JP2005302874A - Optical signal controller and its regulating method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光源の前方出射光を一定に制御する光信号制御装置及びその調整方法に関するものである。 The present invention relates to an optical signal control device that controls the light emitted from a light source at a constant level and an adjustment method thereof.
図3に示すような従来の光信号制御装置31は、半導体レーザ(LD)32と、LD32の後方出射光Lbをモニタするモニタフォトダイオード(モニタPD)33とを内蔵した半導体レーザモジュール(LDモジュール)34と、そのLDモジュール34に接続されてLD32をAPC制御(Automatic Power Control)するAPC制御回路35と、LD32とAPC制御回路35間に接続され、LD32を駆動するためのバイアス電流を制御するトランジスタ(例えば、バイポーラトランジスタまたはMOS−FET)36とを備えている。
A conventional optical signal control device 31 as shown in FIG. 3 includes a semiconductor laser module (LD module) that includes a semiconductor laser (LD) 32 and a monitor photodiode (monitor PD) 33 that monitors the backward emission light Lb of the LD 32. ) 34, an APC control circuit 35 that is connected to the
後方出射光Lbとは、LD32が光信号として前方に出射する前方出射光(出力光)に対する光であり、LD32の構造上LD32の後方に漏れる微少な光のことをいう。 The backward emitted light Lb is light with respect to forward emitted light (output light) emitted forward by the LD 32 as an optical signal, and refers to minute light that leaks behind the LD 32 due to the structure of the LD 32.
光信号制御装置31は、主に光送信器として使用されるが、この場合、光通信の仕様により、光出力、波形、消光比などが定められている。このため、光信号制御装置31は、LD32をAPC制御回路35によってAPC制御することで、すなわち、LD32の後方出射光LbをモニタPD33でモニタし、そのモニタPD33に流れるモニタ電流を一定に保つようにLD32に流すバイアス電流をフィードバック制御することで、LD32の前方出射光を一定に保っている。
The optical signal control device 31 is mainly used as an optical transmitter. In this case, the optical output, waveform, extinction ratio, and the like are determined by the specifications of optical communication. For this reason, the optical signal control device 31 performs APC control of the LD 32 by the APC control circuit 35, that is, monitors the rearward emitted light Lb of the LD 32 with the
APC制御は、モニタPD33の温度特性が理想的には一定という仮定で行われる。つまり、光信号制御装置31では、例えば図4(b)の温度特性線42に示されるように、後方出射光Lbの強度(パワー)が一定であれば、LD32の周囲温度T(℃)によらずモニタ電流Ipが一定であると仮定している。
APC control is performed on the assumption that the temperature characteristics of the
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、次のものがある。 The prior art document information related to the invention of this application includes the following.
しかしながら、実際のモニタPD33は、素子自体に起因する温度特性や、LDモジュール34の構造的な歪などによる温度特性を有するので、後方出射光Lbのパワーが一定であっても、周囲温度Tによってモニタ電流Ipが変化する。
However, since the
すなわち、実際のモニタPD33は、図4(b)に示されるように周囲温度Tによらず一定な温度特性線42に従う特性ではなく、例えば図4(a)に示されるように周囲温度Tに依存して変化する温度特性曲線41に従う特性を有する。この場合、モニタPD33から得られるモニタ電流Ipは、後方出射光Lbのパワーが一定であっても、周囲温度t1では大きくなり、周囲温度t2(>t1)では小さくなる。
That is, the
つまり、従来の光信号制御装置31では、温度特性線42を仮定してLD32をAPC制御しているのに、実際はモニタPD33が温度特性曲線41に従うことから、周囲温度がt1からt2に変化したときにモニタ電流Ipに誤差Δが生じる。このように、制御や調整に用いる要素において、実際の値からの誤差やずれをトラッキングエラーという。
That is, in the conventional optical signal control device 31, the LD 32 is APC controlled assuming the temperature characteristic line 42, but the
したがって、光信号制御装置31では、トラッキングエラーが起こると、LD32をAPC制御してもLD32に流すバイアス電流が適正な値からずれるので、LD32の前方出射光が変化して一定にならないという問題がある。その結果、光通信の仕様が満たされなくなる。 Therefore, in the optical signal control device 31, if a tracking error occurs, the bias current flowing through the LD 32 is deviated from an appropriate value even if the APC control of the LD 32 is performed. is there. As a result, optical communication specifications are not satisfied.
また、トラッキングエラーが発生する原因には、モニタPD33が温度特性(LD32の変化によるものを含む)を有する点の他にも、1)個体バラツキや素子自身の特性により、あるいは周囲温度により、LD32の前方出射光と後方出射光との比率が変化する点、2)周囲温度により、光信号制御装置31の出力ポートと光ファイバとの結合に軸ずれが生じる点、3)2)に伴ってLD32の前方出射光のビーム形が変化する点、4)周囲温度により、LD32やモニタPD33が搭載された基板、あるいは光信号制御装置の筐体が機械的膨張・収縮する点などの様々な原因がある。
In addition to the fact that the
光信号制御装置31では、モニタPD33の温度特性によるトラッキングエラーだけでなく、上述した1)〜4)の原因によるトラッキングエラーにも対応できないという問題がある。
The optical signal control device 31 has a problem that it cannot cope with not only the tracking error due to the temperature characteristic of the
そこで、本発明の目的は、いかなる原因によってトラッキングエラーが発生しても、光源の前方出射光を一定に制御できる光信号制御装置を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an optical signal control device that can control the forward emission light of a light source to be constant no matter what causes a tracking error.
本発明は上記目的を達成するために創案されたものであり、請求項1の発明は、前方に光信号である前方出射光を出射する光源と、該光源の後方に漏れる後方出射光をモニタする後方出射光モニタ手段と、その後方出射光モニタ手段でモニタした信号に基づいて上記前方出射光を一定に制御する制御手段と、上記後方出射光モニタ手段の温度特性テーブルが予め記憶される記憶手段と、上記光源の周囲温度を検出する温度センサとを備え、上記制御手段は上記温度センサによって上記周囲温度を認識し、上記温度特性テーブルを参照して上記前方出射光を補正制御する光信号制御装置である。
The present invention has been devised to achieve the above object, and the invention of
請求項2の発明は、上記制御手段は、マイクロコントローラユニット、シーケンサ、あるいはリコンフィギュアラブルなLSIまたはICである請求項1記載の光信号制御装置である。 A second aspect of the present invention is the optical signal control apparatus according to the first aspect, wherein the control means is a microcontroller unit, a sequencer, or a reconfigurable LSI or IC.
請求項3の発明は、上記温度特性テーブルは、上記周囲温度に対応するアドレスと、そのアドレスに記憶した上記後方出射光モニタ手段の温度特性とからなる請求項1または2記載の光信号制御装置である。 According to a third aspect of the present invention, the temperature characteristic table comprises an address corresponding to the ambient temperature and a temperature characteristic of the backward emission light monitoring means stored at the address. It is.
請求項4の発明は、上記温度特性テーブルは、上記後方出射光モニタ手段の温度特性に近似した温度特性関数の次数ごとに対応するアドレスと、そのアドレスに記憶した上記温度特性関数の各次数の係数とからなる請求項1または2記載の光信号制御装置である。
According to a fourth aspect of the present invention, the temperature characteristic table includes an address corresponding to each order of the temperature characteristic function approximated to the temperature characteristic of the backward emission light monitoring means, and each order of the temperature characteristic function stored at the address. 3. The optical signal control device according to
請求項5の発明は、上記温度特性関数は、上記後方出射光モニタ手段の温度特性をn次の多項式からなる下式
f(x)=An xn +An-1 xn-1 +…+A1 x+A0
x:温度センサの温度検出量からなる入力変数
で近似したものである請求項4記載の光信号制御装置である。
According to a fifth aspect of the present invention, the temperature characteristic function is the following equation f (x) = A n x n + A n-1 x n-1 +... + A 1 x + A 0
5. The optical signal control device according to
請求項6の発明は、上記温度特性テーブルは、上記前方出射光をモニタする前方出射光モニタ手段と、その前方出射光モニタ手段からの情報および上記制御手段からの制御に用いる情報を処理する処理手段と、上記周囲温度を一定かつ任意に制御できる温度制御手段とを使用して求められる請求項1〜5いずれかに記載の光信号制御装置である。
According to a sixth aspect of the present invention, the temperature characteristic table processes the forward emitted light monitoring means for monitoring the forward emitted light, the information from the forward emitted light monitor means, and the information used for control from the control means. The optical signal control device according to
請求項7の発明は、光源の後方に漏れる後方出射光をモニタし、該光源の光信号である前方出射光を予め記憶された情報に基づいて一定に制御する光信号制御装置の調整方法であって、上記光信号制御装置の組み立て後に、上記光源の周囲温度を所定の温度ステップごとに変化させつつ、上記前方出射光をモニタして上記後方出射光をモニタする後方出射光モニタ手段の温度特性を測定し、その温度特性から上記後方出射光モニタ手段の温度特性テーブルを作成し、作成した温度特性テーブルを予め記憶させる光信号制御装置の調整方法である。
The invention according to
請求項8の発明は、上記温度特性テーブルは、上記周囲温度にアドレスを対応させ、そのアドレスに上記後方出射光モニタ手段の温度特性を記憶させて作成される請求項7記載の光信号制御装置の調整方法である。
The invention according to claim 8 is the optical signal control device according to
請求項9の発明は、上記温度特性テーブルは、上記後方光モニタ手段の温度特性に近似した温度特性関数の次数ごとにアドレスを対応させ、そのアドレスに上記温度特性関数の各次数の係数を記憶させて作成される請求項7記載の光信号制御装置の調整方法である。
According to a ninth aspect of the present invention, the temperature characteristic table associates an address for each degree of the temperature characteristic function approximated to the temperature characteristic of the rear light monitoring means, and a coefficient of each order of the temperature characteristic function is stored at the address. 8. An adjustment method for an optical signal control device according to
本発明によれば、光源の前方出射光を一定に制御できるという優れた効果を発揮する。 According to the present invention, an excellent effect that the forward emission light of the light source can be controlled to be constant is exhibited.
以下、本発明の好適実施の形態を添付図面にしたがって説明する。 DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described with reference to the accompanying drawings.
図1は、本発明の好適実施の形態を示す光信号制御装置のブロック図を示したものである。 FIG. 1 is a block diagram of an optical signal control apparatus showing a preferred embodiment of the present invention.
図1に示すように、本実施の形態に係る光信号制御装置1は、主に光送信器として使用され、前方に光信号である前方出射光(出力光)を出射する光源としてのLD32と、LD32の後方に漏れる後方出射光Lbをモニタする後方出射光モニタ手段としてのモニタPD33とを内蔵したLDモジュール34と、LD32とモニタPD33にそれぞれ接続され、モニタPD33でモニタした信号に基づいてLD32をAPC制御する制御手段としてのマイクロコントローラユニット(MCU:Micro Controller Unit)2と、LD32の周囲温度を検出するサーミスタなどの温度センサ3と、LD32とMCU2間に接続され、LD32を駆動するためのバイアス電流を制御するトランジスタ(例えば、バイポーラトランジスタまたはMOS−FET)36とを備えている。
As shown in FIG. 1, an optical
本実施に形態では、制御手段として、ソフトウエアとハードウエアとで構成されるMCU2を使用する例で説明するが、MCU2における一連の処理をハードウエアのみで行うこともできるので、例えば、シーケンサ、あるいはリコンフィギュアラブル(いわゆるプログラム可能)なLSIまたはICを使用してもよい。
In the present embodiment, an example in which the
LD32の周囲温度としては、光信号制御装置1が置かれている環境温度、LD32自体の温度、光信号制御装置1のケースの温度などがある。温度センサは、これら様々な場合に応じて光信号制御装置1の適切な箇所に取り付けられる。
The ambient temperature of the LD 32 includes the environmental temperature where the optical
LD32と、モニタPD33と、温度センサ3とは、MCU2にそれぞれ接続される。前方出射光Lを送信する光信号制御装置1の出力ポート5には、伝送路に接続される光ファイバ6が接続される。
The LD 32, the
APC制御とは、モニタPD33に流れる電流(モニタ電流)Ipを一定に保つようにLD32に流す電流(バイアス電流)ILをフィードバック制御することで、LD32の前方出射光Lを一定に制御することをいう。
APC control is to control the forward emitted light L of the LD 32 to be constant by performing feedback control of the current (bias current) IL flowing to the LD 32 so as to keep the current (monitor current) Ip flowing to the
MCU2には、APC制御するプログラムと共に、図2で後述する温度特性テーブルを参照してAPC制御を補正制御するための制御・演算プログラムが組み込まれる。また、MCU2には、記憶手段4が内蔵される。記憶手段4は、不揮発性ROMなどの無電源で記憶が保持できる半導体メモリ素子で構成される。
The
さて、記憶手段4には、モニタPD33の温度特性テーブルが予め記憶される。温度特性テーブルは、後述するが、図2に示すように、横軸をLD32の周囲温度T(℃)にとり、縦軸をモニタ電流IpにとったモニタPD33の実際の温度特性曲線21から容易に得られる。この温度特性曲線21は、トラッキングエラーが発生する全ての原因、すなわち、モニタPD33自体の温度特性(LD32の変化によるものを含む)のみならず、上述した1)〜4)などの原因が反映されたものである。
The
温度特性テーブルには、LD32の周囲温度に対応する複数のアドレス0x0000〜0x00005…と、これら各アドレス0x0000〜0x00005…にそれぞれ記憶したモニタPD33の温度特性データa0〜a5…とからなる温度特性テーブル22を使用する。各温度特性データa0〜a5…は、図2の温度特性曲線21の各周囲温度におけるモニタ電流Ipの測定値である。
The temperature characteristic table 22 includes a plurality of addresses 0x0000 to 0x00005... Corresponding to the ambient temperature of the LD 32 and temperature characteristic data a0 to a5... Is used. Each temperature characteristic data a0 to a5... Is a measured value of the monitor current Ip at each ambient temperature of the temperature
温度特性テーブル22では、アドレスの個数が後述する温度ステップ総数であり、アドレスが1増減する(あるアドレスから隣のアドレスに移る)と、LD32の周囲温度が所定温度だけ1ステップ上昇あるいは下降したときのモニタ電流Ipに対応する。 In the temperature characteristic table 22, the number of addresses is the total number of temperature steps to be described later, and when the address increases or decreases by 1 (from one address to the next address), the ambient temperature of the LD 32 increases or decreases by one step by a predetermined temperature. Corresponding to the monitor current Ip.
また、温度特性テーブルとしては、モニタPD32の温度特性に近似した温度特性関数の次数ごとに対応するアドレス0x0000〜0x0004…と、これら各アドレス0x0000〜0x0004…にそれぞれ記憶した温度特性関数の各次数の係数データb0〜b4…とからなる温度特性テーブル23を使用してもよい。この温度特性関数は、図2の温度特性曲線21を、例えばn次の多項式関数からなる下式
f(x)=An xn +An-1 xn-1 +…+A1 x+A0
で近似したものである。
Further, as the temperature characteristic table, each order of the temperature characteristic function stored in each address 0x0000 to 0x0004... Corresponding to each order of the temperature characteristic function approximated to the temperature characteristic of the monitor PD 32 and each address 0x0000 to 0x0004. You may use the temperature characteristic table 23 which consists of coefficient data b0-b4 .... This temperature characteristic function is obtained by converting the temperature
Is an approximation.
xは、図1の温度センサ3の温度検出電気量からなる入力変数である。An 〜A1 は関数f(x)の各次数の係数、A0 は関数f(x)の定数であり、これらAn 〜A1 、A0 が各アドレス0x0000〜0x0004…にそれぞれ記憶される。本例の温度特性テーブル23では、係数データb0が定数A0 に相当し、各係数データb1〜b4…がそれぞれ係数A1 〜An に相当する。
x is an input variable consisting of the temperature detection electricity quantity of the
関数f(x)の計算結果は近似されたモニタ電流Ipである。係数An 〜A1 と定数A0 とを除く関数f(x)自体は、図1のMCU2および後述する処理手段に組み込まれた制御・演算プログラムに記憶される。
The calculation result of the function f (x) is an approximated monitor current Ip. The function f (x) itself excluding the coefficients A n to A 1 and the constant A 0 is stored in the
温度特性関数としては、例えば、3次の多項式関数を使用すれば十分であるが、3次以上の多項式関数を使用すれば、より図2の温度特性曲線21に近づけることができる。
As the temperature characteristic function, for example, it is sufficient to use a third-order polynomial function, but if a third-order or higher polynomial function is used, the temperature characteristic function can be made closer to the temperature
この温度特性テーブル23は、温度特性テーブル22に比べてデータ量が少なくできるので、温度特性テーブル22の代わりに温度特性テーブル23を用いれば、図1の記憶手段4として容量が小さいものを使用できる。
Since the temperature characteristic table 23 can reduce the amount of data compared to the temperature characteristic table 22, if the temperature characteristic table 23 is used instead of the temperature characteristic table 22, a
次に、光信号制御装置1の調整方法、つまり、温度特性テーブル22,23の作成方法を説明する。
Next, a method for adjusting the optical
温度特性テーブルを作成するには、図1に示すように、LD32の周囲温度が一定かつ任意に制御できる温度制御手段としての恒温槽11と、LD32の前方出射光Lをモニタする前方出射光モニタ手段としてのパワーモニタ12と、そのパワーモニタ12からの情報(前方出射光パワーPL)およびMCU2からの制御に用いる情報(LD32の周囲温度T、バイアス電流IL、モニタ電流Ip)を処理し、温度特性テーブルを作成するための処理手段としてのコンピュータ13とからなる調整装置14を使用する。パワーモニタ12は、入力される前方出射光Lをそのパワーに応じた電気信号に変換し、その電気信号をさらにA/D変換して出力するものである。
In order to create the temperature characteristic table, as shown in FIG. 1, a constant temperature bath 11 as a temperature control means capable of controlling the ambient temperature of the LD 32 to be constant and arbitrary, and a forward emission light monitor for monitoring the front emission light L of the LD 32 A
光信号制御装置1を組み立てた後、一端が出力ポート5に接続された光ファイバ6の他端にパワーモニタ12を接続し、そのパワーモニタ12とMCU2間に信号線を介してコンピュータ13を接続し、光信号制御装置1を恒温槽11内に置く。
After assembling the optical
この状態で光信号制御装置1を作動し、出力ポート5からテスト用の前方出射光Lを送信する。このとき、MCU2はLD32をAPC制御する。前方出射光Lは、パワーモニタ12で受光され、前方出射光パワーPLの情報としてコンピュータ13に入力される。コンピュータ13は、MCU2にアクセスすることにより、温度センサ3で検出された恒温槽11の温度(LD32の周囲温度)Tと、LD32に流れるバイアス電流ILと、モニタPD33に流れるモニタ電流Ipとからなる情報をMCU2から受け取る。
In this state, the optical
以上の動作は、以後、恒温槽11を広い温度範囲に亘り、適宜な温度ステップごとに変化させつつ行われる。本例では、温度範囲を−10〜80℃にし、温度ステップを2℃ごと(温度ステップ総数46)にした。 Thereafter, the above operation is performed while changing the temperature of the thermostatic chamber 11 for each appropriate temperature step over a wide temperature range. In this example, the temperature range was set to −10 to 80 ° C., and the temperature steps were set every 2 ° C. (total number of temperature steps 46).
コンピュータ13は、各周囲温度T、モニタ電流Ip、バイアス電流IL、前方出射光パワーPLからなる四つの情報を処理する。より具体的には、コンピュータ13は、周囲温度Tによらず、前方出射光パワーPLを光通信の仕様に定められた所望の一定値となるように監視し、前方出射光パワーPLが一定値を超えたとき、MCU2にバイアス電流ILを減少するように指示し、前方出射光パワーPLが一定値未満のとき、MCU2にバイアス電流ILを増加するように指示する。このとき、コンピュータ13は、各周囲温度Tと、各周囲温度Tにおけるモニタ電流Ipとを記憶する。これにより、コンピュータ13は、トラッキングエラーが発生する全ての原因を反映した図2の温度特性曲線21を得る。
The computer 13 processes four pieces of information including each ambient temperature T, monitor current Ip, bias current IL, and forward emission light power PL. More specifically, the computer 13 monitors the forward emitted light power PL so as to be a desired constant value defined in the optical communication specifications regardless of the ambient temperature T, and the forward emitted light power PL is a constant value. Is exceeded, the
コンピュータ13は、温度特性曲線21を得ると、MCU2の記憶手段4にアクセスし、各温度にアドレスをそれぞれ対応させ、これら各アドレスに温度特性曲線21の各温度におけるモニタ電流Ipがそれぞれ記憶されるように、記憶手段4にデータを書き込むことで、図2の温度特性テーブル22を作成する。
When the computer 13 obtains the temperature
他方、コンピュータ13は、温度特性曲線21を得ると、制御・演算プログラムに組み込まれた係数と定数とを除く温度特性関数を参照し、係数と定数を決定して温度特性曲線21に近似した温度特性関数を得る。コンピュータ13は、温度特性関数を得ると、MCU2の記憶手段4にアクセスし、各アドレスに温度特性関数の係数と定数とがそれぞれ記憶されるように、記憶手段4にデータを書き込むことで、図2の温度特性テーブル23を作成する。
On the other hand, when obtaining the temperature
上述した温度特性テーブルの作成は、本発明に係る各光信号制御装置1について個別にそれぞれ行う。温度特性テーブルが記憶手段4に記憶された光信号制御装置1は、調整装置14が外されて製品出荷前の調整が終了し、その後、製品として出荷される。
The above-described temperature characteristic table is created individually for each optical
次に、光信号制御装置1の動作を説明する。
Next, the operation of the optical
まず、光信号制御装置1は周囲温度T2に置かれているものとする。周囲温度T2では、図2の温度特性曲線21のモニタ電流値と、図4の温度特性線42のモニタ電流値とは同じである。
First, it is assumed that the optical
MCU2によってLD32にバイアス電流ILを流すと、LD32が発光し、出力ポート5から前方出射光Lが光ファイバ6を介して送信される。LD32からは後方出射光Lbが漏れ、この後方出射光LbがモニタPD33で受光される。MCU2は、周囲温度がT2のままならば、図2の温度特性曲線21の電流値Ip2に基づいてLD32をAPC制御し、LD32の前方出射光Lを一定に制御する。
When the bias current IL is supplied to the LD 32 by the
周囲温度がT2からT1に下がると、MCU2は温度センサ3からの信号によって周囲温度がT2からT1に下がったことを認識する。このとき、図2の温度特性曲線21に示されるように、モニタ電流Ipは温度T2のときの電流値Ip2から電流値Ip1に上昇するので、電流値Ip2に基づいてLD32をAPC制御すると誤差ΔI(Ip1−Ip2)が生じる。すなわち、光信号制御装置1にはトラッキングエラーが発生する。
When the ambient temperature falls from T2 to T1, the
記憶手段4に図2の温度特性テーブル22が記憶されている場合;
MCU2は、周囲温度がT2からT1に下がったことを認識すると、温度特性テーブル22を参照し、周囲温度T1に対応するアドレスに記憶された電流値Ip1を得る。MCU2はこの電流値Ip1に基づき、APC制御を誤差ΔIをなくすように(電流値Ipが一定になるように)補正制御することで、LD32の前方出射光Lを一定に制御する。これにより、光信号制御装置1に発生したトラッキングエラーが解消される。
When the temperature characteristic table 22 of FIG. 2 is stored in the storage means 4;
When the
記憶手段4に図2の温度特性テーブル23が記憶されている場合;
MCU2は、周囲温度がT2からT1に下がったことを認識すると、図2の温度特性曲線21を近似する温度特性関数の次数を決定した後、温度特性テーブル23を参照し、決定した次数に対応するアドレスに記憶された温度特性関数の係数と定数とを得て、図2の温度特性曲線21に近似した温度特性関数を得る。MCU2は、この温度特性関数に、周囲温度T2における温度センサ3の温度検出電気量からなる入力変数を代入することで、近似された電流値Ip1を得る。MCU2はこの近似された電流値Ip1に基づき、APC制御を補正制御することで、LD32の前方出射光Lを一定に制御する。これにより、光信号制御装置1に発生したトラッキングエラーが解消される。
When the temperature characteristic table 23 of FIG. 2 is stored in the storage means 4;
When the
このように、本発明に係る光信号制御装置1では、MCU2がLD32をAPC制御すると共に、MCU2の記憶手段4に予め記憶された温度特性テーブル22(あるいは23)を参照してAPC制御を補正制御しているので、いかなる原因によってトラッキングエラーが発生しても、LD32の前方出射光Lを常に高精度かつ一定に制御できる。
Thus, in the optical
1 光信号制御装置
2 MCU(制御手段)
3 温度センサ
4 記憶手段
11 恒温槽
12 パワーモニタ(前方出射光モニタ手段)
13 コンピュータ(処理手段)
32 LD(光源)
33 モニタPD(後方出射光モニタ手段)
L 前方出射光
Lb 後方出射光
1 Optical
3
13 Computer (Processing means)
32 LD (light source)
33 Monitor PD (Backward outgoing light monitoring means)
L Front outgoing light Lb Back outgoing light
Claims (9)
f(x)=An xn +An-1 xn-1 +…+A1 x+A0
x:温度センサの温度検出量からなる入力変数
で近似したものである請求項4記載の光信号制御装置。 The temperature characteristic function is expressed as follows: f (x) = A n x n + A n-1 x n-1 +... + A 1 x + A 0
5. The optical signal control device according to claim 4, wherein x is approximated by an input variable comprising a temperature detection amount of the temperature sensor.
The temperature characteristic table is created by associating an address for each degree of the temperature characteristic function approximated to the temperature characteristic of the rear light monitoring means and storing a coefficient of each order of the temperature characteristic function at the address. 8. A method for adjusting an optical signal control device according to item 7.
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ID=35334035
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