JP2006135053A - Evaporizer and depositing device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an evaporizer which can stably supply a material gas without extremely lowering evaporization efficiency of a material in an evaporization chamber even if the evaporizer is repeatedly used, and to provide a depositing device equipped with the evaporizer. <P>SOLUTION: An evaporizer 30 is provided with an evaporization chamber 32. A plurality of hemispherical projections 40 are provided on the wall surface forming an evaporization chamber 32, and the projections 40 are directed toward the evaporization chamber 32 to block the flow of mist adjacent to the wall surface among the flows of mist sprayed from an evaporization nozzle 35. Thus, an area into which no flow of mist from the evaporization nozzle 35 enters is formed on the wall surface of the evaporization chamber 32. Since almost no object is adhered to the area, the sharp drop of heat exchange efficiency can be prevented, thereby keeping evaporization performance of mist stably. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、気化器および成膜装置に関し、詳細には液状原料を気化して被処理体表面に堆積させる成膜プロセスに用いられる気化器および成膜装置に関する。   The present invention relates to a vaporizer and a film forming apparatus, and more particularly to a vaporizer and a film forming apparatus used in a film forming process in which a liquid raw material is vaporized and deposited on the surface of an object to be processed.

CVD(Chemical Vapor Deposition)法などの方法により、被処理体に成膜を行なう成膜装置では、液状の原料を安定的かつ大量に気化し、原料ガスとして成膜室に供給する目的で気化器が用いられる。このような気化器としては、液状原料をノズルから加熱された気化室内にミストの状態で噴霧することにより気化するミスト方式の気化器が提案されている(例えば、特許文献1)。   In a film forming apparatus that forms a film on a target object by a method such as CVD (Chemical Vapor Deposition), a vaporizer is used for the purpose of vaporizing a liquid raw material stably and in large quantities and supplying it as a raw material gas to a film forming chamber Is used. As such a vaporizer, a mist type vaporizer has been proposed in which a liquid material is vaporized by being sprayed in a vaporized chamber heated from a nozzle in a mist state (for example, Patent Document 1).

ミスト方式の気化器の一般構成を図6に示す。気化器200は、加熱手段を備えた本体201に形成された気化室202を有しており、ノズル203から噴霧された原料のミスト210が、気化室202内の熱雰囲気、および気化室202の壁面との接触、によって加熱されて原料ガスとなり、図示しない成膜室に供給される。
特開平11−342328号公報
A general configuration of a mist type vaporizer is shown in FIG. The vaporizer 200 has a vaporization chamber 202 formed in a main body 201 provided with a heating means, and the mist 210 of the raw material sprayed from the nozzle 203 is heated in the vaporization chamber 202 and in the vaporization chamber 202. The material gas is heated by contact with the wall surface and is supplied to a film forming chamber (not shown).
JP-A-11-342328

しかし、従来の気化器200においては、使用を繰り返す間に、原料のミスト210から溶媒だけが揮発することによって生成した固化物や、加熱により生じた原料の熱分解物、原料中に含まれる不純物などの固形物が、気化室202の壁面に付着して気化効率が低下してくるという問題があった。特に、気化対象となる液状原料にハフニウム系の有機金属化合物を含む場合には、気化室202の壁面に付着物が形成されやすい傾向がある。CVD装置では、均質な薄膜形成を行なうため、成膜室に安定的に原料ガスを供給する必要があるが、気化器200での気化効率が低下すると、ミスト210の一部が気化されないまま原料ガスに混入して成膜室に流入し、被処理体へのパーティクル付着や膜質不良などの成膜トラブルを引き起こす原因となる。   However, in the conventional vaporizer 200, during repeated use, the solidified product generated by volatilization of only the solvent from the raw material mist 210, the thermal decomposition product of the raw material generated by heating, and impurities contained in the raw material There is a problem that the solid matter such as the above adheres to the wall surface of the vaporization chamber 202 and the vaporization efficiency decreases. In particular, when the liquid raw material to be vaporized contains a hafnium-based organometallic compound, deposits tend to be easily formed on the wall surface of the vaporization chamber 202. In the CVD apparatus, it is necessary to stably supply a raw material gas to the film forming chamber in order to form a uniform thin film. However, if the vaporization efficiency in the vaporizer 200 is reduced, the raw material gas is partially evaporated without being vaporized. The gas is mixed into the gas and flows into the film formation chamber, which causes film formation troubles such as adhesion of particles to the object to be processed and poor film quality.

本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、気化器の使用を繰り返しても、気化室内における原料の気化効率を極端に低下させることなく、安定的に原料ガスを供給することが可能な気化器および該気化器を備えた成膜装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and even if the use of the vaporizer is repeated, the raw material gas can be stably supplied without extremely reducing the vaporization efficiency of the raw material in the vaporization chamber. An object is to provide a vaporizer and a film forming apparatus including the vaporizer.

上記課題を解決するため、本発明の第1の観点によれば、加熱手段を備えた中空容器内に形成された気化室と、
前記気化室に液状原料を噴霧するノズルを備えた噴霧手段と、
前記気化室から、気化されたガスを導出する導出部と、
を備えた気化器であって、
前記気化室の壁面に複数の凸部を設けたことを特徴とする、気化器が提供される。
In order to solve the above problem, according to a first aspect of the present invention, a vaporization chamber formed in a hollow container provided with a heating means,
Spraying means comprising a nozzle for spraying the liquid raw material into the vaporizing chamber;
A deriving unit for deriving vaporized gas from the vaporization chamber;
A vaporizer with
A vaporizer is provided, wherein a plurality of convex portions are provided on a wall surface of the vaporization chamber.

上記第1の観点において、前記凸部は、前記ノズルから噴霧されるミストの流れに対して蔭になる領域を形成するように設けられていることが好ましい。
また、前記凸部は、前記ノズルから噴霧されるミストの流れのうち前記気化室の壁面近傍の流れを遮るように設けられていることが好ましい。
また、前記凸部は、前記ノズルから噴霧されるミスト由来の固形物が堆積される堆積領域と、該固形物が堆積されない非堆積領域とを形成するように設けられていることが好ましい。
In the first aspect, it is preferable that the convex portion is provided so as to form a region that becomes a wrinkle with respect to a flow of mist sprayed from the nozzle.
Moreover, it is preferable that the said convex part is provided so that the flow of the wall surface vicinity of the said vaporization chamber may be interrupted | blocked among the flows of mist sprayed from the said nozzle.
Moreover, it is preferable that the said convex part is provided so that the deposition area | region where the solid substance derived from the mist sprayed from the said nozzle may accumulate and the non-deposition area | region where this solid substance may not be deposited may be formed.

前記凸部は、前記気化室へ向けて山状に突設され、あるいは、前記気化室へ向けて板状に突設されていることが好ましい。
また、前記凸部は、少なくとも前記ノズルに対向する壁面およびその近傍に設けられており、前記気化室の壁の略全面に設けられていることが好ましい。
It is preferable that the convex portion protrudes in a mountain shape toward the vaporization chamber or protrudes in a plate shape toward the vaporization chamber.
Further, it is preferable that the convex portion is provided at least on the wall surface facing the nozzle and in the vicinity thereof, and provided on substantially the entire wall of the vaporizing chamber.

また、前記気化室は、前記ノズルから該ノズルに対向する壁面までの距離がこれと直交する方向の壁面間の距離より長尺な円筒状に形成されていることが好ましい。ここで、前記導出部は、前記ノズルと該ノズルに対向する壁面との間において、前記ノズルに近い位置に設けられていることが好ましい。   Moreover, it is preferable that the said vaporization chamber is formed in the cylindrical shape longer than the distance between the wall surfaces of the direction orthogonal to this from the nozzle to the wall surface which opposes this nozzle. Here, it is preferable that the lead-out portion is provided at a position close to the nozzle between the nozzle and a wall surface facing the nozzle.

以上の第1の観点の気化器は、CVD法により成膜を行なう成膜室に接続され、該成膜室に原料ガスを供給するものであることが好ましい。   The vaporizer according to the first aspect described above is preferably connected to a film formation chamber in which a film is formed by a CVD method and supplies a source gas to the film formation chamber.

また、本発明の第2の観点によれば、上記第1の観点の気化器と、
該気化器から供給される原料ガスを用いて被処理体に成膜を行なう成膜室と、を備えたことを特徴とする、成膜装置が提供される。
According to a second aspect of the present invention, the vaporizer according to the first aspect,
There is provided a film forming apparatus comprising: a film forming chamber for forming a film on an object to be processed using a source gas supplied from the vaporizer.

本発明によれば、気化室の壁面に複数の凸部を設けることにより、気化器における気化効率を安定させることが可能となり、気化器から成膜室に持ち越されるミストに起因するパーティクルの発生や成膜不良を確実に予防することができる。これにより、成膜の生産性を向上させることが可能になる。   According to the present invention, by providing a plurality of convex portions on the wall surface of the vaporization chamber, it is possible to stabilize the vaporization efficiency in the vaporizer, generation of particles due to mist carried over from the vaporizer to the film formation chamber, Film formation defects can be reliably prevented. As a result, the productivity of film formation can be improved.

以下、図面を参照しながら、本発明の好ましい形態について説明する。
図1は、本発明の気化器を備えた成膜装置100の概略構成例を示す図面である。この成膜装置100は、例えば、半導体ウエハW(以下、単に「ウエハW」と記す)上にCVDによりHf(ハフニウム)酸化膜を成膜するものであり、処理部を構成するチャンバ10と、Hfを含む液状原料を供給する液状原料供給源20と、液状原料供給源20から供給される液状原料を気化して原料ガスを生成する気化器30と、生成された原料ガスをチャンバ10に供給する原料ガス配管50とを備えている。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration example of a film forming apparatus 100 provided with a vaporizer according to the present invention. The film forming apparatus 100 forms, for example, an Hf (hafnium) oxide film by CVD on a semiconductor wafer W (hereinafter simply referred to as “wafer W”), and includes a chamber 10 constituting a processing unit, A liquid source supply source 20 for supplying a liquid source containing Hf, a vaporizer 30 for generating a source gas by vaporizing the liquid source supplied from the liquid source supply source 20, and supplying the generated source gas to the chamber 10 The raw material gas piping 50 is provided.

チャンバ10は略円筒状をなし、真空排気可能に構成されており、その中には被処理体であるウエハWを水平に支持するためのサセプタ11が円筒状の複数の支持部材12(ここでは、1本のみ図示)により支持された状態で配置されている。また、サセプタ11にはヒータ14が埋め込まれており、このヒータ14は電源15から給電されることにより被処理体であるウエハWを所定の温度に加熱する。   The chamber 10 has a substantially cylindrical shape and is configured to be evacuated, and a susceptor 11 for horizontally supporting a wafer W as an object to be processed is included in a plurality of cylindrical support members 12 (here, (Only one is shown in the figure). In addition, a heater 14 is embedded in the susceptor 11, and the heater 14 is heated by a power source 15 to heat the wafer W as an object to be processed to a predetermined temperature.

チャンバ10の底壁10bには、排気ポート17が形成されており、この排気ポート17には排気系18が接続されている。そして排気系18によりチャンバ10内を所定の真空度まで減圧することができる。   An exhaust port 17 is formed in the bottom wall 10 b of the chamber 10, and an exhaust system 18 is connected to the exhaust port 17. The exhaust system 18 can reduce the pressure in the chamber 10 to a predetermined degree of vacuum.

チャンバ10の天壁10aには、シャワーヘッド19が取り付けられている。このシャワーヘッド19には供給制御弁19aを介して原料ガス配管50が接続されており、気化器30で気化されて形成された原料ガスが、シャワーヘッド19内に導入される。シャワーヘッド19は内部空間19bを有しており、サセプタ11に対する対向面に多数のガス吐出孔19cを有している。したがって、原料ガス配管50を介してシャワーヘッド19の内部空間19bに導入された原料ガスがガス吐出孔19cからサセプタ11上の半導体ウエハWに向けて吐出される。   A shower head 19 is attached to the top wall 10 a of the chamber 10. A raw material gas pipe 50 is connected to the shower head 19 via a supply control valve 19 a, and a raw material gas formed by being vaporized by the vaporizer 30 is introduced into the shower head 19. The shower head 19 has an internal space 19 b and a large number of gas discharge holes 19 c on the surface facing the susceptor 11. Therefore, the source gas introduced into the internal space 19b of the shower head 19 through the source gas pipe 50 is discharged toward the semiconductor wafer W on the susceptor 11 from the gas discharge hole 19c.

本実施形態の成膜装置100において、液状原料供給源20は、ハフニウム系有機金属化合物を貯留しており、液状原料を、原料配管20aを通じて気化器30に向けて送出する。ここで、ハフニウム系有機金属化合物としては、例えば、テトラターシャリーブトキシ・ハフニウム[Hf(Ot−Bu)]、テトラジエチルアミノ・ハフニウム[Hf(NEt]、テトラキスメトキシメチルプロポキシ・ハフニウム[Hf(MMP)]、テトラジメチルアミノ・ハフニウム[Hf(NMe]、テトラメチルエチルアミノ・ハフニウム[Hf(NMeEt)]、テトラキストリエチルシロキシ・ハフニウム[Hf(OSiEt]等のハフニウム系有機金属化合物を挙げることができる。 In the film forming apparatus 100 of this embodiment, the liquid source supply source 20 stores a hafnium-based organometallic compound, and sends the liquid source toward the vaporizer 30 through the source pipe 20a. Here, examples of the hafnium-based organometallic compounds include tetratertiary butoxy hafnium [Hf (Ot-Bu) 4 ], tetradiethylamino hafnium [Hf (NEt 2 ) 4 ], tetrakismethoxymethylpropoxy hafnium [Hf]. Hafnium such as (MMP) 4 ], tetradimethylamino hafnium [Hf (NMe 2 ) 4 ], tetramethylethylamino hafnium [Hf (NMeEt) 4 ], tetrakistriethylsiloxy hafnium [Hf (OSiEt 3 ) 4 ] And organic organometallic compounds.

なお、成膜対象はハフニウム酸化膜に限らず、有機金属化合物としては、例えば、ペンタエトキシ・タンタル[Ta(O−Et)]、テトラターシャリーブトキシ・ジルコニウム[Zr(Ot−Bu)]、テトラエトキシ・シリコン[Si(OEt)]、テトラジメチルアミノ・シリコン[Si(NMe]、テトラキスメトキシメチルプロポキシ・ジルコニウム[Zr(MMP)]、デイスエチルサイクロペンタジエニル・ルテニウム[Ru(EtCp)]、ターシャリーアミルイミドトリジメチルアミド・タンタル[Ta(Nt−Am)(NMe]、トリスジメチルアミノシラン[HSi(NMe]などを用いることもできる。 The film formation target is not limited to the hafnium oxide film, and examples of the organic metal compound include pentaethoxy tantalum [Ta (O—Et)], tetratertiary butoxy zirconium [Zr (Ot—Bu) 4 ], Tetraethoxy silicon [Si (OEt) 4 ], tetradimethylamino silicon [Si (NMe 2 ) 4 ], tetrakismethoxymethylpropoxy zirconium [Zr (MMP) 4 ], disethyl ethyl cyclopentadienyl ruthenium [Ru] (EtCp) 2 ], tertiary amylimide tridimethylamide tantalum [Ta (Nt-Am) (NMe 2 ) 3 ], trisdimethylaminosilane [HSi (NMe 2 ) 3 ] and the like can also be used.

上記有機金属化合物は、常温で液体もしくは固体であり、例えばオクタンなどの有機溶媒により希釈もしくは溶解して使用することができる。   The organometallic compound is liquid or solid at room temperature, and can be used after being diluted or dissolved in an organic solvent such as octane.

図1のような構成の成膜装置100において、液状原料が完全に気化しない場合、一部が微細なミストのまま原料ガスに混じって原料ガス配管50に送出され、チャンバ10に至る場合がある。チャンバ10内に混入したミストは、パーティクルの発生要因になるとともに、ハフニウム酸化膜の膜質を低下させる要因となる。このため本実施形態では、気化器30として図2に示す構成のものを用いる。   In the film forming apparatus 100 configured as shown in FIG. 1, when the liquid raw material is not completely vaporized, a part of the liquid raw material may be mixed with the raw material gas as fine mist and sent to the raw material gas pipe 50 to reach the chamber 10. . The mist mixed in the chamber 10 becomes a factor for generating particles and a factor for deteriorating the quality of the hafnium oxide film. For this reason, in this embodiment, the thing of the structure shown in FIG.

図2は、本発明の第1実施形態に係る気化器30の概略構成例を示す断面図である。気化器30は、気化室32が内部に設けられた本体31と、この気化室32を取り囲むように配置されたヒータ33およびヒータ34を備えている。本体31は、図示しない複数のブロックを組み合わせることにより気化室32を形成できるように構成されている。本体31は、例えばSUSなどの熱伝導性の高い材質で構成することができる。   FIG. 2 is a cross-sectional view showing a schematic configuration example of the vaporizer 30 according to the first embodiment of the present invention. The vaporizer 30 includes a main body 31 in which a vaporization chamber 32 is provided, and a heater 33 and a heater 34 disposed so as to surround the vaporization chamber 32. The main body 31 is configured so that the vaporizing chamber 32 can be formed by combining a plurality of blocks (not shown). The main body 31 can be made of a material having high thermal conductivity such as SUS.

気化室32の一端には、気化ノズル35が配置されており、この気化ノズル35は、原料流量制御弁35a、原料配管20aを介して液状原料供給源20に接続され、噴霧手段を構成している。そして、気化ノズル35を形成するノズルブロック35bの周囲には、キャリアガス噴出部38aが設けられており、このキャリアガス噴出部38aには、キャリアガス配管36、キャリアガス制御弁37を介してキャリアガス源(図示せず)に接続されたキャリアガス通路38が連通している。ここで、キャリアガスとしては、例えばN、He、Arなどの不活性ガスが好適に用いられる。 A vaporizing nozzle 35 is disposed at one end of the vaporizing chamber 32, and this vaporizing nozzle 35 is connected to the liquid raw material supply source 20 via a raw material flow rate control valve 35a and a raw material pipe 20a to constitute a spraying means. Yes. A carrier gas ejection portion 38 a is provided around the nozzle block 35 b forming the vaporizing nozzle 35, and the carrier gas ejection portion 38 a is provided with a carrier gas via a carrier gas pipe 36 and a carrier gas control valve 37. A carrier gas passage 38 connected to a gas source (not shown) communicates. Here, as the carrier gas, for example, an inert gas such as N 2 , He, or Ar is preferably used.

気化室32は、気化ノズル35から、該気化ノズル35に対向する壁面31aまでの距離(つまり、ミスト噴射方向の長さ)がこれと直交する方向の壁面間の距離より長尺となるような略円筒形に形成されている。これによって、気化ノズル35から噴霧されたミストの飛行距離を長くとることが可能となり、ミストは飛行中に気化室32内のガスから熱供給を受け効率良く気化される。気化ノズル35から、気化ノズル35に対向する壁面31aまでの距離は、気化室32の温度分布、ミストの噴射量、キャリアガス量などに応じて適宜設定することが可能であり、例えば、これと直交する方向の壁面間の距離に対して3〜5倍程度の比に設定することが好ましい。   The vaporizing chamber 32 is such that the distance from the vaporizing nozzle 35 to the wall surface 31a facing the vaporizing nozzle 35 (that is, the length in the mist injection direction) is longer than the distance between the wall surfaces in the direction perpendicular thereto. It is formed in a substantially cylindrical shape. This makes it possible to increase the flight distance of the mist sprayed from the vaporizing nozzle 35, and the mist is efficiently vaporized by receiving heat supply from the gas in the vaporizing chamber 32 during the flight. The distance from the vaporization nozzle 35 to the wall surface 31a facing the vaporization nozzle 35 can be appropriately set according to the temperature distribution of the vaporization chamber 32, the amount of mist injection, the amount of carrier gas, etc. It is preferable to set the ratio to about 3 to 5 times the distance between the wall surfaces in the orthogonal direction.

気化室32を形成する壁面には、凸部としての複数の山形突起40が設けられている。それぞれの山形突起40は、その頂部が気化室32へ向かうように断面視山形に突設されている。山形突起40は、前記気化ノズル35から噴霧されるミストの流れのうち壁面近傍の流れを遮るように設けられている。これにより気化室32の壁面に、気化ノズル35から噴霧されるミストの流れに対して蔭になる領域が形成される。この蔭になる領域には固形物がほとんど付着することないため、気化室32の壁からの供給熱量の極端な低下が防止され、ミストの気化性能を安定的に維持できる。この山形突起40の作用については後述する。   On the wall surface forming the vaporizing chamber 32, a plurality of chevron projections 40 are provided as convex portions. Each chevron 40 is projected in a mountain shape in cross section so that the top thereof faces the vaporizing chamber 32. The chevron 40 is provided to block the flow in the vicinity of the wall surface of the mist flow sprayed from the vaporizing nozzle 35. As a result, a region that becomes trapped with respect to the flow of mist sprayed from the vaporizing nozzle 35 is formed on the wall surface of the vaporizing chamber 32. Since almost no solid matter adheres to this wrinkled region, an extreme decrease in the amount of heat supplied from the wall of the vaporizing chamber 32 is prevented, and the vaporization performance of mist can be stably maintained. The operation of the chevron 40 will be described later.

本体31の側面には、気化室32を原料ガス配管50に連通させるガス導出部としての原料ガス導出路39が設けられている。この原料ガス導出路39は、気化ノズル35と該気化ノズル35に対向する壁面31aとの間において、気化ノズル35に近い側に配置されている。このような配置により、気化ノズル35から対向する壁面31aに向けてミストとして噴霧された液状原料は、気化した後に気化室32内を循環して原料ガス導出路39から排出されるようになり、ミストが直接原料ガス導出路39から排出される可能性を低減できる。   On the side surface of the main body 31, a raw material gas outlet passage 39 is provided as a gas outlet portion that communicates the vaporization chamber 32 with the raw material gas pipe 50. The raw material gas lead-out path 39 is disposed on the side close to the vaporizing nozzle 35 between the vaporizing nozzle 35 and the wall surface 31 a facing the vaporizing nozzle 35. With such an arrangement, the liquid raw material sprayed as mist from the vaporizing nozzle 35 toward the opposing wall surface 31a circulates in the vaporizing chamber 32 after being vaporized and is discharged from the raw material gas outlet passage 39. The possibility that the mist is directly discharged from the source gas outlet path 39 can be reduced.

そして、気化ノズル35から液状原料を気化室32の内部に噴霧するとともに、窒素ガス等のキャリアガスをキャリアガス噴出部38aから導入することにより、液状原料は気化室32内に拡散されつつ迅速に気化され、キャリアガスと混合し、原料ガスとなって原料ガス導出路39から原料ガス配管50に送出される。気化室32におけるミストの気化は、ミストが直接気化室32を形成する本体31の壁面に接触し、加熱されて気化する場合と、気化室32内に充満するガスが壁面と熱交換して加熱され、このガスを介して間接的にミストが加熱されて気化する場合と、の二通りの機構によって行なわれる。   Then, the liquid raw material is sprayed from the vaporizing nozzle 35 into the vaporizing chamber 32 and a carrier gas such as nitrogen gas is introduced from the carrier gas ejection portion 38a, so that the liquid raw material is quickly diffused while being diffused into the vaporizing chamber 32. The gas is vaporized and mixed with the carrier gas to be a raw material gas, which is sent from the raw material gas outlet passage 39 to the raw material gas pipe 50. The vaporization of the mist in the vaporization chamber 32 is performed when the mist directly contacts the wall surface of the main body 31 forming the vaporization chamber 32 and is heated to vaporize, or when the gas filled in the vaporization chamber 32 exchanges heat with the wall surface. The mist is indirectly heated through this gas and vaporized by two mechanisms.

ここで、山形突起40の作用について、図3および図4を参照しながらさらに詳しく説明を行なう。なお、図3および図4では、気化室の壁面からの供給熱量の大きさを白矢印で示している。
まず、従来の気化器200(図6参照)における問題点について説明する。従来の気化器200における気化室202の壁面要部の断面構造を図3(a)、(b)に模式的に示す。気化室200の本体201において、円筒状の気化室202を形成する壁面は、横断方向には凹状の曲面として形成され、ミスト流れ方向(長手方向)には略平坦に構成されている。
Here, the operation of the chevron 40 will be described in more detail with reference to FIGS. 3 and 4. In FIGS. 3 and 4, the amount of heat supplied from the wall surface of the vaporization chamber is indicated by white arrows.
First, problems in the conventional vaporizer 200 (see FIG. 6) will be described. 3A and 3B schematically show a cross-sectional structure of the main part of the wall surface of the vaporizing chamber 202 in the conventional vaporizer 200. FIG. In the main body 201 of the vaporization chamber 200, the wall surface forming the cylindrical vaporization chamber 202 is formed as a concave curved surface in the transverse direction, and is substantially flat in the mist flow direction (longitudinal direction).

気化器200の使用初期においては、図3(a)に示すように、壁面は金属などの材質が露出しているため、気化室202内のガスに対して充分な熱量が供給される。しかし、繰り返し気化器200を使用する間に、図3(b)に示すように壁面に徐々に固形物が付着して付着物層300が形成される。付着物層300が形成されると、加熱された壁面と気化室202内のガスとの熱交換効率が徐々に低下していく。このため、ノズル203から供給されたミストの気化が不十分になり、ミストが気化しないまま成膜室まで持ち越され、パーティクルや成膜不良の原因となる。   In the initial stage of use of the vaporizer 200, as shown in FIG. 3A, the wall surface is exposed to a material such as metal, so that a sufficient amount of heat is supplied to the gas in the vaporization chamber 202. However, while the vaporizer 200 is repeatedly used, the solid matter gradually adheres to the wall surface as shown in FIG. When the deposit layer 300 is formed, the heat exchange efficiency between the heated wall surface and the gas in the vaporization chamber 202 gradually decreases. For this reason, the vaporization of the mist supplied from the nozzle 203 becomes insufficient, and the mist is carried over to the film formation chamber without being vaporized, causing particles and film formation defects.

本実施形態にかかる気化器30の場合は、山形突起40が、気化ノズル35から噴霧されるミストの流れのうち気化室32の壁面近傍の流れを遮るように設けられている。その結果、気化室32の壁面に、気化ノズル35から噴霧されるミストの流れに対して蔭になる領域が形成される。具体的には、図4(a)の領域40aによりミストの流れが遮られ、領域40bはミストの流れに対して蔭になる。   In the case of the vaporizer 30 according to the present embodiment, the chevron 40 is provided so as to block the flow in the vicinity of the wall surface of the vaporization chamber 32 among the flow of mist sprayed from the vaporization nozzle 35. As a result, on the wall surface of the vaporizing chamber 32, a region that becomes trapped with respect to the flow of mist sprayed from the vaporizing nozzle 35 is formed. Specifically, the mist flow is blocked by the region 40a in FIG. 4A, and the region 40b becomes trapped with respect to the mist flow.

気化器30の使用を続けていくと、図4(b)に示すように、領域40aには固形物が付着して付着物層300が形成されるが、領域40bには固形物の付着が殆ど起こらず、付着物層300は形成されない。つまり、領域40aはミスト由来の固形物が堆積される堆積領域となり、領域40bは固形物が堆積されない非堆積領域となる。従って、この領域40bでは、白矢印で示す壁面からの熱供給量が低下しない。その結果、気化室32内の壁面全面積に対する領域40bの面積比率に対応する熱量の供給が維持、確保されることになる。   When the use of the vaporizer 30 is continued, as shown in FIG. 4B, solid matter adheres to the region 40a to form the deposit layer 300, but solid matter adheres to the region 40b. Almost no occurrence occurs and the deposit layer 300 is not formed. That is, the region 40a is a deposition region where a solid material derived from mist is deposited, and the region 40b is a non-deposition region where no solid material is deposited. Accordingly, in this region 40b, the heat supply amount from the wall surface indicated by the white arrow does not decrease. As a result, the supply of heat corresponding to the area ratio of the region 40b to the entire wall surface area in the vaporizing chamber 32 is maintained and secured.

このように山形突起40を設けることにより、気化室32の壁(本体31)と気化室32内のガスとの熱交換効率の極端な低下が回避され、ミストの気化性能が安定的に維持される。凸部としての山形突起40は、固形物の付着が発生しやすい部位、例えば、少なくとも気化ノズル35に対向する壁面31aおよびその近傍に設けることが好ましく、気化室32の壁面全体に設けることがより好ましい。
なお、山形突起40の数や突起の高さや、蔭となる領域40bの比率などは、例えば、液状原料中の有機金属化合物の種類(固形物の生成しやすさ)、気化室32の大きさや形状、気化ノズル35から噴霧されるミストの強さ、キャリアガスの噴出量などを勘案して決定することができる。
By providing the chevron 40 in this way, an extreme decrease in the efficiency of heat exchange between the wall (main body 31) of the vaporizing chamber 32 and the gas in the vaporizing chamber 32 is avoided, and the vaporization performance of mist is stably maintained. The It is preferable that the chevron 40 as the convex portion is provided on a portion where solid matter is likely to adhere, for example, at least in the wall surface 31a facing the vaporizing nozzle 35 and in the vicinity thereof, and more preferably on the entire wall surface of the vaporizing chamber 32. preferable.
Note that the number of chevron projections 40, the height of the projections, the ratio of the region 40b that becomes a ridge, and the like are, for example, the type of organometallic compound in the liquid raw material (ease of generating solid matter), the size of the vaporization chamber 32, and the like. It can be determined in consideration of the shape, the strength of the mist sprayed from the vaporizing nozzle 35, the ejection amount of the carrier gas, and the like.

以上述べたように、気化器30を組み込んだ成膜装置100では、長期間使用しても気化室32内のガスに対し常に一定の供給熱量が維持されるため、ミストが気化せずにチャンバ10に移行することを防止できる。よって、ミストに起因するパーティクルの発生や成膜不良を予防し、良質な薄膜を安定的に成膜することが可能になる。   As described above, in the film forming apparatus 100 in which the vaporizer 30 is incorporated, a constant supply heat amount is always maintained for the gas in the vaporization chamber 32 even when used for a long period of time. 10 can be prevented. Therefore, it is possible to prevent generation of particles due to mist and film formation failure, and stably form a high-quality thin film.

図5は、本発明の第2実施形態に係る気化器130の概略構成を示す図面である。なお、第2実施形態の気化器130において、図2に示す第1実施形態の気化器30と同一の構成には同一の符号を付して説明を省略する。   FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a vaporizer 130 according to the second embodiment of the present invention. In addition, in the vaporizer | carburetor 130 of 2nd Embodiment, the same code | symbol is attached | subjected to the structure same as the vaporizer | carburetor 30 of 1st Embodiment shown in FIG. 2, and description is abbreviate | omitted.

気化器130では、板状に突設された壁体41を複数設けている。壁体41はリング状に形成されている。壁体41は、本体31とは別の材質の部材を接合することにより形成してもよいが、本体31と一体的に形成してもよい。本体1と同じ熱伝導性に優れた材質、例えばSUSなどで構成することが好ましい。   The vaporizer 130 is provided with a plurality of wall bodies 41 protruding in a plate shape. The wall body 41 is formed in a ring shape. The wall body 41 may be formed by bonding a member made of a material different from that of the main body 31, but may be formed integrally with the main body 31. It is preferable that the main body 1 is made of the same material having excellent thermal conductivity, for example, SUS.

壁体41の作用は、図2の山形突起40と基本的に同様であり、気化室32の壁面に、気化ノズル35から噴霧されるミストの流れに対して蔭になる領域を形成する。壁体41の上面(ミストの流れ方向に向き合う面)には固形物が付着するが、壁体41の下面や、壁体41と壁体41の間に露出する壁面(本体31の露出面)には、壁体41の蔭となって固形物による付着物層300が形成されにくい。従って、これら付着物層300のない領域では供給熱量が低下することなく、気化室32内のガスへ充分な熱供給がなされ、ミストの気化が安定的に行なわれる。   The action of the wall body 41 is basically the same as that of the chevron 40 of FIG. 2, and a region that becomes a trap for the flow of mist sprayed from the vaporizing nozzle 35 is formed on the wall surface of the vaporizing chamber 32. Solid matter adheres to the upper surface of the wall body 41 (the surface facing the mist flow direction), but the lower surface of the wall body 41 and the wall surface exposed between the wall body 41 and the wall body 41 (exposed surface of the main body 31). Therefore, it becomes difficult for the deposit layer 300 made of solid matter to be formed as a trap of the wall body 41. Therefore, in the region where there is no deposit layer 300, the amount of heat supplied does not decrease, and sufficient heat is supplied to the gas in the vaporizing chamber 32 so that the mist is vaporized stably.

以上、本発明の実施形態を述べたが、本発明は上記実施形態に制約されることはなく、種々の変形が可能である。
上記第1実施形態(図2)および第2実施形態(図5)では、凸部として山形突起40および板状の壁体41を設けた構成を挙げたが、凸部の形態はこれらに限るものではなく、ミストの流れに対して蔭となる領域を形成できるものであればよい。
As mentioned above, although embodiment of this invention was described, this invention is not restrict | limited to the said embodiment, A various deformation | transformation is possible.
In the said 1st Embodiment (FIG. 2) and 2nd Embodiment (FIG. 5), although the structure which provided the mountain-shaped protrusion 40 and the plate-shaped wall body 41 as a convex part was mentioned, the form of a convex part is restricted to these. What is necessary is just to be able to form the area | region which becomes a wrinkle with respect to the flow of mist instead of a thing.

また、例えば上記第1実施形態では、凸部を形成するために、気化室32へ向けて山形突起40を形成したが、気化室32の壁を構成する本体31に溝を刻設することによっても、実質的に同様の凸部を形成することができる。   Further, for example, in the first embodiment, the mountain-shaped protrusion 40 is formed toward the vaporizing chamber 32 in order to form the convex portion. However, by forming a groove in the main body 31 constituting the wall of the vaporizing chamber 32, Also, substantially the same convex portion can be formed.

本発明にかかる成膜装置の構成例を示す図面。1 is a diagram illustrating a configuration example of a film forming apparatus according to the present invention. 本発明の第1実施形態に係る気化器の概略構成を示す断面図。Sectional drawing which shows schematic structure of the vaporizer | carburetor which concerns on 1st Embodiment of this invention. 従来技術の気化器の壁面の状態を示す模式部。The schematic part which shows the state of the wall surface of the vaporizer of a prior art. 第1実施形態にかかる気化器の壁面の状態を示す模式図。The schematic diagram which shows the state of the wall surface of the vaporizer | carburetor concerning 1st Embodiment. 本発明の第2実施形態にかかる気化器の概略構成を示す断面図。Sectional drawing which shows schematic structure of the vaporizer | carburetor concerning 2nd Embodiment of this invention. 従来技術の気化器の概要を示す図面。Drawing which shows the outline | summary of the vaporizer | carburetor of a prior art.

符号の説明Explanation of symbols

10…チャンバ
10a…天壁
10b…底壁
11…サセプタ
12…支持部材
14…ヒータ
15…電源
17…排気ポート
18…排気系
19…シャワーヘッド
19a…供給制御弁
19b…内部空間
19c…ガス吐出孔
20…液状原料供給源
20a…原料配管
30…気化器
31…本体
32…気化室
33…ヒータ
34…ヒータ
35…気化ノズル
35a…原料流量制御弁
35b…ノズルブロック
36…キャリアガス配管
37…キャリアガス制御弁
38…キャリアガス通路
38a…キャリアガス噴出部
39…原料ガス導出路
40…山形突起
41…壁体
50…原料ガス配管
100…成膜装置
130…気化器
W…半導体ウエハ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Chamber 10a ... Top wall 10b ... Bottom wall 11 ... Susceptor 12 ... Support member 14 ... Heater 15 ... Power supply 17 ... Exhaust port 18 ... Exhaust system 19 ... Shower head 19a ... Supply control valve 19b ... Internal space 19c ... Gas discharge hole DESCRIPTION OF SYMBOLS 20 ... Liquid raw material supply source 20a ... Raw material piping 30 ... Vaporizer 31 ... Main body 32 ... Vaporization chamber 33 ... Heater 34 ... Heater 35 ... Vaporization nozzle 35a ... Raw material flow control valve 35b ... Nozzle block 36 ... Carrier gas piping 37 ... Carrier gas Control valve 38 ... carrier gas passage 38a ... carrier gas ejection part 39 ... source gas outlet passage 40 ... mountain protrusion 41 ... wall body 50 ... source gas pipe 100 ... film forming apparatus 130 ... vaporizer W ... semiconductor wafer

Claims (12)

加熱手段を備えた中空容器内に形成された気化室と、
前記気化室に液状原料を噴霧するノズルを備えた噴霧手段と、
前記気化室から、気化されたガスを導出する導出部と、
を備えた気化器であって、
前記気化室の壁面に複数の凸部を設けたことを特徴とする、気化器。
A vaporization chamber formed in a hollow container provided with heating means;
Spraying means comprising a nozzle for spraying the liquid raw material into the vaporizing chamber;
A deriving unit for deriving vaporized gas from the vaporization chamber;
A vaporizer with
A vaporizer comprising a plurality of convex portions provided on a wall surface of the vaporization chamber.
前記凸部は、前記ノズルから噴霧されるミストの流れに対して蔭になる領域を形成するように設けられていることを特徴とする、請求項1に記載の気化器。   The vaporizer according to claim 1, wherein the convex portion is provided so as to form a region that becomes a trap with respect to a flow of mist sprayed from the nozzle. 前記凸部は、前記ノズルから噴霧されるミストの流れのうち前記気化室の壁面近傍の流れを遮るように設けられていることを特徴とする、請求項1に記載の気化器。   The vaporizer according to claim 1, wherein the convex portion is provided so as to block a flow in the vicinity of a wall surface of the vaporization chamber in a flow of mist sprayed from the nozzle. 前記凸部は、前記ノズルから噴霧されるミスト由来の固形物が堆積される堆積領域と、該固形物が堆積されない非堆積領域とを形成するように設けられていることを特徴とする、請求項1に記載の気化器。   The convex portion is provided so as to form a deposition region in which solid matter derived from mist sprayed from the nozzle is deposited and a non-deposition region in which the solid matter is not deposited. Item 2. A vaporizer according to item 1. 前記凸部は、前記気化室へ向けて山状に突設されていることを特徴とする、請求項2ないし請求項4のいずれか1項に記載の気化器。   The vaporizer according to any one of claims 2 to 4, wherein the convex portion protrudes in a mountain shape toward the vaporization chamber. 前記凸部は、前記気化室へ向けて板状に突設されていることを特徴とする、請求項2ないし請求項4のいずれか1項に記載の気化器。   The vaporizer according to any one of claims 2 to 4, wherein the convex portion is provided in a plate shape toward the vaporization chamber. 前記凸部は、少なくとも前記ノズルに対向する壁面およびその近傍に設けられていることを特徴とする、請求項5または請求項6に記載の気化器。   The vaporizer according to claim 5 or 6, wherein the convex portion is provided at least on a wall surface facing the nozzle and in the vicinity thereof. 前記凸部は、前記気化室の壁の略全面に設けられていることを特徴とする、請求項5または請求項6に記載の気化器。   The vaporizer according to claim 5 or 6, wherein the convex portion is provided on substantially the entire wall of the vaporization chamber. 前記気化室は、前記ノズルから該ノズルに対向する壁面までの距離がこれと直交する方向の壁面間の距離より長尺な円筒状に形成されていることを特徴とする、請求項7または請求項8に記載の気化器。   The said vaporization chamber is formed in the cylindrical shape longer than the distance between the wall surfaces of the direction orthogonal to this from the said nozzle to the wall surface which opposes this nozzle, The Claim 7 or Claim characterized by the above-mentioned. Item 9. The vaporizer according to Item 8. 前記導出部は、前記ノズルと該ノズルに対向する壁面との間において、前記ノズルに近い位置に設けられていることを特徴とする、請求項9に記載の気化器。   The carburetor according to claim 9, wherein the lead-out portion is provided at a position close to the nozzle between the nozzle and a wall surface facing the nozzle. CVD法により成膜を行なう成膜室に接続され、該成膜室に原料ガスを供給するものである、請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の気化器。   The vaporizer according to any one of claims 1 to 10, wherein the vaporizer is connected to a film formation chamber in which film formation is performed by a CVD method and supplies a source gas to the film formation chamber. 請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の気化器と、
該気化器から供給される原料ガスを用いて被処理体に成膜を行なう成膜室と、を備えたことを特徴とする、成膜装置。
A vaporizer according to any one of claims 1 to 10,
A film forming apparatus comprising: a film forming chamber for forming a film on an object to be processed using a source gas supplied from the vaporizer.
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