JP2006146452A - Element correspondence table preparation device, similar circuit selection device, element correspondence table preparation method and similar circuit selection method - Google Patents

Element correspondence table preparation device, similar circuit selection device, element correspondence table preparation method and similar circuit selection method Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a similar circuit selection device capable of selecting the similar circuit by quickly and precisely executing the comparison of two circuits, and quantitatively calculating the similarity of the both circuits. <P>SOLUTION: This element correspondence table preparation device is provided with: an element corresponding means for preparing a correspondence table by associating the element e<SB>k</SB>of an existing design circuit with each element e<SB>j</SB>of the circuit diagram of the circuit diagram of a new design circuit for the circuit diagram of the existing design circuit; a first mean fly line distance calculating means for calculating the mean value of the distances of a fly line connected to the element e<SB>j</SB>of a position coordinate system on the circuit diagram plane for each element e<SB>j</SB>of the new design circuit; a second mean fly line distance calculating means for calculating the mean value of the distances of the fly line connected to the element e<SB>k</SB>of the position coordinate system on the circuit diagram plane for the element e<SB>k</SB>of the existing design circuit corresponding to the element e<SB>j</SB>in the association table; a similarity calculating means for calculating similarity by integrating the difference of the mean values of the distances of the both fly lines for all the elements of the new design circuit; and a selecting means for selecting the existing design circuit whose similarity is the maximum. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、半導体集積回路のレイアウト設計で用いられるCAD(Computer-Aided Design)装置などにおいて、既に設計されている回路(以下、「既設計回路」という。)と新しく設計した回路(以下、「新設計回路」という。)のような2つの回路を比較して、各回路内の素子の対応表を作成する素子対応表作成技術、及び、既設計回路のデータベースから新設計回路に近似するものを検索する場合などに用いられる類似回路選出技術に関する。   The present invention is a CAD (Computer-Aided Design) apparatus used in layout design of a semiconductor integrated circuit, etc., and an already designed circuit (hereinafter referred to as “already designed circuit”) and a newly designed circuit (hereinafter referred to as “ "Element design table" technology that compares two circuits such as "new design circuit" and creates a correspondence table for the elements in each circuit, and an approximation to the new design circuit from the database of already designed circuits The present invention relates to a technique for selecting a similar circuit used when searching for a network.

近年、半導体集積回路の大規模化かつ複雑化が進み、回路設計を加速化し設計期間を短縮することが大きな課題となっている。そこで、回路設計の加速化の一手段として、既設計回路モジュール(IP:Intellectual Property)を積極的に再利用することで設計効率を上げる設計スタイル(以下、「IPベース設計」という。)が注目されている。デジタル回路設計の分野においては、IPベース設計が一般に普及しつつある。しかし、アナログ回路のIPベース設計は、まだ一般的ではない。   In recent years, semiconductor integrated circuits have become larger and more complex, and it has become a major issue to accelerate circuit design and shorten the design period. As a means of accelerating circuit design, a design style that raises design efficiency by actively reusing already-designed circuit modules (IP: Intellectual Property) (hereinafter referred to as “IP-based design”) is drawing attention. Has been. In the field of digital circuit design, IP-based design is becoming popular. However, IP-based design of analog circuits is not yet common.

アナログ回路のIPベース設計においては、既設計回路をデータベース化し、新設計回路に類似した既設計回路をデータベースから高速に検索し選出する。選出された既設計回路のレイアウトを参照することによって、新設計回路のレイアウトを作成することで、設計効率を上げることができる。このようなアナログ回路のIPベース設計を実現するためには、新設計回路と既設計回路との類似性を判定し、適切な既設計回路を選出する必要がある。また、選出された既設計回路と新設計回路との間で、どの素子がどの素子に対応しているかに関する素子の対応表を作成することが必要となる。   In the IP-based design of analog circuits, the already designed circuit is made into a database, and the already designed circuit similar to the newly designed circuit is searched and selected from the database at high speed. By referring to the layout of the selected already-designed circuit, the design efficiency can be improved by creating the layout of the newly designed circuit. In order to realize such an IP-based design of an analog circuit, it is necessary to determine the similarity between a newly designed circuit and an already designed circuit, and to select an appropriate already designed circuit. In addition, it is necessary to create an element correspondence table regarding which element corresponds to which element between the selected already-designed circuit and new design circuit.

2つの回路の類似性を判定する方法については、回路の同型判定手法として、従来から多くの研究がなされている。以下、従来の回路の同型判定手法について俯瞰する。   Regarding the method for determining the similarity between two circuits, many studies have been made as a method for determining the same type of circuit. Hereinafter, an overview of the conventional circuit homomorphic determination method will be described.

非特許文献1に記載の回路の同型判定手法は、アナログ・バイポーラ回路に特化し、参照回路のレイアウトと対象回路のネットリストとの同型性を判定する手法である。この手法では、まず、参照回路のレイアウト上からデバイスを認識する。次に、レイアウトとデバイスとの対応関係を利用して、レイアウト上でデバイスをシンボルに置き換え、配線を幅のないパスに置き換える。これにより、レイアウトを考慮した参照回路の回路図を作成する。次に、デバイス間を接続する配線パスのトレースを行うことにより、同電位のパスの集合を抽出する。この各パスの集合を同じネットとみなし、ネットリストを作成する。最後に、参照回路のレイアウトから作成されたネットリストと、入力で与えられた対象回路のネットリストとの同型判定を行う。尚、ここでは、ネットリストの縮約処理が利用されている。   The circuit isomorphism determination method described in Non-Patent Document 1 is a method specialized in analog / bipolar circuits and determining the homogeneity between the layout of the reference circuit and the netlist of the target circuit. In this method, first, a device is recognized from the layout of the reference circuit. Next, using the correspondence between the layout and the device, the device is replaced with a symbol on the layout, and the wiring is replaced with a path having no width. Thereby, a circuit diagram of the reference circuit in consideration of the layout is created. Next, a set of paths having the same potential is extracted by tracing wiring paths connecting the devices. A set of each path is regarded as the same net, and a net list is created. Finally, the same type determination is performed between the net list created from the layout of the reference circuit and the net list of the target circuit given as input. Here, a netlist reduction process is used.

非特許文献2に記載の回路の同型判定手法は、2つの回路図の同型判定を行う手法である。この手法では、まず、2つの回路図のそれぞれについて、回路図の直流パスをトレースすることにより、回路を機能単位に分割する。そして、グラフ・マッチングを利用して、その機能単位の対応関係を調べる。次いで、各機能単位の中で、信号ネットの対応関係を調べるために、ネットリストのトポロジー同型判定、又は論理等価判定を行う。これにより、両回路の同型判定が行われる。   The circuit isomorphism determination method described in Non-Patent Document 2 is a method of performing isomorphism determination of two circuit diagrams. In this method, for each of two circuit diagrams, the circuit is divided into functional units by tracing the DC path of the circuit diagram. Then, the correspondence between the functional units is examined using graph matching. Next, in order to examine the correspondence between the signal nets in each functional unit, the topology homomorphism determination or logical equivalence determination of the netlist is performed. Thereby, the same type determination of both circuits is performed.

非特許文献3に記載の回路の同型判定手法は、回路のネットリストから、設計者が入力として与えるゲート、フリップ・フロップ、メモリ、差動アンプ等の部分回路ブロックを抽出する手法である。この作業は、部分回路のパターン・マッチングによって行われる。パターン・マッチングは、(1)回路内のデバイスごとにピン重みを設定し、(2)回路のネットリストに対応するグラフを作成し、(3)そのグラフ上で、各デバイスのピンの重みを伝搬させ、この重み付きグラフを比較することによって行われる。   The circuit isomorphism determination method described in Non-Patent Document 3 is a method of extracting partial circuit blocks such as gates, flip-flops, memories, and differential amplifiers, which are given as inputs from a circuit netlist. This operation is performed by pattern matching of partial circuits. For pattern matching, (1) pin weights are set for each device in the circuit, (2) a graph corresponding to the netlist of the circuit is created, and (3) the pin weights of each device on the graph. This is done by propagating and comparing this weighted graph.

非特許文献4に記載の回路の同型判定手法は、回路機能の同型性を利用して、回路のネットリストの同型判定を行う手法である。この手法は、(1)ネットリストの縮約処理、(2)ネットリストのトポロジー同型判定処理、(3)ルール・ベースの同型機能判定処理、の3つの技術的特徴を含むものである。   The circuit isomorphism determination method described in Non-Patent Document 4 is a method of performing isomorphism determination of a circuit netlist using the isomorphism of circuit functions. This technique includes three technical features: (1) netlist reduction processing, (2) netlist topology isomorphism determination processing, and (3) rule-based isomorphic function determination processing.

非特許文献5に記載の回路の同型判定手法では、ネットリスト上で、接地から電源線までのデバイス間の接続関係に従って、各デバイスと各ネットに対して重み付けを行う。そして、このデバイスとネットの重みの大きさに基づいて部分回路の同型判定を行うものである。   In the circuit isomorphism determination method described in Non-Patent Document 5, each device and each net are weighted according to the connection relationship between the devices from the ground to the power supply line on the net list. Then, the partial circuit isomorphism determination is performed based on the weight of the device and the net.

非特許文献6に記載の回路の同型判定手法は、回路から階層情報を抽出し、回路上の誤り検出や機能の等価性判定を行うための手法である。この手法では、レイアウトから抽出したネットリストと階層化されたネットリストとの対応関係を調べるために、部分回路のパターン・マッチングを利用する。まず、各ネットリスト上で、接地から電源線までのデバイス間の接続関係に従って、各デバイスとネットに対して重み付けを行う。そして、このデバイスとネットの重みの大きさに基づき、部分回路の同型判定を行い、回路上の誤りを検出する。更に、端子の並びやグループ化を利用して、階層的にパターン・マッチングを適用する手法が記載されている。   The circuit isomorphism determination method described in Non-Patent Document 6 is a method for extracting hierarchical information from a circuit and performing error detection and functional equivalence determination on the circuit. In this method, pattern matching of a partial circuit is used in order to examine the correspondence between the netlist extracted from the layout and the hierarchical netlist. First, on each net list, each device and net are weighted according to the connection relationship between the devices from the ground to the power supply line. Based on the weights of the device and the net, the partial circuit isomorphism is determined to detect an error on the circuit. Furthermore, a method of applying pattern matching in a hierarchical manner using terminal arrangement and grouping is described.

また、特許文献1,2には、検査対象回路の中に特定回路が含まれているか否かを検索する手法が記載されている。この手法では、(1)まず、特定回路について、その回路内の各素子における各端子に対して、その端子に接続されたネットに番号付けを行う。(2)次に、番号付けされた各ネットと、そのネットに接続する1乃至複数の素子とを対応させた対応表を作成する。その際、対応表において、各ネットをそのネットに流れる電流値の順に整列する。(3)同様に、検査対象回路についても(1)(2)の処理を行い対応表を作成する。(4)そして、検査対象回路と特定回路の対応表の比較を行うことにより、検査対象回路に特定回路が含まれているかどうかの判定を行う。
特開平5−290115号公報 特開平5−290116号公報 Erich Barke, "A layout verification system for analog bipolar integrated circuits", Proc. IEEE/ACM Design Automation Conference, pp.353-359, 1983. Ning-San Chang, Ravi M. Apte, "Consistency checking for MOS/VLSI circuits", Proc. IEEE/ACM Design Automation Conference, pp.732-733, 1983. F. Luellau, T. Hoepken and E. Barke, "A technology independent block extraction algorithm", Proc. IEEE/ACM Design Automation Conference, pp.610-615, 1984. Makoto Takashima, Atsuhiko Ikeuchi, Shoichi Kojima, Toshikazu Tanaka, Tamaki Saitou, Jun-ichi Sakata, "A circuit comparison system with rule-based functional isomorphism checking", Proc. IEEE/ACM Design Automation Conference, pp.512-516, 1988. M. Ohlrich, C. Ebeling and E. Ginting, "SubGemini: Identifying subcircuits using a fast subgraph isomorphism algorithm", Proc. IEEE/ACM Design Automation Conference, pp. 31-37, 1993. G. Pelz and U. Roettcher, "Pattern matching and refinement hybrid approach to circuit comparison", IEEE Transactions on Computer-Aided Design, vol.13, no.2, pp.264-275, Feb. 1994.
Patent Documents 1 and 2 describe a method for searching whether or not a specific circuit is included in a circuit to be inspected. In this method, (1) First, for a specific circuit, for each terminal in each element in the circuit, a net connected to the terminal is numbered. (2) Next, a correspondence table is created in which each numbered net is associated with one or more elements connected to the net. At that time, in the correspondence table, the nets are arranged in the order of the current values flowing through the nets. (3) Similarly, the processing of (1) and (2) is performed for the circuit to be inspected to create a correspondence table. (4) Then, by comparing the correspondence table between the circuit to be inspected and the specific circuit, it is determined whether or not the specific circuit is included in the circuit to be inspected.
Japanese Patent Laid-Open No. 5-290115 JP-A-5-290116 Erich Barke, "A layout verification system for analog bipolar integrated circuits", Proc. IEEE / ACM Design Automation Conference, pp.353-359, 1983. Ning-San Chang, Ravi M. Apte, "Consistency checking for MOS / VLSI circuits", Proc. IEEE / ACM Design Automation Conference, pp.732-733, 1983. F. Luellau, T. Hoepken and E. Barke, "A technology independent block extraction algorithm", Proc. IEEE / ACM Design Automation Conference, pp.610-615, 1984. Makoto Takashima, Atsuhiko Ikeuchi, Shoichi Kojima, Toshikazu Tanaka, Tamaki Saitou, Jun-ichi Sakata, "A circuit comparison system with rule-based functional isomorphism checking", Proc. IEEE / ACM Design Automation Conference, pp.512-516, 1988 . M. Ohlrich, C. Ebeling and E. Ginting, "SubGemini: Identifying subcircuits using a fast subgraph isomorphism algorithm", Proc. IEEE / ACM Design Automation Conference, pp. 31-37, 1993. G. Pelz and U. Roettcher, "Pattern matching and refinement hybrid approach to circuit comparison", IEEE Transactions on Computer-Aided Design, vol.13, no.2, pp.264-275, Feb. 1994.

上記従来の手法は、大きく分類すると、機能ベースの回路の構造認識と回路のパターン・マッチングに分けられる。アナログ回路のIPベース設計においては、デジタル回路に比べてIPの機能が極めて多様であるため、特に回路のパターン・マッチングの手法が重要である。従来のパターン・マッチングの手法としては、ネットリストからトポロジー同型判定を行う手法と、素子とネットにラベル付けを行って対応表を作成する手法に分けられる。   The conventional methods can be broadly classified into function-based circuit structure recognition and circuit pattern matching. In IP-based design of analog circuits, the IP pattern functions are extremely diverse compared to digital circuits, so circuit pattern matching techniques are particularly important. Conventional pattern matching methods can be divided into a method for determining topology isomorphism from a net list and a method for creating a correspondence table by labeling elements and nets.

ネットリストからトポロジー同型判定を行う手法では、2つの回路のネットリストをそれぞれグラフに対応づけて、2つのグラフ間でノードとエッジの1対1の一致を見つけることによって同型判定が行われる。しかし、トランジスタ・レベルの回路の中で、グラフ間の各ノード及びエッジの1対1の比較によって同型回路を発見する問題は、NP完全問題(NP-complete problem)であり、アルゴリズムの実行速度が極めて遅くなる。素子とネットにラベル付けを行って対応表を作成する手法についても同様である。特に、多数のIPデータベース中から特定の回路を選出する場合には、アルゴリズムの実行速度の問題が顕在化する。   In the method of performing topology isomorphism determination from a netlist, isomorphism determination is performed by associating netlists of two circuits with graphs, respectively, and finding a one-to-one correspondence between nodes and edges between the two graphs. However, in the transistor level circuit, the problem of finding the isomorphic circuit by comparing each node and edge between graphs is NP-complete problem, and the execution speed of the algorithm is Extremely slow. The same applies to the method of creating a correspondence table by labeling elements and nets. In particular, when a specific circuit is selected from a large number of IP databases, the problem of algorithm execution speed becomes obvious.

また、従来の手法は、入力された回路と同一性を判定する手法であり、入力された回路に類似していることを判定することはできない。一般に、互いに類似する回路は、レイアウト構造も類似する場合が多い。従って、既設計回路から新設計回路に類似する回路を選出し、これを設計資源として再利用することは、回路設計の加速化につながり有効である。しかしながら、従来の手法では、類似回路の抽出まではできないため、既設計回路の設計資源の活用を有効に行うことができないという問題がある。   Further, the conventional method is a method for determining the identity with the input circuit, and cannot determine that the input circuit is similar. In general, circuits similar to each other often have similar layout structures. Therefore, selecting a circuit similar to the new design circuit from the already designed circuit and reusing it as a design resource is effective in accelerating circuit design. However, since the conventional method cannot extract similar circuits, there is a problem that the design resources of the already designed circuit cannot be effectively used.

そこで、本発明の目的は、2つの回路の比較を高速かつ比較的高精度で実行し、各回路に含まれる素子の対応表を作成する素子対応表作成技術を提供することにある。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an element correspondence table creation technique for creating a correspondence table of elements included in each circuit by executing a comparison between two circuits with high speed and relatively high accuracy.

また、本発明の目的は、2つの回路の比較を高速かつ比較的高精度で実行するとともに、両回路の類似性を類似度として定量的に算出することによって、類似回路までも選出することが可能な類似回路選出技術を提供することにある。   The object of the present invention is to perform comparison of two circuits at high speed and with relatively high accuracy, and to select even similar circuits by quantitatively calculating the similarity between both circuits as the similarity. The object is to provide a technique for selecting similar circuits.

一般に、回路を設計する設計者は、信号の流れに従って、左から右又は上から下のように一定の方向に向かって回路図を作成する傾向がある。そのため、同一又は類似の2つの回路では、一方の回路に含まれる素子の回路図上の位置(及び順序関係)と他方の回路に含まれる素子の回路図上の位置(及び順序関係)とは或る程度の相関がある場合が多いという経験則がある。本発明は、この経験則を利用して、2つの回路の各素子の回路図平面上における位置情報又は位置関係情報を利用して回路の同型・類似判定を高速に実行するようにしたものである。   In general, a designer who designs a circuit tends to create a circuit diagram in a certain direction from left to right or from top to bottom in accordance with a signal flow. Therefore, in two identical or similar circuits, the position (and order relationship) of elements included in one circuit and the position (and order relationship) of elements included in the other circuit are There is an empirical rule that there is often a certain degree of correlation. In the present invention, this rule of thumb is used to perform the same type / similarity determination of a circuit at high speed using position information or positional relationship information on the circuit diagram plane of each element of two circuits. is there.

以下の説明では、まず本明細書で使用する主要な用語について定義し、その後本発明の構成及び作用について説明する。   In the following description, first, main terms used in this specification will be defined, and then the configuration and operation of the present invention will be described.

〔1〕用語の定義
(定義1)素子
トランジスタ、抵抗、コンデンサ等の独立した固有の機能を持つ個々の部品(要素)を「素子」という。尚、パットも素子に含まれるものとする。素子をei(iは素子を識別する添字)と記し、すべての素子の集合(以下「素子集合」という。)をE={e,e,…,eNe}と記す。Neは素子の総数である。トランジスタ、抵抗、コンデンサ等のような素子eiの機能属性を「デバイスの種類」といい、Dev(ei)と記す。また、素子eiの大きさをSize(ei)と記す。素子eiの大きさを表す量としては、素子eiのレイアウトの面積S(ei)、幅w(ei)、高さh(ei)等の大きさを代表する値が使用される。素子における信号や電源の入出力部分を「端子」という。素子ei(∈E)に含まれる端子をtj(ei)(jは端子を識別する添字)と記し、素子ejに含まれるすべての端子の集合(以下「端子集合」という。)をT(ei)={t(ei),t(ei),…,tNti(ei)}と記す。 (定義終り)
[1] Definition of terms (Definition 1) Elements Individual components (elements) having independent and unique functions such as transistors, resistors, capacitors, etc. are referred to as “elements”. Note that a pad is also included in the element. An element is described as e i (i is a subscript for identifying the element), and a set of all elements (hereinafter referred to as “element set”) is expressed as E = {e 1 , e 2 ,..., E Ne }. Ne is the total number of elements. A functional attribute of the element e i such as a transistor, a resistor, and a capacitor is referred to as “device type” and is referred to as Dev (e i ). The size of the element e i is denoted as Size (e i ). The amount representing the size of the element e i, the area S (e i) of the layout of the elements e i, a width w (e i), a value representing the magnitude of such height h (e i) is used The An input / output portion of a signal or power supply in an element is called a “terminal”. A terminal included in the element e i (∈E) is denoted as t j (e i ) (j is a subscript for identifying the terminal), and a set of all terminals included in the element e j (hereinafter referred to as “terminal set”). Is expressed as T (e i ) = {t 1 (e i ), t 2 (e i ),..., T Nti (e i )}. (End of definition)

(定義2)ネット
素子集合Eの部分集合Ek(⊆E)に属する各素子の端子間を接続する接続線を「ネット」といい、netk(kはネットを識別する添字)と記す。すべてのネットnetkの集合(以下「ネット集合」という。)をNet={net,net,…netNn}と記す。Nnはネットの総数である。特に、素子ei(∈E)の端子tj(ei)(∈T(ei))に接続するネットをnet(tj(ei))と記し、ネットnet(tj(ei))により端子tj(ei)に接続された端子の集合をT(net(tj(ei)))と記す。 (定義終り)
(Definition 2) Net A connection line connecting the terminals of each element belonging to the subset E k (⊆E) of the element set E is referred to as “net”, and net k (k is a subscript for identifying the net). A set of all net net k (hereinafter referred to as “net set”) is denoted as Net = {net 1 , net 2 ,... Net Nn }. Nn is the total number of nets. In particular, marked terminal t j of the element e i (∈E) (e i ) (∈T (e i)) the net connected to the net (t j (e i) ), the net net (t j (e i )), The set of terminals connected to the terminal t j (e i ) is denoted as T (net (t j (e i ))). (End of definition)

(定義3)回路
素子集合E及びネット集合Netの組(E,Net)を「回路」といい、C=(E,Net)と記す。回路Cが与えられたときに、その回路Cに含まれる素子の集合をE(C)、ネットの集合をNet(C)と記す。また、集合E(C)に属する素子をei(C)、集合Net(C)に属する素子をnetj(C)と記す。 (定義終り)
(Definition 3) Circuit A set (E, Net) of the element set E and the net set Net is called “circuit”, and is written as C = (E, Net). When a circuit C is given, a set of elements included in the circuit C is denoted as E (C), and a set of nets is denoted as Net (C). An element belonging to the set E (C) is referred to as e i (C), and an element belonging to the set Net (C) is referred to as net j (C). (End of definition)

(定義4)回路図
回路Cを構成する素子及びネットを、図形記号により2次元平面上に表した図面を「回路図」といい、SCH(C)と記す。回路図が表された平面を「回路図平面」という。回路図平面における素子ei(∈E)の代表点の位置を表す座標(以下「素子座標」という。)を(x(ei),y(ei))と記し、端子tj(∈T(ei))の代表点の位置を表す座標(以下「端子座標」という。)を(x(tj),y(tj))と記す。素子eiに対して素子座標(x(ei),y(ei))を対応させて素子eiの位置を表す仕組みを「位置座標系」という。 (定義終り)
(Definition 4) Circuit Diagram A drawing in which elements and nets constituting the circuit C are represented on a two-dimensional plane by graphic symbols is referred to as a “circuit diagram” and is referred to as SCH (C). The plane on which the circuit diagram is represented is called “circuit diagram plane”. The coordinates (hereinafter referred to as “element coordinates”) representing the position of the representative point of the element e i (∈E) on the circuit diagram plane are denoted as (x (e i ), y (e i )) and the terminal t j (∈ The coordinates representing the position of the representative point of T (e i )) (hereinafter referred to as “terminal coordinates”) are denoted as (x (t j ), y (t j )). A mechanism for representing the position of the element e i by associating the element coordinates (x (e i ), y (e i )) with the element e i is referred to as a “position coordinate system”. (End of definition)

(定義5)ネットリスト
回路Cの素子間の接続状態を表現したデータを「ネットリスト」といい、NL(C)と記す。 (定義終り)
(Definition 5) Netlist The data expressing the connection state between the elements of the circuit C is called “netlist” and is described as NL (C). (End of definition)

(定義6)左右(水平)順序
素子集合E(C)に属する任意の2つの素子ei,ej(∈ E(C))の対(ei, ej)について、回路図SCH(C)の回路図平面における関係x(ei)≦x(ej)が成り立つとき、素子eiは素子ejの「左にある」(又は、素子ejは素子eiの「右にある」)という。 (定義終り)
(Definition 6) Right-and-left (horizontal) order For a pair (e i , e j ) of any two elements e i , e j (∈ E (C)) belonging to the element set E (C), the circuit diagram SCH (C when the relationship x in the circuit diagram plane) (e i) ≦ x ( e j) is satisfied, the elements e i "to the left" of elements e j (or the element e j is "to the right of the element e i "). (End of definition)

(定義7)上下(垂直)順序
素子集合E(C)に属する任意の2つの素子ei, ej (∈E(C))の対(ei, ej)について、回路図SCH(C)の回路図平面における関係y(ei)≦y(ej)が成り立つとき、素子eiは素子ejの「下にある」(又は、素子ejは素子eiの「上にある」)という。 (定義終り)
(Definition 7) Up / Down (Vertical) Order For a pair (e i , e j ) of any two elements e i , e j (∈ E (C)) belonging to the element set E (C), the circuit diagram SCH (C when the relationship y in the circuit diagram plane) (e i) ≦ y ( e j) is satisfied, the elements e i "beneath" the element e j (or the element e j being "on the element e i "). (End of definition)

(定義8)シーケンス・ペア
Ne個の素子(元)からなる素子集合E={e1, e2, … , eNe}が与えられたとする。集合Eのすべての元の順列(sequence)である2つの素子順列をP=(p1, p2, … , pNe)(∀pi∈E)及びM=(m1, m2, … , mNe) (∀mi∈E)と記す。このとき、2つの順列P,Mの対(P, M)を「シーケンス・ペア(sequence pair)」という。
(定義終り)
(Definition 8) Sequence pair
Assume that an element set E = {e 1 , e 2 ,..., E Ne } including Ne elements (elements) is given. Two element permutations that are all the original permutations of set E are P = (p 1 , p 2 ,…, p Ne ) (∀p i ∈E) and M = (m 1 , m 2 ,… , m Ne ) (∀m i ∈E). At this time, a pair (P, M) of two permutations P, M is referred to as a “sequence pair”.
(End of definition)

(定義9)素子配置のシーケンス・ペア
回路Cに対して回路図SCH(C)が与えられ、回路Cの素子集合E(C)に属するすべての素子について、シーケンス・ペア(P,M)が与えられたとする。素子ei(∈E(C))の素子順列Pにおける順序をα(ei)、素子順列Mにおける順序をβ(ei)と記す。すなわち、
(Definition 9) Sequence pair of element arrangement A circuit diagram SCH (C) is given to the circuit C, and for all elements belonging to the element set E (C) of the circuit C, the sequence pair (P, M) is Suppose you are given. The order in the element permutation P of the element e i (∈E (C)) is denoted as α (e i ), and the order in the element permutation M is denoted as β (e i ). That is,

Figure 2006146452
である。ある素子配置において、素子順列P,Mが式(2)の関係を満たしている場合、シーケンス・ペア(P,M)を回路図SCH(C)における「素子配置のシーケンス・ペア」という。
Figure 2006146452
It is. In a certain element arrangement, when the element permutations P and M satisfy the relationship of the expression (2), the sequence pair (P, M) is referred to as an “element arrangement sequence pair” in the circuit diagram SCH (C).

Figure 2006146452
Figure 2006146452

尚、素子ei(∈E(C))の代わりに素子eiに含まれる一つの端子tl(∈T(ei))が与えられた場合には、素子eiの素子順列Pにおける順序α(ei)の代わりにα(tl)、素子順列Mにおける順序β(ei)の代わりにβ(tl)と記す場合もある。 (定義終り) When one terminal t l (∈T (e i )) included in the element e i is given instead of the element e i (∈E (C)), the element permutation P of the element e i order alpha in place of (e i) α (t l ), sometimes referred to as beta (t l) in place of the sequence beta (e i) in the element permutation M. (End of definition)

(定義10)シーケンス・ペア座標、シーケンス・ペア距離
回路Cに対して回路図SCH(C)が与えられ、回路Cの素子集合E(C)に属するすべての素子についてシーケンス・ペア(P,M)が与えられたとする。素子ei(∈E(C))の順列P,Mにおける順序をα(ei),β(ei)と記す。このとき、素子eiに対する順序対(α(ei),β(ei))を「シーケンス・ペア座標」という。素子eiに対してシーケンス・ペア座標(α(ei),β(ei))を対応させて素子eiの順序関係を表す仕組みを「シーケンス・ペア座標系」という。シーケンス・ペア座標系において、任意の2つの素子ei,ejの間にシーケンス・ペア座標の関数として定義される距離を「シーケンス・ペア距離」といい、ds(ei,ej)と記す。ここで、シーケンス・ペア距離ds(ei,ej)は、素子集合Eの任意の2つの元の対に対して実数を対応させる、以下の3条件を満たすような写像ds:E×E→Rである。
(Definition 10) Sequence pair coordinates, sequence pair distance A circuit diagram SCH (C) is given to the circuit C, and the sequence pair (P, M for all elements belonging to the element set E (C) of the circuit C is given. ) Is given. The order of the elements e i (∈E (C)) in the permutations P and M is denoted as α (e i ) and β (e i ). At this time, the ordered pair (α (e i ), β (e i )) for the element e i is referred to as “sequence pair coordinates”. A mechanism representing the order relationship of the elements e i by associating the sequence pair coordinates (α (e i ), β (e i )) with the element e i is referred to as a “sequence pair coordinate system”. In the sequence pair coordinate system, a distance defined as a function of sequence pair coordinates between any two elements e i and e j is called “sequence pair distance”, and d s (e i , e j ) . Here, the sequence pair distance d s (e i , e j ) is a mapping d s : E that makes the real number correspond to any two original pairs of the element set E and satisfies the following three conditions: × E → R.

Figure 2006146452
(定義終り)
Figure 2006146452
(End of definition)

シーケンス・ペア距離の例としては、マンハッタン距離ds(ei,ej)=|α(ei)−α(ej)|+|β(ei)−β(ej)|やユークリッド平方距離ds(ei,ej)=|α(ei)−α(ej)|+|β(ei)−β(ej)|などがある。 Examples of sequence pair distances include Manhattan distance d s (e i , e j ) = | α (e i ) −α (e j ) | + | β (e i ) −β (e j ) | or Euclidean squared distance d s (e i, e j ) = | α (e i) -α (e j) | 2 + | β (e i) -β (e j) | 2 , and the like.

(定義11)回路図の変換
回路図平面において、回路図SCH(C)内の各素子ei(∈E(C))の座標を(x(ei),y(ei))と記す。回路図SCH(C)内のすべての素子ei(∈E(C))に対し、その座標(x(ei),y(ei))に座標変換(xn(ei),yn(ei))=fn(x(ei),y(ei))(但し、fnは変換関数)を施すことによって得られる回路図をSCHn(C)と記す。回路図SCH(C)から回路図SCHn(C)への変換を「回路図の変換」といい、fn:SCH(C)→SCHn(C)と記す。 (定義終り)
(Definition 11) Circuit Diagram Conversion On the circuit diagram plane, the coordinates of each element e i (∈E (C)) in the circuit diagram SCH (C) are denoted as (x (e i ), y (e i )). . For all elements e i (∈E (C)) in the circuit diagram SCH (C), the coordinate transformation (x n (e i ), y) to its coordinates (x (e i ), y (e i )) n (e i )) = f n (x (e i ), y (e i )) (where f n is a conversion function), the circuit diagram obtained is denoted as SCH n (C). The conversion from the circuit diagram SCH (C) to the circuit diagram SCH n (C) is referred to as “circuit diagram conversion” and is expressed as f n : SCH (C) → SCH n (C). (End of definition)

(定義12)対応関数、対応表
2つの回路をCN,CPとする。回路図SCH(CN)に属する1つの素子ej(∈E(CN))と回路図SCH(CP)に属する1つの素子ek(∈E(CP))とを対応づける関数を「対応関数」といい、Mapと記す。
回路図SCH(CN)に属する1つの素子ej(∈E(CN))と、回路図SCH(CP)から回路図の変換fnにより得られる回路図SCHn(CP)に属する1つの素子ek(∈E(CP))とを対応づける対応関数をMapnで表す。Mapn(ej)=ek(又はMapn(ek)=ej)である。
回路図SCH(CN)のすべての素子ej(∈E(CN))とそれに対応づけられた素子ek=Mapn(ej)(∈E(CP))との組をテーブルにしたものを「対応表」といい、Mn(CN, CP)と記す。
(定義終り)
(Definition 12) Corresponding function, correspondence table Let two circuits be C N and C P. A function for associating one element e j (∈E (C N )) belonging to the circuit diagram SCH (C N ) with one element e k (∈E (C P )) belonging to the circuit diagram SCH (C P ) Is called "corresponding function" and is written as Map.
One element e j (∈E (C N )) belonging to the circuit diagram SCH (C N ) and a circuit diagram SCH n (C P ) obtained from the circuit diagram SCH (C P ) by a circuit diagram conversion f n A correspondence function that associates one element e k (∈E (C P )) to which it belongs is represented by Map n . Map n (e j ) = e k (or Map n (e k ) = e j ).
Table shows a set of all elements e j (∈E (C N )) of circuit diagram SCH (C N ) and elements e k = Map n (e j ) (∈E (C P )) associated with them This is referred to as a “correspondence table” and written as M n (C N , C P ).
(End of definition)

〔2〕本発明の構成及び作用
本発明に係る素子対応表作成装置の第1の構成は、2つの回路CN,CPについて、回路CNに含まれる素子と回路CPに含まれる素子との対応表を作成する素子対応表作成装置であって、2つの回路CN,CPの回路図を記憶する回路記憶手段と、前記回路記憶手段に記憶された前記回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、前記回路記憶手段に記憶された前記回路CPの回路図に含まれる各素子のうち、前記素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であって、且つ所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)とを対応づけることにより、対応表を作成する素子対応手段と、を備えていることを特徴とする。
[2] The first configuration of the device correspondence table creating device according to the construction and operation of the Invention The present invention two circuits C N, the C P, elements included in the element and the circuit C P included in the circuit C N a device correspondence table creating unit that creates a correspondence table between a circuit diagram of the two circuits C N, C and circuit storage means for storing a circuit diagram of a P, the circuit C N stored in the circuit storage unit for each element e j (C N) contained in, among the elements included in the circuit diagram of the circuit C P stored in the circuit memory device, the device e j (C N) and device types be the same, and the element is calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented at a predetermined distance space coordinate system e j (C N) element distance is minimum between e k ( C P ) is associated with element correspondence means for creating a correspondence table.

回路CNに含まれる素子ej(CN)に回路CPに含まれる素子を対応づける場合、素子のデバイスが異なれば対応しないことは明らかである。従って、素子対応手段は、まず回路CPに含まれる素子から、素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であるもののみを候補として選択する。 When associating elements included in the circuit C P to the element e j (C N) included in the circuit C N, it is clear that not correspond Different devices element. Accordingly, elements corresponding means, first from elements included in the circuit C P, selects only elements e j (C N) to those types of devices are identical as a candidate.

更に、上述のように、同一又は類似の2つの回路では、一方の回路に含まれる素子の回路図上の位置(及び順序関係)と他方の回路に含まれる素子の回路図上の位置(及び順序関係)とは或る程度の相関がある場合が多いという経験則がある。また、回路CN,CPの回路図平面上の各素子の座標は、その回路図内における各素子の位置関係又は順序関係の情報が含まれている。そこで、素子対応手段は、上記の選択がされた素子の中で、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)を選択し、これを素子ej(CN)と対応づける。これにより、比較的高い精度で素子ej(CN)と素子ek(CP)との対応付けを行うことが可能となる。 Further, as described above, in two identical or similar circuits, the position (and order relation) of the elements included in one circuit and the position (and order relation) of the elements included in the other circuit (and There is an empirical rule that there is often a certain degree of correlation with (order relation). Further, the coordinates of each element on the circuit diagram plane of the circuits C N and C P include information on the positional relationship or order relationship of each element in the circuit diagram. Therefore, the element correspondence means is the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the predetermined metric space coordinate system among the elements selected above. The element e k (C P ) having the smallest distance between them is selected, and this is associated with the element e j (C N ). This makes it possible to associate the element e j (C N ) with the element e k (C P ) with relatively high accuracy.

また、素子対応手段で必要とされる主要な演算処理は、デバイスの種類の比較判定及び素子間距離の最小値探索のみであり、従来のトポロジー同型判定に比べると必要とされる演算量が極めて少なく、実行速度が速い。従って、回路CN,CPの比較を高速且つ比較的高精度で実行し、各回路に含まれる素子の対応表を作成することが可能となる。 In addition, the main arithmetic processing required for the element correspondence means is only the comparison judgment of the device type and the search for the minimum value of the distance between the elements, and the amount of computation required is extremely large compared with the conventional topology isomorphism judgment. Less execution speed. Therefore, the comparison of the circuits C N and C P can be performed at high speed and with relatively high accuracy, and a correspondence table of elements included in each circuit can be created.

ここで、「回路」には、全体回路のみならず、ある大きな全体回路の一部分の回路(部分回路)も含まれる。また、「所定の距離空間座標系」としては、位置座標系(直交座標系、極座標系、斜交座標系、円筒座標系、放物線座標系等)の他に、シーケンス・ペア座標系が含まれる。   Here, the “circuit” includes not only the whole circuit but also a part of a large whole circuit (partial circuit). In addition to the position coordinate system (orthogonal coordinate system, polar coordinate system, oblique coordinate system, cylindrical coordinate system, parabolic coordinate system, etc.), the “predetermined metric space coordinate system” includes a sequence / pair coordinate system. .

また、「距離」としては、マンハッタン距離(シティブロック距離)、ユークリッド距離、ユークリッド平方距離、標準化ユークリッド距離、重みつきユークリッド距離、ミンコフスキー距離、マハラノビスの距離、類似度等を使用することができる。   As the “distance”, Manhattan distance (city block distance), Euclidean distance, Euclidean square distance, standardized Euclidean distance, weighted Euclidean distance, Minkowski distance, Mahalanobis distance, similarity, and the like can be used.

本発明に係る素子対応表作成装置の第2の構成は、前記第1の構成において、前記素子対応手段は、前記回路記憶手段に記憶された前記回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、前記回路記憶手段に記憶された前記回路CPの回路図に含まれる各素子のうち、前記素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であって、前記素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内であり、且つ所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)とを対応づけることを特徴とする。 According to a second configuration of the element correspondence table creating apparatus according to the present invention, in the first configuration, the element correspondence unit includes each element e included in the circuit diagram of the circuit CN stored in the circuit storage unit. to j (C N), among the elements included in the circuit diagram of the stored said circuit C P in the circuit memory device, the device e j (C N) and the type of device is the same, the The element e which is calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in a predetermined metric space coordinate system, in which the difference in element size from the element e j (C N ) is within a predetermined range. It is characterized by associating the element e k (C P ) having the smallest distance to j (C N ).

この構成により、回路CNに含まれる素子ej(CN)に回路CPに含まれる素子を対応づける場合、素子のデバイスの種類に加えて素子の大きさも考慮することによって、回路の各素子の消費電力の相違なども考慮して、対応付けの候補となる素子の選択が行われる。そのため、対応付けの精度が向上するとともに、最初のデバイスの種類と素子の大きさによる対応づけられる候補素子の選択の段階で候補が絞られるため、その後の素子ej(CN)との間の距離の判定における演算処理が少なくなる。従って、対応表の作成の処理速度が向上する。 By this configuration, when associating elements included in the circuit C P in the circuit C N INCLUDED element e j (C N), by considering also the size of the device in addition to the type of device elements, each of the circuit In consideration of differences in power consumption of elements, elements that are candidates for association are selected. As a result, the accuracy of association is improved, and candidates are narrowed down at the stage of selection of candidate elements to be associated according to the type of first device and the size of the element, so that the subsequent elements e j (C N ) The calculation processing in determining the distance is reduced. Accordingly, the processing speed for creating the correspondence table is improved.

本発明に係る素子対応表作成装置の第3の構成は、前記第1又は2の構成において、前記素子対応手段は、位置座標系において表される回路図平面上の各素子の位置座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)を、前記素子ej(CN)に対応づけることを特徴とする。 According to a third configuration of the element correspondence table creating apparatus according to the present invention, in the first or second configuration, the element correspondence means is calculated from position coordinates of each element on a circuit diagram plane represented in a position coordinate system. The element e k (C P ) having the smallest distance from the element e j (C N ) is associated with the element e j (C N ).

このように、各素子の位置座標から素子間の距離を算出することによって、デバイスの種類又は素子の大きさにより選択された回路図CP内の候補素子のうち、素子ej(CN)に対して位置が最も近い素子ek(CP)を素子ej(CN)と対応づけることができる。 Thus, by calculating the distance between elements from the position coordinates of each element, among the candidate elements in the selected circuit diagram C P of the size of the type or element of the device, the element e j (C N) The element e k (C P ) whose position is closest to can be associated with the element e j (C N ).

本発明に係る素子対応表作成装置の第4の構成は、前記第1又は2の構成において、前記回路CN,CPの回路図から、それぞれの回路の素子配置のシーケンス・ペアを作成するシーケンス・ペア作成手段を備え、前記素子対応手段は、シーケンス・ペア座標系において表される回路図平面上の各素子のシーケンス・ペア座標から算出される前記素子ej(CN)との間のシーケンス・ペア距離が最小である素子ek(CP)を、前記素子ej(CN)に対応づけることを特徴とする。 The fourth configuration of the element correspondence table creating apparatus according to the present invention creates a sequence pair of element arrangements of the respective circuits from the circuit diagrams of the circuits C N and C P in the first or second configuration. A sequence pair creating means, wherein the element correspondence means is arranged between the element e j (C N ) calculated from the sequence pair coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the sequence pair coordinate system. The element e k (C P ) having the smallest sequence pair distance is associated with the element e j (C N ).

実際には、回路設計者が作成した回路図における素子の位置は、同じ回路であっても設計毎に若干の変動がある。従って、各素子の対応付けを行う場合において、それぞれの素子の回路図内での位置そのものを比較した場合、上記素子位置の変動による誤差の影響が現れやすい。   Actually, the position of an element in a circuit diagram created by a circuit designer varies slightly for each design even if the circuit is the same. Therefore, when the elements are associated with each other, when the positions of the elements in the circuit diagram are compared, the influence of the error due to the fluctuation of the element position is likely to appear.

そこで、かかる素子位置の変動誤差を吸収するために、素子の位置そのものを比較するのではなく、回路図内の各素子の配置から具体的な位置という概念を捨象して、回路図内の各素子の他の素子との間の順序関係のみをシーケンス・ペアにより抽出する。そして、素子対応手段は、各素子のシーケンス・ペア座標から素子間のシーケンス・ペア距離を算出することによって、デバイスの種類又は素子の大きさにより選択された回路図CP内の候補素子のうち、回路CNの回路図内の素子ej(CN)の順序関係と比較して、回路CPの回路図内における順序関係が最も近い素子ek(CP)を素子ej(CN)と対応づける。これにより、設計毎に異なる回路図における素子の位置の変動による誤差が吸収され、素子の対応付けの精度を向上させることができる。 Therefore, in order to absorb the variation error of the element position, the position of each element in the circuit diagram is omitted from the arrangement of each element in the circuit diagram instead of comparing the element positions themselves. Only the order relationship between the element and other elements is extracted by a sequence pair. The elements corresponding means, by calculating the sequence-pair distance between elements from the sequence-pair coordinates of each element, among the candidate elements in the selected circuit diagram C P of the size of the type or element of the device , circuit C N as compared to the order relation of the element e j in the circuit diagram (C N) of the circuit C is closest element order relation in the circuit diagram of a P e k (C P) of the element e j (C N ). As a result, errors due to variations in element positions in circuit diagrams that differ from design to design are absorbed, and the accuracy of element association can be improved.

本発明に係る類似回路選出装置の第1の構成は、すでに設計された回路(以下、「既設計回路」という。)の集合{CPi}から、新たに入力された回路(以下、「新設計回路」という。)CNに最も類似するものを選出する類似回路選出装置であって、前記既設計回路の集合{CPi}に属する既設計回路の回路図を記憶する既設計回路記憶手段と、前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図について、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対して前記既設計回路CPiに含まれる素子ek(CPi)を対応づけることにより対応表を作成する素子対応手段と、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ej(CN)に接続するフライ・ラインの距離の平均値dN(ej(CN))を算出する第1の平均フライ・ライン距離算出手段と、前記対応表により前記素子ej(CN)に対応づけられた前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ek(CPi)に接続するフライ・ラインの距離の平均値dPi(ek(CPi))を算出する第2の平均フライ・ライン距離算出手段と、前記第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出手段により算出される2つのフライ・ラインの距離の平均値の相違度を、前記新設計回路CNの回路図に含まれるすべての素子について積算した値(以下、「累積フライ・ライン距離相違度」という。)Mf、又はその逆数1/Mfである類似度を算出する類似度算出手段と、前記既設計回路記憶手段から読み出された各既設計回路のうち、前記類似度算出手段により算出される累積フライ・ライン距離相違度Mfが最も小さい、又は類似度1/Mfが最も大きい既設計回路を選択する選択手段と、を備えたことを特徴とする。 The first configuration of the similar circuit selection device according to the present invention is a newly input circuit (hereinafter referred to as “new circuit”) from a set {C Pi } of already designed circuits (hereinafter referred to as “already designed circuits”). of design circuit ".) a similar circuit selection device selects the one most similar to C N, previously designed circuit storage means for storing a circuit diagram of the already design circuit belonging to the set {C Pi} of the existing design circuit When, the circuit diagram of the already design circuit each existing design circuit C Pi read from the storage unit, the previously for each element e j (C N) included in the circuit diagram of the new design circuit C N An element correspondence means for creating a correspondence table by associating elements e k (C Pi ) included in the design circuit C Pi and each element e j (C N ) included in the circuit diagram of the new design circuit C N against, in the position coordinate system defined on the schematic plane to connect to the element e j (C N) A first average fly line distance calculating means for calculating an average value d N of the distance of the fly line (e j (C N)) , associated to the element e j (C N) by the correspondence table An average value d of distances of fly lines connected to the element e k (C Pi ) in the position coordinate system defined on the circuit diagram plane with respect to the element e k (C Pi ) in the already designed circuit C Pi A second average fly line distance calculating means for calculating Pi (e k (C Pi )), and a distance between two fly lines calculated by the first and second average fly line distance calculating means. the dissimilarity of the average value, the new design circuit C integrated values for all of the elements included in the circuit diagram of N (hereinafter, referred to as "cumulative fly line distance dissimilarity".) Mf, or its reciprocal 1 / Mf Similarity calculation means for calculating a certain degree of similarity and the already designed circuit storage means A selection means for selecting an already designed circuit having the smallest cumulative fly-line distance difference Mf calculated by the similarity calculation means or the largest similarity 1 / Mf, , Provided.

この構成により、2つの回路(新設計回路CNと既設計回路CPi)との類似性を、累積フライ・ライン距離相違度Mfの逆数である類似度1/Mfとして定量化することができる。そして、選択手段は、新設計回路CNとの間の類似度が最も大きい既設計回路CPiを選択することにより、既設計回路記憶手段に新設計回路CNと同一の回路が保存されていない場合には、既設計回路記憶手段に記憶されている既設計回路の中から新設計回路CNに最も類似する回路をも選出することが可能となる。これによって、既設計回路の設計資源を有効に活用することができる。 With this configuration, the similarity between two circuits (new design circuit C N and already designed circuit C Pi ) can be quantified as similarity 1 / Mf which is the reciprocal of cumulative fly-line distance difference Mf. . The selection means, by selecting the largest existing design circuit C Pi similarity between the new design circuit C N, are newly designed circuit C N identical circuits are stored in the existing design circuit storage means If not, it becomes possible to elect the most similar circuits to the new design circuit C N from the existing design circuit stored in the existing design circuit storage unit. As a result, the design resources of the already designed circuit can be effectively utilized.

更に、類似度は、上述のような回路図平面の所定の座標系におけるフライ・ライン距離の距離計算及びその差分の積算計算によって算出することができる。従って、高速に類似度の演算を行うことが可能であり実行速度が速い。そのため、多数の既設計回路のデータベースの中から新設計回路に類似する回路を短時間で選出することが可能となる。   Furthermore, the similarity can be calculated by calculating the fly line distance in the predetermined coordinate system on the circuit diagram plane as described above and integrating the difference. Therefore, it is possible to calculate the similarity at high speed and the execution speed is high. Therefore, it becomes possible to select a circuit similar to the newly designed circuit from a large number of already designed circuit databases in a short time.

ここで、「フライ・ライン」とは、回路図平面においてネットにより接続される2つの素子又は端子間を直結する線をいう。「フライ・ラインの距離(フライ・ライン距離)」とは、フライ・ラインの一端と他端との間の距離をいう。   Here, “fly line” refers to a line directly connecting two elements or terminals connected by a net in a circuit diagram plane. “Fly line distance (fly line distance)” refers to the distance between one end and the other end of the fly line.

「距離」としては、マンハッタン距離(シティブロック距離)、ユークリッド距離、ユークリッド平方距離、標準化ユークリッド距離、重みつきユークリッド距離、ミンコフスキー距離、マハラノビスの距離、類似度等を使用することができる。   As the “distance”, Manhattan distance (city block distance), Euclidean distance, Euclidean square distance, standardized Euclidean distance, weighted Euclidean distance, Minkowski distance, Mahalanobis distance, similarity, and the like can be used.

また、距離の平均値の「相違度」とは、2つの距離平均値の差の絶対値|dN(ej(CN))−dPi(ek(CPi))|やn乗値|dN(ej(CN))−dPi(ek(CPi))|n (n>0)のように、2つの距離の平均値の差|dN(ej(CN))−dPi(ek(CPi))|に対して単調増加するような相違の度合いを表す量をいう。 The “difference” of the average distance is the absolute value of the difference between the two average distances | d N (e j (C N )) − d Pi (e k (C Pi )) | Value | d N (e j (C N )) − d Pi (e k (C Pi )) | n (n> 0), the difference between the average values of the two distances | d N (e j (C N )) − d Pi (e k (C Pi )) |

本発明に係る類似回路選出装置の第2の構成は、前記第1の構成において、前記第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出手段は、回路図平面上に定められる位置座標系において、前記両素子間のマンハッタン距離の平均値dN(ej(CN)),dPi(ek(CPi))を算出することを特徴とする。 In a second configuration of the similar circuit selection device according to the present invention, in the first configuration, the first and second average fly line distance calculating means are in a position coordinate system defined on a circuit diagram plane, An average value d N (e j (C N )) and d Pi (e k (C Pi )) of the Manhattan distance between the two elements is calculated.

このように、類似度を計算する際に用いるフライ・ライン距離の距離計算にマンハッタン距離を用いれば、演算処理ステップが少なく高速に演算することができる。従って、類似度計算処理の高速化を図ることができる。   As described above, if the Manhattan distance is used for the distance calculation of the fly line distance used when calculating the similarity, the number of operation processing steps can be reduced and the calculation can be performed at high speed. Therefore, it is possible to speed up the similarity calculation process.

本発明に係る類似回路選出装置の第3の構成は、前記第1又は2の構成において、前記素子対応手段は、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、当該素子ej(CN)とデバイスの種類が同一である前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小であるものを対応づけることを特徴とする。 In a third configuration of the similar circuit selection device according to the present invention, in the first or second configuration, the element corresponding means includes each element e j (C N ) included in the circuit diagram of the new design circuit C N. On the other hand, among the elements e k (C Pi ) in the designed circuit C Pi having the same device type as the element e j (C N ), the circuit diagram plane represented in a predetermined metric space coordinate system An element having a minimum distance from the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element is associated with the element.

この構成によれば、素子対応手段は、まず回路CPに含まれる素子から、素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であるもののみを選択する。素子対応手段は、上記の選択がされた素子の中で、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)を選択し、これを素子ej(CN)と対応づける。これにより、比較的高い精度で素子ej(CN)と素子ek(CP)との対応付けを行うことが可能となる。 According to this configuration, the element correspondence unit first selects, from the elements included in the circuit CP , only those having the same device type as the element e j (C N ). The element correspondence means is the element between the elements e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the predetermined metric space coordinate system among the elements selected above. The element e k (C P ) having the smallest distance is selected, and this is associated with the element e j (C N ). This makes it possible to associate the element e j (C N ) with the element e k (C P ) with relatively high accuracy.

ここで、「デバイスの種類」とは、トランジスタ、抵抗、コンデンサ等のような素子の機能属性をいう。   Here, “device type” refers to a functional attribute of an element such as a transistor, a resistor, or a capacitor.

本発明に係る類似回路選出装置の第4の構成は、前記第1乃至3の何れか一の構成において、前記素子対応手段は、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、当該素子ej(CN)とデバイスの種類が同一で、且つ当該素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内である前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小であるものを対応づけることを特徴とする。 Fourth configuration similar circuit selection device according to the present invention, the in any one of the configurations of the first to third, the elements corresponding means, the elements e j included in the circuit diagram of the new design circuit C N (C N ) The designed element in which the element e j (C N ) and the device type are the same, and the difference in element size from the element e j (C N ) is within a predetermined range. Among the elements e k (C Pi ) in the circuit C Pi , between the elements e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the predetermined metric space coordinate system It is characterized by associating the one with the smallest distance.

この構成によれば、素子対応手段は、まず回路CPに含まれる素子から、素子ej(CN)とデバイスの種類が同一で、素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内であるもののみを選択する。素子対応手段は、上記の選択がされた素子の中で、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)を選択し、これを素子ej(CN)と対応づける。このように、素子の大きさも考慮することによって、対応付けの精度が向上するとともに、対応表の作成の処理速度が向上する。 According to this arrangement, elements corresponding means, first from elements included in the circuit C P, type of device are the same as the element e j (C N), the elements of the element e j (C N) the size of the Only those whose difference is within a predetermined range are selected. The element correspondence means is the element between the elements e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the predetermined metric space coordinate system among the elements selected above. The element e k (C P ) having the smallest distance is selected, and this is associated with the element e j (C N ). In this way, by taking the element size into consideration, the accuracy of association is improved and the processing speed of creating the correspondence table is improved.

ここで、「素子の大きさ」を測る量としては、素子のレイアウトの面積、幅、高さ等が使用される。   Here, as an amount for measuring the “element size”, the area, width, height, and the like of the element layout are used.

本発明に係る類似回路選出装置の第5の構成は、前記第3又は4の構成において、前記素子対応手段は、位置座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である前記素子ek(CPi)を前記素子ej(CN)に対応づけることを特徴とする。 In a fifth configuration of the similar circuit selection device according to the present invention, in the third or fourth configuration, the element correspondence unit is calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the position coordinate system. The element e k (C Pi ) having the smallest distance to the element e j (C N ) is associated with the element e j (C N ).

この構成によれば、素子対応手段は、各素子の位置座標から素子間の距離を算出することによって、デバイスの種類又は素子の大きさにより選択された回路図CP内の候補素子のうち、素子ej(CN)に対して位置が最も近い素子ek(CP)を素子ej(CN)と対応づけることができる。 According to this arrangement, elements corresponding means, by calculating the distance between elements from the position coordinates of each element, among the candidate elements in the selected circuit diagram C P of the size of the type or element of the device, it can be associated with the element e j (C N) the closest element position relative to e k (C P) of the element e j (C N).

本発明に係る類似回路選出装置の第6の構成は、前記第3又は4の構成において、前記回路CN,CPの回路図から、それぞれの回路の素子配置のシーケンス・ペアを作成するシーケンス・ペア作成手段を備え、前記素子対応手段は、シーケンス・ペア座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間のシーケンス・ペア距離が最小である前記素子ek(CPi)を前記素子ej(CN)に対応づけることを特徴とする。 The sixth configuration of the similar circuit selection device according to the present invention is a sequence for creating a sequence pair of element arrangement of each circuit from the circuit diagrams of the circuits C N and C P in the third or fourth configuration. A pair creating unit, wherein the element correspondence unit is a sequence pair between the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the sequence pair coordinate system The element e k (C Pi ) having the smallest distance is associated with the element e j (C N ).

この構成によれば、素子対応手段は、各素子のシーケンス・ペア座標から素子間のシーケンス・ペア距離を算出することによって、デバイスの種類又は素子の大きさにより選択された回路図CP内の候補素子のうち、回路CNの回路図内の素子ej(CN)の順序関係と比較して、回路CPの回路図内における順序関係が最も近い素子ek(CP)を素子ej(CN)と対応づける。これにより、設計毎に異なる回路図における素子の位置の変動による誤差が吸収され、素子の対応付けの精度を向上させることができる。 According to this arrangement, elements corresponding means, by calculating the sequence-pair distance between elements from the sequence-pair coordinates of each element, the type or element of the device selected by the magnitude circuit diagram C P in the Among the candidate elements, the element e k (C P ) having the closest order relationship in the circuit diagram of the circuit C P is compared with the order relationship of the element e j (C N ) in the circuit diagram of the circuit C N. Correlate with e j (C N ). As a result, errors due to variations in element positions in circuit diagrams that differ from design to design are absorbed, and the accuracy of element association can be improved.

本発明に係る類似回路選出装置の第7の構成は、前記第1乃至6の何れか一の構成において、前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図又は前記新設計回路の回路図を拡大又は縮小することにより、両回路図の全体の大きさを整合させる回路図規格化手段を備えたことを特徴とする。 Seventh configuration similar circuit selection device according to the present invention, in any one of configurations of the first to sixth, circuit diagram of the already design circuit of each read from the storage means previously designed circuit C Pi or The present invention is characterized by comprising circuit diagram normalization means for matching the overall size of both circuit diagrams by enlarging or reducing the circuit diagram of the newly designed circuit.

回路設計者が回路図を作成する場合、同じ回路の回路図であっても、設計によって回路図全体の大きさにばらつきが生じる。そこで、回路図規格化手段は、比較する2つの回路の回路図を拡大又は縮小することにより、両回路図の全体の大きさを整合させる。これにより、新設計回路CN及びそれと比較する既設計回路CPiの回路図の縮尺が等しくなり、両回路図内の各素子の回路図内での位置を同一条件で比較することができる。従って、素子の対応表を作成する場合や素子の類似度を計算する場合の精度が向上する。 When a circuit designer creates a circuit diagram, even if the circuit diagram is the same circuit, the size of the entire circuit diagram varies depending on the design. Therefore, the circuit diagram normalization means matches the overall sizes of the two circuit diagrams by enlarging or reducing the circuit diagrams of the two circuits to be compared. As a result, the scales of the circuit diagrams of the newly designed circuit CN and the already designed circuit CPi to be compared are equalized, and the positions of the elements in the circuit diagrams in both circuit diagrams can be compared under the same conditions. Therefore, the accuracy when creating a correspondence table of elements or calculating the similarity of elements is improved.

本発明に係る類似回路選出装置の第8の構成は、前記第1乃至7の何れか一の構成において、前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図に対して回転変換又は反転変換を行う回路図変換手段を備え、前記素子対応手段並びに第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出手段は、前記回路図変換手段により回転変換又は反転変換がされた既設計回路CPiの回路図についてもそれぞれ同様の演算処理を行うことを特徴とする。 The eighth configuration of the similar circuit selection device according to the present invention is a circuit diagram of each designed circuit C Pi read from the designed circuit storage means in any one of the first to seventh configurations. Circuit diagram conversion means for performing rotation conversion or inversion conversion on the element, and the element correspondence means and the first and second average fly line distance calculation means are subjected to rotation conversion or inversion conversion by the circuit diagram conversion means. The circuit diagram of the already-designed circuit C Pi is also characterized by performing the same arithmetic processing.

回路設計者が回路図を作成する場合、信号の流れが左から右、上から下へ流れる場合、右から左、下から上へ流れる場合等によって、同じ回路に対する回路図であっても、素子の位置関係や順序関係が回転又は反転している場合がある。   When a circuit designer creates a circuit diagram, even if the circuit flow is from the left to the right, from the top to the bottom, from the right to the left, from the bottom to the top, etc. In some cases, the positional relationship and the order relationship of are rotated or reversed.

そこで、新設計回路CNと比較する既設計回路CPiを、回路図変換手段によって回転又は反転させた回路を幾つか生成し、これらの変換された既設計回路についても、素子対応手段による対応表の作成、及び第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出手段による類似度の演算を行う。これにより、上述のような位置関係又は順序関係の回転自由度又は反転自由度を吸収することができ、対応表の作成と類似回路の選出を精度よく実行することができる。 Therefore, several circuits are generated by rotating or inverting the pre-designed circuit C Pi to be compared with the new design circuit C N by the circuit diagram conversion means, and these converted pre-design circuits are also handled by the element correspondence means. The table is created, and the similarity is calculated by the first and second average fly line distance calculating means. Thereby, it is possible to absorb the rotational degree of freedom or the degree of inversion of the positional relation or the order relation as described above, and it is possible to execute the creation of the correspondence table and the selection of the similar circuit with high accuracy.

本発明に係る素子対応表作成方法の第1の構成は、2つの回路CN,CPについて、回路CNに含まれる素子と回路CPに含まれる素子との対応表を作成する素子対応表作成方法であって、回路記憶手段に記憶された回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、前記回路記憶手段に記憶された回路CPの回路図に含まれる各素子のうち、前記素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であって、且つ所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)とを対応づけることにより、対応表を作成することを特徴とする。 The first configuration of the device correspondence table creation method according to the present invention, the two circuits C N, the C P, elements to create a correspondence table of the elements included in the element and the circuit C P included in the circuit C N corresponding a table creation method, for each element e j included in the circuit diagram of the stored circuit C N circuit storage means (C N), contained in the circuit diagram of the stored circuits C P in the circuit storage unit Among the elements to be calculated, the element e j (C N ) is the same type of device as the device, and the element is calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in a predetermined metric space coordinate system A correspondence table is created by associating the element e k (C P ) having the smallest distance with e j (C N ).

本発明に係る素子対応表作成方法の第2の構成は、2つの回路CN,CPについて、回路CNに含まれる素子と回路CPに含まれる素子との対応表を作成する素子対応表作成方法であって、回路記憶手段に記憶された回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、回路記憶手段に記憶された回路CPの回路図に含まれる各素子のうち、前記素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であって、前記素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内であり、且つ所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)とを対応づけることにより、対応表を作成することを特徴とする。 The second configuration of the device correspondence table creation method according to the present invention, the two circuits C N, the C P, elements to create a correspondence table of the elements included in the element and the circuit C P included in the circuit C N corresponding a table creation method, for each element e j included in the circuit diagram of the circuit storage means the stored circuit C N (C N), included in the circuit diagram of the stored circuits C P in the circuit storage unit Among the elements, the element e j (C N ) and the device type are the same, the difference in element size from the element e j (C N ) is within a predetermined range, and the predetermined element Associating the element e k (C P ) having the smallest distance between the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the metric space coordinate system Thus, a correspondence table is created.

本発明に係る素子対応表作成方法の第3の構成は、前記第1又は2の構成において、前記所定の距離空間座標系は、位置座標系であることを特徴とする。   A third configuration of the element correspondence table creation method according to the present invention is characterized in that, in the first or second configuration, the predetermined metric space coordinate system is a position coordinate system.

本発明に係る素子対応表作成方法の第4の構成は、前記第1又は2の構成において、前記所定の距離空間座標系はシーケンス・ペア座標系であり、シーケンス・ペア座標系において表される回路図平面上の各素子のシーケンス・ペア座標から算出される前記素子ej(CN)との間のシーケンス・ペア距離が最小である素子ek(CP)を、前記素子ej(CN)に対応づけることを特徴とする。 In a fourth configuration of the element correspondence table creation method according to the present invention, in the first or second configuration, the predetermined metric space coordinate system is a sequence-pair coordinate system, and is represented in the sequence-pair coordinate system. An element e k (C P ) having a minimum sequence pair distance from the element e j (C N ) calculated from the sequence pair coordinates of each element on the circuit plane is referred to as the element e j ( C N ).

本発明に係る類似回路選出方法の第1の構成は、回路図が既設計回路記憶手段に保存された既設計回路の集合{CPi}から、新たに入力された回路(以下、「新設計回路」という。)CNに最も類似するものを選出する類似回路選出方法であって、前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図について、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対して前記既設計回路CPiに含まれる素子ek(CPi)を対応づけることにより対応表を作成する素子対応ステップと、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ej(CN)に接続するフライ・ラインの距離の平均値dN(ej(CN))を算出する第1の平均フライ・ライン距離算出ステップと、前記対応表により前記素子ej(CN)に対応づけられた前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ek(CPi)に接続するフライ・ラインの距離の平均値dPi(ek(CPi))を算出する第2の平均フライ・ライン距離算出ステップと、前記第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出ステップにおいて算出される2つのフライ・ラインの距離の平均値の相違度を、前記新設計回路CNの回路図に含まれるすべての素子について積算した値(以下、「累積フライ・ライン距離相違度」という。)Mf、又はその逆数1/Mfである類似度を算出する類似度算出ステップと、前記既設計回路記憶手段から読み出された各既設計回路のうち、前記類似度算出ステップにおいて算出される累積フライ・ライン距離相違度Mfが最も小さい、又は類似度1/Mfが最も大きい既設計回路を選択する選択ステップと、を有することを特徴とする。 The first configuration of the similar circuit selection method according to the present invention is a circuit newly input from a set {C Pi } of designed circuits whose circuit diagrams are stored in the designed circuit storage means (hereinafter referred to as “new design”). that the circuit ".) C a N most similar simulation circuit selection method of selecting those that, for the circuit diagram of the already design circuit each existing design circuit C Pi read from the storage unit, the new design circuit An element correspondence step for creating a correspondence table by associating each element e j (C N ) included in the circuit diagram of C N with the element e k (C Pi ) included in the designed circuit C Pi ; For each element e j (C N ) included in the circuit diagram of the new design circuit C N , the fly line connected to the element e j (C N ) in the position coordinate system defined on the circuit diagram plane is displayed. A first average fly line distance calculating step for calculating an average distance d N (e j (C N )); For the element e k (C Pi ) in the designed circuit C Pi associated with the element e j (C N ) according to the correspondence table, in the position coordinate system defined on the circuit diagram plane, the element e k and second average fly line distance calculation step of calculating an average value d Pi distance fly line (e k (C Pi)) to connect to (C Pi), said first and second average fly - line distance calculation dissimilarity of the average value of the distance between two fly-line calculated in step, the new design circuit values accumulated for all elements included in the circuit diagram of C N (hereinafter, "accumulated fly Line distance dissimilarity ”.) Similarity calculation step of calculating similarity that is Mf or its reciprocal 1 / Mf, and the similarity among the already designed circuits read from the already designed circuit storage means Cumulative fly line distance difference calculated in the calculation step And a selection step of selecting an already designed circuit having the smallest degree Mf or the largest degree of similarity 1 / Mf.

本発明に係る類似回路選出方法の第2の構成は、前記第1の構成において、前記第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出ステップにおいては、回路図平面上に定められる位置座標系において、前記両素子間のマンハッタン距離の平均値dN(ej(CN)),dPi(ek(CPi))を算出することを特徴とする。 In a second configuration of the similar circuit selection method according to the present invention, in the first configuration, in the first and second average fly line distance calculation steps, a position coordinate system defined on a circuit diagram plane is used. The mean values d N (e j (C N )) and d Pi (e k (C Pi )) of the Manhattan distance between the two elements are calculated.

本発明に係る類似回路選出方法の第3の構成は、前記第1又は2の構成において、前記素子対応ステップにおいては、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、当該素子ej(CN)とデバイスの種類が同一である前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小であるものを対応づけることを特徴とする。 In a third configuration of the similar circuit selection method according to the present invention, in the first or second configuration, each element e j (C N) included in the circuit diagram of the new design circuit C N in the element corresponding step. ) For the element e k (C Pi ) in the already-designed circuit C Pi having the same device type as the element e j (C N ), the circuit diagram represented in a predetermined metric space coordinate system The element having the smallest distance from the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the plane is associated.

本発明に係る類似回路選出方法の第4の構成は、前記第1乃至3の何れか一の構成において、前記素子対応ステップにおいては、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、当該素子ej(CN)とデバイスの種類が同一で、且つ当該素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内である前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小であるものを対応づけることを特徴とする。 Fourth configuration similar circuit selection method according to the present invention, the in any one of the configurations of the first to third, in the device corresponding step, each element e included in the circuit diagram of the new design circuit C N to j (C N), the already in the element e j (C N) and the type of device are the same, and the difference in size of the element with the element e j (C N) is within a predetermined range Among the elements e k (C Pi ) in the design circuit C Pi , between the elements e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the predetermined metric space coordinate system It is characterized by associating those with the smallest distance.

本発明に係る類似回路選出方法の第5の構成は、前記第3又は4の構成において、前記素子対応ステップにおいて、前記所定の距離空間座標系はシーケンス・ペア座標系であって、シーケンス・ペア座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間のシーケンス・ペア距離が最小である前記素子ek(CPi)を前記素子ej(CN)に対応づけることを特徴とする。 According to a fifth configuration of the similar circuit selection method of the present invention, in the third or fourth configuration, in the element corresponding step, the predetermined metric space coordinate system is a sequence pair coordinate system, and the sequence pair The element e k (C Pi ) having the smallest sequence pair distance from the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the coordinate system is the element It is characterized by being associated with e j (C N ).

本発明に係る類似回路選出方法の第6の構成は、前記第3又は4の構成において、前記素子対応ステップにおいて、前記所定の距離空間座標系は位置座標系であることを特徴とする。   According to a sixth configuration of the similar circuit selection method of the present invention, in the third or fourth configuration, the predetermined metric space coordinate system is a position coordinate system in the element corresponding step.

本発明に係る類似回路選出方法の第7の構成は、前記第1乃至6の何れか一の構成において、前記素子対応ステップの前に、前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図又は前記新設計回路の回路図を拡大又は縮小することにより、両回路図の全体の大きさを整合させる回路図規格化ステップを有することを特徴とする。 According to a seventh configuration of the similar circuit selection method of the present invention, in any one of the first to sixth configurations, each of the existing circuits read from the already-designed circuit storage means before the element corresponding step. A circuit diagram normalizing step for matching the overall sizes of both circuit diagrams by enlarging or reducing the circuit diagram of the design circuit C Pi or the circuit diagram of the new design circuit is provided.

本発明に係る類似回路選出方法の第8の構成は、前記第1乃至7の何れか一の構成において、前記素子対応ステップの前に、前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図に対して回転変換又は反転変換を行う既設計回路図変換ステップを有し、前記素子対応ステップ並びに第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出ステップにおいては、前記既設計回路図変換ステップにおいて回転変換又は反転変換がされた既設計回路CPiの回路図についてもそれぞれ同様の演算処理を行うことを特徴とする。 According to an eighth configuration of the similar circuit selection method of the present invention, in any one of the first to seventh configurations, each of the existing circuits read out from the already-designed circuit storage means before the element corresponding step. A design circuit diagram conversion step for performing rotation conversion or inversion conversion on the circuit diagram of the design circuit C Pi . In the element correspondence step and the first and second average fly line distance calculation steps, The same arithmetic processing is performed on each circuit diagram of the already-designed circuit C Pi that has been subjected to rotation conversion or inversion conversion in the design circuit diagram conversion step.

本発明に係るプログラムは、前記第1乃至4の何れか一の構成の素子対応表作成方法をコンピュータに実行させることを特徴とする。   A program according to the present invention causes a computer to execute the element correspondence table creating method having any one of the first to fourth configurations.

本発明に係るプログラムは、前記第1乃至8の何れか一の構成の類似回路選出方法をコンピュータに実行させることを特徴とする。   A program according to the present invention causes a computer to execute the similar circuit selection method having any one of the first to eighth configurations.

以上のように、本発明に係る素子対応表作成装置及び素子対応表作成方法によれば、同一又は類似の2つの回路では、一方の回路に含まれる素子の回路図上の位置(及び順序関係)と他方の回路に含まれる素子の回路図上の位置(及び順序関係)とは或る程度の相関がある場合が多いという経験則を利用して、回路CNの素子ej(CN)とデバイスの種類が同一の回路CPの素子のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)を選択し、これを素子ej(CN)と対応づける。これにより、比較的高い精度で素子ej(CN)と素子ek(CP)との対応付けを行うことが可能となる。 As described above, according to the element correspondence table creation device and the element correspondence table creation method according to the present invention, in two identical or similar circuits, the positions (and order relations) of the elements included in one of the circuits. ) and the position on the schematic of elements included in the other circuit (and order relationship) using the empirical rule that it is often correlated to some extent, elements of the circuit C N e j (C N ) and of the type of device is a device of the same circuit C P, between the elements e j calculated from coordinates of each element on the circuit diagram plane represented at a predetermined distance space coordinate system (C N) The element e k (C P ) having the smallest distance is selected, and this is associated with the element e j (C N ). This makes it possible to associate the element e j (C N ) with the element e k (C P ) with relatively high accuracy.

また、従来のトポロジー同型判定に比べると必要とされる演算量が極めて少なく、実行速度が速い。従って、回路CN,CPの比較を高速且つ比較的高精度で実行し、各回路に含まれる素子の対応表を作成することが可能となる。 In addition, the amount of computation required is extremely small compared to the conventional topology isomorphism determination, and the execution speed is fast. Therefore, the comparison of the circuits C N and C P can be performed at high speed and with relatively high accuracy, and a correspondence table of elements included in each circuit can be created.

また、本発明に係る類似回路選出装置及び類似回路選出方法によれば、2つの回路(新設計回路CNと既設計回路CPi)との類似性を、累積フライ・ライン距離相違度Mfの逆数である類似度1/Mfとして定量化することができる。そして、新設計回路CNとの間の類似度が最も大きい既設計回路CPiを選択することにより、既設計回路記憶手段に新設計回路CNと同一の回路が保存されていない場合には、既設計回路記憶手段に記憶されている既設計回路の中から新設計回路CNに最も類似する回路をも選出することが可能となる。これによって、既設計回路の設計資源を有効に活用することができる。 In addition, according to the similar circuit selection device and the similar circuit selection method according to the present invention, the similarity between two circuits (new design circuit C N and already designed circuit C Pi ) is calculated using the cumulative fly line distance difference degree Mf. It can be quantified as the reciprocal similarity 1 / Mf. Then, by selecting the largest existing design circuit C Pi similarity between the new design circuit C N, when the new design circuit C N identical circuits in existing design circuit storing means is not stored , it becomes possible to elect the most similar circuits to the new design circuit C N from the existing design circuit stored in the existing design circuit storage unit. As a result, the design resources of the already designed circuit can be effectively utilized.

更に、類似度は、回路図平面の所定の座標系におけるフライ・ライン距離の距離計算及びその差分の積算計算によって算出することができるので、高速に類似度の演算を行うことが可能であり実行速度が速い。そのため、多数の既設計回路のデータベースの中から新設計回路に類似する回路を短時間で選出することが可能となる。   Furthermore, the similarity can be calculated by calculating the fly line distance in a predetermined coordinate system on the circuit diagram plane and integrating the difference, so that the similarity can be calculated at high speed and executed. The speed is fast. Therefore, it becomes possible to select a circuit similar to the newly designed circuit from a large number of already designed circuit databases in a short time.

以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.

〔1〕装置の構成
図1は、本発明の実施例1に係る類似回路選出装置及び素子対応表作成装置の構成を表すブロック図である。実施例1に係る類似回路選出装置1は、素子対応表作成装置2、平均フライ・ライン距離算出手段3a、平均フライ・ライン距離算出手段3b、類似度算出手段4、類似度記憶手段5、選択手段6、及び選出回路記憶手段7を備えている。また、素子対応表作成装置2は、新設計回路記憶手段8、既設計回路記憶手段9、回路図規格化手段10、回路図変換手段11、検査回路記憶手段12、シーケンス・ペア作成手段13、シーケンス・ペア記憶手段14、素子対応手段15、及び対応表記憶手段16を備えている。
[1] Device Configuration FIG. 1 is a block diagram showing the configurations of a similar circuit selection device and an element correspondence table creation device according to Embodiment 1 of the present invention. The similar circuit selection device 1 according to the first embodiment includes an element correspondence table creation device 2, an average fly line distance calculation unit 3a, an average fly line distance calculation unit 3b, a similarity calculation unit 4, a similarity storage unit 5, and a selection. Means 6 and selection circuit storage means 7 are provided. The element correspondence table creation device 2 includes a newly designed circuit storage means 8, an already designed circuit storage means 9, a circuit diagram normalization means 10, a circuit diagram conversion means 11, an inspection circuit storage means 12, a sequence pair creation means 13, A sequence pair storage unit 14, an element correspondence unit 15, and a correspondence table storage unit 16 are provided.

本実施例においては、電子回路のレイアウト設計用のCAD装置において類似回路選出装置1を使用する場合を想定している。類似回路選出装置1は、プログラムとして提供され、そのプログラムをコンピュータに読み込んで実行することによって、図1に示したような類似回路選出装置1の機能構成がコンピュータで実現される。尚、図1において、入力装置20は、キーボード、マウス、CD−ROMドライブ等の各種データ入力装置を表しており、出力装置21は、ディスプレイ、プリンタ、磁気記録装置等の各種データ出力装置を表している。   In the present embodiment, it is assumed that the similar circuit selection device 1 is used in a CAD device for layout design of an electronic circuit. The similar circuit selection device 1 is provided as a program, and the functional configuration of the similar circuit selection device 1 as shown in FIG. 1 is realized by a computer by reading the program into a computer and executing it. In FIG. 1, an input device 20 represents various data input devices such as a keyboard, a mouse, and a CD-ROM drive, and an output device 21 represents various data output devices such as a display, a printer, and a magnetic recording device. ing.

回路設計者が新しく設計した回路(新設計回路)CNは、入力装置20から入力され、新設計回路記憶手段8に保存される。ここで、新設計回路記憶手段8に保存されるデータは、各素子の素子属性情報を含む新設計回路CNの回路図SCH(CN)、及び新設計回路CNのネットリストである。尚、素子属性情報とは、素子ei(∈E(CN))のデバイスの種類Dev(ei)、素子の大きさ(サイズ)Size(ei)、抵抗値、容量、増幅率、時定数等の素子の属性を表す各種情報である。 Circuit circuit designer newly designs (new design circuit) C N is input from an input device 20, is stored in the new design the circuit storage unit 8. Here, the data stored in the new design circuit storage means 8 is a circuit diagram SCH (C N ) of the new design circuit C N including element attribute information of each element, and a net list of the new design circuit C N. The element attribute information includes the device type Dev (e i ), the element size (size) Size (e i ), the resistance value, the capacitance, the amplification factor, and the element e i (∈E (C N )). Various pieces of information representing element attributes such as time constants.

また、既に設計されている回路(既設計回路){CPi|i=1,…,NPi}(NPiは既設計回路の数)は、回路データベースとして既設計回路記憶手段9に保存されている。尚、既設計回路記憶手段9も、新設計回路記憶手段8と同様に、各素子の素子属性情報を含む各既設計回路CPiの回路図SCH(CN)、及び新設計回路CNのネットリストである。 In addition, the already designed circuit (already designed circuit) {C Pi | i = 1,..., N Pi } (N Pi is the number of already designed circuits) is stored in the already designed circuit storage means 9 as a circuit database. ing. The already-designed circuit storage means 9 is similar to the newly-designed circuit storage means 8 in the circuit diagram SCH (C N ) of each already-designed circuit C Pi including element attribute information of each element, and the new design circuit C N It is a netlist.

回路図規格化手段10は、既設計回路記憶手段9に記憶された一つの既設計回路CPiの回路図SCH(CPi)を読み出すと共に、新設計回路記憶手段8から新設計回路CNの回路図SCH(CN)を読み出し、回路図の拡大又は縮小を行うことによって両回路図の全体の大きさ(サイズ)の整合(以下「回路図の規格化処理」という。)を行う。回路図変換手段11は、回路図規格化手段10により回路図の規格化処理がされた既設計回路の回路図SCH(CPi)に対して、回転変換又は反転変換fnを行い、変換された回路図SCHn(CPi)を検査回路記憶手段12に保存する。 The circuit diagram normalization means 10 reads the circuit diagram SCH (C Pi ) of one already-designed circuit C Pi stored in the already-designed circuit storage means 9 and also stores the new design circuit C N from the new design circuit storage means 8. The circuit diagram SCH (C N ) is read out, and the circuit diagrams are enlarged or reduced to match the overall size (size) of both circuit diagrams (hereinafter referred to as “circuit diagram normalization process”). The circuit diagram conversion means 11 performs rotation conversion or inversion conversion f n on the circuit diagram SCH (C Pi ) of the already designed circuit that has been subjected to the circuit diagram normalization processing by the circuit diagram normalization means 10, and is converted. The obtained circuit diagram SCH n (C Pi ) is stored in the inspection circuit storage means 12.

シーケンス・ペア作成手段13は、新設計回路記憶手段8に記憶された新設計回路の回路図SCH(CN)、又は検査回路記憶手段12に記憶された既設計回路の回路図SCHn(CPi)からシーケンス・ペアを作成し、シーケンス・ペア記憶手段14に保存する。 The sequence pair creation means 13 is a circuit diagram SCH (C N ) of a new design circuit stored in the new design circuit storage means 8 or a circuit diagram SCH n (C of an already designed circuit stored in the inspection circuit storage means 12. Pi ) is created from the sequence pair and stored in the sequence pair storage means 14.

素子対応手段15は、各既設計回路の回路図SCHn(CPi)について、新設計回路の回路図SCH(CN)に含まれる各素子ej(∈E(CN))に対して既設計回路の回路図SCHn(CPi)に含まれる1つの素子ek(∈E(CPi))を対応づけることにより対応表を作成し、これを対応表記憶手段16に保存する。 The element correspondence unit 15 performs the circuit diagram SCH n (C Pi ) of each already designed circuit with respect to each element e j (∈E (C N )) included in the circuit diagram SCH (C N ) of the newly designed circuit. A correspondence table is created by associating one element e k (∈E (C Pi )) included in the circuit diagram SCH n (C Pi ) of the already designed circuit, and is stored in the correspondence table storage means 16.

平均フライ・ライン距離算出手段3aは、新設計回路の回路図SCH(CN)に含まれる各素子ej(∈E(CN))に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ejに接続するフライ・ラインの距離の平均値dN(ej)を算出する。平均フライ・ライン距離算出手段3bは、既設計回路の回路図SCHn(CPi)に含まれる各素子ek(∈E(CPi))に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ekに接続するフライ・ラインの距離の平均値dPi(ek)を算出する。 The average fly line distance calculation means 3a is used in the position coordinate system defined on the circuit diagram plane for each element e j (∈E (C N )) included in the circuit diagram SCH (C N ) of the newly designed circuit. Then, the average value d N (e j ) of the distances of the fly lines connected to the element e j is calculated. The average fly line distance calculation means 3b is a position coordinate system defined on the circuit diagram plane for each element e k (∈E (C Pi )) included in the circuit diagram SCH n (C Pi ) of the already designed circuit. Then, the average value d Pi (e k ) of the distances of the fly lines connected to the element e k is calculated.

類似度算出手段4は、平均フライ・ライン距離算出手段3a,3bにより算出される2つのフライ・ライン距離の平均値dN(ej),dPi(ek)の相違度D(dN(ej), dPi(ek))を、新設計回路の回路図SCH(CN)に含まれるすべての素子について積算した値(累積フライ・ライン距離相違度)Mfを計算し、更にその逆数である類似度1/Mfを算出し、これを類似度記憶手段5に保存する。 The similarity calculation means 4 is a difference degree D (d N ) between the average values d N (e j ) and d Pi (e k ) of the two fly line distances calculated by the average fly line distance calculation means 3a and 3b. (e j ), d Pi (e k )) is calculated for all elements included in the circuit diagram SCH (C N ) of the newly designed circuit (cumulative fly line distance difference) Mf, and The reciprocal similarity 1 / Mf is calculated and stored in the similarity storage means 5.

選択手段6は、既設計回路の回路図のうち、類似度算出手段4によって算出される類似度が最も大きい既設計回路の回路図を選択し、その回路図に対応する対応表、ネットリスト、回路レイアウトを対応表記憶手段16又は既設計回路記憶手段9から読み出して、選出回路記憶手段7に保存する。選出回路記憶手段7に記憶された対応表、ネットリスト、回路レイアウトは、ディスプレイ等の出力装置21に出力される。   The selection unit 6 selects a circuit diagram of the already-designed circuit having the highest similarity calculated by the similarity calculation unit 4 from the circuit diagrams of the already-designed circuit, and a correspondence table, netlist, The circuit layout is read from the correspondence table storage means 16 or the already designed circuit storage means 9 and stored in the selection circuit storage means 7. The correspondence table, netlist, and circuit layout stored in the selection circuit storage means 7 are output to an output device 21 such as a display.

以上のように構成された実施例に係る類似回路選出装置1及び素子対応表作成装置2について、以下その演算処理動作について説明する。   The arithmetic processing operation of the similar circuit selection device 1 and the element correspondence table creation device 2 according to the embodiment configured as described above will be described below.

〔2〕演算処理動作
(1)全体の処理の流れ
図2は、実施例1に係る類似回路選出装置1及び素子対応表作成装置2の演算処理動作の全体の流れを示すフローチャートである。まず、回路設計者は、回路設計CAD等を使用して、入力装置20から新設計回路CNの回路図SCH(CN)及びネットリストNL(CN)を入力し、新設計回路記憶手段8に保存する(S1)。
[2] Arithmetic Processing Operation (1) Overall Processing Flow FIG. 2 is a flowchart showing an overall flow of arithmetic processing operations of the similar circuit selection device 1 and the element correspondence table creation device 2 according to the first embodiment. First, the circuit designer inputs the circuit diagram SCH (C N ) and netlist NL (C N ) of the new design circuit C N from the input device 20 using circuit design CAD or the like, and stores the new design circuit storage means. 8 is stored (S1).

次に、類似回路選出装置1は、既設計回路の番号を表す内部変数iを1に初期化する(S2)。回路図規格化手段10は、既設計回路記憶手段9から既設計回路CPiの回路図SCH(CPi)を読み出すとともに、新設計回路記憶手段8から新設計回路CNの回路図SCH(CN)を読み出す(S3)。そして、回路図規格化手段10は、回路図SCH(CPi)と回路図SCH(CN)との規格化を行う(S4)。この規格化の具体的な処理手順については後述するが、規格化によって、回路図SCH(CPi)と回路図SCH(CN)との外形の幅及び高さが整合される。 Next, the similar circuit selection device 1 initializes the internal variable i representing the number of the already designed circuit to 1 (S2). Schematic standardization means 10 reads the circuit diagram of the already design circuit C Pi SCH (C Pi) from existing design circuit storage means 9, the new design circuit storage unit 8 newly designed circuit C N circuit diagram SCH (C N ) is read (S3). Then, the circuit diagram normalization means 10 normalizes the circuit diagram SCH (C Pi ) and the circuit diagram SCH (C N ) (S4). Although the specific processing procedure of this normalization will be described later, the width and height of the outer shape of the circuit diagram SCH (C Pi ) and the circuit diagram SCH (C N ) are matched by the normalization.

次に、類似回路選出装置1は、既設計回路の変換番号を表す内部変数nを1に初期化する(S5)。ここで、変換番号とは、既設計回路に対して回転・反転変換を行う変換関数fnを特定するための番号である。尚、変換関数fnは全部で8つ用意されている。fは0度回転、fは90度回転、fは180度回転、fは270度回転、fは左右反転、fは上下反転、f7は左右反転+90度回転、f8は上下反転+90度回転の変換関数である。 Next, the similar circuit selection device 1 initializes the internal variable n representing the conversion number of the already designed circuit to 1 (S5). Here, the conversion number is a number for specifying a conversion function f n for performing rotation / inversion conversion on an already designed circuit. A total of eight conversion functions f n are prepared. f 1 is rotated by 0 degree, f 2 is rotated by 90 degrees, f 3 is rotated by 180 degrees, f 4 is rotated by 270 degrees, f 5 is inverted horizontally, f 6 is inverted vertically, f 7 is inverted horizontally and rotated +90 degrees, f 8 is a conversion function of upside down +90 degree rotation.

次に、回路図変換手段11は、回路図規格化手段10によって規格化された既設計回路の回路図SCH(CPi)に対して、変換関数fnにより回転変換又は反転変換を行い、変換された既設計回路の回路図SCHn(CPi)を作成する(S6)。尚、変換関数fnによる変換により、SCH(CPi)に含まれる各素子の位置座標が回転又は反転される。作成された回路図SCHn(CPi)は、検査回路記憶手段12に保存される。 Next, the circuit diagram conversion unit 11 performs rotation conversion or inversion conversion on the circuit diagram SCH (C Pi ) of the already designed circuit standardized by the circuit diagram normalization unit 10 by using the conversion function f n. A circuit diagram SCH n (C Pi ) of the designed circuit thus created is created (S6). Note that the position coordinates of each element included in SCH (C Pi ) are rotated or inverted by the conversion by the conversion function f n . The created circuit diagram SCH n (C Pi ) is stored in the inspection circuit storage means 12.

次に、シーケンス・ペア作成手段13は、回路図SCH(CN)と回路図SCHn(CPi)について、回路図に含まれる各素子の順序関係に基づいてシーケンス・ペアを作成し、シーケンス・ペア記憶手段14に保存する(S7)。シーケンス・ペアの作成処理の具体的手順については、後述する。 Next, the sequence pair creating means 13 creates a sequence pair for the circuit diagram SCH (C N ) and the circuit diagram SCH n (C Pi ) based on the order relation of each element included in the circuit diagram, -It preserve | saves in the pair memory | storage means 14 (S7). A specific procedure of sequence pair creation processing will be described later.

次に、素子対応手段15は、シーケンス・ペア座標を用いて、回路図SCH(CN)と回路図SCHn(CPi)との対応表Mn (s)(CN,CPi)を作成する(S8)。この、対応表の作成処理の具体的手順については後述する。 Next, the element correspondence unit 15 uses the sequence pair coordinates to generate a correspondence table M n (s) (C N , C Pi ) between the circuit diagram SCH (C N ) and the circuit diagram SCH n (C Pi ). Create (S8). The specific procedure of the correspondence table creation process will be described later.

平均フライ・ライン距離算出手段3aは、規格化された新設計回路の回路図SCH(CN)に含まれる各素子ej(∈E(CN))に対して、回路図平面上に定められた位置座標において、当該素子ejに接続するフライ・ライン距離の平均値dN(ej)を算出する。平均フライ・ライン距離算出手段3bは、規格化された新設計回路の回路図SCH(CPi)に含まれる素子のうち、対応表Mn (s)(CN,CPi)により各素子ejに対応づけられた素子ek(∈E(CPi))に対して、回路図平面上に定められた位置座標において、当該素子ekに接続するフライ・ライン距離の平均値dPi(ek)を算出する。そして、類似度算出手段4は、これらのフライ・ライン距離の平均値dN(ej),dPi(ek)の相違度を、新設計回路の回路図SCH(CN)に含まれる全素子に対して積算し、累積フライ・ライン距離相違度Mf及び類似度Sim(s)(SCH(CN), SCHn(CPi))=1/Mfを算出する(S9)。ここで、類似度Simの上付添字(s)は、シーケンス・ペア座標において作成された対応表に基づいて計算された類似度であることを表す。類似度計算処理の具体的な手順については後述する。 The average fly line distance calculation means 3a is determined on the circuit diagram plane for each element e j (∈E (C N )) included in the circuit diagram SCH (C N ) of the standardized new design circuit. At the obtained position coordinates, an average value d N (e j ) of fly line distances connected to the element e j is calculated. The average fly line distance calculation means 3b is configured to select each element e from the correspondence table M n (s) (C N , C Pi ) among the elements included in the standardized circuit diagram SCH (C Pi ) of the new design circuit. For the element e k (∈E (C Pi )) associated with j , the average value d Pi () of the fly line distance connected to the element e k at the position coordinates determined on the circuit diagram plane e k ) is calculated. The similarity calculation means 4 includes the difference between the average values d N (e j ) and d Pi (e k ) of these fly line distances in the circuit diagram SCH (C N ) of the newly designed circuit. Accumulation is performed for all elements, and cumulative fly-line distance difference Mf and similarity Sim (s) (SCH (C N ), SCH n (C Pi )) = 1 / Mf are calculated (S9). Here, the superscript (s) of the similarity Sim represents that the similarity is calculated based on the correspondence table created in the sequence pair coordinates. A specific procedure of the similarity calculation process will be described later.

次に、素子対応手段15は、今度は位置座標を用いて、ステップS8と同様に、回路図SCH(CN)と回路図SCHn(CPi)との対応表Mn (p)(CN,CPi)を作成する(S10)。そして、ステップS9と同様にして、平均フライ・ライン距離算出手段3a,3b、及び類似度算出手段4は、類似度Sim(p)(SCH(CN), SCHn(CPi))を算出する(S11)。ここで、類似度Simの上付添字(p)は、位置座標において作成された対応表に基づいて計算された類似度であることを表す。 Next, the element correspondence unit 15 uses the position coordinates, and similarly to step S8, the correspondence table M n (p) (C) between the circuit diagram SCH (C N ) and the circuit diagram SCH n (C Pi ). N , C Pi ) is created (S10). Similarly to step S9, the average fly line distance calculating means 3a, 3b and the similarity calculating means 4 calculate the similarity Sim (p) (SCH (C N ), SCH n (C Pi )). (S11). Here, the superscript (p) of the similarity Sim represents that the similarity is calculated based on the correspondence table created in the position coordinates.

次に、類似度算出手段4は、2つの類似度Sim(s)(SCH(CN), SCHn(CPi)),Sim(p)(SCH(CN), SCHn(CPi))を比較する。ここで、類似度Sim(s)(SCH(CN), SCHn(CPi))が大きい場合には、類似度算出手段4は、Sim(s)(SCH(CN), SCHn(CPi))を回路図SCH(CN), SCHn(CPi)の類似度Sim(SCH(CN), SCHn(CPi))として、類似度記憶手段5に保存する。そして、対応表Mn (s)(CN,CPi)を、回路図SCH(CN), SCHn(CPi)の対応表Mn(CN,CPi)として対応表記憶手段16に保存する。一方、類似度Sim(p)(SCH(CN), SCHn(CPi))が大きい場合には、類似度算出手段4は、Sim(p)(SCH(CN), SCHn(CPi))を回路図SCH(CN), SCHn(CPi)の類似度Sim(SCH(CN), SCHn(CPi))として、類似度記憶手段5に保存する。そして、対応表Mn (p)(CN,CPi)を、回路図SCH(CN), SCHn(CPi)の対応表Mn(CN,CPi)として対応表記憶手段16に保存する(S12)。 Next, the similarity calculation means 4 has two similarities Sim (s) (SCH (C N ), SCH n (C Pi )), Sim (p) (SCH (C N ), SCH n (C Pi ). ). Here, when the similarity Sim (s) (SCH (C N ), SCH n (C Pi )) is large, the similarity calculation means 4 uses Sim (s) (SCH (C N ), SCH n ( C Pi )) is stored in the similarity storage means 5 as the similarity Sim (SCH (C N ), SCH n (C Pi )) of the circuit diagrams SCH (C N ) and SCH n (C Pi ). Then, the correspondence table M n (s) (C N , C Pi) and the circuit diagram SCH (C N), the correspondence table M n (C N, C Pi ) of SCH n (C Pi) correspondence table storage means as a 16 Save to. On the other hand, when the similarity Sim (p) (SCH (C N ), SCH n (C Pi )) is large, the similarity calculation means 4 uses Sim (p) (SCH (C N ), SCH n (C Pi )) is stored in the similarity storage unit 5 as the similarity Sim (SCH (C N ), SCH n (C Pi )) of the circuit diagrams SCH (C N ) and SCH n (C Pi ). Then, the correspondence table M n (p) (C N , C Pi) and the circuit diagram SCH (C N), the correspondence table M n (C N, C Pi ) of SCH n (C Pi) correspondence table storage means as a 16 (S12).

そして、上記ステップS6〜S12を、nの値が1から8になるまで繰り返す(S13,S14)。   The above steps S6 to S12 are repeated until the value of n becomes 1 to 8 (S13, S14).

そして、上記ステップS3〜S14までの動作を、iの値が1からNn(Nnは、既設計回路の数)になるまで繰り返す(S15,S16)。 Then, the operations from steps S3 to S14 are repeated until the value of i reaches 1 to N n (N n is the number of already designed circuits) (S15, S16).

次に、選択手段6は、類似度記憶手段5に記憶されたすべての類似度{Sim(SCH(CN), SCHn(CPi))}のうち最大のものを選択し、回路図SCH(CN)との類似度が最大の回路図SCHn(CPi)を選出して、回路図SCH(CN)に最も類似する回路図SCH(CP)として選出回路記憶手段7に保存する。また、選択手段6は、選出した回路図SCH(CP)に対応するネットリストNL(CP)、レイアウトL(CP)、及び対応表M(CN,CP)を既設計回路記憶手段9又は対応表記憶手段16から読み出して、これらを選出回路記憶手段7に保存する(S17)。 Next, the selection unit 6 selects the maximum one of all the similarity levels {Sim (SCH (C N ), SCH n (C Pi ))} stored in the similarity level storage unit 5 and selects the circuit diagram SCH. Save (C n) and the degree of similarity is elected maximum circuit diagram SCH n (C Pi) of the selecting circuit storage means 7 as a circuit diagram SCH (C P) that are most similar to the circuit diagram SCH (C n) To do. The selection means 6 stores the netlist NL (C P ), layout L (C P ), and correspondence table M (C N , C P ) corresponding to the selected circuit diagram SCH (C P ) in the already designed circuit memory. The data is read from the means 9 or the correspondence table storage means 16 and stored in the selection circuit storage means 7 (S17).

最後に、類似回路選出装置1は、選出回路記憶手段7に記憶された回路図SCH(CP)と、それに対応するネットリストNL(CP)、レイアウトL(CP)、及び対応表M(CN,CP)を出力装置21に出力し(S18)、処理を終了する。 Finally, the similar circuit selection device 1 includes a circuit diagram SCH (C P ) stored in the selection circuit storage means 7, a corresponding netlist NL (C P ), layout L (C P ), and correspondence table M. (C N , C P ) is output to the output device 21 (S18), and the process is terminated.

以上が全体の処理の流れである。次に、上述の回路図の規格化処理(S4)、シーケンス・ペア作成処理(S7)、対応表作成処理(S8,S10)、及び類似度算出処理(S9,S11)について、それぞれ具体的な手順を説明する。   The above is the overall processing flow. Next, the above-described circuit diagram normalization processing (S4), sequence pair creation processing (S7), correspondence table creation processing (S8, S10), and similarity calculation processing (S9, S11) will be described in detail. Explain the procedure.

(2)回路図の規格化処理
回路設計者が回路図を作成する場合、同じ回路図であっても設計によって回路図全体の大きさにばらつきが生じる。このように、大きさにばらつきがある2つの回路図の各素子の位置座標を対比して対応表を作成し又は類似度を計算すると、同じ回路であっても対応関係に誤りが生じ、また、類似度が小さい値となり、素子の対応付けや類似性の判断に誤りが生じやすくなる。そこで、かかる回路図全体の大きさにばらつきによる影響をなくすために、上述のステップS4において、新設計回路CNの回路図SCH(CN)と既設計回路CPiの回路図SCH(CPi)の規格化が行われる。
(2) Standardization processing of circuit diagram When a circuit designer creates a circuit diagram, the size of the entire circuit diagram varies depending on the design even if the circuit diagram is the same. Thus, when the correspondence table is created by comparing the position coordinates of each element of two circuit diagrams with variations in size or the similarity is calculated, an error occurs in the correspondence even in the same circuit, and Therefore, the similarity becomes a small value, and an error is likely to occur in the association of elements and the determination of similarity. Therefore, in order to eliminate the influence due to the variation in the size of the entire circuit diagram, in step S4 described above, the circuit diagram SCH (C N ) of the newly designed circuit C N and the circuit diagram SCH (C Pi of the already designed circuit C Pi ) Is standardized.

図3は、回路図の規格化処理の流れを示すフローチャートである。まず、回路図規格化手段10は、新設計回路記憶手段8から、回路図SCH(CN)を読み出す。そして、回路図SCH(CN)の外形の幅w(SCH(CN))と高さh(SCH(CN))を算出する(S21)。 FIG. 3 is a flowchart showing the flow of normalization processing of the circuit diagram. First, the circuit diagram normalization means 10 reads the circuit diagram SCH (C N ) from the newly designed circuit storage means 8. Then, the outer width w (SCH (C N )) and height h (SCH (C N )) of the circuit diagram SCH (C N ) are calculated (S21).

次に、回路図規格化手段10は、既設計回路記憶手段9から、回路図SCH(CPi)を読み出す。そして、同様に、回路図SCH(CPi)の外形の幅w(SCH(CPi))と高さh(SCH(CPi))を算出する(S22)。 Next, the circuit diagram normalization means 10 reads the circuit diagram SCH (C Pi ) from the already designed circuit storage means 9. Similarly, the outer width w (SCH (C Pi )) and height h (SCH (C Pi )) of the circuit diagram SCH (C Pi ) are calculated (S22).

次に、回路図規格化手段10は、回路図SCH(CN)に対し、幅方向に1/w(SCH(CN))、高さ方向に1/h(SCH(CN))の倍率で変倍し、これを規格化された回路図SCH(CN)として新設計回路記憶手段8に保存する(S23)。 Next, the circuit diagram normalization means 10 has 1 / w (SCH (C N )) in the width direction and 1 / h (SCH (C N )) in the height direction with respect to the circuit diagram SCH (C N ). The magnification is changed by the magnification, and this is stored in the newly designed circuit storage means 8 as a standardized circuit diagram SCH (C N ) (S23).

同様に、回路図規格化手段10は、回路図SCH(CPi)に対し、幅方向に1/w(SCH(CPi))、高さ方向に1/h(SCH(CPi))の倍率で変倍し、これを規格化された回路図SCH(CPi)として新設計回路記憶手段8に保存する(S24)。 Similarly, the circuit diagram normalization means 10 is 1 / w (SCH (C Pi )) in the width direction and 1 / h (SCH (C Pi )) in the height direction with respect to the circuit diagram SCH (C Pi ). The magnification is changed by the magnification, and this is stored in the newly designed circuit storage means 8 as a standardized circuit diagram SCH (C Pi ) (S24).

以上の処理により、回路図SCH(CN),SCH(CPi)は、各辺が単位長の正方形に規格化される。尚、ここで正方形に規格化した理由は、正方形であれば、後に行われる回路図変換手段11による回転・反転変換が行われた場合にも、回路図SCH(CN)と回転されたSCHn(CPi)の高さと幅は常に同一となるからである。 With the above processing, the circuit diagrams SCH (C N ) and SCH (C Pi ) are normalized to a square having a unit length on each side. Note that the reason for normalization to the square here is that if it is a square, the circuit diagram SCH (C N ) and the rotated SCH even when rotation / inversion conversion is performed by the circuit diagram conversion means 11 performed later. This is because the height and width of n (C Pi ) are always the same.

(3)シーケンス・ペア作成処理
回路図の素子配置のシーケンス・ペアは、上述の(定義9)により定義される。ここでは、具体的に回路Cの回路図SCH(C)が与えられたときに、その回路図から素子配置のシーケンス・ペア(P,M)を抽出する方法について説明する。
(3) Sequence pair creation processing The sequence pair of the element arrangement in the circuit diagram is defined by (Definition 9) described above. Here, a method for extracting a sequence pair (P, M) of element arrangement from a circuit diagram when a circuit diagram SCH (C) of the circuit C is given will be described.

まず、シーケンス・ペア作成手段13は、素子集合E(C)に属するすべての素子ei(∈E(C))の順列P,Mの初期値を適当に与える。 First, the sequence pair creating means 13 appropriately gives initial values of the permutations P and M of all elements e i (∈E (C)) belonging to the element set E (C).

次に、シーケンス・ペア作成手段13は、素子集合Eに属する各素子ei(∈E(C))について、回路図平面上における代表点の位置座標(x(ei),y(ei))を抽出する。例えば、回路図SCH(C)が図4のような回路図であったとする。まず、各素子を代表点で置き換え、ネットをフライ・ラインで置き換えると図5のようになる。図5においては、「●」で示された点が各素子の代表点を表し、各代表点間を接続する線分はフライ・ラインを表している。 Next, the sequence pair creating means 13 for each element e i (∈E (C)) belonging to the element set E, the position coordinates (x (e i ), y (e i ) of the representative point on the circuit diagram plane. )) Is extracted. For example, assume that the circuit diagram SCH (C) is a circuit diagram as shown in FIG. First, each element is replaced with a representative point, and the net is replaced with a fly line, as shown in FIG. In FIG. 5, the points indicated by “●” represent the representative points of the respective elements, and the line segment connecting the representative points represents the fly line.

尚、ここでは、ネットで接続された2つの素子の代表点を結ぶ線分をフライ・ラインとしているが、各素子について、それに含まれる各端子の座標まで与えられている場合には、ネットで接続された2つの端子の代表点を結ぶ線分をフライ・ラインとしてもよい。   Here, a line connecting the representative points of two elements connected by a net is a fly line. However, if each element is given up to the coordinates of each terminal included in the line, A line segment connecting representative points of two connected terminals may be a fly line.

最後に、シーケンス・ペア作成手段13は、抽出した素子の座標(x(ei),y(ei))に基づいて、以下のような条件下で素子ei(∈E(C))の順列P,Mの整列を行うことによって、シーケンス・ペアP,Mを作成する: Finally, the sequence pair creation means 13 uses the element e i (∈E (C)) under the following conditions based on the extracted element coordinates (x (e i ), y (e i )). Create a sequence pair P, M by aligning the permutations P, M of

Figure 2006146452
Figure 2006146452

この処理を、図4の回路図を例にとって具体的に説明すれば次のようになる。例えば、素子Q3について考える。素子Q3について、式(4)の条件1を満たす素子は、回路図平面上の素子Q3の位置に対して右側半平面における45°及び−45°の勾配を持つ2本の半直線に挟まれた領域内にある素子である。すなわち、図6において斜線で示された領域内にある素子(R1,C1,LO_I1,LO_I2,OUT1,OUT2,及びL_I)である。従って、これらの素子の順列Pにおける順位は、素子Q3の順位よりも後となる。また、これらの素子の順列Mにおける順位は、素子Q3の順位よりも後となる。   This process will be described in detail with reference to the circuit diagram of FIG. 4 as an example. For example, consider element Q3. Regarding the element Q3, an element satisfying the condition 1 of the expression (4) is sandwiched between two half lines having gradients of 45 ° and −45 ° in the right half plane with respect to the position of the element Q3 on the circuit diagram plane. The element is in the region. That is, it is an element (R1, C1, LO_I1, LO_I2, OUT1, OUT2, and L_I) in the region shown by hatching in FIG. Accordingly, the rank of these elements in the permutation P is after the rank of the element Q3. The order of these elements in the permutation M is later than the order of the element Q3.

一方、素子Q3について、式(4)の条件2を満たす素子は、回路図平面上の素子Q3の位置に対して上側半平面における45°及び−45°の勾配を持つ2本の半直線に挟まれた領域内にある素子である。すなわち、図7において斜線で示された領域内にある素子(R1,R2,Q1,Q2,Q5,及びVCC)である。従って、これらの素子の順列Pにおける順位は、素子Q3の順位よりも前となる。また、これらの素子の順列Mにおける順位は、素子Q3の順位よりも後となる。   On the other hand, with respect to the element Q3, an element satisfying the condition 2 of the formula (4) is two half lines having a gradient of 45 ° and −45 ° in the upper half plane with respect to the position of the element Q3 on the circuit diagram plane. It is an element in the sandwiched region. That is, the elements (R1, R2, Q1, Q2, Q5, and VCC) are in the region indicated by the oblique lines in FIG. Therefore, the rank of these elements in the permutation P is before the rank of the element Q3. The order of these elements in the permutation M is later than the order of the element Q3.

順列P,Mの整列は、通常のソート・アルゴリズムを使用して実行される。これにより、回路図における各素子ei(∈E(C))の順序関係はシーケンス・ペア(P,M)に取り込まれる。 The permutation of the permutations P, M is performed using a normal sorting algorithm. Thereby, the order relation of each element e i (∈E (C)) in the circuit diagram is taken into the sequence pair (P, M).

シーケンス・ペアでは、回路図上における各部品間の相対的な順序関係が抽出される。その順序関係は、具体的な素子配置を抽象化した位置関係、すなわち、一方の部品を原点とする(P,M)平面において、45度及び−45度の傾きを持ったP軸及びM軸により4分割される(P,M)平面のどの象限に他方の部品が存在するかという情報である。従って、同じ回路の回路図であっても、設計によってばらつきが大きい各素子の具体的な位置座標に比べると、各素子のシーケンス・ペア座標の設計によるばらつきは小さいという性質がある。   In the sequence pair, the relative order relationship between the components on the circuit diagram is extracted. The order relationship is a positional relationship that abstracts a specific element arrangement, that is, the P-axis and M-axis having inclinations of 45 degrees and −45 degrees on the (P, M) plane with one component as the origin. The information on which quadrant of the (P, M) plane divided into four by the other component exists. Therefore, even in a circuit diagram of the same circuit, the variation due to the design of the sequence / pair coordinates of each element is small compared to the specific position coordinates of each element, which varies greatly depending on the design.

(4)対応表作成処理
次に、ステップS8及びS10における対応表作成処理について説明する。ステップS8とステップS10は、対応表を作成する際に使用する回路図平面上の素子配置の座標系がシーケンス・ペア座標であるか位置座標であるかにおいてのみ異なり、その他は同様である。そこで、ここでは、ステップS8における対応表作成処理についてのみ説明する。ステップS10の処理については、「シーケンス・ペア座標」を「位置座標」と読み替えればよい。
(4) Correspondence table creation processing Next, the correspondence table creation processing in steps S8 and S10 will be described. Steps S8 and S10 differ only in whether the element arrangement coordinate system on the circuit diagram plane used when creating the correspondence table is sequence pair coordinates or position coordinates, and the others are the same. Therefore, only the correspondence table creation process in step S8 will be described here. Regarding the processing in step S10, “sequence pair coordinates” may be read as “position coordinates”.

図8は、対応表作成処理の流れを示すフローチャートである。素子対応手段15は、内部変数として素子対応決定フラグ{c(ej) | ∀ej∈E(CPi)}、素子特定変数j,k,l、候補素子集合変数R、及び素子の対応関数{Mapn(ek) | ∀ek∈E(CN)}を備えている。 FIG. 8 is a flowchart showing the flow of the correspondence table creation process. The element correspondence means 15 includes an element correspondence determination flag {c (e j ) | ∀e j ∈ E (C Pi )}, element specific variables j, k, l, candidate element set variable R, and element correspondence as internal variables. The function {Map n (e k ) | ∀e k ∈ E (C N )} is provided.

まず、素子対応手段15は、既設計回路CPiのすべての素子の素子対応決定フラグ{c(ej) | ∀ej∈E(CPi)}を0(対応未決定)に初期化する(S31)。そして、新設計回路CNの素子を特定する素子特定変数kを1に初期化する(S32)。 First, the element correspondence unit 15 initializes the element correspondence determination flags {c (e j ) | ∀e j ∈E (C Pi )} of all elements of the already designed circuit C Pi to 0 (corresponding undecided). (S31). Then, it initializes the device specific variable k for specifying the element of the new design circuit C N (S32).

次に、素子対応手段15は、既設計回路CPiの素子を特定する素子特定変数jを1に初期化し、候補素子集合変数Rを空集合φに初期化する(S33)。 Next, the element corresponding unit 15 initializes an element specifying variable j for specifying an element of the already designed circuit CPi to 1, and initializes a candidate element set variable R to an empty set φ (S33).

次に、素子対応手段15は、新設計回路CNの素子ekと既設計回路CPiの素子ejに対するデバイスの種類Dev(ek),Dev(ej)をそれぞれの回路図から抽出し比較する(S34)。ここで、Dev(ek)≠Dev(ej)の場合には、ステップS37に移行する。 Next, elements corresponding means 15 extracts new design circuit C N of elements e k and already designed circuit C Pi of elements e j types of devices for Dev (e k), Dev a (e j) from each of the circuit diagram Compare (S34). If Dev (e k ) ≠ Dev (e j ), the process proceeds to step S37.

Dev(ek)=Dev(ej)の場合、素子対応手段15は、新設計回路CNの素子ekと既設計回路CPiの素子ejに対する素子のサイズSize(ek),Size(ej)をそれぞれの回路図から抽出し、その差の絶対値| Size(ek)-Size(ej)|を計算する。そして、絶対値| Size(ek)-Size(ej)|が所定の閾値ThDSizeよりも小さいか否かを判定する(S35)。ここで、| Size(ek)-Size(ej)|≧ThDSizeの場合には、ステップS37に移行する。 Dev (e k) = Dev case (e j), element corresponding means 15, the size Size (e k) of the element relative to the element e j of the element e k and already designed circuit C Pi newly designed circuit C N, Size (e j ) is extracted from each circuit diagram, and the absolute value | Size (e k ) −Size (e j ) | of the difference is calculated. Then, it is determined whether or not the absolute value | Size (e k ) −Size (e j ) | is smaller than a predetermined threshold Th DSize (S35). If | Size (e k ) −Size (e j ) | ≧ Th DSize , the process proceeds to step S37.

| Size(ek)-Size(ej)|<ThDSizeの場合、素子対応手段15は、候補素子集合変数Rに素子ejを追加する(S36)。すなわち、新設計回路CNの素子ekとデバイスの種類が同じで、且つ素子サイズの差が所定の範囲ThDSize以内であるような既設計回路CPiの素子が抽出されて、候補素子集合変数Rに追加される。 If Size (e k ) −Size (e j ) | <Th DSize , the element correspondence unit 15 adds the element e j to the candidate element set variable R (S 36). That is, an element e k and device type of the new design circuit C N are the same, and the difference in element size is extracted elements already design circuit C Pi such that within a predetermined range Th dsize, candidate element set Added to variable R.

以上のステップS34〜S36の動作を、jを1ずつ増加させながら既設計回路CPiに含まれるすべての素子に対して繰り返して実行する(S37,S38)。 The operations in steps S34 to S36 are repeated for all elements included in the already designed circuit C Pi while increasing j by 1 (S37, S38).

ステップS34〜S38のループが終了して候補素子集合変数Rが求められると、素子対応手段15は、候補素子集合変数Rが空集合φ(素子ekに対応づけられる素子はない)か否かを判定する(S39)。ここで、R=φであれば、ステップS42に移行する。 When the loop of steps S34~S38 are determined candidate element set variables R ended, elements corresponding means 15, the candidate element set variable R is (no element to be associated to the element e k) empty set φ whether Is determined (S39). If R = φ, the process proceeds to step S42.

R≠φの場合、素子対応手段15は、シーケンス・ペア記憶手段14を参照し、候補素子集合変数Rに属する各素子ej(∈E(CPi))について、素子ek(∈E(CN))との間のシーケンス・ペア距離ds(ek,ej)を計算し、シーケンス・ペア距離dsが最小の素子el(∈E(CPi))を抽出する(S40)。そして、抽出された素子elを、素子ekの対応関数Map(ek)に代入し、素子対応決定フラグc(el)を1(対応決定済)に設定する(S41)。 When R ≠ φ, the element correspondence unit 15 refers to the sequence pair storage unit 14 and, for each element e j (∈E (C Pi )) belonging to the candidate element set variable R, the element e k (∈E ( C N )) and the sequence pair distance d s (e k , e j ) are calculated, and the element e l (∈E (C Pi )) having the smallest sequence pair distance d s is extracted (S40). ). Then, the extracted element e l is substituted into the correspondence function Map (e k ) of the element e k , and the element correspondence determination flag c (e l ) is set to 1 (correspondence determined) (S41).

尚、本実施例においては、シーケンス・ペア距離dsとしては、式(5)で表されるようなマンハッタン距離を使用する(下記の〔例1〕を参照): In this embodiment, the Manhattan distance represented by the equation (5) is used as the sequence / pair distance d s (see [Example 1] below):

Figure 2006146452
ここで、(α(ek),β(ek)),(α(ek),β(ej))は、それぞれ素子ek,ejのシーケンス・ペア座標である。
Figure 2006146452
Here, (α (e k ), β (e k )), (α (e k ), β (e j )) are the sequence pair coordinates of the elements e k and e j , respectively.

以上のステップS33〜S41の処理を、kを1ずつ増加させながら、新設計回路CNのすべての素子について実行する(S42,S43)。新設計回路CNのすべての素子について処理が終了すると、素子対応手段15は、対応関数{Mapn(ek)| ∀ek∈E(CN)}を対応表Mn(CN,CPi)として出力する(S44)。 The processing of steps S33~S41, while increasing the k by 1, executed for all elements of the new design circuit C N (S42, S43). When the processing is completed for all the elements of the new design circuit C N , the element correspondence unit 15 converts the correspondence function {Map n (e k ) | ∀e k ∈E (C N )} into the correspondence table M n (C N , C Pi ) (S44).

このように、素子の対応表の作成において、シーケンス・ペア距離を用いることによって、各素子の具体的な位置座標の設計ごとのばらつきの影響が少なくなる。従って、より精度のよい対応表を作成することができる。   As described above, in the creation of the element correspondence table, the use of the sequence pair distance reduces the influence of variations in the design of specific position coordinates of each element. Therefore, a more accurate correspondence table can be created.

尚、本実施例においては、シーケンス・ペア座標系において対応表を作成した後に、更に位置座標系において対応表を作成し、両者の対応表による回路の類似度の値を比較して、類似度が大きくなる対応表を採用するようにしている。これは、デバイスの種類が同じで素子の大きさもほぼ等しいような素子を多く使用して構成された回路では、シーケンス・ペア座標系において対応表を作成した場合に、うまく対応付けができず、類似度が小さくなる場合がある。このような場合、補完的に位置座標系において対応表を用いることで、より精度の高い対応表を得られるようにしたものである。   In this embodiment, after the correspondence table is created in the sequence / pair coordinate system, a correspondence table is created in the position coordinate system, and the similarity values of the circuits based on the correspondence tables are compared. The correspondence table that increases is adopted. This is because a circuit configured using many elements with the same type of device and almost the same element size cannot be matched well when a correspondence table is created in the sequence / pair coordinate system. The similarity may be small. In such a case, a correspondence table with higher accuracy can be obtained by complementarily using the correspondence table in the position coordinate system.

〔例1〕
より具体的に説明するため、シーケンス・ペア及びそれに基づく対応表の作成の例について説明する。まず、新設計回路CNとして、図4に示したような回路が入力されたとする。この新設計回路CNの各素子の配置からシーケンス・ペアを抽出するため、図9に示したように、各素子を中心に45°及び−45°の補助線(図9では点線で示す。)を引く。各補助線に対しては、その補助線に対応する素子の素子名を付ける。
[Example 1]
In order to explain more specifically, an example of creating a sequence pair and a correspondence table based thereon will be described. First, as a new design circuit C N, and a circuit as shown in FIG. 4 has been input. Therefore from the arrangement of the elements of the new design circuit C N for extracting a sequence-pair, as shown in FIG. 9 shows each element 45 ° and -45 ° of the auxiliary line to the center (in dotted lines in FIG. )pull. For each auxiliary line, the element name of the element corresponding to the auxiliary line is given.

図9の回路図の左上から右下に向かって45°の傾きの補助線を順番に並べ、それに応じて素子名を並べる。この並べ替えによって順序づけられた素子名の配列を順列Pとする。図9の場合、順列Pは式(6)で表される。   9 are arranged in order from the upper left to the lower right of the circuit diagram of FIG. 9, and the element names are arranged accordingly. An array of element names ordered by this rearrangement is a permutation P. In the case of FIG. 9, the permutation P is expressed by Expression (6).

Figure 2006146452
Figure 2006146452

同様に、図9の回路図の左下から右上に向かって−45°の傾きの補助線を順番に並べ、それに応じて素子名を並べる。この並べ替えによって順序づけられた素子名の配列を順列Mとする。図9の場合、順列Mは式(7)で表される。   Similarly, auxiliary lines having an inclination of −45 ° are arranged in order from the lower left to the upper right of the circuit diagram of FIG. 9, and the element names are arranged accordingly. An array of element names ordered by this rearrangement is a permutation M. In the case of FIG. 9, the permutation M is expressed by the equation (7).

Figure 2006146452
Figure 2006146452

このようにして得られる順列の組(P,M)が、新設計回路CNの回路図の素子配置のシーケンス・ペアである。 In this way, the resulting permutation sets (P, M) is a sequence-pair element location in the circuit diagram of the new design circuit C N.

これに対して、既設計回路記憶手段9に図10の既設計回路CPの回路図が格納されていたとして、図4の新設計回路CNと図10の既設計回路CPとの対応表を作成する場合を考える。尚、図10では、図9と同様に補助線が点線で表示されている。図9の場合と同様にして、図10の回路図の素子配置のシーケンス・ペア(P',M')を作成する。この場合、順列P’,M’は、式(8),式(9)で表される。 In contrast, the corresponding as a circuit diagram of the already design circuit C P in FIG. 10 in the already designed circuit storage unit 9 has been stored, the existing design circuit C P newly designed circuit C N and 10 in FIG. 4 Consider the case of creating a table. In addition, in FIG. 10, the auxiliary line is displayed with the dotted line similarly to FIG. Similarly to the case of FIG. 9, a sequence pair (P ′, M ′) of the element arrangement in the circuit diagram of FIG. 10 is created. In this case, the permutations P ′ and M ′ are expressed by Expression (8) and Expression (9).

Figure 2006146452
Figure 2006146452

シーケンス・ペア(P, M)とシーケンス・ペア(P', M')とをシーケンス・ペア座標系の座標平面に表示すると、図11のようになる。図11において、「○」は新設計回路CNの素子のシーケンス・ペア座標を表しており、「×」は既設計回路CPの素子のシーケンス・ペア座標を表している。 When the sequence pair (P, M) and the sequence pair (P ′, M ′) are displayed on the coordinate plane of the sequence pair coordinate system, FIG. 11 is obtained. 11, "○" represents the sequence-pair coordinates of the elements of the new design circuit C N "×" represents the sequence-pair coordinates of elements already design circuit C P.

例えば、素子C1と素子C1’との間の式(5)で表されるシーケンス・ペア距離ds(C1, C1')は、図11において太線で示した折線の長さとなる。この場合、|α(C1)−α(C1')|=2,|β(C1)−β(C1')|=2である。従って、シーケンス・ペア距離ds(C1, C1')は4となる。対応表を作成する場合、まず、シーケンス・ペア座標平面において、シーケンス・ペア距離が最短の素子同士の対応付けが行われる。例えば、コンデンサの場合、C1とC1’、C1とC2’の大きさの相違が所定の範囲内であれば、C1と同種の素子はC1’,C2’である。C1とC1’との間のシーケンス・ペア距離ds(C1, C1')は4、C1とC2’との間のシーケンス・ペア距離ds(C1, C2')は25である。従って、素子C1は素子C1’に対応づけられる。同様に、他の素子についても対応付けを行っていくことにより、対応表が作成される。
(例終わり)
For example, the sequence pair distance d s (C1, C1 ′) represented by the equation (5) between the element C1 and the element C1 ′ is the length of the broken line indicated by the bold line in FIG. In this case, | α (C1) −α (C1 ′) | = 2 and | β (C1) −β (C1 ′) | = 2. Therefore, the sequence pair distance d s (C1, C1 ′) is 4. When creating the correspondence table, first, the elements having the shortest sequence pair distance are associated with each other on the sequence pair coordinate plane. For example, in the case of a capacitor, if the difference in size between C1 and C1 ′ and C1 and C2 ′ is within a predetermined range, elements of the same type as C1 are C1 ′ and C2 ′. The sequence pair distance d s (C1, C1 ′) between C1 and C1 ′ is 4, and the sequence pair distance d s (C1, C2 ′) between C1 and C2 ′ is 25. Therefore, the element C1 is associated with the element C1 ′. Similarly, a correspondence table is created by associating other elements.
(End of example)

(5)類似度算出処理
最後に、ステップS9,S11における類似度算出処理について説明する。図12,図13は、類似度算出処理の流れを示すフローチャートである。
(5) Similarity Calculation Processing Finally, the similarity calculation processing in steps S9 and S11 will be described. 12 and 13 are flowcharts showing the flow of similarity calculation processing.

まず、類似度算出手段4は、内部変数として有する累積フライ・ライン距離相違度Mfを0に初期化する(S51)。また、平均フライ・ライン距離算出手段3aは、内部変数として有する素子番号jを1に初期化する(S52)。   First, the similarity calculation means 4 initializes the cumulative fly line distance difference Mf, which is an internal variable, to 0 (S51). The average fly line distance calculating means 3a initializes the element number j as an internal variable to 1 (S52).

次に、平均フライ・ライン距離算出手段3aは、回路図SCH(CN)から、素子ej(∈E(CN))の端子集合T(ej)を抽出する(S53)。そして、距離変数ΔxN,ΔyN、及びカウンタnumNを0に初期化する(S54)。また、平均フライ・ライン距離算出手段3aは、端子番号kを1に初期化する(S55)。 Next, the average fly line distance calculation means 3a extracts the terminal set T (e j ) of the element e j (∈E (C N )) from the circuit diagram SCH (C N ) (S53). Then, the distance variables Δx N and Δy N and the counter num N are initialized to 0 (S54). The average fly line distance calculating means 3a initializes the terminal number k to 1 (S55).

次に、平均フライ・ライン距離算出手段3aは、新設計回路CNのネットリストNL(CN)を参照して、端子tk(∈T(ej))に接続するネットnet(tk)を抽出する。そして、端子tkに対してネットnet(tk)により接続された端子の集合T(net(tk))を抽出する(S56)。 Next, the average fly line distance calculation means 3a refers to the net list NL (C N ) of the newly designed circuit C N and refers to the net net (t k connected to the terminal t k (∈T (e j )). ). Then, a set T (net (t k )) of terminals connected to the terminal t k by the net net (t k ) is extracted (S56).

ここで、端子tkに接続された端子がない場合(T(net(tk))=φ)には、ステップS62に移行する(S57)。 If there is no terminal connected to the terminal t k (T (net (t k )) = φ), the process proceeds to step S62 (S57).

T(net(tk))≠φの場合、平均フライ・ライン距離算出手段3aは、端子集合T(net(tk))から選択する端子の端子番号lを1に設定する(S58)。 When T (net (t k )) ≠ φ, the average fly line distance calculating means 3a sets the terminal number 1 of the terminal selected from the terminal set T (net (t k )) to 1 (S58).

そして、平均フライ・ライン距離算出手段3aは、端子集合T(net(tk))からl番目の端子tl(∈T(net(tk)))を選択し、式(10)のように、端子tkと端子tlとの間の位置座標系における距離を距離変数ΔxN,ΔyNに加算するとともに、カウンタnumNを1だけ増加させる(S59): Then, the average fly line distance calculation means 3a selects the l-th terminal t l (∈T (net (t k ))) from the terminal set T (net (t k )), and the equation (10) In addition, the distance in the position coordinate system between the terminal t k and the terminal t l is added to the distance variables Δx N and Δy N and the counter num N is incremented by 1 (S59):

Figure 2006146452
ここで、(x(tk),y(tk)), (x(tl),y(tl))は、それぞれ端子tk,tlの回路図平面上の位置座標である。
Figure 2006146452
Here, (x (t k ), y (t k )), (x (t l ), y (t l )) are position coordinates on the circuit diagram plane of the terminals t k and t l , respectively.

以上のステップS59の積算処理を、端子番号lを増加させながら端子集合T(net(tk))のすべての端子について実行する(S60,S61)。 The integration process in step S59 is executed for all terminals in the terminal set T (net (t k )) while increasing the terminal number l (S60, S61).

そして、以上のステップS56〜S61の処理を、端子集合T(ej)に属するすべての端子tkに対して実行する(S62,S63)。 Then, the processes in steps S56 to S61 are executed for all terminals t k belonging to the terminal set T (e j ) (S62, S63).

ステップS56〜S63の処理が終わると、距離変数ΔxN,ΔyNには、素子ejに接続するすべてのフライ・ラインについてのフライ・ライン距離の積算値(正確には、ΔxN+ΔyNがフライ・ライン距離の積算値)が得られる。そこで、次に、平均フライ・ライン距離算出手段3aは、ΔxN←ΔxN/numN,ΔyN←ΔyN/numNの計算により、素子ejについてのフライ・ライン距離の平均値のx成分及びy成分を算出する(S64)。 When the process of step S56~S63 ends, the distance variable [Delta] x N, the [Delta] y N, the integrated value of the fly line distance for all fly lines connected to the element e j (to be exact, is Δx N + Δy N Integrated value of fly line distance). Accordingly, next, the average fly line distance calculating unit 3a is, Δx N ← Δx N / num N, Δy N ← Δy N / num by calculation of N, x the mean value of the fly line distance for element e j The component and y component are calculated (S64).

次に、平均フライ・ライン距離算出手段3bは、対応表Mn(CN,CPi)を参照し、素子ej(∈E(CN))に対応する素子em=Map(ej)(∈E(CPi))を、既設計回路CPiから抽出する(S65)。ここで、素子ej(∈E(CN))に対応する素子em(∈E(CPi))がない場合(Map(ej)=φ)には(S66)、類似度算出手段4は、累積フライ・ライン距離相違度Mfに定数K(Kは十分大きい値に設定される。)を加えて(S67)、ステップS81に移行する。 Next, the average fly line distance calculation means 3b refers to the correspondence table M n (C N , C Pi ), and the element e m = Map (e j corresponding to the element e j (∈E (C N )). ) (ΕE (C Pi )) is extracted from the already designed circuit C Pi (S65). Here, when there is no element e m (∈E (C Pi )) corresponding to the element e j (∈E (C N )) (Map (e j ) = φ) (S66), similarity calculation means 4 adds a constant K (K is set to a sufficiently large value) to the cumulative fly-line distance dissimilarity Mf (S67), and proceeds to step S81.

素子ej(∈E(CN))に対応する素子em(∈E(CPi))が存在する場合には、平均フライ・ライン距離算出手段3bは、今度は回路図CPi及び素子emに対して、ステップS53〜S64と同様の処理を行い、その結果、素子emについてのフライ・ライン距離の平均値のx成分ΔxPi及びy成分ΔyPiを算出する(S68〜S79)。 If there is an element e m (∈E (C Pi )) corresponding to the element e j (∈E (C N )), the mean fly line distance calculating means 3b, in this case, is the circuit diagram C Pi and the element. against e m, performs the same processing as step S53~S64, as a result, calculates the x component [Delta] x Pi and y components [Delta] y Pi of the average value of the fly line distance for element e m (S68~S79) .

次に、類似度算出手段4は、素子ej(∈E(CN))についてのフライ・ライン距離の平均値と素子em(∈E(CPi))についてのフライ・ライン距離の平均値との距離差|ΔxN-ΔxPiξ+|ΔyN-ΔyPi|ξを累積フライ・ライン距離相違度Mfに加える(S80)。ここで、ξは0より大きい任意の実数を使用できるが、本実施例においてはマンハッタン距離を用いることとしてξ=1とする。 Next, the similarity calculation means 4 calculates the average fly line distance for the element e j (∈E (C N )) and the average fly line distance for the element e m (∈E (C Pi )). The distance difference | Δx N −Δx Pi | ξ + | Δy N −Δy Pi | ξ is added to the cumulative fly line distance difference Mf (S80). Here, any real number larger than 0 can be used as ξ, but in this embodiment, ξ = 1 is set by using the Manhattan distance.

以上のステップS53〜S80の処理を、新設計回路CN内のすべての素子ej(∈E(CN))について実行し(S81,S82)、累積フライ・ライン距離相違度Mfを算出する。 The processes in steps S53 to S80 are executed for all elements e j (∈E (C N )) in the new design circuit C N (S81, S82), and the cumulative fly line distance difference Mf is calculated. .

最後に、類似度算出手段4は、上記処理によって得られた累積フライ・ライン距離相違度Mfの逆数を、新設計回路図SCH(CN)と既設計回路図SCH(CPi)との間の類似度Sim(SCH(CN),SCH(CPi))として出力する(S83)。 Finally, the similarity calculation means 4 calculates the reciprocal of the cumulative fly line distance difference Mf obtained by the above processing between the new design circuit diagram SCH (C N ) and the already designed circuit diagram SCH (C Pi ). Is output as Sim (SCH (C N ), SCH (C Pi )) (S83).

以上のように、本実施例の類似回路選出装置1では、新設計回路図SCH(CN)と既設計回路図SCH(CPi)との間の類似性を類似度Sim(SCH(CN),SCH(CPi))として定量的に評価することができる。従って、この類似度Sim(SCH(CN),SCH(CPi))を用いて、新設計回路図SCH(CN)と同一の既設計回路がない場合であっても、それに類似した既設計回路を適切に選択することが可能となる。 As described above, in the similar circuit selection device 1 of the present embodiment, the similarity between the newly designed circuit diagram SCH (C N ) and the already designed circuit diagram SCH (C Pi ) is represented by the similarity Sim (SCH (C N ), SCH (C Pi )). Therefore, even if there is no design circuit identical to the new design circuit diagram SCH (C N ) using the similarity Sim (SCH (C N ), SCH (C Pi )) It becomes possible to select a design circuit appropriately.

尚、本実施例では、新設計回路図SCH(CN)全体に類似する既設計回路図SCH(CPi)を選出する類似回路選出装置1を示したが、場合によっては、新設計回路図SCH(CN)の一部の部分回路図SCH(CN')(CN∈CN')を取り出して、この部分回路図SCH(CN')に類似する既設計回路図SCH(CPi)を選出したい場合がある。そこで、類似回路検索の対象となる新設計回路図SCH(CN)の一部の部分回路図SCH(CN')(CN∈CN')を切り出すための部分回路選択手段を設ける構成としてもよい。 In the present embodiment, the similar circuit selection device 1 for selecting the already designed circuit diagram SCH (C Pi ) similar to the whole of the new design circuit diagram SCH (C N ) is shown. SCH some partial circuit diagram SCH of (C N) (C N ' ) (C N ∈C N' is taken out), previously designed circuit diagram SCH (C similar to the partial circuit diagram SCH (C N ') Pi ) may be selected. Accordingly, configuration in which a partial circuit selection means for cutting out a part of the partial circuit diagram SCH newly designed circuit diagram SCH to be similar circuits search (C N) (C N ' ) (C N ∈C N') It is good.

図14は、本発明の実施例2に係る類似回路選出装置及び素子対応表作成装置の構成を表すブロック図である。本実施例に係る素子対応表作成装置2’は、実施例1の素子対応表作成装置2に加えて、対象回路選択手段30、対応素子選択手段31、及び対応素子記憶手段32を備えていることを特徴とする。また、本実施例に係る類似回路選出装置1’は、実施例1の類似回路選出装置1に対して、素子対応表作成装置2が素子対応表作成装置2’に置換されているとともに、レイアウト作成手段33及びレイアウト記憶手段34を備えていることを特徴とする。尚、本実施例において、入力装置20としてはマウス及びキーボードが使用され、出力装置21としてはディスプレイが使用されているものとする。   FIG. 14 is a block diagram illustrating configurations of a similar circuit selection device and an element correspondence table creation device according to Embodiment 2 of the present invention. The element correspondence table creating apparatus 2 ′ according to the present embodiment includes a target circuit selection unit 30, a corresponding element selection unit 31, and a corresponding element storage unit 32 in addition to the element correspondence table creation apparatus 2 according to the first embodiment. It is characterized by that. Further, the similar circuit selection device 1 ′ according to the present embodiment is different from the similar circuit selection device 1 according to the first embodiment in that the element correspondence table creation device 2 is replaced with the element correspondence table creation device 2 ′, and the layout. It is characterized by comprising a creation means 33 and a layout storage means 34. In this embodiment, it is assumed that a mouse and a keyboard are used as the input device 20 and a display is used as the output device 21.

対象回路選択手段30は、入力装置20から回路設計者によって入力される指示に従って、既設計回路記憶手段9又は新設計回路記憶手段8に記憶された既設計回路又は新設計回路の全体回路図の中で、素子対応表を作成する対象となる部分回路図を選択する。選択された部分回路図は、既設計回路記憶手段9又は新設計回路記憶手段8に保存される。   The target circuit selection means 30 is a circuit diagram of an entire circuit diagram of an already designed circuit or a new design circuit stored in the already designed circuit storage means 9 or the new design circuit storage means 8 in accordance with an instruction input from the input device 20 by the circuit designer. Among them, a partial circuit diagram for which an element correspondence table is to be created is selected. The selected partial circuit diagram is stored in the already designed circuit storage means 9 or the new design circuit storage means 8.

図15に対象回路選択手段30による部分回路図の選択の例を示す。図15(a)は既設計回路の回路図、図15(b)は新設計回路の回路図を示している。既設計回路の全体回路図40の一部分である部分回路図40aと、新設計回路の一部分である部分回路図41aとを比較して、部分回路図40aと部分回路図41aとの素子対応表を作成する。この場合、回路設計者は、マウス等の入力装置20を用いて、既設計回路図40内のA点からB点にドラッグ等することにより部分回路40aの領域を指定する。同様に、新設計回路図41内のC点からD点にドラッグ等することにより部分回路41aの領域を指定する。このようにして指定された部分回路40a,41aは、既設計回路記憶手段9及び新設計回路記憶手段8に保存されるとともに、出力装置21(ディスプレイ)に表示される。素子対応表の作成は、指定された部分回路図40a,41aに対して行われる。   FIG. 15 shows an example of selection of a partial circuit diagram by the target circuit selection means 30. FIG. 15A shows a circuit diagram of an already designed circuit, and FIG. 15B shows a circuit diagram of a newly designed circuit. A partial circuit diagram 40a which is a part of the entire circuit diagram 40 of the already designed circuit is compared with a partial circuit diagram 41a which is a part of the new design circuit, and an element correspondence table between the partial circuit diagram 40a and the partial circuit diagram 41a is shown. create. In this case, the circuit designer designates the area of the partial circuit 40a by dragging from the point A to the point B in the already designed circuit diagram 40 using the input device 20 such as a mouse. Similarly, the region of the partial circuit 41a is designated by dragging from the C point to the D point in the new design circuit diagram 41. The partial circuits 40a and 41a thus designated are stored in the already-designed circuit storage means 9 and the new design circuit storage means 8, and are displayed on the output device 21 (display). The element correspondence table is created for the designated partial circuit diagrams 40a and 41a.

また、対応素子選択手段31は、既設計回路の各素子に対応する新設計回路の素子があらかじめ分かっている場合において、回路設計者が対応するそれぞれの素子を指定するための手段である。   The corresponding element selection means 31 is a means for designating each corresponding element by the circuit designer when the elements of the new design circuit corresponding to each element of the already designed circuit are known in advance.

例えば、図15において、既設計回路図40の部分回路40a内の素子R3に対して、新設計回路図41の部分回路41a内の素子R10が対応するとわかっていたとする。その場合、回路設計者は、メニュー等を選択してプログラムの実行状態を素子選択状態とし、マウス等の入力装置20を用いて、部分回路40a内の素子R3と部分回路41a内の素子R10をそれぞれクリックして選択する。これにより、部分回路40a内の素子R3と部分回路41a内の素子R10の対応付けが行われる。対応付けが行われた素子は、対応素子記憶手段32に記憶される。そして、素子対応手段15は、対応素子記憶手段32に記憶された素子の対応付けを優先する。そして、対応付けがまだ行われていない素子に対して、実施例1で説明した方法によって素子の対応付けを行い、対応表を作成する。   For example, in FIG. 15, it is assumed that the element R10 in the partial circuit 41a in the newly designed circuit diagram 41 corresponds to the element R3 in the partial circuit 40a in the already designed circuit diagram 40. In this case, the circuit designer selects a menu or the like to set the program execution state to the element selection state, and uses the input device 20 such as a mouse to switch the element R3 in the partial circuit 40a and the element R10 in the partial circuit 41a. Click each to select. Thereby, the element R3 in the partial circuit 40a is associated with the element R10 in the partial circuit 41a. The associated elements are stored in the corresponding element storage unit 32. The element correspondence unit 15 gives priority to the association of the elements stored in the corresponding element storage unit 32. Then, the elements that have not been associated are associated with each other by the method described in the first embodiment, and a correspondence table is created.

図16は、対象回路選択手段で部分回路を選択した状態における出力装置21の表示画面の例を示す図である。図16において、左側のウィンドウ42には、選択された既設計回路の部分回路が表示されている。また、中央のウィンドウ43には、選択された新設計回路の部分回路が表示されている。右側のウィンドウ44は、各種パラメータを入力するウィンドウである。   FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a display screen of the output device 21 in a state where the partial circuit is selected by the target circuit selection unit. In FIG. 16, a partial circuit of the selected already designed circuit is displayed in the left window 42. In the central window 43, a partial circuit of the selected new design circuit is displayed. The right window 44 is a window for inputting various parameters.

ウィンドウ44の領域45は、既設計回路の回路図が格納されたライブラリとファイル名を指定する領域である。「Library Name」のテキスト・ボックス45aに、既設計回路記憶手段9に記憶されている既設計回路のライブラリ名を入力する。また、「Cell Name」のテキスト・ボックス45bに、既設計回路の回路図のファイル名を入力する。ライブラリ名とファイル名を入力して、「Browser」ボタン45cをマウスでクリックすれば、ウィンドウ42に選択された既設計回路の回路図が表示される。   An area 45 of the window 44 is an area for designating a library and a file name in which a circuit diagram of an already designed circuit is stored. In the “Library Name” text box 45a, the library name of the already designed circuit stored in the already designed circuit storage means 9 is entered. Further, the file name of the circuit diagram of the already designed circuit is input to the text box 45b of “Cell Name”. If the library name and file name are input and the “Browser” button 45c is clicked with the mouse, the circuit diagram of the selected designed circuit is displayed in the window.

ウィンドウ44の領域46は、新設計回路の回路図が格納されたライブラリとファイル名を指定する領域である。ここでも同様に、「Library Name」のテキスト・ボックス46aに、新設計回路記憶手段8に記憶されている新設計回路のライブラリ名を入力する。また、「Cell Name」のテキスト・ボックス46bに、新設計回路の回路図のファイル名を入力する。ライブラリ名とファイル名を入力して、「Browser」ボタン46cをマウスでクリックすれば、ウィンドウ43に選択された新設計回路の回路図が表示される。   An area 46 of the window 44 is an area for designating a library and a file name in which the circuit diagram of the newly designed circuit is stored. Similarly, the library name of the new design circuit stored in the new design circuit storage means 8 is entered in the text box 46a of “Library Name”. In addition, the file name of the circuit diagram of the newly designed circuit is input to the text box 46b of “Cell Name”. When the library name and file name are input and the “Browser” button 46 c is clicked with the mouse, the circuit diagram of the newly designed circuit selected is displayed in the window 43.

ウィンドウ44の領域47は、既設計回路内及び新設計回路内の選択する部分回路を指定する領域である。ウィンドウ42又はウィンドウ43の回路図上で、図15で説明したようにマウスによって領域選択を行い、領域47の「Set」ボタン47a,47bをクリックする。これにより、素子対応表作成処理の対象となる部分回路が選択される。   An area 47 of the window 44 is an area for designating a partial circuit to be selected in the already designed circuit and the newly designed circuit. On the circuit diagram of the window 42 or the window 43, an area is selected with the mouse as described with reference to FIG. 15, and “Set” buttons 47a and 47b in the area 47 are clicked. As a result, the partial circuit to be subjected to the element correspondence table creation process is selected.

ウィンドウ44の領域48は、対応素子選択手段31によりマニュアルで対応する素子を指定する際に、既設計回路及び新設計回路における対応する素子を入力する領域である。この場合、領域48内の「Original」の欄のテキスト・ボックス48aに、既設計回路内の素子の素子名を入力し、「Copy」の欄のテキスト・ボックス48bに、新設計回路内の素子の素子名を入力する。この場合、キーボードによって直接素子名を入力することもできるが、ウィンドウ42又はウィンドウ43においてマウスのクリックにより素子を指定して「Set」ボタン48c,48dをマウスでクリックすることによって素子名を入力することもできる。   A region 48 of the window 44 is a region for inputting corresponding elements in the already designed circuit and the new designed circuit when the corresponding element is manually designated by the corresponding element selecting unit 31. In this case, the element name of the element in the already designed circuit is input to the text box 48a in the “Original” column in the area 48, and the element in the new design circuit is input to the text box 48b in the “Copy” column. Enter the element name. In this case, the element name can be directly input with the keyboard. However, the element name is input by clicking the “Set” buttons 48c and 48d with the mouse by specifying the element in the window 42 or 43 by clicking the mouse. You can also.

これらの作業が終わった後に、回路設計者が「schematic」ボタン49をマウスでクリックすると、実施例1で説明した手順によってウィンドウ42,43に表示された回路図に対してそれぞれの素子の素子対応表が自動作成される。作成された素子対応表は、ファイル等の素子対応表記憶手段16に保存される。尚、この場合も実施例1で説明したように、既設計回路の回路図を各種の回転・反転変換した8種類の回路図(以下「変換後既設計回路図」という。)について、それぞれ素子対応表が作成される。   When the circuit designer clicks the “schematic” button 49 with the mouse after these operations are completed, the element correspondence of each element is shown in the circuit diagrams displayed in the windows 42 and 43 by the procedure described in the first embodiment. A table is automatically created. The created element correspondence table is stored in the element correspondence table storage means 16 such as a file. In this case as well, as described in the first embodiment, each of the eight types of circuit diagrams (hereinafter referred to as “converted pre-designed circuit diagrams”) obtained by performing various rotation / inversion conversions on the circuit diagrams of the already-designed circuits. A correspondence table is created.

素子対応表作成装置2’によって、素子対応表が作成されると、次に、実施例1で説明したように、類似度による判定によって、上記8種類の変換後既設計回路図から、新設計回路の回路図に最も類似した変換後既設計回路図が選出され、選出回路記憶手段7に保存される。また、選出された変換後既設計回路図は、出力装置21(ディスプレイ)に表示される。   When the element correspondence table is created by the element correspondence table creation device 2 ′, next, as described in the first embodiment, a new design is obtained from the above-described eight types of already-designed circuit diagrams after conversion by the determination based on the similarity. The converted designed circuit diagram that is most similar to the circuit diagram of the circuit is selected and stored in the selected circuit storage means 7. The selected post-conversion designed circuit diagram is displayed on the output device 21 (display).

また、レイアウト作成手段33は、選択された既設計回路図に対応するレイアウトを、既設計回路記憶手段9から読み出す。選択された既設計回路図がもとの既設計回路の部分回路である場合には、その回路部分に対応するレイアウト部分を切り出す。そして、選択手段6により選択された変換後既設計回路図に施された回転・反転変換と同じ回転・反転変換を、当該レイアウトに対して行う(この回転・反転変換が施されたレイアウトを、以下「変換後レイアウト」という。)。変換後レイアウトは、レイアウト記憶手段34に保存されるとともに、出力装置21(ディスプレイ)に表示される。   The layout creating unit 33 reads a layout corresponding to the selected already-designed circuit diagram from the already-designed circuit storage unit 9. When the selected pre-designed circuit diagram is a partial circuit of the original pre-designed circuit, a layout part corresponding to the circuit part is cut out. Then, the same rotation / inversion conversion as the rotation / inversion conversion applied to the already designed circuit diagram after conversion selected by the selection unit 6 is performed on the layout (the layout subjected to this rotation / inversion conversion is Hereinafter referred to as “post-conversion layout”). The converted layout is stored in the layout storage means 34 and displayed on the output device 21 (display).

図17は、レイアウト作成手段33でレイアウトを作成した後の状態における出力装置21の表示画面の例を示す図である。右上のウィンドウ42及び右下のウィンドウ43は図15と同様である。右上のウィンドウ50は、既設計回路のレイアウトが表示されるウィンドウである。また、右下のウィンドウ51は、新設計回路のレイアウトが表示されるウィンドウである。レイアウト作成手段33でレイアウトを作成した直後には、ウィンドウ50,51には、ともに既設計回路の変換後レイアウトが表示される。あとは、回路設計者はレイアウト・エディタ等を使用して、既設計回路と新設計回路との相違部分についてレイアウトを変更し、最終的な新設計回路のレイアウトを作成する。   FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a display screen of the output device 21 in a state after the layout is created by the layout creating unit 33. The upper right window 42 and the lower right window 43 are the same as those in FIG. The upper right window 50 is a window in which the layout of the already designed circuit is displayed. The lower right window 51 is a window in which a layout of a newly designed circuit is displayed. Immediately after the layout is created by the layout creation means 33, the converted layout of the already designed circuit is displayed in the windows 50 and 51. After that, the circuit designer uses a layout editor or the like to change the layout of the difference between the existing design circuit and the new design circuit, and creates the final layout of the new design circuit.

以上のようにして、既設計回路の設計資源を活用して新設計回路のレイアウトを作成することによって、回路設計の加速化を図ることが可能となる。   As described above, it is possible to accelerate the circuit design by creating the layout of the new design circuit by utilizing the design resources of the already designed circuit.

最後に、本実施例に係る類似回路選出装置1’の使用例について説明する。   Finally, a usage example of the similar circuit selection device 1 ′ according to the present embodiment will be described.

〔使用例1〕
図18は、新設計回路において既設計回路の素子の一部の属性を変更した場合の例である。図18(a)の既設計回路の太線円で囲まれたコンデンサの一つが、図18(b)の新設計回路の太線円で囲まれたコンデンサに置き換えられている。両回路は、これらのコンデンサのキャパシタンスのみが異なる。この場合、類似回路選出装置1’によって、図18の既設計回路と新設計回路との素子対応表を作成するとともに、レイアウト作成手段33によって既設計回路のレイアウトを選出する。図19は、図18の既設計回路及び新設計回路のレイアウトを表す図である。レイアウト作成手段33によって図19(a)の既設計回路のレイアウトが選出される。この場合、既設計回路と新設計回路との間には、回転・反転変換がないので、既設計回路のレイアウトがそのまま新設計回路のレイアウトとして作成される。従って、回路設計者は、素子対応表を参照して、キャパシタが変更されたコンデンサのレイアウトのみを変更し、最終的に図19(b)のような新設計回路のレイアウトを作成することができる。
[Usage example 1]
FIG. 18 shows an example in which some attributes of the elements of the already designed circuit are changed in the newly designed circuit. One of the capacitors surrounded by a thick circle in the already designed circuit in FIG. 18A is replaced with a capacitor surrounded by a thick circle in the newly designed circuit in FIG. Both circuits differ only in the capacitance of these capacitors. In this case, the similar circuit selection device 1 ′ creates an element correspondence table between the already designed circuit and the newly designed circuit of FIG. 18, and the layout creating means 33 selects the layout of the already designed circuit. FIG. 19 is a diagram showing the layout of the already designed circuit and the newly designed circuit of FIG. The layout creation means 33 selects the layout of the already designed circuit shown in FIG. In this case, since there is no rotation / inversion conversion between the already designed circuit and the newly designed circuit, the layout of the already designed circuit is created as it is as the layout of the newly designed circuit. Accordingly, the circuit designer can refer to the element correspondence table, change only the capacitor layout in which the capacitor is changed, and finally create a layout of the new design circuit as shown in FIG. .

〔使用例2〕
図20は、新設計回路において既設計回路の配線の一部を変更した場合の例である。図20(a)の既設計回路に対して、図20(b)の新設計回路では、2カ所において配線が変更されている。この場合、類似回路選出装置1’によって、図20の既設計回路と新設計回路との素子対応表を作成するとともに、レイアウト作成手段33によって図20(a)の既設計回路のレイアウトを選出する。図21は、図20の既設計回路及び新設計回路のレイアウトを表す図である。レイアウト作成手段33によって図21(a)の既設計回路のレイアウトが選出される。この場合、既設計回路と新設計回路との間には、回転・反転変換がないので、既設計回路のレイアウトがそのまま新設計回路のレイアウトとして作成される。従って、回路設計者は、素子対応表を参照して、変更された配線に対応するラッツネストを変更し、最終的に図21(b)のような新設計回路のレイアウトを作成することができる。
[Usage example 2]
FIG. 20 shows an example in which a part of the wiring of the already designed circuit is changed in the newly designed circuit. In the new design circuit in FIG. 20B, the wiring is changed in two places with respect to the already designed circuit in FIG. In this case, the similar circuit selection device 1 ′ creates an element correspondence table between the already designed circuit and the newly designed circuit of FIG. 20, and the layout creating means 33 selects the layout of the already designed circuit of FIG. . FIG. 21 is a diagram showing the layout of the already designed circuit and the newly designed circuit of FIG. The layout creation means 33 selects the layout of the already designed circuit shown in FIG. In this case, since there is no rotation / inversion conversion between the already designed circuit and the newly designed circuit, the layout of the already designed circuit is created as it is as the layout of the newly designed circuit. Therefore, the circuit designer can refer to the element correspondence table, change the rats nest corresponding to the changed wiring, and finally create the layout of the new design circuit as shown in FIG.

〔使用例3〕
図22は、新設計回路において既設計回路の配線の一部を変更するとともに、素子の一部を削除又は追加した場合の例である。図22(a)の既設計回路に対して、図22(b)の新設計回路では、2カ所において配線が変更されている。また、既設計回路のコンデンサC1が新設計回路においては削除されており、また、新設計回路において抵抗R301が追加されている。この場合、類似回路選出装置1’によって、図22の既設計回路と新設計回路との素子対応表を作成するとともに、レイアウト作成手段33によって図22(a)の既設計回路のレイアウトを選出する。図23は、図22の既設計回路及び新設計回路のレイアウトを表す図である。レイアウト作成手段33によって図23(a)の既設計回路のレイアウトが選出される。この場合、既設計回路と新設計回路との間には、回転・反転変換がないので、既設計回路のレイアウトがそのまま新設計回路のレイアウトとして作成される。従って、回路設計者は、素子対応表を参照して、変更された配線に対応するラッツネストを変更する。また、削除されたコンデンサをレイアウト上からも削除し、追加された抵抗をレイアウト上に追加する。そして、最終的に図23(b)のような新設計回路のレイアウトを作成することができる。
[Usage example 3]
FIG. 22 shows an example in which a part of the wiring of the already designed circuit is changed and a part of the element is deleted or added in the newly designed circuit. In the new design circuit shown in FIG. 22B, the wiring is changed at two locations with respect to the already designed circuit shown in FIG. Further, the capacitor C1 of the already designed circuit is deleted in the newly designed circuit, and a resistor R301 is added in the newly designed circuit. In this case, the similar circuit selection device 1 ′ creates an element correspondence table between the already designed circuit and the newly designed circuit of FIG. 22, and the layout creating means 33 selects the layout of the already designed circuit of FIG. . FIG. 23 is a diagram showing the layout of the already designed circuit and the newly designed circuit of FIG. The layout creation means 33 selects the layout of the already designed circuit shown in FIG. In this case, since there is no rotation / inversion conversion between the already designed circuit and the newly designed circuit, the layout of the already designed circuit is created as it is as the layout of the newly designed circuit. Therefore, the circuit designer refers to the element correspondence table and changes the rats nest corresponding to the changed wiring. Further, the deleted capacitor is also deleted from the layout, and the added resistor is added to the layout. Finally, a layout of a newly designed circuit as shown in FIG. 23B can be created.

〔使用例4〕
図24は、同一回路内で同じ部分回路が繰り返して現れる場合に、1つの部分回路のレイアウトを作成し、それを繰り返し再利用する場合の使用例を表す図である。例えば、図24の回路において、領域60のレイアウトを作成したとする。また、領域61,62には、領域60と同様の回路が回路図上現れていたとする。この場合、領域60の回路を既設計回路とし、領域61,62の回路を新設計回路として、類似回路選出装置1’によりレイアウトの作成を行う。これにより、領域61,62のレイアウト設計を行う必要がなくなるため、回路設計が加速化される。
[Usage example 4]
FIG. 24 is a diagram illustrating a usage example in which a layout of one partial circuit is created and reused repeatedly when the same partial circuit repeatedly appears in the same circuit. For example, assume that the layout of the region 60 is created in the circuit of FIG. Further, it is assumed that a circuit similar to the region 60 appears on the circuit diagram in the regions 61 and 62. In this case, a layout is created by the similar circuit selection device 1 ′ with the circuit in the region 60 as an already-designed circuit and the circuits in the regions 61 and 62 as a newly designed circuit. This eliminates the need for layout design of the regions 61 and 62, thereby accelerating circuit design.

本発明の実施例1に係る類似回路選出装置及び素子対応表作成装置の構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the structure of the similar circuit selection apparatus and element correspondence table preparation apparatus which concern on Example 1 of this invention. 実施例1に係る類似回路選出装置1及び素子対応表作成装置2の演算処理動作の全体の流れを示すフローチャートである。6 is a flowchart showing the overall flow of arithmetic processing operations of the similar circuit selection device 1 and the element correspondence table creation device 2 according to the first embodiment. 回路図の規格化処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the normalization process of a circuit diagram. シーケンス・ペア作成処理を説明するための回路図の一例である。It is an example of a circuit diagram for explaining sequence pair creation processing. 図4の回路図から各素子の代表点とフライ・ラインを抽出した図である。It is the figure which extracted the representative point and fly line of each element from the circuit diagram of FIG. 図4の回路図からのシーケンス・ペアの作成方法を説明する図である。It is a figure explaining the preparation method of the sequence pair from the circuit diagram of FIG. 図4の回路図からのシーケンス・ペアの作成方法を説明する図である。It is a figure explaining the preparation method of the sequence pair from the circuit diagram of FIG. 対応表作成処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a correspondence table preparation process. 図4の新設計回路の回路図のシーケンス・ペアの抽出を説明する図である。FIG. 5 is a diagram for explaining extraction of sequence pairs in the circuit diagram of the newly designed circuit of FIG. 4. 既設計回路の回路図のシーケンス・ペアの抽出を説明する図である。It is a figure explaining extraction of the sequence pair of the circuit diagram of an already designed circuit. 図9及び図10の回路図の各素子のシーケンス・ペア座標を表す図である。It is a figure showing the sequence pair coordinate of each element of the circuit diagram of FIG.9 and FIG.10. 類似度算出処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a similarity calculation process. 類似度算出処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a similarity calculation process. 本発明の実施例2に係る類似回路選出装置及び素子対応表作成装置の構成を表すブロック図である。It is a block diagram showing the structure of the similar circuit selection apparatus and element correspondence table preparation apparatus which concern on Example 2 of this invention. 対象回路選択手段30による部分回路図の選択の例を示す図である。4 is a diagram illustrating an example of selection of a partial circuit diagram by a target circuit selection unit 30. FIG. 対象回路選択手段で部分回路を選択した状態における出力装置21の表示画面の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the display screen of the output device 21 in the state which selected the partial circuit with the target circuit selection means. レイアウト作成手段33でレイアウトを作成した後の状態における出力装置21の表示画面の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the display screen of the output device 21 in the state after creating the layout by the layout creation means 33. 新設計回路において既設計回路の素子の一部の属性を変更した場合の例である。This is an example in the case of changing some attributes of elements of an already designed circuit in a new designed circuit. 図18の既設計回路及び新設計回路のレイアウトを表す図である。It is a figure showing the layout of the already designed circuit of FIG. 18, and a new design circuit. 新設計回路において既設計回路の配線の一部を変更した場合の例である。This is an example in which a part of the wiring of an already designed circuit is changed in a newly designed circuit. 図20の既設計回路及び新設計回路のレイアウトを表す図である。It is a figure showing the layout of the already-designed circuit and new design circuit of FIG. 新設計回路において既設計回路の配線の一部を変更するとともに、素子の一部を削除又は追加した場合の例である。In this example, a part of the wiring of the already designed circuit is changed and a part of the element is deleted or added in the newly designed circuit. 図22の既設計回路及び新設計回路のレイアウトを表す図である。It is a figure showing the layout of the existing design circuit of FIG. 22, and a new design circuit. 同一回路内で同じ部分回路が繰り返して現れる場合に、1つの部分回路のレイアウトを作成し、それを繰り返し再利用する場合の使用例を表す図である。When the same partial circuit appears repeatedly in the same circuit, it is a figure showing the usage example when creating the layout of one partial circuit and reusing it repeatedly.

符号の説明Explanation of symbols

1,1’ 類似回路選出装置
2,2’ 素子対応表作成装置
3a,3b 平均フライ・ライン距離算出手段
4 類似度算出手段
5 類似度記憶手段
6 選択手段
7 選出回路記憶手段
8 新設計回路記憶手段
9 既設計回路記憶手段
10 回路図規格化手段
11 回路図変換手段
12 検査回路記憶手段
13 シーケンス・ペア作成手段
14 シーケンス・ペア記憶手段
15 素子対応手段
16 対応表記憶手段
20 入力装置
21 出力装置
30 対象回路選択手段
31 対応素子選択手段
32 対応素子記憶手段
33 レイアウト作成手段
34 レイアウト記憶手段
40 既設計回路図
41 新設計回路図
40a,41a 部分回路
42 既設計回路が表示されたウィンドウ
43 新設計回路が表示されたウィンドウ
44 各種パラメータを入力するウィンドウ
45 既設計回路の回路図が格納されたライブラリとファイル名を指定する領域
46 新設計回路の回路図が格納されたライブラリとファイル名を指定する領域
47 既設計回路内及び新設計回路内の選択する部分回路を指定する領域
48 既設計回路及び新設計回路における対応する素子を入力する領域
49 「schematic」ボタン
50 既設計回路のレイアウトが表示されるウィンドウ
51 新設計回路のレイアウトが表示されるウィンドウ
60 レイアウトを作成した領域
61,62 これからレイアウトを作成する領域

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,1 'Similar circuit selection apparatus 2,2' Element correspondence table preparation apparatus 3a, 3b Average fly line distance calculation means 4 Similarity calculation means 5 Similarity degree memory means 6 Selection means 7 Selection circuit memory means 8 New design circuit memory Means 9 Predesigned circuit storage means 10 Circuit diagram normalization means 11 Circuit diagram conversion means 12 Inspection circuit storage means 13 Sequence pair creation means 14 Sequence pair storage means 15 Element correspondence means 16 Correspondence table storage means 20 Input device 21 Output device DESCRIPTION OF SYMBOLS 30 Target circuit selection means 31 Corresponding element selection means 32 Corresponding element memory | storage means 33 Layout production means 34 Layout storage means 40 Already designed circuit diagram 41 New design circuit diagram 40a, 41a Partial circuit 42 Window where the already designed circuit is displayed 43 New design Window in which circuit is displayed 44 Window for entering various parameters 4 Library for storing the circuit diagram of the already designed circuit and the area for designating the file name 46 Area for designating the library and the file name for storing the circuit diagram of the newly designed circuit 47 Selection in the already designed circuit and in the new designed circuit Area for designating a partial circuit 48 Area for inputting corresponding elements in the existing design circuit and the new design circuit 49 “schematic” button 50 Window for displaying the layout of the existing design circuit 51 Window for displaying the layout of the new design circuit 60 Area where layout was created 61, 62 Area where layout will be created

Claims (26)

2つの回路CN,CPについて、回路CNに含まれる素子と回路CPに含まれる素子との対応表を作成する素子対応表作成装置であって、
2つの回路CN,CPの回路図を記憶する回路記憶手段と、
前記回路記憶手段に記憶された前記回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、前記回路記憶手段に記憶された前記回路CPの回路図に含まれる各素子のうち、前記素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であって、且つ所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)とを対応づけることにより、対応表を作成する素子対応手段と、
を備えていることを特徴とする素子対応表作成装置。
Two circuits C N, the C P, an element correspondence table creating unit that creates a correspondence table of the elements included in the element and the circuit C P included in the circuit C N,
Circuit storage means for storing circuit diagrams of the two circuits C N and C P ;
For each element e j (C N) included in the circuit diagram of the stored said circuit C N in the circuit storage unit, of the respective elements included in the circuit diagram of the stored said circuit C P in the circuit storage unit Among them, the element e j (C N ) is the same as the device type, and the element e j (C is calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in a predetermined metric space coordinate system. Element correspondence means for creating a correspondence table by associating the element e k (C P ) with the smallest distance to N ),
An element correspondence table creating apparatus characterized by comprising:
前記素子対応手段は、
前記回路記憶手段に記憶された前記回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、前記回路記憶手段に記憶された前記回路CPの回路図に含まれる各素子のうち、前記素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であって、前記素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内であり、且つ所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)とを対応づけること
を特徴とする請求項1記載の素子対応表作成装置。
The element corresponding means is
For each element e j (C N) included in the circuit diagram of the stored said circuit C N in the circuit storage unit, of the respective elements included in the circuit diagram of the stored said circuit C P in the circuit storage unit Among them, the element e j (C N ) and the device type are the same, the difference in element size from the element e j (C N ) is within a predetermined range, and predetermined metric space coordinates An element e k (C P ) having a minimum distance from the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the system, The device correspondence table creation device according to claim 1.
前記素子対応手段は、位置座標系において表される回路図平面上の各素子の位置座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)を、前記素子ej(CN)に対応づけること
を特徴とする請求項1又は2記載の素子対応表作成装置。
The element correspondence means includes an element e k (C P having a minimum distance from the element e j (C N ) calculated from the position coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the position coordinate system. ) Is associated with the element e j (C N ), the element correspondence table creation device according to claim 1 or 2.
前記回路CN,CPの回路図から、それぞれの回路の素子配置のシーケンス・ペアを作成するシーケンス・ペア作成手段を備え、
前記素子対応手段は、シーケンス・ペア座標系において表される回路図平面上の各素子のシーケンス・ペア座標から算出される前記素子ej(CN)との間のシーケンス・ペア距離が最小である素子ek(CP)を、前記素子ej(CN)に対応づけること
を特徴とする請求項1又は2記載の素子対応表作成装置。
The circuit C N, the circuit diagram of the C P, comprises a sequence-pair creating means for creating a sequence-pair of elements disposed in each circuit,
The element correspondence means has a minimum sequence pair distance between the element e j (C N ) calculated from the sequence pair coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the sequence pair coordinate system. 3. The element correspondence table creation device according to claim 1, wherein a certain element e k (C P ) is associated with the element e j (C N ).
すでに設計された回路(以下、「既設計回路」という。)の集合{CPi}から、新たに入力された回路(以下、「新設計回路」という。)CNに最も類似するものを選出する類似回路選出装置であって、
前記既設計回路の集合{CPi}に属する既設計回路の回路図を記憶する既設計回路記憶手段と、
前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図について、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対して前記既設計回路CPiに含まれる素子ek(CPi)を対応づけることにより対応表を作成する素子対応手段と、
前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ej(CN)に接続するフライ・ラインの距離の平均値dN(ej(CN))を算出する第1の平均フライ・ライン距離算出手段と、
前記対応表により前記素子ej(CN)に対応づけられた前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ek(CPi)に接続するフライ・ラインの距離の平均値dPi(ek(CPi))を算出する第2の平均フライ・ライン距離算出手段と、
前記第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出手段により算出される2つのフライ・ラインの距離の平均値の相違度を、前記新設計回路CNの回路図に含まれるすべての素子について積算した値(以下、「累積フライ・ライン距離相違度」という。)Mf、又はその逆数1/Mfである類似度を算出する類似度算出手段と、
前記既設計回路記憶手段から読み出された各既設計回路のうち、前記類似度算出手段により算出される累積フライ・ライン距離相違度Mfが最も小さい、又は類似度1/Mfが最も大きい既設計回路を選択する選択手段と、
を備えたことを特徴とする類似回路選出装置。
From the set {C Pi } of already designed circuits (hereinafter referred to as “already designed circuits”), the one that is most similar to the newly input circuit (hereinafter referred to as “new designed circuit”) C N is selected. Similar circuit selection device,
Predesigned circuit storage means for storing circuit diagrams of predesigned circuits belonging to the set of predesigned circuits {C Pi };
The circuit diagram of the already design circuit each existing design circuit C Pi read from the storage means, the existing design circuit for each element e j (C N) included in the circuit diagram of the new design circuit C N an element corresponding means for creating a correspondence table by associating an element e k (C Pi) contained in the C Pi,
For each element e j (C N ) included in the circuit diagram of the new design circuit C N , the fly line connected to the element e j (C N ) in the position coordinate system defined on the circuit diagram plane is displayed. A first average fly line distance calculating means for calculating an average value d N (e j (C N )) of the distance;
With respect to the element e k (C Pi ) in the already designed circuit C Pi associated with the element e j (C N ) according to the correspondence table, the element e a second average fly line distance calculating means for calculating a k (C Pi) average value of the distance of the fly line to connect to the d Pi (e k (C Pi )),
The dissimilarity of the average value of the distance between two fly-line calculated by said first and second average fly line distance calculating means, integrated for all the elements included in the circuit diagram of the new design circuit C N A similarity calculation means for calculating the similarity (hereinafter referred to as “cumulative fly line distance difference”) Mf, or a reciprocal 1 / Mf,
Among the already designed circuits read from the already designed circuit storage means, the already designed circuit having the smallest cumulative fly line distance difference Mf calculated by the similarity calculating means or the highest similarity 1 / Mf. A selection means for selecting a circuit;
A similar circuit selection device comprising:
前記第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出手段は、回路図平面上に定められる位置座標系において、前記両素子間のマンハッタン距離の平均値dN(ej(CN)),dPi(ek(CPi))を算出することを特徴とする請求項5記載の類似回路選出装置。 In the position coordinate system defined on the circuit diagram plane, the first and second average fly line distance calculation means are configured to calculate an average value d N (e j (C N )), d of the Manhattan distance between the two elements. 6. The similar circuit selection device according to claim 5, wherein Pi (e k (C Pi )) is calculated. 前記素子対応手段は、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、当該素子ej(CN)とデバイスの種類が同一である前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小であるものを対応づけること
を特徴とする請求項5又は6に記載の類似回路選出装置。
The element correspondence means is configured so that, for each element e j (C N ) included in the circuit diagram of the new design circuit C N , the element e j (C N ) has the same device type as the element e j (C N ). of element e k in Pi (C Pi), the distance between the elements e j calculated from coordinates of each element on the circuit diagram plane represented at a predetermined distance space coordinate system (C N) 7. The similar circuit selection device according to claim 5, wherein the smallest circuit is associated.
前記素子対応手段は、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、当該素子ej(CN)とデバイスの種類が同一で、且つ当該素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内である前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小であるものを対応づけること
を特徴とする請求項5乃至7の何れか一に記載の類似回路選出装置。
The element corresponding means, said to each element e j included in the circuit diagram of the new design circuit C N (C N), the device type is the same with the element e j (C N), and the elements e j A circuit diagram plane represented in a predetermined metric space coordinate system among the elements e k (C Pi ) in the designed circuit C Pi in which the difference in element size from (C N ) is within a predetermined range The similar circuit according to any one of claims 5 to 7, wherein a circuit having a minimum distance from the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element is associated. Election device.
前記素子対応手段は、位置座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である前記素子ek(CPi)を前記素子ej(CN)に対応づけること
を特徴とする請求項7又は8に記載の類似回路選出装置。
The element correspondence means includes the element e k (C Pi ) having a minimum distance from the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the position coordinate system. ) Is associated with the element e j (C N ), the similar circuit selection device according to claim 7 or 8.
前記回路CN,CPの回路図から、それぞれの回路の素子配置のシーケンス・ペアを作成するシーケンス・ペア作成手段を備え、
前記素子対応手段は、シーケンス・ペア座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間のシーケンス・ペア距離が最小である前記素子ek(CPi)を前記素子ej(CN)に対応づけること
を特徴とする請求項7又は8に記載の類似回路選出装置。
The circuit C N, the circuit diagram of the C P, comprises a sequence-pair creating means for creating a sequence-pair of elements disposed in each circuit,
The element corresponding means has the minimum sequence pair distance between the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the sequence pair coordinate system. The similar circuit selection device according to claim 7, wherein e k (C Pi ) is associated with the element e j (C N ).
前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図又は前記新設計回路の回路図を拡大又は縮小することにより、両回路図の全体の大きさを整合させる回路図規格化手段を備えたことを特徴とする請求項5乃至10の何れか一記載の類似回路選出装置。 By enlarging or reducing the circuit diagram of a circuit diagram or the new design circuit of the already-designed circuits, respectively the already design circuit C Pi read out from the storage unit, the circuit diagram of matching the overall size of both circuit diagram The similar circuit selection device according to claim 5, further comprising a normalization unit. 前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図に対して回転変換又は反転変換を行う回路図変換手段を備え、
前記素子対応手段並びに第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出手段は、前記回路図変換手段により回転変換又は反転変換がされた既設計回路CPiの回路図についてもそれぞれ同様の演算処理を行うことを特徴とする請求項5乃至11の何れか一記載の類似回路選出装置。
Circuit diagram conversion means for performing rotation conversion or inversion conversion on the circuit diagram of each designed circuit C Pi read from the designed circuit storage means;
The element correspondence means and the first and second average fly line distance calculation means perform the same arithmetic processing on the circuit diagram of the designed circuit C Pi that has been rotationally converted or inverted by the circuit diagram converting means. The similar circuit selection device according to claim 5, wherein the similar circuit selection device is performed.
2つの回路CN,CPについて、回路CNに含まれる素子と回路CPに含まれる素子との対応表を作成する素子対応表作成方法であって、
回路記憶手段に記憶された回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、前記回路記憶手段に記憶された回路CPの回路図に含まれる各素子のうち、前記素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であって、且つ所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)とを対応づけることにより、対応表を作成することを特徴とする素子対応表作成方法。
Two circuits C N, the C P, an element correspondence table generation method for generating a correspondence table of the elements included in the element and the circuit C P included in the circuit C N,
For each element e j included in the circuit diagram of the circuit storage means the stored circuit C N (C N), among the elements included in the circuit diagram of the stored circuits C P in the circuit memory device, wherein an element e j (C N) and the type of device are the same, and the is calculated from coordinates of each element on the circuit diagram plane represented at a predetermined distance space coordinate system element e j and (C N) A device correspondence table creating method, comprising: creating a correspondence table by associating with a device e k (C P ) having a minimum distance between.
2つの回路CN,CPについて、回路CNに含まれる素子と回路CPに含まれる素子との対応表を作成する素子対応表作成方法であって、
回路記憶手段に記憶された回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、回路記憶手段に記憶された回路CPの回路図に含まれる各素子のうち、前記素子ej(CN)とデバイスの種類が同一であって、前記素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内であり、且つ所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小である素子ek(CP)とを対応づけることにより、対応表を作成することを特徴とする素子対応表作成方法。
Two circuits C N, the C P, an element correspondence table generation method for generating a correspondence table of the elements included in the element and the circuit C P included in the circuit C N,
For each element e j included in the circuit diagram of the circuit storage means the stored circuit C N (C N), among the elements included in the circuit diagram of the stored circuits C P in the circuit storage unit, the element a e j (C N) and the type of device are the same, the difference in size of the element and the element e j (C N) is within a predetermined range, is and expressed in a predetermined distance space coordinate system A correspondence table is created by associating the element e k (C P ) having the smallest distance to the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane An element correspondence table creation method characterized by the above.
前記所定の距離空間座標系は、位置座標系であることを特徴とする請求項13又は14に記載の素子対応表作成方法。 The element correspondence table creation method according to claim 13 or 14, wherein the predetermined metric space coordinate system is a position coordinate system. 前記所定の距離空間座標系はシーケンス・ペア座標系であり、
前記回路CN,CPの回路図から、それぞれの回路の素子配置のシーケンス・ペアを作成し、シーケンス・ペア座標系において表される回路図平面上の各素子のシーケンス・ペア座標から算出される前記素子ej(CN)との間のシーケンス・ペア距離が最小である素子ek(CP)を、前記素子ej(CN)に対応づけること
を特徴とする請求項13又は14に記載の素子対応表作成方法。
The predetermined metric space coordinate system is a sequence pair coordinate system;
From the circuit diagrams of the circuits C N and C P , a sequence pair of the element arrangement of each circuit is created and calculated from the sequence pair coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the sequence pair coordinate system. The element e k (C P ) having the smallest sequence pair distance between the element e j (C N ) and the element e j (C N ) is associated with the element e j (C N ). 14. The element correspondence table creation method according to 14.
回路図が既設計回路記憶手段に保存された既設計回路の集合{CPi}から、新たに入力された回路(以下、「新設計回路」という。)CNに最も類似するものを選出する類似回路選出方法であって、
前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図について、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対して前記既設計回路CPiに含まれる素子ek(CPi)を対応づけることにより対応表を作成する素子対応ステップと、
前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ej(CN)に接続するフライ・ラインの距離の平均値dN(ej(CN))を算出する第1の平均フライ・ライン距離算出ステップと、
前記対応表により前記素子ej(CN)に対応づけられた前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)に対し、回路図平面上に定められる位置座標系において、当該素子ek(CPi)に接続するフライ・ラインの距離の平均値dPi(ek(CPi))を算出する第2の平均フライ・ライン距離算出ステップと、
前記第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出ステップにおいて算出される2つのフライ・ラインの距離の平均値の相違度を、前記新設計回路CNの回路図に含まれるすべての素子について積算した値(以下、「累積フライ・ライン距離相違度」という。)Mf、又はその逆数1/Mfである類似度を算出する類似度算出ステップと、
前記既設計回路記憶手段から読み出された各既設計回路のうち、前記類似度算出ステップにおいて算出される累積フライ・ライン距離相違度Mfが最も小さい、又は類似度1/Mfが最も大きい既設計回路を選択する選択ステップと、
を有する類似回路選出方法。
From the set {C Pi } of pre-designed circuits whose circuit diagrams are stored in the pre-designed circuit storage means, a circuit that is most similar to the newly input circuit (hereinafter referred to as “new design circuit”) C N is selected. A similar circuit selection method,
The circuit diagram of the already design circuit each existing design circuit C Pi read from the storage means, the existing design circuit for each element e j (C N) included in the circuit diagram of the new design circuit C N an element corresponding step of creating a correspondence table by associating an element e k (C Pi) contained in the C Pi,
For each element e j (C N ) included in the circuit diagram of the new design circuit C N , the fly line connected to the element e j (C N ) in the position coordinate system defined on the circuit diagram plane is displayed. A first average fly line distance calculating step for calculating an average distance d N (e j (C N ));
With respect to the element e k (C Pi ) in the already designed circuit C Pi associated with the element e j (C N ) according to the correspondence table, the element e a second average fly line distance calculation step of calculating an average value d Pi distance fly line (e k (C Pi)) to be connected to k (C Pi),
The dissimilarity of the average value of the distance between the first and two fly lines calculated in the second mean fly line distance calculation step, accumulation for all the elements included in the circuit diagram of the new design circuit C N A similarity calculation step of calculating a similarity that is a value obtained by calculating Mf or its reciprocal 1 / Mf (hereinafter referred to as “cumulative fly line distance difference”);
Among the already designed circuits read from the already designed circuit storage means, the already designed circuit having the smallest accumulated fly-line distance difference Mf calculated in the similarity calculating step or the largest similarity 1 / Mf. A selection step for selecting a circuit;
A method for selecting similar circuits.
前記第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出ステップにおいては、回路図平面上に定められる位置座標系において、前記両素子間のマンハッタン距離の平均値dN(ej(CN)),dPi(ek(CPi))を算出することを特徴とする請求項17記載の類似回路選出方法。 In the first and second average fly line distance calculation steps, in a position coordinate system defined on the circuit diagram plane, an average value d N (e j (C N )), a Manhattan distance between the two elements. 18. The similar circuit selection method according to claim 17, wherein d Pi (e k (C Pi )) is calculated. 前記素子対応ステップにおいては、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、当該素子ej(CN)とデバイスの種類が同一である前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小であるものを対応づけることを特徴とする請求項17又は18に記載の類似回路選出方法。 In the element corresponding step, for each element e j (C N ) included in the circuit diagram of the new design circuit C N , the already-designed circuit whose type of device is the same as the element e j (C N ) among C Pi in the element e k (C Pi), the distance between the elements e j calculated from coordinates of each element on the circuit diagram plane represented at a predetermined distance space coordinate system (C N) 19. The method for selecting similar circuits according to claim 17 or 18, characterized by associating those having the smallest value. 前記素子対応ステップにおいては、前記新設計回路CNの回路図に含まれる各素子ej(CN)に対し、当該素子ej(CN)とデバイスの種類が同一で、且つ当該素子ej(CN)との素子の大きさの差が所定の範囲内である前記既設計回路CPi内の素子ek(CPi)のうち、所定の距離空間座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間の距離が最小であるものを対応づけることを特徴とする請求項17乃至19の何れか一に記載の類似回路選出方法。 In the element corresponding step, for each element e j (C N ) included in the circuit diagram of the new design circuit C N , the element e j (C N ) and the device type are the same, and the element e A circuit diagram represented in a predetermined metric space coordinate system among the elements e k (C Pi ) in the designed circuit C Pi in which the difference in element size from j (C N ) is within a predetermined range. The similarity according to any one of claims 17 to 19, characterized in that an element having a minimum distance from the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on a plane is associated. Circuit selection method. 前記素子対応ステップにおいて、前記所定の距離空間座標系は位置座標系であることを特徴とする請求項19又は20に記載の類似回路選出方法。 21. The similar circuit selection method according to claim 19, wherein, in the element correspondence step, the predetermined metric space coordinate system is a position coordinate system. 前記素子対応ステップにおいて、前記所定の距離空間座標系はシーケンス・ペア座標系であって、前記回路CN,CPの回路図から、それぞれの回路の素子配置のシーケンス・ペアを作成し、シーケンス・ペア座標系において表される回路図平面上の各素子の座標から算出される前記素子ej(CN)との間のシーケンス・ペア距離が最小である前記素子ek(CPi)を前記素子ej(CN)に対応づけることを特徴とする請求項19又は20に記載の類似回路選出方法。 In the element correspondence step, the predetermined metric space coordinate system is a sequence pair coordinate system, and a sequence pair of element arrangements of the respective circuits is created from the circuit diagrams of the circuits C N and C P , The element e k (C Pi ) having the smallest sequence pair distance between the element e j (C N ) calculated from the coordinates of each element on the circuit diagram plane represented in the pair coordinate system 21. The similar circuit selection method according to claim 19, wherein the circuit is associated with the element e j (C N ). 前記素子対応ステップの前に、前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図又は前記新設計回路の回路図を拡大又は縮小することにより、両回路図の全体の大きさを整合させる回路図規格化ステップを有することを特徴とする請求項17乃至22の何れか一記載の類似回路選出方法。 Before the element corresponding step, by enlarging or reducing the circuit diagram of each already-designed circuit C Pi read from the already-designed circuit storage means or the circuit diagram of the new design circuit, the whole of both circuit diagrams 23. The similar circuit selection method according to claim 17, further comprising a circuit diagram normalizing step for matching the sizes of the circuit diagrams. 前記素子対応ステップの前に、前記既設計回路記憶手段から読み出されたそれぞれの既設計回路CPiの回路図に対して回転変換又は反転変換を行う既設計回路図変換ステップを有し、
前記素子対応ステップ並びに第1及び第2の平均フライ・ライン距離算出ステップにおいては、前記既設計回路図変換ステップにおいて回転変換又は反転変換がされた既設計回路CPiの回路図についてそれぞれ同様の演算処理を行うことを特徴とする請求項17乃至23の何れか一記載の類似回路選出方法。
Prior to the element correspondence step, a predesigned circuit diagram conversion step for performing rotation conversion or inversion conversion on the circuit diagram of each predesigned circuit C Pi read from the predesigned circuit storage means,
In the element correspondence step and the first and second average fly line distance calculation steps, the same calculation is performed on the circuit diagram of the predesigned circuit C Pi that has been subjected to rotation conversion or inversion conversion in the predesigned circuit diagram conversion step. The similar circuit selection method according to any one of claims 17 to 23, wherein processing is performed.
請求項13乃至16の素子対応表作成方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。 A program for causing a computer to execute the element correspondence table creating method according to claim 13. 請求項17乃至24の類似回路選出方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。


25. A program for causing a computer to execute the similar circuit selection method according to claim 17 to 24.


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