JP2005243814A - Substrate processing apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、基板を処理するための基板処理装置に関する。処理の対象となる基板には、たとえば、半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基板、プラズマディスプレイ用ガラス基板、光ディスク用基板、磁気ディスク用基板、光磁気ディスク用基板、フォトマスク用基板などが含まれる。 The present invention relates to a substrate processing apparatus for processing a substrate. Substrates to be processed include, for example, semiconductor wafers, glass substrates for liquid crystal display devices, glass substrates for plasma displays, optical disk substrates, magnetic disk substrates, magneto-optical disk substrates, photomask substrates, and the like. .
半導体装置や液晶表示装置の製造工程では、半導体ウエハや液晶表示パネル用ガラス基板などの基板に処理液を供給して、この処理液による処理を基板の表面に施すための基板処理装置が用いられる。
基板を1枚ずつ処理する枚葉式の基板処理装置では、処理液タンクに貯留されている処理液がノズルに送られて、このノズルから処理対象の基板に処理液が供給される(たとえば、特許文献1参照)。また、複数枚の基板を一括して処理するバッチ式の基板処理装置では、処理液タンクに貯留されている処理液が処理槽に供給されて、この処理槽に溜められた処理液中に複数枚の基板を一括して浸漬させることにより、基板に対する処理液の供給が達成される。
In the manufacturing process of a semiconductor device or a liquid crystal display device, a substrate processing apparatus is used for supplying a processing liquid to a substrate such as a semiconductor wafer or a glass substrate for a liquid crystal display panel, and applying the processing with the processing liquid to the surface of the substrate. .
In a single-wafer type substrate processing apparatus that processes substrates one by one, a processing liquid stored in a processing liquid tank is sent to a nozzle, and the processing liquid is supplied from the nozzle to a substrate to be processed (for example, Patent Document 1). Further, in a batch type substrate processing apparatus that processes a plurality of substrates at once, a processing liquid stored in a processing liquid tank is supplied to the processing tank, and a plurality of processing liquids are stored in the processing liquid stored in the processing tank. By immersing a single substrate at a time, supply of the processing liquid to the substrate is achieved.
処理液タンクは、定期的に洗浄する必要がある。そのため、図4に示すように、処理液タンク91には、この処理液タンク91に処理液を供給するための処理液配管92以外に、処理液タンク91に洗浄液を供給するための洗浄液配管93が接続されている。そして、処理液配管92および洗浄液配管93の途中には、それぞれエア弁94,95が介装されており、処理液タンク91を洗浄するときには、処理液タンク91内の処理液が排液配管96を通して排出された後、洗浄液配管93に介装されているエア弁95が開かれて、洗浄液配管93から処理液タンク91に洗浄液が供給される。処理液タンク91の洗浄が行われている間、処理液配管92に介装されているエア弁94は常に閉じられている。一方、基板処理のための装置稼働中は、洗浄液配管93に介装されているエア弁95は常に閉じられており、処理液タンク91内に貯留されている処理液の量に基づいて、処理液配管92に介装されているエア弁94の開閉が制御される。
エア弁94,95の開閉は、マイクロコンピュータを含む制御部によって制御される。そのため、制御部に異常が発生し、処理液タンク91に処理液が供給されている状態で、洗浄液配管93に介装されているエア弁94が開かれるといった事態が生じると、処理液タンク91に処理液と洗浄液とが同時混入されてしまう。また、処理液タンク91の洗浄中に、制御部に異常が発生し、処理液配管92に介装されているエア弁95が開かれるといった事態が生じた場合にも、処理液タンク91に処理液と洗浄液とが同時混入されてしまう。このような処理液と洗浄液との同時混入は、エア弁94,95の故障によっても生じる。
Opening and closing of the
たとえば、処理液および洗浄液として、それぞれ硫酸および純水が用いられている場合、処理液タンク91への処理液および洗浄液の同時混入が生じると、処理液としての硫酸の激しい発熱によって洗浄液としての純水が突沸し、その結果、処理液タンク91内の気圧が急激に高まって、処理液タンク91にダメージを与えるおそれがある。
そこで、この発明の目的は、2種の液を液貯留槽に供給可能な構成において、その2種の液が液貯留槽に同時混入されることを確実に防止できる基板処理装置を提供することである。
For example, when sulfuric acid and pure water are used as the processing liquid and the cleaning liquid, respectively, when the processing liquid and the cleaning liquid are simultaneously mixed into the
Accordingly, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of reliably preventing the two kinds of liquids from being simultaneously mixed into the liquid storage tank in a configuration capable of supplying two kinds of liquids to the liquid storage tank. It is.
上記の目的を達成するための請求項1記載の発明は、液貯留槽(3)と、この液貯留槽に第1の液を供給するための第1液配管(11)と、前記液貯留槽に第1の液とは種類の異なる第2の液を供給するための第2液配管(12)と、手動によって切り替えられ、前記第1液配管における第1の液の流通および前記第2液配管における第2の液の流通を択一的に許可する手動式切替バルブ(13)とを含むことを特徴とする基板処理装置である。 The invention described in claim 1 for achieving the above object includes a liquid storage tank (3), a first liquid pipe (11) for supplying a first liquid to the liquid storage tank, and the liquid storage. The second liquid pipe (12) for supplying a second liquid of a type different from the first liquid to the tank and manually switched, and the flow of the first liquid in the first liquid pipe and the second liquid A substrate processing apparatus comprising: a manual switching valve (13) that selectively permits the second liquid to flow in the liquid piping.
なお、括弧内の英数字は、後述の実施形態における対応構成要素等を表す。以下、この項において同じ。
この発明によれば、手動式切替バルブによって、第1液配管における第1の液の流通と第2液配管における第2の液の流通とが択一的に許可される。そのため、第1液配管から液貯留槽に第1の液が供給されているときに、第2液配管から液貯留槽に第2の液が供給されることはない。また、第2液配管から液貯留槽に第2の液が供給されているときに、第1液配管から液貯留槽に第1の液が供給されることもない。
In addition, the alphanumeric characters in parentheses represent corresponding components in the embodiments described later. The same applies hereinafter.
According to this invention, the circulation of the first liquid in the first liquid pipe and the circulation of the second liquid in the second liquid pipe are alternatively permitted by the manual switching valve. Therefore, when the first liquid is supplied from the first liquid pipe to the liquid storage tank, the second liquid is not supplied from the second liquid pipe to the liquid storage tank. In addition, when the second liquid is supplied from the second liquid pipe to the liquid storage tank, the first liquid is not supplied from the first liquid pipe to the liquid storage tank.
しかも、手動切替バルブは手動で操作されるから、基板処理装置の各部を制御するための制御部に異常が発生した場合であっても、手動式切替バルブの不所望な切替えが行われることはない。
よって、第1および第2の液が液貯留槽に同時混入されることを確実に防止することができる。
In addition, since the manual switching valve is operated manually, even if an abnormality occurs in the control unit for controlling each part of the substrate processing apparatus, undesired switching of the manual switching valve is performed. Absent.
Accordingly, it is possible to reliably prevent the first and second liquids from being mixed into the liquid storage tank at the same time.
請求項2記載の発明は、前記第1液配管は、前記手動式切替バルブに接続され、前記手動式切替バルブに向けて第1の液が流れる第1液上流側配管(111)と、前記手動式切替バルブと前記液貯留槽とに接続され、前記手動式切替バルブによって流通が許可された第1の液が流れる第1液下流側配管(112)とを備え、前記第2液配管は、前記第1液配管とは別系統の配管であり、前記手動式切替バルブに接続され、前記手動式切替バルブに向けて第2の液が流れる第2液上流側配管(121)と、前記手動式切替バルブと前記液貯留槽とに接続され、前記手動式切替バルブによって流通が許可された第2の液が流れる第2液下流側配管(122)とを備えていることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置である。
The invention according to
この発明によれば、第1液配管と第2液配管とは別系統に設けられており、第1液上流側配管、第1液下流側配管、第2液上流側配管および第2液下流側配管は互いに独立の配管であるので、液貯留槽だけでなく、これらの配管への第1および第2の液の混入も防止することができる。
請求項3記載の発明は、前記第1の液は、基板(S)の処理のための硫酸であり、前記第2の液は、前記液貯留槽の洗浄のための純水であることを特徴とする請求項1または2記載の基板処理装置である。
According to this invention, the first liquid pipe and the second liquid pipe are provided in separate systems, and the first liquid upstream pipe, the first liquid downstream pipe, the second liquid upstream pipe, and the second liquid downstream. Since the side pipes are independent pipes, it is possible to prevent not only the liquid storage tank but also the first and second liquids from being mixed into these pipes.
According to a third aspect of the present invention, the first liquid is sulfuric acid for processing the substrate (S), and the second liquid is pure water for cleaning the liquid storage tank. The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the substrate processing apparatus is characterized in that
第1および第2の液が液貯留槽に同時混入されることがないので、第1の液が硫酸であり、第2の液が純水である場合には、硫酸と水との混合による発熱を防止でき、水の突沸によるダメージが液貯留槽に与えられることを防止できる。 Since the first and second liquids are not mixed in the liquid storage tank at the same time, when the first liquid is sulfuric acid and the second liquid is pure water, by mixing sulfuric acid and water Heat generation can be prevented, and damage due to bumping of water can be prevented from being given to the liquid storage tank.
以下では、この発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図1は、この発明の一実施形態に係る基板処理装置の構成を図解的に示す図である。この基板処理装置は、半導体ウエハなどの基板Sにノズル1から処理液を供給して、その基板Sに処理液による処理を施すための枚葉式の装置である。
ノズル1には、処理液供給管2から処理液が供給されるようになっている。処理液供給管2は、処理液を貯留しておくための処理液タンク3から延びており、その途中部には、処理液タンク3側から順に、温度調節用ヒータ4、ポンプ5、ダンパ6、フィルタ7および吐出バルブ8が介装されている。温度調節用ヒータ4は、ポンプ5によって処理液タンク3から汲み出される処理液の温度を処理に適した一定温度に調節するためのものである。ダンパ6は、処理液供給管2を流れる処理液の脈動を緩和するためのものである。フィルタ7は、処理液供給管2を流れる処理液中の異物を除去するためのものである。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 1 is a diagram schematically showing the configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. This substrate processing apparatus is a single-wafer type apparatus for supplying a processing liquid from a nozzle 1 to a substrate S such as a semiconductor wafer and processing the substrate S with the processing liquid.
A processing liquid is supplied to the nozzle 1 from a processing
処理液供給管2には、フィルタ7と吐出バルブ8との間の分岐点Jにおいて、処理液帰還管9の一端が分岐接続されている。処理液帰還管9の他端は、処理液タンク3に接続されており、処理液帰還管9の途中部には、帰還バルブ10が介装されている。
装置運転中は、温度調節用ヒータ4およびポンプ5が常に駆動されていて、基板Sに処理液を供給しない間は、吐出バルブ8が閉じられ、帰還バルブ10が開かれることにより、処理液タンク3から汲み出される処理液が、処理液供給管2の途中の分岐点Jから処理液帰還管9を通して処理液タンク3に戻されている。つまり、基板Sに処理液を供給しない間は、処理液タンク3、処理液供給管2および処理液帰還管9からなる処理液循環路を処理液が循環している。そして、基板Sに処理液を供給するタイミングになると、帰還バルブ10が閉じられ、吐出バルブ8が開かれることにより、処理液タンク3から汲み出される処理液が、処理液供給管2を通してノズル1に供給される。このように、基板Sに処理液を供給しない間、処理液を循環させておくことによって、一定温度に温度調節された処理液を処理液タンク3に貯留しておくことができ、吐出バルブ8の開成後、速やかに、その一定温度に温度調節された処理液をノズル1に供給することができる。
One end of a processing liquid return pipe 9 is branched and connected to the processing
During the operation of the apparatus, the
処理液タンク3は、ノズル1が配設されている処理室と離れて設置された処理液キャビネットに備えられている。たとえば、この基板処理装置が設置される工場において、処理室は階上に設置され、処理液キャビネットは階下に設置される。
処理液タンク3には、処理液としての硫酸を処理液タンク3に供給するための処理液配管11と、この処理液配管11とは別系統に設けられ、洗浄液としての純水を処理液タンク3に供給するための洗浄液配管12とが接続されている。
The processing liquid tank 3 is provided in a processing liquid cabinet installed away from the processing chamber in which the nozzle 1 is disposed. For example, in a factory where the substrate processing apparatus is installed, the processing chamber is installed on the floor and the processing liquid cabinet is installed on the floor.
The treatment liquid tank 3 is provided with a treatment
処理液配管11および洗浄液配管12の途中部には、処理液配管11と洗浄液配管12とに跨った状態に手動式切替バルブ13が介装されている。
これにより、処理液配管11は、手動式切替バルブ13に接続され、手動式切替バルブ13に向けて処理液が流れる上流側配管111と、手動式切替バルブ13と処理液タンク3とに接続され、手動式切替バルブ13から処理液タンク3に向けて処理液が流れる下流側配管112とに分断されている。処理液配管11の上流側配管111の途中部には、エア弁で構成される処理液供給バルブ14が介装されている。
A
As a result, the processing
また、洗浄液配管12は、手動式切替バルブ13に接続され、手動式切替バルブ13に向けて洗浄液が流れる上流側配管121と、手動式切替バルブ13と処理液タンク3とに接続され、手動式切替バルブ13から処理液タンク3に向けて洗浄液が流れる下流側配管122とに分断されている。洗浄液配管12の上流側配管121の途中部には、エア弁で構成される洗浄液供給バルブ15が介装されている。
The cleaning
手動式切替バルブ13は、図2および図3に示すように、本体16の内部に、処理液を流通させるための処理液流通路17と、洗浄液を流通させるための洗浄液流通路18とを有している。そして、処理液流通路17の一端に処理液配管11の上流側配管111が接続され、その他端に処理液配管11の下流側配管112が接続されることにより、処理液配管11の上流側配管111と下流側配管112とが処理液流通路17を介して連通している。また、洗浄液流通路18の一端に洗浄液配管12の上流側配管121が接続され、その他端に洗浄液配管12の下流側配管122が接続されることにより、洗浄液配管12の上流側配管121と下流側配管122とが洗浄液流通路18を介して連通している。
As shown in FIGS. 2 and 3, the
手動式切替バルブ13の本体16には、レバー19がほぼ180度の角度範囲内で回動可能に取り付けられている。このレバー19を手動操作することにより、処理液流通路17における処理液の流通を許可するか、洗浄液流通路18における洗浄液の流通を許可するかを択一的に切り替えることができるようになっている。
すなわち、図2に示すように、レバー19を一方側(処理液および洗浄液の流通方向上流側)に倒伏させると、処理液流通路17が開かれ、洗浄液流通路18が閉じられる。これにより、処理液流通路17における処理液の流通のみが許可され、この状態で処理液供給バルブ14が開かれると、処理液配管11の上流側配管111を流れる処理液が、処理液流通路17を通って処理液配管11の下流側配管112に流入し、さらに下流側配管112を通って処理液タンク3に供給される。一方、図3に示すように、レバー19を他方側(処理液および洗浄液の流通方向下流側)に倒伏させると、洗浄液流通路18が開かれ、処理液流通路17が閉じられる。これにより、洗浄液流通路18における洗浄液の流通のみが許可され、この状態で洗浄液供給バルブ15が開かれると、洗浄液配管12の上流側配管121を流れる洗浄液が、洗浄液流通路18を通って洗浄液配管12の下流側配管122に流入し、さらに下流側配管122を通って処理液タンク3に供給される。
A
That is, as shown in FIG. 2, when the
また、処理液タンク3には、処理液タンク3内の処理液または洗浄液を排液するための排液配管20の一端が接続されている。排液配管20の他端は、この基板処理装置が設置される工場の排液ラインに接続されている。また、排液配管20の途中部には、排液配管20を開閉するための排液バルブ21が介装されている。
以上のような構成により、手動式切替バルブ13を一方側に倒伏させた状態で、処理液供給バルブ14を開くことにより、処理液配管11から処理液タンク3に処理液を供給することができ、このとき排液バルブ21が閉じられていれば、その処理液配管11からの処理液を処理液タンク3に貯留することができる。このとき、手動式切替バルブ13の洗浄液流通路18が閉じられているから、処理液供給バルブ14や洗浄液供給バルブ15の開閉を制御するための制御部に異常が生じたり、洗浄液供給バルブ15が故障したりしても、洗浄液配管12から処理液タンク3に洗浄液が供給されることがなく、処理液タンク3に処理液と洗浄液とが同時混入されることがない。
Further, one end of a
With the above configuration, the processing liquid can be supplied from the processing
また、手動式切替バルブ13を他方側に倒伏させた状態で、洗浄液供給バルブ15を開くことにより、洗浄液配管12から処理液タンク3に洗浄液を供給することができ、この洗浄液によって処理液タンク3を洗浄することができる。このとき、手動式切替バルブ13の処理液流通路17が閉じられているから、処理液供給バルブ14や洗浄液供給バルブ15の開閉を制御するための制御部に異常が生じたり、処理液供給バルブ14が故障したりしても、処理液配管11から処理液タンク3に処理液が供給されることがなく、処理液タンク3に処理液と洗浄液とが同時混入されることがない。
Further, by opening the cleaning
しかも、手動式切替バルブ13は、レバー19を手動操作する構成であり、制御部に異常が生じた場合であっても、手動式切替バルブ13の不所望な切替えが行われることもない。
よって、処理液と洗浄液とが処理液タンク3に同時混入されることを確実に防止することができる。
In addition, the
Therefore, it is possible to reliably prevent the processing liquid and the cleaning liquid from being mixed into the processing liquid tank 3 at the same time.
また、処理液配管11と洗浄液配管12とは別系統に設けられており、上流側配管111、下流側配管112、上流側配管121および下流側配管122は、互いに独立の配管で構成されている。よって、処理液タンク3だけでなく、これらの配管111,112,121,122に処理液と洗浄液とが混入されることも防止できる。
さらに、処理液と洗浄液との混入がないので、この実施形態のように、処理液が硫酸であり、洗浄液が純水である場合には、硫酸と水との混合による発熱を防止でき、水の突沸によるダメージが液貯留槽に与えられることを防止できる。
Further, the processing
Further, since there is no mixing of the processing liquid and the cleaning liquid, as in this embodiment, when the processing liquid is sulfuric acid and the cleaning liquid is pure water, heat generation due to mixing of sulfuric acid and water can be prevented, It is possible to prevent the liquid storage tank from being damaged by bumping.
なお、処理液タンク3にレベルセンサが配設されて、処理液タンク3内に貯留されている処理液の液位が、そのレベルセンサによって検出される下限レベル以下でなければ、洗浄液供給バルブ15が開かれないようにしてもよい。こうすることにより、処理液タンク3内に処理液が大量に貯留されている状態で、その処理液タンク3に洗浄液が供給されることを防止できる。処理液としての硫酸に洗浄液としての純水が混入されることによる発熱を防止できる。
If a level sensor is provided in the processing liquid tank 3 and the liquid level of the processing liquid stored in the processing liquid tank 3 is not less than the lower limit level detected by the level sensor, the cleaning
以上、この発明の一実施形態について説明したが、この発明は他の形態で実施することもできる。たとえば、上記の実施形態では、枚葉式の基板処理装置を例にとったが、この発明は、複数枚の基板を一括して処理するバッチ式の基板処理装置に適用することもできる。
バッチ式の基板処理装置には、処理槽に酸系の薬液を供給して、その薬液に複数枚の基板を一括して浸漬させることによって処理を行った後、処理槽から酸系の薬液を排出し、つづいて、処理槽にアルカリ系の薬液を供給して、アルカリ系の薬液による処理を行うものがある。このような装置において、処理槽に酸系の薬液を供給するための配管と処理槽にアルカリ系の薬液を供給するための配管とに手動式切替バルブ13を介装させることにより、酸系の薬液とアルカリ系の薬液とが処理槽に同時混入されることを確実に防止でき、酸系の薬液とアルカリ系の薬液との反応による悪影響が処理槽に及ぼされるおそれをなくすことができる。
As mentioned above, although one Embodiment of this invention was described, this invention can also be implemented with another form. For example, in the above embodiment, the single-wafer type substrate processing apparatus is taken as an example. However, the present invention can also be applied to a batch type substrate processing apparatus that processes a plurality of substrates at once.
In a batch type substrate processing apparatus, an acidic chemical solution is supplied to a treatment tank and a plurality of substrates are immersed in the chemical solution at a time. There is one that discharges, and then supplies an alkaline chemical to the treatment tank and performs treatment with the alkaline chemical. In such an apparatus, a
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。 In addition, various design changes can be made within the scope of matters described in the claims.
3 処理液タンク
11 処理液配管
12 洗浄液配管
13 手動式切替バルブ
111 上流側配管
112 下流側配管
121 上流側配管
122 下流側配管
S 基板
3 Processing
Claims (3)
この液貯留槽に第1の液を供給するための第1液配管と、
前記液貯留槽に第1の液とは種類の異なる第2の液を供給するための第2液配管と、
手動によって切り替えられ、前記第1液配管における第1の液の流通および前記第2液配管における第2の液の流通を択一的に許可する手動式切替バルブと
を含むことを特徴とする基板処理装置。 A liquid reservoir,
A first liquid pipe for supplying the first liquid to the liquid storage tank;
A second liquid pipe for supplying a second liquid of a different type from the first liquid to the liquid storage tank;
And a manual switching valve that is switched manually and selectively permits the flow of the first liquid in the first liquid pipe and the flow of the second liquid in the second liquid pipe. Processing equipment.
前記第2液配管は、前記第1液配管とは別系統の配管であり、前記手動式切替バルブに接続され、前記手動式切替バルブに向けて第2の液が流れる第2液上流側配管と、前記手動式切替バルブと前記液貯留槽とに接続され、前記手動式切替バルブによって流通が許可された第2の液が流れる第2液下流側配管とを備えていることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。 The first liquid pipe is connected to the manual switching valve, and includes a first liquid upstream pipe through which the first liquid flows toward the manual switching valve, the manual switching valve, and the liquid storage tank. A first liquid downstream pipe through which the first liquid that is connected and flows through the manual switching valve is allowed to flow;
The second liquid pipe is a pipe of a different system from the first liquid pipe, and is connected to the manual switching valve, and a second liquid upstream pipe through which the second liquid flows toward the manual switching valve. And a second liquid downstream pipe connected to the manual switching valve and the liquid storage tank and through which a second liquid allowed to flow by the manual switching valve flows. The substrate processing apparatus according to claim 1.
前記第2の液は、前記液貯留槽の洗浄のための純水であることを特徴とする請求項1または2記載の基板処理装置。 The first liquid is sulfuric acid for processing a substrate;
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the second liquid is pure water for cleaning the liquid storage tank.
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