル7を生成でき、生成されたアナログ値−工学値変換テーブル7をプラント監視装置1内に保持して工学値変換に用いる。
In order to generate the analog value-engineering value conversion table 7 by the analog value-engineering value conversion table generating means 8, the generation method shown in the first and second embodiments is used. Measurement values 4 a measured at two or three points within the
Thereby, the analog value-engineering value conversion table 7 can be automatically generated in the
なお、この場合も、アナログ値−工学値変換テーブル生成手段8はアナログ値を工学値に変換するための演算式の生成手段であっても良く、その場合、生成された演算式を保持して工学値変換に用いる。 Also in this case, the analog value-engineering value conversion table generating means 8 may be an arithmetic expression generating means for converting an analog value into an engineering value. In this case, the generated arithmetic expression is held. Used for engineering value conversion.
実施の形態4.
上記実施の形態1〜3では、アナログ値5aを工学値に変換するものを説明したが、図5に示すように、アナログ値5aを、A/D変換手段9によりカウント値9aに変換した後、カウント値−工学値変換テーブル10を用いて工学値に変換しても良い。
カウント値−工学値変換テーブル10は、カウント値9aを工学値に変換するための演算式に基づいて生成され、この演算式の生成は、上記実施の形態1、2で示した演算式の生成方法の手順で、アナログ値の替わりにアナログ値をA/D変換したカウント値を用いて同様に行うものである。カウント値−工学値変換テーブル10の替わりに演算式を記憶させて工学値変換に用いても良い。
この場合も、上記実施の形態1、2と同様に容易で効率的に精度の高い演算式あるいはカウント値−工学値変換テーブル10が生成でき、このような演算式あるいはカウント値−工学値変換テーブル10を用いて工学値を取得するプラント監視装置1では、容易に精度の高い工学値を取得しでき、プラント監視の信頼性が向上する。
In the first to third embodiments, the
The count value-engineering value conversion table 10 is generated based on an arithmetic expression for converting the
Also in this case, as in the first and second embodiments, an arithmetic expression or count value-engineering value conversion table 10 can be generated easily and efficiently with high accuracy. Such an arithmetic expression or count value-engineering value conversion table 10 can be generated. In the
1 プラント監視装置、2 監視対象設備、3(3−1〜3−n) センサ、
4 計測器、4a 計測工学値、5 アナログ信号入力手段としての信号入力手段、
5a,5b アナログ値、6 工学値変換手段、
7 工学値変換テーブルとしてのアナログ値−工学値変換テーブル、
9 A/D変換手段、9a カウント値、
10 工学値変換テーブルとしてのカウント値−工学値変換テーブル、
11 通常計測可能範囲、12 2次座標下限値としての公称下限値、
13 2次座標上限値としての公称上限値、
15a 第1の2次座標値(2次座標値A)、15b 第2の2次座標値、
15c 第3の2次座標値(2次座標値B)、16a 第1の直線、
16b 第2の直線、19a 第3の直線、19b 第4の直線。
1 plant monitoring device, 2 equipment to be monitored, 3 (3-1 to 3-n) sensor,
4 measuring instrument, 4a measurement engineering value, 5 signal input means as analog signal input means,
5a, 5b Analog value, 6 Engineering value conversion means,
7 Analog value-engineering value conversion table as engineering value conversion table,
9 A / D conversion means, 9a count value,
10 Count value-engineering value conversion table as engineering value conversion table,
11 Normal measurable range, 12 Nominal lower limit as secondary coordinate lower limit,
13 Nominal upper limit as secondary coordinate upper limit,
15a first secondary coordinate value (secondary coordinate value A), 15b second secondary coordinate value,
15c third secondary coordinate value (secondary coordinate value B), 16a first straight line,
16b 2nd straight line, 19a 3rd straight line, 19b 4th straight line.
Claims (7)
上記監視対象設備に接続され上記プラントデータを工学値として計測するように校正された計測器からの計測値を、上記監視対象設備の通常運転状態における計測可能範囲内で、それぞれ検出されたアナログ値あるいは該アナログ値をA/D変換したカウント値と対応させて複数個取得する第1のステップと、
該アナログ値あるいはカウント値であるデータ値と上記計測値とからなる複数の2次座標値に基づいて、データ値を工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを生成する第2のステップとを有することを特徴とするプラントデータ工学値変換方法。 In the plant data engineering value conversion method for converting the plant data of the monitored equipment from the detected analog value to the engineering value,
Measured values from measuring instruments connected to the monitored equipment and calibrated so as to measure the plant data as engineering values are respectively detected analog values within the measurable range in the normal operating state of the monitored equipment. Alternatively, a first step of acquiring a plurality of analog values corresponding to count values obtained by A / D conversion;
A second equation for generating an arithmetic expression or an engineering value conversion table for converting a data value into an engineering value based on a plurality of secondary coordinate values including the data value that is the analog value or the count value and the measured value. A plant data engineering value conversion method.
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2004
- 2004-12-03 JP JP2004351456A patent/JP2006163588A/en active Pending
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