JP2005122798A - Optical disk device and its control method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光ディスク装置およびその制御方法に関する。 The present invention relates to an optical disc apparatus and a control method thereof.
光ディスクに対してレーザーダイオード(以下、LD(Laser Diode)と称する。)から出射するレーザー光を利用して記録又は再生の処理を行う光ディスク装置では、LDの正面側のフロントモニタダイオード(以下、FMD(Front Monitor Diode)と称する。)において検出されたLD出力に基づいて、再生時のLD出力のパワー値(リードパワー値)や記録時のLD出力のパワー値(ライトパワー値)が一定となるように、APC(Automatic Power Control)によるサーボ制御を実行する。 2. Description of the Related Art In an optical disc apparatus that performs recording or reproduction processing using laser light emitted from a laser diode (hereinafter referred to as LD (Laser Diode)) to an optical disc, a front monitor diode (hereinafter referred to as FMD) on the front side of the LD. (Referred to as “Front Monitor Diode”), the power value (read power value) of the LD output at the time of reproduction and the power value (write power value) of the LD output at the time of recording are constant. Thus, servo control by APC (Automatic Power Control) is executed.
LDは、LDドライバーから供給される電流によってレーザー光を出射するとき、熱を発生する。この熱によって、LD自体若しくはLDの周囲の温度が変化する。さらに、この温度変化によって、LDにおける発振波長の温度依存性のため、LDから出射するレーザー光の波長が変動する。ここで、FMDの受光側には、通常、所定の波長を有した光を通過させるべく波長依存性のある透過膜が設けられており、レーザー光の波長変動によって、光ディスクの特性(反射率や透過率)が変動するとともに、FMDにおいて検出されるLD出力が変動することになる。 The LD generates heat when the laser beam is emitted by the current supplied from the LD driver. This heat changes the temperature of the LD itself or the ambient temperature of the LD. Furthermore, due to this temperature change, the wavelength of the laser light emitted from the LD varies due to the temperature dependence of the oscillation wavelength in the LD. Here, on the light receiving side of the FMD, a transmission film having a wavelength dependency is usually provided so as to allow light having a predetermined wavelength to pass therethrough. (Transmissivity) varies, and the LD output detected in the FMD varies.
このように、LD自体若しくはLDの周囲の温度変化が原因となって、FMDにおいて検出されるLD出力が変動した結果、APCのサーボ制御が破綻するなど、光ディスク装置における記録又は再生の処理に多大な影響を与えることになる。そこで、例えば、以下に示す特許文献1に開示された技術のように、LDの温度検出手段によって検出された温度に基づいてLDの駆動制御を行う光ディスク装置の仕組みが提案されている。
ところで、光ディスク装置全体の制御を司るシステムコントローラなどが、前述のLDの温度検出手段によって検出された温度をリアルタイムで取得して、さらには、LDの温度を安定化させるべく温度に応じたLDの駆動制御をリアルタイムに実行しようとする場合、その一連の処理に多くの時間がかかってしまうので実現困難であった。 By the way, a system controller or the like that controls the entire optical disc apparatus acquires the temperature detected by the above-described LD temperature detecting means in real time, and further, the LD of the LD according to the temperature to stabilize the temperature of the LD. When trying to execute the drive control in real time, it takes a long time to perform the series of processes, which is difficult to realize.
また、LD自体若しくはLDの周囲の温度は、電源投入時や処理待機中の状態よりLDドライバーからLDに電流の供給を開始したときから急激に変化し、その後、安定することが考えられる。ここで、前述の温度に応じたLDの駆動制御について、記録又は再生の処理中においてまでリアルタイムで実行した場合、前述のシステムコントローラなどにかなりの処理の負担を負わせた割には、LD自体若しくはLDの周囲の温度を安定化させる効果があまり得られない結果となりかねない。 Further, it is conceivable that the temperature of the LD itself or the ambient temperature of the LD changes rapidly after the supply of current from the LD driver to the LD is started from when the power is turned on or in a standby state, and then stabilizes. Here, when the drive control of the LD according to the temperature described above is executed in real time even during the recording or reproducing process, the LD itself itself is charged even though the system controller or the like is burdened with a considerable amount of processing. Alternatively, the effect of stabilizing the temperature around the LD may not be obtained so much.
このように、前述の温度に応じたLDの駆動制御を行う仕組みについては、光ディスク装置全体の性能を低下させずに済む簡素な仕組みが求められていた。 As described above, there is a need for a simple mechanism that performs the drive control of the LD according to the above-described temperature without reducing the performance of the entire optical disc apparatus.
そこで、本発明は、装置全体の性能低下を抑えるとともに簡素な仕組みで、LDに係る温度を安定化させることが可能な光ディスク装置及びその制御方法を提供することを目的とする。 Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical disc apparatus capable of stabilizing the temperature related to the LD with a simple mechanism while suppressing the performance degradation of the entire apparatus, and a control method thereof.
前述した課題を解決するための主たる本発明は、発光素子から光ディスクへ出射するレーザー光のパワー値を設定して前記発光素子を駆動し、前記光ディスクへの記録及び/又は再生の処理を行う光ディスク装置であって、前記発光素子に係る温度を検出する手段と、前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する前に前記発光素子のテスト駆動を開始し、前記テスト駆動を開始したときから、所定時間を経過する度に、前記手段において検出された前記温度を取得し、前記取得された温度と、当該温度が取得されたときより前記所定時間前に取得された温度と、の差が所定範囲内となったとき前記テスト駆動を終了し、前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する制御手段と、を有することとする。 The main present invention for solving the above-mentioned problems is an optical disc that sets a power value of laser light emitted from a light emitting element to an optical disc and drives the light emitting device to perform recording and / or reproduction processing on the optical disc. A device for detecting a temperature related to the light emitting element, and starting a test drive of the light emitting element before starting a recording or reproducing process on the optical disc, from when the test drive is started, The temperature detected by the means is acquired every time a predetermined time elapses, and a difference between the acquired temperature and a temperature acquired a predetermined time before the temperature is acquired is predetermined. Control means for terminating the test drive and starting the recording or reproducing process on the optical disc when it falls within the range.
本発明に係る光ディスク装置は、前記発光素子を駆動する際の初期時において、前記発光素子より発生する熱で前記発光素子自体若しくはその周囲の温度が急激に変化することに着眼して、前記光ディスクへの記録又は再生の処理を実際に開始する前に、前記発光素子自体の温度若しくはその周囲の温度を安定化させるべく、前記発光素子のテスト駆動を行う。なお、前記発光素子のテスト駆動については、前記光ディスクへの記録又は再生の処理中には実行しないように所定の条件で終了させる。さらに、前記発光素子のテスト駆動において、前記制御手段は、前記検出された温度をリアルタイムに取得するのではなく、前記所定時間ごとに取得するとともに、前記取得した温度に応じたレーザー光のパワー値の調整についてリアルタイムではなく前記所定時間ごとに行う。 The optical disc apparatus according to the present invention focuses on the fact that the temperature of the light emitting element itself or its surroundings rapidly changes due to the heat generated from the light emitting element at the initial stage of driving the light emitting element. Before actually starting the recording or reproducing process, the light emitting element is test-driven in order to stabilize the temperature of the light emitting element itself or the surrounding temperature. Note that the test drive of the light emitting element is terminated under a predetermined condition so as not to be executed during the process of recording or reproducing on the optical disc. Further, in the test drive of the light emitting element, the control unit does not acquire the detected temperature in real time, but acquires the predetermined temperature every predetermined time, and the power value of the laser beam corresponding to the acquired temperature The adjustment is performed at the predetermined time instead of in real time.
本発明に係る光ディスク装置は、前記発光素子のテスト駆動を実行することで、前記制御手段などにおける性能低下を抑えつつ、前記発光素子自体若しくはその周囲の温度を安定化させることができる。また、前記光ディスクへの記録又は再生を行うときのレーザー光のパワー値を設定する際、APCなどによるサーボ制御が、急激な温度変化によって破綻することがなくなる。この結果、前記光ディスクへの記録又は再生の処理が開始する前に、前記発光素子から出射するレーザー光のパワー値が安定することになり、ひいては、前記光ディスクへの記録又は再生品位が向上することになる。 The optical disk apparatus according to the present invention can stabilize the temperature of the light emitting element itself or its surroundings while suppressing the performance degradation in the control means or the like by executing the test drive of the light emitting element. In addition, when setting the power value of the laser beam for recording or reproduction on the optical disc, servo control by APC or the like does not break down due to a rapid temperature change. As a result, the power value of the laser beam emitted from the light emitting element is stabilized before the process of recording or reproducing on the optical disk is started, thereby improving the quality of recording or reproducing on the optical disk. become.
このように、本発明によれば、発光素子自体若しくはその周囲の温度の変化について、装置全体の性能低下を抑えた簡素な仕組みでLDに係る温度を安定化させることができ、ひいては、光ディスクへの記録品位又は再生品位について向上させることができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to stabilize the temperature related to the LD with a simple mechanism that suppresses the degradation of the performance of the entire device with respect to the temperature change of the light emitting element itself or its surroundings. Recording quality or reproduction quality can be improved.
本発明によれば、装置全体の性能低下を抑えるとともに簡素な仕組みで、LDに係る温度を安定化させることが可能な光ディスク装置及びその制御方法を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an optical disc apparatus capable of stabilizing the temperature related to the LD with a simple mechanism while suppressing the degradation of the performance of the entire apparatus, and a control method therefor.
<システム構成>
本発明に係る光ディスク装置100は、レーザーダイオード(以下、LD(Laser Diode)と称する。)11の駆動方式として、マルチパルス方式やノンマルチパルス方式を採用することができる。
<System configuration>
The
光ディスク装置100は、マルチパルス方式を採用した場合、記録マークを形成しないスペース区間ではリードパワー値Prでレーザー光を出射し、記録マークを形成するマーク区間ではリードパワー値Prとライトパワー値Pmとを有する記録パルス列に応じたパワー値でレーザー光を出射する。マルチパルス方式によれば、マーク区間中においてリードパワー値Prとなる区間を冷却区間とすることができ、熱分布の均一化を図れる。
When the multi-pulse method is adopted, the
光ディスク装置100は、ノンマルチパルス方式を採用した場合、スペース区間ではリードパワー値Pr、マーク区間ではライトパワー値Pmとし、1つの記録マークを1つの記録パルスで形成する。なお、ノンマルチパルス方式単独では、記録マークにおける熱分布の均一化が図れず、記録マークが涙状に歪むことが知られている。
When the non-multi-pulse method is adopted, the
そこで、ノンマルチパルス方式の場合、マーク区間における先頭側の所定区間(以下、LDH(LD High)区間と称する。)では、メーカーや記録速度などの光ディスク200の種別に応じて定められたバイアス値Δ(ライトパワー値Pmとリードパワー値Prの差分値の数%〜20%程度)をライトパワー値に重畳させて、LD11を駆動するよう構成する。なお、LDH区間のピーク値であるPhとライトパワー値Pmとの比は、通常、Ph/Pm比と呼ばれている。このような構成を採用することで、記録マークにおける熱分布の均一化が図れる。
Therefore, in the case of the non-multi-pulse system, a bias value determined according to the type of the
図1に示した、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置100は、LDH区間においてバイアス値Δをライトパワー値に重畳させるノンマルチパルス方式を採用する。以下、図5のタイムチャートを適宜参照しつつ、光ディスク装置100の構成を図1に基づいて説明する。
The
光ピックアップ10は、LD11、フロントモニタダイオード12(以下、FMD(Front Monitor Diode)と称する。)、透過膜13、光検出器14(以下、PD(Photo Detector)と称する。)、温度センサ15、を備える。光ピックアップ10は、さらに、前述した構成の他、光学レンズ、光ピックアップ10のスレッド送り制御、トラッキング制御及びフォーカス制御などを実施するための各種アクチュエータなどを備えるが、それらの図示及び詳細な説明は省略する。
The
LD(『発光素子』)11は、光ディスク200に対して記録及び再生を行うためのレーザー光を出射する。なお、LD11は、LDドライバー16から供給される電流によってレーザー光を出射するとき、熱を発生する。この熱によって、LD11に係る温度が変化する。さらに、この温度変化によって、LD11における発振波長の温度依存性のため、LD11から出射するレーザー光の波長が変動する。
The LD (“light emitting element”) 11 emits laser light for performing recording and reproduction on the
FMD12は、LD11の正面側に配置されており、LD11から光ディスク200に対して出射されたレーザー光の一部を透過膜13を介して受光する。FMD12は、この受光したレーザー光の光量に応じて電流が流れ、この電流に応じた信号(以下、パワーモニタ信号と称する。)を生成する。
The FMD 12 is disposed on the front side of the LD 11 and receives part of the laser light emitted from the LD 11 toward the
透過膜13は、FMD12の受光側に配置されており、所定の波長を有した光を通過させるべく波長依存性を有する。この透過膜13は、例えば、CDメディアとDVDメディアをともに再生可能とする光ディスク装置100の場合において、CDメディア用の780nm帯の波長を有するレーザー光と、DVDメディア用の635nm帯や650nm帯の波長を有するレーザー光とを、メディアのタイプに応じて選択して透過させる用途で利用される。LD11から出射するレーザー光の波長が変動した場合、透過膜13の波長依存性のため、FMD12で受光するレーザー光の光量が変動する。
The
PD14は、光ディスク200からの反射光を透過膜13を介して受光して、その受光した光量に応じて電流が流れ、この電流に応じた信号(以下、再生信号と称する。)を生成する。なお、PD14は、FMD12と兼用することもできる。PD14で生成された再生信号は、デコーダ19に供給されて、光ディスク200のメディアに応じた所定のデコード処理が施される。
The
また、PD14で生成された再生信号は、サーボ回路37に供給される。サーボ回路37は、PD14で生成された再生信号に基づいて、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、WBL(Wobble)信号などを生成して、光ピックアップ10のサーボ制御(トラッキング制御、フォーカス制御、スレッド送り制御など)や、光ディスク200を回転駆動するスピンドルモーター38のサーボ制御を行う。
Further, the reproduction signal generated by the
温度センサ(『温度を検出する手段』)15は、サーミスタ・熱電対・白金測温抵抗体などの接触式センサや、サーモパイルなどの非接触式センサを採用できる。温度センサ15は、LD11が取り付けられた基板上でLD11と接触若しくは近接するよう配置しておき、LD11自体若しくはその周囲の温度を検出する。ここで、LD11自体の温度を検出するようにした場合、より精度の高い温度が検出できる。一方、LD11の周囲(例えば、LD11の近傍)の温度を検出するようにした場合、LD11自体の温度を検出する場合と比べて、光ピックアップ10内に温度センサ15を自由に取り付けることができて、光ピックアップ10の小型化に貢献できる。
As the temperature sensor (“temperature detecting means”) 15, a contact sensor such as a thermistor, a thermocouple, or a platinum resistance temperature detector, or a non-contact sensor such as a thermopile can be employed. The
温度センサ15において検出された温度(アナログ値)は、A/Dコンバータ36によってディジタル値に変換後、システムコントローラ17に入力される。システムコントローラ17は、A/Dコンバータ36から入力された温度(ディジタル値)の情報に基づいて、LD11に係る温度を安定化させるべく、後述するLD11のテスト駆動を実行する。
The temperature (analog value) detected by the
システムコントローラ17(『制御手段』)は、光ディスク200の記録又は再生に係る光ディスク装置100全般のシステム制御を司る。例えば、システムコントローラ17は、光ディスク200に対して記録又は再生を行う場合に、光ディスク200に応じた復調又は変調処理を施すために、エンコーダ/デコーダ19の起動を制御する。
The system controller 17 (“control means”) controls the overall system control of the
システムコントローラ17は、リードパワー値Prに関するAPC(Automatic Power Control)を実施するために、第1のAPC基準電圧信号(ディジタル値)をD/Aコンバータ21に供給する。同様に、ライトパワー値Pmに関するAPC(Automatic Power Control)を実施するために、第2のAPC基準電圧信号(ディジタル値)をD/Aコンバータ28に対して供給する。
The
システムコントローラ17は、記録開始から所定期間、ライトパワー値Pmに関するACC(Automatic Current Control)を実施するために、ACC基準電圧信号(ディジタル値)をD/Aコンバータ25に対して供給する。なお、システムコントローラ17は、スイッチ30の導通/非導通を制御するので、その結果、ライトパワー信号発生回路31から出力されるライトパワー信号VWDCについて、ACC回路26出力又はAPC回路29出力のいずれか一方が選択される。
The
さらに、システムコントローラ17は、RAM18に記憶されたストラテジー情報から光ディスク200の種別(メーカーや記録速度など)に応じたATT設定値を読み出し、このATT設定値に基づいてアッテネータ33の減衰率ATTを設定する。なお、ストラテジー情報とは、例えば、製造メーカーや記録速度ごとに推奨されるPh/Pm比やそのPh/Pm比に対応するATT設定値などを有している。このストラテジー情報は、光ディスク装置100に予め記憶されていてもよいし、光ディスク200の所定領域に予め記録されているものとして、この情報を光ディスク200から逐次読み出してストラテジー情報の内容を更新してもよい。
Further, the
RAM18は、システムコントローラ17がアクセス可能なメモリであり、例えば、EEPROMやフラッシュメモリなどの不揮発性メモリや、SRAMやDRAMなどの揮発性メモリを採用することができる。なお、RAM18は、エンコーダ/デコーダ19において変調又は復調処理中にあるデータを一時記憶する場合に使用される。
The
エンコーダ/デコーダ19は、光ディスク200のメディアに応じた変調又は復調処理を行う。例えば、光ディスク200がCD−Rメディアの場合、変調方式としてEFM(Eight to Fourteen Modulation)、誤り訂正方式としてCIRC(Cross Interleave Reed-Solomon Code)を採用しているため、これらの変調方式及び誤り訂正方式に基づいた変調又は復調処理を行う。
The encoder /
エンコーダ/デコーダ19は、スペース区間に対応したリードパワー値Prを示すパワーモニタ信号に関して、所定のサンプリング期間分サンプリングを行った後に前値保持を行うためのサンプルホールド信号RAPC(図5(d)参照)を、サンプルホールド(S/H:Sample Hold)回路20に供給する。同様に、マーク区間に対応したライトパワー値Pmを示すパワーモニタ信号に関して、所定のサンプリング期間分サンプリングを行った後に前値保持を行うためのサンプルホールド信号WAPC(図5(g)参照)を、サンプルホールド(S/H:Sample Hold)回路27に供給する。
The encoder /
エンコーダ/デコーダ19は、ノンマルチパルス方式においてバイアス値Δを重畳させた記録パルス(図5(a)参照)を形成すべく、スイッチ24の導通/非導通を設定するためのLDON信号(図5(c)参照)、スイッチ32の導通/非導通を設定するためのPEO信号(図5(f)参照)、スイッチ35の導通/非導通を設定するためのLDH信号(図5(h)参照)を、それぞれのスイッチ(22、30、35)に対して供給する。なお、LDON信号は、スペース区間及びマーク区間ともにスイッチ24を導通させるレベル(Hレベル)とする。また、PEO信号は、スペース区間ではスイッチ32を非導通とさせるレベル(Lレベル)とし、マーク区間ではスイッチ32を導通させるレベル(Hレベル)とする。さらに、LDH信号は、マーク区間の先頭となる所定区間(3T〜11T)ではスイッチ35を導通させるレベル(Hレベル)とし、それ以外の区間ではスイッチ35を非導通とさせるレベル(Lレベル)とする。
The encoder /
サンプルホールド(S/H:Sample Hold)回路(20、27)は、FMD12で検出されたパワーモニタ信号について、エンコーダ/デコーダ19から供給されるサンプルホールド信号RAPC/WAPCに基づいたタイミングでサンプルホールド処理を実行する。具体的には、サンプルホールド回路18は、サンプルホールド信号RAPCがHレベルとなる期間(サンプリング期間)、FMD12より供給されたパワーモニタ信号からリードパワー値Prを取り出す。一方、サンプルホールド回路25は、サンプルホールド信号WAPCがHレベルとなる期間(サンプリング期間)、FMD12より供給されたパワーモニタ信号からライトパワー値Pmを取り出す。
A sample hold (S / H) circuit (20, 27) performs a sample hold process on the power monitor signal detected by the
APC回路22は、サンプルホールド回路18によって取り出されたリードパワー値Prと、D/Aコンバータ21によってディジタル値からアナログ値に変換された第1のAPC基準電圧信号のレベルとを比較する。そして、この比較結果に基づいて、リードパワー値Prが一定(第1のAPC基準電圧信号のレベル)となるようにAPCを行う。
The
APC回路29もまた同様に、サンプルホールド回路25によって取り出されたライトパワー値Pmと、D/Aコンバータ28によってディジタル値からアナログ値に変換された第2のAPC基準電圧信号のレベルとを比較する。そして、この比較結果に基づいて、ライトパワー値Pmが一定(第2のAPC基準電圧信号のレベル)となるようにAPCを行う。
Similarly, the
リードパワー信号発生回路23は、APC回路22からのAPC出力に基づいて、FMD12で検出されたリードパワー値Prが一定となるようなリードパワー信号VRDC(図5(b)参照)を生成する。なお、このリードパワー信号VRDCは、LDON信号によってスイッチ24が導通した場合に、LDドライバー16に供給される。
Based on the APC output from the
ライトパワー信号発生回路31は、スイッチ30の切り替えによって、ACC回路26からのACC出力又はAPC回路29からのAPC出力のいずれか一方が供給される。そして、ライトパワー信号発生回路31は、ACC出力又はAPC出力に基づいて、FMD12で検出されたライトパワー値Pmが一定となるようなライトパワー信号VRDC(図5(b)参照)を生成する。なお、ライトパワー信号VRDCは、PEO信号によってスイッチ32が導通した場合に、LDドライバー16に供給される。
The write power
アッテネータ33は、例えば、多接点スイッチと抵抗器の組み合わせなどで構成され、システムコントローラ17から供給されるATT設定値に基づいて、減衰率ATTが設定される。この結果、増幅器34では、アッテネータ33で設定された減衰率ATTに基づいてゲインが設定される。そして、増幅器34は、設定されたゲインに基づいて、LD11より出力される記録パルスが指定されたPh/Pm比を満足するように、バイアス値Δに対応した制御信号ΔLDH(図5(g)参照)を生成する。なお、制御信号ΔLDHは、LDH信号によってスイッチ35が導通した場合にLDドライバー16に供給される。
The
LDドライバー16は、リードパワー信号発生回路23から供給されるリードパワー信号VRDCと、ライトパワー信号発生回路31から供給されるライトパワー信号VWDCと、増幅器34から供給される制御信号ΔLDHと、に基づいてLD11を駆動する。この結果、LDH区間では所定のバイアス値Δが重畳されたノンマルチパルス方式の記録パルスがLD11から出力される。なお、LDドライバー16は、ノンマルチパルス方式に限定されないのは勿論であり、マルチパルス方式を採用してもよい。また、光ディスク200の再生時では、LDドライバー16は、リードパワー信号発生回路23からリードパワー信号VRDCのみが供給されてLD11を駆動することになる。
The
<光ディスク装置の動作>
まず、図2に示すフローチャートに基づいて、LD11のテスト駆動の実行を開始する際に、その前段階において必要となる光ディスク装置100の動作(以下、「テスト準備処理」と称する。)について説明する。つぎに、図3に示すフローチャートに基づいて、LD11のテスト駆動に係る光ディスク装置100の動作について説明する。
<Operation of optical disc apparatus>
First, on the basis of the flowchart shown in FIG. 2, the operation of the optical disc apparatus 100 (hereinafter referred to as “test preparation process”) required in the previous stage when starting the test drive of the LD 11 will be described. . Next, the operation of the
=== テスト準備処理 ===
図2のフローチャートに基づいて、本発明に係るテスト準備処理の動作フローを説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ17が動作の主体とする。
=== Test preparation processing ===
The operation flow of the test preparation process according to the present invention will be described based on the flowchart of FIG. In the following description, the
まず、システムコントローラ17は、ディスク収納部(不図示)に収納された状態にある光ディスク100が回転中の状態である否かを判定する(S200)。このとき、光ディスク100から再生された情報に基づいて、光ピックアップ10やスピンドルモータ38のサーボ制御が起動するようにスタンバイ状態となる。ここで、光ディスク100が回転中の状態にあれば(S200:YES)、光ピックアップ10のスレッド送りやトラッキングのサーボ制御を無効とする(S201)。
First, the
つぎに、システムコントローラ17は、光ディスク100から再生された情報に基づいて、CLV(Constant Linear Velocity)やCAV(Constant Angular Velocity)などの光ディスク100の動作方式を予め識別している。そこで、システムコントローラ17は、光ディスク100の動作方式がCLV(Constant Linear Velocity)方式を採用しているか否かを判定する(S202)。CLV方式を採用している場合(S202:YES)、スレッド送りやトラッキングのサーボ制御が無効となったことを受けて、CLV方式で動作するのに必要な制御情報が、光ディスク200から再生できない状態となる。
Next, the
そこで、光ディスク200の速度の情報と、スレッド送りやトラッキングのサーボ制御が無効としたときの光ディスク100の絶対時間の情報と、に基づいて、以降の光ディスク200の回転数を算定する。この算定した回転数によって、CLV方式の動作からCAV方式の動作へと移行させる(S203)。
Therefore, the subsequent rotational speed of the
つぎに、光ディスク200が回転停止の状態であった場合(S200:NO)や元々CAV方式で動作していた場合(S202:NO)を含めて、システムコントローラ17は、フォーカスのサーボ制御を無効として、LD11のテスト駆動をするとき光ディスク200上でレーザー光の焦点が合わないようにする。具体的には、光ピックアップ10が備える光学レンズ(不図示)の位置を光ディスク200から離れる方向へ調整するとともに、フォーカスのサーボ制御を無効とする(S204)。
Next, the
このように、システムコントローラ17は、LD11のテスト駆動によって、光ディスク200上に無意味な記録マークを形成させないように、テスト準備処理を行う。この後、温度センサ15で検出された温度に応じたLD11のテスト駆動を行い、LD11に係る温度を安定化させる(S205)。なお、このLD11のテスト駆動の詳細な内容については後述する。
As described above, the
LD11のテスト駆動が終了した後は、LD11に係る温度が安定化した状態になるとともに、LD11出力の波長変動が抑えられてFMD12で受光するレーザー光の光量の変動が抑えられた状態で、光ディスク200への記録又は再生の処理を開始できる。なお、光ディスク200への記録又は再生の処理を行う前に、光ピックアップ10が備える光学レンズ(不図示)の位置を正常な位置に戻すとともに、光ピックアップ10のスレッド送り、トラッキング、フォーカスのサーボ制御を有効にすることは、勿論のことである(S206)。
After the test drive of the LD 11 is completed, the temperature related to the LD 11 is stabilized, the wavelength fluctuation of the output of the LD 11 is suppressed, and the fluctuation of the light amount of the laser beam received by the
=== LDのテスト駆動 ===
図3のフローチャートに基づいて、本発明に係るLD11のテスト駆動の動作フローを説明する。なお、以下の説明では、特に断らない限り、システムコントローラ17が動作の主体とする。
=== Test drive of LD ===
Based on the flowchart of FIG. 3, the operation flow of the test drive of the LD 11 according to the present invention will be described. In the following description, the
まず、LD11のテスト駆動が開始されるとき、システムコントローラ17が備えるシステムタイマー(不図示)などにおいて、時間の計測が開始される。ここで、システムコントローラ17は、計測された時間の情報を格納するパラメータtをRAM18等に格納しておく。パラメータtの内容については、時間の経過とともに順次更新される(S300)。
First, when test drive of the LD 11 is started, time measurement is started in a system timer (not shown) provided in the
システムコントローラ17は、時間の計測を開始したとき(t=0)、A/Dコンバータ36の出力 x を用いた演算によって温度センサ11で検出された温度yを求める。この演算を行うための演算式Zとしては、例えば、"y=0.00007×(x の2乗) − 0.1873 x + 100.4"とする。ここで、この演算式Zによって求めた温度yをパラメータy_saveに保持しておく(S301)。
When the time measurement is started (t = 0), the
システムコントローラ17は、LD11のテスト駆動を開始した時点で、リードパワー値Prやライトパワー値Pmよりも大きいテスト用パワー値にLD11の出力が設定されるように、リードパワー信号発生回路23やライトパワー信号発生回路31などを制御する(S302)。なお、テスト用パワー値とは、例えば、LD11の出力の最大定格の約80%とする。
When the test drive of the LD 11 is started, the
このように、光ディスク200へ実際に記録又は再生の処理を行う前に、LD11のテスト駆動を実行している間にLD11をウォームアップする。とくに、LD11のテスト駆動を開始した時点より、リードパワー値Prやライトパワー値Pmよりも大きいテスト用パワー値に設定することで、LD11に係る温度変化を一気に加速させ、光ディスク200への記録又は再生の処理が行われる状態へと速やかに近づける。この結果、LD11のテスト駆動が短時間に終了することが可能となり、光ディスク200への記録又は再生の処理を速やかに開始できる。
As described above, the LD 11 is warmed up while the test drive of the LD 11 is being executed before actually recording or reproducing the
LD11のテスト駆動の開始から"10"秒経過するまで(S303:NO)、LD11の出力のウォームアップを継続して行う。その後、"10秒"を経過したときは(S303:YES)、パラメータtの内容が"60秒"以内か否かを判定する(S304)。なお、"60秒"とは、LD11のテスト駆動が無限ループに陥って一向に終了しない事態を回避するために設定した、LD11のテスト駆動に係る最大所用時間とする。よって、この最大所用時間を経過したときは(S304:NO)、タイムアウトとしてLD11のテスト駆動を強制的に終了させる。なお、最大所用時間は、勿論"60秒"に限定されるものではない。 The warming up of the output of the LD 11 is continued until “10” seconds elapse from the start of the test drive of the LD 11 (S303: NO). Thereafter, when “10 seconds” have elapsed (S303: YES), it is determined whether or not the content of the parameter t is within “60 seconds” (S304). Note that “60 seconds” is the maximum required time related to the test drive of the LD 11 which is set to avoid the situation where the test drive of the LD 11 falls into an infinite loop and does not end at once. Therefore, when this maximum required time has elapsed (S304: NO), the test drive of the LD 11 is forcibly terminated as a timeout. Of course, the maximum required time is not limited to “60 seconds”.
LD11のテスト駆動の開始から"10秒"が経過し(S303:YES)且つ"60秒"を経過していない場合(S304:YES)、システムコントローラ17は、A/Dコンバータ36の出力 x を読み出し、温度センサ11で検出された温度yを前述した演算式Zによって求める(S305)。そして、この求めた温度yと、t=0のとき若しくは10秒前に求めた温度yを保持してあるパラメータy_saveとの差が、LD11に係る温度が安定化したことを示す所定範囲内(例えば、2℃以下)に収まっているか否かが判定される(S306)。
When “10 seconds” has elapsed since the start of the test drive of the LD 11 (S303: YES) and “60 seconds” has not elapsed (S304: YES), the
温度yとパラメータy_saveとの差が所定範囲内に収まっていない場合(S306:NO)、パラメータy_saveの内容を温度yに更新して(S307)、引き続き、S302以降の処理を行う。すなわち、システムコントローラ17は、温度yとパラメータy_saveとの差が所定範囲内に収まるまで、"10秒"を経過する度に(なお、"60秒"以内に限る。)、A/Dコンバータ36の出力 x を読み出して温度yを算定するとともに、この算定した温度yに応じたLD11出力のパワー値の調整を行う。
When the difference between the temperature y and the parameter y_save does not fall within the predetermined range (S306: NO), the content of the parameter y_save is updated to the temperature y (S307), and the processing after S302 is subsequently performed. That is, every time “10 seconds” elapse until the difference between the temperature y and the parameter y_save falls within a predetermined range (only within “60 seconds”), the
温度yとパラメータy_saveとの差が所定範囲内に収まった場合(S306:YES)若しくは"60秒"を経過した場合(S304:NO)、システムコントローラ17は、LD11に係る温度が安定した状態になったと見なしてLD11のテスト駆動を終了する。そして、光ディスク200への記録又は再生の処理を開始する(S308)。
When the difference between the temperature y and the parameter y_save falls within the predetermined range (S306: YES) or when “60 seconds” has elapsed (S304: NO), the
図4は、LD11のテスト駆動を実行することによって、LD11に係る温度が安定化していく様子を示した図である。なお、同図では、LD11のテスト駆動を開始してから"40秒"経過したときに、"40秒"のときの温度y(40)と、"30秒"のときの温度y(30)と、の差が2℃以内に収まり、LD11のテスト駆動が終了した例を示してある。すなわち、同図に示す例では、システムコントローラ17は、計5回、温度センサ15で検出された温度yの読み出しを行う。また、システムコントローラ17は、計3回、温度yに応じたLD11出力のパワー値調整を行う。
FIG. 4 is a diagram illustrating how the temperature related to the LD 11 is stabilized by executing the test drive of the LD 11. In the figure, when "40 seconds" have elapsed since the start of the test drive of the LD 11, the temperature y (40) at "40 seconds" and the temperature y (30) at "30 seconds" In this example, the difference between the two is within 2 ° C. and the test drive of the LD 11 is completed. In other words, in the example shown in the figure, the
このように、光ディスク装置100は、従来よりLD11を駆動する際の初期時においてLD11より発生する熱でLD11に係る温度が急激に変化することに着眼して、光ディスク200への記録又は再生の処理を実際に開始する前にLD11に係る温度を安定化させるべく、LD11のテスト駆動を行う。なお、LD11のテスト駆動は、光ディスク200への記録又は再生の処理が開始される前に必ず終了させる。また、システムコントローラ17は、LD11のテスト駆動において、温度センサ15で検出された温度yをリアルタイムに取得するのではなく所定時間(例えば、"10秒")ごとに取得し、さらに、温度yに基づいたLD11出力のパワー値の調整をリアルタイムではなく所定時間ごとに行う。
As described above, the
光ディスク装置100は、このようなLD11のテスト駆動を実行することで、システムコントローラ17などの装置全体の性能低下を抑えつつ、LD11に係る温度を安定化させることができる。また、リードパワー値Prやライトパワー値Pmを設定する際、APCなどによるサーボ制御が、急激な温度変化によって破綻することがなくなる。この結果、光ディスク200への記録又は再生の処理時において、LD11から出射するレーザー光のパワー値が安定することになり、光ディスク200への記録又は再生品位が向上することになる。
The
すなわち、本発明によれば、システムコントローラ17などの性能低下を抑えた簡素な仕組みでLD11に係る温度を安定化させることができ、ひいては、光ディスク200への記録又は再生品位について向上させることができる。
That is, according to the present invention, the temperature related to the LD 11 can be stabilized by a simple mechanism that suppresses the performance degradation of the
以上、本発明の実施形態について具体的に説明したが、これに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。 As mentioned above, although embodiment of this invention was described concretely, it is not limited to this, A various change is possible in the range which does not deviate from the summary.
10 光ピックアップ 11 レーザーダイオード
12 フロントモニタダイオード 13 透過膜
14 光検出器 15 温度センサ
16 LDドライバー 17 システムコントローラ
18 RAM 19 エンコーダ/デコーダ
20 サンプルホールド回路 21 D/Aコンバータ
22 APC回路 23 リードパワー信号発生回路
24 スイッチ 25 D/Aコンバータ
26 ACC回路 27 サンプルホールド回路
28 D/Aコンバータ 29 APC回路
30 スイッチ 31 ライトパワー信号発生回路
32 スイッチ 33 アッテネータ
34 増幅器 35 スイッチ
100 光ディスク装置 200 光ディスク
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記発光素子に係る温度を検出する手段と、
前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する前に前記発光素子のテスト駆動を開始し、
前記テスト駆動を開始したときから、所定時間を経過する度に、前記手段において検出された前記温度を取得し、
前記取得された温度と、当該温度が取得されたときより前記所定時間前に取得された温度と、の差が所定範囲内となったとき前記テスト駆動を終了し、
前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する制御手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 An optical disc apparatus that sets a power value of laser light emitted from a light emitting element to an optical disc, drives the light emitting device, and performs recording and / or reproduction processing on the optical disc,
Means for detecting the temperature of the light emitting element;
Start the test drive of the light emitting element before starting the recording or reproduction processing to the optical disc,
The temperature detected by the means is acquired every time a predetermined time has elapsed since the start of the test drive,
When the difference between the acquired temperature and the temperature acquired a predetermined time before the temperature is acquired is within a predetermined range, the test drive is terminated.
Control means for starting recording or reproduction processing on the optical disc;
An optical disc apparatus comprising:
前記テスト駆動を実行している間、前記光ディスクへの記録又は再生を行うパワー値よりも大きいテスト用パワー値を有した前記レーザー光にて前記発光素子を駆動すること、
を特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。 The control means includes
Driving the light emitting element with the laser light having a test power value larger than a power value for performing recording or reproduction on the optical disc while performing the test drive;
The optical disc apparatus according to claim 1.
前記テスト駆動を開始した時点より、前記テスト用パワー値を有した前記レーザー光にて前記発光素子を駆動すること、
を特徴とする請求項4に記載の光ディスク装置。 The control means includes
Driving the light emitting element with the laser light having the test power value from the time when the test driving is started;
The optical disc apparatus according to claim 4.
前記テスト駆動を開始したときから、予め定めておいた最大所用時間を経過したとき、前記テスト駆動を終了する、
ことを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。 The control means includes
When the predetermined maximum time has elapsed since the start of the test drive, the test drive is terminated.
The optical disc apparatus according to claim 1, wherein:
前記発光素子に係る温度を検出し、
前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する前に前記発光素子のテスト駆動を開始し、
前記テスト駆動を開始したときから、所定時間を経過する度に、前記手段において検出された前記温度を取得し、
前記取得された温度と、当該温度が取得されたときより前記所定時間前に取得された温度と、の差が所定範囲内となったとき前記テスト駆動を終了し、
前記光ディスクへの記録又は再生の処理を開始する、
ことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
A method of controlling an optical disc apparatus that sets a power value of laser light emitted from a light emitting element to an optical disc, drives the light emitting device, and performs recording and / or reproduction processing on the optical disc,
Detecting the temperature of the light emitting element;
Start the test drive of the light emitting element before starting the recording or reproduction processing to the optical disc,
The temperature detected by the means is acquired every time a predetermined time has elapsed since the start of the test drive,
When the difference between the acquired temperature and the temperature acquired a predetermined time before the temperature is acquired is within a predetermined range, the test drive is terminated.
Start recording or playback processing on the optical disc;
A method of controlling an optical disk device, comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003355052A JP2005122798A (en) | 2003-10-15 | 2003-10-15 | Optical disk device and its control method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2003355052A JP2005122798A (en) | 2003-10-15 | 2003-10-15 | Optical disk device and its control method |
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Publication Number | Publication Date |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2005122798A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007200386A (en) * | 2006-01-24 | 2007-08-09 | Sony Corp | Laser device and hologram recording/reproducing device |
US8406090B2 (en) | 2008-03-04 | 2013-03-26 | HGST Netherlands B.V. | Laser power sensor for thermally assisted magnetic recording |
-
2003
- 2003-10-15 JP JP2003355052A patent/JP2005122798A/en active Pending
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US8406090B2 (en) | 2008-03-04 | 2013-03-26 | HGST Netherlands B.V. | Laser power sensor for thermally assisted magnetic recording |
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