JP2005221739A - Photosensitive resin composition, photosensitive element obtained by using same, method for producing photoresist pattern and method for producing printed wiring board - Google Patents

Photosensitive resin composition, photosensitive element obtained by using same, method for producing photoresist pattern and method for producing printed wiring board Download PDF

Info

Publication number
JP2005221739A
JP2005221739A JP2004029261A JP2004029261A JP2005221739A JP 2005221739 A JP2005221739 A JP 2005221739A JP 2004029261 A JP2004029261 A JP 2004029261A JP 2004029261 A JP2004029261 A JP 2004029261A JP 2005221739 A JP2005221739 A JP 2005221739A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin composition
photosensitive resin
composition layer
exposure
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004029261A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuhisa Ichihashi
靖久 市橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
Priority to JP2004029261A priority Critical patent/JP2005221739A/en
Publication of JP2005221739A publication Critical patent/JP2005221739A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a photosensitive resin composition useful for densification and a higher yield of a printed wiring board produced using laser exposure; a photosensitive element obtained by using the same; a method for producing a photoresist pattern; and a method for producing a printed wiring board. <P>SOLUTION: The photosensitive resin composition contains a binder polymer, a photopolymerizable compound having an ethylenically unsaturated group, and a hexaarylbisimidazole compound and a hydrogen donor as a photopolymerization initiator, and has the following properties (a)-(c); (a) an absorbance of a photosensitive resin composition layer to monochromatic light within the range of 340-410 nm is 0.2-0.8, (b) an aspect ratio of a pattern of a photoresist produced by developing the photosensitive resin composition layer formed on a substrate after exposure with monochromatic light is ≥0.7, (c) when the photosensitive resin composition layer is formed on a substrate having 24 holes of 6 mm diameter, the layer is exposed in such a way that the number of residual steps after a prescribed development becomes 20, and development is carried out 3 times, a hole-break ratio is ≤10%. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、感光性樹脂組成物、これを用いた感光性エレメント、フォトレジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法に関する。   The present invention relates to a photosensitive resin composition, a photosensitive element using the same, a method for producing a photoresist pattern, and a method for producing a printed wiring board.

従来プリント配線板における電気回路(配線パターン)の形成方法として、テンティング法とめっき法が知られている。このテンティング法とは、チップ搭載のための銅スルーホールをフォトレジストで保護し、エッチング、フォトレジスト剥離を経て電気回路形成を行う方法である。また、めっき法とは、電気めっきによってスルーホールに銅を析出させ、半田めっきで保護し、フォトレジスト剥離、エッチングによって電気回路を行う方法である。   Conventionally, as a method for forming an electric circuit (wiring pattern) on a printed wiring board, a tenting method and a plating method are known. This tenting method is a method in which a copper through hole for chip mounting is protected with a photoresist, and an electric circuit is formed through etching and photoresist stripping. The plating method is a method in which copper is deposited in a through hole by electroplating, protected by solder plating, and an electric circuit is formed by removing a photoresist and etching.

感光性エレメントは、近年のプリント配線板の高密度化に伴い、従来の感光性エレメントに比べて高解像度・高密着性に関する要求がますます高くなっている。また、同時にスループットの面からフォトレジストの高感度化の要求も高まっている。   With the recent increase in the density of printed wiring boards, photosensitive elements are increasingly demanded for high resolution and high adhesion as compared to conventional photosensitive elements. At the same time, there is a growing demand for higher photosensitivity in terms of throughput.

一方、携帯電話などの電子機器の急激な世代交代に伴い、従来のフォトツール(フォトマスク)を用いたフォトレジストパターンの形成方法では、1枚の基板に対するマスクのコストが増大することが懸念されている。そこでマスクを必要とせず、CADで作成した回路を、単色光を光源とするレーザ光により直接描画する方法(Laser Direct Imaging、以下LDIという)が見直されてきている。LDIは、先述したように少量多品種の生産が効率的に行える他、フォトマスクを使わないため位置あわせの工程が省略できスケーリングの補正も容易であり、マスクへの異物の付着、汚れ、傷の管理の必要がなくなる等多くの利点を有することを特長とする。しかし、従来の可視光を用いた可視光レーザでは、取り扱いに暗室又は赤色灯下での作業を必要とした。   On the other hand, with the rapid generation change of electronic devices such as mobile phones, there is a concern that the cost of a mask for a single substrate increases in a conventional method of forming a photoresist pattern using a phototool (photomask). ing. Therefore, a method of directly drawing a circuit created by CAD without using a mask with laser light using monochromatic light as a light source (Laser Direct Imaging, hereinafter referred to as LDI) has been reviewed. As mentioned above, LDI can efficiently produce a small variety of products, and since it does not use a photomask, the alignment process can be omitted and scaling can be easily corrected. It is characterized by having many advantages such as no need for management. However, the conventional visible light laser using visible light requires an operation in a dark room or under a red light for handling.

近年のレーザ技術の進歩に伴い、レーザ光源の多様化が進み、UV(紫外光)レーザ露光装置が開発された。UV(紫外光)レーザ露光に対応させるためには、非常に高感度及び解像度が優れる感光性エレメントが必要であり、現状の感光性エレメントでは対応することができず、UV(紫外光)レーザ露光専用感光性エレメントが新たに開発された。しかし、スループットの面では未だに不十分であることから、予想に比べてUV(紫外光)レーザ露光装置の普及は遅れている。スループットはレーザの走査速度に依存するが、現状の問題としては機械的なものではなく感光性エレメントの感度が不十分であるため、走査速度を大きくすることができない点にある。また、LDIでは、主にテンティング法で使われることが多く、高いテンティング性が求められる。   With recent advances in laser technology, diversification of laser light sources has progressed, and UV (ultraviolet light) laser exposure apparatuses have been developed. In order to cope with UV (ultraviolet light) laser exposure, a photosensitive element with very high sensitivity and excellent resolution is required, and the current photosensitive element cannot cope with it, and UV (ultraviolet light) laser exposure. A special photosensitive element has been newly developed. However, since the throughput is still inadequate, the spread of UV (ultraviolet light) laser exposure apparatuses has been delayed compared to expectations. Although the throughput depends on the scanning speed of the laser, the current problem is that the scanning speed cannot be increased because the sensitivity of the photosensitive element is not mechanical and the sensitivity of the photosensitive element is insufficient. In addition, LDI is often used mainly in the tenting method, and high tenting properties are required.

UV(紫外光)レーザ露光を用いたプリント配線板製造は、少量・他品種の製造に、非常に有利であるにも関わらず、低スループットであるために普及が遅れている。スループットの向上のためには、高感度感光性エレメントが要求されている。ヘキサアリールビスイミダゾール化合物(以下、HABIと略する)をロイコ染料ならびに他の添加剤との混合物中に用いた光像形成組成物が知られている(例えば、特許文献1参照)。さらに、2,2’,5−トリス−(o−クロロフェニル)−4−(3,4−ジメトキシフェニル)−4’,5’−ジフェニルビイミダゾール(以下、TCDM−HABIと略す)などの2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体(以下、Cl−HABIと略す)より高感度なHABI誘導体とロイコ染料の組み合わせも知られている(例えば、特許文献2参照)。さらに、高感度化を図るために、水素供与体がHABIとロイコ染料とともに用いられる(例えば、特許文献3参照)。これらの水素供与体としては、2−メルカプトベンゾチアゾールなどの有機チオール、第3級アミン、N−フェニルグリシン(以下、NPGと略す)などが用いられ、N−フェニルグリシンが高感度化の観点から特に好ましい。このような高感度化への取り組みの結果、感度は向上し、レーザ露光での実用レベルに達している。しかし、実際の使用においては、テンティング性が十分ではなく、そのため歩留まりの低下が問題となっていた。   Although printed wiring board manufacturing using UV (ultraviolet light) laser exposure is very advantageous for manufacturing small quantities and other types, it has been slow to spread due to low throughput. In order to improve the throughput, a highly sensitive photosensitive element is required. A photoimage-forming composition using a hexaarylbisimidazole compound (hereinafter abbreviated as HABI) in a mixture of a leuco dye and other additives is known (for example, see Patent Document 1). Further, 2,2 ′, 5-tris- (o-chlorophenyl) -4- (3,4-dimethoxyphenyl) -4 ′, 5′-diphenylbiimidazole (hereinafter abbreviated as TCDM-HABI) and the like 2- A combination of a HABI derivative and a leuco dye that is more sensitive than (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer (hereinafter abbreviated as Cl-HABI) is also known (for example, see Patent Document 2). Furthermore, in order to achieve high sensitivity, a hydrogen donor is used together with HABI and a leuco dye (see, for example, Patent Document 3). As these hydrogen donors, organic thiols such as 2-mercaptobenzothiazole, tertiary amines, N-phenylglycine (hereinafter abbreviated as NPG) and the like are used, and N-phenylglycine is used from the viewpoint of increasing sensitivity. Particularly preferred. As a result of such efforts to increase sensitivity, sensitivity has improved and has reached a practical level in laser exposure. However, in actual use, the tenting property is not sufficient, so that a decrease in yield has been a problem.

テンティング性の向上については、例えば、高分子量のバインダーポリマーを含有する感光性樹脂組成物(例えば、特許文献4参照)、多官能性モノマーを含有する感光性樹脂組成物(例えば、特許文献5参照)が知られている。しかし、これらの手法では、通常のマスク露光に使用される一括露光では、テンティング性が向上するものの、ステップタブレットによって同一の表面硬化条件で比較してもレーザ露光ではテンティング性が低いという欠点があった。そのため、レーザ露光では、所望の解像度を得る露光量では、テンティングが低いため、やむを得ず、露光量を上げてテンティング性を向上させて使用していた。その結果、露光量の増加に伴い、スループットの低下を引き起こしていた。   For improving tenting properties, for example, a photosensitive resin composition containing a high molecular weight binder polymer (see, for example, Patent Document 4) and a photosensitive resin composition containing a polyfunctional monomer (for example, Patent Document 5). See). However, in these methods, although the tenting property is improved in the batch exposure used for the normal mask exposure, the tenting property is low in the laser exposure even when compared with the same surface hardening condition by the step tablet. was there. Therefore, in the laser exposure, since the tenting is low at an exposure amount for obtaining a desired resolution, it is unavoidable to increase the exposure amount and improve the tenting property. As a result, throughput has been reduced with increasing exposure.

米国特許4311783号明細書US Pat. No. 4,311,783

特開昭62−66254号公報JP 62-66254 A 米国特許第3390996号明細書U.S. Pat. No. 3,390,996 特許第3252081号公報Japanese Patent No. 3252801 特開2001−117225号公報JP 2001-117225 A

本発明の課題は、レーザ露光を用いて製造されるプリント配線板の高密度化、高歩留まり性に有用な感光性樹脂組成物及びそれを用いた感光性エレメント、フォトレジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a photosensitive resin composition useful for increasing the density and yield of a printed wiring board manufactured using laser exposure, a photosensitive element using the same, a method for manufacturing a photoresist pattern, and printing It is to provide a method for manufacturing a wiring board.

本発明は、上記課題を解決するために、(A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤として(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物及び(C2)水素供与体を含む感光性樹脂組成物において、以下の(a)〜(c)に示す特性を有することを特徴とする感光性樹脂組成物に関する。
(a)上記感光性樹脂組成物を用いて塗工した感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.2〜0.8の吸光度を示す。
(b)基板上に形成させた該感光性樹脂組成物層を、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。
(c)直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に穴破れ率が10%以下である。
In order to solve the above problems, the present invention provides an ethylenically unsaturated group comprising (A) a binder polymer and (B) a photopolymerizable compound having 3 or more ethylenically unsaturated groups in one molecule as essential components. In the photosensitive resin composition containing (C1) a hexaarylbisimidazole compound and (C2) a hydrogen donor as a photopolymerization initiator (C) and (C) a photopolymerization initiator, The present invention relates to a photosensitive resin composition having the characteristics shown in a) to (c).
(A) The photosensitive resin composition layer coated using the photosensitive resin composition exhibits an absorbance of 0.2 to 0.8 with respect to monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm.
(B) The photosensitive resin composition layer formed on the substrate is exposed to the monochromatic light and then developed with a developing solution, and the photoresist pattern has an aspect ratio of 0.7 or more.
(C) After forming the photosensitive resin composition layer on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm and exposing with a light exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, exposure is performed. When the development process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less.

また、上記感光性樹脂組成物を用いて塗工した感光性樹脂組成物層において、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.3〜0.6の吸光度を示すことが好ましい。   Moreover, in the photosensitive resin composition layer coated using the photosensitive resin composition, it is preferable to exhibit an absorbance of 0.3 to 0.6 with respect to monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm. .

また、(C3)成分として、一般式(1)で示されるジアミノベンゾフェノン系化合物又は一般式(2)で示されるクマリン系化合物を含有することが好ましい。   The component (C3) preferably contains a diaminobenzophenone compound represented by the general formula (1) or a coumarin compound represented by the general formula (2).

Figure 2005221739
Figure 2005221739

Figure 2005221739
Figure 2005221739

また、本発明において、(A)成分及び(B)成分の配合量が、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対し、(A)成分が40〜80重量部、(B)成分が20〜60重量部であるものが好ましい。また、(C)成分の配合量が、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対し、0.1〜20重量部であることが好ましい。   Moreover, in this invention, the compounding quantity of (A) component and (B) component is 40-80 weight part of (A) component with respect to 100 weight part of total amounts of (A) component and (B) component, (B ) The component is preferably 20 to 60 parts by weight. Moreover, it is preferable that the compounding quantity of (C) component is 0.1-20 weight part with respect to 100 weight part of total amounts of (A) component and (B) component.

また、本発明は、(A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤として(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物及び(C2)水素供与体を含む感光性樹脂組成物を、支持体上に塗布及び乾燥してなる感光性エレメントであって、以下の(a)〜(c)に示す特性を有することを特徴とする感光性エレメントに関する。
(a)上記感光性エレメントの感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.2〜0.8の吸光度を示す。
(b)上記感光性エレメントを用いて基板上に形成させた感光性樹脂組成物層を、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。
(c)直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に穴破れ率が10%以下である。
また、本発明の感光性エレメントは、感光性樹脂組成物層に接するように保護フィルムを積層してなる感光性エレメントが好ましい。
The present invention also includes (A) a binder polymer and (B) a photopolymerizable compound having 3 or more ethylenically unsaturated groups in one molecule as an essential component. A photosensitive resin composition containing at least one photopolymerizable compound and (C) a hexaarylbisimidazole compound and (C2) a hydrogen donor as a photopolymerization initiator is coated on a support and dried. The present invention relates to a photosensitive element having the following characteristics (a) to (c).
(A) The photosensitive resin composition layer of the photosensitive element exhibits an absorbance of 0.2 to 0.8 for monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm.
(B) The photosensitive resin composition layer formed on the substrate using the photosensitive element is exposed to the monochromatic light, and then developed with a developer, and the photoresist pattern has an aspect ratio of 0. 7 or more.
(C) After forming the photosensitive resin composition layer on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm and exposing with a light exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, exposure is performed. When the development process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less.
The photosensitive element of the present invention is preferably a photosensitive element formed by laminating a protective film so as to be in contact with the photosensitive resin composition layer.

また、本発明は、(A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤として(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物及び(C2)水素供与体を含み、以下の(a)〜(c)に示す特性を有する感光性樹脂組成物を用いて、基板上への感光性樹脂組成物層の形成後、紫外線レーザによる走査露光、現像工程を経ることを特徴とするフォトレジストパターンの製造法に関する。
(a)上記感光性樹脂組成物を用いて塗工した感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.2〜0.8の吸光度を示す。
(b)基板上に形成させた該感光性樹脂組成物層を、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。
(c)直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に穴破れ率が10%以下である。
The present invention also includes (A) a binder polymer and (B) a photopolymerizable compound having 3 or more ethylenically unsaturated groups in one molecule as an essential component. A photopolymerizable compound having at least one, and (C) a photopolymerization initiator comprising (C1) a hexaarylbisimidazole compound and (C2) a hydrogen donor, and having the characteristics shown in the following (a) to (c) The present invention relates to a method for producing a photoresist pattern, wherein a photosensitive resin composition layer is formed on a substrate using a photosensitive resin composition, followed by scanning exposure with an ultraviolet laser and a development process.
(A) The photosensitive resin composition layer coated using the photosensitive resin composition exhibits an absorbance of 0.2 to 0.8 with respect to monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm.
(B) The photosensitive resin composition layer formed on the substrate is exposed to the monochromatic light and then developed with a developing solution, and the photoresist pattern has an aspect ratio of 0.7 or more.
(C) After forming the photosensitive resin composition layer on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm and exposing with a light exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, exposure is performed. When the development process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less.

また、本発明は、(A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤として(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物及び(C2)水素供与体を含み、以下の(a)〜(c)に示す特性を有する感光性樹脂組成物を用いて、基板上への感光性樹脂組成物層の形成、紫外線レーザによる走査露光、現像工程を経てフォトレジストパターンを形成後、基板の被加工層をエッチングする又は前記基板の被加工層を選択的にめっきすることを特徴とするプリント配線板の製造法に関する。
(a)上記感光性樹脂組成物を用いて塗工した感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.2〜0.8の吸光度を示す。
(b)基板上に形成させた該感光性樹脂組成物層を、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。
(c)直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に穴破れ率が10%以下である。
The present invention also includes (A) a binder polymer and (B) a photopolymerizable compound having 3 or more ethylenically unsaturated groups in one molecule as an essential component. A photopolymerizable compound having at least one, and (C) a photopolymerization initiator comprising (C1) a hexaarylbisimidazole compound and (C2) a hydrogen donor, and having the characteristics shown in the following (a) to (c) The photosensitive resin composition is used to form a photosensitive resin composition layer on the substrate, scan exposure with an ultraviolet laser, and a photoresist pattern through a development process, and then etch the layer to be processed of the substrate or the substrate The present invention relates to a method for manufacturing a printed wiring board, wherein a layer to be processed is selectively plated.
(A) The photosensitive resin composition layer coated using the photosensitive resin composition exhibits an absorbance of 0.2 to 0.8 with respect to monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm.
(B) The photosensitive resin composition layer formed on the substrate is exposed to the monochromatic light and then developed with a developing solution, and the photoresist pattern has an aspect ratio of 0.7 or more.
(C) After forming the photosensitive resin composition layer on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm and exposing with a light exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, exposure is performed. When the development process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less.

以上説明したように、本発明の感光性樹脂組成物、それを用いた感光性エレメント、フォトレジストパターンの製造法及びプリント配線板の製造法は、レーザ露光において光感度、解像度及びテンティング性に優れ、プリント配線板の高密度化及び歩留まりを向上できる効果を奏する。   As described above, the photosensitive resin composition of the present invention, the photosensitive element using the same, the method for producing a photoresist pattern, and the method for producing a printed wiring board have improved photosensitivity, resolution, and tenting in laser exposure. It has an excellent effect of increasing the density of printed wiring boards and improving the yield.

以下、本発明について詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail.

本発明の感光性樹脂組成物は、少なくとも(A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤を含有する。   The photosensitive resin composition of the present invention comprises at least (A) a binder polymer and (B) an ethylenically unsaturated group having an essential component a photopolymerizable compound having three or more ethylenically unsaturated groups in one molecule. A photopolymerizable compound having one or more in one molecule and (C) a photopolymerization initiator are contained.

(A)成分のバインダーポリマーとしては、例えば、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、エポキシ系樹脂、アミド系樹脂、アミドエポキシ系樹脂、アルキド系樹脂、フェノール系樹脂等の1種以上を用いることができる。アルカリ現像性の見地からは、アクリル系樹脂を用いることが好ましい。必要に応じて、バインダーポリマーは感光性基を有していてもよい。これらは単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。   As the binder polymer of component (A), for example, one or more of acrylic resins, styrene resins, epoxy resins, amide resins, amide epoxy resins, alkyd resins, phenol resins, and the like can be used. . From the standpoint of alkali developability, it is preferable to use an acrylic resin. If necessary, the binder polymer may have a photosensitive group. These are used alone or in combination of two or more.

この(A)成分は、例えば、重合性単量体をラジカル重合させることにより製造することができる。重合性単量体としては、例えば、スチレン、重合可能なスチレン誘導体、アクリルアミド、アクリロニトリル、ビニルアルコールのエステル類、(メタ)アクリル酸アルキルエステル、(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリルエステル、(メタ)アクリル酸ジメチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸ジエチルアミノエチルエステル、(メタ)アクリル酸グリシジルエステル、2,2,2−トリフルオロエチル(メタ)アクリレート、2,2,3,3−テトラフルオロプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸、α−ブロモ(メタ)アクリル酸、α−クロル(メタ)アクリル酸、β−フリル(メタ)アクリル酸、β−スチリル(メタ)アクリル酸、マレイン酸、マレイン酸無水物、マレイン酸モノエステル、フマル酸、ケイ皮酸、α−シアノケイ皮酸、イタコン酸、クロトン酸、プロピオール酸などが挙げられる。これらは単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。   This component (A) can be produced, for example, by radical polymerization of a polymerizable monomer. Examples of the polymerizable monomer include styrene, polymerizable styrene derivatives, acrylamide, acrylonitrile, esters of vinyl alcohol, (meth) acrylic acid alkyl ester, (meth) acrylic acid tetrahydrofurfuryl ester, (meth) acrylic. Acid dimethylaminoethyl ester, (meth) acrylic acid diethylaminoethyl ester, (meth) acrylic acid glycidyl ester, 2,2,2-trifluoroethyl (meth) acrylate, 2,2,3,3-tetrafluoropropyl (meta) ) Acrylate, (meth) acrylic acid, α-bromo (meth) acrylic acid, α-chloro (meth) acrylic acid, β-furyl (meth) acrylic acid, β-styryl (meth) acrylic acid, maleic acid, maleic acid Anhydride, maleic acid monoester, fumaric acid, Lee cinnamic acid, alpha-cyanocinnamic acid, itaconic acid, crotonic acid, propiolic acid. These are used alone or in combination of two or more.

上記重合可能なスチレン誘導体としては、ビニルトルエン、α−メチルスチレン、p−メチルスチレン、p−エチルスチレン等を用いることができる。上記ビニルアルコールのエステル類としては、ビニル−n−ブチルエーテル等を用いることができる。上記(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸ペンチル、(メタ)アクリル酸ヘキシル、(メタ)アクリル酸ヘプチル、(メタ)アクリル酸オクチル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、及びこれらの構造異性体等が挙げられる。上記マレイン酸モノエステルとしては、マレイン酸モノメチル、マレイン酸モノエチル、マレイン酸モノイソプロピル等が挙げられる。これらはいずれも単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。   As the polymerizable styrene derivative, vinyl toluene, α-methyl styrene, p-methyl styrene, p-ethyl styrene, or the like can be used. As the esters of vinyl alcohol, vinyl-n-butyl ether or the like can be used. Examples of the (meth) acrylic acid alkyl ester include, for example, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, (meth ) Hexyl acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, and structural isomers thereof. Examples of the maleic acid monoester include monomethyl maleate, monoethyl maleate, monoisopropyl maleate and the like. Any of these may be used alone or in combinations of two or more.

上記(A)成分は、剥離特性、環境保全性等の見地から、アルカリ水溶液に可溶又は膨潤可能であることが望ましいので、カルボキシル基を含有していることが好ましい。そのようなバインダーポリマーは、例えば、カルボキシル基を有する重合性単量体とその他の重合性単量体をラジカル重合させることにより製造することができる。上記カルボキシル基を有する重合性単量体としては、メタクリル酸が好ましい。また、バインダーポリマーの酸価は、現像時間があまり長くならないよう100mgKOH/g以上であることが好ましく、光硬化した感光性樹脂組成物の耐現像液性の観点から500mgKOH/g以下であることが好ましく、100〜300mgKOH/gであることが特に好ましい。   The component (A) preferably contains a carboxyl group because it is desirable that the component (A) is soluble or swellable in an alkaline aqueous solution from the viewpoints of peeling properties and environmental conservation. Such a binder polymer can be produced, for example, by radical polymerization of a polymerizable monomer having a carboxyl group and another polymerizable monomer. As the polymerizable monomer having a carboxyl group, methacrylic acid is preferable. The acid value of the binder polymer is preferably 100 mgKOH / g or more so that the development time does not become too long, and from the viewpoint of developer resistance of the photocured photosensitive resin composition, it should be 500 mgKOH / g or less. Preferably, it is 100-300 mgKOH / g.

上記(A)成分は、密着性及び剥離特性の見地から、スチレン及び/又はスチレン誘導体を重合性単量体として含有していることが好ましい。スチレン及び/又はスチレン誘導体を共重合成分として含有し、密着性及び剥離特性を共に良好にするには、共重合体中のスチレン及び/又はスチレン誘導体の割合は、密着性の観点から3重量%以上であることが好ましく、剥離片の大きさと剥離時間の観点から30重量%以下であることが好ましく、4〜28重量%含むことがより好ましく、5〜27重量%含むことが特に好ましい。   The component (A) preferably contains styrene and / or a styrene derivative as a polymerizable monomer from the viewpoint of adhesion and release characteristics. In order to contain styrene and / or a styrene derivative as a copolymerization component and to improve both the adhesion and the release characteristics, the proportion of styrene and / or styrene derivative in the copolymer is 3% by weight from the viewpoint of adhesion. From the viewpoint of the size of the peeled piece and the peel time, it is preferably 30% by weight or less, more preferably 4 to 28% by weight, and particularly preferably 5 to 27% by weight.

上記(A)成分の重量平均分子量(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定し、標準ポリスチレンを用いた検量線により換算)は、耐現像液性の観点から20,000以上であることが好ましく、現像時間があまり長くならないように300,000以下であることが好ましく、25,000〜150,000であることがより好ましい。   The weight average molecular weight of the component (A) (measured by gel permeation chromatography (GPC) and converted by a calibration curve using standard polystyrene) is preferably 20,000 or more from the viewpoint of developer resistance. The development time is preferably 300,000 or less, more preferably 25,000 to 150,000 so that the development time does not become too long.

これらのバインダーポリマーは、いずれも単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。2種類以上を組み合わせて使用する場合のバインダーポリマーとしては、例えば、異なる共重合成分からなる2種類以上のバインダーポリマー、異なる重量平均分子量の2種類以上のバインダーポリマー、異なる分散度の2種類以上のバインダーポリマーなどが挙げられる。また、特開平11−327137号公報記載のマルチモード分子量分布を有するポリマーを使用することもできる。   These binder polymers are all used alone or in combination of two or more. As a binder polymer in the case of using two or more types in combination, for example, two or more types of binder polymers comprising different copolymerization components, two or more types of binder polymers having different weight average molecular weights, and two or more types of binder polymers having different degrees of dispersion are used. Examples thereof include a binder polymer. A polymer having a multimode molecular weight distribution described in JP-A No. 11-327137 can also be used.

本発明における(B)成分の必須成分であるエチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物としては、特に制限はないが、(3)の構造を有する光重合性化合物が好ましい。一般式(3)中、Zは3価以上の有機基であれば特に制限はないが、例えば、炭素数3〜10の脂肪族炭化水素を含む基、ヘテロ原子を有する炭素数3〜10の脂肪族炭化水素を含む基、メラミン骨格を含む基、イソシアヌル酸骨格を含む基等が挙げられる。   Although there is no restriction | limiting in particular as a photopolymerizable compound which has 3 or more of ethylenically unsaturated groups in 1 molecule which is an essential component of (B) component in this invention, The photopolymerizable compound which has a structure of (3) Is preferred. In the general formula (3), Z is not particularly limited as long as it is a trivalent or higher valent organic group, but for example, a group containing an aliphatic hydrocarbon having 3 to 10 carbon atoms, or a group having 3 to 10 carbon atoms having a hetero atom. Examples include a group containing an aliphatic hydrocarbon, a group containing a melamine skeleton, and a group containing an isocyanuric acid skeleton.

これらのうち、イソシアヌル酸骨格を含む基が高解像度の観点から好ましい。Rは水素原子又はメチル基を示し、Rはエチレン基又はプロピレン基を示し、Rはエチレン基又はプロピレン基を示し、同一鎖上にあるRとRとは必ず異なる基である。一般式(3)中、lは3以上の整数であり、3〜10であることが好ましく、3〜6であることがより好ましく、3であることが特に好ましい。また、m及びnは繰り返し単位の個数を示し、m+n≧1を満足する0以上の整数であり、m+nが1〜20であることが好ましく、1〜10であることがより好ましく、1〜5であることが特に好ましい。 Among these, a group containing an isocyanuric acid skeleton is preferable from the viewpoint of high resolution. R 1 represents a hydrogen atom or a methyl group, R 2 represents an ethylene group or a propylene group, R 3 represents an ethylene group or a propylene group, and R 2 and R 3 on the same chain are necessarily different groups. . In the general formula (3), l is an integer of 3 or more, preferably 3 to 10, more preferably 3 to 6, and particularly preferably 3. M and n represent the number of repeating units, and are an integer of 0 or more that satisfies m + n ≧ 1, m + n is preferably 1 to 20, more preferably 1 to 10, and 1 to 5 It is particularly preferred that

また、−(R−O)−及び−(R−O)−の繰り返し単位がそれぞれ2以上の時、2つ以上のR及び2つ以上のRは、各々同一でも相違していてもよく、R及びRが2種以上のアルキレン基で構成される場合、2種以上の−(R−O)−及び−(R−O)−は、ランダムに存在してもよいし、ブロック的に存在してもよい。 In addition, when the number of repeating units of — (R 2 —O) — and — (R 3 —O) — is 2 or more, two or more R 2 and two or more R 3 are the same or different. In the case where R 2 and R 3 are composed of two or more alkylene groups, two or more of — (R 2 —O) — and — (R 3 —O) — are present at random. Or may exist in blocks.

Figure 2005221739
Figure 2005221739

一般式(3)の構造を含む光重合性化合物としては、例えば、トリメチロールプロパンポリエトキシトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンポリプロポキシトリ(メタ)アクリレート、グリセリルポリエトキシポリプロポキシトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンポリエトキシポリプロポキシトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールポリエトキシポリプロポキシトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールポリエトキシポリプロポキシテトラ(メタ)アクリレート、トリメチロールエタンポリエトキシポリプロポキシトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールポリエトキシポリプロポキシトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールポリエトキシポリプロポキシテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールポリエトキシポリプロポキシペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールポリエトキシポリプロポキシヘキサ(メタ)アクリレート、トリス((メタ)アクリロキシテトラエチレングリコールイソシアネート)ヘキサメチレンイソシアヌレート等が挙げられる。これらのうち、トリス(メタクリロイルオキシテトラエチレングリコールイソシアネートヘキサメチレン)イソシアヌレート(UA−21:新中村化学工業(株)製、製品名)が、高解像度の観点より好ましい。   Examples of the photopolymerizable compound having the structure of the general formula (3) include trimethylolpropane polyethoxytri (meth) acrylate, trimethylolpropane polypropoxytri (meth) acrylate, and glyceryl polyethoxypolypropoxytri (meth) acrylate. , Trimethylolpropane polyethoxypolypropoxytri (meth) acrylate, pentaerythritol polyethoxypolypropoxytri (meth) acrylate, pentaerythritol polyethoxypolypropoxytetra (meth) acrylate, trimethylolethane polyethoxypolypropoxytri (meth) acrylate , Dipentaerythritol polyethoxypolypropoxytri (meth) acrylate, dipentaerythritol polyethoxypolypropoxytetra (meth) Acrylate, dipentaerythritol polyethoxy propoxy penta (meth) acrylate, dipentaerythritol polyethoxy propoxy hexa (meth) acrylate, tris ((meth) acryloxy tetraethylene glycol isocyanate) hexamethylene isocyanurate. Of these, tris (methacryloyloxytetraethylene glycol isocyanate hexamethylene) isocyanurate (UA-21: manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name) is preferable from the viewpoint of high resolution.

一般式(3)の構造を含む光重合性化合物以外の、エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物としては、例えば、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタントリ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらのエチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物は、単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。   Examples of the photopolymerizable compound having three or more ethylenically unsaturated groups in one molecule other than the photopolymerizable compound having the structure of the general formula (3) include trimethylolpropane tri (meth) acrylate and tetramethylol. Examples include methanetri (meth) acrylate, tetramethylolmethanetetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, and dipentaerythritol hexa (meth) acrylate. These photopolymerizable compounds having three or more ethylenically unsaturated groups in one molecule are used alone or in combination of two or more.

また、本発明の感光性樹脂組成物は、エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物と、その他の分子内に少なくとも1つの重合可能なエチレン性不飽和基を有する光重合性化合物を組み合わせて使用することができる。エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物以外の、分子内に少なくとも1つの重合可能なエチレン性不飽和基を有する光重合性化合物としては、特に制限はないが、例えば、多価アルコールにα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物、ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物、グリシジル基含有化合物にα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物、分子内にウレタン結合を有する(メタ)アクリレート化合物等のウレタンモノマー、ノニルフェノキシポリエチレンオキシアクリレート、フタル酸系化合物、(メタ)アクリル酸アルキルエステル等が挙げられる。これらは単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。   The photosensitive resin composition of the present invention has a photopolymerizable compound having three or more ethylenically unsaturated groups in one molecule and at least one polymerizable ethylenically unsaturated group in the other molecule. A photopolymerizable compound can be used in combination. The photopolymerizable compound having at least one polymerizable ethylenically unsaturated group in the molecule other than the photopolymerizable compound having three or more ethylenically unsaturated groups in one molecule is not particularly limited, For example, it is obtained by reacting α, β-unsaturated carboxylic acid with a compound obtained by reacting α, β-unsaturated carboxylic acid with polyhydric alcohol, bisphenol A (meth) acrylate compound, or glycidyl group-containing compound. Compounds, urethane monomers such as (meth) acrylate compounds having a urethane bond in the molecule, nonylphenoxypolyethyleneoxyacrylate, phthalic acid compounds, (meth) acrylic acid alkyl esters, and the like. These are used alone or in combination of two or more.

耐めっき性、密着性の観点から、ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物又は分子内にウレタン結合を有する(メタ)アクリレート化合物を(B)成分に含有させることが好ましい。また、エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物と、分子内に1つの重合可能なエチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物及び分子内に2つ以上の重合可能なエチレン性不飽和結合を有する光重合性化合物とを組み合わせて使用することができる。   From the viewpoint of plating resistance and adhesion, it is preferable that the component (B) contains a bisphenol A (meth) acrylate compound or a (meth) acrylate compound having a urethane bond in the molecule. In addition, a photopolymerizable compound having three or more ethylenically unsaturated groups in one molecule, a photopolymerizable compound having one polymerizable ethylenically unsaturated bond in the molecule, and two or more polymerizations in the molecule. It can be used in combination with a photopolymerizable compound having a possible ethylenically unsaturated bond.

上記多価アルコールにα,β−不飽和カルボン酸を反応させて得られる化合物としては、例えば、エチレン基の数が2〜14であるポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレン基の数が2〜14であるポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、エチレン基の数が2〜14でありプロピレン基の数が2〜14であるポリエチレン・ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらは単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。   Examples of the compound obtained by reacting the polyhydric alcohol with an α, β-unsaturated carboxylic acid include, for example, polyethylene glycol di (meth) acrylate having 2 to 14 ethylene groups and 2 to 2 propylene groups. 14 polypropylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene / polypropylene glycol di (meth) acrylate having 2 to 14 ethylene groups and 2 to 14 propylene groups, trimethylolpropane di (meth) acrylate, etc. Is mentioned. These are used alone or in combination of two or more.

上記ビスフェノールA系(メタ)アクリレート化合物としては、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリプロポキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリブトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシポリプロポキシ)フェニル)プロパン等が挙げられる。上記2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパンとしては、例えば、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシジエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシトリエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシテトラエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシヘキサエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシヘプタエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシオクタエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシノナエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシウンデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシドデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシトリデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシテトラデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシペンタデカエトキシ)フェニル)プロパン、2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシヘキサデカエトキシ)フェニル)プロパン等が挙げられ、2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタエトキシ)フェニル)プロパンは、BPE−500(新中村化学工業(株)製、製品名)として商業的に入手可能であり、2,2−ビス(4−(メタクリロキシペンタデカエトキシ)フェニル)プロパンは、BPE−1300(新中村化学工業(株)製、製品名)として商業的に入手可能である。上記2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシポリエトキシ)フェニル)プロパン1分子内のエチレンオキサイド基の数は4〜20であることが好ましく、8〜15であることがより好ましい。これらは単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。   Examples of the bisphenol A-based (meth) acrylate compound include 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane and 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolypropoxy). Phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolybutoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxypolypropoxy) phenyl) propane and the like It is done. Examples of the 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane include 2,2-bis (4-((meth) acryloxydiethoxy) phenyl) propane, 2,2 -Bis (4-((meth) acryloxytriethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytetraethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meta ) Acryloxypentaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyhexaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyheptaethoxy) phenyl) Propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyoctaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxynonane) Xyl) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxydecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxyundecaethoxy) phenyl) propane, 2 , 2-bis (4-((meth) acryloxydodecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxytridecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4- ((Meth) acryloxytetradecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxypentadecaethoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (4-((meth) acryloxy) Hexadecaethoxy) phenyl) propane and the like, and 2,2-bis (4- (methacryloxypentaethoxy) phenyl) propane is BPE- 00 (made by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name) and 2,2-bis (4- (methacryloxypentadecaethoxy) phenyl) propane is BPE-1300 (Shin-Nakamura Chemical) It is commercially available as a product name manufactured by Kogyo Co., Ltd. The number of ethylene oxide groups in one molecule of the 2,2-bis (4-((meth) acryloxypolyethoxy) phenyl) propane is preferably 4-20, and more preferably 8-15. These are used alone or in combination of two or more.

上記分子内にウレタン結合を有する(メタ)アクリレート化合物としては、例えば、β位にOH基を有する(メタ)アクリルモノマーとジイソシアネート化合物(イソホロンジイソシアネート、2,6−トルエンジイソシアネート、2,4−トルエンジイソシアネート、1,6−ヘキサメチレンジイソシアネート等)との付加反応物、トリス((メタ)アクリロキシテトラエチレングリコールイソシアネート)ヘキサメチレンイソシアヌレート、EO変性ウレタンジ(メタ)アクリレート、EO,PO変性ウレタンジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。EO変性ウレタンジ(メタ)アクリレートとしては、例えば、UA−11(新中村化学工業(株)製、製品名)等が挙げられる。また、EO,PO変性ウレタンジ(メタ)アクリレートとしては、例えば、UA−13(新中村化学工業(株)製、製品名)等が挙げられる。これらは単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。上記において、EOはエチレンオキサイドを示し、EO変性された化合物はエチレンオキサイド基のブロック構造を有するものである。また、POはプロピレンオキサイドを示し、PO変性された化合物はプロピレンオキサイド基のブロック構造を有するものである。   Examples of the (meth) acrylate compound having a urethane bond in the molecule include a (meth) acryl monomer having an OH group at the β-position and a diisocyanate compound (isophorone diisocyanate, 2,6-toluene diisocyanate, 2,4-toluene diisocyanate). , 1,6-hexamethylene diisocyanate, etc.), tris ((meth) acryloxytetraethylene glycol isocyanate) hexamethylene isocyanurate, EO-modified urethane di (meth) acrylate, EO, PO-modified urethane di (meth) acrylate Etc. Examples of the EO-modified urethane di (meth) acrylate include UA-11 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). Examples of EO, PO-modified urethane di (meth) acrylate include UA-13 (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., product name). These are used alone or in combination of two or more. In the above, EO represents ethylene oxide, and the EO-modified compound has an ethylene oxide group block structure. PO represents propylene oxide, and the PO-modified compound has a block structure of propylene oxide groups.

上記ノニルフェノキシポリエチレンオキシアクリレートとしては、例えば、ノニルフェノキシテトラエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシペンタエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシヘキサエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシヘプタエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシオクタエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシノナエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシデカエチレンオキシアクリレート、ノニルフェノキシウンデカエチレンオキシアクリレート等が挙げられる。これらは単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。   Examples of the nonylphenoxypolyethyleneoxyacrylate include nonylphenoxytetraethyleneoxyacrylate, nonylphenoxypentaethyleneoxyacrylate, nonylphenoxyhexaethyleneoxyacrylate, nonylphenoxyheptaethyleneoxyacrylate, nonylphenoxyoctaethyleneoxyacrylate, nonylphenoxynonaethylene Examples include oxyacrylate, nonylphenoxydecaethyleneoxyacrylate, and nonylphenoxyundecaethyleneoxyacrylate. These are used alone or in combination of two or more.

上記フタル酸系化合物としては、例えば、γ−クロロ−β−ヒドロキシプロピル−β’−(メタ)アクリロイルオキシエチル−o−フタレート、β−ヒドロキシアルキル−β’−(メタ)アクリロルオキシアルキル−o−フタレート等が挙げられる。これらは単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。   Examples of the phthalic acid compounds include γ-chloro-β-hydroxypropyl-β ′-(meth) acryloyloxyethyl-o-phthalate, β-hydroxyalkyl-β ′-(meth) acryloloxyalkyl-o. -A phthalate etc. are mentioned. These are used alone or in combination of two or more.

なお、本発明における(メタ)アクリル酸とは、アクリル酸及びそれに対応するメタクリル酸を意味し、(メタ)アクリレートとは、アクリレート及びそれに対応するメタクリレートを意味し、(メタ)アクリロイル基とはアクリロイル基及びそれに対応するメタクリロイル基を意味する。
(C)成分の光重合開始剤としては、通常、複数の組み合わせで用いられる。前記(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物は、例えば、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(2,6−ジフルオロフェニル)−4,5−ジ(m−メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(p−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体、2,2’,5−トリス−(o−クロロフェニル)−4−(3,4−ジメトキシフェニル)−4’,5’−ジフェニルビイミダゾール、2,2’,4,4’−テトラ−(o−クロロフェニル)−5,5’−ビス−(3,4−ジメトキシフェニル)−ビイミダゾールなどが挙がられる。これらは、単独で、又は2種類以上を組み合わせて使用される。特に、耐めっき性、高感度化の観点から、2,2’,5−トリス−(o−クロロフェニル)−4−(3,4−ジメトキシフェニル)−4’,5’−ジフェニルビイミダゾールが好ましい。
In the present invention, (meth) acrylic acid means acrylic acid and methacrylic acid corresponding thereto, (meth) acrylate means acrylate and methacrylate corresponding thereto, and (meth) acryloyl group means acryloyl. Means a group and the corresponding methacryloyl group.
(C) As a photoinitiator of a component, it is normally used in multiple combinations. Examples of the (C1) hexaarylbisimidazole compound include 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (2,6-difluorophenyl) -4,5-di (m- Methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2 2,4,5-triarylimidazole dimers such as-(o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer 2,2 ′, 5-tris- (o-chlorophenyl) -4- (3,4-dimethoxyphenyl) -4 ′, 5′-diphenylbiimidazole, 2,2 ′ 4,4′-tetra- (o-chlorophenyl) -5,5′-bis- (3,4-dimethoxyphenyl) -biimidazole and the like. These are used alone or in combination of two or more. In particular, 2,2 ′, 5-tris- (o-chlorophenyl) -4- (3,4-dimethoxyphenyl) -4 ′, 5′-diphenylbiimidazole is preferable from the viewpoint of plating resistance and high sensitivity. .

前記(C2)水素供与体としては、例えば、2−メルカプトベンゾチアゾールなどの有機チオール、第3級アミン、N−フェニルグリシン誘導体等が挙げられるが、高感度化の観点から、N−フェニルグリシンが好ましい。   Examples of the (C2) hydrogen donor include organic thiols such as 2-mercaptobenzothiazole, tertiary amines, and N-phenylglycine derivatives. From the viewpoint of increasing sensitivity, N-phenylglycine is preferable. preferable.

また、本発明の感光性樹脂組成物には、前記(C1)成分、(C2)成分以外に(C3)成分の光重合開始剤を含有させることができる。それらの例としては、例えば、ベンゾフェノン、N,N’−テトラメチル−4,4’−ジアミノベンゾフェノン(ミヒラーケトン)、N,N’−テトラエチル−4,4’−ジアミノベンゾフェノン(以下、EABと略す)のN,N’−テトラアルキル−4,4’−ジンゾイン化合物、ベンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体、ヨードニウム塩化合物、4、4’−ビス(tert−ブチル)フェニルヨードニウムトリフレート等のジフェニルヨードニウム塩、9−フェニルアクリジン、1,7−ビス(9,9’−アクリジニル)ヘプタン等のアクリジン誘導体、7−アミノベンゾフェノン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルホリノフェニル)−ブタノン−1、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−プロパノン−1等の芳香族ケトン、アルキルアントラキノン等のキノン類、ベンゾインアルキルエーテル等のベンゾインエーテル化合物、ベンゾイン、アルキルベンゾイン等のベジエチルアミノ−4−メチルクマリン(以下、DAMCと略す)等のクマリン系化合物などが挙げられる。この中でも特に、高感度化の観点から前記(1)又は前記一般式(2)で示される化合物が好ましく、EAB又はDAMCであることが特に好ましい。これらは単独で又は2種類以上を組み合わせて使用される。(1)中、R、R、R及びRは、それぞれ独立に水素原子又は炭素数1〜20のアルキル基を示す。また、一般式(2)中、R、R、R、R及びRは、それぞれ独立に水素原子又は炭素数1〜20のアルキル基を示す。炭素数1〜20のアルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基等が挙げられる。 Moreover, the photopolymerization initiator of (C3) component other than the said (C1) component and (C2) component can be contained in the photosensitive resin composition of this invention. Examples thereof include, for example, benzophenone, N, N′-tetramethyl-4,4′-diaminobenzophenone (Michler ketone), N, N′-tetraethyl-4,4′-diaminobenzophenone (hereinafter abbreviated as EAB). N, N′-tetraalkyl-4,4′-ginzoin compounds, benzyl derivatives such as benzyldimethyl ketal, iodonium salt compounds, diphenyliodonium salts such as 4,4′-bis (tert-butyl) phenyliodonium triflate, Acridine derivatives such as 9-phenylacridine, 1,7-bis (9,9′-acridinyl) heptane, 7-aminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholine -Coumarins such as aromatic ketones such as propanone-1, quinones such as alkyl anthraquinones, benzoin ether compounds such as benzoin alkyl ether, bediethylamino-4-methylcoumarin (hereinafter abbreviated as DAMC) such as benzoin and alkylbenzoin Compound etc. are mentioned. Among these, from the viewpoint of increasing sensitivity, the compound represented by (1) or the general formula (2) is preferable, and EAB or DAMC is particularly preferable. These may be used alone or in combination of two or more. In (1), R 1 , R 2 , R 3 and R 4 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms. In general formula (2), R 1 , R 2 , R 3 , R 4 and R 5 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms. Examples of the alkyl group having 1 to 20 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, and an isobutyl group.

次に、各成分の好ましい配合量について説明する。(A)成分の配合量は、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対して、光硬化物の硬度(脆さ)と感光性エレメントとして用いた場合の塗膜性の観点から40重量部以上であることが好ましく、高感度化の観点から80重量部以下であることが好ましく、40〜60重量部であることがより好ましい。   Next, the preferable compounding quantity of each component is demonstrated. The blending amount of the component (A) is based on the hardness (brittleness) of the photocured product and the coating property when used as a photosensitive element with respect to 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B). To 40 parts by weight or more, preferably 80 parts by weight or less, more preferably 40 to 60 parts by weight from the viewpoint of increasing sensitivity.

(B)成分の配合量は、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対して、高感度化の観点から20重量部以上であることが好ましく、光硬化物の硬度(脆さ)の観点から60重量部以下であることが好ましく、40〜60重量部であることがより好ましい。   The blending amount of the component (B) is preferably 20 parts by weight or more from the viewpoint of high sensitivity with respect to 100 parts by weight of the total amount of the component (A) and the component (B), and the hardness (brittleness of the photocured product) From the viewpoint of (a), it is preferably 60 parts by weight or less, and more preferably 40 to 60 parts by weight.

(B)成分中のエチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物の配合割合は、(B)成分の総量に対して、テンティング性の観点から5重量%以上であることが好ましく、剥離性の観点から70重量%以下であることが好ましく、10〜50重量%であることが特に好ましい。   The blending ratio of the photopolymerizable compound having 3 or more ethylenically unsaturated groups in the component (B) per molecule is 5% by weight or more from the viewpoint of tenting properties with respect to the total amount of the component (B). It is preferable that it is 70% by weight or less from the viewpoint of peelability, and it is particularly preferably 10 to 50% by weight.

(C)成分の含有量は、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対し、高感度化の観点から0.1重量部以上であることが好ましく、光硬化度の観点から20重量部以下であることが好ましく、0.2〜10重量部であることが特に好ましい。この配合量が20重量部を超えると、露光の際に感光性組成物層表面での吸収が増大して内部の光硬化物が不十分となる傾向がある。   The content of the component (C) is preferably 0.1 parts by weight or more from the viewpoint of increasing sensitivity with respect to 100 parts by weight of the total amount of the components (A) and (B), and from the viewpoint of the photocuring degree It is preferably 20 parts by weight or less, particularly preferably 0.2 to 10 parts by weight. If this amount exceeds 20 parts by weight, absorption on the surface of the photosensitive composition layer increases during exposure, and the internal photocured product tends to be insufficient.

(C1)成分の含有量は、高感度化の観点から0.1重量部以上であることが好ましく、単色光露光において良好なフォトレジスト形状を得るために、4重量部以下であることが好ましく、1〜3重量部であることが特に好ましい。(C2)成分の含有量は、高感度化の観点から、0.05重量部以上であることが好ましく、良好な保存安定性を得る観点から1重量部以下であることが好ましく、0.1〜0.5重量部であることが特に好ましい。   The content of the component (C1) is preferably 0.1 parts by weight or more from the viewpoint of high sensitivity, and is preferably 4 parts by weight or less in order to obtain a favorable photoresist shape in monochromatic light exposure. 1 to 3 parts by weight is particularly preferable. The content of the component (C2) is preferably 0.05 parts by weight or more from the viewpoint of increasing sensitivity, and is preferably 1 part by weight or less from the viewpoint of obtaining good storage stability. -0.5 parts by weight are particularly preferred.

また、さらなる高感度化のために、前記したEAB又はDAMCを含有させることが好ましい。EAB又はDAMCの含有量は、高感度化の観点から、0.005重量部以上であることが好ましく、良好なフォトレジスト形状を得る観点から0.3重量部以下であることが好ましく、0.01〜0.12重量部であることが特に好ましい。   Moreover, it is preferable to contain EAB or DAMC as described above for further enhancement of sensitivity. The content of EAB or DAMC is preferably 0.005 parts by weight or more from the viewpoint of increasing sensitivity, and preferably 0.3 parts by weight or less from the viewpoint of obtaining a good photoresist shape. It is particularly preferable that the amount be 01 to 0.12 parts by weight.

以上の成分に加え、本発明の感光性樹脂組成物には、必要に応じて、染料、発色剤、グリシジルエーテル化合物等の熱発色防止剤、可塑剤、顔料、充填剤、消泡剤、難燃剤、安定剤、密着性付与剤、レベリング剤、剥離促進剤、酸化防止剤、香料、ロイコ染料などのイメージング剤などを(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対して各々0.01〜20重量部程度含有させることができる。   In addition to the above components, the photosensitive resin composition of the present invention includes, as necessary, thermal coloring inhibitors such as dyes, color formers and glycidyl ether compounds, plasticizers, pigments, fillers, antifoaming agents, Imaging agents such as flame retardants, stabilizers, adhesion-imparting agents, leveling agents, peeling accelerators, antioxidants, fragrances, leuco dyes, etc. are each 0 for 100 parts by weight of the total amount of component (A) and component (B). About 0.01 to 20 parts by weight can be contained.

本発明の感光性樹脂組成物は、必要に応じて、例えば、メタノール、エタノール、アセトン、メチルエチルケトン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ、トルエン、N,N−ジメチルホルムアミド、プロピレングリコールモノメチルエーテル等の溶剤又はこれらの混合溶剤に溶解して、固形分30〜60重量%程度の溶液として塗布することができる。この感光性樹脂組成物を、銅、銅系合金、鉄、鉄系合金等の金属面上に塗布して乾燥後、必要に応じて保護フィルムを被覆して用いるか、感光性エレメントの形態で用いられることが好ましい。   The photosensitive resin composition of the present invention is, for example, a solvent such as methanol, ethanol, acetone, methyl ethyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, toluene, N, N-dimethylformamide, propylene glycol monomethyl ether, or the like as necessary. It can melt | dissolve in a mixed solvent and can apply | coat as a solution of solid content about 30 to 60 weight%. This photosensitive resin composition is applied on a metal surface such as copper, copper-based alloy, iron, iron-based alloy and dried, and then used with a protective film as required, or in the form of a photosensitive element. It is preferable to be used.

本発明における感光性樹脂組成物層は、例えば、支持体上に、上記の成分を配合した感光性樹脂組成物の溶液を塗布し、乾燥させて形成する。形成された感光性樹脂組成物層は、露光波長における吸光度が0.2〜0.8であり、0.3〜0.6であることが好ましい。テンティング性は、この吸光度が0.8以下では良好だが、0.8を超えると感光性樹脂組成物層の底部の光硬化度が低くなり、テンティング性は低下する。また、0.2未満では、露光時に照射した光が過度に透過し、これにより現像後のラインの断面形状が台形状となる。前記吸光度は、例えばUV分光計により測定することができる。また、フォトレジスト中の表面及び底部での光重合率は、FT−IRのATR法等で測定することができる。   The photosensitive resin composition layer in the present invention is formed, for example, by applying a solution of the photosensitive resin composition containing the above components on a support and drying it. The formed photosensitive resin composition layer has an absorbance at an exposure wavelength of 0.2 to 0.8, preferably 0.3 to 0.6. The tenting property is good when the absorbance is 0.8 or less, but when it exceeds 0.8, the photocuring degree at the bottom of the photosensitive resin composition layer is lowered and the tenting property is lowered. If it is less than 0.2, the light irradiated at the time of exposure is excessively transmitted, whereby the cross-sectional shape of the line after development becomes trapezoidal. The absorbance can be measured by, for example, a UV spectrometer. The photopolymerization rate at the surface and bottom of the photoresist can be measured by the FT-IR ATR method or the like.

また、形成させた該感光性樹脂組成物層は、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。このアスペクト比が0.7以上では、解像度に優れるので、プリント配線板の高密度化に有用となる。アスペクト比が0.7未満では、解像度に劣るので、プリント配線板の高密度化が困難となる。   In addition, the formed photosensitive resin composition layer has an aspect ratio of 0.7 or more of a photoresist pattern generated by developing with a developer after being exposed to the monochromatic light. When the aspect ratio is 0.7 or more, the resolution is excellent, and thus it is useful for increasing the density of the printed wiring board. If the aspect ratio is less than 0.7, the resolution is inferior, and it is difficult to increase the density of the printed wiring board.

また、直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に、穴破れ率が10%以下である。この穴破れ率が10%以下では、フォトレジストと基板との接着性に優れるので、プリント配線板の歩留まり向上に有用となる。穴破れ率が10%を超えると、フォトレジストと基板との接着性に劣るので、現像時に全体あるいは部分的なフォトレジストのパターンが剥れる等の問題が生じる可能性があり、プリント配線板の歩留まりを低下させる原因となる。   Further, the photosensitive resin composition layer is formed on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm, and after exposure with an exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, the development is performed. When the process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less. When the hole breakage rate is 10% or less, the adhesive property between the photoresist and the substrate is excellent, which is useful for improving the yield of the printed wiring board. If the hole tear rate exceeds 10%, the adhesion between the photoresist and the substrate is inferior. Therefore, there is a possibility that the entire or partial photoresist pattern may be peeled off during development. It causes the yield to decrease.

次に、本発明に係る感光性エレメント、すなわち、上述した本発明に係る感光性樹脂組成物層が支持体上に形成されてなる感光性エレメントについて、図面を参照しながら説明する。   Next, the photosensitive element according to the present invention, that is, the photosensitive element in which the above-described photosensitive resin composition layer according to the present invention is formed on a support will be described with reference to the drawings.

図1は、感光性エレメントの一実施形態を模式的に示したものであり、感光性エレメント1は、支持体11と、その上に形成された感光性樹脂組成物層12とを含んでいる。   FIG. 1 schematically shows an embodiment of a photosensitive element. The photosensitive element 1 includes a support 11 and a photosensitive resin composition layer 12 formed thereon. .

支持体11としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリエステル等の耐熱性及び耐溶剤性を有する重合体フィルムを好ましく用いることができる。支持体となる重合体フィルムの厚みは、1〜100μmであることが好ましい。   As the support 11, for example, a polymer film having heat resistance and solvent resistance such as polyethylene terephthalate, polypropylene, polyethylene, and polyester can be preferably used. The thickness of the polymer film serving as a support is preferably 1 to 100 μm.

支持体11上への感光性樹脂組成物層12の形成方法は、特に限定されないが、例えば、感光性樹脂組成物の溶液を塗布、乾燥することにより好ましく得ることができる。塗布される感光性樹脂組成物層の厚みは、吸光度が0.2〜0.8になるように調整され、乾燥後の厚みで1〜100μm程度であることが好ましいが、テンティング性の観点から、20μm以上であることが好ましく、高感度化の観点から、50μm以下が好ましい。両者のバランスの観点から、25μm〜40μmが特に好ましい。塗布は、例えば、ロールコータ、コンマコータ、グラビアコータ、エアーナイフコータ、ダイコータ、バーコータ等の公知の方法で行うことができる。乾燥は、70〜150℃、5〜30分間程度で行うことができる。また、感光性樹脂組成物層12中の残存有機溶剤量は、後の工程での有機溶剤の拡散を防止する観点から、2重量%以下とすることが好ましい。   Although the formation method of the photosensitive resin composition layer 12 on the support body 11 is not specifically limited, For example, it can obtain preferably by apply | coating and drying the solution of the photosensitive resin composition. The thickness of the photosensitive resin composition layer to be applied is adjusted so that the absorbance is 0.2 to 0.8, and the thickness after drying is preferably about 1 to 100 μm. Therefore, it is preferably 20 μm or more, and preferably 50 μm or less from the viewpoint of increasing sensitivity. From the viewpoint of a balance between the two, 25 μm to 40 μm is particularly preferable. The coating can be performed by a known method such as a roll coater, a comma coater, a gravure coater, an air knife coater, a die coater, or a bar coater. Drying can be performed at 70 to 150 ° C. for about 5 to 30 minutes. In addition, the amount of the remaining organic solvent in the photosensitive resin composition layer 12 is preferably 2% by weight or less from the viewpoint of preventing diffusion of the organic solvent in the subsequent step.

感光性エレメント1の感光性樹脂組成物層表面は、ポリエチレン、ポリプロピレン等の重合体フィルムからなる保護フィルム(図示せず)で被覆することが好ましい。保護フィルムの厚みは、強度の観点から5μm以上であることが好ましく、廉価性の観点から30μm以下であることが好ましい。保護フィルムとしては、感光性樹脂組成物層と支持体との接着力よりも、感光性樹脂組成物層と保護フィルムとの接着力のほうが小さいものを選択することが好ましいが、同じ重合体フィルムの一つを支持体として、他の一つを保護フィルムとして、感光性樹脂組成物層の両面に積層するようにしてもよい。また、保護フィルムは低フィッシュアイのものを用いることが好ましい。   The surface of the photosensitive resin composition layer of the photosensitive element 1 is preferably covered with a protective film (not shown) made of a polymer film such as polyethylene or polypropylene. The thickness of the protective film is preferably 5 μm or more from the viewpoint of strength, and preferably 30 μm or less from the viewpoint of inexpensiveness. As the protective film, it is preferable to select one having a smaller adhesive force between the photosensitive resin composition layer and the protective film than the adhesive force between the photosensitive resin composition layer and the support, but the same polymer film One of the above may be used as a support and the other as a protective film may be laminated on both sides of the photosensitive resin composition layer. Moreover, it is preferable to use a protective film having a low fish eye.

これら支持体及び保護フィルムは、後に感光性樹脂組成物層から除去可能でなくてはならないため、除去が不可能となるような表面処理が施されたものであってはならないが、必要に応じて表面処理が施されていてもよい。例えば、これらの支持体、保護フィルムは、必要に応じて帯電防止処理が施されていてもよい。   Since these support and protective film must be removable later from the photosensitive resin composition layer, they should not be subjected to surface treatment that makes removal impossible, but if necessary And surface treatment may be performed. For example, these supports and protective films may be subjected to antistatic treatment as necessary.

支持体と感光性樹脂組成物層と、必要に応じて保護フィルムとからなる2層又は3層構造の感光性エレメントは、さらに、図には示されていないが、クッション層、接着層、光吸収層、ガスバリア層等の中間層や保護層を有していてもよい。   The photosensitive element having a two-layer or three-layer structure composed of a support, a photosensitive resin composition layer, and, if necessary, a protective film is not shown in the drawing, but is not shown in the figure. You may have intermediate | middle layers, such as an absorption layer and a gas barrier layer, and protective layers.

このようにして得られる感光性エレメントは、例えば、そのまま、又は感光性樹脂組成物層の表面に保護フィルムを積層して、円筒状の巻芯にロール状に巻き取って貯蔵される。その際、支持体が1番外側になるように巻き取られることが好ましい。巻き取られた感光性エレメントロールの端面には、端面保護の見地から端面セパレータを設置することが好ましく、耐エッジフュージョンの見地から防湿端面セパレータを設置することが好ましい。また、梱包方法として、透湿性のブラックシートに包んで包装することが好ましい。巻芯としては、例えば、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ABS樹脂(アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体)等のプラスチック等が挙げられる。   The photosensitive element thus obtained is stored, for example, as it is or by laminating a protective film on the surface of the photosensitive resin composition layer and winding it around a cylindrical core in a roll shape. In that case, it is preferable to wind up so that a support body may become the 1st outer side. An end face separator is preferably installed on the end face of the wound photosensitive element roll from the viewpoint of end face protection, and a moisture-proof end face separator is preferably installed from the viewpoint of edge fusion resistance. Further, as a packing method, it is preferable to wrap and package in a moisture-permeable black sheet. Examples of the core include plastics such as polyethylene resin, polypropylene resin, polystyrene resin, polyvinyl chloride resin, ABS resin (acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer).

次に、本発明に係るフォトレジストパターンの製造法について、その工程の一例を模式的に示した図2を参照しながら説明する。   Next, a method for producing a photoresist pattern according to the present invention will be described with reference to FIG. 2 schematically showing an example of the process.

まず、工程(i)として、上述した本発明の感光性樹脂組成物層を基板(回路形成用基板)2上に積層する。積層方法は任意であるが、例えば、図2(イ)に示すように、基板2上に、上述した感光性エレメント1を、感光性樹脂組成物層12が基板2の表面に密着するようにして積層する。積層に先立ち、感光性エレメント1の感光性樹脂組成物層12上に保護フィルム(図示せず)が存在している場合には、保護フィルムを除去する。この積層方法としては、例えば、感光性樹脂組成物層12を70〜130℃程度に加熱しながら、基板2に0.1〜1MPa程度(1〜10kgf/cm程度)の圧力で圧着することにより積層する方法が挙げられる。減圧下で積層することも可能である。なお、積層される基板2の表面は通常金属面であるが、特に制限はない。また、感光性樹脂組成物層を前記のように70〜130℃に加熱すれば、予め基板を予熱処理することは必要ではないが、積層性をさらに向上させるために、基板の予熱処理を行うこともできる。 First, as the step (i), the above-described photosensitive resin composition layer of the present invention is laminated on a substrate (circuit forming substrate) 2. Although the lamination method is arbitrary, for example, as shown in FIG. 2A, the photosensitive element 1 is placed on the substrate 2 so that the photosensitive resin composition layer 12 is in close contact with the surface of the substrate 2. And stack. Prior to lamination, when a protective film (not shown) is present on the photosensitive resin composition layer 12 of the photosensitive element 1, the protective film is removed. As this lamination method, for example, the photosensitive resin composition layer 12 is pressure-bonded to the substrate 2 at a pressure of about 0.1 to 1 MPa (about 1 to 10 kgf / cm 2 ) while being heated to about 70 to 130 ° C. The method of laminating is mentioned. It is also possible to laminate under reduced pressure. In addition, although the surface of the board | substrate 2 laminated | stacked is a metal surface normally, there is no restriction | limiting in particular. In addition, if the photosensitive resin composition layer is heated to 70 to 130 ° C. as described above, it is not necessary to pre-heat the substrate in advance, but the substrate is pre-heated in order to further improve the stackability. You can also

感光性樹脂組成物層の積層が完了した後、工程(ii)として、画像状に活性光線を照射して、露光部の前記感光性樹脂組成物層を光硬化させる。画像状に活性光線を照射させる方法として、例えば、図2(ロ)に示すように、アートワークと呼ばれるネガ型又はポジ型マスクパターン3を通して感光性樹脂組成物層12上に画像状に活性光線を照射し、露光部の感光性樹脂組成物層12を光硬化させることができる。活性光線の光源としては、公知の光源、例えば、カーボンアーク灯、水銀蒸気アーク灯、超高圧水銀灯、高圧水銀灯、キセノンランプ等の紫外線、可視光線などを有効に放射するものが用いられる。   After the lamination of the photosensitive resin composition layer is completed, as the step (ii), the photosensitive resin composition layer in the exposed portion is photocured by irradiating an actinic ray in an image form. As a method of irradiating actinic rays in an image form, for example, as shown in FIG. 2 (b), actinic rays are imaged on the photosensitive resin composition layer 12 through a negative or positive mask pattern 3 called an artwork. The photosensitive resin composition layer 12 in the exposed area can be photocured. As the active light source, a known light source, for example, a carbon arc lamp, a mercury vapor arc lamp, an ultra-high pressure mercury lamp, a high-pressure mercury lamp, a xenon lamp, or the like that effectively emits ultraviolet rays, visible rays, or the like is used.

また、マスクパターンを用いずにレーザ直接描画やDLP(Digital Light Processing)露光を行うこともできる。本発明では、単色光を光源とする活性光線を用いた露光方式において特に有効である。ここで、単色光とは、Arイオンレーザ、固体レーザ、半導体レーザなどのレーザ光あるいは水銀灯のランプなどの全波長あるいは複数の発振波長からなる光源から干渉フィルターなどによって特定の波長の光のみを取り出したものを意味する。単色光の波長領域としては、340nm〜410nmが一般的である。なお、工程(ii)の露光は、感光性樹脂組成物層12への光照射が妨げられない限り(支持体が透明である場合等)、支持体11が存在した状態で行うことができる。   Further, laser direct drawing or DLP (Digital Light Processing) exposure can be performed without using a mask pattern. The present invention is particularly effective in an exposure method using actinic rays using monochromatic light as a light source. Here, the monochromatic light means that only light having a specific wavelength is extracted from a light source having a full wavelength or a plurality of oscillation wavelengths such as an Ar ion laser, a solid state laser, a semiconductor laser, or a lamp of a mercury lamp by an interference filter. Means something. The wavelength region of monochromatic light is generally 340 nm to 410 nm. In addition, the exposure of process (ii) can be performed in the state in which the support body 11 existed, unless the light irradiation to the photosensitive resin composition layer 12 was prevented (when the support body is transparent etc.).

露光後、感光性樹脂組成物層上に支持体が存在している場合には、支持体を除去した後、工程(iii)として、未露光部の感光性樹脂組成物層を現像により選択的に除去することにより、図2(ハ)に示すようにフォトレジストパターン121が形成される。現像は、例えば、ウエット現像、ドライ現像等で行われる。ウエット現像の場合は、例えば、アルカリ性水溶液、水系現像液、有機溶剤等の感光性樹脂組成物層の組成に対応した現像液を用いて、例えば、ディップ方式、スプレー方式、ブラッシング、スラッピング等の公知の方法により行われる。必要に応じて2種以上の現像方法を併用してもよい。   After exposure, when a support is present on the photosensitive resin composition layer, after removing the support, as a step (iii), the photosensitive resin composition layer in the unexposed area is selectively developed by development. As a result, the photoresist pattern 121 is formed as shown in FIG. Development is performed by, for example, wet development, dry development, or the like. In the case of wet development, for example, using a developer corresponding to the composition of the photosensitive resin composition layer such as an alkaline aqueous solution, aqueous developer, organic solvent, etc., for example, dip method, spray method, brushing, slapping, etc. This is performed by a known method. If necessary, two or more developing methods may be used in combination.

上記アルカリ性水溶液としては、例えば、0.1〜5重量%炭酸ナトリウムの希薄溶液、0.1〜5重量%炭酸カリウムの希薄溶液、0.1〜5重量%水酸化ナトリウムの希薄溶液等が挙げられる。上記アルカリ性水溶液のpHは9〜11の範囲とすることが好ましく、その温度は、感光性樹脂組成物層の現像性に合わせて調節される。また、アルカリ性水溶液中には、表面活性剤、消泡剤、有機溶剤等を混入させてもよい。   Examples of the alkaline aqueous solution include a dilute solution of 0.1 to 5 wt% sodium carbonate, a dilute solution of 0.1 to 5 wt% potassium carbonate, a dilute solution of 0.1 to 5 wt% sodium hydroxide, and the like. It is done. The pH of the alkaline aqueous solution is preferably in the range of 9 to 11, and the temperature is adjusted according to the developability of the photosensitive resin composition layer. Further, a surfactant, an antifoaming agent, an organic solvent, or the like may be mixed in the alkaline aqueous solution.

現像時間は、基板に感光性樹脂組成物層を積層し、露光をしない状態で、また、感光性樹脂組成物層上に支持体が存在している場合には、支持体を除去した後、前記の方法で現像した場合に、感光性樹脂組成物層を除去できる最少の時間を最少現像時間とし、最少現像時間の2倍の時間を通常の現像時間とする。しかし、必ずしも2倍である必要は無く、材料、プロセスの違いなどに応じて、1〜6倍の範囲で現像できる。現像後の処理として、必要に応じて60〜250℃の加熱又は0.2〜10J/cm程度の露光を行うことにより、形成されたフォトレジストパターンをさらに硬化するようにしてもよい。 The development time is a state in which the photosensitive resin composition layer is laminated on the substrate and is not exposed, and when the support is present on the photosensitive resin composition layer, after removing the support, When developing by the above method, the minimum development time is the minimum time for removing the photosensitive resin composition layer, and the normal development time is twice the minimum development time. However, it does not necessarily have to be doubled, and development can be performed in a range of 1 to 6 times depending on differences in materials and processes. As a treatment after development, the formed photoresist pattern may be further cured by performing heating at 60 to 250 ° C. or exposure at about 0.2 to 10 J / cm 2 as necessary.

次に、本発明に係るプリント配線板の製造法について、その工程の一例を模式的に示した図3及び図4を参照しながら説明する。   Next, a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described with reference to FIGS. 3 and 4 schematically showing an example of the process.

フォトレジストパターンを形成するまでの工程は、(i)積層工程、(ii)露光工程、及び(iii)現像工程を含む上述のフォトレジストパターン製造法において説明したものと同様である。その後の回路形成工程(iv)に関し、図3にはエッチングを用いたサブストラクティブ法を示し、図4にはめっきを用いたセミアディティブ法を示す。   The steps until the photoresist pattern is formed are the same as those described in the above-described photoresist pattern manufacturing method including the (i) stacking step, (ii) exposure step, and (iii) development step. Regarding the subsequent circuit formation step (iv), FIG. 3 shows a subtractive method using etching, and FIG. 4 shows a semi-additive method using plating.

フォトレジストパターン121が形成された後、工程(iv)として、図3(ロ)に示すように、形成されたフォトレジストパターン121をマスクとして、表面に被加工層21を有する基板(回路形成用基板)2の被加工層21をエッチングするか、又は、図4(ロ)に示すように、被加工層21上に選択的にめっきを施して、例えば、銅等からなるめっき層22を形成する。図3(ロ)における金属面からなる被加工層21のエッチングには、例えば、塩化第二銅溶液、塩化第二鉄溶液、アルカリエッチング溶液等を用いることができる。また、図4(ロ)におけるめっき法としては、例えば、銅めっき、はんだめっき、ニッケルめっき、金めっき等が挙げられる。   After the photoresist pattern 121 is formed, as a step (iv), as shown in FIG. 3B, a substrate (for circuit formation) having the layer 21 to be processed on the surface using the formed photoresist pattern 121 as a mask. Substrate) 2 to be processed 21 or, as shown in FIG. 4 (b), selective plating is performed on processed layer 21 to form, for example, a plating layer 22 made of copper or the like. To do. For example, a cupric chloride solution, a ferric chloride solution, an alkali etching solution, or the like can be used for etching the processing layer 21 formed of a metal surface in FIG. Moreover, as a plating method in FIG.4 (b), copper plating, solder plating, nickel plating, gold plating etc. are mentioned, for example.

最後に、図3(ハ)及び図4(ハ)に示すように、基板2上に残っているフォトレジストパターン121を、例えば、現像に用いたアルカリ性水溶液よりさらに強アルカリ性の水溶液で剥離して、回路211が形成されたプリント配線板4を得ることができる。また、セミアディティブ法の場合は、図4(ニ)に示すように、フォトレジストパターン121を剥離した後、例えばクイックエッチング法等により、その下の被加工層21も除去される。上記強アルカリ性の水溶液としては、例えば、1〜10重量%水酸化ナトリウム水溶液、1〜10重量%水酸化カリウム水溶液等が用いられる。剥離方式としては、例えば、浸漬方式、スプレー方式等が挙げられる。また、フォトレジストパターンが形成されたプリント配線板は、多層プリント配線板でもよいし、小径スルーホールを有していてもよい。   Finally, as shown in FIGS. 3 (c) and 4 (c), the photoresist pattern 121 remaining on the substrate 2 is peeled off with, for example, a stronger alkaline aqueous solution than the alkaline aqueous solution used for development. The printed wiring board 4 on which the circuit 211 is formed can be obtained. In the case of the semi-additive method, as shown in FIG. 4D, after the photoresist pattern 121 is peeled off, the layer 21 to be processed is also removed by, for example, a quick etching method. As said strong alkaline aqueous solution, 1-10 weight% sodium hydroxide aqueous solution, 1-10 weight% potassium hydroxide aqueous solution, etc. are used, for example. Examples of the peeling method include an immersion method and a spray method. The printed wiring board on which the photoresist pattern is formed may be a multilayer printed wiring board or may have a small diameter through hole.

以下に、実施例により本発明をさらに詳しく説明するが、本発明の技術思想を逸脱しない限り、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
(実施例1〜3及び比較例1〜3)
表1に示す各成分を同表に記載の重量比で混合・溶解させて、感光性樹脂組成物の溶液を得た。
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. However, the present invention is not limited to these examples without departing from the technical idea of the present invention.
(Examples 1-3 and Comparative Examples 1-3)
Each component shown in Table 1 was mixed and dissolved at a weight ratio shown in the same table to obtain a solution of a photosensitive resin composition.

Figure 2005221739
Figure 2005221739

次いで、得られた各感光性樹脂組成物溶液を、16μm厚のポリエチレンテレフタレートフィルム(帝人(株)製商品名GSタイプ)上に均一に塗布し、100℃の熱風対流式乾燥機で10分間乾燥して、感光性エレメントを得た。感光性樹脂組成物層の乾燥後の膜厚は、40μmであった。   Next, each obtained photosensitive resin composition solution was uniformly applied onto a 16 μm-thick polyethylene terephthalate film (trade name GS type, manufactured by Teijin Limited), and dried for 10 minutes with a 100 ° C. hot air convection dryer. Thus, a photosensitive element was obtained. The film thickness after drying of the photosensitive resin composition layer was 40 μm.

一方、銅箔(厚さ35μm)を両面に積層したガラスエポキシ材である銅張積層板(日立化成工業(株)製商品名MCL−E−67)の銅表面を#600相当のブラシを持つ研磨機(三啓(株)製)を用いて研磨し、水洗後、空気流で乾燥させた。次いで、銅張積層板を80℃に加温した後、上記で得られた感光性エレメントを、その感光性樹脂組成物層が銅表面上に密着するようにして、120℃で0.4MPaの圧力下で積層した。   On the other hand, the copper surface of a copper-clad laminate (trade name MCL-E-67 manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), which is a glass epoxy material in which copper foil (thickness 35 μm) is laminated on both sides, has a brush equivalent to # 600. Polishing was performed using a polishing machine (manufactured by Sankei Co., Ltd.), washed with water, and then dried with an air stream. Next, after heating the copper clad laminate to 80 ° C., the photosensitive element obtained above was 0.4 MPa at 120 ° C. so that the photosensitive resin composition layer was in close contact with the copper surface. Laminate under pressure.

感光性エレメントが積層された銅張積層板を冷却し23℃になった時点で、ポリエチレンテレフタレート面に、濃度領域0.00〜2.00、濃度ステップ0.05、タブレットの大きさ20mm×187mm、各ステップの大きさが3mm×12mmである41段ステップタブレットを有するフォトツールを密着させ、波長355nmのUV固体レーザを光源としたレーザ露光機であるペンタックス株式会社製ダイレクトメージャーDI−2050を用いて露光した。次いで、ポリエチレンテレフタレートフィルムを除去し、30℃で1.0重量%炭酸ナトリウム水溶液を60秒間(最少現像時間30秒間の2倍)スプレーすることにより、未露光部分を除去した。なお、前記41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量を感度とした。   When the copper-clad laminate with the photosensitive elements laminated is cooled to 23 ° C., the polyethylene terephthalate surface has a concentration region of 0.00 to 2.00, a concentration step of 0.05, and a tablet size of 20 mm × 187 mm. Using a direct measure DI-2050 manufactured by Pentax Co., Ltd., which is a laser exposure machine using a UV solid-state laser with a wavelength of 355 nm as a light source, which is in close contact with a photo tool having a 41-step tablet with a size of 3 mm × 12 mm for each step. And exposed. Next, the polyethylene terephthalate film was removed, and an unexposed portion was removed by spraying a 1.0 wt% sodium carbonate aqueous solution at 30 ° C. for 60 seconds (twice the minimum development time of 30 seconds). The exposure amount at which the number of remaining step steps after development of the 41-step tablet was 20 was defined as sensitivity.

感光性樹脂組成物層の露光波長に対する吸光度は、UV分光計((株)日立製作所製U−3310分光光度計)を用いて、まず測定側に支持フィルム及び厚さ40μmに調製した感光性樹脂組成物層からなる感光性エレメントを置き、リファレンス側に支持フィルムを置き、吸光度モードにより550〜300nmまでを連続測定し、露光波長=355nmにおける吸光度の値を読みとることにより測定した。   The absorbance of the photosensitive resin composition layer with respect to the exposure wavelength was determined by using a UV spectrometer (U-3310 spectrophotometer manufactured by Hitachi, Ltd.), a photosensitive resin first prepared to have a support film and a thickness of 40 μm on the measurement side. The photosensitive element which consists of a composition layer was set | placed, the support film was set | placed on the reference side, 550-300 nm was continuously measured by the absorbance mode, and it measured by reading the value of the light absorbency in exposure wavelength = 355nm.

解像度は、ダイレクトメージャーDI−2050のテストパターンを使用し、ライン幅/スペース幅が30/30から100/100(単位:μm)のパターンで、上述した感度の露光量で露光し、現像処理によって未露光部をきれいに除去することができたライン幅間のスペース幅の最も小さい値により評価した。   The resolution is a test pattern of direct measure DI-2050, the line width / space width is 30/30 to 100/100 (unit: μm), and the exposure is performed with the above-mentioned sensitivity exposure amount. The evaluation was based on the smallest value of the space width between the line widths where the unexposed part could be removed cleanly.

アスペクト比とは、ライン幅/スペース幅が等しいパターンで、上述した感度の露光量で露光し、現像処理によって未露光部をきれいに除去することができたライン幅間のスペース幅の最も小さい値(aとする)と、フォトレジストの膜厚(bとする)との比(すなわちb/a)であり、この値が大きいほど、厚膜のフォトレジストでも高解像度のパターンが得られていることを示している。
また、得られたフォトレジストパターンラインの断面形状は、走査型電子顕微鏡((株)日立製作所製S−2100A)で確認することにより評価した。なお、感度及び解像度の評価は、共に、数値が小さいほど良好な値であり、フォトレジストパターンラインの断面形状が矩形状であるほど良好な形状である。
The aspect ratio is a pattern having the same line width / space width, and is exposed at the exposure amount having the sensitivity described above, and the smallest value of the space width between the line widths in which the unexposed portion can be removed cleanly by the development process ( a) and the film thickness of the photoresist (b) (ie, b / a). The larger this value, the higher the resolution of the thick photoresist. Is shown.
Moreover, the cross-sectional shape of the obtained photoresist pattern line was evaluated by confirming with a scanning electron microscope (S-2100A manufactured by Hitachi, Ltd.). The sensitivity and resolution are both evaluated better as the numerical value is smaller, and as the cross-sectional shape of the photoresist pattern line is rectangular, the shape is better.

テンティング性は、直径6mmの穴が24個空いている1.6mm厚の銅張積層板を使用した。前記銅張積層板は、銅箔(厚さ35μm)を両面に積層したガラスエポキシ材である銅張積層板(日立化成工業(株)製商品名MCL−E−67)に型抜き機で直径6mmの穴を24個作製し、穴を作製した際に生じたバリを#600相当のブラシを持つ研磨機(三啓(株)製)を使用し取り除き、これをテンティング評価用基板とした。前記テンティング評価基板の両面に実施例1〜3及び比較例1〜3の感光性エレメントをラミネートし、前記レーザ露光機にて露光量12mJ/cmで全面露光を行った。ポリエチレンテレフタレートフィルムを除去した後、60秒間(最少現像時間30秒間の2倍)の現像を3回行った。この際の、内径1.2mmのスプレーノズル(スプレーイングシステムジャパン(株)製、角型フルコーンタイプスプレーノズル)を、前記スプレーノズルのフォトレジストと最も近い点(スプレーノズルの先端)とフォトレジストとの距離が50mmとなるように設置した現像機を用い、フォトレジスト全面に十分当たるように1.0重量%炭酸ナトリウム水溶液をスプレー圧0.18MPaで噴射して行なった。なお、スプレーノズルは24個の穴に十分に1.0重量%炭酸ナトリウム水溶液が当たるように30mm間隔で6個並べて配置した。現像後、穴破れ数を目視で測定し、テント破れ率として評価し、これをテンティング性とした。テント破れ率は、低いほどテンティング性が高いことを示し、ゼロであることが望ましい。 For the tenting property, a 1.6 mm thick copper clad laminate having 24 holes with a diameter of 6 mm was used. The copper-clad laminate has a diameter of a copper-clad laminate (trade name MCL-E-67, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), which is a glass epoxy material in which copper foil (thickness 35 μm) is laminated on both sides with a die cutter. Twenty-four 6 mm holes were made, and burrs generated when the holes were made were removed using a polishing machine having a brush equivalent to # 600 (manufactured by Sankei Co., Ltd.), which was used as a tenting evaluation substrate. . The photosensitive elements of Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 3 were laminated on both surfaces of the tenting evaluation substrate, and the entire surface was exposed with an exposure amount of 12 mJ / cm 2 using the laser exposure machine. After removing the polyethylene terephthalate film, development for 60 seconds (twice the minimum development time of 30 seconds) was performed three times. At this time, a spray nozzle having an inner diameter of 1.2 mm (manufactured by Spraying System Japan Co., Ltd., square full cone type spray nozzle) is located at the point closest to the photoresist of the spray nozzle (tip of the spray nozzle) and the photoresist. Was used by spraying a 1.0 wt% sodium carbonate aqueous solution at a spray pressure of 0.18 MPa so as to sufficiently hit the entire surface of the photoresist. In addition, six spray nozzles were arranged side by side at intervals of 30 mm so that the 1.0 wt% sodium carbonate aqueous solution was sufficiently applied to the 24 holes. After development, the number of hole breaks was visually measured and evaluated as a tent tear rate, which was defined as tenting property. The lower the tent tear rate, the higher the tenting property, and it is desirable that the tent tear rate is zero.

各フィルムの吸光度とレーザ露光での感度、残ST段数及びテント破れ率を表2及び表3に示す。   Tables 2 and 3 show the absorbance of each film, the sensitivity in laser exposure, the number of remaining ST steps, and the tent tear rate.

Figure 2005221739
Figure 2005221739

Figure 2005221739
Figure 2005221739

表2及び表3より、実施例1〜3のフィルムは、アスペクト比が0.7以上でかつテンティング性が良いことが分かる。また、解像度も良好であり、フォトレジスト形状も理想的な矩形を示すことが分かる。また、いずれも吸光度が、0.2から0.8の範囲に入っている。これに対し、比較例1のフィルムのように吸光度が低すぎる場合、テンティング性には優れるが、アスペクト比が0.7未満で、また、感度が低くなると共にフォトレジスト形状が台形となり実用的ではないことが分かる。比較例2のフィルムのように吸光度が高すぎる場合、残ST段数が大きく表面硬化は良好であるが、テンティング性が悪く、アスペクト比も0.7未満である。さらに、フォトレジスト形状が逆台形となり実用的ではないことが分かる。また、比較例3より吸光度が0.2から0.8の範囲であっても、不飽和基を1分子中に3個以上有するエチレン性不飽和化合物を含まない場合、テンティング性が悪いことが分かる。
(重合率の測定)
フィルムの吸光度のテンティング性への影響を詳細に調べるため、比較例2のサンプルをラミネートせずにポリエチレンテレフタレートフィルムをつけたまま前記レーザ露光機でステップタブレット20段相当の露光量で露光した。次に、ポリエチレンテレフタレートフィルムを除去し、フィルムの感光性樹脂組成物層のみを取り出し、露光面の表面と裏面でATR法にてFT−IR((株)島津製作所製赤外顕微鏡AIM8000R)を測定した。メタクリレートの不飽和基に由来する1650cm−1近傍のピーク強度を、感光性樹脂組成物層の露光面の表面と裏面及び未露光フィルム感光性樹脂組成物層と比較した。結果を図5に示す。
From Table 2 and Table 3, it can be seen that the films of Examples 1 to 3 have an aspect ratio of 0.7 or more and good tenting properties. It can also be seen that the resolution is good and the photoresist shape also shows an ideal rectangle. In addition, the absorbance is in the range of 0.2 to 0.8. On the other hand, when the absorbance is too low as in the film of Comparative Example 1, the tenting property is excellent, but the aspect ratio is less than 0.7, and the sensitivity is lowered and the photoresist shape is trapezoidal, which is practical. I understand that it is not. When the absorbance is too high as in the film of Comparative Example 2, the number of remaining ST steps is large and surface hardening is good, but the tenting property is poor and the aspect ratio is less than 0.7. Furthermore, it turns out that a photoresist shape becomes an inverted trapezoid and is not practical. In addition, even if the absorbance is in the range of 0.2 to 0.8 as compared with Comparative Example 3, the tenting property is poor when an ethylenically unsaturated compound having 3 or more unsaturated groups in one molecule is not included. I understand.
(Measurement of polymerization rate)
In order to examine in detail the influence of the absorbance of the film on the tenting properties, the sample of Comparative Example 2 was exposed with the exposure amount equivalent to 20 steps of the step tablet with the laser exposure machine with the polyethylene terephthalate film attached without laminating. Next, the polyethylene terephthalate film is removed, only the photosensitive resin composition layer of the film is taken out, and the FT-IR (infrared microscope AIM8000R manufactured by Shimadzu Corporation) is measured by the ATR method on the front and back surfaces of the exposed surface. did. The peak intensity in the vicinity of 1650 cm −1 derived from the unsaturated group of methacrylate was compared with the exposed and exposed surfaces of the photosensitive resin composition layer and the unexposed film photosensitive resin composition layer. The results are shown in FIG.

図5より、露光面の表面では、1650cm−1近傍のピーク強度が未露光のピーク強度と比べて大きく減少している。これは、光重合性化合物が十分に硬化しているためと考えられる。しかし、露光面の裏面では、露光面の表面のピーク強度と比べて、未露光のピーク強度に対する減少率が小さい結果となった。この結果は、レーザ露光のような単色光を用いた露光では、露光面の表面と裏面で光硬化度に大きな差が生じているためと考えられる。このことからも、レーザ露光のような単色光露光用のフィルムにおいて、十分なテンティング性を得るためには、露光面の裏面でもしっかりと硬化させる必要があり、そのためにはフィルムの吸光度を低めに抑え、裏面まで十分に光を透過させて硬化を起こさせることが重要である。 From FIG. 5, on the surface of the exposed surface, the peak intensity near 1650 cm −1 is greatly reduced compared to the unexposed peak intensity. This is presumably because the photopolymerizable compound is sufficiently cured. However, on the back surface of the exposed surface, the decrease rate with respect to the unexposed peak intensity was smaller than the peak intensity of the exposed surface. This result is considered to be because in photoexposure using monochromatic light such as laser exposure, there is a large difference in the photocuring degree between the front surface and the back surface of the exposed surface. For this reason, in order to obtain sufficient tenting in a monochromatic light exposure film such as laser exposure, it is necessary to cure the back surface of the exposure surface firmly. To that end, the absorbance of the film must be lowered. It is important that the light is sufficiently transmitted to the back surface to cause curing.

本発明に係る感光性エレメントの一実施形態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one Embodiment of the photosensitive element which concerns on this invention. 本発明に係るフォトレジストパターンの製造法の一工程例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one process example of the manufacturing method of the photoresist pattern which concerns on this invention. 本発明に係るプリント配線板の製造法の一工程例(エッチングを用いたサブストラクティブ法)を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one process example (subtractive method using etching) of the manufacturing method of the printed wiring board which concerns on this invention. 本発明に係るプリント配線板の製造法の一工程例(めっきを用いたセミアディティブ法)を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows one process example (semi-additive method using plating) of the manufacturing method of the printed wiring board which concerns on this invention. ATR法によるFT−IRのチャートである。It is a chart of FT-IR by ATR method.

符号の説明Explanation of symbols

1…感光性エレメント、11…支持体、12…感光性樹脂組成物層、2…基板(回路形成用基板)、121…フォトレジストパターン、21…被加工層、211…回路、4…プリント配線板。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Photosensitive element, 11 ... Support body, 12 ... Photosensitive resin composition layer, 2 ... Board | substrate (circuit formation board | substrate), 121 ... Photoresist pattern, 21 ... Processed layer, 211 ... Circuit, 4 ... Printed wiring Board.

Claims (9)

(A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤として(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物及び(C2)水素供与体を同時に含む感光性樹脂組成物であって、以下の(a)〜(c)に示す特性を有する感光性樹脂組成物。
(a)上記感光性樹脂組成物を用いて塗工した感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.2〜0.8の吸光度を示す。
(b)基板上に形成させた該感光性樹脂組成物層を、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。
(c)直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に穴破れ率が10%以下である。
(A) Binder polymer, (B) Photopolymerizability having at least one ethylenically unsaturated group per molecule, comprising as an essential component a photopolymerizable compound having at least 3 ethylenically unsaturated groups per molecule. A photosensitive resin composition containing a compound and (C) a hexaarylbisimidazole compound and (C2) a hydrogen donor as (C) a photopolymerization initiator, the characteristics shown in the following (a) to (c) A photosensitive resin composition having:
(A) The photosensitive resin composition layer coated using the photosensitive resin composition exhibits an absorbance of 0.2 to 0.8 with respect to monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm.
(B) The photosensitive resin composition layer formed on the substrate is exposed to the monochromatic light and then developed with a developing solution, and the photoresist pattern has an aspect ratio of 0.7 or more.
(C) After forming the photosensitive resin composition layer on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm and exposing with a light exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, exposure is performed. When the development process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less.
感光性樹脂組成物を用いて塗工した感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.3〜0.6の吸光度を示す請求項1記載の感光性樹脂組成物。   The photosensitive resin according to claim 1, wherein the photosensitive resin composition layer coated with the photosensitive resin composition exhibits an absorbance of 0.3 to 0.6 for monochromatic light used for exposure in a range of 340 to 410 nm. Resin composition. (C3)として、(1)で示されるジアミノベンゾフェノン系化合物又は一般式(2)で示されるクマリン系化合物を含有することを特徴とする請求項1又は2記載の感光性樹脂組成物。
Figure 2005221739
Figure 2005221739
The photosensitive resin composition according to claim 1 or 2, comprising (C3) a diaminobenzophenone compound represented by (1) or a coumarin compound represented by formula (2).
Figure 2005221739
Figure 2005221739
前記(A)成分及び(B)成分の配合量が、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対し、(A)成分が40〜80重量部、(B)成分が20〜60重量部であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。   The blending amount of the component (A) and the component (B) is 40 to 80 parts by weight of the component (A) and 20 to 20 parts of the component (B) with respect to 100 parts by weight of the total amount of the component (A) and the component (B). It is 60 weight part, The photosensitive resin composition of any one of Claims 1-3 characterized by the above-mentioned. (C)の配合量が、(A)成分及び(B)成分の総量100重量部に対し、0.1〜20重量部であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の感光性樹脂組成物。   The blending amount of (C) is 0.1 to 20 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the total amount of component (A) and component (B). The photosensitive resin composition as described. (A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤として(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物及び(C2)水素供与体を含む感光性樹脂組成物を、支持体上に塗布及び乾燥してなる感光性エレメントであって、以下の(a)〜(c)に示す特性を有することを特徴とする感光性エレメント。
(a)上記感光性エレメントの感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.2〜0.8の吸光度を示す。
(b)上記感光性エレメントを用いて基板上に形成させた感光性樹脂組成物層を、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。
(c)直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に穴破れ率が10%以下である。
(A) Binder polymer, (B) Photopolymerizability having at least one ethylenically unsaturated group per molecule, comprising as an essential component a photopolymerizable compound having at least 3 ethylenically unsaturated groups per molecule. A photosensitive element formed by coating and drying a photosensitive resin composition containing a compound and (C) a hexaarylbisimidazole compound and (C2) a hydrogen donor as a photopolymerization initiator on a support. A photosensitive element having the following characteristics (a) to (c):
(A) The photosensitive resin composition layer of the photosensitive element exhibits an absorbance of 0.2 to 0.8 for monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm.
(B) The photosensitive resin composition layer formed on the substrate using the photosensitive element is exposed to the monochromatic light, and then developed with a developer, and the photoresist pattern has an aspect ratio of 0. 7 or more.
(C) After forming the photosensitive resin composition layer on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm and exposing with a light exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, exposure is performed. When the development process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less.
請求項6記載の感光性エレメントにおいて、感光性樹脂組成物層に接するように保護フィルムを積層してなる感光性エレメント。   The photosensitive element of Claim 6 formed by laminating | stacking a protective film so that the photosensitive resin composition layer may be contact | connected. (A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤として(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物及び(C2)水素供与体を含み、以下の(a)〜(c)に示す特性を有する感光性樹脂組成物を用いて、基板上への感光性樹脂組成物層の形成後、紫外線レーザによる走査露光、現像工程を経ることを特徴とするフォトレジストパターンの製造法。
(a)上記感光性樹脂組成物を用いて塗工した感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.2〜0.8の吸光度を示す。
(b)基板上に形成させた該感光性樹脂組成物層を、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。
(c)直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に穴破れ率が10%以下である。
(A) Binder polymer, (B) Photopolymerizability having at least one ethylenically unsaturated group per molecule, comprising as an essential component a photopolymerizable compound having at least 3 ethylenically unsaturated groups per molecule. The photosensitive resin composition having the characteristics shown in the following (a) to (c), including the compound and (C) a hexaarylbisimidazole compound and (C2) a hydrogen donor as a photopolymerization initiator (C) A method for producing a photoresist pattern, comprising forming a photosensitive resin composition layer on a substrate, followed by scanning exposure with an ultraviolet laser and a development step.
(A) The photosensitive resin composition layer coated using the photosensitive resin composition exhibits an absorbance of 0.2 to 0.8 with respect to monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm.
(B) The photosensitive resin composition layer formed on the substrate is exposed to the monochromatic light and then developed with a developing solution, and the photoresist pattern has an aspect ratio of 0.7 or more.
(C) After forming the photosensitive resin composition layer on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm and exposing with a light exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, exposure is performed. When the development process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less.
(A)バインダーポリマー、(B)エチレン性不飽和基を1分子中に3個以上有する光重合性化合物を必須成分とする、エチレン性不飽和基を1分子中に1個以上有する光重合性化合物並びに、(C)光重合開始剤として(C1)ヘキサアリールビスイミダゾール化合物及び(C2)水素供与体を含み、以下の(a)〜(c)に示す特性を有する感光性樹脂組成物を用いて、基板上への感光性樹脂組成物層の形成、紫外線レーザによる走査露光、現像工程を経てフォトレジストパターンを形成後、基板の被加工層を選択的にエッチングする又は前記基板の被加工層を選択的にめっきすることを特徴とするプリント配線板の製造法。
(a)上記感光性樹脂組成物を用いて塗工した感光性樹脂組成物層が、340〜410nmの範囲の露光に用いる単色光に対し、0.2〜0.8の吸光度を示す。
(b)基板上に形成させた該感光性樹脂組成物層を、該単色光により露光した後、現像液で現像して生成するフォトレジストのパターンのアスペクト比が0.7以上である。
(c)直径が6mmの穴を24個有する基板上に、該感光性樹脂組成物層を形成させ、41段ステップタブレットの現像後の残存ステップ段数が20段となる露光量で露光した後、現像工程を3回行った際に穴破れ率が10%以下である。
(A) Binder polymer, (B) Photopolymerizability having at least one ethylenically unsaturated group per molecule, comprising as an essential component a photopolymerizable compound having at least 3 ethylenically unsaturated groups per molecule. The photosensitive resin composition having the characteristics shown in the following (a) to (c), including the compound and (C) a hexaarylbisimidazole compound and (C2) a hydrogen donor as a photopolymerization initiator (C) Then, after forming a photosensitive resin composition layer on the substrate, scanning exposure with an ultraviolet laser, and forming a photoresist pattern through a development process, the layer to be processed on the substrate is selectively etched, or the layer to be processed on the substrate A method for producing a printed wiring board, characterized by selectively plating a substrate.
(A) The photosensitive resin composition layer coated using the photosensitive resin composition exhibits an absorbance of 0.2 to 0.8 with respect to monochromatic light used for exposure in the range of 340 to 410 nm.
(B) The photosensitive resin composition layer formed on the substrate is exposed to the monochromatic light and then developed with a developing solution, and the photoresist pattern has an aspect ratio of 0.7 or more.
(C) After forming the photosensitive resin composition layer on a substrate having 24 holes with a diameter of 6 mm and exposing with a light exposure amount of 20 steps after development of the 41-step tablet, exposure is performed. When the development process is performed three times, the hole breakage rate is 10% or less.
JP2004029261A 2004-02-05 2004-02-05 Photosensitive resin composition, photosensitive element obtained by using same, method for producing photoresist pattern and method for producing printed wiring board Pending JP2005221739A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004029261A JP2005221739A (en) 2004-02-05 2004-02-05 Photosensitive resin composition, photosensitive element obtained by using same, method for producing photoresist pattern and method for producing printed wiring board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004029261A JP2005221739A (en) 2004-02-05 2004-02-05 Photosensitive resin composition, photosensitive element obtained by using same, method for producing photoresist pattern and method for producing printed wiring board

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005221739A true JP2005221739A (en) 2005-08-18

Family

ID=34997422

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004029261A Pending JP2005221739A (en) 2004-02-05 2004-02-05 Photosensitive resin composition, photosensitive element obtained by using same, method for producing photoresist pattern and method for producing printed wiring board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005221739A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007189114A (en) * 2006-01-16 2007-07-26 Sumitomo Metal Mining Package Materials Co Ltd Semiconductor mounting substrate and method of manufacturing same
WO2007111336A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-04 Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd. Photocurable/thermosetting resin composition, cured product thereof and printed wiring board obtained by using same
EP1923741A3 (en) * 2006-11-15 2011-09-14 Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd. Photosensitive composition
JP2012008571A (en) * 2004-05-12 2012-01-12 Asahi Kasei E-Materials Corp Pattern forming material, pattern forming device, and pattern forming method
JP2012103703A (en) * 2005-09-06 2012-05-31 Taiyo Holdings Co Ltd Resin composition and cured product thereof, and printed wiring board obtained by using the same
JP2015152676A (en) * 2014-02-12 2015-08-24 日立化成株式会社 Material and method for forming viewing angle expansion pattern, and photosensitive element used therefor

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06148885A (en) * 1992-11-10 1994-05-27 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Photosensitive resin composition and ps board using that
JP2002023359A (en) * 2000-07-06 2002-01-23 Nichigo Morton Co Ltd Photosensitive resin composition and photosensitive element using the same
JP2002202597A (en) * 2000-12-28 2002-07-19 Showa Denko Kk Photosensitive resin composition and wiring substrate
JP2002236362A (en) * 2001-02-09 2002-08-23 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive resin composition and photosensitive element using the same
JP2002348310A (en) * 2001-05-29 2002-12-04 Fuji Photo Film Co Ltd Photopolymerizable composition

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06148885A (en) * 1992-11-10 1994-05-27 Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd Photosensitive resin composition and ps board using that
JP2002023359A (en) * 2000-07-06 2002-01-23 Nichigo Morton Co Ltd Photosensitive resin composition and photosensitive element using the same
JP2002202597A (en) * 2000-12-28 2002-07-19 Showa Denko Kk Photosensitive resin composition and wiring substrate
JP2002236362A (en) * 2001-02-09 2002-08-23 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive resin composition and photosensitive element using the same
JP2002348310A (en) * 2001-05-29 2002-12-04 Fuji Photo Film Co Ltd Photopolymerizable composition

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012008571A (en) * 2004-05-12 2012-01-12 Asahi Kasei E-Materials Corp Pattern forming material, pattern forming device, and pattern forming method
JP2012103703A (en) * 2005-09-06 2012-05-31 Taiyo Holdings Co Ltd Resin composition and cured product thereof, and printed wiring board obtained by using the same
JP2007189114A (en) * 2006-01-16 2007-07-26 Sumitomo Metal Mining Package Materials Co Ltd Semiconductor mounting substrate and method of manufacturing same
WO2007111336A1 (en) * 2006-03-29 2007-10-04 Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd. Photocurable/thermosetting resin composition, cured product thereof and printed wiring board obtained by using same
EP1923741A3 (en) * 2006-11-15 2011-09-14 Taiyo Ink Mfg. Co., Ltd. Photosensitive composition
JP2015152676A (en) * 2014-02-12 2015-08-24 日立化成株式会社 Material and method for forming viewing angle expansion pattern, and photosensitive element used therefor

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4586919B2 (en) Photosensitive element, resist pattern forming method, and printed wiring board manufacturing method
JP4985817B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, and method for forming resist pattern
JP4752656B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method using these, and printed wiring board manufacturing method
WO2010098183A1 (en) Photosensitive resin composition, and photosensitive element, resist pattern formation method and printed circuit board production method each utilizing same
WO2009145120A1 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, method of forming resist pattern and method of producing printed wiring board
WO2002027407A1 (en) Resist pattern, process for producing the same, and utilization thereof
WO2009154194A1 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element wherein same is used, method for forming a resist-pattern, and method for producing a printed wiring board
JP2009042720A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method and method for manufacturing printed circuit board
JP2009003000A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, resist pattern forming method, method for manufacturing printed wiring board and method for removing photocured product
JP5793924B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing resist pattern, and method for producing printed wiring board
JP4640177B2 (en) Photosensitive element, resist pattern forming method, and printed wiring board manufacturing method
JP5046019B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, resist pattern forming method, and printed wiring board manufacturing method
JP4924230B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, resist pattern forming method, and printed wiring board manufacturing method
JP4941182B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, resist pattern forming method, and printed wiring board manufacturing method
JP2005221739A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element obtained by using same, method for producing photoresist pattern and method for producing printed wiring board
JP2004287090A (en) Photosensitive resin composition layer, photosensitive element, and method for manufacturing resist pattern and method for manufacturing printed wiring board using the same
JP2004326084A (en) Photosensitive element, resist pattern forming method using the same and method for manufacturing printed wiring board
JP2003050459A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for producing resist pattern and method for producing printed wiring board
JP2007248590A (en) Photosensitive resin composition layer, photosensitive element using same, resist pattern forming method, and method for producing printed wiring board
JP2004317850A (en) Photosensitive resin composition, and photosensitive element, method for manufacturing resist pattern and method for manufacturing printed wiring board using the same
JP2007004138A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, method for forming resist pattern and method for producing printed wiring board
JP4569700B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element, resist pattern forming method and printed wiring board manufacturing method
JP4599974B2 (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, resist pattern forming method, and printed wiring board manufacturing method
JP2010060891A (en) Photosensitive resin composition, photosensitive element using the same, method for forming resist pattern and method for manufacturing printed wiring board
JP2006330168A (en) Photosensitive element, resist pattern forming method using the same and method for producing printed wiring board

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070105

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20070105

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090811

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100406