JP2005351876A - Astigmatic difference measuring method, spot diameter correction method and spot evaluation system of optical device - Google Patents

Astigmatic difference measuring method, spot diameter correction method and spot evaluation system of optical device Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an astigmatic difference measuring method of an optical device which can correct astigmatism present on a condensing performance evaluation system itself, without the use any optical elements for astigmatism correction to contribute to reduction in the number of components and cost required for astigmatic difference measuring of the optical device. <P>SOLUTION: This astigmatism measuring method uses software-based data processing to correct astigmatism, without relying on any optical element for astigmatism correction, and then measures astigmatic difference of the optical device. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、光ピックアップ装置等の光学装置の非点隔差測定方法に関するものであって、特に、スポット評価装置等の集光性能評価装置自体が有する非点隔差を補正しつつ、光学装置が有する非点隔差を測定する方法に関するものである。   The present invention relates to a method for measuring astigmatism of an optical device such as an optical pickup device, and in particular, the optical device includes correcting the astigmatism of a light collection performance evaluation device itself such as a spot evaluation device. The present invention relates to a method for measuring astigmatic difference.

近年、光ピックアップ装置を用いてCD、MD等の光ディスク装置にデータ(情報)を書き込むことが頻繁に行われており、この光ディスク装置に大容量のデータを貯えられることが期待されている。かかる大容量化には、光ディスク装置媒体上の記録スポットを縮小し、記録密度を上げる必要があり、そのために光ピックアップ装置のレーザ光の短波長化が重要となる。しかしながら、レーザ光は、ビームの縦方向と横方向で発光点位置が異なって見える非点収差を持っていたり、ビームが著しい楕円形状であったため、これらを補正する光学系を用いて装置を設計するのが一般的であり、この補正量を測定するために、光ピックアップ装置を光学的に評価することが行われている。   In recent years, data (information) is frequently written in an optical disk device such as a CD or MD using an optical pickup device, and it is expected that a large amount of data can be stored in the optical disk device. In order to increase the capacity, it is necessary to reduce the recording spot on the optical disk device medium and increase the recording density. For this reason, it is important to shorten the wavelength of the laser beam of the optical pickup device. However, the laser beam has astigmatism that appears at different light emitting point positions in the vertical and horizontal directions of the beam, and the beam was extremely elliptical, so the device was designed using an optical system to correct these. In general, the optical pickup device is optically evaluated in order to measure the correction amount.

このように、光ピックアップ装置の集光性能は、スポット評価によって決せられるのが一般的であり、このスポット評価の評価指標としては、例えば、スポット径、焦点深度、或いは球面収差,コマ収差,非点収差といった各収差などがある。そして、かかる評価指標に関するスポット評価は、スポット評価装置によって行われる。例えば、光ピックアップユニットからの集光スポットを、顕微鏡光学系を用いて測定する日商エレクトロニクス(株)製の光ピックアップ評価システムOPT−Wシリーズなどが知られている。   As described above, the light collecting performance of the optical pickup device is generally determined by spot evaluation. As an evaluation index of this spot evaluation, for example, a spot diameter, a focal depth, or spherical aberration, coma aberration, There are various aberrations such as astigmatism. And the spot evaluation regarding this evaluation index is performed by the spot evaluation apparatus. For example, an optical pickup evaluation system OPT-W series manufactured by Nissho Electronics Co., Ltd. that measures a condensing spot from an optical pickup unit using a microscope optical system is known.

スポット評価装置の基本構成は、顕微鏡光学系を用いていることから顕微鏡の基本構成と同様である。そのため、スポット評価装置自体にも、球面収差、コマ収差、非点収差といった各収差が存在しており、これらが正確な非点隔差測定を妨げる要因となっている。   The basic configuration of the spot evaluation apparatus is the same as the basic configuration of the microscope because a microscope optical system is used. Therefore, each aberration such as spherical aberration, coma aberration, and astigmatism also exists in the spot evaluation apparatus itself, and these are factors that hinder accurate astigmatism measurement.

このようなことから、スポット評価装置を用いて光ピックアップ装置のスポット評価を正確に行うために、スポット評価装置自体に存在する各収差を補正しなければならない。各収差のうち、球面収差については、スポット評価装置のカバーガラスの厚みを変更することによって補正することができる。また、コマ収差については、カバーガラスを傾けることによって補正することができる。   For this reason, in order to accurately perform the spot evaluation of the optical pickup device using the spot evaluation device, each aberration existing in the spot evaluation device itself must be corrected. Of each aberration, spherical aberration can be corrected by changing the thickness of the cover glass of the spot evaluation device. Further, coma aberration can be corrected by tilting the cover glass.

しかしながら、スポット評価装置自体に存在する各収差のうち、非点収差については、スポット評価装置の基本構成が顕微鏡の基本構成と同様である関係上、機械的(機構的)に補正することは困難であり、これを補正するためには、従来は、スポット評価装置の途中に非点収差補正用の光学素子(例えば、斜めガラス等)を組み込まなければならなかった。このように斜めガラス等を組み込むことによって非点収差は補正できるものの、斜めガラスを組み込むことによる新たな非点収差が発生することとなるため、新たに発生した収差の補正が必要となり、補正作業が煩雑となっていた。かかる事態は、光ピックアップ装置の集光性能を評価するにあたって必要な部品点数の増大を招き、ひいては非点隔差測定コストの上昇に繋がっていた。   However, among the aberrations existing in the spot evaluation apparatus itself, astigmatism is difficult to correct mechanically (mechanically) because the basic configuration of the spot evaluation apparatus is the same as the basic configuration of the microscope. In order to correct this, conventionally, an optical element for correcting astigmatism (for example, oblique glass) had to be incorporated in the spot evaluation apparatus. Although astigmatism can be corrected by incorporating oblique glass in this way, new astigmatism will occur due to the incorporation of oblique glass, so it is necessary to correct the newly generated aberration, and the correction work Was complicated. Such a situation has led to an increase in the number of parts necessary for evaluating the light collecting performance of the optical pickup device, which in turn has led to an increase in astigmatism measurement cost.

本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、その目的は、非点収差補正用の光学素子を使わずに、集光性能評価装置自体に存在する非点収差の補正を行うことが可能であって、光学装置の非点隔差測定に必要な部品点数及びコストの削減に寄与し得る光学装置の非点隔差測定方法、スポット径補正方法及びスポット評価装置を提供することにある。また、本発明は、補正作業が煩雑になることを防止し、補正作業の簡素化を図ることができる光学装置の非点隔差測定方法、スポット径補正方法及びスポット評価装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of these points, and an object of the present invention is to correct astigmatism existing in the light collecting performance evaluation apparatus itself without using an optical element for correcting astigmatism. It is possible to provide an optical device astigmatism measurement method, a spot diameter correction method, and a spot evaluation device that can contribute to the reduction of the number of parts and the cost required for the astigmatism measurement of the optical device. . It is another object of the present invention to provide an optical device astigmatism measurement method, spot diameter correction method, and spot evaluation device that can prevent the correction operation from becoming complicated and can simplify the correction operation. .

以上のような課題を解決するために、本発明は、ソフトウェアによる情報処理を用いて、非点収差補正用の光学素子を使わずに非点収差を補正した上で、光学装置の非点隔差を測定することを特徴とする。   In order to solve the above-described problems, the present invention corrects astigmatism without using an astigmatism correction optical element by using software information processing, and astigmatic difference of the optical apparatus. Is measured.

より具体的には、本発明は、以下のものを提供する。   More specifically, the present invention provides the following.

(1) 被評価装置である光学装置の集光性能を評価する集光性能評価装置が有する非点隔差を補正しつつ、前記集光性能評価装置を用いて、前記光学装置が有する非点隔差を測定する光学装置の非点隔差測定方法であって、光学装置から取得したデータを所定の基本軸に対して回転させながら、一の角度θにおける非点隔差R(θ)を取得するステップと、前記非点隔差R(θ)が最大となるときの角度θmaxと、そのときの最大非点隔差R(θmax)とを用いて、前記基本軸と同方向のベクトル係数Rと、前記基本軸に対して45度の角度をなす方向のベクトル係数R45と、を算出するステップと、フィッティング手法を用いて、前記ベクトル係数Rと前記ベクトル係数R45とから任意の角度θにおける非点隔差R(θ)を算出するステップと、予め非点隔差がわかっている基準光学装置を前記集光性能評価装置で測定することによって、前記ベクトル係数Rと前記ベクトル係数R45とを補正するステップと、補正後のベクトル係数RとR45とを用いて、前記光学装置の非点隔差を算出するステップと、からなることを特徴とする光学装置の非点隔差測定方法。 (1) While correcting the astigmatic difference of the condensing performance evaluation device that evaluates the condensing performance of the optical device that is the device to be evaluated, the astigmatic difference of the optical device using the condensing performance evaluation device Is an astigmatic difference measurement method for an optical device that measures the astigmatism difference R (θ n ) at one angle θ n while rotating data acquired from the optical device with respect to a predetermined basic axis. Using the step, the angle θ max when the astigmatic difference R (θ n ) is maximum, and the maximum astigmatic difference R (θ max ) at that time, the vector coefficient R in the same direction as the basic axis 0 , a vector coefficient R 45 in a direction that forms an angle of 45 degrees with respect to the basic axis, and a fitting technique to calculate an arbitrary value from the vector coefficient R 0 and the vector coefficient R 45 . Calculate astigmatic difference R (θ) at angle θ A step of correcting the vector coefficient R 0 and the vector coefficient R 45 by measuring a reference optical device whose astigmatic difference is known in advance with the light collecting performance evaluation device, and a corrected vector Calculating an astigmatism difference of the optical device using coefficients R 0 and R 45 .

(2) 被評価装置である光学装置の集光性能を評価する集光性能評価装置が有する非点隔差を補正しつつ、前記集光性能評価装置を用いて、前記光学装置が有する非点隔差を測定する光学装置の非点隔差測定方法であって、光学装置から取得したデータを所定の基本軸に対して回転させながら、一の角度θにおける非点隔差R(θ)を取得するステップと、前記非点隔差R(θ)が最大となるときの角度θmaxと、そのときの最大非点隔差R(θmax)とを用いて、前記基本軸と同方向のベクトル係数Rと、前記基本軸に対して45度の角度をなす方向のベクトル係数R45と、を算出するステップと、フィッティング手法を用いて、前記ベクトル係数Rと前記ベクトル係数R45とから任意の角度θにおける非点隔差R(θ)を算出するステップと、予め非点隔差がわかっている基準光学装置を前記集光性能評価装置で測定することによって、前記ベクトル係数Rの補正係数αと補正切片βとを算出するとともに、前記ベクトル係数R45の補正係数α45と補正切片β45とを算出するステップと、前記補正係数αと前記補正切片βとを用いて前記ベクトル係数Rを補正するとともに、前記補正係数α45と前記補正切片β45とを用いて前記ベクトル係数R45を補正するステップと、補正後のベクトル係数RとR45とを用いて、前記光学装置の非点隔差を算出するステップと、からなることを特徴とする光学装置の非点隔差測定方法。 (2) While correcting the astigmatic difference of the condensing performance evaluation device that evaluates the condensing performance of the optical device that is the device to be evaluated, the astigmatic difference of the optical device using the condensing performance evaluation device Is an astigmatic difference measurement method for an optical device that measures the astigmatism difference R (θ n ) at one angle θ n while rotating data acquired from the optical device with respect to a predetermined basic axis. Using the step, the angle θ max when the astigmatic difference R (θ n ) is maximum, and the maximum astigmatic difference R (θ max ) at that time, the vector coefficient R in the same direction as the basic axis 0 , a vector coefficient R 45 in a direction that forms an angle of 45 degrees with respect to the basic axis, and a fitting technique to calculate an arbitrary value from the vector coefficient R 0 and the vector coefficient R 45 . Calculate astigmatic difference R (θ) at angle θ And calculating a correction coefficient α 0 and a correction intercept β 0 of the vector coefficient R 0 by measuring a reference optical device whose astigmatic difference is known in advance with the light collection performance evaluation device, The correction coefficient α 45 and the correction intercept β 45 of the vector coefficient R 45 are calculated, the vector coefficient R 0 is corrected using the correction coefficient α 0 and the correction intercept β 0, and the correction coefficient α 45 above using the method of correcting the vector coefficient R 45 by using the correction sections beta 45, the vector coefficients of the corrected R 0 and R 45 and, a step of calculating the astigmatism of the optical device, An astigmatic difference measuring method for an optical device, comprising:

本発明によれば、光学装置から取得したデータを所定の基本軸に対して回転させながら、一の角度θ(離散値)における非点隔差R(θ)を取得し、直交分解に必要な2つのベクトル係数RとR45とを算出するとともに、それらのベクトル係数を用いて任意の角度θ(連続値)における非点隔差R(θ)を算出し、非点隔差が既知の基準光学装置をスポット評価装置や干渉計等の集光性能評価装置で測定することによって補正係数及び補正切片を算出し、それらの補正係数及び補正切片を用いて2つのベクトル係数RとR45を補正し、補正後の2つのベクトル係数RとR45を用いて光学装置の非点隔差を算出することとしたから、非点収差補正にあたって集光性能評価装置の途中に非点収差補正用の光学素子を組み込む必要がない。 According to the present invention, astigmatism difference R (θ n ) at one angle θ n (discrete value) is acquired while rotating the data acquired from the optical device with respect to a predetermined basic axis, and is necessary for orthogonal decomposition. a and calculates two and a vector coefficient R 0 and R 45, with their vector coefficients calculated arbitrary angle theta astigmatism R in (continuous values) (theta), the reference astigmatism is known A correction coefficient and a correction intercept are calculated by measuring the optical device with a focusing performance evaluation device such as a spot evaluation device or an interferometer, and the two vector coefficients R 0 and R 45 are calculated using the correction coefficient and the correction intercept. Since the astigmatic difference of the optical device is calculated using the corrected two vector coefficients R 0 and R 45 , the astigmatism correction is performed in the middle of the focusing performance evaluation device for astigmatism correction. It is not necessary to incorporate the optical element .

従って、集光性能評価装置自体に存在する非点収差を補正し、光学装置の集光性能を評価するにあたって必要な部品点数及びコスト削減に資することができる。   Therefore, the astigmatism existing in the light collecting performance evaluation apparatus itself can be corrected, which can contribute to the reduction in the number of parts and the cost required for evaluating the light collecting performance of the optical device.

(3) 前記光学装置は光ピックアップ装置であるとともに、前記集光性能評価装置はスポット評価装置であり、前記光ピックアップ装置から取得したスポット径を、上述の非点隔差測定方法により算出された非点隔差に基づいて補正することを特徴とするスポット径補正方法。   (3) The optical device is an optical pickup device, the light collecting performance evaluation device is a spot evaluation device, and the spot diameter acquired from the optical pickup device is calculated by the above astigmatism measurement method. A spot diameter correction method, wherein correction is performed based on a point difference.

(4) 上述のスポット径補正方法を用いて、スポット径を補正することを特徴とするスポット評価装置。   (4) A spot evaluation apparatus that corrects a spot diameter using the above-described spot diameter correction method.

本発明によれば、上述した非点隔差測定方法により算出された非点隔差に基づき、光ピックアップ装置から取得したスポット径を補正することとしたから、スポット評価装置の途中に非点収差補正用の光学素子を組み込むことなくスポット径を補正することが可能となる。   According to the present invention, since the spot diameter acquired from the optical pickup device is corrected based on the astigmatism calculated by the above-described astigmatism measurement method, astigmatism correction is performed in the middle of the spot evaluation device. It is possible to correct the spot diameter without incorporating the optical element.

本発明に係る光学装置の非点隔差測定方法、スポット径補正方法及びスポット評価装置は、以上説明したように、ソフトウェアによる情報処理を用いて非点収差を補正するという構成になっており、非点収差補正用の光学素子を使わずに非点収差の補正を行うことでき、ひいては非点隔差測定に必要な部品点数及びコストの削減に寄与することが可能となる。また、補正作業が煩雑になることを防止して、補正作業の簡素化を図ることができる。   As described above, the astigmatic difference measuring method, the spot diameter correcting method, and the spot evaluating device of the optical device according to the present invention are configured to correct astigmatism using software information processing. Astigmatism can be corrected without using an optical element for correcting astigmatism, and as a result, it is possible to contribute to a reduction in the number of parts and cost required for astigmatism measurement. Further, the correction work can be prevented from becoming complicated, and the correction work can be simplified.

以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。   The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.

[ハードウェア構成]
図1は、本発明の実施の形態に係る非点隔差測定方法を実行するハードウェア構成を示す図である。
[Hardware configuration]
FIG. 1 is a diagram showing a hardware configuration for executing the astigmatism measurement method according to the embodiment of the present invention.

図1において、本発明の実施の形態に係る非点隔差測定方法は、顕微鏡の基本構成と同様の構成からなるスポット評価装置1と、被検査物となる光ピックアップ装置2と、スポット評価装置1に接続された計算機3と、によって実行される。   In FIG. 1, an astigmatic difference measuring method according to an embodiment of the present invention includes a spot evaluation device 1 having a configuration similar to the basic configuration of a microscope, an optical pickup device 2 to be inspected, and a spot evaluation device 1. And the computer 3 connected to.

スポット評価装置1は、光学要素により伝達された光ビームを光電変換するCCDカメラ1aと、CCDカメラ1a内の受光素子へ光ビームの集光を行う接眼レンズ1bと、フォーカス微動機構に接続され、フォーカス位置の微小調整を行うことが可能な対物レンズ1cと、から構成されている。   The spot evaluation apparatus 1 is connected to a CCD camera 1a that photoelectrically converts a light beam transmitted by an optical element, an eyepiece 1b that condenses the light beam on a light receiving element in the CCD camera 1a, and a focus fine movement mechanism. And an objective lens 1c capable of finely adjusting the focus position.

光ピックアップ装置2には、x軸及びそれに直交するy軸よりなる基本軸に対する姿勢の定義が定められている。また、光ピックアップ装置2から発せられた光ビームのスポット径を表示する計算機3のディスプレイ上にも、x軸及びそれに直交するy軸よりなる基本軸が定められている。これらの基本軸は対応関係にあり、例えば、光ピックアップ装置2を基本軸に対して角度θだけ回転させると、計算機3のディスプレイ上に表示されたスポット径(データ)も基本軸に対して角度θだけ回転することとなる。   In the optical pickup device 2, the definition of the attitude with respect to the basic axis composed of the x-axis and the y-axis orthogonal thereto is determined. In addition, on the display of the computer 3 that displays the spot diameter of the light beam emitted from the optical pickup device 2, a basic axis composed of the x axis and the y axis orthogonal thereto is determined. These basic axes have a corresponding relationship. For example, when the optical pickup device 2 is rotated by an angle θ with respect to the basic axis, the spot diameter (data) displayed on the display of the computer 3 is also an angle with respect to the basic axis. It will rotate by θ.

[非点隔差測定方法]
図2は、本発明の実施の形態に係る非点隔差測定方法の流れを示すフローチャートである。
[Astigmatic difference measurement method]
FIG. 2 is a flowchart showing the flow of the astigmatic difference measurement method according to the embodiment of the present invention.

図2において、本発明の実施の形態に係る非点隔差測定方法は、まず、光ビームのスポット径の計測を行う(ステップS21)。より具体的には、光ピックアップ装置2から発せられた光ビームのスポット径を、スポット評価装置1内のCCDカメラ1aで計測し、これを計算機3内のメモリ(図示せず)に記憶する。   In FIG. 2, the astigmatic difference measurement method according to the embodiment of the present invention first measures the spot diameter of the light beam (step S21). More specifically, the spot diameter of the light beam emitted from the optical pickup device 2 is measured by the CCD camera 1a in the spot evaluation device 1, and stored in a memory (not shown) in the computer 3.

ここで、CCDカメラ1aでスポット径の計測を行う際、非点収差を含む点像強度分布をデフォーカスしながら光ビームのスポット径を観察すると、非点隔差の中間では最小錯乱円となってスポット径の断面形状がほぼ円形となり(図3(b)参照)、そこから外れるとスポット径の断面形状が楕円形となる(図3(a)又は(c)参照)。また、光ピックアップ装置2の特性によっては楕円が基本軸から傾く場合もあり、例えば、図3(d)〜(f)に示すように、基本軸に対して楕円の傾きが45度となる場合がある。   Here, when the spot diameter is measured by the CCD camera 1a, when the spot diameter of the light beam is observed while defocusing the point image intensity distribution including astigmatism, a circle of minimum confusion is obtained in the middle of the astigmatic difference. The cross-sectional shape of the spot diameter becomes almost circular (see FIG. 3B), and when it deviates from that, the cross-sectional shape of the spot diameter becomes elliptical (see FIG. 3A or 3C). Further, depending on the characteristics of the optical pickup device 2, the ellipse may be inclined from the basic axis. For example, as shown in FIGS. 3D to 3F, the ellipse has an inclination of 45 degrees with respect to the basic axis. There is.

次いで、非点隔差(離散値)の取得を行う(ステップS22)。より具体的には、ステップS21で計算機3内に取り込まれたスポット径データから、楕円の双方の軸(長軸と短軸)が最小となるフォーカス位置を検出し、そのときの2つのフォーカス位置の距離が非点隔差R(θ)として算出する。なお、このときの、基本軸に対する楕円の傾きを角度θとする。 Next, an astigmatic difference (discrete value) is acquired (step S22). More specifically, a focus position where both axes (long axis and short axis) of the ellipse are minimum is detected from the spot diameter data captured in the computer 3 in step S21, and the two focus positions at that time are detected. Is calculated as the astigmatic difference R (θ n ). Note that the inclination of the ellipse with respect to the basic axis at this time is defined as an angle θ n .

また、ステップS22においては、光ピックアップ装置2から取得したデータを所定の基本軸に対して回転させながら、非点隔差の取得を行う。より具体的には、上述したとおり、光ピックアップ装置2を基本軸に対して角度θだけ回転させると、スポット径データも基本軸に対して角度θだけ回転することから、光ピックアップ装置2を回転させながら非点隔差の取得を行う。例えば、図4に示すように、基本軸に対するスポット径データの回転角度が0度の場合には(θ=0)、非点隔差R(0)が算出され(図4(a))、基本軸に対するスポット径データの回転角度が22.5度の場合には(θ=22.5)、非点隔差R(22.5)が算出され(図4(b))、基本軸に対するスポット径データの回転角度が45度の場合には(θ=45)、非点隔差R(45)が算出されることとなる(図4(c))。なお、図4(a)〜(c)によれば、スポット径データの回転角度によって非点隔差量が異なっているが(R(0)>R(22.5)>R(45))、これは光ピックアップ装置2の特性によるものである。 In step S22, the astigmatic difference is acquired while rotating the data acquired from the optical pickup device 2 with respect to a predetermined basic axis. More specifically, as described above, when the optical pickup device 2 is rotated by the angle θ with respect to the basic axis, the spot diameter data is also rotated by the angle θ with respect to the basic axis, so the optical pickup device 2 is rotated. Astigmatism difference is acquired. For example, as shown in FIG. 4, when the rotation angle of the spot diameter data with respect to the basic axis is 0 degree (θ n = 0), the astigmatism difference R (0) is calculated (FIG. 4 (a)), When the rotation angle of the spot diameter data with respect to the basic axis is 22.5 degrees (θ n = 22.5), the astigmatism difference R (22.5) is calculated (FIG. 4B), and the spot axis data with respect to the basic axis is calculated. When the rotation angle of the spot diameter data is 45 degrees (θ n = 45), the astigmatic difference R (45) is calculated (FIG. 4C). 4A to 4C, the amount of astigmatism varies depending on the rotation angle of the spot diameter data (R (0)> R (22.5)> R (45)), This is due to the characteristics of the optical pickup device 2.

なお、後述するフィッティングを適切に行うために、0度から45度以内の範囲で3ポイント以上の点について、ステップS22の処理を行っておくことが好ましい。   In order to appropriately perform the fitting described later, it is preferable to perform the process of step S22 for points of 3 points or more within a range of 0 to 45 degrees.

次いで、ステップS22によって取得された複数の非点隔差R(θ)のうち、最も大きい値を最大非点隔差量R(θmax)として定義し(また、そのときの基本軸に対する楕円の傾きを角度θmaxと定義する)、非点隔差R(θmax)の直交分解を行う(ステップS23)。より具体的には、最大非点隔差量R(θmax)と角度θmaxとを次式に代入することによって、基本軸と同方向の非点隔差0(ベクトル係数R)と、基本軸に対して45度の角度をなす方向の非点隔差45(ベクトル係数R45)とを算出する。 Next, the largest value among the plurality of astigmatic differences R (θ n ) acquired in step S22 is defined as the maximum astigmatic difference R (θ max ) (and the inclination of the ellipse with respect to the basic axis at that time) Is defined as an angle θ max ), and an orthogonal decomposition of the astigmatic difference R (θ max ) is performed (step S23). More specifically, by substituting the maximum astigmatism amount R (θ max ) and the angle θ max into the following equation, the astigmatism difference 0 (vector coefficient R 0 ) in the same direction as the basic axis and the basic axis Astigmatism difference 45 (vector coefficient R 45 ) in a direction forming an angle of 45 degrees with respect to the angle is calculated.

次いで、非点隔差(連続値)の算出を行う(ステップS24)。すなわち、フィッティング手法を用いて、式(1)及び式(2)によって得られた非点隔差0と非点隔差45とから、任意の角度θにおける非点隔差R(θ)を算出する。より具体的には、非点隔差0と非点隔差45とを次式に代入することによって、任意の角度θ(連続値)での非点隔差を最小二乗法等のフィッティング手法により算出する。   Next, an astigmatic difference (continuous value) is calculated (step S24). That is, using the fitting method, the astigmatism difference R (θ) at an arbitrary angle θ is calculated from the astigmatism difference 0 and the astigmatism difference 45 obtained by the equations (1) and (2). More specifically, the astigmatic difference at an arbitrary angle θ (continuous value) is calculated by a fitting method such as the least square method by substituting the astigmatic difference 0 and the astigmatic difference 45 into the following equation.

なお、フィッティング手法の代表的なものとしては最小二乗法が挙げられるが、本発明はこれに限られず、例えば多公式展開、チェビシェフ法など、フィッティング手法として適当な手法であれば、その種類の如何を問わない。   A typical fitting method is the least square method, but the present invention is not limited to this. For example, any method suitable for a fitting method such as multiformal expansion or Chebyshev method may be used. It doesn't matter.

次いで、補正係数及び補正切片の算出を行う(ステップS25)。より具体的には、予め非点隔差がわかっている基準光ピックアップ装置をスポット評価装置で測定することによって、非点隔差0の補正係数αと補正切片βとを算出するとともに、非点隔差45の補正係数α45と補正切片β45とを算出する。なお、ここでは集光性能評価装置としてスポット評価装置を採用することとしたが、干渉計等の評価装置を採用することも可能である。かかる場合には、ステップS25によって算出された補正係数及び補正切片が、スポット評価装置と干渉計という異なる評価装置間の媒介変数としての役割を担うこととなる。 Next, a correction coefficient and a correction intercept are calculated (step S25). More specifically, by measuring a reference optical pickup device in which the astigmatic difference is known in advance with a spot evaluation device, the correction coefficient α 0 and the corrected intercept β 0 for the astigmatic difference 0 are calculated, and the astigmatism is calculated. A correction coefficient α 45 and a correction intercept β 45 for the difference 45 are calculated. Here, the spot evaluation device is adopted as the light collecting performance evaluation device, but an evaluation device such as an interferometer can also be adopted. In such a case, the correction coefficient and the correction intercept calculated in step S25 play a role as parameters between different evaluation devices such as the spot evaluation device and the interferometer.

次いで、ステップS25によって算出された補正係数及び補正切片を用いて、非点隔差0及び非点隔差45の補正を行う(ステップS26)。より具体的には、被測定物の非点隔差0と、被測定物の非点隔差45とを次式に代入することによって、スポット評価装置自体がもつ非点隔差量を取り除く。   Next, the astigmatic difference 0 and the astigmatic difference 45 are corrected using the correction coefficient and correction intercept calculated in step S25 (step S26). More specifically, the astigmatic difference of the spot evaluation apparatus itself is removed by substituting the astigmatic difference 0 of the object to be measured and the astigmatic difference 45 of the object to be measured into the following equation.

ステップS26によって非点隔差が補正された様子を図5に示す。縦軸は、非点隔差R(θ)×cosθで表しており、横軸は、非点隔差R(θ)×sinθで表している。また、図5中の丸印は、補正前の非点隔差(離散値)を示しており、細線は、ステップS24で算出(フィッティング)された非点隔差(連続値)を示しており、太線は、このステップS26によって補正された非点隔差を示している。図5によれば、確かに、非点隔差量(破線又は実線上の任意の一点と原点との距離)が全体的に小さくなっていることが分かる。   FIG. 5 shows how the astigmatic difference is corrected by step S26. The vertical axis is represented by astigmatic difference R (θ) × cos θ, and the horizontal axis is represented by astigmatic difference R (θ) × sin θ. In addition, the circles in FIG. 5 indicate the astigmatic difference (discrete value) before correction, and the thin line indicates the astigmatic difference (continuous value) calculated (fitted) in step S24, and the thick line Indicates the astigmatic difference corrected in step S26. According to FIG. 5, it can be seen that the amount of astigmatism (the distance between an arbitrary point on the broken line or the solid line and the origin) is reduced as a whole.

最後に、補正された非点隔差からスポット径を再び算出し、スポット評価機の機体差や非点隔差により変化したスポット径をより真値に近づける補正を行う(ステップS27)。ステップS27によってスポット径が補正される一例を図6に示す。   Finally, the spot diameter is calculated again from the corrected astigmatic difference, and the spot diameter changed due to the machine difference of the spot evaluator and the astigmatic difference is corrected to be closer to the true value (step S27). An example in which the spot diameter is corrected in step S27 is shown in FIG.

図6(a)において、縦軸は左にスポット径(μm),右に最大(相対)輝度を示しており、横軸はFocus(フォーカス)量(μm)を示している。また、パラメータとして、X軸方向のスポット径が黒菱形で表され、Y軸方向のスポット径が黒四角で表され、各フォーカス量における光の強度分布のうちの最大輝度が白三角で表され、それぞれのパラメータに対して近似曲線が描かれている。   In FIG. 6A, the vertical axis indicates the spot diameter (μm) on the left, the maximum (relative) luminance on the right, and the horizontal axis indicates the amount of focus (μm). As parameters, the spot diameter in the X-axis direction is represented by a black rhombus, the spot diameter in the Y-axis direction is represented by a black square, and the maximum luminance of the light intensity distribution at each focus amount is represented by a white triangle. Approximate curves are drawn for each parameter.

図6(a)によれば、最大輝度が最も大きくなるフォーカス量(0.1644μm)における補正前のX軸方向のスポット径は0.8560μmで、最大輝度が最も大きくなるフォーカス量(0.1644μm)における補正前のY軸方向のスポット径は0.8100μmである。ここで、最大輝度が最も大きくなるフォーカス量におけるスポット径を考えるのは、最大輝度が最も大きくなるフォーカス量で実際に記録、再生が行われるからである。   According to FIG. 6A, the spot diameter in the X-axis direction before correction is 0.8560 μm at the focus amount (0.1644 μm) at which the maximum luminance is the largest, and the focus amount (0.1644 μm) at which the maximum luminance is the largest. ), The spot diameter in the Y-axis direction before correction is 0.8100 μm. Here, the spot diameter at the focus amount at which the maximum luminance is maximized is considered because recording and reproduction are actually performed with the focus amount at which the maximum luminance is maximized.

また、補正前の非点隔差は、X軸方向のスポット径の近似曲線の最小値m1とY軸方向のスポット径の近似曲線の最小値m2との横軸方向における距離であり、この一例では、0.239μmとなっている。   The astigmatic difference before correction is a distance in the horizontal axis direction between the minimum value m1 of the approximate curve of the spot diameter in the X-axis direction and the minimum value m2 of the approximate curve of the spot diameter in the Y-axis direction. 0.239 μm.

一方で、補正された非点隔差に基づいて、図6(a)におけるX軸方向のスポット径の近似曲線及びY軸方向のスポット径の近似曲線を横軸方向にシフトする。具体的には、補正された非点隔差となるようにX軸方向のスポット径の近似曲線及びY軸方向のスポット径の近似曲線を横軸方向に等量シフトする。この一例では、補正後の非点隔差が0.089μmとなることから、最小値m1と最小値m2との距離が0.089μmとなるように、X軸方向のスポット径の近似曲線を図示右方向へ0.075μm、Y軸方向のスポット径の近似曲線を図示左方向へ0.075μmだけシフトする。   On the other hand, based on the corrected astigmatism, the approximate curve of the spot diameter in the X-axis direction and the approximate curve of the spot diameter in the Y-axis direction in FIG. 6A are shifted in the horizontal axis direction. Specifically, the approximate curve of the spot diameter in the X-axis direction and the approximate curve of the spot diameter in the Y-axis direction are shifted by an equal amount in the horizontal axis direction so that the corrected astigmatism is obtained. In this example, since the astigmatic difference after correction is 0.089 μm, an approximate curve of the spot diameter in the X-axis direction is shown on the right side so that the distance between the minimum value m1 and the minimum value m2 is 0.089 μm. The approximate curve of the spot diameter in the Y-axis direction by 0.075 μm in the direction is shifted by 0.075 μm in the left direction in the figure.

このように、横軸方向にシフトさせた図6(b)によれば、最大輝度が最も大きくなるフォーカス量(0.1644μm)における補正後のX軸方向のスポット径は0.8557μmで、最大輝度が最も大きくなるフォーカス量(0.1644μm)における補正後のY軸方向のスポット径は0.8075μmである。   In this way, according to FIG. 6B shifted in the horizontal axis direction, the corrected spot diameter in the X-axis direction at the focus amount (0.1644 μm) at which the maximum luminance is the largest is 0.8557 μm, which is the maximum. The corrected spot diameter in the Y-axis direction at the focus amount (0.1644 μm) at which the luminance is greatest is 0.8075 μm.

以上説明したように、図6(a)及び図6(b)によれば、X軸方向のスポット径は0.8560μmから0.8557μmに補正され、Y軸方向のスポット径は0.8100μmから0.8075μmに補正されることが分かる。   As described above, according to FIGS. 6A and 6B, the spot diameter in the X-axis direction is corrected from 0.8560 μm to 0.8557 μm, and the spot diameter in the Y-axis direction is from 0.8100 μm. It can be seen that the correction is made to 0.8075 μm.

以上説明したような非点隔差測定方法及びスポット径補正方法によれば、非点収差補正用の光学素子を用いることなく簡易に非点収差の補正を行うことが可能となる。   According to the astigmatic difference measuring method and the spot diameter correcting method as described above, it is possible to easily correct astigmatism without using an astigmatism correcting optical element.

[他の実施の形態]
上述した実施形態における非点隔差測定方法は、本発明の好適な形態の一例ではあるが、これに限定されるものではなく本発明の要旨を変更しない範囲において種々変形が可能である。例えば、被評価装置である光学装置としてレーザーダイオードを用い、また、集光性能評価装置としてニアフィールド測定装置を用いることで、非点収差補正用の光学素子を用いることなくニアフィールド測定装置自体の持つ非点収差を簡易に補正することが可能になる。すなわち、本発明における非点隔差測定方法は、光ピックアップ装置用のスポット評価装置に対するものには限定されず、その他の光学装置の集光性能を評価する集光性能評価装置に対しても適用が可能である。
[Other embodiments]
The astigmatic difference measurement method in the above-described embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention, but is not limited thereto, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention. For example, by using a laser diode as an optical device that is an evaluation target and using a near field measurement device as a light collecting performance evaluation device, the near field measurement device itself can be used without using an astigmatism correction optical element. It is possible to easily correct astigmatism. That is, the astigmatism measurement method in the present invention is not limited to the spot evaluation device for the optical pickup device, and can be applied to the light collection performance evaluation device for evaluating the light collection performance of other optical devices. Is possible.

本発明に係る非点隔差測定方法、スポット径補正方法及びスポット評価装置は、光学装置の非点隔差測定に必要な部品点数及びコスト削減に寄与し得る方法、装置として有用である。   The astigmatism measurement method, the spot diameter correction method, and the spot evaluation apparatus according to the present invention are useful as a method and apparatus that can contribute to the number of parts and cost reduction necessary for the astigmatism measurement of an optical device.

本発明の実施の形態に係る非点隔差測定方法を実行するハードウェア構成を示す図である。It is a figure which shows the hardware constitutions which perform the astigmatic difference measuring method which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る非点隔差測定方法の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of the astigmatic difference measuring method which concerns on embodiment of this invention. 非点隔差の存在するスポットのフォーカス状態による形状を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the shape by the focus state of the spot in which an astigmatic difference exists. 角度θによって基本軸の合焦点位置までのフォーカシング量の変化を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the change of the focusing amount to the in-focus position of a basic axis with angle (theta). フィッティング非点隔差と補正後の非点隔差とを示す図である。It is a figure which shows a fitting astigmatic difference and the astigmatic difference after correction | amendment. X軸方向及びY軸方向のスポット径が補正される一例を示す図である。It is a figure which shows an example by which the spot diameter of a X-axis direction and a Y-axis direction is correct | amended.

符号の説明Explanation of symbols

1 スポット評価装置
2 光ピックアップ装置
3 計算機
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Spot evaluation apparatus 2 Optical pick-up apparatus 3 Computer

Claims (4)

被評価装置である光学装置の集光性能を評価する集光性能評価装置が有する非点隔差を補正しつつ、前記集光性能評価装置を用いて、前記光学装置が有する非点隔差を測定する光学装置の非点隔差測定方法であって、
光学装置から取得したデータを所定の基本軸に対して回転させながら、一の角度θにおける非点隔差R(θ)を取得するステップと、
前記非点隔差R(θ)が最大となるときの角度θmaxと、そのときの最大非点隔差R(θmax)とを用いて、前記基本軸と同方向のベクトル係数Rと、前記基本軸に対して45度の角度をなす方向のベクトル係数R45と、を算出するステップと、
フィッティング手法を用いて、前記ベクトル係数Rと前記ベクトル係数R45とから任意の角度θにおける非点隔差R(θ)を算出するステップと、
予め非点隔差がわかっている基準光学装置を前記集光性能評価装置で測定することによって、前記ベクトル係数Rと前記ベクトル係数R45とを補正するステップと、
補正後のベクトル係数RとR45とを用いて、前記光学装置の非点隔差を算出するステップと、からなることを特徴とする光学装置の非点隔差測定方法。
The astigmatic difference of the optical device is measured using the condensing performance evaluating device while correcting the astigmatic difference of the condensing performance evaluating device for evaluating the condensing performance of the optical device that is the device to be evaluated. An astigmatic difference measuring method for an optical device,
Obtaining astigmatic difference R (θ n ) at one angle θ n while rotating data acquired from the optical device with respect to a predetermined basic axis;
Using the angle θ max when the astigmatic difference R (θ n ) is maximum and the maximum astigmatic difference R (θ max ) at that time, a vector coefficient R 0 in the same direction as the basic axis, Calculating a vector coefficient R 45 in a direction that makes an angle of 45 degrees with respect to the basic axis;
Calculating an astigmatism difference R (θ) at an arbitrary angle θ from the vector coefficient R 0 and the vector coefficient R 45 using a fitting method;
Correcting the vector coefficient R 0 and the vector coefficient R 45 by measuring a reference optical device in which the astigmatic difference is known in advance with the light collecting performance evaluation device;
By using the vector coefficient R 0 and R 45 after correction, astigmatism measuring method of an optical device comprising the steps of calculating, in that it consists of astigmatism of the optical device.
被評価装置である光学装置の集光性能を評価する集光性能評価装置が有する非点隔差を補正しつつ、前記集光性能評価装置を用いて、前記光学装置が有する非点隔差を測定する光学装置の非点隔差測定方法であって、
光学装置から取得したデータを所定の基本軸に対して回転させながら、一の角度θにおける非点隔差R(θ)を取得するステップと、
前記非点隔差R(θ)が最大となるときの角度θmaxと、そのときの最大非点隔差R(θmax)とを用いて、前記基本軸と同方向のベクトル係数Rと、前記基本軸に対して45度の角度をなす方向のベクトル係数R45と、を算出するステップと、
フィッティング手法を用いて、前記ベクトル係数Rと前記ベクトル係数R45とから任意の角度θにおける非点隔差R(θ)を算出するステップと、
予め非点隔差がわかっている基準光学装置を前記集光性能評価装置で測定することによって、前記ベクトル係数Rの補正係数αと補正切片βとを算出するとともに、前記ベクトル係数R45の補正係数α45と補正切片β45とを算出するステップと、
前記補正係数αと前記補正切片βとを用いて前記ベクトル係数Rを補正するとともに、前記補正係数α45と前記補正切片β45とを用いて前記ベクトル係数R45を補正するステップと、
補正後のベクトル係数RとR45とを用いて、前記光学装置の非点隔差を算出するステップと、からなることを特徴とする光学装置の非点隔差測定方法。
The astigmatic difference of the optical device is measured using the condensing performance evaluating device while correcting the astigmatic difference of the condensing performance evaluating device for evaluating the condensing performance of the optical device that is the device to be evaluated. An astigmatic difference measuring method for an optical device,
Obtaining astigmatic difference R (θ n ) at one angle θ n while rotating data acquired from the optical device with respect to a predetermined basic axis;
Using the angle θ max when the astigmatic difference R (θ n ) is maximum and the maximum astigmatic difference R (θ max ) at that time, a vector coefficient R 0 in the same direction as the basic axis, Calculating a vector coefficient R 45 in a direction that makes an angle of 45 degrees with respect to the basic axis;
Calculating an astigmatism difference R (θ) at an arbitrary angle θ from the vector coefficient R 0 and the vector coefficient R 45 using a fitting method;
By measuring the reference optical device that is known in advance astigmatism in the condensing performance evaluation device, and calculates a correction coefficient alpha 0 and the correction section beta 0 of the vector coefficient R 0, the vector coefficient R 45 Calculating a correction coefficient α 45 and a correction intercept β 45 of
Correcting the vector coefficient R 0 using the correction coefficient α 0 and the correction intercept β 0, and correcting the vector coefficient R 45 using the correction coefficient α 45 and the correction intercept β 45 ; ,
By using the vector coefficient R 0 and R 45 after correction, astigmatism measuring method of an optical device comprising the steps of calculating, in that it consists of astigmatism of the optical device.
前記光学装置は光ピックアップ装置であるとともに、前記集光性能評価装置はスポット評価装置であり、前記光ピックアップ装置から取得したスポット径を、請求項1又は2記載の非点隔差測定方法により算出された非点隔差に基づいて補正することを特徴とするスポット径補正方法。   The optical device is an optical pickup device, and the light collecting performance evaluation device is a spot evaluation device, and the spot diameter obtained from the optical pickup device is calculated by the astigmatism measurement method according to claim 1 or 2. A spot diameter correction method, wherein correction is performed based on the astigmatic difference. 請求項3記載のスポット径補正方法を用いて、スポット径を補正することを特徴とするスポット評価装置。   A spot evaluation apparatus that corrects a spot diameter by using the spot diameter correction method according to claim 3.
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