JP2005189950A - Program storage method, device, and semiconductor device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、例えばディジタル複合装置やファクシミリ装置などの情報処理装置に用いるプリント配線基板である半導体装置のためのプログラムを格納する方法及び装置、並びにプログラムを格納する半導体装置に関する。 The present invention relates to a method and apparatus for storing a program for a semiconductor device which is a printed wiring board used in an information processing apparatus such as a digital composite apparatus and a facsimile apparatus, and a semiconductor apparatus for storing the program.
コピー、プリンタ及びスキャナー機能付きファクシミリ装置であるディジタル複合装置と、パーソナルコンピュータなどの複数のクライアント装置とがローカルエリアネットワーク(以下、LANという。)を介して接続してなるLANシステムが実用化されている。この従来技術のLANシステムにおいて、ディジタル複合装置内のイメージスキャナーは、原稿画像を読み取り画像データに変換した後、各クライアント装置に対応する画像メモリ内のメモリボックスに格納し、各クライアント装置からの転送指示要求信号に応答して画像メモリ内のメモリボックスから画像データを読み出して対応するクライアント装置に対してLANを介して転送を行う。 A LAN system in which a digital composite apparatus, which is a facsimile apparatus with a copy, printer, and scanner function, and a plurality of client apparatuses such as personal computers are connected via a local area network (hereinafter referred to as a LAN) has been put into practical use. Yes. In this prior art LAN system, an image scanner in a digital composite apparatus reads a document image, converts it into image data, stores it in a memory box in an image memory corresponding to each client apparatus, and transfers it from each client apparatus. In response to the instruction request signal, the image data is read from the memory box in the image memory and transferred to the corresponding client device via the LAN.
例えば、上述のディジタル複合装置においては、その動作を制御するためのCPUのコントローラやそれを動作させるためのメモリを含むプリント配線基板を備えており、これらプリント配線基板では、半導体記憶装置が設けられている。当該半導体記憶装置の記憶容量の増大に対してテストのための設備投資を抑えることができる半導体記憶装置が例えば特許文献1において開示されている。
For example, the above-mentioned digital composite apparatus includes a printed circuit board including a CPU controller for controlling the operation and a memory for operating the CPU, and a semiconductor memory device is provided in these printed circuit boards. ing. For example,
この従来技術に係る半導体記憶装置は自己テスト回路を内蔵しており、半導体基板上に形成されたメモリセルアレイを備える。自己テスト回路は、半導体基板上に設けられ、プログラムを記憶して記憶されたプログラムに従ってメモリセルアレイのテストを行い、テスト結果を出力する。また、コントローラは、半導体基板上に設けられ、上記テスト回路に記憶されるプログラムの内容を書き換える。 The semiconductor memory device according to this prior art has a built-in self test circuit and includes a memory cell array formed on a semiconductor substrate. The self test circuit is provided on the semiconductor substrate, stores a program, tests the memory cell array according to the stored program, and outputs a test result. The controller is provided on the semiconductor substrate and rewrites the contents of the program stored in the test circuit.
すなわち、従来技術では、例えば、CPU及びフラッシュメモリを搭載した基板テスト行程において、基板テスト用のプログラムを基板上のフラッシュメモリに格納し、基板テストが終わってから機器の本来のプログラムを焼き直し、もしくは、テストを含んだ製品プログラムをはじめからフラッシュメモリに格納している。 That is, in the prior art, for example, in a board test process in which a CPU and a flash memory are mounted, a board test program is stored in the flash memory on the board, and after the board test is finished, the original program of the device is re-fired, Alternatively, the product program including the test is stored in the flash memory from the beginning.
従って、プログラムを焼き直す手間がかかったり、製品プログラムが大きくなり、メモリ容量が不足する可能性があるという問題点があった。 Therefore, there is a problem that it may take time and effort to rewrite the program, or the product program may become large and the memory capacity may be insufficient.
本発明の目的は以上の問題点を解決し、メモリに記憶する容量を最小限することができ、メモリ容量が不足することを防止できる、半導体装置のためのプログラム格納方法及び装置並びに半導体装置を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a program storage method and apparatus for a semiconductor device, and a semiconductor device that can solve the above problems, minimize the capacity stored in the memory, and prevent the memory capacity from being insufficient. It is to provide.
第1の発明に係るプログラム格納方法は、非揮発性記憶手段を備えた半導体装置のためのプログラム格納方法であって、
上記半導体装置の製品プログラムを所定の圧縮方法で圧縮して上記非揮発性記憶手段に格納するとともに、上記半導体記憶装置のテスト用プログラムを上記非揮発性記憶手段に格納するステップと、
上記半導体装置のテストを実行して良好であると判断したとき、上記圧縮された製品プログラムを解凍して上記非揮発性記憶手段に格納するステップとを含むことを特徴とする。
A program storage method according to a first aspect of the present invention is a program storage method for a semiconductor device provided with non-volatile storage means,
A step of compressing the product program of the semiconductor device by a predetermined compression method and storing the compressed product program in the nonvolatile storage means, and storing the test program for the semiconductor storage device in the nonvolatile storage means;
A step of decompressing the compressed product program and storing it in the non-volatile storage means when the semiconductor device test is judged to be satisfactory.
第2の発明に係るプログラム格納装置は、非揮発性記憶手段を備えた半導体装置のためのプログラム格納装置であって、
上記半導体装置の製品プログラムを所定の圧縮方法で圧縮して上記非揮発性記憶手段に格納するとともに、上記半導体記憶装置のテスト用プログラムを上記非揮発性記憶手段に格納する第1の制御手段と、
上記半導体装置のテストを実行して良好であると判断したとき、上記圧縮された製品プログラムを解凍して上記非揮発性記憶手段に格納する第2の制御手段とを備えたことを特徴とする。
第3の発明に係る半導体装置は、非揮発性記憶手段を備えた半導体装置のためのプログラムを格納する半導体装置であって、
上記半導体装置の製品プログラムを所定の圧縮方法で圧縮して上記非揮発性記憶手段に格納するとともに、上記半導体記憶装置のテスト用プログラムを上記非揮発性記憶手段に格納する第1の制御手段を備えたことを特徴とする。
A program storage device according to a second invention is a program storage device for a semiconductor device provided with a non-volatile storage means,
A first control unit for compressing the product program of the semiconductor device by a predetermined compression method and storing the compressed product program in the nonvolatile storage unit, and storing the test program for the semiconductor storage device in the non-volatile storage unit; ,
And a second control unit that decompresses the compressed product program and stores it in the non-volatile storage unit when the semiconductor device test is judged to be good. .
A semiconductor device according to a third aspect of the present invention is a semiconductor device that stores a program for a semiconductor device having a non-volatile storage means.
A first control unit for compressing the product program of the semiconductor device by a predetermined compression method and storing the compressed product program in the nonvolatile storage unit, and storing the test program for the semiconductor storage device in the non-volatile storage unit; It is characterized by having.
上記半導体装置において、上記半導体装置のテストを実行して良好であると判断したとき、上記圧縮された製品プログラムを解凍して上記非揮発性記憶手段に格納する第2の制御手段をさらに備えたことを特徴とする。 The semiconductor device further comprises second control means for decompressing the compressed product program and storing it in the non-volatile storage means when it is determined that the test of the semiconductor device is satisfactory. It is characterized by that.
従って、本発明に係るプログラム格納方法及び装置並びに半導体装置によれば、記憶手段に記憶する容量を最小限することができ、記憶手段の容量が不足することを防止できる。 Therefore, according to the program storage method and apparatus and the semiconductor device according to the present invention, the capacity stored in the storage means can be minimized, and the capacity of the storage means can be prevented from being insufficient.
以下、本発明に係る実施形態について図面を参照して説明する。 Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described with reference to the drawings.
<実施形態>
図1は本発明に係る実施形態であり、例えばLAN70に接続され、コピー、プリンタ及びスキャナー機能付きのファクシミリ装置であるディジタル複合装置20の構成を示すブロック図である。
<Embodiment>
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a digital composite apparatus 20 which is an embodiment according to the present invention and is a facsimile apparatus having a copy, printer, and scanner function connected to a LAN 70, for example.
ディジタル複合装置20は、図1に示すように、非揮発性記憶手段であるフラッシュメモリ8を備えた半導体装置であるプリント配線基板30を備え、フラッシュメモリ8は以下の領域を有する。
(a)製品プログラムを格納する製品プログラム領域8a。
(b)テスト用プログラムを格納するテスト用プログラム領域8b。
ここで、ディジタル複合装置20の主制御部1は、当該ディジタル複合装置20のためのプリント配線基板30の製品プログラムを所定の圧縮方法で圧縮してフラッシュメモリ8の製品プログラム領域8aに格納するとともに、プリント配線基板30のテスト用プログラムをフラッシュメモリ8のテスト用プログラム領域8bに格納した後、プリント配線基板30のテストを実行して良好であると判断したとき、上記圧縮された製品プログラムを製品プログラム領域8aから解凍してフラッシュメモリ8の製品プログラム領域8aに格納することを特徴としている。
As shown in FIG. 1, the digital composite device 20 includes a printed wiring board 30 that is a semiconductor device including a
(A) Product program area 8a for storing product programs.
(B) A
Here, the
なお、プリント配線基板30は、図1に示すように、CPUである主制御部1と、ROM6と、RAM7と、フラッシュメモリ8と、ファックスモデム10と、NCU11と、LANインターフェース12とを含む。
As shown in FIG. 1, the printed wiring board 30 includes a
図1において、ディジタル複合装置20は、従来のG3方式等のファクシミリ通信機能に加えて、コピー、プリンタ、及びスキャナーの各機能を備えている。主制御部1は具体的にはCPUで構成されており、バス13を介して以下のハードウェア各部と接続されていてそれらを制御するほか、後述する種々のソフトウェアの機能を実行する。画像読取部2は、CCD等を利用したスキャナーで原稿を読み取り、白黒2値に変換したドット画像データを出力する。画像記録部3は例えば電子写真方式等のプリンタ装置であり、画像読取部2により走査されて変換された画像データや他のファクシミリ装置からファクシミリ通信により受信した画像データをハードコピーとしてプリントアウトして記録したり、文字データを記録する。
In FIG. 1, a digital multifunction apparatus 20 has functions of a copy, a printer, and a scanner in addition to a conventional facsimile communication function such as a G3 system. The
表示部4は、液晶表示装置(LCD)又はCRTディスプレイ等の表示装置であり、当該ディジタル複合装置20の動作状態を表示したり、送信すべき原稿の画像データ、及び受信した画像データの表示を行う。操作部5は、当該ディジタル複合装置20を操作するために必要な文字キー、ダイヤル用テンキー、短縮ダイヤルキー、ワンタッチダイヤルキー、及び各種のファンクションキー等を備える。なお、上述の表示部4をタッチパネル方式とすることにより、この操作部5の各種キーの内の一部又は全部を代用するように構成してもよい。 The display unit 4 is a display device such as a liquid crystal display device (LCD) or a CRT display, and displays the operation state of the digital composite device 20 and displays image data of a document to be transmitted and received image data. Do. The operation unit 5 includes character keys, dial keypads, speed dial keys, one-touch dial keys, various function keys, and the like necessary for operating the digital composite apparatus 20. In addition, you may comprise so that a part or all of the various keys of this operation part 5 may be substituted by making the above-mentioned display part 4 into a touch panel system.
ROM6は、当該ディジタル複合装置20の動作に必要であって主制御部1によって実行される種々のソフトウェアのプログラムを予め格納する。RAM7は、SRAM、DRAM、SDRAM等で構成され、主制御部1のワーキングエリアとして使用されてプログラムの実行時に発生する一時的なデータを記憶する。なお、RAM7としてフラッシュメモリを使用した場合には、停電、装置の移動等のために電源が遮断された場合にもそのデータの内容が失われない。
The ROM 6 stores various software programs that are necessary for the operation of the digital composite apparatus 20 and executed by the
フラッシュメモリ8は、上述のように、製品プログラム領域8aと、テスト用プログラム領域8bとを含むとともに、送信すべき画像データ又は受信した画像データ、もしくは走査されて変換された画像データを記憶する。ここで、フラッシュメモリ8は、LAN70に接続された複数のクライアントパーソナルコンピュータ又はそのユーザに対応した複数のメモリボックスに区分されたメモリボックス領域(図示せず。)を備える。各クライアントパーソナルコンピュータは対応するメモリボックスに、ファクシミリ機能により送受信される画像データ、もしくは、スキャナー機能又はコピー機能により走査されて変換された画像データ、プリンタ機能を用いるときの画像データを転送して一時的に格納し、当該メモリボックスから読み出すときは、転送指示要求信号を送信することにより対応するメモリボックスから読み出して転送させる。
As described above, the
ファックスモデム10は、公衆電話回線Lに接続され、通常のファクシミリ通信用のファックスモデムの機能を有するモデムである。NCU(ネットワーク制御回路:Network Control Unit)11はアナログの公衆電話回線Lの直流ループなどの閉結及び開放の動作を行いかつ自動ダイヤル機能を有するハードウェア回路であり、必要に応じてファックスモデム10を公衆電話回線Lに接続する。ここで、NCU11は、発信電話番号通知サービスにおけるID受信端末起動信号、通常の電話呼出信号の検出を行うとともに、必要に応じて発信電話番号通知サービスにおける1次応答信号及び2次応答信号を発信することができる。なお、NCU11を所定のターミナルアダプタ及びDSU(加入者線終端装置:Digital Service Unit)を介して、ベースバンド伝送方式のディジタル回線(例えば、ISDN回線)に接続するようにしてもよい。
The
さらに、LANインターフェース12は、LAN70に接続され、LAN70からの信号やデータを受信する一方、LAN70に対して信号やデータを送信して信号変換やプロトコル変換などのLAN通信に係るインターフェース処理を実行する。
Further, the
以上のように構成されたディジタル複合装置20のファクシミリ通信機能において、各クライアントパーソナルコンピュータ30−1乃至30−Nから転送されたドット画像データ、又は画像読取部2により読み取られたドット画像データはファクシミリ通信の規格で定められているMH,MR,MMR等の符号化方式に従ってソフトウェアにより符号化された後、相手先のファクシミリ装置に送信される一方、逆に相手先のファクシミリ装置から受信した符号化データもソフトウェアにより画像データに復号化された後、フラッシュメモリ8に格納され、必要に応じて画像記録部3でプリントされる。
In the facsimile communication function of the digital composite apparatus 20 configured as described above, the dot image data transferred from each client personal computer 30-1 to 30-N or the dot image data read by the
図2は図1のディジタル複合装置20の主制御部1によって実行されるプログラム格納処理を示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing a program storing process executed by the
図2において、まず、ステップS1において製品プログラムを例えばLZHの圧縮方法などの公知の圧縮方法を用いて圧縮してフラッシュメモリ8の製品プログラム領域8aに格納するとともに、当該プリント配線基板30をテストするためのテスト用プログラムをフラッシュメモリ8のテスト用プログラム領域8bに格納する。次いで、ステップS2において、プリント配線基板30のテストを実行し、ステップS3において、プリント配線基板30の基板テストの結果はOKか否かが判断され、YESのときはプリント配線基板30は良好と判断してステップS4に進む一方、NOのときは当該プリント配線基板30は不良と判断して当該プログラム格納処理を終了する。ステップS4において製品プログラムをフラッシュメモリ8の製品プログラム領域8aから解凍し、ステップS5において解凍した製品プログラムをフラッシュメモリ8の製品プログラム領域8aに格納し、当該プログラム格納処理を終了する。
In FIG. 2, first, in step S1, the product program is compressed using a known compression method such as an LZH compression method and stored in the product program area 8a of the
以上説明したように、本実施形態によれば、ディジタル複合装置20の主制御部1は、当該ディジタル複合装置20のためのプリント配線基板30の製品プログラムを所定の圧縮方法で圧縮してフラッシュメモリ8の製品プログラム領域8aに格納するとともに、プリント配線基板30のテスト用プログラムをフラッシュメモリ8のテスト用プログラム領域8bに格納した後、プリント配線基板30のテストを実行して良好であると判断したとき、上記圧縮された製品プログラムを製品プログラム領域8aから解凍してフラッシュメモリ8の製品プログラム領域8aに格納する。従って、メモリに記憶する容量を最小限することができ、メモリ容量が不足することを防止できる。
As described above, according to the present embodiment, the
<変形例>
以上の実施形態においては、ディジタル複合装置20の例について述べているが、本発明はこれに限らず、ファクシミリ機能を有するファクシミリ装置やファクシミリサーバ装置などに広く適用することができる。
<Modification>
In the above embodiment, an example of the digital composite apparatus 20 has been described. However, the present invention is not limited to this, and can be widely applied to a facsimile apparatus or a facsimile server apparatus having a facsimile function.
また、フラッシュメモリ8は、EEPROMやEPROMなど非揮発性記憶手段であってもよい。
The
1…主制御部、
2…画像読取部、
3…画像記録部、
4…表示部、
5…操作部、
6…ROM、
7…RAM、
8…画像メモリ、
8a…製品プログラム領域、
8b…テスト用プログラム領域、
10…ファックスモデム、
11…NCU、
12…LANインターフェース、
13…バス、
20…ディジタル複合装置、
30…プリント配線基板、
70…ローカルエリアネットワーク(LAN)、
L…公衆電話回線。
1 ... main control part,
2. Image reading unit,
3 ... image recording unit,
4 ... display part,
5 ... operation part,
6 ... ROM,
7 ... RAM,
8 ... Image memory,
8a ... Product program area,
8b ... test program area,
10. Fax modem,
11 ... NCU,
12 ... LAN interface,
13 ... Bus
20: Digital composite device,
30 ... printed circuit board,
70: Local area network (LAN),
L: Public telephone line.
Claims (4)
上記半導体装置の製品プログラムを所定の圧縮方法で圧縮して上記非揮発性記憶手段に格納するとともに、上記半導体記憶装置のテスト用プログラムを上記非揮発性記憶手段に格納するステップと、
上記半導体装置のテストを実行して良好であると判断したとき、上記圧縮された製品プログラムを解凍して上記非揮発性記憶手段に格納するステップとを含むことを特徴とするプログラム格納方法。 A method of storing a program for a semiconductor device having a non-volatile storage means,
A step of compressing the product program of the semiconductor device by a predetermined compression method and storing the compressed product program in the nonvolatile storage means, and storing the test program for the semiconductor storage device in the nonvolatile storage means;
And a step of decompressing the compressed product program and storing it in the non-volatile storage means when the semiconductor device test is judged to be good.
上記半導体装置の製品プログラムを所定の圧縮方法で圧縮して上記非揮発性記憶手段に格納するとともに、上記半導体記憶装置のテスト用プログラムを上記非揮発性記憶手段に格納する第1の制御手段と、
上記半導体装置のテストを実行して良好であると判断したとき、上記圧縮された製品プログラムを解凍して上記非揮発性記憶手段に格納する第2の制御手段とを備えたことを特徴とするプログラム格納装置。 A program storage device for a semiconductor device provided with non-volatile storage means,
A first control unit for compressing the product program of the semiconductor device by a predetermined compression method and storing the compressed product program in the nonvolatile storage unit, and storing the test program for the semiconductor storage device in the non-volatile storage unit; ,
And a second control unit that decompresses the compressed product program and stores it in the non-volatile storage unit when the semiconductor device test is judged to be good. Program storage device.
上記半導体装置の製品プログラムを所定の圧縮方法で圧縮して上記非揮発性記憶手段に格納するとともに、上記半導体記憶装置のテスト用プログラムを上記非揮発性記憶手段に格納する第1の制御手段を備えたことを特徴とする半導体装置。 A semiconductor device for storing a program for a semiconductor device provided with non-volatile storage means,
A first control unit that compresses the product program of the semiconductor device by a predetermined compression method and stores the program in the non-volatile storage unit, and stores the test program for the semiconductor storage device in the non-volatile storage unit; A semiconductor device comprising the semiconductor device.
The semiconductor device further comprises second control means for decompressing the compressed product program and storing it in the non-volatile storage means when the semiconductor device test is judged to be good. The semiconductor device according to claim 3.
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