JP2006098549A - Microscope - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a microscope which has enhanced dust resistance by simple structure and enables the efficiency of maintenance work thereof to be improved without being influenced by an optical influence. <P>SOLUTION: The microscope is constituted in such a manner that it has an objective lens 26 for observing a sample 2 laid on a stage 3, a half mirror 17 having characteristics of reflecting light from a lamp 701 toward the objective lens 26 and transmitting light from the sample 2 via the objective lens 26 is arranged, a dust-proof glass unit 18 having dust-proof glass 19 for covering at least the upward surface of the half mirror 17 is attachably/detachably provided and the light which transmits the half mirror 17 is observed with an ocular lens 32 as a sample image. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、防塵機能を有する顕微鏡に関するものである。   The present invention relates to a microscope having a dustproof function.

従来。学校での実習や企業の現場などでは、金属製品の生産過程での結晶確認や完成品の検査などを行なう顕微鏡として、いわゆる金属顕微鏡が用いられている。   Conventional. A so-called metal microscope is used as a microscope for performing crystal confirmation and inspection of a finished product in the production process of a metal product in practical training at a school or in the workplace of a company.

特許文献1は、このような目的に使用される顕微鏡の一例を示している。図7は、倒立顕微鏡を示すもので、顕微鏡本体100の上方には、標本101を載置するステージ102が配置されている。顕微鏡本体100の後方には、絞り104を有する投光管103が配置されている。投光管103には、ランプ105aを有するランプハウス105が設けられている。ランプ105aからの光束は、投光管103を通って顕微鏡本体100に導かれ、ハーフミラー106により反射され、対物レンズ108を介して標本101に照射される。この場合、対物レンズ108は、レボルバー107に複数個保持され択一的に光軸上に配置される。そして、標本101からの反射光は、対物レンズ108、ハーフミラー106を介して反射ミラー109で反射し、顕微鏡本体100前方に配置される鏡筒110を介して接眼レンズ111に導かれ、拡大標本像として観察可能にしている。
特開2000−131617号公報
Patent Document 1 shows an example of a microscope used for such a purpose. FIG. 7 shows an inverted microscope, and a stage 102 on which a specimen 101 is placed is arranged above the microscope body 100. A light projection tube 103 having a stop 104 is disposed behind the microscope main body 100. The floodlight 103 is provided with a lamp house 105 having a lamp 105a. The light beam from the lamp 105 a is guided to the microscope main body 100 through the light projecting tube 103, reflected by the half mirror 106, and irradiated on the specimen 101 through the objective lens 108. In this case, a plurality of objective lenses 108 are held by the revolver 107 and are alternatively arranged on the optical axis. Then, the reflected light from the specimen 101 is reflected by the reflecting mirror 109 via the objective lens 108 and the half mirror 106, and is guided to the eyepiece lens 111 via the lens barrel 110 arranged in front of the microscope main body 100, and the enlarged specimen. It can be observed as an image.
JP 2000-131617 A

ところで、このような顕微鏡は、例えば、製品の加工現場など周囲に粉塵などが飛び交うような環境的条件の悪い場所に設置して使用されることも多い。ところが、従来の顕微鏡では、防塵対策がなされたものがなく、特に、ランプ105aからの光束を標本101側に折り返すためのハーフミラー106については、上方にレボルバー107や、レボルバー107を支持する不図示のレボルバー台などが配置されるものの周囲は、開口した状態のままである。このため、顕微鏡本体100内部へ粉塵が侵入した場合、上方からの侵入に対しては、ハーフミラー106上方に位置されるレボルバー107やレボルバー台により、ある程度回避することができる。しかしながら、例えば、顕微鏡本体100内部に巻き込むような空気の流れがある場合は、ハーフミラー106の周囲の隙間から粉塵が入り込み、ハーフミラー106表面に付着することがある。このことは、この状態のままで、長期間観察を続けると、ハーフミラー106表面に付着した粉塵によりランプ105aからの標本101側に照射される光量や、標本101で反射し鏡筒110を介して接眼レンズ111で観察される像の光量が大幅に減少し、観察像が暗く見えにくいものになり、また、ピント合わせの際に、ハーフミラー106に付着した粉塵が目立って見えることで、ピント合わせの邪魔になることがあった。   By the way, such a microscope is often used by being installed in a place where the environmental conditions are poor such as dust flying around in the processing site of a product. However, in the conventional microscope, no dust-proof measures are taken, and in particular, with respect to the half mirror 106 for folding the light beam from the lamp 105a toward the specimen 101, the revolver 107 and the revolver 107 not shown are supported. The surrounding area of the revolver stand is left open. For this reason, when dust enters the inside of the microscope main body 100, the intrusion from above can be avoided to some extent by the revolver 107 or the revolver base positioned above the half mirror 106. However, for example, when there is an air flow that entrains inside the microscope main body 100, dust may enter through the gap around the half mirror 106 and adhere to the surface of the half mirror 106. This is because if the observation is continued for a long time in this state, the amount of light applied to the sample 101 side from the lamp 105a by the dust adhering to the surface of the half mirror 106, the amount reflected by the sample 101 and reflected through the lens barrel 110 As a result, the amount of light of the image observed with the eyepiece lens 111 is greatly reduced, the observation image becomes dark and difficult to see, and the dust adhering to the half mirror 106 is noticeable when focusing. There were times when it interfered with the alignment.

そこで、ハーフミラー106への粉塵の付着を防止するため、例えば、顕微鏡本体100のステージ102の下方を全て覆うような防塵カバーが考えられる。ところが、レボルバー107の回転操作を手動で行なうような安価なタイプの顕微鏡では、操作性が著しく低下してしまう。また、回転操作を行なうレボルバー107を除いて防塵カバーを設けることも考えられるが、この時の防塵カバーの形状自体が複雑になることから、価格的に高価なものになってしまうという問題が考えられる。   Therefore, in order to prevent dust from adhering to the half mirror 106, for example, a dustproof cover that covers the entire lower part of the stage 102 of the microscope main body 100 is conceivable. However, in an inexpensive type microscope in which the revolver 107 is manually rotated, the operability is significantly reduced. In addition, it is conceivable to provide a dustproof cover except for the revolver 107 that performs the rotation operation. However, since the shape of the dustproof cover at this time becomes complicated, there is a problem that it becomes expensive in price. It is done.

このように、従来では、操作性の低下を見込むか、高価な防塵カバーを用いる以外、ハーフミラー106への粉塵の付着を防止するのが難しく、さらに、薄い形状をしたハーフミラー106に対し無理やり表面の粉塵を拭き取ったりすると、損傷の可能性がある。このため従来では、観察者によるクリーニングは不可能とされ、メーカーサービスに依頼するしかないのが現状であった。   As described above, conventionally, it is difficult to prevent the dust from adhering to the half mirror 106 except for expecting a decrease in operability or using an expensive dustproof cover, and forcing the thin half mirror 106 to force. Wiping off dust on the surface can cause damage. For this reason, in the past, cleaning by an observer was impossible, and there was no choice but to ask the manufacturer service.

本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、簡単な構成で防塵性を高めることができ、しかも光学的影響を受けることなくメンテナンス作業性改善を可能にした顕微鏡を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a microscope that can improve dustproofness with a simple configuration and can improve maintenance workability without being optically affected. .

請求項1記載の発明は、標本を載置するステージと、光源と、前記ステージに載置される標本を観察する対物レンズと、前記光源からの光を前記対物レンズに向け反射し、前記対物レンズを介して得られる前記標本からの光を透過するような特性を有する光路分割手段と、前記光路分割手段の少なくとも上方面を覆うような透明部材を有する防塵手段と、
前記光路分割手段を透過した光を標本像として観察する観察手段と、を具備したことを特徴としている。
The invention according to claim 1 is a stage for placing a specimen, a light source, an objective lens for observing the specimen placed on the stage, and reflecting light from the light source toward the objective lens, An optical path splitting unit having a characteristic of transmitting light from the specimen obtained through a lens, and a dustproof unit having a transparent member covering at least an upper surface of the optical path splitting unit;
And observation means for observing the light transmitted through the optical path dividing means as a sample image.

請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、前記防塵手段は、前記光路分割ブロックに着脱可能に設けられることを特徴としている。   According to a second aspect of the invention, in the first aspect of the invention, the optical path dividing means is provided in an optical path dividing block, and the dustproof means is detachably provided in the optical path dividing block.

請求項3記載の発明は、請求項2記載の発明において、さらに前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の下方面に対向してスライダ挿入部が設けられ、前記スライダ挿入部にダミースライダーを挿入可能としたことを特徴としている。   According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the optical path dividing block further includes a slider insertion portion facing a lower surface of the optical path dividing means, and a dummy slider is inserted into the slider insertion portion. It is characterized by being possible.

請求項4記載の発明は、請求項2記載の発明において、さらに前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の下方面に対向してスライダ挿入部が設けられ、前記スライダ挿入部の開口を開閉する開閉手段を有することを特徴としている。   According to a fourth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the optical path dividing block further includes a slider insertion portion facing a lower surface of the optical path dividing means, and opens and closes the opening of the slider insertion portion. It has an opening / closing means.

請求項5記載の発明は、請求項2記載の発明において、前記光路分割ブロックは、さらに前記光路分割手段の下方面を覆うような透明部材を有する防塵手段を着脱可能に設けたことを特徴としている。   According to a fifth aspect of the present invention, in the second aspect of the invention, the optical path dividing block further includes a dust-proof means having a transparent member that covers a lower surface of the optical path dividing means. Yes.

請求項6記載の発明は、請求項1記載の発明において、前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の上方面又は下方面を覆うような透明部材を有する防塵手段を一体的に設けたことを特徴としている。   According to a sixth aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the optical path dividing means is provided in an optical path dividing block, and the optical path dividing block is transparent so as to cover an upper surface or a lower surface of the optical path dividing means. It is characterized in that dustproof means having members are provided integrally.

請求項7記載の発明は、請求項1乃至6のいずれかに記載の発明において、前記防塵手段は、防塵ガラスと、該防塵ガラスが一体に設けられる防塵ガラスユニットからなることを特徴としている。   A seventh aspect of the invention is characterized in that, in the invention according to any one of the first to sixth aspects, the dustproof means comprises a dustproof glass and a dustproof glass unit in which the dustproof glass is integrally provided.

請求項8記載の発明は、標本を載置するステージと、光源と、前記ステージに載置された標本を観察する対物レンズと、前記光源からの光を前記対物レンズに向け反射し、前記対物レンズを介して得られる前記標本からの光を透過するような特性を有する光路分割手段と、前記光源と光路分割手段との間の光路に配置され、少なくとも各種フィルタを収容する防塵カバーを備えたフィルタ保持手段と、前記光路分割手段の上方面および下方面をそれぞれ防塵するように設けられた第1および第2の防塵手段と、前記光路分割手段を透過した光を標本像として観察する観察手段と、を具備したことを特徴としている。   The invention according to claim 8 is a stage for placing a specimen, a light source, an objective lens for observing the specimen placed on the stage, and reflecting light from the light source toward the objective lens, An optical path splitting unit having a characteristic of transmitting light from the specimen obtained through a lens, and a dustproof cover that is disposed in an optical path between the light source and the optical path splitting unit and accommodates at least various filters. Filter holding means, first and second dustproof means provided to protect the upper and lower surfaces of the optical path splitting means, respectively, and observation means for observing the light transmitted through the optical path splitting means as a sample image It is characterized by comprising.

請求項9記載の発明は、請求項8記載の発明において、前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、前記第1および第2の防塵手段は、透明部材を有するとともに、前記光路分割ブロックに着脱可能に設けられることを特徴としている。   The invention according to claim 9 is the invention according to claim 8, wherein the optical path dividing means is provided in an optical path dividing block, and the first and second dustproof means have a transparent member and the optical path dividing block. It is characterized by being detachably provided.

請求項10記載の発明は、請求項8記載の発明において、前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の下方面に対向してスライダ挿入部が設けられ、前記第2の防塵手段は、前記スライダ挿入部にダミースライダーを挿入可能としたことを特徴としている。   According to a tenth aspect of the present invention, in the invention according to the eighth aspect, the optical path dividing means is provided in an optical path dividing block, and the optical path dividing block has a slider insertion portion facing a lower surface of the optical path dividing means. The second dust prevention means is characterized in that a dummy slider can be inserted into the slider insertion portion.

請求項11記載の発明は、請求項8記載の発明において、前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の下方面に対向してスライダ挿入部が設けられ、前記第2の防塵手段は、前記スライダ挿入部の開口を開閉する開閉手段を有することを特徴としている。   According to an eleventh aspect of the present invention, in the invention according to the eighth aspect, the optical path dividing means is provided in an optical path dividing block, and the optical path dividing block has a slider insertion portion facing a lower surface of the optical path dividing means. The second dustproof means is provided with opening / closing means for opening / closing the opening of the slider insertion portion.

請求項12記載の発明は、請求項8記載の発明において、前記光路分割ブロックは、前記第1および第2の防塵手段を一体に設けたことを特徴としている。   According to a twelfth aspect of the present invention, in the eighth aspect of the invention, the optical path dividing block is characterized in that the first and second dustproof means are integrally provided.

請求項13記載の発明は、請求項9又は12記載の発明において、前記防塵手段は、防塵ガラスと、該防塵ガラスが一体に設けられる防塵ガラスユニットからなることを特徴としている。   A thirteenth aspect of the invention is characterized in that, in the invention of the ninth or twelfth aspect, the dustproof means comprises a dustproof glass and a dustproof glass unit in which the dustproof glass is integrally provided.

請求項14記載の発明は、請求項8記載の発明において、前記フィルタ保持手段は、前記光路に沿ってスライド移動可能にした蓋部を有することを特徴としている。   A fourteenth aspect of the invention is characterized in that, in the eighth aspect of the invention, the filter holding means has a lid that is slidable along the optical path.

本発明によれば、簡単な構成で防塵性を高めることができ、しかも光学的影響を受けることなくメンテナンス作業性改善を可能にした顕微鏡を提供できる。   According to the present invention, it is possible to provide a microscope capable of improving dustproofness with a simple configuration and improving maintenance workability without being optically affected.

以下、本発明の実施の形態を図面に従い説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第1の実施の形態)
図1は、本発明の第1の実施の形態にかかる倒立顕微鏡の概略構成を示している。
(First embodiment)
FIG. 1 shows a schematic configuration of an inverted microscope according to the first embodiment of the present invention.

図1において、1は顕微鏡本体で、この顕微鏡本体1の上方には、標本2を載置するステージ3を不図示のネジなどで一体に取付けている。ステージ3には、着脱可能な中座ステージ4が設けられている。   In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a microscope main body, and a stage 3 on which a specimen 2 is placed is integrally attached above the microscope main body 1 with screws (not shown). The stage 3 is provided with a detachable center stage 4.

顕微鏡本体1の後方には、光源装置5が設けられている。この光源装置5は、落射投光管6と、この落射投光管6に対し着脱可能なランプソケット7から構成されている。落射投光管6は、図2(a)に示すように光軸方向に配置された管状の中空部材601、602、603より構成されている。このうちの中空部材601は、フランジ601aを有し、このフランジ601aにより顕微鏡本体1に直接固定されるようになっている。中空部材601には、光軸上に明るさ絞り8が設けられている。この明るさ絞り8は、レバーを光軸回りに回転操作することで、光量を調整できるようになっている。中空部材602は、中空部材601にネジなどで一体に連結されるもので、中空部材601との連結部の光軸上にフロスト9が設けられている。このフロスト9は、光の明るさを平滑化し照明系の照野の集中を分散させるものである。中空部材603は、光源のランプ701を有するランプソケット7が着脱可能に取付けられるもので、中空部材602に対し円柱形状の断熱部材10を介して固定されている。また、中空部材603には、光軸上にコレクターレンズ11が設けられている。コレクターレンズ11は、ランプ701から発せられた光を集光するものである。   A light source device 5 is provided behind the microscope body 1. The light source device 5 includes an epi-illumination projection tube 6 and a lamp socket 7 that can be attached to and detached from the epi-illumination projection tube 6. The epi-illumination projection tube 6 is composed of tubular hollow members 601, 602, and 603 arranged in the optical axis direction as shown in FIG. Among these members, the hollow member 601 has a flange 601a and is directly fixed to the microscope main body 1 by the flange 601a. The hollow member 601 is provided with an aperture stop 8 on the optical axis. The brightness stop 8 can adjust the amount of light by rotating the lever around the optical axis. The hollow member 602 is integrally connected to the hollow member 601 with a screw or the like, and the frost 9 is provided on the optical axis of the connecting portion with the hollow member 601. The frost 9 smoothes the brightness of light and disperses the concentration of illumination fields in the illumination system. The hollow member 603 is detachably attached to the lamp socket 7 having a lamp 701 as a light source, and is fixed to the hollow member 602 through a cylindrical heat insulating member 10. The hollow member 603 is provided with the collector lens 11 on the optical axis. The collector lens 11 collects light emitted from the lamp 701.

中空部材601のフランジ601a側端部には、フィルタ保持手段としてフィルタ筒体12が設けられている。このフィルタ筒体12は、中空部材601と同じ光軸上に沿って配置され、その中空部の光軸には、コレクターレンズ11とともに光をリレーする光学系を構成するレンズ121が配置されるとともに、図2(b)に示すように、光軸に対して所定角度(例えば4度程度)傾けた状態で各種のフィルタ13を収納する溝部12aが設けられている。ここで、フィルタ13を光軸に対して所定角度傾けてあるのは、光路での多重反射によるフレアーを除去するためである(視野外に逃がしている。)。さらに、フィルタ筒体12の中空部には、偏光光学素子のポラライザ14を回転自在に支持する嵌合溝12bも形成されている。ポラライザ14は、簡易偏光観察の際に用いられるものである。   At the end of the hollow member 601 on the flange 601a side, a filter cylinder 12 is provided as a filter holding means. The filter cylinder 12 is disposed along the same optical axis as the hollow member 601, and a lens 121 that constitutes an optical system that relays light together with the collector lens 11 is disposed on the optical axis of the hollow portion. As shown in FIG. 2B, there are provided groove portions 12a for accommodating various filters 13 in a state inclined at a predetermined angle (for example, about 4 degrees) with respect to the optical axis. Here, the reason why the filter 13 is inclined by a predetermined angle with respect to the optical axis is to remove flare caused by multiple reflection in the optical path (it is out of the field of view). Further, a fitting groove 12b for rotatably supporting the polarizer 14 of the polarizing optical element is also formed in the hollow portion of the filter cylinder 12. The polarizer 14 is used for simple polarized light observation.

フィルタ筒体12には、蓋部として筒状のフィルタカバー15が設けられている。このフィルタカバー15は、フィルタ筒体12外周に光軸方向に沿ってスライド可能に設けられたもので、光軸方向のスライド操作により、フィルタ13、ポラライザ14をフィルタ筒体12内に装着した状態で外部から遮蔽できるようにしている(図2(c)参照)。   The filter cylinder 12 is provided with a cylindrical filter cover 15 as a lid. The filter cover 15 is provided on the outer periphery of the filter cylinder 12 so as to be slidable along the optical axis direction, and the filter 13 and the polarizer 14 are mounted in the filter cylinder 12 by a sliding operation in the optical axis direction. So that it can be shielded from the outside (see FIG. 2C).

フィルタ筒体12には、光路分割ブロックとしてのハーフミラーブロック16が設けられている。このハーフミラーブロック16には、光路分割手段としてのハーフミラー17が設けられている。このハーフミラー17は、落射投光管6の光軸と後述する対物レンズ26の光軸との交点に、45度の角度をもって配置されている。   The filter cylinder 12 is provided with a half mirror block 16 as an optical path dividing block. The half mirror block 16 is provided with a half mirror 17 as optical path dividing means. The half mirror 17 is arranged at an angle of 45 degrees at the intersection of the optical axis of the epi-illumination projection tube 6 and the optical axis of an objective lens 26 described later.

ハーフミラーブロック16の上方には、防塵手段として防塵ガラスユニット18が設けられている。この防塵ガラスユニット18には、対物レンズ26の光軸に対して所定角度(例えば9度程度)傾けて防塵ガラス19が一体に設けられている。防塵ガラス19を光軸に対して所定角度傾けてあるのは、光路での多重反射によるフレアーを除去するためである(視野外に逃がしている。)。   Above the half mirror block 16, a dustproof glass unit 18 is provided as dustproof means. The dust-proof glass unit 18 is integrally provided with a dust-proof glass 19 inclined at a predetermined angle (for example, about 9 degrees) with respect to the optical axis of the objective lens 26. The reason why the dust-proof glass 19 is tilted by a predetermined angle with respect to the optical axis is to remove flare caused by multiple reflection in the optical path (it has escaped from the field of view).

防塵ガラスユニット18は、着脱自在(例えば、ねじ込み)にハーフミラーブロック16に固定されている。防塵ガラスユニット18のハーフミラーブロック16への固定は、ねじ込み以外にも、防塵ガラスユニット18をハーフミラーブロック16に嵌め込んだ後、ネジで固定する方法や防塵ガラスユニット18を磁石を用いてハーフミラーブロック16に着脱可能に設ける方法などが考えられる。 The dust-proof glass unit 18 is fixed to the half mirror block 16 so as to be detachable (for example, screwed). In addition to screwing, the dust-proof glass unit 18 is fixed to the half mirror block 16 by inserting the dust-proof glass unit 18 into the half-mirror block 16 and then fixing the dust-proof glass unit 18 with a screw. A method of detachably providing the mirror block 16 is conceivable.

ハーフミラーブロック16の後面には、L形状をした支持板金20の直立面20aがネジ21により固定されている(図2(c)(d)参照)。この支持板金20は、水平面20bもハーフミラーブロック16の下面にネジ21により固定されている。また、支持板金20は、水平面20bに光束を通す孔部20cが形成されるとともに、この水平面20bとハーフミラーブロック16側に設けられた不図示の溝部により、アナライザー22a(又はダミースライダー22b)を挿入するためのスライダ挿入部16aを形成している。ここで、ダミースライダー22bは、スライダ挿入部16aに挿入することで防塵手段を構成するもので、光学素子が無い空穴を有するスライダが用いられている。また、この場合もアナライザー22aは、光軸に対して所定角度(例えば7度程度)傾けて設けられる。アナライザー22aを光軸に対して所定角度傾けてあるのは、光路での多重反射によるフレアーを除去するためである(視野外に逃がしている。)。   An upright surface 20a of an L-shaped support metal plate 20 is fixed to the rear surface of the half mirror block 16 with screws 21 (see FIGS. 2C and 2D). In the support metal plate 20, the horizontal surface 20 b is also fixed to the lower surface of the half mirror block 16 with screws 21. Further, the support sheet metal 20 is formed with a hole 20c through which a light beam passes through the horizontal plane 20b, and the analyzer 22a (or dummy slider 22b) is formed by a groove (not shown) provided on the horizontal plane 20b and the half mirror block 16 side. A slider insertion portion 16a for insertion is formed. Here, the dummy slider 22b constitutes dustproof means by being inserted into the slider insertion portion 16a, and a slider having a hole without an optical element is used. Also in this case, the analyzer 22a is provided to be inclined at a predetermined angle (for example, about 7 degrees) with respect to the optical axis. The reason why the analyzer 22a is tilted by a predetermined angle with respect to the optical axis is to remove flare caused by multiple reflection in the optical path (it has escaped from the field of view).

支持板金20の下側両側には、スカート23が設けられている。このスカート23は、先端部を顕微鏡本体1内部底面に当接して、この部分での隙間を無くし防塵の役目をするものである(図2(d)参照)。   Skirts 23 are provided on both lower sides of the support sheet metal 20. The skirt 23 abuts against the inner bottom surface of the microscope main body 1 to eliminate a gap at this portion, and serves to prevent dust (see FIG. 2D).

なお、24は、ハーフミラーブロック16に一体化されたピンで、アナライザー22a(又はダミースライダー22b)の位置決めを行なうためのストッパの働きをしている。また、25は、ハーフミラー17の特性上僅かであるが、透過する光があることを考慮して、支持板金20に貼り付けたフレアー防止のための遮光布である。   Reference numeral 24 denotes a pin integrated with the half mirror block 16, which functions as a stopper for positioning the analyzer 22a (or dummy slider 22b). Reference numeral 25 denotes a light-shielding cloth for preventing flare attached to the support metal plate 20 in consideration of the fact that there is a light to be transmitted although it is slight in the characteristics of the half mirror 17.

図1に戻って、ステージ3の下方には、対物レンズ26が配置されている。対物レンズ26は、倍率の異なる複数本(図面では1本のみを示している。)がレボルバー27に保持されている。レボルバー27は、回転操作可能になっていて、複数本の対物レンズ26を択一的に光軸上に位置させるようになっている。また、レボルバー27は、顕微鏡本体1に図示しない保持部材を介して保持されるとともに、焦準ハンドル28の操作により光軸に沿って上下動され、ステージ3と対物レンズ26との相対距離を変化させ、標本2のピント合わせを可能にしている
レボルバー27の下方の光軸上には、上述した落射投光管6の光軸との交点位置に配置されたハーフミラー17を介して反射ミラー29が配置されている。反射ミラー29は、標本2を反射し対物レンズ26より拡大された観察像を斜め上方向(水平に対し45°の角度)に反射させるようにしている。
Returning to FIG. 1, an objective lens 26 is disposed below the stage 3. A plurality of objective lenses 26 with different magnifications (only one is shown in the drawing) are held by a revolver 27. The revolver 27 can be rotated, and a plurality of objective lenses 26 are selectively positioned on the optical axis. The revolver 27 is held on the microscope main body 1 via a holding member (not shown) and is moved up and down along the optical axis by operating the focusing handle 28 to change the relative distance between the stage 3 and the objective lens 26. The reflecting mirror 29 is arranged on the optical axis below the revolver 27 through the half mirror 17 disposed at the intersection point with the optical axis of the incident light projection tube 6 described above. Is arranged. The reflection mirror 29 reflects the specimen 2 and reflects the observation image enlarged from the objective lens 26 in an obliquely upward direction (an angle of 45 ° with respect to the horizontal).

そして、反射ミラー29で反射された観察像は、リレー光学系30でリレーされ、観察鏡筒31に取り付けられた接眼レンズ32に入射し、観察者により目視観察されるようになっている。   The observation image reflected by the reflection mirror 29 is relayed by the relay optical system 30, enters the eyepiece lens 32 attached to the observation lens barrel 31, and is visually observed by the observer.

なお、図中33は、ランプ701に必要な明るさを確保するための調光用ボリュームである。   In the figure, reference numeral 33 denotes a dimming volume for ensuring the brightness necessary for the lamp 701.

次に、このように構成した実施の形態の作用を説明する。   Next, the operation of the embodiment configured as described above will be described.

まず、不図示の電源スイッチをONする。すると、ランプ701から発した光は、落射投光管6の中空部材603のコレクターレンズ11で集光し、フロスト9、明るさ絞り8を介してハーフミラー17に入射し、ハーフミラー17で反射してレボルバー27に装着された対物レンズ26を介してステージ3上の標本2に照射される。そして、標本2からの反射光は、対物レンズ26を介してハーフミラー17に入射し、今度はハーフミラー17を透過し、反射ミラー29で反射し、リレー光学系30を介して接眼レンズ32に入射し、拡大標本像の観察が行われる。   First, a power switch (not shown) is turned on. Then, the light emitted from the lamp 701 is collected by the collector lens 11 of the hollow member 603 of the incident light projection tube 6, enters the half mirror 17 through the frost 9 and the brightness stop 8, and is reflected by the half mirror 17. Then, the sample 2 on the stage 3 is irradiated through the objective lens 26 attached to the revolver 27. Then, the reflected light from the specimen 2 is incident on the half mirror 17 through the objective lens 26, is now transmitted through the half mirror 17, is reflected by the reflection mirror 29, and is reflected on the eyepiece lens 32 through the relay optical system 30. Incident light is observed and an enlarged specimen image is observed.

この状態から、調光用ボリューム33を操作してランプ701の明るさを調整するとともに、焦準ハンドル28の操作によりレボルバー27を光軸に沿って上下動させ、ステージ3と対物レンズ26との相対距離を変化させて標本2のピント合わせを行なう。また、ステージ3上の標本2を指先で摘まんでXY方向に移動させて、観察したい部位を決定する。その後、目的に応じた各種の観察を行なう。   From this state, the brightness of the lamp 701 is adjusted by operating the dimming volume 33, and the revolver 27 is moved up and down along the optical axis by operating the focusing handle 28, whereby the stage 3 and the objective lens 26 are moved. The sample 2 is focused by changing the relative distance. In addition, the specimen 2 on the stage 3 is picked with a fingertip and moved in the X and Y directions to determine a site to be observed. Thereafter, various observations according to the purpose are performed.

この場合、例えば、明視野観察を行なうには、事前にダミースライダー22bをハーフミラーブロック16下側に設けられたスライダ挿入部16aにピン24に当接するまで挿入する。また、ポラライザ14を、フィルタ筒体12から取り外す(挿入したままでもよいが観察像が若干暗くなる)。さらに、必要ならばフィルタ13をセットする。そして、フィルタ筒体12のフィルタカバー15をスライドさせてフィルタ筒体12内を外部から遮蔽する。   In this case, for example, in order to perform bright field observation, the dummy slider 22b is inserted in advance into the slider insertion portion 16a provided on the lower side of the half mirror block 16 until it contacts the pin 24. Moreover, the polarizer 14 is removed from the filter cylinder 12 (it may remain inserted, but an observation image becomes a little dark). Further, the filter 13 is set if necessary. Then, the filter cover 15 of the filter cylinder 12 is slid to shield the inside of the filter cylinder 12 from the outside.

また、簡易偏光観察を行なうには、ダミースライダー22bに代えてアナライザー22aをハーフミラーブロック16の下側に設けられたスライダ挿入部16aにピン24に当接するまで挿入する。また、ポラライザ14をフィルタ筒体12内にセットする。さらに、必要ならばフィルタ13をセットする。そして、接眼レンズ32を覗きながら、ポラライザ14を回転させて、視野が最も暗くなるところを探す(クロスニコル状態にする)。その後、フィルタ筒体12のフィルタカバー15をスライドさせてフィルタ筒体12内を外部から遮蔽する。   In order to perform simple polarized light observation, the analyzer 22a is inserted into the slider insertion portion 16a provided on the lower side of the half mirror block 16 in place of the dummy slider 22b until it comes into contact with the pin 24. Further, the polarizer 14 is set in the filter cylinder 12. Further, the filter 13 is set if necessary. Then, while looking into the eyepiece lens 32, the polarizer 14 is rotated to search for a place where the field of view becomes the darkest (set to the crossed Nicols state). Thereafter, the filter cover 15 of the filter cylinder 12 is slid to shield the inside of the filter cylinder 12 from the outside.

従って、このような構成によれば、周囲に粉塵などが飛散しているような環境的条件の悪い場所で用いられることがあっても、ハーフミラー17の上部に防塵ガラス19を有する防塵ガラスユニット18が設けられるので、簡単な構成で防塵性を高めることができ、ハーフミラー17上方から侵入する粉塵を確実に阻止することができる。また、ハーフミラーブロック16に形成されたスライダ挿入部16aにアナライザー22a(又はダミースライダー22b)を挿入することで、特に、明視野観察の際に、開口したままであったスライダ挿入部16aからハーフミラー17下方に侵入する粉塵も確実に阻止することができる。つまり、明視野観察の際に、ダミースライダー22bが挿入されることで、粉塵の侵入を最低限に抑えることができ、光学的影響を受けることがなく劣化のない明るい観察像を確保することができる。さらに、各種のフィルタ13およびポラライザ14を収容するフィルタ筒体12についても、フィルタカバー15が設けられ、このフィルタカバー15によりフィルタ筒体12内を外部より遮蔽できるようにもしているので、フィルタ筒体12内部への粉塵の侵入を防ぐこともできる。   Therefore, according to such a configuration, even when used in a place with poor environmental conditions such as dust scattered around, a dustproof glass unit having the dustproof glass 19 on the upper part of the half mirror 17. Since 18 is provided, dustproofness can be improved with a simple configuration, and dust entering from above the half mirror 17 can be reliably prevented. Further, by inserting the analyzer 22a (or the dummy slider 22b) into the slider insertion portion 16a formed in the half mirror block 16, the slider insertion portion 16a, which has been left open during the bright field observation, can be half-opened. Dust entering the lower part of the mirror 17 can also be reliably prevented. In other words, by inserting the dummy slider 22b during bright-field observation, it is possible to minimize the intrusion of dust, and to ensure a bright observation image that is not optically affected and has no deterioration. it can. Further, the filter cylinder 12 that houses the various filters 13 and the polarizer 14 is also provided with a filter cover 15 so that the inside of the filter cylinder 12 can be shielded from the outside by the filter cover 15. It is also possible to prevent dust from entering the body 12.

一方、フィルタ筒体12内部の各種のフィルタ13およびポラライザ14や防塵ガラス19表面に粉塵が付着して、観察像に影響が認められるようになった場合には、観察者によって次の手順でクリーニングすることで、簡単に元の状態に復帰させることができる。   On the other hand, when dust adheres to the surfaces of the various filters 13 and the polarizers 14 and the dust-proof glass 19 inside the filter cylinder 12 and the observation image is affected, cleaning is performed by the observer according to the following procedure. By doing so, it is possible to easily return to the original state.

フィルタ筒体12内部の各種のフィルタ13およびポラライザ14については、フィルタカバー15を開いて、フィルタ13およびポラライザ14をフィルタ筒体12から取外し、それぞれの汚れを拭き取るようにすればよい。   For the various filters 13 and the polarizer 14 inside the filter cylinder 12, the filter cover 15 may be opened, the filter 13 and the polarizer 14 may be removed from the filter cylinder 12, and the respective stains may be wiped off.

次に、防塵ガラス19の場合は、例えば、図3(a)に示すように、まず、ステージ3上の標本2を取り除くとともに、中座ステージ4を取り外す。次に、レボルバー27より対物レンズ26を取り外す。次に、対物レンズ26を取外した後のレボルバー27の穴部(対物レンズ取付穴)27aがほぼ真上を向くようにレボルバー27を調整し、その後、この穴部27aから、クリーニング部材として、例えば綿棒34を挿入し、綿棒34先端の綿部分34aで防塵ガラス19表面に付着した粉塵を拭き取るようにする。また、防塵ガラス19表面の汚れが激しいような場合は、図3(b)に示すように、ステージ3上の標本2を取り除き中座ステージ4を取り外した後、レボルバー27を最も上方位置まで移動させて、レボルバー27とハーフミラーブロック16との間に大きな空間を作り、この空間を利用してハーフミラーブロック16より防塵ガラスユニット18を取外し、外部に取り出して防塵ガラス19表面に付着した粉塵を拭き取るようにする。   Next, in the case of the dustproof glass 19, for example, as shown in FIG. 3A, first, the specimen 2 on the stage 3 is removed and the middle stage 4 is removed. Next, the objective lens 26 is removed from the revolver 27. Next, the revolver 27 is adjusted so that the hole portion (objective lens mounting hole) 27a of the revolver 27 after removing the objective lens 26 faces almost directly above, and then, from this hole portion 27a, as a cleaning member, for example, The cotton swab 34 is inserted, and the dust adhered to the surface of the dust-proof glass 19 is wiped off by the cotton portion 34a at the tip of the cotton swab 34. If the surface of the dust-proof glass 19 is very dirty, as shown in FIG. 3B, after removing the specimen 2 on the stage 3 and removing the center stage 4, the revolver 27 is moved to the uppermost position. Thus, a large space is formed between the revolver 27 and the half mirror block 16, and the dustproof glass unit 18 is removed from the half mirror block 16 using this space, and the dust adhered to the surface of the dustproof glass 19 is taken out to the outside. Try to wipe it off.

このようにすれば、フィルタ筒体12内部の各種のフィルタ13およびポラライザ14や防塵ガラス19の汚れを観察者が簡単にクリーニングすることができ、メンテナンス作業性の改善を図ることができることから、常に、最適な状態で観察像の観察を行なうことができる。   In this way, the observer can easily clean the various filters 13 in the filter cylinder 12, the polarizer 14, and the dust-proof glass 19, and the maintenance workability can be improved. The observation image can be observed in an optimum state.

(変形例)
第1の実施の形態では、明視野観察時に、ハーフミラー17の下方にダミースライダー22bを挿入して、粉塵が入り込まないようにしているが、ダミースライダー22bに代えてシャッタ部材で覆うという方法も考えられる。
(Modification)
In the first embodiment, during bright field observation, a dummy slider 22b is inserted below the half mirror 17 to prevent dust from entering, but a method of covering with a shutter member instead of the dummy slider 22b is also possible. Conceivable.

この場合、図4(a)〜(d)は、図2と同一部分には、同符号を付して示している。スライダ挿入部16aには、防塵手段を構成する開閉手段としての可動シャッタ35が設けられている。この可動シャッタ35は、一端が回動可能にハーフミラーブロック16に支持されている。可動シャッタ35の回動支持部には、ツマミ36が一体に設けられている。ツマミ36は、ハーフミラーブロック16にねじ込まれたネジ361により可動シャッタ35と一体に回動可能になっていて、ツマミ36を回転操作することで可動シャッタ35によりスライダ挿入部16aの開口部を開閉できるようになっている。この場合、可動シャッタ35は、回動方向にトルク設定が成されており、自重により動かないようにもなっている。また、可動シャッタ35の回動方向には、ストッパピン37が設けられている。このストッパピン37は、可動シャッタ35の回動位置を規制するものである。一方、ハーフミラーブロック16は、スライダ挿入部16aと反対側の側面には、隠し板38が設けられている。この隠し板38は、スライダ挿入部16aと反対側の側面からの粉塵の侵入を阻止するためのものである。   In this case, in FIGS. 4A to 4D, the same parts as those in FIG. The slider insertion portion 16a is provided with a movable shutter 35 as an opening / closing means constituting a dustproof means. One end of the movable shutter 35 is supported by the half mirror block 16 so as to be rotatable. A knob 36 is integrally provided on the rotation support portion of the movable shutter 35. The knob 36 can be rotated integrally with the movable shutter 35 by a screw 361 screwed into the half mirror block 16, and the opening of the slider insertion portion 16 a is opened and closed by the movable shutter 35 by rotating the knob 36. It can be done. In this case, the movable shutter 35 is set with torque in the rotational direction, and does not move due to its own weight. A stopper pin 37 is provided in the rotating direction of the movable shutter 35. The stopper pin 37 regulates the rotational position of the movable shutter 35. On the other hand, the half mirror block 16 is provided with a hidden plate 38 on the side surface opposite to the slider insertion portion 16a. The hidden plate 38 is for preventing dust from entering from the side surface opposite to the slider insertion portion 16a.

その他は、図2と同様である。   Others are the same as in FIG.

このような構成において、明視野観察を行なうときは、ツマミ36を回して可動シャッタ35によりスライダ挿入部16aの開口部を閉じるようにする。こうすれば、第1の実施の形態で述べたダミースライダー22bを用いること無く、スライダ挿入部16aからの粉塵の侵入を阻止することができる。また、簡易偏光観察を行なうときは、ツマミ36を操作して可動シャッタ35をストッパピン37に当接するまで回動させ、スライダ挿入部16aからアナライザー22aを挿入する。   In such a configuration, when performing bright field observation, the knob 36 is turned so that the movable shutter 35 closes the opening of the slider insertion portion 16a. By so doing, it is possible to prevent the intrusion of dust from the slider insertion portion 16a without using the dummy slider 22b described in the first embodiment. When performing simple polarization observation, the knob 36 is operated to rotate the movable shutter 35 until it abuts against the stopper pin 37, and the analyzer 22a is inserted from the slider insertion portion 16a.

従って、このようにすれば明視野観察の際に、可動シャッタ35によりスライダ挿入部16aの開口部を閉じることができるので、ダミースライダー22bを用いること無く、粉塵の侵入を最低限に抑えることができ、劣化のない明るい観察像が確保することができる。また、ダミースライダー22bは、別部品であり、紛失する可能性があったが、可動シャッタ35であれば、このような心配はなく、操作性もアップさせることができる。   Accordingly, in this way, during bright field observation, the opening of the slider insertion portion 16a can be closed by the movable shutter 35, so that the intrusion of dust can be minimized without using the dummy slider 22b. And a bright observation image without deterioration can be secured. The dummy slider 22b is a separate part and may be lost. However, if the movable shutter 35 is used, there is no such concern and the operability can be improved.

(第2の実施の形態)
次に、本発明の第2の実施の形態を説明する。
(Second Embodiment)
Next, a second embodiment of the present invention will be described.

図5は、本発明の第2の実施の形態にかかる倒立顕微鏡の概略構成、図6は、倒立顕微鏡の落射投光管の概略構成を示すもので、図1および図2と同一部分には同符号を付している。   FIG. 5 shows a schematic configuration of an inverted microscope according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 6 shows a schematic configuration of an epi-illumination projection tube of the inverted microscope. In FIG. 5 and FIG. The same reference numerals are given.

この場合、ハーフミラーブロック16の下側に設けられたアナライザー22a(又はダミースライダー22b)を挿入するスライダ挿入部16aに代えて、防塵手段としての防塵ガラスユニット51が設けられている。この防塵ガラスユニット51には、対物レンズ26の光軸に対して所定角度(例えば9度程度)傾けて防塵ガラス52が一体に設けられている。防塵ガラス52を光軸に対して所定角度傾けてあるのは、光路での多重反射によるフレアーを除去するためである(視野外に逃がしている。)。   In this case, a dust-proof glass unit 51 as dust-proof means is provided in place of the slider insertion portion 16a for inserting the analyzer 22a (or the dummy slider 22b) provided on the lower side of the half mirror block 16. The dust-proof glass unit 51 is integrally provided with a dust-proof glass 52 that is inclined at a predetermined angle (for example, about 9 degrees) with respect to the optical axis of the objective lens 26. The reason why the dust-proof glass 52 is tilted by a predetermined angle with respect to the optical axis is to remove flare caused by multiple reflection in the optical path (it has escaped from the field of view).

防塵ガラスユニット51は、着脱自在(例えば、ねじ込み)にハーフミラーブロック16に固定されている。防塵ガラスユニット51のハーフミラーブロック16への固定は、ねじ込み以外にも、防塵ガラスユニット51をハーフミラーブロック16に嵌め込んだ後、ネジで固定する方法や防塵ガラスユニット18を磁石を用いてハーフミラーブロック16に着脱可能に設ける方法が考えられる。   The dust-proof glass unit 51 is fixed to the half mirror block 16 so as to be detachable (for example, screwed). In addition to screwing, the dustproof glass unit 51 is fixed to the half mirror block 16 by screwing the dustproof glass unit 51 into the half mirror block 16 and then fixing the dustproof glass unit 18 with a magnet. A method of detachably providing the mirror block 16 is conceivable.

また、落射投光管6の中空部材601に取付けられるフィルタ筒体12は、ポラライザ14を回転自由に支持する嵌合溝12bを省略したものが用いられる。   Further, the filter cylinder 12 attached to the hollow member 601 of the epi-illumination projection tube 6 is one in which the fitting groove 12b for rotatably supporting the polarizer 14 is omitted.

その他は、図1および図2と同様である。   Others are the same as FIG. 1 and FIG.

このようにすれば、ハーフミラーブロック16は、上下方向に防塵ガラスユニット18、51が設けられ、さらに落射投光管6側も光源側レンズなどによって覆われているので、ハーフミラー17の上面および下面に粉塵が付着するのを、ほほ完全に防止することができる。また、上下方向の防塵ガラスユニット18、51に粉塵が付着したような場合も、これら防塵ガラスユニット18、51は、ユーザーによりハーフミラーブロック16から取外すことができるので、簡単にクリーニングすることができる。   In this way, the half mirror block 16 is provided with the dustproof glass units 18 and 51 in the vertical direction, and the incident light projection tube 6 side is also covered with the light source side lens or the like. It is possible to almost completely prevent dust from adhering to the lower surface. Further, even when dust adheres to the dustproof glass units 18 and 51 in the vertical direction, the dustproof glass units 18 and 51 can be removed from the half mirror block 16 by the user, so that they can be easily cleaned. .

なお、このような構成では、第1の実施の形態で述べたポラライザ14とアナライザー22aを除去しているので、観察方法としては、明視野観察のみとなる。   In such a configuration, the polarizer 14 and the analyzer 22a described in the first embodiment are removed, so that the observation method is only bright field observation.

なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しない範囲で種々変形することが可能である。例えば、上述した実施の形態では、ハーフミラー17と称して説明したが、ここでのハーフミラー17は、通常言われているハーフミラーやダイクロイックミラー、ビームスプリッタなどの他の光学素子も含まれる。   In addition, this invention is not limited to the said embodiment, In the implementation stage, it can change variously in the range which does not change the summary. For example, in the above-described embodiment, the half mirror 17 is described. However, the half mirror 17 here includes other optical elements such as a half mirror, a dichroic mirror, and a beam splitter, which are usually referred to.

また、上述した実施の形態では、ダミースライダー22bとして空穴のものを用いたが、ハーフミラー17の下方からの粉塵の侵入を防止するため、ガラス板を嵌め込んだものを用いるようにしても良い。こうすれば、アナライザー22aを挿入した時と同じレベルまで、防塵性能を高めることができる。   In the above-described embodiment, the dummy slider 22b is a hole, but in order to prevent dust from entering from below the half mirror 17, a glass plate fitted therein may be used. good. In this way, the dustproof performance can be improved to the same level as when the analyzer 22a is inserted.

さらに、上述した実施の形態では、ハーフミラーブロック16の上方には、別に用意された防塵ガラスユニット18を装着するようにしたが、これらは別体にする必要もなく、ハーフミラー17を有するハーフミラーブロック16に直接防塵ガラス19を取付けるようにしても良い。こうすると、レボルバー27とハーフミラー17の間の小さな隙間に別体の防塵ガラスユニット18を配置するより、スペースの使い方としては好ましい。ハーフミラーブロック16の下方に設けられる防塵ガラスユニット51についても同様である。   Furthermore, in the above-described embodiment, a separately prepared dust-proof glass unit 18 is mounted above the half mirror block 16, but these do not need to be provided separately, and the half having the half mirror 17. The dust-proof glass 19 may be directly attached to the mirror block 16. In this way, it is preferable to use the space rather than disposing the separate dustproof glass unit 18 in the small gap between the revolver 27 and the half mirror 17. The same applies to the dust-proof glass unit 51 provided below the half mirror block 16.

さらに、上述した実施の形態では、フィルタ筒体12外周に光軸方向に沿ってスライドする筒状のフィルタカバー15を設けるようにしたが、フィルタ筒体12内部に粉塵が入るのを防止することを目的としたものであるなら、単なる蓋状のものや、フィルタ筒体12外周の円周方向に沿って移動するようなスライドカバーであっても良い。   Furthermore, in the above-described embodiment, the cylindrical filter cover 15 that slides along the optical axis direction is provided on the outer periphery of the filter cylinder 12, but it is possible to prevent dust from entering the filter cylinder 12. If it is a thing aiming at, the thing of a simple lid | cover shape or a slide cover which moves along the circumferential direction of filter cylinder 12 outer periphery may be sufficient.

さらに、上述した実施の形態では、光路分割手段として、ハーフミラー17について述べたが、ハーフミラー17以外でも光路を分割できるものであれば、ダイクロイックミラーや偏光ビームスプリッタであっても良い。また、観察手段は、目視手段以外に、カメラによるものであっても良い。   Furthermore, in the above-described embodiment, the half mirror 17 has been described as the optical path splitting means. However, a dichroic mirror or a polarization beam splitter may be used as long as the optical path can be split other than the half mirror 17. Further, the observation means may be a camera other than the visual observation means.

その他、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。   In addition, the above embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some constituent requirements are deleted from all the constituent requirements shown in the embodiment, the problem described in the column of the problem to be solved by the invention can be solved, and is described in the column of the effect of the invention. If the above effect is obtained, a configuration from which this configuration requirement is deleted can be extracted as an invention.

本発明の第1の実施の形態にかかる倒立顕微鏡の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the inverted microscope concerning the 1st Embodiment of this invention. 第1の実施の形態の倒立顕微鏡に用いられる落射投光管の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the epi-illumination projection tube used for the inverted microscope of 1st Embodiment. 第1の実施の形態の倒立顕微鏡に用いられる防塵ユニットのリーニング方法明するための図。The figure for demonstrating the leaning method of the dustproof unit used for the inverted microscope of 1st Embodiment. 第1の実施の形態の倒立顕微鏡の変形例の要部の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the principal part of the modification of the inverted microscope of 1st Embodiment. 本発明の第2の実施の形態にかかる倒立顕微鏡の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the inverted microscope concerning the 2nd Embodiment of this invention. 第2の実施の形態の倒立顕微鏡に用いられる落射投光管の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the epi-illumination projection tube used for the inverted microscope of 2nd Embodiment. 従来の顕微鏡の概略構成を示す図。The figure which shows schematic structure of the conventional microscope.

符号の説明Explanation of symbols

1…顕微鏡本体、2…標本
3…ステージ、4…中座ステージ
5…光源装置、6…落射投光管
601〜603…中空部材、601a…フランジ
7…ランプソケット、701…ランプ
8…明るさ絞り、9…フロスト、10…断熱部材
11…コレクターレンズ、12…フィルタ筒体
12a…溝部、12b…嵌合溝
121…レンズ、13…フィルタ
14…ポラライザ、15…フィルタカバー
16…ハーフミラーブロック、16a…スライダ挿入部
17…ハーフミラー、18…防塵ガラスユニット
18…防塵ガラスユニット、19…防塵ガラス
20…支持板金、20a…直立面、20b…水平面
20c…孔部、21…ネジ
22a…アナライザー、22b…ダミースライダー
23…スカート、24…ピン
25…遮光布、26…対物レンズ
27…レボルバー、28…焦準ハンドル
29…反射ミラー、30…リレー光学系
31…観察鏡筒、32…接眼レンズ
33…調光用ボリューム、34…綿棒
34a…綿部分、35…可動シャッタ
36…ツマミ、361…ネジ
37…ストッパピン、38…隠し板
51…防塵ガラスユニット、52…防塵ガラス
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Microscope main body, 2 ... Specimen 3 ... Stage, 4 ... Center stage 5 ... Light source device, 6 ... Epi-illumination projection tube 601-603 ... Hollow member, 601a ... Flange 7 ... Lamp socket, 701 ... Lamp 8 ... Brightness Diaphragm, 9 ... Frost, 10 ... Thermal insulation member 11 ... Collector lens, 12 ... Filter cylinder 12a ... Groove, 12b ... Fitting groove 121 ... Lens, 13 ... Filter 14 ... Polarizer, 15 ... Filter cover 16 ... Half mirror block, 16a ... Slider insertion portion 17 ... Half mirror, 18 ... Dust-proof glass unit 18 ... Dust-proof glass unit, 19 ... Dust-proof glass 20 ... Support metal plate, 20a ... Upright surface, 20b ... Horizontal surface 20c ... Hole, 21 ... Screw 22a ... Analyzer, 22b ... dummy slider 23 ... skirt, 24 ... pin 25 ... light shielding cloth, 26 ... objective lens 27 Revolver 28 ... Focusing handle 29 ... Reflection mirror 30 ... Relay optical system 31 ... Observation lens tube 32 ... Eyepiece lens 33 ... Light control volume 34 ... Cotton swab 34a ... Cotton part 35 ... Movable shutter 36 ... Knob, 361 ... Screw 37 ... Stopper pin, 38 ... Hidden plate 51 ... Dust-proof glass unit, 52 ... Dust-proof glass

Claims (14)

標本を載置するステージと、
光源と、
前記ステージに載置された標本を観察する対物レンズと、
前記光源からの光を前記対物レンズに向け反射し、前記対物レンズを介して得られる前記標本からの光を透過するような特性を有する光路分割手段と、
前記光路分割手段の少なくとも上方面を覆うような透明部材を有する防塵手段と、
前記光路分割手段を透過した光を標本像として観察する観察手段と、
を具備したことを特徴とする顕微鏡。
A stage for placing the specimen;
A light source;
An objective lens for observing the specimen placed on the stage;
An optical path splitting unit having a characteristic of reflecting light from the light source toward the objective lens and transmitting light from the sample obtained through the objective lens;
Dustproof means having a transparent member covering at least the upper surface of the optical path dividing means;
Observation means for observing the light transmitted through the optical path dividing means as a sample image;
A microscope comprising:
前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、
前記防塵手段は、前記光路分割ブロックに着脱可能に設けられることを特徴とする請求項1記載の顕微鏡。
The optical path dividing means is provided in an optical path dividing block,
The microscope according to claim 1, wherein the dustproof means is detachably provided on the optical path dividing block.
さらに前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の下方面に対向してスライダ挿入部が設けられ、前記スライダ挿入部にダミースライダーを挿入可能としたことを特徴とする請求項2記載の顕微鏡。 3. The microscope according to claim 2, wherein the optical path dividing block is provided with a slider insertion portion facing a lower surface of the optical path dividing means, and a dummy slider can be inserted into the slider insertion portion. さらに前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の下方面に対向してスライダ挿入部が設けられ、前記スライダ挿入部の開口を開閉する開閉手段を有することを特徴とする請求項2記載の顕微鏡。 3. The microscope according to claim 2, wherein the optical path dividing block further includes an opening / closing means provided with a slider insertion portion so as to face a lower surface of the optical path dividing means, and opening / closing the opening of the slider insertion portion. 前記光路分割ブロックは、さらに前記光路分割手段の下方面を覆うような透明部材を有する防塵手段を着脱可能に設けたことを特徴とする請求項2記載の顕微鏡。 The microscope according to claim 2, wherein the optical path dividing block further includes a dustproof means having a transparent member that covers a lower surface of the optical path dividing means. 前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、
前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の上方面又は下方面を覆うような透明部材を有する防塵手段を一体的に設けたことを特徴とする請求項1記載の顕微鏡。
The optical path dividing means is provided in an optical path dividing block,
2. The microscope according to claim 1, wherein the optical path dividing block is integrally provided with dustproof means having a transparent member covering an upper surface or a lower surface of the optical path dividing means.
前記防塵手段は、防塵ガラスと、該防塵ガラスが一体に設けられる防塵ガラスユニットからなることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の顕微鏡。 The microscope according to any one of claims 1 to 6, wherein the dustproof means includes a dustproof glass and a dustproof glass unit in which the dustproof glass is integrally provided. 標本を載置するステージと、
光源と、
前記ステージに載置される標本を観察する対物レンズと、
前記光源からの光を前記対物レンズに向け反射し、前記対物レンズを介して得られる前記標本からの光を透過するような特性を有する光路分割手段と、
前記光源と光路分割手段との間の光路に配置され、少なくとも各種フィルタを収容する防塵カバーを備えたフィルタ保持手段と、
前記光路分割手段の上方面および下方面をそれぞれ防塵するように設けられた第1および第2の防塵手段と、
前記光路分割手段を透過した光を標本像として観察する観察手段と、
を具備したことを特徴とする顕微鏡。
A stage for placing the specimen;
A light source;
An objective lens for observing a specimen placed on the stage;
An optical path splitting unit having a characteristic of reflecting light from the light source toward the objective lens and transmitting light from the sample obtained through the objective lens;
A filter holding means provided with a dustproof cover that is disposed in an optical path between the light source and the optical path dividing means and accommodates at least various filters;
First and second dustproof means provided to protect the upper and lower surfaces of the optical path dividing means, respectively,
Observation means for observing the light transmitted through the optical path dividing means as a sample image;
A microscope comprising:
前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、
前記第1および第2の防塵手段は、透明部材を有するとともに、前記光路分割ブロックに着脱可能に設けられることを特徴とする請求項8記載の顕微鏡。
The optical path dividing means is provided in an optical path dividing block,
9. The microscope according to claim 8, wherein the first and second dustproof means include a transparent member and are detachably provided on the optical path dividing block.
前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、
前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の下方面に対向してスライダ挿入部が設けられ、前記第2の防塵手段は、前記スライダ挿入部にダミースライダーを挿入可能としたことを特徴とする請求項8記載の顕微鏡。
The optical path dividing means is provided in an optical path dividing block,
The optical path dividing block is provided with a slider insertion part facing a lower surface of the optical path dividing means, and the second dustproof means is capable of inserting a dummy slider into the slider insertion part. Item 9. The microscope according to Item 8.
前記光路分割手段は、光路分割ブロックに設けられ、
前記光路分割ブロックは、前記光路分割手段の下方面に対向してスライダ挿入部が設けられ、前記第2の防塵手段は、前記スライダ挿入部の開口を開閉する開閉手段を有することを特徴とする請求項8記載の顕微鏡。
The optical path dividing means is provided in an optical path dividing block,
The optical path dividing block is provided with a slider insertion part facing a lower surface of the optical path dividing means, and the second dustproof means has an opening / closing means for opening and closing an opening of the slider insertion part. The microscope according to claim 8.
前記光路分割ブロックは、前記第1および第2の防塵手段を一体に設けたことを特徴とする請求項8記載の顕微鏡。 9. The microscope according to claim 8, wherein the optical path dividing block is provided with the first and second dustproof means integrally. 前記防塵手段は、防塵ガラスと、該防塵ガラスが一体に設けられる防塵ガラスユニットからなることを特徴とする請求項9又は12記載の顕微鏡。 The microscope according to claim 9 or 12, wherein the dustproof means includes a dustproof glass and a dustproof glass unit in which the dustproof glass is integrally provided. 前記フィルタ保持手段は、前記光路に沿ってスライド移動可能にした蓋部を有することを特徴とする請求項8記載の顕微鏡。 The microscope according to claim 8, wherein the filter holding unit includes a lid portion that is slidable along the optical path.
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