JP2005209507A - Dangerous substance detecting method - Google Patents

Dangerous substance detecting method Download PDF

Info

Publication number
JP2005209507A
JP2005209507A JP2004015539A JP2004015539A JP2005209507A JP 2005209507 A JP2005209507 A JP 2005209507A JP 2004015539 A JP2004015539 A JP 2004015539A JP 2004015539 A JP2004015539 A JP 2004015539A JP 2005209507 A JP2005209507 A JP 2005209507A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
time
gate
ions
detector
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004015539A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Hosaka
浩司 保坂
Katsunobu Takeda
勝信 竹田
Masahiro Kurihara
昌宏 栗原
Tatsuo Nojiri
辰夫 野尻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Information Technology Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Hybrid Network Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Hybrid Network Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2004015539A priority Critical patent/JP2005209507A/en
Publication of JP2005209507A publication Critical patent/JP2005209507A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dangerous substance detecting apparatus which can be easily used anywhere, by limiting the purpose of use so as to detect the presence of a particular determined dangerous substance. <P>SOLUTION: By analyzing an output change from the point when a gate is turned off in a short time after the ON-OFF gate controlling the passing/non-passing state of ions is turned on, the dangerous substance (explosive substance, chemical substance etc.) is determined. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は被検査物をイオン化し、その出力を分析して、被検査物に関する危険物(爆発物、化学物質等)の種類を特定することを目的とした危険物検知装置に関するものである。   The present invention relates to a dangerous substance detection apparatus for ionizing a test object and analyzing its output to identify the type of dangerous substance (explosive, chemical substance, etc.) related to the test object.

従来は、危険物の種類の特定(決定)と共に、その量まで分析するように構成されていた。いわゆる質量分析装置をそのまま危険物検知装置として使用していた。   Conventionally, it has been configured to analyze up to the amount together with identification (determination) of the type of dangerous goods. A so-called mass spectrometer was used as it is as a dangerous goods detection device.

例えば、特許文献1(特表2001−521268号公報)、特許文献2(特開2002−110082号公報)等に示すように、イオンの通過・不通過状態を制御するON−OFFゲートを有し、該ゲートを短時間ON−OFFし、その時から検出器の出力が観測されるまでの時間(ON−OFFゲートから少し離れた検出器までイオンが飛行して到達する時間)で危険物(爆発物、化学物質等)の種類と量とを判定するように構成されている。   For example, as shown in Patent Document 1 (Japanese Patent Publication No. 2001-521268), Patent Document 2 (Japanese Patent Laid-Open No. 2002-110082), etc., it has an ON-OFF gate that controls the passage / non-passage state of ions. When the gate is turned on and off for a short time, the time from when the detector output is observed (the time it takes for the ions to fly to reach the detector a little away from the ON-OFF gate) is dangerous (explosion) The type and amount of the substance, chemical substance, etc.) are determined.

特表2001−521268号公報JP 2001-521268 A

特開2002−110082号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2002-110082

本発明は、危険物(爆発物、化学物質等)を簡単に検知することが目的である。すなわち、安全を確保すると言う意味では、危険物を特定し、その量まで知る必要は必ずしもなく、特定の決められた危険物の有無を検知することで十分な場合も多い。本発明は特定の決められた危険物の有無を検知するに使用目的を限定し、どこでも簡単に使用できる危険物検知装置を提案するものである。   An object of the present invention is to easily detect dangerous substances (explosives, chemical substances, etc.). That is, in the sense of ensuring safety, it is not always necessary to identify a dangerous substance and know its amount, and it is often sufficient to detect the presence or absence of a specific dangerous substance. The present invention limits the purpose of use to detect the presence / absence of a specific predetermined dangerous substance, and proposes a dangerous substance detection apparatus that can be easily used anywhere.

本発明では、飛行時間質量分析(TOFMS(Time of Flight Mass Spectrometry))型危険物検知装置において、イオンの通過・不通過状態を制御するON−OFFゲートをONした短時間後に該ゲートをOFFした時点からの出力変化を分析し、危険物(爆発物、化学物質等)を判定する。   In the present invention, in a time-of-flight mass spectrometry (TOFMS (Time of Flight Mass Spectrometry)) type dangerous material detection apparatus, the gate is turned off a short time after the ON-OFF gate that controls the passage / non-passage state of ions is turned on. Analyze changes in output from the point in time to determine dangerous substances (explosives, chemical substances, etc.).

本発明によれば、イオンの通過・不通過状態を制御するON−OFFゲートをOFFした後の測定部の電圧変化により危険物を判定する。ゲートがONした後の測定部の電圧変化よりも出力変化は急激であり、より正確に危険物を検知することができる。   According to the present invention, a dangerous substance is determined based on a voltage change of a measurement unit after an ON-OFF gate that controls the passage / non-passage state of ions is turned off. The output change is more rapid than the voltage change of the measurement unit after the gate is turned on, and a dangerous substance can be detected more accurately.

本発明の実施例を図1を用いて説明する。   An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

図1は本発明による危険物検知装置の簡単な断面図を示す。図2は検出装置の出力波形を示す。   FIG. 1 shows a simple cross-sectional view of a dangerous goods detection apparatus according to the present invention. FIG. 2 shows the output waveform of the detector.

図1において、1はイオン化部であり、被検査物を導入してイオン化する。イオン化技術自体は古くから研究が成され、レーザを用いる方法、放射線を用いる方法、高圧放電を用いる方法等がある。本発明ではいずれの方法でも良いが、実施例ではコロナ放電によるイオン化を採用した例を説明する。15は危険物が含まれる可能性がある被検査物をガス化した形のガスの流れを示す。19はイオン発生部であり、イオン化部1に導入されたガスに高圧の電圧を印加し、コロナ放電を発生させ、イオン化する。17は排出ガスの流れを示す。   In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an ionization unit that introduces an object to be ionized. The ionization technique itself has been studied for a long time, and includes a method using a laser, a method using radiation, a method using high-pressure discharge, and the like. Although any method may be used in the present invention, an example in which ionization by corona discharge is adopted will be described in the examples. Reference numeral 15 denotes a gas flow in the form of gasifying an object to be inspected that may contain dangerous substances. Reference numeral 19 denotes an ion generator, which applies a high voltage to the gas introduced into the ionizer 1 to generate corona discharge and ionize it. Reference numeral 17 denotes the flow of exhaust gas.

2は分析部である。イオンの分析方法にも各種方法があるが、本発明は飛行時間質量分析(TOFMF(Time of Flight mass spectrometry))=イオンの大きさにより、飛行時間が異なることを利用し、イオン分析を行なう方式に関するものである。分析部2は、例えば、中空の円板状の電極20が複数枚配列された構成であり、イオン化部1に近い電極ほど高い電圧を印加し順次電圧を低くすれば、中空部分に電界が発生し、イオン化部1に生成されたイオンを効率良く導入することが出来る。18はイオンの分析部2に導入されるイオンの経路である。分析部2に導入されたイオンは、中空部分の電界に導かれて、検出器3に到達する。この分析部2を通過する時間(飛行時間)がイオンの大きさ(重さ)によって異なり、その種類を特定することができる。   Reference numeral 2 denotes an analysis unit. There are various ion analysis methods. In the present invention, time of flight mass spectrometry (TOFMF) is a method of performing ion analysis using the fact that the flight time varies depending on the size of ions. It is about. The analysis unit 2 has a configuration in which, for example, a plurality of hollow disk-shaped electrodes 20 are arranged. If an electrode closer to the ionization unit 1 is applied with a higher voltage and then the voltage is lowered gradually, an electric field is generated in the hollow portion. And the ion produced | generated by the ionization part 1 can be introduce | transduced efficiently. Reference numeral 18 denotes a path of ions introduced into the ion analyzer 2. The ions introduced into the analysis unit 2 are guided to the electric field in the hollow portion and reach the detector 3. The time (flight time) passing through the analysis unit 2 varies depending on the size (weight) of the ions, and the type can be specified.

3はイオン検出器である。イオン化部1から分析部2を通ってきたイオンを検出する。一般的には光電子増倍管や、ファラディカップが用いられる。4は検出器3の信号を増幅する増幅器、5はその波形を観察するオシロスコープである。これらを総括して、必要に応じてイオン検出部と称する。   3 is an ion detector. Ions that have passed from the ionization unit 1 through the analysis unit 2 are detected. Generally, a photomultiplier tube or a Faraday cup is used. 4 is an amplifier for amplifying the signal of the detector 3, and 5 is an oscilloscope for observing the waveform. These are collectively referred to as an ion detector as necessary.

分析部2がTOFMS方式であることから、イオンの飛行開始時点を制御することが必要である。6はイオンの通過・不通過状態を制御するON−OFFゲートである。ON−OFFゲート6(以下ゲート6と称する)のゲート電圧を制御し、イオンの通過・不通過を制御し、イオンの飛行開始時点を制御することにより、検出器3までイオンが到達する時間を測る。その動作については、後で述べる。   Since the analysis unit 2 is of the TOFMS system, it is necessary to control the flight start time of ions. 6 is an ON-OFF gate for controlling the passage / non-passage state of ions. By controlling the gate voltage of the ON-OFF gate 6 (hereinafter referred to as the gate 6), controlling the passage / non-passage of ions, and controlling the start time of ion flight, the time for ions to reach the detector 3 is increased. measure. The operation will be described later.

図2はイオン検出部オシロスコープ5の出力波形8の例である。7はゲート6の波形である。時刻t1でゲート6をONとしてイオンを通過開始させる。イオンの通過が許されるとイオンの大きさ(重さ)が小さいものから順次イオンが検出器3に到達するので、検出器3の出力波形8が順次増加する。t2は全イオンが検出器3に到達した時刻である。t4はゲート6が閉じられた時刻である。t5はゲート6が閉じられた後、検出器3の出力がなくなった時刻である。   FIG. 2 is an example of the output waveform 8 of the ion detector oscilloscope 5. Reference numeral 7 denotes a waveform of the gate 6. At time t1, the gate 6 is turned on to start passing ions. When the passage of ions is allowed, the ions sequentially reach the detector 3 in descending order of the size (weight) of the ions, so that the output waveform 8 of the detector 3 sequentially increases. t2 is the time when all the ions reach the detector 3. t4 is the time when the gate 6 is closed. t5 is the time when the output of the detector 3 disappears after the gate 6 is closed.

イオン検出部オシロスコープ5の出力波形8は、ゲート6が開いた瞬間(時刻t1)では、イオンが検出器3に到達していないので、出力は出ない。その後、順次検出器にイオンが到達し、時刻t2には全イオンが検出器3に到達する。ゲート6がONした時刻t1から時刻t2までの時間T1は全イオンが検出器3に到達するために必要な時間であり、これは、被検査物に含まれるイオンを示す時間ということになる。したがって、時間T1を測定することにより被検査物に危険物が含まれる場合、この時間の計測で危険物を特定できるのである。従来、この考え方で危険物を検出することが行われていた。しかし、ゲート6がONした時刻t1から時刻t2までの時間T1の測定は、イオン検出部オシロスコープ5の出力が時間経過と共にゆっくりと増加するため、出力飽和点がわかりにくく、実際の測定においては、時間T1は測定しにくいという欠点があった。   The output waveform 8 of the ion detector oscilloscope 5 is not output at the moment when the gate 6 is opened (time t1) because ions have not reached the detector 3. Thereafter, ions sequentially reach the detector, and all ions reach the detector 3 at time t2. A time T1 from the time t1 when the gate 6 is turned on to a time t2 is a time required for all ions to reach the detector 3, and this is a time indicating ions contained in the inspection object. Therefore, when the dangerous object is included in the inspection object by measuring the time T1, the dangerous object can be specified by measuring this time. Conventionally, a dangerous object has been detected based on this concept. However, in the measurement at time T1 from time t1 when the gate 6 is turned on to time t2, the output of the ion detector oscilloscope 5 increases slowly with time, so the output saturation point is difficult to understand. In actual measurement, There was a drawback that the time T1 was difficult to measure.

一方、ゲート6がOFFされた時刻t4から検出器3の出力がなくなる時刻t5までの時間T2は、イオン検出部オシロスコープ5の出力の飽和点から出力が0になる時間を測定すれば良く、更に変化が急峻であることから、時間の検出が比較的容易に出来る利点がある。   On the other hand, the time T2 from the time t4 when the gate 6 is turned off to the time t5 when the output of the detector 3 disappears may be measured by measuring the time when the output becomes 0 from the saturation point of the output of the ion detector oscilloscope 5. Since the change is steep, there is an advantage that time can be detected relatively easily.

図3はその動作を説明するための、イオンの模式図である。14はイオンの進行方向を示す。13Aは一番軽いイオン、13B,13C,13Dと順次(大きく)重くなる。   FIG. 3 is a schematic diagram of ions for explaining the operation. Reference numeral 14 denotes the traveling direction of ions. 13A becomes the lightest ions, 13B, 13C, and 13D, and becomes heavier in sequence.

図2で示したように、ゲート6を開いた瞬間は軽いイオンも重いイオンも一線にならんで居る。時間が経過し、イオンが検出器3の方へ進むにしたがって、軽いイオンは早く進み、重いイオンは遅れて進む。図1の分析部2では、ゲート6の位置で混在していた各種のイオンが、図3に示すように、時間の経過に応じて並んだ状態になると考えられる。したがって、図2の出力波形に示すように、ゲート6を開いてから、13A,B、C,Dが順次検出器3に到着するため、出力は順次上昇する。もちろん、その後、次々に生成されるイオンが検出器3に到着するため、ある時間が経過すると、13A,B、C,Dが混合して検出され、検出器の出力は一定になる。   As shown in FIG. 2, at the moment when the gate 6 is opened, both light ions and heavy ions are aligned. As time elapses and the ions travel toward the detector 3, light ions travel faster and heavy ions travel later. In the analysis unit 2 in FIG. 1, it is considered that various ions mixed at the position of the gate 6 are arranged as time passes as shown in FIG. 3. Therefore, as shown in the output waveform of FIG. 2, since the gates 6 are opened, 13A, B, C, and D sequentially arrive at the detector 3, so that the output sequentially increases. Of course, since subsequently generated ions arrive at the detector 3, after a certain period of time, 13A, B, C, and D are mixed and detected, and the output of the detector becomes constant.

ゲート6が閉じられると、検出器3に到達するイオンの終りの部分は13Dのような重いイオンのみとなるため、出力波形図2に示すように比較的急激に減衰することになる。   When the gate 6 is closed, the end portion of the ions that reach the detector 3 is only heavy ions such as 13D, and therefore attenuates relatively rapidly as shown in the output waveform diagram 2.

その状態を説明したものが、図4である。図4の(A)、(B)、(C)、(D)は図1の時刻t1、時刻t2、時刻t4、時刻t5における分析部2内のイオンの存在状態を模式的に示したものである。説明のため、最も大きなイオン13Dと最も小さなイオン13Aだけを表示してある。ゲート6が開く瞬間の時刻t1の状態は、図4(A)に示すように、ゲート直前に大きなイオンも小さなイオンもごちゃ混ぜに存在している。有る時間経過した時刻t2では、図4(B)に示すように、小さなイオンは先頭になっているが、順次大きなイオンが検出されるようになる。したがって、時間経過とともに検出器の出力電圧は上昇する。   FIG. 4 illustrates the state. (A), (B), (C), and (D) of FIG. 4 schematically show the existence state of ions in the analysis unit 2 at time t1, time t2, time t4, and time t5 in FIG. It is. For explanation, only the largest ion 13D and the smallest ion 13A are shown. As shown in FIG. 4A, the state at time t1 at the moment when the gate 6 is opened is a mixture of large and small ions just before the gate. At time t2 when a certain time has elapsed, as shown in FIG. 4B, small ions are at the head, but large ions are sequentially detected. Therefore, the output voltage of the detector increases with time.

ゲート6がOFFされた時刻t4になると、イオン化部1からのイオンの供給が断たれるので、その時点に分析部2内に存在していたイオンが分析部2内で検出器3の方に移動する結果、移動速度が遅い大きなイオンが最後になり、その後方にはイオンが存在しない。その状況を図4の(C)に示す。その結果、検出器3の出力は急速に低下して行くことになる。   At time t4 when the gate 6 is turned off, the supply of ions from the ionization unit 1 is cut off, so that ions existing in the analysis unit 2 at that time are moved toward the detector 3 in the analysis unit 2. As a result of the movement, a large ion having a low movement speed comes to the end, and no ion exists behind it. The situation is shown in FIG. As a result, the output of the detector 3 decreases rapidly.

ゲート6がOFFされ、一定時間が経過した時刻t5になると、ゲート6でイオン化部1からのイオンの供給が断たれたままであるため、分析部2にはイオンは存在せず、検出器3の出力も無い状態となる。   At time t5 when the gate 6 is turned off and a predetermined time has elapsed, the supply of ions from the ionization unit 1 remains cut off at the gate 6, so that no ions are present in the analysis unit 2, and the detector 3 There is no output.

本発明はゲート6がOFFされてから急激に検出器3の出力が減衰する現象に着目し、分析に用いるものである。   The present invention focuses on the phenomenon in which the output of the detector 3 abruptly attenuates after the gate 6 is turned off, and is used for analysis.

図5は上段にイオン化部1、ゲート6、分析部2、検出部の電極の配列例を示し、下段に各部の電極に対する電圧配分の例を示す図である。イオン化部1にはイオン発生部19が形成されていて、イオン化部1に導入されたガスにE19で示す高圧の電圧を印加し、コロナ放電を発生させ、イオン化する。このための電極の一方を便宜的に19Aで示し、この電極の電位をE19Aとした。E19とE19Aとの電位差は約3KVである。   FIG. 5 shows an example of the arrangement of the electrodes of the ionization unit 1, the gate 6, the analysis unit 2, and the detection unit in the upper stage, and shows an example of voltage distribution for the electrodes in each part in the lower stage. An ion generation unit 19 is formed in the ionization unit 1, and a high voltage indicated by E19 is applied to the gas introduced into the ionization unit 1 to generate corona discharge and ionize. One of the electrodes for this purpose is indicated by 19A for convenience, and the potential of this electrode is E19A. The potential difference between E19 and E19A is about 3 KV.

ゲート6は近接して配置された電極6−Aと電極6−Bの2枚で構成する。電極6−Aの電位E6−AをE19Aより低くすることにより、イオン化部1で生成されたイオンを分析部2に誘導することが出来る。一方、電極6−Aに近接して配置された電極6−Bの電位を電位E6−Aより高い電位E6−B−(a)あるいは電位E6−Aより低い電位E6−B−(b)に選択的に制御できるように構成する。電極6−Bに電位E6−Aより高い電位E6−B−(a)が与えられたときは、電極6−Aによって誘導されたイオンは電極6−Bの電位が高いために通過することが出来ない。すなわち、ゲート6はOFFとなる。一方、電極6−Bに電位E6−Aより低い電位E6−B−(b)が与えられたときは、電極6−Aによって誘導されたイオンは電極6−Bの電位が低いために、通過することが出来る。すなわち、ゲート6はONとなる。   The gate 6 is composed of two electrodes 6A and 6B which are arranged close to each other. By making the potential E6-A of the electrode 6-A lower than E19A, ions generated by the ionization unit 1 can be guided to the analysis unit 2. On the other hand, the potential of the electrode 6-B disposed close to the electrode 6-A is changed to the potential E6-B- (a) higher than the potential E6-A or the potential E6-B- (b) lower than the potential E6-A. It is configured so that it can be selectively controlled. When a potential E6-B- (a) higher than the potential E6-A is applied to the electrode 6-B, ions induced by the electrode 6-A may pass because the potential of the electrode 6-B is high. I can't. That is, the gate 6 is turned off. On the other hand, when a potential E6-B- (b) lower than the potential E6-A is applied to the electrode 6-B, ions induced by the electrode 6-A pass through because the potential of the electrode 6-B is low. I can do it. That is, the gate 6 is turned on.

分析部2には電極20(A−F)が均等に分離して配置されて、イオン化部1に近い方の電位を高く(例えば2.5KV)し、検出器3に近い方の電位を低く(例えば、0.5KV)設定し、この電位差を電極20(A−F)に均等に分配して構成される電界によってイオンを検出器3まで導く。検出器3の電位E3は、例えば、0Vとする。   Electrodes 20 (A-F) are equally separated in the analysis unit 2 to increase the potential closer to the ionization unit 1 (for example, 2.5 KV) and lower the potential closer to the detector 3. (For example, 0.5 KV) is set, and ions are guided to the detector 3 by an electric field configured by evenly distributing this potential difference to the electrodes 20 (A-F). The potential E3 of the detector 3 is 0 V, for example.

図6Aはゲート6の部分を拡大してそれぞれの電極に加える電位を詳細に示す図であり、図6Bはそのための電圧制御回路の例を示す図である。   FIG. 6A is a diagram showing in detail the potential applied to each electrode by enlarging the portion of the gate 6, and FIG. 6B is a diagram showing an example of a voltage control circuit for that purpose.

ゲート6は隣接した二つの電極6−Aと6−Bが並行に配置された構成である。電極6−Aの電位をE6−Aの一定電位に保ち、電極E6−Bの電位をE6−B−(a)と電位E6−B−(b)に制御してゲート6のON、OFFを制御する。電極E6−Bの電位をE6−B−(a)としたときは、イオンは通過できず、ゲート6はOFFとなる。一方、電極E6−Bの電位をE6−B−(b)としたときは、イオンは通過でき、ゲート6はONとなる。   The gate 6 has a configuration in which two adjacent electrodes 6-A and 6-B are arranged in parallel. The potential of the electrode 6-A is maintained at a constant potential of E6-A, the potential of the electrode E6-B is controlled to E6-B- (a) and the potential E6-B- (b), and the gate 6 is turned on / off. Control. When the potential of the electrode E6-B is E6-B- (a), ions cannot pass and the gate 6 is turned off. On the other hand, when the potential of the electrode E6-B is E6-B- (b), ions can pass and the gate 6 is turned on.

図6Bにおいて23は定電圧電源であり、その電位はE6−B−(a)とされる。抵抗R1、R2およびR3でこれを分圧して端子41に電位E6−Aを得て、これを電極6−Aに加える。また抵抗R4、R5およびR6の直列回路を定電圧電源23に接続し、抵抗R5およびR6の接続点に設けられた端子43に電位E6−B−(b)が得られるようにそれぞれの抵抗値を設定する。一方、抵抗R5およびR6を短絡可能なトランジスタ25を設けて、このトランジスタ25の駆動端子を、抵抗R7およびR8を介して接続されたトランジスタ24の直列回路の抵抗R7およびR8の接続点に接続する。   In FIG. 6B, reference numeral 23 denotes a constant voltage power supply whose potential is E6-B- (a). This is divided by resistors R1, R2 and R3 to obtain a potential E6-A at terminal 41, which is applied to electrode 6-A. The series circuit of the resistors R4, R5 and R6 is connected to the constant voltage power supply 23, and the respective resistance values are set so that the potential E6-B- (b) is obtained at the terminal 43 provided at the connection point of the resistors R5 and R6. Set. On the other hand, the transistor 25 capable of short-circuiting the resistors R5 and R6 is provided, and the drive terminal of the transistor 25 is connected to the connection point of the resistors R7 and R8 of the series circuit of the transistor 24 connected via the resistors R7 and R8. .

トランジスタ24の駆動端子にパルスを印加し、トランジスタ25を制御する。すなわち、トランジスタ24の駆動端子が高電位になって、トランジスタ24がオンになっているときは、トランジスタ25の駆動端子が低電位になって、トランジスタ25がオンになる。一方、トランジスタ24の駆動端子が低電位になって、トランジスタ24がオフになっているときは、トランジスタ25の駆動端子が高電位になって、トランジスタ25がオフになる。   A pulse is applied to the drive terminal of the transistor 24 to control the transistor 25. That is, when the drive terminal of the transistor 24 is at a high potential and the transistor 24 is on, the drive terminal of the transistor 25 is at a low potential and the transistor 25 is turned on. On the other hand, when the drive terminal of the transistor 24 is at a low potential and the transistor 24 is off, the drive terminal of the transistor 25 is at a high potential and the transistor 25 is turned off.

トランジスタ25がオンになると抵抗R5およびR6が短絡されるので、端子43に電位E6−B−(a)が得られる。トランジスタ25がオフになると抵抗R5およびR6の短絡が解除されるので、端子43に抵抗R4−R6で分圧された電位E6−B−(b)が得られる。すなわち、端子43には、トランジスタ24の駆動端子に加えられる電圧に応じてパルス的に変化する電位E6−B−(a)とE6−B−(b)を得て、ゲート6を制御できる。   Since the resistors R5 and R6 are short-circuited when the transistor 25 is turned on, the potential E6-B- (a) is obtained at the terminal 43. When the transistor 25 is turned off, the short circuit between the resistors R5 and R6 is released, so that the potential E6-B- (b) divided by the resistors R4-R6 is obtained at the terminal 43. That is, the terminal 6 can obtain the potentials E6-B- (a) and E6-B- (b) that change in a pulse manner according to the voltage applied to the drive terminal of the transistor 24 to control the gate 6.

図7は検出器3で得られた波形を処理し、表示するためのシステムの全体構成の一例を示す図である。分析部2には、図1で説明したように、検出器3、アンプ4(通常電流アンプが用いられる)、および、アンプ4の波形をそのまま観測するオシロスコープ5が接続される。26は時間測定装置であり、オシロスコープ5に得られる測定波形から、ゲート6がOFFされてから、オシロスコープ5の出力が0になるまでの時間を計測する。27は比較器で、時間測定装置26の信号とメモリ28の信号とを比較する。メモリ28には、予め測定しておいた危険物に関するデータが格納されている。29は表示部で、比較器27の出力を表示する。比較器27は、事前に計測されている危険物に関するデータと被検査物の計測結果とを比較し、被検査物の計測結果が事前に計測されている危険物に関するデータと関連するものであるときはその旨の信号を出力するから、表示部29には、これに対応した表示をする。30は図6Bで説明したゲート6の制御回路である。31は装置全体の動作をコントロールするコントローラである。   FIG. 7 is a diagram showing an example of the overall configuration of a system for processing and displaying the waveform obtained by the detector 3. As described in FIG. 1, the analysis unit 2 is connected to the detector 3, the amplifier 4 (a normal current amplifier is used), and the oscilloscope 5 that directly observes the waveform of the amplifier 4. Reference numeral 26 denotes a time measuring device, which measures the time from when the gate 6 is turned off until the output of the oscilloscope 5 becomes zero, from the measurement waveform obtained by the oscilloscope 5. Reference numeral 27 denotes a comparator that compares the signal of the time measuring device 26 with the signal of the memory 28. The memory 28 stores data relating to dangerous goods that have been measured in advance. A display unit 29 displays the output of the comparator 27. The comparator 27 compares the data related to the dangerous object that has been measured in advance with the measurement result of the inspection object, and relates to the data related to the dangerous object in which the measurement result of the inspection object has been measured in advance. Since a signal to that effect is output, the display unit 29 displays correspondingly. Reference numeral 30 denotes a control circuit for the gate 6 described with reference to FIG. 6B. A controller 31 controls the operation of the entire apparatus.

コントローラ31の指令により、ゲート6をON−OFF制御する。ゲート6をOFFしてから、オシロスコープ5の出力が0になるまでの時間を時間測定装置26ので読取る。たとえば、クロックを用い、ゲート6がOFFされた時刻t4からオシロスコープ5の出力が零となる時刻t5の時間のクロック数をカウントすることにより、デジタル的に処理する。その結果と、あらかじめ測定しておいたメモリ28のデータを比較器27で比較し、その結果を表示部29に表示する。本発明は、被検査物の成分の精密な分析を目的とするものでは無く、危険な物質の有無の検出、警告だけで良い。したがって、あらかじめ取得しておいた危険な物質に関するデータと被検査物の計測結果との類似性を得られればその目的を達成できる。すなわち、検知すべき対象物質を限定し、ゲート6をOFFした後の出力変化(出力が0になるまでの時間等)をあらかじめ検出装置に記憶させて、その結果と比較する事によって、実用に即した特定物質の検出が可能である。   The gate 6 is ON / OFF controlled by a command from the controller 31. The time measuring device 26 reads the time from when the gate 6 is turned off until the output of the oscilloscope 5 becomes zero. For example, digital processing is performed by counting the number of clocks from time t4 when the gate 6 is turned OFF to time t5 when the output of the oscilloscope 5 becomes zero. The result and the data of the memory 28 measured in advance are compared by the comparator 27, and the result is displayed on the display unit 29. The present invention is not intended for precise analysis of the components of the object to be inspected, and it is only necessary to detect and warn of the presence or absence of dangerous substances. Therefore, the object can be achieved if the similarity between the data on the dangerous substance acquired in advance and the measurement result of the inspection object can be obtained. That is, the target substance to be detected is limited, and the change in output after the gate 6 is turned off (the time until the output becomes 0, etc.) is stored in advance in the detection device, and compared with the result for practical use. It is possible to detect specific substances.

現実的には、一般の市民生活に脅威となる火薬や麻薬等の限られた物質を検知することで、本発明の目的は十分に達成できる。あらかじめ、実験によって、特定する危険物の特性を測定しておき、そのデータをコンピュータに記憶させておく。その結果と、測定結果を比較し、表示するように構成する。   Realistically, the object of the present invention can be sufficiently achieved by detecting limited substances such as explosives and narcotics that pose a threat to ordinary citizens' lives. The characteristics of the dangerous goods to be specified are measured in advance by experiments, and the data is stored in a computer. The result and the measurement result are compared and configured to be displayed.

図8は、本発明の実施例による計測結果の一例を示す図である。21は通常の空気を被検査物としたときの検出結果であり、22は線香花火の粉末を被検査物としたときの検出結果を示す。被検査物として線香花火の粉末を採用した理由は、法規制のない物質で実験するためである。   FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a measurement result according to the embodiment of the present invention. 21 is a detection result when normal air is used as an inspection object, and 22 indicates a detection result when a sparkler powder is used as an inspection object. The reason why the sparkler powder is used as the object to be inspected is to experiment with substances that are not regulated.

通常の空気の場合は、ゲート6をOFFした時刻t4から検出器3の出力が0になる時刻t6までの時間はT3に過ぎないのに対して、花火粉末の場合は時刻t4からt7まではT4まで時間がかかっている。この時間差で、被検査物が危険物であることが判別できる。実際にゲート6を開いている時間を100ms程度に設定すれば、T3は1ms程度、T4は5ms程度であり、明確な差が検出できる。   In the case of normal air, the time from the time t4 when the gate 6 is turned off to the time t6 when the output of the detector 3 becomes 0 is only T3, whereas in the case of fireworks powder, from time t4 to t7. It takes time to T4. With this time difference, it can be determined that the inspection object is a dangerous object. If the time during which the gate 6 is actually opened is set to about 100 ms, T3 is about 1 ms and T4 is about 5 ms, and a clear difference can be detected.

本発明による危険物検知装置の簡単な断面図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 図1の検出装置の出力波形を示す図。The figure which shows the output waveform of the detection apparatus of FIG. イオンの動きを示す模式図。The schematic diagram which shows the motion of ion. (A)、(B)、(C)、(D)は図1の時刻t1、時刻t2、時刻t4、時刻t5における分析部2内のイオンの存在状態を模式的に示した図。(A), (B), (C), (D) is the figure which showed typically the presence state of the ion in the analysis part 2 in the time t1, the time t2, the time t4, and the time t5 of FIG. 上段にイオン化部1、ゲート6、分析部2、検出部の電極の配列例を示し、下段に各部の電極に対する電圧配分の例を示す図。The figure which shows the example of arrangement | positioning of the electrode of the ionization part 1, the gate 6, the analysis part 2, and a detection part in the upper stage, and shows the example of the voltage distribution with respect to the electrode of each part in the lower stage. ゲート6の部分を拡大してそれぞれの電極に加える電位を詳細に示す図。The figure which expands the part of the gate 6 and shows the electric potential added to each electrode in detail. ゲート6の電圧制御回路の例を示す図。The figure which shows the example of the voltage control circuit of the gate 6. FIG. 検出器3で得られた波形を処理し、表示するためのシステムの全体構成の一例を示す図。The figure which shows an example of the whole structure of the system for processing and displaying the waveform obtained with the detector. 本発明の実施例による計測結果の一例を示す図。The figure which shows an example of the measurement result by the Example of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…イオン化部、2…分析部、3…イオン検出器、4…増幅器、5…オシロスコープ、6…ゲート、6A,6B…ゲート電極、8…イオン検出器の出力波形、13A,13B,13C,13D…イオン、14…イオンの進行方向、15…被検査物をガス化した形のガスの流れ、17…排出ガスの流れ、18…イオンの分析部2に導入されるイオンの経路、19…イオン発生部、20…電極、21,22…検出結果、23…定電圧電源、24,25…トランジスタ、26…時間測定装置、27…比較器、28…メモリ、29…表示部、30…ゲート6の制御回路、31…コントローラ、41,43…端子、t1,t2,t3,t4,t5,t6,t7…時刻、T1,T2,T3,T4…時間、R1,R2,R3,R4,R5,R6,R7,R8…抵抗。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Ionization part, 2 ... Analysis part, 3 ... Ion detector, 4 ... Amplifier, 5 ... Oscilloscope, 6 ... Gate, 6A, 6B ... Gate electrode, 8 ... Output waveform of ion detector, 13A, 13B, 13C, 13D ... Ions, 14 ... Direction direction of ions, 15 ... Gas flow in the form of gasifying the object to be inspected, 17 ... Flow of exhaust gas, 18 ... Path of ions introduced into the ion analyzer 2, 19 ... Ion generator, 20 ... electrode, 21,22 ... detection result, 23 ... constant voltage power supply, 24,25 ... transistor, 26 ... time measuring device, 27 ... comparator, 28 ... memory, 29 ... display, 30 ... gate 6 control circuit, 31 ... controller, 41,43 ... terminal, t1, t2, t3, t4, t5, t6, t7 ... time, T1, T2, T3, T4 ... time, R1, R2, R3, R4, R5 , R6, R7, R8 Resistance.

Claims (1)

被検査物をイオン化するイオン化部と、該イオン化部の出力するイオンを分析するイオン分析部、該イオン分析部の出力からイオンを検出する検出器を備えた飛行時間質量分析型危険物検知装置において、前記イオン化部と前記イオン分析部の間に設けられ、イオンの通過・不通過状態を制御するON−OFFゲートを有し、該ゲートがOFFされてから前記検出器の出力変化を検出し、分析することを特徴とする危険物検知装置。   In a time-of-flight mass spectrometry type dangerous material detection apparatus comprising an ionization unit that ionizes an object to be inspected, an ion analysis unit that analyzes ions output from the ionization unit, and a detector that detects ions from the output of the ion analysis unit , Provided between the ionization unit and the ion analysis unit, having an ON-OFF gate for controlling the passage / non-passage state of ions, detecting a change in the output of the detector after the gate is turned off, Dangerous goods detection device characterized by analyzing.
JP2004015539A 2004-01-23 2004-01-23 Dangerous substance detecting method Pending JP2005209507A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004015539A JP2005209507A (en) 2004-01-23 2004-01-23 Dangerous substance detecting method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004015539A JP2005209507A (en) 2004-01-23 2004-01-23 Dangerous substance detecting method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005209507A true JP2005209507A (en) 2005-08-04

Family

ID=34900976

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004015539A Pending JP2005209507A (en) 2004-01-23 2004-01-23 Dangerous substance detecting method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005209507A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9147565B1 (en) Ion mobility spectrometer and method of using the same
US10651024B2 (en) Apparatus for detecting constituents in a sample and method of using the same
US5153519A (en) High voltage spark excitation and ionization detector system
US8610057B2 (en) Ion selection apparatus and method
US8866073B2 (en) Ion trap mobility spectrometer and method of using the same
US20170365455A1 (en) Concentric apci surface ionization ion source, ion guide, and method of use
US11630080B2 (en) Synchronized ion modification
JP5738997B2 (en) Method and apparatus for gas detection and identification using an ion mobility spectrometer
US9443709B2 (en) Corona ionization device and method
JP2008508511A (en) Ion mobility spectrometer with corona discharge ionization element
RU2673792C2 (en) Dual polarity spark ion source
KR101274020B1 (en) Analytical apparatus
JP2007280655A (en) Mass spectrometer
JP6180828B2 (en) Mass spectrometer and control method of mass spectrometer
JP2005209507A (en) Dangerous substance detecting method
JP2009259465A (en) Ion filter, mass spectrometry system, and ion mobility spectrometer
US10026600B2 (en) Corona ionization apparatus and method
JP3279561B2 (en) High voltage spark excitation and ionization detection system
JP5581173B2 (en) Mass spectrometer
US10529549B2 (en) Method for analyzing optical isomers using circularly polarized light and ion mobility analyzer
Plompen Creeping sparks
CN115176150A (en) Method and apparatus for separating ions
JPH087831A (en) Multistage time of flight type mass spectrometry device
Langejürgen et al. Using Comsol 4.1 to Build a Transient Model of a Drift Tube Ion Mobility Spectrometer