JP2005151081A - Automatic phase adjustment apparatus in image processing system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、デジタルビデオカメラやデジタルスチルカメラ等の画像処理システムにおける自動位相調整装置に関する。 The present invention relates to an automatic phase adjusting device in an image processing system such as a digital video camera or a digital still camera.
従来の画像処理システムにおける自動位相調整について、図11ないし図13に基づいて説明する。図11は画像処理システムのブロック図、図12はタイミングチャート、図13はタイミング調整のフローチャートである。 Automatic phase adjustment in a conventional image processing system will be described with reference to FIGS. 11 is a block diagram of the image processing system, FIG. 12 is a timing chart, and FIG. 13 is a timing adjustment flowchart.
図11において、10は被写体からの入射光が入る光学レンズであり、ズーム機構やピント調整用のAF(自動焦点)調節機構等が含まれている。
In FIG. 11,
11は撮像面を光学レンズ10の光軸に対し直交するように配置されたセンサであり、CCD撮像デバイスやMOS型撮像デバイス等が挙げられる。
12はセンサ11の出力信号30が入力されるCDS/AGC/ADC部である。ここで、CDSは相関二重サンプリング、AGCは自動利得制御、ADCはADコンバータを示している(以下、同様)。センサ11の出力信号30はCDSに入力され、S/H(サンプル/ホールド)されてノイズ成分が除去された後、AGCにて利得が調整され、さらにADCにてA/D変換されて、当該デジタル信号31が信号処理回路13に送信される。
13は信号処理回路であり、CDS/AGC/ADC部12からのデジタル信号31が入力されるYC信号処理部14、CDS/AGC/ADC部12に対しタイミング信号32を出力するセンサ駆動信号生成部15、SDRAM16に画像データを格納33または読出34を行うメモリコントローラ17等が含まれている。
A
センサ駆動信号生成部15から出力されるタイミング信号32について、図12を用いて説明する。図12において、センサ信号は、センサ11の出力信号30を表しており、30aはフィードスルーレベル、30bは信号レベルを示している。CDSにおけるノイズの除去は、フィードスルーに含まれるノイズと信号に含まれるノイズが同じ相関を持っていることを利用して、フィードスルーレベル30aをクランプし、信号レベル30bをサンプルホールドすることにより行っている。すなわち、サンプルパルス1,サンプルパルス2はタイミング信号32であって、サンプルパルス1によってフィードスルーレベル30aをクランプし、サンプルパルス2によって信号レベル30bをサンプルホールドする。
The
さらに、センサ駆動信号生成部15から出力されるタイミング信号32には、デジタル変換するためのデータをサンプル/ホールドするためのタイミングを決定するA/Dクロック信号も含まれている。
Further, the
すなわち、図12において、サンプル後のアナログ信号とは、センサ11の出力信号30をサンプルパルス1,2によってサンプルした後のアナログ信号であり、サンプルパルス2にてサンプル/ホールドした後、ゲイン増幅が始まる。アナログ信号のゲイン増幅動作が完了後、A/Dクロック信号の立ち上がりのタイミングにて、ADCがデータをサンプルホールドする。すなわち、アナログ信号のゲイン増幅動作が十分に上がっていない状態にて、ADCがデータをサンプルホールドすると、十分な信号振幅を得ることができない。
That is, in FIG. 12, the sampled analog signal is an analog signal after the
図12のタイミングチャートは、センサ信号に対する理想的なサンプルパルス1,2ならびにA/Dクロック信号の波形を示している。画質は、S/Hのタイミングにより大きく変化してしまうため、サンプルパルス1,2およびA/Dクロック等のタイミング信号32は、その位相を自動調整する機能を有している。
The timing chart of FIG. 12 shows ideal sample pulses 1 and 2 and an A / D clock signal waveform with respect to the sensor signal. Since the image quality greatly varies depending on the S / H timing, the
自動位相調整については、図13のタイミング調整のフローチャートに示すように、まずサンプルパルスの粗調整を行い(S30)、次にサンプルパルスの微調整を行い(S31)、その後SDRAM16のアクセスタイミングの位相をサンプルパルスの位相に対してずらすDRAMCKの調整を行い(S32)、サンプルパルスの位相を決定する(S33)。このようにして、画像処理システム毎に位相が調整され、調整後の位相は変更されることなく固定して使用される。
As for the automatic phase adjustment, as shown in the timing adjustment flowchart of FIG. 13, first, coarse adjustment of the sample pulse is performed (S30), then fine adjustment of the sample pulse is performed (S31), and then the access timing phase of the
なお、SDRAM16ならびにメモリコントローラ17を備えない画像処理システムであってもよく、この場合には自動位相調整にてDRAMCKの調整は不要となる。
Note that an image processing system that does not include the
また、サンプリング位置を調整する機能を備えた画像処理システムとして、例えば、1フィールドに含まれる画素全体のクロマ信号を積分し、積分値が最大になるようにサンプリング位置を1フィールドごとに制御することにより、個々の撮像素子のバラツキ等を考慮にいれたものがある(特許文献1参照)。
従来の画像処理システムにおける自動位相調整のように、サンプルパルスが固定して使用される場合、製品間のばらつきや温度特性により、サンプリングタイミングに変動が発生するという問題がある。 When the sample pulse is used in a fixed manner as in the automatic phase adjustment in the conventional image processing system, there is a problem that the sampling timing varies due to variations between products and temperature characteristics.
すなわち、高温時にはサンプリングタイミングの変動が大きくなり、サンプルパルスを固定して使用したのでは当該変動に対応できず、また、より高精度な位相調整が望まれる際にも、対応できなかった。特に、低照度時等、S/Nを最大限に出したい時は、1〜2ns単位の調整が必要となるが、サンプルパルスを固定して使用していたのでは、100%の特性を得ることはできなかった。すなわち、低照度時には、S/Nが悪くなり、良好な映像を得るためには、最も良い状態のS/Nを作り出す必要が生じる。 That is, when the temperature is high, the sampling timing varies greatly. If the sample pulse is used in a fixed manner, the variation cannot be dealt with, and it is not possible to cope with the case where more precise phase adjustment is desired. In particular, when it is desired to maximize the S / N, such as when the illumination is low, it is necessary to adjust in units of 1 to 2 ns. However, if the sample pulse is used in a fixed state, 100% characteristics can be obtained. I couldn't. That is, at low illuminance, the S / N deteriorates, and in order to obtain a good image, it is necessary to create the best S / N.
本発明は、高温時等においてサンプリングタイミングに変動が発生したり、低照度時等における高精度な位相調整が望まれる際に対応できる画像処理システムにおける自動位相調整装置を提供することを目的とする。 It is an object of the present invention to provide an automatic phase adjustment device in an image processing system that can cope with fluctuations in sampling timing at high temperatures or the like, or when high-precision phase adjustment at low illumination is desired. .
本発明の画像処理システムにおける自動位相調整装置は、センサからの画像信号を相関二重サンプリングするCDSと、相関二重サンプリングされた画像信号をアナログ/デジタル変換するADCと、高周波成分検出部を有し、デジタル変換された画像信号を処理する信号処理回路とを備えた画像処理システムにおいて、露光時間を最小として画像を取込み、前記高周波成分検出部にて検出した高周波成分が最小となる時の位相を前記CDSのサンプルパルスの位相として決定し、サンプルパルスの位相のタイミングずれを微調整する微調整手段を有したものである。 The automatic phase adjustment apparatus in the image processing system of the present invention includes a CDS that performs correlated double sampling of an image signal from a sensor, an ADC that performs analog / digital conversion on the image signal subjected to correlated double sampling, and a high-frequency component detection unit. And a signal processing circuit for processing a digitally converted image signal, and a phase at which the high-frequency component detected by the high-frequency component detection unit is minimized by capturing an image with a minimum exposure time Is determined as the phase of the sample pulse of the CDS, and fine adjustment means for finely adjusting the timing deviation of the phase of the sample pulse is provided.
本発明の画像処理システムにおける自動位相調整装置によると、露光時間を最小として画像を取込むことで主にノイズ成分が取込まれ、ノイズ成分が最小となる、すなわち高周波成分が最小となる時の位相をCDSのサンプルパルスの位相として決定し、タイミングずれを微調整することができる。 According to the automatic phase adjustment apparatus in the image processing system of the present invention, the noise component is mainly captured by capturing the image with the exposure time being minimized, and the noise component is minimized, that is, when the high frequency component is minimized. The phase is determined as the phase of the CDS sample pulse, and the timing deviation can be finely adjusted.
本発明の画像処理システムにおける自動位相調整装置によれば、高温時等においてサンプリングタイミングに変動が発生したり、低照度時等における高精度な位相調整が望まれる際に対応できるという効果が得られる。 According to the automatic phase adjustment device of the image processing system of the present invention, it is possible to cope with a case where the sampling timing fluctuates at a high temperature or when a highly accurate phase adjustment at a low illuminance is desired. .
(実施例1)
本発明の実施例1を図1ないし図5に基づいて説明する。
(Example 1)
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
図1は画像処理システムのブロック図、図2はセンサ駆動信号生成回路図、図3,4はタイミング調整のフローチャート、図5はタイミングチャートである。 1 is a block diagram of an image processing system, FIG. 2 is a sensor drive signal generation circuit diagram, FIGS. 3 and 4 are timing adjustment flowcharts, and FIG. 5 is a timing chart.
なお、図11ないし図13に示した従来例と同一部分は、同一符号を付して、その説明を省略する。 The same parts as those of the conventional example shown in FIGS. 11 to 13 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.
図1において、信号処理回路13には、YC信号処理部14、センサ駆動信号生成部15に加え、輝度レベル検出部18、高周波成分検出部19、タイミング調整部20を含んでいる。
In FIG. 1, the
図2に、センサ駆動信号生成部15の回路図を示す。
FIG. 2 shows a circuit diagram of the sensor drive
センサ駆動信号生成回路は、位相調整1/2クロック40、粗調整用DLY(4.8nsDLY)回路41、微調整用DLY(1.2nsDLY)回路42にて構成されており、各セレクタ43,44,45のレジスタL1,L2,L3を設定することで、タイミング信号32の位相を調整することができる。
The sensor drive signal generation circuit includes a phase adjustment ½
タイミング調整部20は、輝度レベル検出部18ならびに高周波成分検出部19の出力信号を元に、後述するタイミング調整のフローチャートに基づき、センサ駆動信号生成部15の各セレクタ43,44,45のレジスタL1,L2,L3を設定するための信号を生成して出力する。
The
図3,4のタイミング調整のフローチャートに基づいて、自動位相調整について説明する。 The automatic phase adjustment will be described based on the timing adjustment flowcharts of FIGS.
まず従来例と同様に、サンプルパルスの粗調整(S10)、サンプルパルスの微調整(S11)の順に調整を行い、デフォルト値として位相が決定される(S12)。 First, as in the conventional example, adjustment is performed in the order of coarse adjustment of sample pulses (S10) and fine adjustment of sample pulses (S11), and the phase is determined as a default value (S12).
さらに、本発明の特徴である自動調整機能にて再調整する。再調整は、より一層精度を上げたい時や、高温で位相のずれが大きい時などに行われる。 Further, readjustment is performed by the automatic adjustment function which is a feature of the present invention. The readjustment is performed when it is desired to further improve the accuracy or when the phase shift is large at a high temperature.
まず、自動調整を要求する(S13)。要求は、使用者が自動調整用ボタンを押す手動操作や、温度センサ等の検出値に基づく自動操作にて行われる。 First, automatic adjustment is requested (S13). The request is performed by a manual operation in which the user presses the automatic adjustment button or an automatic operation based on a detection value of a temperature sensor or the like.
次に、サンプルパルスの粗調整が必要か否かを判断する(S14)。粗調整は、位相のずれが大きく、微調整の前に粗調整が必要と判断した場合に行う。判断は、使用者が行ったり、温度センサ等の検出値に基づいて制御手段(図示せず)にて行われる。 Next, it is determined whether coarse adjustment of the sample pulse is necessary (S14). The coarse adjustment is performed when the phase shift is large and it is determined that the coarse adjustment is necessary before the fine adjustment. The determination is made by the user or by control means (not shown) based on the detected value of the temperature sensor or the like.
S14にて、粗調整が不要と判断された場合、サンプルパルスの微調整のステップに進む。 If it is determined in S14 that coarse adjustment is unnecessary, the process proceeds to the step of fine adjustment of the sample pulse.
S14にて、粗調整が必要と判断された場合、ALC(明るさ自動調整機能)の条件を固定し、同じ明るさの条件にて画像が取込めるようにする(S15)。 If it is determined in S14 that coarse adjustment is necessary, the ALC (Brightness Automatic Adjustment Function) condition is fixed, and an image can be captured under the same brightness condition (S15).
次に、画像を取り込む(S16)。 Next, an image is captured (S16).
輝度レベル検出部18の出力信号に基づき輝度を算出し、かつ、高周波成分検出部19の出力信号に基づき高周波を検出する(S17)。
The luminance is calculated based on the output signal of the luminance
輝度は、センサ信号におけるサンプルパルス1,2のサンプリング位置における差によって表され、かつ、その差が大きくなると輝度も大きくなる。例えば、図5に示すように、フィードスルーレベル30aと信号レベル30bとの差dが輝度となる。
The brightness is represented by the difference in the sampling positions of the sample pulses 1 and 2 in the sensor signal, and the brightness increases as the difference increases. For example, as shown in FIG. 5, the difference d between the
また、高周波の検出は、フィードスルーレベル30aよりリセットレベル30c側をサンプリングした結果、サンプルパルス1,2のサンプリング位置における差が大きくなり、誤って輝度が大きいと判断されるのを防止するために行われる。すなわち、リセットされると周波数は零となることから、フィードスルーレベル30aよりリセットレベル30c側をサンプリングした場合、周波数はある閾値未満の値とり、当該閾値未満のものは不可と判断できる。
Further, in order to prevent high frequency detection, the difference between the sampling positions of the sample pulses 1 and 2 becomes large as a result of sampling the reset level 30c side from the
S16からS17までのステップを5回繰り返したかを判断する(S18)。なお、繰り返す毎に条件を変更する(S19)。 It is determined whether the steps from S16 to S17 have been repeated five times (S18). The condition is changed every time it is repeated (S19).
すなわち、条件変更とは、サンプリングタイミングの変更のことであり、S12にて設定されたデフォルト値に対し、−9.6ns,−4.8ns,±0ns,+4.8ns,+9.6nsの5つの値にてタイミングを変更する。 That is, the condition change is a change in the sampling timing, and five values of −9.6 ns, −4.8 ns, ± 0 ns, +4.8 ns, and +9.6 ns with respect to the default value set in S12. Change the timing by value.
条件を変更し、S16からS17までのステップを5回繰り返して得られた各輝度と高周波の値をメモリ等に記憶しておく。 The conditions are changed, and the brightness and high frequency values obtained by repeating the steps from S16 to S17 five times are stored in a memory or the like.
なお、S16からS17までのステップを繰り返す回数は5回に限るものではなく、その場合、繰り返しの都度サンプリングタイミングが変更されるように、適宜タイミング変更の間隔を調整する。 Note that the number of times the steps from S16 to S17 are repeated is not limited to five. In this case, the timing change interval is appropriately adjusted so that the sampling timing is changed each time the step is repeated.
記憶させておいた輝度と高周波の値より、高周波成分が閾値以上で、かつ、輝度が最大となる時の条件を粗調整による位相として決定する(S20)。 From the stored luminance and high frequency values, the condition when the high frequency component is equal to or higher than the threshold and the luminance is maximized is determined as a phase by rough adjustment (S20).
以上、S14〜S20までの工程が粗調整手段となり、制御装置ならびに当該ステップを格納したROM等(図示せず)にて構成されている。 As described above, the steps from S14 to S20 serve as coarse adjustment means, and are configured by a control device and a ROM (not shown) storing the steps.
粗調整値が済むと、次に微調整を行う。 After the coarse adjustment value is finished, fine adjustment is performed next.
まず、ALCの条件を変更する。すなわち、露光時間を最小とする。メカニカルシャッタが有る場合には、メカニカルシャッタを閉じることにより露光時間を最小とする。このように、露光時間を最小としておいてゲインをアップさせることにより、ノイズ成分のみを増大させる(S21)。 First, the ALC conditions are changed. That is, the exposure time is minimized. If there is a mechanical shutter, the exposure time is minimized by closing the mechanical shutter. Thus, only the noise component is increased by increasing the gain while minimizing the exposure time (S21).
次に、画像を取り込み(S22)、高周波成分検出部19の出力信号に基づき高周波を検出する(S23)。 Next, an image is captured (S22), and a high frequency is detected based on the output signal of the high frequency component detector 19 (S23).
S22からS23までのステップを5回繰り返したかを判断する(S24)。なお、繰り返す毎に条件を変更する(S25)。 It is determined whether the steps from S22 to S23 have been repeated five times (S24). The condition is changed every time it is repeated (S25).
すなわち、条件変更とは、サンプリングタイミングの変更のことであり、S20にて設定された粗調整値に対し、−2.4ns,−1.2ns,±0ns,+1.2ns,+2.4nsの5つの値にてタイミングを変更する。 That is, the condition change is a change in the sampling timing, and is 5 of −2.4 ns, −1.2 ns, ± 0 ns, +1.2 ns, and +2.4 ns with respect to the coarse adjustment value set in S20. Change the timing by one value.
条件を変更し、S22からS23までのステップを5回繰り返して得られた各高周波の値をメモリ等に記憶しておく。 The conditions are changed, and each high frequency value obtained by repeating the steps S22 to S23 five times is stored in a memory or the like.
なお、繰り返しの回数は5回に限定されるものではなく、その場合、適宜タイミング変更の間隔を調整する。 Note that the number of repetitions is not limited to five. In that case, the timing change interval is appropriately adjusted.
記憶させておいた各高周波の値より、高周波成分が最小となる時の条件を微調整による位相として決定する。すなわち、S21にてノイズ成分のみを対象としており、本来、ノイズ成分は零となることが好ましいことから、ノイズ成分が最小となる時、すなわち高周波成分が最小となる時の条件を位相として決定する(S26)。 The condition at which the high frequency component is minimized is determined from the stored high frequency values as the phase by fine adjustment. That is, since only the noise component is targeted in S21 and it is preferable that the noise component is essentially zero, the condition when the noise component is minimized, that is, when the high frequency component is minimized is determined as the phase. (S26).
このように、微調整による結果、得られた値がサンプルパルス1,2の位相として決定される(S27)。 Thus, the value obtained as a result of the fine adjustment is determined as the phase of the sample pulses 1 and 2 (S27).
以上、S21〜S27までの工程が微調整手段となり、制御装置ならびに当該ステップを格納したROM等(図示せず)にて構成されている。 As described above, the steps from S21 to S27 serve as fine adjustment means, and are configured by a control device and a ROM (not shown) storing the steps.
また、自動位相調整装置は、センサ駆動信号生成部15、輝度レベル検出部18、高周波成分検出部19、タイミング調整部20、粗調整手段、微調整手段等にて構成されている。
The automatic phase adjustment device includes a sensor drive
サンプルパルス1とサンプルパルス2の位相差は、センサ信号に基づき予め所定の値に固定されており、図3,4に示したフローチャートによってサンプルパルス1,2のいずれかの位相が決定されることにより、残りパルスの位相も自動的に決定される。 The phase difference between the sample pulse 1 and the sample pulse 2 is fixed to a predetermined value in advance based on the sensor signal, and the phase of one of the sample pulses 1 and 2 is determined by the flowcharts shown in FIGS. Thus, the remaining pulse phase is also automatically determined.
なお、サンプルパルス1,2の位相の決定手順の変形例として、例えば、S20までの手順は上記と同様であり、S21以降の微調整の工程にて、サンプルパルス1とサンプルパルス2について、それぞれ別々にS21からS27の工程を実行して位相を決定するようにしてもよい。 As a modification of the procedure for determining the phase of the sample pulses 1 and 2, for example, the procedure up to S20 is the same as described above, and for the sample pulse 1 and the sample pulse 2 in the fine adjustment process after S21, respectively. The phase may be determined by separately executing steps S21 to S27.
図5において、理想的なサンプルパルス1,2の波形を実線で示す。この理想的なサンプルパルス1,2の波形となるように、図4におけるS25にて条件変更して、破線で示す範囲で位相を調整する。 In FIG. 5, the waveforms of ideal sample pulses 1 and 2 are shown by solid lines. The conditions are changed in S25 in FIG. 4 so as to obtain the ideal waveform of the sample pulses 1 and 2, and the phase is adjusted within the range indicated by the broken line.
このように構成された画像処理システムにおける自動位相調整装置によると、露光時間を最小として画像を取込むことで主にノイズ成分が取込まれ、ノイズ成分が最小となる、すなわち高周波成分が最小となる時の位相をCDSのサンプルパルス1,2の位相として決定し、タイミングずれを微調整することができ、高温時等においてサンプリングタイミングに変動が発生したり、低照度時等における高精度な位相調整が望まれる際に対応できる。よって、製品のばらつき、温度依存をなくしCDSのS/Hの機能を最大限に生かした信号処理が可能となる。特に、S/Nを最大限にできる効果があり、低照度時の画質の改善に効果がある。 According to the automatic phase adjustment apparatus in the image processing system configured as described above, the noise component is mainly captured by capturing the image with the exposure time being minimized, and the noise component is minimized, that is, the high frequency component is minimized. Is determined as the phase of CDS sample pulses 1 and 2, and the timing deviation can be fine-tuned. Sampling timing changes at high temperatures, etc., and high-precision phases at low illuminance. It can be used when adjustment is desired. Therefore, it is possible to perform signal processing that maximizes the S / H function of CDS by eliminating product variations and temperature dependence. In particular, the S / N can be maximized, and the image quality can be improved at low illuminance.
また、微調整の前に、必要に応じてサンプルパルスの位相のタイミングずれを粗調整することができ、タイミングずれの調整が円滑に行える。 In addition, before the fine adjustment, the timing deviation of the phase of the sample pulse can be roughly adjusted as necessary, and the timing deviation can be adjusted smoothly.
なお、上記実施例は、フィードスルーレベル30aをクランプするタイミング信号であるサンプルパルス1と、信号レベル30bをサンプルホールドするタイミング信号であるサンプルパルス2の位相の微調整を行うものであったが、これらサンプルパルス1,2の微調整に加え、デジタル変換するためのデータをサンプル/ホールドするためのタイミングを決定するA/Dクロック信号の位相についても、図3,4のフローチャートに示したタイミング調整と同時に調整を行ってもよい。
In the above embodiment, the phase of the sample pulse 1 which is a timing signal for clamping the
すなわち、図5に示すように、タイミング調整にて位相が決定されたサンプルパルス2(実線)にてサンプル後、アナログ信号のゲイン増幅が始まる。A/Dクロック信号の位相は、ADCがデータをサンプルホールドした際に十分な信号振幅を得ることができるように、アナログ信号のゲイン増幅動作が完了後、立ち上がることが好ましい。 That is, as shown in FIG. 5, after sampling with the sample pulse 2 (solid line) whose phase is determined by timing adjustment, gain amplification of the analog signal starts. The phase of the A / D clock signal preferably rises after completion of the gain amplification operation of the analog signal so that a sufficient signal amplitude can be obtained when the ADC samples and holds data.
このように、アナログ信号のゲイン増幅動作が完了後、A/Dクロック信号が立ち上がるように、すなわち、A/Dクロック信号の実線で示す理想的な波形となるように、破線で示す範囲で位相を調整する。 Thus, after the gain amplification operation of the analog signal is completed, the phase within the range indicated by the broken line is set so that the A / D clock signal rises, that is, an ideal waveform indicated by the solid line of the A / D clock signal. Adjust.
A/Dクロック信号とサンプルパルス1,2の位相差は、予め所定の値に固定されており、タイミング調整にてサンプルパルス1,2の位相が決定されることにより、A/Dクロック信号の位相が自動的に最適値に調整される。 The phase difference between the A / D clock signal and the sample pulses 1 and 2 is fixed to a predetermined value in advance, and the phase of the sample pulses 1 and 2 is determined by the timing adjustment. The phase is automatically adjusted to the optimum value.
(実施例2)
本発明の実施例2を図6に基づいて説明する。
(Example 2)
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
図6は画像処理システムのブロック図である。なお、タイミング調整回路図,タイミング調整のフローチャート,タイミングチャートは、図2ないし図5に示した例と同様である。 FIG. 6 is a block diagram of the image processing system. The timing adjustment circuit diagram, the timing adjustment flowchart, and the timing chart are the same as those shown in FIGS.
本実施例2は、BLOCKメモリ21にて輝度レベル検出部を兼用し、かつ、AF22にて高周波成分検出部を兼用することを特徴とするものである。BLOCKメモリ21はオート制御を行うために輝度レベルの平均値を算出するものであり、AF22はズーム機構やピント調整用の自動焦点調節機構であり、いずれも既存の画像処理システムに組み込まれている。そして、BLOCKメモリ21にて得た値より輝度を算出し、AF22にて高周波を検出する。
The second embodiment is characterized in that the
画像処理システムの自動位相調整は実施例1と同様であり、実施例1と同様の効果が得られる。さらに、BLOCKメモリ21にて輝度レベル検出部を兼用し、かつ、AF22にて高周波成分検出部を兼用するので、別途、輝度レベル検出部ならびに高周波成分検出部を設ける必要がなく、構造が簡単で安価である。
The automatic phase adjustment of the image processing system is the same as that of the first embodiment, and the same effect as that of the first embodiment is obtained. Furthermore, since the
なお、BLOCKメモリ21にて輝度レベル検出部のみを兼用し、高周波成分検出部は新たに設けるものや、AF22にて高周波成分検出部のみを兼用し、輝度レベル検出部は新たに設けるものであってもよい。
Note that only the brightness level detection unit is used in the
(実施例3)
本発明の実施例3を図7ないし図10に基づいて説明する。
(Example 3)
A third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
図7は画像処理システムのブロック図、図8,9はタイミング調整のフローチャート、図10はタイミングチャートである。なお、タイミング調整回路図は、図2に示した例と同様である。 7 is a block diagram of the image processing system, FIGS. 8 and 9 are timing adjustment flowcharts, and FIG. 10 is a timing chart. The timing adjustment circuit diagram is the same as the example shown in FIG.
本実施例3は、画像データを格納33または読出34を行うSDRAM16を備え、信号処理回路13にSDRAM16にアクセスするメモリコントローラ17を含むことを特徴とするものである。
The third embodiment includes an
タイミング調整のフローチャートに示すように、デフォルト値位相を決定する際に、SDRAM16のアクセスタイミングの位相をサンプルパルスの位相に対してずらすDRAMCK微調整(S28)を行い、再度、タイミング調整を行ってサンプルパルス位相を決定した後、SDRAM16のアクセスタイミングの位相をサンプルパルスの位相に対してずらすDRAMCK微調整(S29)を行う。
As shown in the timing adjustment flowchart, when determining the default value phase, the DRAMCK fine adjustment (S28) is performed to shift the access timing phase of the
DRAMCK微調整(S29)の結果、図10に示すように、画像データを格納33または読出34の際におけるDRAMCKのアクセスタイミングの位相が、サンプルパルス1,2の位相に対してずれ、SDRAM16のノイズがアナログ映像信号に載るのを回避できる。
As a result of the DRAMCK fine adjustment (S29), as shown in FIG. 10, the phase of the DRAMCK access timing at the time of storing 33 or reading 34 shifts with respect to the phase of the sample pulses 1 and 2, and the noise of the
このように構成された画像処理システムにおける自動位相調整装置によると、実施例1と同様の効果が得られる。さらに、SDRAM16のクロックを微調整後のサンプルパルス1,2の位相を元に変更することにより、定期ノイズを回避することができる。
According to the automatic phase adjustment device in the image processing system configured as described above, the same effect as in the first embodiment can be obtained. Furthermore, the periodic noise can be avoided by changing the clock of the
本発明の画像処理システムにおける自動位相調整装置は、サンプルパルスやA/Dクロック信号の位相を自動的に調整する装置として有用である。 The automatic phase adjustment apparatus in the image processing system of the present invention is useful as an apparatus for automatically adjusting the phase of a sample pulse or an A / D clock signal.
10 光学レンズ
11 センサ
12 CDS/AGC/ADC部
13 信号処理回路
14 YC信号処理部
15 センサ駆動信号生成部
16 SDRAM
17 メモリコントローラ
18 輝度レベル検出部
19 高周波成分検出部
20 タイミング調整部
30 センサの出力信号
32 タイミング信号
DESCRIPTION OF
17
Claims (5)
相関二重サンプリングされた画像信号をアナログ/デジタル変換するADCと、
高周波成分検出部を有し、デジタル変換された画像信号を処理する信号処理回路とを備えた画像処理システムにおいて、
露光時間を最小として画像を取込み、前記高周波成分検出部にて検出した高周波成分が最小となる時の位相を前記CDSのサンプルパルスの位相とし、サンプルパルスの位相のタイミングずれを微調整する微調整手段を有した、ことを特徴とする画像処理システムにおける自動位相調整装置。 A CDS for correlated double sampling of the image signal from the sensor;
ADC for analog / digital conversion of correlated double sampled image signal;
In an image processing system having a high frequency component detection unit and a signal processing circuit for processing a digitally converted image signal,
Fine adjustment to capture an image with the minimum exposure time and to make the phase when the high-frequency component detected by the high-frequency component detection unit becomes the minimum as the phase of the sample pulse of the CDS, and to finely adjust the timing deviation of the phase of the sample pulse An automatic phase adjusting device in an image processing system, characterized in that it has means.
相関二重サンプリングされた画像信号をアナログ/デジタル変換するADCと、
輝度レベル検出部および高周波成分検出部を有し、デジタル変換された画像信号を処理する信号処理回路とを備えた画像処理システムにおいて、
画像を取込み、前記高周波成分検出部にて検出した高周波成分が閾値以上で、かつ、前記輝度レベル検出部にて検出した輝度が最大となる時の位相を前記CDSのサンプルパルスの位相とし、サンプルパルスの位相のタイミングずれを粗調整する粗調整手段を有し、
露光時間を最小として画像を取込み、前記高周波成分検出部にて検出した高周波成分が最小となる時の位相を前記CDSのサンプルパルスの位相とし、サンプルパルスの位相のタイミングずれを微調整する微調整手段を有した、ことを特徴とする画像処理システムにおける自動位相調整装置。 A CDS for correlated double sampling of the image signal from the sensor;
ADC for analog / digital conversion of correlated double sampled image signal;
In an image processing system having a luminance level detection unit and a high frequency component detection unit, and a signal processing circuit for processing a digitally converted image signal,
The phase when the high-frequency component detected by the high-frequency component detection unit is greater than or equal to a threshold value and the luminance detected by the luminance level detection unit is the maximum is set as the phase of the sample pulse of the CDS. Coarse adjustment means for coarsely adjusting the timing deviation of the phase of the pulse;
Fine adjustment to capture an image with the minimum exposure time and to make the phase when the high-frequency component detected by the high-frequency component detection unit becomes the minimum as the phase of the sample pulse of the CDS, and to finely adjust the timing deviation of the phase of the sample pulse An automatic phase adjusting device in an image processing system, characterized in that it has means.
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