JP2006081846A - 顔面溝の評価方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】顔の全景画像を取得して、顔面の特徴点P、P1、P2、Qを自動認識し、該特徴点に基づいて測定範囲510、520、530、540を自動設定し、設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測する。
【選択図】図4
Description
105…被検者の頭
120…CCDカメラ
150…コンピュータ
155…ディスプレイ
400…画像表示領域
402…処理パターン選択ボタン
404…画像選択ボタン
410…特徴点表示ボタン
416…特徴点選択ボタン
420…原画像表示領域
422…計測結果画像表示領域
424…数値結果表示領域
510、520、530、540…測定範囲
P、P1、P2、Q…特徴点
Claims (10)
- 顔の全景画像を取得して、
顔面の特徴点を自動認識し、
該特徴点に基づいて測定範囲を自動設定し、
設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測することを特徴とする顔面溝の評価方法。 - 前記顔面溝が、鼻唇溝、目尻、額、下眼、上眼瞼、口角、上口唇にある溝やしわであることを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
- 前記計測が、溝部分の長さ、幅、面積を、デジタル画像の色信号情報より抽出するものであることを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
- 前記特徴点が片目の目尻であり、これに基づいて、目尻しわの測定範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
- 前記特徴点が鼻翼端及び口角端であり、これらに基づいて、鼻唇溝の測定範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
- 前記特徴点が両目の目頭であり、これに基づいて、額の縦しわの測定範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
- 前記特徴点が両目の目尻であり、これに基づいて、額の横しわの測定範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
- 前記顔面溝を、注目画素と、該注目画素を平均化した画素との差分を計測し、差分画像を2値化して評価することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
- 前記顔面溝を、注目画素と、該注目画素を平均化した画素との差分を計測し、差分画像の最暗部を追跡して作成したベクトルで評価することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
- 顔の全景画像を取得する手段と、
顔面の特徴点を自動認識する手段と、
該特徴点に基づいて測定範囲を自動設定する手段と、
設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測する手段と、
を備えたことを特徴とする顔面溝の評価装置。
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