JP2006135230A - Electrostrictive actuator - Google Patents

Electrostrictive actuator Download PDF

Info

Publication number
JP2006135230A
JP2006135230A JP2004324955A JP2004324955A JP2006135230A JP 2006135230 A JP2006135230 A JP 2006135230A JP 2004324955 A JP2004324955 A JP 2004324955A JP 2004324955 A JP2004324955 A JP 2004324955A JP 2006135230 A JP2006135230 A JP 2006135230A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
piezoelectric actuator
piezoelectric
piezoelectric element
actuator according
load
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004324955A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Nawata
亮 縄田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2004324955A priority Critical patent/JP2006135230A/en
Publication of JP2006135230A publication Critical patent/JP2006135230A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To apply a compression load to a piezoelectric element inside an electrostrictive actuator, without reducing the rigidity of the electrostrictive actuator, when an optical element is hung in a vertical downward direction from a fixing portion connecting a barrel by a parallel linkage that uses the electrostrictive actuator. <P>SOLUTION: A mechanism is used for converting a tensile load due to the weight of the optical element into compression load inside the electrostrictive actuator, when then optical element is hung down in the vertical downward direction from the fixing portion connecting the barrel by the parallel linkage by using the electrostrictive actuator. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、一般的には、精密な駆動に係わり、特に、IC、LSIなどの半導体チップ、液晶パネルなどの表示素子、磁気ヘッドなどの検出素子、CCDなどの撮像素子といった各種デバイスを製造する工程において使用する露光装置の光学素子(レンズ或いはミラーなど)の位置決めに関する圧電アクチュエータに係る。本発明は、例えば、極紫外線(Extream Ultraviolet:EUV)光を露光光として使用する露光装置(以下、「EUV露光装置」と言う。)の光学系に使用される複数の反射型光学素子の位置決め機構のアクチュエータに最適である。   The present invention generally relates to precise driving, and in particular, manufactures various devices such as semiconductor chips such as IC and LSI, display elements such as liquid crystal panels, detection elements such as magnetic heads, and imaging elements such as CCDs. The present invention relates to a piezoelectric actuator related to positioning of an optical element (lens or mirror, etc.) of an exposure apparatus used in the process. In the present invention, for example, positioning of a plurality of reflective optical elements used in an optical system of an exposure apparatus (hereinafter referred to as “EUV exposure apparatus”) that uses extreme ultraviolet (EUV) light as exposure light. Ideal for mechanism actuators.

半導体露光装置は、数多くの異なる種類のパターンを有する原版(レチクル)をシリコンウェハ(基板)に転写する装置である。高集積度の回路を作成するためには、解像性能だけでなく重ね合わせ精度の向上が不可欠である。   A semiconductor exposure apparatus is an apparatus for transferring an original (reticle) having many different types of patterns onto a silicon wafer (substrate). In order to create a highly integrated circuit, it is essential to improve not only the resolution performance but also the overlay accuracy.

半導体露光装置における重ね合わせ誤差は、アライメント誤差、像歪み、及び、倍率誤差に分類される。アライメント誤差は、原版(レチクル)と基板(ウエハ)との相対変位調整によって軽減することができる。一方、像ひずみや倍率誤差は、光学系の一部の光学要素を移動させることによって調整可能である。光学要素を移動させる際には、平行偏芯、及び、傾き偏芯誤差成分が大きくならないようにしなければならない。   Overlay errors in a semiconductor exposure apparatus are classified into alignment errors, image distortions, and magnification errors. The alignment error can be reduced by adjusting the relative displacement between the original (reticle) and the substrate (wafer). On the other hand, image distortion and magnification error can be adjusted by moving some optical elements of the optical system. When moving the optical element, it is necessary to prevent the parallel decentering and tilt decentering error components from increasing.

近年、極紫外線(Extream Ultraviolet:EUV)光を露光光として用いるEUV露光装置の開発が開始されている。このようなEUV露光装置においては、その投影光学系が、反射型の光学素子(ミラー)のみから構成されている。   In recent years, development of an EUV exposure apparatus that uses extreme ultraviolet (EUV) light as exposure light has been started. In such an EUV exposure apparatus, the projection optical system includes only a reflective optical element (mirror).

光学素子の位置決めは、一般的にパラレルリンク機構と呼ばれる、駆動機構を用いて行われる。パラレルリンク機構のアクチュエータとして圧電素子(ピエゾ素子)を用いる方法が考案されている。
特開平10−169524号公報 特開平10−173248号公報
The positioning of the optical element is performed using a drive mechanism generally called a parallel link mechanism. A method of using a piezoelectric element (piezo element) as an actuator of a parallel link mechanism has been devised.
JP-A-10-169524 Japanese Patent Laid-Open No. 10-173248

露光装置の構成上、投影光学系PO内部の光学素子を、鏡筒に繋がる固定部から鉛直下向きに吊り下げる場合がある。しかし、圧電素子は素子の特性上、圧縮荷重を加え縮ませておく必要がある。   Due to the configuration of the exposure apparatus, the optical element inside the projection optical system PO may be hung vertically downward from a fixed portion connected to the lens barrel. However, the piezoelectric element needs to be compressed by applying a compressive load due to the characteristics of the element.

そこで、本発明の例示的な目的は、鉛直下向きに吊り下げられた光学素子を含む可動部を駆動するために最適な露光装置に用いる圧電アクチュエータを提供することにある。   Accordingly, an exemplary object of the present invention is to provide a piezoelectric actuator used in an exposure apparatus that is optimal for driving a movable portion including an optical element suspended vertically downward.

上記目的を達成するために、光学素子が鏡筒に繋がる固定部からパラレルリンク機構を介して鉛直下向きに吊り下げられている場合、可動部の重量による引っ張り荷重を圧縮荷重に変換して、圧電素子に圧縮荷重を加える荷重変換機構を、圧電アクチュエータ内部に設ける。   In order to achieve the above object, when the optical element is suspended vertically downward from the fixed part connected to the lens barrel via the parallel link mechanism, the tensile load due to the weight of the movable part is converted into a compressive load, and the piezoelectric element is A load conversion mechanism for applying a compressive load to the element is provided inside the piezoelectric actuator.

すなわち本発明は、圧電素子と、引っ張り荷重を圧縮荷重に変換する荷重変換機構とを有し、圧電アクチュエータに加えられた引っ張り荷重を荷重変換機構を用いて圧縮荷重に変換し、圧電素子に圧縮荷重を加えることを特徴とする。   That is, the present invention has a piezoelectric element and a load conversion mechanism that converts a tensile load into a compression load, converts the tensile load applied to the piezoelectric actuator into a compression load using the load conversion mechanism, and compresses the piezoelectric element. It is characterized by applying a load.

本発明の更なる目的又はその他の特徴は、以下、添付の図面を参照して説明される好ましい実施例等によって明らかにされるであろう。   Further objects and other features of the present invention will be made clear by the preferred embodiments described below with reference to the accompanying drawings.

従来よりも、高剛性な圧電アクチュエータを提供することができる。   It is possible to provide a piezoelectric actuator having a higher rigidity than conventional ones.

以下に、本発明の実施の形態を添付の図面に基づいて詳細に説明する。   Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

図6には、本実施の形態に係る露光装置100の全体構成が概略的に示されている。この露光装置100は、露光光ELとして例えばEUV光を用い、ステップアンドスキャン方式により露光動作を行う投影露光装置である。本実施例では、マスクとしてのレチクル(マスク)Rからの反射光束をウエハ(基板、感光基板)W上に垂直に投射する投影光学系POが使用されているので、以下においては、この投影光学系POからウエハWへのEUV光ELの投射方向を投影光学系POの光軸方向と呼ぶとともに、この光軸方向をZ軸方向、これに直交する面内で図6における紙面内の方向をY軸方向、紙面に直行する方向をX軸方向として説明するものとする。   FIG. 6 schematically shows the overall configuration of exposure apparatus 100 according to the present embodiment. The exposure apparatus 100 is a projection exposure apparatus that uses, for example, EUV light as the exposure light EL and performs an exposure operation by a step-and-scan method. In the present embodiment, a projection optical system PO that projects a reflected light beam from a reticle (mask) R as a mask vertically onto a wafer (substrate, photosensitive substrate) W is used. The projection direction of the EUV light EL from the system PO onto the wafer W is referred to as the optical axis direction of the projection optical system PO, and this optical axis direction is the Z-axis direction, and the direction in the drawing in FIG. The Y-axis direction and the direction perpendicular to the paper surface will be described as the X-axis direction.

この露光装置100は、マスクとしての反射型レチクルRに描画された回路パターンの一部の像を投影光学系POを介して基板としてのウエハW上に投影しつつ、レチクルRとウエハWとを投影光学系POに対して1次元方向(ここではY軸方向)に相対走査することによって、レチクルRの回路パターンの全体をウエハW上の複数のショット領域の各々にステップアンドスキャン方式で転写するものである。   The exposure apparatus 100 projects the reticle R and the wafer W while projecting an image of a part of the circuit pattern drawn on the reflective reticle R as a mask onto the wafer W as a substrate via the projection optical system PO. The entire circuit pattern of the reticle R is transferred to each of a plurality of shot areas on the wafer W by a step-and-scan method by scanning relative to the projection optical system PO in a one-dimensional direction (here, the Y-axis direction). Is.

露光装置100は、EUV光ELを射出する光源装置(不図示)、この光源装置(不図示)からのEUV光ELを反射して所定の入射角θでレチクルRのパターン面に入射するように反射する跳ね上げミラーM0、レチクルRを保持するレチクルステージRS、レチクルRのパターン面で反射されたEUV光ELをウエハWの被露光面に対して垂直に投射する反射光学系からなる投影光学系PO、ウエハWを保持するウエハステージWSを備えている。   The exposure apparatus 100 reflects the EUV light EL from the light source device (not shown) that emits the EUV light EL and enters the pattern surface of the reticle R at a predetermined incident angle θ. Projection optical system comprising a reflecting mirror M0 for reflecting, a reticle stage RS for holding the reticle R, and an EUV light EL reflected by the pattern surface of the reticle R perpendicularly to the exposed surface of the wafer W A wafer stage WS for holding PO and wafer W is provided.

投影光学系PO内部の反射型光学素子M1は、保持機構40を介してバックプレート30に固定されている。バックプレート30は、パラレルリンク機構20を介して鏡筒Tの一部である固定部50に連結されている。パラレルリンク機構20は図5に示すように、6本の脚で構成されており、各々の脚には圧電アクチュエータ10が取り付けられている。圧電アクチュエータ10は、内部に設けられた圧電素子3が伸縮することにより、長手方向への伸縮が可能となる。6個の圧電アクチュエータ10が伸縮することにより、光学素子M1を含むバックプレート30の6軸方向への位置決めが可能となる。   The reflective optical element M1 inside the projection optical system PO is fixed to the back plate 30 via the holding mechanism 40. The back plate 30 is connected to a fixed portion 50 that is a part of the lens barrel T via the parallel link mechanism 20. As shown in FIG. 5, the parallel link mechanism 20 is composed of six legs, and the piezoelectric actuator 10 is attached to each leg. The piezoelectric actuator 10 can be expanded and contracted in the longitudinal direction by expansion and contraction of the piezoelectric element 3 provided inside. When the six piezoelectric actuators 10 expand and contract, the back plate 30 including the optical element M1 can be positioned in the six-axis directions.

投影光学系PO内部の光学素子M1は、図6に示すように、装置の構成上、鏡筒Tに繋がる固定部50から鉛直下向きに吊り下げられる場合がある。しかし、圧電素子は素子の特性上、圧縮荷重を加え縮ませておく必要がある。そこで、圧電アクチュエータの構成に図1に示すような構成を用いることで、光学素子M1およびバックプレート30の重量を圧縮荷重に変換して、圧電素子3に加えることができる。   As shown in FIG. 6, the optical element M1 inside the projection optical system PO may be suspended vertically downward from a fixed portion 50 connected to the lens barrel T due to the configuration of the apparatus. However, the piezoelectric element needs to be compressed by applying a compressive load due to the characteristics of the element. Therefore, by using the configuration shown in FIG. 1 as the configuration of the piezoelectric actuator, the weight of the optical element M1 and the back plate 30 can be converted into a compressive load and applied to the piezoelectric element 3.

圧電アクチュエータ10の構造を図1に示す。部材1の上部は固定部50に接続され、部材1の下部は圧電素子3の下部に接続されている。部材2の下部はバックプレート30に接続され、部材2の上部は圧電素子3の上部に接続されている。圧電アクチュエータ10をこのような構造にすることで、光学素子M1の重量を圧縮荷重に変換して圧電素子3に加えることができる。   The structure of the piezoelectric actuator 10 is shown in FIG. The upper part of the member 1 is connected to the fixed part 50, and the lower part of the member 1 is connected to the lower part of the piezoelectric element 3. The lower part of the member 2 is connected to the back plate 30, and the upper part of the member 2 is connected to the upper part of the piezoelectric element 3. With the piezoelectric actuator 10 having such a structure, the weight of the optical element M1 can be converted into a compressive load and applied to the piezoelectric element 3.

図6の計測手段70は、光学素子M1もしくはバックプレート30の位置を基準となる構造体、例えば鏡筒Tから非接触で計測する。計測手段70により計測された計測情報71は、補償器80(ここではPI補償器を用いる)により圧電アクチュエータ10への出力情報81に変換される。これにより光学素子M1、もしくは、バックプレート30を基準となる構造体に対して位置決め制御できる。   6 measures the position of the optical element M1 or the back plate 30 from a reference structure, for example, the lens barrel T, in a non-contact manner. Measurement information 71 measured by the measuring means 70 is converted into output information 81 to the piezoelectric actuator 10 by a compensator 80 (here, a PI compensator is used). As a result, the positioning of the optical element M1 or the back plate 30 with respect to the reference structure can be controlled.

本実施例では光学素子が2枚であるが、光学素子の枚数が4枚、6枚など他の枚数であっても構わない。   In this embodiment, the number of optical elements is two, but the number of optical elements may be other numbers such as four or six.

実施例1と実施例2の違いは、圧電アクチュエータ10の構成が異なることなので、ここでは、圧電アクチュエータ10の構成を中心に述べる。   Since the difference between the first embodiment and the second embodiment is that the configuration of the piezoelectric actuator 10 is different, the configuration of the piezoelectric actuator 10 will be mainly described here.

圧電アクチュエータ10の構成を図2に示す。圧電素子3には穴が貫通されている。部材1の上部は圧電素子3の貫通した穴を通して固定部50に接続され、部材1の下部は圧電素子3の下部に接続されている。部材2の下部はバックプレート30に接続され、部材2の上部は圧電素子3の上部に接続されている。圧電アクチュエータ10をこのような構造にすることで、光学素子M1の自重を圧縮荷重として圧電素子に加えることができ、更に、Z軸対称な構造なので、圧電素子3に偏荷重がかかるのを防ぐことができる。   The configuration of the piezoelectric actuator 10 is shown in FIG. A hole is passed through the piezoelectric element 3. The upper part of the member 1 is connected to the fixing part 50 through the hole through which the piezoelectric element 3 passes, and the lower part of the member 1 is connected to the lower part of the piezoelectric element 3. The lower part of the member 2 is connected to the back plate 30, and the upper part of the member 2 is connected to the upper part of the piezoelectric element 3. With the piezoelectric actuator 10 having such a structure, the weight of the optical element M1 can be applied to the piezoelectric element as a compressive load. Further, since the structure is symmetrical with respect to the Z axis, it is possible to prevent the piezoelectric element 3 from being subjected to an unbalanced load. be able to.

実施例1と実施例3の違いは、圧電アクチュエータ10の構成が異なることなので、ここでは、圧電アクチュエータ10の構成を中心に述べる。   Since the difference between the first embodiment and the third embodiment is that the configuration of the piezoelectric actuator 10 is different, the configuration of the piezoelectric actuator 10 will be mainly described here.

圧電アクチュエータ10の構成を図3に示す。圧電素子3には穴が貫通されている。部材1の上部は固定部50に接続され、部材1の下部は圧電素子3の下部に接続されている。部材2の下部はバックプレート30に接続され、部材2の上部は圧電素子3の貫通した穴を通って、圧電素子3の上部に接続されている。圧電アクチュエータ10をこのような構成にすることで、光学素子M1の重量を圧縮荷重として圧電素子3に加えることができ、更に、Z軸対称な構造なので、圧電素子3に偏荷重がかかるのを防ぐことができる。   The configuration of the piezoelectric actuator 10 is shown in FIG. A hole is passed through the piezoelectric element 3. The upper part of the member 1 is connected to the fixed part 50, and the lower part of the member 1 is connected to the lower part of the piezoelectric element 3. The lower part of the member 2 is connected to the back plate 30, and the upper part of the member 2 is connected to the upper part of the piezoelectric element 3 through a through hole of the piezoelectric element 3. By configuring the piezoelectric actuator 10 in this way, the weight of the optical element M1 can be applied to the piezoelectric element 3 as a compressive load. Further, since the structure is symmetric with respect to the Z axis, the piezoelectric element 3 can be applied with an offset load. Can be prevented.

実施例1と実施例4の違いは、圧電アクチュエータ10の構成が異なることなので、ここでは、圧電アクチュエータ10の構成を中心に述べる。   Since the difference between the first embodiment and the fourth embodiment is that the configuration of the piezoelectric actuator 10 is different, the configuration of the piezoelectric actuator 10 will be mainly described here.

圧電アクチュエータの構成を図4に示す。図4に示される圧電アクチュエータ10は圧電素子3の周りをジャケット4で覆っており、こうすることで、圧電アクチュエータ10の横方向の剛性を高めることができる。圧電素子3を覆うジャケットの一部には、ジャケットの伸縮を容易にするためのフレクチャ部5を設けている。   The configuration of the piezoelectric actuator is shown in FIG. The piezoelectric actuator 10 shown in FIG. 4 covers the periphery of the piezoelectric element 3 with a jacket 4, whereby the lateral rigidity of the piezoelectric actuator 10 can be increased. A part of the jacket covering the piezoelectric element 3 is provided with a flexure portion 5 for facilitating the expansion and contraction of the jacket.

部材1の上部は固定部50に接続され、部材1の下部は圧電素子3を覆うジャケット4の下部に接続されている。部材2の下部はバックプレート30に接続され、部材2の上部は圧電素子3を覆うジャケット4の上部に接続されている。   The upper part of the member 1 is connected to the fixing part 50, and the lower part of the member 1 is connected to the lower part of the jacket 4 that covers the piezoelectric element 3. The lower part of the member 2 is connected to the back plate 30, and the upper part of the member 2 is connected to the upper part of the jacket 4 that covers the piezoelectric element 3.

図4のピン6は、組み立て作業中などに圧電アクチュエータ10の上部にバックプレート50や光学素子M1を配置する必要が生じた場合、パックプレート30や光学素子M1の重量を部材2から部材1へ直接伝え、圧電素子3に引っ張り荷重が加わり圧電素子3が破壊されるのを防ぐ役割を果たす。本実施例では、ピン6を用いたがプランジャ等を用いても良い。   4, when it is necessary to dispose the back plate 50 and the optical element M1 on the upper portion of the piezoelectric actuator 10 during assembly work, the weight of the pack plate 30 and the optical element M1 is changed from the member 2 to the member 1. It plays a role in preventing the piezoelectric element 3 from being broken by applying a tensile load to the piezoelectric element 3 directly. In this embodiment, the pin 6 is used, but a plunger or the like may be used.

実施例2、3の圧電アクチュエータ10の構成においても、圧電素子3をジャケットで覆っても良い。   Also in the configurations of the piezoelectric actuators 10 of the second and third embodiments, the piezoelectric element 3 may be covered with a jacket.

以上、本発明の好ましい実施例について説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。   The preferred embodiments of the present invention have been described above, but the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications and changes can be made within the scope of the gist.

圧電アクチュエータの構成を示す図Diagram showing the configuration of the piezoelectric actuator 圧電アクチュエータの構成を示す図Diagram showing the configuration of the piezoelectric actuator 圧電アクチュエータの構成を示す図Diagram showing the configuration of the piezoelectric actuator 圧電アクチュエータの構成を示す図Diagram showing the configuration of the piezoelectric actuator パラレルリンク機構を示す図Diagram showing parallel link mechanism 露光装置の概略を示す図The figure which shows the outline of the exposure equipment

符号の説明Explanation of symbols

1 部材
2 部材
3 圧電素子
4 ジャケット
5 フレクチャ部
6 ピン
10 圧電アクチュエータ
20 パラレルリンク機構
30 バックプレート
40 保持機構
50 固定部
60 可動部
70 非接触計測手段
71 計測情報
80 補償器
81 出力情報
100 露光装置
EL 露光光
R レチクル
RS レチクルステージ
M0 跳ね上げミラー
M1 光学素子
M2 光学素子
W ウエハ
WS ウエハステージ
PO 投影光学系
T 鏡筒
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Member 2 Member 3 Piezoelectric element 4 Jacket 5 Flexure part 6 Pin 10 Piezoelectric actuator 20 Parallel link mechanism 30 Back plate 40 Holding mechanism 50 Fixed part 60 Movable part 70 Non-contact measurement means 71 Measurement information 80 Compensator 81 Output information 100 Exposure apparatus EL Exposure light R Reticle RS Reticle stage M0 Bounce mirror M1 Optical element M2 Optical element W Wafer WS Wafer stage PO Projection optical system T Lens barrel

Claims (13)

圧電素子と、引っ張り荷重を圧縮荷重に変換する荷重変換機構とを有し、圧電アクチュエータに加えられた引っ張り荷重を荷重変換機構を用いて圧縮荷重に変換し、圧電素子に圧縮荷重を加えることを特徴とする圧電アクチュエータ。   It has a piezoelectric element and a load conversion mechanism that converts a tensile load into a compression load, converts the tensile load applied to the piezoelectric actuator into a compression load using the load conversion mechanism, and applies the compression load to the piezoelectric element. A characteristic piezoelectric actuator. 請求項1において、固定部から圧電アクチュエータを介して制御対象を吊り下げ、制御対象の位置決めをすることを特徴とする圧電アクチュエータ。   2. The piezoelectric actuator according to claim 1, wherein the object to be controlled is suspended from the fixed portion via the piezoelectric actuator to position the object to be controlled. 請求項1において、固定部から複数の圧電アクチュエータを介して制御対象を吊り下げ、制御対象の少なくとも1自由度の位置決めをすることを特徴とする圧電アクチュエータ。   2. The piezoelectric actuator according to claim 1, wherein the object to be controlled is suspended from the fixed portion via a plurality of piezoelectric actuators, and the object to be controlled is positioned with at least one degree of freedom. 請求項2または請求項3において、制御対象が光学素子であることを特徴とする圧電アクチュエータ。   4. The piezoelectric actuator according to claim 2, wherein the object to be controlled is an optical element. 請求項4において、光学素子が反射型ミラーであることを特徴とする圧電アクチュエータ。   5. The piezoelectric actuator according to claim 4, wherein the optical element is a reflective mirror. 請求項2〜5いずれかにおいて、固定部に接続される圧電アクチュエータの第1部材が圧電素子の下部に接続され、制御対象に接続される圧電アクチュエータの第2部材が圧電素子の上部に接続されることを特徴とする圧電アクチュエータ。   6. The piezoelectric actuator according to claim 1, wherein the first member of the piezoelectric actuator connected to the fixed portion is connected to the lower portion of the piezoelectric element, and the second member of the piezoelectric actuator connected to the control target is connected to the upper portion of the piezoelectric element. A piezoelectric actuator characterized by that. 請求項2〜5いずれかにおいて、圧電素子に穴を貫通し、固定部に接続される圧電アクチュエータの第1部材が貫通した穴を通して圧電素子の下部に接続され、制御対象に接続される圧電アクチュエータの第2部材が圧電素子の上部に接続されることを特徴とする圧電アクチュエータ。   6. The piezoelectric actuator according to any one of claims 2 to 5, wherein the piezoelectric element is connected to a control target through the hole penetrating the piezoelectric element and connected to the lower portion of the piezoelectric element through the hole through which the first member of the piezoelectric actuator connected to the fixed portion passes. A piezoelectric actuator, wherein the second member is connected to an upper portion of the piezoelectric element. 請求項2〜5いずれかにおいて、圧電素子に穴を貫通し、固定部に接続される圧電アクチュエータの第1部材が圧電素子の下部に接続され、制御対象に接続される圧電アクチュエータの第2部材が貫通した穴を通して圧電素子の上部に接続されることを特徴とする圧電アクチュエータ。   The second member of the piezoelectric actuator according to any one of claims 2 to 5, wherein the first member of the piezoelectric actuator that passes through the hole in the piezoelectric element and is connected to the fixed portion is connected to the lower portion of the piezoelectric element and is connected to the controlled object. Is connected to the upper part of the piezoelectric element through a through-hole. 請求項1〜8いずれかにおいて、圧電素子をジャケットで覆い、固定部に接続される圧電アクチュエータの第1部材が圧電素子を覆うジャケットの下部に接続され、制御対象に接続される圧電アクチュエータの第2部材が圧電素子を覆うジャケットの上部に接続されることを特徴とする圧電アクチュエータ。   9. The piezoelectric actuator according to claim 1, wherein the piezoelectric element is covered with a jacket, the first member of the piezoelectric actuator connected to the fixed portion is connected to a lower part of the jacket covering the piezoelectric element, and the piezoelectric actuator connected to the control target is connected. A piezoelectric actuator characterized in that two members are connected to an upper part of a jacket covering a piezoelectric element. 請求項9において、圧電素子を覆うジャケットの少なくとも一部にジャケットの伸縮を容易にするためのフレクチャ部を設けることを特徴とする圧電アクチュエータ。   10. The piezoelectric actuator according to claim 9, wherein a flexure part for facilitating expansion and contraction of the jacket is provided on at least a part of the jacket covering the piezoelectric element. 請求項9または請求項10において、部材1もしくは部材2のいずれかに、ピンもしくはプランジャを取り付け、圧電素子に引っ張り荷重が加わることを防ぐことを特徴とする圧電アクチュエータ。   The piezoelectric actuator according to claim 9 or 10, wherein a pin or a plunger is attached to either the member 1 or the member 2 to prevent a tensile load from being applied to the piezoelectric element. 請求項2〜11いずれかにおいて、露光装置の光学素子を位置決めすることを特徴とする圧電アクチュエータ。   12. The piezoelectric actuator according to claim 2, wherein the optical element of the exposure apparatus is positioned. 請求項12において、露光装置は極紫外(Extream Ultraviolet:EUV)光を露光光とすることを特徴とする圧電アクチュエータ。   13. The piezoelectric actuator according to claim 12, wherein the exposure apparatus uses extreme ultraviolet (EUV) light as exposure light.
JP2004324955A 2004-11-09 2004-11-09 Electrostrictive actuator Withdrawn JP2006135230A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004324955A JP2006135230A (en) 2004-11-09 2004-11-09 Electrostrictive actuator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004324955A JP2006135230A (en) 2004-11-09 2004-11-09 Electrostrictive actuator

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006135230A true JP2006135230A (en) 2006-05-25

Family

ID=36728480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004324955A Withdrawn JP2006135230A (en) 2004-11-09 2004-11-09 Electrostrictive actuator

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2006135230A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011525701A (en) * 2008-06-10 2011-09-22 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー Optical device with adjustable force applied to optical module
JP2013069857A (en) * 2011-09-22 2013-04-18 Topcon Corp Optical element holding device
JP2014517980A (en) * 2011-04-05 2014-07-24 イーティーエイチ・チューリッヒ Droplet supply device and light source including the droplet supply device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011525701A (en) * 2008-06-10 2011-09-22 カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー Optical device with adjustable force applied to optical module
JP2014517980A (en) * 2011-04-05 2014-07-24 イーティーエイチ・チューリッヒ Droplet supply device and light source including the droplet supply device
JP2013069857A (en) * 2011-09-22 2013-04-18 Topcon Corp Optical element holding device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5009991B2 (en) Lithographic apparatus
JP5131281B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
US10185221B2 (en) Arrangement for actuating an element in a microlithographic projection exposure apparatus
JP4741915B2 (en) Projection system and method of use thereof
KR100588119B1 (en) Lithographic apparatus and device manufacturing method
CN101681869B (en) Method of loading a substrate on a substrate table, device manufacturing method, computer program, data carrier and apparatus
US9122174B2 (en) Method of loading a substrate on a substrate table and lithographic apparatus and device manufacturing method
JP4468980B2 (en) Lithographic projection apparatus and device manufacturing method
JP5323160B2 (en) Lithographic apparatus and pattern damping method for transferring a pattern from a patterning device onto a substrate
KR20010061974A (en) Mask clamping apparatus e.g. for a lithographic apparatus
CN109564398B (en) Positioning system, method for positioning, lithographic apparatus and device manufacturing method
JP2010182867A (en) Positioning apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
US7643150B2 (en) Optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
KR101085958B1 (en) A lithographic apparatus provided with a swap bridge
US11243476B2 (en) Stage apparatus, lithographic apparatus, control unit and method
JP2006135230A (en) Electrostrictive actuator
CN102298267A (en) Lithographic apparatus
US20220326627A1 (en) Actuator assemblies comprising piezo actuators or electrostrictive actuators
KR102349147B1 (en) Lithographic apparatus, lithographic projection apparatus and device manufacturing method
US20210311403A1 (en) Stage apparatus and method for calibrating an object loading process
JP6856758B2 (en) Lithography equipment and device manufacturing method
CN113474732A (en) Inspection apparatus, lithographic apparatus, measurement method
JP2019191422A (en) Optical device, exposure device, manufacturing method of optical device, and article manufacturing method
JP2010102130A (en) Exposure apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20080205