JP2005166639A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2005166639A5
JP2005166639A5 JP2004299297A JP2004299297A JP2005166639A5 JP 2005166639 A5 JP2005166639 A5 JP 2005166639A5 JP 2004299297 A JP2004299297 A JP 2004299297A JP 2004299297 A JP2004299297 A JP 2004299297A JP 2005166639 A5 JP2005166639 A5 JP 2005166639A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass
ion
flight
fragment
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004299297A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2005166639A (en
JP4928724B2 (en
Filing date
Publication date
Priority claimed from GB0324054A external-priority patent/GB0324054D0/en
Priority claimed from GB0404186A external-priority patent/GB0404186D0/en
Priority claimed from GB0406601A external-priority patent/GB0406601D0/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2005166639A publication Critical patent/JP2005166639A/en
Publication of JP2005166639A5 publication Critical patent/JP2005166639A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4928724B2 publication Critical patent/JP4928724B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Claims (28)

質量分析の方法であって、
イオンミラーを含む飛行時間型質量分析器を準備すること；
前記イオンミラーを第１設定で保つこと；
前記イオンミラーが前記第１設定であるとき、第１の飛行時間または質量スペクトルデータを獲得すること；
前記イオンミラーを異なる第２設定で保つこと；
前記イオンミラーが前記第２設定であるとき、第２の飛行時間または質量スペクトルデータを獲得すること；
前記イオンミラーが前記第１設定であるとき、ある一定の質量または質量電荷比を有する第１のフラグメントイオンの第１の飛行時間を決定すること；
前記イオンミラーが前記第２設定であるとき、同一の前記ある一定の質量または質量電荷比を有する第１のフラグメントイオンの異なる第２の飛行時間を決定すること；
断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた親イオンの前記質量または質量電荷比のいずれか、および／または前記第１のフラグメントイオンの前記質量または質量電荷比のいずれかを、前記第１および第２の飛行時間から決定すること；および
親イオン質量スペクトルを獲得することを含む方法。 A method of mass spectrometry,
Providing a time-of-flight mass analyzer including an ion mirror;
Keeping the ion mirror at a first setting;
Acquiring a first time-of-flight or mass spectral data when the ion mirror is in the first setting;
Keeping the ion mirror at a different second setting;
Obtaining a second time of flight or mass spectral data when the ion mirror is in the second setting;
Determining a first time of flight of a first fragment ion having a certain mass or mass to charge ratio when the ion mirror is in the first setting;
Determining a different second time-of-flight of a first fragment ion having the same certain mass or mass to charge ratio when the ion mirror is in the second setting ;
Either the mass or mass-to-charge ratio of the parent ion that fragmented to yield the first fragment ion, and / or the mass or mass-to-charge ratio of the first fragment ion, the first and Determining from the second flight time ; and
Obtaining a parent ion mass spectrum . イオン源と、ドリフトまたは飛行空間とを、前記イオンミラーの上流に準備することを更に含む請求項１に記載の方法であって、前記イオンミラーが前記第１設定であるとき、第１電位差が、前記イオン源と前記ドリフトまたは飛行空間との間に保たれ、前記イオンミラーが前記第２設定であるとき、 第２電位差が、前記イオン源と前記ドリフトまたは飛行空間との間に保たれる方法。The method of claim 1, further comprising providing an ion source and a drift or flight space upstream of the ion mirror, wherein the first potential difference is when the ion mirror is at the first setting. , Maintained between the ion source and the drift or flight space, and when the ion mirror is in the second setting, a second potential difference is maintained between the ion source and the drift or flight space. Method. 請求項１または２に記載の方法であって、前記イオンミラーが前記第１設定であるとき、第１の電場強度または電場勾配が、前記イオンミラーの長さの少なくとも１０％、２０％、３０％、４０％、５０％、６０％、７０％、８０％、９０％、９５％または１００％に沿って保たれ、かつ、前記イオンミラーが前記第２設定であるとき、第２の電場強度または電場勾配が、前記イオンミラーの長さの少なくとも１０％、２０％、３０％、４０％、５０％、６０％、７０％、８０％、９０％、９５％または１００％に沿って保たれている方法。3. The method according to claim 1 or 2, wherein when the ion mirror is at the first setting, the first electric field strength or electric field gradient is at least 10%, 20%, 30 of the length of the ion mirror. %, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% and when the ion mirror is in the second setting, a second electric field strength Or the electric field gradient is kept along at least 10%, 20%, 30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80%, 90%, 95% or 100% of the length of the ion mirror Way. 請求項１〜３のいずれかに記載の方法であって、前記イオンミラーが前記第１設定であるとき、前記イオンミラーが第１電圧で保たれ、かつ、前記イオンミラーが前記第２設定であるとき、前記イオンミラーが第２電圧で保たれる方法。4. The method according to claim 1, wherein when the ion mirror is at the first setting, the ion mirror is maintained at a first voltage, and the ion mirror is at the second setting. In some cases, the ion mirror is held at a second voltage. イオン源を準備することを更に含む請求項１〜４のいずれかに記載の方法であって、前記イオンミラーが前記第１設定であるとき、前記イオンミラーが前記イオン源の電位に対する第１電位で保たれ、かつ、前記イオンミラーが前記第２設定であるとき、前記イオンミラーが前記イオン源の電位に対する第２電位で保たれる方法。The method according to claim 1, further comprising providing an ion source, wherein the ion mirror is at a first potential relative to a potential of the ion source when the ion mirror is at the first setting. And the ion mirror is maintained at a second potential relative to the potential of the ion source when the ion mirror is at the second setting. イオン源を準備することを更に含む請求項１〜５のいずれかに記載の方法であって、前記イオン源が、（ｉ）エレクトロスプレー（「ＥＳＩ」）イオン源；（ｉｉ）大気圧化学イオン化（「ＡＰＣＩ」）イオン源；（ｉｉｉ）大気圧光イオン化（「ＡＰＰＩ」）イオン源；（ｉｖ）レーザー脱離イオン化（「ＬＤＩ」）イオン源；（ｖ）誘導結合プラズマ（「ＩＣＰ」）イオン源；（ｖｉ）電子衝撃（「ＥＩ」）イオン源；（ｖｉｉ）化学イオン化（「ＣＩ」）イオン源；（ｖｉｉｉ）フィールドイオン化（「ＦＩ」）イオン源；（ｉｘ）高速原子衝撃（「ＦＡＢ」）イオン源；（ｘ）液体二次イオン質量分析（「ＬＳＩＭＳ」）イオン源；（ｘｉ）大気圧イオン化（「ＡＰＩ」）イオン源；（ｘｉｉ）フィールドデソープション（「ＦＤ」）イオン源；（ｘｉｉｉ）マトリックス支援レーザーイオン化（「ＭＡＬＤＩ」）イオン源；および（ｘｉｖ）シリコン上脱離／イオン化（「ＤＩＯＳ」）イオン源からなる群から選択される方法。6. The method of any of claims 1-5, further comprising providing an ion source, wherein the ion source is (i) an electrospray ("ESI") ion source; (ii) atmospheric pressure chemical ionization. ("APCI") ion source; (iii) atmospheric pressure photoionization ("APPI") ion source; (iv) laser desorption ionization ("LDI") ion source; (v) inductively coupled plasma ("ICP") ion (Vi) electron impact ("EI") ion source; (vii) chemical ionization ("CI") ion source; (viii) field ionization ("FI") ion source; (ix) fast atom bombardment ("FAB") )) Ion source; (x) liquid secondary ion mass spectrometry (“LSIMS”) ion source; (xi) atmospheric pressure ionization (“API”) ion source; (xii) field desorption (“FD”). Ion source; (xiii) matrix-assisted laser ionization ( "MALDI") ion source; and (xiv) a silicon on desorption / ionization ( "DIOS") method selected from the group consisting of an ion source. ドリフトまたは飛行空間を前記イオンミラーの上流に準備することを更に含む請求項１〜６のいずれかに記載の方法であって、前記イオンミラーが前記第１設定であるとき、前記イオンミラーが、前記ドリフトまたは飛行空間の電位に対する第１電位で保たれ、かつ前記イオンミラーが前記第２設定であるとき、前記イオンミラーが、前記ドリフトまたは飛行空間の電位に対する第２電位で保たれる方法。The method of any of claims 1-6, further comprising providing a drift or flight space upstream of the ion mirror, wherein the ion mirror is in the first setting, A method wherein the ion mirror is maintained at a second potential relative to the drift or flight space potential when the drift mirror or the flight space potential is maintained at a first potential and the ion mirror is at the second setting. 請求項１〜７のいずれかに記載の方法であって、前記イオンミラーが前記第１設定であるとき、ある一定の質量電荷比および／またはある一定のエネルギーを有するイオンが、前記イオンミラーに少なくとも第１間隔貫入し、前記イオンミラーが前記第２設定であるとき、前記ある一定の質量電荷比および／または前記ある一定のエネルギーを有するイオンが、前記イオンミラーに少なくとも異なる第２間隔貫入する方法。The method according to claim 1, wherein when the ion mirror is in the first setting, ions having a certain mass-to-charge ratio and / or certain energy are applied to the ion mirror. When at least a first interval penetrates and the ion mirror is in the second setting, the ions having the certain mass-to-charge ratio and / or the certain energy penetrate at least a different second interval into the ion mirror. Method. 請求項１〜８のいずれかに記載の方法であって、前記第１のフラグメントイオンの前記第１の飛行時間を決定する工程、および前記第１のフラグメントイオンの前記第２の飛行時間を決定する工程が、前記第１の飛行時間または質量スペクトルデータ中の第１のフラグメントイオンを識別し、決定し、同定すること又は検索すること、ならびに前記第２の飛行時間データ中の対応する第１のフラグメントイオンを識別し、決定し、同定すること又は検索することを含む方法。9. A method as claimed in any preceding claim, wherein the first time of flight of the first fragment ions is determined, and the second time of flight of the first fragment ions is determined. Identifying, determining, identifying or searching for a first fragment ion in the first time-of-flight or mass spectral data, and a corresponding first in the second time-of-flight data Identifying, determining, identifying or searching for fragment ions. 請求項９に記載の方法であって、前記第１および／または前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータ中の第１のフラグメントイオンを識別し、決定し、同定し、または検索する工程が、前記第１の飛行時間または質量スペクトルデータ中のアイソトープピークのパターンを、前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータ中のアイソトープピークのパターンと比較することを含む方法。10. The method of claim 9, wherein identifying, determining, identifying, or searching for a first fragment ion in the first and / or second time-of-flight or mass spectral data. Comparing a pattern of isotope peaks in the first time-of-flight or mass spectral data with a pattern of isotope peaks in the second time-of-flight or mass spectral data. 請求項１０に記載の方法であって、アイソトープピークの前記パターンを比較する工程が、アイソトープピークの相対強度および／またはアイソトープピークの分布を比較することを含む方法。11. The method of claim 10, wherein comparing the pattern of isotope peaks comprises comparing the relative intensity of isotope peaks and / or the distribution of isotope peaks. 請求項９〜１１のいずれかに記載の方法であって、前記第１および／または前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータ中の第１のフラグメントイオンを識別し、決定し、同定し、または検索する工程が、前記第１の飛行時間または質量スペクトルデータ中のイオンの強度を、前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータ中のイオンの強度と比較することを含む方法。12. The method according to any of claims 9-11, wherein the first and / or second time-of-flight or mass spectral data are identified, determined, identified, or The step of searching includes comparing the intensity of ions in the first time-of-flight or mass spectral data with the intensity of ions in the second time-of-flight or mass spectral data. 請求項９〜１２のいずれかに記載の方法であって、前記第１および／または前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータ中の第１のフラグメントイオンを識別し、決定し、同定し、または検索する工程が、前記第１の飛行時間または質量スペクトルデータから生じた第１質量スペクトル中の１またはそれ以上の質量スペクトルピークの幅を、前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータから生じた第２質量スペクトル中の１またはそれ以上の質量スペクトルピークの幅と比較することを含む方法。13. The method according to any of claims 9-12, wherein the first fragment ion in the first and / or second time-of-flight or mass spectral data is identified, determined, identified, or A step of searching for a width of one or more mass spectral peaks in the first mass spectrum resulting from the first time-of-flight or mass spectral data; Comparing the width of one or more mass spectral peaks in the two mass spectra. 請求項１〜１３のいずれかに記載の方法であって、前記親イオン質量スペクトルから、１またはそれ以上の親イオンの前記質量または質量電荷比を決定する工程を更に含む方法。14. The method according to any of claims 1-13, further comprising determining the mass or mass to charge ratio of one or more parent ions from the parent ion mass spectrum. 請求項１４に記載の方法であって、15. A method according to claim 14, comprising
前記第１の飛行時間または質量スペクトルデータから、１またはそれ以上のフラグメントイオンの飛行時間を決定すること、およびDetermining the time of flight of one or more fragment ions from the first time of flight or mass spectral data; and
前記親イオン質量スペクトルから決定された１またはそれ以上の親イオンの前記質量または質量電荷比と、前記第１の飛行時間または質量スペクトルデータから決定された前記１またはそれ以上のフラグメントイオンの飛行時間とを基に、１またはそれ以上の可能性のある第１のフラグメントイオンが有するであろう質量または質量電荷比を、予想することを更に含む方法。The mass or mass-to-charge ratio of one or more parent ions determined from the parent ion mass spectrum and the time of flight of the one or more fragment ions determined from the first time-of-flight or mass spectral data. And further predicting the mass or mass to charge ratio that one or more possible first fragment ions will have. 請求項１５に記載の方法であって、16. A method according to claim 15, comprising
前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータから、１またはそれ以上のフラグメントイオンの飛行時間を決定すること、およびDetermining the time of flight of one or more fragment ions from the second time of flight or mass spectral data; and
前記親イオン質量スペクトルから決定された１またはそれ以上の親イオンの前記質量電荷比と、前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータから決定された１またはそれ以上の前記フラグメントイオンの飛行時間とを基に、１またはそれ以上の可能性のある第２のフラグメントイオンが有するであろう前記質量または質量電荷比を、予想することを更に含む方法。The mass-to-charge ratio of one or more parent ions determined from the parent ion mass spectrum and the time of flight of one or more fragment ions determined from the second time-of-flight or mass spectral data. A method further comprising predicting the mass or mass to charge ratio that the one or more potential second fragment ions will have in the group. 請求項１６に記載の方法であって、１またはそれ以上の可能性のある第１のフラグメントイオンの前記予想された質量または質量電荷比を、１またはそれ以上の可能性のある第２のフラグメントイオンの前記予想された質量または質量電荷比と比較するか、または対比することを更に含む方法。17. The method of claim 16, wherein the predicted mass or mass-to-charge ratio of one or more potential first fragment ions is calculated as one or more potential second fragments. The method further comprising comparing or contrasting with the expected mass or mass to charge ratio of ions. 請求項１７に記載の方法であって、１またはそれ以上の前記可能性のある第１のフラグメントイオンの前記予想された質量または質量電荷比が、１またはそれ以上の前記可能性のある第２のフラグメントイオンの前記予想された質量または質量電荷比のｘ％以内に相当し、ｘが、(i) <0.001; (ii) 0.001-0.01; (iii) 0.01-0.1; (iv) 0.1-0.5; (v) 0.5-1.0; (vi) 1.0-1.5; (vii) 1.5-2.0; (viii) 2-3; (ix) 3-4; (x) 4-5; および (xi) >5からなる群から選択される範囲以内にある場合、18. The method of claim 17, wherein the predicted mass or mass to charge ratio of one or more of the potential first fragment ions is one or more of the potential second. Corresponding to within x% of the predicted mass or mass to charge ratio of x, wherein x is (i) <0.001; (ii) 0.001-0.01; (iii) 0.01-0.1; (iv) 0.1-0.5 (v) 0.5-1.0; (vi) 1.0-1.5; (vii) 1.5-2.0; (viii) 2-3; (ix) 3-4; (x) 4-5; and (xi)> 5 Is within a range selected from the group
前記第２の飛行時間または質量スペクトルデータ中のフラグメントイオンの同じ種に関連するものとして、前記第１の飛行時間または質量スペクトルデータ中のフラグメントイオンを識別し、決定し、または同定することを更に含む方法。  Further identifying, determining, or identifying a fragment ion in the first time-of-flight or mass spectral data as related to the same species of fragment ion in the second time-of-flight or mass spectral data Including methods. 請求項１〜１８のいずれかに記載の方法であって、前記第１および第２の飛行時間から、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた親イオンの前記質量または質量電荷比を決定する前記工程が、19. The method according to any of claims 1-18, wherein the mass or mass to charge ratio of a parent ion that has been fragmented to produce the first fragment ion is determined from the first and second time of flight. Said step of
前記第１のフラグメントイオンの前記質量または質量電荷比の情報から独立して、または前記情報を必要とせずに、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた前記親イオンの前記質量電荷比を決定することを含む方法。The mass-to-charge ratio of the parent ion that is fragmented to yield the first fragment ion, independent of or without the information of the mass or mass-to-charge ratio information of the first fragment ion. A method comprising determining. 請求項１９に記載の方法であって、前記第１のフラグメントイオンの前記質量または質量電荷比の情報から独立して、または前記情報を必要とせずに、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた前記親イオンの前記質量電荷比を決定する前記工程が、20. The method of claim 19, wherein the first fragment ion is fragmented independently of or without the information of the mass or mass to charge ratio information of the first fragment ion. The step of determining the mass to charge ratio of the resulting parent ion comprises:
１またはそれ以上の親イオン質量ピークが、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じたと決定された前記親イオンの前記予想された質量または質量電荷比のｙ％以内に観察されるかどうかを、親イオン質量スペクトルから、決定することを含み、ｙが、(i) <0.001; (ii) 0.001-0.01; (iii) 0.01-0.1; (iv) 0.1-0.5; (v) 0.5-1.0; (vi) 1.0-1.5; (vii) 1.5-2.0; (viii) 2-3; (ix) 3-4; (x) 4-5; および (xi) >5からなる群から選択される範囲以内にある方法。Whether one or more parent ion mass peaks are observed within y% of the expected mass or mass to charge ratio of the parent ion determined to have fragmented to yield the first fragment ion Determining from the parent ion mass spectrum, wherein y is (i) <0.001; (ii) 0.001-0.01; (iii) 0.01-0.1; (iv) 0.1-0.5; (v) 0.5-1.0; (vi) 1.0-1.5; (vii) 1.5-2.0; (viii) 2-3; (ix) 3-4; (x) 4-5; and (xi)> 5 The way it is. 請求項２０に記載の方法であって、１つの親イオン質量ピークが、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じたと決定された前記親イオンの前記予想された質量または質量電荷比のｙ％以内に観察される場合、そのときには、前記親イオン質量ピークの前記質量または質量電荷比を、前記断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた前記親イオンの前記質量または質量電荷比のより精密な決定とし、ｙが、(i) <0.001; (ii) 0.001-0.01; (iii) 0.01-0.1; (iv) 0.1-0.5; (v) 0.5-1.0; (vi) 1.0-1.5; (vii) 1.5-2.0; (viii) 2-3; (ix) 3-4; (x) 4-5; および (xi) >5からなる群から選択される範囲以内にある方法。21. The method of claim 20, wherein one parent ion mass peak is y% of the expected mass or mass to charge ratio of the parent ion determined to fragment to yield the first fragment ion. The mass or mass-to-charge ratio of the parent ion mass peak is then more accurate than the mass or mass-to-charge ratio of the parent ion that fragmented to yield the first fragment ion. (I) <0.001; (ii) 0.001-0.01; (iii) 0.01-0.1; (iv) 0.1-0.5; (v) 0.5-1.0; (vi) 1.0-1.5; (vii ) 1.5-2.0; (viii) 2-3; (ix) 3-4; (x) 4-5; and (xi) a method within a range selected from> 5. 請求項２０に記載の方法であって、１より多い親イオン質量ピークが、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じたと決定された前記親イオンの前記予想された質量または質量電荷比のｙ％以内に観察される場合、そのときには、どの観察された親イオン質量ピークが、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた可能性が最もある前記親イオンに相当し、または関連するかに関する決定がなされ、ｙが、(i) <0.001; (ii) 0.001-0.01; (iii) 0.01-0.1; (iv) 0.1-0.5; (v) 0.5-1.0; (vi) 1.0-1.5; (vii) 1.5-2.0; (viii) 2-3; (ix) 3-4; (x) 4-5; および (xi) >5からなる群から選択される範囲以内にある方法。21. The method of claim 20, wherein more than one parent ion mass peak is y of the expected mass or mass to charge ratio of the parent ion determined to fragment to yield the first fragment ion. % Of the observed parent ion mass peak corresponds to or is associated with the parent ion that is most likely to fragment to give the first fragment ion. A decision is made and y is (i) <0.001; (ii) 0.001-0.01; (iii) 0.01-0.1; (iv) 0.1-0.5; (v) 0.5-1.0; (vi) 1.0-1.5; (vii ) 1.5-2.0; (viii) 2-3; (ix) 3-4; (x) 4-5; and (xi) a method within a range selected from> 5. 請求項２２に記載の方法であって、どの観察された親イオン質量ピークが、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた可能性が最もある前記親イオンに相当し、または関連するかに関する決定が、前記イオンミラーが異なる第３設定で保たれたときに獲得された第３の飛行時間または質量スペクトルデータを参照することにより、なされる方法。23. The method of claim 22, wherein which observed parent ion mass peak corresponds to or is associated with the parent ion that is most likely to fragment to yield the first fragment ion. A method wherein the determination is made by referring to a third time-of-flight or mass spectral data acquired when the ion mirror is held at a different third setting. 請求項２２または２３に記載の方法であって、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた可能性が最もある前記親イオンに相当し、または関連する、前記観察された親イオン質量ピークの前記質量または質量電荷比を、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた前記親イオンの前記質量または質量電荷比のより精密な決定とする方法。24. The method of claim 22 or 23, wherein the observed parent ion mass peak corresponds to or is associated with the parent ion most likely to have fragmented to yield the first fragment ion. The mass or mass to charge ratio is a more precise determination of the mass or mass to charge ratio of the parent ion that has been fragmented to yield the first fragment ion. 請求項２１または２４に記載の方法であって、前記第１のフラグメントイオンの前記質量または質量電荷比のより精密な決定が、前記親イオンの前記質量または質量電荷比の前記より精密な決定を用いてなされる方法。25. The method of claim 21 or 24, wherein the more precise determination of the mass or mass to charge ratio of the first fragment ion is the more accurate determination of the mass or mass to charge ratio of the parent ion. The method made using. 飛行時間型質量分析器を含む質量分析計であって、A mass spectrometer including a time-of-flight mass analyzer,
前記飛行時間型質量分析器が、イオンミラーを含み、The time-of-flight mass analyzer includes an ion mirror;
使用時に、初回において、前記イオンミラーが第１設定で保たれ、第１の飛行時間または質量スペクトルデータを獲得し、かつ、２回めにおいて、前記イオンミラーが異なる第２設定で保たれ、第２の飛行時間または質量スペクトルデータを獲得し、In use, for the first time, the ion mirror is kept at a first setting, acquiring a first time-of-flight or mass spectral data, and in the second time, the ion mirror is kept at a different second setting, Acquire two time-of-flight or mass spectral data,
前記質量分析計が、使用時に、When the mass spectrometer is in use,
（ａ）前記イオンミラーが前記第１設定で保たれるとき、ある一定の質量または質量電荷比を有する第１のフラグメントイオンの第１の飛行時間と；(A) a first time of flight of a first fragment ion having a certain mass or mass to charge ratio when the ion mirror is held at the first setting;
（ｂ）前記イオンミラーが前記第２設定で保たれるとき、前記ある一定の同一の質量または質量電荷比を有する第１のフラグメントイオンの異なる第２の飛行時間と；(B) a different second flight time of the first fragment ions having the certain constant mass or mass to charge ratio when the ion mirror is held at the second setting;
（ｃ）前記第１および第２の飛行時間から、断片化して前記第１のフラグメントイオンを生じた親イオンの前記質量もしくは質量電荷比および／または前記第１のフラグメントイオンの前記質量もしくは質量電荷比と；(C) the mass or mass-to-charge ratio of the parent ion and / or the mass or mass-charge of the first fragment ion that fragmented from the first and second time of flight to produce the first fragment ion; Ratio and;
（ｄ）親イオン質量スペクトルとを決定する質量分析計。(D) A mass spectrometer that determines a parent ion mass spectrum. 請求項２６に記載の質量分析計であって、前記イオンミラーが、リフレクトロンを含む質量分析計。27. A mass spectrometer as recited in claim 26, wherein the ion mirror includes a reflectron. 請求項２６または２７に記載の質量分析計であって、（ｉ）エレクトロスプレー（「ＥＳＩ」）イオン源；（ｉｉ）大気圧化学イオン化（「ＡＰＣＩ」）イオン源；（ｉｉｉ）大気圧光イオン化（「ＡＰＰＩ」）イオン源；（ｉｖ）レーザー脱離イオン化（「ＬＤＩ」）イオン源；（ｖ）誘導結合プラズマ（「ＩＣＰ」）イオン源；（ｖｉ）電子衝撃（「ＥＩ」）イオン源；（ｖｉｉ）化学イオン化（「ＣＩ」）イオン源；（ｖｉｉｉ）フィールドイオン化（「ＦＩ」）イオン源；（ｉｘ）高速原子衝撃（「ＦＡＢ」）イオン源；（ｘ）液体二次イオン質量分析（「ＬＳＩＭＳ」）イオン源；（ｘｉ）大気圧イオン化（「ＡＰＩ」）イオン源；（ｘｉｉ）フィールドデソープション（「ＦＤ」）イオン源；（ｘｉｉｉ）マトリックス支援レーザーイオン化（「ＭＡＬＤＩ」）イオン源；および（ｘｉｖ）シリコン上脱離／イオン化（「ＤＩＯＳ」）イオン源からなる群から選択されるイオン源を更に含む質量分析計。28. A mass spectrometer as recited in claim 26 or 27, wherein: (i) an electrospray ("ESI") ion source; (ii) atmospheric pressure chemical ionization ("APCI") ion source; (iii) atmospheric pressure photoionization. ("APPI") ion source; (iv) laser desorption ionization ("LDI") ion source; (v) inductively coupled plasma ("ICP") ion source; (vi) electron impact ("EI") ion source; (Vii) chemical ionization (“CI”) ion source; (viii) field ionization (“FI”) ion source; (ix) fast atom bombardment (“FAB”) ion source; (x) liquid secondary ion mass spectrometry ( (LSIMS)) ion source; (xi) atmospheric pressure ionization (“API”) ion source; (xii) field desorption (“FD”) ion source; (xiii) matrix-assisted laser Ion reduction ( "MALDI") ion source; and (xiv) a silicon on desorption / ionization ( "DIOS") further comprises a mass spectrometer ion source selected from the group consisting of an ion source.
JP2004299297A 2003-10-14 2004-10-13 Mass spectrometer Expired - Fee Related JP4928724B2 (en)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB0324054A GB0324054D0 (en) 2003-10-14 2003-10-14 Mass spectrometer
GBGB-0324054.6 2003-10-14
GBGB-0404186.9 2004-02-25
GB0404186A GB0404186D0 (en) 2004-02-25 2004-02-25 Mass spectrometer
GB0406601A GB0406601D0 (en) 2003-10-14 2004-03-24 Mass spectrometer
GBGB-0406601.5 2004-03-24

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2005166639A JP2005166639A (en) 2005-06-23
JP2005166639A5 true JP2005166639A5 (en) 2007-11-29
JP4928724B2 JP4928724B2 (en) 2012-05-09

Family

ID=33479449

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004299297A Expired - Fee Related JP4928724B2 (en) 2003-10-14 2004-10-13 Mass spectrometer

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4928724B2 (en)
CA (2) CA2484769C (en)
DE (2) DE202004015862U1 (en)
GB (1) GB2407206C (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2470599B (en) * 2009-05-29 2014-04-02 Thermo Fisher Scient Bremen Charged particle analysers and methods of separating charged particles
GB201208961D0 (en) 2012-05-18 2012-07-04 Micromass Ltd 2 dimensional MSMS
JP6989008B2 (en) * 2018-05-31 2022-01-05 株式会社島津製作所 Analytical equipment, analytical methods and programs
WO2024054960A1 (en) * 2022-09-09 2024-03-14 The Trustees Of Indiana University Method of controlling a multi-pole device to reduce omission of exiting charged particles from downstream analysis

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3920566A1 (en) * 1989-06-23 1991-01-10 Bruker Franzen Analytik Gmbh MS-MS FLIGHT TIME MASS SPECTROMETER
US5160840A (en) * 1991-10-25 1992-11-03 Vestal Marvin L Time-of-flight analyzer and method
US5464985A (en) * 1993-10-01 1995-11-07 The Johns Hopkins University Non-linear field reflectron
DE19544808C2 (en) * 1995-12-01 2000-05-11 Bruker Daltonik Gmbh Method for studying the structure of ions in a time-of-flight mass spectrometer
US5814813A (en) * 1996-07-08 1998-09-29 The Johns Hopkins University End cap reflection for a time-of-flight mass spectrometer and method of using the same
JP3785695B2 (en) * 1996-09-11 2006-06-14 株式会社島津製作所 Method for determining the amino acid sequence of a peptide
WO1999027560A2 (en) * 1997-11-24 1999-06-03 The Johns-Hopkins University Method and apparatus for correction of initial ion velocity in a reflectron time-of-flight mass spectrometer
JP3472130B2 (en) * 1998-03-27 2003-12-02 日本電子株式会社 Time-of-flight mass spectrometer
AUPQ213199A0 (en) * 1999-08-10 1999-09-02 Gbc Scientific Equipment Pty Ltd A time of flight mass spectrometer including an orthogonal accelerator
EP1290717A2 (en) * 2000-05-30 2003-03-12 The Johns Hopkins University Portable time-of-flight mass spectrometer system
GB0021901D0 (en) * 2000-09-06 2000-10-25 Kratos Analytical Ltd Calibration method
US7074570B2 (en) * 2001-05-23 2006-07-11 Ge Healthcare Bio-Sciences Ab Peptide fragmentation

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2587908C (en) Mass spectrometer
Downard Mass spectrometry: a foundation course
EP2033208B1 (en) Mass spectrometer
US6744040B2 (en) Means and method for a quadrupole surface induced dissociation quadrupole time-of-flight mass spectrometer
EP1789989B1 (en) Mass spectrometer
JP5142332B2 (en) Mass spectrometer
JP6040174B2 (en) Pre-scan of mass-to-charge ratio range
CA2749592C (en) Ion population control device for a mass spectrometer
JP2009516903A5 (en)
GB2504373A (en) Method of identifying precursor ions
Mallet et al. Dictionary of mass spectrometry
JP2009516842A5 (en)
US20170011899A1 (en) Method of Optimising Spectral Data
Moon et al. Formation of gas‐phase peptide ions and their dissociation in MALDI: Insights from kinetic and ion yield studies
US7277799B2 (en) Isotope correlation filter for mass spectrometry
JP2009516843A5 (en)
EP3069372B1 (en) Method of associating precursor and product ions
US8049166B2 (en) Mass spectrometer system and mass spectrometry method
JP2005166639A5 (en)
US10551347B2 (en) Method of isolating ions
US20210125816A1 (en) Optimised targeted analysis
Chernushevich et al. Charge state separation for protein applications using a quadrupole time‐of‐flight mass spectrometer
Moneti et al. Do collisions inside the collision cell play a relevant role in CID‐LIFT experiments?
EP3069371B1 (en) Ion trap mass spectrometers
GB2467466A (en) An ion trap with radially dependent axial ejection