JP2005317563A - Sollar battery - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、太陽電池に関し、特に、Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含む化合物半導体をp型半導体層に用いた太陽電池に関する。 The present invention relates to a solar cell, and more particularly to a solar cell using a compound semiconductor containing a group Ib element, a group IIIb element and a group VIb element for a p-type semiconductor layer.
従来、Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含む化合物半導体(カルコパイライト構造半導体)であるCuInSe2(以下、「CIS」という)や、これにGaを固溶させたCuIn(1-X)GaXSe2(Xは0<X<1の間の実数、以下、「CIGS」という)をp型半導体層に用いた薄層系太陽電池(以下、「CIS系太陽電池」ともいう)が、高いエネルギー変換効率を示し、かつ、光照射等による変換効率の劣化が少ないという利点を有していることが知られている。 Conventionally, CuInSe 2 (hereinafter referred to as “CIS”), which is a compound semiconductor (chalcopyrite structure semiconductor) containing a group Ib element, a group IIIb element, and a group VIb element, or CuIn (1-X ) Ga x Se 2 (X is a real number between 0 <X <1, hereinafter referred to as “CIGS”) as a p-type semiconductor layer (hereinafter also referred to as “CIS solar cell”) However, it is known that it has the advantages of showing high energy conversion efficiency and little deterioration in conversion efficiency due to light irradiation or the like.
一般的なCIS系太陽電池の製造方法を、図2を参照しながら説明する。まず、ガラス等からなる絶縁性の基板101上に、Mo等からなる第1電極層102を蒸着法やスパッタリング法等によって形成する。次に、第1電極層102上に、CIS又はCIGSからなるp形半導体層103を蒸着法やスパッタリング法等によって形成する。このp形半導体層103は光吸収層として機能する。さらに、p形半導体層103上にCdSからなるn形半導体層104を化学析出法や蒸着法等によって形成し、p形半導体層103とpn接合させる。このn形半導体層104はバッファ層として機能する。そして、高い電気抵抗値を有するZnOからなる窓層105をスパッタリング法等により形成し、更に、透明電極である酸化インジウム−スズ合金(以下、「ITO」という)等からなる第2電極層106をスパッタリング法や化学気相成長法(CVD法)等により形成する。そして、第1及び第2電極層102,106上の一部に、第1取り出し電極108及び第2取り出し電極109を電子ビーム蒸着法等により形成し、第2電極層106上に反射防止層107を蒸着法等により形成して、太陽電池100が得られる。
A general method for producing a CIS solar cell will be described with reference to FIG. First, a
太陽電池100において、p形半導体層103(CIS層又はCIGS層)とn形半導体層104(CdS層)との界面は、ヘテロ接合であるが、各層間の格子定数の差が小さい、即ち各層間の格子不整合率が小さいため、太陽電池100は高い変換効率を示す。ここで、CIS層及びCIGS層(組成比:In/Ga=10/3)の格子定数は、それぞれ0.579nm及び0.575nmで、CdS層の格子定数は0.582nmであるため、CIS層及びCIGS層のいずれを用いても各層間の格子不整合率は2%以下となる。なお、本明細書における格子不整合率は、例えばp形半導体層の格子定数をLp、n形半導体層の格子定数をLnとした場合に、|Lp−Ln|/〔(Lp+Ln)/2〕×100で算出されるものとする。
In the
他方、近年における環境汚染防止等の観点から、毒性を有するCdを含まない(即ち、CdS層を用いない)CIS系太陽電池が注目されており、CdS層の代わりにn形半導体層として、ZnO層やZnO、ZnS及びZn(OH)2の混晶化合物半導体層を用いた太陽電池が報告されている(例えば特許文献1参照)。
しかし、特許文献1に記載の太陽電池において、例えばn形半導体層としてZnO層を用いた場合、ZnO層の格子定数は0.325nmであるため、CIS層やCIGS層との格子不整合率は50%以上となる。この場合、pn接合させたヘテロ界面での格子定数の差が大きいため、つまり格子不整合率が大きいために界面に欠陥が生じて、使用時における接合界面でのキャリアの再結合頻度が増大し、CdS層を用いたときと比較して、変換効率、曲線因子FF等が低下するおそれがある。
However, in the solar cell described in
本発明は、前記課題を解決するためになされたものであり、Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含む化合物半導体をp型半導体層に用いた太陽電池において、環境負荷が小さく、かつ高い変換効率を示す太陽電池を提供する。 The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and in a solar cell using a compound semiconductor containing a group Ib element, a group IIIb element and a group VIb element for a p-type semiconductor layer, the environmental load is small, and A solar cell exhibiting high conversion efficiency is provided.
本発明の太陽電池は、p型半導体を用いた第1半導体層と、n型半導体を用いた第2半導体層とを含み、前記第1半導体層と前記第2半導体層とはpn接合されている太陽電池であって、前記第1半導体層は、Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含み、前記第2半導体層は、周期律表第3周期及び第4周期の元素よりなる群から選ばれる3種以上の元素で構成され、前記第1半導体層の格子定数をL1、前記第2半導体層の格子定数をL2とした場合、|L1−L2|/〔(L1+L2)/2〕×100で算出される格子不整合率(%)が3%以下であることを特徴とする。 The solar cell of the present invention includes a first semiconductor layer using a p-type semiconductor and a second semiconductor layer using an n-type semiconductor, and the first semiconductor layer and the second semiconductor layer are pn-junctioned. The first semiconductor layer includes a group Ib element, a group IIIb element, and a group VIb element, and the second semiconductor layer includes a group consisting of elements in the third and fourth periods of the periodic table. When the lattice constant of the first semiconductor layer is L 1 and the lattice constant of the second semiconductor layer is L 2 , | L 1 −L 2 | / [(L 1 + L 2 ) / 2] × 100, the lattice mismatch rate (%) is 3% or less.
本発明の太陽電池によれば、第2半導体層が、周期律表第3周期及び第4周期の元素よりなる群から選ばれる3種以上の元素で構成されており、第2半導体層に毒性の高いCdを含まないため、環境負荷の小さい太陽電池が実現できる。また、第1半導体層と第2半導体層との格子不整合率が3%以下であるため、ヘテロ接合界面での欠陥の発生が抑えられる。これにより、使用時における接合界面でのキャリアの再結合頻度が低減するため、変換効率を向上させることができる。 According to the solar cell of the present invention, the second semiconductor layer is composed of three or more elements selected from the group consisting of the elements of the third period and the fourth period of the periodic table, and is toxic to the second semiconductor layer. Since high Cd is not included, a solar cell with a small environmental load can be realized. In addition, since the lattice mismatch rate between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer is 3% or less, generation of defects at the heterojunction interface can be suppressed. Thereby, since the recombination frequency of the carrier at the joint interface at the time of use is reduced, the conversion efficiency can be improved.
本発明の太陽電池は、p型半導体を用いた第1半導体層と、n型半導体を用いた第2半導体層とを含み、第1半導体層と第2半導体層とはpn接合されている。pn接合は、例えば、Mo等からなる電極層上に、第1半導体層及び第2半導体層を蒸着法等により順次
積層させることにより形成できる。第1半導体層は、Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含む化合物半導体層であり、例えば、背景技術で説明したCIS、CIGSやCuInS2等を使用することができる。第2半導体層は、周期律表第3周期及び第4周期の元素よりなる群から選ばれる3種以上の元素で構成されている。これにより、第2半導体層に毒性の高いCdを含まないため、環境負荷の小さい太陽電池が実現できる。第2半導体層として使用できる半導体としては、3種の元素から構成される3元化合物半導体や、4種の元素から構成される4元化合物半導体が好ましい。3元化合物半導体としては、一般式Zn(1-X)MXSeで表される化合物半導体が好適である。但し、式中のXは0<X<1の間の実数であり、式中のMはMg及びMnのうちいずれか一方の元素である。また、4元化合物半導体としては、Zn、Mg、S及びSeで構成される化合物半導体や、Zn、Mn、S及びSeで構成される化合物半導体が好適である。
The solar cell of the present invention includes a first semiconductor layer using a p-type semiconductor and a second semiconductor layer using an n-type semiconductor, and the first semiconductor layer and the second semiconductor layer are pn-junctioned. The pn junction can be formed, for example, by sequentially laminating a first semiconductor layer and a second semiconductor layer on an electrode layer made of Mo or the like by an evaporation method or the like. The first semiconductor layer is a compound semiconductor layer containing an Ib group element, an IIIb group element, and a VIb group element. For example, CIS, CIGS, CuInS 2, or the like described in the background art can be used. The second semiconductor layer is composed of three or more elements selected from the group consisting of elements in the third and fourth periods of the periodic table. Thereby, since the highly toxic Cd is not included in the second semiconductor layer, a solar cell with a small environmental load can be realized. As the semiconductor that can be used as the second semiconductor layer, a ternary compound semiconductor composed of three elements and a quaternary compound semiconductor composed of four elements are preferable. As the ternary compound semiconductor, a compound semiconductor represented by the general formula Zn (1-X) M X Se is preferable. However, X in the formula is a real number between 0 <X <1, and M in the formula is any one element of Mg and Mn. As the quaternary compound semiconductor, a compound semiconductor composed of Zn, Mg, S, and Se and a compound semiconductor composed of Zn, Mn, S, and Se are suitable.
そして、本発明の太陽電池は、第1半導体層の格子定数をL1、第2半導体層の格子定数をL2とした場合、|L1−L2|/〔(L1+L2)/2〕×100で算出される格子不整合率(%)が3%以下である。これにより、使用時における接合界面でのキャリアの再結合頻度が低減するため、変換効率を向上させることができる。 In the solar cell of the present invention, when the lattice constant of the first semiconductor layer is L 1 and the lattice constant of the second semiconductor layer is L 2 , | L 1 −L 2 | / [(L 1 + L 2 ) / 2] The lattice mismatch rate (%) calculated by x100 is 3% or less. Thereby, since the recombination frequency of the carrier at the bonding interface at the time of use is reduced, the conversion efficiency can be improved.
ここで、第1半導体層としてCIS又はCIGSを用い、第2半導体層として一般式Zn(1-X)MXSeで表される化合物半導体を用いる場合は、第1半導体層の格子定数が0.561〜0.579nmとなるので、前記条件を満たすためには、第2半導体層として、前記式中のXが、MがMgの場合:0を超えて0.52以下、MがMnの場合:0を超えて0.48以下となる化合物半導体を用いればよい。また、第1半導体層としてCIS又はCIGSを用い、第2半導体層としてZn、Mg、S及びSeで構成される化合物半導体を用いる場合は、前記条件を満たすためには、組成比がZn/Mg/S/Se=0を超えて0.5以下となる実数/0を超えて0.6以下となる実数/0.05〜0.3/0.05〜0.6となる化合物半導体を用いればよい。また、第1半導体層としてCIS又はCIGSを用い、第2半導体層としてZn、Mn、S及びSeで構成される化合物半導体を用いる場合は、前記条件を満たすためには、組成比がZn/Mn/S/Se=0を超えて0.5以下となる実数/0を超えて0.6以下となる実数/0.1〜0.3/0.1〜0.6となる化合物半導体を用いればよい。 Here, when CIS or CIGS is used as the first semiconductor layer and a compound semiconductor represented by the general formula Zn (1-X) M X Se is used as the second semiconductor layer, the lattice constant of the first semiconductor layer is 0. 561 to 0.579 nm, in order to satisfy the above condition, as the second semiconductor layer, when X in the formula is M is Mg: more than 0 and 0.52 or less, and M is Mn Case: A compound semiconductor that exceeds 0 and becomes 0.48 or less may be used. When CIS or CIGS is used as the first semiconductor layer and a compound semiconductor composed of Zn, Mg, S and Se is used as the second semiconductor layer, the composition ratio is Zn / Mg in order to satisfy the above condition. / S / Se = 0 to a real number that is 0.5 or less / a real number that is greater than 0 to 0.6 or less / a compound number that is 0.05 to 0.3 / 0.05 to 0.6 That's fine. When CIS or CIGS is used as the first semiconductor layer and a compound semiconductor composed of Zn, Mn, S and Se is used as the second semiconductor layer, the composition ratio is Zn / Mn in order to satisfy the above condition. / S / Se = 0 to a real number that is 0.5 or less / a compound number that is a real number that is greater than 0 to 0.6 or less / 0.1 to 0.3 / 0.1 to 0.6 That's fine.
また、第1半導体層の厚みは、1.0〜3.0μmが好ましい。1μm未満では光吸収が困難となり、光電流が充分に得られなくなる可能性がある。一方、3μmを越える場合は、少数キャリアの拡散長が1〜3μmと予想されるため、裏面電極膜近傍で発生した電子(キャリア)が移動中に再結合し、光電流が充分に得られなくなる可能性がある。また、第2半導体層の厚みは、3〜15nmが好ましい。3nm未満では均一にpn接合させるのが困難となる。また、15nmを超えると、トンネル電流が流れ難くなる。例えば、前述した一般式Zn(1-X)MXSeで表される化合物半導体の場合、伝導帯でのオフセットが0.4eV以上あり、トンネル電流が流れるためには膜厚を15nm以下にしなければならない。 Further, the thickness of the first semiconductor layer is preferably 1.0 to 3.0 μm. If it is less than 1 μm, it is difficult to absorb light, and a photocurrent may not be sufficiently obtained. On the other hand, if it exceeds 3 μm, the diffusion length of minority carriers is expected to be 1 to 3 μm, so electrons (carriers) generated in the vicinity of the back electrode film are recombined during movement, and a photocurrent cannot be obtained sufficiently. there is a possibility. Further, the thickness of the second semiconductor layer is preferably 3 to 15 nm. If the thickness is less than 3 nm, it is difficult to form a uniform pn junction. On the other hand, if it exceeds 15 nm, the tunnel current hardly flows. For example, in the case of the compound semiconductor represented by the general formula Zn (1-X) M X Se described above, the offset in the conduction band is 0.4 eV or more, and the film thickness must be 15 nm or less in order for the tunnel current to flow. I must.
以下、本発明の実施形態について適宜図面を参照して説明する。参照する図1は、本発明の一実施形態に係る太陽電池の断面図である。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings as appropriate. FIG. 1 to be referred to is a cross-sectional view of a solar cell according to an embodiment of the present invention.
図1に示すように、本発明の一実施形態に係る太陽電池1は、基板10と、基板10上に順次積層された第1電極層11、第1半導体層12、第2半導体層13、窓層14、第2電極層15及び反射防止層16と、第1及び第2電極層11,15上の一部に形成された第1取り出し電極17及び第2取り出し電極18とを備えている。なお、太陽電池1は、使用時において、反射防止層16側から光が入射される。
As illustrated in FIG. 1, a
基板10には、例えばガラス、ステンレス、ポリイミド等を用いることができる。第1電極層11には、例えばMo等の金属層を用いることができ、厚みは0.2〜2μmが好ましい。第1半導体層12及び第2半導体層13には、前述した材料及び厚みの化合物半導体層を用いることが好ましい。窓層14には、例えばZnO層を用いることができ、厚みは30〜200nmが好ましい。なお、窓層14の抵抗値は1.0×104Ω・cm以上であることが好ましい。第2電極層15は透明導電層であり、例えば、ZnOにAlがドープされたZnO−Alや、ITO等を用いることができ、厚みは0.05〜2μmが好ましい。反射防止層16は、第2電極層15との界面において、入射光の反射を防止するために設けられ、第2電極層15がITOやZnO−Alである場合には、例えばMgF2を用いることができる。また、反射防止層16の厚みは、第2電極層15がITOやZnO−Alである場合には、80〜150nmが好ましい。第1及び第2取り出し電極17,18には、例えばNiCr層とAu層とが積層された金属層を用いることができ、好ましい厚みは、第1及び第2取り出し電極17,18ともに、100〜300nmである。なお、太陽電池1の製造方法は、背景技術で説明した太陽電池100の製造方法と同様なので、説明は省略する。
For the
以下、本発明の実施例について、特許請求の範囲から外れる比較例を参照して説明する。なお、本発明はこの実施例に限定されるものではない。 Examples of the present invention will be described below with reference to comparative examples that depart from the scope of the claims. In addition, this invention is not limited to this Example.
(実施例1)
実施例1として、前述した本発明の一実施形態に係る太陽電池1(図1参照)において反射防止層16を除いた構成の太陽電池を作製した。各層の材料、厚み及び形成方法は、基板:ガラス(0.7mm)、第1電極層:Mo(0.8μm、スパッタリングで形成)、第1半導体層:CIGS(2μm、多元蒸着法で形成)、第2半導体層:Zn0.68Mn0.32Se(10nm、蒸着法で形成)、窓層:ZnO(100nm、スパッタリングで形成)、第2電極層:ITO(150nm、スパッタリングで形成)、第1取り出し電極及び第2取り出し電極:NiCr層とAu層とが積層された金属層(100nm、電子ビーム蒸着で形成)とした。
Example 1
As Example 1, a solar cell having a configuration excluding the
(比較例1)
比較例1として、実施例1の構成において第2半導体層として使用したZn0.68Mn0.32Seを、ZnOとZnSの混晶化合物半導体に変更し、その他は実施例1と同様の条件で太陽電池を作製した。なお、この混晶化合物の組成比は、ZnO/ZnS=0.7/0.3とした。
(Comparative Example 1)
As Comparative Example 1, Zn 0.68 Mn 0.32 Se used as the second semiconductor layer in the configuration of Example 1 was changed to a mixed crystal compound semiconductor of ZnO and ZnS, and the other conditions were the same as in Example 1. Produced. The composition ratio of the mixed crystal compound was ZnO / ZnS = 0.7 / 0.3.
(評価)
実施例1及び比較例1について、光電変換特性を評価した。評価は、エア・マス(AM)1.5、100mW/cm2の疑似太陽光を第2電極層(透明電極層)側から照射して行った。結果を表1に示す。なお、表1において、第1及び第2半導体層の格子定数はX線回折法により測定した。
(Evaluation)
For Example 1 and Comparative Example 1, photoelectric conversion characteristics were evaluated. The evaluation was performed by irradiating pseudo-sunlight of air mass (AM) 1.5, 100 mW / cm 2 from the second electrode layer (transparent electrode layer) side. The results are shown in Table 1. In Table 1, the lattice constants of the first and second semiconductor layers were measured by an X-ray diffraction method.
表1に示すように、比較例1は、格子不整合率が本発明の条件を満たしていないため、接合界面でのキャリアの再結合頻度が増大し、実施例1に比べ、変換効率Eff、開放電圧VOC及び曲線因子FFの値が低下した。以上の結果より、本発明の太陽電池は、第1半導体層と第2半導体層との格子不整合率(%)を3%以下とすることにより、良好な光電変換特性を得ることができた。 As shown in Table 1, in Comparative Example 1, since the lattice mismatch rate does not satisfy the conditions of the present invention, the carrier recombination frequency at the junction interface increases, and the conversion efficiency Eff, compared with Example 1, The values of the open circuit voltage V OC and the fill factor FF were lowered. From the above results, the solar cell of the present invention was able to obtain good photoelectric conversion characteristics by setting the lattice mismatch ratio (%) between the first semiconductor layer and the second semiconductor layer to 3% or less. .
本発明の太陽電池は、環境負荷が小さいため、様々な場所に設置が可能である。また、変換効率が高いため、従来の太陽電池に比べ設置面積を小さくできる。よって、例えば住宅用として様々な大きさの屋根に設置可能な太陽電池を提供できる。 Since the environmental impact of the solar cell of the present invention is small, it can be installed in various places. Moreover, since conversion efficiency is high, an installation area can be made small compared with the conventional solar cell. Therefore, for example, solar cells that can be installed on roofs of various sizes for residential use can be provided.
1 太陽電池
12 第1半導体層
13 第2半導体層
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記第1半導体層は、Ib族元素、IIIb族元素及びVIb族元素を含み、
前記第2半導体層は、周期律表第3周期及び第4周期の元素よりなる群から選ばれる3種以上の元素で構成され、
前記第1半導体層の格子定数をL1、前記第2半導体層の格子定数をL2とした場合、|L1−L2|/〔(L1+L2)/2〕×100で算出される格子不整合率(%)が3%以下であることを特徴とする太陽電池。 a solar cell including a first semiconductor layer using a p-type semiconductor and a second semiconductor layer using an n-type semiconductor, wherein the first semiconductor layer and the second semiconductor layer are pn-junction,
The first semiconductor layer includes a group Ib element, a group IIIb element, and a group VIb element;
The second semiconductor layer is composed of three or more elements selected from the group consisting of elements in the third and fourth periods of the periodic table,
When the lattice constant of the first semiconductor layer is L 1 and the lattice constant of the second semiconductor layer is L 2 , it is calculated as | L 1 −L 2 | / [(L 1 + L 2 ) / 2] × 100. A solar cell having a lattice mismatch rate (%) of 3% or less.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070703 |