JP2006081846A - 顔面溝の評価方法及び装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】額の溝部位を再現性良く撮影した上で、溝を簡易に定量的に評価して、治療や化粧の前後で比較検証可能なデータを得る。
【解決手段】顔の全景画像を取得して、顔面の特徴点P、P1、P2、Qを自動認識し、該特徴点に基づいて測定範囲510、520、530、540を自動設定し、設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測する。
【選択図】図4

Description

本発明は、顔面溝の評価方法及び装置に係り、特に、医療や化粧分野で用いるのに好適な、鼻唇溝、目尻、額、下眼、上眼瞼、口角、上口唇等にある溝やしわ等の顔面溝の溝部分の長さ、幅、面積を計測して評価するための顔面溝の評価方法及び装置に関する。
医療や化粧の分野では、鼻唇溝、目尻、額、下眼、上眼瞼、口角、上口唇等にある溝やしわの長さ、幅、面積等を計測して、定量的に評価することが望ましい。
このような目的で、特許文献1には、皮膚表面にスリット光を照射して、ナイフエッジ法により皮膚表面のしわの3次元形状を測定する方法が提案されている。
又、特許文献2には、サンプル皮膚表面の微細明暗分布が強調された2次元サンプル画像を撮像し、これから抽出した1次元明暗プロフィルに含まれる明暗ピークデータを演算処理して明暗ピーク間隔や明暗ピーク粗さを算出し、これらに基づいてしわや肌理の尺度となる皮膚の凹凸の視覚的粗さを算出することが提案されている。
又、特許文献3には、サンプル皮膚表面の微細明暗分布が強調された2次元サンプル画像を撮像し、この2次元サンプル画像を加工処理し、高輝度部分を抽出して粒子解析を行ない、サンプル皮膚表面の光学的美しさに相関する特性値を算出することが提案されている。
又、特許文献4には、肌の表面を撮影した画像を平滑化し、平滑化前の画像を減算し、ログ変換を施した後、輝度が反転して、自動2値化を行ない、暗領域の総画素数を算出して、毛穴の状態を表わす指標とすることが提案されている。
又、非特許文献1には、2光源照度差ステレオ法により肌表面のレプリカを再構成することが提案されている。
又、非特許文献2には、形状抽出とパターン照合の組合せによる顔特徴点の抽出方法が記載されている。
又、非特許文献3には、ハフ変換と分離度フィルタによる人物顔からの両目の検出方法が記載されている。
又、非特許文献4には、デフォーマブル・テンプレート・マッチング法による唇輪郭抽出法が記載されている。
又、非特許文献5には、顔画像中からの眼の特徴点抽出法が記載されている。
特開平8−145639号公報 特開平6−189942号公報 特開平7−231883号公報 特開平7−55447号公報 電子情報通信学会論文誌D−II Vol.J82−D−II No.1 pp.10−18(1999年1月) 電子情報通信学会論文誌D−II Vol.J80−D−II No.8 pp.2170−2177(1997年8月) 電子情報通信学会論文誌D−II Vol.J84−D−II No.10 pp.2190−2200(2001年10月) 電子情報通信学会論文誌D−II Vol.J86−D−II No.8 pp.1177−1185(2003年8月) 電子情報通信学会論文誌D−II Vol.J76−D−II No.8 pp.1796−1804(1993年8月)
しかしながら、特許文献1乃至4に記載の技術は、いずれも対象範囲が10mm×10mm程度と非常に狭く、溝部位の全景が得られないという問題点を有していた。
又、非特許文献1のように肌表面レプリカを用いるものは、計測エリアが10mm×10mmと狭く、溝部位全景が得られないだけでなく、レプリカ自体が経時で都度変形が進み、解析誤差を生じる。又、レプリカ計測は溝部位を圧するために、溝部位の変形が生じ、侵襲的な計測手法である。更に、レプリカ計測では被検者の元画像が残らず、又、計測部位も不明瞭になる危惧があり、計測後の計測の妥当性検討ができない等の問題点を有していた。
又、非特許文献2乃至5は、特徴点を抽出しているだけで、顔面溝の計測と結び付けたものはなかった。
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、顔の溝部位を再現性良く撮影した上で、溝を簡易に定量的に評価して、治療や化粧の前後で比較検証可能なデータが得られるようにすることを課題とする。
本発明は、顔の全景画像を取得して、顔面の特徴点を自動認識し、該特徴点に基づいて測定範囲を自動設定し、設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測することにより、前記課題を解決したものである。
前記顔面溝は、鼻唇溝、目尻、額、下眼、上眼瞼、口角、上口唇にある溝やしわとすることができる。
前記計測は、溝部分の長さ、幅、面積を、デジタル画像の色信号情報より抽出するものとすることができる。
又、前記特徴点を片目の目尻とし、これに基づいて、目尻しわの測定範囲を設定することができる。
又、前記特徴点を鼻翼端及び口角端とし、これらに基づいて、鼻唇溝の測定範囲を設定することができる。
又、前記特徴点を両目の目頭とし、これに基づいて、額の縦しわの測定範囲を設定することができる。
又、前記特徴点を両目の目尻とし、これに基づいて、額の横しわの測定範囲を設定することができる。
又、前記顔面溝を、注目画素と、該注目画素を平均化した画素との差分を計測し、差分画像を2値化して評価することができる。
あるいは、前記顔面溝を、注目画素と、該注目画素を平均化した画素との差分を計測し、差分画像の最暗部を追跡して作成したベクトルで評価することができる。
本発明は、又、顔面溝の評価装置において、顔の全景画像を取得する手段と、顔面の特徴点を自動認識する手段と、該特徴点に基づいて測定範囲を自動設定する手段と、設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測する手段とを備えることにより、前記課題を解決したものである。
本発明によれば、顔面の溝部位を再現性良く撮影した上で、溝を簡易に定量的に評価することが可能となる。従って、治療や化粧の前後で比較検証可能なデータを得ることができ、医療や美容の分野で有用である。
以下図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。
図1に示すように、本発明の適用対象である皮膚画像処理システムには、皮膚画像撮影ボックス100及びディスプレイ155付きのコンピュータ150が含まれる。顔の皮膚の検査を受ける被検者は、皮膚画像撮影ボックス100の中へ頭を入れる。壁110は、皮膚画像撮影ボックス100に外側の構造を提供する。壁のうち、後ろ側の壁115は、被検者の頭が箱100の内側に楽に入ることができるようカーテンで形成してもよい。
箱100の内側にはCCDカメラ120が置かれ、右45度の点122、前面の点124、左45度の点126の間を自動的に移動するよう制御される。移動の点はこれら3点に限定されず、被検者の顔面からの距離が実質的に同じ(この例では200mm)であるような弧状線上で、何点でもどの位置でも選んでよい。代替の形態としては、最も右側の点と最も左側の点は45度以外の角度(例えば45度より大きい角度)にあってもよい。CCDカメラ120は、各点に位置する際、その撮影軸が被検者の顔面に対して実質的に垂直になるように置かれる。そのような状態で、CCDカメラ120の移動により被検者の顔が走査され、走査の間に、間欠的にデジタル撮影が行なわれる。
CCDカメラ120は、例えば400万画素を備え、被検者の顔の高解像度画像を撮影する。この例では、一回の検査(走査)につき3枚のカラー画像、即ち、点124から撮影される正面顔画像、点122から撮影される右側顔画像、点126から撮影される左側顔画像が、自動的に撮影される。手動で画像を撮影するには、操作者がシャッタスイッチ140を押す。
それらの画像のカラー信号は、例えばUSBポートを介して、コンピュータ150に読み込まれる。コンピュータ150は、それらの画像を処理して、顔の皮膚の状態を代表する解析結果を生成する。取り込まれた画像や算出された解析結果は、操作者に対して、又、希望があれば被検者に対して、ディスプレイ155を介して表示される。
図2を用いて、皮膚画像撮影ボックス100を更に詳しく説明する。図2(A)は、箱100の上方からの透視図を示す。4つの光源131〜134が、移動するカメラ120の軌道の後方に、実質的に等しい間隔で置かれている。各光源は標準白色光源である。光源と被検者の顔との間に置かれた拡散板160(例えば乳白色のアクリル板)によって、拡散照明が実現されている。
図2(B)は、箱100の一点鎖線B−B’における断面を示す。被検者の頭105は除いてある。拡散板160には、点122、124、126にそれぞれ対応する3つの穴162、164、166が有り、カメラ120が被検者の顔の画像を撮影できるようになっている。別の光源135が箱100の天井に、更に別の光源136が箱100の床に置かれている。いずれの光源も、被検者の顔から見て拡散板160の反対側にある。
被検者の顔は、頭頂押さえ170と下顎台175によって固定される。被検者が顎を台175に載せ、頭上部を押さえ170に押し当てると、被検者には、カメラ120用の3つの穴を除く全ての方向に、明るい乳白色の板が見えることになる。
図2(C)は、箱100の一点鎖線C−C’における断面を示す。被検者の頭105も描いてある。頭頂押さえ170の内側の面には、カラーチャート180が置かれている。カラーチャート180には、黒、白、肌色基準値、赤、緑、青が含まれてもよい。又、灰色(例えば黒から白までの10段階の無彩色)が含まれてもよい。肌色基準値は単に比較の基準として働くので、箱100の操作者又は製造者が任意に決定又は作成することができる。肌色基準値としては、異なった人種それぞれに見本を取って調べた皮膚の色の平均を用いてもよく、カラーチャート180は、いくつかの人種に対応したいくつかの肌色基準値を含むことつができる。
箱100内の被検者の顔の両横には照度センサ(図示しない)が置かれ、予め決められた範囲(例えば10000Lx±3%)に照度を保持するよう、照度センサの出力に基づいて光源131〜136に加えられる電圧が制御される。更に、各検査において、カメラ120と光源131〜136の位置に対して相対的に同じ位置に、押さえ170と台175によって被検者の顔が固定されるのは、上述したとおりである。故に箱100は、ある被検者の皮膚の過去と現在の状態を比較し、且つ/又は、ある被検者の状態をデータベースに蓄積された他の実例と比較するための、十分な繰り返し性(再現性)を備える。
カラーチャート180の画像は、正面顔画像と同じく点124においてCCDカメラ120によって取り込まれる。カラーチャート180の赤、緑、青、白に対応するCCDカメラ120からの出力信号は、色温度を補正してCCDの色感度を実質的に同じ状態に保つのに用いられる。
図3に示すように、カラーチャート画像付き正面顔画像、右側顔画像、左側顔画像は、皮膚画像撮影ボックス100からコンピュータ150のメモリ310に読み込まれる。各画像には、多数の画素の赤(R)、緑(G)、青(B)信号が含まれている。
コンピュータ150にある1つ以上のモジュールは、メモリ310に格納された皮膚画像を解析して、皮膚状態を代表する結果を1つ以上生成することができる。これらのモジュールは、ソフトウェアによって、又はソフトウェアとハードウェアの組合せによって実行することができる。各モジュールが生成した結果は、ディスプレイ155へ出力できるだけでなく、実例データベース200に格納することもできる。上記の3つの顔画像のRGB信号は、生成された結果と一緒にディスプレイ155及び実例データベース200へ送ってもよい。このようにRGB信号を評価結果と共に実例データベース200に蓄積することにより、過去の実例についてもそのオリジナル画像を参照しながら検査することが可能になる。実例の名称、被検者の年齢、性別等の個人情報も、評価結果と共に実例データベース200に蓄積してもよい。
前記コンピュータ150は、本発明に係るしわ評価モジュール320の他、例えば皮膚の色を代表するデータを生成する皮膚の色評価モジュール330、色素沈着部位の程度を示すデータを生成する色素沈着評価モジュール340、顕在的(目立つ)毛穴の程度を示すデータを生成する毛穴評価モジュール350、皮膚画像を処理して、更に多様な色素班を評価するための色素班タイプ決定モジュール360を含むことができる。
前記しわ評価モジュール320における、本発明に係るしわの評価は、図4に示すような手順に従って行なわれる。即ち、まずステップ1010で、前記CCDカメラ120による画像撮影を行ない、ステップ1020でメモリ310に記録・保存する。次いでステップ1030でRGBのアナログ信号を、コンピュータ150での処理に適したデジタル信号に変換し、ステップ1040で画像を入力する。
処理対象画像の選択から計測の開始までの表示画面の例を図5に示す。ここで、400は画像表示領域である。又、右上の3つのボタン402は、選択された画像の計測時の処理パターンを選択するための選択ボタンであり、「Auto」を選択した場合には、特徴点抽出から鼻唇溝やしわの解析までを一括して実施する。又、「SemiAuto」を選択した場合には、特徴点抽出後に一旦処理を止め、特徴点が正しく抽出されていない場合には手動操作で特徴点を選択してから、鼻唇溝やしわの解析を行なう。又、「Manual」を選択した時は、特徴点を手動操作で選択してから、鼻唇溝やしわの解析を行なう。
又、画像ファイル参照ボタン404で正面画像を選ぶと鼻唇溝や額のしわの解析、側面画像を選ぶと目尻しわの解析が行なえる。
図4のステップ1040終了後、ステップ1050に進み、例えば非特許文献2乃至5に記載されたような方法で、特徴点の抽出を行ない、ステップ1060で測定範囲を自動設定する。具体的には、目尻縮緬しわ(単に目尻しわとも称する)の解析時には、図6に示す如く、特徴点として片目の目尻P(座標を(px,py)とする)を抽出し、該点Pを中心とする上下の所定長さH(例えば30mm)及び後頭部側の所定幅W(例えば30mm)の領域R1(px,py-H/2)−R2(px+W,py-H/2)−R3(px+W,py+H/2)−R4(px,py+H/2)を測定範囲510に自動設定する。
又、鼻唇溝の解析時には、図7に示す如く、特徴点として小鼻の鼻翼端P1(p1x,p1y)、P2(p2x,p2y)と口元の口角端Q1(q1x,q1y)、Q2(q2x,q2y)を抽出し、これらを含む所定の領域R11(q1x-150,q1y-100)−R12(p1x+100,q1y-100)−R14(p1x+100,p1y+100)−R13(q1x-150,p1y+100)及び領域R21(q2x+150,q2y-100)−R22(p2x-100,qy-100)−R24(p2x-100,p2y+100)−R23(q2x+150,p2y+100)を測定範囲521、522に自動設定する。
又、額の縦しわの解析時には、図8に示す如く、特徴点として両目の目頭P1(座標を(px1,py1とする)、P2(同じく(px2,py2)とする)を抽出し、この2点P1、P2を下辺の2頂点とする所定高さH(例えば60mm)の領域R1(=P1)−R2(px1,py1+60)−R3(px2,py2+60)−R4(=P2)を測定範囲530に設定する。
又、額の横しわを解析する時には、図9に示す如く、特徴点として両目の目尻P1、P2を抽出し、この2点P1、P2を下辺の頂点とする所定高さH(例えば70mm)の領域R1(=P1)−R2(px1,py1+70)−R3(px2,py2+70)−R4(=P2)を測定領域540に設定する。
特徴点抽出画面の例を図10に示す。右側の特徴点表示ボタン410は、鼻唇溝の解析時には鼻翼両端と口角両端の計4点となり、目尻しわの解析時には目尻の1点となる。図において、412は表示画像の拡大縮小(虫眼鏡)ボタン、414は表示画像の移動ボタン、416は上部に表示されている特徴点表示ボタン410で選択中の特徴点の手動選択ボタンであり、このボタン416を押してから表示画像の特定部位をクリックすることで、特徴点を手動指定することができる。
図4のステップ1060で測定範囲が設定された後、しわを評価する際には、ステップ1070に進み、注目画素と注目画素を平均化した画素との差分による画素を作成する。平均時の短径サイズは、例えば4mm×4mmとすることができる。
次いでステップ1080に進み、差分画像を2値化する。次いでステップ1090に進み、パーティクルアナライズを行ない、毛穴等によるゴミを除去してオブジェクト(しわ)を抽出する。
一方、鼻唇溝を解析する際には、ステップ1100に進み、輝度を指標とした最暗部を抽出する。具体的には、注目画素と注目画素を中心とした例えば6mmの領域を平均化した画素との差分による画素を作成し、例えばX軸の検出範囲内において、注目画素と注目画素を平均した画素との差分が−10以下になる最大領域(最暗部)を鼻唇溝として検出する。
次いでステップ1110に進み、同じ操作を鼻唇溝が伸びる口角の特徴点に向けて繰り返すことによって、ベクトル評価による最暗部追跡を行ない、鼻唇溝オブジェクトを作成する。
ステップ1090又は1110でオブジェクトが抽出された後、ステップ1120に進み、オブジェクトの輪郭スムージングを行なう。
次いでステップ1130で、1画素でトレースした細線化画像を得ると共に、しわ領域を決定し、ステップ1140で、細線化画像から最大フェレ径間の開始位置と終了位置の距離が最短な区間をしわの長さとして計測する。又、細線化画像の(端点総数+分岐点総数)/2から、しわの本数を計測する。次いでステップ1160でしわの面積を計測し、細線化画像の注目画素の方向ベクトルに対して垂直に引いたオブジェクトの最大幅をしわの幅とする。しわの長さに属する区間において、しわの幅の平均値をしわの平均幅として、又、しわの幅の最大値をしわの最大幅として、それぞれを計測する。
計測結果の表示画面の例を図11に示す。図において、420は原画像表示領域、422は計測結果画像(例えばしわのみ)表示領域、424は数値結果の表示領域、426は表示画像の保存ボタン、428は数値結果のテキストファイルへの保存ボタンである。
このようにして、顔面の溝部位を再現性良く撮影した上で、溝を簡易に定量的に評価することが可能となる。
なお、前記説明においては、顔面溝のうち目尻しわ、鼻唇溝、額の縦しわ及び横しわについて説明していたが、本発明の評価対象はこれに限定されず、下眼、上眼瞼、口角、上口唇にある溝やしわ等の解析にも同様に適用できることは明らかである。
本発明の適用対象である皮膚画像処理システムの全体構成を示す図 前記皮膚画像処理システムで用いられている皮膚画像撮影ボックスの例を示す、(A)上方からの透視図、(B)顔の方向から見た正面図、(C)中央断面図 前記皮膚画像処理システムのコンピュータが行なう皮膚画像処理の概要を示すブロック図 本発明に係るしわ評価の実施形態の処理手順を示す流れ図 しわ評価における処理対象画像の選択から計測の開始までの画面の例を示す図 同じく目尻しわ解析時の特徴点の抽出と、これにより設定される測定範囲の例を示す図 同じく鼻唇溝解析時の特徴点の抽出と、これにより設定される測定範囲の例を示す図 同じく額の縦しわ解析時の特徴点の抽出と、これにより設定される測定範囲の例を示す図 同じく額の横しわ解析時の特徴点の抽出と、これにより設定される測定範囲の例を示す図 同じく特徴点抽出時の表示画面の例を示す図 同じく計測結果の表示画面の例を示す図
符号の説明
100…皮膚画像撮影ボックス
105…被検者の頭
120…CCDカメラ
150…コンピュータ
155…ディスプレイ
400…画像表示領域
402…処理パターン選択ボタン
404…画像選択ボタン
410…特徴点表示ボタン
416…特徴点選択ボタン
420…原画像表示領域
422…計測結果画像表示領域
424…数値結果表示領域
510、520、530、540…測定範囲
P、P1、P2、Q…特徴点

Claims (10)

  1. 顔の全景画像を取得して、
    顔面の特徴点を自動認識し、
    該特徴点に基づいて測定範囲を自動設定し、
    設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測することを特徴とする顔面溝の評価方法。
  2. 前記顔面溝が、鼻唇溝、目尻、額、下眼、上眼瞼、口角、上口唇にある溝やしわであることを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
  3. 前記計測が、溝部分の長さ、幅、面積を、デジタル画像の色信号情報より抽出するものであることを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
  4. 前記特徴点が片目の目尻であり、これに基づいて、目尻しわの測定範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
  5. 前記特徴点が鼻翼端及び口角端であり、これらに基づいて、鼻唇溝の測定範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
  6. 前記特徴点が両目の目頭であり、これに基づいて、額の縦しわの測定範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
  7. 前記特徴点が両目の目尻であり、これに基づいて、額の横しわの測定範囲を設定することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
  8. 前記顔面溝を、注目画素と、該注目画素を平均化した画素との差分を計測し、差分画像を2値化して評価することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
  9. 前記顔面溝を、注目画素と、該注目画素を平均化した画素との差分を計測し、差分画像の最暗部を追跡して作成したベクトルで評価することを特徴とする請求項1に記載の顔面溝の評価方法。
  10. 顔の全景画像を取得する手段と、
    顔面の特徴点を自動認識する手段と、
    該特徴点に基づいて測定範囲を自動設定する手段と、
    設定された測定範囲内で顔面溝の形状を計測する手段と、
    を備えたことを特徴とする顔面溝の評価装置。
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100456326C (zh) * 2006-09-22 2009-01-28 浙江大学 一种用于人脸变老的图像处理方法
JP2010134665A (ja) * 2008-12-04 2010-06-17 Shiseido Co Ltd 唇解析方法
JP2010250440A (ja) * 2009-04-13 2010-11-04 Dainippon Printing Co Ltd 対象物間のネットワーク解析装置
JP2015064823A (ja) * 2013-09-26 2015-04-09 ポーラ化成工業株式会社 化粧料の評価方法、及び表情しわの定量化方法
JP2016015118A (ja) * 2014-06-09 2016-01-28 パナソニックIpマネジメント株式会社 皺検出装置および皺検出方法
JP2019017981A (ja) * 2017-07-14 2019-02-07 麗寶大數據股▲フン▼有限公司 肌状態検出方法及び電子機器
JP2019098168A (ja) * 2017-12-01 2019-06-24 ポーラ化成工業株式会社 肌解析方法及び肌解析システム
WO2021106192A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03 日本電気株式会社 肌色チャート及びその製造方法
JPWO2021106187A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10201740A (ja) * 1997-01-28 1998-08-04 Matsushita Electric Works Ltd 肌の表面形状計測・判定装置
JP2002330943A (ja) * 2001-05-08 2002-11-19 Pola Chem Ind Inc 実年齢の推定方法及び印象年齢の調整法
JP2004121858A (ja) * 2002-07-09 2004-04-22 Ric:Kk デジタルズーム肌診断装置
JP2004222736A (ja) * 2002-11-22 2004-08-12 Moritex Corp 顔面撮像装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10201740A (ja) * 1997-01-28 1998-08-04 Matsushita Electric Works Ltd 肌の表面形状計測・判定装置
JP2002330943A (ja) * 2001-05-08 2002-11-19 Pola Chem Ind Inc 実年齢の推定方法及び印象年齢の調整法
JP2004121858A (ja) * 2002-07-09 2004-04-22 Ric:Kk デジタルズーム肌診断装置
JP2004222736A (ja) * 2002-11-22 2004-08-12 Moritex Corp 顔面撮像装置

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100456326C (zh) * 2006-09-22 2009-01-28 浙江大学 一种用于人脸变老的图像处理方法
JP2010134665A (ja) * 2008-12-04 2010-06-17 Shiseido Co Ltd 唇解析方法
JP2010250440A (ja) * 2009-04-13 2010-11-04 Dainippon Printing Co Ltd 対象物間のネットワーク解析装置
JP2015064823A (ja) * 2013-09-26 2015-04-09 ポーラ化成工業株式会社 化粧料の評価方法、及び表情しわの定量化方法
JP2016015118A (ja) * 2014-06-09 2016-01-28 パナソニックIpマネジメント株式会社 皺検出装置および皺検出方法
US10448879B2 (en) 2017-07-14 2019-10-22 Cal-Comp Big Data, Inc. Skin condition detection method and electronic device
JP2019017981A (ja) * 2017-07-14 2019-02-07 麗寶大數據股▲フン▼有限公司 肌状態検出方法及び電子機器
JP2019098168A (ja) * 2017-12-01 2019-06-24 ポーラ化成工業株式会社 肌解析方法及び肌解析システム
JP7183005B2 (ja) 2017-12-01 2022-12-05 ポーラ化成工業株式会社 肌解析方法及び肌解析システム
WO2021106192A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03 日本電気株式会社 肌色チャート及びその製造方法
JPWO2021106187A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03
JPWO2021106192A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03
WO2021106187A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03 日本電気株式会社 顔認証環境判定方法、顔認証環境判定システム、顔認証環境判定装置、及び非一時的なコンピュータ可読媒体
JP7315024B2 (ja) 2019-11-29 2023-07-26 日本電気株式会社 顔認証環境判定方法、顔認証環境判定システム、顔認証環境判定装置、及び顔認証環境判定プログラム

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