JP2005265700A - Work piece temperature correction method in three-dimensional measuring machine - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、3次元測定機により測定したワークの測定箇所の測定長さを基準温度のワークにおける測定長さに補正するワーク温度補正方法に関するものである。 The present invention relates to a workpiece temperature correction method for correcting a measurement length of a workpiece measurement point measured by a three-dimensional measuring machine to a measurement length of a workpiece at a reference temperature.
通常、製品図面寸法は温度20℃での寸法値である。このため精密な3次元測定は、20℃に制御された恒温室にワークを搬入し、ワークが周囲の雰囲気温度と同じ20℃になるまで所定時間放置する温度ならしを行う必要があり、測定に時間がかかっていた。3次元測定機は、近年の生産効率の向上と共に加工製造現場に近い測定場所で測定することの要求が強く、現場周辺に設置される場合が増えている。このため、例えば特許文献1に記載されているように、プローブを保持する保持具をワークに対して互いに直角なX,Y,Z軸方向に相対的に移動可能とし、プローブがワークと接触したときのX,Y,Z軸の座標値をプローブとワークとの相対位置を検出するX,Y,Z軸スケールにより読み取ってワークの測定箇所の測定長さを測定する3次元測定機において、X,Y,Z軸の温度を夫々測定するセンサにより測定された各軸の温度に基づいてX,Y,Z軸スケールで測定された座標値を温度補正することによって、現場の温度変化に対応すべくワークの測定箇所の測定長さを21±5℃の環境温度変化に対して高精度に測定できるものが発売されている。しかしながら、ワークの温度変化への対応については、特許文献1にみられるように、接触式温度計で測定したワークの表面温度に対して線形補正し、基準温度20℃のワークにおける測定箇所の測定長さに換算する程度にとどまっている。
しかしながら、接触式温度計は、熱がワークからセンサ部に熱伝導されることによりワークの表面温度を測定するため、センサ部のワークへの接触具合により測定温度が変化しワークの表面温度を正確に測定できないことがあり、ワークの温度補正精度が低下する。また、3次元測定機の標準の接触式温度計は応答速度が240秒と応答性が悪いので、ワークを数度〜40℃程度の現場環境から測定室に搬入して直ちに測定した場合、ワークの温度変化に追従できず、線形補正の精度が低下する。従って、このような従来方法でワーク温度補正を行った測定穴の中心位置の測定長さと真値との測定誤差は、図7に示すように、測定穴の中心位置を測定したときのワークの表面温度が40℃程度に高いときは、公差である位置度の5分の1以内に入るが、ワーク表面温度が低くなるにつれて補正精度が悪くなり、測定穴の中心位置の測定長さと真値との測定誤差が公差の5分の1以上になる不具合があった。 However, since the contact-type thermometer measures the surface temperature of the workpiece by conducting heat from the workpiece to the sensor unit, the measured temperature changes depending on how the sensor unit contacts the workpiece, and the surface temperature of the workpiece is accurately measured. In some cases, the temperature correction accuracy of the workpiece decreases. In addition, the standard contact thermometer of the three-dimensional measuring machine has a response speed of 240 seconds and is poor in response. Therefore, when a workpiece is brought into the measurement room from a field environment of several degrees to 40 ° C. and immediately measured, It is impossible to follow the temperature change of the linear correction, and the accuracy of the linear correction is lowered. Therefore, as shown in FIG. 7, the measurement error between the measurement length and the true value of the center position of the measurement hole subjected to the workpiece temperature correction by such a conventional method is as follows. When the surface temperature is as high as about 40 ° C, it falls within one fifth of the tolerance position degree. However, as the workpiece surface temperature decreases, the correction accuracy deteriorates, and the measured length and true value of the center position of the measurement hole. There was a problem that the measurement error was 1/5 or more of the tolerance.
本発明は、係る従来の不具合を解消するためになされたもので、ワーク温度を温度変化に応答性よく追従して正確に測定し、ワークの測定箇所の測定長さをワーク温度に応じて高精度に温度補正することができる3次元測定機のワーク温度補正方法を提供することである。 The present invention has been made in order to eliminate the above-described conventional problems. The workpiece temperature is accurately measured by responsively responding to a temperature change, and the measurement length of the workpiece measurement point is increased according to the workpiece temperature. It is to provide a workpiece temperature correction method for a three-dimensional measuring machine capable of accurately correcting a temperature.
上記の課題を解決するため、請求項1に記載の発明の構成上の特徴は、冶具に取付けられたワークに対してX,Y,Z軸方向に相対移動可能なプローブがワーク表面位置を検出して検出信号を送出したときのX,Y,Z軸の各座標値を読取ることによりワークの測定箇所の測定長さを測定する3次元測定装置において、前記ワークを前記冶具に線形膨張を許容して1点部分で固定し、前記プローブの検出信号に基づいて測定されたワークの少なくとも2個の基準箇所のX,Y,Z軸の座標値に基づいてワーク座標系を設定し、前記測定箇所について前記プローブの検出信号に基づいてX,Y,Z軸の座標値を読取り、前記放射温度計によりワークの表面温度を測定し、前記座標値に基づいて測定箇所のワーク座標系における測定長さを演算するとともに、前記ワーク表面温度と基準温度との差に基づいて測定箇所のワーク座標系における測定長さをワーク温度補正することである。
In order to solve the above problems, the structural feature of the invention described in
請求項2に記載の発明の構成上の特徴は、冶具に取付けられたワークに対してX,Y,Z軸方向に相対移動可能なプローブがワーク表面位置を検出して検出信号を送出したときのX,Y,Z軸の各座標値を読取ることによりワークの測定箇所の測定長さを測定する3次元測定装置において、前記ワークを前記冶具に線形膨張を許容して1点部分で固定し、前記プローブの検出信号に基づいて測定されたワークの少なくとも2個の基準箇所のX,Y,Z軸の座標値に基づいて初期ワーク座標系を設定し、公差が所定値以上の粗公差箇所について、前記プローブの検出信号に基づいて粗公差箇所のX,Y,Z軸の座標値を読取り、放射温度計によりワーク表面温度を測定し、該座標値に基づいて粗公差箇所の初期ワーク座標系における測定長さを演算するとともに、前記ワーク表面温度と基準温度との差に基づいて粗公差箇所の初期ワーク座標系における測定長さをワーク温度補正し、公差が所定値未満の精公差箇所については、ワーク表面温度が基準温度から所定範囲以内に入った後に、前記少なくとも2個の基準箇所のX,Y,Z軸の座標値を測定し直して該座標値に基づいて精公差用ワーク座標系を設定し、前記プローブの検出信号に基づいて精公差箇所のX,Y,Z軸の座標値を読取り、前記放射温度計によりワーク表面温度を測定し、該座標値に基づいて精公差箇所の精公差用ワーク座標系における測定長さを演算するとともに、前記ワーク表面温度と基準温度との差に基づいて精公差箇所の精公差用ワーク座標系における測定長さをワーク温度補正することである。
The structural feature of the invention of
請求項3に記載の発明の構成上の特徴は、請求項1又は2において、前記放射温度計により温度測定されるワークの表面温度測定部分に放射率が既知の黒体物質を付着することである。
The structural feature of the invention described in
上記のように構成した請求項1に係る発明においては、ワークを3次元測定機の冶具に線形膨張が可能なように1点部分で固定する。ワークの少なくとも2個の基準箇所のX,Y,Z軸の座標値を3次元測定機のプローブの検出信号に基づいて測定し、該座標値に基づいてワーク座標系を設定する。ワークの測定箇所についてプローブの検出信号に基づいてX,Y,Z軸の座標値を読取り、放射温度計によりワークの表面温度を測定する。該座標値に基づいて測定箇所のワーク座標系における測定長さを演算する。ワーク温度と基準温度との差に基づいて測定箇所の測定長さを基準温度のワークにおける測定箇所の測定長さに温度補正する。
これにより、放射温度計は、接触式温度計のようにワークへの接触具合によって測定温度が変わることがなく、且つ応答速度が短いのでワーク温度を温度変化に応答性よく追従して正確に測定することができ、ワークの測定箇所の測定長さをワーク温度に応じて高精度に温度補正することができる。
In the invention according to
As a result, the radiation thermometer does not change the measurement temperature depending on the contact condition with the workpiece like the contact thermometer, and the response speed is short, so the workpiece temperature is accurately measured by following the temperature change with good responsiveness. Thus, the measurement length of the measurement location of the workpiece can be temperature-corrected with high accuracy according to the workpiece temperature.
上記のように構成した請求項2に係る発明によれば、ワークを3次元測定機の冶具に線形膨張が可能なように1点部分で固定する。ワークの少なくとも2個の基準箇所のX,Y,Z軸の座標値を3次元測定機のプローブの検出信号に基づいて測定し、該座標値に基づいて初期ワーク座標系を設定する。公差が所定値以上の粗公差箇所について、プローブの検出信号に基づいてX,Y,Z軸の座標値を読取り、放射温度計によりワークの表面温度を測定する。該座標値に基づいて粗公差箇所の初期ワーク座標系における測定長さを演算する。ワーク温度と基準温度との差に基づいて粗公差箇所の測定長さを基準温度のワークにおける該粗公差箇所の測定長さに温度補正する。公差が所定値未満の精公差箇所については、ワーク温度が基準温度から所定範囲以内に入った後に、少なくとも2個の基準箇所のX,Y,Z軸の座標値を測定し直して該座標値に基づいて精公差用ワーク座標系を設定する。プローブの検出信号に基づいてX,Y,Z軸の座標値を読取り、放射温度計によりワーク温度を測定する。該座標値に基づいて精公差箇所の精公差用ワーク座標系における測定長さを演算する。ワーク温度と基準温度との差に基づいて精公差箇所の測定長さを基準温度のワークにおける該粗公差箇所の測定長さに温度補正する。
これにより、粗公差箇所については、温度ならしを行うことなく測定しても、粗公差に対して必要な測定精度で粗公差箇所の測定長さを測定することができて測定時間を短縮することができる。精公差箇所については、ワーク温度が基準温度から所定範囲以内に入った後に、精公差用ワーク座標系を設定し直し、該精公差用ワーク座標系において演算した精公差箇所の測定長さを温度補正するので、精公差に対して必要な高測定精度で精公差箇所の測定長さを測定することができる。具体的に粗公差箇所は位置度公差が0.1〜0.5を満たす箇所とすることができる。精公差箇所は位置度公差が0.06〜0.1を満たすことができる。
According to the invention according to
As a result, the measurement length of the rough tolerance point can be measured with the required measurement accuracy with respect to the rough tolerance even if the measurement is performed without performing the temperature leveling on the rough tolerance point, thereby shortening the measurement time. be able to. For precision tolerance points, after the workpiece temperature falls within the specified range from the reference temperature, reset the workpiece coordinate system for precision tolerance, and set the measurement length of the precision tolerance point calculated in the workpiece tolerance coordinate system to the temperature. Since the correction is made, it is possible to measure the measurement length of the precise tolerance portion with the high measurement accuracy required for the fine tolerance. Specifically, the coarse tolerance location can be a location where the positional tolerance satisfies 0.1 to 0.5. The position tolerance of the fine tolerance point can satisfy 0.06 to 0.1.
上記のように構成した請求項3に係る発明によれば、ワークの表面温度測定部分に放射率が既知の黒体物質を付着したので、黒体物質は直ぐにワーク表面温度になり、放射率は既知の高い値であり、且つ他の熱源からの熱線を放射温度計に向けて反射しないので、ワーク温度を正確に測定することができる。
According to the invention according to
以下、本発明に係る3次元測定機のワーク温度補正方法及び該方法を実施するための3次元測定機の実施の形態について説明する。3次元測定機11は、温度変化、例えば21±5℃に対する測定精度を保証するために、エアコン12で設定温度20℃に室内温度をコントロールされた測定室13内に配置されている。3次元測定機1は、ベース14上にコラム15が図1において紙面に対して垂直なY軸方向に移動可能に装架され、コラム15にヘッド16が左右のX軸方向に移動可能に装架され、ヘッド16にラム17が上下のZ軸方向に移動可能に装架されている。ラム17の先端にはプローブ18が装着され、プローブ18がベース14上に冶具19を介して固定されたワークWの表面に当接すると検出信号を送出して制御装置20に入力するようになっている。ベース14、コラム15、ヘッド16には、Y,X,Z軸スケールが夫々取付けら、コラム15、ヘッド16、ラム17に夫々固定された読取りヘッドがY,X,Z軸スケールからX,Y,Z軸の各座標値を読取る。冶具19に取付けられたワークWに対してX,Y,Z軸方向に相対移動可能なプローブ18がワークWの測定箇所の表面位置を検出して検出信号を送出したとき、各読取りヘッドがX,Y,Z軸の各座標値を読取って制御装置20に入力する。
Hereinafter, a method for correcting a workpiece temperature of a coordinate measuring machine according to the present invention and an embodiment of a coordinate measuring machine for carrying out the method will be described. The three-dimensional measuring machine 11 is arranged in a
図1,2に示すように、測定室13の正面には扉23が開閉可能に取付けられ、冶具19は扉23を開いて手前に引出され、ワークWを着脱されて測定室13内に押し戻され、扉23を閉じて測定が行われる。ベース14上に載置された冶具19の基台24には下面に開口する多数の小穴が穿設され、冶具19は開閉弁25の開により小穴から圧縮エアが噴出するとベース14上面から浮上し、基台24の両側面を一対のガイド26に案内されて、測定室13内で基台24がストッパ27と当接する測定位置とワークWを着脱するために手前に引出された着脱位置との間でY軸方向に摺動可能となる。開閉弁25の閉により圧縮エアの供給を遮断されると冶具19は、自重によりベース14上に着座して固定される。基台24の側面には円錐穴28が穿設され、一方のガイド26には、先端にテーパが形成された係合ピン29がX軸方向に摺動可能に装架され圧縮スプリング30のバネ力により基台24の側面に向かって付勢されている。冶具19が測定位置近傍に押し戻されると、係合ピン29が円錐穴28に係入し、係合ピン29のテーパが円錐穴28の傾斜面に当接して基台24をストッパ27に押圧し、冶具19を測定位置に位置決めする。
As shown in FIGS. 1 and 2, a
図3に示すように、冶具19の基台24上には複数のワーク受け31〜33が立設され、ワーク受け31の上端部にはY−Z面と平行な凹溝が形成され、ワークWは該凹溝に入れられ線形膨張を許容して1点部分で固定される。凹溝の一方の側壁に貫通して螺合された固定ネジ34の先端にはワーク押えが回転可能に設けられ、他端にはハンドル35が固定されている。ハンドル35の回転により固定ネジ34がX軸方向に移動され、ワークWが凹溝の他方の側壁にワーク押えを介して押圧されることにより、ワークWは1点部分で冶具19に固定される。ワークWはワーク受け32,33のX−Y面と平行な上端面に線形膨張を許容して支持されている。
As shown in FIG. 3, a plurality of
ワークWには、放射率を0.95に保証された黒体テープ21が放射率の既知な黒体物質としてワークWの表面温度測定部分に付着され、ベース14上には、放射温度計22が黒体テープ21に対向して固定され、ワークWの表面温度を非接触で測定する。接触式温度計は温度変化に対する応答時間が240秒で測定精度が±0.1℃程度であるが、本実施形態では、応答時間が0.7秒と早く、測定精度が±1℃程度の放射温度計22を使用する。放射率を0.9以上の既知の値に保持された黒色スプレー、マーカー等を放射率が既知の黒体物質としてワークの表面温度測定部分に付着するようにしてもよい。
A
次に、上記実施形態の作動について図4に示すワークWの測定箇所の測定長さの測定の手順を示すフロー図に基づいて説明する。測定室13の扉23が開かれ、開閉弁25が開かれて冶具19の基台24がエア圧によりベース14から浮上された状態で、冶具19が着脱位置に引出され、開閉弁25が閉じられて冶具19がベース上に着座される。加工製造現場から持込まれたワークWは、表面温度測定位置に黒体テープ21を貼付され、冶具19のワーク受け31〜33上に載置される。ハンドル35により固定ネジ34が回転されて軸動し、ワーク押えを介してワークWをワーク受け31の凹溝側壁に押圧し、ワークWを線膨張を許容して1点部分で冶具19に固定する(手順1)。説明を簡単にするために、ワークWは、ワークWの測定箇所が存在する面がY−Z面と平行となるように、冶具19に固定されたとする。冶具19にワークWが固定されると、開閉弁25が開かれて基台24がエア圧によりベース14から浮上された状態で、冶具19は測定位置近傍に戻され、係合ピン29が円錐穴28に係入して基台24をストッパ27に押圧することにより測定位置に位置決めされる。開閉弁25が閉じられて基台24下面の小穴からのエア噴出が遮断され、冶具19がベース14上に着座して固定される。その後に、測定室13の扉23が閉じられる。
Next, the operation of the above embodiment will be described with reference to a flowchart showing a procedure for measuring the measurement length of the measurement location of the workpiece W shown in FIG. With the
プローブ18がX,Y,Z軸方向に移動されて2個の基準穴37,38のY軸及びZ軸方向直径部分の各内周両壁面に夫々当接し検出信号を送出すると、そのときのプローブ18の位置を示すX,Y,Z軸の座標値が夫々読取られ、制御装置に入力されメモリに記憶される。制御装置20は、プローブ18が基準穴37,38のY軸及びZ軸方向の各内周両壁面に夫々当接したときのプローブ18の位置を示すX,Y,Z軸の座標値の中から、基準穴37,38のY軸方向の内周面両壁面位置を示す2個ずつのY軸座標値、及びZ軸方向の内周面両壁面位置を示す2個ずつのZ軸座標値を夫々算術平均して基準穴37,38の各中心位置の座標値を測定する。そして、ワークWの測定箇所が存在する面と一致するY−Z面において、基準穴37の中心位置の座標値を初期ワーク座標系の原点とし、基準穴37,38の中心位置の座標値を結んでY'軸とし、原点を通ってY'軸と直角な軸をZ'軸として初期ワーク座標系を設定する(手順2)
When the
多数の測定穴39(測定箇所)の中、位置度(公差)が所定値以上の粗公差穴39r(粗公差箇所)について、基準穴37,38の場合と同様にプローブ18の検出信号に基づいて夫々4組のX,Y,Z軸の座標値が読取られるとともに、ワークWの表面温度が放射温度計22により測定され制御装置20に入力されてメモリに記憶される(手順3)。制御装置20は、4組のX,Y,Z軸の座標値に基づいて各粗公差穴39rの中心位置のY,Z軸の座標値を演算し、座標変換して各粗公差穴39rの中心位置Orの初期ワーク座標系におけるY'軸及びZ'軸からの測定長さを演算する。制御装置20は、プローブの検出信号に基づいて各粗公差穴39rについて4回測定した表面温度の平均値を各粗公差穴39rの中心位置を測定したときのワークの表面温度として求め、基準温度20℃との温度差ΔTを演算する。制御装置20は、粗公差穴39rの中心位置Orの初期ワーク座標系におけるY'軸及びZ'軸からの測定長さLY',LZ'を温度差ΔTに基づいてワーク温度補正し、中心位置OrのY'軸及びZ'軸からの測定長さ(LY'/(1+α×ΔT))及び (LZ' /(1+α×ΔT))を演算する(手順4)。
Of the large number of measurement holes 39 (measurement locations), the coarse tolerance holes 39r (rough tolerance locations) having a positional degree (tolerance) of a predetermined value or more are based on the detection signal of the
このようにワーク温度補正して求めた粗公差穴39rの中心位置Orの初期ワーク座標系におけるY'軸及びZ'軸からの測定長さLY',LZ'と真値との測定誤差は、図5に示すように、粗公差穴39rの中心位置Orを測定したときのワークの表面温度が40℃から20℃の間のいずれの温度であっても、粗公差穴39rの公差である位置度の5分の1以内に入っている。 The measurement errors between the measurement lengths LY ′ and LZ ′ from the Y ′ axis and the Z ′ axis in the initial workpiece coordinate system of the center position Or of the rough tolerance hole 39r obtained by correcting the workpiece temperature in this way and the true value are as follows: As shown in FIG. 5, the position that is the tolerance of the rough tolerance hole 39r regardless of whether the surface temperature of the workpiece when the center position Or of the coarse tolerance hole 39r is measured is between 40 ° C. and 20 ° C. It is within one fifth of the degree.
位置度が所定値未満の精公差穴39f(精公差箇所)を測定する前に、制御装置22は、放射温度計22で測定された現在のワーク表面温度が、設定温度1、例えば10℃以上で設定温度2、例えば30℃以下であるか否か、換言すれば基準温度20℃から所定範囲以内に入ったか否か判定し、現在のワーク表面温度が基準温度から所定範囲以内に入るまで待機する(手順5)。
Before measuring the precision tolerance hole 39f (precision tolerance location) where the degree of position is less than a predetermined value, the
現在のワーク表面温度が基準温度から所定範囲以内に入ると、初期ワーク座標系の設定と同様に、プローブ18がX,Y,Z軸方向に移動され、2個の基準穴37,38の中心位置の座標値を測定し直し、ワークWの測定箇所が存在する面と一致するY−Z面において、基準穴37の中心位置の座標値を精公差用ワーク座標系の原点とし、基準穴37,38の中心位置の座標値を結んでY'軸とし、原点を通ってY'軸と直角な軸をZ'軸として精公差用ワーク座標系を設定する(手順6)。
When the current workpiece surface temperature falls within a predetermined range from the reference temperature, the
多数の測定穴39の中、位置度が所定値以下の精公差穴39f(精公差箇所)について、粗公差穴39rの場合と同様にプローブ18の検出信号に基づいて夫々4組のX,Y,Z軸の座標値が読取られるとともに、ワークWの表面温度が放射温度計22により測定され制御装置20に入力されてメモリに記憶される。制御装置20は、制御装置20は、4組のX,Y,Z軸の座標値に基づいて各精公差穴39fの中心位置のY,Z軸の座標値を演算し、座標変換して各精公差穴39fの中心位置Ofの精公差用ワーク座標系におけるY'軸及びZ'軸からの測定長さを演算する。そして、制御装置20は、各精公差穴39fの中心位置Ofを測定したときのワークの表面温度と基準温度との温度差ΔTを演算し、精公差穴39fの中心位置Ofの精公差用ワーク座標系におけるY'軸及びZ'軸からの測定長さLY',LZ'を温度差ΔTに基づいてワーク温度補正する(手順7)。
Among a large number of measurement holes 39, for the fine tolerance holes 39f (fine tolerance points) whose degree of position is equal to or less than a predetermined value, four sets of X and Y are set based on the detection signal of the
このように現在のワーク表面温度が基準温度から所定範囲以内に入った後に、基準穴37,38の中心位置の座標値を測定し直して精公差用ワーク座標系を設定し、精公差穴39fの中心位置Ofの精公差用ワーク座標系における測定長さをワーク温度補正しているので、ワーク温度補正された精公差穴39fの中心位置Ofの精公差用ワーク座標系におけるY'軸及びZ'軸からの測定長さと真値との測定誤差は、図6に示すように、精公差穴39fの中心位置Ofを測定したときのワークの表面温度が30℃から20℃の間のいずれの温度であっても、精公差穴39fの公差の5分の1以内に入っている。 Thus, after the current workpiece surface temperature falls within a predetermined range from the reference temperature, the coordinate values of the center positions of the reference holes 37 and 38 are measured again to set the work coordinate system for fine tolerance, and the fine tolerance hole 39f. Since the measurement length of the center position Of in the precision tolerance work coordinate system is corrected for the work temperature, the Y ′ axis and Z in the precision tolerance work coordinate system of the center position Of of the precision tolerance hole 39f whose work temperature has been corrected are corrected. 'As shown in FIG. 6, the measurement error between the measurement length from the axis and the true value is any of the surface temperature of the workpiece between 30 ° C and 20 ° C when the center position Of of the precision tolerance hole 39f is measured. Even the temperature is within one fifth of the tolerance of the fine tolerance hole 39f.
11…3次元測定機 、12…エアコン、13…測定室、14…ベース、15…コラム、16…ヘッド、17…ラム、18…プローブ、19…冶具、20…制御装置、21…黒体テープ、22…放射温度計、23…扉、24…基台、25…開閉弁、26…ガイド、27…ストッパ、28…円錐穴、29…係合ピン、30…圧縮スプリング、31〜33…ワーク受け、34…固定ネジ、35…ハンドル、37,38…基準穴、39…測定穴、39r…粗公差穴、39f…精公差穴。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Three-dimensional measuring machine, 12 ... Air conditioner, 13 ... Measurement room, 14 ... Base, 15 ... Column, 16 ... Head, 17 ... Ram, 18 ... Probe, 19 ... Jig, 20 ... Control device, 21 ...
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Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010502953A (en) * | 2006-08-31 | 2010-01-28 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | Intelligent probe |
GB2510510A (en) * | 2011-03-14 | 2014-08-06 | Faro Tech Inc | Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker |
WO2014181134A1 (en) * | 2013-05-10 | 2014-11-13 | Renishaw Plc | Method and apparatus for inspecting workpieces |
US9007601B2 (en) | 2010-04-21 | 2015-04-14 | Faro Technologies, Inc. | Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker |
US9041914B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-26 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
US9151830B2 (en) | 2011-04-15 | 2015-10-06 | Faro Technologies, Inc. | Six degree-of-freedom laser tracker that cooperates with a remote structured-light scanner |
US9164173B2 (en) | 2011-04-15 | 2015-10-20 | Faro Technologies, Inc. | Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light |
US9377885B2 (en) | 2010-04-21 | 2016-06-28 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker |
US9395174B2 (en) | 2014-06-27 | 2016-07-19 | Faro Technologies, Inc. | Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit |
US9400170B2 (en) | 2010-04-21 | 2016-07-26 | Faro Technologies, Inc. | Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker |
US9453913B2 (en) | 2008-11-17 | 2016-09-27 | Faro Technologies, Inc. | Target apparatus for three-dimensional measurement system |
US9482755B2 (en) | 2008-11-17 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker |
US9482529B2 (en) | 2011-04-15 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
JP2017037068A (en) * | 2015-08-10 | 2017-02-16 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | Temperature correction method, temperature correction program, temperature correction device, and coordinate measuring machine |
US9638507B2 (en) | 2012-01-27 | 2017-05-02 | Faro Technologies, Inc. | Measurement machine utilizing a barcode to identify an inspection plan for an object |
US9686532B2 (en) | 2011-04-15 | 2017-06-20 | Faro Technologies, Inc. | System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices |
US9739606B2 (en) | 2011-08-09 | 2017-08-22 | Renishaw Plc | Method and apparatus for inspecting workpieces |
US9772394B2 (en) | 2010-04-21 | 2017-09-26 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker |
WO2019207862A1 (en) * | 2018-04-23 | 2019-10-31 | Dmg森精機株式会社 | Machine tool |
WO2020020564A1 (en) * | 2018-07-24 | 2020-01-30 | Asml Netherlands B.V. | Substrate positioning device with remote temperature sensor |
CN113405453A (en) * | 2021-05-10 | 2021-09-17 | 中航西安飞机工业集团股份有限公司 | Digital chemical industry airplane-mounted coordinate system recovery method based on temperature compensation |
-
2004
- 2004-03-19 JP JP2004080687A patent/JP4438467B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8661700B2 (en) | 2006-08-31 | 2014-03-04 | Faro Technologies, Inc. | Smart probe |
JP2010502953A (en) * | 2006-08-31 | 2010-01-28 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | Intelligent probe |
US9482755B2 (en) | 2008-11-17 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker |
US9453913B2 (en) | 2008-11-17 | 2016-09-27 | Faro Technologies, Inc. | Target apparatus for three-dimensional measurement system |
US10480929B2 (en) | 2010-04-21 | 2019-11-19 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker |
US10209059B2 (en) | 2010-04-21 | 2019-02-19 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker |
US9146094B2 (en) | 2010-04-21 | 2015-09-29 | Faro Technologies, Inc. | Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker |
US9772394B2 (en) | 2010-04-21 | 2017-09-26 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker |
US9007601B2 (en) | 2010-04-21 | 2015-04-14 | Faro Technologies, Inc. | Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker |
US9400170B2 (en) | 2010-04-21 | 2016-07-26 | Faro Technologies, Inc. | Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker |
US9377885B2 (en) | 2010-04-21 | 2016-06-28 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker |
GB2510510B (en) * | 2011-03-14 | 2015-10-07 | Faro Tech Inc | Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker |
GB2510510A (en) * | 2011-03-14 | 2014-08-06 | Faro Tech Inc | Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker |
US9164173B2 (en) | 2011-04-15 | 2015-10-20 | Faro Technologies, Inc. | Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light |
US9151830B2 (en) | 2011-04-15 | 2015-10-06 | Faro Technologies, Inc. | Six degree-of-freedom laser tracker that cooperates with a remote structured-light scanner |
US10578423B2 (en) | 2011-04-15 | 2020-03-03 | Faro Technologies, Inc. | Diagnosing multipath interference and eliminating multipath interference in 3D scanners using projection patterns |
US9448059B2 (en) | 2011-04-15 | 2016-09-20 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with external tactical probe and illuminated guidance |
US9453717B2 (en) | 2011-04-15 | 2016-09-27 | Faro Technologies, Inc. | Diagnosing multipath interference and eliminating multipath interference in 3D scanners using projection patterns |
US9207309B2 (en) | 2011-04-15 | 2015-12-08 | Faro Technologies, Inc. | Six degree-of-freedom laser tracker that cooperates with a remote line scanner |
US10302413B2 (en) | 2011-04-15 | 2019-05-28 | Faro Technologies, Inc. | Six degree-of-freedom laser tracker that cooperates with a remote sensor |
US9157987B2 (en) | 2011-04-15 | 2015-10-13 | Faro Technologies, Inc. | Absolute distance meter based on an undersampling method |
US9482746B2 (en) | 2011-04-15 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Six degree-of-freedom laser tracker that cooperates with a remote sensor |
US9482529B2 (en) | 2011-04-15 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
US9494412B2 (en) | 2011-04-15 | 2016-11-15 | Faro Technologies, Inc. | Diagnosing multipath interference and eliminating multipath interference in 3D scanners using automated repositioning |
US10267619B2 (en) | 2011-04-15 | 2019-04-23 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
US10119805B2 (en) | 2011-04-15 | 2018-11-06 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
US9686532B2 (en) | 2011-04-15 | 2017-06-20 | Faro Technologies, Inc. | System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices |
US9739606B2 (en) | 2011-08-09 | 2017-08-22 | Renishaw Plc | Method and apparatus for inspecting workpieces |
US9638507B2 (en) | 2012-01-27 | 2017-05-02 | Faro Technologies, Inc. | Measurement machine utilizing a barcode to identify an inspection plan for an object |
US9482514B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Diagnosing multipath interference and eliminating multipath interference in 3D scanners by directed probing |
US9041914B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-26 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
US9989347B2 (en) | 2013-05-10 | 2018-06-05 | Renishaw Plc | Method and apparatus for inspecting workpieces |
WO2014181134A1 (en) * | 2013-05-10 | 2014-11-13 | Renishaw Plc | Method and apparatus for inspecting workpieces |
JP2016524136A (en) * | 2013-05-10 | 2016-08-12 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company | Method and apparatus for inspecting a workpiece |
US9395174B2 (en) | 2014-06-27 | 2016-07-19 | Faro Technologies, Inc. | Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit |
JP2017037068A (en) * | 2015-08-10 | 2017-02-16 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター | Temperature correction method, temperature correction program, temperature correction device, and coordinate measuring machine |
WO2019207862A1 (en) * | 2018-04-23 | 2019-10-31 | Dmg森精機株式会社 | Machine tool |
JP2019188505A (en) * | 2018-04-23 | 2019-10-31 | Dmg森精機株式会社 | Machine tool |
US11759906B2 (en) | 2018-04-23 | 2023-09-19 | Dmg Mori Co., Ltd. | Machine tool |
WO2020020564A1 (en) * | 2018-07-24 | 2020-01-30 | Asml Netherlands B.V. | Substrate positioning device with remote temperature sensor |
US12051607B2 (en) | 2018-07-24 | 2024-07-30 | Asml Netherlands B.V. | Substrate positioning device with remote temperature sensor |
CN113405453A (en) * | 2021-05-10 | 2021-09-17 | 中航西安飞机工业集团股份有限公司 | Digital chemical industry airplane-mounted coordinate system recovery method based on temperature compensation |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4438467B2 (en) | 2010-03-24 |
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