JP2005056496A - Measuring method of overwrite property - Google Patents

Measuring method of overwrite property Download PDF

Info

Publication number
JP2005056496A
JP2005056496A JP2003286114A JP2003286114A JP2005056496A JP 2005056496 A JP2005056496 A JP 2005056496A JP 2003286114 A JP2003286114 A JP 2003286114A JP 2003286114 A JP2003286114 A JP 2003286114A JP 2005056496 A JP2005056496 A JP 2005056496A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
track
signal
frequency signal
measurement
signal component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003286114A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Yuzawa
剛 由沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Holdings Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Holdings Ltd filed Critical Fuji Electric Holdings Ltd
Priority to JP2003286114A priority Critical patent/JP2005056496A/en
Publication of JP2005056496A publication Critical patent/JP2005056496A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately measure an overwrite value by preventing the occurrence of a measurement error due to off-track in reading based on large positional deviation of a track position at overwritting. <P>SOLUTION: Signal intensity are detected in a plurality of measurement points between an inner periphery and an outer periphery of the overwritten measurement track, an off-track profile of an amplitude value of a reproduced signal and an off-track profile of a signal component of a low frequency signal are prepared, a position of an effective track is estimated from the off-track profile of the amplitude value of the reproduced signal, a signal component of the residual low frequency signal is calculated from the position of the effective track and the off-track profile of the signal component of the low frequency signal, and the overwrite value is determined by calculating a ratio of the signal component of the residual low frequency signal and the signal component of the low frequency signal before being overwritten. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、磁気ディスク媒体の評価方法に関するものであり、特に、リードライト試験におけるオーバーライト特性の評価方法に関する。 The present invention relates to a method for evaluating a magnetic disk medium, and more particularly to a method for evaluating an overwrite characteristic in a read / write test.

ハードディスク装置は、高速回転する磁気ディスク媒体の同心円上のトラックに、浮上ヘッドによりディジタル情報を読み書きする大容量外部記憶装置である。ハードディスク装置は、磁気ディスク媒体へディジタル情報を書き込む方式として、事前に消去を行わないオーバーライト方式を採用している。   A hard disk device is a large-capacity external storage device that reads and writes digital information from and to a concentric track of a magnetic disk medium that rotates at high speed. The hard disk apparatus employs an overwrite system that does not erase in advance as a system for writing digital information to a magnetic disk medium.

このオーバーライト方式は、古いデータを新しいデータで上書きするので、磁気ディスク媒体は、書き込み能力が高いことが重要である。そのため、磁気ディスク媒体のリードライト試験では、オーバーライト特性を定量的に評価している。   Since this overwrite method overwrites old data with new data, it is important that the magnetic disk medium has high writing ability. Therefore, in the read / write test of the magnetic disk medium, the overwrite characteristic is quantitatively evaluated.

ここで、従来の一般的なオーバーライト特性の測定方法について説明する。
まず、最初に測定トラック周辺を消磁(すなわち、DCイレーズ)する。次に、低周波数(LF)信号(周波数10MHz〜数10MHzの一定周波数の信号)を測定トラックにライトし、LF周波数の信号成分(マグニチュード)を測定する。さらに、高周波数(HF)信号(LF信号の数倍の周波数の信号)をそのトラックにオーバーライトし、残留するLF周波数の信号成分を測定する。オーバーライト値としては、オーバーライト後の残留LF周波数の信号成分(M2)の、オーバーライト前のLF周波数の信号成分(M1)に対する比率(M2/M1)として求めている。
Here, a conventional method for measuring the general overwrite characteristic will be described.
First, the periphery of the measurement track is demagnetized (that is, DC erase). Next, a low frequency (LF) signal (a signal having a constant frequency of 10 MHz to several tens of MHz) is written to the measurement track, and a signal component (magnitude) of the LF frequency is measured. Further, a high frequency (HF) signal (a signal having a frequency several times that of the LF signal) is overwritten on the track, and the remaining signal component of the LF frequency is measured. The overwrite value is obtained as the ratio (M2 / M1) of the signal component (M2) of the residual LF frequency after overwriting to the signal component (M1) of the LF frequency before overwriting.

なお、ここで、従来の測定方法によるM2の求め方について説明しておく。
まず、前提条件として、測定トラックには予めLF信号が1周分ライト(書込み)されているとする。
Here, how to obtain M2 by the conventional measurement method will be described.
First, as a precondition, it is assumed that the LF signal is written (written) for one round in advance on the measurement track.

次に、ヘッド9(後述する図1参照)を測定トラックの中心位置へ移動させる。そして、測定トラックにHF信号を1周分ライトする。これにより、LF信号の上にHF信号がオーバーライトされる。   Next, the head 9 (see FIG. 1 described later) is moved to the center position of the measurement track. Then, the HF signal is written for one round on the measurement track. As a result, the HF signal is overwritten on the LF signal.

次に、ヘッド9をライトリードオフセット分だけトラック方向にオフセットさせ、再生ヘッドの中心位置を測定トラックの中心位置に合わせる。これにより、測定トラックに記録された信号がヘッド9の再生ヘッドによって再生される。ここで、リードライトオフセットは、予め周知の方法によって測定しておく。   Next, the head 9 is offset in the track direction by the write / read offset, and the center position of the reproducing head is adjusted to the center position of the measurement track. As a result, the signal recorded on the measurement track is reproduced by the reproducing head of the head 9. Here, the read / write offset is measured in advance by a known method.

そして、再生信号のLF周波数成分を測定し、この測定値をM2とする。   Then, the LF frequency component of the reproduction signal is measured, and this measured value is M2.

特開平10−320702号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-320702 特開2002−93088号公報JP 2002-93088 A

ところで、ハードディスク装置は、様々な基盤技術の進歩により年々性能が向上し、最近の機種は非常に厳しい設計仕様を満足している。例えば、トラック密度は60kTPI程度にまで達している。これに伴い、記録再生用ヘッドのライト幅も極めて狭くなっている。   By the way, the performance of hard disk devices has improved year by year due to the progress of various basic technologies, and recent models satisfy very strict design specifications. For example, the track density has reached about 60 kTPI. Along with this, the write width of the recording / reproducing head has become extremely narrow.

記録再生用ヘッドのライト幅の縮小は、該ヘッドを使用した磁気ディスク媒体のリードライト特性の測定を一段と困難にしている。これは、スピンスタンドのトラック方向の位置決め精度には限界があり、ライト幅が縮小すればする程、位置決め誤差の影響が増加するためであり、特に、オーバーライト特性の測定において深刻な問題となっている。すなわち、オーバーライト特性の測定では、オーバーライト時とオーバーライトした信号をリードする時の各々の時点でヘッドの位置決めが行われ、その位置で位置誤差が発生するためである。   The reduction in the write width of a recording / reproducing head makes it more difficult to measure the read / write characteristics of a magnetic disk medium using the head. This is because the positioning accuracy of the spin stand in the track direction is limited, and as the write width is reduced, the influence of positioning errors increases, which is particularly a serious problem in the measurement of overwrite characteristics. ing. That is, in the measurement of the overwrite characteristic, the head is positioned at each time of overwriting and when the overwritten signal is read, and a position error occurs at that position.

図14に示すように、オーバーライト時にヘッド位置がトラック方向(半径方向)Tにずれると、実際にオーバーライトされている領域R1のトラック方向Tの幅が狭くなる。また、オーバーライトされずに残った領域R2が生ずる。この領域R2のトラック方向の幅がライト幅に対して一定の割合を超えると、本領域からの信号の漏れが影響し、残留LF信号成分の測定に誤差が生じる。   As shown in FIG. 14, when the head position is shifted in the track direction (radial direction) T during overwriting, the width in the track direction T of the actually overwritten region R1 becomes narrower. Further, a region R2 that remains without being overwritten is generated. When the width of the region R2 in the track direction exceeds a certain ratio with respect to the write width, signal leakage from this region affects and an error occurs in the measurement of the residual LF signal component.

図8、図9は、オーバーライト後のLF信号成分のトラックプロファイルを示したものである。
図8はLF信号とHF信号のトラック位置の位置ずれΔTが小さい場合、図9はそのトラック位置の位置ずれΔTが大きい場合である。100は、LF信号のライト時の記録ヘッドの位置である。200は、HF信号のライト時の記録ヘッドの位置である。300は、LF信号とHF信号のトラックの重なりによりできた実行トラックであり、100の一端から200の一端までのトラック幅を定義される。310は、実行トラック300の中心位置である。
8 and 9 show the track profile of the LF signal component after overwriting.
8 shows a case where the positional deviation ΔT between the track positions of the LF signal and the HF signal is small, and FIG. 9 shows a case where the positional deviation ΔT between the track positions is large. Reference numeral 100 denotes the position of the recording head when the LF signal is written. Reference numeral 200 denotes the position of the recording head when the HF signal is written. Reference numeral 300 denotes an execution track formed by overlapping the tracks of the LF signal and the HF signal, and the track width from one end of 100 to one end of 200 is defined. Reference numeral 310 denotes the center position of the execution track 300.

図8に示すようにずれが小さい場合、オフトラックプロファイルはほぼ台形型となる。しかし、図9に示すようにずれが大きくなると、オフトラックプロファイルはLF信号のオーバーライトされていない領域付近でピークを持つ形状となる。さらに、実効トラック300の中心における信号強度Mbは、オーバーライトされずに残った領域からの信号の漏れにより、ずれが小さい場合の信号強度Maに比べ増加し、不正確な値となる。   When the deviation is small as shown in FIG. 8, the off-track profile is substantially trapezoidal. However, when the deviation increases as shown in FIG. 9, the off-track profile has a peak in the vicinity of the region where the LF signal is not overwritten. Further, the signal intensity Mb at the center of the effective track 300 increases compared to the signal intensity Ma when the deviation is small due to the leakage of the signal from the region that remains without being overwritten, and becomes an inaccurate value.

また、オーバーライトした信号をリードする時には、実効トラック300の中心位置310に正確に再生ヘッドを位置決めすることが必要となる。   Further, when reading the overwritten signal, it is necessary to accurately position the reproducing head at the center position 310 of the effective track 300.

しかし、従来の測定方法では、スピンスタンドのトラック方向Tの位置決め誤差により、実効トラック300の中心位置310からずれた位置でリードが行われ、これが残留LF信号成分の測定に誤差を生じさせていた。   However, in the conventional measurement method, reading is performed at a position shifted from the center position 310 of the effective track 300 due to the positioning error of the spin stand in the track direction T, which causes an error in the measurement of the residual LF signal component. .

すなわち、従来の測定方法では、まず、記録ヘッドを用いてオーバーライトする時に、トラック位置の位置ずれΔTを無制限に許容していた点に問題がある。さらに、オーバーライトした信号を再生ヘッドを用いてリードする時に、実効トラック300の中心位置310からずれた位置でリードすることを許容していた点にも問題がある。   That is, the conventional measuring method has a problem in that the track position deviation ΔT is allowed without limitation when overwriting using the recording head. Further, there is a problem in that when the overwritten signal is read using the reproducing head, the reading is permitted at a position shifted from the center position 310 of the effective track 300.

そこで、本発明の目的は、オーバーライト時(重ね書込み時)のトラック位置の大幅な位置ずれに基づくリード時(再生時)のオフトラックによる測定誤差の発生を回避し、オーバーライト値を精度良く測定することが可能なオーバーライト特性の測定方法を提供することにある。   Therefore, an object of the present invention is to avoid the occurrence of measurement errors due to off-tracking at the time of reading (during reproduction) based on a large positional deviation of the track position at the time of overwriting (at the time of overwriting), and to accurately overwrite the overwrite value. An object of the present invention is to provide a method for measuring an overwrite characteristic that can be measured.

本発明は、磁気ディスク媒体のオーバーライト特性を測定する方法であって、前記磁気ディスク媒体の測定トラックを消磁した後、該前記トラックに低周波数信号を書込み、オーバーライトされる前の該低周波数信号の信号成分を測定する測定工程と、前記低周波数信号の信号成分が書込まれた前記測定トラックを高周波数信号によってオーバーライトした後、該オーバーライトされた測定トラックの内外周間の複数の測定点で信号強度を検出することによって、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと、前記低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとを作成する作成工程と、前記作成された再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから実効トラックの位置を推定し、該推定された実効トラックの位置と前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとに基づいて、残留する低周波数信号の信号成分を算出する算出工程と、前記算出された残留する低周波数信号の信号成分と、前記測定されたオーバーライトされる前の低周波数信号の信号成分との比率を算出してオーバーライト値を決定するオーバーライト値決定工程とを具えることによって、オーバーライト特性の測定方法を提供する。   The present invention is a method for measuring an overwrite characteristic of a magnetic disk medium, wherein after demagnetizing a measurement track of the magnetic disk medium, a low frequency signal is written to the track and the low frequency before being overwritten. A measurement step of measuring a signal component of the signal, and after overwriting the measurement track in which the signal component of the low frequency signal is written with a high frequency signal, a plurality of portions between the inner and outer circumferences of the overwritten measurement track A creation step of creating an off-track profile of the amplitude value of the reproduction signal and an off-track profile of the signal component of the low-frequency signal by detecting the signal intensity at the measurement point, and the amplitude value of the created reproduction signal The effective track position is estimated from the off-track profile of the track, and the estimated effective track position and the creation are A calculation step of calculating a signal component of the remaining low-frequency signal based on the off-track profile of the signal component of the low-frequency signal, the signal component of the calculated remaining low-frequency signal, and the measured By providing an overwrite value determination step of determining an overwrite value by calculating a ratio with a signal component of a low frequency signal before being overwritten, a method for measuring an overwrite characteristic is provided.

前記算出工程は、前記作成された再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから、前記低周波数信号と前記高周波数信号とによって構成される実効トラックのエッジに対応した記録ヘッドのヘッド位置を算出する工程と、前記算出されたヘッド位置から、該実行トラックの中心位置を算出する工程と、前記算出された実効トラックの中心位置と前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとに基づいて、残留する低周波数信号の信号成分を算出する算出工程とを含んでもよい。   The calculating step calculates a head position of a recording head corresponding to an edge of an effective track constituted by the low-frequency signal and the high-frequency signal from an off-track profile of the amplitude value of the generated reproduction signal. And calculating the center position of the execution track from the calculated head position, and based on the calculated center position of the effective track and the off-track profile of the signal component of the generated low-frequency signal. A calculation step of calculating a signal component of the remaining low-frequency signal.

前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルの所定の測定点での信号強度を基準値と比較することにより、前記低周波数信号に対応したトラック位置と前記高周波数信号に対応したトラック位置とのトラック方向へのずれ幅を評価する工程と、前記トラック位置のトラック方向へのずれ幅が所定値を超える場合には、オーバーライト特性の測定を無効とする工程とをさらに具えてもよい。   The track position corresponding to the low frequency signal and the track corresponding to the high frequency signal are compared by comparing the signal intensity at a predetermined measurement point of the off-track profile of the signal component of the generated low frequency signal with a reference value. And a step of evaluating a deviation width of the track position in the track direction, and a step of invalidating the measurement of the overwrite characteristic when the deviation width of the track position in the track direction exceeds a predetermined value. Good.

以上発明したように、本発明によれば、オーバーライトされた測定トラックの内外周間の複数の測定点で信号強度を検出して、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとを作成し、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから実効トラックの位置を推定し、実効トラックの位置と低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとから残留する低周波数信号の信号成分を算出し、残留する低周波数信号の信号成分と測定されたオーバーライトされる前の低周波数信号の信号成分との比率を算出してオーバーライト値を決定するようにしたので、常に実効トラックの中心位置の残留LF信号成分のオフトラックプロファイルを採用してオーバーライトの測定を行うことができ、これにより、リード時のオフトラックによる誤差の発生を回避でき、ライト幅の狭いヘッドを使用した場合でも、オーバーライト特性を精度良く測定することが可能となる。   As described above, according to the present invention, the signal intensity is detected at a plurality of measurement points between the inner and outer circumferences of the overwritten measurement track, and the off-track profile of the amplitude value of the reproduction signal and the signal of the low frequency signal are detected. Component off-track profile, the effective track position is estimated from the off-track profile of the amplitude value of the playback signal, and the low-frequency signal remaining from the effective track position and the off-track profile of the signal component of the low-frequency signal Since the signal component of the remaining low frequency signal and the ratio of the measured signal component of the low frequency signal before being overwritten are calculated to determine the overwrite value. It is possible to measure the overwrite by adopting the off-track profile of the residual LF signal component at the center position of the effective track. Can, thereby, avoids the occurrence of an error due to the off-track during the read, even when using a narrow head having a write width, the overwrite characteristics can be accurately measured.

また、本発明によれば、HF信号とLF信号とのトラック位置の位置ずれ量が許容範囲内である場合にのみオーバーライト特性の測定を有効とするようにしたので、オーバーライト時のトラック位置の大幅な位置ずれに対応した測定誤差の発生を回避することができる。   In addition, according to the present invention, the measurement of the overwrite characteristic is made effective only when the positional deviation amount of the track position between the HF signal and the LF signal is within the allowable range. It is possible to avoid occurrence of a measurement error corresponding to a large positional deviation.

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

(構成)
まず、本発明に係るオーバーライト特性の測定方法に用いられる、リードライト試験装置の構成について説明する。
(Constitution)
First, the configuration of a read / write test apparatus used in the method for measuring the overwrite characteristics according to the present invention will be described.

図1は、オーバーライトの測定に使用されるリードライト試験装置9の構成例を示す。 リードライト試験装置1は、磁気ディスク媒体2を回転させるためのスピンスタンド3と、ライトデータ4aを発生する信号発生器4、ライトデータ4aに対応したライト電流5aを発生しスピンスタンド3に入力するライトアンプ5と、スピンスタンド3から出力されたヘッド信号6aを増幅するリードアンプ6と、スペクトラムアナライザ7と、オシロスコープ8とから構成される。   FIG. 1 shows a configuration example of a read / write test apparatus 9 used for overwriting measurement. The read / write test apparatus 1 generates a spin stand 3 for rotating the magnetic disk medium 2, a signal generator 4 for generating write data 4 a, a write current 5 a corresponding to the write data 4 a, and inputs the write current 5 a to the spin stand 3. It comprises a write amplifier 5, a read amplifier 6 that amplifies the head signal 6 a output from the spin stand 3, a spectrum analyzer 7, and an oscilloscope 8.

スピンスタンド3は、記録再生用のヘッド9を磁気ディスク媒体2上の任意のトラックに位置決めするための位置決め機構10を備えている。   The spin stand 3 includes a positioning mechanism 10 for positioning the recording / reproducing head 9 on an arbitrary track on the magnetic disk medium 2.

ヘッド9は、記録ヘッドとしてのインダクティブヘッドと、再生ヘッドとしてのMR(Magneto Resistive)ヘッド又はGMR(Giant Magneto Resistive)ヘッドとによって構成される。なお、ヘッド9は、主に、記録素子と再生素子とが独立した複合型ヘッドが用いられるが、これに限るものではない。   The head 9 includes an inductive head as a recording head and an MR (Magneto Resistive) head or GMR (Giant Magneto Resistive) head as a reproducing head. The head 9 is mainly a composite head in which a recording element and a reproducing element are independent, but is not limited to this.

(測定方法)
次に、オーバーライトの測定方法について説明する。
図2は、オーバーライトの測定方法の測定手順を示したフローチャートである。
まず、準備作業として測定する磁気ディスク媒体をスピンスタンド3にセットした後、これを一定の回転数で回転させ、ヘッド9の記録ヘッドを測定トラックに移動させる。
(Measuring method)
Next, an overwriting measurement method will be described.
FIG. 2 is a flowchart showing the measurement procedure of the overwrite measurement method.
First, after setting a magnetic disk medium to be measured as a preparatory work on the spin stand 3, the magnetic disk medium is rotated at a constant rotation speed, and the recording head of the head 9 is moved to the measurement track.

次に、実際の測定作業に移る。
ステップS1では、測定トラックを含む周辺トラックを直流消磁(DCイレーズ)する。
Next, the actual measurement work is started.
In step S1, the peripheral tracks including the measurement track are degaussed (DC erased).

ステップS2では、LF信号(例えば周波数10MHzの一定周波数の信号)を測定トラックに1周分ライトする。   In step S2, an LF signal (for example, a signal having a constant frequency of 10 MHz) is written to the measurement track for one round.

ステップS3では、LF信号成分M1を測定する。このため、まず、ヘッド9の再生ヘッドを測定トラック上に移動させ、記録した信号を再生する。   In step S3, the LF signal component M1 is measured. For this reason, first, the reproducing head of the head 9 is moved onto the measurement track to reproduce the recorded signal.

この再生により、図4に示すような再生信号の波形がリードアンプ6から出力される。再生信号の波形は、周波数領域では図5に示すようなスペクトラムとなる。   Due to this reproduction, the waveform of the reproduction signal as shown in FIG. The waveform of the reproduction signal has a spectrum as shown in FIG. 5 in the frequency domain.

スペクトラムは、10MHzの基本周波数成分Hと、その奇数次の高調波成分H、H、H...を含んでいる。このうち、10MHzの基本周波数成分Hの強度(単位Volt)をスペクトラムアナライザ7で測定し、この測定値をLF信号成分M1とする。 The spectrum includes a fundamental frequency component H 1 of 10 MHz and odd harmonic components H 3 , H 5 , H 7 . . . Is included. Among them, the fundamental frequency component H 1 of the intensity of 10MHz (unit Volt) measured with a spectrum analyzer 7, and this measured value and the LF signal component M1.

ステップS4では、ヘッド9の記録ヘッドを測定トラック上に移動させ、HF信号(例えば、周波数60MHzの一定周波数の信号)をオーバーライトする。   In step S4, the recording head of the head 9 is moved onto the measurement track, and the HF signal (for example, a signal having a constant frequency of 60 MHz) is overwritten.

ステップS5では、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと、残留LF信号成分のオフトラックプロファイルとの取得を行う。   In step S5, an off-track profile of the amplitude value of the reproduction signal and an off-track profile of the residual LF signal component are acquired.

ここで、その取得手順について説明する。
図6は、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイル20を示す。図7は、残留LF信号成分のオフトラックプロファイル30を示す。
Here, the acquisition procedure will be described.
FIG. 6 shows an off-track profile 20 of the amplitude value of the reproduction signal. FIG. 7 shows an off-track profile 30 of the residual LF signal component.

まず、測定トラックから内周側に例えば0.4μm離れた位置に、ヘッド9の再生ヘッドを移動させる。そして、再生信号のピークtoピークの振幅をオシロスコープ8で測定し、その結果を記録する。さらに、10MHzの基本周波数成分の信号強度をスペクトラムアナライザ7で測定し、その結果を記録する。また、現在のヘッド位置を記録する。   First, the reproducing head of the head 9 is moved to a position, for example, 0.4 μm away from the measurement track on the inner circumference side. Then, the peak-to-peak amplitude of the reproduction signal is measured with the oscilloscope 8 and the result is recorded. Further, the signal intensity of the fundamental frequency component of 10 MHz is measured by the spectrum analyzer 7 and the result is recorded. Also, the current head position is recorded.

同様にして、ヘッド9をその現在のヘッド位置からトラック方向T(図14参照)へ例えば0.05μmだけ外周へ移動させ、LF信号成分と振幅値とを測定し、それらの結果と現在のヘッド位置を記録する。   Similarly, the head 9 is moved from the current head position in the track direction T (see FIG. 14) to the outer periphery by, for example, 0.05 μm, and the LF signal component and the amplitude value are measured. Record the position.

このような<移動―測定―記録>の一連の操作を、ヘッド9の再生ヘッドが測定トラックから外周側に0.4μmだけ離れた位置に到達するまで繰り返して行う。   Such a series of <movement-measurement-recording> operations are repeated until the reproducing head of the head 9 reaches a position 0.4 μm away from the measurement track on the outer peripheral side.

その結果、図6に示した振幅値のオフトラックプロファイル20と、図7に示したLF信号成分のオフトラックプロファイル30とが求まる。   As a result, the off-track profile 20 of the amplitude value shown in FIG. 6 and the off-track profile 30 of the LF signal component shown in FIG. 7 are obtained.

取得した振幅値のオフトラックプロファイル20は、振幅値データAM(n)(単位Volt)と、ヘッド位置データP(n)(単位μm)とから構成される。ここで、nは、測定したヘッド位置に対応したインデクス番号である。   The acquired off-track profile 20 of the amplitude value is composed of amplitude value data AM (n) (unit Volt) and head position data P (n) (unit μm). Here, n is an index number corresponding to the measured head position.

また、LF信号成分のオフトラックプロファイル30は、信号強度データLF(n) (単位Volt)と、ヘッド位置データP(n)(単位μm)とから構成される。   The LF signal component off-track profile 30 includes signal intensity data LF (n) (unit Volt) and head position data P (n) (unit μm).

図6からわかるように、振幅値のオフトラックプロファイル20は、一般に釣鐘状となり、そのピークは測定トラックのほぼ中心にある。   As can be seen from FIG. 6, the off-track profile 20 of the amplitude value is generally bell-shaped and its peak is approximately at the center of the measurement track.

ステップS6では、図7の残留LF信号成分のオフトラックプロファイル30を解析する。ここでは、その残留LF信号成分のオフトラックプロファイル30の形状を調べて、その結果から、LF信号のトラックとHF信号のトラックとのずれ幅(図8、図9に示す位置ずれΔT)の大小を評価する。   In step S6, the off-track profile 30 of the residual LF signal component in FIG. 7 is analyzed. Here, the shape of the off-track profile 30 of the residual LF signal component is examined, and based on the result, the magnitude of the deviation width (the positional deviation ΔT shown in FIGS. 8 and 9) between the LF signal track and the HF signal track is determined. To evaluate.

その評価方法としては、図7に示すように、残留LF信号成分のオフトラックプロファイル30におけるヘッド位置の測定点毎の信号強度値LF(n)を、閾値Mmaxと比較する。この比較処理は、全ての測定点n(n=1,2,..,N,Nは測定位置数)について行う。   As the evaluation method, as shown in FIG. 7, the signal intensity value LF (n) at each head position measurement point in the off-track profile 30 of the residual LF signal component is compared with a threshold value Mmax. This comparison processing is performed for all measurement points n (n = 1, 2,..., N, N is the number of measurement positions).

ステップS7では、オーバーライト処理が、OKか又はNGかを判定する。その比較結果から、信号強度値が、LF(n)≦Mmaxの条件を満たす場合には、ステップS8に進み、オーバーライト処理を実行する。しかし、その条件を満たさない場合には、測定結果を無効とし、オーバーライト処理は行わずにステップS1に戻り、測定を最初からやり直す。   In step S7, it is determined whether the overwriting process is OK or NG. From the comparison result, when the signal intensity value satisfies the condition of LF (n) ≦ Mmax, the process proceeds to step S8, and overwrite processing is executed. However, if the condition is not satisfied, the measurement result is invalidated, the process returns to step S1 without performing the overwriting process, and the measurement is restarted from the beginning.

ここで、ステップS7の判定処理について、例を挙げて説明する。
図8、図9は、残留LF信号成分のオフトラックプロファイル30の例である。
図8は、LF信号とHF信号のトラック位置のずれが小さい場合の例である。図9は、ずれが大きい場合の例である。
Here, the determination process in step S7 will be described with an example.
8 and 9 are examples of the off-track profile 30 of the residual LF signal component.
FIG. 8 shows an example in which the shift between the track positions of the LF signal and HF signal is small. FIG. 9 is an example when the deviation is large.

図8のようにトラック位置の位置ずれΔTが小さい場合、オフトラックプロファイル30は、ほぼ台形型となる。しかし、図9のように位置ずれΔTが大きい場合、オフトラックプロファイル30は、LF信号のオーバーライトされていない領域付近でピークを持つ形状となる。このピーク値は、位置ずれΔTが大きくなるほど増大するので、ピーク値による位置ずれ幅の大小判定が可能となる。   When the positional deviation ΔT of the track position is small as shown in FIG. 8, the off-track profile 30 is substantially trapezoidal. However, when the positional deviation ΔT is large as shown in FIG. 9, the off-track profile 30 has a peak in the vicinity of the region where the LF signal is not overwritten. Since this peak value increases as the positional deviation ΔT increases, it is possible to determine the magnitude of the positional deviation width based on the peak value.

ステップ8では、図9に示す実効トラック300の中心における残留LF信号成分を求める。   In step 8, a residual LF signal component at the center of the effective track 300 shown in FIG. 9 is obtained.

図3は、ステップS8の詳細なオーバーライト処理を示すフローチャートである。このオーバーライト処理を、図10および図11に基づいて説明する。   FIG. 3 is a flowchart showing the detailed overwriting process in step S8. This overwriting process will be described with reference to FIGS.

ステップS11では、図10に示した再生信号の振幅値のオフトラックプロファイル20から、実効トラック300のエッジにおけるヘッド位置P,Pを求める。 In step S11, the head positions P 1 and P 2 at the edge of the effective track 300 are obtained from the off-track profile 20 of the amplitude value of the reproduction signal shown in FIG.

ステップS12では、実効トラック300の中心におけるヘッド位置Pを次の式により求める。
=(P+P)/2
In step S12, it obtains the head position P 0 at the center of the effective track 300 by the following equation.
P 0 = (P 1 + P 2 ) / 2

実効トラック300のエッジ位置P,Pは、図10に示したように、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイル20の振幅が、最大値の50%となるヘッド位置に対応する。 As shown in FIG. 10, the edge positions P 1 and P 2 of the effective track 300 correspond to head positions where the amplitude of the off-track profile 20 of the amplitude value of the reproduction signal is 50% of the maximum value.

ステップS13では、図11に示した残留LF信号成分のオフトラックプロファイル30のヘッド位置Pにおける信号強度M2を求める。 In step S13, it obtains the signal intensity M2 in residual LF signal head position P 0 of the off-track profile 30 of the components shown in FIG. 11.

信号強度M2は、残留LF信号成分のオフトラックプロファイル30の信号強度データLF(n)の補間処理によって行う。ここでは、直線補間を使用しているが、直線補間に限らず、その他の周知の補間方式を適用することができる。   The signal strength M2 is obtained by interpolation processing of the signal strength data LF (n) of the off-track profile 30 of the residual LF signal component. Here, linear interpolation is used, but not limited to linear interpolation, other known interpolation methods can be applied.

最後に、図2のステップS9に戻り、オーバーライト特性の定義に基づき、ステップ8で求めた残留LF信号成分M2と、ステップ3で求めたLF信号成分M1との比率(M2/M1)を計算し、この計算値をオーバーライト値とする。   Finally, returning to step S9 in FIG. 2, the ratio (M2 / M1) between the residual LF signal component M2 obtained in step 8 and the LF signal component M1 obtained in step 3 is calculated based on the definition of the overwrite characteristic. The calculated value is used as an overwrite value.

(比較例)
次に、オーバーライト特性を従来方式と比較した例について説明する。
ここでは、オーバーライト特性の測定方法を、実際の磁気ディスク媒体の測定に適用した結果を示す。
(Comparative example)
Next, an example in which the overwrite characteristic is compared with the conventional method will be described.
Here, the result of applying the measurement method of the overwrite characteristic to the measurement of an actual magnetic disk medium is shown.

図12は本発明による方式を示し、図13は従来方式を示し、同一の磁気ディスク媒体についてオーバーライト特性を測定した結果を比較した。各々複数回測定を行い、測定結果をヒストグラム400,410で示す。
測定条件は、以下のとおりである。
LF周波数: 10MHz
HF周波数: 60MHz
ライト電流値: 49.7mA
ディスク媒体: 3.5inch
回転数: 5400rpm
半径値: 32mm
スキュー角: 3.187deg
FIG. 12 shows a method according to the present invention, FIG. 13 shows a conventional method, and the results of measuring the overwrite characteristics of the same magnetic disk medium were compared. Each measurement is performed a plurality of times, and the measurement results are shown as histograms 400 and 410.
The measurement conditions are as follows.
LF frequency: 10 MHz
HF frequency: 60MHz
Write current value: 49.7 mA
Disc media: 3.5 inch
Rotation speed: 5400rpm
Radius value: 32mm
Skew angle: 3.187deg

図12、図13において、横軸はオーバーライト値(M2/M1)、縦軸は各棒グラフが現れる頻度の回数(度数)である。   12 and 13, the horizontal axis represents the overwrite value (M2 / M1), and the vertical axis represents the frequency (frequency) at which each bar graph appears.

図12の本発明による方式の場合、オーバーライト値の平均値は−28.49dB、標準偏差は1.2dBである。図13の従来方式の場合、オーバーライト値の平均値は−27.78dB、標準偏差は3.0dBである。   In the case of the method according to the present invention shown in FIG. 12, the average overwrite value is -28.49 dB, and the standard deviation is 1.2 dB. In the case of the conventional system shown in FIG. 13, the average value of the overwrite value is −27.78 dB, and the standard deviation is 3.0 dB.

オーバーライト値は、標準偏差で比較すると、従来方式の3.0dBに対して、本発明による方式では1.2dBと大幅に減少していることがわかる。測定値は、理想的には、バラツキの無い1本の棒グラフに集約されていることが望ましいが、本発明による方式では従来方式に比べて、明らかに測定値のバラツキが少なくなっていることが分かる。   When compared with the standard deviation, it can be seen that the overwrite value is greatly reduced to 1.2 dB in the method according to the present invention, compared to 3.0 dB in the conventional method. Ideally, it is desirable that the measurement values are aggregated into a single bar graph having no variation, but the method according to the present invention clearly has less variation in the measurement value than the conventional method. I understand.

以上の比較結果から、本発明によるオーバーライト特性の測定方法は、従来方式に比べて、格段に有効性があることが実証されるものである。   From the above comparison results, it is proved that the method for measuring the overwrite characteristics according to the present invention is much more effective than the conventional method.

なお、本例では、説明を簡略化するために1回の測定につき、振幅値のオフトラックプロファイル20とLF信号成分のオフトラックプロファイル30とをそれぞれ1回だけ取得する例を示した。   In this example, in order to simplify the explanation, an example in which the off-track profile 20 of the amplitude value and the off-track profile 30 of the LF signal component are obtained only once for each measurement.

しかし、実際には、1回の測定につき、各オフトラックプロファイルの取得をそれぞれM回(Mは5〜10程度の値)行うことが望ましい。この場合は、図1のフローチャートのステップ8において、実効トラックの中心位置における残留LF信号成分M2をM個のオフトラックプロファイルについてそれぞれ計算する。そして、M個の残留LF信号成分M2を平均化した値をオーバーライト特性の計算(M2/M1)に用いる。この計算により、スピンスタンド3のヘッド位置の位置決め誤差や、その他の要因による測定誤差の影響が取り除かれ、オーバーライト特性の測定精度を一段と向上させることができる。   However, in practice, it is desirable to acquire each off-track profile M times (M is a value of about 5 to 10) for each measurement. In this case, in Step 8 of the flowchart of FIG. 1, the residual LF signal component M2 at the center position of the effective track is calculated for each of the M off-track profiles. A value obtained by averaging the M residual LF signal components M2 is used for the calculation of the overwrite characteristic (M2 / M1). By this calculation, the influence of the positioning error of the head position of the spin stand 3 and the measurement error due to other factors is removed, and the measurement accuracy of the overwrite characteristic can be further improved.

本発明は、磁気ディスク媒体の評価方法に関するものであり、特に、リードライト試験におけるオーバーライト特性の評価方法に関する。オーバーライト時(重ね書込み時)のトラック位置の大幅な位置ずれに基づくリード時(再生時)のオフトラックによる測定誤差の発生を回避し、オーバーライト値を精度良く測定することが可能となる。   The present invention relates to a method for evaluating a magnetic disk medium, and more particularly to a method for evaluating an overwrite characteristic in a read / write test. It is possible to avoid the occurrence of measurement errors due to off-tracking at the time of reading (during reproduction) based on a large positional deviation of the track position at the time of overwriting (at the time of overwriting), and to accurately measure the overwrite value.

本発明に使用されるリードライト試験装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the read / write test apparatus used for this invention. 本発明に係るオーバーライト特性の評価方法を示すフローチャートである。3 is a flowchart showing a method for evaluating overwrite characteristics according to the present invention. 本発明に係るオーバーライトの処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process of the overwrite which concerns on this invention. 再生信号の波形を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the waveform of a reproduction signal. 再生信号のスペクトラムを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the spectrum of a reproduction signal. 再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルを示す波形図である。It is a wave form diagram which shows the off-track profile of the amplitude value of a reproduction signal. 残留LF信号成分のオフトラックプロファイルを示す波形図である。It is a wave form diagram which shows the off-track profile of a residual LF signal component. オーバーライト後のLF信号成分のオフトラックプロファイルを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the off-track profile of LF signal component after overwriting. オーバーライト後のLF信号成分のオフトラックプロファイルを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the off-track profile of LF signal component after overwriting. 実効トラックのエッジと中心位置を求める方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the method of calculating | requiring the edge and center position of an effective track. 残留LF信号成分を求める方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the method of calculating | requiring a residual LF signal component. 本発明の方式によるオーバーライト値の測定結果を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the measurement result of the overwrite value by the system of this invention. 従来方式によるオーバーライト値の測定結果を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the measurement result of the overwrite value by a conventional system. トラック位置のずれの様子を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the mode of a shift | offset | difference of a track position.

符号の説明Explanation of symbols

1 リードライト試験装置
2 磁気ディスク媒体
3 スピンスタンド
4 信号発生器4
4a ライトデータ
5 ライトアンプ
5a ライト電流
6 リードアンプ
6a ヘッド信号
7 スペクトラムアナライザ
8 オシロスコープ
9 ヘッド
10 位置決め機構
100 LF信号のライト時の記録ヘッドの位置
200 HF信号のライト時の記録ヘッドの位置
300 実行トラック
310 実行トラックの中心位置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Read / write test apparatus 2 Magnetic disk medium 3 Spin stand 4 Signal generator 4
4a Write data 5 Write amplifier 5a Write current 6 Read amplifier 6a Head signal 7 Spectrum analyzer 8 Oscilloscope 9 Head 10 Positioning mechanism 100 Recording head position 200 when writing LF signal Recording head position 300 when writing HF signal Execution track 310 Center position of execution track

Claims (3)

磁気ディスク媒体のオーバーライト特性を測定する方法であって、
前記磁気ディスク媒体の測定トラックを消磁した後、該前記トラックに低周波数信号を書込み、オーバーライトされる前の該低周波数信号の信号成分を測定する測定工程と、
前記低周波数信号の信号成分が書込まれた前記測定トラックを高周波数信号によってオーバーライトした後、該オーバーライトされた測定トラックの内外周間の複数の測定点で信号強度を検出することによって、再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルと、前記低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとを作成する作成工程と、
前記作成された再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから実効トラックの位置を推定し、該推定された実効トラックの位置と前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとに基づいて、残留する低周波数信号の信号成分を算出する算出工程と
前記算出された残留する低周波数信号の信号成分と、前記測定されたオーバーライトされる前の低周波数信号の信号成分との比率を算出してオーバーライト値を決定するオーバーライト値決定工程と
を具えたことを特徴とするオーバーライト特性の測定方法。
A method for measuring the overwrite characteristics of a magnetic disk medium,
A measurement step of demagnetizing a measurement track of the magnetic disk medium, writing a low frequency signal to the track, and measuring a signal component of the low frequency signal before being overwritten;
After overwriting the measurement track in which the signal component of the low frequency signal is written with a high frequency signal, detecting signal strength at a plurality of measurement points between the inner and outer circumferences of the overwritten measurement track, A creation step of creating an off-track profile of the amplitude value of the reproduction signal and an off-track profile of the signal component of the low-frequency signal;
An effective track position is estimated from the off-track profile of the amplitude value of the generated reproduction signal, and based on the estimated effective track position and the off-track profile of the signal component of the generated low-frequency signal, A calculation step of calculating a signal component of the remaining low-frequency signal; and calculating a ratio between the calculated signal component of the remaining low-frequency signal and the measured signal component of the low-frequency signal before being overwritten. And an overwrite value determination step for determining an overwrite value.
前記算出工程は、
前記作成された再生信号の振幅値のオフトラックプロファイルから、前記低周波数信号と前記高周波数信号とによって構成される実効トラックのエッジに対応した記録ヘッドのヘッド位置を算出する工程と、
前記算出されたヘッド位置から、該実行トラックの中心位置を算出する工程と、
前記算出された実効トラックの中心位置と前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルとに基づいて、残留する低周波数信号の信号成分を算出する算出工程と
を含むことを特徴とする請求項1記載のオーバーライト特性の測定方法。
The calculation step includes
Calculating a head position of a recording head corresponding to an edge of an effective track constituted by the low frequency signal and the high frequency signal from an off-track profile of the amplitude value of the created reproduction signal;
Calculating a center position of the execution track from the calculated head position;
A calculation step of calculating a signal component of the remaining low-frequency signal based on the calculated center position of the effective track and an off-track profile of the signal component of the generated low-frequency signal. The method for measuring an overwrite characteristic according to claim 1.
前記作成された低周波数信号の信号成分のオフトラックプロファイルの所定の測定点での信号強度を基準値と比較することにより、前記低周波数信号に対応したトラック位置と前記高周波数信号に対応したトラック位置とのトラック方向へのずれ幅を評価する工程と、
前記トラック位置のトラック方向へのずれ幅が所定値を超える場合には、オーバーライト特性の測定を無効とする工程と
をさらに具えたことを特徴とする請求項1又は2記載のオーバーライト特性の測定方法。
The track position corresponding to the low frequency signal and the track corresponding to the high frequency signal are compared by comparing the signal intensity at a predetermined measurement point of the off-track profile of the signal component of the generated low frequency signal with a reference value. A step of evaluating the deviation width in the track direction from the position;
3. The overwrite characteristic according to claim 1, further comprising a step of invalidating measurement of the overwrite characteristic when a deviation width of the track position in the track direction exceeds a predetermined value. Measuring method.
JP2003286114A 2003-08-04 2003-08-04 Measuring method of overwrite property Pending JP2005056496A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003286114A JP2005056496A (en) 2003-08-04 2003-08-04 Measuring method of overwrite property

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003286114A JP2005056496A (en) 2003-08-04 2003-08-04 Measuring method of overwrite property

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005056496A true JP2005056496A (en) 2005-03-03

Family

ID=34365528

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003286114A Pending JP2005056496A (en) 2003-08-04 2003-08-04 Measuring method of overwrite property

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005056496A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010527495A (en) * 2007-05-18 2010-08-12 ザイラテックス テクノロジー リミテッド Data test pattern generation apparatus and method, data test pattern analysis apparatus and method, and data storage disk medium and / or recording / reproducing head test apparatus and method

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010527495A (en) * 2007-05-18 2010-08-12 ザイラテックス テクノロジー リミテッド Data test pattern generation apparatus and method, data test pattern analysis apparatus and method, and data storage disk medium and / or recording / reproducing head test apparatus and method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7227708B2 (en) System and method for determining long-range erasure of adjacent tracks in hard disk drive
JP2007272978A (en) Head flying height measuring unit in magnetic storage
US7206150B2 (en) In situ media defect image analysis
KR100712559B1 (en) Method and apparatus for adjusting frequency of reference clock and disc drive using the same
US7170704B2 (en) Enhanced dibit extraction
US6611389B1 (en) Method of determining the variation of the clearance between a magnetic transducer and a recording media during track seeking
US7411754B2 (en) System and method for measuring readback signal amplitude asymmetry in a perpendicular magnetic recording disk drive
JP3909044B2 (en) Method and apparatus for measuring magnetic recording width of magnetic head
JP2006012353A (en) Disk drive and its manufacturing method
US6522495B1 (en) System, method and program for determining the magnetic center shift within a disk drive system
JP2005056496A (en) Measuring method of overwrite property
KR100468773B1 (en) System and method for magneto-resistive head electrostatic popping detection
JP3016368B2 (en) Recording magnetization state measurement device
JP2007257746A (en) Method of manufacturing head element, and testing device
JP2007087450A (en) Measuring method of over-writing characteristic of magnetic disk medium
JP4504928B2 (en) Method for evaluating characteristics of write element of thin film magnetic head
JP2588007B2 (en) Inspection method and inspection device for wiggle of thin film head
JP4346261B2 (en) Servo signal evaluation method for magnetic transfer media
JP2006294132A (en) Method for evaluating overwrite of magnetic recording medium
JP2009043333A (en) Device and method for characteristic evaluation of magnetic disk
JP2006244582A (en) Method for testing magnetic head element, testing device, and test program
KR20080083523A (en) Method for executing defect scan of recording medium and disk drive using the same
JP2005209274A (en) Erase-bandwidth measurement method
JP4055616B2 (en) Magnetic transfer device
JP2002269734A (en) Device for evaluating magnetic disk medium